JP5741046B2 - Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus - Google Patents

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Description

本発明は、電気光学装置、電気光学装置の製造方法、および電子機器に関するものである。   The present invention relates to an electro-optical device, a method for manufacturing the electro-optical device, and an electronic apparatus.

情報機器の多様化等に伴い、平面表示可能な電気光学装置のニーズが高まっている。かかる電気光学装置の一つとして、有機EL(エレクトロルミネッセンス)層に電流を印加することにより生じる発光を利用して画像を表示する有機EL装置が知られている。有機EL層は水分により変質し発光し難くなってしまうという問題があった。これを防ぐため、水分の浸入を防ぐ封止膜を、有機EL層の上を覆うように形成する構造が用いられる。例えば特許文献1には、保護基板より広い領域を、封止膜が覆っている態様が提示されている。   With the diversification of information equipment, there is an increasing need for electro-optical devices capable of flat display. As one of such electro-optical devices, an organic EL device that displays an image using light emission generated by applying a current to an organic EL (electroluminescence) layer is known. There has been a problem that the organic EL layer is denatured by moisture and becomes difficult to emit light. In order to prevent this, a structure is used in which a sealing film that prevents moisture from entering is formed so as to cover the organic EL layer. For example, Patent Document 1 presents an aspect in which a sealing film covers a region wider than a protective substrate.

上記特許文献1の有機EL装置は、有機EL層を含む画素のスイッチング素子として薄膜トランジスター(Thin Film Transistor、以下TFTと称する。)を用いたアクティブマトリクス方式が採用されている。   The organic EL device disclosed in Patent Document 1 employs an active matrix system using a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) as a switching element of a pixel including an organic EL layer.

特開2009−176756号公報JP 2009-176756 A

近年、画素の微細化が進み、端子本数は増加していく傾向にある。また、有効な表示領域を囲む額縁領域の狭小化も進んでいる。
したがって、端子部に複数の端子を設ける場合、特許文献1の構造では、端子の本数が増加するにつれて、端子の配置ピッチを狭くする必要があり、端子における電気的に十分なコンタクト領域を確保することが困難であるという課題があった。詳しくは、封止膜が端子の一部分と重なって配置されているので、コンタクト面積が小さくなってしまい、電気的導通を確保することが非常に困難となる、という課題があった。
In recent years, pixel miniaturization has progressed and the number of terminals tends to increase. In addition, the frame area surrounding the effective display area is becoming narrower.
Therefore, in the case of providing a plurality of terminals in the terminal portion, in the structure of Patent Document 1, it is necessary to narrow the arrangement pitch of the terminals as the number of terminals increases, and an electrically sufficient contact region in the terminals is ensured. There was a problem that it was difficult. Specifically, since the sealing film is disposed so as to overlap with a part of the terminal, there is a problem that the contact area is reduced and it is very difficult to ensure electrical conduction.

本発明は、上述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の形態または適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following forms or application examples.

[適用例1]本適用例にかかる電気光学装置は、基板上に、第1の電極と、第2の電極と、前記第1の電極と前記第2の電極との間に設けられた発光層と、を有する発光素子が設けられた発光領域と、前記発光領域の外側に設けられた端子部と、前記発光領域の全面および前記端子部の少なくとも一部を覆うように設けられた封止膜と、前記端子部に設けられ、前記発光素子と電気的に接続された第1配線と、前記端子部における前記封止膜上に設けられ、前記第1配線と電気的に接続された前記第2配線と、を備えていることを特徴とする。   Application Example 1 An electro-optical device according to this application example has a light emission provided on a substrate between a first electrode, a second electrode, and the first electrode and the second electrode. A light-emitting region provided with a light-emitting element, a terminal portion provided outside the light-emitting region, and a seal provided so as to cover the entire surface of the light-emitting region and at least a part of the terminal portion. The film, the first wiring provided in the terminal portion and electrically connected to the light emitting element, and the first wiring provided on the sealing film in the terminal portion and electrically connected to the first wiring And a second wiring.

このような構成の電気光学装置であれば、端子部の少なくとも1部を封止膜が覆った場合でも、封止膜上に第1配線と電気的に接続された第2配線が形成されているので、第1配線と外部電気回路との配線コンタクト面積を第2配線により拡大することができる。すなわち、第2配線を外部電気回路と接続する端子として配線コンタクト面積を拡大したことにより、発光素子と外部電気回路との電気的な接続を容易に、かつ確実に実施できるようになる。   In the case of the electro-optical device having such a configuration, even when the sealing film covers at least one part of the terminal portion, the second wiring electrically connected to the first wiring is formed on the sealing film. Therefore, the wiring contact area between the first wiring and the external electric circuit can be increased by the second wiring. That is, by increasing the wiring contact area using the second wiring as a terminal for connecting to the external electric circuit, the electrical connection between the light emitting element and the external electric circuit can be easily and reliably performed.

また、第2配線の少なくとも一部は、封止膜上に設けられているので、第2配線を形成する領域を基板の外周側に拡大せずに配線コンタクト面積を確保することができ、いわゆる狭額縁化が達成できる。   In addition, since at least a part of the second wiring is provided on the sealing film, a wiring contact area can be secured without expanding a region where the second wiring is formed to the outer peripheral side of the substrate. A narrow frame can be achieved.

[適用例2]上記適用例の電気光学装置であって、前記発光領域における前記封止膜上には、前記発光層から発せられた光の少なくとも一部を遮光する遮光膜が設けられており、前記第2配線および前記遮光膜は、同じ材料で形成されていることを特徴とする。   Application Example 2 In the electro-optical device according to the application example described above, a light-shielding film that shields at least a part of light emitted from the light-emitting layer is provided on the sealing film in the light-emitting region. The second wiring and the light shielding film are made of the same material.

このような構成であれば、第2配線と遮光膜とを同じ工程にて形成することができ、製造工程数を削減することができる。   With such a configuration, the second wiring and the light shielding film can be formed in the same process, and the number of manufacturing processes can be reduced.

[適用例3]上記適用例の電気光学装置であって、前記第2配線は、前記第1配線と接する第1の部分と、前記封止膜と接する第2の部分と、を有し、前記第1の部分は、前記第1配線と同じ線幅で形成されており、前記第2の部分は、平面視において、前記第1の部分よりも線幅が大きいことを特徴とする。   Application Example 3 In the electro-optical device according to the application example, the second wiring includes a first portion in contact with the first wiring and a second portion in contact with the sealing film. The first portion is formed with the same line width as the first wiring, and the second portion has a line width larger than that of the first portion in plan view.

このような構成によれば、平面視において、第2配線を間隔をおいて直線的に配置した場合と比べ、第2配線間の距離を広くすることが可能となる。すなわち、第2配線を端子として用いて、外部電気回路との接続を第2配線とすれば、第1配線の配置ピッチが狭くなっても、外部電気回路との接続を容易に行うことが可能な電気光学装置を提供できる。   According to such a configuration, it is possible to increase the distance between the second wirings as compared with the case where the second wirings are linearly arranged at intervals in a plan view. That is, if the second wiring is used as a terminal and the connection with the external electric circuit is the second wiring, the connection with the external electric circuit can be easily performed even when the arrangement pitch of the first wiring is narrowed. An electro-optical device can be provided.

[適用例4]本適用例の電子機器は、上記適用例の電気光学装置を備えることを特徴とする。
このような構成の電子機器であれば、電気光学装置と外部電気回路との電気的接続を容易に、且つ確実に実施することが可能となる。
Application Example 4 An electronic apparatus according to this application example includes the electro-optical device according to the application example described above.
With the electronic apparatus having such a configuration, the electrical connection between the electro-optical device and the external electric circuit can be easily and reliably performed.

[適用例5]また、本適用例の電気光学装置の製造方法は、基板上に、第1の電極と、第2の電極と、前記第1の電極と前記第2の電極との間に設けられた発光層と、を有する発光素子を形成する第1の工程と、前記発光素子の外側に、前記発光素子と電気的に接続するように、第1配線を形成する第2の工程と、前記発光素子の全面および前記第1配線の少なくとも一部を覆うように封止膜を形成する第3の工程と、前記発光素子の外側における前記封止膜上および前記第1配線上に、前記第1配線と電気的に接続された第2配線を形成する第4の工程と、を備えることを特徴とする。   Application Example 5 Further, in the electro-optical device manufacturing method according to the application example, the first electrode, the second electrode, and the first electrode and the second electrode are formed on the substrate. A first step of forming a light emitting element having a light emitting layer provided; and a second step of forming a first wiring so as to be electrically connected to the light emitting element outside the light emitting element. A third step of forming a sealing film so as to cover the entire surface of the light emitting element and at least a part of the first wiring; and on the sealing film and the first wiring outside the light emitting element, And a fourth step of forming a second wiring electrically connected to the first wiring.

このような電気光学装置の製造方法であれば、封止性能に優れ、配線コンタクト面積の拡大や狭額縁化を実現した電気光学装置を製造することが可能となる。   With such a method of manufacturing an electro-optical device, it is possible to manufacture an electro-optical device that is excellent in sealing performance and that realizes an expansion of a wiring contact area and a narrowed frame.

[適用例6]上記適用例の電気光学装置の製造方法であって、前記第4の工程は、前記発光素子上における前記封止膜上に遮光膜を形成する工程を含み、前記遮光膜と同じ材料を用いて前記第2配線を形成することを特徴とする。   Application Example 6 In the method of manufacturing the electro-optical device according to the application example, the fourth step includes a step of forming a light shielding film on the sealing film on the light emitting element, The second wiring is formed using the same material.

このような電気光学装置の製造方法であれば、第2配線と遮光膜とを同じ工程にて形成することができ、製造工程数を削減することができる。   With such a method of manufacturing an electro-optical device, the second wiring and the light shielding film can be formed in the same process, and the number of manufacturing processes can be reduced.

[適用例7]上記適用例の電気光学装置の製造方法であって、前記第2配線は、前記第1配線と接する第1の部分と、前記封止膜と接する第2の部分と、を有し、前記第4の工程では、前記第1配線と同じ線幅で前記第1の部分を形成し、平面視において、前記第1の部分よりも面積が大きくなるように前記第2の部分を形成することを特徴とする。   Application Example 7 In the method of manufacturing the electro-optical device according to the application example, the second wiring includes a first portion in contact with the first wiring and a second portion in contact with the sealing film. And in the fourth step, the first portion is formed with the same line width as the first wiring, and the second portion has a larger area than the first portion in plan view. It is characterized by forming.

このような電気光学装置の製造方法であれば、第2配線を間隔をおいて直線的に配置した場合に比べ、第2配線間の距離を広くすることが可能となる。すなわち、封止膜上の第2配線を端子として用いれば、第1配線の配置ピッチが狭くなっても、外部電気回路との接続を容易に行うことが可能な電気光学装置を製造することができる。   With such a method for manufacturing an electro-optical device, it is possible to increase the distance between the second wirings as compared with the case where the second wirings are linearly arranged with a space therebetween. That is, when the second wiring on the sealing film is used as a terminal, an electro-optical device that can be easily connected to an external electric circuit even when the arrangement pitch of the first wiring is narrowed is manufactured. it can.

本実施形態の有機EL装置の電気的な構成を示す等価回路図。FIG. 2 is an equivalent circuit diagram illustrating an electrical configuration of the organic EL device according to the embodiment. 第1実施形態における有機EL装置の構成を模式的に示す平面図。The top view which shows typically the structure of the organic electroluminescent apparatus in 1st Embodiment. 図2のYO線に沿った第1実施形態における有機EL装置の構造を模式的に示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows typically the structure of the organic electroluminescent apparatus in 1st Embodiment along the YO line of FIG. 第1実施形態の有機EL装置の端子部における配線のレイアウトを示す概略平面図。The schematic plan view which shows the layout of the wiring in the terminal part of the organic electroluminescent apparatus of 1st Embodiment. (a)〜(c)は第1実施形態における有機EL装置の製造方法を示す素子基板側の工程図。(A)-(c) is process drawing by the side of the element substrate which shows the manufacturing method of the organic electroluminescent apparatus in 1st Embodiment. (a)〜(c)は第1実施形態における有機EL装置の製造方法を示す封止基板側の工程図。(A)-(c) is process drawing by the side of the sealing substrate which shows the manufacturing method of the organic electroluminescent apparatus in 1st Embodiment. (a)および(b)は第1実施形態における有機EL装置の製造方法を示す工程図。(A) And (b) is process drawing which shows the manufacturing method of the organic electroluminescent apparatus in 1st Embodiment. 第2実施形態における有機EL装置の構造を示す概略断面図。The schematic sectional drawing which shows the structure of the organic electroluminescent apparatus in 2nd Embodiment. 第3実施形態における有機EL装置の端子部の拡大平面図。The enlarged plan view of the terminal part of the organic electroluminescent apparatus in 3rd Embodiment. (a)〜(c)は本実施形態における電子機器の例を示す概略図。(A)-(c) is schematic which shows the example of the electronic device in this embodiment.

以下、本発明の電気光学装置を具体化した実施形態について、発光素子としての有機EL素子を、画像表示領域に規則的に配置して画像を表示する有機EL装置を例に述べる。なお、以下に示す各図においては、各構成要素を図面上で認識され得る程度の大きさとするため、該各構成要素の寸法や比率を実際のものとは適宜に異ならせてある。   Hereinafter, an embodiment in which the electro-optical device of the present invention is embodied will be described by taking an organic EL device that displays an image by regularly arranging organic EL elements as light emitting elements in an image display region. In the drawings shown below, the dimensions and ratios of the respective components are appropriately changed from the actual ones in order to make the respective components large enough to be recognized on the drawings.

なお、以下の形態において、例えば「基板上に」と記載された場合、基板の上に接するように配置される場合、または基板の上に他の構成物を介して配置される場合、または基板の上に一部が接するように配置され、一部が他の構成物を介して配置される場合を表すものとする。   In the following embodiments, for example, when “on the substrate” is described, the substrate is disposed so as to be in contact with the substrate, or is disposed on the substrate via another component, or the substrate. It is assumed that a part is arranged so as to be in contact with each other and a part is arranged via another component.

(第1実施形態)
<有機EL装置>
図1は、本実施形態の電気光学装置としての有機EL装置の電気的な構成を示す等価回路図である。
(First embodiment)
<Organic EL device>
FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing an electrical configuration of an organic EL device as an electro-optical device of the present embodiment.

図1に示すように、有機EL装置1は、スイッチング素子として薄膜トランジスター(Thin Film Transistor、以下TFTと称する。)を用いたアクティブマトリクス方式のもので、複数の走査線101と、各走査線101に対して直角に交差する方向に延びる複数の信号線102と、各信号線102に並列に延びる複数の電源線103とからなる配線構成を有し、走査線101と信号線102との各交点付近に画素領域Eを形成したものである。   As shown in FIG. 1, the organic EL device 1 is of an active matrix type using a thin film transistor (hereinafter referred to as TFT) as a switching element, and includes a plurality of scanning lines 101 and each scanning line 101. Each of the intersections of the scanning line 101 and the signal line 102 with a wiring configuration comprising a plurality of signal lines 102 extending in a direction perpendicular to the signal line and a plurality of power supply lines 103 extending in parallel with each signal line 102. A pixel region E is formed in the vicinity.

もちろん本発明の技術的思想に沿えば、有機EL装置1は、TFTなどを用いるアクティブマトリクス方式に限定されず、単純マトリクス方式の構成としてもよい。   Of course, according to the technical idea of the present invention, the organic EL device 1 is not limited to the active matrix system using TFTs or the like, but may have a simple matrix system configuration.

信号線102には、シフトレジスター、レベルシフター、ビデオライン及びアナログスイッチを備えるデータ線駆動回路100が接続されている。また、走査線101には、シフトレジスター及びレベルシフターを備える走査線駆動回路80が接続されている。   A data line driving circuit 100 including a shift register, a level shifter, a video line, and an analog switch is connected to the signal line 102. Further, a scanning line driving circuit 80 having a shift register and a level shifter is connected to the scanning line 101.

さらに、画素領域Eの各々には、走査線101を介して走査信号がゲート電極に供給されるスイッチング用TFT112と、このスイッチング用TFT112を介して信号線102から共有される画素信号を保持する保持容量113と、該保持容量113によって保持された画素信号がゲート電極に供給される駆動用TFT123と、この駆動用TFT123を介して電源線103に電気的に接続したときに該電源線103から駆動電流が流れ込む第1の電極としての陽極10と、該陽極10と第2の電極としての陰極11との間に設けられた発光層(有機発光層)12が設けられている。   Further, in each pixel region E, a switching TFT 112 to which a scanning signal is supplied to the gate electrode via the scanning line 101 and a pixel signal shared from the signal line 102 via the switching TFT 112 are held. A capacitor 113, a driving TFT 123 to which a pixel signal held by the holding capacitor 113 is supplied to the gate electrode, and driving from the power line 103 when electrically connected to the power line 103 through the driving TFT 123 A light emitting layer (organic light emitting layer) 12 provided between the anode 10 as a first electrode into which a current flows and a cathode 11 as the second electrode is provided.

この有機EL装置1によれば、走査線101が駆動されてスイッチング用TFT112がオン状態になると、そのときの信号線102の電位が保持容量113に保持され、該保持容量113の状態に応じて、駆動用TFT123のオン・オフ状態が決まる。そして、駆動用TFT123のチャネルを介して、電源線103から陽極10に電流が流れ、さらに発光層12を介して陰極11に電流が流れる。発光層12は、これを流れる電流量に応じて発光する。陽極10と、陰極11と、これらの電極間に設けられた発光層12とにより発光素子21が構成されている。   According to the organic EL device 1, when the scanning line 101 is driven and the switching TFT 112 is turned on, the potential of the signal line 102 at that time is held in the holding capacitor 113, and according to the state of the holding capacitor 113. The on / off state of the driving TFT 123 is determined. Then, current flows from the power supply line 103 to the anode 10 through the channel of the driving TFT 123, and further current flows to the cathode 11 through the light emitting layer 12. The light emitting layer 12 emits light according to the amount of current flowing through it. A light emitting element 21 is constituted by the anode 10, the cathode 11, and the light emitting layer 12 provided between these electrodes.

次に、本実施形態の有機EL装置1の具体的な態様を、図2〜図4を参照して説明する。ここで、図2は有機EL装置の構成を模式的に示す平面図である。図3は、図2のY0線に沿った有機EL装置の構造を模式的に示す概略断面図である。図4は有機EL装置の端子部における配線のレイアウトを示す概略平面図である。   Next, specific modes of the organic EL device 1 of the present embodiment will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 2 is a plan view schematically showing the configuration of the organic EL device. FIG. 3 is a schematic cross-sectional view schematically showing the structure of the organic EL device along the Y0 line of FIG. FIG. 4 is a schematic plan view showing a wiring layout in the terminal portion of the organic EL device.

まず、図2を参照し、有機EL装置1の構成を説明する。図2は、基板本体20上に形成された前述した各種配線,TFT,各種回路によって、発光層12を発光させるTFT素子基板(以下「素子基板」という。)20Aを示す図である。   First, the configuration of the organic EL device 1 will be described with reference to FIG. FIG. 2 is a diagram showing a TFT element substrate (hereinafter referred to as “element substrate”) 20 </ b> A that causes the light emitting layer 12 to emit light by the above-described various wirings, TFTs, and various circuits formed on the substrate body 20.

有機EL装置1の素子基板20Aは、中央部分の発光領域4(図2中二点鎖線枠内)と、発光領域4の周囲に配置されたダミー領域5(一点鎖線および二点鎖線の間の領域)と、を備える素子領域200と、素子領域200の外側に設けられた端子部210と、が設けられている。   The element substrate 20A of the organic EL device 1 includes a light emitting region 4 (inside the two-dot chain line in FIG. 2) in the center portion and a dummy region 5 (a portion between the one-dot chain line and the two-dot chain line) arranged around the light emitting region 4. Region) and a terminal portion 210 provided outside the device region 200 are provided.

発光領域4には、赤(R)、緑(G)、青(B)のいずれかの光を発光する発光素子21が形成されている。発光領域4においては、発光素子21がマトリクス状に配置されている。また、発光素子21の各々は、図2のYO線方向において同一色で配列した、いわゆるストライプ配置を構成し、フルカラー表示を行うようになっている。   In the light emitting region 4, a light emitting element 21 that emits one of red (R), green (G), and blue (B) light is formed. In the light emitting region 4, the light emitting elements 21 are arranged in a matrix. Each of the light emitting elements 21 has a so-called stripe arrangement arranged in the same color in the YO line direction of FIG. 2, and performs full color display.

発光領域4の図2中両側であってダミー領域5の下層側には、走査線駆動回路80が配置されている。また、発光領域4の図2中上方側であってダミー領域5の下層側には、データ線駆動回路100が配置されている。   Scanning line drive circuits 80 are arranged on both sides of the light emitting region 4 in FIG. 2 and on the lower layer side of the dummy region 5. Further, a data line driving circuit 100 is disposed above the light emitting area 4 in FIG. 2 and below the dummy area 5.

さらに、走査線駆動回路80およびデータ線駆動回路100の周辺には、電源線103が設けられ、さらに電源線103の外側には陰極用配線202が設けられている。なお、陰極用配線202は、陰極11と電気的に接続されている。走査線駆動回路80、データ線駆動回路100、電源線103および陰極用配線202は、素子基板20Aに対向配置された封止基板31から外側にはみ出した素子基板20Aの端子部210において後述する複数の配線を介して図示しない外部回路と電気的に接続される。   Further, a power supply line 103 is provided around the scanning line drive circuit 80 and the data line drive circuit 100, and a cathode wiring 202 is provided outside the power supply line 103. The cathode wiring 202 is electrically connected to the cathode 11. The scanning line driving circuit 80, the data line driving circuit 100, the power supply line 103, and the cathode wiring 202 are a plurality of elements to be described later in the terminal portion 210 of the element substrate 20A that protrudes outward from the sealing substrate 31 disposed to face the element substrate 20A. Is electrically connected to an external circuit (not shown) through the wiring.

(断面構造)
次に、図3を参照して、有機EL装置1の断面構造を説明する。
(Cross-section structure)
Next, a cross-sectional structure of the organic EL device 1 will be described with reference to FIG.

本実施形態における有機EL装置1は、いわゆる「トップエミッション構造」の有機EL装置である。トップエミッション構造では、光を素子基板20A側ではなく封止基板31側から取り出すため、素子基板20Aに配置された各種回路の大きさに影響されず、発光面積を広く確保できる効果がある。そのため、電圧及び電流を抑えつつ輝度を確保することが可能であり、発光素子の寿命を長く維持することができる。   The organic EL device 1 in the present embodiment is a so-called “top emission structure” organic EL device. In the top emission structure, since light is extracted from the sealing substrate 31 side instead of the element substrate 20A side, there is an effect that a wide light emitting area can be secured without being affected by the size of various circuits arranged on the element substrate 20A. Therefore, luminance can be secured while suppressing voltage and current, and the lifetime of the light-emitting element can be maintained long.

図3に示すように、有機EL装置1は、陽極10、陰極11および陽極10と陰極11(一対の電極)の間に設けられた発光層12(有機発光層)を有する複数の発光素子21及び発光素子21を区切る画素隔壁13を有する素子基板20A(基板)と、この素子基板20Aに対向配置された封止基板31と、を備えている。   As shown in FIG. 3, the organic EL device 1 includes a plurality of light emitting elements 21 having an anode 10, a cathode 11, and a light emitting layer 12 (organic light emitting layer) provided between the anode 10 and the cathode 11 (a pair of electrodes). And an element substrate 20A (substrate) having a pixel partition wall 13 that divides the light emitting element 21, and a sealing substrate 31 disposed to face the element substrate 20A.

(素子基板)
有機EL装置1は、前述した各種配線(例えば、TFT等)が形成された素子基板20A上に、窒化珪素等からなる無機絶縁層14が被覆されている。また、無機絶縁層14にはコンタクトホール(不図示)が形成され、前述した陽極10が駆動用TFT123に接続されている。無機絶縁層14上にはアルミ合金等からなる金属反射板15が内装された平坦化層16が形成されている。
(Element board)
In the organic EL device 1, an inorganic insulating layer 14 made of silicon nitride or the like is coated on the element substrate 20A on which the above-described various wirings (for example, TFTs) are formed. Further, a contact hole (not shown) is formed in the inorganic insulating layer 14, and the above-described anode 10 is connected to the driving TFT 123. On the inorganic insulating layer 14, a planarizing layer 16 is formed in which a metal reflector 15 made of an aluminum alloy or the like is housed.

この平坦化層16上には、陽極10、陰極11および陽極10と陰極11との間に設けられた発光層12を有する発光素子21が形成されている。また、この発光素子21を区分するように絶縁性の画素隔壁13が配置されている。   On the planarizing layer 16, a light emitting element 21 having an anode 10, a cathode 11, and a light emitting layer 12 provided between the anode 10 and the cathode 11 is formed. An insulating pixel partition wall 13 is arranged so as to partition the light emitting element 21.

本実施形態において、陽極10は、仕事関数が5eV以上の正孔注入性が高いITO(Indium Tin Oxide:インジウム錫酸化物)等の金属酸化物導電膜が用いられる。   In the present embodiment, the anode 10 is a metal oxide conductive film such as ITO (Indium Tin Oxide) having a work function of 5 eV or more and high hole injection property.

なお、本実施形態において有機EL装置1は、トップエミッション構造のため、陽極10は必ずしも光透過性を有する材料を用いる必要はなく、光反射性を有するアルミ等からなる金属電極を用いてもよい。この構成を採用した場合は、前述した金属反射板15は設けなくてよい。   In this embodiment, since the organic EL device 1 has a top emission structure, the anode 10 does not necessarily need to use a light-transmitting material, and may use a metal electrode made of light-reflective aluminum or the like. . When this configuration is adopted, the above-described metal reflector 15 need not be provided.

陰極11を形成するための材料としては、本実施形態はトップエミッション構造であることから光透過性を有する透明導電材料が用いられる。透明導電材料としては、ITOが好適とされるが、これ以外にも、例えば酸化インジウム・酸化亜鉛系アモルファス透明導電膜(Indium Zinc Oxide:IZO/アイ・ゼット・オー(登録商標))等を用いることができる。なお、本実施形態ではITOを用いるものとする。   As a material for forming the cathode 11, a transparent conductive material having optical transparency is used because the present embodiment has a top emission structure. As the transparent conductive material, ITO is suitable, but other than this, for example, an indium oxide / zinc oxide based amorphous transparent conductive film (Indium Zinc Oxide: IZO) is used. be able to. In the present embodiment, ITO is used.

また、陰極11は、電子注入効果の大きい(仕事関数が4eV以下の)材料が好適に用いられる。例えば、カルシウムやマグネシウム、ナトリウム、リチウム金属、又はこれらの金属化合物である。金属化合物としては、フッ化カルシウム等の金属フッ化物や酸化リチウム等の金属酸化物、アセチルアセトナトカルシウム等の有機金属錯体が該当する。また、これらの材料だけでは、電気抵抗が大きく電極として機能しないため、発光部分を避けるようにアルミニウムや金、銀、銅などの金属層をパターン形成したり、ITOや酸化錫などの透明な金属酸化物導電層との積層体と組み合わせて用いてもよい。   The cathode 11 is preferably made of a material having a large electron injection effect (a work function of 4 eV or less). For example, calcium, magnesium, sodium, lithium metal, or a metal compound thereof. Examples of the metal compound include metal fluorides such as calcium fluoride, metal oxides such as lithium oxide, and organometallic complexes such as acetylacetonato calcium. In addition, these materials alone have high electrical resistance and do not function as electrodes, so patterning a metal layer such as aluminum, gold, silver, or copper to avoid the light emitting part, or transparent metals such as ITO or tin oxide You may use in combination with the laminated body with an oxide conductive layer.

なお、本実施形態では、フッ化リチウムとマグネシウム−銀合金、ITOの積層体を、透明性が得られる膜厚に調整して用いるものとする。   In the present embodiment, a laminate of lithium fluoride, magnesium-silver alloy, and ITO is used by adjusting the film thickness to obtain transparency.

発光層12は、白色に発光する白色発光層を採用している。この白色発光層は、真空蒸着プロセスを用いて素子基板20Aの全面に形成されている。白色発光材料としては、スチリルアミン系発光材料,アントラセン系ドーパント(青色)、或いはスチリルアミン系発光材料,ルブレン系ドーパント(黄色)が用いられる。   The light emitting layer 12 employs a white light emitting layer that emits white light. The white light emitting layer is formed on the entire surface of the element substrate 20A using a vacuum deposition process. As the white light-emitting material, a styrylamine-based light-emitting material and an anthracene-based dopant (blue), or a styrylamine-based light-emitting material and a rubrene-based dopant (yellow) are used.

なお、発光層12の下層或いは上層に、トリアリールアミン(ATP)多量体正孔注入層、TPD(トリフェニルジアミン)系正孔輸送層、アルミニウムキノリノール(Alq3)層(電子輸送層)を成膜することが好ましい。   A triarylamine (ATP) multimer hole injection layer, a TPD (triphenyldiamine) hole transport layer, and an aluminum quinolinol (Alq3) layer (electron transport layer) are formed on the lower layer or the upper layer of the light emitting layer 12. It is preferable to do.

また、陰極11上には、電極保護層17(保護層)が形成され、発光素子21及び画素隔壁13を被覆している。   Further, an electrode protective layer 17 (protective layer) is formed on the cathode 11 and covers the light emitting element 21 and the pixel partition wall 13.

この電極保護層17は、透明性や密着性、耐水性、ガスバリア性を考慮して珪素酸窒化物などの珪素化合物で構成することが望ましい。また、電極保護層17の膜厚は100nm以上が好ましく、画素隔壁13を被覆することで発生する応力によるクラック発生を防ぐため、膜厚の上限は200nm以下に設定することが好ましい。   The electrode protective layer 17 is preferably composed of a silicon compound such as silicon oxynitride in consideration of transparency, adhesion, water resistance, and gas barrier properties. The film thickness of the electrode protective layer 17 is preferably 100 nm or more, and the upper limit of the film thickness is preferably set to 200 nm or less in order to prevent generation of cracks due to stress generated by covering the pixel partition walls 13.

なお、本実施形態においては、電極保護層17を単層で形成しているが、複数層で積層してもよい。   In the present embodiment, the electrode protective layer 17 is formed as a single layer, but may be stacked as a plurality of layers.

電極保護層17上には、有機緩衝層18が形成され、電極保護層17を被覆している。   An organic buffer layer 18 is formed on the electrode protective layer 17 and covers the electrode protective layer 17.

この有機緩衝層18は、画素隔壁13の形状の影響により、凹凸状に形成された電極保護層17の凹凸部分を埋めるように配置され、さらに、その上面は略平坦に形成される。有機緩衝層18は、素子基板20Aの反りや体積膨張により発生する応力を緩和し、不安定な形状の画素隔壁13からの電極保護層17の剥離を防止する機能を有する。また、有機緩衝層18の上面が略平坦化されるので、有機緩衝層18上に形成される硬い被膜からなる後述するガスバリア層19も平坦化される。したがって、応力が集中する部位がなくなり、これにより、ガスバリア層19でのクラックの発生を防止する。   The organic buffer layer 18 is disposed so as to fill the uneven portion of the electrode protection layer 17 formed in a concavo-convex shape due to the influence of the shape of the pixel partition wall 13, and the upper surface thereof is formed substantially flat. The organic buffer layer 18 has a function of relieving stress generated by warping or volume expansion of the element substrate 20A and preventing the electrode protective layer 17 from peeling from the pixel partition wall 13 having an unstable shape. In addition, since the upper surface of the organic buffer layer 18 is substantially flattened, a gas barrier layer 19 (to be described later) made of a hard film formed on the organic buffer layer 18 is also flattened. Therefore, there is no portion where stress is concentrated, thereby preventing generation of cracks in the gas barrier layer 19.

有機緩衝層18は、減圧真空下でスクリーン印刷法により形成するために、流動性に優れ、かつ溶媒や揮発成分の無い、全てが高分子骨格の原料となる有機化合物材料が好ましく、例えばエポキシ基を有する分子量3000以下のエポキシモノマー/オリゴマーが用いられる(モノマーの定義:分子量1000以下、オリゴマーの定義:分子量1000〜3000)。   The organic buffer layer 18 is preferably an organic compound material that is excellent in fluidity and free of solvents and volatile components and is a raw material of a polymer skeleton, for example, an epoxy group, because it is formed by screen printing under reduced pressure vacuum. An epoxy monomer / oligomer having a molecular weight of 3000 or less is used (monomer definition: molecular weight 1000 or less, oligomer definition: molecular weight 1000 to 3000).

さらに、電極保護層17やガスバリア層19との密着性を向上させるシランカップリング剤や、イソシアネート化合物などの捕水剤、硬化時の収縮を防ぐ微粒子などの添加物を混入しても良い。また、減圧雰囲気下で印刷形成するため、塗布した際に気泡が発生しにくくするために、含水量は0.01wt%(100ppm)以下に調整しておくのが好ましい。   Furthermore, additives such as a silane coupling agent that improves the adhesion to the electrode protective layer 17 and the gas barrier layer 19, a water capturing agent such as an isocyanate compound, and fine particles that prevent shrinkage during curing may be mixed. Further, since the printing is performed under a reduced pressure atmosphere, the water content is preferably adjusted to 0.01 wt% (100 ppm) or less in order to make it difficult for bubbles to be generated when applied.

有機緩衝層18の粘度は、1000mPa・s(室温:25℃)以上が好ましい。塗布直後に発光層12へ浸透して、ダークスポットと呼ばれる非発光領域を発生させないためである。また、有機緩衝層18の最適な膜厚としては、1μm〜10μmが好ましい。有機緩衝層18の膜厚が厚いほうが異物混入した場合等にガスバリア層19の欠陥を防ぐが、有機緩衝層18を合わせた膜厚が10μmを超えると、後述する着色層32aと発光層12の距離が広がり側面に逃げる光が増えるため、光の取り出し効率が低下する。また、1μm以下では、画素隔壁13を平坦化するのに不十分である。   The viscosity of the organic buffer layer 18 is preferably 1000 mPa · s (room temperature: 25 ° C.) or more. This is because it does not penetrate into the light emitting layer 12 immediately after the application and does not generate a non-light emitting region called a dark spot. Further, the optimum film thickness of the organic buffer layer 18 is preferably 1 μm to 10 μm. When the organic buffer layer 18 is thicker, foreign matter is mixed in to prevent defects in the gas barrier layer 19. However, when the combined thickness of the organic buffer layer 18 exceeds 10 μm, the coloring layer 32 a and the light emitting layer 12 described later Since the distance increases and the light escaping to the side increases, the light extraction efficiency decreases. In addition, the thickness of 1 μm or less is insufficient to flatten the pixel partition wall 13.

有機緩衝層18上には、有機緩衝層18を被覆し、かつ電極保護層17の終端部まで覆うような広い範囲で、封止膜53としてのガスバリア層19が形成されている。   On the organic buffer layer 18, a gas barrier layer 19 is formed as the sealing film 53 in a wide range so as to cover the organic buffer layer 18 and cover the terminal portion of the electrode protective layer 17.

ガスバリア層19は、酸素や水分が浸入するのを防止するためのもので、これにより酸素や水分による発光素子21の劣化等を抑えることができる。ガスバリア層19は、透明性、ガスバリア性、耐水性を考慮して、好ましくは窒素を含む珪素化合物、すなわち珪素窒化物や珪素酸窒化物などによって形成される。   The gas barrier layer 19 is for preventing oxygen and moisture from entering, and thereby, deterioration of the light emitting element 21 due to oxygen and moisture can be suppressed. In consideration of transparency, gas barrier properties, and water resistance, the gas barrier layer 19 is preferably formed of a silicon compound containing nitrogen, that is, silicon nitride, silicon oxynitride, or the like.

さらに、ガスバリア層19は、積層構造としてもよいし、その組成を不均一にして特にその酸素濃度が連続的に、あるいは非連続的に変化するような構成としてもよい。なお、積層構造とした場合の膜厚は、第一ガスバリア層としては、200nm〜400nmが好ましく、200nm未満では有機緩衝層18の表面及び側面被覆が不足してしまう。異物等の被覆性を向上させる第二ガスバリア層としては、200nm〜800nmが好ましい。総厚1000nm以上を超えるとクラックの発生頻度が上がること及び経済的な面で好ましくない。   Furthermore, the gas barrier layer 19 may have a laminated structure, or may have a configuration in which the composition is not uniform, and particularly, the oxygen concentration changes continuously or discontinuously. In addition, as for the film thickness at the time of setting it as a laminated structure, 200 nm-400 nm are preferable as a 1st gas barrier layer, and if it is less than 200 nm, the surface and side surface coating | cover of the organic buffer layer 18 will run short. As a 2nd gas barrier layer which improves the coverage of a foreign material etc., 200 nm-800 nm are preferable. When the total thickness exceeds 1000 nm, the occurrence frequency of cracks is increased, and this is not preferable from the economical viewpoint.

また、本実施形態では、有機EL装置1をトップエミッション構造としていることから、ガスバリア層19は光透過性を有する必要があり、したがってその材質や膜厚を適宜に調整することにより、本実施形態では可視光領域における光線透過率を例えば80%以上にしている。   Further, in the present embodiment, since the organic EL device 1 has a top emission structure, the gas barrier layer 19 needs to have light transmittance. Therefore, by appropriately adjusting the material and the film thickness, the present embodiment Then, the light transmittance in the visible light region is set to 80% or more, for example.

(封止基板)
ガスバリア層19が形成された素子基板20Aには、封止基板31が対向配置されている。封止基板31は、ガスバリア層19を保護する機能と光透過性を備えた基板であり、例えばガラス、石英ガラス、窒化ケイ素等の無機物や、アクリル樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリオレフィン樹脂等の有機高分子(樹脂)を用いて形成することができる。また、光透過性を備えるならば、前記材料を積層または混合して形成された複合材料を用いることもできる。中でも、透明性と防湿性が高く、耐熱性を付与するのに素子基板20Aとの熱膨張率を合わせるため、特にガラス基板が好適に用いられる。
(Sealing substrate)
A sealing substrate 31 is disposed opposite to the element substrate 20A on which the gas barrier layer 19 is formed. The sealing substrate 31 is a substrate having a function of protecting the gas barrier layer 19 and a light transmitting property. For example, inorganic materials such as glass, quartz glass, and silicon nitride, acrylic resin, polycarbonate resin, polyethylene terephthalate resin, polyolefin resin, and the like. The organic polymer (resin) can be used. In addition, a composite material formed by laminating or mixing the above materials can be used as long as it has optical transparency. Among them, a glass substrate is particularly preferably used in order to match the thermal expansion coefficient with the element substrate 20A in order to provide high transparency and moisture resistance and to impart heat resistance.

封止基板31の素子基板20Aと対向する面には、カラーフィルター層32が形成されている。カラーフィルター層32には、透過光を赤色(R)、緑色(G)、青色(B)のいずれかの光に変調する着色層32aがマトリクス状に配列形成されている。この着色層32aの各々は、陽極10上に形成された白色の発光層12に対向して配置されている。これにより、発光層12から射出された光は着色層32aの各々を透過して、赤色光、緑色光、青色光として観察者側に射出され、カラー表示を行うようになっている。   A color filter layer 32 is formed on the surface of the sealing substrate 31 facing the element substrate 20A. In the color filter layer 32, a colored layer 32a that modulates transmitted light into any one of red (R), green (G), and blue (B) is arranged in a matrix. Each of the colored layers 32 a is disposed to face the white light emitting layer 12 formed on the anode 10. As a result, the light emitted from the light emitting layer 12 passes through each of the colored layers 32a and is emitted to the viewer as red light, green light, and blue light to perform color display.

また、隣接する着色層32aの間および着色層32aの周囲には、光漏れを防ぎ視認性を向上させるブラックマトリクス層32bが形成されている。ブラックマトリクス層32bは、一部がシール層33に平面的に重なる領域にまで延在して形成されている。そのため、装置側面からの光漏れを効率的に防ぎ画質を向上させることができる。   Further, a black matrix layer 32b that prevents light leakage and improves visibility is formed between adjacent colored layers 32a and around the colored layer 32a. The black matrix layer 32 b is formed so as to extend to a region where a part thereof overlaps the seal layer 33 in plan view. Therefore, it is possible to efficiently prevent light leakage from the side of the apparatus and improve the image quality.

なお、封止基板31には、カラーフィルター層32の他に、紫外線を遮断または吸収する層や、光反射防止膜、放熱層などの機能層を設けてもよい。   In addition to the color filter layer 32, the sealing substrate 31 may be provided with a functional layer such as a layer that blocks or absorbs ultraviolet rays, an antireflection film, or a heat dissipation layer.

素子基板20Aと封止基板31とは、素子基板20Aの外周部近傍に配置されるシール層33と、シール層33に囲まれた領域内で素子基板20Aと封止基板31とに挟持された充填層34と、によって貼り合わされている。なお、シール層33は、端子部210においてガスバリア層19が延出するように、少なくとも端子部210においては、ガスバリア層19の形成領域よりも内側に形成されている。すなわち、素子領域200は平面視において、素子基板20A上の発光領域4およびダミー領域5を含むシール層33までの図中中央部の領域である。   The element substrate 20A and the sealing substrate 31 are sandwiched between the sealing layer 33 disposed in the vicinity of the outer peripheral portion of the element substrate 20A and the element substrate 20A and the sealing substrate 31 in a region surrounded by the sealing layer 33. The filler layer 34 is bonded together. The seal layer 33 is formed at least inside the region where the gas barrier layer 19 is formed so that the gas barrier layer 19 extends in the terminal portion 210. That is, the element region 200 is a central region in the drawing up to the sealing layer 33 including the light emitting region 4 and the dummy region 5 on the element substrate 20A in plan view.

このシール層33は、素子基板20Aと封止基板31の貼り合わせの位置精度の向上と後述する充填層34のはみ出しを防止する土手の機能を有し、紫外線によって硬化して粘度が向上するエポキシ材料等で構成されている。   This seal layer 33 has an embankment function for improving the positional accuracy of the bonding of the element substrate 20A and the sealing substrate 31 and preventing the filling layer 34 to be described later from protruding, and is an epoxy that is cured by ultraviolet rays to improve the viscosity. It consists of materials.

シール層33の膜厚としては、1μm〜25μmが好ましい。なお、素子基板20Aと封止基板31との距離を規制するために所定粒径の有機材料からなる球状粒子が混合されているものが好ましい。シール層33は、通常、無機材料の燐片状や塊状の粒子を混合して粘度を高めているが、前述した各種配線やガスバリア層19が貼り合わせ圧着時に損傷してしまうため、本実施形態における有機EL装置1は、弾性率が小さい有機材料の球状粒子をシール層33に混合している。   The thickness of the sealing layer 33 is preferably 1 μm to 25 μm. In addition, in order to regulate the distance between the element substrate 20A and the sealing substrate 31, a mixture of spherical particles made of an organic material having a predetermined particle diameter is preferable. The sealing layer 33 is usually mixed with inorganic particles in the form of flakes or lumps to increase the viscosity. However, since the various wirings and the gas barrier layer 19 described above are damaged during bonding and bonding, this embodiment is used. In the organic EL device 1, spherical particles of an organic material having a low elastic modulus are mixed in the seal layer 33.

また、素子基板20Aと封止基板31の間におけるシール層33に囲まれた内部に、熱硬化性樹脂からなる充填層34が形成されている。   A filling layer 34 made of a thermosetting resin is formed inside the element substrate 20 </ b> A and the sealing substrate 31 and surrounded by the seal layer 33.

この充填層34は、前述したシール層33で囲まれた有機EL装置1の内部に隙間なく充填されており、素子基板20Aに対向配置された封止基板31を固定させ、かつ外部からの機械的衝撃に対して緩衝機能を有し、発光層12やガスバリア層19の保護をするものである。   The filling layer 34 is filled without gaps in the organic EL device 1 surrounded by the sealing layer 33 described above, and fixes the sealing substrate 31 disposed to face the element substrate 20A, and also provides an external machine. It has a buffering function against an impact and protects the light emitting layer 12 and the gas barrier layer 19.

充填層34は、硬化前の原料主成分としては、流動性に優れ、かつ溶媒のような揮発成分を持たない有機化合物材料が好ましく、例えばエポキシ基を有する分子量3000以下のエポキシモノマー/オリゴマーが用いられる(モノマーの定義:分子量1000以下、オリゴマーの定義:分子量1000〜3000)。   The packed layer 34 is preferably an organic compound material that is excellent in fluidity and does not have a volatile component such as a solvent as a raw material main component before curing. For example, an epoxy monomer / oligomer having an epoxy group and a molecular weight of 3000 or less is used. (Definition of monomer: molecular weight 1000 or less, definition of oligomer: molecular weight 1000 to 3000).

充填層34の膜厚としては、1μm〜20μmが好ましい。なお、素子基板20Aと封止基板31との距離を規制するために所定粒径の有機材料からなる粒子が混合されているものが好ましい。また、前述したシール層33と同様に、本実施形態における有機EL装置1は、弾性率が小さい有機材料の球状粒子を混合している。粒子に弾性率が小さい有機材料を充填層34に混合することにより、前述したガスバリア層19の損傷を防ぐことができる。   The film thickness of the filling layer 34 is preferably 1 μm to 20 μm. In addition, in order to regulate the distance between the element substrate 20 </ b> A and the sealing substrate 31, a mixture of particles made of an organic material having a predetermined particle diameter is preferable. Similarly to the sealing layer 33 described above, the organic EL device 1 according to the present embodiment is mixed with spherical particles of an organic material having a low elastic modulus. By mixing the particles with an organic material having a low elastic modulus in the filling layer 34, the above-described damage to the gas barrier layer 19 can be prevented.

また、素子基板20Aと対向配置された封止基板31は、光学特性及びガスバリア層19の保護を目的に設けられる。この封止基板31の材質は、ガラス又は透明プラスチック(ポリエチレンテレフタレート、アクリル樹脂、ポリカーボネート、ポリオレフィン等)が好ましい。また、この封止基板31には、紫外線遮断/吸収層や光反射防止層、放熱層等の機能層が設けられていてもよい。   In addition, the sealing substrate 31 disposed opposite to the element substrate 20A is provided for the purpose of protecting the optical characteristics and the gas barrier layer 19. The material of the sealing substrate 31 is preferably glass or transparent plastic (polyethylene terephthalate, acrylic resin, polycarbonate, polyolefin, etc.). The sealing substrate 31 may be provided with functional layers such as an ultraviolet blocking / absorbing layer, a light reflection preventing layer, and a heat dissipation layer.

次に図3および図4を参照し、素子領域200の外側に設けられた端子部210の断面および平面の構成について説明する。   Next, with reference to FIG. 3 and FIG. 4, a cross-sectional and planar configuration of the terminal portion 210 provided outside the element region 200 will be described.

図3に示すように、素子領域200の外側に設けられた端子部210には、素子領域200から延在して発光素子21と電気的に接続された第1配線51と、端子部210にて第1配線51と電気的に接続された第2配線52と、が設けられている。発光素子21と電気的に接続された第1配線51は、例えば、走査線駆動回路80やデータ線駆動回路90、電源線103や陰極用配線202など、走査線101、信号線102、TFTおよび発光素子21のいずれかと電気的に接続するために端子部210に引き回す、いわゆる引き回し配線である。   As shown in FIG. 3, the terminal portion 210 provided outside the element region 200 includes a first wiring 51 extending from the element region 200 and electrically connected to the light emitting element 21, and a terminal portion 210. And a second wiring 52 electrically connected to the first wiring 51. The first wiring 51 electrically connected to the light emitting element 21 includes, for example, the scanning line driving circuit 80, the data line driving circuit 90, the power supply line 103, the cathode wiring 202, the scanning line 101, the signal line 102, the TFT, and the like. This is a so-called routing wiring that is routed to the terminal portion 210 to be electrically connected to any one of the light emitting elements 21.

端子部210は、封止膜53が素子領域200より延出して第1配線51を覆う封止膜被覆部220と、第1配線51の少なくとも一部が露出している露出部230と、により構成されている。
さらに、封止膜被覆部220の封止膜53および露出部230における第1配線51上に第2配線52が形成されている。すなわち、第2配線52は、封止膜被覆部220と露出部230にわたって形成されている。
The terminal portion 210 includes a sealing film covering portion 220 in which the sealing film 53 extends from the element region 200 and covers the first wiring 51, and an exposed portion 230 in which at least a part of the first wiring 51 is exposed. It is configured.
Further, the second wiring 52 is formed on the sealing film 53 of the sealing film covering part 220 and the first wiring 51 in the exposed part 230. That is, the second wiring 52 is formed across the sealing film covering portion 220 and the exposed portion 230.

第1配線51と第2配線52は、露出部230にて互いに直接接触することにより電気的接続が確保されている。あるいは、封止膜53を貫通するコンタクトホールなどの接続部を介して第1配線51と第2配線52とを電気的に接続させてもよい。なお、第1配線51および第2配線52の形成材料は、導電性材料であれば特に限定されず、例えばAlや低抵抗Siなどを用いて、フォトリソグラフィーなどで形成する。   The first wiring 51 and the second wiring 52 are in direct contact with each other at the exposed portion 230 to ensure electrical connection. Alternatively, the first wiring 51 and the second wiring 52 may be electrically connected through a connection portion such as a contact hole that penetrates the sealing film 53. The material for forming the first wiring 51 and the second wiring 52 is not particularly limited as long as it is a conductive material. For example, the first wiring 51 and the second wiring 52 are formed by photolithography using Al, low-resistance Si, or the like.

図4に示すとおり、第1配線51と第2配線52は、封止膜被覆部220および露出部230において平面視で略長方形となっており、少なくとも露出部230においては互いに重なるように同じ線幅で形成されている。露出部230においては、第1配線51と第2配線52とが電気的に接続している必要があるため、配線コンタクト面積の確保や製造方法の容易さを考慮すると、同じ線幅で形成することが好ましいが、封止膜被覆部220においては第1配線51と第2配線52とは電気的に接続させる必要は無いため、封止膜被覆部220においては第1配線51と第2配線52は同じ線幅である必要は無い。   As shown in FIG. 4, the first wiring 51 and the second wiring 52 have a substantially rectangular shape in plan view in the sealing film covering portion 220 and the exposed portion 230, and at least in the exposed portion 230, the same lines so as to overlap each other. It is formed with a width. In the exposed portion 230, the first wiring 51 and the second wiring 52 need to be electrically connected. Therefore, in consideration of securing the wiring contact area and the ease of the manufacturing method, they are formed with the same line width. However, since it is not necessary to electrically connect the first wiring 51 and the second wiring 52 in the sealing film covering portion 220, the first wiring 51 and the second wiring are not required in the sealing film covering portion 220. 52 need not have the same line width.

また、図3では、第1配線51と第2配線52の端部は互いに一致している例を示したが、必ずしも一致している必要は無い。すなわち、第1配線51の露出部230と第2配線52とが部分的に接触して電気的な接続が確保できていれば良いので、第2配線52が第1配線51を覆う構成や、第1配線51の一部が第2配線52から露出した構成でも良い。いずれの場合においても、第1配線51と第2配線52のパターンを一致させなくてもよいので、パターン精度が低い製造方法でも容易に実施することが可能である。
FIG. 3 shows an example in which the end portions of the first wiring 51 and the second wiring 52 match each other, but they do not necessarily have to match. That is, the exposed portion 230 of the first wiring 51 and the second wiring 52 only need to be in partial contact with each other to ensure electrical connection, so that the second wiring 52 covers the first wiring 51, A configuration in which a part of the first wiring 51 is exposed from the second wiring 52 may be used. In either case, the patterns of the first wiring 51 and the second wiring 52 do not have to be matched, and therefore, it is possible to easily carry out a manufacturing method with low pattern accuracy.

<有機EL装置の製造方法>
次に、図5から図7を参照して本実施形態における有機EL装置1の製造方法を説明する。ここで、図5は有機EL装置1の素子基板20Aに各種保護層を積層させた層構造を形成する工程図であり、図6は封止基板31にシール層および接着層の形成材料を配置する工程図であり、図7は封止基板31と素子基板20Aとを貼り合わせて有機EL装置1とするまでの工程図である。
<Method for manufacturing organic EL device>
Next, a method for manufacturing the organic EL device 1 according to this embodiment will be described with reference to FIGS. Here, FIG. 5 is a process diagram for forming a layer structure in which various protective layers are laminated on the element substrate 20A of the organic EL device 1, and FIG. 6 shows a material for forming a sealing layer and an adhesive layer on the sealing substrate 31. FIG. 7 is a process diagram for bonding the sealing substrate 31 and the element substrate 20 </ b> A to the organic EL device 1.

まず、図5(a)に示すように、陰極11までが積層された素子基板20Aに電極保護層17を形成する。例えば、前述のように窒化シリコンや酸窒化シリコンなどを、ECRスパッタ法やイオンプレーティング法等の高密度プラズマ成膜法により成膜する。   First, as shown in FIG. 5A, the electrode protective layer 17 is formed on the element substrate 20A on which the cathode 11 is laminated. For example, as described above, silicon nitride, silicon oxynitride, or the like is formed by a high-density plasma film formation method such as an ECR sputtering method or an ion plating method.

次に、図5(b)に示すように、有機緩衝層18を電極保護層17上に形成する。具体的には、減圧雰囲気下でスクリーン印刷法により有機緩衝層18を形成する。   Next, as shown in FIG. 5B, the organic buffer layer 18 is formed on the electrode protective layer 17. Specifically, the organic buffer layer 18 is formed by screen printing under a reduced pressure atmosphere.

次に、図5(c)に示すように、ガスバリア層19を有機緩衝層18上に形成する。具体的には、ECRスパッタ法やイオンプレーティング法などの高密度プラズマ成膜法で形成する。なお形成前には、酸素プラズマ処理によって密着性を向上させると信頼性が向上するため好ましい。また、製造の際には、ガスバリア層19と電極保護層17とを同一の材料にて形成すると、製造工程や製造装置の簡略化を図ることができる。こうした場合には、ガスバリア層19を形成する際に用いるマスクと電極保護層17を形成する際に用いるマスクは共通のマスクが使用可能である。なお、ガスバリア層19は、素子基板20A上において、素子領域200の全面を覆いかつ端子部210の封止膜被覆部220まで延在するように形成して、第1配線51の一部が露出するように形成する(図4参照)。   Next, as shown in FIG. 5C, the gas barrier layer 19 is formed on the organic buffer layer 18. Specifically, it is formed by a high density plasma film forming method such as an ECR sputtering method or an ion plating method. Note that before the formation, it is preferable to improve adhesion by oxygen plasma treatment because reliability is improved. Further, when the gas barrier layer 19 and the electrode protective layer 17 are formed of the same material during manufacturing, the manufacturing process and the manufacturing apparatus can be simplified. In such a case, a common mask can be used as a mask used when forming the gas barrier layer 19 and a mask used when forming the electrode protective layer 17. The gas barrier layer 19 is formed on the element substrate 20A so as to cover the entire surface of the element region 200 and extend to the sealing film covering part 220 of the terminal part 210, and a part of the first wiring 51 is exposed. (See FIG. 4).

一方、封止基板31側においては、図6(a)に示すように、カラーフィルター層32が形成された封止基板31の周辺部にシール層33の形成材料を配置する。具体的には、ニードルディスペンス法により、前述したシール層33の形成材料を封止基板31の周囲に塗布していく。なお、この塗布方法は、スクリーン印刷法を用いてもよい。本実施形態に係るシール層33の形成材料の塗布時の粘度は50Pa・s(室温)である。含水量はあらかじめ1000ppm以下に調整しておく。   On the other hand, on the sealing substrate 31 side, as shown in FIG. 6A, a material for forming the seal layer 33 is disposed around the sealing substrate 31 on which the color filter layer 32 is formed. Specifically, the material for forming the sealing layer 33 described above is applied around the sealing substrate 31 by a needle dispensing method. Note that this printing method may be a screen printing method. The viscosity at the time of application | coating of the forming material of the sealing layer 33 which concerns on this embodiment is 50 Pa.s (room temperature). The water content is adjusted in advance to 1000 ppm or less.

次に、図6(b)に示すように、封止基板31に配置されたシール層33の形成材料に囲まれた内部に充填層34の形成材料を配置する。配置方法としてジェットディスペンス法を用い、塗布を行う。なお、充填層34の形成材料は、必ずしも封止基板31の全面に塗布する必要はなく、必要量を封止基板31上の複数箇所に分けて塗布すればよい。本実施形態に係る充填層34の形成材料の塗布時の粘度は500mPa・s(室温)である。シール層33の形成材料の粘度は充填層34の形成材料の粘度よりも十分に高いため、シール層33の形成材料は充填層34の形成材料のはみ出しを防止する土手としての機能を発揮することができる。   Next, as shown in FIG. 6B, the forming material of the filling layer 34 is arranged inside the sealing material 33 forming material disposed on the sealing substrate 31. Coating is performed using a jet dispensing method as an arrangement method. Note that the material for forming the filling layer 34 is not necessarily applied to the entire surface of the sealing substrate 31, and a necessary amount may be divided and applied to a plurality of locations on the sealing substrate 31. The viscosity at the time of application | coating of the forming material of the filling layer 34 which concerns on this embodiment is 500 mPa * s (room temperature). Since the viscosity of the forming material of the sealing layer 33 is sufficiently higher than the viscosity of the forming material of the filling layer 34, the forming material of the sealing layer 33 functions as a bank that prevents the forming material of the filling layer 34 from protruding. Can do.

次に、図6(c)に示すように、シール層33および充填層34が塗布された封止基板31に紫外線照射を行う。例えば、照度30mW/cm2、光量2000mJ/cm2の紫外線を封止基板31上に配置された各形成材料に照射する。すると、光反応型開始剤を含むシール層33の形成材料が優先的に反応して硬化を開始するため、シール層33の形成材料の粘度が向上する。 Next, as shown in FIG. 6C, the sealing substrate 31 coated with the sealing layer 33 and the filling layer 34 is irradiated with ultraviolet rays. For example, each forming material disposed on the sealing substrate 31 is irradiated with ultraviolet rays having an illuminance of 30 mW / cm 2 and a light amount of 2000 mJ / cm 2 . Then, since the forming material of the seal layer 33 including the photoreactive initiator reacts preferentially and starts curing, the viscosity of the forming material of the seal layer 33 is improved.

続いて、図7(a)に示すように、図5(c)に示したガスバリア層19までが形成された素子基板20Aと、図6(c)に示したシール層33の硬化を開始させた封止基板31と、を貼り合わせる。この時、シール層33が、素子基板20A上に形成した有機緩衝層18の周辺端部を完全に被覆し、かつ端子部210上のガスバリア層19の端部が延出するように、素子基板20Aと封止基板31とを貼り合わせる。この貼り合わせ工程は、真空度が1Paの減圧雰囲気下で行われ、加圧600Nで200秒間保持して圧着させる。   Subsequently, as shown in FIG. 7A, curing of the element substrate 20A on which the gas barrier layer 19 shown in FIG. 5C is formed and the seal layer 33 shown in FIG. 6C is started. The sealed substrate 31 is bonded together. At this time, the element substrate is so formed that the seal layer 33 completely covers the peripheral edge of the organic buffer layer 18 formed on the element substrate 20A and the end of the gas barrier layer 19 on the terminal portion 210 extends. 20A and the sealing substrate 31 are bonded together. This bonding step is performed in a reduced pressure atmosphere with a degree of vacuum of 1 Pa, and is held for 200 seconds at a pressure of 600 N for pressure bonding.

次に、図7(b)に示すように、圧着して貼り合わせた有機EL装置1を大気中で加熱して、シール層33および充填層34の形成材料の硬化を完了させる。   Next, as shown in FIG. 7B, the organic EL device 1 bonded by pressure bonding is heated in the atmosphere to complete the curing of the forming material of the seal layer 33 and the filling layer 34.

続いて、図3に示すように、端子部210において、ガスバリア層19および第1配線上に第2配線52を形成する。具体的には、例えばAlやCrなどを用いてフォトリソグラフィーにより形成する。
なお、素子基板20Aに予め第2配線52を形成してから、封止基板31と貼り合わせてもよい。
Subsequently, as illustrated in FIG. 3, the second wiring 52 is formed on the gas barrier layer 19 and the first wiring in the terminal portion 210. Specifically, it is formed by photolithography using Al or Cr, for example.
Note that the second wiring 52 may be formed in advance on the element substrate 20A and then bonded to the sealing substrate 31.

上記実施形態の有機EL装置1およびその製造方法によれば、以下の効果を奏する。
(1)第2配線52をシール層33近傍まで形成することにより、第2配線52が形成された領域に相当する分、外部入力端子(図示しない)と第1配線51とをコンタクトするための面積を拡大することができる。
(2)また、第2配線52を第1配線51上だけでなく封止膜53上にも形成するので、第2配線52の形成領域を素子基板20Aの外周側に拡大せずに配線コンタクト面積を確保することができ、いわゆる狭額縁化が達成できる。
According to the organic EL device 1 and the method for manufacturing the same of the above embodiment, the following effects can be obtained.
(1) By forming the second wiring 52 to the vicinity of the seal layer 33, an amount corresponding to the region where the second wiring 52 is formed is used to contact an external input terminal (not shown) and the first wiring 51. The area can be enlarged.
(2) Further, since the second wiring 52 is formed not only on the first wiring 51 but also on the sealing film 53, the wiring contact is made without expanding the formation region of the second wiring 52 to the outer peripheral side of the element substrate 20A. The area can be secured, and so-called narrow frame can be achieved.

(第2実施形態)
次に第2実施形態の有機EL装置について、図8を参照して説明する。図8は第2実施形態における有機EL装置の構造を示す概略断面図である。なお、第1実施形態と同じ構成には同じ符号を付して詳細な説明は省略する。
上記第1実施形態では、封止膜53上にシール層33、充填層34を形成し、カラーフィルター層32を形成した封止基板31を貼り合わせる構成としたが、第2実施形態の有機EL装置101は、図8に示すように、カラーフィルター層132と、カラーフィルター層132を発光素子21ごとに区画する遮光膜としてのブラックマトリクス層137とを、封止膜53上に直接形成した、いわゆるOCCF(On ChipColor Filter)構造である。
本実施形態では、ブラックマトリクス層137と第2配線52とは同じ材料を用いて形成されている。具体的には、CrやAlなどの遮光と電気的接続という二つの役割を果たすことができる材料にて構成されていることが望ましい。これにより、上記第1実施形態の効果(1)、(2)に加えて、ブラックマトリクス層137と第2配線層52とを同一プロセスで形成することが可能となるので、製造プロセス数を削減することができる。
(Second Embodiment)
Next, an organic EL device according to a second embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 8 is a schematic cross-sectional view showing the structure of the organic EL device in the second embodiment. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the same structure as 1st Embodiment, and detailed description is abbreviate | omitted.
In the first embodiment, the sealing layer 33 and the filling layer 34 are formed on the sealing film 53, and the sealing substrate 31 on which the color filter layer 32 is formed is bonded. However, the organic EL according to the second embodiment is used. As shown in FIG. 8, the device 101 directly forms a color filter layer 132 and a black matrix layer 137 as a light shielding film that partitions the color filter layer 132 for each light emitting element 21 on the sealing film 53. This is a so-called OCCF (On Chip Color Filter) structure.
In the present embodiment, the black matrix layer 137 and the second wiring 52 are formed using the same material. Specifically, it is desirable to be made of a material such as Cr or Al that can play two roles of light shielding and electrical connection. As a result, in addition to the effects (1) and (2) of the first embodiment, the black matrix layer 137 and the second wiring layer 52 can be formed in the same process, thereby reducing the number of manufacturing processes. can do.

(第3実施形態)
次に第3実施形態の有機EL装置について、図9を参照して説明する。図9は第3実施形態の有機EL装置の端子部の拡大平面図である。第3実施形態の有機EL装置は、第1実施形態の封止膜被覆部220における第2配線の平面的な配置を異ならせたものである。
本実施形態における第2配線520は、平面視で異なる形状の第3配線530と、第4配線540と、で構成されている。
第3配線530は、第1配線51と接触し電気的接続を確保している第1の部分としての配線導通部530aと、封止膜被覆部220上の第2の部分としての配線拡幅部530bと、配線導通部530aと配線拡幅部530bの間の配線接続部530cとにより構成されている。配線導通部530aは、第1実施形態と同様に、第1配線51と同じ線幅となっており、配線拡幅部530bは、配線導通部530aの約3倍の幅となっている。また、配線接続部530cは、配線導通部530aと同じ線幅で形成されている。
(Third embodiment)
Next, an organic EL device according to a third embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 9 is an enlarged plan view of a terminal portion of the organic EL device according to the third embodiment. In the organic EL device according to the third embodiment, the planar arrangement of the second wiring in the sealing film covering portion 220 according to the first embodiment is different.
The second wiring 520 in the present embodiment includes a third wiring 530 and a fourth wiring 540 that have different shapes in plan view.
The third wiring 530 is in contact with the first wiring 51 and secures an electrical connection. The wiring conduction portion 530a as the first portion and the wiring widening portion as the second portion on the sealing film covering portion 220 530b and a wiring connection portion 530c between the wiring conduction portion 530a and the wiring widening portion 530b. Similar to the first embodiment, the wiring conduction portion 530a has the same line width as the first wiring 51, and the wiring widening portion 530b has a width approximately three times that of the wiring conduction portion 530a. Further, the wiring connection portion 530c is formed with the same line width as the wiring conduction portion 530a.

第4配線540は、第1配線51と接触し電気的接続を確保している第1の部分としての配線導通部540aと、封止膜被覆部220上の素子領域200側に位置する第2の部分としての配線拡幅部540bと、封止膜被覆部220上の露出部230側にあって、第3配線530の配線拡幅部530bと隣り合う配線狭小部540dと、配線導通部540aと配線狭小部540dの間を接続する配線接続部540cとにより構成されている。
具体的には、配線導通部540aは、第1実施形態と同様に、第1配線51と同じ線幅となっており、配線拡幅部540bは、配線導通部540aの約3倍の幅となっている。さらに、配線接続部540cは、配線導通部540aと同じ線幅で形成されており、配線狭小部540dは、配線導通部540aの約1/3倍の幅となっている。
The fourth wiring 540 is in contact with the first wiring 51 and secures an electrical connection. The wiring conduction part 540a as the first part and the second wiring 540 located on the element region 200 side on the sealing film covering part 220 are provided. A wiring widening portion 540b as a portion of the wiring, a wiring narrowing portion 540d adjacent to the wiring widening portion 530b of the third wiring 530 on the exposed portion 230 side on the sealing film covering portion 220, a wiring conduction portion 540a, and a wiring It is comprised by the wiring connection part 540c which connects between the narrow parts 540d.
Specifically, the wiring conduction part 540a has the same line width as the first wiring 51, and the wiring widening part 540b is about three times as wide as the wiring conduction part 540a, as in the first embodiment. ing. Further, the wiring connection portion 540c is formed with the same line width as the wiring conduction portion 540a, and the wiring narrow portion 540d is about 1/3 times as wide as the wiring conduction portion 540a.

このように配置することで、コンタクトに使用できる端子幅を、約3倍に広げることができる。端子幅を大きくすることで、パネル状態での電気的コンタクトが容易になり、例えばFPCなどの実装といった外部回路との接続を容易にかつ確実に行うことが可能となる。また第3配線530および第4配線540は、封止膜53上に形成されていることから、額縁領域を広くする必要も無い。有機EL装置の高精細化が進む現状においてコンタクトエリアを拡大しつつ狭額縁化を実現するための一つの手段となる。   By arranging in this way, the terminal width that can be used for the contact can be increased about three times. By increasing the terminal width, electrical contact in the panel state is facilitated, and connection with an external circuit such as mounting of an FPC, for example, can be easily and reliably performed. Further, since the third wiring 530 and the fourth wiring 540 are formed on the sealing film 53, it is not necessary to widen the frame area. This is one means for realizing a narrow frame while expanding the contact area in the current situation where the definition of organic EL devices is increasing.

第2配線520(第3配線530、第4配線540)は、第1実施形態の第2配線52と同様に、導電性材料であれば特に限定されず、例えばAlやCrなどを用い、フォトリソグラフィーなどで形成する。   The second wiring 520 (the third wiring 530 and the fourth wiring 540) is not particularly limited as long as it is a conductive material, like the second wiring 52 of the first embodiment. It is formed by lithography.

(電子機器)
次に、上記実施形態の有機EL装置を備えた電子機器の例について図○○を参照して説明する。
(Electronics)
Next, an example of an electronic apparatus provided with the organic EL device of the above embodiment will be described with reference to FIG.

図10(a)は、携帯電話の一例を示した斜視図である。図10(a)において、符号150は携帯電話本体を示し、符号151は上記実施形態の有機EL装置を備えた表示部を示している。   FIG. 10A is a perspective view showing an example of a mobile phone. In FIG. 10A, reference numeral 150 denotes a mobile phone body, and reference numeral 151 denotes a display unit including the organic EL device of the above embodiment.

図10(b)は、ワープロ、パソコンなどの携帯型情報処理装置の一例を示した斜視図である。図10(b)において、符号160は情報処理装置、符号161はキーボードなどの入力部、符号163は情報処理本体、符号162は上記実施形態の有機EL装置を備えた表示部を示している。   FIG. 10B is a perspective view illustrating an example of a portable information processing apparatus such as a word processor or a personal computer. In FIG. 10B, reference numeral 160 denotes an information processing apparatus, reference numeral 161 denotes an input unit such as a keyboard, reference numeral 163 denotes an information processing body, and reference numeral 162 denotes a display unit including the organic EL device of the above embodiment.

図10(c)は、腕時計型電子機器の一例を示した斜視図である。図10(c)において、符号170は時計本体を示し、符号171は上記実施形態の有機EL装置を備えたEL表示部を示している。   FIG. 10C is a perspective view illustrating an example of a wristwatch type electronic device. In FIG. 10C, reference numeral 170 denotes a watch body, and reference numeral 171 denotes an EL display unit including the organic EL device of the above embodiment.

図10(a)〜(c)に示す電子機器は、上記実施形態に示した有機EL装置が備えられたものであるので、狭額縁化が達成され外形がより小型であると共に、表示特性が良好な電子機器となる。   Since the electronic devices shown in FIGS. 10A to 10C are provided with the organic EL device shown in the above embodiment, the narrow frame is achieved, the outer shape is smaller, and the display characteristics are improved. It becomes a good electronic device.

なお、上記実施形態の有機EL装置を適用可能な電子機器としては、これに限られることなく、種々の電子機器に適用することができる。例えば、ディスクトップ型コンピューター、液晶プロジェクター、マルチメディア対応のパーソナルコンピューター(PC)及びエンジニアリング・ワークステーション(EWS)、ページャー、ワードプロセッサー、テレビ、ビューファインダー型又はモニター直視型のビデオテープレコーダー、電子手帳、電子卓上計算機、カーナビゲーション装置、POS端末、タッチパネルを備えた装置等の電子機器に適用することができる。   In addition, as an electronic device which can apply the organic EL apparatus of the said embodiment, it is not restricted to this, It can apply to a various electronic device. For example, desktop computers, liquid crystal projectors, multimedia personal computers (PCs) and engineering workstations (EWS), pagers, word processors, TVs, viewfinder type or monitor direct view type video tape recorders, electronic notebooks, electronic The present invention can be applied to electronic devices such as a desktop computer, a car navigation device, a POS terminal, and a device having a touch panel.

1…有機EL装置(第1実施形態)、10…第1の電極としての陽極、11…第2の電極としての陰極、12…発光層(有機発光層)、13…画素隔壁、17…電極保護層(保護層)、18…有機緩衝層(保護層)、19…封止膜としてのガスバリア層、20A…素子基板、21…発光素子、31…封止基板、32…カラーフィルター層(第1実施形態)、33…シール層、34…充填層、51…第1配線、52…第2配線、53…封止膜、520…第2配線、101…有機EL装置(第2実施形態)、132…カラーフィルター層(第2実施形態)、137…遮光膜としてのブラックマトリクス層(第2実施形態)、200…素子領域、210…端子部、530a,540a…第2配線の第1の部分としての配線導通部、530b,540b…第2配線の第2の部分としての配線拡幅部、150…電子機器としての携帯電話、160…電子機器としての情報処理装置、170…電子機器としての腕時計。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Organic EL apparatus (1st Embodiment) 10 ... Anode as 1st electrode, 11 ... Cathode as 2nd electrode, 12 ... Light emitting layer (organic light emitting layer), 13 ... Pixel partition, 17 ... Electrode Protective layer (protective layer), 18 ... organic buffer layer (protective layer), 19 ... gas barrier layer as sealing film, 20A ... element substrate, 21 ... light emitting element, 31 ... sealing substrate, 32 ... color filter layer (first) 1), 33 ... sealing layer, 34 ... filling layer, 51 ... first wiring, 52 ... second wiring, 53 ... sealing film, 520 ... second wiring, 101 ... organic EL device (second embodiment) 132, a color filter layer (second embodiment), 137, a black matrix layer as a light shielding film (second embodiment), 200, an element region, 210, a terminal portion, 530a, 540a, a first of a second wiring. Wiring conduction part as a part, 530b, 540 ... wiring widened portion of the second portion of the second wiring, 150 ... mobile phone as an electronic apparatus, 160 ... information processing device as an electronic device, 170 ... watch as an electronic apparatus.

Claims (7)

基板上に、
第1の電極と、第2の電極と、前記第1の電極と前記第2の電極との間に設けられた発光層と、を有する発光素子が設けられた発光領域と、
少なくとも前記発光素子を覆う封止膜と、
前記発光素子と電気的に接続されるとともに、前記封止膜に被覆された被覆部と、前記封止膜から露出する露出部とを有する第1配線と、
前記露出部において前記第1配線と接する第1の部分と、前記封止膜上に形成された第2の部分と、を有する第2配線と、
を備え、
前記第2配線の前記第1の部分及び前記第2の部分は、外部回路に電気的に接続する端子として機能し、
前記第1配線は、走査線駆動回路、前記走査線駆動回路に接続された走査線、データ線駆動回路、前記データ線駆動回路に接続された信号線、電源線、陰極配線のいずれかと電気的に接続された引き回し配線である電気光学装置。
On the board
A light emitting region provided with a light emitting element having a first electrode, a second electrode, and a light emitting layer provided between the first electrode and the second electrode;
A sealing film covering at least the light emitting element;
A first wiring that is electrically connected to the light emitting element and has a covering portion covered with the sealing film and an exposed portion exposed from the sealing film;
A second wiring having a first portion in contact with the first wiring in the exposed portion and a second portion formed on the sealing film;
With
The first portion and the second portion of the second wiring function as terminals that are electrically connected to an external circuit ;
The first wiring is electrically connected to any one of a scanning line driving circuit, a scanning line connected to the scanning line driving circuit, a data line driving circuit, a signal line connected to the data line driving circuit, a power supply line, and a cathode wiring. An electro-optical device which is a lead wiring connected to the .
請求項1に記載の電気光学装置であって、
前記第2配線は、前記外部回路との配線コンタクト面積を拡大するように構成されてなる、ことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1,
The electro-optical device, wherein the second wiring is configured to increase a wiring contact area with the external circuit.
請求項1または2に記載の電気光学装置であって、
前記発光領域における前記封止膜上には、前記発光層から発せられた光の少なくとも一部を遮光する遮光膜が設けられており、
前記第2配線および前記遮光膜は、同じ材料で形成されていることを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to claim 1, wherein
On the sealing film in the light emitting region, a light shielding film that shields at least a part of the light emitted from the light emitting layer is provided,
The electro-optical device, wherein the second wiring and the light shielding film are formed of the same material.
請求項1〜のいずれかの1項に記載の電気光学装置であって、
前記第1の部分は、前記第1配線と同じ線幅で形成されており、
前記第2の部分は、平面視において、前記第1の部分よりも線幅が大きいことを特徴とする電気光学装置。
The electro-optical device according to any one of claims 1 to 3 ,
The first portion is formed with the same line width as the first wiring,
The electro-optical device, wherein the second portion has a line width larger than that of the first portion in plan view.
請求項1〜のいずれかの1項に記載の電気光学装置を備えることを特徴とする電子機器。 An electronic apparatus comprising the electro-optical device according to any one of claims 1-4. 基板上に、第1の電極と、第2の電極と、前記第1の電極と前記第2の電極との間に設けられた発光層と、を有する発光素子を形成する第1の工程と、
前記発光素子の外側に、前記発光素子と電気的に接続するように、第1配線を形成する第2の工程と、
前記発光素子の全面および前記第1配線の少なくとも一部を封止膜で覆うことにより、前記封止膜により前記第1配線を被覆した被覆部と、前記封止膜から前記第1配線が露出する露出部と、を形成する第3の工程と、
前記露出部において前記第1配線と接する第1の部分及び前記封止膜上に形成された第2の部分とが外部回路に電気的に接続する端子として機能するように、前記第1の部分及び第2の部分を有する第2配線を形成する第4の工程と、を備え、
前記第4の工程は、前記発光素子上における前記封止膜上に遮光膜を形成する工程を含み、前記遮光膜と同じ材料を用いて前記第2配線を形成することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
Forming a light-emitting element having a first electrode, a second electrode, and a light-emitting layer provided between the first electrode and the second electrode on a substrate; ,
A second step of forming a first wiring outside the light emitting element so as to be electrically connected to the light emitting element;
By covering at least part of the entire surface of the light emitting element and the first wiring with a sealing film, a covering portion in which the first wiring is covered with the sealing film, and the first wiring is exposed from the sealing film. A third step of forming an exposed portion;
The first portion so that the first portion in contact with the first wiring in the exposed portion and the second portion formed on the sealing film function as a terminal electrically connected to an external circuit. and Bei example a fourth step of forming a second wiring having a second portion, and
The fourth step includes a step of forming a light shielding film on the sealing film on the light emitting element, and the second wiring is formed using the same material as the light shielding film. Device manufacturing method.
請求項に記載の電気光学装置の製造方法であって、
前記第2配線は、前記第1配線と接する第1の部分と、前記封止膜と接する第2の部分と、を有し、
前記第4の工程では、前記第1配線と同じ線幅で前記第1の部分を形成し、
平面視において、前記第1の部分よりも面積が大きくなるように前記第2の部分を形成することを特徴とする電気光学装置の製造方法。
The method of manufacturing an electro-optical device according to claim 6 ,
The second wiring has a first portion in contact with the first wiring, and a second portion in contact with the sealing film,
In the fourth step, the first portion is formed with the same line width as the first wiring,
The method of manufacturing an electro-optical device, wherein the second portion is formed to have an area larger than that of the first portion in plan view.
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