JP5732506B2 - サンプル測定装置 - Google Patents

Description

本発明はサンプル測定装置に関し、特に、液体シンチレータを利用してサンプル中の放射性物質を測定するサンプル測定装置に関する。

サンプル測定装置は、複数のサンプルに対して個別的に測定を行う装置である。代表的なサンプル測定装置として、液体シンチレーションカウンタがあげられる。液体シンチレーションカウンタは、複数のサンプル容器を保持したラックを搬送するラック搬送機構、各サンプル容器内に含まれる放射性物質によって生じた光を測定する測定ユニット、ラックと測定室ユニットとの間でサンプル容器を搬送する容器搬送機構、等を有する。サンプル容器内には、液体サンプルの他、液体シンチレータが入れられている。サンプル中の放射性物質から放射線（例えばβ線）が放出されると、その放射線により液体シンチレータが発光する。その光が測定ユニットを構成する一対の光電子増倍管で検出される。

一般に、測定対象となったサンプル容器を収容する測定室の周囲に外来放射線を遮蔽するための遮蔽構造を設ける必要がある。そのような遮蔽構造は非常に重い金属により構成される。よって、ラック載置面の上方に遮蔽構造体を設置するよりも、ラック載置面の下方に遮蔽構造体を設置した方がよい。また、サンプル容器をラックから上方へ搬送する方式を採用する場合、測定中において昇降路内にはサンプル容器を支持しているシャフトが存在することになるので、昇降路の遮光が難しくなるという問題がある。よって、ラック載置面よりも下方に測定室を設けると共に、ラックから下方にサンプル容器を引き抜くことが望まれる。

特許文献１には、従来の液体シンチレーションカウンタが開示されている。その液体シンチレーションカウンタにおいては、ラックを搬送する搬送テーブルの上方に測定室が設けられている。なお、特許文献２には、液体シンチレーションカウンタ等に用いることが可能なラック搬送装置が開示されている。

特開２００７−２７８９６９号公報 特開２００７−１７６６６６号公報

サンプル測定を高精度に遂行するためには、昇降路を介した外来放射線の進入を阻止し、かつ、外来光の進入を阻止する必要がある。そのためにシャッタ機構を設けられる。しかし、外来放射線用の駆動機構と外来光用の駆動機構とを別々に設けると、シャッタ構造が複雑化してしまう。またシャッタ機構における高さ方向の厚みが増加してしまうおそれがある。なお、それらの問題の全部又は一部は、ラックの上方にサンプル測定室を設置する場合にも生じ得る。

本発明の目的は、サンプル測定装置において、簡易な機構によって、外来光の遮蔽及び外来放射線の遮蔽を行うことにある。あるいは、本発明の目的は、サンプル測定装置において、外来光の遮蔽及び外来放射線の遮蔽を行う機構の厚みを薄くすることにある。

本発明に係るサンプル処理装置は、搬送面上のラックとサンプル測定室との間に設けられ、サンプル容器が昇降運動する昇降路と、前記サンプル測定室への前記サンプル容器の送り込み後に前記昇降路を横切るように前進運動する可動体を備えるシャッタ機構と、を含み、前記可動体は、外来放射線を遮蔽する放射線遮蔽部材と、外来光を遮蔽する光遮蔽部材と、を含み、前記シャッタ機構は、前記放射線遮蔽部材及び前記光遮蔽部材を一体的に駆動する駆動部を有する、ことを特徴とするものである。

上記構成によれば、駆動部によって、放射線遮蔽部材と光遮蔽部材とを一体的に駆動することができる。これにより、２つの遮蔽部材を同期して動作させることが容易となる。また、一体的駆動によれば、放射線遮蔽部材と光遮蔽部材とを近付けることが可能であるので、シャッタ機構全体の厚みを薄くできる。望ましくは、サンプル測定室は搬送面よりも下方に設けられ、その場合、通常、放射線遮蔽部材が上側に設けられ、光遮蔽部材が下側に設けられる。駆動部は望ましくは単一のモータを備える。

望ましくは、前記光遮蔽部材はシート状の遮光板で構成され、前記昇降路を横切るようにスリット構造体が設けられ、前記スリット構造体は、前記昇降路を一部をなす開口部分と、前記遮光板が差し込まれる水平スリットと、を有し、前記遮光板は、前記開口部分よりも退避した退避位置と前記開口部分を覆う前進位置との間で運動する。この構成によれば、サンプル測定時において遮光板が前進位置に運動し、遮光状態が形成される。つまり、昇降路上の開口部分が遮光板によって塞がれる。

望ましくは、前記遮光板は水平に広がった平板部分を有し、前記平板部分の基端側に弾性体が設けられ、前記遮光板が前進位置にある場合に前記弾性体が前記スリット構造体の端縁に密着して前記水平スリットの入口を覆う。この構成によれば、遮光板が前進位置にある場合に水平スリットの入口が塞がれるので、その入口を介した外来光の進入を阻止できる。平板部分が弾性体に対して固定的に保持されるように構成してもよいが、平板部分が弾性体に対してスライド可能に保持されるように構成してもよい。

望ましくは、前記放射線遮蔽部材は水平に広がった平板形を有し、前記光遮蔽部材は水平に広がった平板部分を有し、前記放射線遮蔽部材と前記平板部分とが二重シャッタ構造を構成する。この構成によれば、放射線遮蔽部材と平板部分とを近付けて、シャッタ機構の厚みを薄くすることが容易となる。望ましくは、前記光遮蔽部材は、前記放射線遮蔽部材による外来放射線の減弱によって生じる制動放射線を遮蔽する金属部材により構成される。この構成によれば、遮光板によって外来光の遮蔽のみならず、制動放射線の遮蔽又は減弱を行える。

望ましくは、前記可動体は、前記放射線遮蔽部材の前方に設けられ、前記放射線遮蔽部材と共に水平方向に運動する中空ガイド部材を有し、前記放射線遮蔽部材の退避状態において前記中空ガイド部材が前記昇降路上に位置決められ、前記放射線遮蔽部材の前進状態において前記中空ガイド部材が前記昇降路から外れた位置に位置決められる。この構成において、中空ガイド部材が、放射線遮蔽部材及び光遮蔽部材と共に一体的に駆動されるのが望ましい。望ましくは、前記中空ガイド部材の内面は、前記サンプル容器の下降時において前記サンプル容器の水平方向の位置を適正にするための第１斜面と、前記サンプル容器の上昇時において前記サンプル容器の水平方向の位置を適正にするための第２斜面と、を有する。この構成によれば、中空ガイド部材に対してサンプル容器が通過する際に昇降路の中心にサンプル容器の中心を自然に合わせることが可能である。

本発明によれば、簡易な機構によって、外来放射線の遮蔽及び外来光の遮蔽を行える。あるいは、外来放射線の遮蔽及び外来光の遮蔽を行う部分の厚みを薄くできる。

本発明に係るサンプル測定装置の概要を示す図である。 サンプル測定装置の上面図である。 サンプル測定装置の斜視図である。 ラックの第１斜視図である。 ラックの第２斜視図である。 ラック本体の第１斜視図である。 ラック本体の第２斜視図である。 アダプタの第１斜視図である。 アダプタの第２斜視図である。 アタッチメントの第１斜視図である。 アタッチメントの第２斜視図である。 アタッチメントの動作説明図である。 ラックの断面図である。 ストッパの非作動状態を示す図である。 ストッパの作動状態を示す図である。 下端ユニットの動作説明図である。 アームの開状態を示す図である。 案内ブロックの拡大上面図である。 案内ブロックの断面図である。 Ｘ搬送経路へのラック投入状態を示す斜視図である。 サンプル容器の受け渡し状態を示す斜視図である。 サンプル容器の受け渡し状態を示す拡大斜視図である。 サンプル容器の受け渡し状態を示す断面図である。 押し付けユニットの動作状態を示す図である。 押し付けユニットの第１拡大斜視図である。 押し付けユニットの第２拡大斜視図である。 押し付けユニットの作用を説明するための図である。 ヘッド上昇状態を示すＸＺ断面図である。 サンプル容器の受け渡し状態を示すＸＺ断面図である。 サンプル測定状態を示すＸＺ断面図である。 ヘッド上昇状態を示すＹＺ断面図である。 シャッタ動作状態を示すＹＺ断面図である。 サンプル測定室下部の遮光構造を示す拡大断面図である。 シャッタ機構の第１斜視図である。 シャッタ機構の第２斜視図である。 シャッタ機構の断面図である。 他のアダプタを示す第１斜視図である。 他のアダプタを示す第２斜視図である。 他のアダプタの動作を説明する模式図である。 他のアダプタの動作を説明する断面図である。

以下、本発明の好適な実施形態を図面に基づいて説明する。

（Ａ）サンプル測定装置の概要（図１−３）
図１には、本発明に係るサンプル測定装置の好適な実施形態が示されており、図１に示すサンプル測定装置は、本実施形態において、シンチレーションカウンタである。シンチレーションカウンタは、サンプルに含まれる放射性物質を液体シンチレータを用いて測定するものである。もちろん、本発明を他のサンプル測定装置に適用することも可能である。

図１は、サンプル測定装置１０の全体構成を示す概略図である。Ｘ方向が第１の水平方向であり、Ｙ方向が第２の水平方向であり、Ｚ方向が垂直方向である。サンプル測定装置１０は、Ｘ方向及びＹ方向に広がる搬送面を有する搬送テーブル１２を有している。搬送テーブル１２上において、複数のラック１４が搬送される。搬送テーブル１２上には、本実施形態において、Ｙ搬送路１６、Ｘ搬送路２０、Ｙ搬送路１８及び別のＸ搬送路が設けられている。搬送機構１６Ａは、Ｙ搬送路１６上において、ラック１４をＹ方向で順方向に搬送するための機構である。搬送機構１８Ａは、Ｙ搬送路１８上において、ラック１４をＹ方向で逆方向に搬送するための機構である。Ｘ搬送路２０上において、ラック１４をＸ方向で順方向に搬送するための機構については図１には示されていない。同じく、別のＸ搬送路上において、ラック１４をＸ方向で逆方向に搬送するための機構についても図１には示されていない。

ラック１４は長手方向及び短手方向を有する。長手方向は複数の収容部２４の並び方向である。短手方向は長手方向に直交する方向である。各収容部２４において、サンプル容器２２が保持される。サンプル容器２２は、例えばバイアル、試験管等である。サンプル容器２２は、本体２２Ａとキャップ２２Ｂとからなる。本体２２Ａの中には液体サンプル２２Ｃが収容されている。本体２２Ａの中には、液体サンプル中の放射性物質を測定するための液体シンチレータも収容されている。一般に液体シンチレータは放射線（本実施形態ではβ線）を受けて発光を生じる物質である。

本実施形態においては、後に詳述するように、ラック本体に対して、収容部２４ごとにアダプタが装着されている。アダプタの機能として開閉機構２６が実現されている。すなわち、ラック１４は、複数の収容部２４に対応した複数の開閉機構２６を有する。個々の開閉機構２６は、閉状態と開状態とをとるものであり、閉状態においてサンプル容器２２を保持し、開状態においてサンプル容器２２の保持を解除してサンプル容器２２を開放する。本実施形態においては、測定対象となったサンプル容器２２がラック１４から下方へ引き抜かれている。

搬送テーブル１２におけるＸ搬送路２０上において、対象容器の出し入れを行う場所に案内ブロック３０が固定的に設置されている。案内ブロック３０は、ラック１４の下部に入り込む部材であり、具体的には、ラック１４が有する一対の脚部の間に入り込んで、各開閉機構２６に対して開き力を与えるための部材である。また、後述する押し付けユニット３２と協働して、ラックの位置及び姿勢を適正化するための部材である。案内ブロック３０は、その中央に垂直方向に貫通した開口を有しており、その開口は昇降路２８の上端部に相当している。昇降路２８は、ラック１４とサンプル測定室３４との間において、測定対象となったサンプル容器が昇降運動するための通路である。本実施形態においては、そのような昇降路２８に対して案内ブロック３０が高精度に位置決められている。換言すれば、後に説明するように、昇降路２８を構成する構造体に対して案内ブロック３０が物理的に一体化されている。

本実施形態においては、個々のサンプル容器の出し入れの際に、ラック１４の位置及び姿勢を適正化するために、押し付けユニット３２が設けられている。押し付けユニット３２は、ラック１４が有する一対の脚部の内で、一方の脚部の外面に対して押し付け力を及ぼし、これにより、案内ブロック３０が有する基準面に対して、一方の脚部の内面を密着させるものである。そのような密着状態の形成により、ラック１４の位置及び姿勢が適正化される。

サンプル測定時において、サンプル測定室３４内に、測定対象となったサンプル容器３６が収容される。サンプル容器３６の昇降を行うために昇降機構４０が設けられている。昇降機構４０によって、昇降路２８内においてサンプル容器３６を上下方向に運動させることが可能である。

昇降機構４０は、本実施形態において、シャフト４３、その上端部に設けられたヘッド４４、シャフト４３を駆動するスライド機構４６、等を備えている。後に説明するように、ラック１４とヘッド４４との間でのサンプル容器の受け渡しに際しては、ヘッド４４が案内ブロック３０が有する開口内に差し込まれる。そのような状態では、開口の直上に位置決められた収容部２４に設けられた開閉機構２６が開状態となる。詳しくは、ラック１４の搬送過程で、開閉機構２６が案内ブロック３０に接触し、開閉機構２６が案内ブロック３０から水平方向の開き力を受けることにより、開閉機構２６の開状態が形成される。

サンプル測定室３４は、ベース４８上に搭載されている。サンプル測定室３４内に収容されたサンプル容器３６内で発光が生じると、その光が一対の光電子増倍管３８によって検出される。一対の光電子増倍管３８はいわゆる同時計数処理を実行するために設けられている。本実施形態においては、サンプル測定室３４の下部に特別な遮光構造５０が設けられている。この遮光構造５０によって、シャフト４３の表面上を通って外来光がサンプル測定室３４内に進入することが阻止されている。遮光構造５０は、ヘッド４４の下面と、その下面が接するベース４８の上面と、に跨がって設けられている。ヘッド４４内においても所定の遮光構造が設けられている。これらに関しては後に詳述する。

本実施形態においては、サンプル測定室３４が搬送テーブル１２の下方に設けられている。よって、サンプル測定室３４の周囲に設けられる非常に重い遮蔽部材を搬送テーブル１２の下側に配置できるという利点が得られる。また、以下に説明するように、サンプル測定時において、昇降路２８上の所定箇所で、外来放射線の遮蔽及び外来光の遮蔽を行う場合に、その箇所にはシャフト４３が存在しないので、それらの遮蔽を簡便かつ確実に行うことができる。

具体的に説明すると、昇降路２８上にはそれを横切るようにシャッタ機構４２が設けられている。本実施形態におけるシャッタ機構４２は、上側シャッタ機構及び下側シャッタ機構により構成されており、すなわち二重シャッタ機構が実現されている。上側シャッタ機構は、外来放射線の遮蔽を行うために放射線遮蔽部材をサンプル測定室３４の上側に挿入する機構であり、下側シャッタ機構は、上方からの外来光の進入を阻止するために昇降路２８を横切るように遮光板を挿入する機構である。

本実施形態に係るサンプル測定装置１０においては、Ｘ搬送路２０上において、Ｘ方向に長手方向を合わせた姿勢をもって、ラック１４が間欠的にＸ方向に送られる。その場合において、ラック１４の下部に案内ブロック３０が入り込み、各収容部２４に設けられた開閉機構２６が順番に作動する。個々の収容部２４の中心線と昇降路２８の中心線とが一致した状態でラック１４が停止する。その状態において、測定前のサンプル容器がラック１４からサンプル測定室３４内へ送り込まれる。測定完了後において、測定後のサンプル容器３６が元のサンプル容器収容部へ戻される。その後、ラック１４の搬送に伴い、サンプル容器を受け取った収容部２４において、開閉機構２６が開状態から閉状態へ復帰する。このような一連の過程が、収容部２４毎に繰り返し実行される。

図２は、図１に示したサンプル測定装置の上面図である。既に説明したように、搬送テーブル１２上において、ラック１４が水平方向に搬送される。ラック１４の搬送路として、本実施形態においては、Ｙ搬送路１６、Ｘ搬送路２０、Ｙ搬送路１８及びＸ搬送路５０が設けられている。搬送テーブル１２上には、通常、多数のラック１４が配置され、各ラック１４が各搬送路上において順番に搬送される。

Ｘ搬送路２０における中央位置がサンプル容器の出し入れを行う基準位置となっている。案内ブロック３０の中心が基準位置に一致するように案内ブロック３０が設けられている。案内ブロック３０の近傍には、ラック１４への押し付け作用を発揮する押し付けユニット３２が設けられている。Ｘ搬送路２０上においては、ラック１４の長手方向がＸ方向と並行になるように、搬送機構５２によってラック１４がＸ方向に搬送される。搬送機構５２は爪部材５４を有する。後に説明するように、ラック１４が有する突出部分に対して、爪部材５４の先端を引っ掛けつつ、その爪部材５４がＸ方向に移送される。これにより、ラック１４がＸ方向へ搬送される。爪部材５４は、その先端部分がラック１４に対して係合した状態においても、各開閉機構の動作を妨げないように構成されている。

反対側のＸ搬送路５０においても、ラック１４をＸ方向に搬送するために搬送機構５６が設けられている。搬送機構５６は搬送機構５２と基本的に同一の構成を有している。Ｘ搬送路５０上には、案内ブロック３０に相当する部材は設けられていないが、押し付けユニット３２と同じ構成を有する押し付けユニットが配置されている。

図３には、搬送テーブルの一部が斜視図として示されている。上述したように、Ｙ搬送路１６上において、ラック１４がＹ方向に搬送される。その場合には、ラック１４の短手方向がＹ方向を向くようにラック１４が並行運動する。Ｘ搬送路２０においては、ラック１４の長手方向がＸ方向を向くように、ラック１４が搬送される。サンプル容器の出し入れの際、ラック１４の長手方向をＸ方向に厳密に一致させるために、上述した押し付けユニット３２が案内ブロック３０側へラック１４が有する一方の脚部を押し付ける。

Ｘ搬送路２０上における基準位置に案内ブロック３０が設けられている。図３において、案内ブロック３０が有する開口内に、昇降機構の一部をなすヘッドが入り込んでいる。つまり、図３において、ヘッドは浮上した状態にある。搬送機構５２は上述したように爪部材５４を有する。

（Ｂ）ラック及びアダプタ（図４−１７）
次にラック及びアダプタについて詳しく説明する。

図４は、ラック１４を斜め上方から見た様子を示す斜視図である。ラック１４は長手方向（図４においてＸ方向）に整列した複数のサンプル容器を保持するものである。ラック１４は、ラック本体５８と、ラック本体５８に着脱自在に取り付けられた複数のアダプタ６０と、からなる。ラック１４には、複数の収容部２４が設けられ、収容部２４ごとにアダプタ６０が設けられている。アダプタ６０は、後に詳述するように、環状枠６６と、そこから下方に伸長した一対のアーム７０，７２と、を有する。アーム７０及びアーム７２は、それら全体として、上述した開閉機構を構成する。

ラック１４は、短手方向に離間した一対の脚部６４Ａ，６４Ｂを有する。個々の脚部６４Ａ，８４Ｂはそれぞれ長手方向に伸長している。一対の脚部６４Ａ，６４Ｂの間は、案内ブロックを通過させるための空洞部を構成している。空洞部の前側及び後側はいずれも開口である。ラック１４の前端には突出部分５８Ａが設けられている。突出部分５８Ａが有するラック開口に対して爪部材が有する先端が差し込まれる。なお、長手方向の他、短手方向にも複数の収容部が配列されたラックを用いることも可能である。

図５は、ラック１４を斜め下方から見た様子を示す斜視図である。上述したように、ラック本体は、一対の脚部６４Ａ，６４Ｂを有する。アダプタ６０は、環状枠６６と、短手方向において離間配置された一対のアーム７０，７２と、有する。一対のアーム７０，７２は一対の下端構造体７４，７６を有し、それらが開閉機構２６の主要部分を構成している。

図６には、斜め上方から見たラック本体５８が示されている。ラック本体５８は、長手方向に整列した複数の収容孔２４Ａを有している。各収容孔２４Ａにおいて、その短手方向両側には一方側面構造と他方側面構造とが設けられている。それらは対称の形態を有しているので、一方側面構造を代表させて、その形態を説明する。収容孔２４Ａの一方側には垂直方向に伸長した側板７８が設けられている。隣接する２つの側板７８の間に、あるいはそれらに跨がって、肉厚として構成されたリブが存在している。側板７８の実質部分は薄肉部分として構成されている。側板７８の上部には上側開口８２が設けられ、側板７８の下部には下部開口８４が形成されている。上部開口８２及び下部開口８４はそれぞれ短手方向に貫通する開口である。図７には、斜め下方から見たラック本体５８が示されている。

次に、図８乃至図１７を用いて、アダプタの構成及び作用について説明する。

図８には、アダプタ６０を斜め上方から見た様子が示されている。アダプタ６０は、上述したように、環状枠６６と、そこから下方に伸長した一対のアーム７０，７２と、で構成される。環状枠６６は、収容孔に対応してリング状の形態を有しており、リブ等を有する。一対のアーム７０，７２は、短手方向（図８においてＹ方向）に離間しており、それらの間にサンプル容器が収容される。アーム７０とアーム７２は互いに対称の形態を有している。ここでアーム７２について着目する。それは、環状枠６６に連結された上端部分８６と、その下側に設けられた屈曲部としての波状部分８８と、その下側に設けられた下端部分９０と、を有している。下端部分９０は、内側に折れ曲がったフック部分９２を有している。２つのアーム７０，７２のそれぞれのフック部分９２に対しては後に説明するアタッチメントが装着され、これにより後に詳述する２つの下端構造体７４，７６が構成される。波状部分８８は蛇腹形態を有している。フック部分９２に対して水平方向外側への開き力が与えられると、その力により波状部分８８を中心としてアーム７０が屈曲する。これと同時にアーム７２も同じように変形する。これにより２つのアーム７０，７２が短手方向に開いた状態となる。波状部分８８は弾性部として構成されており、それは弾性復元力を発揮するため、２つのアーム７０，７２に対して水平方向の開き力が及ばなくなると、上記の弾性復元力により２つのアーム７０，７２が原形に復帰する。つまり、２つのアーム７０，７２が閉状態となる。

図９には、アダプタを斜め下方から見た様子が示されている。上記のように、アダプタ６０は２つのアーム７０，７２を有し、それぞれはフック部分９２を有している。フック部分９２は、本実施形態において、折れ曲がり部分であって台座面を構成するフックベース９２Ａを有する。フックベース９２Ａは、上方からみてＵ字形状を有している。フックベース９２Ａには、垂直方向に伸長した接触子９２Ｄが設けられている。この接触子９２Ｄは、上方から見て半円筒形状あるいはＤ字形状を有している。ラックの運動過程で接触子９２Ｄが案内ブロックに形成された斜面に接触すると、これにより水平方向外側への開き力が生じる。フックベース９２Ａの下方には、コネクタ９２Ｅが設けられ、それは接触子９２Ｄに固定されている。コネクタ９２Ｄは矩形の形態を有し、それを利用してアタッチメントが着脱自在に取り付けられる。アーム７０，７２の下端部分には、Ｘ方向から見てＬ字形状を有するＬ状溝９２Ｆが形成されている。

図１０は、アダプタの本体に対して取り付けられるアタッチメントの第１斜視図である。図１０においては、アタッチメント９６を斜め上方から見た様子が示されている。

図１０において、アタッチメント９６は、図８及び図９に示したフック部分に対して連結される連結構造９８を有する。連結構造９８は、連結端を構成しており、連結構造９８は、具体的には、下板１０６と上板１０８とを有する。それらの間はスリット１１０であり、そのスリット１１０内に図９に示したコネクタが差し込まれる。図１０において、スリット１１０内には、図示されていない突起が設けられており、コネクタが有する開口内にその突起がはまり込む。これにより、アタッチメント９６がアダプタの本体に対して装着される。

連結構造９８の上方には、可動片としての座板１０２が設けられている。座板１０２は接触端部を構成するものであり、その上面は座面として機能する。すなわち、座板１０２上にサンプル容器の下面が載せられる。

連結構造９８と座板１０２との間には、Ｃ字形状を有するＣ字状アーム１００が設けられている。Ｃ字状アーム１００は、弾性変形部として機能する。自然状態においては、座板１０２が傾斜姿勢となる。座板１０２に対して、サンプル容器を介して、上方から押圧力が及ぶと、その押圧力を吸収するように、Ｃ字状アームが弾性変形する。その状態においては座板１０２は水平姿勢となる。

座板１０２の右端及び左端には、下方に伸長した一対のストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂが設けられている。座板１０２の上下運動と共に、一対のストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂが上下運動を行う。よって、座板１０２が下方に沈み込むと、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂも下方へ運動し、それらの下端位置が更に引き下げられることになる。その結果、後に説明するように、下端構造体が水平方向外側へ運動しようとしても、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂがアダプタ本体に衝突し、下端構造体の開き運動が阻止される。

図１１には、アタッチメント９６の第２斜視図が示される。すなわち、図１１には、斜め下方からみたアタッチメント９６が示されている。上述したように、アタッチメント９６は、連結構造９８、Ｃ字状アーム１００及び座板１０２を有する。座板１０２の右端及び左端には一対のストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂが設けられている。アダプタの本体とアタッチメントとを一体的に構成することも可能である。

図１２乃至図１７を用いてアダプタの作用について説明する。図１２はアダプタの動作を説明するための説明図である。アダプタがラック本体に対して取り付けられている。アーム７０，７２は下端構造体７４，７６を有している。個々の下端構造体７４，７６はそれぞれアタッチメント９６を備えている。図１２においては、変形前の傾斜姿勢にあるアタッチメントが符号９６Ａで示されており、変形後の水平姿勢にあるアタッチメントが符号９６Ｂで示されている。

収容部内にサンプル容器が落とし込まれている状態では、サンプル容器の下面に対して一対のアタッチメントの座板が当接する。これにより、サンプル容器が下方から支えられる。この場合においては、符号９６Ａで示すように、各アタッチメントの座板は浮上状態にあり、２つのアームは閉状態にある。

そのような閉状態において、サンプル容器に対して上方から下方に過剰な押圧力１１１が加わると、その押圧力１１１により、アタッチメントが符号９６Ｂで示すように変形する。具体的には、それぞれのアタッチメントにおける座板が下方に沈み込んで水平姿勢となる。これと同時に、座板に取り付けられたストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂが下方に運動する。一方、上方からの押圧力により、２つのアーム７０，７２は、両者が離れる方向すなわち開き方向に運動しようとする（符号１１２参照）。しかしながら、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂが座板と共に下方に沈み込んでいるため、下端構造体７４，７６がラック本体に形成された下側開口を通過して外側に出ようとしても、脚部６４Ａ，６４Ｂの内面にストッパ１０４Ａ，１０４Ｂが衝突し、そのような開き運動１１２が阻止される。すなわち、押圧力による開き運動時には、下端構造体７４，７６が下側開口を通じてラック本体の外側に出ることはなく、サンプル容器の保持が維持される。サンプル容器には放射性物質を含む液体サンプルが収容されているところ、そのようなサンプル容器がラックから脱落してしまうことを確実に阻止できる。

一方、押圧力１１１が生じていない場合には、つまりサンプル容器の重量による力しかアタッチメントに加わらない。その場合、符号９６Ａに示すように、それぞれのアタッチメントにおいて、座板は浮上姿勢を維持する。そのような場合にはストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂの下端位置が上昇端にあるため、下端構造体７４，７６に対して水平方向外側への開き力が与えられた場合に、それぞれの下端構造体７４，７６がラック本体に形成された下側開口を通じてラック本体の外側に出ることが許容される。すなわち、一対のアームにおいて、閉状態から開状態への変形が許容される。

以上のように、本実施形態によれば、案内ブロックから水平方向外側への適正な力が与えられた場合にだけ、下端構造体７４，７６をしてラック本体の外側に出ることが許容され、一方、垂直方向に異常な力が生じた場合には、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂの作用により、一対のアームが閉状態から開状態に変化することを防止できる。

図１３には、ラックの断面図が示されている。具体的には、ラック本体に対してアダプタが取り付けられた状態が示されている。アーム７０，７２において、波状部分８８の一部分が、Ｒ１で示す上側開口内に収容されている。アーム７０，７２それ全体が、下端構造体７４，７６を除いて、実質的にラック本体の肉厚Ｄ１内に収まっている。すなわち、アーム７０，７２の変形前の状態では、アーム７０，７２において、ラック本体からその外側に突出する部分は生じていない。これにより、複数のラックの整列状態において、特定のラックを長手方向へ移動させても、その移動を阻害するような引っ掛かりが生じることはない。

上方からの押圧力が生じていない通常の閉状態において、案内ブロックへの当接により、符号１１４で示す開き力が下端構造体７４，７６に与えられると、下端構造体７４，７６が互いに離れる方向へ運動し、それらは一対の下側開口を通じてラックの外側に突出する。

図１３において、Ｒ３が下側開口８４の垂直方向サイズを示している。Ｒ２が下側開口８４のメイン領域の垂直方向サイズを示しており、Ｒ４が下側開口のサブエリアの垂直方向サイズを示している。閉状態において、開き力１１４が加わった場合、一対の下側開口を下端構造体７４，７６が通過する。一方、上方から押圧力が生じた場合、複数のストッパ片が下方に下がり、下端構造体７４，７６が互いに離れる方向に運動しようとしても、複数のストッパ片が一対の脚部の内面に衝突し、そのような開き運動が阻止される。この動作について図１４及び図１５を用いて更に説明する。

図１４には、ストッパ片が動作していない状態が示されている。すなわち、そのような場合、下端構造体７６において、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂは、浮上した位置にあり、下側開口８４におけるメインエリアの下辺レベルと、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂの下端レベルと、の間に隙間ｈ１が生じている。したがって、下端構造体７６は下側開口８４を通じて外側に出ることが可能である。

一方、図１５には、ストッパ片の動作状態が示されている。すなわち、下端構造体７６に対して押圧力１１４が及ぶと、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂが下方に下がり、その下端レベルは、下側開口８４におけるメインエリアの下辺レベルよりも、更に低くなる。その際のオーバーラップ部分が図１５においてΔｈで示されている。その状態では、下端構造体７６が下側開口８４を通じて外側に出ようとしても、ストッパ片１０４Ａ，１０４Ｂが脚部６４Ｂの内側に衝突し、その運動は確実に阻止される。

図１６には、ラックに対してサンプル容器２２が収容されている状態が示されている。（Ａ）には通常状態が示されており、（Ｂ）には押圧力が生じている状態が示されている。符号７４Ａ，７６Ａは、変形前の浮上状態にある下端構造体を示しており、符号７４Ｂ，７６Ｂは変形後の下降状態にある下端構造体を示している。

図１７にはアーム７２の開状態が示されている。ラックのＸ方向の進行に伴い案内ブロックとの当接により、下端構造体に対して水平方向の開き力１１６が与えられる。これにより、上述したように下端構造体を含め、アーム７２の全体が開き運動を行う。開状態にある下端構造体が符号７６Ｃで示されている。この場合、アーム７２における波状部分を中心としてアーム７２が屈曲変形する。アーム７２それ全体のラック側面からの吐出量が符号１１８で示されている。このような開状態においては、サンプル容器２２の下面に対する支え作用が消失するために、サンプル容器２２の下方に何らの部材もなければ、符号１２０で示すように、サンプル容器２２が下方へ自然に落下する。本実施形態においては、そのような開状態において、サンプル容器２２がヘッド上に載置される。

ラックからヘッドへのサンプル容器を移載する際には、一対の下端構造体が、サンプル容器の直下位置から、水平方向外側の退避位置へ移動する。続いて、サンプル測定後のサンプル容器がサンプル収容部内に戻された後、一対のアームが原形に復帰する。すなわち一対の下端構造体がサンプル容器の下側に入り込む。これにより一対の下端構造体によりサンプル容器２２が支えられ、サンプル容器２２が保持される。

以上のように、本実施形態によれば、各収容部において、適切なタイミングで、開閉機構を閉状態から開状態に移行させることが可能である。また、適正な開き力ではなく、垂直方向の異常な押圧力が生じた場合においては、上述した複数のストッパ片の作用により、不必要な開運動が確実に阻止される。これによりサンプル容器の脱落を未然に防止できる。更に、各アームには弾性変形部が設けられ、そこで発揮される弾性復元力により各アームを原形に戻すことが可能である。よって、開状態から閉状態への移行を各アーム自身の作用により行わせることが可能である。本実施形態によれば、一対のアームの開動作のために、専用の駆動源及び専用の制御部は不要である。また、一対の閉動作のために、専用の駆動源及び専用の制御部は不要である。ラック搬送力の一部を利用して、ラック搬送に同期して、一対のアームを開閉動作させることが可能である。

（Ｃ）案内ブロック（図１８−２３）
図１８には、搬送テーブルの一部が拡大上面図として示されている。すなわち、図１８には、案内ブロック３０及び押し付けユニット３２が示されている。

案内ブロック３０は、トップフレーム１２２上に固定的に配置されている。トップフレーム１２２は、昇降路を含む構造体の天板に相当するものである。案内ブロック３０は、下層１２４、上層１２６、前側サポート板１３０及び後側サポート板１３２を有する。但し、それらは一体化されている。下層１２４及び上層１２６は、それぞれ水平方向に広がる平板状の形態を有している。前側サポート板１３０及び後側サポート板１３２は上方に起立した形態を有している。案内ブロック３０の中央には開口１２８が形成されている。開口１２８は円形あるいは楕円形の形状を有する。開口１２８は昇降路の上端部を構成するものであり、図１８においては、開口１２８内にヘッド４４が差し込まれている。下層１２４のＹ方向の幅Ｗ１は、ラックが有する一対の脚部の間の隙間とほぼ同一である。厳密には幅Ｗ１の方がその隙間よりも僅かに小さい。下層１２４の前端部分（図１８において左端部分）及び後端部分（図１８において右端部分）には、それぞれ一対の斜面１３４が形成されている。すなわち、下層１２４は、両方向に先細の形態を有する。下層１２４が有する前面及び後面のＹ方向の幅がＷ２であり、Ｗ１＞Ｗ２である。このように前端部分に一対の斜面１３４が構成されているので、一対の脚部間に案内ブロック３０が入り込む過程において、ラック側にＹ方向の位置ずれが生じていても、その位置ずれを解消することが可能である。ちなみに、下層１２４の後端部分にも一対の斜面が形成されている。これにより、ラックを戻し搬送する必要が生じた場合においても、案内ブロック３０をラックの後側からその下部に円滑に差し込むことが可能である。

上層１２６は下層１２４の上に積層されている部分であり、上層１２６における前側部分には、比較的長い距離をもって一対の斜面１３６が形成されている。上層１２６における前端面のＹ方向の幅がＷ３である。ここにおいて、Ｗ１＞Ｗ２＞Ｗ３である。一対の斜面１３６は、上層１２６におけるＹ方向の幅をＸ方向に沿ってＷ３からＷ１へ連続的に変化させるものである。

一対の斜面１３６に対して一対の開閉機構が有する一対の接触子が当接し、その当接状態を維持しながらラックが前進運動すると、一対の斜面１３６の働きにより、一対の接触子に対して水平方向外側への開き力が与えられる。これにより、アダプタが閉状態から開状態に変化する。本実施形態においては、上層１２６において、その後側部分にも一対の斜面が形成されている。その後側の一対の斜面により、開状態から閉状態への復帰を緩やかに行わせることができ、開閉機構の急激な変化を防止できる。

なお、本実施形態においては、上層１２６に形成された前側の一対の斜面１３６と後側の一対の斜面とが対称な形態を有しているが、それらを非対称に構成することも可能である。

案内ブロック３０は、Ｘ方向の上流側から下流側にかけて、前側形態、中間形態及び後側形態に大別される。ここで、上層１２６について着目すると、上層１２６の前側形態が開閉機構を閉状態から開状態にする機能を発揮する。上層１２６の中間形態は開状態を維持する機能を発揮する。上層１２６の後側形態は開閉機構を開状態から閉状態に復帰させる機能を発揮する。案内ブロック３０は、それ全体として、Ｙ方向における中心位置を通過し且つＸ方向に平行な中心線を基準として対称の形態を有している。ラックが有する一対の脚部の間に案内ブロック３０が入り込んだ状態において、ラックのセンタリング（Ｙ方向の位置決め）が行われる。これにより、開口１２８の中心位置と、測定対象となったサンプル容器あるいはそれを収容するサンプル収容部の中心位置と、をＹ方向において容易に一致させることが可能である。

本実施形態においては、案内ブロック３０は、上述したようにサンプル測定室及び昇降機構を含む構造体のトップフレーム１２２上に固定されている。搬送テーブルに対して、案内ブロック３０は、水平方向に一定の自由度をもって配置されている。逆に言えば、案内ブロック３０が適正に位置決められるならば、搬送テーブルそれ自体についての厳密な位置決めが不要となる。例えば、搬送テーブルにおいて加工誤差や組立誤差等が生じていたとしても、その誤差が許容範囲内であれば、ラックと昇降機構との間でのサンプル容器の受け渡しに当たって、そのような誤差が問題となることはない。

案内ブロックの前側に形成された一対の斜面１３６の作用により、開閉機構が閉状態から開状態に変化する過程において、開閉機構によるサンプル容器の下支え作用が消失することになる。ヘッド４４に対してサンプル容器の底面が十分に載った状態が形成される前に、上記下支え作用の消失が生じると、サンプル容器の脱落や姿勢変化が生じるおそれがある。そこで、本実施形態の案内ブロック３０においては、前側サポート板１３０が設けられている。前側サポート板１３０は、上層１２６の上面から上方に突出した形態を有する。それは、開閉機構によるサンプル容器の下支え作用が消失した状態において、一時的に及び補助的に、サンプル容器を下支えする機能を発揮する。前側サポート板の前端部及び後端部は肩下がりのテーパ面を構成しており、サンプル容器の角部分が前側サポート板に引っ掛かることが防止されている。このように、開口１２８の前側に補助的な支えを用意しておくことにより、サンプル容器の脱落や姿勢変化を防止することが可能であり、サンプル容器をラックからヘッド上面へ円滑に移すことが可能である。

本実施形態においては、開口１２８の後側に後側サポート板１３２が設けられている。後側サポート板１３２は、前側サポート板１３０と同様の形態を有している。この後側サポート板１３２により、収容部内に測定後のサンプル容器が戻された後、開閉機構が開状態から閉状態に戻るまでの間においてに、ヘッド４４の上面による下支え作用が部分的に消失したような場合において、後側サポート板１３２の上面により、サンプル容器を一時的に及び補助的に支えて、サンプル容器の脱落や姿勢変化を防止することが可能である。

以上のように、本実施形態に係る案内ブロック３０によれば、各開閉機構に対して、ラック搬送力の一部を利用して水平方向外側への開き力が与えることが可能である。したがって、そのような開き力を生じさせる専用の駆動源や駆動機構を設ける必要がないので、装置構成を簡略化できるという利点が得られる。また、各開閉機構の動作タイミングを基準位置に対して自然に合わせることが可能であり、制御部による開閉制御を行う必要がないという利点も得られる。さらに、案内ブロック３０が基準位置それ自体を基準として設置されているため、案内ブロック３０をラックの一対の脚部に差し込むだけで、ラックのセンタリングを行うことが可能である。すなわち、案内ブロック３０のラックの下部に差し込むだけで、基準位置に対してサンプル容器あるいはそれを有する収容部を適正に位置決めることが可能である。

図１８には、案内ブロック３０の他に、押し付けユニット３２も示されているので、ここで、押し付けユニット３２の構成について説明しておく。なお、押し付けユニット３２の構成及び動作については、後に図２４乃至図２６を用いてあらためて説明する。

図１８において、押し付けユニット３２は、ラックの外側かラックに対して押し付け力を与えて、ラックの位置及び姿勢を適正化するためのユニットである。押し付けユニット３２は、本実施形態において、ラックに接触して押し付け力を与える一対のローラー１３８，１４０を有している。ローラー１３８の回転中心は、Ｘ方向において、基準位置１４３から上流側すなわち前側に一定距離１４４だけ離れた地点に設定されている。ローラー１４０の回転中心は、Ｘ方向において、基準位置１４３から一定距離１４４だけ離れた地点に設定されている。

後に説明するように、ローラー１３８は、一方の可動板の端部に回転自在に取り付けられており、ローラー１４０は、他方の可動板の端部に取り付けられている。それらの可動板の共通回転軸が符号１４２で示されている。Ｙ方向において、共通回転軸１４２の回転中心に対して各ローラー１３８，１４０の回転中心が案内ブロック３０から遠く設定されている。すなわち、それらの回転中心に対してマイナスオフセットが与えられている。

押し付けユニット３２と協働して、ラックの位置及び姿勢を適正化するために、案内ブロック３０に基準面が形成されている。具体的には、基準面１２４Ａ，１２６Ａが形成されている。基準面１２４Ａは下層１２４における一方側面であり、基準面１２６Ａは上層１２６における一方側面である。それらの基準面１２４Ａ，１２６Ａは、本実施形態において、Ｘ方向に平行な面であり、それぞれ垂直面である。２つの基準面１２４Ａ，１２６Ａのうちで、基準面１２４Ａの方がＸ方向に大きく広がっている。ラックが有する一対の脚部間に案内ブロックが入り込むと、一対の脚部の内で一方の脚部（押し付けユニット３２側の脚部）の外面に対して、一対のローラー１３８，１４０が押し付けられる。これにより、一方の脚部の内面が基準面１２４Ａ，１２６Ａに対して密着する。基準面は、Ｘ方向に平行な垂直面であり、一対の脚部の内面は長手方向に平行な垂直面であるので、基準面に内面が密着した状態では、Ｘ方向とラックの長手方向とが平行になる。同時に、ラックがＹ方向において所定位置に位置決められる。この結果、ラックの位置及び姿勢が適正化される。

ローラー１３８，１４０の初期状態においては、本実施形態において、基準面１２４Ａとの間に一定の隙間ΔＷが生じている。そのような隙間ΔＷは必要に応じて設けられる。本実施形態においては、そのような隙間ΔＷとローラー１３８のマイナスオフセットとにより、一方の脚部の先端部分を受け入れる角度θ１が増大されている。あるいは、それを受け入れる際の抵抗が低減されている。斜面１３４の作用と、このような開き角度θ１と、により、ラックがＹ方向において位置ずれを生じていたとしても、基準面１２４Ａとローラー１３８との間に一方の脚部を円滑に差し込むことが可能である。

上記のように、一対の脚部の間に案内ブロック３０が差し込まれた状態においては、ローラー１３８，１４０から一方の脚部の外面に対して押圧力が与えられる。これにより一方の脚部の内面が基準面１２４Ａ，１２６Ａに密着する。よって、簡易な機構により、ラックの位置（特にＹ方向の位置）及び姿勢を適正化することが可能である。本実施形態においては、押し付け部材としてローラー１３８，１４０が設けられているので、ラックが前方に送り出される場合においても、摺動抵抗を小さくすることが可能である。

本実施形態においては、押し付けユニット３２が、適正な位置及び向きに配置された案内ブロック３０に対して、ラックを押し付けるので、搬送テーブルにおいて加工誤差や組立誤差があったとしても、ラックを基準位置に対して正しく位置決めることが可能である。また、本実施形態においては、Ｘ方向において、基準位置から前後等間隔をもってローラー１３８，１４０が設けられているので、ラックに対して基準位置の両側において均等に力を及ぼすことが可能である。仮に、ラックに反りがあったとしても、本実施形態においては案内ブロック３０が存在しているＸ方向の範囲内において押さえ付けが行われているため、その反りにかかわらず、基準位置に対して、測定対象となったサンプル容器を適正に位置決めることが可能である。

図１９乃至図２３を用いて、引き続いて、案内ブロックの作用について説明する。

図１９には、案内ブロック３０の断面図が示されている。案内ブロック３０は、上述したように、下層１２４，上層１２６，前側サポート板１３０及び後側サポート板１３２を有する。図１９においては、各部材が別体として示されているが、本実施形態において、それらは一体化されている。前側サポート板１３０は、上面１３０Ｂと、その前後に設けられた斜面１３０Ａ，１３０Ｃと、を有する。後側サポート板１３２も、前側サポート板１３０と同様の形態を有している。

案内ブロック３０の中央部には上下に貫通する開口１２８が形成されている。図１９においては、開口１２８内にヘッド４４が挿入されている。ヘッド４４は、その上面としての載置面４４Ａを有し、載置面４４Ａ上にサンプル容器２２が載せられる。図１９に示されるように、開閉機構における閉状態から開状態への移行途中において、前側サポート板１３０における上面１３０Ｂにより、サンプル容器２２が補助的に支えられる。その結果、サンプル容器２２を載置面４４Ａ上に円滑に移載することが可能である。移載時においては、ヘッド４４の載置面４４Ａのレベルと、上面１３０Ａのレベルと、を実質的に揃えるのが望ましい。ただし、一方が他方よりも若干上であってもよくて、また若干下であってもよい。

図２０には、ラック１４がＸ搬送路に投入された状態が示されている。ラック１４は、上述したように突出部５８Ａを有し、その突出部５８Ａには、搬送機構５２が有する爪部材５４の一部が差し込まれる。Ｘ搬送路の中央には案内ブロック３０が設けられており、その近傍には押し付けユニット３２が設けられている。

図２１には、Ｘ搬送路上においてラック１４が進行した状態が示されている。より詳しくは、図２１には、先頭のサンプル容器が案内ブロック３０の開口に対して位置決められた状態が示されている。その状態では、押し付けユニット３２が機能し、ラック１４の位置及び姿勢が適正化される。

図２２は、図２１に示した内容の一部を拡大図として示すものである。ラック１４は複数の収容部を有し、各収容部にはそれぞれアダプタ６０が装着されている。アダプタ６０は開閉機構２６を有する。図２２においては、１つの開閉機構２６だけが開状態となっている。そのような開状態を形成するために、案内ブロック３０が機能する。案内ブロック３０は、上述したように、下層１２４、上層１２６等を有する。案内ブロック３０がラック１４における一対の脚部間に差し込まれる。図２２においては、他方側の脚部６４Ｂのみが示されている。下層１２４の後側には一対の斜面１３４が形成されており、上層１２６の後側には一対の斜面１３６が形成されている。下層１２４及び上層１２６の前側部分にも、それぞれ一対の斜面が形成されている。図２２に示す状態においては、押し付けユニット３４により、ラックに対してＹ方向の押し付け力が及んでおり、これによってラック１４の位置及び姿勢が適正化かつ安定化されている。

図２３は、図２２に示した部分のＹＺ断面図である。図２３においては、案内ブロック３０の断面が含まれている。上述したように、ラック１４における、各収容部には、アダプタ６０が設けられ、その内部にはサンプル容器２２が収容されている。図２３に示す状態では、開閉機構２６が開状態となっており、すなわち下端構造体７４，７６がラック本体から水平方向両側へ突出している。そのような作用は、下端構造体７４，７６が有する一対の接触子が案内ブロック３０における一対の斜面に当接することにより生じる。

図２３において、ラック１４に対しては押し付けユニット３２から押圧力が与えられており、ラック１４の位置及び姿勢が安定化されている。案内ブロック３０の下側には、昇降路２８が形成されている。既に説明したように、昇降機構は、シャフト４３及びヘッド４４を有する。それらは昇降路２８の内部を上下方向に運動する。

図２３に示されているように、案内ブロック３０の下方には、昇降路２８を横切るようにシャッタ機構４２が設けられている。シャッタ機構４２について、ここで簡単に説明しておく。なお、シャッタ機構については後に図３４−３６を用いてあたためて説明する。

シャッタ機構４２は、上側シャッタ機構４２Ａと下側シャッタ機構４２Ｂとにより構成されている。上側シャッタ機構４２Ａは、上方からの外来放射線を遮蔽するための機構であり、下側シャッタ機構は昇降路２８を介して進入して来る外来光を遮蔽するための機構である。

具体的には、上側シャッタ機構４２Ａは鉛ブロック１４８を有し、その鉛ブロック１４８が昇降路２８を横切ってサンプル測定室の上側を覆うことにより、昇降路２８を通じてサンプル測定室へ向かう外来放射線（特に宇宙線等）が遮蔽されている。サンプル測定室における昇降路２８以外の部分は基本的に遮蔽部材により覆われている。但し、宇宙線の遮蔽を目的とする場合、サンプル測定室の下側への遮蔽部材の配置を省略することも考えられる。

上側シャッタ機構４２Ａは、筒ガイド１４６を有し、その筒ガイド１４６は、鉛ブロック１４８が退避位置にある場合において、昇降路２８に位置決められ、その状態でヘッド４４及びサンプル容器２２に対するガイド作用を発揮する。鉛ブロック１４８が前進した状態においては、筒ガイド１４６が昇降路２８から退避した位置に移動する。筒ガイド１４６は、スリーブのような中空部材であり、後に説明するように、調芯機能を有している。

下側シャッタ機構４２Ｂは、遮光板１５０とスリット構造体２３０とを有する。遮光板１５０が前進すると、スリット構造体２３０が有するスリット内に遮光板１５０の一部が差し込まれ、これにより昇降路２８を横切るように遮光板１５０が配設される。その状態においては、上方からの外来光は遮光板１５０によって遮断されることになる。

以上のように、案内ブロックによれば、ラックをＸ方向へ搬送するための駆動力の一部を利用して開閉機構を開動作させることが可能である。したがって、そのような開動作のために専用の駆動源を設ける必要がないという利点が得られる。また、一対の脚部間に案内ブロックが差し込まれると、Ｙ方向においてラックの位置を適正化することができ、すなわちセンタリングを自然に行うことが可能である。また、本実施形態の案内ブロックは、開状態と閉状態との間における中途半端な状態において、サンプル容器の下側を補助的に下支えする部材を有しているので、開閉機構の動作途中において、サンプル容器の姿勢等が乱れることを防止できる。さらに、本実施形態に係る案内ブロック３０は、押し付けユニットと共に機能する基準面を有しており、それらの協働によって、ラックの位置及び姿勢を簡便に適正化できる。

（Ｄ）押し付けユニット（図２４−２７）
図２４は、押し付けユニット３２の動作状態が斜視図として示されている。ラック１４がＸ方向に搬送される場合において、ラック１４の進行方向左手側において押し付けユニット３２がその機能を発揮する。押し付けユニット３２は、既に説明したように、一対のローラ１３８，１４０を有する。それらに対して弾性付勢力を与えるために、第１可動プレート１５４と第２可動プレート１５６とが設けられている。

図２５は、押し付けユニットの第１斜視図である。第１可動プレート１５４は、上側プレートであり、第２可動プレート１５６は下側プレートである。それらのプレート１５４，１５６は、共通回転軸１４２を中心として回転運動を行う。第１可動プレート１５４はクランク状の形態を有しており、第２可動プレート１５６もクランク状の形態を有している。

第１可動プレート１５４は、前側屈曲部分１５４ａ、中間部分１５４ｂ及び後側屈曲部分１５４ｃを有する。前側屈曲部分１５４ａの端部にローラー１３８が回転自在に取り付けられている。第２可動プレート１５６は、前側屈曲部分１５６ａ、中間部分１５６ｂ及び後側屈曲部分１５６ｃを有する。前側屈曲部分１５６ａの端部にローラー１４０が回転自在に設けられている。ピン１６０は、第１可動プレート１５４が上方から見て反時計回り方向に必要以上に回転しないようにするための規制部材である。同様に、ピン１５８は第２可動プレート１５６が上方から見て時計回り方向に必要以上に回転しないようにするための規制部材である。

図２６には、押し付けユニットの第２斜視図が示されている。上述したように、第１可動プレート１５４は後側屈曲部分１５４ｃを有し、その端部には運動軸１６４が設けられている。第２可動プレート１５６は後側屈曲部分１５６ｃを有し、その端部には運動軸１６６が設けられている。運動軸１６４と運動軸１６６との間には、自然状態よりも伸長した状態でスプリング１６２が設けられている。すなわち、スプリング１６２において常時、弾性復元力が生じており、それが第１可動プレート１５４及び第２可動プレート１５６を介して一対のローラー１３８，１４０に伝達されている。これによりラックへの押し付け力が生じる。ただし、上述したように、一対の規制ピンによって、それぞれのプレート１５４，１５６の初期状態における回転角度が規制されている。これにより図１８に示したギャップΔＷが設定されている。

図２７は、押し付けユニットの作用を示す図である。共通回転軸１４２の中心に対して各ローラー１３８，１４０の回転中心に対してマイナスオフセット１６８が設定されており、すなわち、回転軸１４２の中心に対して各ローラー１３８，１４０の回転中心がＹ方向において案内ブロックから遠い方にシフトしている。第１可動プレート１５４と第２可動プレート１５６との間にスプリング１６２が配置されており、それぞれのローラー１３８，１４０が案内ブロックから遠ざかる方向に運動すると、スプリング１６２がより引き伸ばされて、その反力として、より強い弾性付勢力が生成される。それにより、ローラー１３８，１４０をラック側に押し付ける押し付け力１７２が生成される。

本実施形態においては、２つの可動プレートの間にスプリング１６２を配置したので、脚部がローラー１３８と基準面との間だけに入り込んだ状態においては、弱い押し付け力Ｆ１を生じさせることができ、２つのローラー１３８，１４０と基準面との間に脚部が入り込んだ場合においては、２つのローラー１３８，１４０の両者合わせて、強い押し付け力Ｆ２を生じさせることが可能である。すなわち、進入の状況に応じて段階的な力を発揮させることが可能である。脚部がローラー１３８と基準面との間に入り込んでいない初期状態ではそれらの間にギャップΔＷが形成されているので、それが形成されていない場合に比べて、脚部の進入時に脚部に及ぶ力（反力、衝撃力）を小さくすることができる。

以上のような押し付けユニットによれば、図１８を用いて説明したように、案内ブロックが有する基準面に対して一方の脚部の内面が密着するように、一方の脚部の外面に対して押し付け力を与えることが可能である。また、その場合において、マイナスオフセット１６８が生じるように各ローラー１３８，１４０が設けらているため、図１８に示したように一方の脚部を受け入れる開き角度を比較的大きくできるという利点が得られる。換言すれば、第１可動プレートの回動運動を円滑に行わせることが可能である。さらに、本実施形態においては２つの可動プレートの間にスプリングを配置したので、挟み込みの状態に応じて段階的に押し付け力を増大させることができる。

（Ｅ）搬送面下側の構造（図２８−３３）
次に、搬送面下側の構造について説明する。図２８には、ラック１４がＸ搬送路に投入された状態が示されている。その状態において、ヘッド４４は、案内ブロック３０の開口内に差し込まれており、すなわち、ヘッド４４は最上位置にある。開口の直下には、サンプル測定室３４が設けられており、その両側には測定ユニットを構成する一対の光電子増倍管１７４，１７６が設けられている。サンプル測定室３４及び一対の光電子増倍管１７４，１７６の全体を包み込むように、遮蔽体１７８が設けられている。その遮蔽体１７８は鉛等により構成され、外部から飛来する放射線が遮蔽されている。ただし、昇降路における遮蔽は、後に説明するシャッタ機構により実行される。

図２９には、先頭のサンプル容器３６がヘッド４４上に移載された状態が示されている。その状態においては、上述した開閉機構が案内ブロックの作用により開状態となる。

図３０には、サンプル測定状態が示されている。測定対象となったサンプル容器３６は、昇降機構４０の作用により、サンプル測定室３４内に配置されており、すなわち一対の光電子増倍管１７４，１７６の間にそれらに対して非接触の状態でサンプル容器３６が配置されている。サンプル測定状態では、昇降路２８を横切るようにシャッタ機構が動作する。図３０においては、鉛ブロック１４８が昇降路２８を横切るように挿入されている。これと共に、後に説明する遮光板が昇降路２８を横切るように挿入される。

図３１には、サンプル測定装置のＹＺ断面が示されている。図３１は非測定状態を示すものである。同図においてはヘッド４４が上昇端の位置にある。昇降機構４０は、垂直板１８２を有し、その垂直板１８２にはレール１８４が取付られている。レール１８４に対してスライドブロック１８６が上下方向に運動可能に設けられている。スライドブロック１８６にはシャフト４３の下端が取付けられている。シャフト４３上端にはヘッド４４が取付けられている。モータ１８８の駆動力がスライドブロック１８６に伝達され、それが上下方向に駆動される。それに伴いシャフト４３及びヘッド４４が上下方向に運動する。垂直板１８２はベースフレーム１８１及びベースプレートに連結されている。

ベースフレーム１８１上には後に説明するケースが固定されている。ベースプレート１８０上には、サンプル測定室３４及びケースを包み込むように、遮蔽体１７８が設けられている。この遮蔽体１７８は上述したように鉛等によって構成される。

シャッタ機構４２は上側シャッタ機構４２Ａと下側シャッタ機構４２Ｂとからなる。上側シャッタ機構４２Ａは、外来放射線を遮蔽する鉛ブロック１４８と筒ガイド１４６とを有する。下側シャッタ機構４２Ｂは後に詳述する遮光板を有する。

図３２にはサンプル測定装置のＹＺ断面が拡大図として示されている。図３２においてはサンプル測定状態が示されている。サンプル測定室３４内にはサンプル容器３６が配置されている。上述したように、シャッタ機構４２は、上側シャッタ機構４２Ａと下側シャッタ機構４２Ｂとからなる。上側シャッタ機構４２Ａは鉛ブロック１４８と筒ガイド１４６とを有する。図３２においては、鉛ブロック１４８が昇降路を横切るように配置されている。これと共に、昇降路を横切るように遮光板１５０が挿入されている。そのような状態で、上方からの外来放射線が遮蔽され、同時に、上方からの外来光が遮蔽される。これにより、高精度のサンプル測定を実現することが可能となる。

図３３には、サンプル測定室の下部が拡大図として示されている。図３３は、サンプル測定状態を示すものである。ベースフレーム１８１の上面が基準レベル２０６を構成している。すなわち、サンプル容器３６の上下方向の運動制御にあたっては、基準レベル２０６がＺ方向の原点位置となる。

ベースフレーム１８１上には、サンプル容器３６を包み込む形態を有するケース１９０が配置されている。ケース１９０の外側には遮蔽体１７８が設けられている。ベースフレーム１８１の中央部には開口が形成され、その開口をシャフト４３が挿通している。シャフト４３の上端にはヘッド４４の本体が取付けられている。具体的には、ヘッド４４の本体内には井戸１９２が形成され、その井戸１９２内にシャフト４３の上端部４３Ａが挿入されている。上端部４３Ａにはリング状のストッパ１９４が設けられ、ストッパ１９４と井戸１９２の底面１９２Ａとの間にスプリング１９６が配置されている。

井戸１９２を覆うように天板１９４が設けられている。天板１９４は、本実施形態において、積層体として構成されており、それは少なくとも下側の弾性シート及び上側の金属反射層を含むものである。もちろん、塗装によって光学的な反射を生じさせるようにしてもよい。下側の弾性体シートは遮光シートとして機能するものである。例えば、既に説明した図１８に示されるように、２つのネジ部材を利用して、天板１９４がヘッド４４の本体に取付けられる。これにより良好な遮光状態が形成される。

シャフト４３の上端部４３Ａにスプリング１９６が設けられているので、シャフト４３を若干多めに下方に引き下げたとしても、その超過分はスプリング１９６により吸収される。従って、ヘッド４４の下面がベースフレーム１８１の上面すなわち基準面にしっかりと密着するまでヘッド４４を引き下げることが容易となる。また、そのような密着状態では以下に説明するように良好な遮光状態を形成することが可能である。ちなみに、シャフト４３におけるヘッド４４の下方にはストッパ２０６が固定配置されており、スプリング１９６が圧縮状態から伸長状態に変化した場合においても、その変化量がストッパ２０６により規制される。すなわち、ストッパ２０６がヘッド４４の下面に当接するまでスプリング１９６の伸長が許容される。

次に、遮光構造（内側遮光構造）について説明する。遮光構造は、ベースフレーム１８１の上面とヘッド４４の下面とにまたがって構築されている構造である。

ベースフレーム１８１の上面には、シャフト４３が通過する開口を取り囲むように、第１リング溝１９８が形成されている。これに対応して、ヘッド４４の下面には、第１リング突起２０２が形成されている。ヘッド４４が最下位置すなわち規定位置に位置決められた状態では、第１リング突起２０２が第１リング溝１９８内に進入し、両者が嵌合した状態が形成される。その場合、図示されていない制御部により、シャフト４３が、ヘッドの最下位置を超えて若干下方に引き下げられる。これにより、スプリング１９６による弾性作用が発揮される。すなわち、スプリング１９６により、ヘッド４４を下方に押しつける力が生成される。その結果、第１リング溝１９８と第１リング突起２０２との間で良好な密着状態が形成される。すなわち、良好な遮光状態を形成できる。すなわち、シャフト４３の外面及びベースフレーム１８１の上面に沿って、サンプル測定室の内部へ進入しようとする外来光を確実に阻止することが可能となる。また、第１リング溝１９８と第１リング突起２０２との嵌合により、ヘッド４４についての水平方向の位置決め作用を得ることができ、これによれば、サンプル容器３６をサンプル測定室内において適正に位置決めることが可能である。

本実施形態においては、上述した内側遮光構造の外側に外側遮光構造が構築されている。具体的には、ベースフレーム１８１の上面には第１リング溝１９８を取り囲むように第２リング溝２００が形成されている。一方、ケース１９０が有する脚部の下面には、第１リング突起２０２を取り囲むように第２リング突起２０４が形成されている。第２リング突起２０４は、組立状態で第２リング溝２００内に進入し、両者が嵌合状態となる。これにより、ベースフレーム１８１の周囲からベースフレーム１８１の上面に沿ってサンプル測定室の内部へ進入しようとする外来光を確実に阻止することが可能である。

シャフト４３の外面に沿ってヘッド４４内に進入する外来光は、ヘッド４４の内部において阻止される。すなわち、天板１９４が遮光シートを有し、それがヘッド４４の本体に対して密着固定されているので、それによりヘッド４４内において外来光が閉じ込められる。すなわち、天板１９４とヘッド４４の本体との間の隙間を通じての外来光の進入が阻止される。ヘッド４４内で十分な遮光を行うため、望ましくは、遮光シートとして黒色の弾性体からなるシートが利用される。ちなみに、ヘッド４４の本体は、例えば硬質の樹脂等により形成される。ベースフレーム１８１は金属等により構成される。ケース１９０は金属により構成される。

（Ｆ）遮光ユニット（図３４−３６）
図３４には、シャッタ機構４２の第１斜視図が示されている。すなわち、図３４においては、斜め上方から見たシャッタ機構４２が示されている。

シャッタ機構４２は、既に説明したように、上側シャッタ機構４２Ａと下側シャッタ機構４２Ｂとを有する。それらは、固定構造体に対して取付けられている。具体的には、互いに平行に固定ブロック２０８，２１０が設けられており、それらの間にはシャフト２１２及びガイド部材２１４が配置されている。シャフト２１２上にはスライド可能にブロックが取付られており、そのブロックは可動体２２０の一部を構成している。ガイド部材２１４はガイドレールを構成するものであり、そのガイド部材上において可動体２２０が有するローラ２２４が回転運動する。

固定ブロック２０８と固定ブロック２１０とにまたがって、水平方向に広がったブロックベース２１８が設けられている。ブロックベース２１８は、図１３に示したトップフレーム１２２に相当する部材である。すなわち、ブロックベース２１８上に案内ブロック３０が固定されている。モータ２２６は、スライド機構１８２における単一の駆動源を構成し、モータ２２６により送りネジ２１６が駆動される。送りネジ２１６は本実施形態において台形ネジで構成されている。図示されていないブロックが台形ネジ２１６に連結されており、送りネジ２１６の回転により、そのブロックを備える可動体２２０が水平方向に運動する。上側シャッタ機構４２Ａは、可動体２２０が有する可動フレームに取付けられており、これと同様に、下側シャッタ機構４２Ｂも可動フレーム２２２に取付けられている。

図３５には、シャッタ機構４２の第２斜視図が示されている。すなわち、図３５においては、斜め下から見たシャッタ機構４２が示されている。可動体２２０は上側シャッタ機構４２Ａ及び下側シャッタ機構４２Ｂを含む。下側シャッタ機構４２Ｂは、遮光板１５０を有している。遮光板１５０は、例えば薄い金属板により構成され、そのような金属板を構成する材料として、亜鉛、銅等を挙げることができる。遮光機能と共に、制動放射線を遮蔽する機能をもった金属により、遮光板１５０を構成するのが望ましい。そのような制動放射線は、鉛ブロックに対して外来放射線が阻止された場合に二次的に生じる放射線である。

遮光板１５０は、水平部分を成す本体１５０Ａと、それに連なる屈曲部分１５０Ｂとを有し、その屈曲部分１５０Ｂは垂直部分を構成している。更に屈曲部分１５０Ｂは取付部分１５０Ｃに連絡しており、取付部分１５０Ｃが上述した可動フレームに固定されている。遮光板１５０の本体１５０Ａにおける基端側には弾性体ブロック２２８が設けられている。具体的には、弾性体ブロック２２８は、水平方向に貫通形成されたスリット２２８Ａを有し、そのスリット２２８Ａ内に本体１５０Ａの一部分、特に基端の一部分が差し込まれている。スリット２２８Ａと本体１５０Ａは互いに固定されておらず、相対的な水平移動が許容されている。弾性体ブロック２２８を可動フレームに固定してもよいし、それを本体１５０Ａに取り付けるだけでもよい。弾性体ブロック２２８は例えばゴム部材等で構成されるものである。なお、図３５においては、遮光板１５０における本体１５０Ａを受け入れるスリット構造体（固定構造物）については図示省略されている。

図３６にはシャッタ機構４２の断面図が示されている。上述したように、上側シャッタ機構４２Ａは水平方向に並んだ鉛ブロックと筒ガイド１４６とを有する。鉛ブロックが退避位置にある場合に、筒ガイド１４６が昇降路上に位置決められ、これによりサンプル容器に対するセンタリング作用（調芯作用）等が発揮される。

具体的には、筒ガイド１４６の内面において、上端部分がペーパー面１４６Ａとなっており、下端部分もテーパー面１４６Ｂとなっている。それらの斜面により上方から下方へサンプル容器が移動する場合において、また下方から上方にサンプル容器が移動する場合において、それに水平方向の位置ずれが生じていたとしても、斜面の作用によりサンプル容器を水平方向の適切な位置に位置決めることが可能である。もちろん、ヘッドに対する調芯機能が発揮されてもよい。

次に、下側シャッタ機構４２Ｂについて説明する。図３６にはスリット構造体２３０が示されている。スリット構造体２３０は下側シャッタ機構４２Ｂの一部を構成するものであり、それは固定構造体である。スリット構造体２３０は、大別して、上側プレート２３２及び下側プレート２３４を有し、両者の間にスリットが形成されている。スリットの周囲は、遮光板１５０を受け入れる入口を除き、いずれも封止されており、すなわち外部からスリット内への光の進入が阻止されている。

遮光板１５０は、図３６において退避位置にあり、その場合においては遮光板１５０の先端部のみがスリット構造体２３０内に進入している。但し、遮光板１５０は昇降路から完全に外れた位置にある。

遮光板１５０の基端側には弾性体ブロック２２８が取り付けられている。弾性体ブロック２２８は水平のスリット２２８ａを有し、そこを遮光板１５０が貫通している。シャッタ機構４２がシャッタ動作を行うと、上側シャッタ機構４２Ａ中の可動部及び下側シャッタ機構４２Ｂ中の可動部が退避位置から前方位置へ移動する。これにより昇降路上において上側に鉛ブロックが差し込まれ、その下側に遮光板１５０が差し込まれる。そのような二重のシャッタ状態により、外来放射線が遮蔽され、同時に外来光が遮蔽される。ちなみに、スリット構造体２３０は上述したケース１９０の上端に固定されている。

下側シャッタ機構４２Ｂ中の可動部が前進位置まで到達すると、弾性体ブロック２２８に形成された窪みとしての凹部２２８Ｂ内にスリット構造体２３０の端部が差し込まれることになり、その端部の端面が凹部２２８Ｂの奥面に強く突き当たることになる。すなわち、両者が強く密着することになる。これにより、スリット構造体２３０が有するスリット入口を経由して外来光がスリット内部に侵入することが確実に阻止される。遮光板１５０の取付端側には垂直部分等の一定の弛み部分が存在しており、遮光板１５０が前進端に突き上がった場合において、その反作用を遮光板１５０の基端側で吸収することが可能である。

本実施形態に係るシャッタ機構によれば、単一の駆動源及び単一のスライド機構により放射線の遮蔽と光の遮蔽を同時に行うことが可能であるので、機構を簡略化できると共に制御も簡略化することが可能である。また遮光板が制動放射線を遮蔽あるいは減弱する作用を持った部材で構成されているので、鉛ブロックにおいて制動放射線が発生したとしても、それがサンプル測定室へ到達することを効果的に軽減できるという利点が得られる。

更に、遮光板の根本側に弾性ブロックが設けられ、遮光板が進入するスリット構造体と弾性体ブロックが密着することにより、スリット構造体内部への外来光の侵入が阻止されるので、昇降路を通じて上方から来る外来光に加えて、周囲から進入する外来光についても、効果的な遮光を行えるという利点が得られる。本実施形態においては、搬送テーブルの下側にサンプル測定室を設けたので、すなわち、シャッタ機構が動作する際には昇降路内にシャフトが存在しないので、シャッタ機構の構成を簡略化できるという利点も得られる。

（Ｇ）アダプタの変形例（図３７−４０）
次に、図３７乃至図４０を用いてアダプタの変形例について説明する。

図３７には、第２実施形態に係るアダプタ２３６を示す第１斜視図が示されている。アダプタ２３６は、環状枠２３８と、それに連結された一対のアーム２４０，２４２と、を有している。アーム２４０とアーム２４２は、互いに対称の形態を有している。そこでアーム２４２を代表させ、それについて説明する。アーム２４２は、上側部分２４２Ａと、波状部分２４２Ｂと、下側部分２４２Ｃと、を有している。下側部分２４２Ｃには、下端構造体２４６が構成されている。同様にアーム２４０は下端構造体２４４を有している。

下端構造体２４４と下端構造体２４６は対称の構造を有している。下端構造体２４４は、水平方向に突出したリブ２４８と、それに固定された支え板２５０と、を有している。支え板２５０の上端部２５０ａは、内側に傾斜した傾斜部を構成している。支え板２５０の中間位置に対して、アーム本体から伸びる補強板２５２が連結している。

図３８にはアダプタ２３６の第２斜視図が示されている。上述したように、それぞれのアームには下端構造体２４４，２４６が形成されている。

図３９を用いて下端構造体２４４，２４６の作用について説明する。案内ブロックへの当接により、水平方向外側に開き力２５８が加えられると、それぞれの下端構造体２４４，２４６は水平方向外側に運動する。これが符号２６０で示されている。一方、２つのアーム２４０，２４２が閉状態にある場合において、上方からサンプル容器を介して過剰な押圧力２５４が与えられると、支え板の上端部分が符号２５６で示すように内側に倒れ込むように変形する。そのような変形により上側からの押圧力２５４の全部又は主要部分が吸収される。すなわち、下端構造２４４，２４６が有する変形部分に押圧力が集中することになるので、上述した２つのアーム２４０，２４２の開き運動は生じない。

図１２等を用いて説明した第１実施形態においては変形部分に連結されたストッパが利用されていたが、この実施形態においては、内側に倒れ込み運動する変形部分を利用して上方からの押圧力による誤作動が防止されている。いずれの実施形態においても変形が効果的に利用されている。

図４０にはラックの断面図が示されている。ラック本体２６２には上記のアダプタ２３６が装着されている。符号２４０Ａ，２４２Ａは各アームが開いた状態を示しており、符号２４０Ｂ，２４２Ｂは各アームが閉じた状態を示している。上述したように、そのような閉状態において、上方から押圧力が加わったとしても、一部分の弾性変形によりその押圧力を吸収して、一対のアームの開運動が効果的に防止される。このような第２実施形態に係るアダプタを利用する場合においても、図１８等に示した案内ブロックが用いられる。

１０ サンプル測定装置（液体シンチレーションカウンタ）、１２ 搬送テーブル、１４ ラック ２２ サンプル容器、２４ サンプル収容部、２６ 開閉機構、２８ 昇降路、３０ 案内ブロック、３２ 押し付けユニット、３４ サンプル測定室、３８ 光電子増倍管、４０ 昇降機構、４２ シャッタ機構、４３ シャフト、４４ ヘッド、６０ アダプタ、７０，７２ アーム、７４，７６ 下端構造体、９６ アタッチメント。

Claims (8)

1. 放射性物質及び液体シンチレータを含むサンプルを収容したサンプル容器を保持するラックと、
   搬送面上の前記ラックとサンプル測定室との間に設けられ、前記サンプル容器が昇降運動する昇降路と、
   前記サンプル測定室内において前記サンプル容器から出る光を検出する検出器と、
   前記サンプル測定室への前記サンプル容器の送り込み後に前記昇降路を横切るように前進運動する可動体を備えるシャッタ機構と、
   を含み、
   前記可動体は、
   外来放射線を遮蔽する放射線遮蔽部材と、
   外来光を遮蔽する光遮蔽部材と、
   を含み、
   前記シャッタ機構は、前記放射線遮蔽部材及び前記光遮蔽部材を一体的に駆動する駆動部を有する、
   ことを特徴とするサンプル測定装置。
2. 請求項１記載の装置において、
   前記光遮蔽部材はシート状の遮光板で構成され、
   前記昇降路を横切るようにスリット構造体が設けられ、
   前記スリット構造体は、
   前記昇降路の一部をなす開口部分と、
   前記遮光板が差し込まれる水平スリットと、
   を有し、
   前記遮光板は、前記開口部分よりも退避した退避位置と前記開口部分を覆う前進位置との間で運動する、
   ことを特徴とするサンプル測定装置。
3. 請求項２記載の装置において、
   前記遮光板は水平に広がった平板部分を有し、
   前記平板部分の基端側に弾性体が設けられ、
   前記遮光板が前進位置にある場合に前記弾性体が前記スリット構造体の端縁に密着して前記水平スリットの入口を覆う、
   ことを特徴とするサンプル測定装置。
4. 請求項１又は２記載の装置において、
   前記放射線遮蔽部材は水平に広がった平板形を有し、
   前記光遮蔽部材は水平に広がった平板部分を有し、
   前記放射線遮蔽部材と前記平板部分とが二重シャッタ構造を構成する、
   ことを特徴とするサンプル測定装置。
5. 請求項１乃至４のいずれか１項に記載の装置において、
   前記光遮蔽部材は、前記放射線遮蔽部材による外来放射線の減弱によって生じる制動放射線を遮蔽する金属部材により構成された、
   ことを特徴とするサンプル測定装置。
6. 請求項１乃至５のいずれか１項に記載の装置において、
   前記可動体は、
   前記放射線遮蔽部材の前方に設けられ、前記放射線遮蔽部材と共に水平方向に運動する中空ガイド部材を有し、
   前記放射線遮蔽部材の退避状態において前記中空ガイド部材が前記昇降路上に位置決められ、前記放射線遮蔽部材の前進状態において前記中空ガイド部材が前記昇降路から外れた位置に位置決められる、
   ことを特徴とするサンプル測定装置。
7. 請求項６記載の装置において、
   前記中空ガイド部材の内面は、
   前記サンプル容器の下降時において前記サンプル容器の水平方向の位置を適正にするための第１斜面と、
   前記サンプル容器の上昇時において前記サンプル容器の水平方向の位置を適正にするための第２斜面と、
   を有することを特徴とするサンプル測定装置。
8. 請求項１記載の装置において、
   前記サンプル測定室は前記搬送面の下方に設けられ、
   前記放射線遮蔽部材の下側に前記光遮蔽部材が設けられた、
   ことを特徴とするサンプル測定装置。

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