JP5732007B2 - Ktn結晶を用いたスキャナ装置 - Google Patents
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Description
前記電気光学結晶は、タンタル酸ニオブ酸カリウム(KTa 1-x Nb x O 3 (0<x<1))結晶、またはリチウムを添加したK 1-y Li y Ta 1-x Nb x O 3 (0<x<1、0<y<1)のいずれかであることを特徴とする光スキャナ装置である。
2、3、21a、11a、11b、102、103 電極
4、36、104 高電圧駆動電源
5 ミラー
6a、6b 出射光
7a、7b 抽出された出射光
8、18 PSD
9、10、22〜25 増幅器
12、33 誤差アンプ
13、32 信号発生器
14、34 PID制御部
15、35 加算器
Claims (5)
- 対向する面に少なくとも2つの電極を形成した電気光学結晶であって、前記電極に制御信号に基づいた駆動信号を印加して、電気光学効果により内部の屈折率分布の傾斜を生成することによって、前記駆動電圧により形成される電界に概ね垂直に入射する入射光を偏向させる電気光学結晶を用いた光偏向器と、
偏向角を維持しながら、前記光偏向器から偏向を受けた出射光の一部を抽出する手段と、
2つの隣接する検出面を有し、前記抽出された出射光を受光して、前記検出面の各々に対応する前記偏向角を反映した2つの検出電流を出力する位置検出器と、
前記2つの検出面からの前記2つの検出電流の差異に基づいて、前記偏向角を表す差信号を生成する手段と、
前記制御信号と、前記差信号との誤差を比較して、誤差信号を生成する手段と、
前記制御信号および前記誤差信号に基づいて、前記駆動電圧と偏向角との間の非線形性を補償した駆動電圧を生成する手段と
を備え、
前記制御信号は、偏向動作を行う期間およびバースト電圧を印加する期間を含んでおり、
前記電気光学結晶は、タンタル酸ニオブ酸カリウム(KTa 1-x Nb x O 3 (0<x<1))結晶、またはリチウムを添加したK 1-y Li y Ta 1-x Nb x O 3 (0<x<1、0<y<1)のいずれかであることを特徴とする光スキャナ装置。 - 前記駆動電圧を生成する手段は、
前記誤差信号をPID制御するPID制御部と、
前記PID制御部からの出力と、前記PID制御部によってPID制御された誤差信号および前記制御信号と加算する加算器と
を含むことを特徴とする請求項1に記載の光スキャナ装置。 - 対向する面に少なくとも2つの電極を形成した電気光学結晶であって、前記電極に第1の制御信号に基づいた第1の駆動信号を印加して、電気光学効果により内部の屈折率分布の傾斜を生成することによって、前記第1の駆動電圧により形成される電界に概ね垂直に入射する入射光を第1の偏向方向に偏向させる電気光学結晶を用いた第1の光偏向器と、
第2の制御信号に基づく第2の駆動信号によって、前記第1の光偏向器からの出射光を、前記第1の偏向方向に直交する第2の偏向方向にさらに偏向する電気光学結晶を用いた第2の光偏向器と、
偏向角を維持しながら、前記第1の光偏向器および前記第2の光偏向器からそれぞれ偏向を受けた出射光の一部を抽出する手段と、
1つの検出面を直交する4つの検出面に分割した4分割位置検出器であって、前記4つの検出面から、前記第1の偏向方向および前記第2の偏向方向の各偏向角に対応する2組の検出電流を生成する4分割位置検出器と、
前記2組の検出電流の内の一方の組の検出電流間の差異に基づいて、前記第1の偏向方向の前記偏向角を表す第1の差信号を生成する手段と、
前記第1の制御信号と、前記第1の差信号との誤差を比較して、第1の誤差信号を生成する手段と、
前記第1の制御信号および前記第1の誤差信号に基づいて、前記第1の駆動電圧と前記第1の偏向方向の偏向角との間の非線形性を補償した駆動電圧を生成する手段と、
前記2組の検出電流の内の他方の組の検出電流間の差異に基づいて、前記第2の光偏向器に対応する第2の差信号を生成する手段と、
前記第2制御信号と、前記第2の差信号との誤差を比較して、第2の誤差信号を生成する手段と、
前記第2の制御信号および前記第2の誤差信号に基づいて、前記第2の駆動電圧と前記第2の偏向方向の偏向角との間の非線形性を補償した駆動電圧を生成する手段と
を備え、
前記第1の制御信号および前記第2の制御信号は、偏向動作を行う期間およびバースト電圧を印加する期間を含んでおり、
前記電気光学結晶は、タンタル酸ニオブ酸カリウム(KTa 1-x Nb x O 3 (0<x<1))結晶、またはリチウムを添加したK 1-y Li y Ta 1-x Nb x O 3 (0<x<1、0<y<1)のいずれかであることを特徴とする光スキャナ装置。 - 前記駆動電圧を生成する手段は、
前記第1の誤差信号または前記第2の誤差信号をPID制御するPID制御部と、
前記PID制御部からの出力と、前記PID制御部によってPID制御された第1の誤差信号および前記第1の制御信号と加算し、または、前記PID制御部によってPID制御された第2の誤差信号および前記第2の制御信号と加算する加算器と
を含むことを特徴とする請求項3に記載の光スキャナ装置。 - 前記出射光の一部を抽出する手段は、前記出射光の光路を概ね進行方向に垂直な方向に曲げるミラーであることを特徴とする請求項1乃至4いずれかに記載の光スキャナ装置。
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