JP5717915B2 - 電力用スイッチング回路 - Google Patents

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Description

この発明は、センススイッチング素子を備えた電力用半導体素子に過電流が流れた場合に、電力用半導体素子中のスイッチング素子と並列に接続されたダイオードを保護するための電力用スイッチング回路に関するものである。
従来の電力用スイッチング回路の保護に関して、例えば、特許文献1には、インバータ装置の過電流保護に関するものが示されている。この特許文献1では、過電流が流れた場合にはゲート電圧制御回路が作動し、作動中は出力遮断信号が電流を急激に遮断しないようにしている。また、過電流保護動作時には、全スイッチング素子をオフするようにしている。
また、例えば特許文献2には、誘導性負荷を駆動する場合において、スイッチング素子の順方向とは逆方向に電流が流れる還流モード時にスイッチング素子をオン駆動させ、スイッチング素子における電圧降下を極力低減する同期整流方式が記載されている。また、この同期整流方式において、デッドタイムを最小限に短縮し、それにより、フリーホイールダイオードを削減することが可能であることが記載されている。
電力用半導体素子は一定電流以上の過電流が流れた場合に素子が破壊する可能性があり、過電流からの保護機能が必要とされる。過電流保護機能としては、主電流が流れるメインスイッチング素子と主電流の一部を分流するセンススイッチング素子を有し、センススイッチング素子に流れる電流を検出して、電流を遮断する方式が一般に知られている。例えば特許文献3では、メインスイッチング素子であるメイントランジスタとセンススイッチング素子であるセンストランジスタのゲートを独立させた方式を開示しているが、特許文献3の従来例には、ゲートを共通にした場合等も記載されている。
特開平06−054552号公報 特開2008−211703号公報 特開平6−77796号公報
特許文献1のように、過電流時に全スイッチング素子をオフすると、スイッチング素子と並列に接続されたダイオードにのみ過電流が流れ、ダイオードが劣化する可能性がある。また、特許文献2に示されたような同期整流方式を用いる場合、特にフリーホイールダイオードを削減し、ボディダイオードに電流を流す場合には、スイッチング素子と並列に接続されたダイオードの過電流耐量が低いと、ダイオードの劣化や、最悪の場合、破壊に至る可能性がある。さらに、特許文献3では過電流をセンストランジスタに流れる電流により検知し、電流を遮断する方式が示されているが、誘導性負荷を用いる場合には、遮断後に過電流がダイオードを通して流れてしまう。
この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたものであり、過電流が発生した場合でも、スイッチング素子と並列に接続されたダイオードに流れる電流を抑制し、特に過電流によるダイオードの劣化や破壊から保護することが可能な電力用スイッチング回路を得ることを目的としている。
この発明は、並列にメインボディダイオードが接続されたメインスイッチング素子と、並列にセンスボディダイオードが接続されたセンススイッチング素子とを備えた電力用半導体素子と、センススイッチング素子とセンスボディダイオードとの並列体に流れる電流のうち逆方向に流れる過電流を検出する逆方向過電流検出回路と、電力用半導体素子のゲートを駆動する制御回路とを備え、この制御回路は逆方向過電流検出回路が逆方向過電流を検出した場合に、メインスイッチング素子およびセンススイッチング素子をオンするように制御するようにしたものである。
この発明によれば、逆方向過電流を検出した場合に、メインスイッチング素子をオンするため、逆方向過電流はメインスイッチング素子とボディダイオードに分流して流れ、ボディダイオードを逆方向過電流から保護することができる。
この発明の実施の形態1による電力用スイッチング回路を示す回路図である。 この発明による電力用スイッチング回路を適用する電力変換装置の一例を示す図である。 この発明の実施の形態1による電力用スイッチング回路の動作を説明するタイムチャートである。 この発明の実施の形態2による電力用スイッチング回路を示す回路図である。 この発明の実施の形態3による電力用スイッチング回路を示す回路図である。 この発明の実施の形態3による別の電力用スイッチング回路を示す回路図である。 この発明の実施の形態4による電力用スイッチング回路を示す回路図である。 この発明の実施の形態4による別の電力用スイッチング回路を示す回路図である。
実施の形態1.
図1は本発明の実施の形態1による電力用スイッチング回路を示す回路図である。ここでは、電力用半導体素子としてMOSFETを用いた電力用スイッチング回路100を例として説明する。電力用スイッチング回路100における電力用半導体素子10は、メインスイッチング素子としてのメインMOSFET1と、このメインMOSFET1に並列に接続されたメインボディダイオード3、およびセンススイッチング素子としてのセンスMOSFET2と、このセンスMOSFET2に並列に接続されたセンスボディダイオード4を備えている。電力用スイッチング回路100は、メインMOSFET1、センスMOSFET2のオン、オフ動作を制御する制御回路5を備えている。さらに、電力用スイッチング回路100は、センス抵抗6に流れる電流による電圧降下を入力して、メインMOSFET1、センスMOSFET2の、矢印で示すMOSFETの順方向(以下順方向とする)とは逆の、逆方向に流れる過電流を検出する逆方向過電流検出回路7を備えている。
メインMOSFET1はセンスMOSFET2に比べて多数のMOSFETセルより構成されており、その比は例えば数千〜数万対1である。そのため、スイッチング素子を流れる電流はその比に応じてメインMOSFET1とセンスMOSFET2に分流して流れる。センスMOSFET2に直列に接続されたセンス抵抗6の電圧降下により、センスMOSFET2に流れる電流を検出し、センスセル比に応じた分流比から、主電流を検出することができる。また、メインMOSFET1、センスMOSFET2はそれぞれメインボディダイオード3、センスボディダイオード4を備えているため、メインMOSFET1、センスMOSFET2がオフ状態の時にこれらボディダイオードに流れる電流、すなわち逆方向電流も検出することができる。
逆方向過電流検出回路7はセンス抵抗6の電圧降下によって、逆方向に過電流が流れているか否かを検出するもので、一般的な比較回路で構成できる。例えば、過電流検知レベルを設定する基準電圧とセンス抵抗の電圧を比較するコンパレータ等で構成することができる。なお、ここではセンスボディダイオードを流れる電流を電圧に変換するためにセンス抵抗を用いているが、センスボディダイオードに流れる電流を検出できればよく、必ずしもセンス抵抗を用いた回路である必要はなく、例えばオペアンプのイマジナリーショートを利用した回路などでも良い。
本実施の形態1による電力用スイッチング回路の動作について、図1、図2および図3を用いて説明する。図2は、図1に示す電力用スイッチング回路100を6個、すなわち電力用スイッチング回路(以下アームと称する。)100a、100b、100c、100d、100e、100fを用いて、三相インバータを構成し、直流電源9からの直流を交流に変換し、誘導性負荷8に電流を供給する電力変換装置の例である。このように誘導性負荷を駆動する電力変換装置では、例えば片アーム100aのスイッチング素子の順方向に過電流が流れ、保護のために過電流が流れているスイッチング素子をオフし、過電流を遮断した場合には、遮断後逆アーム100bのダイオードに過電流が流れる。そのため、ダイオードの過電流耐量が低いと、ダイオードの劣化や、最悪の場合、破壊に至る可能性があるため、ダイオードを保護する必要がある。なお、図2の三相インバータは、本発明を適用する電力変換装置の一例として示したものであり、本発明は、コンバータやチョッパ等、インバータ以外の回路に適用することもできる。
図1に示す回路において、逆方向過電流が流れた場合、電流はメインボディダイオード3、センスボディダイオード4に分流して流れる。この時のセンス抵抗6の電圧降下は、正常動作時に逆方向に流れる電流によって生ずる電圧降下よりも大きくなるため、逆方向過電流検出回路7が過電流を検出することができ、検出信号が制御回路5に入力されて、制御回路5がメインMOSFET1、センスMOSFET2をオンする。これらのスイッチング素子のオンにより、過電流はメインMOSFET1、センスMOSFET2、メインボディダイオード3、センスボディダイオード4に分流して流れる。その結果、メインボディダイオード3、センスボディダイオード4に流れる電流は低下し、各ボディダイオードを過電流から保護することができる。また、電流が減衰すると、逆方向過電流検出回路7は逆方向過電流の検出を止め、制御回路5がスイッチング素子をオフすることで、再び順方向に電流が流れることなく、電流を遮断することができる。逆方向過電流検出回路7にヒステリシスを持たせて、逆方向過電流を検出するレベルよりも逆方向過電流の検出を止めるレベルを低く設定しても良い。
以上の動作を図3のタイムチャートを用いて詳しく説明する。図3は、上アームのアーム100aと、アーム100aと同じ出力端子に接続されている下アームのアーム100bの動作を説明するタイムチャートである。ここで、アーム100aの各構成要素の符号には、図1の符号にaを、アーム100bの各構成要素の符号には図1の符号にbを付加して説明する。例えば、アーム100aの制御回路は制御回路5aと表現する。
図3に示すアーム100aおよびアーム100bの入力信号は、動作が正常な状態のオン−オフ信号であり、制御回路5aの入力端子50a、および制御回路5bの入力端子50bに入力される。動作が正常な場合は、制御回路5aおよび制御回路5bはこれらの入力信号に従ってそれぞれのスイッチング素子であるMOSFETのオン−オフを制御する。時刻t1でアーム100aのMOSFET1aおよび2aがオンとなり、電流が流れる。時刻t2でアーム100aのMOSFET1aおよび2aをオフすると、アーム100aの電流は0となり、下アームのアーム100bのボディダイオード3bおよび4bを通じて電流が流れる。アーム100bの制御回路5bは、ボディダイオード3bおよび4bを通じて電流が流れ始めると同時にアーム100bのMOSFET1bおよび2bをオンさせる。ただし、アーム100aのMOSFET1aおよび2aとアーム100bのMOSFET1bおよび2bとが同時にオンしている時間が無いように、アーム100bのMOSFET1bおよび2bは、若干のデッドタイムを設けたのちにオンするようにする。なお、デッドタイム期間中のダイオード電流はMOSFETがオンしていない場合に比べて大きいが、時間が短いため、図3では無視している。動作が正常な場合は、以上のような、アーム100aのMOSFET1aおよび2aとアーム100bのMOSFET1bおよび2bのオン−オフ動作が繰り返される。
図3に示すアーム100aのMOSFET電流の波形のように、時刻t3においてアーム100aのMOSFET1aおよび2aがオンした後、負荷の短絡などの何らかの異常のため、過電流が検出された場合、アーム100aの制御回路5aは、時刻t4においてアーム100aのMOSFET1aおよび2aを保護するために、このMOSFETを強制的にオフする。なお、過電流の検出は、後述の実施の形態3や実施の形態4のような順方向過電流検出回路による検出の他、インバータの出力電流により検出しても良く、過電流を検出する周知の種々の方法を用いることができる。なお、図3ではアーム100aの入力信号は過電流検出時もオンのままであるが、外部回路によって過電流を検出し、オフする信号が入力されてもよい。
アーム100aのMOSFET1aおよび2aがオフすると、下アームのアーム100bのボディダイオード3bおよび4bに過電流が流れる。図3に、アーム100bのセンス抵抗6bに流れる電流、すなわちセンス電流を、アーム100bのセンス電流として示している。このセンス電流の逆方向の値が所定の閾値Ith1よりも大きくなった場合に、逆方向過電流検出回路7bはボディダイオード3bおよび4bに逆方向過電流が流れたと検知し、検知信号がアーム100bの制御回路5bに入力される。これにより、アーム100bの制御回路5bは、アーム100bの入力信号とは関係なく、アーム100bのMOSFET1bおよび2bをオンする。過電流を検知した後にMOSFET1bおよび2bをオンするため、過電流を検知した時刻t4からMOSFET1bおよび2bをオンする時刻t5は同時とはならないが、非常に短い時間、例えば数百ns〜数μs程度のタイムラグでMOSFET1bおよび2bをオンできるため、ボディダイオード3bおよび4bは保護される。
アーム100bのMOSFET1bおよび2bがオンすると、図3に示すアーム100bのダイオード電流およびアーム100bのMOSFET電流で示すように、ボディダイオードとMOSFETの両方に電流が分流するため、ダイオードに流れる電流値が低下し、ボディダイオードを保護することができる。その後、センス電流の絶対値がIth2より小さくなるまで減衰した時点t6でアーム100bのMOSFET1bおよび2bをオフする。MOSFET1bおよび2bをオフすることで、再び順方向に電流が流れることなく、電流を遮断することができる。
なお、スイッチング素子としてはMOSFETを用いた例を示したが、双方向にスイッチング可能な素子であれば良く、必ずしもMOSFETである必要はない。また、スイッチング素子は珪素によって形成されたものの他、珪素に比べてバンドギャップが大きいワイドバンドギャップ半導体によって形成しても良い。ワイドバンドギャップ半導体としては、例えば、炭化珪素(SiC)、窒化ガリウム系材料またはダイヤモンドがある。ワイドバンドギャップ半導体を用いた場合、許容電流密度が高く、電力損失も低いため、電力用半導体素子を用いた装置の小型化が可能となる。また、スイッチング素子にワイドバンドギャップ半導体を用いた場合、MOSFET等、双方向にスイッチング可能な素子の耐電圧が上がり、高電圧領域まで適用が可能となる。特に、スイッチング素子のボディダイオードの過電流耐量が低い場合には、本発明が有効となる。
実施の形態2.
図4に本発明の実施の形態2による電力用スイッチング回路の回路図を示す。実施の形態2では、実施の形態1の図1の回路に加え、電力用スイッチング回路100は、フリーホイールダイオード20がメインMOSFET1、メインボディダイオード3と並列に接続されている。フリーホイールダイオード20を用いる場合には電流はメインボディダイオード3、センスボディダイオード4、およびフリーホイールダイオード20に分流して流れるため、全体の損失を小さくできる等のメリットがある。また、同期整流の回路に適用した場合、電流はメインMOSFET1にも並列に流れるため、フリーホイールダイオード20の小型化も可能となる。
フリーホイールダイオード20を用いる場合、逆方向過電流はフリーホイールダイオード20とメインボディダイオード3、センスボディダイオード4に分流して流れる。そのため、センスボディダイオード4に流れる電流は実施の形態1に比べ、小さくなるため、逆方向過電流を検出するレベルも実施の形態1に比べ低く設定してもよい。本実施の形態2においても、逆方向過電流より、保護が可能となり、フリーホイールダイオード、ボディダイオードを劣化や破壊から保護することが可能となる。
なお、フリーホイールダイオード20にはPiNダイオードやショットキーバリアダイオードが用いられる。また、スイッチング素子同様、フリーホイールダイオードも珪素によって形成されたものの他、珪素に比べてバンドギャップが大きいワイドバンドギャップ半導体によって形成しても良い。ワイドバンドギャップ半導体としては、例えば、炭化珪素、窒化ガリウム系材料またはダイヤモンドがある。ワイドバンドギャップ半導体を用いた場合、許容電流密度が高く、電力損失も低いため、電力用半導体素子を用いた装置の小型化が可能となる。また、フリーホイールダイオードにワイドバンドギャップ半導体を用いた場合、ショットキーバリアダイオードの耐電圧が上がり、高電圧領域まで適用が可能となる。ショットキーバリアダイオードを用いる場合、過電流時のオン電圧が高いため、特に本発明の効果が大きくなる。
実施の形態3.
図5に本発明の実施の形態3による電力用スイッチング回路の回路図を示す。本実施の形態3では、電力用スイッチング回路100は、実施の形態1に加え順方向過電流検出回路11を備えている。順方向過電流検出回路11はセンス抵抗6の電圧降下より、順方向の過電流が流れているか否かを検出するもので、例えば過電流検知レベルを設定する基準電圧とセンス抵抗の電圧を比較するコンパレータ等で構成される。メインMOSFET1、センスMOSFET2の順方向に過電流が流れた場合、順方向過電流検出回路11が過電流を検出し、制御回路5がメインMOSFET1、センスMOSFET2をオフする。オフする速度は正常動作時のオフの速度よりも遅い速度であっても良い。
なお、図6に示すように、フリーホイールダイオード20を並列に設けた回路に、順方向過電流検出回路11を備えても良いのは言うまでもない。本実施の形態3では、逆方向過電流に加え、順方向過電流からも保護が可能となる。また、本実施の形態3では順方向過電流と逆方向過電流を検出するために同一のセンスMOSFET、センスボディダイオードを用いているため、センスMOSFET、センスボディダイオードは一つで良く、回路が簡素化される。
実施の形態4.
図7に本発明の実施の形態4による電力用スイッチング回路の回路図を示す。本実施の形態4では逆方向過電流の検出は、センスMOSFET2、センスボディダイオード4、およびセンス抵抗6によって行い、順方向過電流の検出は、センスMOSFET12、センスボディダイオード13、およびセンス抵抗14によって行っている。このように、順方向過電流の検出と逆方向過電流の検出に別々のセンスMOSFET、センスボディダイオードを用いている。このように、センススイッチング素子が複数のチップで構成される場合には、順方向過電流と逆方向過電流とを別々のチップを用いて検出する構成としても良い。また、その場合、順方向過電流検出と逆方向過電流検出とで同一構造のチップを用いても良いし、別構造、例えばセル比が異なるものを用いても良い。
なお、図8に示すように、本実施の形態4においても、フリーホイールダイオード20を並列に設けた回路に、順方向過電流検出回路11を備えても良いのは言うまでもない。本実施の形態4では、順方向、逆方向過電流からの保護が可能になることに加え、順方向過電流と逆方向過電流を別々のセンスMOSFET、センスダイオードによって検出するため、センス抵抗の設定等が個別にでき、設定が容易になる。
1:メインMOSFET(メインスイッチング素子)
2、12:センスMOSFET(センススイッチング素子)
3:メインボディダイオード 4、13:センスボディダイオード
5:制御回路 6、14:センス抵抗
7:逆方向過電流検出回路 10:電力用半導体素子
11:順方向過電流検出回路 20:フリーホイールダイオード
100、100a、100b、100c、100d、100e、100f:電力用スイッチング回路

Claims (8)

  1. 並列にメインボディダイオードが接続されたメインスイッチング素子と、並列にセンスボディダイオードが接続されたセンススイッチング素子とを備えた電力用半導体素子と、前記センススイッチング素子と前記センスボディダイオードとの並列体に流れる電流のうち逆方向に流れる過電流を検出する逆方向過電流検出回路と、前記電力用半導体素子のゲートを駆動する制御回路とを備え、この制御回路は前記逆方向過電流検出回路が逆方向過電流を検出した場合に、前記メインスイッチング素子および前記センススイッチング素子をオンするように制御することを特徴とする電力用スイッチング回路。
  2. 前記メインスイッチング素子と並列にフリーホイールダイオードが接続されたことを特徴とする請求項1に記載の電力用スイッチング回路。
  3. 前記制御回路は、前記メインスイッチング素子および前記センススイッチング素子をオンする制御後、前記逆方向過電流検出回路が、逆方向過電流が所定の値以下に減衰したことを検知した信号を受けて、前記メインスイッチング素子および前記センススイッチング素子をオフすることを特徴とする請求項1に記載の電力用スイッチング回路。
  4. 前記センススイッチング素子と前記センスボディダイオードとの並列体に流れる電流のうち順方向に流れる過電流を検出する順方向過電流検出回路を備えたことを特徴とする請求項1に記載の電力用スイッチング回路。
  5. 前記逆方向過電流検出回路に接続される、前記センススイッチング素子と前記センスボディダイオードとの並列体と、前記順方向過電流検出回路に接続される、前記センススイッチング素子と前記センスボディダイオードとの並列体とは、別の並列体であることを特徴とする請求項4に記載の電力用スイッチング回路。
  6. 前記電力用半導体素子の少なくとも一部が珪素よりバンドギャップが大きいワイドバンドギャップ半導体により形成されていることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に記載の電力用スイッチング回路。
  7. 前記フリーホイールダイオードが珪素よりバンドギャップが大きいワイドバンドギャップ半導体により形成されていることを特徴とする請求項2に記載の電力用スイッチング回路。
  8. 前記ワイドバンドギャップ半導体は、炭化珪素、窒化ガリウム系材料、ダイヤモンドのいずれかの半導体であることを特徴とする請求項6または請求項7に記載の電力用スイッチング回路。
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