JP5693973B2 - 高分解能分類 - Google Patents
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Description
1)閾値電圧の第1の組を選択するステップと、
2)閾値電圧の第1の組を用いて第1の測定を実行するステップと、
3)閾値電圧の第1の組と異なる閾値電圧の新規の組を選択するステップと、
4)閾値電圧の新規の組を用いて新規の測定を実行するステップと、
5)第1の測定および新規の測定に基づいて細胞の粒径分布を求めるステップとを含む。
Ti,j+1=αi,j+1Ti,j+βi,j+1
ここで、閾値電圧の各組はN個の閾値電圧を含み、Tiはi番目の閾値であり、iは0からN-1まで変化し、jはj番目の閾値電圧の組であり、jは1からステップ3)および4)の繰返し数まで変化する。
Ti,j+1=αi,j+1Tx,j+βi,j+1
ここで、Tx,jはx番目の組の諸閾値電圧である。いくつかの実施形態では、閾値は、閾値電圧の第1の組、すなわち上式のx=1に基づいて計算することができる。他の実施形態では、閾値は、以前の閾値の組に対して計算することができる。
Ti,j+1=αi,j+1Ti,j+βi,j+1
ここで、閾値電圧の各組はN個の閾値電圧を含み、Tiはi番目の閾値であり、iは0からN-1まで変化し、jはj番目の閾値電圧の組であり、jは1から繰返し数まで変化する。図3の実施例では、Nは5であり、すべてのαは1である。
P(i)=C(i)-C(I+1)、I=1からN-1
結果は図10に示されている。
P(i+5×(j-1))=C(j:i)/5、j=1から8、i=1から5
測定に基づく計算の結果が、図13に示されている。
18、24、38 ライン
26〜36、40〜56 バー
33 曲線
Claims (15)
- パルスを各チャネルにおいてアナログ閾値電圧と比較し、マイクロコントローラを使用して各パルス波高カテゴリの範囲内の各イベントを計数するアナログ-デジタルパルス波高分類ユニットを備える装置を使用することによって波高分布を求める方法であって、
1)前記アナログ閾値電圧の第1の組を選択するステップと、
2)前記アナログ閾値電圧の前記第1の組を用いて、各チャネルにおいて第1の前記比較及び計数を実行するステップと、
3)前記アナログ閾値電圧の前記第1の組と異なる前記アナログ閾値電圧の新規の組を選択するステップと、
4)前記アナログ閾値電圧の前記新規の組を用いて、各チャネルにおいて新規の前記比較及び計数を実行するステップと、
5)前記第1及び前記新規の比較及び計数に基づいて細胞の粒径分布を求めるステップと、
を含み、
前記アナログ閾値電圧の各組は、各チャネルで使用されるアナログ閾値電圧の1つを含み、前記第1の組の個々のアナログ閾値電圧は、前記ステップ2)において前記第1の比較及び計数のために個々の当該チャネルに入力され、前記新規の組の個々のアナログ閾値電圧は、前記ステップ4)において前記新規の比較及び計数のために個々の当該チャネルに入力され、各チャネルにおいて、前記アナログ閾値電圧の第1の組、次いで前記アナログ閾値電圧の新規の組からの当該アナログ閾値電圧を使用して前記比較及び計数が繰り返される結果として、個々のチャネルが、当該チャネルに対応付けられる所定の粒径間隔内の分布を提供することにより、前記細胞の粒径分布が求められ、
前記計数が、各チャネルで使用される各アナログ閾値電圧によって規定されるパルス波高カテゴリごとに実施される、方法。 - 前記アナログ閾値電圧の前記第1の組が第1の閾値電圧範囲を定義し、前記アナログ閾値電圧の前記新規の組が新規の閾値電圧範囲を定義して、前記第1の閾値電圧範囲と前記新規の閾値電圧範囲とがオーバラップする、請求項1に記載の方法。
- 前記ステップ3)および4)が、1から20回実行される請求項1または2に記載の方法。
- 各繰返しにおける前記アナログ閾値電圧の前記新規の組が、以前に選択された前記アナログ閾値電圧のいずれの組とも異なる請求項3に記載の方法。
- 前記アナログ閾値電圧の組の中のアナログ閾値電圧の数が、2から20である請求項1から4のいずれか1項に記載の方法。
- 前記アナログ閾値電圧の新規の組が次式を用いて計算され、
Ti,j+1=αi,j+1Ti,j+βi,j+1
ここで、
前記アナログ閾値電圧の各組がN個のアナログ閾値電圧を含み、Tiはi番目の閾値であり、iは0からN-1まで変化し、
jはj番目のアナログ閾値電圧の組であり、jが1からステップ3)および4)の繰返し数まで変化する請求項1から5のいずれか1項に記載の方法。 - 前記第1の組のアナログ閾値電圧が等間隔に分配される、または前記第1の組のアナログ閾値電圧が不等間隔に分配される請求項1から6のいずれか1項に記載の方法。
- αが任意の正の実数値を有する、または零であることができる請求項6または7に記載の方法。
- βが任意の実数値を有することができる請求項6から8のいずれか1項に記載の方法。
- 流速が第1の時間間隔にわたって変動し、
前記方法が、変動する計数が各ステップの中に均一に分配されるように、それぞれが合計の計数時間の数分の1持続する一連のスイープを繰り返すことによって流速変動の影響を低下させるステップを含む請求項1から9のいずれか1項に記載の方法。 - 1回のスイープに用いられる時間が、前記合計の計数時間の1/20から1/4である請求項10に記載の方法。
- 一連のスイープが第1の時間間隔の範囲内で実行され、
前記方法が、前記一連のスイープの各スイープについて、1回のスイープで諸ステップに用いられる時間を短縮するステップをさらに含む請求項10または11に記載の方法。 - パルスを各チャネルにおいてアナログ閾値電圧と比較するアナログ-デジタルパルス波高分類ユニットと、
各パルス波高カテゴリの範囲内の各イベントを計数するように構成されたマイクロコントローラと、
を含む装置であって、
前記マイクロコントローラが、
1)前記アナログ閾値電圧の第1の組を選択し、
2)前記アナログ閾値電圧の前記第1の組を用いて、各チャネルにおいて第1の前記比較及び計数を実行し、
3)前記アナログ閾値電圧の前記第1の組と異なる前記アナログ閾値電圧の新規の組を選択し、
4)前記アナログ閾値電圧の前記新規の組を用いて、各チャネルにおいて新規の前記比較及び計数を実行して、
5)前記第1及び前記新規の比較及び計数に基づいて細胞の粒径分布を求め、
前記アナログ閾値電圧の各組は、各チャネルで使用されるアナログ閾値電圧の1つを含み、前記第1の組の個々のアナログ閾値電圧は、前記ステップ2)において前記第1の比較及び計数のために個々の当該チャネルに入力され、前記新規の組の個々のアナログ閾値電圧は、前記ステップ4)において前記新規の比較及び計数のために個々の当該チャネルに入力され、各チャネルにおいて、前アナログ閾値電圧の第1の組、次いで前記アナログ閾値電圧の新規の組からの当該アナログ閾値電圧を使用して前記比較及び計数が繰り返される結果として、個々のチャネルが、当該チャネルに対応付けられる所定の粒径間隔内の分布を提供することにより、前記細胞の粒径分布が求められ、
前記計数が、各チャネルで使用される各アナログ閾値電圧によって規定されるパルス波高カテゴリごとに実施される、装置。 - 前記マイクロコントローラが、請求項1から13のいずれか1項に記載の方法をコンピュータソフトウェアにより実施することを含む請求項14に記載の装置。
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