JP5683553B2 - 静電誘導吸着式電子部品検査テーブル - Google Patents

静電誘導吸着式電子部品検査テーブル Download PDF

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Description

本発明は、検査板上に載置され、検査位置へ移送中の電子部品を静電力で吸着固定する静電誘導吸着式電子部品検査テーブルに関し、より詳しくは、検査板を回転させる回転板で直接検査板を帯電させることにより、別途の静電誘導装置なしで検査板の上面に載置された電子部品を静電吸着する静電誘導吸着式電子部品検査テーブルに関する。
また、本発明は、前記回転板以外に、検査板の下面に直接コーティングされた補助静電誘導層を介して検査板の上面に載置された電子部品を静電吸着するように補助することにより、静電力をさらに高めるようにする静電誘導吸着式電子部品検査テーブルに関する。
また、本発明は、検査板の回転速度および同時に移送される電子部品の数などの検査環境により、補助静電誘導層に供給される電源の強さ及び前記補助静電誘導層に接触して電源を供給する回転板の大きさをそれぞれ可変的に調節することにより、最適の条件で電子部品に静電力を加えることができる静電誘導吸着式電子部品検査テーブルに関する。
一般的に、積層型セラミックキャパシタ(MLCC:Multilayer ceramic capacitor)、抵抗器、及びインダクターのような受動形素子はもちろん、その他の能動形素子を含む多様な電子部品は、大量生産に適合しながらも不良率を減少させるように生産された電子部品を検査し、不良品を自動で選別及び除去する工程を行う。
このために、部品供給部から透明な検査板(すなわち、検査ステージ)の上に電子部品を供給し、回転中の検査板上に載置された電子部品の上/下、前/後、及び左/右面をそれぞれカメラで撮像して分析することにより、電子部品に不良があるか否かを自動で検査する電子部品の外観検査装置が使用されている。
一方、電子部品は、回転中の検査板上に載置された状態で、カメラのある検査位置まで移送されるので、検査収率を高めるために検査板を高速で回転させれば、各電子部品に遠心力が作用することはもちろん、検査板が振動しながら電子部品に揺れが発生することになる。
したがって、電子部品が検査板の外側に離れて検査が行えなくなるか、正常に投入された電子部品の姿勢が不良となり、検査に適合しなくなるか、あるいは、電子部品間の間隔が均一でなくなり、検査を終了した後に高圧の空気を加えて、良否の電子部品別にそれぞれ分離排出できないという問題点が発生する。
このため、韓国公開特許第2011−59524号では、図1に示すように、無振動部4を介して返送テーブル2(すなわち、検査板)の上に検査対象電子部品のワークWを投入し、このとき、返送テーブル2の下側に所定の距離が離隔設置された導電板15に直流電源16で電源を供給することにより、静電誘導によってワークWが吸着固定されるようにした。
しかしながら、以上のような従来の技術によれば、返送テーブル2に静電誘導現象を発生させる導電板15を設置しなければならないので、別途の静電誘導装置をさらに具備しなければならないという問題点があった。
また、導電板15が返送テーブル2の下側に離隔設置されているので、ワークWに作用する静電力の強さが小さく、返送テーブル2に作用する静電力が一部の区間に作用するなど、返送テーブル2の全体に均一に静電力が作用できず、外部から衝撃が加えられるか又は高圧空気でワークWを排出する時にワークWが歪むという問題点があった。
また、返送テーブル2の下側に導電板15及び直流電源16が空間を占めているので、空間的な制約を受けて、返送テーブル2の下側にワークWの下面を検査する検査用カメラなどを設置するのが難しいという問題点があった。
また、ワークW間の間隔やワークWの1列供給または2列供給などの差によって、返送テーブル2の上に同時に載置されて移送されるワークWの数が変化し、検査速度によって返送テーブル2の回転速度が変化すれば、それにより加えられる静電力の大きさも変化させ、最適の状態でワークWを吸着しなければならないが、従来にはこのような変化に対応できないという問題点があった。
本発明は、上述したような問題点を解決するために提案されたもので、検査板を回転させる回転板で直接検査板を帯電させることにより、別途の静電誘導装置なしで検査板の上面に載置された電子部品を静電吸着する静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを提供しようとする。
また、本発明は、前記回転板以外に、検査板の下面に直接コーティングされた補助静電誘導層を介して検査板の上面に載置された電子部品を静電吸着するように補助することにより、静電力の強さが大きく且つ均一な静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを提供しようとする。
また、本発明は、検査環境によって、補助静電誘導層に供給される電源の強さ及び前記補助静電誘導層に接触して電源を供給する回転板の大きさをそれぞれ可変的に調節するとことにより、最適の条件で電子部品に静電力を加えることができる静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを提供しようとする。
このために、本発明に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルは、投入された電子部品が載置され、透明な材質からなる検査板と、前記検査板を回転させ、前記検査板を帯電させることで、前記電子部品を静電力によって前記検査板上に吸着固定させる回転板と、前記回転板の中心側に連結され、前記検査板を回転させる回転モータと、前記回転板に静電誘導用電源を供給する電源供給装置と、を含むことを特徴とする。
このとき、前記検査板の下面にコーティングされており、前記回転板から静電誘導用電源の供給を受けて、前記検査板上に載置されて移動する電子部品に静電力を加える補助静電誘導層をさらに含むことが好ましい。
また、前記補助静電誘導層は、前記電子部品が載置される検査板の枠の部分を含むようにコーティングされ、透明な材質からなる透明電極であることが好ましい。
また、前記補助静電誘導層は、前記電子部品が載置される検査板の枠の部分を除いた部分にコーティングされ、透明または不透明の材質からなる伝導性電極であることが好ましい。
また、前記回転板の大きさは、前記補助静電誘導層を介して前記電子部品に誘導される静電力の大きさによって調節されることが好ましい。
また、前記検査板の上面には、前記回転板と共に前記検査板を固定する上部固定板が設置されていることが好ましい。
また、前記電源供給装置は、静電誘導用電圧を供給する電圧発生装置と、電源を伝送する電圧線と、前記回転モータの中心側に設置された回転電源供給装置と、回転板に接触して電源を供給する接触端子と、を含むことが好ましい。
また、前記電源供給装置は、検査環境によって、前記補助静電誘導層に供給される静電誘導用電源の大きさを可変させる電圧調節器を含むことが好ましい。
本発明によれば、検査板上に載置されて検査位置へ移送中の電子部品を静電力で吸着固定するに当たり、検査板を回転させる回転板で直接検査板を帯電させる。したがって、別途の静電誘導装置がなくても検査板の上面に載置された電子部品を静電吸着することができ、検査板の下部に検査カメラを設置する時に空間の制約なしで自由に設置することができる。
また、本発明は、検査板の下面にコーティングされた補助静電誘導層を介して検査板の上面に載置された電子部品を静電吸着するように補助する。したがって、静電力の強さを十分に大きくし、且つ均一な静電力を提供することはもちろん、検査板の下部に検査カメラを設置する時に空間の制約なしで自由に設置することができる。
また、本発明は、検査板の回転速度および同時に移送される電子部品の数などの検査環境により、補助静電誘導層に供給される電源の強さ及び前記補助静電誘導層に接触して電源を供給する回転板の大きさを、それぞれ可変的に調節することができる。したがって、最適の条件で電子部品に静電力を加えることができる。
従来の技術による静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを示した部分断面図である。 本発明の第1実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを示した部分斜視図である。 本発明の第1実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを示した斜視図である。 本発明の第1実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを示した切開図である。 本発明の第1実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルの検査板を示した斜視図である。 本発明の第2実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを示した切開斜視図である。 本発明の第2実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルの検査板を示した斜視図である。 本発明の第3実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルを示した切開図である。
以下、添付された図面を参照して本発明の好ましい実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルについて詳細に説明する。
先に、図2に示すように、本発明の第1実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブル100は、ラインフィーダ(line feeder)Fのような投入装置を介して積層型セラミックキャパシタMLCCをはじめとする多様な電子部品Cの供給を受けて、移送させながら電子部品Cの各面を撮像して分析する方式で良否を検査し、検査結果別に分離排出されるようにする。
このとき、図3及び図4に示すように、本発明に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブル100は、上面に投入された電子部品Cを回転させ、検査位置に移動させる検査板110と、前記検査板110を支持するとともに検査板110を帯電させることで、電子部品Cを検査板110の上に吸着固定させる回転板151を有する支持部150と、前記支持部150を回転させる回転モータ130と、を含む。
また、回転板151に静電誘導用電源を供給する電源供給装置140を含み、必要に応じて検査板110の下面にコーティングされており、検査板110上の電子部品Cに静電力を加えるように補助する補助静電誘導層120をさらに含んでもよい。
このような本発明に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブル100は、例えば、ベースプレートS1及び前記ベースプレートS1に固定された支持フレームS2に設置されることが一般的であるが、その他の支持部材が使用されてもよい。
以上のような構成によれば、検査板110の上に一定間隔で電子部品Cが投入されると、支持部150によって支持された検査板110が回転モータ130によって回転し、電子部品Cをカメラが設置された検査位置へ移送させる。
このとき、電源供給装置140により電源を供給された回転板151を利用して検査板110を帯電させるので、別途の静電誘導装置を具備する必要なく、検査板110を安定的に支持する支持部150だけで電子部品Cを吸着固定させることができる。
また、必要に応じて、回転板151を介して静電誘導用電源を供給された補助静電誘導層120をさらに具備し、検査板110を帯電させて静電誘導現象が起こるようにすることにより、さらに大きな静電力で電子部品Cを吸着固定させることができる。
したがって、従来は、静電誘導現象を発生させるように静電誘導装置に該当する導電板15をさらに具備しなければならなかったが、本発明は、検査板110を安定的に支持する支持部150の回転板151を静電誘導装置として使用するので、別途の静電誘導装置を必要としない。
また、従来は、導電板15が返送テーブル2の下側に離隔設置され、ワークWに作用する静電力の強さが小さく且つ均一でなかったが、本発明は、検査板110が回転板151及び補助静電誘導層120によって帯電されるので、静電力の強さが大きく且つ均一になる。
また、従来は、返送テーブル2の下側に導電板15及び直流電源16を設置しなければならなかったため、空間的な制約を受けて、返送テーブル2の下側に検査用カメラなどを設置することが難しかった。しかしながら、本発明は、回転板151を静電誘導装置として使用し、電源供給装置140も回転モータ130の中心側を介して補助静電誘導層120に連結されるので、検査用カメラなどの設置時に空間的な制約を受けなくなる。
さらに、補助静電誘導層120を有しても補助静電誘導層120が検査板110の下面に一体にコーティングされ、空間的な制約を受けなくなる。
また、従来は、返送テーブル2の上に同時に載置されて移送されるワークWの数が変化するか、検査速度によって返送テーブル2の回転速度が変化しても、常に同一の電源を供給して同一の強さの静電力を加えた。しかしながら、本発明は、電子部品Cの数や検査板110の回転速度が変化すれば、以下でさらに詳細に説明するように、電源供給装置140の供給電源の大きさ及び回転板151の大きさを最適に可変させることにより、最適の状態で電子部品Cを吸着させることができる。
さらに具体的には、検査板110は、透明材質からなり、検査板110の上に電子部品Cが投入され載置されても、透明な検査板110の下面を介して電子部品Cの下面を撮像して検査することができる。もちろん、その他の面もそれぞれ必要な位置に設置されたカメラで検査することができる。
このような検査板110は、ガラス材質からなるのが一般的であるが、これに限定するものではなく、透明で且つ帯電が可能となり、静電誘導だけが可能であれば、透明プラスチックをはじめとする多様な材質が使用されてもよい。
補助静電誘導層120は、検査板110を帯電させることにより静電誘導現象が起こるように補助するもので、検査板110の下面に直接コーティングされている。特に、図5に示すように、電子部品Cが載置される検査板110の枠Bの部分を含むようにコーティングされた場合には、補助静電誘導層120として透明な材質からなる「透明電極」が使用される。
電子部品Cが載置される検査板110の枠Bの部分を含むようにコーティングされればよいので、図5のように検査板110の枠Bの部分を含んで検査板110の下面全体にコーティングすることができるが、その他の検査板110の枠Bの部分から内側に一定の部分までコーティングすることも可能である。
このような補助静電誘導層120は、伝導性材質からなり、電源供給装置140でプラス(+)またはマイナス(−)電源が印加されれば検査板110を帯電させる。したがって、検査板110の上に載置された電子部品Cが静電力によって吸着固定されるので、遠心力や振動が加えられてもその力に耐えて、電子部品Cの姿勢を維持させる。
一例として、回転板151を介して補助静電誘導層120にプラス(+)電源を印加すれば、検査板110の下側はマイナス(−)電荷が配置され、検査板110の上側はプラス(+)電荷が配置される。したがって、静電誘導によって電子部品Cの下側はマイナス(−)電荷が配置され、電子部品Cの上側はプラス(+)電荷が配置されながら、電子部品Cが検査板110に吸着する。
また、補助静電誘導層120である透明電極は、透明な材質からなり、検査板110の下面中の枠Bの部分を含むようにコーティングしても、積層された検査板110と補助静電誘導層120の全体が透明である。したがって、検査板110の上面に載置された電子部品Cを検査板110の下側からカメラで撮像しながら電子部品Cの下面を検査することができる。
図5では、補助静電誘導層120のコーティング位置を表示するために、補助静電誘導層120を図面上において有色で表示したが、実際には透明であり、補助静電誘導層120である透明電極に使用できる材質としては、ITO(Indium Tin Oxide)、透明グラフェン(graphene)、SnO2(tin oxide)、ZnO(zinc oxide)、及び透明炭素ナノチューブなどをはじめとする多様な材質が使用されてもよい。
ただし、上記では、補助静電誘導層120が検査板110にコーティングされていると表現したが、「コーティング」には、検査板110の下面に直接コーティングすることはもちろん、検査板110の下面に透明電極を塗布する方式や別に準備された透明電極層を透明接着材で検査板110の下面に付着することも含まれる。
回転モータ130は、検査板110を回転させるものであり、本発明では、回転モータ130の回転軸が回転板151の中心部に連結されており、検査板110は回転板151に固定されており、当該回転モータ130で回転板151を回転させれば、検査板110も共に回転することになる。
このような回転モータ130としは、例えば、騒音、振動、及び電気使用量の少ないDDモータ(direct drive motor)が使用され、検査速度によって検査板110の回転速度を可変させるようにマイクロプロセッサーにより回転モータ130の動作速度が調節される。
すなわち、検査速度を上げて検査収率を高めようとする場合には、回転モータ130の動作速度が上がるように制御し、逆に、検査速度を下げて検査精度を高めようとする場合には、回転モータ130の動作速度が下がるように制御する。
検査は、電子部品Cを所定の間隔及び1列または2列などで検査板110に供給した後、検査板110の上に載置されて移送される電子部品Cを検査カメラで撮像する方式が利用され、検査結果によってその良否が判断された電子部品Cをそれぞれ高圧の空気で撃って収集筒に分離排出する。
電源供給装置140は、回転板151にプラス(+)またはマイナス(−)の静電誘導用電源を供給するものであり、回転する回転板151に接触して静電誘導用電源を供給することができれば、その構成に特別な制限はない。例えば、ESC(Electro Static Chuck)のような電圧発生装置141と、前記電圧発生装置141の供給電源の大きさを調節する電圧調節器142と、電圧線143と、回転電源供給装置144と、補助静電誘導層120に接触して電源を供給する接触端子145と、を含む。
このうち回転電源供給装置144は、例えば、スリップリング(slip ring)が使用されるが、スリップリングは、電動機や発動機の回転子に外部から電流を流すために、回転子軸に付着する接触者として使用されたもので、これを本発明に適用すれば、回転モータ130の回転中心軸を貫通して回転板151まで電源を供給することができる。
したがって、電圧発生装置141で高電圧が加えられれば、電圧線143を介して回転電源供給装置144に印加され、回転電源供給装置144に印加された高電圧は接触端子145を介して回転板151に供給される。さらに、補助静電誘導層120を含む場合には、回転板151を介して補助静電誘導層120まで伝達されるので、これを静電誘導用電源として使用できるようにする。
特に、電圧発生装置141には電圧調節器142が設けられ、検査板110の上に投入される電子部品Cの間隔及び1列または2列の供給によって電子部品Cの数が変われば、それにより静電誘導用電源の強さも適応的に調節することができる。したがって、各電子部品Cに最適の強さを有する静電力を作用することができる。
もちろん、検査速度を調節するために、検査板110の速度を調節することによって遠心力の大きさや振動の強さが変わる場合には、それに対応して静電誘導用電源の強さを適応的に調節できるようにする。例えば、検査板110の回転速度を上げれば、電子部品Cに作用する遠心力及び振動も大きくなるので、供給電源の強さも高めて十分な静電力で固定できるようにする。
ただし、図4では、電圧調節器142としてボタンタイプの調節器を一例として挙げたが、本発明はこれに限定されず、投入された電子部品Cの数及び検査板110の回転速度を感知し、自動で電圧を調節するマイクロプロセッサーなども使用できることは自明である。
支持部150は、検査板110を下側から固定する回転板151と、検査板110を上側から固定する上部固定板152と、前記回転板151と上部固定板152を互いに組み立てる連結ブロック153と、回転板151と回転モータ130の間に挿入された絶縁層154と、を含む。
回転板151は、補助静電誘導層120にコーティングされた検査板110の下面を支持するように、検査板110の下部に水平に設置され、回転モータ130に連結されている。したがって、回転モータ130の動作速度に同期して検査板110を回転させる。
また、回転板151は、伝導性材質からなるとともに、接触端子145と電気的に連結されている。したがって、接触端子145を介して供給された静電誘導用電源で検査板110を帯電させることにより、検査板110の上に載置された電子部品Cに静電誘導現象による静電力が作用するようになる。
ただし、回転板151の大きさは、図8に示すように補助静電誘導層120を介して電子部品Cに誘導される静電力の大きさによって調節されることが好ましい。これに対する詳細な説明は後述する。
上部固定板152は、検査板110の上面に水平に設置されるので、組み立て時に検査板110の上面を加圧しながら捕捉し、非伝導性材質からなるので、接触端子145によって帯電されない。
連結ブロック153は、上部固定板152と、検査板110、及び回転板151を貫通して組み立てられることにより、上部固定板152と回転板151の間に挿入された検査板110を加圧して捕捉する。したがって、高速回転時にも検査板110の振動を防止して安定的な回転を保障する。
図5に示すように、検査板110の中心部には組み立て孔Hが形成され、このような組み立て孔Hは、上部固定板152及び回転板151にもそれぞれ形成され、連結ブロック153を組み立て孔Hに挟んで組み立てることができる。
絶縁層154は、回転板151と回転モータ130の間に挿入され、絶縁体として作用するので、接触端子145によって回転板151に電源が供給されても、回転板151の下側に配置された回転モータ130には電気が流れないようにする。
以下、添付された図面を参照して、本発明の第2実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルについて説明する。
上記で説明した本発明の第1実施例では、検査板110の下面枠Bの部分にも補助静電誘導層120がコーティングされており、補助静電誘導層120として必ず透明な電極(すなわち、「透明電極」)を使用しなければならなかった。
しかし、本発明の第2実施例は、検査板110の枠Bの部分に補助静電誘導層120aがコーティングされていないので、必ず透明な電極を使用する必要はなく、「伝導性電極」であれば良いという点で、差がある。
すなわち、図6に示すように、本発明に係る静電誘導吸着式電子部品Cの検査テーブルは、電子部品Cを検査位置へ移動させる検査板110と、電子部品Cに静電力を加える補助静電誘導層120aと、検査板110を捕捉する支持部150と、前記支持部150を介して検査板110を回転させる回転モータ130と、補助静電誘導層120aに静電誘導用電源を供給する電源供給装置140と、を含む。
また、支持部150は、回転板151と、上部固定板152と、連結ブロック153と、絶縁層154とを含んで、電源供給装置140は、電圧発生装置141と、電圧調節器142と、電圧線143と、回転電源供給装置144と、接触端子145とを含んで、これにより、検査板110の上に載置された電子部品Cに静電力を加えて電子部品Cを吸着固定させることは、上記で説明した本発明の第1実施例と同様である。
しかし、本発明の第2実施例は、図7に示すように、電子部品Cが載置される検査板110の枠Bの部分を除いた部分のみに、補助静電誘導層120aがコーティングされている。
したがって、電子部品Cが透明な検査板110の下側を介してすぐに見えるので、補助静電誘導層120aの材質が透明/不透明に関係なく、伝導性材質であればよい「伝導性電極」が使用される。
補助静電誘導層120aの伝導性電極が透明材質の場合には、上述したようにITO、透明グラフェン、SnO2、ZnO、及び透明炭素ナノチューブなどが使用され、不透明材質の場合には、銅箔などが使用される。
検査板110の枠Bの部分を除いて伝導性電極をコーティングしても、伝導性電極がコーティングされない検査板110の枠Bの部分まで十分に帯電されるので、伝導性電極によっても電子部品Cに静電誘導現象が発生し、電子部品Cを静電力で吸着することができる。
以下、添付された図面を参照して、本発明の第3実施例に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルについて説明する。
本発明の第3実施例は、回転板151aの大きさを静電誘導用電源の大きさにより、最適の状態で調節して設置する点で、差がある。
すなわち、図8に示すように、本発明に係る静電誘導吸着式電子部品検査テーブルは、検査板110と、補助静電誘導層120と、支持部150と、回転モータ130と、電源供給装置140とを含む。
そして、支持部150は、回転板151aと、上部固定板152aと、連結ブロック153と、絶縁層154とを含んで、電源供給装置140は、電圧発生装置141と、電圧調節器142と、電圧線143と、回転電源供給装置144と、接触端子145とを含む。
このとき、本発明の第3実施例では、検査板110を直接帯電させるか又は補助静電誘導層120を介して検査板110を帯電させる回転板151aの大きさ(特に、直径)を、電子部品Cに誘導される静電力の大きさによって調節し、製作した後に組み立てる。
したがって、電子部品Cが供給される間隔が狭いか又は同時に2列に供給されることにより、検査板110を介して同時に移送中の電子部品Cの数が増加するか、検査板110の回転速度を上げることによって遠心力が大きくなれば、相対的に大きさが大きな回転板151aを使用することにより、静電力を高めることができる。
図8では、回転板151aの大きさが十分に大きくて、補助静電誘導層120を具備しなくても検査板110の全体を十分に帯電させるので、補助静電誘導層120がないことを例に挙げたが、選択的に補助静電誘導層120をさらに具備してもよいことは自明である。
その一方、静電力を減らす必要がある場合には、相対的に大きさが小さな回転板151aを使用することにより、回転板151aだけで検査板110を帯電させることができ、仮に、補助静電誘導層120を選択的にさらに具備した場合であれば、補助静電誘導層120による静電力を減らして電力の浪費を防止し、周辺装置に及ぼす影響を最小化させるようにする。
もちろん、回転板151aが大きくなるか又は小さくなれば、それに合わせて上部固定板152の大きさも調節することが好ましい。
以上、本発明の特定実施例について上述した。しかし、本発明の思想及び範囲は、このような特定実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲内で多様に修正及び変形が可能であることは、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者であれば理解できるはずである。
したがって、上述した実施例は、本発明が属する技術分野で通常の知識を有する者に発明の範疇を完全に知らせるために提供されるものであるため、すべての面で例示的なものであり、限定的なものではないことを理解しなければならない。本発明は、請求項の範疇によって定義されるだけである。
110:検査板
120、120a:補助静電誘導層
130:回転モータ
140:電源供給装置
141:電圧発生装置
142:電圧調節器
143:電圧線
144:回転電源供給長針(スリップリング)
145:接触端子
150:支持部
151、151a:回転板
152、152a:上部固定板
153:連結ブロック
154:絶縁層

Claims (7)

  1. 投入された電子部品Cが載置され、透明な材質からなる検査板(110)と、
    前記検査板(110)を回転させ、前記検査板(110)を帯電させることで、前記電子部品(C)を静電力によって前記検査板(110)の上に吸着固定させる回転板(151,151a)と、
    前記回転板(151,151a)の中心側に連結され、前記検査板(110)を回転させる回転モータ(130)と、
    前記回転板(151,151a)に静電誘導用電源を供給する電源供給装置(140)と、
    を含み、
    前記検査板(110)の下面にコーティングされており、前記回転板(151,151a)から静電誘導用電源の供給を受けて、前記検査板(110)の上に載置されて移動する電子部品(C)に静電力を加える補助静電誘導層(120,120a)を更に含むことを特徴とする
    静電誘導吸着式電子部品検査テーブル。
  2. 前記補助静電誘導層(120)は、前記電子部品(C)が載置される検査板(110)の枠(B)の部分を含むようにコーティングされ、透明な材質からなる透明電極であることを特徴とする請求項1に記載の静電誘導吸着式電子部品検査テーブル。
  3. 前記補助静電誘導層(120a)は、前記電子部品(C)が載置される検査板(110)の枠(B)の部分を除いた部分にコーティングされ、透明または不透明の材質からなる伝導性電極であることを特徴とする請求項1に記載の静電誘導吸着式電子部品検査テーブル。
  4. 前記回転板(151,151a)の大きさは、前記補助静電誘導層(120,120a)を介して前記電子部品(C)に誘導される静電力の大きさによって調節されることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載の静電誘導吸着式電子部品検査テーブル。
  5. 前記検査板(110)の上面には、前記回転板(151,151a)と共に前記検査板(110)を固定する上部固定板(152,152a)が設置されていることを特徴とする請求項4に記載の静電誘導吸着式電子部品検査テーブル。
  6. 前記電源供給装置(140)は、静電誘導用電圧を供給する電圧発生装置(141)と、電源を伝送する電圧線(143)と、前記回転モータ(130)の中心側に設置された回転電源供給装置(144)と、回転板(151,151a)に接触して電源を供給する接触端子(145)と、を含むことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載の静電誘導吸着式電子部品検査テーブル。
  7. 前記電源供給装置(140)は、検査環境によって、前記補助静電誘導層(120,120a)に供給される静電誘導用電源の大きさを可変させる電圧調節器(142)を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の静電誘導吸着式電子部品検査テーブル。
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