JP5682910B2 - Substrate holder and substrate transfer device - Google Patents

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Description

本発明は基板ホルダー及び基板搬送装置に関する。   The present invention relates to a substrate holder and a substrate transfer device.

基板を支持する基板ホルダーは、被処理基板のセット時における衝撃や、セット後の搬送時における振動による衝撃で、基板受け部と被処理基板との接触する箇所において被処理基板に傷や割れが発生しやすく、これを抑制することが求められていた。特に、被処理基板を鉛直方向にたてた状態で保持するいわゆる縦型の基板ホルダーでは、このような問題は顕著であった。そこで、従来、縦型の基板ホルダーにおいては、被処理基板の下端の端面に接してこの端面で被処理基板を支える複数の基板受け部を有するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。この基板受け部は、被処理基板側から下側に力を受けて変形し、かつ変形することにより上向きに力が働く弾性部を備えている。この弾性部を備えていることで、被処理基板のセット時における衝撃や、セット後の搬送時における振動による衝撃で、基板受け部と被処理基板との接触する箇所において被処理基板に傷や割れが発生することを防止している。   The substrate holder that supports the substrate is scratched or cracked at the place where the substrate receiving part and the substrate to be processed come into contact with each other due to the impact when the substrate to be processed is set or the vibration caused by the vibration during transfer after setting. It was easy to generate | occur | produce and it was calculated | required to suppress this. In particular, such a problem is remarkable in a so-called vertical type substrate holder that holds a substrate to be processed in a vertical state. Thus, conventionally, a vertical substrate holder is known which has a plurality of substrate receiving portions that contact the lower end surface of the substrate to be processed and support the substrate to be processed by this end surface (see, for example, Patent Document 1). ). The substrate receiving portion is provided with an elastic portion that is deformed by receiving a force from the substrate to be processed to the lower side, and that works upward by being deformed. By providing this elastic portion, the substrate to be processed is scratched at the place where the substrate receiving portion and the substrate to be processed come into contact with each other due to the impact at the time of setting the substrate to be processed or the impact caused by the vibration at the time of transfer after setting. It prevents the occurrence of cracks.

特開2007−262539号公報(請求項1等)JP 2007-262539 A (Claim 1 etc.)

しかしながら、特許文献1では、被処理基板の成膜面が枠部に接触することにより、被処理基板の傷や割れが発生するという問題が発生するという問題がある。なお、このような問題は、基板を床面に対して垂直に保持する基板ホルダーだけでなく、基板を水平に保持する基板ホルダーであっても、基板のセット時や搬送時に同様に発生する場合がある。   However, in Patent Document 1, there is a problem that a problem occurs in that the substrate to be processed is scratched or cracked when the film formation surface of the substrate to be processed contacts the frame portion. Note that such a problem occurs not only when the substrate is held vertically to the floor but also when the substrate is held horizontally, even when the substrate is held horizontally. There is.

そこで、本発明の課題は、上記従来技術の問題点を解決することにあり、基板のセット時や搬送時の衝撃により被処理基板の被処理面に傷や割れが発生することを防止できる基板ホルダー及びこれを用いた基板搬送装置を提供しようとするものである。   Accordingly, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and it is possible to prevent the processing surface of the substrate to be processed from being damaged or cracked due to an impact at the time of setting or transporting the substrate. It is intended to provide a holder and a substrate transfer apparatus using the holder.

本発明の基板ホルダーは、被処理基板の被処理面側の外周部に当接する当接部と、該被処理基板の被処理面を露出させる開口とを有し、前記被処理基板の前記被処理面を開口から露出させた状態で前記当接部で前記被処理基板を支持する支持部材を備え、前記被処理基板の端部を保持する保持部材を有し、前記当接部には、少なくとも前記被処理基板に対向する位置に、衝撃吸収性の高いテープ状の緩衝材が設けられていることを特徴とする。本発明では、被処理基板の被処理面側の外周部に当接する当接部に緩衝材が設けられていることで、基板のセット時や搬送時の衝撃により被処理基板の被処理面に傷や割れが発生することを抑制できる。 The substrate holder of the present invention has a contact portion that contacts the outer peripheral portion of the substrate to be processed and an opening that exposes the surface to be processed of the substrate to be processed. A support member that supports the substrate to be processed by the contact portion in a state where the processing surface is exposed from the opening , and has a holding member that holds an end portion of the substrate to be processed . A tape-shaped cushioning material with high shock absorption is provided at least at a position facing the substrate to be processed. In the present invention, since the buffer material is provided in the contact portion that contacts the outer peripheral portion of the substrate to be processed on the surface to be processed, the substrate is processed on the surface to be processed due to an impact at the time of setting or transporting the substrate. Scratches and cracks can be prevented from occurring.

前記基板ホルダーの当接部には、突起部が形成され、かつ、前記緩衝材には、該突起部に対応して開口部が設けられ、前記突起部に該開口部を嵌合して前記緩衝材が当接部に設置されると共に、該開口部から露出した前記突起部を覆うと共に前記緩衝材の開口部の周縁を押圧し、かつ、前記保持部材が衝撃吸収性の高い弾性部材からなることが好ましい。このように設けることで、基板のセット時や搬送時の衝撃により被処理基板の被処理面に傷や割れが発生することを抑制できると共に、緩衝材の位置合わせをより簡易に、かつ確実に行うことができる。 A protrusion is formed on the contact portion of the substrate holder, and the cushioning material is provided with an opening corresponding to the protrusion, and the opening is fitted to the protrusion to with a cushioning material is placed in abutment, to press the periphery of the opening of the cushioning material covering the protruding portion exposed from the opening portion, and a high front Kiho support member is a shock absorbing elastic It is preferable to consist of a member. By providing in this way, it is possible to suppress the occurrence of scratches and cracks on the surface to be processed of the substrate to be processed due to the impact at the time of setting or transporting the substrate, and the positioning of the cushioning material is easier and more reliable. It can be carried out.

前記保持部材が、基板の端部に亘って離間して複数設けられていることが好ましい。離間して複数設けることで、部品材料を減少させることができると共に、部品から発生するガス量を抑えることが可能である。   It is preferable that a plurality of the holding members are provided apart from each other over the end portion of the substrate. By providing a plurality of components apart from each other, it is possible to reduce the component material and to suppress the amount of gas generated from the component.

前記保持部材が、前記突起部を覆うと共に前記緩衝材の開口部の周縁を押圧する角柱状部を有し、該角柱状部が前記角柱状部の中心を通る固定部材により当接部に固定されることが好ましい。このように構成されることで該固定部材を中心として角柱状部を回転させれば、保持部材が接触によりすり減ることに起因した搬送時等の基板のがたつきを抑制でき、より被処理基板の被処理面に傷や割れが発生することを抑制できる。   The holding member has a prismatic portion that covers the protrusion and presses the periphery of the opening of the cushioning material, and the prismatic portion is fixed to the contact portion by a fixing member that passes through the center of the prismatic portion. It is preferred that By being configured in this manner, if the prismatic part is rotated around the fixing member, the holding member can be prevented from rattling during transportation due to the wear of the holding member, and the substrate to be processed can be further improved. It can suppress that a crack and a crack generate | occur | produce on the to-be-processed surface.

本発明の好ましい実施形態としては、前記保持部材が、前記被処理基板の上端部を支持する上端側保持部材であるか、前記被処理基板の下端部を支持する下端側保持部材であることが挙げられる。   As a preferred embodiment of the present invention, the holding member is an upper end holding member that supports the upper end of the substrate to be processed, or a lower end holding member that supports the lower end of the substrate to be processed. Can be mentioned.

本発明の基板搬送装置は、前記いずれかに記載の基板ホルダーを備えたことを特徴とする。いずれかに記載の基板ホルダーを備えていることで、基板のセット時や搬送時の衝撃により被処理基板の被処理面に傷や割れが発生することを抑制できる。   A substrate transfer apparatus according to the present invention includes any one of the substrate holders described above. By including any of the substrate holders described above, it is possible to suppress the occurrence of scratches or cracks on the surface to be processed of the substrate to be processed due to an impact at the time of setting or transporting the substrate.

本発明の基板ホルダー及び基板搬送装置によれば、基板のセット時や搬送時の衝撃により被処理基板の被処理面に傷や割れが発生することを抑制できるという優れた効果を奏し得る。 According to the substrate holder and the substrate transport apparatus of the present invention, it is possible to achieve an excellent effect that it is possible to suppress the occurrence of scratches and cracks on the surface to be processed due to an impact at the time of setting or transporting the substrate.

実施形態1にかかる基板ホルダーの(a)斜視図及び(b)A-A’線における断面図である3A is a perspective view and FIG. 2B is a cross-sectional view taken along line A-A ′ of the substrate holder according to the first embodiment. 実施形態2にかかる基板ホルダーの斜視図であるIt is a perspective view of the substrate holder concerning Embodiment 2. 図2のB−B’線における断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view taken along line B-B ′ of FIG. 2. 図2のA−A’線における断面図である。It is sectional drawing in the A-A 'line of FIG. 実施形態3にかかる基板ホルダーの斜視図である。It is a perspective view of the substrate holder concerning Embodiment 3. FIG. 図5のA−A’線における断面図である。It is sectional drawing in the A-A 'line of FIG. 実施形態1にかかる基板ホルダーを用いた基板搬送装置の模式図及び要部拡大断面図である。It is the schematic diagram and principal part expanded sectional view of a board | substrate conveyance apparatus using the board | substrate holder concerning Embodiment 1. FIG. (a)実施形態1にかかる基板ホルダーを用いたさらに別の基板搬送装置の模式図、(b)(a)のX−X線における断面図である。(A) The schematic diagram of another board | substrate conveyance apparatus using the board | substrate holder concerning Embodiment 1, (b) It is sectional drawing in the XX of (a). 実施形態1にかかる基板ホルダーを用いた別の基板搬送装置の設置状態を示した一部拡大図である。FIG. 6 is a partially enlarged view showing an installation state of another substrate transfer apparatus using the substrate holder according to the first embodiment. 図9の(a)A−A線における断面図(b)B−B線における断面図である。It is sectional drawing in the (a) AA line of FIG. 9, (b) It is sectional drawing in the BB line.

(実施形態1)
本発明の基板ホルダーにかかる実施形態について、図1を用いて説明する。基板ホルダー1は、例えばSUS等から構成される略長方形の枠状の支持部材11を備える。支持部材11は、四方を囲う側壁部111を備える。また、支持部材11は、被処理基板S1の被処理面側の外周部に当接する当接部112と、被処理面を露出するように形成された開口部113とを備える。当接部112は、側壁部111の一方面側に、側壁部111に対して垂直となるように設けられたフランジ部である。これらの側壁部111と当接部112とにより、図1(b)に示すように被処理基板S1を収容する収容部114が画成されている。収容部114は、被処理基板S1を収容するものであり、収容部114に収容された被処理基板S1は、開口部113からその被処理面が露出する。収容部114は、被処理基板S1を収容しやすいように、被処理基板S1よりもやや大きく構成されている。
(Embodiment 1)
An embodiment according to the substrate holder of the present invention will be described with reference to FIG. The substrate holder 1 includes a substantially rectangular frame-shaped support member 11 made of, for example, SUS. The support member 11 includes side wall portions 111 that surround four sides. In addition, the support member 11 includes a contact portion 112 that contacts an outer peripheral portion of the processing substrate S1 on the processing surface side, and an opening 113 formed so as to expose the processing surface. The abutting part 112 is a flange part provided on one side of the side wall part 111 so as to be perpendicular to the side wall part 111. The side wall portion 111 and the contact portion 112 define an accommodation portion 114 that accommodates the substrate to be processed S1 as shown in FIG. The accommodating portion 114 accommodates the substrate to be processed S <b> 1, and the surface to be processed of the substrate to be processed S <b> 1 accommodated in the accommodating portion 114 is exposed from the opening 113. The accommodating portion 114 is configured to be slightly larger than the substrate to be processed S1 so as to easily accommodate the substrate to be processed S1.

この基板ホルダー1は、後述する基板搬送装置により、略垂直となるようにやや傾けて保持される。これにより、基板ホルダー1の収容部114に収容された被処理基板S1は安定して基板ホルダー1に保持される。   The substrate holder 1 is held at a slight angle so as to be substantially vertical by a substrate transfer device described later. Thereby, the substrate S1 accommodated in the accommodating portion 114 of the substrate holder 1 is stably held by the substrate holder 1.

この被処理基板S1を収容部114に収容する時、また、被処理基板S1を収容部114に収容して基板ホルダー1を搬送する時に、被処理基板S1の被処理面の外周が当接部112に接触することにより、当接部112と接触する被処理基板S1の被処理面に割れや欠けが発生しやすいので、これを抑制する必要がある。   When the substrate to be processed S1 is accommodated in the accommodating portion 114, or when the substrate to be processed S1 is accommodated in the accommodating portion 114 and the substrate holder 1 is transported, the outer periphery of the surface to be processed of the substrate to be processed S1 is in contact with the contact portion. Since the surface to be processed of the substrate to be processed S1 that comes into contact with the contact portion 112 is liable to be cracked or chipped by contacting the portion 112, it is necessary to suppress this.

そこで、本実施形態においては、当接部112に緩衝材12を設けて、被処理基板S1の衝撃を吸収し被処理基板S1の搬送時や被処理基板S1の設置時に生じやすい当接部112と接触する被処理面の割れや欠けを抑制している。緩衝材12は、テープ状であり、4枚の緩衝材12から当接部112の各辺を覆うように設けられている。即ち、基板ホルダー1は、4枚の緩衝材12により、開口部113の周縁部を覆うように構成されている。緩衝材12は、耐熱性(200〜280℃)が高く、また、衝撃吸収性が高い材料からなる。このような緩衝材12としては、例えばポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンサルファイド、パーフルオロアルキルビニルエーテル等が挙げられ、本実施形態ではポリイミドからなるカプトン(登録商標)テープを用いている。緩衝材12は、本実施形態では、図示しない耐熱性の高い粘着剤で当接部112に固定されている。   Therefore, in the present embodiment, the buffer member 12 is provided in the contact portion 112 to absorb the impact of the substrate to be processed S1, and the contact portion 112 that is likely to occur when the substrate to be processed S1 is transported or when the substrate to be processed S1 is installed. Cracks and chipping of the surface to be processed that come into contact with the surface. The cushioning material 12 is in a tape shape and is provided so as to cover each side of the contact portion 112 from the four cushioning materials 12. That is, the substrate holder 1 is configured to cover the peripheral edge of the opening 113 with the four cushioning materials 12. The buffer material 12 is made of a material having high heat resistance (200 to 280 ° C.) and high shock absorption. Examples of such a buffer material 12 include polyimide, polyamideimide, polyether ether ketone, polyphenylene sulfide, perfluoroalkyl vinyl ether, and the like. In this embodiment, a Kapton (registered trademark) tape made of polyimide is used. In the present embodiment, the cushioning material 12 is fixed to the contact portion 112 with an adhesive (not shown) having high heat resistance.

(実施形態2)
図2〜図4に示す実施形態2にかかる基板ホルダー1Aは、図1に示す実施形態1にかかる基板ホルダー1(図1参照)で支持される被処理基板S1よりも大型の被処理基板S2を支持するためのものである。なお、実施形態2において実施形態1と同一の構成要素については同一の参照符号を付してある。本実施形態における基板ホルダー1Aは、実施形態1にかかる基板ホルダー1よりも大型の基板を保持すべく、当接部112には、それぞれ被処理基板S2の保持部材が設けられている。
(Embodiment 2)
The substrate holder 1A according to the second embodiment shown in FIGS. 2 to 4 is a substrate to be processed S2 larger than the substrate S1 to be processed supported by the substrate holder 1 (see FIG. 1) according to the first embodiment shown in FIG. It is for supporting. In the second embodiment, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals. The substrate holder 1 </ b> A in the present embodiment is provided with a holding member for the substrate S <b> 2 to be processed in the contact portion 112 in order to hold a substrate larger than the substrate holder 1 according to the first embodiment.

支持部材11の被処理基板S2の被処理面側の外周部に当接する当接部112には、緩衝材12Aが設けられている。緩衝材12Aは、実施形態1と同様の材料からなるものであり、それぞれテープ状である。緩衝材12Aは、当接部112全体、即ち、開口部113の周囲を覆うように4枚設けられており、それぞれ、複数の位置決め開口121を有する。そして、本実施形態では、当接部112には、凸部115が離間して複数設けられており、この凸部115に緩衝材12Aに形成された位置決め開口121が嵌合して位置決めされている。この状態で、緩衝材12Aは、被処理基板S2の左右の端部を支持する押圧部材13、被処理基板S2の上端側を支持する上端側保持部材14、及び被処理基板S2の下端側を支持する下端側保持部材15により当接部112に固定されている。なお、押圧部材13、上端側保持部材14及び下端側保持部材15は、それぞれ請求項に記載する保持部材である。 A buffer material 12A is provided in the contact portion 112 that contacts the outer peripheral portion of the support substrate 11 on the processing surface side of the processing substrate S2. The buffer material 12A is made of the same material as that of the first embodiment, and each has a tape shape. Four cushioning materials 12A are provided so as to cover the entire contact portion 112, that is, the periphery of the opening 113, and each have a plurality of positioning openings 121. In the present embodiment, the contact portion 112 is provided with a plurality of convex portions 115 spaced apart from each other, and positioning openings 121 formed in the cushioning material 12A are fitted into the convex portions 115 and positioned. Yes. In this state, the cushioning material 12A has the pressing member 13 that supports the left and right ends of the substrate to be processed S2, the upper end holding member 14 that supports the upper end side of the substrate to be processed S2, and the lower end side of the substrate to be processed S2. It is fixed to the contact portion 112 by a supporting lower end side holding member 15. The pressing member 13, the upper end side holding member 14, and the lower end side holding member 15 are holding members described in the claims.

これらの上端側保持部材14及び下端側保持部材15、並びに押圧部材13は、それぞれ被処理基板S2に接触するものであるから、被処理基板S2の割れや欠けを抑制すべく、弾性部材からなることが好ましい。このような弾性部材としては、例えば、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルエーテルケトン、ポリフェニレンサルファイド、パーフルオロアルキルビニルエーテル等が挙げられ、本実施形態ではポリイミドからなるベスペル(登録商標)を用いている。   Since the upper end side holding member 14, the lower end side holding member 15, and the pressing member 13 are respectively in contact with the substrate to be processed S2, they are made of an elastic member in order to suppress cracking or chipping of the substrate to be processed S2. It is preferable. Examples of such elastic members include polyimide, polyamideimide, polyetheretherketone, polyphenylene sulfide, perfluoroalkyl vinyl ether, and the like, and Vespel (registered trademark) made of polyimide is used in the present embodiment.

押圧部材13について説明する。押圧部材13は、緩衝材12Aを押圧し保持すると共に、押圧部材13の周縁において、被処理基板S2の端面が接触するように構成されており、これにより被処理基板S2を接触保持することが可能である。押圧部材13は、基板ホルダー1Aの左右の当接部112に、当接部112の長手方向にそれぞれ離間して複数設けられている。この押圧部材13の設置位置は、基板ホルダー1Aの左右の当接部112に形成された凸部115に対応した位置となっている。また、押圧部材13は、被処理基板S2を収容部114に収容しやすいように、対向する押圧部材13間は、被処理基板S2間よりもやや広くなっており、被処理基板S2は常に両端が押圧部材13によって保持されているわけではない。   The pressing member 13 will be described. The pressing member 13 is configured to press and hold the cushioning material 12A and to contact the end surface of the substrate to be processed S2 at the periphery of the pressing member 13, whereby the substrate to be processed S2 can be held in contact. Is possible. A plurality of pressing members 13 are provided on the left and right contact portions 112 of the substrate holder 1 </ b> A so as to be separated from each other in the longitudinal direction of the contact portion 112. The installation position of the pressing member 13 is a position corresponding to the convex portion 115 formed on the left and right contact portions 112 of the substrate holder 1A. Further, the pressing member 13 is slightly wider between the opposing pressing members 13 than between the processing substrates S2 so that the processing substrate S2 can be easily accommodated in the accommodating portion 114, and the processing substrate S2 always has both ends. Is not held by the pressing member 13.

押圧部材13は、押圧部本体131を備える。押圧部本体131は、略円柱状となっており、被処理基板S2を収容部114に収容しやすい。押圧部本体131には、一方面側(当接部112側)の中央部に押圧部凹部132が形成されている。押圧部凹部132は、凸部115に対応した形状となっている。この押圧部本体131の中央には、押圧部本体131を貫通する押圧部貫通孔133が形成されている。この押圧部貫通孔133は、凸部115の中央部に形成された凸部開口116に連通する。押圧部材13は、押圧部本体131の押圧部凹部132よりも外周側で、緩衝材12Aを押圧保持している。   The pressing member 13 includes a pressing portion main body 131. The pressing portion main body 131 has a substantially columnar shape and can easily accommodate the substrate to be processed S2 in the accommodating portion 114. In the pressing portion main body 131, a pressing portion recess 132 is formed at the central portion on one side (the contact portion 112 side). The pressing portion concave portion 132 has a shape corresponding to the convex portion 115. In the center of the pressing portion main body 131, a pressing portion through hole 133 that penetrates the pressing portion main body 131 is formed. The pressing portion through-hole 133 communicates with a convex opening 116 formed at the center of the convex portion 115. The pressing member 13 presses and holds the cushioning material 12 </ b> A on the outer peripheral side of the pressing portion recess 132 of the pressing portion main body 131.

この押圧部材13を当接部112に固定する場合について説明する。まず、当接部112の凸部115に緩衝材12Aに形成された位置決め開口121を嵌合させ、当接部112に緩衝材12Aを設置する。そして、その後、凸部115に押圧部凹部132を嵌合させて押圧部材13を設置し、押圧部本体131の押圧部凹部132の周縁部で緩衝材12Aの位置決め開口121の縁部を押圧する。この押圧した状態で、ネジ134を押圧部貫通孔133及び凸部開口116に挿入固定して押圧部材13を当接部112に固定し、同時に押圧部本体131の押圧部凹部132よりも外周側で当接部112に緩衝材12Aを押圧保持し、緩衝材12Aを当接部112に固定する。   The case where this pressing member 13 is fixed to the contact part 112 is demonstrated. First, the positioning opening 121 formed in the buffer material 12 </ b> A is fitted to the convex portion 115 of the contact portion 112, and the buffer material 12 </ b> A is installed in the contact portion 112. After that, the pressing portion recess 132 is fitted into the convex portion 115 to install the pressing member 13, and the edge of the positioning opening 121 of the cushioning material 12 </ b> A is pressed by the peripheral portion of the pressing portion concave portion 132 of the pressing portion main body 131. . In this pressed state, the screw 134 is inserted and fixed in the pressing portion through-hole 133 and the convex portion opening 116 to fix the pressing member 13 to the abutting portion 112, and at the same time outer peripheral side than the pressing portion concave portion 132 of the pressing portion main body 131. Then, the buffer material 12A is pressed and held on the contact portion 112, and the buffer material 12A is fixed to the contact portion 112.

このように本実施形態においては、緩衝材12Aを押圧部材13により当接部112に固定する場合に、位置決め開口121を凸部115に嵌合させて位置決めをしてから固定することで、簡易に緩衝材12Aにより当接部112の一辺の全面を覆うことができる。これにより、被処理基板S2が当接部112と接触することで割れや欠けが発生することを抑制できる。また、位置決め精度が低いと開口部113から緩衝材が露出してしまい、成膜時にこの緩衝材部分でチャージアップして異常放電が発生してしまうことがあるが、本実施形態では、位置決め開口121を凸部115に嵌合させ正確に位置決めして固定できるので、開口部113に緩衝材12Aが露出することがない。   As described above, in the present embodiment, when the cushioning material 12A is fixed to the contact portion 112 by the pressing member 13, the positioning opening 121 is fitted to the convex portion 115 and fixed after positioning. Further, the entire surface of one side of the contact portion 112 can be covered with the cushioning material 12A. Thereby, it can suppress that a to-be-processed substrate S2 contacts the contact part 112, and a crack and a chip | tip generate | occur | produce. In addition, if the positioning accuracy is low, the buffer material is exposed from the opening 113, and the buffer material portion may be charged up at the time of film formation and abnormal discharge may occur. Since 121 can be fitted and accurately positioned and fixed to the projection 115, the cushioning material 12 </ b> A is not exposed to the opening 113.

次に、上端側保持部材14について説明する。被処理基板S2の上端側を支持する上端側保持部材14は、基板ホルダー1Aの上側の当接部112に離間して複数(本実施形態では5つ)設けられている。上端側保持部材14は、円柱状部141と、円柱状部141の一端側に延設された円形状のフランジ部142とを有する。上端側保持部材14には、円柱状部141及びフランジ部142を貫通する第1貫通孔143が形成されると共に、円柱状部141の他端側には凹部144が形成されている。円柱状部141の凹部144は、この凸部115に嵌合し、第1貫通孔143は凸部115の凸部開口116に連通する。そして、この第1貫通孔143及び凸部開口116にネジ145が挿入固定され、各上端側保持部材14が当接部112に固定されると同時に円柱状部141の凹部144よりも外周側で緩衝材12Aが保持され固定される。   Next, the upper end holding member 14 will be described. A plurality (five in the present embodiment) of upper end side holding members 14 that support the upper end side of the substrate S2 to be processed are provided apart from the upper contact portion 112 of the substrate holder 1A. The upper end side holding member 14 includes a columnar portion 141 and a circular flange portion 142 extending to one end side of the columnar portion 141. The upper end holding member 14 is formed with a first through hole 143 that penetrates the columnar portion 141 and the flange portion 142, and a recess 144 is formed on the other end side of the columnar portion 141. The concave portion 144 of the cylindrical portion 141 is fitted into the convex portion 115, and the first through hole 143 communicates with the convex portion opening 116 of the convex portion 115. Then, a screw 145 is inserted and fixed in the first through hole 143 and the convex opening 116, and each upper end holding member 14 is fixed to the abutting portion 112, and at the same time on the outer peripheral side than the concave portion 144 of the columnar portion 141. The cushioning material 12A is held and fixed.

このように構成された上端側保持部材14では、円柱状部141の周縁に被処理基板S2が接触保持される。また、フランジ部142を設けることで、被処理基板S2が搬送時などに例えば座屈により倒れそうになったとしてもこのフランジ部142により制止することが可能である。   In the upper end side holding member 14 configured as described above, the substrate to be processed S2 is held in contact with the periphery of the cylindrical portion 141. Further, by providing the flange portion 142, even if the substrate S2 to be processed is likely to fall down due to buckling, for example, during transportation, the flange portion 142 can restrain the substrate.

この各上端側保持部材14を当接部112に固定する場合も、押圧部材13を当接部112に固定する場合と同様である。緩衝材12Aの位置決め開口121を凸部115に嵌合させて緩衝材12Aを当接部112に設置する。そして、この状態で各上端側保持部材14をネジ145により当接部112に固定すると同時に円柱状部141の凹部144よりも外周側で緩衝材12Aが固定される。このように固定することで、上側の当接部112にも、緩衝材12Aを簡易に位置合わせして固定することができる。   The case where each upper end holding member 14 is fixed to the contact portion 112 is the same as the case where the pressing member 13 is fixed to the contact portion 112. The positioning opening 121 of the cushioning material 12 </ b> A is fitted into the convex portion 115, and the cushioning material 12 </ b> A is installed in the contact portion 112. In this state, each upper end holding member 14 is fixed to the contact portion 112 with the screw 145, and at the same time, the cushioning material 12A is fixed on the outer peripheral side of the concave portion 144 of the columnar portion 141. By fixing in this way, the buffer material 12A can be easily aligned and fixed to the upper contact portion 112 as well.

被処理基板S2の下端側を支持する下端側保持部材15は、基板ホルダー1の下側の当接部112の長手方向に沿って設けられ、その上面で被処理基板S2を支持する支持部材本体151と、支持部材本体151の上面縁部に延設された返し部152とからなる。支持部材本体151の当接部112側の面には、支持部材凹部153が形成されている。支持部材本体151は、この支持部材凹部153に貫通するように第2貫通孔154が形成されている。また、下側の当接部112には、当接部112の長手方向にそって凸部115が形成されており、この凸部115と支持部材凹部153とが嵌合する。第2貫通孔154は凸部115の凸部開口116に連通する。そして、この第2貫通孔154及び凸部開口116にネジ155が挿入固定され、下端側保持部材15が当接部112に固定されると同時に支持部材本体151の支持部材凹部153が形成されていない領域で緩衝材12Aが保持され固定される。   The lower end holding member 15 that supports the lower end side of the substrate to be processed S2 is provided along the longitudinal direction of the lower contact portion 112 of the substrate holder 1, and the support member main body that supports the substrate to be processed S2 on the upper surface thereof. 151 and a return portion 152 extending on the upper surface edge of the support member main body 151. A support member recess 153 is formed on the surface of the support member main body 151 on the contact portion 112 side. The support member main body 151 is formed with a second through-hole 154 so as to penetrate the support member recess 153. Further, a convex portion 115 is formed in the lower contact portion 112 along the longitudinal direction of the contact portion 112, and the convex portion 115 and the support member concave portion 153 are fitted. The second through hole 154 communicates with the convex opening 116 of the convex 115. Then, a screw 155 is inserted and fixed in the second through hole 154 and the convex opening 116, and the support member concave portion 153 of the support member main body 151 is formed at the same time as the lower end side holding member 15 is fixed to the contact portion 112. The cushioning material 12A is held and fixed in a region where there is no space.

このように構成された下端側保持部材15では、支持部材本体151上に被処理基板S2が設置されて保持される。また、返し部152を設けることで、被処理基板S2が搬送時などに移動して支持部材本体151から落ちることを防止することが可能である。   In the lower end side holding member 15 configured as described above, the substrate to be processed S2 is installed and held on the support member main body 151. Further, by providing the return portion 152, it is possible to prevent the substrate to be processed S <b> 2 from moving and falling from the support member main body 151 during transportation.

この場合にも、下端側保持部材15を当接部112に固定する際に、緩衝材12Aの位置決め開口121を凸部115に嵌合させて緩衝材12Aを当接部112に設置し、この状態で下端側保持部材15をネジ155により当接部112に固定する。このように固定することで、下側の当接部112にも、緩衝材12Aを簡易に位置合わせして固定させることができる。   Also in this case, when the lower end side holding member 15 is fixed to the contact portion 112, the positioning opening 121 of the cushioning material 12A is fitted to the convex portion 115, and the cushioning material 12A is installed in the contact portion 112. In this state, the lower end side holding member 15 is fixed to the contact portion 112 with a screw 155. By fixing in this way, the cushioning material 12A can be easily aligned and fixed to the lower contact portion 112 as well.

このように、本実施形態においては、緩衝材12Aの位置合わせを行うと共に、この位置合わせ時に必要な凸部を大型の被処理基板S2を保持するための保持部材により覆うことで、被処理基板S2が当接部112に接触する際の被処理基板S2の割れや欠けを抑制している。即ち、特に、大型の基板においては被処理基板の座屈が問題となるが、保持部材を設けることで被処理基板の座屈を抑制しながら、緩衝材12Aの固定を行っている。   As described above, in this embodiment, the cushioning material 12A is aligned, and the projections necessary for the alignment are covered with the holding member for holding the large substrate S2 to be processed. The crack or chipping of the substrate S2 to be processed when S2 contacts the contact portion 112 is suppressed. That is, the buckling of the substrate to be processed becomes a problem particularly in a large substrate, but the buffer material 12A is fixed while suppressing the buckling of the substrate to be processed by providing a holding member.

(実施形態3)
図5、図6に示す実施形態3にかかる基板ホルダー1Bは、実施形態2にかかる基板ホルダー1A(図2参照)とは、下端側保持部材15Aの形状が異なる。なお、実施形態3において実施形態1、2と同一の構成要素については同一の参照符号を付してある。
(Embodiment 3)
The substrate holder 1B according to the third embodiment shown in FIGS. 5 and 6 is different from the substrate holder 1A according to the second embodiment (see FIG. 2) in the shape of the lower end side holding member 15A. In the third embodiment, the same components as those in the first and second embodiments are denoted by the same reference numerals.

本実施形態における下端側保持部材15Aは、下側の当接部112の長手方向に沿って、それぞれ離間して設けられている。即ち、図2〜図4に示す実施形態2においては、下端側保持部材15は、下側の当接部112の全面に亘って連続的に設けられていたが、本実施形態においては、下端側保持部材15Aは、下側の当接部112の全面に亘って断続的に設けられている。下端側保持部材15Aは、それぞれ、角柱状部156と、角柱状部156の一端側に延設された矩形状のフランジ部157とを備える。   The lower end side holding member 15 </ b> A in the present embodiment is provided separately from each other along the longitudinal direction of the lower contact portion 112. That is, in Embodiment 2 shown in FIGS. 2 to 4, the lower end side holding member 15 is continuously provided over the entire surface of the lower contact portion 112. The side holding member 15 </ b> A is provided intermittently over the entire surface of the lower contact portion 112. Each of the lower end side holding members 15 </ b> A includes a prismatic portion 156 and a rectangular flange portion 157 extending to one end side of the prismatic portion 156.

角柱状部156の他方面側、即ちフランジ部157とは逆側には、支持部材凹部153Aが形成されている。角柱状部156には、この支持部材凹部153Aに貫通するように第2貫通孔154Aが形成されている。また、下側の当接部112には、その当接部の長手方向にそって凸部115が形成されており、この凸部115と支持部材凹部153Aとが嵌合するように下端側保持部材15Aは構成されている。第2貫通孔154Aは凸部115の凸部開口116に連通する。そして、この第2貫通孔154A及び凸部開口116にネジ155が挿入固定され、下端側保持部材15Aが基板ホルダー1の下側の当接部112に固定されると同時に角柱状部156の支持部材凹部153Aが形成されていない領域で緩衝材12Aが保持され固定される。   A support member recess 153A is formed on the other surface side of the prismatic portion 156, that is, on the side opposite to the flange portion 157. A second through hole 154A is formed in the prismatic portion 156 so as to penetrate the support member recess 153A. Further, the lower contact portion 112 is formed with a convex portion 115 along the longitudinal direction of the contact portion, and the lower end side holding is performed so that the convex portion 115 and the support member concave portion 153A are fitted. The member 15A is configured. The second through hole 154A communicates with the convex opening 116 of the convex 115. Then, a screw 155 is inserted and fixed in the second through hole 154A and the convex opening 116, and the lower end holding member 15A is fixed to the lower contact portion 112 of the substrate holder 1 and at the same time supports the prismatic portion 156. The buffer material 12A is held and fixed in a region where the member recess 153A is not formed.

このような下端側保持部材15Aを設置する場合も、凸部115により緩衝材12Aの位置決めを行い、かつ下端側保持部材15Aにより緩衝材12Aを当接部112に固定することができる。   Even when such a lower end side holding member 15A is installed, the cushioning material 12A can be positioned by the convex portion 115, and the cushioning material 12A can be fixed to the contact portion 112 by the lower end side holding member 15A.

ところで、この下端側保持部材15Aでは、角柱状部156上に被処理基板S3が載置されるが、被処理基板S3により角柱状部156の上面側が削られてしまい、これにより被処理基板S3のがたつきが大きくなることがある。がたつきが大きくなると、基板搬送時における衝撃が大きくなり、これにより被処理基板S3の割れや欠けが発生しやすくなってしまう。このような場合、本実施形態では、角柱状部156を回転させて、角柱状部156の未だ使用していない面を上面にして再度固定することで、平らな面に被処理基板S3を載置することができ、被処理基板S3のがたつきを防止することができる。これにより、より被処理基板S3と当接部112との接触時の振動を抑制でき、より被処理基板S3の割れや欠けを抑制できる。   By the way, in this lower end side holding member 15A, the substrate to be processed S3 is placed on the prismatic portion 156, but the upper surface side of the prismatic portion 156 is scraped by the substrate to be processed S3, thereby causing the substrate to be processed S3 to be processed. The shakiness may increase. When the backlash increases, the impact during the substrate transfer increases, and this makes it easier for the substrate S3 to be processed to crack or chip. In such a case, in the present embodiment, the prismatic portion 156 is rotated and the unused surface of the prismatic portion 156 is fixed again, so that the substrate to be processed S3 is mounted on a flat surface. It is possible to prevent rattling of the substrate S3 to be processed. Thereby, the vibration at the time of contact with to-be-processed substrate S3 and the contact part 112 can be suppressed more, and the crack and notch | chip of to-be-processed substrate S3 can be suppressed more.

また、本実施形態では、実施形態2に比べて下端側保持部材15Aを離間して設けているために、連続的に下端側保持部材を設ける場合に比べて部材から放出されるガスの量が少ないため、好ましい。なお、この下端側保持部材15Aのように保持部材を離間して設けると搬送時に被処理基板S3に振動が生じやすいが、本実施形態においては緩衝材12Aを設けると共に下端側保持部材15Aも衝撃吸収性の高い材料で形成していることから、被処理基板S3の割れや欠けを抑制できる。   Further, in this embodiment, since the lower end side holding member 15A is provided apart from that in the second embodiment, the amount of gas released from the member is smaller than in the case where the lower end side holding member is continuously provided. It is preferable because it is small. If the holding members are spaced apart like the lower end side holding member 15A, the substrate to be processed S3 is likely to vibrate during transport, but in this embodiment, the buffer material 12A is provided and the lower end side holding member 15A is also shocked. Since it is formed of a material having high absorbability, it is possible to suppress cracking and chipping of the substrate S3.

(基板搬送装置)
かかる基板ホルダー1を用いた基板搬送装置Iについて説明する。図7に示すように、基板搬送装置Iは、被処理基板S1を枠状の基板ホルダー1によって略垂直に保持しながら、基板ホルダー1の開口部113から露出した被処理基板S1の成膜面に対して処理を行う縦型搬送式の基板搬送装置である。かかる基板搬送装置は、スパッタリング法により成膜を行う成膜室を含む複数の処理室からなるインライン式成膜装置に用いられる。
(Substrate transfer device)
A substrate transfer apparatus I using the substrate holder 1 will be described. As shown in FIG. 7, the substrate transfer apparatus I holds the substrate to be processed S <b> 1 substantially vertically by the frame-shaped substrate holder 1 while exposing the film formation surface of the substrate to be processed S <b> 1 exposed from the opening 113 of the substrate holder 1. This is a vertical transfer type substrate transfer apparatus that performs processing on the substrate. Such a substrate transfer apparatus is used in an in-line type film forming apparatus including a plurality of processing chambers including a film forming chamber in which a film is formed by a sputtering method.

基板ホルダー1の支持部材11の底面には、その長手方向に沿って円柱状の棒状部材21が設けられている。支持部材11は、棒状部材21の円周方向に回動自在となるように構成されている。   On the bottom surface of the support member 11 of the substrate holder 1, a columnar rod-shaped member 21 is provided along the longitudinal direction thereof. The support member 11 is configured to be rotatable in the circumferential direction of the rod-shaped member 21.

また、成膜装置の床面には、ローラー22が所定の間隔を空けて固定部材23を介して並設されている。このローラー22上に棒状部材21が載置され、ローラー22の回転に伴って棒状部材21が移動されるように構成されている。具体的には、ローラー22は、断面視において棒状部材21が係合するように中央部が凹となった曲面状となっている。ローラー22の回転軸24は、固定部材23に回転自在に設置されると共に、この回転軸24の一端が図示しない駆動制御装置に接続されており、この駆動制御装置により回転軸24が回転される。この回転によりローラー22上に設置された支持部材11が棒状部材21を介して回転方向に移動することができる。なお、本実施形態では、これらの複数のローラー22が並設されてホルダー搬送路が構成されている。   In addition, rollers 22 are juxtaposed on the floor surface of the film forming apparatus via a fixing member 23 at a predetermined interval. The rod-shaped member 21 is placed on the roller 22, and the rod-shaped member 21 is moved as the roller 22 rotates. Specifically, the roller 22 has a curved surface with a concave central portion so that the rod-shaped member 21 engages in a cross-sectional view. The rotating shaft 24 of the roller 22 is rotatably installed on the fixed member 23, and one end of the rotating shaft 24 is connected to a drive control device (not shown), and the rotary shaft 24 is rotated by the drive control device. . By this rotation, the support member 11 installed on the roller 22 can move in the rotation direction via the rod-shaped member 21. In the present embodiment, the plurality of rollers 22 are arranged side by side to form a holder conveyance path.

また、基板ホルダー1の支持部材11の天井部には、ホルダーマグネット25が装着されている。また、成膜装置の天井面には、シャッター搬送路に対向する位置からやや外側に外れてこの各ホルダーマグネット25に対向するように複数のマグネット26が並設されている。このホルダーマグネット25とマグネット26との間の吸引力により基板ホルダー1は床面に対して略垂直に保持された状態で移動される。   A holder magnet 25 is attached to the ceiling portion of the support member 11 of the substrate holder 1. Further, on the ceiling surface of the film forming apparatus, a plurality of magnets 26 are arranged in parallel so as to be slightly outside from a position facing the shutter conveyance path and to face each of the holder magnets 25. Due to the attractive force between the holder magnet 25 and the magnet 26, the substrate holder 1 is moved while being held substantially perpendicular to the floor surface.

このような基板搬送装置Iにおいては、基板ホルダー1に支持された被処理基板S1の被処理面における割れや欠けが抑制され、これにより歩留まりを向上させることが可能である。   In such a substrate transport apparatus I, cracks and chips on the surface to be processed of the substrate S1 supported by the substrate holder 1 are suppressed, thereby improving the yield.

また、基板搬送装置の別の実施形態について図8〜図10を用いて説明する。   Another embodiment of the substrate transfer apparatus will be described with reference to FIGS.

基板ホルダー1の下端面には、ラック部材41が設けられている。ラック部材41は、図8(b)に示すようにその下端面の中央部に凹部42が設けられており、この凹部42内に支持部材42aを介してラック43が支持されている。   A rack member 41 is provided on the lower end surface of the substrate holder 1. As shown in FIG. 8B, the rack member 41 is provided with a recess 42 at the center of the lower end surface thereof, and the rack 43 is supported in the recess 42 via a support member 42a.

他方で、図9及び図10に示すように、基板ホルダー1が搬入される成膜装置には、ラック43と嵌合するピニオン51が設けられている。ピニオン51は、ピニオン51に設けられたピニオン回転軸52が一対のピニオン支持部材53により回転可能に支持されることで、成膜装置の床面上に支持されている。なお、このピニオン回転軸52は、傾斜するように(図10(a)中、ピニオン回転軸52は、左端部が右端部よりも高くなるように設定されている。)、ピニオン支持部材53の異なる高さ位置に設けられている。ピニオン回転軸52は、成膜装置外部に設けられた図示しないモーターに接続されており、このモーターにより回転駆動されるように構成されている。即ち、基板ホルダー1が成膜装置に搬入されてラック43とピニオン51とが係合すると、この状態でピニオン51が回転駆動することにより基板ホルダー1は搬送される。   On the other hand, as shown in FIGS. 9 and 10, the film forming apparatus into which the substrate holder 1 is carried is provided with a pinion 51 that fits with the rack 43. The pinion 51 is supported on the floor surface of the film forming apparatus by a pinion rotation shaft 52 provided on the pinion 51 being rotatably supported by a pair of pinion support members 53. The pinion rotation shaft 52 is inclined (in FIG. 10A, the pinion rotation shaft 52 is set such that the left end portion is higher than the right end portion). It is provided at different height positions. The pinion rotation shaft 52 is connected to a motor (not shown) provided outside the film forming apparatus, and is configured to be rotationally driven by this motor. That is, when the substrate holder 1 is carried into the film forming apparatus and the rack 43 and the pinion 51 are engaged with each other, the substrate holder 1 is transported by rotating the pinion 51 in this state.

ここで、ピニオン51は、図示しないが成膜装置内において所定の距離離間して複数設けられている。所定の距離とは、本実施形態では、基板ホルダー1の短手方向(横方向)の長さであり、基板ホルダー1は、常に一つのピニオン51により搬送されるように構成されている。   Here, although not shown, a plurality of pinions 51 are provided at a predetermined distance in the film forming apparatus. In the present embodiment, the predetermined distance is the length in the short direction (lateral direction) of the substrate holder 1, and the substrate holder 1 is configured to be always transported by one pinion 51.

また、成膜装置には、搬送ローラー54が、基板ホルダー1の幅方向に対して複数離間するように設けられている。図10(b)に示すように、搬送ローラー54は、基板ホルダー1の厚み方向に対して、一つの搬送ローラー回転軸55に二つ設けられている。即ち、一対の搬送ローラー54は、一つの搬送ローラー回転軸55にそれぞれ設けられ、この一対の搬送ローラー54は、基板ホルダー1の幅方向に離間して複数設けられている。各搬送ローラー回転軸55は、搬送ローラー支持部材56に回転可能に支持されている。また、この場合の搬送ローラー回転軸55も傾斜するように(即ち、図10(b)中搬送ローラー回転軸55は、左端部が右端部よりも高くなるように設定されている。)、搬送ローラー支持部材56の異なる高さ位置に設けられている。このように、本実施形態では、ピニオン支持部材53や搬送ローラー支持部材56が底部に対して傾斜して設けられている。このため、基板ホルダー1は角度θで傾斜した状態を維持したまま成膜および搬送が可能である。   In the film forming apparatus, a plurality of transport rollers 54 are provided so as to be separated from each other in the width direction of the substrate holder 1. As shown in FIG. 10B, two transport rollers 54 are provided on one transport roller rotation shaft 55 in the thickness direction of the substrate holder 1. That is, the pair of transport rollers 54 is provided on one transport roller rotating shaft 55, and a plurality of the pair of transport rollers 54 are provided apart from each other in the width direction of the substrate holder 1. Each conveyance roller rotating shaft 55 is rotatably supported by a conveyance roller support member 56. Further, the conveyance roller rotation shaft 55 in this case is also inclined (that is, the conveyance roller rotation shaft 55 in FIG. 10B is set such that the left end is higher than the right end). The roller support members 56 are provided at different height positions. Thus, in the present embodiment, the pinion support member 53 and the transport roller support member 56 are provided to be inclined with respect to the bottom. For this reason, the substrate holder 1 can be formed and transported while maintaining the state inclined at the angle θ.

この一対の搬送ローラー54は基板ホルダー1が成膜装置に搬入され設置された場合に、そのローラー面が基板ホルダー1のラック部材41の底面に接触し、基板ホルダー1の搬送時にラック部材41を支持して基板ホルダー1を支持する。この搬送ローラー54を備えることで、基板ホルダー1がピニオン51により搬送される場合に、ピニオン51に基板ホルダーの荷重が全てかかることがなく、これによりピニオン51がラック43との間にバックラッシュ(バックラッシ)を保持することができるので、回転自在となる。即ち、この搬送ローラー54がない場合には、ピニオン51に基板ホルダー1の荷重が全てかかってしまい、ピニオンのバックラッシュがなくなってピニオンが回転することができなくなり、基板ホルダー1を搬送することができない。   When the substrate holder 1 is loaded and installed in the film forming apparatus, the pair of transport rollers 54 comes into contact with the bottom surface of the rack member 41 of the substrate holder 1, and the rack member 41 is moved when the substrate holder 1 is transported. The substrate holder 1 is supported. By providing the transport roller 54, when the substrate holder 1 is transported by the pinion 51, the load of the substrate holder is not applied to the pinion 51, so that the pinion 51 is backlashed between the rack 43 ( (Backlash) can be held, so that it can rotate freely. That is, in the absence of the transport roller 54, the entire load of the substrate holder 1 is applied to the pinion 51, the backlash of the pinion is eliminated, the pinion cannot be rotated, and the substrate holder 1 can be transported. Can not.

さらにまた、成膜装置には、ガイドローラー57が複数離間して設けられている。ガイドローラー57は、その一端にガイドローラー回転軸58に接続され、ガイドローラー回転軸58は、支持台59により回転可能であるように支持されている。ガイドローラー57は、ローラー面が基板ホルダー1のラック部材41の側面に接触し、搬送時における基板ホルダー1のがたつきを抑制する。   Furthermore, the film forming apparatus is provided with a plurality of guide rollers 57 spaced from each other. The guide roller 57 is connected to a guide roller rotating shaft 58 at one end, and the guide roller rotating shaft 58 is supported by a support base 59 so as to be rotatable. The roller surface of the guide roller 57 comes into contact with the side surface of the rack member 41 of the substrate holder 1 and suppresses rattling of the substrate holder 1 during conveyance.

このように、本実施形態においては、ラック43と回転駆動されるピニオン51とにより基板ホルダー1が傾斜した状態で搬送される。この場合に、搬送ローラー54により基板ホルダー1の荷重が支持されることにより、ピニオン51が回転する。従って、保持部材により基板ホルダー1に支持された被処理基板S1の被処理面における割れや欠けが防止された状態で搬送することができる。さらに、このように基板ホルダー1の荷重が支持されることで、ピニオン51にバックラッシュを生じさせることができ、ピニオン51が回転しやすいことにより、よりスムーズに搬送することができるので、より歩留まりを向上させることが可能である。また、ガイドローラー57により、基板をより安定して搬送することが可能である。さらにまた、基板ホルダー1が傾斜した状態で搬送されることで、被処理基板上にダストやパーティクルが付着することを防止できる。   Thus, in the present embodiment, the substrate holder 1 is transported in an inclined state by the rack 43 and the pinion 51 that is rotationally driven. In this case, the pinion 51 rotates by supporting the load of the substrate holder 1 by the transport roller 54. Therefore, the substrate can be transported in a state in which cracks and chips on the surface to be processed of the substrate to be processed S1 supported by the substrate holder 1 by the holding member are prevented. Furthermore, since the load of the substrate holder 1 is supported in this way, backlash can be generated in the pinion 51, and since the pinion 51 is easy to rotate, it can be transported more smoothly, resulting in a higher yield. It is possible to improve. Further, the substrate can be transported more stably by the guide roller 57. Furthermore, by transporting the substrate holder 1 in an inclined state, dust and particles can be prevented from adhering to the substrate to be processed.

(他の実施形態)
上述した各実施形態では、被処理基板S1〜S3の保持部材として基板の移動を抑制するものを示したが、これに限定されない。例えば、基板ホルダー1〜1Bには、クランプを設けてこれにより被処理基板S1〜S3の保持を行ってもよい。
(Other embodiments)
In each of the above-described embodiments, the holding member for the substrates to be processed S1 to S3 has been shown to suppress the movement of the substrate, but is not limited thereto. For example, the substrate holders 1 to 1B may be provided with clamps to hold the substrates to be processed S1 to S3.

実施形態2及び3では、上端側保持部材14は円柱状部141を有するものを示したがこれに限定されず、実施形態3に示す下端側保持部材15Aのような角柱状部156を有するものを用いてもよい。また、上端側保持部材14も使用によりすり減って被処理基板S2のがたつきが発生するようであれば、円柱状部141を角柱状部にして構成し、すり減った場合には回転できるように構成してもよい。   In the second and third embodiments, the upper end holding member 14 has the cylindrical portion 141. However, the upper end holding member 14 is not limited to this, and the upper end holding member 14 has a prismatic portion 156 like the lower end holding member 15A shown in the third embodiment. May be used. Further, if the upper end holding member 14 is also worn by use and the backlash of the substrate S2 to be processed is generated, the cylindrical portion 141 is formed as a prismatic portion, and can be rotated when worn. It may be configured.

基板搬送装置としては、基板ホルダー1を備えたものを示したが、もちろん、基板ホルダー1A、1Bを備えたものであってもよい。基板ホルダー1A、1Bについても、それぞれホルダーマグネット25とマグネット26との間の吸引力により床面に対して略垂直に保持された状態で移動される。   As the substrate transport device, the one provided with the substrate holder 1 is shown, but of course, it may be provided with the substrate holders 1A, 1B. The substrate holders 1A and 1B are also moved while being held substantially perpendicular to the floor surface by the attractive force between the holder magnet 25 and the magnet 26, respectively.

本発明の基板ホルダー及び基板搬送装置によれば、被処理基板S1の被処理面における割れや欠けが抑制され、歩留まりを向上することができる。従って、半導体素子製造産業において利用可能である。   According to the substrate holder and the substrate transfer apparatus of the present invention, cracks and chips on the surface to be processed of the substrate S1 to be processed are suppressed, and the yield can be improved. Therefore, it can be used in the semiconductor device manufacturing industry.

1、1A、1B 基板ホルダー
11 支持部材
12、12A 緩衝材
13 押圧部材
14 上端側保持部材
15、15A 下端側保持部材
21 棒状部材
22 ローラー
23 固定部材
24 回転軸
25 ホルダーマグネット
26 マグネット
111 側壁部
112 当接部
113 開口部
114 収容部
115 凸部
116 凸部開口
121 位置決め開口
131 押圧部本体
132 押圧部凹部
133 押圧部貫通孔
141 円柱状部
142 フランジ部
143 第1貫通孔
144 凹部
151 支持部材本体
152 返し部
153 支持部材凹部
154、154A 第2貫通孔
156 角柱状部
157 フランジ部
I 基板搬送装置
S1−S3 被処理基板
1, 1A, 1B Substrate holder 11 Support member 12, 12A Buffer member 13 Press member 14 Upper end side holding member 15, 15A Lower end side holding member 21 Bar member 22 Roller 23 Fixing member 24 Rotating shaft 25 Holder magnet 26 Magnet 111 Side wall 112 Contacting portion 113 Opening portion 114 Housing portion 115 Protruding portion 116 Protruding portion opening 121 Positioning opening 131 Pressing portion main body 132 Pressing portion concave portion 133 Pressing portion through hole 141 Columnar portion 142 Flange portion 143 First through hole 144 Recessing portion 151 Support member main body 152 Return portion 153 Support member concave portions 154, 154A Second through hole 156 Square columnar portion 157 Flange portion I Substrate transport device S1-S3 Substrate

Claims (7)

被処理基板の被処理面側の外周部に当接する当接部と、該被処理基板の被処理面を露出させる開口とを有し、前記被処理基板の前記被処理面を開口から露出させた状態で前記当接部で前記被処理基板を支持する支持部材を備え、前記被処理基板の端部を保持する保持部材を有し、
前記当接部には、少なくとも前記被処理基板に対向する位置に、衝撃吸収性の高いテープ状の緩衝材が設けられていることを特徴とする基板ホルダー。
A contact portion that contacts the outer peripheral portion of the substrate to be processed; and an opening that exposes the surface to be processed of the substrate to be processed, and the surface to be processed of the substrate to be processed is exposed from the opening. A support member that supports the substrate to be processed at the contact portion, and a holding member that holds an end of the substrate to be processed.
A substrate holder, wherein the contact portion is provided with a tape-like cushioning material having high shock absorption at least at a position facing the substrate to be processed.
前記基板ホルダーの当接部には、突起部が形成され、かつ、前記緩衝材には、該突起部に対応して開口部が設けられ、
前記突起部に該開口部を嵌合して前記緩衝材が当接部に設置されると共に、
該開口部から露出した前記突起部を覆うと共に前記緩衝材の開口部の周縁を押圧し、かつ、前記保持部材が衝撃吸収性の高い弾性部材からなることを特徴とする請求項1記載の基板ホルダー。
The contact portion of the substrate holder is formed with a protrusion, and the cushioning material is provided with an opening corresponding to the protrusion,
The cushioning material is installed at the contact portion by fitting the opening to the protrusion, and
Pressing the periphery of the opening of the cushioning material covering the protruding portion exposed from the opening portion, and, according to claim 1, wherein the front Kiho support member is characterized by comprising the high elasticity member shock-absorbing Board holder.
前記保持部材が、基板の端部に亘って離間して複数設けられていることを特徴とする請求項1又は2に記載の基板ホルダー。   The substrate holder according to claim 1, wherein a plurality of the holding members are provided so as to be separated from each other over an end portion of the substrate. 前記保持部材が、前記突起部を覆うと共に前記緩衝材の開口部の周縁を押圧する角柱状部を有し、該角柱状部が前記角柱状部の中心を通る固定部材により当接部に固定されることを特徴とする請求項3記載の基板ホルダー。   The holding member has a prismatic portion that covers the protrusion and presses the periphery of the opening of the cushioning material, and the prismatic portion is fixed to the contact portion by a fixing member that passes through the center of the prismatic portion. The substrate holder according to claim 3, wherein: 前記保持部材が、前記被処理基板の上端部を支持する上端側保持部材であることを特徴とする請求項2〜4のいずれか一項に記載の基板ホルダー。   The substrate holder according to claim 2, wherein the holding member is an upper end side holding member that supports an upper end portion of the substrate to be processed. 前記保持部材が、前記被処理基板の下端部を支持する下端側保持部材であることを特徴とする請求項2〜4のいずれか一項に記載の基板ホルダー。   The substrate holder according to claim 2, wherein the holding member is a lower end side holding member that supports a lower end portion of the substrate to be processed. 請求項1〜6のいずれか一項に記載の基板ホルダーを備えたことを特徴とする基板搬送装置。   A substrate transport apparatus comprising the substrate holder according to claim 1.
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