JP5682612B2 - Display device - Google Patents

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この明細書で説明する発明は、アクティブマトリクス駆動方式で駆動制御されるEL表示パネルのパネル構造に関する。なお、この明細書で提案する発明は、当該EL表示パネルを搭載する電子機器としての側面も有する。   The invention described in this specification relates to a panel structure of an EL display panel that is driven and controlled by an active matrix driving method. Note that the invention proposed in this specification also has a side surface as an electronic apparatus on which the EL display panel is mounted.

図1に、アクティブマトリクス駆動型の有機ELパネルに一般的な回路ブロック構成を示す。図1に示すように、有機ELパネル1は、画素アレイ部3と、その駆動回路である書込制御線駆動部5及び水平セレクタ7で構成される。なお、画素アレイ部3には、信号線DTLと書込制御線WSLとの各交点に画素回路9が配置される。   FIG. 1 shows a general circuit block configuration of an active matrix driving type organic EL panel. As shown in FIG. 1, the organic EL panel 1 includes a pixel array unit 3, a write control line drive unit 5 that is a drive circuit thereof, and a horizontal selector 7. In the pixel array section 3, pixel circuits 9 are arranged at intersections of the signal lines DTL and the write control lines WSL.

ところで、有機EL素子は電流発光素子である。このため、有機ELパネルでは、各画素に対応する有機EL素子に流れる電流量の制御により階調を制御する駆動方式が採用される。図2に、この種の画素回路9のうち最も単純な回路構成の一つを示す。この画素回路9は、サンプリングトランジスタT1、駆動トランジスタT2及び保持容量Csで構成される。   By the way, the organic EL element is a current light emitting element. For this reason, the organic EL panel employs a driving method in which the gradation is controlled by controlling the amount of current flowing through the organic EL element corresponding to each pixel. FIG. 2 shows one of the simplest circuit configurations of this type of pixel circuit 9. The pixel circuit 9 includes a sampling transistor T1, a drive transistor T2, and a storage capacitor Cs.

なお、サンプリングトランジスタT1は、対応画素の階調に対応する信号電圧Vsig
の保持容量Csへの書き込みを制御する薄膜トランジスタである。また、駆動トランジスタT2は、保持容量Csに保持された信号電圧Vsig に応じて定まるゲート・ソース間電圧Vgsに基づいて駆動電流Idsを有機EL素子OLEDに供給する薄膜トランジスタである。図2の場合、サンプリングトランジスタT1は、Nチャネル型薄膜トランジスタで構成され、駆動トランジスタT2は、Pチャネル型薄膜トランジスタで構成される。
The sampling transistor T1 has a signal voltage Vsig corresponding to the gradation of the corresponding pixel.
It is a thin film transistor that controls writing to the storage capacitor Cs. The drive transistor T2 is a thin film transistor that supplies the drive current Ids to the organic EL element OLED based on the gate-source voltage Vgs determined according to the signal voltage Vsig held in the holding capacitor Cs. In the case of FIG. 2, the sampling transistor T1 is composed of an N-channel thin film transistor, and the drive transistor T2 is composed of a P-channel thin film transistor.

図2の場合、駆動トランジスタT2のソース電極は、固定電位(電源電位Vcc)が印加される電源線に接続され、常に飽和領域で動作する。すなわち、駆動トランジスタT2は、信号電圧Vsig に応じた大きさの駆動電流を有機EL素子OLEDに供給する定電流源として動作する。この際、駆動電流Idsは次式で与えられる。
Ids=k・μ・(Vgs−Vth)2/2
In the case of FIG. 2, the source electrode of the drive transistor T2 is connected to a power supply line to which a fixed potential (power supply potential Vcc) is applied, and always operates in a saturation region. That is, the drive transistor T2 operates as a constant current source that supplies a drive current having a magnitude corresponding to the signal voltage Vsig to the organic EL element OLED. At this time, the drive current Ids is given by the following equation.
Ids = k · μ · (Vgs -Vth) 2/2

因みに、μは、駆動トランジスタT2の多数キャリアの移動度である。また、Vthは、駆動トランジスタT2の閾値電圧である。また、kは、(W/L)・Coxで与えられる係数である。ここで、Wはチャネル幅、Lはチャネル長、Coxは単位面積当たりのゲート容量である。   Incidentally, μ is the mobility of majority carriers of the driving transistor T2. Vth is a threshold voltage of the driving transistor T2. K is a coefficient given by (W / L) · Cox. Here, W is the channel width, L is the channel length, and Cox is the gate capacitance per unit area.

なお、この構成の画素回路の場合、図3に示す有機EL素子のI−V特性の経時変化に伴って、駆動トランジスタT2のドレイン電圧が変化する特性があることが知られている。しかし、ゲート・ソース間電圧Vgsは一定に保たれるので、有機EL素子に供給される電流量には変化が無く、発光輝度を一定に保つことができる。   In addition, it is known that the pixel circuit having this configuration has a characteristic that the drain voltage of the driving transistor T2 changes as the IV characteristic of the organic EL element shown in FIG. 3 changes with time. However, since the gate-source voltage Vgs is kept constant, there is no change in the amount of current supplied to the organic EL element, and the light emission luminance can be kept constant.

以下に、アクティブマトリクス駆動方式を採用する有機ELパネルディスプレイに関する文献を例示する。   Below, the literature regarding the organic electroluminescent panel display which employ | adopts an active matrix drive system is illustrated.

特開2003−255856号公報JP 2003-255856 A 特開2003−271095号公報JP 2003-271095 A 特開2004−133240号公報JP 2004-133240 A 特開2004−029791号公報JP 2004-029791 A 特開2004−093682号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2004-093682

ところで、薄膜プロセスの種類によっては図2に示す回路構成を採用できない場合がある。すなわち、現在の薄膜プロセスでは、Pチャネル型の薄膜トランジスタを採用できない場合がある。このような場合、駆動トランジスタT2をNチャネル型薄膜トランジスタに置き換えることになる。   Incidentally, the circuit configuration shown in FIG. 2 may not be adopted depending on the type of thin film process. That is, in the current thin film process, there are cases where a P-channel type thin film transistor cannot be employed. In such a case, the driving transistor T2 is replaced with an N-channel thin film transistor.

図4に、この種の画素回路の構成を示す。この場合、駆動トランジスタT2のソース電極は、有機EL素子OLEDの陽極(アノード)端子に接続されることになる。ただし、この画素回路の場合には、有機EL素子のI−V特性の経時変化に伴ってゲート・ソース間電圧Vgsが変動する問題がある。このゲート・ソース間電圧Vgsの変動は、駆動電流量を変化させ、発光輝度を変化させてしまう。   FIG. 4 shows the configuration of this type of pixel circuit. In this case, the source electrode of the drive transistor T2 is connected to the anode (anode) terminal of the organic EL element OLED. However, in the case of this pixel circuit, there is a problem that the gate-source voltage Vgs varies as the IV characteristic of the organic EL element changes with time. This variation in the gate-source voltage Vgs changes the amount of drive current and changes the light emission luminance.

この他、各画素回路を構成する駆動トランジスタT2の閾値及び移動度は、画素毎に異なっている。この駆動トランジスタT2の閾値や移動度の違いは、駆動電流値のバラツキとなって出現し、発光輝度が画素毎に変化する。   In addition, the threshold and mobility of the drive transistor T2 constituting each pixel circuit are different for each pixel. The difference in threshold value and mobility of the drive transistor T2 appears as variations in the drive current value, and the light emission luminance changes for each pixel.

従って、図4に示す画素回路を採用する場合には、経時変化によらず安定した発光特性の得られる駆動方法の確立が求められている。同時に、製造コストが安価なEL表示パネルの実現が求められる。   Therefore, when the pixel circuit shown in FIG. 4 is employed, it is required to establish a driving method that can obtain stable light emission characteristics regardless of changes over time. At the same time, it is required to realize an EL display panel whose manufacturing cost is low.

そこで、発明者らは、アクティブマトリクス駆動方式により発光状態が制御されるEL表示素子をマトリクス状に配置した画素アレイ部と、各書込制御線を画素アレイ部の両側から駆動する第1及び第2の書込制御線駆動部と、水平ラインの方向に沿って配線された電源線を画素アレイ部の両側から駆動する第1及び第2の電源線駆動部とを有するEL表示パネルを提案する。   Accordingly, the inventors have a pixel array unit in which EL display elements whose light emission states are controlled by an active matrix driving method are arranged in a matrix, and first and first driving each write control line from both sides of the pixel array unit. Proposed is an EL display panel having two write control line drive units and first and second power supply line drive units for driving power supply lines wired along a horizontal line direction from both sides of the pixel array unit. .

もっとも、第1及び第2の電源線駆動部のそれぞれは、第1及び第2の書込制御線駆動部と画素アレイ部との間に配置されることが望ましい。
なお、第1及び第2の電源線駆動部を構成する最終出力段に位置する出力バッファ回路は、薄膜トランジスタのチャネル長の方向が信号線と並行になるように形成されることが望ましい。
また、第1及び第2の電源線駆動部を構成する最終出力段に位置する出力バッファ回路は、薄膜トランジスタのチャネル幅が一画素の信号線方向の長さよりも大きく形成されることが望ましい。
However, it is desirable that each of the first and second power supply line driving units be disposed between the first and second write control line driving units and the pixel array unit.
Note that the output buffer circuit located in the final output stage constituting the first and second power supply line driving units is preferably formed so that the direction of the channel length of the thin film transistor is parallel to the signal line.
In addition, the output buffer circuit located in the final output stage constituting the first and second power supply line driving units is preferably formed so that the channel width of the thin film transistor is larger than the length of one pixel in the signal line direction.

これらの配置構造の採用により画素ピッチに対してバッファ回路を構成するトランジスタサイズを拡大することができる。また、電源線とトランジスタの主電極との配線距離を短くすることもできる。このため、バッファ回路の抵抗値は小さくなり、電源線電位の波形のなまりや抵抗を小さくできる。   By adopting these arrangement structures, the size of the transistor constituting the buffer circuit can be enlarged with respect to the pixel pitch. In addition, the wiring distance between the power supply line and the main electrode of the transistor can be shortened. Therefore, the resistance value of the buffer circuit is reduced, and the rounding of the waveform of the power supply line potential and the resistance can be reduced.

なお、画素アレイ部内の書込制御線と電源線は低抵抗配線であることが望ましい。例えばアルミニウム、銅、金、これら金属の合金であることが望ましい。低抵抗配線の採用により、電源線電位の波形のなまりや抵抗を小さくできる。
また、発明者らは、前述した構成のEL表示パネルを搭載した電子機器を提案する。
ここで、電子機器は、前述した構成のEL表示パネルと、システム全体の動作を制御するシステム制御部と、システム制御部に対する操作入力を受け付ける操作入力部とで構成する。
Note that it is desirable that the writing control line and the power supply line in the pixel array portion are low resistance wiring. For example, aluminum, copper, gold, or an alloy of these metals is desirable. By adopting low-resistance wiring, it is possible to reduce the rounding and resistance of the power line potential.
The inventors also propose an electronic device equipped with the EL display panel having the above-described configuration.
Here, the electronic device includes an EL display panel having the above-described configuration, a system control unit that controls the operation of the entire system, and an operation input unit that receives an operation input to the system control unit.

発明者らの提案する発明では、各画素領域のEL発光素子に電流を供給する電源線を、画素アレイ部の両側に配置された電源線駆動部により同時に駆動することができる。これにより、画素アレイ部のサイズが大型化して電源線の駆動時間が短縮される場合にも、書込制御線の波形の鈍りを小さくでき、シェーディングの発生を効果的に抑制できる。   In the invention proposed by the inventors, the power supply lines for supplying current to the EL light emitting elements in the respective pixel regions can be simultaneously driven by the power supply line driving units disposed on both sides of the pixel array unit. Thereby, even when the size of the pixel array portion is increased and the driving time of the power supply line is shortened, the dullness of the waveform of the write control line can be reduced, and the occurrence of shading can be effectively suppressed.

更に、これら一対の電源線駆動部を書込制御線駆動部よりも画素アレイ部側に配置することにより、電源線駆動部の出力端から延びる電源線の配線長を、電源線駆動部を書込制御線駆動部の外側に配置する場合に比して短くできる。   Further, by arranging these pair of power supply line drive units closer to the pixel array unit than the write control line drive unit, the power supply line drive unit can be written with the wiring length of the power supply line extending from the output end of the power supply line drive unit. This can be shortened as compared with the case where it is arranged outside the embedded control line driving unit.

また、電源線駆動部を書込制御線駆動部の内側に配置することで、電源線が他の駆動部の配線と立体的に交差する回数を低減できる。通常、交差部分の配線には、プロセスの関係から相対的に抵抗値の高い配線が用いられる。このため、立体交差部分の減少は、電源線駆動部の負荷の低減に有効である。   In addition, by arranging the power supply line drive unit inside the write control line drive unit, the number of times that the power supply line crosses three-dimensionally with the wiring of another drive unit can be reduced. In general, a wiring having a relatively high resistance value is used for the wiring at the intersection due to the process. For this reason, the reduction of the three-dimensional intersection is effective in reducing the load of the power line driver.

これにより、白表示時での電源線における電圧降下を小さくすることができる。このことは、白表示時と黒表示時との電圧降下差が縮小することを意味する。よって、クロストークのみならずシェーディングのない均一な画質を得ることができる。   Thereby, the voltage drop in the power supply line during white display can be reduced. This means that the voltage drop difference between white display and black display is reduced. Therefore, it is possible to obtain a uniform image quality without shading as well as crosstalk.

有機ELパネルのブロック構成を説明する図である。It is a figure explaining the block configuration of an organic electroluminescent panel. 画素回路と駆動回路との接続関係を説明する図である。It is a figure explaining the connection relation of a pixel circuit and a drive circuit. 有機EL素子のI−V特性の経時変化を説明する図である。It is a figure explaining the time-dependent change of the IV characteristic of an organic EL element. 他の画素回路例を示す図である。It is a figure which shows the other pixel circuit example. 有機ELパネルの外観構成例を示す図である。It is a figure which shows the external appearance structural example of an organic electroluminescent panel. 有機ELパネルのシステム構成例を示す図である。It is a figure which shows the system structural example of an organic electroluminescent panel. 画素回路と駆動回路との接続関係を説明する図である。It is a figure explaining the connection relation of a pixel circuit and a drive circuit. 形態例に係る画素回路の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the pixel circuit which concerns on the form example. 書込線の位置関係に応じて発生する電位変化の違いを説明する図である。It is a figure explaining the difference in the potential change which generate | occur | produces according to the positional relationship of a write-in line. 書込制御線駆動部と電源線駆動部の内部構成を示す図である。It is a figure which shows the internal structure of a write-control line drive part and a power supply line drive part. 図10の破線領域の断面構造を説明する図である。It is a figure explaining the cross-sectional structure of the broken-line area | region of FIG. 形態例に係る駆動動作例を示す図である。It is a figure which shows the drive operation example which concerns on an example. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. ソース電位の経時変化を示す図である。It is a figure which shows the time-dependent change of source potential. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 移動度の違いによる経時変化の違いを示す図である。It is a figure which shows the difference in a time-dependent change by the difference in mobility. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 形態例に係る有機ELパネルの他の構成例を示す図である。It is a figure which shows the other structural example of the organic electroluminescent panel which concerns on an example. 画素回路と駆動回路との接続関係を説明する図である。It is a figure explaining the connection relation of a pixel circuit and a drive circuit. 形態例に係る画素回路の構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the pixel circuit which concerns on the form example. 書込制御線駆動部と電源線駆動部の内部構成を示す図である。It is a figure which shows the internal structure of a write-control line drive part and a power supply line drive part. 表示画像例を示す図である。It is a figure which shows the example of a display image. 表示画像例を示す図である。It is a figure which shows the example of a display image. 出力バッファ回路の回路構成例を示す図である。It is a figure which shows the circuit structural example of an output buffer circuit. 出力バッファ回路の最終段を構成するインバータ回路で採用する横置き型のレイアウトパターン例を示す図である。It is a figure which shows the example of a horizontal layout pattern employ | adopted with the inverter circuit which comprises the last stage of an output buffer circuit. 出力バッファ回路の最終段を構成するインバータ回路に採用する縦置き型のレイアウトパターン例を示す図である。It is a figure which shows the example of a vertical layout pattern employ | adopted as the inverter circuit which comprises the last stage of an output buffer circuit. 画素回路と駆動回路との他の接続関係を示す図である。It is a figure which shows the other connection relation of a pixel circuit and a drive circuit. 画素回路の駆動動作例を示す図である。It is a figure which shows the drive operation example of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 画素回路の動作状態を説明する図である。It is a figure explaining the operation state of a pixel circuit. 電子機器の概念構成例を示す図である。It is a figure which shows the example of a conceptual structure of an electronic device. 電子機器の商品例を示す図である。It is a figure which shows the example of goods of an electronic device. 電子機器の商品例を示す図である。It is a figure which shows the example of goods of an electronic device. 電子機器の商品例を示す図である。It is a figure which shows the example of goods of an electronic device. 電子機器の商品例を示す図である。It is a figure which shows the example of goods of an electronic device. 電子機器の商品例を示す図である。It is a figure which shows the example of goods of an electronic device.

以下、発明を、アクティブマトリクス駆動型の有機ELパネルに適用する場合について説明する。
なお、本明細書で特に図示又は記載されない部分には、当該技術分野の周知又は公知技術を適用する。また以下に説明する形態例は、発明の一つの形態例であって、これらに限定されるものではない。
The case where the invention is applied to an active matrix driving type organic EL panel will be described below.
In addition, the well-known or well-known technique of the said technical field is applied to the part which is not illustrated or described in particular in this specification. Moreover, the form example demonstrated below is one form example of invention, Comprising: It is not limited to these.

(A)外観構成
なお、この明細書では、画素アレイ部と駆動回路とを同じ半導体プロセスを用いて同じ基板上に形成した表示パネルだけでなく、例えば特定用途向けICとして製造された駆動回路を画素アレイ部の形成された基板上に実装したものも有機ELパネルと呼ぶ。
(A) Appearance Configuration In this specification, not only a display panel in which a pixel array unit and a drive circuit are formed on the same substrate using the same semiconductor process, but also a drive circuit manufactured as an application-specific IC, for example. What is mounted on the substrate on which the pixel array portion is formed is also called an organic EL panel.

図5に、有機ELパネルの外観構成例を示す。有機ELパネル11は、支持基板13のうち画素アレイ部の形成領域に対向部15を貼り合わせた構造を有している。
対向部15は、ガラス、プラスチックフィルムその他の透明部材を基材とし、その表面に有機EL層や保護膜等を積層した構造を有している。
なお、有機ELパネル11には、外部から支持基板13に信号等を入出力するためのFPC(フレキシブルプリントサーキット)17が配置される。
FIG. 5 shows an external configuration example of the organic EL panel. The organic EL panel 11 has a structure in which the facing portion 15 is bonded to the formation region of the pixel array portion of the support substrate 13.
The facing portion 15 has a structure in which a transparent member such as glass, plastic film or the like is used as a base material, and an organic EL layer, a protective film, or the like is laminated on the surface thereof.
The organic EL panel 11 is provided with an FPC (flexible printed circuit) 17 for inputting and outputting signals and the like to the support substrate 13 from the outside.

(B)形態例1
(B−1)システム構成
以下では、駆動トランジスタT2の特性バラツキを防ぎ、かつ画素回路を構成する素子数が少なく済む有機ELパネル11のシステム構成例を示す。なお、この形態例では、画面サイズの大きい有機ELパネルを想定する。
(B) Form 1
(B-1) System Configuration An example of the system configuration of the organic EL panel 11 that prevents variation in the characteristics of the drive transistor T2 and that requires a small number of elements constituting the pixel circuit will be described below. In this embodiment, an organic EL panel having a large screen size is assumed.

図6に、有機ELパネル11のシステム構成例を示す。図6に示す有機ELパネル11は、画素アレイ部21と、その駆動回路である書込制御線駆動部23、電源線駆動部25、水平セレクタ27、タイミングジェネレータ29で構成される。   FIG. 6 shows a system configuration example of the organic EL panel 11. The organic EL panel 11 shown in FIG. 6 includes a pixel array unit 21, a write control line drive unit 23 that is a drive circuit thereof, a power supply line drive unit 25, a horizontal selector 27, and a timing generator 29.

画素アレイ部21には、信号線DTLと書込制御線WSLとの各交点位置にサブ画素を配置したマトリクス構造を有している。因みに、サブ画素は1画素を構成する画素構造の最小単位である。例えばホワイトユニットとしての1画素は有機EL材料の異なる3つのサブ画素(R、G、B)で構成される。   The pixel array unit 21 has a matrix structure in which sub-pixels are arranged at each intersection position between the signal line DTL and the write control line WSL. Incidentally, the sub-pixel is the minimum unit of the pixel structure constituting one pixel. For example, one pixel as a white unit is composed of three sub-pixels (R, G, B) made of different organic EL materials.

図7に、サブ画素に対応する画素回路31と各駆動回路との接続関係を示す。また図8に、形態例1で提案する画素回路31の内部構成を示す。図8に示す画素回路は、2つのNチャネル型の薄膜トランジスタT1、T2と1つの保持容量Csとで構成される。   FIG. 7 shows a connection relationship between the pixel circuit 31 corresponding to the sub-pixel and each driving circuit. FIG. 8 shows an internal configuration of the pixel circuit 31 proposed in the first embodiment. The pixel circuit shown in FIG. 8 includes two N-channel thin film transistors T1 and T2 and one storage capacitor Cs.

この回路構成の場合も、書込制御線駆動部23は、書込制御線WSLを通じてサンプリングトランジスタT1を開閉制御し、信号線電位の保持容量Csへの書き込みを制御するのに用いられる。因みに、書込制御線駆動部23は、垂直解像度数分の出力段数を有するシフトレジスタで構成される。   Also in this circuit configuration, the write control line drive unit 23 is used to control the opening and closing of the sampling transistor T1 through the write control line WSL and to control the writing of the signal line potential to the storage capacitor Cs. Incidentally, the write control line drive unit 23 is composed of a shift register having the number of output stages corresponding to the number of vertical resolutions.

なお、この形態例の場合、同一パルスで動作する2つの書込制御線駆動部23を画素アレイ部21の両側に配置し、1本の書込制御線WSLを画素アレイ部21の両側から同時に駆動する方式を採用する。   In the case of this embodiment, two write control line driving units 23 that operate with the same pulse are arranged on both sides of the pixel array unit 21, and one write control line WSL is simultaneously provided from both sides of the pixel array unit 21. Adopt a driving method.

有機ELパネル11の画面サイズが大きい場合、図9に示すように、書込制御線駆動部23から遠い位置での書込制御線WSLの電位変化(図9(B))は、書込制御線駆動部23に近い位置での書込制御線WSLの電位変化(図9(A))より鈍り易い。また、この波形の鈍りに起因する書込時間差は、正常な信号電位の書き込み動作を困難にし、シェーディングを発生する原因となる。   When the screen size of the organic EL panel 11 is large, as shown in FIG. 9, the potential change (FIG. 9B) of the write control line WSL at a position far from the write control line driving unit 23 is the write control. It is easier to dull than the potential change (FIG. 9A) of the write control line WSL at a position close to the line drive unit 23. Further, the writing time difference due to the dullness of the waveform makes it difficult to perform a normal signal potential writing operation and causes shading.

一方、画素アレイ部21の両側に書込制御線駆動部23を2つ配置する場合には、個々の書込制御線駆動部23が駆動する範囲が半減し、書込制御線WSLの電位変化の遅延や鈍りを最小化することができる。
なお、この形態例1の場合には、書込制御線駆動部23は、電源線駆動部25よりも画素アレイ部21の近くに配置する。
On the other hand, when two write control line drive units 23 are arranged on both sides of the pixel array unit 21, the range driven by each write control line drive unit 23 is halved, and the potential change of the write control line WSL changes. Delay and dullness can be minimized.
In the case of the first form example, the write control line drive unit 23 is disposed closer to the pixel array unit 21 than the power supply line drive unit 25.

電源線駆動部25は、電源線DSLを通じて駆動トランジスタT2の一方の主電極に接続される電源線DSLを2値的に制御し、他の駆動回路との連動動作により画素回路内の動作内容を制御するのに用いられる。ここでの動作には、有機EL素子の発光・非発光だけでなく、特性バラツキの補正動作も含まれる。この形態例の場合、特性バラツキの補正は、駆動トランジスタT2の閾値のバラツキや移動度のバラツキに基づくユニフォーマティの劣化の補正を意味する。   The power supply line driving unit 25 binary-controls the power supply line DSL connected to one main electrode of the drive transistor T2 through the power supply line DSL, and the operation content in the pixel circuit is controlled by an interlocking operation with another drive circuit. Used to control. The operation here includes not only light emission / non-light emission of the organic EL element but also a correction operation for characteristic variation. In the case of this embodiment, the correction of the characteristic variation means correction of deterioration of the uniformity based on the variation in the threshold value of the driving transistor T2 and the variation in mobility.

この形態例の場合、電源線駆動部25についても2つ用意する。そして、2つの電源線駆動部25を画素アレイ部21の両側に配置し、1本の電源線DSLを画素アレイ部21の両側から同時に駆動する。有機ELパネル11の画面サイズが大きい場合、電源線駆動部25から遠い位置の電源線DSLの電位変化が鈍りやすく、正常なタイミング制御が難しくなるためである。   In the case of this embodiment, two power supply line driving units 25 are also prepared. Two power supply line driving units 25 are arranged on both sides of the pixel array unit 21, and one power supply line DSL is simultaneously driven from both sides of the pixel array unit 21. This is because, when the screen size of the organic EL panel 11 is large, the potential change of the power supply line DSL far from the power supply line driving unit 25 is likely to become dull, and normal timing control becomes difficult.

一方、画素アレイ部21の両側に電源線駆動部25を2つ配置する場合には、個々の電源線駆動部25が駆動する範囲が半減し、電源線DSLの電位変化の遅延や鈍りを最小化することができる。
なお、この形態例1の場合には、電源線駆動部25は、書込制御線駆動部23の外側に配置する。
On the other hand, when two power supply line drive units 25 are arranged on both sides of the pixel array unit 21, the range driven by each power supply line drive unit 25 is halved, and the delay and dullness of potential change of the power supply line DSL is minimized Can be
In the case of the first form example, the power supply line drive unit 25 is disposed outside the write control line drive unit 23.

参考までに、書込制御線駆動部23と電源線駆動部25の回路構成の一例を図10に示す。図10に示すように、書込制御線駆動部23と電源線駆動部25の基本構成は同じである。
すなわち、書込制御線駆動部23は、シフトレジスタ部231、波形調整回路233、出力バッファ回路235で構成される。一方、電源線駆動部25は、シフトレジスタ部251、波形調整回路253、出力バッファ回路255で構成される。
For reference, an example of a circuit configuration of the write control line drive unit 23 and the power supply line drive unit 25 is shown in FIG. As shown in FIG. 10, the basic configuration of the write control line drive unit 23 and the power supply line drive unit 25 is the same.
That is, the write control line drive unit 23 includes a shift register unit 231, a waveform adjustment circuit 233, and an output buffer circuit 235. On the other hand, the power line driver 25 includes a shift register 251, a waveform adjustment circuit 253, and an output buffer circuit 255.

図中、網掛けで示すパターンは、各部を駆動するための電源配線である。因みに、「Vh」で示す電源配線は、シフトレジスタ部231、251と波形調整回路233、253に「Hレベル」の電源電位を供給する配線である。一方、「Vl」で示す電源配線は、シフトレジスタ部231、251と波形調整回路233、253に「Lレベル」の電源電位を供給する配線である。   In the figure, shaded patterns are power supply wirings for driving each part. Incidentally, the power supply wiring indicated by “Vh” is a wiring for supplying the “H level” power supply potential to the shift register units 231 and 251 and the waveform adjustment circuits 233 and 253. On the other hand, the power supply wiring indicated by “Vl” is a wiring for supplying the “L level” power supply potential to the shift register units 231 and 251 and the waveform adjustment circuits 233 and 253.

また、「Vcc_*(ただし、*は、ws又はds)」で示す電源配線は、波形調整回路233、253と出力バッファ回路235、255に「Hレベル」の電源電位を供給する配線である。一方、「Vss_*(ただし、*は、ws又はds)」で示す電源配線は、波形調整回路233、253と出力バッファ回路235、255に「Lレベル」の電源電位を供給する配線である。   The power supply wiring indicated by “Vcc_ * (where * is ws or ds)” is a wiring for supplying the “H level” power supply potential to the waveform adjustment circuits 233 and 253 and the output buffer circuits 235 and 255. On the other hand, the power supply wiring indicated by “Vss_ * (where * is ws or ds)” is a wiring for supplying the “L level” power supply potential to the waveform adjustment circuits 233 and 253 and the output buffer circuits 235 and 255.

ここで、シフトレジスタ部231及び251は、クロックパルスCKに基づいてサンプリングパルスSPを順次次段に転送する動作を実行するフリップフロップ段で構成され、フリップフロップ段の1段が水平ラインの一段に対応する。
また、波形調整回路233及び253は、時間軸方向のパルス幅及びパルス高さを調整する回路である。
Here, the shift register units 231 and 251 are configured by flip-flop stages that perform an operation of sequentially transferring the sampling pulse SP to the next stage based on the clock pulse CK, and one stage of the flip-flop stage is placed on one stage of the horizontal line. Correspond.
The waveform adjustment circuits 233 and 253 are circuits that adjust the pulse width and pulse height in the time axis direction.

出力バッファ回路235及び255は、それぞれ書込制御線WSLと電源線DSLをそれぞれ対応する2値の電源電位で駆動する回路デバイスである。具体的には、インバータ回路を1段以上直列に接続した回路で構成される。
なお、電源配線は、いずれも水平ラインに対して垂直に配線される。一方、電源線駆動部25が駆動する電源線DSLは、いずれも水平ラインに対して並行に配線される。
The output buffer circuits 235 and 255 are circuit devices that respectively drive the write control line WSL and the power supply line DSL with the corresponding binary power supply potential. Specifically, it is composed of a circuit in which one or more inverter circuits are connected in series.
Note that all the power supply wirings are wired perpendicular to the horizontal line. On the other hand, all the power supply lines DSL driven by the power supply line driving unit 25 are wired in parallel to the horizontal line.

このため、図11に示すように、電源線DSLは、書込制御線駆動部23内の電源配線と立体的に交差する配線構造を有している。
電源用の配線は、基本的にアルミニウムで配線される。しかし、アルミニウムは膜厚が厚くなる。このため、立体的な交差部分では、一般に膜厚が薄く済むモリブデン等の金属材料が使用される。
Therefore, as shown in FIG. 11, the power supply line DSL has a wiring structure that three-dimensionally intersects with the power supply wiring in the write control line drive unit 23.
The power supply wiring is basically made of aluminum. However, aluminum becomes thicker. For this reason, a metal material such as molybdenum, which generally requires a thin film thickness, is used at the three-dimensional intersection.

結果的に、図6に示す有機ELパネル11の場合には、電源線DSLがアルミニウムとモリブデンの混合配線として形成される。
なお、図6に示す構造の有機ELパネル11の場合、1本の電源線DSLについて画素アレイ部21の左右に2つずつ計4カ所に立体交差が形成される。
As a result, in the case of the organic EL panel 11 shown in FIG. 6, the power supply line DSL is formed as a mixed wiring of aluminum and molybdenum.
In the case of the organic EL panel 11 having the structure shown in FIG. 6, three intersections are formed at a total of four locations, one on each side of the pixel array unit 21 for one power line DSL.

水平セレクタ27は、信号線DTLに画素データDinに応じた信号電位Vsig 又は閾値補正用のオフセット電圧Vofs を印加するのに用いられる。水平セレクタ27は、水平解像度数分の出力段数を有するシフトレジスタと、各出力段に対応するラッチ回路と、D/A変換回路とで構成される。
タイミングジェネレータ29は、書込制御線WSL、電源線DSL、信号線DTLの駆動に必要なタイミングパルスを生成する回路デバイスである。
The horizontal selector 27 is used to apply a signal potential Vsig corresponding to the pixel data Din or an offset voltage Vofs for threshold correction to the signal line DTL. The horizontal selector 27 includes a shift register having the number of output stages corresponding to the number of horizontal resolutions, a latch circuit corresponding to each output stage, and a D / A conversion circuit.
The timing generator 29 is a circuit device that generates timing pulses necessary for driving the write control line WSL, the power supply line DSL, and the signal line DTL.

(B−2)駆動動作例
図12に、図8に示す画素回路の駆動動作例を示す。因みに図12では、電源線DSLに印加する2種類の電源電位のうち高電位(発光電位)の方をVccで表し、低電位(非発光電位)の方をVssで表す。
(B-2) Driving Operation Example FIG. 12 shows a driving operation example of the pixel circuit shown in FIG. In FIG. 12, of the two types of power supply potentials applied to the power supply line DSL, the higher potential (light emission potential) is represented by Vcc, and the lower potential (non-light emission potential) is represented by Vss.

まず、発光状態における画素回路内の動作状態を図13に示す。このとき、サンプリングトランジスタT1はオフ状態である。一方、駆動トランジスタT2は飽和領域で動作し、ゲート・ソース間電圧Vgsに応じて定まる電流Idsが流れる(図12(t1))。   First, an operation state in the pixel circuit in the light emission state is shown in FIG. At this time, the sampling transistor T1 is in an off state. On the other hand, the driving transistor T2 operates in the saturation region, and a current Ids determined according to the gate-source voltage Vgs flows (FIG. 12 (t1)).

次に、非発光状態の動作状態を説明する。このとき、電源線DSLの電位が高電位Vccから低電位Vssに切り換わる(図12(t2))。この際、低電位Vssが有機EL素子の閾値Vthelとカソード電位Vcathとの和より小さいとき、つまりVss<Vthel+Vcathであれば有機EL素子は消灯する。   Next, the operation state in the non-light emitting state will be described. At this time, the potential of the power supply line DSL is switched from the high potential Vcc to the low potential Vss (FIG. 12 (t2)). At this time, if the low potential Vss is smaller than the sum of the threshold value Vthel of the organic EL element and the cathode potential Vcath, that is, if Vss <Vthel + Vcath, the organic EL element is turned off.

なお、駆動トランジスタT2のソース電位Vsは電源線DSLの電位と同じになる。すなわち、有機EL素子のアノード電極は低電位Vssに充電される。図14に、画素回路内の動作状態を示す。図14に破線で示すように、この際、保持容量Csに保持されていた電荷は電源線DSLへ引き出される。   Note that the source potential Vs of the drive transistor T2 is the same as the potential of the power supply line DSL. That is, the anode electrode of the organic EL element is charged to the low potential Vss. FIG. 14 shows an operation state in the pixel circuit. At this time, as indicated by a broken line in FIG. 14, the charge held in the storage capacitor Cs is drawn out to the power supply line DSL.

この後、信号線DTLの電位が閾値補正用のオフセット電位Vofs に遷移した状態で、書込制御線WSLが高電位に変化すると、オン動作したサンプリングトランジスタT1を通じて駆動トランジスタT2のゲート電位がオフセット電位Vofs に変化する(図12(t3))。   Thereafter, when the write control line WSL changes to a high potential while the potential of the signal line DTL has transitioned to the offset potential Vofs for threshold correction, the gate potential of the drive transistor T2 is offset through the sampling transistor T1 that has been turned on. It changes to Vofs (FIG. 12 (t3)).

図15に、この場合における画素回路内の動作状態を示す。この際、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧VgsはVofs −Vssで与えられる。この電圧は、駆動トランジスタT2の閾値電圧Vthよりも大きくなるように設定される。Vofs −Vss>Vthを満たさなければ閾値補正動作を実行できないためである。   FIG. 15 shows an operation state in the pixel circuit in this case. At this time, the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 is given by Vofs−Vss. This voltage is set to be larger than the threshold voltage Vth of the driving transistor T2. This is because the threshold value correcting operation cannot be executed unless Vofs−Vss> Vth is satisfied.

次に、電源線DSLの電源電位が再び高電位Vccに切り換えられる(図12(t4))。電源線DSLの電源電位が高電位Vccに変化することで、有機EL素子OLEDのアノード電位Velが駆動トランジスタT2のソース電位Vsとなる。   Next, the power supply potential of the power supply line DSL is switched again to the high potential Vcc (FIG. 12 (t4)). By changing the power supply potential of the power supply line DSL to the high potential Vcc, the anode potential Vel of the organic EL element OLED becomes the source potential Vs of the drive transistor T2.

図16では、有機EL素子OLEDを等価回路で示す。すなわち、ダイオードと寄生容量Celで示す。このとき、Vel≦Vcat +Vthelの関係を満たす限り(ただし、有機EL素子のリーク電流は駆動トランジスタT2に流れる駆動電流Idsよりかなり小さいと考える。)、駆動トランジスタT2に流れる駆動電流Idsは、保持容量Csと寄生容量Celを充電するのに使用される。   In FIG. 16, the organic EL element OLED is shown by an equivalent circuit. That is, it is represented by a diode and a parasitic capacitance Cel. At this time, as long as the relationship of Vel ≦ Vcat + Vthel is satisfied (however, the leakage current of the organic EL element is considered to be considerably smaller than the driving current Ids flowing through the driving transistor T2), the driving current Ids flowing through the driving transistor T2 is equal to the storage capacitor. Used to charge Cs and parasitic capacitance Cel.

結果的に、有機EL素子OLEDのアノード電位Velは、図17に示すように、時間の経過と共に上昇する。すなわち、駆動トランジスタT2のゲート電位はオフセット電位Vofs に固定した状態のまま、駆動トランジスタT2のソース電位Vsが上昇を開始する。この動作が閾値補正動作である。   As a result, the anode potential Vel of the organic EL element OLED increases with time as shown in FIG. That is, the source potential Vs of the drive transistor T2 starts to rise while the gate potential of the drive transistor T2 is fixed to the offset potential Vofs. This operation is a threshold correction operation.

やがて、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは閾値電圧Vthに収束する。このとき、Vel=Vofs −Vth≦Vcat +Vthelを満たしている。
閾値補正期間が終了すると、サンプリングトランジスタT1が再びオフ制御される(図12(t5))。
Eventually, the gate-source voltage Vgs of the drive transistor T2 converges to the threshold voltage Vth. At this time, Vel = Vofs−Vth ≦ Vcat + Vthel is satisfied.
When the threshold correction period ends, the sampling transistor T1 is turned off again (t5 in FIG. 12).

この後、信号線DTLの電位が信号電位Vsig に遷移するのに必要なタイミング以降に、サンプリングトランジスタT1は再びオン状態に制御される(図12(t6))。図18に、この場合における画素回路内の動作状態を示す。信号電位Vsig は、対応画素の階調値に応じて与えられる電位である。
この際、駆動トランジスタT2のゲート電位Vgは、信号電位Vsig に遷移する。一方、駆動トランジスタT2のソース電位Vsは、電源線DSLから保持容量Csへと流れ込む電流により時間と共に上昇する。
Thereafter, the sampling transistor T1 is again turned on after the timing necessary for the potential of the signal line DTL to transition to the signal potential Vsig (FIG. 12 (t6)). FIG. 18 shows an operation state in the pixel circuit in this case. The signal potential Vsig is a potential given according to the gradation value of the corresponding pixel.
At this time, the gate potential Vg of the driving transistor T2 transitions to the signal potential Vsig. On the other hand, the source potential Vs of the drive transistor T2 rises with time due to the current flowing from the power supply line DSL to the storage capacitor Cs.

この時、駆動トランジスタT2のソース電位Vsが有機EL素子の閾値電圧Vthelとカソード電圧Vcat の和を越えなければ(有機EL素子のリーク電流が駆動トランジスタT2に流れる電流よりもかなり小さければ)、駆動トランジスタT2により供給される駆動電流Idsは、保持容量Csと寄生容量Celを充電するのに使用される。   At this time, if the source potential Vs of the driving transistor T2 does not exceed the sum of the threshold voltage Vthel and the cathode voltage Vcat of the organic EL element (if the leakage current of the organic EL element is considerably smaller than the current flowing through the driving transistor T2), driving is performed. The drive current Ids supplied by the transistor T2 is used to charge the storage capacitor Cs and the parasitic capacitor Cel.

なお、駆動トランジスタT2の閾値補正動作は既に完了しているので、駆動トランジスタT2が流す駆動電流Idsは、駆動トランジスタT2の移動度μを反映した値になる。具体的には、移動度μが大きい駆動トランジスタほど大きな駆動電流Idsが流れ、ソース電位Vsの上昇も早くなる。逆に移動度μが小さい駆動トランジスタほど小さな駆動電流Idsが流れ、ソース電位Vsの上昇は遅くなる(図19)。   Since the threshold correction operation of the drive transistor T2 has already been completed, the drive current Ids that the drive transistor T2 flows becomes a value that reflects the mobility μ of the drive transistor T2. Specifically, a drive transistor having a higher mobility μ flows a larger drive current Ids, and the source potential Vs rises faster. Conversely, a drive transistor having a smaller mobility μ causes a smaller drive current Ids to flow, and the increase in the source potential Vs becomes slower (FIG. 19).

結果的に、保持容量Csの保持電圧は、駆動トランジスタT2の移動度μに応じて補正される。すなわち、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは、移動度μを補正した電圧へと変化する。   As a result, the holding voltage of the holding capacitor Cs is corrected according to the mobility μ of the driving transistor T2. That is, the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 changes to a voltage in which the mobility μ is corrected.

最後に、サンプリングトランジスタT1がオフ制御されて信号電位の書き込みが終了す
ると、有機EL素子OLEDの発光期間が開始する(図12(t7))。図20に、この場合における画素回路内の動作状態を示す。なお、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは一定である。従って、駆動トランジスタT2は一定の電流Ids’を有機EL素子に供給する。
Finally, when the sampling transistor T1 is turned off and the writing of the signal potential is completed, the light emission period of the organic EL element OLED starts (FIG. 12 (t7)). FIG. 20 shows an operation state in the pixel circuit in this case. Note that the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 is constant. Accordingly, the drive transistor T2 supplies a constant current Ids ′ to the organic EL element.

これに伴い、有機EL素子のアノード電位Velは、有機EL素子に電流Ids’を流す電位Vx まで上昇する。これにより、有機EL素子による発光が開始される。
ところで、この形態例で提案する駆動回路の場合も、発光時間が長くなると、有機EL素子OLEDのI−V特性が変化する。
Along with this, the anode potential Vel of the organic EL element rises to a potential Vx that causes the current Ids ′ to flow through the organic EL element. Thereby, light emission by the organic EL element is started.
By the way, also in the case of the drive circuit proposed in this embodiment, the IV characteristic of the organic EL element OLED changes as the light emission time becomes longer.

すなわち、駆動トランジスタT2のソース電位Vsも変化する。しかし、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは、保持容量Csにより一定に保たれるので有機EL素子OLEDに流れる電流量は変化せずに済む。このように、この形態例で提案する画素回路と駆動方式を採用すれば、有機EL素子OLEDのI−V特性の変化にかかわらず、信号電位Vsig に応じた駆動電流Idsを常に流し続けることができる。これにより、有機EL素子OLEDの発光輝度を信号電位Vsig に応じた輝度に保ち続けることができる。   That is, the source potential Vs of the drive transistor T2 also changes. However, since the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 is kept constant by the storage capacitor Cs, the amount of current flowing through the organic EL element OLED does not change. As described above, when the pixel circuit and the driving method proposed in this embodiment are employed, the driving current Ids corresponding to the signal potential Vsig can be continuously supplied regardless of the change in the IV characteristic of the organic EL element OLED. it can. Thereby, the light emission luminance of the organic EL element OLED can be kept at the luminance according to the signal potential Vsig.

(B−3)まとめ
以上の通り、この形態例で説明した画素回路と駆動方式の採用により、駆動トランジスタT2をNチャネル型薄膜トランジスタで構成する場合にも、画素毎に輝度バラツキのない有機ELパネルを実現することができる。
(B-3) Summary As described above, by adopting the pixel circuit and driving method described in this embodiment, even when the driving transistor T2 is composed of an N-channel thin film transistor, the organic EL panel has no luminance variation for each pixel. Can be realized.

また、この形態例の場合、画素アレイ部21の両側に書込制御線駆動部23及び電源線駆動部25をそれぞれ配置し、各書込制御線WSL及び電源線DSLを両側から同時に駆動制御することができる。
このため、画素アレイ部21のサイズが大型化して電源線DSLの駆動時間が短縮される場合にも、書込制御線WSLの波形の鈍りを小さくでき、シェーディングの発生を効果的に抑制できる。
In the case of this embodiment, the write control line drive unit 23 and the power supply line drive unit 25 are arranged on both sides of the pixel array unit 21, respectively, and the write control line WSL and the power supply line DSL are simultaneously driven and controlled from both sides. be able to.
For this reason, even when the size of the pixel array unit 21 is increased and the driving time of the power supply line DSL is shortened, the waveform dullness of the write control line WSL can be reduced, and the occurrence of shading can be effectively suppressed.

また、電源線DSLを画面の片方から駆動する場合には画面の両端での電圧差が大きくならざるを得ないが、画面の両側から駆動することで電源線DSL上での電圧差を小さくすることができる。特に、有機EL素子は電流駆動素子であるため、電源線DSLの電圧差は駆動電流(発光輝度)の違いに直結する。このため、電圧差を小さくできることで、白表示時における電圧降下の影響(すなわち、クロストーク)を小さくすることができる。   In addition, when the power line DSL is driven from one side of the screen, the voltage difference between both ends of the screen must be increased, but by driving from both sides of the screen, the voltage difference on the power line DSL is reduced. be able to. In particular, since the organic EL element is a current driving element, the voltage difference of the power supply line DSL is directly connected to the difference in driving current (light emission luminance). For this reason, since the voltage difference can be reduced, the influence of the voltage drop during white display (that is, crosstalk) can be reduced.

以上のように、この形態例の採用により、Nチャネル型薄膜トランジスタだけを用いながらも、経時変化によらず安定した発光特性を得ることができ、かつ、同時に画面内の表示品質の低下が知覚され難い有機ELパネルを実現できる。   As described above, by adopting this embodiment, it is possible to obtain stable light emission characteristics regardless of changes over time while using only an N-channel thin film transistor, and at the same time, a decrease in display quality within the screen is perceived. Difficult organic EL panel can be realized.

(C)形態例2
(C−1)システム構成
以下では、画面サイズの大きい有機ELパネルの表示品質をより高めることが可能なパネル構造について説明する。
(C) Form example 2
(C-1) System Configuration Hereinafter, a panel structure that can further improve the display quality of an organic EL panel having a large screen size will be described.

図21に、有機ELパネル11のシステム構成例を示す。なお、図21には、図6との対応部分に同一符号を付して示している。図21に示すように、基本的なシステム構成は同じである。すなわち、図21に示す有機ELパネル11も、画素アレイ部21と、その駆動回路である書込制御線駆動部23、電源線駆動部41、水平セレクタ27、タイミングジェネレータ29で構成される。   FIG. 21 shows a system configuration example of the organic EL panel 11. In FIG. 21, the same reference numerals are given to the corresponding parts to FIG. 6. As shown in FIG. 21, the basic system configuration is the same. That is, the organic EL panel 11 shown in FIG. 21 also includes a pixel array unit 21, a write control line drive unit 23 that is a drive circuit thereof, a power supply line drive unit 41, a horizontal selector 27, and a timing generator 29.

違いは、書込制御線駆動部23と電源線駆動部41のパネル内の位置関係である。
まず、この形態例では、電源線駆動部41と書込制御線駆動部23の位置関係を入れ替えている。すなわち、電源線駆動部41を書込制御線駆動部23よりも画素アレイ部側に配置する。
The difference is the positional relationship between the write control line driving unit 23 and the power supply line driving unit 41 in the panel.
First, in this embodiment, the positional relationship between the power supply line drive unit 41 and the write control line drive unit 23 is switched. That is, the power supply line drive unit 41 is disposed closer to the pixel array unit than the write control line drive unit 23.

また、この形態例では、電源線駆動部41を構成する出力バッファ回路を大型化し、バッファ部分の抵抗値を低減する。
図22に、サブ画素に対応する画素回路31と各駆動回路との接続関係を示す。また図23に画素回路31の内部構成を示す。
In this embodiment, the output buffer circuit constituting the power supply line drive unit 41 is enlarged, and the resistance value of the buffer portion is reduced.
FIG. 22 shows a connection relationship between the pixel circuit 31 corresponding to the sub-pixel and each driving circuit. FIG. 23 shows an internal configuration of the pixel circuit 31.

更に、図24に、書込制御線駆動部23と電源線駆動部41の配線関係を示す。図24に示すように、今度は、書込制御線駆動部23が駆動制御する書込制御線WSLが混合配線となり、電源線駆動部41に駆動電源を供給する電源配線の部分で立体交差する。
一方、電源線DSLは、形態例1よりも駆動電源との立体交差の回数が少なくなるので低抵抗金属だけで構成することができる。この形態例の場合、電源線DSLはアルミニウムで構成する。
Further, FIG. 24 shows a wiring relationship between the write control line drive unit 23 and the power supply line drive unit 41. As shown in FIG. 24, this time, the write control line WSL that is driven and controlled by the write control line drive unit 23 becomes a mixed wiring, and three-dimensionally intersects at the portion of the power supply wiring that supplies the drive power to the power supply line drive unit 41 .
On the other hand, the power supply line DSL can be composed of only a low resistance metal because the number of three-dimensional intersections with the drive power supply is smaller than in the first embodiment. In the case of this embodiment, the power supply line DSL is made of aluminum.

しかも、駆動部の位置関係を入れ替えたことにより、電源線DSLの配線長は、形態例1よりも短くなっている。このため、電源線DSLの配線抵抗は形態例1よりも小さくなる。従って、この形態例で提案するパネル構造の場合、形態例1よりもクロストークやシェーディングが視認される可能性を低下させることができる。   In addition, the wiring length of the power supply line DSL is shorter than that of the first embodiment by exchanging the positional relationship of the driving units. For this reason, the wiring resistance of the power supply line DSL is smaller than that of the first embodiment. Therefore, in the case of the panel structure proposed in this embodiment, the possibility that crosstalk and shading are visually recognized can be reduced as compared with Embodiment 1.

一方、形態例2の場合には、書込制御線WSLの抵抗値が形態例1の場合よりも高くなる。結果的に、水平ライン上での書込時間差の最大値は形態例1より拡大する。
しかし、書込時間差の違いを原因とするシェーディングは、輝度差が20%程度にならないと視認されることはない。従って、書込制御線駆動部23を電源線駆動部41の外側に配置しても、書込時間差の問題は両側駆動により抑制することができる。
On the other hand, in the second embodiment, the resistance value of the write control line WSL is higher than that in the first embodiment. As a result, the maximum value of the writing time difference on the horizontal line is larger than that in the first embodiment.
However, shading caused by the difference in writing time is not visually recognized unless the luminance difference is about 20%. Therefore, even if the write control line drive unit 23 is arranged outside the power supply line drive unit 41, the problem of the write time difference can be suppressed by the both-side drive.

これに対して、電源線DSLの電圧降下を原因とするクロストークは、輝度差が1%程度でも視認されてしまう。このため、形態例2のように電源線DSLの配線抵抗を小さくできることの技術的な効果は大きい。   On the other hand, the crosstalk caused by the voltage drop of the power supply line DSL is visually recognized even when the luminance difference is about 1%. For this reason, the technical effect of reducing the wiring resistance of the power supply line DSL as in the second embodiment is great.

ところで、各画素回路内の駆動トランジスタT2は飽和領域で動作する。このため、配線抵抗は小さくも、アーリ効果の影響は依然として存在する。
このため、図25に示す類の画像が有機ELパネル11に入力される場合、白表示ラインの電源ラインの電圧降下と黒ウィンドウ表示ラインの電源ラインの電圧降下との間に電位差が発生してしまう。
Incidentally, the drive transistor T2 in each pixel circuit operates in a saturation region. For this reason, even if the wiring resistance is small, the influence of the Early effect still exists.
For this reason, when an image of the kind shown in FIG. 25 is input to the organic EL panel 11, a potential difference is generated between the voltage drop of the power line of the white display line and the voltage drop of the power line of the black window display line. End up.

この電位差が輝度差の1%以上になると、クロストークが視認されてしまう。
ところで、クロストークの発生は、表示ライン(水平ライン)の電源電圧降下量の差分に依存する。すなわち、クロストークの発生は、電源線DSLの部分だけでなく、出力バッファ回路257の出力抵抗値も大きく影響する。
When this potential difference is 1% or more of the luminance difference, crosstalk is visually recognized.
Incidentally, the occurrence of crosstalk depends on the difference in the amount of power supply voltage drop in the display line (horizontal line). That is, the occurrence of crosstalk greatly affects not only the power supply line DSL portion but also the output resistance value of the output buffer circuit 257.

例えば電源線DSLの配線抵抗が小さくても出力バッファ回路257の出力抵抗値が大きければ黒ウィンドウの表示時に、図26に示すように白表示ラインの輝度がその電圧降下によって暗くなり、クロストークとして視認されてしまう。
そこで、この形態例では、出力バッファ回路257の出力抵抗値を低減した電源線駆動部41を提案する。
For example, if the output resistance value of the output buffer circuit 257 is large even if the wiring resistance of the power supply line DSL is small, the brightness of the white display line becomes dark due to the voltage drop as shown in FIG. It will be visually recognized.
Therefore, in this embodiment, a power supply line drive unit 41 in which the output resistance value of the output buffer circuit 257 is reduced is proposed.

一例として図27に、電源線駆動部41を構成する出力バッファ回路257の等価回路を示す。図27に示すように、出力バッファ回路257は、CMOSインバータ回路の2段接続で構成されているものとする。
図28に、出力バッファ回路257の最終段を構成するCMOSインバータ回路の平面構造を示す。
As an example, FIG. 27 shows an equivalent circuit of the output buffer circuit 257 constituting the power line driver 41. As shown in FIG. 27, the output buffer circuit 257 is configured by two-stage connection of CMOS inverter circuits.
FIG. 28 shows a planar structure of a CMOS inverter circuit constituting the final stage of the output buffer circuit 257.

図中、破線で囲まれた領域がPチャネル型薄膜トランジスタとNチャネル型薄膜トランジスタにそれぞれ対応する。図に示すように、Pチャネル型薄膜トランジスタのサイズは、Nチャネル型薄膜トランジスタのサイズより大きくなるように形成する。具体的には、1.5倍以上、望ましくは10倍程度に形成する。これは、電源配線Vccからの配線抵抗を小さくするためである。   In the drawing, regions surrounded by broken lines correspond to P-channel thin film transistors and N-channel thin film transistors, respectively. As shown in the figure, the size of the P-channel thin film transistor is formed to be larger than the size of the N-channel thin film transistor. Specifically, it is formed to be 1.5 times or more, preferably about 10 times. This is to reduce the wiring resistance from the power supply wiring Vcc.

ただし、Pチャネル型薄膜トランジスタのサイズの拡大は、事実上、画素ピッチの制限を受ける。しかも、解像度が高くなるほど画素ピッチは小さくなる。従って、限られたレイアウトの中で、Pチャネル型薄膜トランジスタのサイズを拡大する工夫が必要となる。
一般に、出力バッファ回路257の出力抵抗を小さくするには、Pチャネル型薄膜トランジスタのチャネル幅を大きくする必要がある。
However, the increase in the size of the P-channel thin film transistor is practically limited by the pixel pitch. Moreover, the pixel pitch decreases as the resolution increases. Therefore, it is necessary to devise a method for increasing the size of the P-channel type thin film transistor in a limited layout.
In general, in order to reduce the output resistance of the output buffer circuit 257, it is necessary to increase the channel width of the P-channel thin film transistor.

そこで、最後段のCMOSインバータ回路を図28に示すように横置き型に形成する。すなわち、Pチャネル型薄膜トランジスタのチャネル長の方向が信号線と並行になるように(水平ライン方向と直交するように)形成する。この際、望ましくは、チャネル幅が1画素の信号線方向の長さよりも大きくなるように形成する。この構造の採用により、多くの電流を流すことが可能になり、その分、出力抵抗を小さくすることができる。   Therefore, the last-stage CMOS inverter circuit is formed horizontally as shown in FIG. That is, the channel length direction of the P-channel thin film transistor is formed so as to be parallel to the signal line (perpendicular to the horizontal line direction). At this time, it is desirable that the channel width be larger than the length of one pixel in the signal line direction. By adopting this structure, it becomes possible to flow a large amount of current, and the output resistance can be reduced accordingly.

また、この横置き型のレイアウトは、図29に示す縦置き型のレイアウトに比してチャネルと電源配線Vccとの距離を短くできる利点もある。ここでの距離は、電源配線Vccと図28及び図29に示すA点までの長さで与えられる。
明らかに、横置き型のレイアウトの方が、電源配線Vccとチャネルの長さを短くすることができる。
Further, this horizontal layout has an advantage that the distance between the channel and the power supply wiring Vcc can be shortened as compared with the vertical layout shown in FIG. The distance here is given by the length from the power supply wiring Vcc to the point A shown in FIGS.
Obviously, the horizontal layout can reduce the length of the power supply wiring Vcc and the channel.

(C−2)まとめ
以上説明したように、この形態例では、電源線駆動部41を書込制御線駆動部23よりも画素アレイ部21寄りに形成することで、電源線DSLの配線長の短縮化と配線構造の簡略化(立体交差の削減)とを実現し、配線抵抗を小さくすることができる。
(C-2) Summary As described above, in this embodiment, the power supply line drive unit 41 is formed closer to the pixel array unit 21 than the write control line drive unit 23, thereby reducing the wiring length of the power supply line DSL. Shortening and simplification of the wiring structure (reduction of three-dimensional intersection) can be realized, and the wiring resistance can be reduced.

加えて、電源線駆動部41の出力バッファ回路257の最終段を構成するインバータ回路のPチャネル型薄膜トランジスタのチャネル方向が信号線DTLと平行になるように形成する(横置きのレイアウトを採用する)ことで、出力バッファ回路257内の配線抵抗を小さくすることができる。   In addition, the channel direction of the P-channel type thin film transistor of the inverter circuit constituting the final stage of the output buffer circuit 257 of the power supply line drive unit 41 is formed so as to be parallel to the signal line DTL (adopting a horizontal layout). As a result, the wiring resistance in the output buffer circuit 257 can be reduced.

結果的に、電源線DSLの配線抵抗を、出力バッファ回路257の出力段を含めて全体的に小さくできる。従って、アーリ効果の影響を考慮しても、電源線DSL上における電源電圧降下の差を形態例1より小さくすることができ、クロストークが一段と視認され難い有機ELパネル11を実現することができる。   As a result, the wiring resistance of the power supply line DSL can be reduced as a whole including the output stage of the output buffer circuit 257. Therefore, even if the influence of the Early effect is taken into consideration, the difference in the power supply voltage drop on the power supply line DSL can be made smaller than that in the first embodiment, and the organic EL panel 11 in which the crosstalk is hardly visually recognized can be realized. .

すなわち、原理的に高画質が期待できる有機ELパネル11を実現することができる。 しかも、出力バッファ回路257のチャネル方向を信号線の方向と平行に形成している。従って、有機ELパネル11の狭額縁化も実現できる。   That is, it is possible to realize the organic EL panel 11 that can expect high image quality in principle. In addition, the channel direction of the output buffer circuit 257 is formed in parallel with the direction of the signal line. Accordingly, it is possible to realize a narrow frame of the organic EL panel 11.

(D)他の形態例
(D−1)電源線DSLの配線材料
前述した形態例2の場合には、電源線DSLがアルミニウムで形成される場合について説明した。
しかし、形態例2の電源線DSLには、アルミニウム、銅、金これらの合金を用いても良い。これらの配線材料の配線抵抗値は、いずれもモリブデンより低くできる。従って、電源線DSLの低抵抗化に有利である。
(D) Other Embodiment (D-1) Wiring Material of Power Supply Line DSL In the case of the above-described Embodiment 2, the case where the power supply line DSL is formed of aluminum has been described.
However, aluminum, copper, gold, or an alloy thereof may be used for the power supply line DSL of the second embodiment. The wiring resistance value of these wiring materials can be lower than that of molybdenum. Therefore, it is advantageous for reducing the resistance of the power supply line DSL.

(D−2)他の画素回路例
前述した形態例の場合には、画素回路31が2つの薄膜トランジスタで構成される場合について説明した。このため、閾値補正用の基準電圧(以下、「オフセット電圧」という。)Vofs は、信号線DTLを通じて印加する駆動方式を採用した。
(D-2) Other Pixel Circuit Examples In the case of the above-described embodiment, the case where the pixel circuit 31 includes two thin film transistors has been described. For this reason, a threshold voltage correction reference voltage (hereinafter referred to as “offset voltage”) Vofs is applied through a signal line DTL.

しかし、オフセット電圧Vofs の印加タイミングの制御専用にトランジスタを配置しても良い。
図30に、変形例に対応する画素回路51の構成例を示す。画素回路51の場合、第2のサンプリングトランジスタT3を配置する。第2のサンプリングトランジスタT3の一方の主電極は駆動トランジスタT2のゲート電極と接続され、他方の主電極はオフセット電圧Vofs が固定的に供給されるオフセット線OFSLに接続される。
However, a transistor may be arranged exclusively for controlling the application timing of the offset voltage Vofs.
FIG. 30 shows a configuration example of the pixel circuit 51 corresponding to the modification. In the case of the pixel circuit 51, the second sampling transistor T3 is disposed. One main electrode of the second sampling transistor T3 is connected to the gate electrode of the drive transistor T2, and the other main electrode is connected to an offset line OFSL to which an offset voltage Vofs is fixedly supplied.

なお、第2のサンプリングトランジスタT3のオンオフ制御は、オフセット線駆動部53により制御される。
また、この例の場合、信号線DTLには、各画素に対応する信号電位Vsig のみが印加される。因みに、図30に示すオフセット線駆動部53と書込制御線駆動部23との位置関係は入れ替わっても良い。
The on / off control of the second sampling transistor T3 is controlled by the offset line driving unit 53.
In this example, only the signal potential Vsig corresponding to each pixel is applied to the signal line DTL. Incidentally, the positional relationship between the offset line drive unit 53 and the write control line drive unit 23 shown in FIG. 30 may be interchanged.

図31に、図30で説明した画素回路の駆動動作例を示す。因みに図31では、電源線DSLに印加する2種類の電源電位のうち高電位(発光電位)の方をVccで表し、低電位(非発光電位)の方をVssで表している。   FIG. 31 shows an example of driving operation of the pixel circuit described in FIG. In FIG. 31, of the two types of power supply potentials applied to the power supply line DSL, the higher potential (light emission potential) is represented by Vcc, and the lower potential (non-light emission potential) is represented by Vss.

まず、発光状態における画素回路内の動作状態を図32に示す。このとき、サンプリングトランジスタT1はオフ状態である。一方、駆動トランジスタT2は飽和領域で動作し、ゲート・ソース間電圧Vgsに応じて定まる電流Idsが流れる(図31(t1))。   First, FIG. 32 shows an operation state in the pixel circuit in the light emission state. At this time, the sampling transistor T1 is in an off state. On the other hand, the drive transistor T2 operates in the saturation region, and a current Ids determined according to the gate-source voltage Vgs flows (FIG. 31 (t1)).

次に、非発光状態の動作状態を説明する。このとき、電源線DSLの電位が高電位Vccから低電位Vssに切り換わる(図31(t2))。この際、低電位Vssが有機EL素子の閾値Vthelとカソード電位Vcathとの和より小さいとき、つまりVss<Vthel+Vcathであれば有機EL素子OLEDは消灯する。   Next, the operation state in the non-light emitting state will be described. At this time, the potential of the power supply line DSL is switched from the high potential Vcc to the low potential Vss (FIG. 31 (t2)). At this time, if the low potential Vss is smaller than the sum of the threshold value Vthel of the organic EL element and the cathode potential Vcath, that is, if Vss <Vthel + Vcath, the organic EL element OLED is turned off.

なお、駆動トランジスタT2のソース電位Vsは電源線DSLの電位と同じになる。すなわち、有機EL素子のアノード電極は低電位Vssに充電される。図33に、画素回路内の動作状態を示す。図33に破線で示すように、この際、保持容量Csに保持されていた電荷は電源線DSLへ引き出される。   Note that the source potential Vs of the drive transistor T2 is the same as the potential of the power supply line DSL. That is, the anode electrode of the organic EL element is charged to the low potential Vss. FIG. 33 shows an operation state in the pixel circuit. At this time, as indicated by a broken line in FIG. 33, the charge held in the storage capacitor Cs is drawn out to the power supply line DSL.

この後、オフセット線駆動部53により、第2のサンプリングトランジスタT3がオン制御される。これにより、駆動トランジスタT2のゲート電位はオフセット電位Vofs に変化する(図31(t3))。   Thereafter, the second sampling transistor T3 is turned on by the offset line driving unit 53. As a result, the gate potential of the driving transistor T2 changes to the offset potential Vofs (FIG. 31 (t3)).

図34に、この場合における画素回路内の動作状態を示す。この際、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧VgsはVofs −Vssで与えられる。この電圧は、駆動トランジスタT2の閾値電圧Vthよりも大きくなるように設定される。Vofs −Vss>Vthを満たさなければ閾値補正動作を実行できないためである。   FIG. 34 shows an operation state in the pixel circuit in this case. At this time, the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 is given by Vofs−Vss. This voltage is set to be larger than the threshold voltage Vth of the driving transistor T2. This is because the threshold value correcting operation cannot be executed unless Vofs−Vss> Vth is satisfied.

次に、電源線DSLの電源電位が再び高電位Vccに切り換えられる(図31(t4))。電源線DSLの電源電位が高電位Vccに変化することで、有機EL素子OLEDのアノード電位が駆動トランジスタT2のソース電位Vsで与えられる。   Next, the power supply potential of the power supply line DSL is switched again to the high potential Vcc (FIG. 31 (t4)). By changing the power supply potential of the power supply line DSL to the high potential Vcc, the anode potential of the organic EL element OLED is given by the source potential Vs of the drive transistor T2.

図35では、有機EL素子OLEDを等価回路で示す。すなわち、ダイオードと寄生容量Celで示す。このとき、Vel≦Vcat +Vthelの関係を満たす限り(ただし、有機EL素子のリーク電流は駆動トランジスタT2に流れる駆動電流Idsよりかなり小さいと考える。)、駆動トランジスタT2に流れる駆動電流Idsは、保持容量Csと寄生容量Celを充電するのに使用される。   In FIG. 35, the organic EL element OLED is shown by an equivalent circuit. That is, it is represented by a diode and a parasitic capacitance Cel. At this time, as long as the relationship of Vel ≦ Vcat + Vthel is satisfied (however, the leakage current of the organic EL element is considered to be considerably smaller than the driving current Ids flowing through the driving transistor T2), the driving current Ids flowing through the driving transistor T2 is equal to the storage capacitor. Used to charge Cs and parasitic capacitance Cel.

結果的に、有機EL素子OLEDのアノード電圧Velは、時間の経過と共に上昇する。すなわち、駆動トランジスタT2のゲート電位はオフセット電位Vofs に固定した状態のまま、駆動トランジスタT2のソース電位Vsが上昇を開始する。   As a result, the anode voltage Vel of the organic EL element OLED increases with time. That is, the source potential Vs of the drive transistor T2 starts to rise while the gate potential of the drive transistor T2 is fixed to the offset potential Vofs.

やがて、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは閾値電圧Vthに収束する。このとき、Vel=Vofs −Vth≦Vcat +Vthelを満たしている。
閾値補正期間が終了すると、第2のサンプリングトランジスタT3が再びオフ制御される(図31(t5))。図36に、この場合における画素回路内の動作状態を示す。
Eventually, the gate-source voltage Vgs of the drive transistor T2 converges to the threshold voltage Vth. At this time, Vel = Vofs−Vth ≦ Vcat + Vthel is satisfied.
When the threshold correction period ends, the second sampling transistor T3 is turned off again (FIG. 31 (t5)). FIG. 36 shows an operation state in the pixel circuit in this case.

この後、信号線DTLの電位が信号電位Vsig に遷移するのに必要なタイミング以降に、第1のサンプリングトランジスタT1がオン状態に制御される(図31(t6))。図37に、この場合における画素回路内の動作状態を示す。信号電位Vsig は、対応画素の階調値に応じて与えられる電位である。
この際、駆動トランジスタT2のゲート電位Vgは、信号電位Vsig に遷移する。一方、駆動トランジスタT2のソース電位Vsは、電源線DSLから保持容量Csへと流れ込む電流により時間と共に上昇する。
Thereafter, after the timing necessary for the potential of the signal line DTL to transition to the signal potential Vsig, the first sampling transistor T1 is controlled to be in an on state (FIG. 31 (t6)). FIG. 37 shows an operation state in the pixel circuit in this case. The signal potential Vsig is a potential given according to the gradation value of the corresponding pixel.
At this time, the gate potential Vg of the driving transistor T2 transitions to the signal potential Vsig. On the other hand, the source potential Vs of the drive transistor T2 rises with time due to the current flowing from the power supply line DSL to the storage capacitor Cs.

この時、駆動トランジスタT2のソース電位Vsが有機EL素子の閾値電圧Vthelとカソード電圧Vcat の和を越えなければ(有機EL素子のリーク電流が駆動トランジスタT2に流れる電流よりもかなり小さければ)、駆動トランジスタT2により供給される駆動電流Idsは、保持容量Csと寄生容量Celを充電するのに使用される。   At this time, if the source potential Vs of the driving transistor T2 does not exceed the sum of the threshold voltage Vthel and the cathode voltage Vcat of the organic EL element (if the leakage current of the organic EL element is considerably smaller than the current flowing through the driving transistor T2), driving is performed. The drive current Ids supplied by the transistor T2 is used to charge the storage capacitor Cs and the parasitic capacitor Cel.

なお、駆動トランジスタT2の閾値補正動作は既に完了しているので、駆動トランジスタT2が流す駆動電流Idsは、駆動トランジスタT2の移動度μを反映した値になる。具体的には、移動度μが大きい駆動トランジスタほど大きな駆動電流Idsが流れ、ソース電位Vsの上昇も早くなる。逆に移動度μが小さい駆動トランジスタほど小さな駆動電流Idsが流れ、ソース電位Vsの上昇は遅くなる。   Since the threshold correction operation of the drive transistor T2 has already been completed, the drive current Ids that the drive transistor T2 flows becomes a value that reflects the mobility μ of the drive transistor T2. Specifically, a drive transistor having a higher mobility μ flows a larger drive current Ids, and the source potential Vs rises faster. Conversely, a driving transistor having a smaller mobility μ flows a smaller driving current Ids, and the increase in the source potential Vs is delayed.

結果的に、保持容量Csの保持電圧は、駆動トランジスタT2の移動度μに応じて補正される。すなわち、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは、移動度μを補正した電圧へと変化する。   As a result, the holding voltage of the holding capacitor Cs is corrected according to the mobility μ of the driving transistor T2. That is, the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 changes to a voltage in which the mobility μ is corrected.

最後に、第1のサンプリングトランジスタT1がオフ制御されて信号電位の書き込みが
終了すると、有機EL素子OLEDの発光期間が開始する(図31(t7))。図38に、この場合における画素回路内の動作状態を示す。なお、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは一定である。従って、駆動トランジスタT2は一定の電流Ids’を有機EL素子に供給する。
Finally, when the first sampling transistor T1 is turned off and signal potential writing is completed, the light emission period of the organic EL element OLED starts (FIG. 31 (t7)). FIG. 38 shows an operation state in the pixel circuit in this case. Note that the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 is constant. Accordingly, the drive transistor T2 supplies a constant current Ids ′ to the organic EL element.

これに伴い、有機EL素子のアノード電位Velは、有機EL素子に電流Ids’を流す電位Vx まで上昇する。これにより、有機EL素子による発光が開始される。
ところで、この形態例で提案する駆動回路の場合も、発光時間が長くなると、有機EL素子OLEDのI−V特性が変化する。
Along with this, the anode potential Vel of the organic EL element rises to a potential Vx that causes the current Ids ′ to flow through the organic EL element. Thereby, light emission by the organic EL element is started.
By the way, also in the case of the drive circuit proposed in this embodiment, the IV characteristic of the organic EL element OLED changes as the light emission time becomes longer.

すなわち、駆動トランジスタT2のソース電位Vsも変化する。しかし、駆動トランジスタT2のゲート・ソース間電圧Vgsは、保持容量Csにより一定に保たれるので有機EL素子OLEDに流れる電流量は変化せずに済む。このように、この形態例で提案する画素回路と駆動方式を採用すれば、有機EL素子OLEDのI−V特性の変化にかかわらず、信号電位Vsig に応じた駆動電流Idsを常に流し続けることができる。これにより、有機EL素子OLEDの発光輝度を信号電位Vsig に応じた輝度に保ち続けることができる。   That is, the source potential Vs of the drive transistor T2 also changes. However, since the gate-source voltage Vgs of the driving transistor T2 is kept constant by the storage capacitor Cs, the amount of current flowing through the organic EL element OLED does not change. As described above, when the pixel circuit and the driving method proposed in this embodiment are employed, the driving current Ids corresponding to the signal potential Vsig can be continuously supplied regardless of the change in the IV characteristic of the organic EL element OLED. it can. Thereby, the light emission luminance of the organic EL element OLED can be kept at the luminance according to the signal potential Vsig.

(D−3)製品例
(a)電子機器
前述の説明では、有機ELパネルを例に発明を説明した。しかし、前述した有機ELパネルは、各種の電子機器に実装した商品形態でも流通される。以下、他の電子機器への実装例を示す。
(D-3) Product Example (a) Electronic Device In the above description, the invention has been described with an organic EL panel as an example. However, the organic EL panels described above are also distributed in product forms mounted on various electronic devices. Examples of mounting on other electronic devices are shown below.

図39に、電子機器61の概念構成例を示す。電子機器61は、前述した有機ELパネル63、システム制御部65及び操作入力部67で構成される。システム制御部65で実行される処理内容は、電子機器61の商品形態により異なる。また、操作入力部67は、システム制御部65に対する操作入力を受け付けるデバイスである。操作入力部67には、例えばスイッチ、ボタンその他の機械式インターフェース、グラフィックインターフェース等が用いられる。   FIG. 39 shows a conceptual configuration example of the electronic device 61. The electronic device 61 includes the organic EL panel 63, the system control unit 65, and the operation input unit 67 described above. The processing content executed by the system control unit 65 differs depending on the product form of the electronic device 61. The operation input unit 67 is a device that receives an operation input to the system control unit 65. For the operation input unit 67, for example, a switch, a button, other mechanical interfaces, a graphic interface, or the like is used.

なお、電子機器61は、機器内で生成される又は外部から入力される画像や映像を表示する機能を搭載していれば、特定の分野の機器には限定されない。
図40に、その他の電子機器がテレビジョン受像機の場合の外観例を示す。テレビジョン受像機71の筐体正面には、フロントパネル73及びフィルターガラス75等で構成される表示画面77が配置される。表示画面77の部分が、形態例で説明した有機ELパネルに対応する。
Note that the electronic device 61 is not limited to a device in a specific field as long as it has a function of displaying an image or video generated in the device or input from the outside.
FIG. 40 shows an example of the appearance when the other electronic device is a television receiver. A display screen 77 including a front panel 73, a filter glass 75, and the like is disposed on the front surface of the television receiver 71. The portion of the display screen 77 corresponds to the organic EL panel described in the embodiment.

また、この種の電子機器61には、例えばデジタルカメラが想定される。図41に、デジタルカメラ81の外観例を示す。図41(A)が正面側(被写体側)の外観例であり、図41(B)が背面側(撮影者側)の外観例である。   Also, for example, a digital camera is assumed as this type of electronic device 61. FIG. 41 shows an example of the appearance of the digital camera 81. FIG. 41A shows an example of the appearance on the front side (subject side), and FIG. 41B shows an example of the appearance on the back side (photographer side).

デジタルカメラ81は、保護カバー83、撮像レンズ部85、表示画面87、コントロールスイッチ89及びシャッターボタン91で構成される。このうち、表示画面87の部分が、形態例で説明した有機ELパネルに対応する   The digital camera 81 includes a protective cover 83, an imaging lens unit 85, a display screen 87, a control switch 89, and a shutter button 91. Of these, the display screen 87 corresponds to the organic EL panel described in the embodiment.

また、この種の電子機器61には、例えばビデオカメラが想定される。図42に、ビデオカメラ101の外観例を示す。
ビデオカメラ101は、本体103の前方に被写体を撮像する撮像レンズ105、撮影のスタート/ストップスイッチ107及び表示画面109で構成される。このうち、表示画面109の部分が、形態例で説明した有機ELパネルに対応する。
For example, a video camera is assumed as this type of electronic device 61. FIG. 42 shows an example of the appearance of the video camera 101.
The video camera 101 includes an imaging lens 105 that images a subject in front of a main body 103, a shooting start / stop switch 107, and a display screen 109. Of these, the display screen 109 corresponds to the organic EL panel described in the embodiment.

また、この種の電子機器61には、例えば携帯端末装置が想定される。図43に、携帯端末装置としての携帯電話機111の外観例を示す。図43に示す携帯電話機111は折りたたみ式であり、図43(A)が筐体を開いた状態の外観例であり、図43(B)が筐体を折りたたんだ状態の外観例である。   Further, for example, a portable terminal device is assumed as this type of electronic device 61. FIG. 43 shows an example of the appearance of a mobile phone 111 as a mobile terminal device. A cellular phone 111 illustrated in FIG. 43 is a foldable type, and FIG. 43A illustrates an appearance example in a state where the housing is opened, and FIG. 43B illustrates an appearance example in a state where the housing is folded.

携帯電話機111は、上側筐体113、下側筐体115、連結部(この例ではヒンジ部)117、表示画面119、補助表示画面121、ピクチャーライト123及び撮像レンズ125で構成される。このうち、表示画面119及び補助表示画面121の部分が、形態例で説明した有機ELパネルに対応する。   The mobile phone 111 includes an upper housing 113, a lower housing 115, a connecting portion (in this example, a hinge portion) 117, a display screen 119, an auxiliary display screen 121, a picture light 123, and an imaging lens 125. Among these, the display screen 119 and the auxiliary display screen 121 correspond to the organic EL panel described in the embodiment.

また、この種の電子機器61には、例えばコンピュータが想定される。図44に、ノート型コンピュータ131の外観例を示す。
ノート型コンピュータ131は、下型筐体133、上側筐体135、キーボード137及び表示画面139で構成される。このうち、表示画面139の部分が、形態例で説明した有機ELパネルに対応する。
Further, for example, a computer is assumed as this type of electronic device 61. FIG. 44 shows an example of the appearance of the notebook computer 131.
The notebook computer 131 includes a lower casing 133, an upper casing 135, a keyboard 137, and a display screen 139. Among these, the display screen 139 corresponds to the organic EL panel described in the embodiment.

これらの他、電子機器61には、オーディオ再生装置、ゲーム機、電子ブック、電子辞書等が想定される。   In addition to these, the electronic device 61 may be an audio playback device, a game machine, an electronic book, an electronic dictionary, or the like.

(D−4)他の表示デバイス例
前述の形態例においては、発明を有機ELパネルに適用する場合について説明した。
しかし、前述した駆動技術は、その他のEL表示装置に対しても適用することができる。例えばLEDを配列する表示装置その他のダイオード構造を有する発光素子を画面上に配列した表示装置に対しても適用できる。例えば無機ELパネルにも適用できる。
(D-4) Other display device examples In the above-described embodiments, the case where the invention is applied to an organic EL panel has been described.
However, the driving technique described above can also be applied to other EL display devices. For example, the present invention can also be applied to a display device in which LEDs are arranged and other display devices in which light emitting elements having a diode structure are arranged on a screen. For example, it can be applied to an inorganic EL panel.

(D−5)その他
前述した形態例には、発明の趣旨の範囲内で様々な変形例が考えられる。また、本明細書の記載に基づいて創作される又は組み合わせられる各種の変形例及び応用例も考えられる。
(D-5) Others Various modifications can be considered for the above-described embodiments within the scope of the invention. Various modifications and applications created or combined based on the description of the present specification are also conceivable.

11 有機ELパネル
21 画素アレイ部
23 書込制御線駆動部
25 電源線駆動部
27 水平セレクタ
29 タイミングジェネレータ
255 出力バッファ回路
41 電源線駆動部
257 出力バッファ回路
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Organic EL panel 21 Pixel array part 23 Write control line drive part 25 Power supply line drive part 27 Horizontal selector 29 Timing generator 255 Output buffer circuit 41 Power supply line drive part 257 Output buffer circuit

Claims (10)

画素を構成する画素回路がマトリクス状に配置されてなる画素アレイ部と、前記画素アレイ部を駆動する駆動部とを有し、
前記各画素回路は、サンプリングトランジスタ、駆動トランジスタ、保持容量、及び発光素子を少なくとも含み、
前記駆動部は、水平ラインの方向に沿って配線された書込制御線に所定の信号を供給することによって前記各画素回路における前記サンプリングトランジスタの導通または非導通を制御する書込制御線駆動部と、水平ラインの方向に沿って並ぶ前記画素の前記駆動トランジスタに対する所定の電源電圧の給電を制御する電源駆動部とを有し、
前記駆動部は、前記各画素回路において、
導通状態とされた前記サンプリングトランジスタを介して信号線から映像信号が前記画素回路内に供給されている状態で、前記駆動トランジスタを介した電流を前記保持容量に流し込む第一の補正動作、及び、
前記第一の補正動作の後、前記駆動トランジスタを介して、前記保持容量の保持電圧に応じた駆動電流を前記発光素子へ流す発光動作、
を少なくとも行うように構成されており、
前記第一の補正動作の期間は、信号線の電位が映像信号の信号電位に遷移している状態において、前記書込制御線駆動部が前記サンプリングトランジスタを非導通状態から導通状態に制御することで開始するように規定され、
前記書込制御線駆動部と前記電源駆動部とは、前記画素アレイ部の両側から前記所定の信号と前記所定の電源電圧とを供給して前記各画素回路を駆動することで、前記各画素回路における補正動作期間のばらつきを抑制するように構成されている、
表示装置。
A pixel array unit in which pixel circuits constituting pixels are arranged in a matrix, and a drive unit that drives the pixel array unit;
Each pixel circuit includes at least a sampling transistor, a driving transistor, a storage capacitor, and a light emitting element,
The drive unit supplies a predetermined signal to a write control line wired along a horizontal line direction to control conduction or non-conduction of the sampling transistor in each pixel circuit. And a power supply drive unit that controls power supply of a predetermined power supply voltage to the drive transistors of the pixels arranged in a horizontal line direction,
In the pixel circuits, the driving unit includes:
A first correction operation for flowing a current through the driving transistor into the storage capacitor in a state where a video signal is supplied from the signal line to the pixel circuit through the sampling transistor in the conductive state; and
After the first correction operation, a light emitting operation for passing a driving current according to the holding voltage of the holding capacitor to the light emitting element through the driving transistor,
Configured to do at least
During the period of the first correction operation , the write control line driver controls the sampling transistor from a non-conductive state to a conductive state in a state where the potential of the signal line is transitioning to the signal potential of the video signal. Is prescribed to start with
The write control line driving unit and the power supply driving unit supply the predetermined signal and the predetermined power supply voltage from both sides of the pixel array unit to drive each pixel circuit, thereby Configured to suppress variations in the correction operation period in the circuit,
Display device.
前記第一の補正動作は、
導通状態とされた前記サンプリングトランジスタを介して信号線から前記映像信号が前記駆動トランジスタのゲートに供給されている状態で、前記駆動トランジスタを介した電流を前記保持容量に流し込むことによって、前記保持容量に、前記映像信号に基づく電圧を前記駆動トランジスタの駆動能力を反映させた状態で保持させる動作である、
請求項1に記載の表示装置。
The first correction operation is:
In the state in which the video signal is supplied from the signal line to the gate of the drive transistor through the sampling transistor in the conductive state, the current through the drive transistor is caused to flow into the storage capacitor, thereby the storage capacitor. In addition, it is an operation of holding the voltage based on the video signal in a state in which the driving capability of the driving transistor is reflected.
The display device according to claim 1.
前記駆動部は、前記各画素回路において、
前記第一の補正動作に先立って、前記保持容量が前記駆動トランジスタの閾値電圧を超える電圧を保持するように、オフセット電圧を前記保持容量に設定する、
請求項1または請求項2に記載の表示装置。
In the pixel circuits, the driving unit includes:
Prior to the first correction operation, an offset voltage is set in the holding capacitor so that the holding capacitor holds a voltage exceeding a threshold voltage of the driving transistor.
The display device according to claim 1.
前記駆動部は、前記各画素回路において、
前記オフセット電圧を前記保持容量に設定した後、前記発光素子の発光期間に先立って、前記駆動トランジスタを介した電流を前記保持容量に流し込み、前記駆動トランジスタのゲートとソース間の電位差を減少させる第二の補正動作を行うように構成され、
前記第二の補正動作の開始は、前記電源駆動部が、前記駆動トランジスタへの電流供給を開始するタイミングで規定される、
請求項3に記載の表示装置。
In the pixel circuits, the driving unit includes:
After setting the offset voltage in the holding capacitor, prior to the light emitting period of the light emitting element, a current through the driving transistor is caused to flow into the holding capacitor to reduce a potential difference between the gate and the source of the driving transistor. Configured to perform the second correction operation,
The start of the second correction operation is defined by the timing at which the power supply driving unit starts supplying current to the driving transistor.
The display device according to claim 3.
前記第二の補正動作は、
前記駆動トランジスタを介した電流を前記保持容量に流し込むことで、前記駆動トランジスタのゲートとソース間の電位差を減少させ、前記保持容量に、前記駆動トランジスタの閾値電圧に対応する電圧を保持させる動作である、
請求項4に記載の表示装置。
The second correction operation is:
By flowing a current through the driving transistor into the holding capacitor, the potential difference between the gate and the source of the driving transistor is reduced, and the holding capacitor holds a voltage corresponding to the threshold voltage of the driving transistor. is there,
The display device according to claim 4.
前記各画素回路は、前記オフセット電圧を前記保持容量に設定するためのリセットトランジスタを更に含み、
前記駆動部は、水平ラインの方向に沿って配線されたオフセット線に所定の信号を供給することによって、前記画素回路の前記リセットトランジスタの導通または非導通を制御するためのオフセット線駆動部を更に有し、
前記オフセット線駆動部も、前記画素アレイ部の両側から前記オフセット線に所定の信号を供給して前記各画素回路を駆動するよう構成されている、
請求項3ないし請求項5のいずれか1項に記載の表示装置。
Each of the pixel circuits further includes a reset transistor for setting the offset voltage to the storage capacitor,
The driving unit further includes an offset line driving unit for controlling conduction or non-conduction of the reset transistor of the pixel circuit by supplying a predetermined signal to an offset line wired along a horizontal line direction. Have
The offset line driving unit is also configured to drive each pixel circuit by supplying a predetermined signal to the offset line from both sides of the pixel array unit.
The display device according to claim 3.
前記画素アレイ部の両側において、前記電源駆動部は、前記書込制御線駆動部に対してより前記画素アレイ部側に配置されている、
請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の表示装置。
On both sides of the pixel array unit, the power supply driving unit is disposed closer to the pixel array unit than the write control line driving unit.
The display device according to claim 1.
前記画素アレイ部の両側において、前記書込制御線駆動部は、前記オフセット線駆動部に対してより前記画素アレイ部側に配置され、前記電源駆動部は、前記書込制御線駆動部に対してより前記画素アレイ部側に配置されている、
請求項6に記載の表示装置。
On both sides of the pixel array unit, the write control line drive unit is disposed closer to the pixel array unit than the offset line drive unit, and the power supply drive unit is connected to the write control line drive unit. Are arranged closer to the pixel array part side,
The display device according to claim 6.
前記第一の補正動作期間の終了と前記発光動作の開始とは、前記書込制御線駆動部が前記サンプリングトランジスタを導通状態から非導通状態に切り替えるタイミングで規定される、
請求項1ないし請求項8のいずれか1項に記載の表示装置。
The end of the period of the first correction operation and the start of the light emission operation are defined by the timing at which the write control line driving unit switches the sampling transistor from a conductive state to a non-conductive state.
The display device according to any one of claims 1 to 8.
表示装置はテレビジョン受像機である、
請求項1ないし請求項9のいずれか1項に記載の表示装置。
The display device is a television receiver.
The display device according to any one of claims 1 to 9.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015043093A (en) * 2014-10-07 2015-03-05 ソニー株式会社 Display device
US9972282B2 (en) 2007-11-09 2018-05-15 Sony Corporation Electroluminescent display panel and electronic device

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2959509B2 (en) * 1997-03-11 1999-10-06 日本電気株式会社 Liquid crystal display
JP3594131B2 (en) * 2000-07-28 2004-11-24 シャープ株式会社 Image display device
JP3613253B2 (en) * 2002-03-14 2005-01-26 日本電気株式会社 Current control element drive circuit and image display device
JP4534052B2 (en) * 2003-08-27 2010-09-01 奇美電子股▲ふん▼有限公司 Inspection method for organic EL substrate
JP2005084119A (en) * 2003-09-04 2005-03-31 Nec Corp Driving circuit for light emitting element and current controlled light emission display device
JP4945063B2 (en) * 2004-03-15 2012-06-06 東芝モバイルディスプレイ株式会社 Active matrix display device
JP5078363B2 (en) * 2006-01-13 2012-11-21 株式会社半導体エネルギー研究所 Display device

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9972282B2 (en) 2007-11-09 2018-05-15 Sony Corporation Electroluminescent display panel and electronic device
US10803834B2 (en) 2007-11-09 2020-10-13 Sony Corporation Electroluminescent display panel and electronic device
JP2015043093A (en) * 2014-10-07 2015-03-05 ソニー株式会社 Display device

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