JP5673017B2 - 振動測定システム、振動測定装置および振動測定方法 - Google Patents
振動測定システム、振動測定装置および振動測定方法 Download PDFInfo
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Description
図1は、振動測定システム100の概略的な接続関係を示した説明図である。振動測定システム100は、被測定物110を測定するための、撮像装置120と、振動測定装置130とを含んで構成される。
図2は、撮像装置120の概略的な構成を示した機能ブロック図である。撮像装置120は、操作部150と、撮像部152と、映像出力部154とを含んで構成される。本実施形態における撮像装置120は、高速撮像に対応しており、例えば、640×480ピクセル(ピクセルは画素の単位)のフレームデータを10万フレーム/sec以上の速度で生成することを可能としている。ここで、フレームは、1の映像データを構成する時系列に並べられた1枚の静止画をいい、その静止画単位のデータをフレームデータとする。また、ここでは、高速の撮像装置120を用いるとしているが、かかる場合に限られず、振動の測定範囲によっては市販の撮像装置を用いることも可能である。
図3は、振動測定装置130の概略的な構成を示した機能ブロック図である。振動測定装置130は、映像取得部210と、データバッファ212と、論理演算部214と、メモリ216と、中央制御部218と、表示部220とを含んで構成される。
高次局所自己相関特性では、任意の次数を用いることができるが、ここでは、計算を容易にするため、0次、1次、2次のみを対象とする。したがって、対象となる高次局所自己相関特性は、それぞれの次数に対応した、以下の数式2、3、4となる。
また、相関をとる範囲を注目画素から所定の距離、ここでは、いずれの次元においても±1画素の局所領域とし、二次元変位ベクトル/aiを(ここで「/」はベクトルを示す。)、注目画素の二次元変位ベクトル/rを中心とする3×3の9画素の局所領域内、即ち注目画素の8近傍に限定している。
ただし、k1、k2、…、kNはそれぞれの対象部位262の個数であり、対象部位262が固有の外観である場合、1の値をとる。
また、振動測定装置130を用いた振動測定方法も提供される。以下、このような振動測定方法を詳細に説明する。
第1の実施形態において、表面形状が凹凸しているものや表面に模様が形成されている被測定物110に関しては、良好な測定結果を得ることができた。しかし、被測定物110が必ずしも局所的に特徴があるとは限らず、フレームデータにおいて、エッジやコントラストの変化が少ない場合は、レーザによる幾何パターンの照射を行うことで、その対象部位262を能動的に生成することができる。
図9は、他の振動測定システム400の概略的な接続関係を示した説明図である。振動測定システム400は、被測定物110と、撮像装置120と、振動測定装置130と、発光装置440とを含んで構成される。第1の実施形態における構成要素として既に述べた被測定物110と、撮像装置120と、振動測定装置130とは、実質的に機能が同一なので重複説明を省略し、ここでは、構成が相違する発光装置440を主に説明する。
110 …被測定物
120 …撮像装置
130 …振動測定装置
210 …映像取得部
230 …データ判定部
232 …ベクトル導出部
234 …多変量解析部
240 …変位導出部
250 …局所パターン
260 …セグメント
262 …対象部位
440 …発光装置
Claims (6)
- 撮像装置と振動測定装置とが接続された振動測定システムであって、
前記撮像装置は、
被測定物を撮像して映像データを生成する撮像部と、
生成された映像データを出力する映像出力部と、
を備え、
前記振動測定装置は、
前記映像データを取得する映像取得部と、
取得された前記映像データを複数のセグメントに分割し、複数の局所パターンとの積を該セグメント内のすべての画素に関して積分する高次局所自己相関特性によって、該セグメント毎に特徴ベクトルを導出するベクトル導出部と、
前記特徴ベクトルに対して多変量解析を行い、目的ベクトルを導出する多変量解析部と、
セグメント毎の前記目的ベクトルを用いて、各セグメントに含まれる対象部位を特定し、その対象部位のセグメント間の移動をもって該対象部位の変位を導出する変位導出部と、
を備えることを特徴とする振動測定システム。 - 前記変位導出部は、さらに、前記対象部位の変位と経過情報とに基づいて、移動速度、変位の方向、振動周期、振動周波数のうち少なくとも1を導出することを特徴とする請求項1に記載の振動測定システム。
- 前記被測定物に光を照射する発光装置をさらに含むことを特徴とする請求項1または2に記載の振動測定システム。
- 前記発光装置から照射される光は、複数の光線を配列してなり、該複数の光線は、隣接する光線と投射形状が異なることを特徴とする請求項3に記載の振動測定装置。
- 被測定物を撮像した映像データを取得する映像取得部と、
取得された前記映像データを複数のセグメントに分割し、複数の局所パターンとの積を該セグメント内のすべての画素に関して積分する高次局所自己相関特性によって、該セグメント毎に特徴ベクトルを導出するベクトル導出部と、
前記特徴ベクトルに対して多変量解析を行い、目的ベクトルを導出する多変量解析部と、
セグメント毎の前記目的ベクトルを用いて、各セグメントに含まれる対象部位を特定し、その対象部位のセグメント間の移動をもって該対象部位の変位を導出する変位導出部と、
を備えることを特徴とする振動測定装置。 - 被測定物を撮像した映像データを取得し、
取得した前記映像データを複数のセグメントに分割し、複数の局所パターンとの積を該セグメント内のすべての画素に関して積分する高次局所自己相関特性によって、該セグメント毎に特徴ベクトルを導出し、
前記特徴ベクトルに対して多変量解析を行い、目的ベクトルを導出し、
セグメント毎の前記目的ベクトルを用いて、各セグメントに含まれる対象部位を特定し、その対象部位のセグメント間の移動をもって該対象部位の変位を導出することを特徴とする振動測定方法。
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