JP5661973B2 - 位相シフトマスクの製造方法 - Google Patents

位相シフトマスクの製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5661973B2
JP5661973B2 JP2014501331A JP2014501331A JP5661973B2 JP 5661973 B2 JP5661973 B2 JP 5661973B2 JP 2014501331 A JP2014501331 A JP 2014501331A JP 2014501331 A JP2014501331 A JP 2014501331A JP 5661973 B2 JP5661973 B2 JP 5661973B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase shift
pattern
layer
light shielding
etching
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2014501331A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JPWO2013190786A1 (ja
Inventor
影山 景弘
景弘 影山
中村 大介
大介 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Coating Corp
Original Assignee
Ulvac Coating Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Coating Corp filed Critical Ulvac Coating Corp
Priority to JP2014501331A priority Critical patent/JP5661973B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5661973B2 publication Critical patent/JP5661973B2/ja
Publication of JPWO2013190786A1 publication Critical patent/JPWO2013190786A1/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/26Phase shift masks [PSM]; PSM blanks; Preparation thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/26Phase shift masks [PSM]; PSM blanks; Preparation thereof
    • G03F1/29Rim PSM or outrigger PSM; Preparation thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/38Masks having auxiliary features, e.g. special coatings or marks for alignment or testing; Preparation thereof
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F1/00Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
    • G03F1/68Preparation processes not covered by groups G03F1/20 - G03F1/50
    • G03F1/80Etching

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
JP2014501331A 2012-06-20 2013-06-05 位相シフトマスクの製造方法 Active JP5661973B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2014501331A JP5661973B2 (ja) 2012-06-20 2013-06-05 位相シフトマスクの製造方法

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012138460 2012-06-20
JP2012138460 2012-06-20
JP2014501331A JP5661973B2 (ja) 2012-06-20 2013-06-05 位相シフトマスクの製造方法
PCT/JP2013/003519 WO2013190786A1 (ja) 2012-06-20 2013-06-05 位相シフトマスクブランクス、位相シフトマスク及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5661973B2 true JP5661973B2 (ja) 2015-01-28
JPWO2013190786A1 JPWO2013190786A1 (ja) 2016-02-08

Family

ID=49768401

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014501331A Active JP5661973B2 (ja) 2012-06-20 2013-06-05 位相シフトマスクの製造方法

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5661973B2 (ko)
KR (1) KR101560385B1 (ko)
CN (1) CN104471478A (ko)
TW (1) TWI599842B (ko)
WO (1) WO2013190786A1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015049282A (ja) * 2013-08-30 2015-03-16 Hoya株式会社 表示装置製造用フォトマスク、該フォトマスクの製造方法、パターン転写方法及び表示装置の製造方法
JP6456748B2 (ja) * 2015-03-28 2019-01-23 Hoya株式会社 フォトマスクの製造方法、フォトマスク及びフラットパネルディスプレイの製造方法
JP2017033004A (ja) * 2016-09-21 2017-02-09 Hoya株式会社 表示装置製造用フォトマスク、該フォトマスクの製造方法、パターン転写方法及び表示装置の製造方法
JP6259508B1 (ja) * 2016-12-28 2018-01-10 株式会社エスケーエレクトロニクス ハーフトーンマスク、フォトマスクブランクス及びハーフトーンマスクの製造方法
JP6659855B2 (ja) * 2017-06-28 2020-03-04 アルバック成膜株式会社 マスクブランクス、位相シフトマスク、ハーフトーンマスク、マスクブランクスの製造方法、及び位相シフトマスクの製造方法
JP6998181B2 (ja) * 2017-11-14 2022-02-04 アルバック成膜株式会社 マスクブランク、位相シフトマスクおよびその製造方法
JP6756796B2 (ja) * 2018-10-09 2020-09-16 アルバック成膜株式会社 マスクブランクス、ハーフトーンマスク、製造方法
KR102598440B1 (ko) * 2019-12-20 2023-11-07 주식회사 에스앤에스텍 플랫 패널 디스플레이용 위상반전 블랭크 마스크 및 포토 마스크
JP6987912B2 (ja) 2020-03-16 2022-01-05 アルバック成膜株式会社 マスクブランクス、位相シフトマスク、製造方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008203374A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Clean Surface Gijutsu:Kk ハーフトーンブランクス
JP2008304942A (ja) * 2002-03-01 2008-12-18 Hoya Corp ハーフトーン型位相シフトマスクブランクの製造方法
JP2010128003A (ja) * 2008-11-25 2010-06-10 Ulvac Seimaku Kk ハーフトーンマスク、ハーフトーンマスクブランクス、ハーフトーンマスクの製造方法、及びハーフトーンマスクブランクスの製造方法
JP2011013283A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Ulvac Seimaku Kk 位相シフトマスクの製造方法、フラットパネルディスプレイの製造方法及び位相シフトマスク
JP2011075607A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Ulvac Japan Ltd フォトマスクブランクス,フォトマスク,フォトマスク製造方法

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5682493B2 (ja) * 2010-08-04 2015-03-11 信越化学工業株式会社 バイナリーフォトマスクブランク及びバイナリーフォトマスクの製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008304942A (ja) * 2002-03-01 2008-12-18 Hoya Corp ハーフトーン型位相シフトマスクブランクの製造方法
JP2008203374A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Clean Surface Gijutsu:Kk ハーフトーンブランクス
JP2010128003A (ja) * 2008-11-25 2010-06-10 Ulvac Seimaku Kk ハーフトーンマスク、ハーフトーンマスクブランクス、ハーフトーンマスクの製造方法、及びハーフトーンマスクブランクスの製造方法
JP2011013283A (ja) * 2009-06-30 2011-01-20 Ulvac Seimaku Kk 位相シフトマスクの製造方法、フラットパネルディスプレイの製造方法及び位相シフトマスク
JP2011075607A (ja) * 2009-09-29 2011-04-14 Ulvac Japan Ltd フォトマスクブランクス,フォトマスク,フォトマスク製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2013190786A1 (ja) 2013-12-27
CN104471478A (zh) 2015-03-25
KR101560385B1 (ko) 2015-10-26
JPWO2013190786A1 (ja) 2016-02-08
KR20140038536A (ko) 2014-03-28
TW201413370A (zh) 2014-04-01
TWI599842B (zh) 2017-09-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5661973B2 (ja) 位相シフトマスクの製造方法
US20200150524A1 (en) Mask blank, transfer mask, method for manufacturing transfer mask, and method for manufacturing semiconductor device
US9864268B2 (en) Mask blank, method for manufacturing transfer mask, and method for manufacturing semiconductor device
KR102366646B1 (ko) 마스크 블랭크, 전사용 마스크의 제조 방법 및 반도체 장치의 제조 방법
KR102416957B1 (ko) 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크의 제조 방법 및 반도체 디바이스의 제조 방법
JP5948495B2 (ja) 位相シフトマスクの製造方法および位相シフトマスク
JP6198238B2 (ja) 位相シフトマスクの製造方法
JP6389375B2 (ja) マスクブランクおよび転写用マスク並びにそれらの製造方法
KR102291478B1 (ko) 마스크 블랭크, 위상 시프트 마스크의 제조 방법, 위상 시프트 마스크 및 반도체 디바이스의 제조 방법
JP2015049282A (ja) 表示装置製造用フォトマスク、該フォトマスクの製造方法、パターン転写方法及び表示装置の製造方法
JP6659855B2 (ja) マスクブランクス、位相シフトマスク、ハーフトーンマスク、マスクブランクスの製造方法、及び位相シフトマスクの製造方法
JP2017182052A (ja) 位相シフトマスクブランク、位相シフトマスク及び表示装置の製造方法
JP5865520B2 (ja) 位相シフトマスクおよびその製造方法
JP6544964B2 (ja) マスクブランク、位相シフトマスクの製造方法、及び、半導体デバイスの製造方法
JP6233873B2 (ja) 位相シフトマスクの製造方法
JP5917020B2 (ja) マスクブランクおよび多階調マスクの製造方法
JP5982013B2 (ja) 位相シフトマスクおよびその製造方法
WO2014171510A1 (ja) 位相シフトマスクの製造方法、位相シフトマスク、及び位相シフトマスクの製造装置
JP7062377B2 (ja) 位相シフトマスクの製造方法および位相シフトマスク
JP4073882B2 (ja) ハーフトーン型位相シフトマスクブランク
JP2014211503A (ja) 位相シフトマスクの製造方法、位相シフトマスク

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20141111

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20141203

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5661973

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250