JP5644007B2 - 温度センサ及び熱処理装置 - Google Patents
温度センサ及び熱処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5644007B2 JP5644007B2 JP2012027629A JP2012027629A JP5644007B2 JP 5644007 B2 JP5644007 B2 JP 5644007B2 JP 2012027629 A JP2012027629 A JP 2012027629A JP 2012027629 A JP2012027629 A JP 2012027629A JP 5644007 B2 JP5644007 B2 JP 5644007B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- support
- temperature
- detection element
- temperature sensor
- temperature detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 46
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 23
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 14
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 6
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 6
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 2
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 2
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000002618 waking effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/02—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K1/00—Details of thermometers not specially adapted for particular types of thermometer
- G01K1/14—Supports; Fastening devices; Arrangements for mounting thermometers in particular locations
-
- E—FIXED CONSTRUCTIONS
- E04—BUILDING
- E04H—BUILDINGS OR LIKE STRUCTURES FOR PARTICULAR PURPOSES; SWIMMING OR SPLASH BATHS OR POOLS; MASTS; FENCING; TENTS OR CANOPIES, IN GENERAL
- E04H17/00—Fencing, e.g. fences, enclosures, corrals
- E04H17/02—Wire fencing, e.g. made of wire mesh
- E04H17/10—Wire fencing, e.g. made of wire mesh characterised by the way of connecting wire to posts; Droppers
-
- E—FIXED CONSTRUCTIONS
- E04—BUILDING
- E04H—BUILDINGS OR LIKE STRUCTURES FOR PARTICULAR PURPOSES; SWIMMING OR SPLASH BATHS OR POOLS; MASTS; FENCING; TENTS OR CANOPIES, IN GENERAL
- E04H17/00—Fencing, e.g. fences, enclosures, corrals
- E04H17/006—Caps or covers for posts
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67242—Apparatus for monitoring, sorting or marking
- H01L21/67248—Temperature monitoring
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Architecture (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Civil Engineering (AREA)
- Structural Engineering (AREA)
- Waste-Gas Treatment And Other Accessory Devices For Furnaces (AREA)
Description
本実施形態の温度センサ1を、図1,2に基づいて説明する。
[第2実施形態]
次に本発明の第2実施形態について説明する。
[変形例]
上記第1実施形態では、位置決め部材9を断面円形状に形成したが、楕円状や多角形状等の他の形状にしてもよい。位置決め部材支持穴12も位置決め部材9に合わせて楕円状や多角形状等の他の形状にする。また、位置決め部材9から先端の温度検出素子5まで支持管8によって支持する構成にしたが、位置決め部材9と温度検出素子5との間に支持管8を支持する支持手段を設けてもよい。例えば、図9に示すように、支持管8を支持する位置決め部材35を設けてもよい。この位置決め部材35は、回転を防止するために断面楕円状に形成している。なお、断面長方形等の他の形状でもよい。これに合わせて、位置決め部材支持穴36は、縦の楕円形穴と横の楕円穴を合わせた形状の穴に形成する。楕円形でない場合は、長方形等の他の形状に合わせて縦横の穴の形状を設定する。これにより、位置決め部材35は、位置決め部材支持穴36に対して、適宜縦方向又は横方向に挿入することができるようになる。これにより、温度検出素子5をその位置及び向きを正確に調整して支持することができる。特に、受熱体を設ける場合は、その向きを正確に調整することができる。
Claims (2)
- 支管内に、温度を検出する温度検出素子と、当該温度検出素子を位置決めして支持する位置決め支持機構とを備えた温度センサであって、
上記温度検出素子のコードに張力がかけられて、
上記位置決め支持機構が、張力がかけられた上記コードで支持されて上記温度検出素子を位置決め支持し、
上記位置決め支持機構が、
上記支管内の支持部によって支持される本体支持部と、上記温度検出素子を支持する受熱体の一端部に嵌合して片持ち状態で支持する支持溝と、この支持溝の一方の面を構成すると共にこの面を延長して上記受熱体の一側面を支持する支持片と、この支持片の中に設けられ上記温度検出素子のコードを通すコード穴とを備えて構成されたこと
を特徴とする温度センサ。 - 対象物の温度を制御して熱処理を行う熱処理装置において
上記温度制御のための温度の測定を行う温度センサとして請求項1に記載の温度センサを用いたことを特徴とする熱処理装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012027629A JP5644007B2 (ja) | 2012-02-10 | 2012-02-10 | 温度センサ及び熱処理装置 |
KR1020130009261A KR101730024B1 (ko) | 2012-02-10 | 2013-01-28 | 온도 센서 및 열처리 장치 |
US13/751,653 US8821014B2 (en) | 2012-02-10 | 2013-01-28 | Temperature sensor and heat treating apparatus |
TW102103996A TWI564551B (zh) | 2012-02-10 | 2013-02-01 | 溫度感測器及熱處理裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012027629A JP5644007B2 (ja) | 2012-02-10 | 2012-02-10 | 温度センサ及び熱処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013164342A JP2013164342A (ja) | 2013-08-22 |
JP5644007B2 true JP5644007B2 (ja) | 2014-12-24 |
Family
ID=49175767
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012027629A Active JP5644007B2 (ja) | 2012-02-10 | 2012-02-10 | 温度センサ及び熱処理装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8821014B2 (ja) |
JP (1) | JP5644007B2 (ja) |
KR (1) | KR101730024B1 (ja) |
TW (1) | TWI564551B (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5451793B2 (ja) * | 2012-02-10 | 2014-03-26 | 東京エレクトロン株式会社 | 温度センサ及び熱処理装置 |
JP6294737B2 (ja) * | 2014-04-04 | 2018-03-14 | 日本フェンオール株式会社 | 温度センサ |
US9700951B2 (en) * | 2014-05-28 | 2017-07-11 | Hakko Corporation | Heater sensor complex with high thermal capacity |
JP6579974B2 (ja) * | 2015-02-25 | 2019-09-25 | 株式会社Kokusai Electric | 基板処理装置、温度センサ及び半導体装置の製造方法 |
CN209247188U (zh) * | 2018-07-04 | 2019-08-13 | Wika亚历山大·威甘德欧洲股份两合公司 | 热电偶结构和用于在容器中固定热电偶的结构 |
EP3835741B1 (en) | 2019-12-11 | 2024-02-07 | ABB Schweiz AG | A temperature determination device |
US11774298B2 (en) * | 2020-02-12 | 2023-10-03 | Tokyo Electron Limited | Multi-point thermocouples and assemblies for ceramic heating structures |
CN112530826B (zh) * | 2020-11-27 | 2024-05-17 | 北京北方华创微电子装备有限公司 | 半导体热处理设备的承载装置及半导体热处理设备 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3135983B2 (ja) * | 1992-06-22 | 2001-02-19 | 株式会社マック・サイエンス | 熱分析装置の試料温度検出装置 |
JP2001208616A (ja) * | 2000-01-28 | 2001-08-03 | Ohkura Electric Co Ltd | 温度検出素子 |
JP4393009B2 (ja) * | 2001-03-30 | 2010-01-06 | 東京エレクトロン株式会社 | 縦型熱処理装置 |
JP2002296122A (ja) | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Tokyo Electron Ltd | 熱処理装置および熱処理方法 |
KR100776914B1 (ko) | 2005-06-14 | 2007-11-15 | 주식회사 엘지화학 | 온도 측정 장치 |
DE102005040311B3 (de) * | 2005-08-24 | 2006-10-26 | Heraeus Electro-Nite International N.V. | Vorrichtung zur Temperaturmessung in Metallschmelzen |
JP5101953B2 (ja) * | 2007-08-27 | 2012-12-19 | 日本フェンオール株式会社 | 多点温度センサ |
US8262287B2 (en) * | 2008-12-08 | 2012-09-11 | Asm America, Inc. | Thermocouple |
DE202012003186U1 (de) * | 2012-03-29 | 2012-04-30 | Türk & Hillinger GmbH | Eintauch-Temperatursensor |
-
2012
- 2012-02-10 JP JP2012027629A patent/JP5644007B2/ja active Active
-
2013
- 2013-01-28 US US13/751,653 patent/US8821014B2/en active Active
- 2013-01-28 KR KR1020130009261A patent/KR101730024B1/ko active IP Right Grant
- 2013-02-01 TW TW102103996A patent/TWI564551B/zh active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20130092445A (ko) | 2013-08-20 |
JP2013164342A (ja) | 2013-08-22 |
US8821014B2 (en) | 2014-09-02 |
US20140211830A1 (en) | 2014-07-31 |
TW201339553A (zh) | 2013-10-01 |
TWI564551B (zh) | 2017-01-01 |
KR101730024B1 (ko) | 2017-04-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5644007B2 (ja) | 温度センサ及び熱処理装置 | |
JP5451793B2 (ja) | 温度センサ及び熱処理装置 | |
US10720349B2 (en) | Temperature measurement in multi-zone heater | |
US8822240B2 (en) | Temperature detecting apparatus, substrate processing apparatus and method of manufacturing semiconductor device | |
TW201032286A (en) | Method for identifying an incorrect position of a semiconductor wafer during a thermal treatment | |
JP2009010195A (ja) | 載置台構造及び熱処理装置 | |
KR101951994B1 (ko) | 가열부, 기판 처리 장치 및 반도체 장치의 제조 방법 | |
JP5366772B2 (ja) | 温度検出装置 | |
JPS6037116A (ja) | 光照射炉 | |
JP4393009B2 (ja) | 縦型熱処理装置 | |
JP5413149B2 (ja) | 重ね合わされた複数の半導体基板を加熱して接合する接合装置における、接合条件の補正方法、および接合装置 | |
JP2008187085A (ja) | 温度モニタ用基板の検査装置及び検査方法 | |
US20010022803A1 (en) | Temperature-detecting element | |
JP2008232684A (ja) | 基板の温度測定用方法および基板の温度測定用治具 | |
JP2011002242A (ja) | 温度センサ | |
JP2006162476A (ja) | プローバ | |
JP3660276B2 (ja) | 基板の接触式温度測定装置における測温体の姿勢調整方法および姿勢調整装置ならびにそれを備えた基板の熱処理装置 | |
JP2002168932A (ja) | 温度可変型nmrプローブ及び温度較正用治具 | |
JP2003249456A (ja) | 基板処理装置 | |
JP2000068224A (ja) | 基板熱処理装置 | |
KR20050091691A (ko) | 열처리 방법 및 열처리 장치 | |
WO2004030058A1 (ja) | 熱処理方法および熱処理装置 | |
JP2013033842A (ja) | 気相成長装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20131217 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140214 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20141007 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20141015 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5644007 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |