JP5634613B2 - イメージセンサ及び撮像装置 - Google Patents

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Description

本発明は、単眼3D画像撮像用のイメージセンサ及びこのイメージセンサを搭載した撮像装置に係り、特に、3D画像(立体画像)だけでなく高精細な2D画像(平面画像)も撮像できるイメージセンサ及び撮像装置に関する。
単眼で被写体の3D画像を撮像できるイメージセンサが、下記の特許文献1,2,3に示されるように種々提案されている。
3D画像を撮像できるイメージセンサは、例えば図27に示されるように、二次元アレイ状に配列形成された複数画素を隣接2画素毎のペア画素2に分け、ペア画素のうち一方の画素の遮光膜開口2aを画素中心に対して例えば水平方向の右側に偏心させ、他方の画素の遮光膜開口2bを画素中心に対して水平方向反対側つまり左側に偏心させて設ける。
遮光膜開口2aは右側に偏心しているため、右眼で被写体を見た入射光が入射し、遮光膜開口2bは左側に偏心しているため、左眼で被写体を見た入射光が入射する。このため、遮光膜開口2aを持つ各画素による撮影画像を右眼用画像とし、遮光膜開口2bを持つ各画素による撮影画像を左眼用画像とすることで、被写体の立体画像(3D画像)を再生することができる。
図28は、図27のペア画素の感度と入射角度依存性を示すグラフである。ここで、図中の0度は、入射角度0度つまり画素の受光面に対して入射光が垂直に入射する角度を示し、入射角度+側は、画素中心に対し右側に偏心させた遮光膜開口2a方向から入射する角度、入射角度−側は、画素中心に対し左側に偏心させた遮光膜開口2b方向から入射する角度を示している。遮光膜開口2a,2bを持つ夫々の画素の感度曲線I,IIは入射角依存性を持ち、ペア画素の感度の差が位相差量となる。両感度曲線I,IIが重なった範囲(斜線範囲)の全体の面積に占める割合が小さいほど両画素間の位相差量は大きくなるが、この重なり範囲を狭くするために遮光膜開口2a,2bを狭くすると、感度が低下し、暗い画像しか撮影できなくなってしまう。そこで、遮光膜開口2a,2bを適当な大きさとし、適切な偏心量の遮光膜開口を決めることになる。
3D画像を撮影できるイメージセンサであっても、被写体の2D画像を撮影したい場合もある。図27に示すイメージセンサの個々の画素の検出信号で2D画像を生成すると、遮光膜開口2aを持つ画素の撮像画像信号と遮光膜開口2bを持つ画素の撮像画像信号とは位相差を持つため、2D画像の品質を劣化させてしまう。
そこで、位相差量を無くすために、ペア画素2画素の撮像画像信号を加算すれば、高品質な2D画像を得ることが可能となる。しかし、画素加算するため、イメージセンサに設けられた画素数の半分の解像度となってしまい、高精細な2D画像を撮影することができなくなってしまうという問題が生じる。
日本国特開2010―263572号公報 日本国特開2003―7994号公報 日本国特開2007―279512号公報
本発明の目的は、3D画像を撮影できるイメージセンサで、高精細な2D画像も撮影することが可能なイメージセンサと撮像装置を提供することにある。
本発明のイメージセンサは、二次元アレイ状に配列形成された複数の画素を持ち、隣接する前記画素が夫々ペア画素を構成し、該ペア画素を構成する第1画素と第2画素の夫々の入射瞳が画素中心に対して、互いに反対方向に偏心して設けられたイメージセンサであって、
前記第1画素において、被写体からの光の入射角が、画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θAmaxとの間の範囲内で、前記第1画素の受光感度が最大受光感度の40%から80%の間にある入射角をθcAとし、
前記第2画素において、被写体からの光の入射角が、前記画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θBmaxとの間の範囲内で、前記第2画素の受光感度が最大受光感度の40%から80%の間にある入射角を−θcBとしたとき、
前記第1画素と前記第2画素の入射角に対する受光感度特性が、前記θcAと前記−θcBとの間の入射角度範囲で平坦な特性となることを特徴とする。
本発明の撮像装置は、上記記載のイメージセンサと、該イメージセンサの前段に設けられた絞りとを備える撮像装置であって、平面画像を撮像するときは前記絞りを絞って前記イメージセンサへの入射光の入射角度範囲を所要の角度範囲内に制限し、3D画像を撮像するときは前記絞りを開放して入射角度範囲が前記所要の角度範囲を超える入射光を前記イメージセンサに入射させる制御手段を備えることを特徴とする。
本発明によれば、良好かつ高精細な2D画像を撮像するときは入射光の入射角度範囲を上記の所定角度範囲に制限することで得ることが可能となる。
本発明の一実施形態に係るイメージセンサ(撮像素子)の表面模式図である。 図1に示すイメージセンサの1つのペア画素の詳細平面模式図である。 イメージセンサへの入射光を示す図である。 図2のX―X’,Y―Y’断面を並置した断面模式図である。 図4に対して少し入射光入射角が傾いた状態を示す図である。 図5に対して更に入射光入射角が傾いた状態を示す図である。 図6に対して更に入射光入射角が傾いた状態を示す図である。 図2に示すペア画素の受光感度と入射角度との関係を示すグラフである。 図8のグラフにおけるパラメータSc,θAmax,θBmaxの説明図である。 図8に示すグラフにおけるパラメータΔcの説明図である。 図8に示すグラフにおけるパラメータθc,Δp,θlr,θrl,θll,θrrの説明図である。 本発明の一実施形態に係る撮像装置の機能ブロック図である。 図11のグラフにおけるパラメータθlr,θrlをF値に換算する説明図である。 図13の説明で換算したF値とパラメータθlr,θrlの関係を表す図表である。 図9のグラフにおける受光感度最大値(θAmax,θBmax)をF値に換算する説明図である。 図15の説明で換算したF値とパラメータ(受光感度最大値)の関係を表す図表である。 図11のグラフにおけるパラメータθll,θrrをF値に換算する説明図である。 図17の説明で換算したF値とパラメータθll,θrrの関係を表す図表である。 図9のグラフにおけるパラメータθcをF値に換算する説明図である。 図19の説明で換算したF値とパラメータθcの関係を表す図表である。 本発明の一実施形態に係る撮像装置の処理手順を示すフローチャートである。 イメージセンサの各パラメータの具体例を示すグラフである。 図22の具体例で2D画像撮影モードと3D画像撮影モードで切り替えるF値の説明図である。 本発明の別実施形態に係る撮像装置の機能ブロック図である。 図24に示す撮像装置による撮像処理手順を示すフローチャートである。 本発明の別実施形態に係るイメージセンサの表面模式図である。 単眼3D画像を撮像するイメージセンサの一例を示す表面模式図である。 図27に示すイメージセンサの1つのペア画素の感度対入射角度の関係を示すグラフである。
以下、本発明の一実施形態について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の一実施形態に係るイメージセンサの表面模式図である。このイメージセンサ10は、複数の画素(フォトダイオード:斜めの正方形で示す。)11,12が二次元アレイ状に配列形成されることで構成されている。図示する例では、奇数行の画素行に対して偶数行の画素行が1/2画素ピッチずつずらして配置されている。
奇数行(又は偶数行)の画素12で構成される第1群画素(A群画素)だけみると各画素12は正方格子状に配列され、各画素12上に3原色のカラーフィルタr(赤)g(緑)b(青)がベイヤ配列されている。偶数行(又は奇数行)の画素で構成される第2群画素11(B群画素)だけみても各画素は正方格子状に配列され、各画素11上に3原色のカラーフィルタR(赤)G(緑)B(青)がベイヤ配列されている。R=r,G=g,B=bであり、A群画素とB群画素を識別するために大文字と小文字を用いて図示している。
斜めに隣接する同色のA群画素12とB群画素11とをペア画素とする。図1では、各ペア画素を斜めの楕円で囲っている。各画素11,12上には、夫々マイクロレンズが搭載されているが、図1では図示を省略している(図4参照)。
図2は、1つのペア画素11,12の拡大図である。画素11にあっては、第1の遮光膜11aが画素11の略左半分を遮光し、遮光膜開口11bは画素11の略右半分に設けられている。これにより、画素11の重心位置に対して遮光膜開口11bの重心位置は右側にズレることになる。
画素12にあっては、第1の遮光膜12aが画素12の略右半分を遮光し、遮光膜開口12bは画素12の略左半分に設けられている。これにより、画素12の重心位置に対して遮光膜開口12bの重心位置は左側にズレることになる。
図3は、イメージセンサ10への被写体からの入射光を示す図である。図2で説明したように、各画素11,12の夫々の遮光膜開口11b,12bを反対方向に偏心して設けることで各画素11,12の入射瞳が制限され、これにより、各画素11,12への光入射角度が制限される。このため、画素11には右目で見た場合の被写体光が多く入射し、画素12には左目で見た場合の被写体光が多く入射することになる。
図2に戻り、本実施形態では更に、各画素11,12において、画素の対角を結ぶ中心線に沿って、細い第2の遮光膜11c,12cが設けられている。イメージセンサの受光領域は、例えば4:3等の横長の矩形に形成される。この横方向に対して、線状の第2の遮光膜11c,12cは垂直に設けられる。
図4は、図2のX―X’線断面とY―Y’線断面とを並置して図示した断面模式図である。イメージセンサは、例えばn型半導体基板20の表面pウェル層に、二次元アレイ状にn領域21が形成されることで、光電変換素子としてのフォトダイオード(PD)21が形成される。図4の左側のPDが画素11(図2)の光電変換部となり、右側のPDが画素12(図2)の光電変換部となる。
半導体基板20の表面上には、平坦化膜22を介して第1の遮光膜11a,12aが形成され、その上に、平坦化膜23を介して第2の遮光膜11c,12cが形成される。更にその上に、平坦化膜24等を介して配線層(この例のイメージセンサはCMOS型であり、その配線層)25が積層され、その上に、平坦化膜26を介してカラーフィルタ27が積層され、その上に、平坦化膜28を介してマイクロレンズ29が形成される。
第1の遮光膜11a,12aの形成位置は、マイクロレンズ29の集光位置付近にあり、第2の遮光膜11c,12cは、マイクロレンズ29の集光位置より手前側(マイクロレンズ側)に位置するように形成されている。
画素11に設けられる第1の遮光膜11aのペア画素12側となる縁11dは、フォトダイオード(PD)11の中央21aから画素12とは反対側にずらして設けられており、第2の遮光膜11cは、この中央21aの真上に設けられている。
画素12に設けられる第1の遮光膜12aのペア画素11側となる縁12dは、フォトダイオード(PD)12の中央21aから画素11とは反対側にずらして設けられており、第2の遮光膜12cは、この中央21aの真上に設けられている。
図4に示す入射光は、イメージセンサの各画素に垂直な方向(画素法線方向)に入射している状態(入射角θ=0度)を示している。この状態では、入射光は第2の遮光膜11c,12cによって一部の光が遮られているため、各画素11,12の受光感度は最大受光感度より低下している。もし、第2の遮光膜11c,12cが存在しなければ、第1の遮光膜11a,12aによっても入射光は遮られることがないため、各画素11,12の受光感度は最大受光感度まで大きくなっているはずである。しかし、本実施形態では、垂直に入射する入射光の光路中に第2の遮光膜11c,12cを設けているため、各画素11,12の受光感度は最大受光感度より小さくなっている。
図8は、各画素11,12への入射光角度と受光感度との関係をプロットしたグラフ(最大受光感度で正規化してある。)であり、特性線Lが画素12、特性線Rが画素11の入射光角度と受光感度との関係を示している。この図8に示されるように、本実施形態では、入射光角度が0度のときの受光感度が、画素11,12で共に最大受光感度(これを“1”とする。)の0.6倍程度となるようにしている。
図5は、図4に対し、入射光角度が−θ1だけ傾いた状態を示している。この状態でも、画素11,12共に、入射光路中に第2の遮光膜11c,12cが存在するため、受光感度の変化はなく、最大受光感度に対して0.6の状態を維持している。
図6は、入射光角度が更に大きくなり、−θ2傾いた状態を示している。この状態では、入射光路から第2の遮光膜11c,12cがハズレ始め、画素11にあっては、第1の遮光膜11aに入射光がかかり始め、画素12にあっては遮光膜のない開口12b内だけに入射光が入り始めている。この結果、画素12の受光感度は、図8に符号4で示す様に上昇を始め、画素11の受光感度は、符号5で示すように低下を始める。
図7は、入射角度が更に大きくなり、−θ3に傾いた状態を示している。この状態では、画素11にあっては第1の遮光膜11aにより入射光は殆ど遮光されてしまい、画素11で受光される光は、迷光や回折光だけとなる。画素12にあっては、遮光膜に遮られる入射光はなくなる。この結果、画素12では、図8に符号6で示す様に最大受光感度となり、画素11では符号7で示す様に、最低受光感度となる。更に入射角度が大きくなると、画素12では入射光がフォトダイオード21(12)からハズレ始めるため、受光感度が低下することになる。
以上は、入射光の入射角度がマイナス側に傾いた状態で説明したが、プラス側に入射光が傾いても同じとなり、全体で図8の特性線となる。即ち、入射角度0度を挟む所定角度範囲では該範囲に渡って平坦かつ最大受光感度より低い受光感度となり、該範囲を超えた領域では山形に受光感度曲線が変化する特性となる。
図9は、図8のグラフを再掲した図である。図8の実施形態では、入射角度0度での画素11,12の受光感度Scを、最大感度の0.6程度と説明した。しかし、「0.6」に限るわけではなく、第2の遮光膜11c,12cの幅等によりこの受光感度Scを制御することができる。好適には、Sc=0.4〜0.8の範囲に設計するのが良い。図10は、画素11の特性線Lを示すグラフである。平坦な受光感度Scとして図9で説明したが、この平坦度の誤差Δc、即ち、受光感度の差を、最大受光感度“1”に対して0より大きく、0.05以下にするのが良い。勿論、Δc=0とすることができれば最も良い。
図11は、図8のグラフを再掲した図である。平坦な受光感度Scとなる入射角度範囲を−θc〜+θcとする。画素11,12は、第1の遮光膜開口11b,12bの位置だけが対称に形成され、後は全く同じに製造されるため、受光感度Scで平坦となる範囲や受光感度Scの大きさは、画素11と画素12で重なる。
なお、上記事項を次のように換言することもできる。即ち、画素11の入射角に対する受光感度の変化率の絶対値と、画素12の入射角に対する受光感度の変化率の絶対値との入射角に対する特性が、変曲点M(入射角θcA)と変曲点N(入射角−θcB)との間の入射角度範囲内で平坦となる。
本実施形態の第2の遮光膜11c,12cを設けない構成では、図28に示す様に、各画素の受光感度の入射光依存性は、正規分布の様なグラフとなる。しかし、第2の遮光膜11c,12cを設けることで、本実施形態では正規分布のグラフに2つの変曲点M,Nが生じ、受光感度Scの平坦部分が生じることになる。
また、画素11で最大受光感度付近となる入射角度範囲において、ペア画素12の受光感度との差Δpをとり、Δp≧閾値t(例えばt=0.8)となる入射角度範囲を求める。この入射角度範囲を「θlr〜θll」とする。同様に、画素12の最大受光感度付近となる入射角度範囲において、ペア画素11の受光感度との差Δpをとり、Δp≧閾値tとなる入射角度範囲を求め、これを「θrl〜θrr」とする。
つまり、例えば、θll=−20度、θlr=−12度、θrl=+12度、θrr=+20となるように、第1の遮光膜11a,12aや第2の遮光膜11c,12cを設計する。第1の遮光膜によりパラメータθlr、θrl、Δpを制御でき、第2の遮光膜によりパラメータθc、Δcが制御できる。
以上述べた様に、本実施形態のイメージセンサ(撮像素子)10は、入射角度±θc(例えば6度)の範囲内では、A群画素の受光感度とB群画素の受光感度との差(A群受光感度−B群受光感度)をΔc(例えば0.05)以内に抑えることができ、θll<入射角度<θlr、θrl<入射角度<θrrの範囲では、A群画素の受光感度とB群画素の受光感度の感度差としてΔp(例えば0.8)以上を確保している。
このため、本実施形態のイメージセンサ10をカメラに搭載し、入射光の入射角度を制御する(F値の値を選択することで可能)ことで、3D画像の撮影と2D画像の撮影を切り替えることができる。
例えば、F値5.6よりも小絞り側で撮影した時、入射光の入射角度は±5.1度以内となり、入射光は、図8の平坦部分Scに入射する。これにより、A群画素とB群画素の両方すなわち全画素で、位相差の無い2D画像が取得することができる。
また、F値2.2よりも開放側で撮影した時は、入射光の入射角度は±12.8度以上となる。これらより、A群画素とB群画素の夫々に位相差の異なる入射光が入射し、3D画像を取得することが可能となる。
図12は、上述した実施形態に係るイメージセンサ10を搭載した撮像装置(デジタルカメラ)の機能ブロック図である。この撮像装置30は、イメージセンサ10の前段に、シャッタ31と、撮影光学系32とを備える。撮影光学系32内には、撮影レンズ32aの他に、絞り(アイリス)32bが設けられている。
イメージセンサ10によるアナログの被写体撮像画像信号の出力は、AD変換部33によってデジタルの撮像画像信号に変換され、バス34に出力される。バス34には、この撮像装置30の全体を統括制御するCPU35と、デジタルの撮像画像信号を取り込み周知の画像処理を施す画像処理部36と、メモリ37と、シャッタボタンやメニュー選択ボタン等の操作部38と、画像圧縮などを行うエンコーダ39と、ドライバ40とが接続される。
ドライバ40にはカメラ背面等に設けられた表示部41が接続され、CPU35には、撮影光学系32やシャッタ31、イメージセンサ(撮像素子)10を駆動するデバイス制御部42が接続される。バス34には、図示は省略しているが、被写体画像を記録するメモリカード等の外部メモリを制御するメモリ制御部も接続されている。
本実施形態の撮像装置30は、図8〜図11で説明した特性を持つイメージセンサ10を搭載している。即ち、「θll<−θc<0<θc<θrl」の関係を持つ。また、「−θc<入射角度<+θc」の範囲内では、A群画素,B群画素の受光感度Scは一定の値となることが望ましいが、一定の傾きを有していてもよく、この範囲内ではA画素とB画素の受光感度の差は、Δc(=0.05程度:最大受光感度を1とする。)以内であれば良い。受光感度Scは、最大受光感度を“1”としたとき0.4〜0.8の範囲内の所定感度となる。
このため、絞り32bを絞ったF値(大きなF値)にすることで、入射光は図8の受光感度特性が平坦となった−θc〜+θcの範囲内に入射し、A群画素とB群画素とで位相差が無く感度差も無い被写体画像を撮像することができ、高精細な2D画像を得ることができる。Sc=0.2とか0.3とか低い値にすると、暗い2D画像しか撮像できなくなり、Sc=0.9とか0.95とか高い値にすると、3D画像を撮像したとき特性線Lと特性線Rとが重なる面積が広くなり、3D画像の左右画像の分離性能(位相差)が劣化してしまうため、Sc=0.4〜0.8が好適である。
3D画像を撮影したい場合には、絞り32bを開放したF値(小さなF値)にする。これにより、入射光は、画素11,12の感度差Δp(最大受光感度を“1”としたときの0.8以上)のある入射角度まで入射し、被写体の3D画像を撮像することが可能となる。
即ち、図9の特性図に示す様に、A群画素の最大受光感度値となる入射角度位置θAmaxを挟む「θll<θAmax<θlr」の範囲内となるように、B群画素の最大受光感度値となる入射角度位置θBmaxを挟む「θrl<θBmax<θrr」の範囲内となるように、入射光の入射角度(即ちF値)を選択することで、良好な3D画像を得ることができる。
図12の撮像装置30で、即ちイメージセンサ10で3D画像を撮像する場合、「入射角<θlr」「θrl<入射角」とする必要があることは上述した。撮像装置(カメラ)の場合、入射角度を直接制御することはせずに、F値を制御することで、間接的に「入射角」を制御するのが普通である。そこで、図13に示す様に、F値に換算する。
F値が可変な絞り32bは、F値の開放値(最小値)をFminとしたとき、
−tan−1(1/(2*Fmin))<θlr、
θrl<tan−1(1/(2*Fmin))
を満たすようにする。この入射角度をF値に換算した図表を図14に示す。
図13のような受光感度の入射角度依存性をもつと、図14に示す様に、撮像レンズの開放値(F値)に応じて、θlr,θrlの条件が決定される。θlrは図14の角度よりも大きい値(0度に近い方)になるようにし、θrlは図14の角度よりも小さい値になるようにする。こうしないと、絞り開放で良好な3D画像を得ることができない。
図13,図14では、3D画像が得られる範囲を決めるθlr,θrlをF値に換算したが、更に良質な3D画像は、図15に示す様に、受光感度が最大となる入射角度位置θAmax,θBmaxで撮影するのが好適である。そこで、この最大受光感度を与えるθAmax,θBmaxをF値に換算し、−tan−1(1/(2*Fmin))<θAmax、θBmax<tan−1(1/(2*Fmin))を満たすようにする。図16にF値に換算した図表を示す。この図16に従ってF値を選択することで、イメージセンサ10の受光感度の角度依存が最大となる入射角度の光が入るため、より良質の3D画像を取得することができる。
図15,図16では、受光感度が最大となる入射角度のF値を求めたが、更に良質な3D画像を得ることができる。画素11,画素12間の受光感度差がΔp(所定値例えば0.8)以上となる範囲をθll〜θlr、θrl〜θrrとし、図13ではθlr,θrlで入射角を決めたが、図17では、位相差が得られる最大の範囲であるθll,θrrで入射角(F値)を決める。これにより、良質な3D画像を得ることができる。即ち、−tan−1(1/(2*Fmin))<θll,θrr<tan−1(1/(2*Fmin))を満たすF値を選択する。このF値を図18に示す。
この図17,図18の実施形態は、イメージセンサ10の特性を最大限活かす撮像絞りの条件を示しており、最も良質な3D画像を取得できる。位相差の得られる領域を最大限使おうとすると、図18のように開放F値が決まっているとき、θllが図表の値よりも大きくなるようにし、θrrが図表の値よりも小さくなるようにする必要がある。
図19は、2D画像を取得することができるθcの入射角をF値に換算する図である。換算したF値を図20に示す。F値が可変な絞り32bは、F値の小絞り値(最大値)をFmaxとしたとき、tan−1(1/(2*Fmax))<θcを満たす様にする。この例では、F値を5.6以上の値とすることで、良好な2D画像を得ることができる。
図21は、撮像装置における撮像手順を示すフローチャートである。この撮像装置に使用されているイメージセンサの特性の具体例を図22に示す。この図22の特性によれば、2D画像を撮影するには入射角度を4度以下にする必要があり、3D画像を撮影するには、入射角度を12度以上にする必要がある。
先ず、図12のCPU(制御手段)35は、使用者が指定入力した撮影モードを判定し、3D撮影モードの撮影であるか否かを判定する(ステップS1)。3D撮影モードによる撮影の場合には、次にステップS2に進み、絞りを開放に変更する。図23に示す様に、F値が「1.2」「2.2」の3D画像を撮影できるため、どちらかのF値にする。
ステップS1の判定の結果、3D撮影モードでない場合には、ステップS3に進む。あるいは、ステップS2の次にステップS3に進む。このステップS3では、2D撮影モードであるか否かを判定する。3D撮影モードの場合にはステップS3の判定結果は否定となるため、この処理を終了する。2D撮影モードの場合には、次にステップS4に進み、絞りを小絞りに変更し(図23の例ではF値「7.2」又は「11.0」)、この処理を終了する。
このように制御すれば、使用者は3D撮影モードで撮影したい時、2D撮影モードで撮影したい時、撮影モードを切り替えるだけで、カメラ側が適切な絞り値を選択するため、良好な3D画像,高精細な2D画像を自動的に撮影可能となる。
図24は、本発明の別実施形態に係る撮像装置50の機能ブロック図である。図12の撮像装置に比べて、撮影光学系32内にNDフィルタ32cを追加して備え、NDフィルタ32cを光路内に入れたり出したりできる点だけが異なる。他の構成部材は図12と同じであるため、同じ部材には同じ符号を付してその説明は省略する。
図25は、本実施形態の撮像装置50による撮像手順を示すフローチャートである。3Dモード撮影時には、絞りを絞り過ぎると、入射光の入射角度が小さくなり、良質な3D画像の撮影が困難となってしまう。しかし、絞りを絞らないと、入射光量が過大となってしまう場合がある。
そこで本実施形態の撮像装置50のCPU35は、先ずステップS11で3D撮影モードであるか否かを判定し、3D撮影モードでない場合にはこの処理を終了する。3D撮影モードの場合には、次にステップS12に進んで絞り32bを開放に変更し、次のステップS13で露出の確認と計算を行う。このステップS13の計算の結果をステップS14で判定し、露出過多であるか否かを判定する。露出過多の場合には次のステップS15でNDフィルタ32cを挿入してこの処理を終了する。露出過多でない場合にはステップS15を飛び越してこの処理を終了する。
この様に、本実施形態では、開口絞りを絞らずにNDフィルタで減光できるため、良好な3D画像を得ることが可能となる。
図26は、図11のイメージセンサ10に代わる別実施形態のイメージセンサ60の模式図である。本実施形態のイメージセンサ60は、正方格子状に画素が配列されており、奇数行(又は偶数行)の全画素にG(緑)のカラーフィルタが積層され、偶数行(又は奇数行)画素に、2画素ずつR(赤)のカラーフィルタとB(青)のカラーフィルタが交互に積層されている。2画素ずつの同色画素がペア画素を構成し、ペア画素の一方の画素の遮光膜開口11bと他方の画素の遮光膜開口12bを画素中心に対して反対方向に偏心させる。
この画素配列,カラーフィルタ配列は、次の様に表現することもできる。図26の正方格子配列のイメージセンサ60を斜め45度に傾けてみた場合、所謂ハニカム画素配列(奇数行の画素行と偶数行の画素行が1/2画素ピッチずつずらして配置された画素配列)となる。このうち市松位置の画素配列(2画素×2画素を単位マトリクスとしたチェッカーパターンにおける一方の同種画素の配列)は正方格子配列となり、残りの市松位置の画素配列(上記チェッカーパターンにおける他方の同種画素の配列)も正方格子配列となる。この両正方格子の画素配列に夫々3原色のカラーフィルタをベイヤ配列すると、図26のカラーフィルタ配列となる。
この様な画素配列,カラーフィルタ配列であっても、第1の遮光膜と第2の遮光膜の大きさや相互関係を適切に設計することで図8の特性を実現でき、上述した実施形態と同様に、良好な3D画像や高精細な2D画像を撮像することができる。
なお、図8の特性線上で変曲点M,N(図9参照)を持ち平坦な受光感度Sc部分を形成するために、上述した実施形態では第2の遮光膜11c,12cを設けたが、これに限る訳ではない。
以上述べた実施形態のイメージセンサは、二次元アレイ状に配列形成された複数の画素を持ち、隣接する前記画素が夫々ペア画素を構成し、該ペア画素を構成する第1画素と第2画素の夫々の入射瞳が画素中心に対して、互いに反対方向に偏心して設けられたイメージセンサであって、
前記第1画素において、被写体からの光の入射角が、画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θmaxaとの間の範囲内で、前記第1画素の受光感度が最大受光感度の40%から80%の間にある入射角をθcAとし、
前記第2画素において、前記入射角が、前記画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θmaxbとの間の範囲内で、前記第2画素の受光感度が最大受光感度の40%から80%の間にある入射角を−θcBとしたとき、
前記第1画素と前記第2画素の前記入射角に対する受光感度特性が、前記θcAと前記−θcBとの間の入射角度範囲で平坦な特性となることを特徴とする。
また、実施形態のイメージセンサは、二次元アレイ状に配列形成された複数の画素を持ち、隣接する前記画素が夫々ペア画素を構成し、該ペア画素を構成する第1画素と第2画素の夫々の入射瞳が画素中心に対して、互いに反対方向に偏心して設けられたイメージセンサであって、
前記第1画素において、被写体からの光の入射角が、画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θmaxaとの間の範囲内のある入射角をθcAとし、
前記第2画素において、前記入射角が、前記画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θmaxbとの間の範囲内のある入射角を−θcBとしたとき、
前記第1画素の前記入射角に対する受光感度の変化率の絶対値と、前記第2画素の前記入射角に対する受光感度の変化率の絶対値との前記入射角に対する特性が、前記入射角−θcAと前記入射角θcBとの間の入射角度範囲内で平坦となることを特徴とする。
また、実施形態のイメージセンサの前記平坦とは、前記第1画素の受光感度と前記第2画素の受光感度との差が、前記最大受光感度を1としたとき、0以上0.05以下の範囲であることを特徴とする。
また、実施形態のイメージセンサの前記平坦とは、前記受光感度の差が、0より大きく、0.05以下の範囲であることを特徴とする。
また、実施形態のイメージセンサは、前記平坦とは、前記受光感度の差が0であることを特徴とする。
また、実施形態のイメージセンサは、前記複数の画素は、奇数行の画素行と偶数行の画素行が1/2画素ピッチずつずらして配置され、前記奇数行の画素に3原色のカラーフィルタがベイヤ配列されると共に前記偶数行の画素に3原色のカラーフィルタがベイヤ配列され、同色の前記カラーフィルタを持つ斜めに隣接する前記奇数行及び前記偶数行の2画素が夫々前記ペア画素を構成することを特徴とする。
また、実施形態のイメージセンサは、前記複数の画素の画素配列が正方格子配列であり、該正方格子配列を前記画素の配列面上で斜め45度に傾けてみたときの市松位置の画素(2画素×2画素を単位マトリクスとしたチェッカーパターンにおける一方の同種画素)に3原色のカラーフィルタをベイヤ配列すると共に残りの市松位置の画素(前記チェッカーパターンにおける他方の同種画素)に3原色のカラーフィルタをベイヤ配列し、同色の前記カラーフィルタを持つ隣接2画素が夫々前記ペア画素を構成することを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、上記のいずれかに記載のイメージセンサと、該イメージセンサの前段に設けられた絞りとを備える撮像装置であって、平面画像を撮像するときは前記絞りを絞って前記イメージセンサへの入射光の入射角度範囲を所要の角度範囲内に制限し、3D画像を撮像するときは前記絞りを開放して入射角度範囲が前記所要の角度範囲を超える入射光を前記イメージセンサに入射させる制御手段を備えることを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、前記第1画素,第2画素の夫々の最大受光感度を与える入射角度を夫々θAmax,θBmaxとし、前記第1画素の受光感度と前記第2画素の受光感度との差が前記最大受光感度の80%以上となる入射角度範囲を「θll<入射角度<θlr<0」とし、前記第2画素の受光感度と前記第1画素の受光感度との差が前記最大受光感度の80%以上となる入射角度範囲を「0<θrl<入射角度<θrr」としたとき、前記入射角度θAmaxは「θll<θAmax<θlr」、前記入射角度θBmaxは「θrl<θBmax<θrr」となる特性の前記イメージセンサを使用することを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、前記入射光の入射角度をF値で判断することを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、3D画像を撮像するとき、F値の開放値をFminとしたとき、
−tan−1(1/(2*Fmin)<θlr
θrl<tan−1(1/(2*Fmin))
を満たすことを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、F値の開放値をFminとしたとき、
−tan−1(1/(2*Fmin))<θAmax
θBmax<tan−1(1/(2*Fmin))
を満たすことを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、F値の開放値をFminとしたとき、
−tan−1(1/(2*Fmin))<θll
θrr<tan−1(1/(2*Fmin))
を満たすことを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、F値の小絞り値である最大値をFmaxとしたとき、
tan−1(1/(2*Fmax))<θc
を満たすことを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、3D画像の撮影時には前記絞りをFtan(θrl)/2より開放側で撮影し、2D画像の撮影時には前記絞りをFtan(θc)/2よりも小絞り側で撮影することを特徴とする。
また、実施形態の撮像装置は、前記絞りを開放して前記3D画像を撮像する場合に露出過多となるときNDフィルタを前記イメージセンサの前段に挿入することを特徴とする。
また、実施形態のイメージセンサは、二次元アレイ状に配列形成され隣接2画素がペア画素を構成する複数の画素と、各画素上の夫々に積層されるマイクロレンズと、各画素上に積層され前記マイクロレンズの集光高さに形成された第1遮光膜と、前記ペア画素を構成する第1画素,第2画素の上の前記第1遮光膜に開口され互いに画素中心に対して反対方向に偏心して設けられた遮光膜開口と、前記第1遮光膜の形成位置と異なる高さに形成され前記画素中心に対して開口する前記遮光膜開口に対し該画素中心への垂直入射光の入射を阻止し前記偏心方向の該画素の周辺への斜め入射光の入射を許容する第2遮光膜とを備えることを特徴とする。
以上述べた実施形態によれば、良好な3D画像が撮影できるばかりでなく、良好かつ高精細な2D画像も撮影することが可能となる。
本発明に係るイメージセンサ及び撮像装置は、良好な3D画像ばかりでなく良好で高精細な2D画像も撮像できるため、デジタルカメラ等に適用すると有用である。
本発明を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。
本出願は、2011年9月28出願の日本特許出願(特願2011−213126)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
10,60 イメージセンサ
11,12 ペア画素
11a,12a 第1の遮光膜
11b,12b 第1の遮光膜の開口
11c,12c 第2の遮光膜
21 画素の光電変換部(PD)
27 カラーフィルタ
29 マイクロレンズ
31 シャッタ
32 撮影光学系
32b 絞り(アイリス)
32c NDフィルタ
35 CPU
M,N 変曲点

Claims (17)

  1. 二次元アレイ状に配列形成された複数の画素を持ち、隣接する前記画素が夫々ペア画素を構成し、該ペア画素を構成する第1画素と第2画素の夫々の入射瞳が画素中心に対して、互いに反対方向に偏心して設けられたイメージセンサであって、
    前記第1画素において、被写体からの光の入射角が、画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θAmaxとの間の範囲内で、前記第1画素の受光感度が最大受光感度の40%から80%の間にある入射角をθcAとし、
    前記第2画素において、被写体からの光の入射角が、前記画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θBmaxとの間の範囲内で、前記第2画素の受光感度が最大受光感度の40%から80%の間にある入射角を−θcBとしたとき、
    前記第1画素と前記第2画素の入射角に対する受光感度特性が、前記θcAと前記−θcBとの間の入射角度範囲で平坦な特性となるイメージセンサ。
  2. 二次元アレイ状に配列形成された複数の画素を持ち、隣接する前記画素が夫々ペア画素を構成し、該ペア画素を構成する第1画素と第2画素の夫々の入射瞳が画素中心に対して、互いに反対方向に偏心して設けられたイメージセンサであって、
    前記第1画素において、被写体からの光の入射角が、画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θAmaxとの間の範囲内のある入射角をθcAとし、
    前記第2画素において、被写体からの光の入射角が、前記画素法線方向である0°と最大受光感度となる入射角θBmaxとの間の範囲内のある入射角を−θcBとしたとき、
    前記第1画素の入射角に対する受光感度の変化率の絶対値と、前記第2画素の入射角に対する受光感度の変化率の絶対値との入射角に対する特性が、前記入射角θcAと前記入射角−θcBとの間の入射角度範囲内で平坦となるイメージセンサ。
  3. 請求項1又は請求項2に記載のイメージセンサであって、前記平坦とは、前記第1画素の受光感度と前記第2画素の受光感度との差が、前記最大受光感度を1としたとき、0以上0.05以下の範囲であるイメージセンサ。
  4. 請求項3に記載のイメージセンサであって、前記平坦とは、前記受光感度の差が、0より大きく、0.05以下の範囲であるイメージセンサ。
  5. 請求項3に記載のイメージセンサであって、前記平坦とは、前記受光感度の差が0であるイメージセンサ。
  6. 請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のイメージセンサであって、前記複数の画素は、奇数行の画素行と偶数行の画素行が1/2画素ピッチずつずらして配置され、前記奇数行の画素に3原色のカラーフィルタがベイヤ配列されると共に前記偶数行の画素に3原色のカラーフィルタがベイヤ配列され、
    同色の前記カラーフィルタを持つ斜めに隣接する前記奇数行及び前記偶数行の2画素が夫々前記ペア画素を構成するイメージセンサ。
  7. 請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載のイメージセンサであって、前記複数の画素の画素配列が正方格子配列であり、該正方格子配列を前記画素の配列面上で斜め45度に傾けてみたときの市松位置の画素に3原色のカラーフィルタをベイヤ配列すると共に残りの市松位置の画素に3原色のカラーフィルタをベイヤ配列し、同色の前記カラーフィルタを持つ隣接2画素が夫々前記ペア画素を構成するイメージセンサ。
  8. 請求項1乃至請求項7のいずれか1項に記載のイメージセンサと、該イメージセンサの前段に設けられた絞りとを備える撮像装置であって、平面画像を撮像するときは前記絞りを絞って前記イメージセンサへの入射光の入射角度範囲を所要の角度範囲内に制限し、3D画像を撮像するときは前記絞りを開放して入射角度範囲が前記所要の角度範囲を超える入射光を前記イメージセンサに入射させる制御手段を備える撮像装置。
  9. 請求項8に記載の撮像装置であって、前記第1画素,第2画素の夫々の最大受光感度を与える入射角度を夫々θAmax,θBmaxとし、前記第1画素の受光感度と前記第2画素の受光感度との差が前記最大受光感度の80%以上となる入射角度範囲を「θll<入射角度<θlr<0」とし、前記第2画素の受光感度と前記第1画素の受光感度との差が前記最大受光感度の80%以上となる入射角度範囲を「0<θrl<入射角度<θrr」としたとき、前記入射角度θAmaxは「θll<θAmax<θlr」、前記入射角度θBmaxは「θrl<θBmax<θrr」となる特性の前記イメージセンサを使用する撮像装置。
  10. 請求項9に記載の撮像装置であって、前記入射光の入射角度をF値で判断する撮像装置。
  11. 請求項10に記載の撮像装置であって、F値の開放値をFminとしたとき、
    −tan−1(1/(2*Fmin)<θlr
    θrl<tan−1(1/(2*Fmin))
    を満たす撮像装置。
  12. 請求項10又は請求項11に記載の撮像装置であって、F値の開放値をFminとしたとき、
    −tan−1(1/(2*Fmin))<θAmax
    θBmax<tan−1(1/(2*Fmin))
    を満たす撮像装置。
  13. 請求項10乃至請求項12のいずれか1項に記載の撮像装置であって、F値の開放値をFminとしたとき、
    −tan−1(1/(2*Fmin))<θll
    θrr<tan−1(1/(2*Fmin))
    を満たす撮像装置。
  14. 請求項9乃至請求項13のいずれか1項に記載の撮像装置であって、前記θcAと前記−θcBとの間の前記入射角度範囲は−θcからθcであり、F値の小絞り値である最大値をFmaxとしたとき、
    tan−1(1/(2*Fmax))<θc
    を満たす撮像装置。
  15. 請求項14に記載の撮像装置であって、3D画像の撮影時には前記絞りをF値でtan(θrl)/2より開放側で撮影し、2D画像の撮影時には前記絞りをF値でtan(θc)/2よりも小絞り側で撮影する撮像装置。
  16. 請求項15に記載の撮像装置であって、前記絞りを開放して前記3D画像を撮像する場合に露出過多となるときNDフィルタを前記イメージセンサの前段に挿入する撮像装置。
  17. 二次元アレイ状に配列形成され隣接2画素がペア画素を構成する複数の画素と、各画素上の夫々に積層されるマイクロレンズと、各画素上に積層され前記マイクロレンズの集光高さに形成された第1遮光膜と、前記ペア画素を構成する第1画素,第2画素の上の前記第1遮光膜に開口され互いに画素中心に対して反対方向に偏心して設けられた遮光膜開口と、前記第1遮光膜の形成位置と異なる高さに形成され前記画素中心に対して開口する前記遮光膜開口に対し該画素中心への垂直入射光の入射を阻止し前記偏心方向の該画素の周辺への斜め入射光の入射を許容する第2遮光膜とを備えるイメージセンサ。
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