JP5619760B2 - リソグラフィシステムのビームの同時測定 - Google Patents
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Description
前記アパーチャアレイの前記アパーチャを通過する前記CPビームの強度を検出する検出ユニットと、
前記検出ユニットによって得られた前記検出の結果に基づいて前記CPビームの強度を調節するグリッドアレイと、
を具備する。米国特許出願2006/0,138,359A1による一実施の形態では、1又は複数のビームの強度が、露光装置で2つのレベルで測定される。まず、アパーチャアレイを通過するそれぞれのビーム又はグループのビームの各々に対して強度が測定される。これは、アパーチャアレイを通過する全ての他のビームをブランキングして、測定されることになっているビーム又はグループのビームを測定するために、それぞれのCPビームの近くにファラデーカップを位置決めすることによって行われる。ファラデーカップは、ウェーハ表面に近いビーム又はグループのビームの測定を得るために、ウェーハ表面上に、又はその近くに置かれる。各ビーム又はグループのビームの測定された強度は、メモリに格納され、後に参照値として使用される。
i)各ビームブランカに対して、各々が所定の時間間隔にわたる関連するビームの変調を示す一時ブランキングパターンを有する多数の一時ブランキングパターンを与える工程と、
ii)関連する一時ブランキングパターンをビームに関連する各ブランカに流すことによって、前記時間間隔中に前記多数のビームを同時に変調して、全てのブランキングされていないビームの集合ビームの強度信号を感知して、前記一時パターンの流れ中に時間の関数として前記信号を測定する工程と、
iii)これらの関連する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記信号に基づいて、それぞれのビームの強度の測度を計算する工程と、を具備する。
この方法を使用することによって、ただ1つのセンサを使用してなされる集合測定からそれぞれのビームの強度を計算することが可能となる。これらのそれぞれの強度が決定されることができる速度(rate)は、ビームの各測定に対するセンサを再アライメントする必要がないので、非常に速いことができる。さらに、いくつかのビームがブランキングされずに残っているときはいつでも、それぞれのビームの強度の決定の精度に対する残差信号の影響は、この方法を使用して低減される。
以下に、本出願の出願当初の特許請求の範囲に記載された発明を付記する。
[1]多数のビームを与えるためのビーム源と、前記多数のビームから出た各ビームのためのブランカを有し、複数のビームを実質的に通過させるように構成されたブランカアレイと、各ビームがブランキングされるべきとき、及びブランキングされるべきでないときを各ビームに示す一時ブランキングパターンを前記ブランカアレイに与えて、只一つの一時ブランキングパターンで各ビームを変調するための制御装置と、前記ブランカアレイの下流側に配置され、それぞれ変調された前記複数のビームを直接かつ同時に感知して、前記複数のビームの集合信号を与えるように配置されたセンサ領域を有するセンサを含む測定装置と、を具備するマルチビームリソグラフィシステム。
[2]前記集合信号をそれぞれのビームの各々に対する強度の値に復調するように構成された復調器をさらに具備する[1]のマルチビームリソグラフィシステム。
[3]前記復調器は、前記制御装置に前記一時ブランキングパターンを与えて、これらの対応する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記複数のビームの前記集合信号に基づいてそれぞれのビームの強度の測度を計算するように構成された電子データプロセッサを有する[2]のマルチビームリソグラフィシステム。
[4]前記センサ領域は、システムの前記多数のビームの全てのビームを同時に感知するように構成されている[1]ないし[3]のいずれか1のシステム。
[5]前記センサ領域は、連続した領域である[1]ないし[4]のいずれか1のシステム。
[6]前記多数のビームは、多数の荷電粒子ビームを含み、また、前記測定装置は、前記複数のビームによって発生された集合電流を測定するように配置された電流測定センサを有する[1]ないし[5]のいずれか1のシステム。
[7]前記電流測定センサは、少なくとも1つのファラデーカップと、電流クランプと発光物質との少なくとも一方と、フォトンカウンタとを有する[6]のシステム。
[8]前記ビームに露光されるターゲットを保持し、かつ移動させるためのステージを有するターゲット位置決めシステムをさらに具備し、前記測定装置は、前記ステージに装着される[1]ないし[7]のいずれか1のシステム。
[9]前記複数のビームを前記センサ領域に方向付けるための収束要素をさらに具備する[1]ないし[8]のいずれか1のシステム。
[10]前記測定装置は、前記センサ領域の前方に置かれたナイフエッジ又はナイフエッジアレイをさらに有する[1]ないし[9]のいずれか1のシステム。
[11]前記ナイフエッジ又はナイフエッジアレイは、システムのイメージ面に実質的に配置されている[10]のシステム。
[12][1]ないし[11]のいずれか1のシステムで複数のビームを同時に測定する方法であって、i)各ブランカに対して、各々が所定の時間間隔にわたる関連するビームの変調を示す一時ブランキングパターンを有する多数の一時ブランキングパターンを与える工程と、ii)関連する一時ブランキングパターンをビームに関連する各ブランカに流すことによって、前記時間間隔中に前記多数のビームを変調して、全てのブランキングされていないビームの集合ビームの強度信号を感知して、前記一時パターンの流れ中に時間の関数として前記信号を測定する工程と、iii)これらに関連する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記信号に基づいて、それぞれのビームの強度の測度を計算する工程と、を具備する方法。
[13]前記工程iii)は、これらに関連する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記信号に基づいて、それぞれのビームの強度の測度を計算することによって前記信号を復調することを含む[12]の方法。
[14]前記多数のビームの前記一時ブランキングパターンは、互いにほぼ直交する[12]又は[13]の方法。
[15]前記i)及びii)の工程中、前記多数のビームのほぼ半分のみがスイッチを切り換えられる[12]ないし[14]のいずれか1の方法。
[16]前記多数の一時ブランキングパターンは、擬似乱数を使用して発生される[12]ないし[15]のいずれか1の方法。
[17]前記一時ブランキングパターンは、各一時ブランキングパターンが、多数のオン・オフの切り替えを含むように選択される[12]ないし[16]のいずれか1の方法。
[18]前記一時ブランキングパターンは、ほぼいつでも、ブランキングされていないビームの合計量がほぼ一定であるように構成されている[12]ないし[17]のいずれか1の方法。
[19]前記測定装置は、前記複数のビームによって発生される集合電流を測定するように配置された電流測定センサを有し、前記測定装置は、可変利得増幅器をさらに有し、この可変利得増幅器は、高利得かつ低ノイズの設定を有する第1の設定と、低利得かつ高ノイズの設定を有する第2の設定とを有し、前記集合電流が小さいと予期されるときに前記可変利得増幅器を前記第1の設定に設定する工程、もしくは前記集合電流が大きいと予期されるときに前記可変利得増幅器を前記第2の設定に設定する工程を含む[12]ないし[18]のいずれか1の方法。
[20]複数のビームを同時に感知し、かつ、前記複数のビームの集合信号を与えるように配置されたセンサ領域を有するセンサを有し、さらに、前記センサ領域の前方に配置されたナイフエッジ又はナイフエッジアレイを有する[1]ないし[11]のいずれか1のシステムでの使用に適した測定装置。
[21]ターゲット上にマルチビームを投影するためのマルチビームカラムを有するマルチビームリソグラフィシステムであって、前記カラムは、多数のビームを与えるためのビーム源と、前記ビーム源と前記ターゲットとの間に配置され、前記多数のビームから出た各ビームのためのブランカを有し、複数のビームを実質的に通過させるように構成されたブランカアレイと、各ビームがブランキングされるべきとき、及びブランキングされるべきでないときを各ビームに示すブランキングパターンを前記ブランカアレイに与えるための制御装置と、前記ターゲット上に前記複数のビームを投影するための投影手段と、前記マルチビームカラムのスループットを試験するように、前記マルチビームカラムの下流側に配置され、前記多数のビームの全てのビームを同時に感知するように構成されたセンサ領域を有し、前記複数のビームの集合信号を与えるように配置されたセンサと、これらに対応する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記複数のビームの集合信号に基づいてそれぞれのビームの強度の測度を計算することによって前記集合信号を復調するための復調器と、を具備するマルチビームリソグラフィシステム。
Claims (16)
- 多数のビーム(105)を与えるためのビーム源(101)と、
前記多数のビームから出た各ビームのためのブランカを有し、複数のビームを実質的に通過させるように構成されたブランカアレイ(107)と、
各ビームがブランキングされるべきとき、及びブランキングされるべきでないときを各ビームに示す一時ブランキングパターンを前記ブランカアレイ(107)に与えて、只一つの一時ブランキングパターンで各ビームを変調するための制御装置(112)と、
変調された前記複数のビームを直接かつ同時に測定する測定装置とを具備し、前記測定装置は、前記ブランカアレイの下流側に配置され、前記測定装置は、それぞれ変調された前記複数のビームを直接かつ同時に感知して、時間の関数として前記複数のビームの集合信号を与えるように配置されたセンサ領域を有するセンサを有するマルチビームリソグラフィシステム。 - 前記集合信号をそれぞれのビームの各々に対する強度の値に復調するように構成された復調器をさらに具備し、前記復調器は、前記制御装置に前記一時ブランキングパターンを与えて、これらの対応する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記複数のビームの前記集合信号に基づいてそれぞれのビームの強度の測度を計算するように構成された電子データプロセッサを有する請求項1のマルチビームリソグラフィシステム。
- 前記センサ領域は、システムの前記多数のビームの全てのビームを同時に感知するように構成されている請求項1又は2のマルチビームリソグラフィシステム。
- 前記多数のビームは、多数の荷電粒子ビームを含み、また、
前記測定装置は、前記複数のビームによって発生された集合電流を測定するように配置された電流測定センサを有する請求項1ないし3のいずれか1のマルチビームリソグラフィシステム。 - 前記ビームに露光されるターゲットを保持し、かつ移動させるためのステージを有するターゲット位置決めシステムをさらに具備し、
前記測定装置は、前記ステージに装着される請求項1ないし4のいずれか1のマルチビームリソグラフィシステム。 - 前記複数のビームを前記センサ領域に方向付けるための収束要素をさらに具備する請求項1ないし5のいずれか1のマルチビームリソグラフィシステム。
- 前記測定装置は、前記センサ領域の前方に置かれたナイフエッジ又はナイフエッジアレイをさらに有する請求項1ないし6のいずれか1のマルチビームリソグラフィシステム。
- 請求項1ないし7のいずれか1のシステムで複数のビームを同時に測定する方法であって、
i)各ブランカに対して、各々が所定の時間間隔にわたる関連するビームの変調を示す一時ブランキングパターンを有する多数の一時ブランキングパターンを与える工程と、
ii)関連する一時ブランキングパターンを前記ビームに関連する各ブランカに流すことによって、前記時間間隔中に前記多数のビームの各ビームをそれぞれ変調して、全てのブランキングされていないビームの集合ビームの強度信号を感知して、いくつかのビームはいかなるときもブランキングされず、前記一時ブランキングパターンの流れ中に時間の関数として前記信号を測定する工程と、
iii)これらに関連する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記信号に基づいて、それぞれのビームの強度の測度を計算する工程と、を具備する方法。 - 前記工程iii)は、これらに関連する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記信号に基づいて、それぞれのビームの強度の測度を計算することによって前記信号を復調することを含む請求項8の方法。
- 前記多数のビームの前記一時ブランキングパターンは、互いにほぼ直交する請求項8又は9の方法。
- 前記i)及びii)の工程中、前記多数のビームのほぼ半分のみがスイッチを切り換えられる請求項8ないし10のいずれか1の方法。
- 前記多数の一時ブランキングパターンは、擬似乱数を使用して発生される請求項8ないし11のいずれか1の方法。
- 前記一時ブランキングパターンは、各一時ブランキングパターンが、多数のオン・オフの切り替えを含むように選択される請求項8ないし12のいずれか1の方法。
- 前記一時ブランキングパターンは、ほぼいつでも、ブランキングされていないビームの合計量がほぼ一定であるように構成されている請求項8ないし13のいずれか1の方法。
- 前記測定装置は、前記複数のビームによって発生される集合電流を時間の関数として測定するように配置された電流測定センサを有し、
前記測定装置は、可変利得増幅器をさらに有し、この可変利得増幅器は、高利得かつ低ノイズの設定を有する第1の設定と、低利得かつ高ノイズの設定を有する第2の設定とを有し、
前記集合電流が小さいと予期されるときに前記可変利得増幅器を前記第1の設定に設定する工程、もしくは前記集合電流が大きいと予期されるときに前記可変利得増幅器を前記第2の設定に設定する工程を含む請求項8ないし14のいずれか1の方法。 - ターゲット上にマルチビームを投影するためのマルチビームカラムを具備し、前記マルチビームカラムは、
多数のビームを与えるための前記ビーム源と、
前記ターゲット上に前記複数のビームを投影するための投影手段とを有し
前記ブランカアレイは、前記ビーム源と前記ターゲットとの間に配置され、
前記センサは、前記マルチビームカラムのスループットを試験するように、前記マルチビームカラムの下流側に配置され、前記センサの前記センサ領域は、前記多数のビームの全てのビームを同時に感知するように構成され、前記センサは、時間の関数として前記複数のビームの集合信号を与えるように配置され、
このシステムは、さらに、これらに対応する一時ブランキングパターン及び時間の関数としての前記複数のビームの集合信号に基づいてそれぞれのビームの強度の測度を計算することによって前記集合信号を復調するための復調器を具備する請求項1ないし7のいずれか1のマルチビームリソグラフィシステム。
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