JP5611507B2 - 平坦度測定装置 - Google Patents

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Description

この発明は、例えば角形鋼管や軽量形鋼その他種々の物の平坦面の平坦度を測定するための平坦度測装置に関する。
平坦度を測定するものとして、例えば図12に示した平坦度測定具(反り測定器)1のように、ダイヤルゲージ5を取り付けた支持梁2に2つの脚部3、4を取り付けた構造のものは一般的である(特許文献1)。この平坦度測定具1は、2つの脚部3、4がそれぞれ支持梁2上を移動調節可能であり、移動調節した脚部3、4はネジ3a、4aで固定される。また、ダイヤルゲージ5はその取付部(T形支柱6)にあけた貫通穴を貫通する支持梁2にネジで締め付け固定されるようになっており、支持梁2上の位置を調節することもできる。なお、特許文献1では板材7の反りを測定する反り測定器としているが、平坦度を測定する器具と実質同一である。
上記測定具1で板材7の反りを測定する場合、予め水平面(定盤等)上に測定具1を載置して、ダイヤルゲージ5の目盛りを0(ゼロ)にするゼロ点調整を行っておく。そして、この測定具1を被測定板材7の所定位置に載置して、ダイヤルゲージ5の目盛りを読み取ることで、板材7の反り(平坦度)を測定できる。この場合、測定しようとする反りに対応させて両脚部3、4の位置を適切に調節し、かつダイヤルゲージ5のスピンドル(測定子)5aを測定点に位置させる。
また、図13に示した平坦度測定具(真直度測定器)11は、基準直定規12を両側の脚部13で支持し、ダイヤルゲージ(指針測微器)14を取り付けたメータホルダ15を基準直定規12にスライド可能に取り付けた構造であるが、メーターホルダ15は基準直定規12に12個のガイドローラ(ベアリング)と6個の樹脂製のライナー(接触子)を介して基準直定規12を抱くようにしてスライド可能にされている(特許文献2)。
また、図14に示すように、ノギス21の固定の脚部(ジョー)23とスライダ28に一体に設けた脚部(ジョー)24との間のスケール部22に摺動ブロック26を摺動可能に設け、この摺動ブロック26にダイヤルゲージ25のステム部25aを垂直に固定した平坦度測定装置20がある。
特開平7−239202の図1、段落番号[0007]等 特公平6−23642の第5欄、第6欄、図2(a)、図3〜図4
図12に示した従来の平坦度測定具1では、ダイヤルゲージ5を支持梁2上で移動調節して、2点間の所望の位置の平坦度を測定するが、単なる貫通穴に支持梁2を貫通させた構造では、ダイヤルゲージ5をスライド(取付部6をスライド)させた時にダイヤルゲージの高さ位置を正確に維持するのは困難なので、平坦度測定の精度は低い。
上記従来のいずれの平坦度測定装置1、11、20も、2つの脚部間の距離は、ダイヤルゲージ取付部(T形支柱6、キャリッジ16、摺動ブロック26)の幅により制約されて、一定距離より狭くすることができず、したがって、測定スパン(平坦度を測定しようとする領域の幅)が狭い場合に対応できない。
したがって、例えば図14の平坦度測定装置20の場合で説明すると、図11(イ)に模式的に示したように、例えば角形鋼管29のコーナー部近傍の狭い領域αの平坦度を測定したい場合に、摺動ブロック26の幅Wが制約となって、そのαという測定スパンの平坦度を測定できない。
また、測定スパン内の任意の位置について平坦度を測定できる訳ではなく、図14に示すように、各脚部23、24の下端位置すなわち測定スパンLの両端位置からそれぞれ摺動ブロック幅Wの半分(W/2)以下の領域では、平坦度を測定できない。
また、いずれの平坦度測定装置も、平坦度測定位置及び測定スパンを知るためには、ダイヤルゲージの位置の計測(確認)、及び、両脚部間隔の計測との両方が必要であるが、これらの計測が簡単にできれば望ましい。
本発明は上記従来の欠点を解消するためになされたもので、平坦度を測定可能な測定スパンの下限に制約がなく、かつ、測定スパン内の任意の位置の平坦度を測定することが可能であり、また、高い精度を確保することができる平坦度測定装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決する請求項1の発明は、矩形断面をなす直定規状のスケール部に2つの脚部を、その一方はスケール部の一端側に固定して他方は目盛りを有するスケール部に摺動可能にそれぞれ設け、前記2つの脚部間に摺動ブロックを摺動可能に設け、この摺動ブロックにダイヤルゲージのステム部を垂直に固定した平坦度測定装置であって、
前記2つの脚部はそれぞれ、被測定面に載せる部分として、摺動ブロックの幅の制約を受けずに互いに対向面が接触するまで接近可能な内向き延出部を備えており、各内向き延出部の対向面には、互いに接触した状態でダイヤルゲージのスピンドルを上下動可能に収容する縦溝が設けられ、前記スケール部の目盛りは、2つの脚部の内向き延出部の対向面を互いに接触させた状態における、摺動脚部のスライダ部の内側端面位置をゼロ点とする目盛りであり、かつ、前記ダイヤルゲージのスピンドルの軸心を前記固定脚部の内向き延出部の対向面位置に一致させた状態における、摺動ブロックの摺動脚部側の端面位置が、前記ゼロ点に一致していることを特徴とする。
請求項は請求項1の平坦度測定装置において、前記摺動ブロックとスケール部とは、スケール部をレールとし摺動ブロックをスライダとし転動体を介して互いに摺動するリニアガイド機構を構成するものであって、前記スケール部の上下面に転動体摺動溝を設けてレールとし、摺動ブロック側に前記スケール部側転動体摺動溝に対応する摺動ブロック側転動体摺動溝及びこれに連続して、スケール部側転動体摺動溝と摺動ブロック側転動体摺動溝転動体との間に形成された転動体軌道路を転動する転動体を無限循環可能にする転動体戻し路を設けてスライダとしたことを特徴とする。
請求項は、請求項1又は2の平坦度測定装置において、ダイヤルゲージのスピンドルの軸心が摺動ブロックの幅Wの中心位置にあることを特徴とする。
請求項は、請求項1〜3のいずれか1項の平坦度測定装置において、2つの脚部の内向き延出部の対向面の縦溝が概ね半円形であり、その溝深さがスピンドルの半径に等しいか僅かに大きいことを特徴とする。
請求項は、請求項1〜のいずれか1項の平坦度測定装置において、脚部の内向き延出部のスケール部厚み方向両側に、摺動ブロック、ダイヤルゲージ及びスケール部を含めた平坦度測定装置全体の重心・安定性を考慮した安定用張り出し部を設けたことを特徴とする。
請求項1の発明によれば、2つの脚部がそれぞれ、被測定面に載せる部分として、摺動ブロックの幅の制約を受けずに互いに対向面が接触するまで接近可能な内向き延出部を備えており、各内向き延出部の対向面には、互いに接触した状態でダイヤルゲージのスピンドルを上下動可能に収容する縦溝が設けられているので、測定スパン(平坦度を測定しようとする領域の幅)の下限がなくなる。すなわち、測定スパンがゼロまで可能となる。また、測定可能な最大測定スパン以下であれば、測定スパン内の全範囲について平坦度を測定できる。
さらに、平坦度測定操作時に、摺動脚部のスライダ部の内側端面位置の目盛りを読み取ると、その目盛りは、摺動脚部の内向き延出部の対向面が基準支点位置(固定脚部の内向き延出部の対向面の位置)から離間した距離を表す。したがって、測定スパン(両脚部の内向き延出部の対向面間の距離)を直ちに読み取ることができる。
さらに、平坦度測定操作時に、摺動ブロックの摺動脚部側の端面位置の目盛りを読み取ると、その目盛りは、スピンドル軸心が基準支点位置(固定脚部の内向き延出部の対向面の位置)から移動した距離を表す。したがって、平坦度測定位置を直ちに読み取ることができる。
請求項によれば、摺動ブロックとスケール部とが、円滑な直線移動が可能なリニアガイド機構を構成するものであるから、測定に際して摺動ブロック及びダイヤルゲージの移動がスムーズで、作業性が良好である。
また、ダイヤルゲージのスピンドルに働くモーメントを算出し、そのモーメントに対応するリニアガイドを選定すれば、スピンドルの傾き等が生じることなく、精度よく平坦度を測定できる。
請求項の平坦度測定装置では、安定用張り出し部の存在で、測定時にスケール部及び摺動ブロックが傾くことを防止でき、摺動ブロックに取り付けたダイヤルゲージのスピンドルが傾くことを有効に防止することができ、測定誤差の発生を防止できる。
以下、本発明の平坦度測定装置の実施例を、図1〜図11参照して説明する。
図1は本発明の一実施例の平坦度測定装置31の正面図、図2は同平面図、図3は図1のA−A断面矢視図、図4は同B−B断面矢視図、図5は同要部のC−C断面矢視図である。
この平坦度測定装置31は、矩形断面をなす直定規状のスケール部32に固定脚部33と摺動脚部34とを設け、固定脚部33と摺動脚部34との間に、ダイヤルゲージ35を取り付けた摺動ブロック36を摺動可能に設けている。
前記固定脚部33は、スケール部32の一端側に固定されている。固定脚部33の上部の固定部33eと別部材の押さえ部33fとでスケール部32を挟みボルトで固定されている。
前記摺動脚部34は、スケール部32上をスライド可能なスライド部37と一体に設けられている。スライド部37は摺動脚部34と一体の本体部37bとこれにボルトで固定された別体の押さえ蓋37cとでスケール部32を抱く態様で摺動可能にされている。スライド部37は、スケール部32に止めるためのセットボルト40を備え、また、図示は省略するがスケール部32の上面側に、スライド部37を上方に付勢する板ばねを内蔵している。
両脚部33、34はそれぞれ内側に延出する内向き延出部33a、34aを備えている。実施例の両内向き延出部33a、34aの延出量B及びCは同寸法である(B=C)。
それぞれの内向き延出部33a、34aの先端部にはスケール部厚み方向両側に延びる安定用張り出し部33b、34bが一体に設けられ、この安定用張り出し部33b、34bの内側面が、互いに接触する対向面33c、34cとなっており、この対向面33c、34cにダイヤルゲージ35のスピンドル35bが収容可能な半円形の縦溝33d、34dが設けられている。
ダイヤルゲージ35はその筒状のステム部35aにおいて、固定部材38により摺動ブロック36に固定されている。スピンドル35bは筒状のステム部35a内を上下動して面の凹凸を検出する接触子である。
ダイヤルゲージ35はスピンドル35bの軸心Nが摺動ブロック36の幅Wの中心と一致するように前記固定部材38で摺動ブロック36に固定されている。
ダイヤルゲージ35は摺動ブロック36の幅Wの中心に取り付けられており、摺動ブロック36の幅Wは図示例では固定脚部33の内向き延出部33aの延出量Bと摺動脚部34の内向き延出部34aの延出量Cとの和に等しい(W=B+C(=2B=2C))。
また、内向き延出部33a、34aの先端面の縦溝33d、34dの溝深さは、図示例ではスピンドル35bの半径に等しくしている。すなわち、対向面33c、34cを接触させた時の2つの縦溝33d、34dがなす円形はスピンドル35bの直径に等しい。但し、後述するように、縦溝33d、34dの溝深さ(半径)はスピンドル35bを余裕をもって収容できる深さとするのがよい。
また、摺動ブロック36の幅Wも、後述するように、実際にはB+Cより僅かに小さくするのが適切である。
この実施例では摺動ブロック36とスケール部32とは、スケール部32をレールとし摺動ブロック36をスライダとし転動体を介して互いに摺動するリニアガイド機構44を構成している。すなわち、図6に示すように、スケール部32の上下面に転動体摺動溝(スケール部側転動体摺動溝)32aを設けてレールとし、摺動ブロック36側に前記スケール部側転動体摺動溝32aに対応する摺動ブロック側転動体摺動溝36a及びこれに連続して、スケール部側転動体摺動溝32aと摺動ブロック側転動体摺動溝36aとの間に形成された転動体軌道路39を転動する転動体41を無限循環可能にする転動体戻し路36bを設けてスライダとしている。
隣り合う転動体41と転動体41との間にはセパレータ42が配置される。
リニアガイド機構のスライダとして機能する摺動ブロック36は、本体部36cの幅方向両側にキャップ部36dを備え、このキャップ部36dには転動体戻り路36bの一部である両側の円弧状部36b’を備えている。
なお、この摺動ブロック36とスケール部32とからなる実施例のリニアガイド機構44は一般的なリニアガイド機構を利用したものであり、市販されたリニアガイド装置(直動装置)を用いることができる。
市販されているリニアガイド装置は、使用に際してスライダ(摺動ブロック36)に作用するモーメントに対応する剛性を持つように作られているので、平坦度測定装置として使用する場合に摺動ブロック36に実際に作用するモーメントの大きさに対応する適切なモーメント性能を持つリニアガイド装置を使用することで、作用するモーメントで摺動ブロック36が傾くことを防止することができ、平坦度測定の誤差を少なくすることができる。すなわち、平坦度測定装置の使用時に摺動ブロック36に作用するモーメントには、図6の断面内で作用するモーメントMa、及び図6(ロ)の断面内で作用するモーメントMbとがあり、そのモーメントで摺動ブロック36がMa方向あるいはMb方向に傾くと、スピンドル35bが傾いて平坦度測定の誤差となるが、この誤差の発生を防止できる。なお、図6に示したリニアガイド機構は簡略化して示したものである。
スケール部32には目盛り45が設けられている。この目盛り45は例えば貼り付けあるいは刻印により形成することができる。
目盛り45は次のように設けられている。すなわち、図7のように、両脚部33、34の内向き延出部33a、34aの対向面33c、34cを互いに接触させた時、摺動脚部34のスライド部37の内側端面位置37aの位置をゼロ点とする目盛りである。
これにより、平坦度測定操作時に、摺動脚部34のスライド部37の内側端面37aの位置の目盛りを読み取ると、その目盛りの数値は、摺動脚部34の内向き延出部34aの対向面34cが基準支点位置(固定脚部33の内向き延出部33aの対向面33cの位置)から離間した距離を表す。したがって、測定スパン(両脚部33、34の対向面33c、34c間の距離)を直ちに読み取ることができる。
また、図7あるいは図8のように、ダイヤルゲージ35のスピンドル35bの軸心Nを固定脚部33の対向面33cの位置に一致させた時、摺動ブロック36の摺動脚部側端面36eの位置が、スケール部32の目盛り45のゼロ点に一致している。
これにより、平坦度測定操作時に、摺動ブロック36の摺動脚部側端面36eの位置の目盛りを読み取ると、その目盛りは、スピンドル35bの軸心Nが基準支点位置(固定脚部33の対向面33cの位置)から移動した距離を表す。したがって、平坦度測定位置を直ちに読み取ることができる。
上記のことは、固定脚部33側の延出量Bと摺動脚部34側の延出量Cとが等しく、かつ摺動ブロック36の幅WがB+Cに等しい場合に、正確に実現される。但し、スピンドル35bの軸心Nが摺動ブロック36の幅Wの中心にあることを前提としている。
これにより、測定スパンを読み取る目盛りのゼロ点と、平坦度測定位置を読み取る目盛りのゼロ点とが一致するものとなっており、測定時の測定スパンの読み取り及び平坦度測定位置の読み取りの作業が容易になる。
上記の平坦度測定装置31で平坦度を測定する要領の一例について説明する。
図7に示すように、摺動脚部34の内向き延出部34aの対向面34cを、固定脚部33の内向き延出部33aの対向面33cに接触させる。この時、ダイヤルゲージ35のスピンドル35bは、両対向面33c、34cの縦溝33d、34dで形成された円形穴に挿通された状態となり、その軸心Nは互いに接触している対向面33c、34cの位置と一致している。そして、摺動脚部34のスライド部37の内側端面37aは、目盛りのゼロ点を指している。すなわち、この段階で摺動脚部34のゼロ点位置すなわち測定スパンを計測するゼロ点位置が確認されたことになる。
次いで、摺動脚部34の対向面34cを図8のように、対象とする測定スパンの他端位置まで移動させる。測定スパンをLとすると、摺動脚部34のスライド部37の内側端面37aの位置の目盛りを読み取れば、その目盛りの数値は、摺動脚部34の移動距離を表す(すなわち、図8でL’=L)ことになり、したがって、測定スパンLが直ちに読み取られることになる。
続いて、摺動ブロック36を、平坦度を測定しようとする所望の位置に移動させる。例えば、摺動ブロック36を図1の位置に移動させたとした場合、スピンドル35bの移動距離Jは、摺動ブロック36の摺動脚部側端面36e(右側端面)の移動距離J’に等しいから、摺動脚部側端面36eの位置の目盛りを読み取れば、その目盛りの位置が平坦度測定位置を指すことになり、摺動ブロック36に読取窓を設ける等の必要なしに、平坦度測定位置を直ちに読み取ることができる。
この平坦度測定操作において、スピンドル35bは測定スパンLの全範囲に移動することができる。すなわち、測定スパンLの一方の基準支点位置Pから反対端Pまでの全範囲を移動することができ、したがって、測定スパンLの全範囲において平坦度を測定することができる。
上記の平坦度測定装置31で、例えば角形鋼管のコーナー部近傍の狭い領域の平坦度を測定しようとする場合について、図11を参照して説明すると、従来の平坦度測定装置20では、図11(イ)に模式的に示したように、摺動ブロック26の幅Wが制約となって、そのαという測定スパンの平坦度を測定できない。
しかし、上記の本発明の平坦度測定装置31によれば、図11(ロ)に示すように、2つの脚部33、34の対向面33c、34cが互いに接触可能であり、測定スパンがゼロまで測定可能であるから、極めて短い測定スパンαに対しても測定することができる。
また、測定スパンLの範囲内においても、従来の平坦度測定装置20では摺動ブロック26の幅Wの半分(W/2)以下の領域βでは、平坦度を測定できないが、前述した通り、本発明の平坦度測定装置31では、測定スパンLの全範囲について任意の位置の平坦度を測定できる。
平坦度測定装置31で平坦度を測定する際の装置の姿勢の安定性について、図3を参照して説明すると、摺動ブロック36、ダイヤルゲージ35及びスケール部32等を含めた平坦度測定装置31の全体の重心をGとした時、各安定用張り出し部33b、34bの左右の張り出し量を、重心Gを通る鉛直線Kの位置を中心としてそれぞれ等しい距離Sの幅に設定する。このSの幅は、装置の転倒限界より充分大きな寸法とする。すなわち、重心Gと安定用張り出し部33b、34bの下端面におけるダイヤルゲージ35と反対側のコーナーとを結んだ直線Tと重心Gを通る鉛直線Kとがなす角度θが、この平坦度測定装置31で作業するする際に作業者が傾けてしまう可能性のある角度より充分大きいような角度に設定しておく。
これにより、測定時に平坦度測定装置31が転倒するおそれをなくすことができるだけでなく、充分に安定した垂直度(スピンドル35bの垂直度)を保って測定することが容易になり、測定誤差を極力なくすことができる。
上述の説明では、摺動ブロック36の幅Wを両脚部33、34の内向き延出部33a、34aの延出量BとCとの和に設定するものとして説明したが、実際には摺動ブロック36の幅WはB+C(=2B=2C)より僅かに小さくしておくのが適切である。
すなわち、各部の加工精度等の関係で、摺動ブロック36の両端面と固定脚部33の端面及び摺動脚部34のスライド部37の内側端面37aとの間に隙間cが生じるように余裕として持たせることが適切である。
例えば、図9に示すように、両脚部33、34の内向き延出部33a、34aの延出量B、Cを30mm(B+C=60mm)とした場合、摺動ブロック幅Wを例えば59mmとし、両側に0.5mmの隙間cを余裕として持たせることが適切である。これにより、スピンドル35bの軸心Nを正しく基準支点位置Pに位置させることができる。
また、上述の説明では、両脚部33、34の内向き延出部33a、34aの対向面33c、34cに形成する半円形の縦溝33d、34dの深さを、スピンドル35bの直径と等しいとして説明したが、実際には余裕を持たせることが適切である。例えば、図10に示すように、例えばスピンドル35bの直径d=5.0mmに対して、2つの対向面33c、34cを接触させた時に形成される円形穴の直径D=6.0mmにする等が適切である。
これにより、スピンドル35bに直接曲げ力ないし剪断力が作用することを防止できる。
なお、上記のように、摺動ブロック幅Wに余裕を持たせ(若干短くし)、縦溝33d、34dの深さに余裕を持たせる(深くする)と、測定スパンLの計測値、あるいは平坦度測定位置の計測値に若干の誤差(上記の場合で最大0.5mm)が生じる可能性があるが、測定スパンの誤差あるいは平坦度測定位置の誤差は0.5mm程度であれば、例えば角形鋼管や軽量形鋼等の平坦度の測定にはほとんど問題とならない。
上述した実施例のように、両脚部33、34の内向き延出部33a、34aの延出量BとCとを等しくするのが極めて適切であるが、必ずしも等しくしなくてもよい。
また、摺動ブロック36の幅Wを両脚部33、34の延出量の和B+Cに等しいか若干小さくしたが、これに限らずさらに幅を狭くすることができる。要するに、摺動ブロック36の幅Wは両脚部33、34の対向面33c、34cを接触させるために障害とならない幅寸法であればよい。
また、上述の実施例では、摺動脚部34のスライド部37の内側端面37aを測定スパン計測時の目盛り読み取り位置としたが、必ずしもこれに限らず、脚部34と一体の適切に設けられた部分で目盛りを指し示すようにすることも可能である。
同様に、平坦度測定位置計測の目盛り読み取り位置を摺動ブロック36の摺動脚部側端面36eとしたが、これに限らず、摺動ブロック36と一体の適切に設けられた部分で目盛りを指し示すようにすることが可能である。
また、実施例では摺動ブロック36及びスケール部32を、転動体41が無限転動軌道39を転動して相互に摺動するリニアガイド機構を採用したが、必ずしもこれに限らず、単なる平坦な摺動面どうしの摺動による摺動機構を採用することも可能である。
また、実施例では2つの脚部の一方33はスケール部32に固定された固定脚部としたが、両脚部ともスケール部32上を摺動可能な摺動脚部とすることもできる。
本発明の一実施例の平坦度測定装置の正面図である。 上記平坦度測定装置の平面図である。 図1のA−A断面矢視図である。 図1のB−B断面矢視図である。 図1の要部のC−C断面矢視図である。 上記平坦度測定装置における摺動ブロックのスケール部に対する摺動機構(リニアガイド機構)を簡略化して示したもので、(イ)は断面図、(ロ)は(イ)のD−D断面図である。 図1において摺動脚部を固定脚部に接触させた状態を示した図である。 図7において摺動脚部を固定脚部から測定スパンだけ離間させた状態を示した図である。 摺動ブロックの幅及び脚部の安定用張り出し部の縦溝の深さについての他の実施例を示すもので、平坦度測定装置の正面図(図7に対応する図)である。 図9におけるダイヤルゲージのスピンドル部分の拡大水平断面図である。 角形鋼管のコーナー部近傍の狭い領域αの平坦度を測定しようとする場合を例にして、本発明の効果を説明するための図であり、(イ)は従来装置で測定しようとする場合、(ロ)は本発明の平坦度測定装置で測定する場合をそれぞれ示す。 従来の平坦度測定装置の正面図である。 他の従来の平坦度測定装置の斜視図である。 さらに他の従来の平坦度測定装置の正面図である。
符号の説明
31 平坦度測定装置
32 スケール部
32a スケール部側の転動体摺動溝
33 固定脚部
34 摺動脚部
33a、34a 内向き延出部
33b、34b 安定用張り出し部
33c、34c 対向面
33d、34d 縦溝
35 ダイヤルゲージ
35a ステム部
35b スピンドル
36 摺動ブロック
36a 摺動ブロック側の転動体摺動溝
36b 転動体戻し路
36b’ 円弧状部
36c 本体部
36d キャップ部
36e (摺動ブロックの)摺動脚部側端面
37 スライド部
37a (スライド部の)内側端面
38 固定部材
39 転動体軌道路
40 セットボルト
41 転動体
42 セパレータ
44 リニアガイド機構
45 目盛り

Claims (5)

  1. 矩形断面をなす直定規状のスケール部に2つの脚部を、その一方はスケール部の一端側に固定して他方は目盛りを有するスケール部に摺動可能にそれぞれ設け、前記2つの脚部間に摺動ブロックを摺動可能に設け、この摺動ブロックにダイヤルゲージのステム部を垂直に固定した平坦度測定装置であって、
    前記2つの脚部はそれぞれ、被測定面に載せる部分として、摺動ブロックの幅の制約を受けずに互いに対向面が接触するまで接近可能な内向き延出部を備えており、各内向き延出部の対向面には、互いに接触した状態でダイヤルゲージのスピンドルを上下動可能に収容する縦溝が設けられ、前記スケール部の目盛りは、2つの脚部の内向き延出部の対向面を互いに接触させた状態における、摺動脚部のスライダ部の内側端面位置をゼロ点とする目盛りであり、かつ、前記ダイヤルゲージのスピンドルの軸心を前記固定脚部の内向き延出部の対向面位置に一致させた状態における、摺動ブロックの摺動脚部側の端面位置が、前記ゼロ点に一致していることを特徴とする平坦度測定装置。
  2. 前記摺動ブロックとスケール部とは、スケール部をレールとし摺動ブロックをスライダとし転動体を介して互いに摺動するリニアガイド機構を構成するものであって、前記スケール部の上下面に転動体摺動溝を設けてレールとし、摺動ブロック側に前記スケール部側転動体摺動溝に対応する摺動ブロック側転動体摺動溝及びこれに連続して、スケール部側転動体摺動溝と摺動ブロック側転動体摺動溝転動体との間に形成された転動体軌道路を転動する転動体を無限循環可能にする転動体戻し路を設けてスライダとしたことを特徴とする請求項1記載に平坦度測定装置。
  3. ダイヤルゲージのスピンドルの軸心が摺動ブロックの幅Wの中心位置にあることを特徴とする請求項1又は2記載の平坦度測定装置。
  4. 2つの脚部の内向き延出部の対向面の縦溝が概ね半円形であり、その溝深さがスピンドルの半径に等しいか僅かに大きいことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の平坦度測定装置。
  5. 脚部の内向き延出部のスケール部厚み方向両側に、摺動ブロック、ダイヤルゲージ及びスケール部を含めた平坦度測定装置全体の重心・安定性を考慮した安定用張り出し部を設けたことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の平坦度測定装置。
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