JP5609564B2 - Manufacturing method of molten solder plating wire - Google Patents

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本発明は、溶融はんだめっき線の製造方法に関するものであり、特に、最終線径の加工後における焼鈍工程を省略することができる溶融はんだめっき線の製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method for manufacturing a molten solder-plated wire, and more particularly to a method for manufacturing a molten solder-plated wire that can omit the annealing step after processing the final wire diameter.

近年の科学技術においては、動力源としての電力や、電気信号など、あらゆる部分に電気が用いられており、それらを伝達するためにケーブルやリード線などの導線が用いられている。そして、その導線に用いられている素材としては、銅、銀などの導電率の高い金属が用いられ、とりわけ、コスト面などを考慮し、銅線が極めて多く用いられている。   In recent science and technology, electricity is used in all parts such as electric power as a power source and electric signals, and wires such as cables and lead wires are used to transmit them. And as a material used for the conducting wire, a metal having high conductivity such as copper and silver is used, and in particular, a copper wire is very often used in consideration of cost.

銅と一括りにする中にも、その分子の配列などに応じて、大きく分けて、硬質銅と軟質銅とに分けられる。そして利用目的に応じて所望の性質を有する種類の銅が用いられている。   The copper and lump can be broadly divided into hard copper and soft copper according to the molecular arrangement. And the kind of copper which has a desired property according to the utilization purpose is used.

電子部品用リード線には、硬質銅線が多く用いられ、例えば、医療機器、産業用ロボット、ノート型パソコンなどの電子機器などに用いられるケーブルは、過酷な曲げ、ねじれ、引張りなどが組み合わさった外力が繰り返し負荷される環境下で使用されているため、硬直な硬質銅線は不的確であり、軟質銅線が用いられている。   Hard lead wires are often used as lead wires for electronic parts. For example, cables used in electronic devices such as medical devices, industrial robots, and notebook computers are combined with severe bending, twisting, and tension. Since it is used in an environment where external force is repeatedly applied, rigid hard copper wire is inaccurate and soft copper wire is used.

例えば、特許文献1には、電子機器、例えば、ノートパソコン、携帯電話、デジタルビデオカメラなどの携帯型の情報・通信・記録端末などの、耐屈曲性が求められる分野において使用される丸型断面の極細銅合金線の製造方法について、線径が0.01〜0.1mmの極細銅合金線においては、Mg又はInを0.05〜0.9質量%含有し銅及び不可避的不純物を残部とする銅合金に伸線加工を施して極細銅線を形成し、最終線径形成後の極細線に熱処理を施して引張強さを343MPa以上、伸びを5%以上、導電率を80%IACS以上に調質することが記載されている。   For example, Patent Document 1 discloses a round cross section used in a field where bending resistance is required, such as a portable information / communication / recording terminal such as an electronic device such as a notebook computer, a mobile phone, or a digital video camera. In the ultrafine copper alloy wire having a wire diameter of 0.01 to 0.1 mm, Mg or In is contained in an amount of 0.05 to 0.9% by mass, and copper and inevitable impurities are the balance. The copper alloy is drawn to form an ultrafine copper wire, and the ultrafine wire after final wire diameter formation is heat treated to have a tensile strength of 343 MPa or more, an elongation of 5% or more, and an electrical conductivity of 80% IACS. It is described that tempering as described above.

また、例えば、特許文献2には、電子機器用のフレキシブルフラットケーブルに使用されるSn系めっき平角導体について、導体サイズが、厚さ0.035mm、幅0.30mmからなるSn系めっき平角導体を製造した後、この平角導体に対して最終工程の焼鈍において焼鈍温度の条件を代えて耐屈曲性などの各種特定を満足するフレキシブルフラットケーブル用平角導体の製造方法について記載されている。   Further, for example, Patent Document 2 discloses a Sn-based plated rectangular conductor having a conductor size of 0.035 mm in thickness and 0.30 mm in width for an Sn-based plated rectangular conductor used in a flexible flat cable for electronic equipment. After the production, a method for producing a flat conductor for a flexible flat cable that satisfies various specifications such as bending resistance by changing the annealing temperature condition in the final annealing of the flat conductor is described.

また、例えば、特許文献3には、太陽電池用電極線材に使用される平角導体について、Cu単層について、無酸素銅からなる圧延シートに対してスリットして芯材を得た後に、500℃×1分の軟化焼鈍を施し、これにめっきを施すことで軟質の太陽電池用電極線材を得ることについて記載されている。   Further, for example, in Patent Document 3, for a rectangular conductor used for an electrode wire for a solar cell, a Cu single layer is obtained by slitting a rolled sheet made of oxygen-free copper to obtain a core material at 500 ° C. It describes that a soft electrode wire for a solar cell is obtained by subjecting to × 1 minute softening annealing and plating.

このように多岐にわたる技術分野において軟質銅線が用いられているが、上記特許文献に記載の軟質銅線の製造方法においても、その軟質銅線の製造工程のなかで、最終線径とした後に別工程において軟質特性を得るために焼鈍処理を施している。しかしこのような軟質特性を得ることを目的とした最終線径前における焼鈍工程を含む製造工程では、生産性に劣り、また製造コストが高くなってしまうという問題がある。   As described above, soft copper wires are used in a wide variety of technical fields. In the soft copper wire manufacturing method described in the above-mentioned patent document, the final wire diameter is determined in the manufacturing process of the soft copper wires. An annealing treatment is performed in another process in order to obtain soft characteristics. However, in the manufacturing process including the annealing process before the final wire diameter for the purpose of obtaining such soft characteristics, there are problems that productivity is inferior and manufacturing cost is increased.

そこで、例えば、特許文献4には、太陽電池用電極線材にかかるものであるが、軟化焼鈍工程を設けることなく容易に軟質銅線を製造する技術として、溶融はんだ浴の浴温を250℃以上、380℃以下とし、芯材の浸漬時間を浴温250℃以上、280℃未満の場合に6〜10秒とし、浴温280℃以上、350℃以下の場合に3〜10秒とし、あるいは350℃超、380℃以下の場合に3〜5秒とすることが記載されている。   Thus, for example, Patent Document 4 relates to an electrode wire for solar cells. As a technique for easily producing a soft copper wire without providing a softening annealing step, the bath temperature of the molten solder bath is 250 ° C. or higher. 380 ° C. or lower, and the core material immersion time is 6 to 10 seconds when the bath temperature is 250 ° C. or higher and lower than 280 ° C., and 3 to 10 seconds when the bath temperature is 280 ° C. or higher and 350 ° C. or lower, or 350 It is described that it is 3 to 5 seconds when it is above 380 ° C. and below 380 ° C.

特開2002−129262号公報JP 2002-129262 A 特開2003−86024号公報JP 2003-86024 A 国際公開第2005/114751号パンフレットInternational Publication No. 2005/114751 Pamphlet 国際公開第2007/037184号パンフレットInternational Publication No. 2007/037184 Pamphlet

この特許文献4に記載されている製造方法においては、最終線径加工を終えた後に焼鈍工程を省略することができる意味において有効な技術であるが、広く軟質めっき銅線を使用する製品分野において、更なる製造コスト削減のためには、めっきラインの増速化が重要なファクターとなり、銅素線のめっき浸漬時間の更なる短縮が求められる。   The manufacturing method described in Patent Document 4 is an effective technique in the sense that the annealing process can be omitted after finishing the final wire diameter processing, but in the product field that uses soft plated copper wires widely. In order to further reduce the manufacturing cost, an increase in the speed of the plating line is an important factor, and a further reduction in the plating immersion time of the copper wire is required.

また、特許文献4に記載されている製造方法は、無酸素銅からなる素線を用いて高加工度の素線(実施例では、圧下率95%)に対して使用されるものであり、高加工度のものほどはんだめっき槽に浸漬する際に熱処理状態における軟化温度が低くなる現象を利用して導線の軟化を狙ったものと理解され、高加工度の素線に対して適用する場合には有効に効果を発現するものであるが、比較的加工度の低い素線に対しては、未だ十分な検討がなされているとはいえず、加工度の低い銅線に対して適用するにあたっては自ずと限界があり、加工度の低い製品品種へも適用できる製造技術が求められる。   Moreover, the manufacturing method described in Patent Document 4 is used for a high-working element wire (in the example, a reduction rate of 95%) using an element wire made of oxygen-free copper. It is understood that the higher degree of workability is intended to soften the conductor by utilizing the phenomenon that the softening temperature in the heat treatment state becomes lower when immersed in the solder plating bath, and it is applied to the wire with higher workability However, for wire with a relatively low degree of processing, it has not yet been fully studied and applied to copper wire with a low degree of processing. In the process, there is a limit naturally, and a manufacturing technique that can be applied to a product type with a low degree of processing is required.

そこで、本発明の目的は、無酸素銅(OFC)を用いる場合に比して、軟質銅線を製造する上において、はんだめっき槽への浸漬時間をより短時間で行うことができ、更なるめっきラインの増速化を実現することができる溶融はんだめっき線の製造方法を提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is to make the immersion time in the solder plating bath shorter in producing a soft copper wire than in the case of using oxygen-free copper (OFC). An object of the present invention is to provide a method for producing a molten solder plating wire capable of realizing an increase in the speed of the plating line.

本発明は前記目的を達成するために創案されたものであり、請求項1の発明は、不可避的不純物を含む純銅に、2〜12mass ppmの硫黄と2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素と4〜55mass ppmのチタンを含み、1200℃以上1320℃以下の溶銅温度で溶湯にした銅溶湯に前記チタンを添加し、前記チタンが添加された銅溶湯から鋳塊ロッドを作製した後、最初の圧延ロールでの温度を880℃以下、最終圧延ロールでの温度を550℃以上に制御して前記鋳塊ロッドに熱間圧延加工を施す工程を経て製造された希薄銅合金材料に対して最終線径に伸線加工を施して伸線材を作製する工程と、該伸線材を溶融はんだめっき槽に浸漬することで伸線材の表面に溶融はんだめっき層を形成する溶融はんだめっき工程とを備え、溶融はんだめっき工程の熱量によって伸線材を軟質銅線に変質させたものである。
The present invention has been devised to achieve the above object, and the invention of claim 1 is characterized in that pure copper containing unavoidable impurities is added to 2 to 12 mass ppm of sulfur and more than 2 mass ppm of oxygen to 30 mass ppm or less . look containing a titanium 4~55Mass ppm, was added to the titanium to copper melt was melt at the molten copper temperature of 1200 ° C. or higher 1320 ° C. or less, after producing the ingot rod from molten copper in which the titanium is added, For the dilute copper alloy material manufactured through the process of hot rolling the ingot rod by controlling the temperature at the first rolling roll to 880 ° C. or lower and the temperature at the final rolling roll to 550 ° C. or higher . A step of producing a wire drawing material by drawing the final wire diameter, and a molten solder for forming a molten solder plating layer on the surface of the wire drawing material by immersing the wire drawing material in a molten solder plating bath A Kki step, in which the extension wire by heat of molten solder plating process was altered to a soft copper wire.

請求項2の発明は、前記最終線径に伸線加工した際の加工度が50%以上であり、前記溶融はんだめっき槽のめっき温度が260℃〜300℃であり、浸漬時間が2〜5秒である溶融はんだめっき線の製造方法である。   In the invention of claim 2, the degree of processing when drawing to the final wire diameter is 50% or more, the plating temperature of the molten solder plating tank is 260 ° C to 300 ° C, and the immersion time is 2 to 5 It is a manufacturing method of the molten solder plating wire which is second.

請求項3の発明は、前記最終線径に伸線加工した際の加工度が50%以上であり、前記溶融はんだめっき槽のめっき温度が300℃を超え380℃以下であり、浸漬時間が1秒以下である溶融はんだめっき線の製造方法である。
In the invention of claim 3, the degree of processing when drawing to the final wire diameter is 50% or more, the plating temperature of the molten solder plating tank is over 300 ° C and 380 ° C or less , and the immersion time is 1 It is a manufacturing method of the molten solder plating wire which is less than second.

請求項4の発明は、前記最終線径に伸線加工した際の加工度が50%未満であり、前記溶融はんだめっき槽のめっき温度が280℃〜380℃であり、浸漬時間が1〜10秒である溶融はんだめっき線の製造方法である。   In the invention of claim 4, the degree of processing when drawing to the final wire diameter is less than 50%, the plating temperature of the molten solder plating bath is 280 ° C to 380 ° C, and the immersion time is 1 to 10 It is a manufacturing method of the molten solder plating wire which is second.

請求項5の発明は、前記最終線径に伸線加工を施す工程の前に、希薄銅合金材料からなる荒引線を伸線加工し、該伸線加工の後にこれを通電焼鈍する工程を備える溶融はんだめっき線の製造方法である。   The invention of claim 5 includes a step of drawing a rough drawn wire made of a dilute copper alloy material before the step of drawing the final wire diameter, and subjecting the wire to electrical annealing after the drawing. It is a manufacturing method of a molten solder plating wire.

請求項6の発明は、前記溶融はんだめっき工程の前に、該伸線材を圧延加工することにより平角状に形成する圧延加工工程を備える溶融はんだめっき線の製造方法である。   Invention of Claim 6 is a manufacturing method of the molten solder plating wire provided with the rolling process process formed in flat shape by rolling this wire drawing material before the said molten solder plating process.

請求項7の発明は、前記希薄銅合金材料は、前記硫黄及び前記チタンが、TiO、TiO2、TiS、Ti−O−Sの形で化合物又は凝集物を形成し、残りの前記チタンと前記硫黄が固溶体の形で存在している希薄銅合金材料である溶融はんだめっき線の製造方法である。 According to a seventh aspect of the present invention, in the diluted copper alloy material, the sulfur and the titanium form a compound or aggregate in the form of TiO, TiO 2 , TiS, Ti—O—S, and the remaining titanium and the titanium This is a method for producing a molten solder plated wire which is a diluted copper alloy material in which sulfur is present in the form of a solid solution.

請求項8の発明は、前記希薄銅合金材料は、前記TiOのサイズが200nm以下、前記TiO2は1000nm以下、前記TiSは200nm以下、前記Ti−O−Sは300nm以下に結晶粒内に分布し、500nm以下の粒子が90%以上である希薄銅合金材料である溶融はんだめっき線の製造方法である。 In the invention according to claim 8, the dilute copper alloy material is distributed in the crystal grains so that the TiO size is 200 nm or less, the TiO 2 is 1000 nm or less, the TiS is 200 nm or less, and the Ti—O—S is 300 nm or less. And a method for producing a molten solder plated wire which is a dilute copper alloy material in which particles of 500 nm or less are 90% or more.

本発明によれば、無酸素銅(OFC)を用いる場合に比して、軟質銅線を製造する上において、はんだめっき槽への浸漬時間をより短時間で行うことができ、更なるめっきラインの増速化を実現することができる。   According to the present invention, as compared with the case of using oxygen-free copper (OFC), in producing a soft copper wire, the immersion time in the solder plating bath can be performed in a shorter time, and a further plating line can be obtained. The speed can be increased.

TiS粒子のSEM像を示す図である。It is a figure which shows the SEM image of a TiS particle | grain. 図1の分析結果を示す図である。It is a figure which shows the analysis result of FIG. TiO2粒子のSEM像を示す図である。Is a view showing an SEM image of the TiO 2 particles. 図3の分析結果を示す図である。It is a figure which shows the analysis result of FIG. Ti−O−S粒子のSEM像を示す図である。It is a figure which shows the SEM image of Ti-O-S particle | grains. 図5の分析結果を示す図である。It is a figure which shows the analysis result of FIG. 本発明の溶融はんだめっき線の製造方法を説明する図である。It is a figure explaining the manufacturing method of the fusion | melting solder plating wire of this invention. 従来の溶融はんだめっき線の製造方法を説明する図である。It is a figure explaining the manufacturing method of the conventional fusion | melting solder plating wire.

以下、本発明の好適な一実施の形態を説明する。   Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described.

先ず、本発明は、溶融はんだめっき線の素材となる銅材料の軟化温度を低減するべく、SCR連続鋳造圧延設備を用い、表面傷が少なく、製造範囲が広く、安定生産が可能である。またワイヤロッドに対する加工度90%(例えばφ8mm→φ2.6mm)での軟化温度が148℃以下の材料の開発を検討した。また、副次的ではあるが、導電率98%IACS(万国標準軟化銅(International Anneld Copper Standard)抵抗率1.7241×10-8Ωmを100%とした導電率)、100%IACS、更には102%IACSを満足する溶融はんだめっき線の製造条件を得ることを検討した。 First, the present invention uses an SCR continuous casting and rolling facility to reduce the softening temperature of a copper material that is a raw material of a molten solder plated wire, and has few surface scratches, a wide manufacturing range, and stable production. In addition, the development of a material having a softening temperature of 148 ° C. or less at a processing degree of 90% (for example, φ8 mm → φ2.6 mm) for the wire rod was examined. Moreover, although it is secondary, conductivity is 98% IACS (conductivity with universal standard soft copper (International Anne Copper Copper) resistivity 1.7241 × 10 −8 Ωm being 100%), 100% IACS, An investigation was made to obtain conditions for producing a hot-dip soldered wire satisfying 102% IACS.

Cu(6N、純度99.9999%)に関しては、加工度90%での軟化温度は130℃である。そこで、本発明は、安定生産が可能な130℃以上で148℃以下の軟化温度で軟質材の導電率が98%IACS以上、100%IACS以上、更に導電率が102%IACS以上である軟質銅を安定して製造できる溶融はんだめっき線としての素材の製造条件を求めることを検討した。   For Cu (6N, purity 99.9999%), the softening temperature at a processing degree of 90% is 130 ° C. Therefore, the present invention provides a soft copper having a soft material having a softening temperature of 130 ° C. or higher and 148 ° C. or lower that allows stable production, and a conductivity of 98% IACS or higher, 100% IACS or higher, and a conductivity of 102% IACS or higher. We investigated to obtain the manufacturing conditions of the material as the molten solder plating wire that can be manufactured stably.

ここで、酸素濃度1〜2mass ppmの高純度銅(6N)を用い、実験室にて小型連続鋳造機(小型連鋳機)を用いて、溶湯にチタンを数mass ppm添加した溶湯から製造したφ8mmのワイヤロッドをφ2.6mm(加工度90%)にして軟化温度を測ると160〜168℃であり、これ以上低い軟化温度にはならない。また、導電率は、101.7%IACS程度である。よって、酸素濃度を低くして、Tiを添加しても、軟化温度を下げることができず、また高純度銅(6N)の導電率102.8%IACSよりも悪くなることがわかった。   Here, high purity copper (6N) having an oxygen concentration of 1 to 2 mass ppm was used, and a small continuous casting machine (small continuous casting machine) was used in a laboratory, and the molten metal was manufactured from a molten metal with several mass ppm added to the molten metal. When the softening temperature is measured with a φ8 mm wire rod φ2.6 mm (working degree 90%), it is 160 to 168 ° C., and the softening temperature is not lower than this. The conductivity is about 101.7% IACS. Therefore, it was found that even when Ti was added at a low oxygen concentration, the softening temperature could not be lowered, and the electrical conductivity of high purity copper (6N) was worse than 102.8% IACS.

この原因は、溶湯の製造中に不可避的不純物として、硫黄を数mass ppm以上含み、この硫黄とチタンとでTiS等の硫化物が十分形成されないために、軟化温度が下がらないものと推測される。   The reason for this is that sulfur is contained in several mass ppm or more as an unavoidable impurity during the production of molten metal, and sulphide such as TiS is not sufficiently formed between this sulfur and titanium, so that the softening temperature is not lowered. .

そこで、本発明では、軟化温度を下げることと、導電率を向上させるために、2つの方策を検討し、2つの効果を合わせることで目標を達成した。   Therefore, in the present invention, in order to lower the softening temperature and improve the electrical conductivity, the two measures have been studied and the two effects have been combined to achieve the goal.

(a)素材の酸素濃度を2mass ppmを超える量に増やしてチタンを添加する。これにより、先ず溶銅中ではTiSとチタン酸化物(TiO2)やTi−O−S粒子が形成されると考えられる(図1、図3のSEM像と図2、図4の分析結果参照)。なお、図2、図4、図6において、PtおよびPdは観察のための蒸着元素である。 (A) Increase the oxygen concentration of the material to an amount exceeding 2 mass ppm and add titanium. Thereby, it is considered that TiS, titanium oxide (TiO 2 ) and Ti—O—S particles are first formed in the molten copper (see the SEM images in FIGS. 1 and 3 and the analysis results in FIGS. 2 and 4). ). In FIGS. 2, 4, and 6, Pt and Pd are vapor deposition elements for observation.

(b)次に熱間圧延温度を、通常の銅の製造条件(950〜600℃)よりも低く設定(880〜550℃)することで、銅中に転位を導入し、Sが析出し易いようにする。これによって転位上へのSの析出又はチタンの酸化物(TiO2)を核としてSを析出させ、その一例として溶銅と同様Ti−O−S粒子等を形成させる(図5のSEM像と、図6の分析結果参照)。 (B) Next, by setting the hot rolling temperature lower (880 to 550 ° C.) than the normal copper production conditions (950 to 600 ° C.), dislocations are introduced into the copper and S is likely to precipitate. Like that. As a result, precipitation of S on the dislocations or precipitation of S using titanium oxide (TiO 2 ) as a nucleus forms Ti—O—S particles and the like as an example of molten copper (SEM image of FIG. 5 and FIG. 6 shows the analysis result).

(a)と(b)により、銅中の硫黄が晶出と析出を行い、冷間伸線加工後に軟化温度と導電率を満足する銅ワイヤロッドができる。   According to (a) and (b), sulfur in copper crystallizes and precipitates, and a copper wire rod that satisfies the softening temperature and conductivity after cold wire drawing can be obtained.

次に、本発明では、SCR連続鋳造設備で製造条件の制限として(1)〜(4)を制限した。   Next, in this invention, (1)-(4) was restrict | limited as a restriction | limiting of manufacturing conditions with SCR continuous casting equipment.

(1)組成の制限
導電率が98%IACS以上の軟質銅材を得る場合、不可避的不純物を含む純銅(ベース素材)が、3〜12mass ppmの硫黄と、2を超え30mass ppm以下の酸素と、Tiを4〜55mass ppm含む希薄銅合金材料でワイヤロッド(荒引き線)を製造するものである。
また、合金の性質に悪影響を及ぼすことのないその他の元素および不純物を合金に含有させることもできる。
(1) Restriction of composition When obtaining a soft copper material having an electrical conductivity of 98% IACS or higher, pure copper (base material) containing inevitable impurities is 3 to 12 mass ppm of sulfur, more than 2 and oxygen of 30 mass ppm or less. A wire rod (rough drawing wire) is manufactured from a dilute copper alloy material containing 4 to 55 mass ppm of Ti.
Also, other elements and impurities that do not adversely affect the properties of the alloy can be included in the alloy.

ここで、導電率が100%IACS以上の軟質銅材を得る場合には、不可避的不純物を含む純銅に2〜12mass ppmの硫黄と、2を超え30mass ppm以下の酸素とTiを4〜37mass ppm含む希薄銅合金材料でワイヤロッドとするのがよい。   Here, when obtaining a soft copper material having an electrical conductivity of 100% IACS or more, 2 to 12 mass ppm of sulfur, oxygen exceeding 2 to 30 mass ppm and Ti and Ti to 4 to 37 mass ppm are added to pure copper containing inevitable impurities. The wire rod is preferably made of a diluted copper alloy material.

さらに、導電率が102%IACS以上の軟質銅材を得る場合、不可避的不純物を含む純銅に3〜12mass ppmの硫黄と、2を超え30mass ppm以下の酸素と、Tiを4〜25mass ppm含む希薄銅合金材料でワイヤロッドとするのがよい。2massppmを超え30massppm以下の酸素を含有していることから、この実施の形態では、いわゆる低酸素銅(LOC)を対象としている。   Furthermore, when obtaining a soft copper material having an electrical conductivity of 102% IACS or higher, pure copper containing inevitable impurities contains 3-12 mass ppm of sulfur, oxygen exceeding 2 and less than 30 mass ppm, and dilute containing 4-25 mass ppm of Ti. The wire rod is preferably made of a copper alloy material. In this embodiment, so-called low oxygen copper (LOC) is targeted because it contains oxygen exceeding 2 massppm and not more than 30 massppm.

通常、純銅の工業的製造において、電気銅を製造する際に、硫黄が銅中に取り込まれてしまうため、硫黄を3mass ppm以下とするのは難しい。汎用電気銅の硫黄濃度上限は12mass ppmである。   Usually, in the industrial production of pure copper, sulfur is taken into copper when producing electrolytic copper, so it is difficult to make sulfur 3 mass ppm or less. The upper limit of the sulfur concentration of general-purpose electrolytic copper is 12 mass ppm.

制御する酸素は、上述したように、少ないと軟化温度が下がり難いので2mass ppmを超える量とする。また酸素が多すぎると、熱間圧延工程で、表面傷が出やすくなるので30mass ppm以下とする。なお、添加元素の添加量およびSの含有量によっては、合金の性質を備える範囲において、2mass ppmを超え400mass ppmを含むことができる。
As described above, if the amount of oxygen to be controlled is small, the softening temperature is difficult to decrease, so the amount exceeds 2 mass ppm. Further, if there is too much oxygen, surface scratches are likely to occur in the hot rolling process, so it is set to 30 mass ppm or less. In addition, depending on the addition amount of the additive element and the content of S, it can exceed 2 mass ppm and contain 400 mass ppm within a range having the properties of the alloy.

(2)分散している物質の制限
分散粒子のサイズは小さく沢山分布することが望ましい。その理由は、硫黄の析出サイトとして働くためサイズが小さく数が多いことが要求されるためである。
(2) Restriction of dispersed substances It is desirable that the size of dispersed particles is small and distributed in large numbers. The reason is that it is required to have a small size and a large number because it functions as a sulfur precipitation site.

硫黄及びチタンは、TiO、TiO2、TiS、Ti−O−Sの形で化合物または、凝集物を形成し、残りのTiとSが固溶体の形で存在している。TiOのサイズが200nm以下、TiO2は1000nm以下、TiSは200nm以下、Ti−O−Sは300nm以下で結晶粒内に分布している希薄銅合金材料とする。「結晶粒」とは銅の結晶組織のことを意味する。 Sulfur and titanium form compounds or aggregates in the form of TiO, TiO 2 , TiS, and Ti—O—S, and the remaining Ti and S are present in the form of a solid solution. A dilute copper alloy material in which the size of TiO is 200 nm or less, TiO 2 is 1000 nm or less, TiS is 200 nm or less, and Ti—O—S is 300 nm or less is distributed in the crystal grains. “Crystal grains” means the crystal structure of copper.

但し、鋳造時の溶銅の保持時間や冷却状況により、形成される粒子サイズが変わるので鋳造条件の設定も必要である。   However, since the size of the formed particles changes depending on the holding time of the molten copper during casting and the cooling condition, it is necessary to set casting conditions.

(3)鋳造条件の制限
SCR連続鋳造圧延により、鋳塊ロッドの加工度が90%(30mm)〜99.8%(5mm)でワイヤロッドを造る、一例として、加工度99.3%でφ8mmワイヤロッドを造る方法をいる。
(3) Restriction of casting conditions By SCR continuous casting and rolling, a wire rod is manufactured with an ingot rod working degree of 90% (30 mm) to 99.8% (5 mm). As an example, φ8 mm at a working degree of 99.3% There is a way to make a wire rod.

(a)溶解炉内での溶銅温度は、1100℃以上1320℃以下とする。溶銅の温度が高いとブローホールが多くなり、傷が発生するとともに粒子サイズが大きくなる傾向にあるので1320℃以下とする。1100℃以上としたのは、銅が固まりやすく製造が安定しないためであるが、鋳造温度は、出来るだけ低い温度が望ましい。   (A) Molten copper temperature in a melting furnace shall be 1100 degreeC or more and 1320 degrees C or less. When the temperature of the molten copper is high, blowholes increase, scratches are generated, and the particle size tends to increase. The reason why the temperature is set to 1100 ° C. or higher is that copper is likely to solidify and the production is not stable, but the casting temperature is preferably as low as possible.

(b)熱間圧延温度は、最初の圧延ロールでの温度が880℃以下、最終圧延ロールでの温度が550℃以上とする。   (B) As for the hot rolling temperature, the temperature at the first rolling roll is 880 ° C. or lower, and the temperature at the final rolling roll is 550 ° C. or higher.

通常の純銅製造条件と異なり、溶銅中での硫黄の晶出と熱間圧延中の硫黄の析出が本発明の課題であるので、その駆動力である固溶限をより小さくするためには、溶銅温度と熱間圧延温度を(a)、(b)とするのがよい。   Unlike normal pure copper production conditions, crystallization of sulfur in molten copper and precipitation of sulfur during hot rolling are the subject of the present invention, so in order to reduce the solid solubility limit that is the driving force. The molten copper temperature and the hot rolling temperature are preferably (a) and (b).

通常の熱間圧延温度は、最初の圧延ロールでの温度が950℃以下、最終圧延ロールでの温度が600℃以上であるが、固溶限をより小さくするためには、本発明では、最初の圧延ロールでの温度が880℃以下、最終圧延ロールでの温度が550℃以上に設定する。   The normal hot rolling temperature is such that the temperature at the first rolling roll is 950 ° C. or lower and the temperature at the final rolling roll is 600 ° C. or higher. In order to reduce the solid solution limit, The temperature at the first rolling roll is set to 880 ° C. or lower, and the temperature at the final rolling roll is set to 550 ° C. or higher.

550℃以上にする理由は、この温度以下ではワイヤロッドの傷が多いので製品になら
ないためである。熱間圧延温度は、最初の圧延ロールでの温度が880℃以下、最終圧延
ロールでの温度が550℃以上で、できるだけ低い方が望ましい。こうすることで、軟化
温度(φ8mm〜φ2.6mmに加工後)が限りなくCu(6N、軟化温度130℃)に近くなる。
The reason why the temperature is set to 550 ° C. or higher is that the wire rod has many scratches below this temperature, so that the product is not manufactured. The hot rolling temperature is preferably as low as possible, with the temperature at the first rolling roll being 880 ° C. or lower and the temperature at the final rolling roll being 550 ° C. or higher. By doing so, the softening temperature (after processing to φ8 mm to φ2.6 mm ) is infinitely close to Cu (6N, softening temperature 130 ° C.).

(c)直径φ8mmサイズのワイヤロッドの導電率が98%IACS以上、100%IACS、更に102%IACS以上であり、冷間伸線加工後の線材(たとえばφ2.6mm)の軟化温度が130℃〜148℃である希薄銅合金線または板状材料を得ることができる。   (C) The electrical conductivity of a wire rod having a diameter of φ8 mm is 98% IACS or more, 100% IACS or more and 102% IACS or more, and the softening temperature of the wire rod (for example, φ2.6 mm) after cold drawing is 130 ° C. A dilute copper alloy wire or plate-like material having a temperature of ˜148 ° C. can be obtained.

工業的に使うためには、電気銅から製造した工業的に利用される純度の軟質銅線にて98%IACS以上必要であり、軟化温度はその工業的価値から見て148℃以下である。Tiを添加しない場合は、160〜165℃である。Cu(6N)の軟化温度は127〜130℃であったので、得られたデータから限界値を130℃とする。このわずかな違いは、Cu(6N)にない不可避的不純物にある。   In order to use it industrially, it is necessary to use 98% IACS or more in the industrially used soft copper wire produced from electrolytic copper, and the softening temperature is 148 ° C. or less in view of its industrial value. When Ti is not added, the temperature is 160 to 165 ° C. Since the softening temperature of Cu (6N) was 127 to 130 ° C., the limit value is set to 130 ° C. from the obtained data. This slight difference is in inevitable impurities not found in Cu (6N).

導電率は、無酸素銅のレベルで101.7%IACS程度であり、Cu(6N)で102.8%IACSであるため、出来るだけCu(6N)に近い導電率であることが望ましい。   The conductivity is about 101.7% IACS at the level of oxygen-free copper, and 102.8% IACS at Cu (6N). Therefore, it is desirable that the conductivity be as close as possible to Cu (6N).

(4)鋳造条件の制限
ベース材の銅はシャフト炉で溶解の後、還元状態の樋になるように制御した、すなわち還元ガス(CO)雰囲気の下で、希薄合金の構成元素の硫黄濃度、Ti濃度、酸素濃度を制御して鋳造し、圧延するワイヤロッドを安定して製造する方法がよい。銅酸化物の混入や粒子サイズが大きいので品質を低下させる。
(4) Restriction of casting conditions The copper of the base material was controlled to be in a reduced state after melting in the shaft furnace, that is, the sulfur concentration of the constituent element of the dilute alloy in a reducing gas (CO) atmosphere, A method of stably producing a wire rod that is cast and rolled while controlling the Ti concentration and oxygen concentration is preferable. Since the copper oxide is mixed and the particle size is large, the quality is lowered.

ここで、添加物としてTiを選択した理由は次の通りである。   Here, the reason for selecting Ti as an additive is as follows.

(a)Tiは溶融銅の中で硫黄と結合し化合物を造りやすいためである。   (A) Ti is easily bonded to sulfur in molten copper to form a compound.

(b)Zrなど他の添加金属に比べて加工でき扱いやすい。   (B) It can be processed and handled more easily than other additive metals such as Zr.

(c)Nbなどに比べて安価である。   (C) It is less expensive than Nb or the like.

(d)酸化物を核として析出しやすいからである。   (D) It is because it is easy to precipitate using an oxide as a nucleus.

以上により得られた希薄銅合金材料は、溶融半田めっき材(線、板、箔)、エナメル線、軟質純銅、高導電率銅、焼鈍時のエネルギーを低減でき、やわらかい銅線として使用でき、生産性が高く、導電率、軟化温度、表面品質に優れた実用的な希薄銅合金材料を得ることが可能となる。   The dilute copper alloy material obtained by the above can be used as a soft copper wire because it can reduce the energy during molten solder plating material (wire, plate, foil), enameled wire, soft pure copper, high conductivity copper, and annealing. It is possible to obtain a practical dilute copper alloy material that is highly conductive and excellent in electrical conductivity, softening temperature, and surface quality.

また、上述の実施の形態では、SCR連続鋳造圧延法によりワイヤロッドを作製し、熱間圧延にて軟質材を作製する例で説明したが、双ロール式連続鋳造圧延法またはプロペルチ式連続鋳造圧延法により製造するようにしても良い。   In the above-described embodiment, the wire rod is manufactured by the SCR continuous casting rolling method and the soft material is manufactured by hot rolling. However, the twin roll type continuous casting rolling method or the Properti type continuous casting rolling method has been described. You may make it manufacture by a method.

さて、この希薄銅合金材料を素材とした本発明の溶融はんだめっき線の製造方法を図7により説明する。   Now, a method for producing a molten solder plated wire of the present invention using this diluted copper alloy material as a raw material will be described with reference to FIG.

このめっき線は、その表面にめっき層を備えた銅線である。この銅線は、上述の希薄銅合金材料を素材としたものである。また、めっき層としては、例えば、錫、ニッケル、銀を主成分とするものを適用可能であり、いわゆるPbフリーめっきを用いてもよい。   This plated wire is a copper wire having a plating layer on its surface. This copper wire is made of the above-mentioned diluted copper alloy material. Moreover, as a plating layer, what has tin, nickel, and silver as a main component is applicable, for example, you may use what is called Pb free plating.

図7に示すように、めっき線の製造方法は、上述の希薄銅合金材料を素材としたワイヤロッド2を伸線する伸線工程と、伸線されたワイヤロッド2aを圧延して平角導体(軟質平角導体)10とする圧延工程と、平角導体10の表面にめっき層を形成するはんだめっき工程とを備える。ここでは圧延工程を含む場合を説明するが、本発明の溶融はんだめっき線の製造方法は、この圧延工程がない製造方法であってもよい。   As shown in FIG. 7, the method of manufacturing a plated wire includes a wire drawing step of drawing the wire rod 2 made of the above-described diluted copper alloy material, and a flat conductor ( A rolling step for forming a soft flat conductor 10 and a solder plating step for forming a plating layer on the surface of the flat conductor 10. Here, although the case where a rolling process is included is demonstrated, the manufacturing method without this rolling process may be sufficient as the manufacturing method of the molten solder plating wire of this invention.

伸線工程で用いる伸線装置1は、上述の希薄銅合金材料を素材としたワイヤロッド2が巻き付けられた送出しボビン3と、その送出しボビン3から送出されたワイヤロッド2を伸線するための複数のダイス4を有する伸線機5と、伸線後のワイヤロッド2aを巻取る巻取りボビン6とからなる。また、ワイヤロッドを伸線する際には、伸線装置1の内部に図示しない通電加熱装置を備え付けて、送出しボビン3から送り出し、伸線材を巻取りボビン6に巻き取るとの搬送工程のなかで、いわば伸線加工と同一ライン上にて通電アニーラなどの処理により焼鈍処理をするものであってもよい。本発明の目的は、最終線径への加工が終了した後の焼鈍工程を省略することであるが、このように、最終線径に加工する前段階において、伸線加工と同一ライン上にて焼鈍処理を行う場合には、短時間の処理であるため、生産性の面で問題となる程度のものではなく、本発明は、このような焼鈍工程を実施する場合をも排除する趣旨のものではない。   The wire drawing apparatus 1 used in the wire drawing process draws the feed bobbin 3 around which the wire rod 2 made of the above-mentioned diluted copper alloy material is wound, and the wire rod 2 sent from the feed bobbin 3. It consists of a wire drawing machine 5 having a plurality of dies 4 and a winding bobbin 6 for winding the wire rod 2a after drawing. Further, when the wire rod is drawn, an electric heating device (not shown) is provided inside the wire drawing device 1, and the wire rod is sent out from the delivery bobbin 3, and the wire drawing material is taken up on the take-up bobbin 6. In particular, annealing treatment may be performed by a process such as energization annealing on the same line as the wire drawing. The object of the present invention is to omit the annealing step after finishing to the final wire diameter. Thus, in the stage before processing to the final wire diameter, on the same line as the wire drawing processing. In the case of performing the annealing process, since it is a short-time process, it is not a problem in terms of productivity, and the present invention is intended to exclude the case where such an annealing process is performed. is not.

圧延工程で用いる圧延装置7は、伸線後のワイヤロッド2が巻き付けられた送出しボビン8(巻取りボビン6)と、その送出しボビン8から送出されたワイヤロッド2aを上下から圧延する圧延ロール9を有し、ワイヤロッド2aを平角導体10に加工する圧延機11と、平角導体10を巻取る巻取りボビン12とからなる。   The rolling device 7 used in the rolling process is a rolling machine that rolls the wire bobbin 8 (winding bobbin 6) around which the wire rod 2 after drawing is wound and the wire rod 2a fed from the wire bobbin 8 from above and below. The rolling machine 11 has a roll 9 and processes the wire rod 2 a into a flat conductor 10, and a winding bobbin 12 that winds the flat conductor 10.

はんだめっき工程で用いるはんだめっき装置13は、平角導体10が巻き付けられた送出しボビン14(巻取りボビン12)と、はんだ溶湯Sで満たされたはんだめっき槽15と、送出しボビン14から送出された平角導体10をはんだめっき槽15にガイドする複数のプーリ16と、はんだめっき槽15を通じて平角導体10の表面にめっき層が形成された平角導体17を巻取る巻取りボビン18とからなる。   A solder plating apparatus 13 used in the solder plating process is sent out from a delivery bobbin 14 (winding bobbin 12) around which a flat conductor 10 is wound, a solder plating tank 15 filled with a molten solder S, and a delivery bobbin 14. A plurality of pulleys 16 for guiding the flat conductor 10 to the solder plating tank 15 and a winding bobbin 18 for winding the flat conductor 17 having a plating layer formed on the surface of the flat conductor 10 through the solder plating tank 15.

図8に示すように、従来は、めっき平角導体19を製造するため、加工工程(伸線工程・圧延工程)で丸線の材料20を平角状(平角導体21)にし、線材に対し最終的な加工を施した後に、焼鈍工程(熱処理工程)を介してから、はんだめっき槽15に浸漬してめっき複合材(平角導体19)とする製造方法が行われている。   As shown in FIG. 8, conventionally, in order to produce a plated rectangular conductor 19, the round wire material 20 is made into a rectangular shape (flat conductor 21) in the processing step (the wire drawing step / rolling step), and finally the wire rod is finished. After performing an appropriate process, after the annealing process (heat treatment process), the manufacturing method in which it is immersed in the solder plating tank 15 and made into a plating composite material (flat conductor 19) is performed.

しかし、加工工程で加工された材料20は、加工硬化し、次の焼鈍工程で軟質化しなければならなかった。焼鈍工程では、管状炉22やバッチ炉23を用いて平角導体21を焼鈍させる。このため、製造コストが高く、経済性・生産性に問題があった。   However, the material 20 processed in the processing step had to be work-hardened and softened in the next annealing step. In the annealing process, the rectangular conductor 21 is annealed using the tubular furnace 22 or the batch furnace 23. For this reason, the manufacturing cost was high, and there were problems in economy and productivity.

これに対し、上述のとおり、本発明の溶融はんだめっき線の製造方法を使用すれば、半軟化温度が低い素材を用いるため、製造時に、加工工程から焼鈍工程、めっき工程を経て製造される工程を、最終伸線加工を行った後に軟化焼鈍工程を設けることなく、加工工程からめっき工程のみで製品を製造できることになり、低コストであり、高い生産性が得られる。   On the other hand, as described above, if the method for producing a molten solder plated wire according to the present invention is used, a material having a low semi-softening temperature is used, and therefore, a manufacturing process is performed from a processing process through an annealing process and a plating process. Thus, a product can be manufactured only from the processing step to the plating step without providing a softening annealing step after the final wire drawing process, so that the cost is low and high productivity is obtained.

さらには、本発明によれば、後述の表3、表4に示すデータに基づき、無酸素銅(OFC)を用いる場合に比して、軟質銅線を製造する上において、はんだめっき槽への浸漬時間をより短時間で行うことができ、更なるめっきラインの増速化を実現することができる。   Furthermore, according to the present invention, based on the data shown in Tables 3 and 4 to be described later, compared to the case of using oxygen-free copper (OFC), in producing a soft copper wire, The dipping time can be performed in a shorter time, and further increase in the speed of the plating line can be realized.

表1は実験条件と結果に関するものである。   Table 1 relates to experimental conditions and results.

先ず、実験材として、表1に示した酸素濃度、硫黄濃度、Ti濃度で、φ8mmの銅線(ワイヤロッド):加工度99.3%をそれぞれ作製した。φ8mmの銅線は、SCR連続鋳造圧延により、熱間圧延加工を施したものである。Tiは、シャフト炉で溶解された銅溶湯を還元ガス雰囲気で樋に流し、樋に流した銅溶湯を同じ還元ガス雰囲気の鋳造ポットに導き、この鋳造ポットにて、Tiを添加した後、これをノズルを通して鋳造輪と無端ベルトとの間に形成される鋳型にて鋳塊ロッドを作成した。この鋳塊ロッドを熱間圧延加工してφ8mmの銅線を作成したものである。その実験材を冷間伸線して、φ2.6mmのサイズにおける半軟化温度と導電率を測定し、またφ8mmの銅線における分散粒子サイズを評価した。   First, as an experimental material, a φ8 mm copper wire (wire rod) with a processing degree of 99.3% was prepared with the oxygen concentration, sulfur concentration, and Ti concentration shown in Table 1. The φ8 mm copper wire is hot-rolled by SCR continuous casting and rolling. Ti flows the molten copper melted in the shaft furnace into the reed in the reducing gas atmosphere, guides the molten copper flowing in the reed to the casting pot of the same reducing gas atmosphere, and after adding Ti in this casting pot, An ingot rod was made with a mold formed between the cast ring and the endless belt through the nozzle. This ingot rod is hot-rolled to produce a φ8 mm copper wire. The experimental material was cold-drawn, the semi-softening temperature and conductivity at a size of φ2.6 mm were measured, and the dispersed particle size at a copper wire of φ8 mm was evaluated.

酸素濃度は、酸素分析器(レコ(Leco;商標)酸素分析器)で測定した。硫黄、Tiの各濃度はICP発光分光分析器で分析した結果である。   The oxygen concentration was measured with an oxygen analyzer (Leco ™ oxygen analyzer). Each concentration of sulfur and Ti is the result of analysis with an ICP emission spectroscopic analyzer.

φ2.6mmのサイズにおける半軟化温度の測定は、400℃以下で各温度1時間の保持後、水中急冷し、引張試験を実施しその結果から求めた。室温での引張試験の結果と400℃で1時間のオイルバス熱処理した軟質銅線の引張試験の結果を用いて求め、引張強さの差の半分の値を示す強度に対応する温度を半軟化温度と定義し求めた。   The measurement of the semi-softening temperature in the size of φ2.6 mm was obtained from the result of quenching in water after holding each temperature at 400 ° C. or less for 1 hour and conducting a tensile test. Semi-softening the temperature corresponding to the strength showing half the difference in tensile strength, using the result of tensile test at room temperature and the result of tensile test of soft copper wire heat-treated at 400 ° C for 1 hour. Determined as temperature.

分散粒子のサイズは小さく沢山分布することが望ましい。その理由は、硫黄の析出サイトとして働くためサイズが小さく数が多いことが要求される。すなわち直径500nm以下の分散粒子が90%以上である場合を合格とした。ここに「サイズ」とは化合物のサイズであり、化合物の形状の長径と短径のうちの長径のサイズを意味する。また、「粒子」とは前記TiO、TiO2、TiS、Ti−O−Sのことを示す。また、「90%」とは、全体の粒子数に対しての該当粒子数の割合を示すものである。 It is desirable that the dispersed particles have a small size and are distributed a lot. The reason is that the size is small and the number is large because it functions as a sulfur deposition site. That is, the case where the number of dispersed particles having a diameter of 500 nm or less was 90% or more was regarded as acceptable. Here, the “size” is the size of the compound and means the size of the major axis of the major axis and minor axis of the shape of the compound. “Particles” refer to TiO, TiO 2 , TiS, and Ti—O—S. “90%” indicates the ratio of the number of corresponding particles to the total number of particles.

表1において、比較材1は、実験室でAr雰囲気において直径φ8mmの銅線を試作した結果であり、銅溶湯にTiを、0〜18mass ppm添加したものである。   In Table 1, the comparative material 1 is a result of trial production of a copper wire having a diameter of φ8 mm in an Ar atmosphere in a laboratory, and is obtained by adding 0 to 18 mass ppm of Ti to a molten copper.

このTi添加で、Ti添加量ゼロの半軟化温度215℃に対して、13mass ppmは160℃まで低下して最小となり、15,18mass ppmの添加で高くなっており、要望の軟化温度148℃以下にはならなかった。しかし工業的に要望がある導電率は98%IACS以上であり満足していたが、総合評価は×であった。   With this addition of Ti, 13 mass ppm decreases to 160 ° C. and becomes minimum with a semi-softening temperature of 215 ° C. where the Ti addition amount is zero, and increases with the addition of 15, 18 mass ppm, and the desired softening temperature is 148 ° C. or less. Did not become. However, although the industrially required conductivity was 98% IACS or more, it was satisfactory, but the overall evaluation was x.

そこで、次にSCR連続鋳造圧延法にて、酸素濃度を7〜8mass ppmに調整してφ8mm銅線(ワイヤロッド)の試作を行った。   Therefore, a Ø8 mm copper wire (wire rod) was prototyped by adjusting the oxygen concentration to 7 to 8 mass ppm by the SCR continuous casting and rolling method.

比較材2は、SCR連続鋳造圧延法で試作した中でTi濃度の少ないもの(0,2mass ppm)であり、導電率は102%IACS以上であるが、半軟化温度が164,157℃であり、要求の148℃以下を満足しないので、総合評価で、×となった。   The comparative material 2 is one having a low Ti concentration (0.2 mass ppm) among the prototype manufactured by the SCR continuous casting and rolling method, and the conductivity is 102% IACS or more, but the semi-softening temperature is 164,157 ° C. Since the required temperature of 148 ° C. or lower was not satisfied, the overall evaluation was x.

実施材1については、酸素濃度と硫黄濃度が、ほぼ一定(7〜8mass ppm、5mass ppm)、Ti濃度の異なる(4〜55mass ppm)試作材の結果である。   Regarding the implementation material 1, the oxygen concentration and the sulfur concentration are almost constant (7 to 8 mass ppm, 5 mass ppm), and the results of the prototype material having different Ti concentrations (4 to 55 mass ppm).

このTi濃度4〜55mass ppmの範囲では、半軟化温度148℃以下であり、導電率も98%IACS以上、102%IACS以上であり、分散粒子サイズも500nm以下の粒子が90%以上であり良好である。そしてワイヤロッドの表面もきれいであり
、いずれも製品性能として満足している(総合評価○)。
In this Ti concentration range of 4 to 55 mass ppm, the semi-softening temperature is 148 ° C. or less, the conductivity is 98% IACS or more, 102% IACS or more, and the dispersed particle size is also preferably 90% or more for particles of 500 nm or less. It is. And the surface of the wire rod is also clean, and all are satisfied as product performance (overall evaluation ○).

ここで、導電率100%IACS以上を満たすものは、Ti濃度が4〜37mass ppmのときであり、102%IACS以上を満たすものは、Ti濃度が4〜25mass ppmのときである。Ti濃度が13mass ppmのとき導電率が最大値である102.4%IACSを示し、この濃度の周辺では、導電率は、僅かに低い値であった。これは、Tiが13mass ppmのときに、銅中の硫黄分を化合物として捕捉することで、高純度銅(6N)に近い導電率を示したためである。   Here, the case where the electrical conductivity satisfies 100% IACS or higher is when the Ti concentration is 4 to 37 mass ppm, and the case where the electrical conductivity satisfies 102% IACS or higher is when the Ti concentration is 4 to 25 mass ppm. When the Ti concentration was 13 mass ppm, the maximum conductivity was 102.4% IACS, and the conductivity was slightly lower in the vicinity of this concentration. This is because when Ti is 13 mass ppm, the sulfur content in copper is captured as a compound, thereby showing conductivity close to that of high-purity copper (6N).

よって、酸素濃度を高くし、Tiを添加することで、半軟化温度と導電率の双方を満足させることができる。   Therefore, both the semi-softening temperature and the conductivity can be satisfied by increasing the oxygen concentration and adding Ti.

比較材3は、Ti濃度を60mass ppmと高くした試作材である。この比較材3は、導電率は要望を満足しているが、半軟化温度は148℃以上であり、製品性能を満足していない。さらにワイヤロッドの表面傷も多い結果であり、製品にすることは難しかった。よって、Tiの添加量は60mass ppm未満がよい。   Comparative material 3 is a prototype material having a Ti concentration as high as 60 mass ppm. In this comparative material 3, the electrical conductivity satisfies the request, but the semi-softening temperature is 148 ° C. or higher, and the product performance is not satisfied. Furthermore, there were many surface damages on the wire rod, making it difficult to produce a product. Therefore, the addition amount of Ti is preferably less than 60 mass ppm.

次に実施材2については、硫黄濃度を5mass ppmとし、Ti濃度を13〜10mass ppmとし、酸素濃度を変えて、酸素濃度の影響を検討した試作材である。   Next, Example Material 2 is a prototype material in which the sulfur concentration is set to 5 mass ppm, the Ti concentration is set to 13 to 10 mass ppm, and the oxygen concentration is changed to examine the influence of the oxygen concentration.

酸素濃度に関しては、2を超えて30mass ppm以下まで、大きく濃度が異なる試作材とした。但し、酸素が2mass ppm未満は、生産が難しく安定した製造できないため、総合評価は△とした。また酸素濃度を30mass ppmと高くしても半軟化温度と導電率の双方を満足することがわかった。   Regarding the oxygen concentration, prototype materials with greatly different concentrations from 2 to 30 mass ppm or less were used. However, when oxygen is less than 2 mass ppm, production is difficult and stable production cannot be performed, so the overall evaluation is Δ. It was also found that even when the oxygen concentration was increased to 30 mass ppm, both the semi-softening temperature and the conductivity were satisfied.

また比較材4に示すように、酸素が40mass ppmの場合には、ワイヤロッド表面の傷が多く、製品にならない状況であった。   Moreover, as shown in the comparative material 4, when oxygen was 40 mass ppm, there were many scratches on the surface of the wire rod, and the product did not become a product.

よって、酸素濃度が2を超え30mass ppm以下の範囲とすることで、半軟化温度、導電率102%IACS以上、分散粒子サイズいずれの特性も満足させることができ、またワイヤロッドの表面もきれいであり、いずれも製品性能を満足させることができる。   Therefore, by setting the oxygen concentration in the range of more than 2 and 30 mass ppm or less, the semi-softening temperature, the conductivity of 102% IACS or more, and the dispersed particle size can be satisfied, and the wire rod surface is also clean. Yes, both can satisfy product performance.

次に実施材3は、それぞれ酸素濃度と硫黄濃度とを比較的近い濃度とし、Ti濃度を4〜20mass ppmと変えた試作材の例である。この実施材3においては、硫黄が2mass ppmより少ない試作材は、その原料面から実現できなかったが、Tiと硫黄の濃度を制御することで、半軟化温度と導電率の双方を満足させることができる。   Next, the embodiment material 3 is an example of a prototype material in which the oxygen concentration and the sulfur concentration are relatively close to each other, and the Ti concentration is changed to 4 to 20 mass ppm. In this material 3, the prototype material with less than 2 mass ppm of sulfur could not be realized from the raw material side, but by satisfying both the semi-softening temperature and the conductivity by controlling the concentrations of Ti and sulfur. Can do.

比較材5の硫黄濃度が18mass ppmで、Ti濃度が13mass ppmの場合には、半軟化温度が162℃で高く、必要特性を満足できなかった。また、特にワイヤロッドの表面品質が悪いので、製品化は難しかった。   When the sulfur concentration of the comparative material 5 was 18 mass ppm and the Ti concentration was 13 mass ppm, the semi-softening temperature was high at 162 ° C. and the required characteristics could not be satisfied. Moreover, since the surface quality of the wire rod was particularly poor, it was difficult to commercialize the product.

以上より、硫黄濃度が2〜12mass ppmの場合には、半軟化温度、導電率102%IACS以上、分散粒子サイズいずれの特性も満足しており、ワイヤロッドの表面もきれいですべての製品性能を満足することがわかった。   From the above, when the sulfur concentration is 2 to 12 mass ppm, the characteristics of the semi-softening temperature, the conductivity of 102% IACS or more, and the dispersed particle size are all satisfied, and the surface of the wire rod is clean and all the product performance is achieved. I was satisfied.

また比較材6としてCu(6N)を用いた検討結果を示したが、半軟化温度127〜130℃であり、導電率も102.8%IACSであり、分散粒子サイズも、500nm以下の粒子はまったく認められなかった。   Moreover, although the examination result using Cu (6N) as the comparative material 6 was shown, the semi-softening temperature is 127 to 130 ° C., the conductivity is 102.8% IACS, and the dispersed particle size is 500 nm or less. It was not recognized at all.

表2は、製造条件としての、溶融銅の温度と圧延温度を示したものである。   Table 2 shows the molten copper temperature and rolling temperature as the production conditions.

比較材7は、溶銅温度が高めの1330〜1350℃で、且つ圧延温度が950〜600℃でφ8mmのワイヤロッドを試作した結果を示したものである。   Comparative material 7 shows the result of trial manufacture of a wire rod of φ8 mm at a molten metal temperature of 1330 to 1350 ° C. and a rolling temperature of 950 to 600 ° C.

この比較材7は、半軟化温度と導電率は満足するものの、分散粒子のサイズに関しては、1000nm程度のものもあり500nm以上の粒子も10%を超えていた。よってこれは不適とした。   Although this comparative material 7 satisfied the semi-softening temperature and the electrical conductivity, the size of the dispersed particles was about 1000 nm, and the particles of 500 nm or more exceeded 10%. Therefore, this was inappropriate.

実施材4は、溶銅温度が1200〜1320℃で且つ圧延温度が低めの880〜550℃でφ8mmのワイヤロッドを試作した結果を示したものである。この実施材4については、ワイヤ表面品質、分散粒子サイズも良好で、総合評価は○であった。   The execution material 4 shows the result of trial manufacture of a φ8 mm wire rod at a molten copper temperature of 1200 to 1320 ° C. and a lower rolling temperature of 880 to 550 ° C. About this implementation material 4, the wire surface quality and the dispersed particle size were also good, and the overall evaluation was good.

比較材8は、溶銅温度が1100℃で、且つ圧延温度が低めの880〜550℃でφ8mmのワイヤロッドを試作した結果を示したものである。この比較材8は、溶銅温度が低いため、ワイヤロッドの表面傷が多く製品には適さなかった。これは、溶銅温度が低いため、圧延時に傷が発生しやすいためである。   Comparative material 8 shows the result of trial production of a wire rod of φ8 mm at a molten copper temperature of 1100 ° C. and a lower rolling temperature of 880 to 550 ° C. Since this comparative material 8 had a low molten copper temperature, the wire rod had many surface scratches and was not suitable for the product. This is because scratches are likely to occur during rolling because the molten copper temperature is low.

比較材9は、溶銅温度が1300℃で、且つ圧延温度が高めの950〜600℃でφ8mmのワイヤロッドを試作した結果を示したものである。この比較材9は、熱間圧延温度が高いため、ワイヤロッドの表面品質が良いが、分散粒子サイズも大きなものがあり、総合評価は×となった。   Comparative material 9 shows the result of trial production of a wire rod of φ8 mm at a molten copper temperature of 1300 ° C. and a higher rolling temperature of 950 to 600 ° C. Since this comparative material 9 had a high hot rolling temperature, the surface quality of the wire rod was good, but some of the dispersed particles were large, and the overall evaluation was x.

比較材10は、溶銅温度が1350℃で、且つ圧延温度が低めの880〜550℃でφ8mmのワイヤロッドを試作した結果を示したものである。この比較材10は、溶銅温度が高いため、分散粒子サイズが大きなものがあり、総合評価は×となった。   Comparative material 10 shows the result of trial production of a wire rod of φ8 mm at a molten copper temperature of 1350 ° C. and a lower rolling temperature of 880 to 550 ° C. Since this comparative material 10 had a high molten copper temperature, some of the dispersed particles had a large size and the overall evaluation was x.

表3は、無酸素銅(OFC)を試料とした従来例と、微量のTiを添加した実施例とを対象として、いずれも比較的高加工度である92.1%の場合におけるめっき槽浸漬後の0.2%耐力値を測定した結果である。
浸漬後の試料の軟化特性を把握するため、0.2%耐力値を測定した。目標値は90MPa以下に設定した。ここに試料は、実施材5については、前記実施材1のうち上から3番目の素材をφ2.6mmに伸線した後に同一ライン上にて伸びが30%になるまで通電アニーラの処理を行い、さらにφ0.73mmに伸線した(加工度92.1%)。この丸線を平角状に成形するための圧延加工工程(0.2×2.0mm)を通った平角状の線材を、焼鈍工程を設けることなく、硬質銅線の状態で、溶融はんだめっき工程にて、はんだめっき槽に連続的に浸漬させて引き上げロールにより引上げて平角線材の周囲に溶融はんだめっき層を有する軟質希薄銅線を得た。これに対して、従来材1は、原材料として無酸素銅(OFC)を用いた点を除けば、上記実施材5と同様の条件にて製造した。ここに加工度とは、「(加工前の断面積−加工後の断面積)/加工前の断面積」であらわされる。
Table 3 shows immersion in a plating bath in the case of 92.1%, which is a relatively high degree of processing, with the conventional example using oxygen-free copper (OFC) as a sample and the example added with a small amount of Ti. It is the result of measuring the subsequent 0.2% yield strength value.
In order to grasp the softening characteristics of the sample after immersion, a 0.2% proof stress value was measured. The target value was set to 90 MPa or less. Here, as for the sample 5 for the execution material 5, after the third material from the top of the execution material 1 was drawn to φ2.6 mm, the annealing treatment was performed until the elongation was 30% on the same line. Furthermore, it was drawn to φ0.73 mm (working degree 92.1%). A molten solder plating step in the state of a hard copper wire without providing an annealing step to a flat wire having passed through a rolling process (0.2 × 2.0 mm) for forming the round wire into a flat shape. Then, a soft dilute copper wire having a molten solder plating layer around a flat wire was obtained by continuously dipping in a solder plating bath and pulling up with a pulling roll. On the other hand, the conventional material 1 was manufactured under the same conditions as the above-described embodiment material 5 except that oxygen-free copper (OFC) was used as a raw material. Here, the processing degree is expressed as “(cross-sectional area before processing−cross-sectional area after processing) / cross-sectional area before processing”.

実施材5に相当する試料No2〜4についてみると、はんだめっき温度が260℃〜300℃においては、浸漬時間が2〜5秒で、0.2%耐力値は90MPaを下回っており、浸漬時間が短いにもかかわらず、良好な軟質銅線が得られていることがわかる。これに対して、従来材1である試料No9、10は、はんだめっき温度が260℃、280℃の例であるが、浸漬時間が60秒と長時間であるにもかかわらず、0.2%耐力値はいずれも目標値である90MPaを上回っていた。また、同じく従来材1である試料No11は、0.2%耐力値が82MPaであり良好であるが、浸漬時間が長いため、生産性の面で劣る結果となった。
また、試料No5〜8については、はんだめっき温度が320℃〜380℃において浸漬時間が1秒の短時間であるにもかかわらず、溶融はんだめっき工程の熱量によって硬質銅線が変質されて、0.2%耐力値は90MPaを下回っていたのに対して、試料No12〜15はいずれも0.2%耐力値90MPaを下回っているものの、試料No5〜8に比して浸漬時間が長いことがわかる。
As for sample Nos. 2 to 4 corresponding to the implementation material 5, when the solder plating temperature is 260 ° C. to 300 ° C., the immersion time is 2 to 5 seconds, and the 0.2% proof stress value is less than 90 MPa, and the immersion time It can be seen that a good soft copper wire is obtained in spite of being short. On the other hand, Sample Nos. 9 and 10, which are the conventional material 1, are examples in which the solder plating temperature is 260 ° C. and 280 ° C., although the immersion time is as long as 60 seconds, 0.2% The proof stress values exceeded the target value of 90 MPa. Similarly, Sample No. 11 which is the conventional material 1 has a 0.2% proof stress of 82 MPa, which is good, but the immersion time is long, resulting in poor productivity.
For sample Nos. 5 to 8, the hard copper wire was altered by the amount of heat in the molten solder plating process even though the solder plating temperature was 320 ° C. to 380 ° C. and the immersion time was 1 second. .2% proof stress value was less than 90 MPa, while sample Nos. 12 to 15 were all less than 0.2% proof stress value 90 MPa, but the immersion time was longer than Sample Nos. 5 to 8 Recognize.

これら表3の結果から、Tiを微量添加した実施材5の材料が、無酸素銅(OFC)を用いる従来例に対して軟質銅線を製造する上において、はんだめっき槽への浸漬時間をより短時間で行うことができ、より具体的には260℃〜300℃であれば2〜5秒、300℃を超えて380℃以下であれば1秒以下で目標の0.2%耐力値に到達することができ、めっきラインの増速化の点においてより有効であるといえる。   From the results of Table 3, when the material of the embodiment material 5 to which a small amount of Ti was added produced a soft copper wire compared to the conventional example using oxygen-free copper (OFC), the immersion time in the solder plating tank was further increased. It can be carried out in a short time, more specifically 260 to 300 ° C. for 2 to 5 seconds, and more than 300 ° C. to 380 ° C. or less to the target 0.2% proof stress value in 1 second or less. It can be said that it is more effective in terms of speeding up the plating line.

なお、比較材11については、はんだめっき温度260℃の場合にはんだ浸漬時間を2秒とする条件にて0.2%耐力値を測定したが、目標値の90MPaを大きく上回るものであった。   For the comparative material 11, the 0.2% proof stress value was measured under the condition that the solder immersion time was 2 seconds when the solder plating temperature was 260 ° C., which was much higher than the target value of 90 MPa.

表4は、比較的低加工度である47.7%の場合において、無酸素銅(OFC)を試料とする従来例と、微量Tiを添加する実施例とを対象として、めっき槽浸漬後の0.2%耐力値を測定した結果である。0.2%耐力値の評価方法は表3の場合と同様である。
ここに試料は、実施材については、前記実施材1のうち上から3番目の素材をφ2.6mmに伸線した後に同一ライン上にて伸びが30%になるまで通電アニーラの処理を行い、さらにこれをφ1.01mmに伸線した後同一ライン上にて伸びが30%になるまで通電アニーラの処理を行った。つづいて、これをさらにφ0.73mmに伸線して、硬質銅線を得た(加工度47.7%)。後の工程は、表3の場合と同様である。これに対して、従来材2は、原材料として無酸素銅(OFC)を用いた点を除けば、上記実施材と同様の条件にて製造した。なお、加工度の特定方法については、実施材と同様のものである。
Table 4 shows the results of the conventional example using oxygen-free copper (OFC) as a sample and the example in which a small amount of Ti is added in the case of 47.7%, which is a relatively low degree of processing. It is the result of measuring a 0.2% yield strength value. The evaluation method for the 0.2% proof stress value is the same as in Table 3.
As for the sample, the material 6 is subjected to an annealing process until the third material from the top of the material 1 is drawn to φ2.6 mm and the elongation is 30% on the same line. Further, after this was drawn to φ1.01 mm, a current-carrying annealer was processed until the elongation became 30% on the same line. Subsequently, this was further drawn to φ0.73 mm to obtain a hard copper wire (working degree: 47.7%). The subsequent steps are the same as in Table 3. On the other hand, the conventional material 2 was manufactured under the same conditions as the above-described embodiment material 6 except that oxygen-free copper (OFC) was used as a raw material. The method for specifying the degree of processing is the same as that of the embodiment material 6 .

実施材6をみると、はんだめっき温度が280℃〜380℃においては、浸漬時間が1〜10秒で0.2%耐力値が90MPaを下回っており、比較的低加工度の試料に対してもはんだめっき槽への浸漬によって溶融はんだめっき工程の熱量によって硬質銅線が変質されて良好な軟質銅線が作製できることがわかる(試料No18〜23)。
これに対して、従来材2をみても、260℃〜320℃においては浸漬時間を60秒と長くしたとしても、0.2%耐力値が90MPaを上回る結果となり、銅線の素材として無酸素銅(OFC)を使用した場合には、はんだめっき槽への浸漬による銅線の軟化効果は得られないことがわかった(試料No24〜27)。また、340℃〜380℃においては、0.2%耐力値が90MPaを下回るものが得られているが、はんだめっき槽への浸漬時間が30秒、60秒と長すぎるため、生産性の面において劣っていることがわかった(試料No28〜30)。また、340℃〜380℃において、浸漬時間が30秒、60秒で実施したものについては線材のCuがはんだめっき槽中に溶け出しており、めっき槽の成分を変化させ、後続の線材のはんだめっき層の組成品質に影響を及ぼすものであるため、現実のめっき製造ラインにおいては適用できないものである。
When the execution material 6 is seen, when the solder plating temperature is 280 ° C. to 380 ° C., the immersion time is 1 to 10 seconds and the 0.2% proof stress value is less than 90 MPa. It can also be seen that the hard copper wire is altered by the amount of heat in the molten solder plating process by immersion in the solder plating bath, and a good soft copper wire can be produced (Sample Nos. 18 to 23).
On the other hand, even when the conventional material 2 is seen, even if the immersion time is increased to 60 seconds at 260 ° C. to 320 ° C., the 0.2% proof stress exceeds 90 MPa, and the oxygen wire is used as the material for the copper wire. When copper (OFC) was used, it turned out that the softening effect of the copper wire by immersion to a solder plating tank is not acquired (sample No24-27). In addition, at 340 ° C. to 380 ° C., a 0.2% proof stress value is less than 90 MPa, but the immersion time in the solder plating tank is too long, 30 seconds and 60 seconds. (Sample Nos. 28 to 30). In addition, in the case where the immersion time was 30 seconds and 60 seconds at 340 ° C. to 380 ° C., the Cu of the wire rod was dissolved in the solder plating bath, the components of the plating bath were changed, and the solder of the subsequent wire rod was changed. Since it affects the composition quality of the plating layer, it cannot be applied to an actual plating production line.

これら表4の結果から、従来材2より、高加工度の銅線(たとえば、特許文献4では圧下率95%)に対して、はんだめっきによる熱処理効果によって、線材の軟化が起る現象は開示されているが、本発明は銅線の素材そのものを見直し、組成成分改善のアプローチから所定のO含有量、S含有量の銅材料に対してTiを微量に添加することにより、比較的低加工度の領域においても、はんだめっき層の品質に悪影響を及ぼすことなく、はんだめっき槽への浸漬による銅線の軟化効果が得られるという優位性があるといえる。   From the results shown in Table 4, the phenomenon that the wire material is softened due to the heat treatment effect by solder plating on the copper wire having a higher workability than the conventional material 2 (for example, the reduction ratio of 95% in Patent Document 4) is disclosed. However, in the present invention, the raw material of the copper wire itself is reviewed, and by adding a small amount of Ti to the copper material having a predetermined O content and S content from the approach of improving the composition component, relatively low processing is achieved. Even in such a region, it can be said that there is an advantage that the softening effect of the copper wire can be obtained by immersion in the solder plating tank without adversely affecting the quality of the solder plating layer.

なお、比較材12については、はんだめっき温度260℃の場合にはんだ浸漬時間を夫々30秒、60秒とする条件において0.2%耐力値を測定したが、目標値の90MPa付近の値となったが、はんだ浸漬時間を実施材6と比較して長くとる必要があり、生産性の面で劣る結果となった。   As for the comparative material 12, the 0.2% proof stress value was measured under the condition that the solder immersion time was 30 seconds and 60 seconds, respectively, when the solder plating temperature was 260 ° C., but it was a value near the target value of 90 MPa. However, it was necessary to make the solder immersion time longer than that of the working material 6, resulting in inferior productivity.

また、実施材5の試料および実施材6の試料を、太陽電池セル(シリコン基板、厚さ200μm)にはんだ付けし、はんだ付け後の太陽電池セルにおけるクラックの発生の有無を調べた結果、いずれの実施例においても、クラックの発生は認められなかった。よって、本実施例の導体を例えば、太陽電池用途に使用する場合には、はんだ付け後の熱膨張係数の差に起因する太陽電池セルのクラックの発生を無くすことができる効果がある。   In addition, as a result of soldering the sample of the implementation material 5 and the sample of the implementation material 6 to a solar battery cell (silicon substrate, thickness 200 μm) and examining the occurrence of cracks in the solar battery cell after soldering, In the examples, no cracks were observed. Therefore, when using the conductor of a present Example for a solar cell use, there exists an effect which can eliminate generation | occurrence | production of the crack of the photovoltaic cell resulting from the difference in the thermal expansion coefficient after soldering.

なお、本発明の実施例においては、平角状の導体を用いて説明したが、本発明は特にこれに限定されるものではなく、断面が丸形状の線材であってもよい。   In the embodiment of the present invention, a rectangular conductor has been described. However, the present invention is not particularly limited to this, and a wire having a round cross section may be used.

1 伸線装置
2、2a ワイヤロッド
3、8、14 送出しボビン
4 ダイス
5 伸線機
6、12 巻取りボビン
7 圧延装置
9 圧延ロール
10、17、19、21 平角導体
13 はんだめっき装置
S はんだ溶湯
15 はんだめっき槽
16 プーリ
20 材料
22 管状炉
23 バッチ炉
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Wire drawing apparatus 2, 2a Wire rod 3, 8, 14 Sending bobbin 4 Dies 5 Wire drawing machine 6, 12 Winding bobbin 7 Rolling apparatus 9 Roll roll 10, 17, 19, 21 Flat conductor 13 Solder plating apparatus S Solder Molten metal 15 Solder plating tank 16 Pulley 20 Material 22 Tubular furnace 23 Batch furnace

Claims (8)

不可避的不純物を含む純銅に、2〜12mass ppmの硫黄と2mass ppmを超え30mass ppm以下の酸素と4〜55mass ppmのチタンを含み、1200℃以上1320℃以下の溶銅温度で溶湯にした銅溶湯に前記チタンを添加し、前記チタンが添加された銅溶湯から鋳塊ロッドを作製した後、最初の圧延ロールでの温度を880℃以下、最終圧延ロールでの温度を550℃以上に制御して前記鋳塊ロッドに熱間圧延加工を施す工程を経て製造された希薄銅合金材料に対して最終線径に伸線加工を施して伸線材を作製する工程と、
該伸線材を溶融はんだめっき槽に浸漬することで伸線材の表面に溶融はんだめっき層を形成する溶融はんだめっき工程とを備え、溶融はんだめっき工程の熱量によって伸線材を軟質銅線に変質させることを特徴とする溶融はんだめっき線の製造方法。
Pure copper containing unavoidable impurities, 2 to 12 mass ppm of sulfur, 2 mass ppm to more than 30 mass ppm of oxygen and 4 to 55 mass ppm of titanium, and a molten copper at a molten copper temperature of 1200 ° C. to 1320 ° C. After the titanium was added to the steel and the ingot rod was made from the molten copper to which the titanium was added, the temperature at the first rolling roll was controlled to 880 ° C. or lower, and the temperature at the final rolling roll was controlled to 550 ° C. or higher. A step of producing a wire drawing material by subjecting the diluted copper alloy material manufactured through a step of hot rolling to the ingot rod to wire drawing to a final wire diameter;
A molten solder plating step for forming a molten solder plating layer on the surface of the wire drawing material by immersing the wire drawing material in a molten solder plating tank, and transforming the wire drawing material into a soft copper wire by the amount of heat in the molten solder plating step A method for producing a molten solder-plated wire.
前記最終線径に伸線加工した際の加工度が50%以上であり、前記溶融はんだめっき槽のめっき温度が260℃〜300℃であり、浸漬時間が2〜5秒であることを特徴とする請求項1に記載の溶融はんだめっき線の製造方法。   The degree of processing when drawing to the final wire diameter is 50% or more, the plating temperature of the molten solder plating bath is 260 ° C to 300 ° C, and the immersion time is 2 to 5 seconds. The manufacturing method of the molten solder plating wire of Claim 1 to do. 前記最終線径に伸線加工した際の加工度が50%以上であり、前記溶融はんだめっき槽のめっき温度が300℃を超え380℃以下であり、浸漬時間が1秒以下であることを特徴とする請求項1に記載の溶融はんだめっき線の製造方法。   The degree of processing when drawing to the final wire diameter is 50% or more, the plating temperature of the molten solder plating tank is over 300 ° C and 380 ° C or less, and the immersion time is 1 second or less. The method for producing a molten solder-plated wire according to claim 1. 前記最終線径に伸線加工した際の加工度が50%未満であり、前記溶融はんだめっき槽のめっき温度が280℃〜380℃であり、浸漬時間が1〜10秒であることを特徴とする請求項1に記載の溶融はんだめっき線の製造方法。   The degree of processing when drawing to the final wire diameter is less than 50%, the plating temperature of the molten solder plating bath is 280 ° C. to 380 ° C., and the immersion time is 1 to 10 seconds. The manufacturing method of the molten solder plating wire of Claim 1 to do. 前記最終線径に伸線加工を施す工程の前に、希薄銅合金材料からなる荒引線を伸線加工し、該伸線加工の後にこれを通電焼鈍する工程を備えることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の溶融はんだめっき線の製造方法。 The method comprising the step of drawing a rough drawn wire made of a dilute copper alloy material before the step of drawing the final wire diameter, and subjecting the wire to electrical annealing after the drawing. The manufacturing method of the molten solder plating wire of any one of 1-4. 前記溶融はんだめっき工程の前に、該伸線材を圧延加工することにより平角状に形成する圧延加工工程を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の溶融はんだめっき線の製造方法。 The molten solder plated wire according to any one of claims 1 to 5 , further comprising a rolling step for forming the wire rod into a rectangular shape by rolling the wire drawing material before the molten solder plating step. Manufacturing method. 前記希薄銅合金材料は、前記硫黄及び前記チタンが、TiO、TiO2、TiS、Ti−O−Sの形で化合物又は凝集物を形成し、残りの前記チタンと前記硫黄が固溶体の形で存在している希薄銅合金材料であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の溶融はんだめっき線の製造方法。 In the diluted copper alloy material, the sulfur and the titanium form compounds or aggregates in the form of TiO, TiO 2 , TiS, and Ti—O—S, and the remaining titanium and the sulfur exist in the form of a solid solution. method for producing a molten solder plated wire according to any one of claims 1 to 6, characterized in that a dilute copper alloy material in. 前記希薄銅合金材料は、前記TiOのサイズが200nm以下、前記TiO2は1000nm以下、前記TiSは200nm以下、前記Ti−O−Sは300nm以下に結晶粒内に分布し、500nm以下の粒子が90%以上である希薄銅合金材料であることを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の溶融はんだめっき線の製造方法。 In the diluted copper alloy material, the size of the TiO is 200 nm or less, the TiO 2 is 1000 nm or less, the TiS is 200 nm or less, and the Ti—O—S is distributed in the crystal grains to 300 nm or less. The method for manufacturing a molten solder plated wire according to any one of claims 1 to 7 , wherein the method is a dilute copper alloy material of 90% or more.
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