JP5602554B2 - 光測距装置 - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係る光測距装置の第1実施形態を示す概略構成図である。
受光パルスdの波高値をE、全立上り時間(0−100%)をta、立上り時間(10−90%)をtbとし、閾値をEthとすると、
ta=1.25×tb ・・・ (1)
E/ta=Eth/Δt ・・・ (2)
となる。
(2)式から、
Δt=ta×Eth/E ・・・ (3)
したがって、(1)式と(3)式から、
Δt=1.25×tb×Eth/E ・・・ (4)
であり、閾値Eth=5Esとすると、
Δt=6.25×tb×Es/E ・・・ (5)
となる。ここで、Esは前述したシステム所要の測距精度を満足するゼロクロス検出での最小光量レベルである。
T=t0+(t−Δt) ・・・ (6)
であり、投光タイミング検出部4で受光する投光パルスのレベルは安定しているので、投光パルスにおける時間t0は略一定と考えられるので、例えば時間t0を固定値として予め記憶させておけば、(6)式から容易に計測時間の補正ができる。
5 波高値検出部(波高値検出手段)
6 第1測距部(第1測距手段)
7 第2測距部(第2測距手段)
8 選択部(選択手段)
22A 計時補正部(計測時間補正手段)
31 異常処理手段
Claims (3)
- 対象物に光パルスを投光して反射パルスを受光するまでの時間を計測し、該計測時間に基づいて前記対象物までの距離を計測する光測距装置において、
前記反射パルスの受光による受光パルスをフィルタリングした信号のゼロクロス点を受光時刻として計測した時間に基づく算出距離と、前記受光パルスのレベルが所定の閾値に到達した時点を受光時刻として計測した時間に基づく算出距離とを比較して、小さい方を前記距離とする光測距装置。 - 前記反射パルスの受光により発生する受光パルスの波高値を検出する波高値検出手段と、
前記波高値検出手段により検出された検出波高値が予め設定した所定の範囲内であるときに、前記ゼロクロス点を受光時刻として計測した時間に基づく前記算出距離と前記受光パルスのレベルが所定の閾値に到達した時点を受光時刻として計測した時間に基づく前記算出距離とを比較して、算出距離の小さい方を前記対象物までの距離として選択する選択手段と、
を備えることを特徴とする請求項1に記載の光測距装置。 - 前記受光パルスのレベルが所定の閾値に到達した時点を受光時刻として計測した前記時間を補正する計測時間補正手段を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の光測距装置。
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