JP5580719B2 - ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム - Google Patents

ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム Download PDF

Info

Publication number
JP5580719B2
JP5580719B2 JP2010253091A JP2010253091A JP5580719B2 JP 5580719 B2 JP5580719 B2 JP 5580719B2 JP 2010253091 A JP2010253091 A JP 2010253091A JP 2010253091 A JP2010253091 A JP 2010253091A JP 5580719 B2 JP5580719 B2 JP 5580719B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
back surface
semiconductor back
semiconductor
dicing tape
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010253091A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011151363A (ja
Inventor
尚英 高本
健 松村
豪士 志賀
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Denko Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Priority to JP2010253091A priority Critical patent/JP5580719B2/ja
Priority to US12/975,641 priority patent/US9035466B2/en
Priority to KR1020100133497A priority patent/KR101539471B1/ko
Priority to CN201510166579.3A priority patent/CN104845545B/zh
Priority to CN201510166778.4A priority patent/CN104845546B/zh
Priority to TW104115668A priority patent/TWI631158B/zh
Priority to TW104115669A priority patent/TWI631159B/zh
Priority to TW099145901A priority patent/TWI604003B/zh
Priority to CN201010621817.2A priority patent/CN102146265B/zh
Publication of JP2011151363A publication Critical patent/JP2011151363A/ja
Priority to US14/188,991 priority patent/US9362156B2/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5580719B2 publication Critical patent/JP5580719B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L21/6836Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/562Protection against mechanical damage
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68377Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support with parts of the auxiliary support remaining in the finished device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/812Applying energy for connecting
    • H01L2224/81201Compression bonding
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/81Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a bump connector
    • H01L2224/818Bonding techniques
    • H01L2224/81801Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/10Bump connectors ; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L24/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01004Beryllium [Be]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01005Boron [B]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01006Carbon [C]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01013Aluminum [Al]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01019Potassium [K]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0102Calcium [Ca]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01023Vanadium [V]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01024Chromium [Cr]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01025Manganese [Mn]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01029Copper [Cu]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0103Zinc [Zn]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01042Molybdenum [Mo]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01045Rhodium [Rh]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01047Silver [Ag]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0105Tin [Sn]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01051Antimony [Sb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01056Barium [Ba]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/0106Neodymium [Nd]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01074Tungsten [W]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01075Rhenium [Re]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01079Gold [Au]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01082Lead [Pb]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/013Alloys
    • H01L2924/014Solder alloys
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12042LASER
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15787Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/151Die mounting substrate
    • H01L2924/156Material
    • H01L2924/15786Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
    • H01L2924/15788Glasses, e.g. amorphous oxides, nitrides or fluorides
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/30Technical effects
    • H01L2924/301Electrical effects
    • H01L2924/3025Electromagnetic shielding
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/28Web or sheet containing structurally defined element or component and having an adhesive outermost layer
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/28Web or sheet containing structurally defined element or component and having an adhesive outermost layer
    • Y10T428/2848Three or more layers

Description

本発明は、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムに関する。フリップチップ型半導体裏面用フィルムは、チップ状ワーク(半導体チップなど)の裏面の保護と、強度向上等のために用いられる。また本発明は、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置及び該装置の製造方法に関する。
近年、半導体装置及びそのパッケージの薄型化、小型化がより一層求められている。そのため、半導体装置及びそのパッケージとして、半導体チップ(チップ状ワーク)が基板に、半導体チップの回路面が基板の電極形成面と対向する形態で固定されたもの(フリップチップボンディングにより製造されたもの;フリップチップ実装の半導体装置)が広く利用されている。このような半導体装置等では、半導体チップ(チップ状ワーク)の裏面を保護フィルムにより保護し、半導体チップの損傷等を防止している場合がある。
特開2008−166451号公報 特開2008−006386号公報 特開2007−261035号公報 特開2007−250970号公報 特開2007−158026号公報 特開2004−221169号公報 特開2004−214288号公報 特開2004−142430号公報 特開2004−072108号公報 特開2004−063551号公報
しかしながら、半導体チップの裏面を保護する裏面保護フィルムを、半導体ウエハをダイシング工程でダイシングして得られた半導体チップの裏面に貼付するのは、その工程が追加されるため、工程数が増え、コスト等が増加することになる。また、近年の薄型化により、ダイシング工程の後の半導体チップのピックアップ工程で、半導体チップに損傷が生じる場合があり、ピックアップ工程までに半導体ウエハ又は半導体チップを補強させることが求められている。
本発明は前記問題点に鑑みなされたものであり、その目的は、半導体ウエハのダイシング工程から半導体チップのフリップチップボンディング工程にかけて利用することができるダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを提供することにある。また、本発明の他の目的は、半導体ウエハのダイシング工程において、優れた保持力を発揮することができ、さらに、半導体チップのフリップチップボンディング工程後には、優れたレーザーマーキング性を発揮することができるダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを提供することにある。
本願発明者等は、上記従来の問題点を解決すべく、鋭意検討した結果、基材及び粘着剤層を有するダイシングテープの粘着剤層上に、フリップチップ型半導体裏面用フィルムを積層して、ダイシングテープとフリップチップ型半導体裏面用フィルムとを一体的に形成し、さらに、フリップチップ型半導体裏面用フィルムとして、黒色顔料を含有しているものを用いると、このダイシングテープとフリップチップ型半導体裏面用フィルムとが一体的に形成された積層体(ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム)は、半導体ウエハのダイシング工程から半導体チップのフリップチップボンディング工程にかけて利用することができ、また、半導体ウエハのダイシング工程において、優れた保持力を発揮することができ、さらに、半導体チップのフリップチップボンディング工程後には、優れたレーザーマーキング性を発揮することができることを見出して、本発明を完成させるに至った。
すなわち、本発明は、基材、及び該基材上に形成された粘着剤層を有するダイシングテープと、該ダイシングテープの粘着剤層上に形成されたフリップチップ型半導体裏面用フィルムとを有するダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムであって、前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムが、着色剤として黒色顔料を含有していることを特徴とするダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムである。
このように、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、フリップチップ型半導体裏面用フィルムと、基材及び粘着剤層を有するダイシングテープとが一体となった形態で形成されており、且つ前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムでは、着色剤として黒色顔料が用いられているので、ウエハ(半導体ウエハ)をダイシングする際にワーク(半導体ウエハ)にダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを貼着させることにより、ワークを保持させて有効にダイシングすることができるとともに、ワークをダイシングしてチップ状ワーク(半導体チップ)を形成させた後、チップ状ワークをフリップチップ型半導体裏面用フィルムとともにダイシングテープの粘着剤層から優れたピックアップ性で容易に剥離させることができ、裏面が保護されたチップ状ワークを容易に得ることができる。しかも、チップ状ワークの裏面には、黒色顔料が着色剤として用いられているフリップチップ型半導体裏面用フィルムが形成されているので、チップ状ワークは、裏面のレーザーマーキング性が優れている。もちろん、チップ状ワークは、裏面に、黒色顔料が着色剤として用いられているフリップチップ型半導体裏面用フィルムが優れた密着性で貼着されているので、優れた外観性も有している。
また、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、前述のように、ダイシングテープとフリップチップ型半導体裏面用フィルムが一体的に形成されているので、ダイシング工程の前にダイシングテープを半導体ウエハ裏面に貼着させる際に、フリップチップ型半導体裏面用フィルムも貼着させることができ、フリップチップ型半導体裏面用フィルムのみを貼着させる工程(フリップチップ型半導体裏面用フィルム貼着工程)を必要としない。しかも、その後のダイシング工程やピックアップ工程では、半導体ウエハの裏面又はダイシングにより形成された半導体チップの裏面には、フリップチップ型半導体裏面用フィルムが貼着されているので、半導体ウエハや半導体チップを有効に保護することができ、ダイシング工程やそれ以降の工程(ピックアップ工程など)において、半導体チップの損傷を抑制又は防止することができる。
本発明において、前記黒色顔料としては、カーボンブラックが好適である。本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、フリップチップ実装の半導体装置に好適に用いることができる。
本発明は、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法であって、
前記のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムのフリップチップ型半導体裏面用フィルムにおけるウエハ接着層上にワークを貼着する工程と、
前記ワークをダイシングしてチップ状ワークを形成する工程と、
前記チップ状ワークを前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムとともに、ダイシングテープの粘着剤層から剥離する工程と、
前記チップ状ワークを被着体にフリップチップボンディングにより固定する工程
とを具備することを特徴とする半導体装置の製造方法を提供する。
また、本発明は、フリップチップ実装の半導体装置であって、前記のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いて作製され、且つチップ状ワークの裏面に、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムのフリップチップ型半導体裏面用フィルムが貼着された構成を有していることを特徴とするフリップチップ実装の半導体装置を提供する。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムによれば、ダイシングテープと、フリップチップ型半導体裏面用フィルムが一体的に形成されているとともに、前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムが着色剤として黒色顔料を含有しているので、半導体ウエハのダイシング工程から半導体チップのフリップチップボンディング工程にかけて利用することができる。具体的には、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、半導体ウエハのダイシング工程において、優れた保持力を発揮することができ、さらに、半導体チップのフリップチップボンディング工程及びその後には、優れたレーザーマーキング性を発揮することができる。また、フリップチップボンディング工程等では、半導体チップの裏面がフリップチップ型半導体裏面用フィルムにより保護されているため、半導体チップの割れ、欠け、反りなどを有効に抑制又は防止することができる。もちろん、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、ダイシング工程から半導体チップのフリップチップボンディング工程以外の工程などでも、その機能を有効に発揮できる。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの一例を示す断面模式図である。 本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法の一例を示す断面模式図である。
本発明の実施の形態について、図1を参照しながら説明するが、本発明はこれらの例に限定されない。図1は、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの一例を示す断面模式図である。図1において、1はダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、2はフリップチップ型半導体裏面用フィルム(以下、「半導体裏面用フィルム」という場合がある。)、3はダイシングテープ、31は基材、32は粘着剤層である。
なお、本明細書において、図には、説明に不要な部分は省略し、また、説明を容易にするために拡大又は縮小等して図示した部分がある。
図1で示されるように、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1は、基材31と、該基材31上に形成された粘着剤層32とを有するダイシングテープ3の粘着剤層32上に、半導体裏面用フィルム2が形成された構成を有している。半導体裏面用フィルム2は、着色剤として黒色顔料を含有した構成を有している。なお、半導体裏面用フィルム2の表面(ウエハの裏面に貼着される側の表面)は、ウエハ裏面に貼着されるまでの間、セパレータ等により保護されていても良い。
なお、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、ダイシングテープの粘着剤層上において、半導体裏面用フィルムが全面的に形成された構成であってもよく、半導体裏面用フィルムが部分的に形成された構成であってもよい。例えば、図1で示されているように、ダイシングテープの粘着剤層上において、半導体ウエハを貼着させる部分のみに半導体裏面用フィルムが形成された構成であってもよい。
(フリップチップ型半導体裏面用フィルム)
半導体裏面用フィルムはフィルム状の形態を有している。半導体裏面用フィルムは、該半導体裏面用フィルム上に貼着されているワーク(半導体ウエハ)をチップ状に切断する切断加工工程(ダイシング工程)では、ワークに密着して支持する機能を有しており、切断片を飛散させない密着性を発揮することができるとともに、ダイシング工程の後のピックアップ工程では、ダイシングされたチップ状ワークを半導体裏面用フィルムともにダイシングテープより容易に剥離させることができる。さらに、ピックアップ工程の後(ダイシングされたチップ状ワークを半導体裏面用フィルムともにダイシングテープより剥離させた後)では、チップ状ワーク(半導体チップ)の裏面を保護する機能を有することができる。また、本発明における半導体裏面用フィルムでは、着色剤として黒色顔料が用いられているので、ピックアップ工程後では、チップ状ワークの裏面は、優れたレーザーマーキング性を発揮する機能を有している。また、チップ状ワークは、裏面に半導体裏面用フィルムが密着しているので、優れた外観性を発揮する機能を有することができる。
このように、半導体裏面用フィルムは、優れたレーザーマーキング性を有しているので、チップ状ワーク又は該チップ状ワークが用いられた半導体装置の非回路面側の面に、半導体裏面用フィルムを介して、レーザーマーキング方法を利用することにより、レーザーマーキングを施し、文字情報や図形情報などの各種情報を付与させることができる。また、半導体裏面用フィルムの着色の色をコントロールすることにより、レーザーマーキングにより付与された情報(文字情報、図形情報など)を、優れた視認性で視認することが可能になる。また、半導体裏面用フィルムは黒色顔料を用いて着色されているので、ダイシングテープと、半導体裏面用フィルムとを、容易に区別することができ、作業性等を向上させることができる。
特に、半導体裏面用フィルムは、半導体ウエハや半導体チップに対して優れた密着性を有しているので、浮き等がない。また、優れた外観性も発揮できるので、付加価値のある外観性に優れた半導体装置を得ることができる。なお、例えば、半導体装置として、製品別に色分けすることも可能である。
なお、半導体裏面用フィルムとしては、ワークの切断加工の際に、切断片を飛散させない密着性を有していることが重要である。
このように、半導体裏面用フィルムは、半導体チップを基板等の支持部材にダイボンドするために用いられるのではなく、フリップチップ実装される(又はフリップチップ実装された)半導体チップの裏面(非回路面)の保護等のために用いられ、そのための最適な機能や構成を有している。なお、半導体チップを基板等の支持部材に強固に接着させる用途で用いられるダイボンドフィルムは、接着剤層であり、封止材により封止されるため、レーザーマーク層を有しておらず、レーザーマーキング性を有していない。従って、本発明における半導体裏面用フィルムは、ダイボンドフィルムとは、異なる機能又は構成を有しており、ダイボンドフィルムとして利用することは適切でない。
本発明では、半導体裏面用フィルムは、着色剤として黒色顔料を含有している樹脂組成物により形成することができ、着色剤としての黒色顔料と、熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂とを含む樹脂組成物により構成されていることが好ましい。なお、半導体裏面用フィルムは、熱硬化性樹脂が用いられていない熱可塑性樹脂組成物で構成されていても良く、熱可塑性樹脂が用いられていない熱硬化性樹脂組成物で構成されていても良い。
前記熱可塑性樹脂としては、例えば、天然ゴム、ブチルゴム、イソプレンゴム、クロロプレンゴム、エチレン−酢酸ビニル共重合体、エチレン−アクリル酸共重合体、エチレン−アクリル酸エステル共重合体、ポリブタジエン樹脂、ポリカーボネート樹脂、熱可塑性ポリイミド樹脂、6−ナイロンや6,6−ナイロン等のポリアミド樹脂、フェノキシ樹脂、アクリル樹脂、PET(ポリエチレンテレフタレート)やPBT(ポリブチレンテレフタレート)等の飽和ポリエステル樹脂、ポリアミドイミド樹脂、又はフッ素樹脂等が挙げられる。熱可塑性樹脂は単独で又は2種以上を併用して用いることができる。これらの熱可塑性樹脂のうち、イオン性不純物が少なく耐熱性が高く、半導体素子の信頼性を確保できるアクリル樹脂が好ましい。
前記アクリル樹脂としては、特に限定されるものではなく、炭素数30以下(好ましくは炭素数4〜18)の直鎖若しくは分岐のアルキル基を有するアクリル酸又はメタクリル酸のエステルの1種又は2種以上を成分とする重合体等が挙げられる。すなわち、本発明では、アクリル樹脂とは、メタクリル樹脂も含む広義の意味である。前記アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、t−ブチル基、イソブチル基、ペンチル基、イソペンチル基、へキシル基、ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、オクチル基、イソオクチル基、ノニル基、イソノニル基、デシル基、イソデシル基、ウンデシル基、ドデシル基(ラウリル基)、トリデシル基、テトラデシル基、ステアリル基、オクタデシル基等が挙げられる。
また、前記アクリル樹脂を形成するための他のモノマー(アルキル基の炭素数が30以下のアクリル酸又はメタクリル酸のアルキルエステル以外のモノマー)としては、特に限定されるものではなく、例えば、アクリル酸、メタクリル酸、カルボキシエチルアクリレート、カルボキシペンチルアクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸若しくはクロトン酸等のカルボキシル基含有モノマー、無水マレイン酸若しくは無水イタコン酸等の酸無水物モノマー、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸2−ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸4−ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸6−ヒドロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸8−ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸10−ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸12−ヒドロキシラウリル若しくは(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシル)−メチルアクリレート等のヒドロキシル基含有モノマー、スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、2−(メタ)アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、(メタ)アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル(メタ)アクリレート若しくは(メタ)アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸等のスルホン酸基含有モノマー、又は2−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェート等の燐酸基含有モノマーなどが挙げられる。
かかる樹脂は、公知の方法に従って合成して用いてもよく、市販品を用いてもよい。
また、前記熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂の他、アミノ樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、ポリウレタン樹脂、シリコーン樹脂、熱硬化性ポリイミド樹脂等が挙げられる。熱硬化性樹脂は、単独で又は2種以上併用して用いることができる。熱硬化性樹脂としては、半導体素子を腐食させるイオン性不純物等含有が少ないエポキシ樹脂が好適である。また、エポキシ樹脂の硬化剤としてはフェノール樹脂を好適に用いることができる。
エポキシ樹脂としては、特に限定は無く、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂、フルオンレン型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、オルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂、トリスヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂、テトラフェニロールエタン型エポキシ樹脂等の二官能エポキシ樹脂や多官能エポキシ樹脂、又はヒダントイン型エポキシ樹脂、トリスグリシジルイソシアヌレート型エポキシ樹脂若しくはグリシジルアミン型エポキシ樹脂等のエポキシ樹脂を用いることができる。
エポキシ樹脂としては、前記例示のうちノボラック型エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、トリスヒドロキシフェニルメタン型エポキシ樹脂、テトラフェニロールエタン型エポキシ樹脂が好ましい。これらのエポキシ樹脂は、硬化剤としてのフェノール樹脂との反応性に富み、耐熱性等に優れるからである。
エポキシ樹脂は、公知の方法に従って合成して用いてもよく、市販品を用いてもよい。
更に、前記フェノール樹脂は、前記エポキシ樹脂の硬化剤として作用するものであり、例えば、フェノールノボラック樹脂、フェノールアラルキル樹脂、クレゾールノボラック樹脂、tert−ブチルフェノールノボラック樹脂、ノニルフェノールノボラック樹脂等のノボラック型フェノール樹脂、レゾール型フェノール樹脂、ポリパラオキシスチレン等のポリオキシスチレン等が挙げられる。フェノール樹脂は単独で又は2種以上を併用して用いることができる。これらのフェノール樹脂のうちフェノールノボラック樹脂、フェノールアラルキル樹脂が好ましい。半導体装置の接続信頼性を向上させることができるからである。
フェノール樹脂は、公知の方法に従って合成して用いてもよく、市販品を用いてもよい。
エポキシ樹脂とフェノール樹脂の配合割合は、例えば、前記エポキシ樹脂成分中のエポキシ基1当量当たりフェノール樹脂中の水酸基が0.5当量〜2.0当量になるように配合することが好適である。より好適なのは、0.8当量〜1.2当量である。即ち、両者の配合割合が前記範囲を外れると、十分な硬化反応が進まず、エポキシ樹脂硬化物の特性が劣化し易くなるからである。
エポキシ樹脂とフェノール樹脂の熱硬化促進触媒としては、特に制限されず、公知の熱硬化促進触媒の中から適宜選択して用いることができる。熱硬化促進触媒は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。熱硬化促進触媒としては、例えば、アミン系硬化促進剤、リン系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、ホウ素系硬化促進剤、リン−ホウ素系硬化促進剤などを用いることができる。
本発明では、半導体裏面用フィルムとしては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂及びアクリル樹脂を含む樹脂組成物により形成されていることが特に好ましい。これらの樹脂は、イオン性不純物が少なく耐熱性が高いので、半導体素子の信頼性を確保できる。この場合の配合比は、特に制限されないが、例えば、アクリル樹脂成分100重量部に対して、エポキシ樹脂とフェノール樹脂の混合量が10重量部〜300重量部の範囲から適宜選択することができる。
半導体裏面用フィルムは半導体ウエハの裏面(回路非形成面)に対して密着性を有していることが重要である。このような密着性を有している半導体裏面用フィルムは、例えば、エポキシ樹脂を含む樹脂組成物により形成することができる。半導体裏面用フィルムには、架橋させるために、重合体の分子鎖末端の官能基等と反応する多官能性化合物を架橋剤として添加させておくことができる。これにより、高温下での密着特性を向上させ、耐熱性の改善を図ることができる。
架橋剤としては、特に制限されず、公知の架橋剤を用いることができる。具体的には、架橋剤としては、例えば、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤の他、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤などが挙げられる。架橋剤としては、イソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤が好適である。架橋剤は単独で又は2種以上組み合わせて使用することができる。
前記イソシアネート系架橋剤としては、例えば、1,2−エチレンジイソシアネート、1,4−ブチレンジイソシアネート、1,6−ヘキサメチレンジイソシアネートなどの低級脂肪族ポリイソシアネート類;シクロペンチレンジイソシアネート、シクロへキシレンジイソシアネート、イソホロンジイソシアネート、水素添加トリレンジイソシアネ−ト、水素添加キシレンジイソシアネ−トなどの脂環族ポリイソシアネート類;2,4−トリレンジイソシアネート、2,6−トリレンジイソシアネート、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート、キシリレンジイソシアネートなどの芳香族ポリイソシアネート類などが挙げられ、その他、トリメチロールプロパン/トリレンジイソシアネート3量体付加物[日本ポリウレタン工業(株)製、商品名「コロネートL」]、トリメチロールプロパン/ヘキサメチレンジイソシアネート3量体付加物[日本ポリウレタン工業(株)製、商品名「コロネートHL」]なども用いられる。また、前記エポキシ系架橋剤としては、例えば、N,N,N’,N’−テトラグリシジル−m−キシレンジアミン、ジグリシジルアニリン、1,3−ビス(N,N−グリシジルアミノメチル)シクロヘキサン、1,6−ヘキサンジオールジグリシジルエーテル、ネオペンチルグリコールジグリシジルエーテル、エチレングリコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル、ポリエチレングリコールジグリシジルエーテル、ポリプロピレングリコールジグリシジルエーテル、ソルビトールポリグリシジルエーテル、グリセロールポリグリシジルエーテル、ペンタエリスリトールポリグリシジルエーテル、ポリグリセロールポリグリシジルエーテル、ソルビタンポリグリシジルエーテル、トリメチロールプロパンポリグリシジルエーテル、アジピン酸ジグリシジルエステル、o−フタル酸ジグリシジルエステル、トリグリシジル−トリス(2−ヒドロキシエチル)イソシアヌレート、レゾルシンジグリシジルエーテル、ビスフェノール−S−ジグリシジルエーテルの他、分子内にエポキシ基を2つ以上有するエポキシ系樹脂などが挙げられる。
なお、架橋剤の使用量は、特に制限されず、架橋させる程度に応じて適宜選択することができる。具体的には、架橋剤の使用量としては、例えば、樹脂成分(ポリマー成分)(特に、分子鎖末端の官能基を有する重合体)100重量部に対し、通常0.05重量部〜7重量部とするのが好ましい。架橋剤の使用量がポリマー成分100重量部に対して0.05重量部〜7重量部であると、密着性や凝集性を高いレベルで発揮させることができる。
なお、本発明では、架橋剤を用いる代わりに、あるいは、架橋剤を用いるとともに、電子線や紫外線などの照射により架橋処理を施すことも可能である。
(着色剤)
本本発明では、半導体裏面用フィルムは、着色剤として黒色顔料を用いることにより、着色されている。このように、半導体裏面用フィルムは、有色となっており(無色・透明ではない場合)、着色により呈している色としては、基本的に、黒色系の濃色(黒色、茶色、濃い緑色、濃い青色など)であるが、例えば、青色、赤色などの濃色であってもよい。
本発明において、濃色とは、基本的には、L*a*b*表色系で規定されるL*が、60以下(0〜60)[好ましくは50以下(0〜50)、より好ましくは40以下(0〜40)]となる濃い色のことを意味している。
また、黒色とは、基本的には、L*a*b*表色系で規定されるL*が、35以下(0〜35)[好ましくは30以下(0〜30)、より好ましくは25以下(0〜25)]となる黒色系色のことを意味している。なお、黒色において、L*a*b*表色系で規定されるa*b*は、それぞれ、L*の値に応じて適宜選択することができる。a*やb*としては、例えば、両方とも、−10〜10であることが好ましく、−5〜5であることがより好ましく、−3〜3の範囲(中でも0又はほぼ0)であることがさらに好ましい。
なお、本発明において、L*a*b*表色系で規定されるL*、a*、b*は、色彩色差計(商品名「CR−200」ミノルタ社製;色彩色差計)を用いて測定することにより求められる。なお、L*a*b*表色系は、国際照明委員会(CIE)が1976年に推奨した色空間であり、CIE1976(L*a*b*)表色系と称される色空間のことを意味している。また、L*a*b*表色系は、日本工業規格では、JIS Z 8729に規定されている。
黒色顔料としては、無機系黒色顔料、有機系黒色顔料の何れであっても良いが、無機系黒色顔料が好適である。具体的には、黒色顔料としては、例えば、カーボンブラック(ファーネスブラック、チャンネルブラック、アセチレンブラック、サーマルブラック、ランプブラックなど)、グラファイト(黒鉛)、酸化銅、二酸化マンガン、アゾ系顔料(アゾメチンアゾブラックなど)、アニリンブラック、ペリレンブラック、シアニンブラック、複合酸化物系黒色色素、チタンブラック、活性炭、フェライト(非磁性フェライト、磁性フェライトなど)、マグネタイト、酸化クロム、酸化鉄、二硫化モリブデン、クロム錯体などが挙げられる。黒色顔料としては、カーボンブラック、グラファイト、活性炭などの炭素系黒色顔料を好適に用いることができ、特に、カーボンブラックが好適である。カーボンブラックとしては、ファーネスブラック、チャンネルブラック、アセチレンブラック、サーマルブラック、ランプブラックなど、何れであってもよいが、ファーネスブラックが好適である。なお、黒色顔料は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。
黒色顔料の使用量としては、特に制限されないが、着色剤全量に対して50重量%以上(好ましくは80重量%以上、より好ましくは90重量%以上)であり、100重量%であってもよい(すなわち、着色剤として黒色顔料のみが用いられていてもよい)。
また、半導体裏面用フィルムには、目的とする色に応じて、黒色顔料以外に、適宜な色材(着色剤)を用いることができる。このような色材としては、黒色顔料以外の黒系色材、青系色材、赤系色材などの各種濃色系色材や、淡色系色材から適宜選択して用いることができる。黒色顔料以外の色材(「非黒色顔料系色材」と称する場合がある)としては、顔料、染料などいずれであってもよい。非黒色顔料系色材は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。なお、非黒色顔料系色材において、染料としては、酸性染料、反応染料、直接染料、分散染料、カチオン染料等のいずれの形態の染料であっても用いることが可能である。また、非黒色顔料系色材において、顔料も、その形態は特に制限されず、公知の顔料(黒色顔料を除く)から適宜選択して用いることができる。
非黒色顔料系色材における黒系色材としては、黒色顔料以外の黒系色材であれば特に制限されないが、例えば、黒系染料などが挙げられる。また、黒系色材としては、シアン系色材(青緑系色材)、マゼンダ系色材(赤紫系色材)およびイエロー系色材(黄系色材)が混合された色材混合物であってもよい。黒系色材は単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。黒系色材としては、例えば、アントラキノン系有機黒色色素などを用いることができる。
非黒色顔料系色材において、黒系色材以外の色材や、シアン系色材、マゼンダ系色材およびイエロー系色材が混合された色材混合物を黒系色材として用いる場合、シアン系色材としては、例えば、C.I.ソルベントブルー25、同36、同60、同70、同93、同95;C.I.アシッドブルー6、同45等のシアン系染料;C.I.ピグメントブルー1、同2、同3、同15、同15:1、同15:2、同15:3、同15:4、同15:5、同15:6、同16、同17、同17:1、同18、同22、同25、同56、同60、同63、同65、同66;C.I.バットブルー4;同60、C.I.ピグメントグリーン7等のシアン系顔料などが挙げられる。
また、マゼンダ系色材において、マゼンダ系染料としては、例えば、C.I.ソルベントレッド1、同3、同8、同23、同24、同25、同27、同30、同49、同52、同58、同63、同81、同82、同83、同84、同100、同109、同111、同121、同122;C.I.ディスパースレッド9;C.I.ソルベントバイオレット8、同13、同14、同21、同27;C.I.ディスパースバイオレット1;C.I.ベーシックレッド1、同2、同9、同12、同13、同14、同15、同17、同18、同22、同23、同24、同27、同29、同32、同34、同35、同36、同37、同38、同39、同40;C.I.ベーシックバイオレット1、同3、同7、同10、同14、同15、同21、同25、同26、同27、28などが挙げられる。
マゼンダ系色材において、マゼンダ系顔料としては、例えば、C.I.ピグメントレッド1、同2、同3、同4、同5、同6、同7、同8、同9、同10、同11、同12、同13、同14、同15、同16、同17、同18、同19、同21、同22、同23、同30、同31、同32、同37、同38、同39、同40、同41、同42、同48:1、同48:2、同48:3、同48:4、同49、同49:1、同50、同51、同52、同52:2、同53:1、同54、同55、同56、同57:1、同58、同60、同60:1、同63、同63:1、同63:2、同64、同64:1、同67、同68、同81、同83、同87、同88、同89、同90、同92、同101、同104、同105、同106、同108、同112、同114、同122、同123、同139、同144、同146、同147、同149、同150、同151、同163、同166、同168、同170、同171、同172、同175、同176、同177、同178、同179、同184、同185、同187、同190、同193、同202、同206、同207、同209、同219、同222、同224、同238、同245;C.I.ピグメントバイオレット3、同9、同19、同23、同31、同32、同33、同36、同38、同43、同50;C.I.バットレッド1、同2、同10、同13、同15、同23、同29、同35などが挙げられる。
また、イエロー系色材としては、例えば、C.I.ソルベントイエロー19、同44、同77、同79、同81、同82、同93、同98、同103、同104、同112、同162等のイエロー系染料;C.I.ピグメントオレンジ31、同43;C.I.ピグメントイエロー1、同2、同3、同4、同5、同6、同7、同10、同11、同12、同13、同14、同15、同16、同17、同23、同24、同34、同35、同37、同42、同53、同55、同65、同73、同74、同75、同81、同83、同93、同94、同95、同97、同98、同100、同101、同104、同108、同109、同110、同113、同114、同116、同117、同120、同128、同129、同133、同138、同139、同147、同150、同151、同153、同154、同155、同156、同167、同172、同173、同180、同185、同195;C.I.バットイエロー1、同3、同20等のイエロー系顔料などが挙げられる。
また、非黒色顔料系色材において、黒系色材としては、C.I.ソルベントブラック3、同7、同22、同27、同29、同34、同43、同70、C.I.ダイレクトブラック17、同19、同22、同32、同38、同51、同71、C.I.アシッドブラック1、同2、同24、同26、同31、同48、同52、同107、同109、同110、同119、同154C.I.ディスパーズブラック1、同3、同10、同24等のブラック系染料などが挙げられる。なお、このような黒系色材としては、例えば、商品名「Oil Black BY」、商品名「OilBlack BS」、商品名「OilBlack HBB」、商品名「Oil Black 803」、商品名「Oil Black 860」、商品名「Oil Black 5970」、商品名「Oil Black 5906」、商品名「Oil Black 5905」(オリエント化学工業株式会社製)などが市販されている。
シアン系色材、マゼンダ系色材、イエロー系色材などの各種色材は、それぞれ、単独で又は2種以上を組み合わせて用いることができる。なお、シアン系色材、マゼンダ系色材、イエロー系色材などの各種色材を2種以上用いる場合、これらの色材の混合割合(または配合割合)としては、特に制限されず、各色材の種類や目的とする色などに応じて適宜選択することができる。
なお、黒色系色として、シアン系色材、マゼンダ系色材及びイエロー系色材が混合された色材混合物を用いる場合、これらの色材はそれぞれ単独で、又は2種以上を組み合わせて用いることができる。また、混合インク組成物中のシアン系色材、マゼンダ系色材およびイエロー系色材の混合割合(または配合割合)としては、黒色系色(例えば、L表色系で規定されるL、aやbが、前記範囲となる黒色系色)を呈することができれば特に制限されず、各色材の種類などに応じて適宜選択することができる。混合インク組成物中におけるシアン系色材、マゼンダ系色材およびイエロー系色材の各色材の含有割合は、例えば、色材の総量に対して、シアン系色材/マゼンダ系色材/イエロー系色材=10重量%〜50重量%/10重量%〜50重量%/10重量%〜50重量%(好ましくは20重量%〜40重量%/20重量%〜40重量%/20重量%〜40重量%)の範囲から適宜選択することができる。
色材の含有量は、半導体裏面用フィルムを形成する樹脂組成物(溶剤又は溶媒を除く)中、0.1重量%〜10重量%の範囲から適宜選択することができ、0.5重量%〜8重量%が好ましく、1重量%〜5重量%がより好ましい。
なお、半導体裏面用フィルムには、必要に応じて他の添加剤を適宜に配合することができる。他の添加剤としては、例えば、充填剤(フィラー)、難燃剤、シランカップリング剤、イオントラップ剤の他、増量剤、老化防止剤、酸化防止剤、界面活性剤などが挙げられる。
充填剤としては、無機充填剤、有機充填剤のいずれであってもよいが、無機充填剤が好適である。無機充填剤等の充填剤の配合により、半導体裏面用フィルムに導電性の付与や熱伝導性の向上、弾性率の調節等を図ることができる。なお、半導体裏面用フィルムとしては導電性であっても、非導電性であってもよい。前記無機充填剤としては、例えば、シリカ、クレー、石膏、炭酸カルシウム、硫酸バリウム、酸化アルミナ、酸化ベリリウム、炭化珪素、窒化珪素等のセラミック類、アルミニウム、銅、銀、金、ニッケル、クロム、鉛、錫、亜鉛、パラジウム、半田などの金属、又は合金類、その他カーボンなどからなる種々の無機粉末などが挙げられる。充填剤は単独で又は2種以上を併用して用いることができる。充填剤としては、なかでも、シリカが好適であり、溶融シリカがより好適である。なお、無機充填剤の平均粒径は0.1μm〜80μmの範囲内であることが好ましい。無機充填剤の平均粒径は、例えば、レーザー回折型粒度分布測定装置によって測定することができる。
前記充填剤(例えば、無機充填剤)の配合量は、有機樹脂成分の総量100重量部に対して80重量部以下(0重量部〜80重量部)であることが好ましく、0重量部〜70重量部であることがより好ましい。
また、前記難燃剤としては、例えば、三酸化アンチモン、五酸化アンチモン、臭素化エポキシ樹脂等が挙げられる。難燃剤は、単独で、又は2種以上を併用して用いることができる。前記シランカップリング剤としては、例えば、β−(3、4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン等が挙げられる。シランカップリング剤は、単独で又は2種以上を併用して用いることができる。前記イオントラップ剤としては、例えばハイドロタルサイト類、水酸化ビスマス等が挙げられる。イオントラップ剤は、単独で又は2種以上を併用して用いることができる。
半導体裏面用フィルムは、例えば、着色剤としての黒色顔料と、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂やアクリル樹脂等の熱可塑性樹脂と、必要に応じて溶媒やその他の添加剤などとを混合して樹脂組成物を調製し、フィルム状の層に形成する慣用の方法を利用し形成することができる。具体的には、例えば、前記樹脂組成物を、ダイシングテープの粘着剤層上に塗布する方法、適当なセパレータ(剥離紙など)上に前記樹脂組成物を塗布して樹脂層を形成し、これをダイシングテープの粘着剤層上に転写(移着)する方法などにより、半導体裏面用フィルムとしてのフィルム状の層を形成することができる。なお、前記樹脂組成物は、溶液であっても分散液であってもよい。
なお、半導体裏面用フィルムが、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合、半導体裏面用フィルムは、半導体ウエハに適用する前の段階では、熱硬化性樹脂が未硬化又は部分硬化の状態である。この場合、半導体ウエハに適用後に(具体的には、通常、フリップチップボンディング工程で封止材をキュアする際に)、半導体裏面用フィルム中の熱硬化性樹脂を完全に又はほぼ完全に硬化させる。
このように、半導体裏面用フィルムは、熱硬化性樹脂を含んでいても、該熱硬化性樹脂は未硬化又は部分硬化の状態であるため、半導体裏面用フィルムのゲル分率としては、特に制限されないが、例えば、50重量%以下(0重量%〜50重量%)の範囲より適宜選択することができ、好ましくは30重量%以下(0重量%〜30重量%)であり、より好ましくは10重量%以下(0重量%〜10重量%)である。半導体裏面用フィルムのゲル分率の測定方法は、以下の測定方法により測定することができる。
<ゲル分率の測定方法>
半導体裏面用フィルムから約0.1gをサンプリングして精秤し(試料の重量)、該サンプルをメッシュ状シートで包んだ後、約50mLのトルエン中に室温で1週間浸漬させる。その後、溶剤不溶分(メッシュ状シートの内容物)をトルエンから取り出し、130℃で約2時間乾燥させ、乾燥後の溶剤不溶分を秤量し(浸漬・乾燥後の重量)、下記式(a)よりゲル分率(重量%)を算出する。
ゲル分率(重量%)=[(浸漬・乾燥後の重量)/(試料の重量)]×100 (a)
なお、半導体裏面用フィルムのゲル分率は、樹脂成分の種類やその含有量、架橋剤の種類やその含有量の他、加熱温度や加熱時間などによりコントロールすることができる。
本発明において、半導体裏面用フィルムは、エポキシ樹脂等の熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されたフィルム状物である場合、半導体ウエハに対する密着性を有効に発揮することができる。
尚、ワーク(半導体ウエハ)のダイシング工程では切削水を使用することから、半導体裏面用フィルムが吸湿して、常態以上の含水率になる場合がある。この様な高含水率のまま、フリップチップボンディングを行うと、半導体裏面用フィルムとワーク又はその加工体(チップ状ワーク)との密着界面に水蒸気が溜まり、浮きが発生する場合がある。従って、半導体裏面用フィルムとしては、透湿性の高いコア材料による層を有することにより、水蒸気が拡散して、かかる問題を回避することが可能となる。かかる観点から、半導体裏面用フィルムは、その片面又は両面にコア材料による層を積層したものであってもよい。前記コア材料としては、フィルム(例えばポリイミドフィルム、ポリエステルフィルム、ポリエチレンテレフタレートフィルム、ポリエチレンナフタレートフィルム、ポリカーボネートフィルム等)、ガラス繊維やプラスチック製不織繊維で強化された樹脂基板、シリコン基板又はガラス基板等が挙げられる。
半導体裏面用フィルムの厚さは特に限定されないが、例えば、2μm〜200μm程度の範囲から適宜選択することができる。本発明では、半導体裏面用フィルムの厚さとしては、4μm〜160μm程度であることが好ましく、6μm〜100μm程度であることがより好ましく、10μm〜80μm程度であることがさらに好ましい。なお、半導体裏面用フィルムは、単層、積層の何れの形態であってもよい。半導体裏面用フィルムが積層の形態を有している場合、その積層形態としては、例えば、ウエハ接着層とレーザーマーク層とからなる積層形態などを例示することができる。また、このようなウエハ接着層とレーザーマーク層との間には、他の層(中間層、光線遮断層、補強層、着色層、基材層、電磁波遮断層、熱伝導層、粘着層など)が設けられていても良い。なお、ウエハ接着層はウエハに対して優れた密着性(接着性)を発揮する層であり、ウエハの裏面と接触する層である。一方、レーザーマーク層は優れたレーザーマーキング性を発揮する層であり、半導体チップの裏面にレーザーマーキングを行う際に利用される層である。
本発明における半導体裏面用フィルムとしては、23℃における弾性率(引張貯蔵弾性率E’)が1GPa以上であることが好ましく、2GPa以上であることがより好ましく、3GPa以上であることがさらに好ましい。半導体裏面用フィルムの弾性率が1GPa以上であると、チップ状ワークを半導体裏面用フィルムとともに、ダイシングテープの粘着剤層から剥離させた後、半導体裏面用フィルムを支持体(例えば、キャリアテープ)上に載置して、輸送等を行った際に、半導体裏面用フィルムが支持体(例えば、キャリアテープにおけるトップテープやボトムテープなど)に貼着してしまうことを有効に抑制又は防止することができる。なお、半導体裏面用フィルムが熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合、前述のように、熱硬化性樹脂は、通常、未硬化又は部分硬化の状態であるので、半導体裏面用フィルムの23℃における弾性率は、熱硬化性樹脂が未硬化状態又は部分硬化状態での23℃における弾性率となる。
半導体裏面用フィルムの23℃における弾性率(引張貯蔵弾性率E’)は、ダイシングテープに積層させずに、半導体裏面用フィルムを作製し、レオメトリック社製の動的粘弾性測定装置「Solid Analyzer RS A2」を用いて、引張モードにて、サンプル幅:10mm、サンプル長さ:22.5mm、サンプル厚さ:0.2mmで、周波数:1Hz、昇温速度:10℃/分、窒素雰囲気下、所定の温度(23℃)にて測定して、得られた引張貯蔵弾性率E’の値とする。
半導体裏面用フィルムの弾性率は、樹脂成分(熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂)の種類やその含有量、シリカフィラー等の充填材の種類やその含有量などによりコントロールすることができる。
半導体裏面用フィルム2の可視光領域(波長:400nmから800nm)における光線透過率(可視光線透過率)は特に限定されないが、例えば、20%以下(0%〜20%)の範囲が好ましく、10%以下(0%〜10%)の範囲がより好ましく、5%以下(0%〜5%)の範囲が特に好ましい。可視光における光線透過率を20%以下にすることにより、可視光線が半導体裏面用フィルム2を透過して、半導体チップに到達し、当該半導体チップに悪影響が及ぶのを低減することができる。
前記半導体裏面用フィルム2の光線透過率(%)は、半導体裏面用フィルム2を構成する樹脂成分の種類やその含有量、着色剤(顔料や染料等)の種類や含有量、充填材の種類やその含有量などによりコントロールすることができる。
前記可視光線透過率(%)は、例えば、次の通りにして算出することができる。即ち、厚さ(平均厚さ)20μmの半導体裏面用フィルム2をダイシングテープに積層させることなく作製する。次に、この半導体裏面用フィルム2に対して、「ABSORPTION SPECTRO PHOTOMETER」(商品名、(株)島津製作所)を用いて、可視光線を照射した。可視光線の波長は400nm〜800nmである。この照射により半導体裏面用フィルム2を透過した可視光線の光強度を測定し、次式により算出することができる。
可視光線透過率(%)=((半導体裏面用フィルム2の透過後の可視光線の光強度)/(可視光線の初期の光強度))×100
なお、光線透過率(%)の前記算出方法は、厚さが20μmでない半導体裏面用フィルムの光線透過率(%)の算出にも適用することができる。具体的には、ランベルトベールの法則により、20μmでの吸光度A20を下記の通り算出することができる。
20=α×L20×C (1)
(式中、L20は光路長、αは吸光係数、Cは試料濃度を表す)
また、厚さX(μm)での吸光度Aは下記式(2)により表すことができる。
=α×L×C (2)
更に、厚さ20μmでの吸光度A20は下記式(3)により表すことができる。
20=−log1020 (3)
(式中、T20は厚さ20μmでの光線透過率を表す)
前記式(1)〜(3)より、吸光度Aは、
=A20×(L/L20
=−[log10(T20)]×(L/L20
と表すことができる。これにより、厚さX(μm)での光線透過率T(%)は、下記式により算出することができる。
=10−AX
但し、A=−[log10(T20)]×(L/L20
また、前記光線透過率(%)の算出方法における半導体裏面用フィルムの厚さを20μmとすることについては、特に本発明の半導体裏面用フィルム2の厚さを限定するものではない。測定の際に、便宜上採用した厚さである。
本発明では、半導体裏面用フィルムとしては、吸湿率が低い方が好ましい。具体的には、半導体裏面用フィルムとしては、温度:85℃で且つ湿度:85%RHの雰囲気下で168時間放置したときの吸湿率が、1重量%以下であることが好ましく、0.8重量%以下であることがより好ましい。半導体裏面用フィルムの吸湿率(85℃且つ85%RHの雰囲気下で168時間放置後)を1重量%以下にすることにより、レーザーマーキング性を向上させることができる。また、例えば、リフロー工程に於いてボイドの発生などを抑制又は防止することもできる。半導体裏面用フィルムの吸湿率は、例えば、無機フィラーの添加量を変化させることにより調整することができる。半導体裏面用フィルムの吸湿率(重量%)は、温度:85℃で且つ湿度:85%RHの雰囲気下で168時間放置したときの重量変化により算出したものである(下記式を参照)。なお、半導体裏面用フィルムの吸湿率としては、半導体裏面用フィルムにおけるウエハ接着層やレーザーマーク層が熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合は、熱硬化後に、温度:85℃で且つ湿度:85%RHの雰囲気下で168時間放置したときの重量変化により算出したものである。
吸湿率(重量%)=(((半導体裏面用フィルムの放置後の重量)−(半導体裏面用フィルムの放置前の重量))/(半導体裏面用フィルムの放置前の重量))×100
また、本発明では、半導体裏面用フィルムとしては、揮発分の割合が少ない方が好ましい。具体的には、半導体裏面用フィルムとしては、温度:250℃で1時間加熱後の重量減少量の割合(重量減少率)が1重量%以下であることが好ましく、0.8重量%以下であることがより好ましい。半導体裏面用フィルムの重量減少率(温度:250℃で1時間加熱後)を1重量%以下にすることにより、レーザーマーキング性を向上させることができる。また、例えば、リフロー工程に於いて、パッケージにクラックが発生するのを抑制又は防止することができる。半導体裏面用フィルムの重量減少率は、例えば、鉛フリーハンダリフロー時のクラック発生を減少させることができる無機物、例えば、シリカやアルミナ等の無機系フィラーの添加により調整することができる。半導体裏面用フィルムの重量減少率(重量%)は、温度:250℃で1時間の条件下で加熱したときの重量変化により算出したものである(下記式を参照)。なお、半導体裏面用フィルムの重量減少率としては、半導体裏面用フィルムにおけるウエハ接着層やレーザーマーク層が熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合は、熱硬化後に、温度:250℃で1時間の条件下で加熱したときの重量変化により算出したものである。
重量減少率(重量%)=(((半導体裏面用フィルムの放置前の重量)−(半導体裏面用フィルムの放置後の重量))/(半導体裏面用フィルムの放置前の重量))×100
前記半導体裏面用フィルムは、セパレータ(剥離ライナー)により保護されていることが好ましい(図示せず)。セパレータは、実用に供するまで半導体裏面用フィルムを保護する保護材としての機能を有している。また、セパレータは、更に、ダイシングテープの基材上の粘着剤層に半導体裏面用フィルムを転写する際の支持基材として用いることができる。セパレータはダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの半導体裏面用フィルム上にワークを貼着する際に剥がされる。セパレータとしては、ポリエチレン、ポリプロピレンや、フッ素系剥離剤、長鎖アルキルアクリレート系剥離剤等の剥離剤により表面コートされたプラスチックフィルム(ポリエチレンテレフタレートなど)や紙等も使用可能である。なお、セパレータは従来公知の方法により形成することができる。また、セパレータの厚さ等も特に制限されない。
(ダイシングテープ)
ダイシングテープは、基材及び該基材上に形成された粘着剤層により構成されている。このように、ダイシングテープは、基材と、粘着剤層とが積層された構成を有していればよい。基材(支持基材)は粘着剤層等の支持母体として用いることができる。基材としては、例えば、紙などの紙系基材;布、不織布、フェルト、ネットなどの繊維系基材;金属箔、金属板などの金属系基材;プラスチックのフィルムやシートなどのプラスチック系基材;ゴムシートなどのゴム系基材;発泡シートなどの発泡体や、これらの積層体[プラスチック系基材と他の基材との積層体や、プラスチックフィルム(又はシート)同士の積層体など]等の適宜な薄葉体を用いることができる。本発明では、基材としては、プラスチックのフィルムやシートなどのプラスチック系基材を好適に用いることができる。このようなプラスチック材における素材としては、例えば、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、エチレン−プロピレン共重合体等のオレフィン系樹脂;エチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)、アイオノマー樹脂、エチレン−(メタ)アクリル酸共重合体、エチレン−(メタ)アクリル酸エステル(ランダム、交互)共重合体等のエチレンをモノマー成分とする共重合体;ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)等のポリエステル;アクリル系樹脂;ポリ塩化ビニル(PVC);ポリウレタン;ポリカーボネート;ポリフェニレンスルフィド(PPS);ポリアミド(ナイロン)、全芳香族ポリアミド(アラミド)等のアミド系樹脂;ポリエーテルエーテルケトン(PEEK);ポリイミド;ポリエーテルイミド;ポリ塩化ビニリデン;ABS(アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体);セルロース系樹脂;シリコーン樹脂;フッ素樹脂などが挙げられる。また基材の材料としては、前記樹脂の架橋体等のポリマーも用いることができる。これらの素材は単独で又は2種以上組み合わせて使用することができる。
なお、基材として、プラスチック系基材が用いられている場合は、延伸処理等により伸び率などの変形性を制御していてもよい。
基材の厚さは、特に制限されず強度や柔軟性、使用目的などに応じて適宜に選択でき、例えば、一般的には1000μm以下(例えば、1μm〜1000μm)、好ましくは10μm〜500μm、より好ましくは20μm〜300μm、さらに好ましくは30μm〜200μm程度であるが、これらに限定されない。なお、基材は単層の形態又は積層された形態のいずれ形態を有していてもよい。
基材の表面は、隣接する層との密着性、保持性等を高めるため、慣用の表面処理、例えば、クロム酸処理、オゾン暴露、火炎暴露、高圧電撃暴露、イオン化放射線処理等の化学的又は物理的方法による酸化処理等が施されていてもよく、下塗り剤によるコーティング処理等が施されていてもよい。
なお、基材には、本発明の効果等を損なわない範囲で、各種添加剤(着色剤、充填剤、可塑剤、老化防止剤、酸化防止剤、界面活性剤、難燃剤など)が含まれていてもよい。
粘着剤層は粘着剤により形成されており、粘着性を有している。このような粘着剤としては、特に制限されず、公知の粘着剤の中から適宜選択することができる。具体的には、粘着剤としては、例えば、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤、ビニルアルキルエーテル系粘着剤、シリコーン系粘着剤、ポリエステル系粘着剤、ポリアミド系粘着剤、ウレタン系粘着剤、フッ素系粘着剤、スチレン−ジエンブロック共重合体系粘着剤、これらの粘着剤に融点が約200℃以下の熱溶融性樹脂を配合したクリ−プ特性改良型粘着剤などの公知の粘着剤(例えば、特開昭56−61468号公報、特開昭61−174857号公報、特開昭63−17981号公報、特開昭56−13040号公報等参照)の中から、前記特性を有する粘着剤を適宜選択して用いることができる。また、粘着剤としては、放射線硬化型粘着剤(又はエネルギー線硬化型粘着剤)や、熱膨張性粘着剤を用いることもできる。粘着剤は単独で又は2種以上組み合わせて使用することができる。
本発明では、粘着剤としては、アクリル系粘着剤、ゴム系粘着剤を好適に用いることができ、アクリル系粘着剤がより好適である。アクリル系粘着剤としては、(メタ)アクリル酸アルキルエステルの1種又は2種以上を単量体成分として用いたアクリル系重合体(単独重合体又は共重合体)をベースポリマーとするアクリル系粘着剤が挙げられる。
前記アクリル系粘着剤における(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、例えば、(メタ)アクリル酸メチル、(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸プロピル、(メタ)アクリル酸イソプロピル、(メタ)アクリル酸ブチル、(メタ)アクリル酸イソブチル、(メタ)アクリル酸s−ブチル、(メタ)アクリル酸t−ブチル、(メタ)アクリル酸ペンチル、(メタ)アクリル酸ヘキシル、(メタ)アクリル酸ヘプチル、(メタ)アクリル酸オクチル、(メタ)アクリル酸2−エチルヘキシル、(メタ)アクリル酸イソオクチル、(メタ)アクリル酸ノニル、(メタ)アクリル酸イソノニル、(メタ)アクリル酸デシル、(メタ)アクリル酸イソデシル、(メタ)アクリル酸ウンデシル、(メタ)アクリル酸ドデシル、(メタ)アクリル酸トリデシル、(メタ)アクリル酸テトラデシル、(メタ)アクリル酸ペンタデシル、(メタ)アクリル酸ヘキサデシル、(メタ)アクリル酸ヘプタデシル、(メタ)アクリル酸オクタデシル、(メタ)アクリル酸ノナデシル、(メタ)アクリル酸エイコシルなどの(メタ)アクリル酸アルキルエステルなどが挙げられる。(メタ)アクリル酸アルキルエステルとしては、アルキル基の炭素数が4〜18の(メタ)アクリル酸アルキルエステルが好適である。なお、(メタ)アクリル酸アルキルエステルのアルキル基は、直鎖状又は分岐鎖状の何れであっても良い。
なお、前記アクリル系重合体は、凝集力、耐熱性、架橋性などの改質を目的として、必要に応じて、前記(メタ)アクリル酸アルキルエステルと共重合可能な他の単量体成分(共重合性単量体成分)に対応する単位を含んでいてもよい。このような共重合性単量体成分としては、例えば、(メタ)アクリル酸(アクリル酸、メタクリル酸)、カルボキシエチルアクリレート、カルボキシペンチルアクリレート、イタコン酸、マレイン酸、フマル酸、クロトン酸などのカルボキシル基含有モノマー;無水マレイン酸、無水イコタン酸などの酸無水物基含有モノマー;(メタ)アクリル酸ヒドロキシエチル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシプロピル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシブチル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシヘキシル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシオクチル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシデシル、(メタ)アクリル酸ヒドロキシラウリル、(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシル)メチルメタクリレートなどのヒドロキシル基含有モノマー;スチレンスルホン酸、アリルスルホン酸、2−(メタ)アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸、(メタ)アクリルアミドプロパンスルホン酸、スルホプロピル(メタ)アクリレート、(メタ)アクリロイルオキシナフタレンスルホン酸などのスルホン酸基含有モノマー;2−ヒドロキシエチルアクリロイルホスフェートなどのリン酸基含有モノマー;(メタ)アクリルアミド、N,N−ジメチル(メタ)アクリルアミド、N−ブチル(メタ)アクリルアミド、N−メチロール(メタ)アクリルアミド、N−メチロールプロパン(メタ)アクリルアミドなどの(N−置換)アミド系モノマー;(メタ)アクリル酸アミノエチル、(メタ)アクリル酸N,N−ジメチルアミノエチル、(メタ)アクリル酸t−ブチルアミノエチルなどの(メタ)アクリル酸アミノアルキル系モノマー;(メタ)アクリル酸メトキシエチル、(メタ)アクリル酸エトキシエチルなどの(メタ)アクリル酸アルコキシアルキル系モノマー;アクリロニトリル、メタクリロニトリルなどのシアノアクリレートモノマー;(メタ)アクリル酸グリシジルなどのエポキシ基含有アクリル系モノマー;スチレン、α−メチルスチレンなどのスチレン系モノマー;酢酸ビニル、プロピオン酸ビニルなどのビニルエステル系モノマー;イソプレン、ブタジエン、イソブチレンなどのオレフィン系モノマー;ビニルエーテルなどのビニルエーテル系モノマー;N−ビニルピロリドン、メチルビニルピロリドン、ビニルピリジン、ビニルピペリドン、ビニルピリミジン、ビニルピペラジン、ビニルピラジン、ビニルピロール、ビニルイミダゾール、ビニルオキサゾール、ビニルモルホリン、N−ビニルカルボン酸アミド類、N−ビニルカプロラクタムなどの窒素含有モノマー;N−シクロヘキシルマレイミド、N−イソプロピルマレイミド、N−ラウリルマレイミド、N−フェニルマレイミドなどのマレイミド系モノマー;N−メチルイタコンイミド、N−エチルイタコンイミド、N−ブチルイタコンイミド、N−オクチルイタコンイミド、N−2−エチルヘキシルイタコンイミド、N−シクロヘキシルイタコンイミド、N−ラウリルイタコンイミドなどのイタコンイミド系モノマー;N−(メタ)アクリロイルオキシメチレンスクシンイミド、N−(メタ)アクルロイル−6−オキシヘキサメチレンスクシンイミド、N−(メタ)アクリロイル−8−オキシオクタメチレンスクシンイミドなどのスクシンイミド系モノマー;(メタ)アクリル酸ポリエチレングリコール、(メタ)アクリル酸ポリプロピレングリコール、(メタ)アクリル酸メトキシエチレングリコール、(メタ)アクリル酸メトキシポリプロピレングリコールなどのグリコール系アクリルエステルモノマー;(メタ)アクリル酸テトラヒドロフルフリル、フッ素(メタ)アクリレート、シリコーン(メタ)アクリレートなどの複素環、ハロゲン原子、ケイ素原子などを有するアクリル酸エステル系モノマー;ヘキサンジオールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、(ポリ)プロピレングリコールジ(メタ)アクリレート、ネオペンチルグリコールジ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、エポキシアクリレート、ポリエステルアクリレート、ウレタンアクリレート、ジビニルベンゼン、ブチルジ(メタ)アクリレート、ヘキシルジ(メタ)アクリレートなどの多官能モノマー等が挙げられる。これらの共重合性単量体成分は1種又は2種以上使用できる。
粘着剤として放射線硬化型粘着剤(又はエネルギー線硬化型粘着剤)を用いる場合、放射線硬化型粘着剤(組成物)としては、例えば、ラジカル反応性炭素−炭素二重結合をポリマー側鎖又は主鎖中もしくは主鎖末端に有するポリマーをベースポリマーとして用いた内在型の放射線硬化型粘着剤や、粘着剤中に紫外線硬化性のモノマー成分やオリゴマー成分が配合された放射線硬化型粘着剤などが挙げられる。また、粘着剤として熱膨張性粘着剤を用いる場合、熱膨張性粘着剤としては、例えば、粘着剤と発泡剤(特に熱膨張性微小球)とを含む熱膨張性粘着剤などが挙げられる。
本発明では、粘着剤層には、本発明の効果を損なわない範囲で、各種添加剤(例えば、粘着付与樹脂、着色剤、増粘剤、増量剤、充填剤、可塑剤、老化防止剤、酸化防止剤、界面活性剤、架橋剤など)が含まれていても良い。
前記架橋剤としては、特に制限されず、公知の架橋剤を用いることができる。具体的には、架橋剤としては、イソシアネート系架橋剤、エポキシ系架橋剤、メラミン系架橋剤、過酸化物系架橋剤の他、尿素系架橋剤、金属アルコキシド系架橋剤、金属キレート系架橋剤、金属塩系架橋剤、カルボジイミド系架橋剤、オキサゾリン系架橋剤、アジリジン系架橋剤、アミン系架橋剤などが挙げられ、イソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤が好適である。イソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤の具体例としては、前記の半導体裏面用フィルムの項で、イソシアネート系架橋剤やエポキシ系架橋剤として具体的に例示した化合物(具体例)などが挙げられる。架橋剤は単独で又は2種以上組み合わせて使用することができる。なお、架橋剤の使用量は、特に制限されない。
なお、本発明では、架橋剤を用いる代わりに、あるいは、架橋剤を用いるとともに、電子線や紫外線などの照射により架橋処理を施すことも可能である。
粘着剤層は、例えば、粘着剤(感圧接着剤)と、必要に応じて溶媒やその他の添加剤などとを混合して、シート状の層に形成する慣用の方法を利用し形成することができる。具体的には、例えば、粘着剤および必要に応じて溶媒やその他の添加剤を含む混合物を、基材上に塗布する方法、適当なセパレータ(剥離紙など)上に前記混合物を塗布して粘着剤層を形成し、これを基材上に転写(移着)する方法などにより、粘着剤層を形成することができる。
粘着剤層の厚さは特に制限されず、例えば、5μm〜300μmが好ましく、5μm〜200μmがより好ましく、5μm〜100μmがさらに好ましく、7μm〜50μmがさらに好ましい。粘着剤層の厚さが前記範囲内であると、適度な粘着力を発揮することができる。なお、粘着剤層は単層、複層の何れであってもよい。
また、ダイシングテープの厚さ(基材及び粘着剤層を含むテープ全体の厚さ)としては、例えば、6μm〜1300μmの範囲から選択することができ、好ましくは15μm〜700μm、より好ましくは25μm〜400μm、さらに好ましくは37μm〜250μmである。
なお、本発明では、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムには、帯電防止能を持たせることができる。これにより、その密着時(接着時)及び剥離時等に於ける静電気の発生やそれによるワーク(半導体ウエハ等)の帯電で回路が破壊されること等を防止することができる。帯電防止能の付与は、基材、粘着剤層乃至半導体裏面用フィルムへ帯電防止剤や導電性物質を添加する方法、基材への電荷移動錯体や金属膜等からなる導電層を付設する方法等、適宜な方式で行うことができる。これらの方式としては、半導体ウエハを変質させるおそれのある不純物イオンが発生しにくい方式が好ましい。導電性の付与、熱伝導性の向上等を目的として配合される導電性物質(導電フィラー)としては、銀、アルミニウム、金、銅、ニッケル、導電性合金等の球状、針状、フレーク状の金属粉、アルミナ等の金属酸化物、アモルファスカーボンブラック、グラファイト等が挙げられる。ただし、前記半導体裏面用フィルムは、非導電性であることが、電気的にリークしないようにできる点から好ましい。
本発明においては、ダイシングテープは、前記のようにして作製したものを用いてもよく、また、市販品を用いてもよい。
また、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、ロール状に巻回された形態で形成されていてもよく、シート(フィルム)が積層された形態で形成されていてもよい。例えば、ロール状に巻回された形態を有している場合、半導体裏面用フィルムを、必要に応じてセパレータにより保護した状態でロール状に巻回して、ロール状に巻回された状態又は形態のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムとして作製することができる。なお、ロール状に巻回された状態又は形態のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムとしては、基材と、前記基材の一方の面に形成された粘着剤層と、前記粘着剤層上に形成された半導体裏面用フィルムと、前記基材の他方の面に形成された剥離処理層(背面処理層)とで構成されていてもよい。
なお、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの厚さ(半導体裏面用フィルムの厚さと、基材及び粘着剤層からなるダイシングテープの厚さの総厚)としては、例えば、8μm〜1500μmの範囲から選択することができ、好ましくは20μm〜850μm、より好ましくは31μm〜500μm、さらに好ましくは47μm〜330μmである。
ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおいて、半導体裏面用フィルムの厚さと、ダイシングテープの粘着剤層の厚さとの比としては、特に制限されないが、例えば、半導体裏面用フィルムの厚さ/ダイシングテープの粘着剤層の厚さ=150/5〜3/100の範囲から適宜選択することができ、好ましくは100/5〜3/50であり、より好ましくは60/5〜3/40である。半導体裏面用フィルムの厚さと、ダイシングテープの粘着剤層の厚さとの比が、前記範囲内であると、適度な粘着力を発揮することができ、優れたダイシング性やピックアップ性を発揮することができる。
また、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおいて、半導体裏面用フィルムの厚さと、ダイシングテープの厚さ(基材及び粘着剤層の総厚)との比としては、特に制限されないが、例えば、半導体裏面用フィルムの厚さ/ダイシングテープの厚さ=150/50〜3/500の範囲から適宜選択することができ、好ましくは100/50〜3/300であり、より好ましくは60/50〜3/150である。半導体裏面用フィルムの厚さ/ダイシングテープの厚さが、150/50〜3/500の範囲であると、ピックアップ性が良好であり、且つ、ダイシング時に側面残渣が生じることを抑制又は防止することができる。
このように、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおいて、半導体裏面用フィルムの厚さと、ダイシングテープの粘着剤層の厚さとの比や、半導体裏面用フィルムの厚さと、ダイシングテープの厚さ(基材及び粘着剤層の総厚)との比をコントロールすることにより、ダイシング工程時のダイシング性、ピックアップ工程時のピックアップ性などを向上させることができ、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを、半導体ウエハのダイシング工程から半導体チップのフリップチップボンディング工程にかけて有効に利用することができる。
(ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの製造方法)
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの製造方法について、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1を例にして説明する。先ず、基材31は、従来公知の製膜方法により製膜することができる。当該製膜方法としては、例えばカレンダー製膜法、有機溶媒中でのキャスティング法、密閉系でのインフレーション押出法、Tダイ押出法、共押出し法、ドライラミネート法等が例示できる。
次に、基材31上に粘着剤組成物を塗布し、乾燥させて(必要に応じて加熱架橋させて)粘着剤層32を形成する。塗布方式としては、ロール塗工、スクリーン塗工、グラビア塗工等が挙げられる。なお、粘着剤層組成物を直接基材31に塗布して、基材31上に粘着剤層32を形成してもよく、また、粘着剤組成物を表面に剥離処理を行った剥離紙等に塗布して粘着剤層を形成させた後、該粘着剤層を基材31に転写させて、基材31上に粘着剤層32を形成してもよい。このように、基材31上に粘着剤層32を形成することにより、ダイシングテープ3を作製する。
一方、半導体裏面用フィルム2を形成する為の形成材料を剥離紙上に乾燥後の厚みが所定厚みとなる様に塗布し、更に所定条件下で乾燥して(熱硬化が必要な場合などでは、必要に応じて加熱処理を施し乾燥して)、塗布層を形成する。この塗布層を前記粘着剤層32上に転写することにより、半導体裏面用フィルム2を粘着剤層32上に形成する。なお、前記粘着剤層32上に、半導体裏面用フィルム2を形成する為の形成材料を直接塗布した後、所定条件下で乾燥する(熱硬化が必要な場合などでは、必要に応じて加熱処理を施して乾燥する)ことによっても、半導体裏面用フィルム2を粘着剤層32上に形成することができる。以上により、本発明に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1を得ることができる。なお、半導体裏面用フィルム2を形成する際に熱硬化を行う場合、部分硬化の状態となる程度で熱硬化を行うことが重要であるが、好ましくは熱硬化を行わない。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、フリップチップボンディング工程を具備する半導体装置の製造の際に好適に用いることができる。すなわち、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、フリップチップ実装の半導体装置を製造する際に用いられ、半導体チップの裏面に、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの半導体裏面用フィルムが貼着している状態又は形態で、フリップチップ実装の半導体装置が製造される。従って、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、フリップチップ実装の半導体装置(半導体チップが基板等の被着体に、フリップチップボンディング方式で固定された状態又は形態の半導体装置)に対して用いることができる。
(半導体ウエハ)
ワーク(半導体ウエハ)としては、公知乃至慣用の半導体ウエハであれば特に制限されず、各種素材の半導体ウエハから適宜選択して用いることができる。本発明では、半導体ウエハとしては、シリコンウエハを好適に用いることができる。
(半導体装置の製造方法)
本発明の半導体装置の製造方法は、前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法であれば特に制限されないが、例えば、下記の工程を具備する製造方法などが挙げられる。
前記ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの半導体裏面用フィルム上にワークを貼着する工程(マウント工程)
前記ワークをダイシングしてチップ状ワークを形成する工程(ダイシング工程)
前記チップ状ワークを前記半導体裏面用フィルムとともに、ダイシングテープの粘着剤層から剥離する工程(ピックアップ工程)
前記チップ状ワークを被着体にフリップチップボンディングにより固定する工程(フリップチップボンディング工程)
より具体的には、半導体装置の製造方法としては、例えば、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを、半導体裏面用フィルム上に任意に設けられたセパレータを適宜に剥離して、次の様に使用することにより、半導体装置を製造することができる。なお、以下では、図2を参照しながらダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1を用いた場合を例にして説明する。
図2は、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法の一例を示す断面模式図である。図2において、4はワーク(半導体ウエハ)、5はチップ状ワーク(半導体チップ)、51は半導体チップ5の回路面側に形成されているバンプ、6は被着体、61は被着体6の接続パッドに被着された接合用の導電材61であり、1、2、3、31、32は前記と同様に、それぞれ、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、半導体裏面用フィルム、ダイシングテープ、基材、粘着剤層である。
(マウント工程)
先ず、図2(a)で示されるように、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1における半導体裏面用フィルム2のウエハ接着層22上に半導体ウエハ(ワーク)4を貼着し(特に圧着し)、これを密着保持させて固定する(マウント工程)。なお、本工程は、通常、圧着ロール等の押圧手段により押圧しながら行われる。
(ダイシング工程)
次に、図2(b)で示されるように、半導体ウエハ4のダイシングを行う。これにより、半導体ウエハ4を所定のサイズに切断して個片化(小片化)し、半導体チップ(チップ状ワーク)5を製造する。ダイシングは、例えば、半導体ウエハ4の回路面側から常法に従い行われる。また、本工程では、例えば、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1まで切込みを行うフルカットと呼ばれる切断方式等を採用できる。本発明では、ダイシング工程では、ワークはフルカット(完全切断)することが重要であり、この際、半導体裏面用フィルムも完全切断させて、ワークを半導体裏面用フィルムとともにダイシングすることが重要である。すなわち、本工程は、ワークを半導体裏面用フィルムとともにダイシングしてチップ状ワークを形成する工程であることが重要である。なお、ワークを半導体裏面用フィルムとともにダイシングする際には、ダイシングテープには切り込みをいれない形態や、ダイシングテープにも少なくとも部分的に(好ましくは、ダイシングテープが切断されない程度に部分的に)切り込みをいれる形態で、ダイシングを行うことができる。本工程で用いるダイシング装置としては特に限定されず、従来公知のものを用いることができる。また、半導体ウエハ4は、半導体裏面用フィルムを有するダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1により優れた密着性で密着固定されているので、チップ欠けやチップ飛びを抑制できると共に、半導体ウエハ4の破損も抑制できる。なお、半導体裏面用フィルム2がエポキシ樹脂を含む樹脂組成物により形成されていると、ダイシングにより切断されても、その切断面において半導体裏面用フィルムの糊はみ出しが生じるのを抑制又は防止することができる。その結果、切断面同士が再付着(ブロッキング)することを抑制又は防止することができ、後述のピックアップを一層良好に行うことができる。
なお、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムのエキスパンドを行う場合、該エキスパンドは従来公知のエキスパンド装置を用いて行うことができる。エキスパンド装置は、ダイシングリングを介してダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを下方へ押し下げることが可能なドーナッツ状の外リングと、外リングよりも径が小さくダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを支持する内リングとを有している。このエキスパンド工程により、後述のピックアップ工程において、隣り合う半導体チップ同士が接触して破損するのを防ぐことが出来る。
(ピックアップ工程)
ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1に密着固定された半導体チップ5を回収する為に、図2(c)で示されるように、半導体チップ5のピックアップを行って、半導体チップ5を半導体裏面用フィルム2とともにダイシングテープ3より剥離させる。ピックアップの方法としては特に限定されず、従来公知の種々の方法を採用できる。例えば、個々の半導体チップ5をダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム1の基材31側からニードルによって突き上げ、突き上げられた半導体チップ5をピックアップ装置によってピックアップする方法等が挙げられる。なお、ピックアップされた半導体チップ5は、その裏面(非回路面、非電極形成面などとも称される)が半導体裏面用フィルム2により保護されている。
(フリップチップボンディング工程)
ピックアップした半導体チップ5は、図2(d)で示されるように、基板等の被着体に、フリップチップボンディング方式(フリップチップ実装方式)により固定させる。具体的には、半導体チップ5を、半導体チップ5の回路面(表面、回路パターン形成面、電極形成面などとも称される)が被着体6と対向する形態で、被着体6に常法に従い固定させる。例えば、半導体チップ5の回路面側に形成されているバンプ51を、被着体6の接続パッドに被着された接合用の導電材(半田など)61に接触させて押圧しながら導電材を溶融させることにより、半導体チップ5と被着体6との電気的導通を確保し、半導体チッ
プ5を被着体6に固定させることができる。なお、このような半導体チップ5の被着体6への固定に際しては、半導体チップ5と被着体6との対向面や間隙を洗浄し、該間隙に封止材(封止樹脂など)を充填させることが重要である。
被着体としては、リードフレームや回路基板(配線回路基板など)等の各種基板を用いることができる。このような基板の材質としては、特に限定されるものではないが、セラミック基板や、プラスチック基板が挙げられる。プラスチック基板としては、例えば、エポキシ基板、ビスマレイミドトリアジン基板、ポリイミド基板等が挙げられる。
フリップチップボンディングにおいて、バンプや導電材の材質としては、特に限定されず、例えば、錫−鉛系金属材、錫−銀系金属材、錫−銀−銅系金属材、錫−亜鉛系金属材、錫−亜鉛−ビスマス系金属材等の半田類(合金)や、金系金属材、銅系金属材などが挙げられる。
なお、本工程では、導電材を溶融させて、半導体チップ5の回路面側のバンプと、被着体6の表面の導電材とを接続させているが、この導電材の溶融時の温度としては、通常、260℃程度(例えば、250℃〜300℃)となっている。本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、半導体裏面用フィルムをエポキシ樹脂等により形成することにより、このフリップチップボンディング工程における高温にも耐えられる耐熱性を有するものとすることができる。
また、フリップチップボンディングにおいて、半導体チップ5と被着体6との対向面(電極形成面)や間隙を洗浄する際に用いられる洗浄液としては、特に制限されず、有機系の洗浄液であってもよく、水系の洗浄液であってもよい。本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおける半導体裏面用フィルムは、洗浄液に対する耐溶剤性を有しており、これらの洗浄液に対して実質的に溶解性を有していない。そのため、前述のように、洗浄液としては、各種洗浄液を用いることができ、特別な洗浄液を必要とせず、従来の方法により洗浄させることができる。
また、本発明において、フリップチップボンディングにおいて、半導体チップ5と被着体6との間隙を封止する際に用いられる封止材としては、絶縁性を有する樹脂(絶縁樹脂)であれば特に制限されず、公知の封止樹脂等の封止材から適宜選択して用いることができる。封止樹脂としては、弾性を有する絶縁樹脂であることが好ましい。封止樹脂としては、例えば、エポキシ樹脂を含む樹脂組成物等が挙げられる。エポキシ樹脂としては、前記に例示のエポキシ樹脂等が挙げられる。また、エポキシ樹脂を含む樹脂組成物による封止樹脂としては、樹脂成分として、エポキシ樹脂以外に、エポキシ樹脂以外の熱硬化性樹脂(フェノール樹脂など)や、熱可塑性樹脂などが含まれていても良い。なお、フェノール樹脂としては、エポキシ樹脂の硬化剤としても利用することができ、このようなフェノール樹脂としては、前記に例示のフェノール樹脂などが挙げられる。
封止樹脂による封止工程では、通常、加熱させて封止樹脂を硬化させて封止させる。なお、封止樹脂の硬化は、通常、175℃で60秒間〜90秒間行われる場合が多いが、本発明ではこれに限定されず、例えば165℃〜185℃で、数分間キュアすることができる。なお、半導体裏面用フィルムが、熱硬化性樹脂を含む樹脂組成物により形成されている場合、この封止樹脂のキュアの際に、半導体裏面用フィルムを構成している熱硬化性樹脂を完全又はほぼ完全に硬化させることができる。
なお、半導体チップ5と被着体6との空隙間距離は、一般的に、30μm〜300μm程度である。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いて製造された半導体装置(フリップチップ実装の半導体装置)は、チップ状ワークの裏面に、半導体裏面用フィルムが貼着されているため、レーザーマーキングを優れた視認性で施すことができる。特に、優れたコントラスト比でレーザーマーキングを施すことができ、レーザーマーキングにより施された各種情報(文字情報、図研情報など)を良好に視認することが可能である。なお、レーザーマーキングを行う際には、公知のレーザーマーキング装置を利用することができる。また、レーザーとしては、気体レーザー、個体レーザー、液体レーザーなどの各種レーザーを利用することができる。具体的には、気体レーザーとしては、特に制限されず、公知の気体レーザーを利用することができるが、炭酸ガスレーザー(CO2レーザー)、エキシマレーザー(ArFレーザー、KrFレーザー、XeClレーザー、XeFレーザーなど)が好適である。また、固体レーザーとしては、特に制限されず、公知の固体レーザーを利用することができるが、YAGレーザー(Nd:YAGレーザーなど)、YVO4レーザーが好適である。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いて製造されたフリップチップ実装の半導体装置は、フリップチップ実装方式で実装された半導体装置であるので、ダイボンディング実装方式で実装された半導体装置よりも、薄型化、小型化された形状となっており、各種の電子機器・電子部品又はそれらの材料・部材として好適に用いることができる。具体的には、本発明のフリップチップ実装の半導体装置が利用される電子機器としては、いわゆる「携帯電話」や「PHS」、小型のコンピュータ(例えば、いわゆる「PDA」(携帯情報端末)、いわゆる「ノートパソコン」、いわゆる「ネットブック(商標)」、いわゆる「ウェアラブルコンピュータ」など)、「携帯電話」及びコンピュータが一体化された形態の小型の電子機器、いわゆる「デジタルカメラ(商標)」、いわゆる「デジタルビデオカメラ」、小型のテレビ、小型のゲーム機器、小型のデジタルオーディオプレイヤー、いわゆる「電子手帳」、いわゆる「電子辞書」、いわゆる「電子書籍」用電子機器端末、小型のデジタルタイプの時計などのモバイル型の電子機器(持ち運び可能な電子機器)などが挙げられるが、もちろん、モバイル型以外(設置型など)の電子機器(例えば、いわゆる「ディスクトップパソコン」、薄型テレビ、録画・再生用電子機器(ハードディスクレコーダー、DVDプレイヤー等)、プロジェクター、マイクロマシンなど)などであってもよい。また、電子部品又は、電子機器・電子部品の材料・部材としては、特に制限されず、例えば、いわゆる「CPU」の部材、各種記憶装置(いわゆる「メモリー」、ハードディスクなど)の部材などが挙げられる。
以下に、この発明の好適な実施例を例示的に詳しく説明する。但し、この実施例に記載されている材料や配合量等は、特に限定的な記載がない限りは、この発明の範囲をそれらのみに限定する趣旨のものではなく、単なる説明例に過ぎない。また、各例中、部は特記がない限りいずれも重量基準である。
実施例1
<半導体裏面用フィルムの作製>
アクリル酸エチル−メチルメタクリレートを主成分とするアクリル酸エステル系ポリマー(商品名「パラクロンW−197CM」、根上工業株式会社製):100部に対して、エポキシ樹脂(商品名「エピコート1004」、JER株式会社製):113部、フェノール樹脂(商品名「ミレックスXLC−4L」、三井化学株式会社製):121部、球状シリカ(商品名「SO−25R」、株式会社アドマテックス製、平均粒径0.5μm):246部、黒色顔料(商品名「三菱カーボンブラック ♯47」三菱化学株式会社製):3部をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が23.6重量%となるように調整し、ボールミルを用いて、樹脂組成物の分散溶液を調製した。
この樹脂組成物の溶液を、剥離ライナ(セパレータ)としてシリコーン離型処理した厚さが50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布した後、130℃で2分間乾燥させることにより、厚さ(平均厚さ)20μmの半導体裏面用フィルムAを作製した。
<ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの作製>
上記半導体裏面用フィルムAを、ダイシングテープ(商品名「V−8−T」、日東電工株式会社製;基材の平均厚さ:65μm、粘着剤層の平均厚さ:10μm)の粘着剤層上に、ハンドローラーを用いて貼り合せ、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを作製した。
比較例1
<半導体裏面用フィルムの作製>
アクリル酸エチル−メチルメタクリレートを主成分とするアクリル酸エステル系ポリマー(商品名「パラクロンW−197CM」、根上工業株式会社製):100部に対して、エポキシ樹脂(商品名「エピコート1004」、JER株式会社製):113部、フェノール樹脂(商品名「ミレックスXLC−4L」、三井化学株式会社製):121部、球状シリカ(商品名「SO−25R」、株式会社アドマテックス製、平均粒径0.5μm):246部、染料1(商品名「OIL GREEN 502」、オリエント化学工業株式会社製):5部、染料2(商品名「OIL BLACK BS」、オリエント化学工業株式会社製):5部をメチルエチルケトンに溶解して、固形分濃度が23.6重量%となる樹脂組成物の溶液を調製した。
この樹脂組成物の溶液を、剥離ライナ(セパレータ)としてシリコーン離型処理した厚さが50μmのポリエチレンテレフタレートフィルムからなる離型処理フィルム上に塗布した後、130℃で2分間乾燥させることにより、厚さ(平均厚さ)20μmの半導体裏面用フィルムBを作製した。
<ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムの作製>
上記半導体裏面用フィルムBを、ダイシングテープ(商品名「V−8−T」、日東電工株式会社製;基材の平均厚さ:65μm、粘着剤層の平均厚さ:10μm)の粘着剤層上に、ハンドローラーを用いて貼り合せ、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを作製した。
なお、実施例1に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおいて、半導体裏面用フィルムの厚さ(平均厚さ)は20μmである。また、ダイシングテープ(商品名「V−8−T」、日東電工株式会社製)は、基材の厚さ(平均厚さ)が65μmであり、粘着剤層の厚さ(平均厚さ)が10μmであり、総厚が75μmである。従って、実施例1に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおいて、半導体裏面用フィルムの厚さと、ダイシングテープの粘着剤層の厚さとの比(半導体裏面用フィルムの厚さ/ダイシングテープの粘着剤層の厚さ;平均厚さの比)は、20/10であり、半導体裏面用フィルムの厚さと、ダイシングテープの厚さ(基材及び粘着剤層の総厚)との比(半導体裏面用フィルムの厚さ/ダイシングテープの厚さ;平均厚さの比)は、20/75である。
(半導体裏面用フィルムの物性測定)
実施例及び比較例で作製したダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにおける半導体裏面用フィルムAの可視光線透過率(%)、吸湿率(重量%)、重量減少率(重量%)を、それぞれ下記の通りに測定した。測定結果を下記表1に示す。
<可視光線透過率の測定方法>
実施例及び比較例で作製した半導体裏面用フィルム(平均厚さ20μm)に、「ABSORPTION SPECTRO PHOTOMETER」(商品名、(株)島津製作所)を用いて、可視光線を照射した。可視光線の波長は400nm〜800nmである。この照射により半導体裏面用フィルムを透過した可視光線の光強度を測定し、次式により算出した。
可視光線透過率(%)=((半導体裏面用フィルムの透過後の可視光線の光強度)/(可視光線の初期の光強度))×100
<吸湿率の測定方法>
実施例及び比較例で作製した半導体裏面用フィルムA〜Fを、温度85℃、相対湿度85%Rhの恒温恒湿槽に168時間放置して、放置前後の重量を測定し、下記式から吸湿率(重量%)を算出した。
吸湿率(重量%)=(((半導体裏面用フィルムの放置後の重量)−(半導体裏面用フィルムの放置前の重量))/(半導体裏面用フィルムの放置前の重量))×100
<重量減少率の測定方法>
実施例及び比較例で作製した半導体裏面用フィルムA〜Fを、温度250℃の乾燥機に1時間放置して、放置前後の重量を測定し、下記式から重量減少率(重量%)を算出した。
重量減少率(重量%)=(((半導体裏面用フィルムの放置前の重量)−(半導体裏面用フィルムの放置後の重量))/(半導体裏面用フィルムの放置前の重量))×100
Figure 0005580719
(評価)
実施例1及び比較例1で作製したダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムについて、ダイシング性、ピックアップ性、フリップチップボンディング性、ウエハ裏面のマーキング性、ウエハ裏面の外観性を、下記の評価又は測定方法により評価又は測定した。評価又は測定結果は表2に示した。
<ダイシング性・ピックアップ性の評価方法>
実施例1及び比較例1のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いて、以下の要領で、実際に半導体ウェハのダイシングを行ってダイシング性を評価し、その後に剥離性の評価を行い、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムのダイシング性能とピックアップ性能を評価した。
半導体ウェハ(直径8インチ、厚さ0.6mm;シリコンミラーウエハ)を裏面研磨処理し、厚さ0.2mmのミラーウェハをワークとして用いた。ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムからセパレータを剥離した後、その半導体裏面用フィルム上(すなわち、半導体裏面用フィルムのウエハ側樹脂層上)にミラーウェハ(ワーク)を70℃でロール圧着して貼り合わせ、更にダイシングを行った。また、ダイシングは10mm角のチップサイズとなる様にフルカットした。なお、半導体ウェハ研削条件、貼り合わせ条件、ダイシング条件は、下記のとおりである。
(半導体ウエハ研削条件)
研削装置:商品名「DFG−8560」ディスコ社製
半導体ウエハ:8インチ径(厚さ0.6mmから0.2mmに裏面研削)
(貼り合わせ条件)
貼り付け装置:商品名「MA−3000III」日東精機株式会社製
貼り付け速度計:10mm/min
貼り付け圧力:0.15MPa
貼り付け時のステージ温度:70℃
(ダイシング条件)
ダイシング装置:商品名「DFD−6361」ディスコ社製
ダイシングリング:「2−8−1」(ディスコ社製)
ダイシング速度:30mm/sec
ダイシングブレード:
Z1;ディスコ社製「203O−SE 27HCDD」
Z2;ディスコ社製「203O−SE 27HCBB」
ダイシングブレード回転数:
Z1;40,000r/min
Z2;45,000r/min
カット方式:ステップカット
ウエハチップサイズ:10.0mm角
このダイシングで、ミラーウェハ(ワーク)が剥離せずにダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムにしっかりと保持され、ダイシングを良好に行うことができたどうかを確認し、ダイシングを良好に行うことができた場合を「○」とし、ダイシングを良好に行うことができなかった場合を「×」として、ダイシング性を評価した。
次に、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムのダイシングテープ側からニードルで突き上げて、ダイシングにより得られたチップ状ワークを半導体裏面用フィルムとともにダイシングテープの粘着剤層より剥離させて、裏面が半導体裏面用フィルムにより保護された状態のチップ状ワークをピックアップさせた。この時のチップ(全個数:400個)のピックアップ率(%)を求め、ピックアップ性を評価した。従って、ピックアップ性は、ピックアップ率が100%に近いほど良好である。
なお、ピックアップ条件は、下記のとおりである。
(半導体ウエハピックアップ条件)
ピックアップ装置:商品名「SPA−300」株式会社新川社製
ピックアップニードル本数:9本
ニードル突き上げ速度:20mm/s
ニードル突き上げ量 : 500μm
ピックアップ時間:1秒
ダイシングテープ エキスパンド量 : 3mm
<フリップチップボンディング性の評価方法>
各実施例又は各比較例に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いて、前記の<ダイシング性・ピックアップ性の評価方法>により得られた各実施例又は各比較例に係るチップ状ワークについて、チップ状ワークの表面(回路面)が、該回路面に対応した配線を備えた回路基板の表面に対向する形態で、チップ状ワークの回路面に形成されているバンプが、回路基板の接続パッドに被着された接合用の導電材(半田)と接触させて押圧しながら、温度を260℃まで上げて導電材を溶融させ、その後、室温まで冷却させることにより、チップ状ワークを回路基板に固定させて、半導体装置を作製した。この際のフリップチップボンディング性について、下記の評価基準により評価した。
(フリップチップボンディング性の評価基準)
○:問題なく、フリップチップボンディング方法により、実装できる
×:フリップチップボンディング方法により、実装できない
<ウエハ裏面のマーキング性の評価方法>
前記の<フリップチップボンディング性の評価方法>により得られた半導体装置におけるチップ状ワークの裏面(すなわち、半導体裏面用フィルムの表面)に、グリーンレーザー[波長:532nm、株式会社キーエンス製のレーザー発生装置(商品名「MD−S9900」)]を用いて、強度:1.0Wの条件で照射させて、レーザー加工を施した。このレーザー加工による加工部の明度(S1)と、加工されていない非加工部の明度(S2)とを、マルチカメラ画像センサ(商品名「CV−5000」株式会社キーエンス製)を用いて測定し、下記式(1)より、加工部と非加工部とのコントラスト比(%)を求めた。
コントラスト比(%)=[(S1−S2)/S1]×100 (1)
<ウエハ裏面の外観性の評価方法>
各実施例又は各比較例に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いて、前記の<ダイシング性・ピックアップ性の評価方法>により得られた各実施例に係るチップ状ワークについて、該チップ状ワークの裏面の外観性を、下記の評価基準により目視により評価した。
(外観性の評価基準)
○:チップ状ワークにおけるウエハ(シリコンウエハ)の裏面と半導体裏面用フィルムと間に剥離(浮き)が無い
×:チップ状ワークにおけるウエハ(シリコンウエハ)の裏面と半導体裏面用フィルムと間に剥離(浮き)がある
Figure 0005580719
表2より、実施例1に係るダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、ダイシングテープとしての機能と、半導体裏面用フィルムとしての機能を、優れたレベルで備えていることが確認できた。
本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、ダイシングテープと、半導体裏面用フィルムが一体的に形成されているとともに、半導体裏面用フィルムが、着色剤として黒色顔料を含有しているので、半導体ウエハのダイシング工程から半導体チップのフリップチップボンディング工程にかけて利用することができる。すなわち、本発明のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムは、フリップチップボンディング方法により半導体装置を製造する際に、ダイシングテープおよび半導体裏面用フィルムの両機能を備えたダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムとして好適に用いることができる。
1 ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
2 半導体裏面用フィルム
3 ダイシングテープ
31 基材
32 粘着剤層
4 半導体ウエハ(ワーク)
5 半導体チップ(チップ状ワーク)
51 半導体チップ5の回路面側に形成されているバンプ
6 被着体
61 被着体6の接続パッドに被着された接合用の導電材

Claims (5)

  1. 基材上に粘着剤層を有するダイシングテープと、該粘着剤層上に設けられたフリップチップ型半導体裏面用フィルムとを有するダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムであって、
    前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムが、黒色顔料を含有しており、
    前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムの250℃で1時間加熱後の重量減少率が1重量%以下であることを特徴とするダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム。
  2. 黒色顔料が、カーボンブラックである請求項1記載のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム。
  3. フリップチップ実装の半導体装置に用いられる請求項1又は2記載のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム。
  4. ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いた半導体装置の製造方法であって、
    請求項1〜3の何れかの項に記載のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムのフリップチップ型半導体裏面用フィルムにおけるウエハ接着層上にワークを貼着する工程と、
    前記ワークをダイシングしてチップ状ワークを形成する工程と、
    前記チップ状ワークを前記フリップチップ型半導体裏面用フィルムとともに、ダイシングテープの粘着剤層から剥離する工程と、
    前記チップ状ワークを被着体にフリップチップボンディングにより固定する工程とを具備することを特徴とする半導体装置の製造方法。
  5. フリップチップ実装の半導体装置であって、請求項1〜3の何れかの項に記載のダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムを用いて作製され、且つチップ状ワークの裏面に、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルムのフリップチップ型半導体裏面用フィルムが貼着された構成を有していることを特徴とするフリップチップ実装の半導体装置。
JP2010253091A 2009-12-24 2010-11-11 ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム Active JP5580719B2 (ja)

Priority Applications (10)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010253091A JP5580719B2 (ja) 2009-12-24 2010-11-11 ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
US12/975,641 US9035466B2 (en) 2009-12-24 2010-12-22 Dicing tape-integrated film for semiconductor back surface
KR1020100133497A KR101539471B1 (ko) 2009-12-24 2010-12-23 다이싱 테이프 일체형 반도체 이면용 필름
CN201510166778.4A CN104845546B (zh) 2009-12-24 2010-12-24 半导体背面用切割带集成膜
TW104115668A TWI631158B (zh) 2009-12-24 2010-12-24 半導體背面用切晶帶一體膜
TW104115669A TWI631159B (zh) 2009-12-24 2010-12-24 半導體背面用切晶帶一體膜
CN201510166579.3A CN104845545B (zh) 2009-12-24 2010-12-24 半导体背面用切割带集成膜
TW099145901A TWI604003B (zh) 2009-12-24 2010-12-24 半導體背面用切晶帶一體膜
CN201010621817.2A CN102146265B (zh) 2009-12-24 2010-12-24 半导体背面用切割带集成膜
US14/188,991 US9362156B2 (en) 2009-12-24 2014-02-25 Dicing tape-integrated film for semiconductor back surface

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009292770 2009-12-24
JP2009292770 2009-12-24
JP2010253091A JP5580719B2 (ja) 2009-12-24 2010-11-11 ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011151363A JP2011151363A (ja) 2011-08-04
JP5580719B2 true JP5580719B2 (ja) 2014-08-27

Family

ID=44186473

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010253091A Active JP5580719B2 (ja) 2009-12-24 2010-11-11 ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム

Country Status (5)

Country Link
US (2) US9035466B2 (ja)
JP (1) JP5580719B2 (ja)
KR (1) KR101539471B1 (ja)
CN (3) CN102146265B (ja)
TW (3) TWI631159B (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100963675B1 (ko) * 2008-03-14 2010-06-15 제일모직주식회사 반도체 패키징용 복합기능 테이프 및 이를 이용한 반도체소자의 제조방법
JP6146626B2 (ja) * 2012-04-24 2017-06-14 大日本印刷株式会社 光学素子、照明装置、投射装置および投射型映像表示装置
JP6405556B2 (ja) 2013-07-31 2018-10-17 リンテック株式会社 保護膜形成フィルム、保護膜形成用シートおよび検査方法
US20160218077A1 (en) * 2013-09-30 2016-07-28 Lintec Corporation Composite Sheet for Resin Film Formation
US9793151B2 (en) * 2014-12-12 2017-10-17 Intel Corporation Stiffener tape for electronic assembly
JP2016213236A (ja) * 2015-04-30 2016-12-15 日東電工株式会社 半導体装置用フィルム、及び、半導体装置の製造方法
US9679785B2 (en) * 2015-07-27 2017-06-13 Semtech Corporation Semiconductor device and method of encapsulating semiconductor die
WO2017077958A1 (ja) * 2015-11-04 2017-05-11 リンテック株式会社 半導体装置の製造方法
KR101936873B1 (ko) * 2018-03-23 2019-01-11 (주)엠티아이 웨이퍼 레벨용 백사이드 점착테이프 및 이의 제조방법
TW202036940A (zh) * 2018-08-28 2020-10-01 日商琳得科股份有限公司 熱電轉換材料的晶片的製造方法及使用由此製造方法得到的晶片的熱電轉換模組的製造方法

Family Cites Families (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0373559A (ja) * 1989-08-15 1991-03-28 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2682475B2 (ja) * 1994-11-17 1997-11-26 日本電気株式会社 ビームスキャン式レーザマーキング方法および装置
US6515355B1 (en) * 1998-09-02 2003-02-04 Micron Technology, Inc. Passivation layer for packaged integrated circuits
US6524881B1 (en) * 2000-08-25 2003-02-25 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for marking a bare semiconductor die
US6734532B2 (en) * 2001-12-06 2004-05-11 Texas Instruments Incorporated Back side coating of semiconductor wafers
JP2004063551A (ja) 2002-07-25 2004-02-26 Hitachi Chem Co Ltd 半導体素子表面保護用フィルム及び半導体素子ユニット
DE10235482B3 (de) 2002-08-02 2004-01-22 Süss Microtec Lithography Gmbh Vorrichtung zum Fixieren dünner und flexibler Substrate
JP4341343B2 (ja) 2002-10-04 2009-10-07 日立化成工業株式会社 表面保護フィルム及びその製造方法
JP4364508B2 (ja) 2002-12-27 2009-11-18 リンテック株式会社 チップ裏面用保護膜形成用シートおよび保護膜付きチップの製造方法
JP2004221169A (ja) 2003-01-10 2004-08-05 Hitachi Chem Co Ltd 半導体素子保護材、及び半導体装置
JP4677758B2 (ja) * 2004-10-14 2011-04-27 日立化成工業株式会社 ダイボンドダイシングシート及びその製造方法、並びに、半導体装置の製造方法
ATE498605T1 (de) * 2004-11-04 2011-03-15 Showa Denko Kk Isocyanatverbindung enthaltend eine ethylenisch ungesättigte gruppe und verfahren zu deren herstellung, sowie reaktives monomer, reaktives (meth)acrylatpolymer und anwendung davon
JP4642436B2 (ja) * 2004-11-12 2011-03-02 リンテック株式会社 マーキング方法および保護膜形成兼ダイシング用シート
JP4865312B2 (ja) 2005-12-05 2012-02-01 古河電気工業株式会社 チップ用保護膜形成用シート
JP2007250970A (ja) 2006-03-17 2007-09-27 Hitachi Chem Co Ltd 半導体素子裏面保護用フィルム及びそれを用いた半導体装置とその製造法
JP4846406B2 (ja) 2006-03-28 2011-12-28 リンテック株式会社 チップ用保護膜形成用シート
JP2008006386A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Furukawa Electric Co Ltd:The チップ用保護膜形成用シートによる保護膜形成方法。
KR101040439B1 (ko) * 2006-10-24 2011-06-09 주식회사 엘지화학 다이싱-다이본딩 필름 및 이를 이용하는 반도체 패키징방법
JP2008166451A (ja) 2006-12-27 2008-07-17 Furukawa Electric Co Ltd:The チップ保護用フィルム
KR100834837B1 (ko) 2006-12-29 2008-06-03 삼성전자주식회사 반도체 다이 픽업 장치와 이를 이용한 반도체 다이 픽업방법
US20080237820A1 (en) 2007-03-28 2008-10-02 Advanced Semiconductor Engineering, Inc. Package structure and method of manufacturing the same
JP5456440B2 (ja) * 2009-01-30 2014-03-26 日東電工株式会社 ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム
CN101924055A (zh) * 2009-06-15 2010-12-22 日东电工株式会社 半导体背面用切割带集成膜

Also Published As

Publication number Publication date
TWI631158B (zh) 2018-08-01
CN104845545B (zh) 2017-06-20
KR20110074474A (ko) 2011-06-30
KR101539471B1 (ko) 2015-07-24
TW201130901A (en) 2011-09-16
US9035466B2 (en) 2015-05-19
US9362156B2 (en) 2016-06-07
CN102146265A (zh) 2011-08-10
CN102146265B (zh) 2015-05-13
CN104845545A (zh) 2015-08-19
US20110156277A1 (en) 2011-06-30
US20140175677A1 (en) 2014-06-26
TW201531509A (zh) 2015-08-16
TWI604003B (zh) 2017-11-01
TWI631159B (zh) 2018-08-01
TW201531508A (zh) 2015-08-16
CN104845546B (zh) 2017-06-20
CN104845546A (zh) 2015-08-19
JP2011151363A (ja) 2011-08-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5501938B2 (ja) フリップチップ型半導体裏面用フィルム
JP5456440B2 (ja) ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム
JP5805367B2 (ja) ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム
JP5456441B2 (ja) ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム
JP5885325B2 (ja) ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
JP5249290B2 (ja) フリップチップ型半導体裏面用フィルム、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、半導体装置の製造方法、及び、フリップチップ型半導体装置
JP5546985B2 (ja) 半導体装置製造用フィルム、半導体装置製造用フィルムの製造方法、及び、半導体装置の製造方法。
JP5580719B2 (ja) ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
JP5456642B2 (ja) フリップチップ型半導体裏面用フィルム
JP2011151362A (ja) ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
JP5576188B2 (ja) ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
JP5641641B2 (ja) ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム及び半導体装置の製造方法
JP5705354B2 (ja) ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム
WO2013108755A1 (ja) フリップチップ型半導体装置の製造方法
JP2016225496A (ja) 半導体裏面用フィルム及びその用途
JP5681377B2 (ja) 半導体装置の製造方法、及び、フリップチップ型半導体装置
JP2011249738A (ja) ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム
JP5384443B2 (ja) フリップチップ型半導体裏面用フィルム、ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、半導体装置の製造方法、及び、フリップチップ型半導体装置
JP5978333B2 (ja) ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム
JP6387047B2 (ja) ダイシングテープ一体型半導体裏面用フィルム、及び、半導体装置の製造方法
JP5976857B2 (ja) ダイシングテープ一体型ウエハ裏面保護フィルム
JP2014222779A (ja) 半導体装置製造用フィルム、半導体装置製造用フィルムの製造方法、及び、半導体装置の製造方法。

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20121127

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140107

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140307

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140627

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140711

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5580719

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250