JP5575286B2 - Shower head for MOCVD reactor, MOCVD reactor, MOCVD apparatus and cleaning method - Google Patents

Shower head for MOCVD reactor, MOCVD reactor, MOCVD apparatus and cleaning method Download PDF

Info

Publication number
JP5575286B2
JP5575286B2 JP2013028164A JP2013028164A JP5575286B2 JP 5575286 B2 JP5575286 B2 JP 5575286B2 JP 2013028164 A JP2013028164 A JP 2013028164A JP 2013028164 A JP2013028164 A JP 2013028164A JP 5575286 B2 JP5575286 B2 JP 5575286B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
shower head
reaction gas
shield plate
mocvd
cleaning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2013028164A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2013172153A (en
Inventor
和一 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Electron Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Electron Ltd filed Critical Tokyo Electron Ltd
Publication of JP2013172153A publication Critical patent/JP2013172153A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5575286B2 publication Critical patent/JP5575286B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Description

本発明は、MOCVD反応器に用いられた取り外し可能なシャワーヘッド、シャワーヘッドを備えたMOCVD反応器、MOCVD反応器の関連部品をin−situ洗浄可能なMOCVD装置、及び洗浄方法に関するものである。   The present invention relates to a removable shower head used in an MOCVD reactor, an MOCVD reactor equipped with a shower head, an MOCVD apparatus capable of in-situ cleaning of related parts of the MOCVD reactor, and a cleaning method.

MOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)装置の一例として、マルチチャンバー構成のクラスタ装置がある。例えば、MOCVD装置は、MOCVD反応器、ロードロック(load lock)チャンバー、搬送チャンバーを備える。ここで、MOCVD反応器が一定の稼動期間を経過した場合、シャワーヘッドやサセプタなどの部材の上に所定厚さの堆積物が付着するため、除去する必要がある。   As an example of a MOCVD (Metal Organic Chemical Vapor Deposition) apparatus, there is a cluster apparatus having a multi-chamber configuration. For example, the MOCVD apparatus includes an MOCVD reactor, a load lock chamber, and a transfer chamber. Here, when the MOCVD reactor has passed a certain operation period, deposits of a predetermined thickness adhere to members such as a shower head and a susceptor, and thus need to be removed.

従来、MOCVD反応器におけるサセプタに対するクリーニングは、処理すべきサセプタを洗浄装置に移送し、化学洗浄にて堆積物を除去することで行われる。また、MOCVD反応器におけるシャワーヘッドに対するクリーニングは、MOCVD反応器内において、例えば、ブラシと掃除機を用いる物理的洗浄にて堆積物を除去することで行われる。このように、サセプタに対するクリーニングとシャワーヘッドに対するクリーニングとは、異なる場所で異なる洗浄方式にて行われる。   Conventionally, cleaning of a susceptor in an MOCVD reactor is performed by transferring a susceptor to be processed to a cleaning device and removing deposits by chemical cleaning. In addition, cleaning of the showerhead in the MOCVD reactor is performed by removing deposits in the MOCVD reactor by, for example, physical cleaning using a brush and a vacuum cleaner. As described above, the cleaning for the susceptor and the cleaning for the shower head are performed by different cleaning methods in different places.

しかしながら、上記の洗浄方法では、洗浄する際、チャンバーを大気開放しなければならず、また、シャワーヘッドのブラシ洗浄では精密に堆積物を除去できない。そうすると、洗浄作業にかかる時間が長くなったり、品質のコントロールが困難になったりするなどの結果、MOCVD装置による持続的量産を妨げ、半導体装置によるスループットに悪影響をもたらすことがある。   However, in the above cleaning method, the chamber must be opened to the atmosphere when cleaning is performed, and deposits cannot be accurately removed by brush cleaning of the shower head. As a result, the time required for the cleaning operation becomes longer and the quality control becomes difficult. As a result, continuous mass production by the MOCVD apparatus is hindered, and the throughput by the semiconductor apparatus may be adversely affected.

そこで、基板処理用チャンバー内に配置された基板の上に、一層又は複数層のIII族元素含有層を堆積するステップと、基板処理チャンバーから基板を移出するステップと、ハロゲン含有ガスを基板処理チャンバーに進入させるステップと、基板処理チャンバーの1つ又は複数の内部表面(反応チャンバーの内壁面及びシャワーヘッド表面等)から不要な堆積物の少なくとも一部を除去するステップとを含むMOCVDチャンバーに対するin−situ洗浄方法が提案されている。   Accordingly, a step of depositing one or more group III element-containing layers on a substrate disposed in the substrate processing chamber, a step of transferring the substrate from the substrate processing chamber, and a halogen-containing gas in the substrate processing chamber And in-step with respect to the MOCVD chamber, including removing at least a portion of unwanted deposits from one or more internal surfaces of the substrate processing chamber (such as the inner walls of the reaction chamber and the showerhead surface). Situ cleaning methods have been proposed.

また、従来、MOCVD反応の過程においてMOCVD反応器におけるシャワーヘッドに付着する堆積膜の量を減少させることを目的として、シャワーヘッドに冷却手段を設置するいわゆるコールドウォール(cold wall)対策が講じられている。シャワーヘッドに付着する堆積物の性状が剥離しやすいクズ状の性質に近い結果、ブラシを用いた物理的洗浄方法により堆積物を容易に除去できる利点が得られる。一方、剥離しやすいクズ状の性質であるためパーティクルとしてプロセスに悪影響を及ぼす結果、シャワーヘッドに対する洗浄作業が頻繁になる。   Also, conventionally, a so-called cold wall countermeasure has been taken in which a cooling means is installed on the shower head in order to reduce the amount of deposited film adhering to the shower head in the MOCVD reactor in the course of the MOCVD reaction. Yes. As a result of the property of the deposit adhering to the shower head being close to the shape of a scum that is easily peeled off, an advantage that the deposit can be easily removed by a physical cleaning method using a brush is obtained. On the other hand, because of the scrap-like nature that easily peels off, the shower head is frequently cleaned as a result of adversely affecting the process as particles.

そこで、プラズマCVD法によって基板の表面上に薄膜を成膜する際に用いられるカソード電極であって、原料ガスが導かれるガス分散空間形成部に取り外しし可能に取り付けられ、ガス分散空間形成部の原料ガスを表面から流出させるシャワーヘッド型平板電極と、外周を外枠部とするような形状で複数のガス流通孔が形成された外枠付き仕切り板とを備え、シャワーヘッド型平板電極に外枠付き仕切り板を取り外し可能に固定することにより構成している非一体型カソード電極が提案されている。   Therefore, a cathode electrode used when a thin film is formed on the surface of the substrate by plasma CVD, and is detachably attached to the gas dispersion space forming portion to which the source gas is guided. A shower head type flat plate electrode that allows the source gas to flow out from the surface, and a partition plate with an outer frame in which a plurality of gas flow holes are formed so that the outer periphery is an outer frame portion. There has been proposed a non-integral type cathode electrode constituted by removably fixing a partition plate with a frame.

中華民国專利公開第201107522号Republic of China No. 2011017522 特開2010−37624号公報JP 2010-37624 A

しかしながら、従来の非一体型カソード電極では、外枠付き仕切り板は厚さのごく薄いシート材であり、且つ、隣接するシャワーヘッド型平板電極に密接している結果、板温度をシャワーヘッド型平板電極から独立して調整できないという問題がある。   However, in the conventional non-integrated cathode electrode, the partition plate with the outer frame is a very thin sheet material, and as a result of being in close contact with the adjacent shower head type flat plate electrode, the plate temperature is changed to the shower head type flat plate. There is a problem that adjustment cannot be performed independently of the electrodes.

また、従来のシャワーヘッドでは、例えば、加工コストがかかり、経済性の問題を有する。例えば、3層構造物の隔壁に所定数量の開口が穿設され、更に、例えば、溶接加工又は放電加工(EDM)により所定数量(通常は千本以上)のガス管が開口に固設され、加工コストがかかる。   Further, the conventional shower head has, for example, a processing cost and an economical problem. For example, a predetermined number of openings are drilled in a partition wall of a three-layer structure, and further, for example, a predetermined number (usually 1000 or more) of gas pipes are fixed to the openings by welding or electric discharge machining (EDM). There will be a cost.

開示するシャワーヘッドは、1つの実施態様において、厚さ方向に貫通する複数の反応ガス供給路が形成され、且つ冷却構造を有するシャワーヘッド本体部を有する。また、開示するシャワーヘッドは、1つの実施態様において、前記シャワーヘッド本体部に着脱可能に取り付けられ、前記シャワーヘッド本体部における各反応ガス供給路の形成位置に対応する部位に、厚さ方向に貫通する1対nのマニホールド構造が形成され、且つ冷却構造を有さないシールド板を有する。   In one embodiment, the disclosed shower head includes a shower head main body having a cooling structure in which a plurality of reaction gas supply passages penetrating in the thickness direction are formed. Further, in one embodiment, the disclosed shower head is detachably attached to the shower head main body, and in a thickness direction at a portion corresponding to a formation position of each reaction gas supply path in the shower head main body. A 1 to n manifold structure penetrating is formed and a shield plate having no cooling structure is provided.

上記構成によれば、冷却構造により降温されたシャワーヘッド本体部に比べ、シールド板は冷却構造を有さないため、シャワーヘッド本体部の温度から独立してシールド板の温度を膜状堆積物の付着可能な高温に調整することができると共に、堆積物の付着した下部部材を容易に取り外して洗浄を行うことにより、洗浄作業にかかる時間を節約できると共に、特定のガスチャンネル構造を採用することで、シャワーヘッドに対する加工を簡潔にすることができ、製造コストの低減したMOCVD反応器用シャワーヘッドを提供することが可能となる。   According to the above configuration, since the shield plate does not have a cooling structure as compared with the shower head main body portion that has been cooled by the cooling structure, the temperature of the shield plate is controlled independently of the temperature of the shower head main body portion. It can be adjusted to a high temperature that can be attached, and the lower member to which deposits are attached can be easily removed for cleaning, thereby saving time for the cleaning operation and adopting a specific gas channel structure. Thus, it is possible to provide a shower head for a MOCVD reactor, which can simplify the processing of the shower head and reduce the manufacturing cost.

また、開示するMOCVD反応器は、1つの実施態様において、上下動及び回転可能なローターと、前記ローター上に載せられ、基板を載置するためのサセプタと、前記サセプタの下面に設けられ、前記サセプタを介して前記基板を加熱するためのヒーターと、反応器内部の上側に設けられ、前記サセプタと対向するように配置されたシャワーヘッドを備え、前記シャワーヘッドが、上記のシャワーヘッドである。   In one embodiment, the disclosed MOCVD reactor includes a rotor that can move up and down, a susceptor that is placed on the rotor and on which a substrate is placed, and a lower surface of the susceptor. A heater for heating the substrate via a susceptor and a shower head provided on the upper side inside the reactor and arranged to face the susceptor are provided, and the shower head is the shower head described above.

上記構成によれば、現有の反応器構成に合わせ、シャワーヘッド部材を容易に取り外し、部材の交換に必要な作業時間を短縮化できるMOCVD反応器を提供することができる。   According to the said structure, according to the existing reactor structure, the MOCVD reactor which can remove a shower head member easily and can shorten the working time required for replacement | exchange of a member can be provided.

また、開示するMOCVD装置は、1つの実施態様において、上記のMOCVD反応器と、被洗浄物を支持するための被洗浄物支持台と、被洗浄物を加熱するための加熱板と、洗浄用ガスを洗浄チャンバー内に導入するための洗浄用ガス導入ラインを含む洗浄チャンバーと、ロードロックチャンバーと、前記MOCVD反応器、前記洗浄チャンバー及び前記ロードロックチャンバーとに連結され、機械ロボットが内部に設置される搬送チャンバーとを備える。   In one embodiment, the disclosed MOCVD apparatus includes the above-described MOCVD reactor, an object support base for supporting the object to be cleaned, a heating plate for heating the object to be cleaned, and a cleaning device. A mechanical robot is installed inside the cleaning chamber including a cleaning gas introduction line for introducing gas into the cleaning chamber, a load lock chamber, the MOCVD reactor, the cleaning chamber, and the load lock chamber. A transfer chamber.

上記構成によれば、MOCVD反応器におけるサセプタ及びシャワーヘッド部材に対しin−situの化学洗浄を行うことで、スループットの向上したMOCVD装置を提供することができる。   According to the above configuration, the MOCVD apparatus with improved throughput can be provided by performing in-situ chemical cleaning on the susceptor and the showerhead member in the MOCVD reactor.

また、開示する洗浄方法は、1つの実施態様において、MOCVD反応器、洗浄チャンバー、及び搬送チャンバーを備えるMOCVD装置における、該MOCVD反応器が有するサセプタ及びシャワーヘッド部材に対し化学洗浄を行う洗浄方法であって、前記MOCVD反応器によるMOCVD処理が終了した後、前記MOCVD反応器における前記サセプタ及び前記シャワーヘッド部材を前記搬送チャンバーを介して前記洗浄チャンバーに移送するステップと、洗浄ガスを用いて前記サセプタ及び前記シャワーヘッド部材に対し洗浄を行うステップとを含む。   In one embodiment, the disclosed cleaning method is a cleaning method for performing chemical cleaning on a susceptor and a shower head member included in the MOCVD reactor in an MOCVD apparatus including an MOCVD reactor, a cleaning chamber, and a transfer chamber. A step of transferring the susceptor and the showerhead member in the MOCVD reactor to the cleaning chamber through the transfer chamber after the MOCVD process by the MOCVD reactor is completed, and using the cleaning gas to the susceptor. And cleaning the showerhead member.

上記構成によれば、MOCVD反応器におけるサセプタ及びシャワーヘッド部材に対しin−situの化学洗浄を行うことで、MOCVD装置によるスループットを向上することができる。   According to the said structure, the throughput by a MOCVD apparatus can be improved by performing in-situ chemical cleaning with respect to the susceptor and shower head member in a MOCVD reactor.

改良されたシャワーヘッド、MOCVD反応器及びMOCVD装置を提供することが可能になるという効果を奏する。   There is an effect that it is possible to provide an improved shower head, MOCVD reactor, and MOCVD apparatus.

図1は、第1の実施形態に係るシャワーヘッドの概略構成を模式的に示す図である。FIG. 1 is a diagram schematically illustrating a schematic configuration of the shower head according to the first embodiment. 図2は、第1の実施形態に係るシャワーヘッド表面(シールド板表面)のガス穴の分布を示す図である。FIG. 2 is a view showing a distribution of gas holes on the surface of the shower head (shield plate surface) according to the first embodiment. 図3は、第1の実施形態に係るシャワーヘッドの細部構成を示す部分断面図である。FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing a detailed configuration of the shower head according to the first embodiment. 図4は、第1の実施形態におけるシャワーヘッドにおける反応ガスの流れを概略的に示す図である。FIG. 4 is a diagram schematically illustrating the flow of the reaction gas in the shower head according to the first embodiment. 図5は、第1の実施形態におけるMOCVD反応器の概略断面図である。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of the MOCVD reactor in the first embodiment. 図6は、第1の実施形態におけるMOCVD反応器からシールド板を取り外す動作を模式的に示す図である。FIG. 6 is a diagram schematically showing an operation of removing the shield plate from the MOCVD reactor in the first embodiment. 図7は、第1の実施形態におけるMOCVD反応器からサセプタを移送する動作を模式的に示す図である。FIG. 7 is a diagram schematically showing the operation of transferring the susceptor from the MOCVD reactor in the first embodiment. 図8は、第1の実施形態におけるMOCVD装置全体の概略正面図である。FIG. 8 is a schematic front view of the entire MOCVD apparatus in the first embodiment. 図9は、第1の実施形態における洗浄チャンバーの概略断面図である。FIG. 9 is a schematic cross-sectional view of the cleaning chamber in the first embodiment. 図10は、別の実施形態におけるシャワーヘッド構造の一例を示す断面図である。FIG. 10 is a cross-sectional view showing an example of a showerhead structure in another embodiment.

以下に添付図面を参照しながら、本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, in this specification and drawing, about the component which has the substantially same function structure, duplication description is abbreviate | omitted by attaching | subjecting the same code | symbol.

(第1の実施形態)
まず、第1の実施形態に係るシャワーヘッドについて説明する。図1(A)〜(C)は、第1の実施形態に係るシャワーヘッド1の概略構成を模式的に示す図である。図1(A)に示すように、このシャワーヘッド1はシャワーヘッド本体部2と、図示しない部材結合手段(例えばスナッピング材、ねじ部材、真空吸引機構など)によりシャワーヘッド本体部2に着脱自在に取り付けられたシールド板3を備える。
(First embodiment)
First, the shower head according to the first embodiment will be described. Drawing 1 (A)-(C) is a figure showing typically the schematic structure of shower head 1 concerning a 1st embodiment. As shown in FIG. 1A, the shower head 1 is detachably attached to the shower head main body 2 by a shower head main body 2 and member coupling means (not shown) such as a snapping material, a screw member, and a vacuum suction mechanism. An attached shield plate 3 is provided.

シャワーヘッド本体部2には、等距離に離れて厚さ方向に貫通する複数の反応ガス供給路4が形成される。また、シャワーヘッド本体部2は、シールド板3のシャワーヘッド本体部2の各反応ガス供給路4の形成位置に対応する箇所に、シールド板3の厚さ方向に貫通する複数のマニホールド構造5が形成される。   The shower head main body 2 is formed with a plurality of reaction gas supply passages 4 that are equidistant and penetrate in the thickness direction. The shower head body 2 has a plurality of manifold structures 5 penetrating in the thickness direction of the shield plate 3 at locations corresponding to the positions where the reaction gas supply paths 4 of the shower head body 2 of the shield plate 3 are formed. It is formed.

図1(A)に示すように、マニホールド構造5には、ガスチャンネル連通室5b及び下部ガスチャンネル5cが含まれる。ガスチャンネル連通室5bは、シャワーヘッド本体部2の反応ガス供給路4とシールド板3の下部ガスチャンネル5cとを連通するように形成される。ここで、ガスチャンネル連通室5bの底面からシールド板3の下表面まで貫通した下部ガスチャンネル5cのチャンネル数は、n(n≧2)となる。この結果、シャワーヘッド本体部2からの単一のガス流をn本のガス流に分岐させることが可能となる。従って、シャワーヘッドにおける3層構造物中に多数の開口を穿設してそれぞれガス管を取り付ける手法と比較して、第1の実施形態によれば、シャワーヘッド本体部2に穿設する開口の数量を1/n倍に低減することができると共に、反応ガスチャンネル連通部材の使用量も最小限に抑えることができるので、シャワーヘッドの作製時間及び製造コストの低減に有利となる。   As shown in FIG. 1A, the manifold structure 5 includes a gas channel communication chamber 5b and a lower gas channel 5c. The gas channel communication chamber 5 b is formed so as to communicate the reaction gas supply path 4 of the shower head main body 2 and the lower gas channel 5 c of the shield plate 3. Here, the number of channels of the lower gas channel 5c penetrating from the bottom surface of the gas channel communication chamber 5b to the lower surface of the shield plate 3 is n (n ≧ 2). As a result, a single gas flow from the shower head main body 2 can be branched into n gas flows. Therefore, according to the first embodiment, according to the first embodiment, the openings to be drilled in the shower head main body 2 are compared with the method of drilling a large number of openings in the three-layer structure in the shower head and attaching the gas pipes respectively. The quantity can be reduced to 1 / n times, and the usage amount of the reaction gas channel communication member can be minimized, which is advantageous in reducing the production time and manufacturing cost of the shower head.

シャワーヘッドから複数種類の反応ガスを供給する場合について説明する。例えば、2種類の反応ガスを用いる場合を例に説明する。この場合、シャワーヘッド本体部2の反応ガス供給路4は、相互に交錯配列するように第1の反応ガス供給路と第2の反応ガス供給路に区分され、夫々第1の反応ガス供給源、第2の反応ガス供給源(未図示)に接続されることで、第1の反応ガス、第2の反応ガスが供給される。   A case where a plurality of types of reaction gases are supplied from the shower head will be described. For example, a case where two types of reaction gases are used will be described as an example. In this case, the reaction gas supply path 4 of the shower head main body 2 is divided into a first reaction gas supply path and a second reaction gas supply path so as to cross each other, and a first reaction gas supply source is provided. The first reaction gas and the second reaction gas are supplied by being connected to a second reaction gas supply source (not shown).

マニホールド構造の形状及びその下部ガスチャンネル5cのチャンネル数nは、特に限定されるものではなく、マニホールドの役割を果たすことができれば任意の構造や任意の数であって良い。例えば、シャワーヘッド1から第1の反応ガスと第2の反応ガスをより均一に混合して成膜対象物へ供給する上では、以下に説明する構造を用いることが好ましい。すなわち、マニホールド構造5の斜視図を示す図1(B)に示されるように、ガスチャンネル連通室5bを十字形状体に加工し、十字形状体の四つの端部及び中心部(合計5箇所)に夫々下部ガスチャンネル5cを設置することが好ましい。また、シャワーヘッド1を底面から見る図1(C)に示されるように、第1の反応ガスが供給されるマニホールド構造Aと第2の反応ガスが供給されるマニホールド構造Bを交錯配列することが好ましい。   The shape of the manifold structure and the number n of the lower gas channels 5c are not particularly limited, and may be any structure or any number as long as it can serve as a manifold. For example, in order to more uniformly mix the first reaction gas and the second reaction gas from the shower head 1 and supply them to the film formation target, it is preferable to use the structure described below. That is, as shown in FIG. 1B, which shows a perspective view of the manifold structure 5, the gas channel communication chamber 5b is processed into a cross-shaped body, and the four ends and the center of the cross-shaped body (five places in total) It is preferable to install the lower gas channel 5c respectively. Further, as shown in FIG. 1C when the shower head 1 is viewed from the bottom, the manifold structure A to which the first reaction gas is supplied and the manifold structure B to which the second reaction gas is supplied are arranged in an interlaced manner. Is preferred.

図2は、第1の実施形態に係るシャワーヘッド1表面(シールド板表面)のガス穴の分布を示す図である。図に示されるように、十字形状体であるガスチャンネル連通室を有するマニホールド構造Aとマニホールド構造Bとは、マニホールド構造Aのガス穴(すなわち第1の反応ガスが供給される下部ガスチャンネルのガス穴)と、マニホールド構造Bのガス穴(すなわち第2の反応ガスが供給される下部ガスチャンネルのガス穴)とが等間隔にて交錯配列するようにマトリックス状に配置されている。なお、図2では、マニホールド構造Aとマニホールド構造Bとを点線にて示す。また、マニホールド構造Aのガス穴は、例えば、第1の反応ガスが供給される下部ガスチャンネルのガス穴となる。また、マニホールド構造Bのガス穴は、例えば、第2の反応ガスが供給される下部ガスチャンネルのガス穴となる。ここで、加工例を1つ挙げると、シールド板としてはステンレス材が採用される。また、第1の反応ガスが供給される下部ガスチャンネルのガス穴の数と、第2の反応ガスが供給される下部ガスチャンネルのガス穴の数は、夫々7379個となる。また、下部ガスチャンネルの穴径は、約0.6〜1.6mmとなる。   FIG. 2 is a view showing a distribution of gas holes on the surface (shield plate surface) of the shower head 1 according to the first embodiment. As shown in the drawing, the manifold structure A and the manifold structure B having gas channel communication chambers that are cross-shaped bodies are gas holes in the manifold structure A (that is, the gas in the lower gas channel to which the first reaction gas is supplied). The holes) and the gas holes of the manifold structure B (that is, the gas holes of the lower gas channel to which the second reaction gas is supplied) are arranged in a matrix so as to be arranged at equal intervals. In FIG. 2, the manifold structure A and the manifold structure B are indicated by dotted lines. Moreover, the gas hole of the manifold structure A becomes a gas hole of the lower gas channel to which the first reaction gas is supplied, for example. In addition, the gas hole of the manifold structure B is, for example, a gas hole of a lower gas channel to which the second reaction gas is supplied. Here, if one processing example is given, a stainless steel material is employ | adopted as a shield board. In addition, the number of gas holes in the lower gas channel to which the first reaction gas is supplied and the number of gas holes in the lower gas channel to which the second reaction gas is supplied are 7379, respectively. The hole diameter of the lower gas channel is about 0.6 to 1.6 mm.

図3は、第1の実施形態に係るシャワーヘッドの細部構成を示す部分断面図である。図3に示されるように、第1の実施形態では、温度分布の不均一によるシールド板3の反りに伴うガス漏れを解消することを目的として、上下微動可能な中空ピン8が、マニホールド構造5のキャップ部材5dに当接され、シャワーヘッド本体部2における反応ガス供給路の途中に嵌設される。第1の実施形態では、シャワーヘッドにおけるガス導入構造を簡素化することを目的として、シールド板3のうちシャワーヘッド本体部2に対面する面側に窪み部6が凹設される。窪み部6は、シールド板3におけるマニホールド構造5全域を包括するように形成される。   FIG. 3 is a partial cross-sectional view showing a detailed configuration of the shower head according to the first embodiment. As shown in FIG. 3, in the first embodiment, the hollow pin 8 that can be finely moved up and down is provided in the manifold structure 5 for the purpose of eliminating gas leakage accompanying warpage of the shield plate 3 due to non-uniform temperature distribution. The cap member 5d is in contact with the reaction gas supply path in the shower head main body 2. In the first embodiment, for the purpose of simplifying the gas introduction structure in the shower head, the recessed portion 6 is recessed in the shield plate 3 on the surface facing the shower head main body portion 2. The recess 6 is formed so as to cover the entire manifold structure 5 in the shield plate 3.

なお、図3のマニホールド構造5は、図1(A)に示すマニホールド構造5と比較して、ガスチャンネル連通室5b及び下部ガスチャンネル5cに加えて、キャップ部材5dの中央部に穿設された上部ガスチャンネル5aも有する。上部ガスチャンネル5aと下部ガスチャンネル5cとは、ガスチャンネル連通室5bを介して連通している。図1(B)及び図3を参照すると、マニホールド構造5を作製する際、図1(B)の加工イメージのように、シールド板3に十字形状のガスチャンネル連通室5bを凹設する。その後、ガスチャンネル連通室5bの底部に対し下部ガスチャンネル5cを形成するための穴加工を行い、そして、ガスチャンネル連通室5bの上部を覆うようにその中空十字形状体の中心部に上部ガスチャンネル5aが穿設されたキャップ部材5dを覆設する。この結果、シールド板3に対して簡単な加工でマニホールド構造5を設置することが可能となる。   The manifold structure 5 shown in FIG. 3 is formed in the center of the cap member 5d in addition to the gas channel communication chamber 5b and the lower gas channel 5c, as compared with the manifold structure 5 shown in FIG. It also has an upper gas channel 5a. The upper gas channel 5a and the lower gas channel 5c communicate with each other via a gas channel communication chamber 5b. Referring to FIGS. 1B and 3, when manufacturing the manifold structure 5, a cross-shaped gas channel communication chamber 5 b is recessed in the shield plate 3 as shown in the processing image of FIG. Thereafter, a hole for forming the lower gas channel 5c is formed in the bottom of the gas channel communication chamber 5b, and the upper gas channel is formed at the center of the hollow cross-shaped body so as to cover the upper portion of the gas channel communication chamber 5b. The cap member 5d with the holes 5a is covered. As a result, the manifold structure 5 can be installed on the shield plate 3 by simple processing.

なお、第1の実施形態では、シールド板3に設けられてシャワーヘッド本体部2の第1の反応ガス供給路7Aに対応するマニホールド構造5は、反応ガスチャンネル連通部材とする中空ピン8を経由して第1の反応ガス供給路7Aに連通している。中空ピン8は、図3の左側拡大図に示すように、ピン部8aと、フランジ8bと、フランジ8bの上部に環設されてシーリング部材であるO−リング9を嵌合するための凹環部8cを備える。また、凸部2a及び凹部2bが、シャワーヘッド本体部2における反応ガス供給路の途中であって、中空ピン8を収容する部位(中空ピン収納空間)に設けられている。従って、中空ピン8は、フランジ8bの外周部でシャワーヘッド本体部2の凸部2aに当接する。また、ピン部8aは、シールド板3の窪み部上面に当接するように中空ピン収納空間の底面から延出される。また、中空ピン8の頂面は、本体部2の凹部2bに嵌合された弾性部材であるC−リング9’の下面に配置された部材9”(O−リング抑え板)に当接している。この構成によれば、中空ピン8がO−リング9の弾性により上下微動可能にシャワーヘッド本体部2に収容されることになる。また、中空ピン8の底面は、シャワーヘッド本体部2の第1の反応ガス供給路7Aとシールド板3のマニホールド構造5を連通するように、シールド板3の上端面に当接することになる。更に、中空ピン8の上下微動により、シールド板3の反りに応じて中空ピン8とシールド板3のマニホールド構造5とを当接し続けることで、中空ピン8から反応ガスが漏れて他の反応ガスと混合することを防止可能となる。   In the first embodiment, the manifold structure 5 provided on the shield plate 3 and corresponding to the first reaction gas supply path 7A of the shower head main body 2 passes through a hollow pin 8 serving as a reaction gas channel communication member. Then, it communicates with the first reaction gas supply path 7A. As shown in the left side enlarged view of FIG. 3, the hollow pin 8 is a concave ring for fitting an O-ring 9 which is a ring portion provided on the pin portion 8 a, the flange 8 b, and the flange 8 b and is a sealing member. A portion 8c is provided. Further, the convex portion 2 a and the concave portion 2 b are provided in a portion (hollow pin housing space) that accommodates the hollow pin 8 in the middle of the reaction gas supply path in the shower head main body portion 2. Accordingly, the hollow pin 8 abuts on the convex portion 2a of the shower head main body 2 at the outer peripheral portion of the flange 8b. Moreover, the pin part 8a is extended from the bottom face of the hollow pin storage space so that it may contact | abut to the hollow part upper surface of the shield board 3. FIG. The top surface of the hollow pin 8 is in contact with a member 9 ″ (O-ring restraining plate) disposed on the lower surface of the C-ring 9 ′, which is an elastic member fitted in the recess 2b of the main body 2. According to this configuration, the hollow pin 8 is accommodated in the shower head main body 2 so as to be slightly movable up and down by the elasticity of the O-ring 9. The bottom surface of the hollow pin 8 is the shower head main body 2. The first reactive gas supply path 7A and the manifold structure 5 of the shield plate 3 are brought into contact with the upper end surface of the shield plate 3. Further, by the fine movement of the hollow pin 8, the shield plate 3 By keeping the hollow pin 8 and the manifold structure 5 of the shield plate 3 in contact with each other, it is possible to prevent the reaction gas from leaking from the hollow pin 8 and mixing with other reaction gas.

一方、第2の反応ガス供給路7Bは、反応ガスチャンネル連通部材を介さずに、シールド板3の窪み部6を経由してマニホールド構造5に第2の反応ガスを供給する。この構成によれば、反応ガスチャンネル連通部材の設置数量を減少し、製造コストを低減することができる。なお、上述した実施形態に限定されるものではなく、例えば、第1の反応ガス供給路7A及び第2の反応ガス供給路7Bを共に反応ガスチャンネル連通部材を介してシールド板3のマニホールド構造5に連通しても良い。   On the other hand, the second reaction gas supply path 7 </ b> B supplies the second reaction gas to the manifold structure 5 via the recess 6 of the shield plate 3 without using the reaction gas channel communication member. According to this structure, the installation quantity of the reactive gas channel communication member can be reduced, and the manufacturing cost can be reduced. Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment. For example, the first reaction gas supply path 7A and the second reaction gas supply path 7B are both connected to the manifold structure 5 of the shield plate 3 via the reaction gas channel communication member. You may communicate with

第1の実施形態によれば、シャワーヘッドを冷却する水冷機構(冷却水供給路7C)は、シールド板3側には設けられず、シャワーヘッド本体部2側のみに設けられる。これにより、シールド板3の温度は原料ガスが分解しない程度の温度にヒーターの輻射熱によって500℃以上に加熱される結果、成膜過程においてシールド板3の表面に形成された堆積物は、従来のようなシャワーヘッド表面から脱落しやすいクズ状物ではなく緻密な膜状物となる。また、この結果、クズ状物からのパーティクルが反応器内に浮遊して反応器の内壁や関連部材に付着する事態を避けることが可能となる。そうすると、その後、膜状の堆積物を付着したシールド板3を後述する洗浄チャンバーに移送し洗浄を行うことで、シールド板3上の堆積物を除去すればよくなる。   According to the first embodiment, the water cooling mechanism (cooling water supply path 7C) for cooling the shower head is not provided on the shield plate 3 side, and is provided only on the shower head main body 2 side. As a result, the temperature of the shield plate 3 is heated to 500 ° C. or more by the radiant heat of the heater to a temperature at which the source gas is not decomposed. As a result, the deposit formed on the surface of the shield plate 3 in the film formation process It becomes a dense film-like material rather than a crumb-like material that easily falls off from the showerhead surface. As a result, it is possible to avoid a situation in which particles from crushed particles float in the reactor and adhere to the inner wall of the reactor or related members. Then, the deposit on the shield plate 3 can be removed by transferring the shield plate 3 to which the film-like deposit is adhered to a cleaning chamber to be described later and performing cleaning.

図4は、第1の実施形態に係るシャワーヘッド1における反応ガスの流れを概略的に示す図である。図4に示す例では、反応ガスチャンネル連通部材を介してシールド板3のマニホールド構造(未図示)に連通する第1の反応ガス供給路7AにはIII族反応ガスが流通される。また、図4に示す例では、反応ガスチャンネル連通部材を介さずにシールド板3の窪み部6を介してマニホールド構造に連通する第2の反応ガス供給路7Bには、V族反応ガスが流通されている。また、シャワーヘッド本体部2を冷却するための冷却水供給路7Cはシャワーヘッド本体部2の下半部内に設けられている。   FIG. 4 is a diagram schematically showing the flow of the reaction gas in the shower head 1 according to the first embodiment. In the example shown in FIG. 4, the group III reaction gas is circulated through the first reaction gas supply path 7 </ b> A that communicates with the manifold structure (not shown) of the shield plate 3 through the reaction gas channel communication member. Further, in the example shown in FIG. 4, the group V reaction gas flows through the second reaction gas supply path 7 </ b> B communicating with the manifold structure via the recess 6 of the shield plate 3 without using the reaction gas channel communication member. Has been. A cooling water supply path 7 </ b> C for cooling the shower head main body 2 is provided in the lower half of the shower head main body 2.

上述したように、第1の実施形態によれば、シャワーヘッド1におけるシャワーヘッド本体部2にのみ冷却構造を設けて、シールド板3に冷却構造を設けない構成を採用することで、シールド板3の温度をシャワーヘッド本体部2の温度から独立して膜状物形成に適する500℃以上に維持させている。この場合、シールド板3の窪み部6を介してマニホールド構造に流入する反応ガス(図4の場合はV族反応ガスを指す)の温度によって、シールド板3に多少な温度変動をもたらすことがある。   As described above, according to the first embodiment, by adopting a configuration in which the cooling structure is provided only in the shower head main body 2 in the shower head 1 and the cooling structure is not provided in the shield plate 3, the shield plate 3. Is maintained at 500 ° C. or more suitable for forming a film-like material independently of the temperature of the shower head main body 2. In this case, the temperature of the reaction gas flowing into the manifold structure through the recess 6 of the shield plate 3 (referring to a group V reaction gas in the case of FIG. 4) may cause some temperature fluctuations in the shield plate 3. .

このことを踏まえ、シールド板3の温度変動を抑えると共に、所要に応じてシールド板3の温度を随時に調節することを目的とする構成を採用しても良い。例えば、図4に示す構成を用いて説明すると、第2の反応ガス供給路7Bの上流端に、第2の反応ガス供給路7Bを流通するV族反応ガスを所定温度に加熱するヒーターなどからなる予備加熱手段(未図示)を設けても良い。なお、V族反応ガスを加熱する所定温度とは、例えば、80〜120℃である。   In consideration of this, a configuration may be adopted in which the temperature fluctuation of the shield plate 3 is suppressed and the temperature of the shield plate 3 is adjusted as needed as required. For example, using the configuration shown in FIG. 4, a heater or the like that heats the group V reaction gas flowing through the second reaction gas supply path 7B to a predetermined temperature at the upstream end of the second reaction gas supply path 7B. A preheating means (not shown) may be provided. In addition, the predetermined temperature which heats a V group reaction gas is 80-120 degreeC, for example.

通常、シャワーヘッド内に流通するIII族反応ガスはやや高温に晒すと分解しやすい傾向になる。そこで、図4に示すシャワーヘッド1においては、第1の反応ガス供給路7Aを流通する第1の反応ガス(III族反応ガス)の温度を水冷構造により、例えば40℃に維持させている。   Usually, the group III reaction gas circulating in the shower head tends to be easily decomposed when exposed to a slightly high temperature. Therefore, in the shower head 1 shown in FIG. 4, the temperature of the first reaction gas (Group III reaction gas) flowing through the first reaction gas supply path 7A is maintained at, for example, 40 ° C. by the water cooling structure.

以下、図5〜図7を参照して、第1の実施形態におけるMOCVD反応器10について説明する。図5に示すように、MOCVD反応器10の主要構成としては、MOCVD反応器10内に上下動且つ回転可能なローター11と、ローター11上に設置され、基板を載置するためのサセプタ12と、サセプタ12の下面に設けられ、サセプタ12を介して基板を加熱するためのヒーター13と、MOCVD反応器10の内部上側にサセプタ12と対向するように配置されて、シャワーヘッド本体部2及びシャワーヘッド本体部2の底面全体を覆うように形成されたシールド板3を有するシャワーヘッド1とが含まれる。また、MOCVD反応器10の底部側面には、ガス排気用の排気口25が設けられる。ここで、ローター11およびサセプタ12は、相対的に回転可能に構成されていればよい。   Hereinafter, the MOCVD reactor 10 in the first embodiment will be described with reference to FIGS. As shown in FIG. 5, the main structure of the MOCVD reactor 10 includes a rotor 11 that can move up and down and rotate in the MOCVD reactor 10, and a susceptor 12 that is installed on the rotor 11 and on which a substrate is placed. The heater 13 for heating the substrate via the susceptor 12 is disposed on the lower surface of the susceptor 12, and is disposed on the upper side of the MOCVD reactor 10 so as to face the susceptor 12. A shower head 1 having a shield plate 3 formed so as to cover the entire bottom surface of the head main body 2 is included. Further, an exhaust port 25 for exhausting gas is provided on the bottom side surface of the MOCVD reactor 10. Here, the rotor 11 and the susceptor 12 may be configured to be relatively rotatable.

MOCVD反応器10では、成膜処理を行う際、基板を載せたサセプタ12をローター11の回転に連動して回転させると共に、MOCVD反応器10の内部上側に設けられたシャワーヘッド1のガス穴から基板へ成膜用ガスを供給することで、基板が成膜(例えば窒化ガリウム膜)される。   In the MOCVD reactor 10, when performing the film forming process, the susceptor 12 on which the substrate is placed is rotated in conjunction with the rotation of the rotor 11, and from the gas hole of the shower head 1 provided on the upper side inside the MOCVD reactor 10. By supplying a deposition gas to the substrate, the substrate is formed (for example, a gallium nitride film).

また、サセプタ12の下面にはヒーター13が設けられる。ヒーター13からの熱をサセプタ12を介して基板へ伝達することで、基板を成膜処理に適した温度に加熱することができる。   A heater 13 is provided on the lower surface of the susceptor 12. By transferring the heat from the heater 13 to the substrate via the susceptor 12, the substrate can be heated to a temperature suitable for the film formation process.

一旦、MOCVD反応器10での成膜処理が終了し、サセプタ12及びシャワーヘッド1に対し洗浄を行う場合について説明する。この場合、サセプタ12及びシャワーヘッド本体部2から取り外しされたシールド板3は、MOCVD反応器10の側面に設置された進出口19を経由して、後述の洗浄チャンバーに移送されて洗浄される。   A case where the film forming process in the MOCVD reactor 10 is once completed and the susceptor 12 and the shower head 1 are cleaned will be described. In this case, the shield plate 3 removed from the susceptor 12 and the shower head main body 2 is transferred to a cleaning chamber, which will be described later, and cleaned through an outlet 19 installed on the side surface of the MOCVD reactor 10.

また、シールド板3の着脱作業を容易にすることを目的として、図5に示すように、例えばローター11の側壁とMOCVD反応器10との間にライナー支持具21により支持されたライナー20を介設する。この結果、ライナー20の頂部20aを例えばシールド板3の下面周縁部に設けられた凹溝(未図示)に挿入することで、シールド板3をライナー20により支持可能となる。また、ライナー20を支持するライナー支持具21及びローター11は、いずれについても、未図示の駆動手段により矢印方向に上下動することができる。   Further, for the purpose of facilitating the attachment / detachment work of the shield plate 3, as shown in FIG. 5, for example, a liner 20 supported by a liner support 21 between the side wall of the rotor 11 and the MOCVD reactor 10 is interposed. Set up. As a result, the shield plate 3 can be supported by the liner 20 by inserting the top portion 20a of the liner 20 into, for example, a concave groove (not shown) provided in the lower peripheral edge portion of the shield plate 3. Further, the liner support 21 and the rotor 11 that support the liner 20 can be moved up and down in the direction of the arrow by a driving means (not shown).

図6に示す例では、シャワーヘッド本体部2からシールド板3を取り外す場合には、シャワーヘッド本体部2に取り付けられたシールド板3をシャワーヘッド本体部2から取り外し、未図示の駆動手段により、シールド板3を支持しているライナー20を、ライナー支持具21の下方移動に連動して下降させる。なお、この際、サセプタ12もローター11の下方移動に連動して下降する。そうすると、シールド板3は、MOCVD反応器10の側面にある進出口19の高さ位置まで移動し、後述の搬送チャンバーからの機械ロボットRに受け渡され、洗浄チャンバーへ移送される。   In the example shown in FIG. 6, when removing the shield plate 3 from the shower head main body 2, the shield plate 3 attached to the shower head main body 2 is removed from the shower head main body 2, and driving means (not shown) The liner 20 supporting the shield plate 3 is lowered in conjunction with the downward movement of the liner support 21. At this time, the susceptor 12 also descends in conjunction with the downward movement of the rotor 11. Then, the shield plate 3 moves to the height position of the outlet 19 on the side surface of the MOCVD reactor 10, is transferred to the mechanical robot R from the transfer chamber described later, and is transferred to the cleaning chamber.

次に、図7に示すように、未図示の駆動手段によりサセプタ12をローター11に連動して進出口19の高さ位置まで上昇させた後、機械ロボットRに受け渡されてMOCVD反応器10から洗浄チャンバーに移送する。   Next, as shown in FIG. 7, the susceptor 12 is raised to the height position of the outlet 19 in conjunction with the rotor 11 by a driving means (not shown), and then transferred to the mechanical robot R to be transferred to the MOCVD reactor 10. To the cleaning chamber.

洗浄処理されたシールド板3をシャワーヘッド本体部2へ装着しようとする場合について説明する。この場合、シールド板3が載置された機械ロボットRを進出口19からMOCVD反応器10内へ進入させ、機械ロボットRの下方に待機するライナー20を上昇させてシールド板3を受け渡す。その後、シールド板3をシャワーヘッド本体部2に装着するために必要な高さまでライナー20を上昇させ、未図示の結合手段にてシールド板3をシャワーヘッド本体部2に固定する。   The case where it is going to mount | wear the shower head main-body part 2 with the shield board 3 by which the washing process was carried out is demonstrated. In this case, the mechanical robot R on which the shield plate 3 is placed enters the MOCVD reactor 10 through the outlet 19, and the liner 20 waiting under the mechanical robot R is raised to deliver the shield plate 3. Thereafter, the liner 20 is raised to a height necessary for mounting the shield plate 3 on the shower head main body 2, and the shield plate 3 is fixed to the shower head main body 2 by a coupling means (not shown).

図8及び図9を参照して、第1の実施形態におけるMOCVD装置30について説明する。第1の実施形態におけるMOCVD装置30は、MOCVD反応器31から取り出したサセプタ12及びシャワーヘッドの一部の部材であるシールド板3に対し同時に化学洗浄を行える洗浄チャンバー32が増設されている。   With reference to FIG.8 and FIG.9, the MOCVD apparatus 30 in 1st Embodiment is demonstrated. In the MOCVD apparatus 30 according to the first embodiment, a cleaning chamber 32 that can simultaneously perform chemical cleaning on the susceptor 12 taken out from the MOCVD reactor 31 and the shield plate 3 that is a part of the shower head is added.

図8に示すように、第1の実施形態におけるMOCVD装置30は、MOCVD反応器31と、洗浄チャンバー32と、生産性を向上するために必要に応じて追加装着されたMOCVD反応器33と、ロードロックチャンバー34と、搬送チャンバー35とを備える。また、MOCVD装置30は、MOCVD反応器31、洗浄チャンバー32、MOCVD反応器33に夫々付設されたガス供給・用力モジュール31A、32A、33Aを備える。   As shown in FIG. 8, the MOCVD apparatus 30 according to the first embodiment includes an MOCVD reactor 31, a cleaning chamber 32, and an MOCVD reactor 33 that is additionally mounted as necessary to improve productivity. A load lock chamber 34 and a transfer chamber 35 are provided. The MOCVD apparatus 30 includes gas supply / utility modules 31A, 32A, and 33A attached to the MOCVD reactor 31, the cleaning chamber 32, and the MOCVD reactor 33, respectively.

ここで、ガス供給・用力モジュール31A、33Aは、夫々MOCVD反応器31、33へ反応ガスや水などを供給するものでもあり、MOCVD反応器31、33を駆動する電源装置でもある。また、ガス供給・用力モジュール32Aは、洗浄チャンバー32へ洗浄用ガスや水などを供給するものでもあり、洗浄チャンバー32を駆動する電源装置でもある。なお、MOCVD反応器31、33の具体的な構成については、上記説明したものと同一であるので、それに関する説明を省略する。   Here, the gas supply / utility modules 31A and 33A supply the reaction gas and water to the MOCVD reactors 31 and 33, respectively, and are also power supply devices for driving the MOCVD reactors 31 and 33. Further, the gas supply / utility module 32 </ b> A supplies a cleaning gas or water to the cleaning chamber 32, and is also a power supply device that drives the cleaning chamber 32. The specific configuration of the MOCVD reactors 31 and 33 is the same as that described above, and a description thereof will be omitted.

図9に示すように、第1の実施形態における洗浄チャンバー32は、サセプタ12を支持するサセプタ支持台42と、サセプタ支持台42の上面外周側に設置されたサセプタ支持具41と、シールド板3を支持するシールド板支持台45と、シールド板支持台45の上面外周側に設置されたシールド板支持具44と、所定の距離をおいて上下側に分設された加熱板46と、洗浄用ガスを洗浄チャンバー32内に導入する洗浄用ガス導入ライン47とを備える。また、洗浄チャンバー32は、側面に、機械ロボットRによりサセプタ12及びシールド板3を洗浄チャンバー32へ搬入出するための進出口48が設けられる。また、洗浄チャンバー32は、底部側面近傍に、排気口49が設けられる。   As shown in FIG. 9, the cleaning chamber 32 in the first embodiment includes a susceptor support 42 that supports the susceptor 12, a susceptor support 41 installed on the outer peripheral side of the upper surface of the susceptor support 42, and the shield plate 3. A shield plate support 45 that supports the shield plate, a shield plate support 44 installed on the outer periphery of the upper surface of the shield plate support 45, a heating plate 46 provided on the upper and lower sides at a predetermined distance, and a cleaning plate A cleaning gas introduction line 47 for introducing a gas into the cleaning chamber 32 is provided. Further, the cleaning chamber 32 is provided with an outlet 48 on the side surface for carrying the susceptor 12 and the shield plate 3 into and out of the cleaning chamber 32 by the mechanical robot R. Further, the cleaning chamber 32 is provided with an exhaust port 49 in the vicinity of the bottom side surface.

サセプタ支持具41及びシールド板支持具44は、外部から洗浄チャンバー32に進入したサセプタ12及びシールド板3を両加熱板46の間に架設することを目的として、下側の加熱板46全体を包括できる寸法で形成される。また、上側の加熱板46は、シールド板3を均一に加熱することを目的として、シールド板3の大きさに近いサイズを有することが好ましい。   The susceptor support 41 and the shield plate support 44 include the entire lower heating plate 46 for the purpose of constructing the susceptor 12 and the shield plate 3 that have entered the cleaning chamber 32 from the outside between the two heating plates 46. It is formed with possible dimensions. The upper heating plate 46 preferably has a size close to the size of the shield plate 3 for the purpose of uniformly heating the shield plate 3.

また、サセプタ12及びシールド板3を両加熱板46の間に架設する方法としては、サセプタ支持具41及びシールド板支持具44による支持方法がある。また、他にも、例えばクランプやハンギングなどの固持手段によりサセプタ12及びシールド板3のうち少なくとも1つを固持しても良い。この場合、サセプタ支持具41及びシールド板支持具44の設置は減少されたり、不要となったりする。   Further, as a method of installing the susceptor 12 and the shield plate 3 between the both heating plates 46, there is a support method using the susceptor support 41 and the shield plate support 44. In addition, for example, at least one of the susceptor 12 and the shield plate 3 may be held by holding means such as a clamp or hanging. In this case, the installation of the susceptor support 41 and the shield plate support 44 may be reduced or unnecessary.

第1の実施形態では、洗浄用ガス導入ライン47から洗浄チャンバー32に導入し、サセプタ12及びシールド板3を洗浄するための洗浄ガスとしては、水素ガス、若しくは塩素ガスと窒素ガスとの混合ガスが挙げられる。洗浄ガスとして水素ガスを用いる場合には、両加熱板46の間に配置されたサセプタ12及びシールド板3を1000℃以上に加熱し、この状態で2時間洗浄を行う。また、洗浄ガスとして塩素ガスと窒素ガスとの混合ガスを用いる場合には、塩素ガス0.6slm、窒素ガス1.0slmとの混合比率で該混合ガスを洗浄チャンバー32内に導入し、両加熱板46の間に配置されたサセプタ12及びシールド板3を800℃以上に加熱し、この状態で1時間洗浄を行う。   In the first embodiment, the cleaning gas introduced into the cleaning chamber 32 from the cleaning gas introduction line 47 and cleaning the susceptor 12 and the shield plate 3 is hydrogen gas or a mixed gas of chlorine gas and nitrogen gas. Is mentioned. When hydrogen gas is used as the cleaning gas, the susceptor 12 and the shield plate 3 disposed between the two heating plates 46 are heated to 1000 ° C. or higher, and cleaning is performed in this state for 2 hours. When a mixed gas of chlorine gas and nitrogen gas is used as the cleaning gas, the mixed gas is introduced into the cleaning chamber 32 in a mixing ratio of 0.6 slm of chlorine gas and 1.0 slm of nitrogen gas, and both heating is performed. The susceptor 12 and the shield plate 3 disposed between the plates 46 are heated to 800 ° C. or higher, and cleaning is performed in this state for 1 hour.

図8の説明に戻る。ロードロックチャンバー34は、基板をMOCVD装置30から移入出する以外にも、後述のような、成膜処理された基板を載置したサセプタを一時保管する役割も有している。   Returning to the description of FIG. In addition to transferring the substrate from the MOCVD apparatus 30, the load lock chamber 34 also has a role of temporarily storing a susceptor on which a film-formed substrate as described later is placed.

搬送チャンバー35は、ゲートバルブ(未図示)を介してMOCVD反応器31、33、洗浄チャンバー32及びロードロックチャンバー34とそれぞれ連結される。また、搬送チャンバー35は、内部に機械ロボットRが設けられる。機械ロボットRは、MOCVD反応器31、33と洗浄チャンバー32とロードロックチャンバー34との間でサセプタ12を搬送すると共に、MOCVD反応器31、33と洗浄チャンバー32との間でシールド板3を搬送する。   The transfer chamber 35 is connected to the MOCVD reactors 31 and 33, the cleaning chamber 32, and the load lock chamber 34 through gate valves (not shown). The transfer chamber 35 is provided with a mechanical robot R therein. The mechanical robot R transports the susceptor 12 between the MOCVD reactors 31 and 33, the cleaning chamber 32, and the load lock chamber 34, and transports the shield plate 3 between the MOCVD reactors 31 and 33 and the cleaning chamber 32. To do.

以下では、図8及び図9を参照して、第1の実施形態における基板成膜処理の経過及び基板成膜処理終了後の洗浄処理の経過を説明する。   Hereinafter, with reference to FIG. 8 and FIG. 9, the progress of the substrate film forming process and the cleaning process after the substrate film forming process in the first embodiment will be described.

まず、処理対象とする基板をサセプタ12に載せ、サセプタ12をロードロックチャンバー34内に搬入する。そして、ロードロックチャンバー34に対し真空吸引を行った後、搬送チャンバー35の機械ロボットRにより基板を乗せたサセプタ12をMOCVD反応器31(33)内に搬入し、所定温度まで昇温してから基板に対しMOCVD処理を行い始める。基板処理終了後、MOCVD反応器31(33)の室内温度を400℃以下に降温し、搬送チャンバー35の機械ロボットRにより処理後の基板を載せたサセプタ12をロードロックチャンバー34に移送し冷却を行う。   First, a substrate to be processed is placed on the susceptor 12, and the susceptor 12 is carried into the load lock chamber 34. After vacuum suction is performed on the load lock chamber 34, the susceptor 12 on which the substrate is placed is loaded into the MOCVD reactor 31 (33) by the mechanical robot R in the transfer chamber 35, and the temperature is raised to a predetermined temperature. The MOCVD process is started on the substrate. After the substrate processing is completed, the room temperature of the MOCVD reactor 31 (33) is lowered to 400 ° C. or lower, and the susceptor 12 on which the processed substrate is placed is transferred to the load lock chamber 34 by the mechanical robot R of the transfer chamber 35 and cooled. Do.

サセプタ12の冷却過程において、ロードロックチャンバー34内に待機している次の反応に使用する新しい基板を載せたその他のサセプタ12を、搬送チャンバー35の機械ロボットRによりMOCVD反応器31(33)内に搬入し、所定温度まで昇温してから新たなMOCVD処理を開始する。このような処理経過を繰り返して実行することで、複数の基板に対しMOCVD処理をすることができる。   In the cooling process of the susceptor 12, another susceptor 12 on which a new substrate used for the next reaction waiting in the load lock chamber 34 is placed in the MOCVD reactor 31 (33) by the mechanical robot R in the transfer chamber 35. The new MOCVD process is started after the temperature is raised to a predetermined temperature. The MOCVD process can be performed on a plurality of substrates by repeatedly executing such a process.

次に、第1の実施形態における洗浄処理の経過を説明する。上述の処理に続き、MOCVD反応器31(33)内での反応が終了した後、シールド板3をシャワーヘッドから解放させてMOCVD反応器31(33)の側面に設けられた進出口19の高さ位置まで降下させ、搬送チャンバー35の機械ロボットRに受け渡されて洗浄チャンバー32に移送する。そして、サセプタ12を進出口19の高さ位置まで上昇させ、機械ロボットRに受け渡してロードロックチャンバー34に移送し冷却する。冷却が終了した後、サセプタ12から処理後の基板を取り出し、サセプタ12のみをロードロックチャンバー34内に留置し、図8に示すように、搬送チャンバー35の機械ロボットRによりサセプタ12を洗浄チャンバー32に搬送する。   Next, the progress of the cleaning process in the first embodiment will be described. Following the above-described processing, after the reaction in the MOCVD reactor 31 (33) is completed, the shield plate 3 is released from the shower head, and the height of the outlet 19 provided on the side surface of the MOCVD reactor 31 (33) is increased. The position is lowered to the position, transferred to the mechanical robot R in the transfer chamber 35 and transferred to the cleaning chamber 32. Then, the susceptor 12 is raised to the height position of the advancement outlet 19, transferred to the mechanical robot R, transferred to the load lock chamber 34, and cooled. After the cooling is completed, the processed substrate is taken out from the susceptor 12, and only the susceptor 12 is left in the load lock chamber 34, and the susceptor 12 is cleaned by the mechanical robot R in the transfer chamber 35 as shown in FIG. Transport to.

サセプタ12とシールド板3が洗浄チャンバー32の両加熱板46の間に架設されたまま(図9参照)、洗浄チャンバー32の進出口48を閉鎖し、サセプタ12とシールド板3を所定温度に加熱し、洗浄用ガス導入ライン47を介して洗浄ガスを導入し所定時間の洗浄を行う。なお、洗浄ガスとは、例えば、水素ガス、あるいは、塩素ガスと窒素ガスの混合ガスである。   While the susceptor 12 and the shield plate 3 are installed between the two heating plates 46 of the cleaning chamber 32 (see FIG. 9), the outlet 48 of the cleaning chamber 32 is closed and the susceptor 12 and the shield plate 3 are heated to a predetermined temperature. Then, the cleaning gas is introduced through the cleaning gas introduction line 47 and cleaning is performed for a predetermined time. The cleaning gas is, for example, hydrogen gas or a mixed gas of chlorine gas and nitrogen gas.

洗浄後、洗浄チャンバー32側壁の進出口48をオープンし、搬送チャンバー35の機械ロボットRによりサセプタ12をロードロックチャンバーに移送して待機させる。又は、サセプタ12をシールド板3と共に洗浄チャンバー32内で一時保管され、MOCVD反応器31の新しい基板に対するMOCVD処理終了後、再び機械ロボットRによりMOCVD反応室31内に搬入し装着される。   After the cleaning, the outlet 48 on the side wall of the cleaning chamber 32 is opened, and the susceptor 12 is transferred to the load lock chamber by the mechanical robot R in the transfer chamber 35 and waits. Alternatively, the susceptor 12 is temporarily stored in the cleaning chamber 32 together with the shield plate 3, and after completion of the MOCVD process for the new substrate of the MOCVD reactor 31, it is again carried into the MOCVD reaction chamber 31 by the mechanical robot R and attached.

(第2の実施形態)
以上、第1の実施形態におけるシャワーヘッド、MOCVD反応器及びMOCVD装置について図面を参照しながら具体的に説明したが、これに限定されるものではない。すなわち、上述した第1の実施形態は、一例にすぎず、本発明の趣旨の範囲で適宜に変形、追加、修正を行っても良い。
(Second Embodiment)
The shower head, the MOCVD reactor, and the MOCVD apparatus in the first embodiment have been specifically described above with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to this. That is, the first embodiment described above is merely an example, and modifications, additions, and modifications may be appropriately made within the scope of the present invention.

例えば、成膜反応に3種類の反応ガスが用いられる場合、シャワーヘッド本体部に第3の反応ガス供給路を増設すると共に、第1〜第3の反応ガス供給路のうち2以上の反応ガス供給路を反応ガスチャンネル連通部材を経由してシールド板のマニホールド構造に連通するようにシャワーヘッドを構成しても良い。   For example, when three types of reaction gases are used for the film formation reaction, a third reaction gas supply path is added to the shower head main body, and two or more reaction gases are included in the first to third reaction gas supply paths. The shower head may be configured so that the supply path communicates with the manifold structure of the shield plate via the reactive gas channel communicating member.

また、例えば、上述した実施形態では、シールド板のマニホールド構造についてガスチャンネル連通室が十字形状体に成形された例を挙げたが、これに限定されるものではない。例えば、反応ガスを均一に供給する目的を達成できれば、ガスチャンネル連通室をその他の形状に成形させても良く、また、ガスチャンネル連通室同士をマトリックス状以外のパタンで配置することも可能である。   Further, for example, in the above-described embodiment, the example in which the gas channel communication chamber is formed into a cross-shaped body with respect to the manifold structure of the shield plate has been described, but the present invention is not limited to this. For example, as long as the purpose of uniformly supplying the reaction gas can be achieved, the gas channel communication chambers may be formed in other shapes, and the gas channel communication chambers may be arranged in a pattern other than a matrix shape. .

また、例えば、上述した実施形態では、MOCVD反応器におけるシールド板を上下動させる手段についてライナーが挙げられたが、これに限定されるものではない。例えば、シャワーヘッド本体上にシールド板を上下動するための吊り下げ機構を設置することも可能である。この場合、ライナーの設置は不要となる。   Further, for example, in the above-described embodiment, the liner is mentioned as means for moving the shield plate up and down in the MOCVD reactor, but the present invention is not limited to this. For example, a hanging mechanism for moving the shield plate up and down can be installed on the shower head body. In this case, it is not necessary to install a liner.

また、例えば、上述した実施形態では、MOCVD装置が、洗浄チャンバーの内部に加熱板を有する場合について説明したが、これに限定されるものではない。例えば、MOCVD装置は、遠赤外線加熱、マイクロ波加熱などにより被洗浄物を加熱することも可能である。この場合、洗浄チャンバー内部の構造をより簡素化できる。   For example, in the above-described embodiment, the MOCVD apparatus has a heating plate inside the cleaning chamber. However, the present invention is not limited to this. For example, the MOCVD apparatus can heat an object to be cleaned by far infrared heating, microwave heating, or the like. In this case, the structure inside the cleaning chamber can be further simplified.

また、例えば、図8に示す例では、MOCVD反応器及び洗浄チャンバーの搬送チャンバーに対する接続位置の一例を示したが、これに限定されるものではない。   For example, in the example shown in FIG. 8, although an example of the connection position of the MOCVD reactor and the cleaning chamber to the transfer chamber is shown, the present invention is not limited to this.

また、例えば、洗浄チャンバーは必ずしもロードロックチャンバーに連結する必要はなく、別構成でオペレータが洗浄物を搬送して洗浄しても良い。   In addition, for example, the cleaning chamber is not necessarily connected to the load lock chamber, and the operator may transport and clean the cleaning object with another configuration.

図10は、別の実施形態におけるシャワーヘッド構造の一例を示す断面図である。図10に示す例では、MOCVD装置における反応器に用いられているシャワーヘッド100は、シャワーヘッド100の底面にガス穴が均一に配置される。また、シャワーヘッド100は、複数種類の反応ガスを反応器内に導入することを目的として、例えば、上部から順番に、III族反応ガスを導入するための1層目であるIII族反応ガス導入層110と、V族反応ガスを導入するための2層目であるV族反応ガス導入層120と、シャワーヘッド表面を冷却するための3層目である冷却水(冷媒)流通層130とが設置される。ここで、シャワーヘッド100には、3層構造物の隔壁に所定数量の開口が穿設され、更に、例えば、溶接加工又は放電加工(EDM)により所定数量(通常は千本以上)のガス管が開口に固設される。   FIG. 10 is a cross-sectional view showing an example of a showerhead structure in another embodiment. In the example shown in FIG. 10, the shower head 100 used in the reactor in the MOCVD apparatus has gas holes arranged uniformly on the bottom surface of the shower head 100. Moreover, the shower head 100 introduces a group III reaction gas which is the first layer for introducing a group III reaction gas, for example, in order from the top in order to introduce a plurality of types of reaction gases into the reactor. A layer 110, a group V reaction gas introduction layer 120 which is a second layer for introducing a group V reaction gas, and a cooling water (refrigerant) circulation layer 130 which is a third layer for cooling the showerhead surface. Installed. Here, the shower head 100 is provided with a predetermined number of openings in the partition wall of the three-layer structure, and further, for example, a predetermined number (usually 1000 or more) of gas pipes are formed by welding or electric discharge machining (EDM). Fixed to the opening.

図10に示すように、シャワーヘッド全体を水冷機構により降温させ、シャワーヘッド表面にクズ性質の沈積物を付着させるシャワーヘッド100と比較して、上述した実施形態によれば、シールド板に水冷機構を設けず、シールド板表面に多量の膜状沈積物を有意に付着させ、その後洗浄チャンバーで該膜状沈積物を除去する手法を採用する。この結果、クズ性質の堆積物がシャワーヘッド表面から脱落して浮遊物の形で反応器内に浮遊し反応器の内壁や係る部材に付着してしまう事態を避けることができる。   As shown in FIG. 10, compared to the shower head 100 in which the temperature of the entire shower head is lowered by a water cooling mechanism and deposits of debris are attached to the surface of the shower head, according to the above-described embodiment, the water cooling mechanism is attached to the shield plate. A method is adopted in which a large amount of film deposit is significantly adhered to the shield plate surface, and then the film deposit is removed in a cleaning chamber. As a result, it is possible to avoid a situation in which debris deposits fall off from the surface of the shower head, float in the reactor in the form of suspended matter, and adhere to the inner wall of the reactor or the member.

また、上述した実施形態におけるシャワーヘッドによれば、シャワーヘッド本体の下方に1対nのマニホールド構造を有するシールド板を設置する。この結果、シャワーヘッド本体部に開設すべきガスチャンネル数を元来の1/n倍にすることができる。また、この結果、シャワーヘッドに対する加工は機械加工及び通常の溶接により達成できる。また、この結果、製造コストは従来の半分以下になり、しかも加工品の不良率及び納期を短縮することができる。   Moreover, according to the shower head in the above-described embodiment, a shield plate having a 1: n manifold structure is installed below the shower head body. As a result, the number of gas channels to be opened in the shower head main body can be reduced to 1 / n times the original number. As a result, the processing for the shower head can be achieved by machining and ordinary welding. As a result, the manufacturing cost is reduced to less than half of the conventional cost, and the defect rate and delivery date of the processed product can be shortened.

また、従来、MOCVD反応器におけるシャワーヘッドに対するクリーニングは、毎回の成膜プロセス終了後に、反応器を降温させ基板を回收した後、マニュアル方式(グローブボックス)でシャワーヘッドをクリーニング、ベーキングした後再度クリーニングし、その後基板を載せてプロセスを開始していた。これに対して、上述した実施形態におけるMOCVD装置によれば、洗浄チャンバーが増設されている。この結果、反応チャンバーの温度を機械ロボットが搬送できる温度(約400℃)まで降温できれば次のプロセスに入ることができ、MOCVD装置の稼動に不必要な待機時間を大幅に短縮できる(例えば3時間を節約できる)ので、装置のスループットの向上を図ることが可能となる。また、従来、MOCVD反応器におけるシャワーヘッドに対するクリーニングは、高温下で行われているため、シャワーヘッドに取り付けられたゴム材のシーリング部品(例えばO−リング)が高温により劣化しやすくなる。これに対して、上述した実施形態におけるMOCVD装置によれば、シーリング部品を頻繁に交換する必要がなく、メンテナンス費用及びメンテナンス頻度を低減させることができる。   Conventionally, the cleaning of the shower head in the MOCVD reactor is performed after the film formation process is completed, the temperature of the reactor is lowered, the substrate is collected, the shower head is cleaned and baked by a manual method (glove box), and then cleaned again. Then, the substrate was placed and the process was started. On the other hand, according to the MOCVD apparatus in the above-described embodiment, the cleaning chamber is added. As a result, if the temperature of the reaction chamber can be lowered to a temperature that can be transferred by the mechanical robot (about 400 ° C.), the next process can be started, and standby time unnecessary for the operation of the MOCVD apparatus can be greatly shortened (for example, 3 hours). Therefore, the throughput of the apparatus can be improved. Conventionally, cleaning of the showerhead in the MOCVD reactor is performed at a high temperature, so that a rubber sealing part (for example, an O-ring) attached to the showerhead is likely to deteriorate due to the high temperature. On the other hand, according to the MOCVD apparatus in the above-described embodiment, it is not necessary to frequently replace sealing parts, and maintenance costs and maintenance frequency can be reduced.

1 シャワーヘッド
2 シャワーヘッド本体部
2a 凸部
2b 凹部
3 シールド板
4 反応ガス供給路
5 マニホールド構造
5a 上部ガスチャンネル
5b ガスチャンネル連通室
5c 下部ガスチャンネル
5d キャップ部材
7A 第1の反応ガス供給路
7B 第2の反応ガス供給路
7C 冷却水供給路
8 中空ピン
8a ピン部
8b フランジ
8c 凹環部
8 反応ガスチャンネル連通部材
9 O−リング
10 MOCVD反応器
11 ローター
12 サセプタ
13 ヒーター
19 進出口
20 ライナー
21 ライナー支持具
25 排気口
30 MOCVD装置
31 MOCVD反応器
32 洗浄チャンバー
32A ガス供給・用力モジュール
33 MOCVD反応器
34 ロードロックチャンバー
35 搬送チャンバー
41 サセプタ支持具
42 サセプタ支持台
44 シールド板支持具
45 シールド板支持台
46 加熱板
47 洗浄用ガス導入ライン
48 進出口
49 排気口
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Shower head 2 Shower head main-body part 2a Convex part 2b Concave 3 Shield plate 4 Reaction gas supply path 5 Manifold structure 5a Upper gas channel 5b Gas channel communication chamber 5c Lower gas channel 5d Cap member 7A 1st reaction gas supply path 7B 1st Reaction gas supply path 7C Cooling water supply path 8 Hollow pin 8a Pin portion 8b Flange 8c Concave ring portion 8 Reactive gas channel communicating member 9 O-ring 10 MOCVD reactor 11 Rotor 12 Susceptor 13 Heater 19 Advance outlet 20 Liner 21 Liner Support tool 25 Exhaust port 30 MOCVD apparatus 31 MOCVD reactor 32 Cleaning chamber 32A Gas supply / utility module 33 MOCVD reactor 34 Load lock chamber 35 Transfer chamber 41 Susceptor support 42 Susceptor support base 44 Shield plate support 45 shield plate support 46 heating plate 47 cleaning gas introduction line 48 inlet and outlet ports 49 outlet

Claims (18)

厚さ方向に貫通する複数の反応ガス供給路が形成され、且つ冷却構造を有するシャワーヘッド本体部と、
前記シャワーヘッド本体部に着脱可能に取り付けられ、前記シャワーヘッド本体部における各反応ガス供給路の形成位置に対応する部位に、厚さ方向に貫通する1対n(nは2以上の自然数)のマニホールド構造が形成され、且つ冷却構造を有さないシールド板とを備え、
前記マニホールド構造は、1本の上部ガスチャンネルと、n本の下部ガスチャンネルと、前記上部ガスチャンネルと前記下部ガスチャンネルとの間に介設され、前記上部ガスチャンネルと前記下部ガスチャンネルとを連通するためのガスチャンネル連通室とを有し、
前記ガスチャンネル連通室と前記下部ガスチャンネルとが前記冷却構造を有さない前記シールド板に設けられることを特徴とするMOCVD反応器用シャワーヘッド。
A plurality of reaction gas supply passages penetrating in the thickness direction and having a cooling structure;
A pair of n (n is a natural number of 2 or more) penetrating in the thickness direction in a portion corresponding to the formation position of each reaction gas supply path in the shower head main body portion, detachably attached to the shower head main body A shield plate having a manifold structure and no cooling structure;
The manifold structure is interposed between one upper gas channel, n lower gas channels, the upper gas channel and the lower gas channel, and communicates the upper gas channel with the lower gas channel. have a gas channel communicating chamber for,
The MOCVD reactor shower head, wherein the gas channel communication chamber and the lower gas channel are provided on the shield plate not having the cooling structure .
厚さ方向に貫通する複数の反応ガス供給路が形成され、且つ冷却構造を有するシャワーヘッド本体部と、
前記シャワーヘッド本体部に着脱可能に取り付けられ、前記シャワーヘッド本体部における各反応ガス供給路の形成位置に対応する部位に、厚さ方向に貫通する1対n(nは2以上の自然数)のマニホールド構造が形成され、且つ冷却構造を有さないシールド板とを備え、
前記シャワーヘッド本体部の反応ガス供給路は、相互に交錯配列するように形成された第1の反応ガス供給路及び第2の反応ガス供給路を有し、
前記シールド板は、前記シャワーヘッド本体部に対面する面に、マニホールド構造領域全体を包括するように凹設された窪み部を有し、
前記シャワーヘッド本体部における前記第1の反応ガス供給路と前記第2の反応ガス供給路の少なくとも1つは、反応ガスチャンネル連通部材を介して前記シールド板のマニホールド構造と連通していることを特徴とするMOCVD反応器用シャワーヘッド。
A plurality of reaction gas supply passages penetrating in the thickness direction and having a cooling structure;
A pair of n (n is a natural number of 2 or more) penetrating in the thickness direction in a portion corresponding to the formation position of each reaction gas supply path in the shower head main body portion, detachably attached to the shower head main body A shield plate having a manifold structure and no cooling structure;
The reaction gas supply path of the showerhead main body has a first reaction gas supply path and a second reaction gas supply path formed so as to cross each other.
The shield plate has a recessed portion that is recessed so as to cover the entire manifold structure region on the surface facing the shower head main body portion,
At least one of the first reaction gas supply path and the second reaction gas supply path in the shower head main body portion communicates with the manifold structure of the shield plate through a reaction gas channel communication member. Shower head for MOCVD reactor.
前記シャワーヘッド本体部の反応ガス供給路は、相互に交錯配列するように形成された第1の反応ガス供給路及び第2の反応ガス供給路を有することを特徴とする請求項1記載のMOCVD反応器用シャワーヘッド。   2. The MOCVD according to claim 1, wherein the reaction gas supply path of the shower head main body includes a first reaction gas supply path and a second reaction gas supply path formed so as to cross each other. Shower head for reactor. 前記マニホールド構造は、n本の下部ガスチャンネルと、前記下部ガスチャンネルと前記シャワーヘッド本体部との間に介設され、前記下部ガスチャンネルと前記シャワーヘッド本体部の前記反応ガス供給路を連通するためのガスチャンネル連通室とを有することを特徴とする請求項1又は2記載のMOCVD反応器用シャワーヘッド。   The manifold structure is interposed between n lower gas channels, the lower gas channel and the shower head main body, and communicates the lower gas channel and the reaction gas supply path of the shower head main body. A shower head for a MOCVD reactor according to claim 1 or 2, further comprising a gas channel communication chamber. 前記反応ガスチャンネル連通部材を介さずに前記シールド板のマニホールド構造に直接連通する反応ガス供給路は、前記シールド板の前記窪み部を介して前記マニホールド構造に連通することを特徴とする請求項2記載のMOCVD反応器用シャワーヘッド。   3. The reaction gas supply path that communicates directly with the manifold structure of the shield plate without going through the reaction gas channel communication member communicates with the manifold structure through the recess of the shield plate. The showerhead for MOCVD reactor as described. 前記シールド板の表面温度は、500℃以上に維持されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載のMOCVD反応器用シャワーヘッド。   The surface temperature of the said shield board is maintained at 500 degreeC or more, The showerhead for MOCVD reactor of any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned. 前記反応ガスチャンネル連通部材を介さずに前記シールド板のマニホールド構造に直接連通する反応ガス供給路の上流端に、反応ガスを所定温度までに加熱する予備加熱手段が設けられることを特徴とする請求項5記載のMOCVD反応器用シャワーヘッド。   A preheating means for heating the reaction gas to a predetermined temperature is provided at the upstream end of the reaction gas supply path that directly communicates with the manifold structure of the shield plate without using the reaction gas channel communication member. Item 6. A showerhead for an MOCVD reactor according to Item 5. 前記反応ガスチャンネル連通部材を介して前記シールド板のマニホールド構造と連通する反応ガス供給路に流通する反応ガスは、熱により分解しない温度に維持されていることを特徴とする請求項2記載のMOCVD反応器用シャワーヘッド。   3. The MOCVD according to claim 2, wherein the reaction gas flowing through the reaction gas supply path communicating with the manifold structure of the shield plate through the reaction gas channel communication member is maintained at a temperature that does not decompose by heat. Shower head for reactor. 前記反応ガスチャンネル連通部材は、ピン部とフランジ部を有する中空ピンであり、該中空ピンは、前記フランジ部の底面が前記シャワーヘッド本体部における中空ピン収納空間の底面凸部に当接するように該中空ピン収納空間内に収納され、前記ピン部が、前記中空ピンの上側に設けられた弾性部材により上下微動可能に前記シールド板の前記窪み部の上面に当接するように前記中空ピン収納空間の底面から延出されたことを特徴とする請求項2記載のMOCVD反応器用シャワーヘッド。   The reactive gas channel communication member is a hollow pin having a pin portion and a flange portion, and the hollow pin is configured such that a bottom surface of the flange portion abuts a bottom surface convex portion of a hollow pin housing space in the shower head main body portion. The hollow pin housing space is housed in the hollow pin housing space, and the pin portion is in contact with the upper surface of the hollow portion of the shield plate so as to be finely movable by an elastic member provided on the upper side of the hollow pin. The MOCVD reactor shower head according to claim 2, wherein the shower head extends from the bottom surface of the MOCVD reactor. 厚さ方向に貫通する複数の反応ガス供給路が形成され、且つ冷却構造を有するシャワーヘッド本体部と、
前記シャワーヘッド本体部に着脱可能に取り付けられ、前記シャワーヘッド本体部における各反応ガス供給路の形成位置に対応する部位に、厚さ方向に貫通する1対n(nは2以上の自然数)のマニホールド構造が形成され、且つ冷却構造を有さないシールド板とを備え、
前記マニホールド構造は、1本の上部ガスチャンネルと、n本の下部ガスチャンネルと、前記上部ガスチャンネルと前記下部ガスチャンネルとの間に介設され、前記上部ガスチャンネルと前記下部ガスチャンネルとを連通するためのガスチャンネル連通室とを有し、
前記マニホールド構造の前記ガスチャンネル連通室は、十字形状体に形成され、
前記下部ガスチャンネルは、前記十字形状体の底面の四つの端部及び中心部からシールド板の表面に延設され、
前記シャワーヘッド本体部から第1の反応ガスが供給されるガスチャンネル連通室と、第2の反応ガスが供給されるガスチャンネル連通室とは、相互にマトリックス状に配置されていることを特徴とするMOCVD反応器用シャワーヘッド。
A plurality of reaction gas supply passages penetrating in the thickness direction and having a cooling structure;
A pair of n (n is a natural number of 2 or more) penetrating in the thickness direction in a portion corresponding to the formation position of each reaction gas supply path in the shower head main body portion, detachably attached to the shower head main body A shield plate having a manifold structure and no cooling structure;
The manifold structure is interposed between one upper gas channel, n lower gas channels, the upper gas channel and the lower gas channel, and communicates the upper gas channel with the lower gas channel. A gas channel communication chamber for
The gas channel communication chamber of the manifold structure is formed in a cross-shaped body,
The lower gas channel extends from the four ends and the center of the bottom surface of the cross-shaped body to the surface of the shield plate,
The gas channel communication chamber to which the first reaction gas is supplied from the shower head main body and the gas channel communication chamber to which the second reaction gas is supplied are arranged in a matrix. Shower head for MOCVD reactor.
上下動及び回転可能なローターと、前記ローター上に載せられ、基板を載置するためのサセプタと、前記サセプタの下面に設けられ、前記サセプタを介して前記基板を加熱するためのヒーターと、反応器内部の上側に設けられ、前記サセプタと対向するように配置されたシャワーヘッドを備えるMOCVD反応器において、
前記シャワーヘッドは、請求項1〜3、10のいずれか1項記載のシャワーヘッドであることを特徴とするMOCVD反応器。
A rotor capable of moving up and down and rotating; a susceptor mounted on the rotor for mounting a substrate; a heater provided on a lower surface of the susceptor for heating the substrate through the susceptor; and a reaction In a MOCVD reactor comprising a shower head provided on the upper side inside the reactor and arranged to face the susceptor,
The MOCVD reactor according to claim 1 , wherein the shower head is the shower head according to claim 1.
前記ローターの側壁と前記MOCVD反応器の内壁との間に介設され、前記シールド板の下面周縁部を頂部で支持するライナーと、前記ライナーを下方から支持する上下動可能なライナー支持具とを有することを特徴とする請求項11記載のMOCVD反応器。   A liner interposed between a side wall of the rotor and an inner wall of the MOCVD reactor, and supporting a lower peripheral edge of the shield plate at the top; and a liner support that can move up and down to support the liner from below. The MOCVD reactor according to claim 11, comprising: 前記シールド板の下面周縁部には、前記ライナーの頂部を嵌合するための凹溝が形成されたことを特徴とする請求項12記載のMOCVD反応器。   13. The MOCVD reactor according to claim 12, wherein a concave groove for fitting the top of the liner is formed at a peripheral edge of the lower surface of the shield plate. 請求項11〜13のいずれか1項に記載のMOCVD反応器と、
被洗浄物を支持するための被洗浄物支持台と、被洗浄物を加熱するための加熱板と、洗浄用ガスを洗浄チャンバー内に導入するための洗浄用ガス導入ラインを含む洗浄チャンバーと、
ロードロックチャンバーと、
前記MOCVD反応器、前記洗浄チャンバー及び前記ロードロックチャンバーとに連結され、機械ロボットが内部に設置される搬送チャンバーと
を備えることを特徴とするMOCVD装置。
The MOCVD reactor according to any one of claims 11 to 13,
A cleaning chamber including a cleaning object support for supporting the cleaning object, a heating plate for heating the cleaning object, and a cleaning gas introduction line for introducing a cleaning gas into the cleaning chamber;
A load lock chamber;
An MOCVD apparatus, comprising: a transfer chamber connected to the MOCVD reactor, the cleaning chamber, and the load lock chamber, and having a mechanical robot installed therein.
前記被洗浄物は、サセプタ及びシールド板であって、
前記被洗浄物支持台は、上面の内外側に分設された内側支持具と外側支持具により前記サセプタと前記シールド板を夫々前記両加熱板の間に架設していることを特徴とする請求項14記載のMOCVD装置。
The objects to be cleaned are a susceptor and a shield plate,
The susceptor and the shield plate are respectively installed between the heating plates by an inner support member and an outer support member provided on the inner and outer sides of the upper surface of the cleaning object support base. The MOCVD apparatus described.
MOCVD反応器、洗浄チャンバー、及び搬送チャンバーを備えるMOCVD装置における、該MOCVD反応器が有する請求項1〜3、10のいずれか1項に記載のシャワーヘッド部材及びサセプタに対し化学洗浄を行う洗浄方法であって、
前記MOCVD反応器によるMOCVD処理が終了した後、前記MOCVD反応器における前記サセプタ及び前記シャワーヘッド部材を前記搬送チャンバーを介して前記洗浄チャンバーに移送するステップと、
洗浄ガスを用いて前記サセプタ及び前記シャワーヘッド部材に対し洗浄を行うステップと
を有することを特徴とする洗浄方法。
MOCVD reactor, cleaning chamber, and a cleaning method carried out in the MOCVD apparatus comprising a transfer chamber, according to claim 1 to 3 wherein the MOCVD reactor has a chemical cleaning to the shower head member and the susceptor according to any one of 10 Because
After the MOCVD process by the MOCVD reactor is completed, transferring the susceptor and the showerhead member in the MOCVD reactor to the cleaning chamber through the transfer chamber;
And a step of cleaning the susceptor and the showerhead member using a cleaning gas.
前記洗浄ガスは水素ガスであって、
前記サセプタ及び前記シャワーヘッド部材は、1000℃以上に加熱されることを特徴とする請求項16記載の洗浄方法。
The cleaning gas is hydrogen gas,
The cleaning method according to claim 16, wherein the susceptor and the shower head member are heated to 1000 ° C. or more.
前記洗浄ガスは、塩素ガスと窒素ガスとの混合ガスであって、
前記サセプタ及び前記シャワーヘッド部材は、800℃以上に加熱されることを特徴とする請求項16記載の洗浄方法。
The cleaning gas is a mixed gas of chlorine gas and nitrogen gas,
The cleaning method according to claim 16, wherein the susceptor and the shower head member are heated to 800 ° C. or more.
JP2013028164A 2012-02-17 2013-02-15 Shower head for MOCVD reactor, MOCVD reactor, MOCVD apparatus and cleaning method Expired - Fee Related JP5575286B2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW101105330 2012-02-17
TW101105330A TW201335418A (en) 2012-02-17 2012-02-17 Spray head for MOCVD reactor, MOCVD reactor, MOCVD device and cleaning method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013172153A JP2013172153A (en) 2013-09-02
JP5575286B2 true JP5575286B2 (en) 2014-08-20

Family

ID=49265876

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013028164A Expired - Fee Related JP5575286B2 (en) 2012-02-17 2013-02-15 Shower head for MOCVD reactor, MOCVD reactor, MOCVD apparatus and cleaning method

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP5575286B2 (en)
TW (1) TW201335418A (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6123688B2 (en) * 2014-01-29 2017-05-10 東京エレクトロン株式会社 Deposition equipment
JP6718730B2 (en) * 2016-04-19 2020-07-08 株式会社ニューフレアテクノロジー Shower plate, vapor phase growth apparatus and vapor phase growth method
JP6352993B2 (en) 2016-08-10 2018-07-04 株式会社東芝 Flow path structure and processing apparatus
CN112753286B (en) * 2018-10-26 2023-09-05 株式会社富士 Plasma generating device
CN111455352A (en) * 2020-05-15 2020-07-28 深圳市纳设智能装备有限公司 Heatable honeycomb formula multichannel inlet structure
EP4261870A1 (en) * 2020-12-14 2023-10-18 NuFlare Technology, Inc. Vapor-phase growth apparatus and vapor-phase growth method

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6302964B1 (en) * 1998-06-16 2001-10-16 Applied Materials, Inc. One-piece dual gas faceplate for a showerhead in a semiconductor wafer processing system
JP2006004686A (en) * 2004-06-16 2006-01-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd Plasma processing method and device
KR101309334B1 (en) * 2004-08-02 2013-09-16 비코 인스트루먼츠 인코포레이티드 Multi-cas distribution injector for chemical vapor deposition reactors
JP5034594B2 (en) * 2007-03-27 2012-09-26 東京エレクトロン株式会社 Film forming apparatus, film forming method, and storage medium

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013172153A (en) 2013-09-02
TW201335418A (en) 2013-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5575286B2 (en) Shower head for MOCVD reactor, MOCVD reactor, MOCVD apparatus and cleaning method
TWI402373B (en) A CVD reactor that can replace the reaction chamber roof
TWI385274B (en) Vapor-phase growth apparatus and vapor-phase growth method
US6916412B2 (en) Adaptable electrochemical processing chamber
KR100446485B1 (en) Processing chamber for atomic layer deposition processes
US20070028838A1 (en) Gas manifold valve cluster
JP6158025B2 (en) Film forming apparatus and film forming method
KR20090005387A (en) Cvd reactor having a process chamber lid which can be lowered
TWI407494B (en) Apparatus for semiconductor processing
WO2002004887A1 (en) Methods and apparatus for processing microelectronic workpieces using metrology
JP5042966B2 (en) Tray, vapor phase growth apparatus and vapor phase growth method
TWI484555B (en) Substrate processing apparatus and semiconductor devices manufacturing method
TWI621178B (en) Gas supply head, gas supply mechanism, and substrate processing apparatus
US10718051B2 (en) Methods for chemical vapor deposition (CVD) in a movable liner assembly
KR101356537B1 (en) Substrate processing apparatus
KR200486487Y1 (en) Indexed gas jet injector for substrate processing system
JP4403882B2 (en) Deposition system
KR101248918B1 (en) Gas supplying method
KR20110116912A (en) Coating apparatus for susceptor and coating method for susceptor
KR20090108998A (en) Separable blade and slot valve comprising the same
KR20110027312A (en) Appratus for treating substrate including substrate placing means and method for treating substrate using the same
JP7564338B2 (en) Apparatus and method for gas phase particle reduction - Patents.com
JP4686319B2 (en) CVD equipment
JPH08139028A (en) Vertical vapor growth equipment
KR101300119B1 (en) Shower head and chemical vapor deposition device having the same

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20131218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140107

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140318

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140513

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140603

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140701

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5575286

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees