JP5573712B2 - 圧電特性の測定装置および測定方法 - Google Patents
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しかしながらフィルム断面の面積は小さいため、照射光を照射して変形量を測定することは容易でない。その上、フィルム断面の平滑度や光軸に対する垂直度が高くなければ反射光が散乱してしまうため、高精度な圧電特性の測定は難しかった。
なお、可動板の位置変化の検出方法としては、光学式測位法や、うず電流式や静電容量式の変位センサを用いる方法など、様々な検出方法を用いることができる。
仮に圧電体試料が幅方向の全長に亘って試料固定部に固定されていれば、圧電体試料の幅方向の変位が拘束され、圧電体試料の長さ方向の変形量が影響を受けて圧電変形や圧電特性の測定精度は低下してしまう。そこで、ピン部を用いて圧電体試料を狭持することにより、圧電体試料の幅方向の変位が拘束されることを抑制し、圧電変形や圧電特性の測定精度を高められる。
なお、圧電テンソルd31を有するフィルム状の圧電材料であれば、延伸方向から0°の角度を長手方向として切り出すことで、長矩形片が長手方向に伸縮するように変形し、その長手方向の変形量からd31を導出することができる。
本発明に係る圧電特性の測定方法は、圧電体試料の下端部近傍を固定して前記圧電体試料の上端部側を自立させる第一のステップと、前記第一のステップで自立させた前記圧電体試料の上端部を一つの支持位置として可動板を載置する第二のステップと、前記圧電体試料を圧電変形させ、前記可動板の上下方向の位置変化を検出し、前記可動板の位置変化に基づいて前記圧電体試料の圧電特性を測定する第三のステップと、を有する。
図2は、本発明の第1の実施形態に係る測定装置の構成を例示する模式図である。
測定装置1は、発光部2、ファイバーヘッド3、測光部4、演算制御部5、電圧印加部6、および、試料保持構造10を備え、圧電体試料50の圧電特性を測定する。
次いで、可動反射板51の下面を圧電体試料50の上端に接触支持させ、可動反射板51の長手方向をX軸方向に向けてセットする(S12)。
次いで、ファイバーヘッド3をZ軸方向の上側から可動反射板51に近づけて、両者の間隔を調整し、両者を対向させる(S13)。
次いで、電圧印加部から交流電圧を印加することで圧電体試料50を圧電変形させる(S14)。
なお、演算制御部5による測光信号からの反射位置の検出は、前述の特許文献1に開示されるヘテロダイン方式のような公知の方法を採用することができる。このため、ここでは測光信号からの反射位置の検出法についての詳細な説明は省く。
例えば、283Vp-pの交流電圧を印加して500nm p-pの変位振幅が得られたとすると、フィルムの厚さを65μm、フィルム下端固定部から先端までの長さを30mmとして、圧電テンソルd14は次式のような演算により導出することができる。
d14= [{500(nm)×65(μm)}/{30(mm)×283(V)}]×2
= 7.7(pm/V)
以上のようなプロセスフローにより測定装置1を用いて圧電体試料50の圧電特性を測定することができる。
図4Aは、試料保持構造10のX−Z断面(A−A’断面)図であり、図4Bは、試料保持構造10のY−Z断面(B−B’断面)図であり、図4Cは、試料保持構造10のX−Y断面(C−C’断面)図である。
試料保持構造10は、反射板支持部12、載置台13、試料保持板14、試料保持ピン15、およびピン固定部16を備え、圧電体試料50と可動反射板51とを保持する。
試料保持板14は板状の部材であり、試料保持ピン15とともに圧電体試料50を狭持し、試料固定部を構成する。この試料保持板14と試料保持ピン15とによって圧電体試料50を狭持する際には、圧電体試料50の上端が、圧電体試料50とともに可動反射板51を接触支持する反射板支持部12の上面と面一になるように、圧電体試料50の狭持位置を微調整するとよい。本実施形態のように試料保持ピン15を用いて圧電体試料50を狭持することにより、圧電体試料50の圧電変形による幅方向の変位が拘束されることを抑制でき、圧電体試料50の長さ方向の変形が拘束されることも抑制できる。これにより、圧電定数等の測定精度を高めることができる。
なお、試料保持板14と試料保持ピン15は導電性材料で構成し、電圧印加端子として圧電体試料50に電圧を印加するようにすると、構成の簡易化が図れるためより好適である。
次に、本発明の第2の実施形態に係る測定装置および測定方法ついて説明する。図5は、本実施形態に係る試料保持構造20のX−Y断面(C−C’断面)図である。
圧電体試料50が自重によって撓むほど薄い場合には、圧電体試料50を幅方向に曲げて円弧状などの型を付けることで、圧電体試料50を長手方向に撓みにくくすることができる。したがって、圧電体試料50に予め溝部24Aの形状に沿うような型をつけておき、溝部24Aに沿って圧電体試料50を配置することで、圧電体試料50の姿勢を安定に保つことができる。なお、第1の実施形態で示したような平面状の保持板であっても、円弧状に型をつけた圧電体試料50を挟持することはできるが、本実施形態のように溝部24Aを設けるほうが、圧電体試料50の姿勢をより安定に保持することができる。
次に、本発明の第3の実施形態に係る測定装置および測定方法ついて説明する。図6は、本実施形態に係る試料保持構造30のX−Y断面(C−C’断面)図である。
本実施形態に係る試料保持構造30は、試料保持ピンに替えて第二の試料保持板35Aと狭持用バネ35Bとを備える点で第1の実施形態と相違する。
試料保持板35Aは試料保持板14と同様な平板であり、試料保持板35Aと試料保持板14とは、狭持用バネ35Bによって互いに引き合うように構成されている。このような試料保持構造30では、圧電体試料50が幅方向の全長に亘って狭持されることになる。したがって、圧電体試料50の幅方向の拘束を抑える観点からは、第3の実施形態よりも第1の実施形態や第2の実施形態のほうが望ましいといえる。
上述の各実施形態で示すほかにも、本発明は多様な形態で実施することができる。
例えば、圧電体試料を狭持する構造は上述の各構成の他のどのような構成を採用しても良い。
2…発光部
3…ファイバーヘッド
4…測光部
5…演算制御部
6…電圧印加部
10,20,30…試料保持構造
12…反射板支持部
12A…開口部
13…載置台
14,24…試料保持板
24A…溝部
15…試料保持ピン
16…ピン固定部
50…圧電体試料
51…可動反射板
Claims (7)
- 圧電体試料の長手方向の下端部近傍を固定して前記圧電体試料の長手方向の上端部側を自立させる試料固定部、
前記圧電体試料の上端部に下面が接触する可動板、
前記圧電体試料とともに前記可動板の下面に接触し前記可動板を支持する可動板支持部、
前記圧電体試料に電圧を印加し、前記圧電体試料を変形させる電圧制御部、
前記可動板の位置変化を検出する検出部、および、
前記可動板の位置変化に基づいて前記圧電体試料の圧電特性を測定する測定部、
を備える圧電特性の測定装置。 - 前記試料固定部は、前記圧電体試料よりも幅狭なピン部と、前記ピン部に対向する対向部とを備え、前記圧電体試料を前記ピン部と前記対向部とで狭持するように構成される、
請求項1に記載の圧電特性の測定装置。 - 前記対向部は、前記圧電体試料の長手方向に延設される溝部を前記ピン部に対向する位置に備える、請求項2に記載の圧電特性の測定装置。
- 前記可動板支持部は、
前記圧電体試料の長手方向に直交する方向に長尺な梁状部と、
前記圧電体試料の長手方向に平行する方向に長尺であり前記梁状部に連結される柱状部と、
を備え、前記梁状部で前記圧電体試料に対面する構成である、
請求項1〜3のいずれかに記載の圧電特性の測定装置。 - 前記圧電体試料は、延伸処理が施されたポリ乳酸フィルムの長矩形片であり、延伸方向から45度の角度を長手方向として切り出されたものである、請求項1〜4のいずれかに記載の圧電特性の測定装置。
- 前記検出部は、前記可動板の上面に照射した照射光の反射光から前記可動板の上下方向の位置変化を検出するように構成される、請求項1〜5のいずれかに記載の圧電特性の測定装置。
- 圧電体試料の下端部近傍を固定して前記圧電体試料の上端部側を自立させる第一のステップと、
前記第一のステップで自立させた前記圧電体試料の上端部を、一つの支持位置として可動板を載置する第二のステップと、
前記圧電体試料を圧電変形させ、前記可動板の上下方向の位置変化を検出し、前記可動板の位置変化に基づいて前記圧電体試料の圧電特性を測定する第三のステップと、
を有する圧電特性の測定方法。
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