JP5568175B2 - 力軌跡(signature)を使用して品質合格基準を決定するための方法 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 124
- 238000002788 crimping Methods 0.000 claims description 141
- 238000005457 optimization Methods 0.000 claims description 115
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 95
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 48
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 46
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 claims description 40
- 238000012795 verification Methods 0.000 claims description 40
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 33
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 29
- 238000010200 validation analysis Methods 0.000 claims description 4
- 238000010276 construction Methods 0.000 claims description 3
- 238000012419 revalidation Methods 0.000 claims 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 10
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 6
- 238000007619 statistical method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000418 atomic force spectrum Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 3
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004049 embossing Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000013011 mating Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000002922 simulated annealing Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000013179 statistical model Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
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- H01R43/04—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for forming connections by deformation, e.g. crimping tool
- H01R43/048—Crimping apparatus or processes
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Description
[0001]本出願は、本発明の共通の譲受人により所有される、「APPARATUS AND METHODS THAT APPLY A PRESS FORCE INCLUDING A SEPERATELY APPLIED CORE CRIMP FORCE」という名称の2009年6月3日に出願した、同時係属している米国特許出願第12/477237号(整理番号DP−3 18380)に関連するものであり、これにより、その開示内容は、参照によりその全体が本明細書に組み込まれている。
[0068]方法500の1つのステップ501は、芯圧着部分要素22の芯圧着力軌跡24に関する品質合格基準を決定するものである。品質合格基準は、時点の最適な部分集合を使用して構築された最適なプロセス品質閾値を含む。時点の最適なプロセス部分集合を使用して構築された最適なプロセス品質閾値は、第1、第2、または第3の品質閾値を含むことができる。第1の品質閾値は、時点の選択された初期部分集合142を使用して構築される。第2の品質閾値は、最適化作業により、時点の初期部分集合142に構築することができる。第2の品質閾値は、時点の初期部分集合142と異なる、時点の少なくとも1つの後続の部分集合に構築することもでき、時点の少なくとも1つの後続の部分集合は、最適化作業により構築される。第3の品質閾値は、統計的にロバストであるように、検証作業により構築された時点の初期部分集合142に構築することもできる。第3の品質閾値は、時点の初期部分集合142と異なる、時点の少なくとも1つの後続の部分集合に構築することもでき、時点の少なくとも1つの後続の部分集合は、統計的にロバストであるように、検証作業により構築される。第3の品質閾値は、時点の部分集合142および時点の少なくとも1つの後続の部分集合と異なる、時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合にさらに構築することもでき、時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合は、統計的にロバストであるように、検証作業により構築される。検証作業により構築された、時点の初期部分集合142または時点の少なくとも1つの後続の部分集合、または時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合のいずれかが、統計的にロバストでないとき、最適化作業を再実行し、検証作業により最適化作業を再検証する。
[0072]方法500の次のステップ522は、押圧装置115により押圧力10を加えるものである。押圧力10の一部は、芯圧着力軌跡24を有する芯圧着部分要素22を形成するために芯圧着力20として別個に加えられる。芯圧着部分要素24は、配線導体12の電気導体部分16を端子14に接続する。
[0085]本発明のさらに別の代替的な実施形態では、力軌跡分析は、力軌跡を測定することができる、圧着、型押し、打抜きなどの金属成形作業に使用することができる。本発明は、配線を剥ぎ取らずに、電気導体線と電気接触させるために接触要素を絶縁物中に配置する、絶縁配置式用途に使用することもできる。絶縁配置式を用いれば、絶縁物中の要素の配置および備わった接続品質が識別される、力軌跡を測定することができる。
Claims (22)
- 要素に関して生成される力軌跡に関する品質合格基準を決定する方法であって、前記方法は、
品質不良を有しない要素の第1の組、および人為的な品質不良を有する要素の第2の組を提供するステップと、
前記第1及び第2の組のそれぞれの各要素に関する力軌跡を生成するために、前記第1及び第2の組のそれぞれの各要素に加えられる力を生成する押圧装置を提供するステップと、
データ処理装置のメモリに配置されるマハラノビス距離(MD)アルゴリズムを提供するステップと、
前記押圧装置により生成される、前記第1および第2の組の各要素に関する力データを有する力軌跡を測定するステップであって、各力軌跡は、前記要素の第1の組に関する力軌跡の第1の族及び前記要素の第2の組に関する力軌跡の第2の族を生成するために、所定の時間範囲にわたる複数の時点で測定される、ステップと、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における前記第1および第2の族の測定された力軌跡の前記力データに関する所定の統計量を構築するために、力軌跡の前記第1および第2の族をそれぞれ統計的に分析するステップと、
力軌跡の前記第1および第2の族を統計的に分析するステップに基づいて、前記複数の時点から時点の初期部分集合を選択するステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、前記時点の初期部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関して単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は第2のMD値群を形成する、ステップと、
前記第2のMD値群のデータの第2の分布に対して、前記第1のMD値群のデータの第1の分布を評価するステップであって、前記第1および第2のMD値群は、対応する初期最適化基準値を有する初期品質基準MD族群を形成する、ステップと、
対応する前記時点の初期部分集合における前記初期品質基準MD族群を使用して、初期品質閾値を前記品質合格基準として決定するステップと
を含み、
前記品質合格基準を決定する出力は、前記力軌跡を有する前記要素を、
(i)品質不良を有しない要素の群、および
(ii)前記人為的な品質不良などの品質不良を有する要素の群
の一方に分類するために、決定された前記初期品質閾値を使用する、方法。 - 前記方法のステップは、記載された順序で実行される、請求項1に記載の方法。
- 前記第1および第2の組は、同じ数の要素を含む、請求項1に記載の方法。
- 前記第1および第2の組は、それぞれ、少なくとも15個の要素を含む、請求項3に記載の方法。
- 前記要素は、配線導体を端子に接続するために前記端子内に配置された前記配線導体から構成される芯圧着部分要素を含んでおり、前記配線導体は、電気導体部分と、前記電気導体部分の周りの絶縁部を有する絶縁配線部分とを含み、前記電気導体部分は、複数の撚線を含み、前記押圧装置により加えられた前記力の一部は、前記電気導体部分を前記端子に接続するために前記芯圧着部分要素を形成するように、前記電気導体部分に加えられた芯圧着力であり、前記芯圧着部分内に配置された前記電気導体部分が、前記複数の撚線からの撚線の欠落を有しないとき、前記芯圧着部分要素は品質不良を有せず、前記芯圧着部分要素内に配置された前記電気導体部分が、前記複数の撚線からの少なくとも1つの撚線の欠落を有するとき、前記電気導体部分の前記芯圧着部分要素は品質不良を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記配線導体は、18AWG未満のサイズを有し、関連する前記端子に接続される、請求項5に記載の方法。
- 力軌跡の前記第1および第2の族のそれぞれを統計的に分析する前記ステップは、
前記データ処理装置により、前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点において、力軌跡の前記第1の族に関する第1の力平均および第1の標準偏差を決定するサブステップと、
前記データ処理装置により、前記時間範囲内の各時点において、力軌跡の前記第2の族に関する第2の力平均および第2の標準偏差を決定するサブステップと、
前記データ処理装置により、前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点において、力平均差分値を決定するサブステップであって、前記力平均差分値は、前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における前記第1の力平均と前記第2の力平均との差である、サブステップと、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における力軌跡の前記第1および第2の族のそれぞれに関して、
(i)前記力平均差分値、
(ii)前記第1の標準偏差、および
(iii)前記第2の標準偏差
の少なくとも1つを評価するサブステップと
を有する前記所定の統計量をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記初期品質閾値を前記品質合格基準として決定する前記ステップは、最適化作業により決定された時点の最適な部分集合を使用して構築された最適な品質閾値を含む、時点の前記初期部分集合を使用して構築された前記初期品質閾値をさらに含み、前記最適化作業は、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点から、時点の少なくとも1つの後続の部分集合を無作為に選択するサブステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関して単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するサブステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの後続の第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの後続の第2のMD値群を形成する、サブステップと、
前記少なくとも1つの後続の第2のMD値群のデータの第2の分布に対して、前記少なくとも1つの後続の第1のMD値群のデータの第1の分布を評価するサブステップであって、前記少なくとも1つの後続の第1および第2のMD値群は、対応する少なくとも1つの後続の最適化基準値を有する、少なくとも1つの後続の品質基準MD族群を形成する、サブステップと、
時点の前記初期部分集合および時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合の一方が時点の最適な部分集合となることを確実にする最適な最適化基準値を決定するために、前記少なくとも1つの後続の最適化基準値を、前記初期最適化基準値および前記最適化作業により生成された前の最適化基準値のすべてと比較するサブステップと、
対応する前記時点の少なくとも1つの後続の部分集合における前記少なくとも1つの後続の品質基準MD族群を使用して、少なくとも1つの後続の品質閾値を決定するサブステップと、
前記最適な最適化基準値と対応する、時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定するサブステップであって、前記最適な品質閾値および時点の前記最適な部分集合は、
(i)時点の前記初期部分集合を使用する前記初期品質閾値、および
(ii)時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合を使用する前記少なくとも1つの後続の品質閾値
の一方である、サブステップと
を含む、請求項1に記載の方法。 - 時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定する前記サブステップは、
時点の前記最適な部分集合の統計的なロバスト性を確実にする検証作業を実行するサブステップ
をさらに含み、前記検証作業は、
時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合を選択するサブステップであって、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合は、所定の最大時間増分値範囲内の無作為の増分量だけ、時点の前記最適な部分集合の少なくとも1つの時点を変化させることにより選択され、前記第1及び第2の組の前記力軌跡の前記力データは、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合と対応する、サブステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する前記力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関する単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するサブステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群を形成する、サブステップと、
前記少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群の前記データの第2の分布に対して、前記少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群の前記データの第1の分布を評価するサブステップであって、前記少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群および前記少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群は、対応する少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値を有する、少なくとも1つの追加の無作為の品質基準MD族群を形成する、サブステップと、
対応する前記時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合における前記少なくとも1つの追加の無作為の品質基準MD族群を使用して、少なくとも1つの追加の無作為の品質閾値を決定するサブステップと、
時点の前記最適な部分集合が、
(i)前記最適な最適化基準値と前記検証作業により生成された少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてとの組合せの最大値および最小値が、ともに所定の量内であるとき、統計的にロバストであること、ならびに
(ii)前記最適な最適化基準値と前記検証作業により生成された少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてとの組合せの最大値および最小値が、ともに所定の量内でないとき、統計的にロバストでないこと
の一方であることを確実にするために、前記少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値を、前記最適な最適化基準値および前記検証作業により生成された前の少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてと比較するサブステップと、
統計的にロバストな時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定するサブステップであって、時点の前記最適な部分集合に構築された前記最適な品質閾値は、
(i)統計的にロバストな、時点の前記最適な部分集合における前記最適な品質閾値、
(ii)統計的にロバストな、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合を使用する、前記少なくとも1つの追加の無作為の品質閾値、ならびに
(iii)時点の前記最適な部分集合および時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合が統計的にロバストでないとき、前記最適化作業を再実行し、前記検証作業により前記最適化作業を再検証すること
の1つである、サブステップと
を含む、請求項8に記載の方法。 - 時点の前記初期部分集合、
時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合、
時点の前記最適な部分集合、および
時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合は、それぞれ、前記複数の時点から選択された同じ数の時点を含む、請求項9に記載の方法。 - 配線導体を端子に接続するための形成プロセス方法であって、前記方法は、
芯圧着部分要素の芯圧着力軌跡に関する品質合格基準を決定するステップであって、前記品質合格基準は、時点の最適なプロセス集合を使用して構築された最適なプロセス品質閾値を含み、前記最適なプロセス品質閾値および時点の前記最適なプロセス部分集合は、
(i)時点の選択された初期部分集合を使用して構築された第1の品質閾値、
(ii)
(a)最適化作業により構築された時点の前記初期部分集合、および
(b)最適化作業により構築された、時点の前記初期部分集合と異なる時点の少なくとも1つの後続の部分集合
の一方を使用して構築された第2の品質閾値、ならびに
(iii)
(a)統計的にロバストであるように検証作業により構築された、時点の前記初期部分集合、
(b)統計的にロバストであるように前記検証作業により構築された、時点の前記初期部分集合と異なる時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合、
(c)統計的にロバストであるように前記検証作業により構築された、時点の前記初期部分集合および時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合と異なる、時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合、および
(d)前記検証作業により構築された時点の前記初期部分集合、時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合、および時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合の少なくとも1つが、統計的にロバストでないとき、前記最適化作業を再実行し、前記検証作業により前記最適化作業を再検証すること
の1つを使用して構築された第3の品質閾値
の1つであり、時点の前記最適なプロセス集合を使用して構築された前記最適なプロセス品質閾値は、データ処理装置のメモリ内に記憶される、ステップと、
押圧装置に関連付けられた前記データ処理装置を含む前記押圧装置を提供するステップと、
前記配線導体および前記端子を提供するステップであって、前記配線導体は、複数の撚線を有する内部電気導体部分を含む、ステップと、
前記端子内の前記配線導体の前記電気導体部分を前記押圧装置に配置するステップと、
前記押圧装置により押圧力を加えるステップであって、前記押圧力の一部は、前記芯圧着力軌跡を有する前記芯圧着部分要素を形成するために芯圧着力として別個に加えられ、前記芯圧着部分要素は、前記配線導体の前記電気導体部分を前記端子に接続する、ステップと、
前記データ処理装置により前記芯圧着力軌跡を検知し、前記データ処理装置の前記メモリ内に検知された前記芯圧着力軌跡を取得する、ステップと
前記芯圧着部分要素に関して生成された前記芯圧着力軌跡の所定時間範囲内の複数の時点のうちの、少なくとも時点の前記最適なプロセス部分集合において、前記データ処理装置により、前記検知された芯圧着力軌跡から力データを収集するステップと、
前記検知された芯圧着力軌跡に関して、前記データ処理装置により、前記メモリ内に記憶されたマハラノビス距離(MD)アルゴリズムからの出力として単一のMD値を生成するステップであって、前記検知された芯圧着力軌跡上に配置される、時点の前記最適なプロセス部分集合における前記力データが、前記データ処理装置により前記MDアルゴリズムに入力される、ステップと、
時点の前記最適なプロセス部分集合における前記検知された芯圧着力軌跡に対応する、生成された前記単一のMD値を、前記データ処理装置により前記メモリ内に記憶された前記最適なプロセス品質閾値と比較するステップと、
前記生成された単一のMD値を比較する前記ステップに基づいて、前記芯圧着部分要素に関する品質判定を行うステップであって、前記芯圧着部分要素に関して行われる品質判定は、
(i)前記生成された単一のMD値が、前記メモリ内に記憶された前記最適なプロセス品質閾値と同じかまたはそれより小さい、合格品質であって、前記芯圧着部分要素の前記合格品質は、前記芯圧着部分要素内に配置された前記電気導体部分の前記複数の撚線からの撚線の欠落を有しない、合格品質、および
(ii)前記生成された単一のMD値が、前記メモリ内に記憶された前記最適なプロセス品質閾値よりも大きい、品質不良であって、前記芯圧着部分要素の前記品質不良は、前記芯圧着部分要素内に配置された前記電気導体部分の前記複数の撚線からの少なくとも1つの撚線の欠落である、品質不良
の一方である、ステップと
を含む、配線導体を端子に接続するための形成プロセス方法。 - 前記方法の前記ステップは、記載された順序で実行される、請求項11に記載の方法。
- 前記品質合格基準を決定する前記ステップは、
品質不良を有しない要素の第1の組、および人為的な品質不良を有する要素の第2の組を提供するサブステップと、
前記第1及び第2の組のそれぞれの各要素に関する力軌跡を生成するために、前記第1及び第2の組のそれぞれの各要素に加えられる力を生成する前記押圧装置を提供するサブステップと、
前記データ処理装置の前記メモリ内に配置されるマハラノビス距離(MD)アルゴリズムを提供するサブステップと、
前記押圧装置により生成された、前記第1および第2の組の各要素に関する力データを有する前記力軌跡を測定するサブステップであって、各力軌跡は、要素の前記第1の組に関する力軌跡の第1の族及び要素の前記第2の組に関する力軌跡の第2の族を生成するために、所定の時間範囲にわたる複数の時点において測定される、サブステップと、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における前記第1および第2の族の測定された前記力軌跡の前記力データに関する所定の統計量を構築するために、力軌跡の前記第1および第2の族を統計的に分析するサブステップと、
力軌跡の前記第1および第2の族を統計的に分析する前記ステップに基づいて、前記複数の時点から時点の前記初期部分集合を選択するサブステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記初期部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する前記力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関する単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するサブステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は第2のMD値群を形成する、サブステップと、
前記第2のMD値群の前記データの第2の分布に対して、前記第1のMD値群の前記データの第1の分布を評価するサブステップであって、前記第1および第2のMD値群は、対応する初期最適化基準を有する初期品質基準MD族群を形成する、サブステップと、
対応する前記時点の初期部分集合における前記初期品質基準MD族群を使用して、前記品質合格基準となる前記初期品質閾値を決定するサブステップと、
を有する前記品質合格基準を決定するための方法をさらに含み、
前記品質合格基準の出力は、前記力軌跡曲線を有する前記要素を、
(i)品質不良を有しない要素、および
(ii)前記人為的な品質不良などの品質不良を有する要素の一群
の一方に分類するために、決定された前記品質閾値を使用し、
前記初期品質閾値は、前記第1の品質閾値を含む、請求項11に記載の方法。 - 前記初期品質閾値を決定するステップは、前記最適化作業により決定された時点の最適な部分集合を使用して構築された最適な品質閾値を含む、時点の前記初期部分集合を使用して構築された前記初期品質閾値をさらに含み、前記最適化作業は、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点から、時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合を無作為に選択するサブステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する前記力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関する単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するサブステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの後続の第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの後続の第2のMD値群を形成する、サブステップと、
前記少なくとも1つの後続の第2のMD値群の前記データの第2の分布に対して、前記少なくとも1つの後続の第1のMD値群の前記データの第1の分布を評価するサブステップであって、前記少なくとも1つの後続の第1および第2のMD値群は、対応する少なくとも1つの後続の最適化基準値を有する、少なくとも1つの後続の品質基準MD族群を形成する、サブステップと、
時点の前記初期部分集合および時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合の一方が時点の最適な部分集合となることを確実にする最適な最適化基準値を決定するために、前記少なくとも1つの後続の最適化基準値を、前記初期最適化基準値および前記最適化作業により生成された前の最適化基準値のすべてと比較するサブステップと、
対応する前記時点の少なくとも1つの後続の部分集合における前記少なくとも1つの後続の品質基準MD族群を使用して、少なくとも1つの後続の品質閾値を決定するサブステップと、
前記最適な最適化基準値と対応する時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定するサブステップであって、前記最適な品質閾値および時点の前記最適な部分集合は、
(i)時点の前記初期部分集合を使用する前記初期品質閾値、および
(ii)時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合を使用する前記少なくとも1つの後続の品質閾値
の一方である、サブステップと
を含んでおり、
前記少なくとも1つの後続の品質閾値は、前記第2の品質閾値を含む、請求項13に記載の方法。 - 時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定する前記サブステップは、
時点の前記最適な部分集合に関する統計的なロバスト性を確実にするために前記検証作業を実行するサブステップ
をさらに含み、前記検証作業は、
時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合を選択するサブステップであって、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合は、所定の最大時間増分値範囲内の無作為の増分量だけ、時点の前記最適な部分集合の少なくとも1つの時点を変化させることにより選択され、前記第1及び第2の組の前記力軌跡の前記力データは、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合と対応する、サブステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する前記力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関する単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するサブステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群を形成する、サブステップと、
前記少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群の前記データの第2の分布に対して、前記少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群の前記データの第1の分布を評価するサブステップであって、前記少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群および前記少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群は、対応する少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値を有する、少なくとも1つの追加の無作為の品質基準MD族群を形成する、サブステップと、
対応する前記時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合における前記少なくとも1つの追加の無作為の品質基準MD族群を使用して、少なくとも1つの追加の無作為の品質閾値を決定するサブステップと、
時点の前記最適な部分集合が、
(i)前記最適な最適化基準値と前記検証作業により生成された少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてとの組合せの最大値および最小値が、ともに所定の量内であるとき、統計的にロバストであること、ならびに
(ii)前記最適な最適化基準値と前記検証作業により生成された少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてとの組合せの最大値および最小値が、ともに所定の量内でないとき、統計的にロバストでないこと
の一方であることを確実にするために、前記少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値を、前記最適な最適化基準値および前記検証作業により生成された前の少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてと比較するサブステップと、
統計的にロバストな、時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定するサブステップであって、時点の前記最適な部分集合に構築された前記最適な品質閾値は、
(i)統計的にロバストな、時点の前記最適な部分集合における前記最適な品質閾値、
(ii)統計的にロバストな、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合を使用する、前記少なくとも1つの追加の無作為の品質閾値、ならびに
(iii)時点の前記最適な部分集合および時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合が統計的にロバストでないとき、前記最適化作業を再実行し、前記検証作業により前記最適化作業を再検証すること
の1つである、サブステップと
を含んでおり、
前記第3の品質閾値は、統計的にロバストな、時点の前記最適な部分集合の構築に関する前記最適な品質閾値を含む、請求項14に記載の方法。 - 力軌跡の前記第1および第2の族を統計的に分析する前記ステップは、
前記第1のデータ処理装置により、前記所定の時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点において、力軌跡の前記第1の族に関する第1の力平均および第1の標準偏差を決定するサブステップと、
前記第1のデータ処理装置により、前記所定の時間範囲内の各時点において、力軌跡の前記第2の族に関する第2の力平均および第2の標準偏差を決定するサブステップと、
前記第1のデータ処理装置により、前記所定の時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点において、力平均差分値を決定するサブステップであって、前記力平均差分値は、前記所定の時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における前記第1の力平均と前記第2の力平均との差である、サブステップと、
前記所定の時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における力軌跡の前記第1および第2の族に関して、
(i)前記力平均差分値、
(ii)前記第1の標準偏差、および
(iii)前記第2の標準偏差
の少なくとも1つをユーザが評価するサブステップと
を有する前記所定の統計量をさらに含む、請求項13に記載の方法。 - 前記配線導体は、18AWG未満のサイズを有し、関連する前記端子に接続される、請求項11に記載の方法。
- 所定の方法を実行するためにデータ処理装置を設定するようになされた、要素の力軌跡に関する品質合格基準を決定するためのコンピュータ読取可能命令を含む媒体であって、前記方法は、
品質不良を有しない要素の第1の組および人為的な品質不良を有する要素の第2の組を提供するステップと、
前記第1及び第2の組のそれぞれの各要素に関する力軌跡を生成するために、前記第1及び第2の組のそれぞれの各要素に加えられる力を生成する押圧装置を提供するステップと、
データ処理装置のメモリ内に配置されるマハラノビス距離(MD)アルゴリズムを提供するステップと、
前記押圧装置により生成される、前記第1および第2の組の各要素に関する力データを有する前記力軌跡を測定するステップであって、各力軌跡は、要素の前記第1の組に関する力軌跡の第1の族及び要素の前記第2の組に関する力軌跡の第2の族を生成するために、所定の時間範囲にわたる複数の時点において測定される、ステップと、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における第1および第2のそれぞれの族内の測定された力軌跡の前記力データに関する所定の統計量を構築するために、力軌跡の前記第1および第2の族を統計的に分析するステップと、
力軌跡の前記第1および第2の族を統計的に分析するステップに基づいて、前記複数の時点から時点の初期部分集合を選択するステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記初期部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する前記力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関する単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は第2のMD値群を形成する、ステップと、
前記第2のMD値群の前記データの第2の分布に対して、前記第1のMD値群の前記データの第1の分布を評価するステップであって、前記第1および第2のMD値群は、対応する初期最適化基準を有する初期品質基準MD族群を形成する、ステップと、
対応する前記時点の初期部分集合における前記初期品質基準MD族群を使用して、初期品質閾値を前記品質合格基準として決定するステップと
を含み、
前記品質合格基準を決定する出力は、前記力軌跡を有する前記要素を、
(i)品質不良を有しない要素の群、および
(ii)前記人為的な品質不良などの品質不良を有する要素の群
の一方に分類するために、決定された前記品質閾値を使用する、媒体。 - 前記初期品質閾値を決定する前記ステップは、最適化作業により決定された時点の最適な部分集合を使用して構築された最適な品質閾値を含む、時点の前記初期部分集合を使用して構築された前記初期品質閾値をさらに含み、前記最適化作業は、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点から、時点の少なくとも1つの後続の部分集合を無作為に選択するサブステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する前記力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関する単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するサブステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの後続の第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの後続の第2のMD値群を形成する、サブステップと、
前記少なくとも1つの後続の第2のMD値群の前記データの第2の分布に対して、前記少なくとも1つの後続の第1のMD値群の前記データの第1の分布を評価するサブステップであって、前記少なくとも1つの後続の第1および第2のMD値群は、対応する少なくとも1つの後続の最適化基準値を有する、少なくとも1つの後続の品質基準MD族群を形成する、サブステップと、
時点の前記初期部分集合および時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合の一方が時点の最適な部分集合となることを確実にする最適な最適化基準値を決定するために、前記少なくとも1つの後続の最適化基準値を、前記初期最適化基準値および前記最適化作業により生成された前の最適化基準値のすべてと比較するサブステップと、
前記対応する時点の少なくとも1つの後続の部分集合における前記少なくとも1つの後続の品質基準MD族群を使用して、少なくとも1つの後続の品質閾値を決定するサブステップと、
前記最適な最適化基準値と対応する、時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定するサブステップであって、前記最適な品質閾値および時点の前記最適な部分集合は、
(i)時点の前記初期部分集合を使用する前記初期品質閾値、および
(ii)時点の前記少なくとも1つの後続の部分集合を使用する前記少なくとも1つの後続の品質閾値
の一方である、サブステップと
を含む、請求項18に記載の媒体。 - 時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定する前記サブステップは、
時点の前記最適な部分集合の統計的なロバスト性を確実にする検証作業を実行するサブステップ
をさらに含み、前記検証作業は、
時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合を選択するサブステップであって、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合は、所定の最大時間増分値範囲内の無作為の増分量だけ、時点の前記最適な部分集合の少なくとも1つの時点を変化させることにより選択され、前記第1及び第2の組の前記力軌跡の前記力データは、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合と対応する、サブステップと、
前記MDアルゴリズムを用いて、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合における前記第1および第2の組の各要素に関する前記力データを入力することにより、前記第1および第2の組の各要素に関する単一のマハラノビス距離(MD)値を生成するサブステップであって、前記第1の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群を形成し、前記第2の組の要素に関して生成されたMD値は少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群を形成する、サブステップと、
前記少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群の前記データの第2の分布に対して、前記少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群の前記データの第1の分布を評価するサブステップであって、前記少なくとも1つの追加の無作為の第1のMD値群および前記少なくとも1つの追加の無作為の第2のMD値群は、対応する少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値を有する、少なくとも1つの追加の無作為の品質基準MD族群を形成する、サブステップと、
前記対応する時点の少なくとも1つの追加の無作為の部分集合における前記少なくとも1つの追加の無作為の品質基準MD族群を使用して、少なくとも1つの追加の無作為の品質閾値を決定するサブステップと、
時点の前記最適な部分集合が、
(i)前記最適な最適化基準値と前記検証作業により生成された少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてとの組合せの最大値および最小値が、ともに所定の量内であるとき、統計的にロバストであること、ならびに
(ii)前記最適な最適化基準値と前記検証作業により生成された少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてとの組合せの最大値および最小値が、ともに所定の量内でないとき、統計的にロバストでないこと
の一方であることを確実にするために、前記少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値を、前記最適な最適化基準値および前記検証作業により生成された前の少なくとも1つの追加の無作為の最適化基準値のすべてと比較するサブステップと、
統計的にロバストな、時点の前記最適な部分集合を使用して構築された前記最適な品質閾値を決定するサブステップであって、時点の前記最適な部分集合に構築された前記最適な品質閾値は、
(i)統計的にロバストな、時点の前記最適な部分集合における前記最適な品質閾値、
(ii)統計的にロバストな、時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合を使用する、前記少なくとも1つの追加の無作為の品質閾値、ならびに
(iii)時点の前記最適な部分集合および時点の前記少なくとも1つの追加の無作為の部分集合が統計的にロバストでないとき、前記最適化作業を再実行し、前記検証作業により前記最適化作業を再検証すること
の1つである、サブステップと
を含む、請求項19に記載の媒体。 - 力軌跡の前記第1および第2の族を統計的に分析する前記ステップは、
前記データ処理装置により、前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点において、力軌跡の前記第1の族に関する第1の力平均および第1の標準偏差を決定するサブステップと、
前記データ処理装置により、前記時間範囲内の各時点において、力軌跡の前記第2の族に関する第2の力平均および第2の標準偏差を決定するサブステップと、
前記データ処理装置により、前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点において、力平均差分値を決定するサブステップであって、前記力平均差分値は、前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における前記第1の力平均と前記第2の力平均との差である、サブステップと、
前記時間範囲にわたる前記複数の時点の各時点における力軌跡の前記第1および第2のの族に関して、
(i)前記力平均差分値、
(ii)前記第1の標準偏差、および
(iii)前記第2の標準偏差
の少なくとも1つを評価するサブステップと
を有する前記所定の統計量をさらに含む、請求項18に記載の媒体。 - 前記要素は、加えられる芯圧着力から形成された芯圧着部分要素であり、前記芯圧着部分要素は、端子内に配置された配線導体の電気導体部分を含み、前記芯圧着部分要素は、加えられる芯圧着力が加えられた後、前記電気導体部分を前記端子に電気的かつ機械的に接続するように構成され、前記配線導体は、18AWG未満のサイズを有し、関連する前記端子に接続される、請求項18に記載の媒体。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/757,119 US8224623B2 (en) | 2010-04-09 | 2010-04-09 | Method to determine a quality acceptance criterion using force signatures |
US12/757,119 | 2010-04-09 | ||
PCT/US2011/030247 WO2011126813A1 (en) | 2010-04-09 | 2011-03-29 | Method to determine a quality acceptance criterion using force signatures |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013524463A JP2013524463A (ja) | 2013-06-17 |
JP5568175B2 true JP5568175B2 (ja) | 2014-08-06 |
Family
ID=44761545
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013503783A Expired - Fee Related JP5568175B2 (ja) | 2010-04-09 | 2011-03-29 | 力軌跡(signature)を使用して品質合格基準を決定するための方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8224623B2 (ja) |
JP (1) | JP5568175B2 (ja) |
KR (1) | KR101535707B1 (ja) |
CN (1) | CN102859813B (ja) |
WO (1) | WO2011126813A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6450817B1 (ja) * | 2017-10-06 | 2019-01-09 | トルーソルテック株式会社 | 端子圧着不良検出装置 |
CN109655242A (zh) * | 2017-10-10 | 2019-04-19 | 中国商用飞机有限责任公司 | 用于检测线束与端接件的连接的可靠性的方法及设备 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63281071A (ja) * | 1987-05-13 | 1988-11-17 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 端子圧着電線の端子圧着不良検出方法 |
US4855923A (en) | 1988-01-06 | 1989-08-08 | Xerox Corporation | Parts assembly using signature analysis |
GB8927466D0 (en) * | 1989-12-05 | 1990-02-07 | Amp Gmbh | Electrical terminal crimping apparatus |
US5197186A (en) * | 1990-05-29 | 1993-03-30 | Amp Incorporated | Method of determining the quality of a crimped electrical connection |
JP3342941B2 (ja) * | 1993-12-13 | 2002-11-11 | 日本オートマチックマシン株式会社 | 端子圧着機の圧着端子品質管理方法 |
JPH07270467A (ja) * | 1994-03-31 | 1995-10-20 | Chubu Electric Power Co Inc | 故障様相判別方法 |
JPH0963738A (ja) * | 1995-08-29 | 1997-03-07 | Tekiko:Kk | 電気ターミナル圧搾機 |
US6301777B1 (en) | 1999-11-16 | 2001-10-16 | Autoliv Asp, Inc. | Applicator die for wire-to-terminal assembly |
JP4031214B2 (ja) * | 2001-03-19 | 2008-01-09 | 矢崎総業株式会社 | 端子圧着状態判別方法 |
JP3995569B2 (ja) * | 2002-09-20 | 2007-10-24 | 昌一 手島 | 波形パターンデータから設備の診断・監視のための特徴を抽出する方法及びプログラム |
JP4070705B2 (ja) * | 2003-10-31 | 2008-04-02 | トルーソルテック株式会社 | 端子圧着不良検出装置 |
JP4398923B2 (ja) * | 2005-09-08 | 2010-01-13 | 古河電気工業株式会社 | 圧着不良端子検出方法および端子圧着装置 |
US7607824B2 (en) * | 2006-10-25 | 2009-10-27 | Delphi Technologies, Inc. | Method of analyzing electrical connection and test system |
DE102006051306A1 (de) * | 2006-10-31 | 2008-05-08 | Bayer Materialscience Ag | Substratmaterialien für Extrusionsfolien mit geringen Oberflächenstörungen |
WO2008052666A1 (de) | 2006-10-31 | 2008-05-08 | Bayer Materialscience Ag | Verfahren und vorrichtung für die kontrolle der qualität einer granulatcharge |
JP5002291B2 (ja) * | 2007-03-16 | 2012-08-15 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 解析装置、プログラム、欠陥検査装置、レビュー装置、解析システム及び解析方法 |
US8336351B2 (en) * | 2009-06-03 | 2012-12-25 | Delphi Technologies, Inc. | Apparatus and methods that apply a press force including a separately applied core crimp force |
-
2010
- 2010-04-09 US US12/757,119 patent/US8224623B2/en active Active
-
2011
- 2011-03-29 WO PCT/US2011/030247 patent/WO2011126813A1/en active Application Filing
- 2011-03-29 CN CN201180018173.0A patent/CN102859813B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2011-03-29 JP JP2013503783A patent/JP5568175B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2011-03-29 KR KR1020127029327A patent/KR101535707B1/ko active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2011126813A1 (en) | 2011-10-13 |
CN102859813A (zh) | 2013-01-02 |
CN102859813B (zh) | 2015-04-01 |
US8224623B2 (en) | 2012-07-17 |
KR101535707B1 (ko) | 2015-07-09 |
US20110251811A1 (en) | 2011-10-13 |
KR20130054261A (ko) | 2013-05-24 |
JP2013524463A (ja) | 2013-06-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140313 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
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|
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
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