CN102859813A

CN102859813A - 使用力印记来确定质量认可规范的方法

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Publication number: CN102859813A
Application number: CN2011800181730A
Authority: CN
Inventors: J·M·亨德尔; R·W·卡文
Original assignee: Delphi Automotive Systems LLC
Current assignee: Delphi Technologies Inc
Priority date: 2010-04-09
Filing date: 2011-03-29
Publication date: 2013-01-02
Anticipated expiration: 2031-03-29
Also published as: KR20130054261A; KR101535707B1; JP5568175B2; US8224623B2; JP2013524463A; CN102859813B; WO2011126813A1; US20110251811A1

Abstract

本发明提供了一种方法以使用来第一和第二元件集合上测得的力印记来确定质量认可标准。第一集合不具有质量缺陷且第二集合具有故意的质量缺陷。基于在两个集合中的力印记上的力数据的统计学分析进行初始时间点子集的选择。质量认可标准包括使用马氏距离（MD）值建立的质量阈值，且MD值是从为两个集合中每一个元件所选择的初始时间点子集处的力数据所产生的。所确定的质量认可标准的输出是使用所定义的质量阈值来将具有力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件组或具有类似故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。

Description

使用力印记来确定质量认可规范的方法

相关申请

本申请涉及共同待审的在2009年6月3日提交的（律师卷号DP-318380）、名为“APPARATUS AND METHODS THAT APPLY A PRESS FORCEINCLUDING A SEPERATELY APPLIED CORE CRIMP FORCE”、由本发明的共同受让人所拥有的、美国专利申请系列号No.12/477237，其公开在此通过参考全部并入此处。

技术领域

本发明涉及在元件的力印记上确定质量认可规范，更具体地，确定质量阈值的方法，该质量阈值是根据沿两个元件集合中的元件的力印记的时间点的选中子集中所定义的，且用于将具有力印记的元件分在不具有质量缺陷的元件组中或具有质量缺陷的元件组中。

背景

已知施加力至电线导体和端子来使得电线导体压接至端子。需要来产生压接部分、或芯线压接部分元件的力，是芯线压接力。产生芯线压接部分元件的所施加的芯线压接力具有芯线压接力印记。

期望的是在压接过程中施加芯线压接力后，在芯线压接部分元件的质量上呈现一致性的、可靠的质量判定。小于18AWG的较小规格电线导体在具有较少的截面积的电线导体的内部电导体部分中包括多个小股线，作为比较，较大规格电线导体的内部电导体部分中包含有类似的多个小股线。在小于18AWG的电线导体中的内部电导体部分中的较少的截面积使得检测芯线压接部分中电线的未被压接的（missing）小股线（strand）的质量检测越发困难。在产生将电导体部分连接至端子的芯线压接部分元件的制备过程中，在电线导体的电线压接操作过程中多个小股电线中的一个或多个被切断而暴露出内部电导体部分，这可造成在内部电导体部分中多个小股电线中的未被压接的小股线。如果质量缺陷内在于电线导体的电导体部分中，内部导体芯线中电线的未被压接的小股线也会产生。当连接电线导体至端子的芯线压接部分元件被制造成后续被用于产品应用的线束组件时，具有与多个小股电线分离的至少一个未被压接的小股电线的质量缺陷的未被检测到的芯线压接部分元件可产生不期望的不利的下游质量问题。

因此，所需要的是改进的芯线压接部分元件的改进质量评估来检测质量缺陷并增加有缺陷的芯线压接部分元件不被用于制造使用该芯线压接部分元件的下游产品应用中的概率。芯线压接部分元件的检测质量缺陷对于被压接至小于18AWG的电线导体尺寸的端子是特别期望的。

发明内容

对于产生可靠的芯线压接部分的将电线导体连接至端子的所施加的芯线压接力印记的分析被认为是用于检测包含在芯线压接部分元件中所包含的未被压接的电线导体小股线这样的质量缺陷的合适的质量指标，对于连接至相应端子的具有小于18AWG尺寸的小规格电线导体而言是特别合适的。由于所施加的芯线压接力印记是具有质量缺陷的芯线压接部分元件相对于不具有质量缺陷的芯线压接部分的合适的质量指标，所以期望的是分析芯线压接力印记的质量。对于产生芯线压接部分元件的所施加的芯线压接力印记的分析还包括考虑可具有质量缺陷的芯线压接部分元件和不具有质量缺陷的芯线压接部分元件的构造中正常处理变化。这对于可靠且一致地做出对于芯线压接部分元件质量判定是关键的。

根据本发明的一个方面，提供了对于在元件上产生的力印记来确定质量认可规范的方法。从第一和第二元件集合中获得力印记。第一元件集合不具有质量缺陷且第二元件集合具有故意的质量缺陷。统计地分析两元件集合中的力数据来在沿力印记、或力印记曲线的时间范围中的多个时间点中选择初始的时间点子集。来自所选择的初始的时间点子集处的力印记的力数据作为马氏距离（Mahalanobis Distance）（MD）算法的输入，为两个集合中的每一个元件产生单个马氏距离（MD）值。通过估算对应于两元件集合的MD值的分布来定义初始质量阈值。确定质量认可规范的输出是使用所定义的初始质量阈值来将具有力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件组或具有像故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。

根据本发明的另一个方面，提供了用于将电线导体连接至端子的制造过程方法，其使用所确定的芯线压接部分元件的质量认可规范来在具有力印记的新近被制造的芯线压接部分元件上提供质量判定。在其中芯线压接部分元件不具有脱离多个小股电线的未被压接的小股电线的情况下，所给予的质量判定是可认可的质量，或者在其中芯线压接部分元件具有脱离于芯线压接部分元件中的多个小股电线的至少一个未被压接的小股电线的情况下，所给予的质量判定是质量缺陷。

根据本发明的又一个方面，提供了包含对于在元件上产生的力印记来确定质量认可规范的计算机可读指令的介质。所确定的质量认可规范的输出是使用用所选择的初始时间点子集来定义的经定义质量阈值来将具有力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件组或具有像故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。

附图说明

将参考附图进一步描述本发明，附图中：

图1是正被施加的、作为芯线压接力来产生具有芯线压接力印记的芯线压接部分元件的压力的立体图，且芯线压接部分元件将电线导体连接至端子；

图2是通过施加芯线压接力来产生图1的芯线压接部分元件的单个芯线压接力印记的图的示图；

图3是根据本发明的方法的流程图，示出从第一和第二芯线压接部分元件集合（两个集合中的每一个元件具有类似于图2的芯线压接力印记的力印记）来确定质量认可规范的方法步骤；

图4是压力装置的截面图，该压力装置产生被单独地应用为图1的芯线压接力，该芯线压接力产生具有图2的芯线压接力印记的芯线压接部分元件，且如所示，压力未被施加；

图5是根据图3的方法，第一和第二芯线压接部分元件集合的局部视图，以及其细节；

图6是其中MD值被混合在一起的情况下所绘制的MD值的图的示图；

图7是流程图，示出执行从图3的方法中进一步定义的优化过程的方法子步骤，来确定使用优化的时间点子集所建立的优化质量阈值；

图8示出其中第二组的MD值与第一组相展开所绘制的MD值的图的示图；

图9是流程图，示出根据图3的方法，用于统计地分析力数据的预定统计的方法子步骤；

图10是流程图，示出执行验证过程来确定从图7的子步骤中进一步定义的优化时间点子集的稳健质量的方法子步骤；和

图11是使用根据图3、7、和10的方法所确定的质量认可规范的制造过程的流程图。

具体实施方式

根据本发明的示例性实施例，参看图1，压力10被施加至置于端子14中的电线导体12来将导体12压接至端子14。电线导体12包括电导体部分16和围绕电导体部分16的绝缘电线部分18。压力10的一部分被作为芯线压接力20施加至置于端子14中的电线导体12的电导体部分16，以在芯线压接力20被施加后产生芯线压接部分元件22。所施加的压力10的一部分还被作为绝缘压接力26施加至置于端子14中的电线导体12的绝缘电线部分18来产生绝缘压接部位元件28。如图1中所示，就在芯线压接部分元件22和绝缘压接部位元件28被制造前，芯线压接力20和绝缘压接力26被分别施加至置于端子14中的电导体部分16和绝缘电线部分18。电线导体优选地与尺寸匹配于电线导体尺寸的端子相压接。电线导体优选地具有小于18AWG的尺寸。等效于18AWG的度量为0.8mm²。大写的AWG指代美国电线规格且是规定电线规格尺寸的一种表示方法。

参看图1和2，产生芯线压接部分元件22的芯线压接力20具有相应的芯线压接力印记曲线、或芯线压接力印记24。芯线压接力印记24，如图2中所示，其示出随着力增长的芯线压接力印记的一部分。本领域技术人员将了解，芯线压接力印记曲线的互补部分还包括跟在增长的力部分后续的力减少的芯线压接力印记的一部分（未示出）。电导体部分16可由编织线（未示出）形成。编织线由多个独立的小股电线（未示出）形成。当多个小股电线中的所有小股电线都被包含在芯线压接部分元件22中时，芯线压接部分元件22可具有可认可的质量。当偏离于多个小股电线的至少一个小股电线在芯线压接部分元件22中未被压接时，芯线压接部分元件22可具有质量缺陷。尽管图1中所示的电线导体和端子示出了单个芯线压接部分元件和单个绝缘压接部分，应该理解的是本发明可被应用于各种电线导体/端子元件，其取决于诸如电线导体尺寸和端子构造等因素，可包括多个芯线压接部分元件和/或多个绝缘压接部分。

由于所施加的芯线压接力印记是芯线压接部分元件中可认可的质量或质量缺陷的合适的质量指标，期望的是分析产生芯线压接部分元件的芯线压接力印记曲线。

参看图3和5，呈现了对于在元件上产生的力印记来确定质量认可规范100的流程图。方法100中的一个步骤110提供了第一芯线压接部分元件集合121和第二芯线压接部分元件集合125。第一芯线压接部分元件集合121不具有质量缺陷且第二芯线压接部分元件集合125具有故意的质量缺陷。第一和第二集合中每一个芯线压接部分元件的构成具有类似的特征，例如相同尺寸的电线导体和相同类型的电线导体部分被压接至相同类型的端子，且相同类型的芯线压接部分元件被基本形成在置于端子中的电导体部分中的相同位置处。第一集合121具有与第二集合125相同数量的元件。第一集合121含有至少十五个元件且第二集合125含有至少十五个元件。优选地，集合121、125包含十五个元件。第一集合121的元件由该方法的用户（诸如工程师或统计员）检查，从而在每一个芯线压接部分元件22中不具有质量缺陷。该方法的用户确保第一集合121的元件在电导体部分16中不具有相对于多个小股电线（未示出）的未被压接的小股电线。反之，第二集合125的元件具有由该方法的用户所施加和检查的故意的质量缺陷，从而确保第二集合125中的每一个元件都是有缺陷的。第二集合125中的每一个元件在电导体部分16中具有偏离于多个小股电线（未示出）的至少一个未被压接的小股线。在制造每一个芯线压接部分元件22之前，可通过检测来检查两集合121、125的每一集合中各自的电导体部分16的质量。例如，可对于第二集合125中每一个电线导体，通过将电导体部分16中的多个小股电线中的一个小股电线夹离，来对于第二集合125中的每一个元件施加故意的质量缺陷。

参看图1-4，方法100中的另一步骤112提供压力装置115，该压力装置被配置为生成将被施加至两个集合121、125中每一集合中的每一个芯线压接部分元件22的压力10。压力10的一部分被单独地施加为芯线压接力20来产生两个集合121、125中每一集合中的每一个芯线压接部分元件22的芯线压接力印记24。用于这个目的的一个这样的压力装置在2009年6月3日提交的、共同待审的美国专利申请系列号No.12/477237中被描述，且该专利申请通过参考并入此处。如图4中所示，来自共同待审的美国专利申请系列号No.12/477237的压力装置115被图示为压力10未被施加至置于端子14中的电线导体12的电导体部分16。

参看图3，方法100中的进一步步骤114在数据处理设备（未示出）的存储器（未示出）中提供马氏距离（MD）协方差矩阵。该数据处理设备可相关联于压力装置。可选地，该数据处理设备可以是与压力装置独立且分离的单独的数据处理设备。该数据处理设备被配置用于统计数学处理，包括被配置为使用MD协方差矩阵算法并处理MD算法类型的统计计算，且可包括置于计算机中的处理器、数据处理器、或微控制器、或者具有能力来执行统计数学计算的类似设备。

参看图2-5，方法100中的进一步的步骤122是为第一和第二集合121、125中的每一个芯线压接部分元件22测量力印记24，力印记24具有由压力装置115所产生的力数据。在时间范围126其上的多个时间点124处测量每一个力印记24。对两个集合121、125中的每一个元件上的力印记的测量产生各自对应的第一族和第二族的力印记134、136。来自第一集合121中的元件的力印记产生第一族力印记134。来自第二集合125中的元件的力印记产生第二族力印记136。时间范围126一般被定义为在其上力印记正好形成芯线压接部分元件的时间段。优选地，该时间范围是沿随着力增长的力印记曲线的那部分，如图2中所示。力印记曲线的增长部分大致形成了芯线压接部分元件。多个时间点124包括在时间范围126上的多个时间点124中每一个时间点之间的恒定的时间间隔处的测量。在范围126上的每一个时间点之间的时间间隔一般是随着压力装置的操作和测量产生芯线压接部分元件的力印记的软件而变化。测量芯线压接力部分元件的软件一般以恒定的时间间隔测量力数据。可选地，可在时间范围内的非恒定时间间隔处做出力印记的测量。例如，产生芯线压接部分元件的力印记曲线的一个时间范围可发生在100毫秒内，多个时间点中每一个点之间的恒定的时间间隔约为0.5毫秒。因此，为第一集合121提供并配置十五个芯线压接部分元件、且为第二集合125提供并配置十五个芯线压接部分元件。为第一集合121收集十五个测得的芯线压接力印记曲线，且为第二集合125收集十五个测得的芯线压接力印记曲线。来自第一集合121的芯线压接部分元件的十五个测得的力印记曲线形成第一族测得的力印记曲线134。来自第二集合125的芯线压接部分元件的十五个测得的力印记曲线形成第二族测得的力印记曲线136。

参看图3和5，方法100中的又一个步骤138是分别统计分析第一族和第二族力印记134、136来建立对于在时间范围126上的多个时间点124中每一个时间点处在各自第一和第二族134、136中的所测得的力印记上的力数据的预定统计（未示出）。

方法100中的另一个步骤100包括基于统计分析第一和第二族力印记134、136的步骤来从多个时间点124中选择初始的时间点子集142。所选择的初始时间点子集142是基于由用户对于在时间范围126上的多个时间点124的每一个时间点的第一和第二集合121、125中每一个元件的力印记曲线上的统计力数据的估算。选择初始的时间点子集142来确保该初始的时间点子集142足够彼此间隔从而充分代表时间范围126中的多个时间点124上的力印记。优选地，多个时间点124中的两个连续时间点不被选择用于在初始的时间点子集142中做代表。多个时间点中的两个连续时间点可具有不期望的数据噪声，此数据噪声可在被连续测量的力数据的测量结果中出现。因此，为初始的时间点子集所选的时间点需要在时间范围内的多个时间点124中被足够间隔开，从而避免这个可能的不期望的噪声测量。初始的时间点子集142还被有效地选择从而对方法100中的估算步骤146提供MD值组的数据的期望的分布。该预定的统计对于初始的时间点子集142的选择是有效的，因为统计学领域技术人员所进行的在时间范围126中的多个时间点124上的力数据的统计分析允许将力数据表征为截然不同的数据组，有助于初始的时间点子集142的选择。初始的时间点子集142是经精选的，其中对于统计领域技术人员而言，该预定统计显示在第一组力印记的力数据134和第二组力印记的力数据136之间存在区别。初始的时间点子集142还有效地被选择来确保实现初始的优化度量值（未示出）来提供优化过程200以定义最佳时间点子集。

参看图3和6，方法100中的进一步步骤144包括用MD算法（未示出）分别为第一和第二集合121、125中的每一元件产生单个马氏距离（MD）值。在所选的初始的时间点子集142处与第一和第二集合121、125中的每一个元件相关联的力数据被输入至MD算法。为第一集合121中的元件产生的从MD算法输出的MD值形成第一MD值组148，且为第二集合125的元件产生的MD值形成第二MD值组150。MD算法使用经常用于统计处理控制行业中的被配置的基准协方差矩阵。如本领域中所理解的，被用于配置MD算法的力数据是基于已知“良好零件”或不具有质量缺陷的可靠的芯线压接部位元件的对照组、和已知“缺陷零件”或具有故意的质量缺陷的芯线压接部位元件的对照组。通过使用初始时间点子集作为变量创建基准MD协方差矩阵，来初始地配置或设置MD算法。定义MD算法的变量的需要对于统计领域而言是已知的。然后在方法100的步骤144中使用这个MD协方差矩阵，对于在所选的初始时间点子集处的力数据，为第一集合（“良好零件”）和第二集合（“缺陷零件”）中的每一个芯线压接部部分元件，计算MD值。

参看图3和6，方法100中的进一步步骤146是由该方法的用户估算第一MD组值148的第一数据分布对照第二MD组值150的第二数据分布。第一MD值组148和第二MD值组150形成具有相应初始优化度量值（未示出）的初始质量度量MD族组152。优化度量值是在第一和第二MD值组之间的MD值中存在多大区别的测量。例如，优化度量值可以是两个MD值组的MD值的平均值的差异与两个MD值组的MD值的合并标准差之间的比值。增加的比值提供这样的指示：在两个MD值组之间存在较大的不同、或区别。这允许确定出清楚地描绘出两个MD值组的质量阈值，其对于基于它们的MD值错误分类芯线压接部分元件具有较低风险。初始优化度量值提供了使用初始质量MD值组来建立优化度量值的起始点。本发明并不限于仅这个比值方法来定义优化度量值，而是可包括任何合适的方法测量、或量化第一和第二MD值组之间的MD值的区别，或者量化第一族力曲线与第二族力曲线的力数据的区别。例如，定义优化度量值的另一个方法可以为：定义两个MD值组的MD值的中值的差异与两个MD值组的MD值的合并标准差之间的比值。进一步可选地，可使用两组的范围以替代标准差。进一步可选地，图基终结计数法（Tukey’s end countmethod）也可提供关于两个MD值组之间差异的相关信息。

方法100的又一个步骤154是使用在所选时间点子集142处的初始化质量度量MD族组152定义作为质量认可规范的初始质量阈值。确定质量认可规范的输出是使用所定义的初始质量阈值来将具有所述力印记的元件分类到不具有质量缺陷的元件集合或具有像第二集合136中的元件的故意质量缺陷的质量缺陷的元件集合。

参看图6和8，定义初始质量度量随着第一MD族组中的力数据和第二MD族组中的力数据的分布对比第一MD族组和第二MD族组之间的力数据之间的区别的比较而变化。用户估算不具有质量缺陷的第一MD值组148对照具有故意质量缺陷的第二MD值组150的数据的分布用作起始点来定义初始的质量阈值。

参看图6，第一MD值组的数据用第二MD值组的数据来用图表示。第一MD值组的数据与第二MD值组的数据混合在一起152。由于MD值组分布在一起，难以确定特定元件的MD值是属于第一组148还是第二组150。反之，参看图8，期望的是MD值组的值被分为截然不同的簇，在第一组250和第二组260之间具有清楚的区别。初始的时间点子集允许绘出MD值组148、150的图，此举可产生图6的图或图8的图，或者在图6和8的图之间的另一个图形化表示。

如果所选择的时间点子集产生图6中的混合数据152，可在第一组148和第二组150的所混合的MD值数据中的某个点、或位置处选择第一、或初始的质量阈值。与在混合MD值数据中的所选初始质量阈值相同或位于左侧的MD值数据，将被假设、或判断为来自第一组148。位于所选初始质量阈值右侧或大于所选初始质量阈值的MD值数据，将被假设、或判断为来自第二组150。

由于在包括第一和第二组148、150的初始质量度量MD族组152中的MD值一般不被分离，不论所选质量阈值是什么，可能对于来自第二组150的芯线压接部分元件具有位于所选质量阈值左侧的MD值并可被判断为来自第一组148。还可能对于来自第一组148的芯线压接部分元件具有位于所选质量阈值右侧的MD值且因此被判断为来自第二组150。因此，基于其MD值，存在着基于元件的MD值将元件错误地特征化的较高概率，图6中示出了图形化MD值情景。精选质量阈值是当元件实际处于第二组中时将元件判断为处于第一组中的风险或反之的风险之间的平衡。如果质量阈值被选择为在簇的中间部分的左侧，该质量阈值反映了置于第二组150中的更多的元件位于所选阈值右侧。这个判断增加了错误警告、或在统计领域中已知的类型1错误的可能性。发生类型1错误时，更多的元件可被判断为在第二组150中，而更多可认可的质量的元件当它们不是有缺陷的时被判断为有缺陷的。

反之，如果质量阈值被选择为在簇的中间部分的右侧，该质量阈值反映了置于第一组148中的更多的元件位于所选阈值左侧。这被已知为遗漏、或统计领域中已知为类型2错误的假阴性。发生类型2错误时，更多的芯线压接部分元件可被判断为在第一组148中，而更多有缺陷的元件当它们不是可认可时被判断为可被认可的质量。

如果来自所选时间点子集的力印记数据提供如图8中所示的MD值数据240，由于第一组250的MD值数据与第二组260的MD值数据的分隔，选择初始质量阈值比图6的图较为不复杂。第一组250的MD值组是独立的簇且第二组260的MD值组是独立的簇。第一组250的簇与第二组260的簇相分隔。图8的图的左侧部分上的曲线示出第一组250中的MD值是独立的簇，没有来自第二组260的MD值。图8的图的右侧部分上的曲线示出第二组260中的MD值是独立的簇，没有来自第一组250的MD值。可在第一组250的簇和第二组260的簇之间选择阈值，从而第一和第二组250、260的所有MD值位于所选质量阈值的左侧和右侧，而不会有将MD值错误分类至错误的组。因此，使用图8的独立的簇的情况（scenario）所选择的质量阈值就将元件分类在错误的MD值组而言具有小得多的风险。

优选地，如统计领域中已知的那样，可在图6或图8的MD值情况或图6和8的MD值情况之间的某个情况中选择初始质量阈值时使用合理工程判断（sound engineering judgment）。特别对于图6的MD值情况，合理工程判断是期望的，从而选择质量阈值使其足以不误判芯线压接部分元件至错误的MD值组（当芯线压接部分元件实际并非属于该MD值组时）。可选地，可使用已知最佳拟合的统计学模型来估算MD值组从而数学地选择质量阈值，其提供如前文所述的类型1和类型2风险之间的最佳平衡。

尽管可采用方法100用于具有多个小股电线的内部电导体部分的多个电线尺寸，方法100对于具有优选地小于18AWG的尺寸的电线导体被压接至具有类似尺寸的相关联端子是非常理想的。甚至更优选地，可对于具有带多个小股电线的电导体部分的小于22AWG的多个电线导体尺寸而采用方法100。

初始质量阈值MD族组帮助定义方法100中的初始质量阈值。期望的是定义最佳时间点子集处的最佳质量阈值，其提供可更能将不具有质量缺陷的芯线压接部分元件相对具有像芯线压接部分元件125中所定义的故意质量缺陷的质量缺陷的芯线压接部分元件区分开的质量认可规范。

参看图2和7，提供了执行优化过程200的流程图，其具有确定使用最佳时间点子集所建立的最佳质量阈值的子步骤。优化过程的目的在于在合理时间量内获得最佳时间点子集。优化度量值是得到在后续时间点选择中逐渐增大直到其最终停止增长时的值。最佳优化度量值被认为是不再增加的值。优化度量值确保对应的最佳质量阈值，可在不合适分类元件的风险为低的情况下，正确地将属于第一组的元件和属于第二组的元件区分开。

流程图200中的一个子步骤210是随机地从时间范围126上的多个时间点124中选择至少一个后续时间点子集（未示出）。可通过数据处理设备使用已知的随机数生成器算法来随机选择数据处理设备的时间范围中的时间点，来选择该至少一个后续时间点子集。可选地，试探式数字选择可被与随机数生成结合使用。例如，可使用本领域已知的模拟退火（simulated annealing）来随机地生成该至少一个时间点子集。通过使用至少一个后续时间点子集作为变量创建基准MD协方差矩阵，来配置或设置MD算法。这对于为优化过程而生成的每一个至少一个后续时间点子集都是必要的。定义MD算法的变量的需要对于统计领域而言是已知的。

流程图200中的另一个子步骤212是对于第一和第二集合121、125中每一个元件分别产生单个马氏距离（MD）值。与至少一个后续时间点子集对应的、与第一和第二集合121、125中的每一个元件相关联的力数据被输入至MD算法。MD算法的输出为第一集合的元件产生MD值，形成至少一个后续第一MD值组250的，且为第二集合中的元件产生的MD值形成至少一个后续第二MD值组260。以与此处之前所述的方法100中类似方式使用MD算法，不过使用了与至少一个后续时间点子集相关联的力数据。MD算法中使用的基准MD协方差矩阵是用该至少一个后续时间点子集设置的。

流程图200中的进一步子步骤214是由用户估算至少一个后续第一MD值组的第一数据分布比照至少一个后续第二MD值组的第二数据分布。该至少一个后续第一和第二MD值组250、260形成具有相应至少一个后续优化度量值的至少一个后续质量度量MD族组240。值组的估算类似于之前所述方法100中所述、应用至图6和8的图的讨论。在执行优化过程时，至少一个后续MD值组的数据的分布可经常看起来像图8中所示的图多于像图6中所示的图。然而，可能对于至少一个后续MD值组显示如像图6中所示的图。

流程图200中的进一步子步骤216是将至少一个后续优化度量值与初始的优化度量值和用优化过程生成的任何之前的优化度量值比较，来确定最佳优化度量值，从而确保初始时间点子集还是至少一个后续时间点子集是最佳的至少一个后续时间点子集。可理解的是“确保”意味着在在合理时间量内在实际程度上找到可接受的最佳的至少一个后续时间点子集。数学优化领域内的技术人员可理解，如果可尝试的至少一个后续时间点子集的可能的总体数量非常大的话，可能没有办法找到最佳的至少一个后续时间点子集。例如，一个计算表示要尝试的至少一个后续时间点子集的可能的量处于10¹⁵可能性的数量级。

可用此处上文所述的比值来确定优化度量值。使用优化过程，如果用如此处上文所述的增加的比值表示的至少一个后续时间点子集的至少一个后续优化度量值，指示出至少一个后续MD值组之间的分隔大于使用通过优化过程获得的至少一个后续时间点子集的之前的至少一个后续MD值组的分隔、或在该时间点子集所建立的MD值组上有增大的分隔，则该至少一个后续时间点子集可被认为比其他至少一个后续时间点子集或初始时间点子集更优化。可依需要利用优化过程200，直到建立了与最佳优化度量值相对应的最佳时间点子集。

流程图200中的进一步子步骤218是使用在对应的至少一个后续时间点子集处的至少一个后续质量度量MD族组来定义至少一个后续质量阈值。该至少一个后续质量阈值可如应用于此处上文所描述的图6和8的方法100中所描述地那样被定义。

流程图200中的又一个步骤220是确定使用与最佳优化度量值相对应的最佳时间点子集所建立的最佳质量阈值。该最佳质量阈值和最佳时间点子集是使用初始时间点子集的初始质量阈值或使用该至少一个后续时间点子集的至少一个后续质量阈值。使用与最佳优化度量值对应的最佳时间点子集建立的最佳质量阈值的选择是基于MD组的数据的分布，且MD组可经常被图示在图8中。

参看图9，在第一和第二族力印记曲线上使用所建立的预定统计的统计性分析被图示于流程图300中所包括的子步骤中。

流程图300中的一个子步骤302是通过数据处理设备，在时间范围上的多个时间点上的每一个时间点确定第一族力印记曲线的第一平均力和第一标准偏差。

流程图300中的另一个子步骤304是通过数据处理设备，在时间范围上的每一个时间点确定第二族力印记曲线的第二平均力和第二标准偏差。

流程图300中的进一步子步骤306是通过数据处理设备，在时间范围上的多个时间点上的每一个时间点确定力平均差异值。力平均差异值是在在时间范围上的多个时间点上的每一个时间点的第一平均力和第二平均力之间的差异。

流程图300中的进一步子步骤308是由用户估算以下至少一个，在时间范围上的多个时间点上的每一个时间点上各自对第一和第二族力印记曲线的：(i)平均力差异值、(ii)第一标准偏差、和(iii)第二标准偏差。

方法300允许基于在对于初始优化度量值，将提供具有较大值的比值的每一个各自时间点的两个元件集合121、125的平均值和标准偏差的差异，对于初始时间点子集142的更灵巧、或明智的选择。使用两个元件集合的平均值和标准偏差中的差异，提供了当力数据被转换为MD值时，对于力印记将如何能将不具有质量缺陷的第一元件集合121与具有故意质量缺陷的第二元件集合125区分开的理解。第一组力曲线和第二族力曲线之间的力平均差异值和/或标准偏差中的最大差异表示一个起始点，用于在初始时间点子集中的时间点中选择其中一个时间点。初始时间点子集中其他时间点的选择可基于查看力平均差异值中其他相继较小的差异。时间点子集中的每一个时间点需要充分地有意义地与其他所选时间点间隔开从而防止数据噪声不利地影响时间点的选择，这将不期望地影响初始质量阈值的定义。

参看图10，使用验证过程400来确保使用最佳时间点子集所建立的最佳质量阈值具有统计地稳健的质量。验证过程的目的在于保证来自优化过程的最佳时间点子集具有如果各自最佳时间点子集由验证过程产生的随机增量而偏离的话不会极大地变化的优化度量值。因此，验证过程的目标在于选择与最佳时间点子集接近的至少一个附加随机时间点子集，从而该至少一个附加随机时间点子集具有类似于其他至少一个附加随机时间点子集的至少一个附加优化度量值或最佳优化度量值。如果验证过程确定最佳时间点子集并不稳健，优化过程可被重新运行来定义在新的最佳时间点子集处的新的最佳质量阈值，且在新的最佳时间点子集处的新的最佳质量阈值可用验证过程来重新验证。

流程图400中的一个子步骤404是选择至少一个附加随机时间点子集（未示出）且通过在预定最大时间增值范围（未示出）中改变相应时间点子集或最佳至少一个后续时间点子集中的至少一个时间点的值随机增量（未示出）来选择至少一个附加随机时间点子集。两个集合中的力印记的力数据与至少一个附加随机时间点子集相对应。该至少一个附加随机时间点子集包括与初始时间点子集142和至少一个后续时间点子集（未示出）相同数量并与最佳时间点子集（未示出）相同数量的来自多个时间点的时间点。

方法400中的另一个子步骤408是对于第一和第二集合121、125中每一个元件分别产生单个马氏距离（MD）值。在至少一个附加随机时间点子集处的、与在第一和第二集合121、125中的每一个元件相关联的力数据被输入至MD算法，且MD算法的输出是为形成至少一个附加随机第一MD值组的第一集合中的元件而产生的MD值、和为形成至少一个附加随机第二MD值组的第二集合中的元件而产生的MD值。以与此处之前所述的方法100中类似方式使用MD算法，不过采用与至少一个附加随机时间点子集相关联的力数据。通过使用至少一个附加随机时间点子集作为变量创建基准MD协方差矩阵，来配置或设置MD算法。这对于为验证过程而生成的每一个至少一个附加随机时间点子集都是必要的。定义MD算法的变量的需要对于统计领域而言是已知的。

方法400中的进一步子步骤412是由用户估算至少一个附加随机第一MD值组的第一数据分布比照至少一个附加随机第二MD值组的第二数据分布，来产生至少一个附加随机第二族组，且至少一个附加随机第一和第二MD值组形成具有对应的至少一个附加随机优化度量值的至少一个附加随机质量度量MD族组。可以此处上文所讨论的图6和8中示图的方法100所用的类似方式估算数据的分布。

流程图400中的另一个步骤414是使用在所述对应的至少一个后续时间点子集处的至少一个附加随机质量度量MD族组来定义至少一个附加随机质量阈值。

方法400中的另一个步骤416是将具有最佳优化度量值的至少一个附加随机优化度量值与用验证过程生成的任何之前的至少一个附加随机优化度量值相比较，从而确保最佳时间点子集是统计地稳健或统计地非稳健的。如果最佳优化度量值与所有的用验证过程生成的至少一个附加随机优化度量值的组合的最大和最小值落在彼此的预定量内，则最佳时间点子集是统计地稳健的。如果最佳优化度量值与所有的用验证过程生成的至少一个附加随机优化度量值的组合的最大和最小值没有落在彼此的预定量内，则最佳时间点子集是统计地非稳健的。

方法400中的另一个步骤418是确定使用统计稳健的最佳时间点子集所建立的最佳质量阈值。如果时间点子集是统计地稳健的，则最佳质量阈值和最佳时间点子集是在最佳时间点子集处的最佳质量阈值，或者如果至少一个附加随机时间点子集是统计地稳健的，则最佳质量阈值和最佳时间点子集是使用至少一个附加随机质量阈值的至少一个附加随机质量阈值。如果最佳时间点子集和至少一个附加随机时间点子集是统计地非稳健的，则重新运行优化过程并用验证过程重新验证优化过程。

可按要求尽量使用验证过程来获得在统计地稳健的最佳时间点子集处建立的最佳质量阈值。优选以百分比在最大和最小值之间测得预定量。优选地，对于被认为是统计地稳健的时间点，最大和最小值之间的预定量可以是5%或更少。预定量提供了对于由给定芯线压接部分元件的压力装置产生的力印记有多一致性的测量，且预定量取决于包括电线导体、端子尺寸的特定压力装置设备、和压力设置等的变化。可选地，可使用标准偏差、范围、或方差、或力数据的变化或其他统计测量来测得该预定量。

统计稳健性被定义为当至少一个附加随机时间点子组被改变或偏移随机增量时优化度量值没有明显改变。随机增量（未示出）可被定义在时间点子集或至少一个后续时间点子集中特定时间点上或下1-3个时间点增量的预定最大时间增值范围内。

包括初始时间点子集、至少一个后续时间点子集、最佳时间点子集、至少一个附加随机时间点子集在内的多种时间点子集中的任何时间点子集各自包括选自多个时间点的相同数量的时间点。初始时间点子集包括优选地至少十个（10）所选择的时间点来准确地描绘力印记曲线24。可选地，每一个各自时间点子集可包括相同数量的时间点但不同于那至少十个。进一步可选地，每一个各自时间点子集可具有彼此不同数量的时间点。

在本发明的又一个进一步示例性实施例中，参看图11，呈现了用于将电线导体12连接至端子14的制造过程方法500。

方法500中的一个步骤501是确定在芯线压接部分元件22上的芯线压接力印记24的质量认可规范。质量认可规范包括使用最佳时间点子集建立的最佳处理质量阈值。使用最佳处理时间点子集建立的最佳处理质量阈值可包括第一或第二或第三质量阈值。第一质量阈值是使用所选择的初始时间点子集142所建立的。第二质量阈值可以是用优化过程在初始时间点子集142所建立的。第二质量阈值还可在不同于初始时间点子集142的至少一个后续时间点子集处建立，且至少一个后续时间点子集是用优化过程建立的。第三质量阈值也可在被用验证过程建立为统计地稳健的初始时间点子集142处建立。第三质量阈值还可在不同于初始时间点子集142的至少一个后续时间点子集处建立，且该至少一个后续时间点子集在被用验证过程建立为统计地稳健的。第三质量阈值还可在不同于初始时间点子集142和至少一个后续时间点子集的至少一个附加随机时间点子集处建立，且至少一个附加随机时间点子集被用验证过程建立为是统计地稳健的。如果初始的时间点子集142或至少一个后续时间点子集或用验证过程建立的至少一个附加随机时间点子集是统计地非稳健的，重新运行优化过程并用验证过程来重新验证该优化过程。

方法500中的另一个步骤502是提供包括与压力装置115相关联的数据处理设备的压力装置115。数据处理设备与压力装置115电通信，且数据处理设备可被固定至压力装置115或位于远离压力装置115之处。

方法500中的另一个步骤510是提供电线导体12和端子14。电线导体12包括内部电导体部分16，其包含多个小股电线（未示出）。

方法500中的进一步步骤518是设置端子14中的电线导体12的电导体部分16至压力装置115。

方法500中的另一个步骤522是通过压力装置115施加压力10。压力10的一部分被分开地施加为芯线压接力20来产生具有芯线压接力印记24的芯线压接部分元件22。芯线压接部分元件24将电线导体12的电导体部分16连接至端子14。

方法500中的进一步步骤526是用数据处理设备感测芯线压接力印记24来捕捉数据处理设备（未示出）的存储器（未示出）中的所感测到的芯线压接力印记（未示出）。

方法500中的又一个步骤530是在芯线压接部分元件上产生芯线压接力印记的时间范围126中的多个时间点124中至少最佳处理时间点子集处用数据处理设备从所感知的芯线压接力印记（未示出）中收集力数据。

方法500中的进一步步骤534是用数据处理设备用存储在存储器中的MD算法，在所感知的芯线压接力印记上，产生单个MD值。使用数据处理设备，设置在所感知的芯线压接力印记上的在最佳处理时间点子集处的力数据被输入至MD算法。

方法500中的另一个步骤538是使用数据处理设备，将对应于在最佳处理时间点子集处所感知的芯线压接力印记的所产生的单个MD值与存储在存储器中的最佳处理质量阈值相比较。

方法500中的又一个进一步步骤542是基于比较所产生的单个MD值的步骤来呈现对于芯线压接部分元件上的质量判定，其中芯线压接部分元件上的质量判定是可认可的质量、或质量缺陷。可认可的质量是其中所产生的单个MD值等于或小于存储于存储器中的最佳处理质量阈值，且芯线压接部分元件在设置于所述芯线压接部分元件中的所述电导体部分中没有偏离于所述多个小股电线的未被压接的小股电线。当所产生的单个MD值大于存储于存储器中的最佳处理质量阈值时，芯线压接部分元件具有质量缺陷，且所述芯线压接部分元件的质量缺陷是在设置于所述芯线压接部分元件中的所述电导体部分中偏离多个小股电线的至少一个小股电线未被压接。

根据本发明又一个实施例，参看图3、7、9和10，介质包括用于确定在选自多个元件的随机元件上的力印记曲线的质量认可规范的计算机可读指令。该计算机可读指令适于配置数据处理设备来执行用于确定力印记曲线的质量认可规范的方法100，如此处上文所讨论的那样。该计算机可读指令还可适于包括执行根据流程图200的优化过程、和流程图300中的验证过程、和根据流程图400的统计分析的子步骤。此处上文描述了确定质量认可规范的方法100、执行优化过程的方法200、确定统计进行统计分析的方法300、以及执行验证过程的方法400的细节。

尽管没有限制于任何特定理论，据确信的是从多个时间点中选择十个（10）时间点来建立初始时间点子集、至少一个后续时间点子集、最佳时间点子集、和至少一个附加随机时间点子集，能捕捉允许质量阈值被定义且元件质量被定义的力印记曲线的本质。从多个时间点中选择少于十个时间点可能不允许力印记曲线的本质得以被捕捉以使元件的质量可被分辨。选择多于十个时间点可允许芯线压接部分元件的分辨，不过还可能需要附加时间与成本来分析与选择上述时间点子集中的一个中的附加时间点。

尽管没有限制于任何特定理论，据确信的是需要至少十五个（15）元件来建立第一和第二元件集合。在两个集合的每一个中挑选至少十五个元件能提供组成MD协方差矩阵所必需的元件变化，从而MD协方差矩阵的操作捕捉了对于分辨文件质量有用的所界定的质量阈值的常规制造操作变化，且并不太大以致使得元件质量不被分辨。在两个元件集合中具有多于十五个元件可增加附加成本和时间来定义质量阈值。

此处所描述的方法的用户并不限于任何一个个人，而是全部涵盖来包括可了解提供所需要的信息来帮助本发明的方法的操作的任何个人、团体、企业等。

统计分析步骤可使用任何方法来理解比对第二组中的MD值数据的第一组中的MD值数据的分布。例如，一个可选的方法是绘制第一组和第二组的MD值并让用户查看这个数据来理解数据的分布。另一个可选方法是分析其他统计测量中的差异，诸如力印记数据的平均值、力印记数据的标准偏差等。

进一步可选地，本发明可被应用于具有单个导体芯线的电线。如此处所述的力印记分析可被用于确定断口或裂缝是否被冲击在导体芯线上。可使用力印记分析来确定绝缘或其他碎片是否被置于芯线压接部分元件中。力印记分析还可被用于理解电线导体是否具有缩颈情况，其中电线在电线导体的特定部分尺寸不足。

在另一个可选实施例中，绝缘芯线压接部分可被分析未被压接的小股电线、固态导体芯线中的断口或裂缝、绝缘压接部分元件中的碎片、等。

在本发明的又一个可选实施例中，力印记分析可被用在诸如压接、压印、冲压等金属形成操作中，其中这些操作中力印记可被测量。本发明还可被用于其中电线未被剥去的绝缘移位应用中，不过接触元件被设置为通过绝缘体来与电导体电线发生电接触。使用绝缘移位，使用元件穿过绝缘体的布置和所鉴别出的内部连接的质量可测得力印记。

因此，本发明提供了方法来可靠地确定质量认可规范，其被用于降低连接电线导体至端子的芯线压接部分元件的质量缺陷的力印记，特别是对于小于18AWG的电线导体的尺寸。通过使用从表征芯线压接部分元件的力印记的时间范围中的多个时间点中所选择的初始时间点子集确定的初始质量阈值，可通过用优化过程建立最佳时间点子集来进一步细化。在最佳时间点子集建立的最佳质量阈值增加了使用质量阈值可较好地确定具有力印记的芯线压接部分元件的质量的概率。可在最佳时间点子集上执行验证过程来确保最佳时间点子集的统计稳健。使用统计地稳健的最佳时间点子集来建立的最佳质量阈值提供了可确定具有力印记的芯线压接部分元件的质量的甚至更高的概率。使用来自第一和第二集合的力数据上的力差异值、或标准偏差的统计分析的使用允许在确定初始质量阈值中使用的时间点子集的明智的选择。

尽管已参考本发明的特定实施例示出和描述了本发明，但本领域技术人员应当理解可在形式和细节上作出各种改变而不背离如所附权利要求书限定的本发明的精神和范围。

权利要求中所使用的所有术语旨在给出如本领域技术人员理解的其最宽的普通含义及其合理的构造，除非在本文中明确地作出相反指示。具体而言，诸如“一”、“该”、“所述”等单数冠词的使用应当被解读成所指示元素中的一个或多个，除非权利要求叙述了明确的相反限定。

Claims

1.一种为在元件上产生的力印记而确定质量认可规范的方法，所述方法包括：

提供不具有质量缺陷的第一元件集合和具有故意的质量缺陷的第二元件集合；

提供压力装置，来产生将被施加至所述两个元件集合中每一个集合中的每一个元件的力，从而为所述两个元件集合中每一个集合中的每一个元件产生力印记；

提供被设置于数据处理设备的存储器中的马氏距离（MD）算法；

为所述第一和所述第二集合中的每一个元件测量由所述压力装置产生的具有力数据的力印记，在时间范围上的多个时间点处测得每一个力印记从而为第一和第二元件集合产生各自对应的第一和第二族力印记；

统计地分析所述各自对应的第一和第二族力印记，来在所述时间范围上的多个时间点中的每一个时间点处在所述各自对应的第一和第二族中的所测得的所述力印记上建立预定统计；

基于统计地分析所述各自对应的第一和第二族力印记的步骤，从所述多个时间点选择初始时间点子集；

通过输入在所述初始时间点子集处的与所述第一和第二集合中每一个元件相关联的所述力数据，使用MD算法，对所述第一和第二集合中每一个元件各自产生单个马氏距离（MD）值，为所述第一集合的元件产生的MD值形成第一MD值组且为所述第二集合的元件产生的MD值形成第二MD值组；

估算所述第一MD值组的第一数据分布比照所述第二MD值组的数据的第二部分，所述第一第二MD值组形成具有相应初始优化度量值的初始质量度量MD族组；

使用在所述相应时间点子集处的初始质量度量MD族组，定义初始质量阈值为质量认可规范，

其中确定所述质量认可规范的输出是使用所述所定义的初始质量阈值来分类具有所述力印记的所述元件至如下中的一个分类，

(i)不具有质量缺陷的元件组，和

(ii)具有像所述故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法中的所述步骤以所描述的顺序被执行。

3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一和第二集合包括相同数量的元件。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一和第二集合各自包括至少十五个（15）元件。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述元件包括芯线压接部分元件，由置于端子中的电线导体配置而成，来将所述电线导体连接至所述端子，所述导体包括电导体部分和包含围绕所述电导体部分的绝缘体的绝缘电线部分，且所述电导体部分包括多个小股电线，且由所述压力装置所施加的所述力的一部分是被施加至所述电导体部分来形成所述芯线压接部分元件来将所述电导体部分连接至所述端子的芯线压接力，且当置于所述芯线压接部分中的所述电导体部分不具有偏离于多个小股电线的未被压接的小股电线时所述芯线压接部分元件不具有质量缺陷，且当置于所述芯线压接部分中的所述电导体部分具有偏离于多个小股电线的至少一个未被压接的小股电线时所述芯线压接部分元件具有质量缺陷。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，与所述相关的端子相连接的所述电线导体具有小于18AWG的尺寸。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，统计地分析所述各自对应的第一和第二族力印记的步骤进一步包括预定统计，所述预定统计具有如下子步骤，

通过所述数据处理设备，在所述时间范围上的所述多个时间点上的每一个时间点处为所述第一族力印记确定第一平均力和第一标准偏差，

通过所述数据处理设备，在所述时间范围中的每一个时间点处为所述第二族力印记确定第二标准力和第二标准偏差，

通过所述数据处理设备，在所述时间范围上的所述多个时间点的每一个时间点处确定力平均差异值，所述力平均差异值是在所述时间范围上的多个时间点的每一个时间点处所述第一平均力和所述第二平均力之间的差异，且

估算以下中的至少一个，

(i)力平均差异值，

(ii)第一标准偏差，和

(iii)第二标准偏差，

上述估算是在所述时间范围上所述多个时间点中的每一个时间点处分别为第一和第二族力印记而做出的。

8.如权利要求1所述的方法，其特征在于，定义所述初始质量阈值的步骤进一步包括：使用初始时间点子集建立所述初始质量阈值，包括使用由优化过程确定的最佳时间点子集建立最佳质量阈值，所述优化过程包括如下子步骤，

从所述时间范围上的多个时间点中随机选择至少一个后续时间点子集，通过输入在所述至少一个后续时间点子集处的与所述第一和第二集合中每一个元件相关联的所述力数据，使用MD算法，对所述第一和第二集合中每一个元件各自产生单个马氏距离（MD）值，为所述第一集合的元件产生的MD值形成至少一个后续第一MD值组且为所述第二集合的元件产生的MD值形成至少一个后续第二MD值组，

估算所述至少一个后续第一MD值组的第一数据分布比照所述至少一个后续第二MD值组的第二数据分布，所述至少一个后续第一和第二MD值组形成具有相应的至少一个后续优化度量值的至少一个后续质量度量MD族组，

将所述至少一个后续优化度量值与所述初始优化度量值和用所述优化过程生成的任何之前的优化度量值进行比较，来确定最佳优化度量值，从而确保初始时间点子集和至少一个后续时间点子集中的一个是最佳时间点子集，

使用在所述相应的至少一个后续时间点子集处的至少一个后续质量度量MD族组来定义至少一个后续质量阈值，且

确定使用与所述最佳优化度量值相对应的最佳时间点子集建立的所述最佳质量阈值，其中所述最佳质量阈值和所述最佳时间点子集是如下之一，

(i)使用所述初始时间点子集的所述初始质量阈值，和

(ii)使用所述至少一个后续时间点子集的所述至少一个后续质量阈值。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，确定使用所述最佳时间点子集建立的所述最佳质量阈值的所述子步骤进一步包括如下子步骤，

执行验证过程来确保所述最佳时间点子集的统计稳健，所述验证过程包括如下子步骤，

选择至少一个附加随机时间点子集，且通过改变所述最佳时间点子集中的至少一个时间点达预定最大时间增量值范围内的随机增量来选择所述至少一个附加随机时间点子集，且在所述两个集合中的所述力印记的所述力数据与所述至少一个附加随机时间点子集相对应，

通过输入在所述至少一个附加随机时间点子集处的与所述第一和第二集合中每一个元件相关联的所述力数据，使用MD算法，对所述第一和第二集合中每一个元件各自产生单个马氏距离（MD）值，为所述第一集合的元件产生的MD值形成至少一个附加随机第一MD值组且为所述第二集合的元件产生的MD值形成至少一个附加随机第二MD值组，

估算所述至少一个附加随机第一MD值组的第一数据分布比照所述至少一个附加随机第二MD值组的第二数据分布，所述至少一个附加随机第一MD值组和所述至少一个附加随机第二MD值组形成具有相应的至少一个附加随机优化度量值的至少一个附加随机质量度量MD族组，

使用在所述相应的至少一个附加随机时间点子集处的至少一个附加随机质量度量MD族组来定义至少一个附加随机质量阈值，

将具有最佳优化度量值的所述至少一个附加随机优化度量值与用所述验证过程生成的任何之前的至少一个附加随机优化度量值相比较，从而确保所述最佳时间点子集是如下中的一个，

(i)如果所述最佳优化度量值与用所述验证过程生成的所有的至少一个附加随机优化度量值的组合的最大和最小值处于彼此的预定量内，则所述最佳时间点子集是统计地稳健的，和

(ii)如果所述最佳优化度量值与用所述验证过程生成的所有的至少一个附加随机优化度量值的组合的最大和最小值没有处于彼此的预定量内，则所述最佳时间点子集是统计地非稳健的，和

确定使用统计稳健的所述最佳时间点子集建立的所述最佳质量阈值，其中在所述最佳时间点子集处被建立的所述最佳质量阈值是如下之一，

(i)在所述最佳时间点子集处的最佳质量阈值，其中所述最佳时间点子集是统计地稳健的，

(ii)使用所述至少一个附加随机时间点子集的至少一个附加随机质量阈值，且所述至少一个附加随机时间点子集是统计地稳健的，和

(iii)如果所述最佳时间点子集和所述至少一个附加随机时间点子集是统计地非稳健的，则重新所述运行优化过程并用所述验证过程重新验证所述优化过程。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于，

所述初始时间点子集，

所述至少一个后续时间点子集，

所述最佳时间点子集，和

所述至少一个附加随机时间点子集各自包括选自所述多个时间点的相同数量的时间点。

11.一种用于将电线导体连接至端子的制造过程方法，包括如下步骤：

为在芯线压接部分元件上的芯线压接力印记确定质量认可规范，所述质量认可规范包括使用最佳处理时间点集合建立的最佳处理质量阈值，所述最佳处理质量阈值和所述最佳处理时间点子集是如下之一，

(i)使用所选择的初始时间点子集建立的第一质量阈值，

(ii)使用如下之一建立的第二质量阈值，

(a)所述初始时间点子集，且所述初始时间点子集是用优化过程建立，和

(b)不同于所述初始时间点子集的至少一个后续时间点子集，所述至少一个后续时间点子集是用所述优化过程建立的，且

(iii)使用如下之一建立的第三质量阈值，

(a)由验证过程被建立为统计稳健的所述初始时间点子集，

(b)不同于所述初始时间点子集的至少一个后续时间点子集，且所述至少一个后续时间点子集被所述验证过程建立为统计稳健的，

(c)不同于所述初始时间点子集和所述至少一个后续时间点子集的至少一个附加随机时间点子集，且所述至少一个附加随机时间点子集被所述验证过程建立为是统计地稳健，和

(d)如果所述初始时间点子集和所述至少一个后续时间点子集和用验证过程建立的所述至少一个附加随机时间点子集中的至少一个是统计地非稳健的，重新运行所述优化过程并用所述验证过程来重新验证所述优化过程，

其中使用所述最佳处理时间点集合建立的所述最佳处理质量阈值被存储在数据处理设备的存储器中；

提供压力装置，所述压力装置包括与所述压力装置相关联的所述数据处理设备；

提供所述电线导体和所述端子，所述电线导体包括包含多个小股电线的内部电导体部分；

将所述端子中的所述电线导体的所述电导体部分放置至所述压力装置，

由所述压力装置施加压力，其中所述压力装置的部分被分别地施加为芯线压接力来产生具有所述芯线压接力印记的所述芯线压接部分元件，所述芯线压接部分元件将所述电线导体的所述电导体部分连接至所述端子；

使用所述数据处理设备感测所述芯线压接力印记，从而捕捉所述数据处理设备的所述存储器中的所述被感测的芯线压接力印记；

至少于在所述芯线压接部分元件上产生所述芯线压接力印记的时间范围内的多个时间点中的所述最佳处理时间点子集处，用所述数据处理设备收集来自所述被感测的芯线压接力印记的力数据；

用所述数据处理设备在所述被感测的芯线压接力印记上产生单个MD值作为存储于所述存储器中的马氏距离（MD）算法的输出，且使用所述数据处理设备，被置于所述被感测的芯线压接力印记上的在所述最佳时间点子集处的所述力数据被输入至所述MD算法；

使用所述数据处理设备，将对应于在所述最佳处理时间点子集处的所述所感测的芯线压接力印记的所述所产生的单个MD值与存储于所述存储器中的所述最佳处理质量阈值相比较；且

给出基于所述比较所述所产生的单个MD值的步骤在所述芯线压接部分元件上的质量判定，其中在所述芯线压接部分元件的所述所呈现的质量判定是如下之一，

(i)可认可的质量，其中所述所产生的单个MD值等于或小于存储于所述存储器中的所述最佳处理质量阈值，其中所述芯线压接部分元件的所述可认可的质量是在设置于所述芯线压接部分元件中的所述电导体部分中没有偏离于所述多个小股电线的未被压接的小股电线，和

(ii)质量缺陷，其中所述所产生的单个MD值大于存储于所述存储器中的所述最佳处理质量阈值，其中所述芯线压接部分元件的所述质量缺陷是在置于所述芯线压接部分元件中的所述电导体部分中有至少一个偏离于所述多个小股电线的未被压接的小股电线。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述方法中的所述步骤以所描述的顺序被执行。

13.如权利要求11所述的方法，其特征在于，其中确定所述质量认可规范的所述步骤进一步包括用于确定所述质量认可规范的方法包括如下子步骤，

提供不具有质量缺陷的第一元件集合和具有故意的质量缺陷的第二元件集合，

提供压力装置，来产生将被施加至所述两个元件集合中的每一个元件的力，从而为各自所述两个元件集合中的每一个元件产生力印记，

提供被置于所述数据处理设备的所述存储器中的马氏距离（MD）算法，

为所述第一和所述第二集合中的每一个元件测量由所述压力装置产生的具有力数据的力印记，在时间范围上的多个时间点处测得每一个力印记从而为第一和第二元件集合产生各自对应的第一和第二族力印记，

统计地分析所述各自对应的第一和第二族力印记，来在所述时间范围的多个时间点中的每一个时间点在各自对应的第一和第二族中的所测得的所述力印记上建立预定统计，

基于统计地分析各自第一和第二族力印记的步骤，从所述多个时间点选择所述初始时间点子集，

通过输入在所述初始时间点子集处的与所述第一和第二集合中每一个元件相关联的所述力数据，使用MD算法，对所述第一和第二集合中每一个元件各自产生单个马氏距离（MD）值，为所述第一集合的元件产生的MD值形成第一MD值组且为所述第二集合的元件产生的MD值形成第二MD值组，

估算所述第一MD值组的第一数据分布比照所述第二MD值组的数据的第二部分来，所述第一第二MD值组形成具有相应初始优化度量的初始质量度量MD族组，和

其中所述质量认可规范的输出是使用所述所定义的质量阈值来分类具有所述力印记的所述元件至如下中的一个分类，

(i)不具有质量缺陷的元件，和

(ii)具有像所述故意质量缺陷的质量缺陷的元件组，和

其中所述初始质量阈值包括所述第一质量阈值。

14.如权利要求13所述的方法，其特征在于，定义所述初始质量阈值的步骤进一步包括：使用初始时间点子集建立所述初始质量阈值，包括使用由所述优化过程确定的最佳时间点子集建立最佳质量阈值，所述优化过程包括如下子步骤，

使用在相应的至少一个后续时间点子集处的至少一个后续质量度量MD族组来定义至少一个后续质量阈值，且

(i)使用所述初始时间点子集的所述初始质量阈值，和

(ii)使用所述至少一个后续时间点子集的所述至少一个后续质量阈值，

其中所述至少一个后续质量阈值包括所述第二质量阈值。

15.如权利要求14所述的方法，其特征在于，确定使用所述最佳时间点子集建立的所述最佳质量阈值的所述子步骤进一步包括如下子步骤，

执行所述验证过程来确保所述最佳时间点子集的统计稳健，所述验证过程包括如下子步骤，

使用在相应的至少一个附加随机时间点子集处的至少一个附加随机质量度量MD族组来定义至少一个附加随机质量阈值，

确定使用是统计稳健的所述最佳时间点子集建立的所述最佳质量阈值，其中在所述最佳时间点子集处被建立的所述最佳质量阈值是如下之一，

(iii)如果所述最佳时间点子集和所述至少一个附加随机时间点子集是统计地非稳健的，则重新所述运行优化过程并用所述验证过程重新验证所述优化过程，且

其中所述第三质量阈值包括与统计地稳健的最佳时间点子集的建立相关联的最佳质量阈值。

16.如权利要求13所述的方法，其特征在于，分别统计地分析第一和第二族力印记的步骤进一步包括预定统计，所述预定统计具有如下子步骤，

通过所述第一数据处理设备，在所述预定时间范围上的所述多个时间点上的每一个时间点处确定所述第一族力印记的第一平均力和第一标准偏差，

通过所述第一数据处理设备，在所述预定时间范围中的每一个时间点处为所述第二族力印记确定第二标准力和第二标准偏差，

通过所述第一数据处理设备，在所述预定时间范围上的所述多个时间点的每一个时间点处确定力平均差异值，所述力平均差异值是在所述预定时间范围上的多个时间点的每一个时间点处所述第一平均力和所述第二平均力之间的差异，且

由所述用户估算以下至少一个，

(i)力平均差异值，

(ii)第一标准偏差，和

(iii)第二标准偏差，

上述估算是在所述预定时间范围上所述多个时间点中的每一个时间点处分别为第一和第二族力印记而做出的。

17.如权利要求11所述的方法，其特征在于，与所述相关的端子相连接的所述电线导体具有小于18AWG的尺寸。

18.一种包括为元件上的力印记确定质量认可规范的计算机可读指令的介质，所述计算机可读指令适于配置数据处理设备执行一种方法，所述方法包括：

提供压力装置，来产生将被施加至所述两个元件集合中的每一个元件的力，从而为各自所述两个元件集合中的每一个元件产生力印记；

统计地分析各自的第一和第二族力印记，来在所述时间范围的多个时间点中的每一个时间点处在各自第一和第二族中的所测得的所述力印记上建立预定统计；

基于统计地分析各自第一和第二族力印记的步骤，从所述多个时间点选择初始时间点子集；

估算所述第一MD值组的数据的第一分布比照所述第二MD值组的数据的第二部分，所述第一第二MD值组形成具有相应初始优化度量值的初始质量度量MD族组；和

其中确定所述质量认可规范的输出是使用所述所定义的质量阈值来分类具有所述力印记的所述元件至如下中的一个分类，

(i)不具有质量缺陷的元件组，和

(ii)具有像所述故意质量缺陷的质量缺陷的元件组。

19.如权利要求18所述的介质，其特征在于，定义所述初始质量阈值的步骤进一步包括：使用初始时间点子集建立所述初始质量阈值，包括使用由优化过程确定的最佳时间点子集建立最佳质量阈值，所述优化过程包括如下子步骤，

将所述至少一个后续优化度量值与初始的优化度量值和用所述优化过程生成的任何之前的优化度量值进行比较，来确定最佳优化度量值，从而确保初始时间点子集和至少一个后续时间点子集中的一个是最佳时间点子集，

(i)使用所述初始时间点子集的所述初始质量阈值，和

20.如权利要求19所述的介质，其特征在于，确定使用所述最佳时间点子集建立的所述最佳质量阈值的所述子步骤进一步包括如下子步骤，

21.如权利要求18所述的介质，其特征在于，分别统计地分析第一和第二族力印记的步骤进一步包括预定统计，所述预定统计具有如下子步骤，

通过所述数据处理设备，在所述时间范围上的所述多个时间点上的每一个时间点处确定所述第一族力印记的第一平均力和第一标准偏差，

通过所述数据处理设备，在所述时间范围上的所述多个时间点的每一个时间点确定力平均差异，所述里平均差异是在所述时间范围上的多个时间点的每一个时间点处所述第一平均力和所述第二平均力之间的差异，且

估算以下中的至少一个，

(i)力平均差异值，

(ii)第一标准偏差，和

(iii)第二标准偏差，

上述估算是在所述时间范围上所述多个时间点中的每一个时间点分别为第一和第二族力印记而做出的。

22.如权利要求18所述的介质，其特征在于，所述元件是由所施加的芯线压接力形成的芯线压接部分元件，所述芯线压接部分元件包括置于端子中的电线导体的电导体部分，且所述芯线压接部分元件被配置为，在施加所施加的芯线压接力之后，机电地将所述电导体部分与所述端子连接，且与所述相关联的端子连接的所述电线导体具有小于18AWG的尺寸。