JP5556986B2 - Multi-wire wiring board adhesive, multi-wire wiring board using this adhesive, and manufacturing method thereof - Google Patents

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  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)

Description

本発明は、マルチワイヤ配線板に用いる接着剤およびこの接着剤を用いたマルチワイヤ配線板とその製造法に関する。   The present invention relates to an adhesive used for a multi-wire wiring board, a multi-wire wiring board using the adhesive, and a manufacturing method thereof.

基板上に接着層を設け、導体回路形成のための絶縁被覆ワイヤ(以下、特に断り無ければ、ワイヤと略す)を布線、固定し、スルーホールによって層間を接続するマルチワイヤ配線板は、特許文献1、特許文献2、特許文献3および特許文献4により開示され、高密度の配線ができ、さらに特性インピーダンスの整合やクロストークの低減に有利なプリント配線板として知られている。   A multi-wire wiring board that provides an adhesive layer on a substrate, lays and fixes an insulation-coated wire (hereinafter abbreviated as “wire” unless otherwise specified) for forming a conductor circuit, and connects the layers by through holes is patented. It is disclosed by Literature 1, Patent Literature 2, Patent Literature 3, and Patent Literature 4, and is known as a printed wiring board that can form high-density wiring and is advantageous for matching characteristic impedance and reducing crosstalk.

前記特許文献には、熱硬化性樹脂と硬化剤とゴム成分からなる接着層を用いたマルチワイヤ配線板の製造工程として、(1)内層回路板の作製、(2)内層回路板の上に接着剤のラミネート、(3)数値制御式自動布線機による絶縁ワイヤの固定、(4)プリプレグのラミネート、(5)スルーホール穴明け、(6)スルーホールの銅めっき、を行うことが記載されている。工程(4)にプリプレグを用いる理由は、ドリル等による穴明け時に、ワイヤが剥がれてしまうのを防止したり、その後のめっき工程において、ワイヤが損傷を受けて信頼性が低下することを防止するためである。   In the patent document, as a manufacturing process of a multi-wire wiring board using an adhesive layer composed of a thermosetting resin, a curing agent, and a rubber component, (1) production of an inner layer circuit board, (2) on an inner layer circuit board It is described that laminating adhesive, (3) fixing insulated wires with a numerically controlled automatic wiring machine, (4) laminating prepreg, (5) drilling through holes, and (6) copper plating of through holes. Has been. The reason why the prepreg is used in the step (4) is to prevent the wire from being peeled when drilling with a drill or the like, or to prevent the reliability of the wire from being damaged due to damage in the subsequent plating step. Because.

また、接着剤にゴム成分を用いている理由は、接着剤を支持フィルムに塗布・乾燥して接着シートとして作製し、絶縁基板や内層回路板にプリプレグを積層したものの上に、積層接着して用いることから、作業上の取り扱いを容易にするために、接着層の膜形成が可能であること、可とう性を有すること、および布線する時以外は非粘着性であることが必要なためである。さらには、ワイヤを接着層に固定する時は、スタイラスが超音波で振動しながら、その先端部分でワイヤを接着層に接触させ、その超音波振動による熱エネルギーによって接着層を活性化し溶融接着させるために、溶融可能な組成であることが必要である。   In addition, the reason for using a rubber component for the adhesive is that the adhesive is applied to the support film and dried to produce an adhesive sheet, which is laminated and bonded onto an insulating substrate or an inner circuit board laminated with a prepreg. Because it is used, it is necessary to be able to form an adhesive layer, to have flexibility, and to be non-adhesive except when wiring, in order to facilitate handling in work. It is. Furthermore, when fixing the wire to the adhesive layer, the wire is brought into contact with the adhesive layer at the tip while the stylus vibrates with ultrasonic waves, and the adhesive layer is activated and melt bonded by the thermal energy generated by the ultrasonic vibration. Therefore, it is necessary to have a meltable composition.

マルチワイヤ配線板を含むプリント配線板は、高密度実装に対応するため、高密度、微細化が進んでいる。この高密度、微細化をマルチワイヤ配線板で行う場合、ワイヤとワイヤとの間の絶縁抵抗、ワイヤと内層回路層との間の絶縁抵抗、およびワイヤの位置精度とが極めて重要であり、隣接した導体間の絶縁抵抗を高く保つこと、およびワイヤが布線あるいは布線後の工程で動かないようにすることが必要である。従来の技術においては、絶縁抵抗は、従来の配線密度であれば許容誤差内に収まり、ワイヤ位置精度は、布線し、プリント配線板を積層接着した後に、設計値に対して、約0.2mm程度の移動(以下、ワイヤスイミングという。)はあったものの、配線密度が低く穴径が大きかったため実用に供するものであった。   Printed wiring boards including multi-wire wiring boards have been advanced in high density and miniaturization in order to support high density mounting. When this high density and miniaturization is performed with a multi-wire circuit board, the insulation resistance between the wires, the insulation resistance between the wires and the inner circuit layer, and the positional accuracy of the wires are extremely important. It is necessary to keep the insulation resistance between the conductors high and to prevent the wires from moving in the process of wiring or after wiring. In the conventional technique, the insulation resistance falls within an allowable error at the conventional wiring density, and the wire position accuracy is about 0. 0 with respect to the design value after the wiring is performed and the printed wiring board is laminated and bonded. Although there was a movement of about 2 mm (hereinafter referred to as wire swimming), the wiring density was low and the hole diameter was large.

しかし、前述のように配線密度が高くなってくると、ゴム成分を用いた接着剤では絶縁抵抗が低下する。また、高密度化に伴い穴径も小さくなり、ワイヤスイミングが大きいとスルーホールとなるべき位置のワイヤが移動し、接続されずに接続不良を起こすという問題が発生した。この絶縁抵抗の低下とワイヤスイミングを大きくする原因は、接着剤にゴム成分を用いていることであった。すなわち、ゴム成分そのものの絶縁抵抗が低いこと、および布線した後に接着剤中のゴム成分の流動が残ったままプリプレグ等を積層接着するため、ワイヤスイミングが発生する。   However, as described above, when the wiring density increases, the insulation resistance decreases with the adhesive using the rubber component. In addition, as the hole density increases, the hole diameter also decreases, and when wire swimming is large, the wire at the position to be a through hole moves, causing a problem of connection failure without being connected. The cause of this decrease in insulation resistance and increased wire swimming was the use of a rubber component in the adhesive. That is, since the insulation resistance of the rubber component itself is low and the prepreg and the like are laminated and bonded while the flow of the rubber component in the adhesive remains after wiring, wire swimming occurs.

そこで、特許文献5に開示されているように、接着剤としてエポキシ樹脂、エポキシ変性ポリブタジエン、カチオン性光重合開始剤等を成分とするUV硬化型接着シートが開発された。この接着剤は、布線の後、紫外線により接着剤を若干硬化させた後、積層を行うため、ワイヤスイミングを抑制でき、上記接着剤のゴム成分に換えて絶縁抵抗の高いエポキシ変性ポリブタジエン成分を導入したことで、絶縁抵抗の低下を抑制したものである。   Therefore, as disclosed in Patent Document 5, a UV curable adhesive sheet having an epoxy resin, an epoxy-modified polybutadiene, a cationic photopolymerization initiator, and the like as an adhesive has been developed. Since this adhesive is laminated after the wiring is slightly cured with ultraviolet rays after the wiring, wire swimming can be suppressed, and an epoxy-modified polybutadiene component having a high insulation resistance is used instead of the rubber component of the adhesive. By introducing it, the decrease in insulation resistance is suppressed.

近年、マルチワイヤ配線板は、さらなる高密度実装に対応するため、高多層化が進んでいる。しかし、特許文献5に開示された接着剤を用いたマルチワイヤ配線板は、ワイヤを固定した接着層の高多層化に伴い、はんだ耐熱性が低下するという問題が生じた。この原因は、マルチワイヤ配線板中に、ガラス転移点が低く、ガラス転移点以上の熱膨張率が大きい接着剤の占有率が多くなったため、はんだ耐熱後の冷却過程における収縮の差によって、ボイドおよび剥離が発生するためと記載されており、接着剤の特性が大きく関与している。即ち、当時は基材(基板)やプリプレグと接着剤のTg未満、およびTg以上の熱膨張率、弾性率の差を低減することで耐熱性が向上すると考えられていた。このため、Tg未満とTg以上での弾性率の向上と、熱膨張率の低減が必須と思われていた。   In recent years, multi-wire wiring boards have been increasing in number of layers in order to cope with higher density mounting. However, the multi-wire wiring board using the adhesive disclosed in Patent Document 5 has a problem that the heat resistance of the solder is lowered with the increase in the number of adhesive layers to which the wires are fixed. This is because, in the multi-wire circuit board, the glass transition point is low and the occupancy ratio of the adhesive having a large thermal expansion coefficient equal to or higher than the glass transition point is increased. It is described that peeling occurs, and the characteristics of the adhesive are greatly involved. That is, at that time, it was thought that the heat resistance was improved by reducing the difference between the thermal expansion coefficient and the elastic modulus of the base material (substrate) or the prepreg and the adhesive less than Tg and more than Tg. For this reason, it has been considered essential to improve the elastic modulus below Tg and above Tg and reduce the coefficient of thermal expansion.

その後、耐熱性を向上するための検討がなされ、特許文献6に開示された接着剤を用いたマルチワイヤ配線板は、288℃のはんだフロートの耐熱性試験に耐えるものとなった。この接着剤は、分子量が80,000以上のポリアミドイミド樹脂と熱硬化成分からなり、硬化物のガラス転移温度(以下Tgと略す)が180℃以上、Tgから350℃までの熱膨張率が1000ppm以下、かつ、300℃の最低弾性率が30MPa以上の物性で規定されている。   Thereafter, studies were made to improve heat resistance, and the multi-wire wiring board using the adhesive disclosed in Patent Document 6 was able to withstand the heat resistance test of a solder float at 288 ° C. This adhesive is composed of a polyamideimide resin having a molecular weight of 80,000 or more and a thermosetting component. The cured product has a glass transition temperature (hereinafter abbreviated as Tg) of 180 ° C. or higher, and a thermal expansion coefficient from Tg to 350 ° C. of 1000 ppm. Below, the minimum elastic modulus at 300 ° C. is defined by the physical properties of 30 MPa or more.

米国特許第4097684号明細書U.S. Pat. No. 4,097,684 米国特許第3646572号明細書US Pat. No. 3,646,572 米国特許第3674914号明細書US Pat. No. 3,674,914 米国特許第3674602号明細書US Pat. No. 3,674,602 特許第3324007号公報Japanese Patent No. 3324007 特許第3821252号公報Japanese Patent No. 3812252

しかし、近年の高多層化の要求に応えるためには、基材(基板)の薄型化が必要となってきた。従来は、基材厚みは0.2mm以上であったが、最近は0.1mmあるいはこれ以下が使用され始めている。通常ワイヤを布線する場合は、回路形成した基材(基板)の両面にプリプレグをプレスラミネートし、その上に接着剤を貼り付けた状態で行う。機械的にワイヤを経由して伝えられた超音波振動は変形しやすい接着剤を熱溶融させるが、板厚の薄型化によって、その直下にある基板の単位面積あたりの質量が小さくなって、基板が超音波振動に追随しやすくなり、上記の接着剤における超音波による発熱効率が低下して、布線性が低下するという課題が出てきた。具体的には、同じ布線条件でワイヤを布線しても、高密度部分でワイヤが十分に接着剤に固定できず、ワイヤの位置ずれによる断線や短絡不良が生じてしまう。このため、特許文献6(特許第3821252号公報)に記載の接着剤では、0.2mmより薄い基材(基板)を用いたマルチワイヤの製造が困難となった。   However, in order to meet the recent demand for higher multi-layers, it has become necessary to make the base material (substrate) thinner. Conventionally, the substrate thickness was 0.2 mm or more, but recently, 0.1 mm or less has begun to be used. In general, when a wire is laid, a prepreg is press-laminated on both surfaces of a substrate (substrate) on which a circuit is formed, and an adhesive is stuck on the prepreg. The ultrasonic vibration mechanically transmitted via the wire thermally melts the adhesive that is easily deformed, but by reducing the thickness of the plate, the mass per unit area of the substrate directly below it becomes small, and the substrate Becomes easy to follow the ultrasonic vibration, the heat generation efficiency due to the ultrasonic wave in the above adhesive is reduced, and the problem arises that the wiring property is lowered. Specifically, even if the wires are wired under the same wiring conditions, the wires cannot be sufficiently fixed to the adhesive at the high density portion, and disconnection or short-circuit failure due to misalignment of the wires occurs. For this reason, with the adhesive described in Patent Document 6 (Japanese Patent No. 3812252), it has become difficult to produce multi-wires using a base material (substrate) thinner than 0.2 mm.

その他、接着剤において考慮しなければならないことは、絶縁抵抗の低下を抑制するために絶縁抵抗の低いゴム成分を添加しないこと、ワイヤの位置精度を高めなければならないこと、プリプレグ、基材(基板)、接着剤の熱膨張率の低減のためにガラス転移点:Tgの高いものを使用すること、従来の製造装置および製造方法をできるだけ使用可能とするために可とう性を有すること、皮膜形成ができること、および布線時以外の非粘着性を維持できることである。   In addition, what must be considered in the adhesive is that a rubber component with low insulation resistance should not be added in order to suppress a decrease in insulation resistance, that the position accuracy of the wire must be improved, prepreg, base material (substrate) ), Glass transition point for reducing the thermal expansion coefficient of the adhesive: use a material having a high Tg, flexibility to make the conventional manufacturing apparatus and manufacturing method usable as much as possible, film formation And non-adhesiveness other than during wiring can be maintained.

本発明は、各種特性に優れ、0.2mmより薄い基材(基板)に対してワイヤを布線でき、高多層化によるはんだ耐熱性の低下を抑制できるマルチワイヤ配線板用接着剤およびこの接着剤を用いたマルチワイヤ配線板およびその製造法を提供するものである。   INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is excellent in various properties, can wire a base material (substrate) thinner than 0.2 mm, and can suppress a decrease in solder heat resistance due to the increase in the number of layers and an adhesive for a multi-wire wiring board A multi-wire wiring board using an agent and a method for producing the same are provided.

本発明は、以下の通りである。
本発明のマルチワイヤ配線板用接着剤は、(a)重量平均分子量80,000以上のポリアミドイミド樹脂と、(b)重量平均分子量が10,000から50,000の範囲にあるポリアミドイミド樹脂と、(c)熱硬化性成分とを含む接着剤であって、硬化物のガラス転移点(Tg)が180℃以上である。
上記マルチワイヤ配線板用接着剤において、上記(a):(b)の質量比が30:70から70:30の範囲であり、かつ、(a)+(b):(c)の質量比が100:10から100:150の範囲であることが好ましい。
また、上記マルチワイヤ配線板用接着剤において、上記(b)のポリアミドイミド樹脂の末端がイソシアネート基であり、さらに前記イソシアネート基が、加熱により解離するマスク剤と結合していることが好ましい。
また、上記マルチワイヤ配線板用接着剤において、上記(c)熱硬化性成分が、1種類以上のエポキシ樹脂を含み、かつ、前記エポキシ樹脂の硬化剤もしくは前記エポキシ樹脂の硬化促進剤を含むことが好ましい。
また、上記マルチワイヤ配線板用接着剤において、上記エポキシ樹脂の少なくとも1種が室温(25℃)で液状であることが好ましい。
また、本発明のマルチワイヤ配線板は、絶縁基板もしくは予め導体回路を形成した基板と、上記接着剤からなる接着層と、前記接着層により固定された絶縁被覆ワイヤと、所望の箇所に設けたスルーホールとからなることを特徴とする。
さらに、本発明のマルチワイヤ配線板の製造法は、絶縁基板もしくは予め導体回路を形成した基板上に、上記接着剤からなる接着層を形成する工程、絶縁被覆ワイヤを前記接着層上に布線し、固定した後、前記基板を加熱プレスして前記接着層を硬化させる工程、前記基板の所望の箇所に穴をあけてその穴内壁にめっきを行って、導体回路を形成する工程を有することを特徴とする。
また、上記マルチワイヤ配線板の製造法において、前記基板を加熱プレスした後に、さらに加熱処理を行うことが好ましい。
The present invention is as follows.
The adhesive for multi-wire wiring board of the present invention comprises (a) a polyamideimide resin having a weight average molecular weight of 80,000 or more, and (b) a polyamideimide resin having a weight average molecular weight in the range of 10,000 to 50,000. (C) It is an adhesive agent containing a thermosetting component, Comprising: The glass transition point (Tg) of hardened | cured material is 180 degreeC or more.
In the adhesive for a multi-wire wiring board, the mass ratio of (a) :( b) is in the range of 30:70 to 70:30, and the mass ratio of (a) + (b) :( c) Is preferably in the range of 100: 10 to 100: 150.
In the multi-wire wiring board adhesive, it is preferable that the end of the polyamide-imide resin (b) is an isocyanate group, and the isocyanate group is bonded to a mask agent that is dissociated by heating.
In the multi-wire wiring board adhesive, the thermosetting component (c) includes one or more types of epoxy resins, and includes a curing agent for the epoxy resin or a curing accelerator for the epoxy resin. Is preferred.
In the multi-wire wiring board adhesive, at least one of the epoxy resins is preferably liquid at room temperature (25 ° C.).
In addition, the multi-wire wiring board of the present invention is provided at a desired location with an insulating substrate or a substrate on which a conductor circuit has been previously formed, an adhesive layer made of the adhesive, an insulating coated wire fixed by the adhesive layer, and the like. It consists of a through hole.
Furthermore, the manufacturing method of the multi-wire wiring board of the present invention includes a step of forming an adhesive layer made of the above-mentioned adhesive on an insulating substrate or a substrate on which a conductor circuit has been previously formed, and wiring the insulating coated wire on the adhesive layer. And fixing the adhesive layer by heating and pressing the substrate, and forming a conductor circuit by forming a hole in a desired portion of the substrate and plating the inner wall of the hole. It is characterized by.
Moreover, in the manufacturing method of the said multi-wire wiring board, after heat-pressing the said board | substrate, it is preferable to heat-process further.

本発明により、各種特性に優れ、0.2mmより薄い基材(基板)に対してワイヤを布線でき、高多層化によるはんだ耐熱性の低下を抑制できるマルチワイヤ配線板用接着剤およびこの接着剤を用いたマルチワイヤ配線板およびその製造法を提供することが可能となった。   ADVANTAGE OF THE INVENTION By this invention, the adhesive for multi-wire wiring boards which can be wired with respect to the base material (board | substrate) which is excellent in various characteristics and thinner than 0.2 mm, and can suppress the fall of the solder heat resistance by multi-layering, and this adhesion | attachment It has become possible to provide a multi-wire wiring board using an agent and a method for producing the same.

(a)〜(h)は、本発明の一実施例を示す各製造工程の断面図である。(A)-(h) is sectional drawing of each manufacturing process which shows one Example of this invention.

本発明で用いる接着剤は、マルチワイヤ配線板に用いる絶縁被覆ワイヤ(以下ワイヤと略す)を布線機という装置で配線固定する絶縁層として用いる。この接着剤は、各種成分を溶剤に溶解してワニスとし、直接基板上に塗布、乾燥しても良いが、好ましくは剥離可能なキャリアフィルム上に塗工機を用いてフィルム上に塗工、乾燥し、膜厚が均一なBステージのフィルムとし、これをホットロールラミネータ等で基板に貼り合せる方法が好ましい。このため、接着剤の成分には分子量の大きなポリアミドイミド樹脂成分を含む。基板は、基板または絶縁基板とも表す。   The adhesive used in the present invention is used as an insulating layer for fixing an insulating coated wire (hereinafter abbreviated as a wire) used for a multi-wire wiring board with an apparatus called a wiring machine. This adhesive is a varnish prepared by dissolving various components in a solvent, and may be applied directly on the substrate and dried, but preferably coated on a film using a coating machine on a peelable carrier film, A method of drying and forming a B-stage film having a uniform film thickness and bonding it to a substrate with a hot roll laminator or the like is preferable. For this reason, the component of the adhesive contains a polyamideimide resin component having a large molecular weight. The substrate is also referred to as a substrate or an insulating substrate.

本発明では、(a)重量平均分子量80,000以上のポリアミドイミド樹脂を用いる。本発明のマルチワイヤ配線板用接着剤が、重量平均分子量80,000以上のポリアミドイミド樹脂を含まないとBステージでのフィルム形成性、ワイヤの布線性(固定力)、また工程中でのワイヤ位置精度が低下するおそれがある。また、(a)ポリアミドイミド樹脂の重量平均分子量としては、入手容易性の観点から200,000以下が好ましい。   In the present invention, (a) a polyamideimide resin having a weight average molecular weight of 80,000 or more is used. If the adhesive for a multi-wire wiring board of the present invention does not contain a polyamideimide resin having a weight average molecular weight of 80,000 or more, the film formability at the B stage, the wiring property (fixing force) of the wire, and the wire in the process Position accuracy may be reduced. The weight average molecular weight of the (a) polyamideimide resin is preferably 200,000 or less from the viewpoint of availability.

次に、本発明のマルチワイヤ配線板用接着剤では、(b)重量平均分子量が10,000から50,000の範囲にあるポリアミドイミド樹脂を用いる。なお、(b)ポリアミドイミド樹脂は、上記(a)ポリアミドイミド樹脂と、類似骨格であることが好ましい。マルチワイヤ配線板用接着剤のワニスを配合する際に、ポリアミドイミド樹脂の骨格が異なると相溶性は低く相分離しやすい。また、重量平均分子量の範囲を上記(b)の範囲に規定したことと(a)と併用する理由は、鋭意検討した結果、(a)のみの場合よりも布線性を向上できることが分かったためである。(b)の重量平均分子量がこの範囲外であると、布線性向上効果が低下するおそれがある。   Next, in the adhesive for multi-wire wiring boards of the present invention, (b) a polyamideimide resin having a weight average molecular weight in the range of 10,000 to 50,000 is used. The (b) polyamideimide resin preferably has a similar skeleton to the (a) polyamideimide resin. When blending the varnish of the adhesive for a multi-wire wiring board, if the skeleton of the polyamideimide resin is different, the compatibility is low and phase separation is easy. The reason why the weight average molecular weight is defined in the range (b) and the reason for using it together with (a) is that, as a result of intensive studies, it has been found that the wiring property can be improved as compared with the case of (a) alone. is there. If the weight average molecular weight of (b) is outside this range, the effect of improving the wiring property may be reduced.

本発明では、(a):(b)の質量比率が30:70から70:30の範囲にあることが好ましい。(a)成分の質量比率が70を超えて多い場合、分子量の低い成分が少なくなるため、ワイヤの埋り込み性等が向上せず、0.2mmより薄い基板では配線不良が発生するおそれがある。また、(a)成分の質量比率が30未満では、分子量の高い成分が減少するためフィルム形成時にクラックが発生したり、ワイヤの保持力が低下するため、配線不良が発生するおそれがある。また、本発明では(c)熱硬化性成分を用いる。熱可塑性のポリアミドイミド樹脂成分のみでは、配線板の製造工程中のウェット処理、例えば、穴あけ後にスルーホールを形成する、粗化、めっきの薬液処理で溶解、劣化が進み、配線板の特性低下を引き起こすおそれがある。さらに、部品実装のはんだリフローでは、熱膨張が大きく耐熱性が低下することと、基板内部を流動してしまうこともある。このため、熱硬化性成分によって接着剤を架橋させ、熱膨張率を低減すると共に、高温での樹脂流動を抑制することが必要である。よって、(a)+(b):(c)の質量比率が100:10から100:150の範囲であることが好ましい。(c)成分の質量比率が10未満では、熱硬化成分が少ないため、接着力不足による配線不良が発生するおそれがある。また、(c)成分が150を超えて多い場合、相溶性の低下から、ワニス配合時にゲル化してしまい、フィルム形成ができないおそれがある。   In the present invention, the mass ratio of (a) :( b) is preferably in the range of 30:70 to 70:30. When the mass ratio of the component (a) is greater than 70, the component having a low molecular weight is decreased, so that the embedding property of the wire is not improved, and a wiring failure may occur in a substrate thinner than 0.2 mm. is there. On the other hand, when the mass ratio of the component (a) is less than 30, the component having a high molecular weight is reduced, so that cracks may occur during film formation, and the holding power of the wire may be reduced. In the present invention, (c) a thermosetting component is used. With only the thermoplastic polyamideimide resin component, wet processing during the manufacturing process of the wiring board, for example, forming through-holes after drilling, dissolution, deterioration due to roughening, chemical treatment of plating, deterioration of the characteristics of the wiring board May cause. Furthermore, in solder reflow for component mounting, thermal expansion is large and heat resistance is lowered, and the inside of the board may flow. For this reason, it is necessary to bridge | crosslink an adhesive agent with a thermosetting component, to suppress a thermal expansion coefficient, and to suppress the resin flow at high temperature. Therefore, the mass ratio of (a) + (b) :( c) is preferably in the range of 100: 10 to 100: 150. When the mass ratio of the component (c) is less than 10, since there are few thermosetting components, there is a risk of poor wiring due to insufficient adhesion. Moreover, when there are many (c) components exceeding 150, it will gelatinize at the time of a varnish compounding from a compatible fall, and there exists a possibility that film formation cannot be performed.

また、本発明の接着剤の硬化物のガラス転移点(Tg)は180℃以上である。本発明の接着剤は、通常、180〜220℃、0.5〜2時間の条件で硬化物となる。なお硬化物とは、示差走査熱量測計(DSC)による反応熱測定を行い、原材料(接着剤)の発熱量に対し、10%以下の発熱量である状態を言う。一般的に有機物はTgを超えると熱膨張率が約10倍程度大きくなり、結果的にリフローでの熱膨張が大きすぎて耐熱性の低下を招く。これは、熱硬化性成分の添加である程度抑制できるが、硬化物としてのTgが180℃未満では耐熱性が低下するおそれがある。   Moreover, the glass transition point (Tg) of the hardened | cured material of the adhesive agent of this invention is 180 degreeC or more. The adhesive of the present invention usually becomes a cured product under conditions of 180 to 220 ° C. and 0.5 to 2 hours. The cured product refers to a state in which the heat of reaction is measured by a differential scanning calorimeter (DSC) and the heat generation amount is 10% or less with respect to the heat generation amount of the raw material (adhesive). In general, when the organic substance exceeds Tg, the coefficient of thermal expansion increases by about 10 times, and as a result, the thermal expansion during reflow is too large, resulting in a decrease in heat resistance. This can be suppressed to some extent by the addition of a thermosetting component, but if the Tg as a cured product is less than 180 ° C., the heat resistance may decrease.

本発明の(a)、(b)成分にポリアミドイミド樹脂が用いられる理由としては、Tgの高いポリアミドイミド樹脂の合成が容易であること、骨格中のアミド結合部分は後述するエポキシ樹脂と挿入反応し、架橋点として利用できることが挙げられる。ポリアミドイミド樹脂の骨格としては、硬化後にTg180℃以上とするために芳香族を持つものが好ましい。また、合成方法としては各種あるが、骨格を制御しやすく、絶縁性を低下させるイオン性不純物の混入が無いイソシアネート法が好ましい。例として、原料に、芳香族ジアミンとトリメリット酸無水物を当量反応させたジイミドジカルボン酸と芳香族ジイソシアネートを当量反応させると重量平均分子量10,000以上の芳香族ポリアミドイミドを合成できる。この当量比を精密制御することで重量平均分子量を80,000以上、さらには100,000以上にまで高分子量化が可能である。この方法で合成したポリアミドイミド樹脂の末端は一般的にアミド基またはカルボキシル基であり、後者の場合は塩基性触媒下でエポキシ樹脂と反応させることができる。   The reason why the polyamide-imide resin is used for the components (a) and (b) of the present invention is that the synthesis of a polyamide-imide resin having a high Tg is easy, and the amide bond portion in the skeleton is inserted with an epoxy resin described later. However, it can be used as a crosslinking point. As the skeleton of the polyamide-imide resin, those having aromaticity are preferable in order to obtain Tg of 180 ° C. or higher after curing. Further, although there are various synthetic methods, an isocyanate method in which the skeleton is easily controlled and no ionic impurities are mixed to reduce the insulating property is preferable. As an example, an aromatic polyamideimide having a weight average molecular weight of 10,000 or more can be synthesized by subjecting a raw material to an equivalent reaction of a diimide dicarboxylic acid obtained by subjecting an aromatic diamine and trimellitic anhydride to an equivalent reaction and an aromatic diisocyanate. By precisely controlling the equivalent ratio, the weight average molecular weight can be increased to 80,000 or more, and further to 100,000 or more. The terminal of the polyamideimide resin synthesized by this method is generally an amide group or a carboxyl group, and in the latter case, it can be reacted with an epoxy resin under a basic catalyst.

ポリアミドイミド樹脂の元となる芳香族ジイミドジカルボン酸としては、下記式1のものが挙げられる。また、芳香族ジイソシアネートとしては下記式2のものが挙げられる。合成したポリアミドイミド樹脂の重量平均分子量は、ゲル浸透クロマトグラフィ(GPC)を用いて測定する。標準ポリスチレンにて分子量/溶出時間曲線を作製し、該樹脂の溶出時間からポリスチレン換算することで、重量平均分子量を求める。測定条件は、カラムGL−S300MDT−5(株式会社日立ハイテクノロジーズ製、商品名)、溶媒としてジメチルホルムアミド(DMF)/テトラヒドロフラン(THF)の混合溶媒を用いる。   Examples of the aromatic diimide dicarboxylic acid as a base of the polyamideimide resin include those represented by the following formula 1. In addition, examples of the aromatic diisocyanate include those represented by the following formula 2. The weight average molecular weight of the synthesized polyamideimide resin is measured using gel permeation chromatography (GPC). A molecular weight / elution time curve is prepared with standard polystyrene, and the weight average molecular weight is determined by converting the resin from the elution time to polystyrene. As the measurement conditions, column GL-S300MDT-5 (trade name, manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation) is used, and a mixed solvent of dimethylformamide (DMF) / tetrahydrofuran (THF) is used as a solvent.

Figure 0005556986
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本発明では、(b)のポリアミドイミド樹脂の末端がイソシアネート基であり、さらにイソシアネート基が加熱により解離するマスク剤と結合していることが好ましい。マスク剤を結合することで比較的熱に対して安定であるが、100℃以上の加熱によって架橋点として使用でき、Tg向上、流動性制御、布線性の向上に効果的である。このマスクイソシアネート基は他の官能基、例えばエポキシ樹脂骨格やその反応後に生じる水酸基と架橋させることができる。また、ワイヤの布線性を向上させるための手法としては、Bステージのフィルム物性として、ポリアミドイミド成分が若干の架橋構造を持っていることが好ましいことが発明者の長年の研究で分かっている。その点でこのマスクイソシアネート基は好適であり、フィルム化の塗工の際に、乾燥時の加熱の制御で若干反応させることができる。さらに、最終的に加熱硬化することで硬化物の熱膨張率の低減に有効である。(b)にイソシアネート基を導入する手法は各種考えられるが、上記に例示したイソシアネート法で、ジイソシアネートを過剰にする方法が簡便である。さらに、このイソシアネート末端のポリアミドイミド樹脂を合成後、各種のマスク剤を反応させることで得られる。マスク剤としては、活性水素を持つ化合物であればよく、例えば、MEKオキシム、マロン酸ジエステル、アセト酢酸エステル、ε−カプロラクタム、フェノール、アルコールなどが挙げられるが、本発明ではMEKオキシムが好適である。フリーのイソシアネート基よりも熱反応性は低下するが、室温(25℃)における安定性が良好となり、接着剤の保存安定性には十分である。   In the present invention, it is preferable that the end of the polyamideimide resin (b) is an isocyanate group, and the isocyanate group is bonded to a masking agent that is dissociated by heating. Although it is relatively stable against heat by bonding a masking agent, it can be used as a crosslinking point by heating at 100 ° C. or higher, and is effective in improving Tg, fluidity control, and wiring. This mask isocyanate group can be cross-linked with other functional groups such as an epoxy resin skeleton or a hydroxyl group generated after the reaction. In addition, as a method for improving the wiring property of the wire, it has been found by the inventor's long-term research that it is preferable that the polyamideimide component has a slight cross-linked structure as the film physical property of the B stage. In this respect, this mask isocyanate group is suitable, and can be reacted slightly by controlling the heating at the time of drying at the time of film-forming coating. Furthermore, it is effective in reducing the coefficient of thermal expansion of the cured product by finally heat-curing. Various methods of introducing an isocyanate group into (b) are conceivable, but the method of making the diisocyanate excessive by the isocyanate method exemplified above is simple. Furthermore, it is obtained by reacting various masking agents after synthesizing this isocyanate-terminated polyamideimide resin. The masking agent may be a compound having active hydrogen, such as MEK oxime, malonic acid diester, acetoacetate ester, ε-caprolactam, phenol, alcohol, etc. In the present invention, MEK oxime is suitable. . Although the thermal reactivity is lower than that of a free isocyanate group, the stability at room temperature (25 ° C.) is good, which is sufficient for the storage stability of the adhesive.

本発明では(c)の熱硬化性成分が、1種類以上のエポキシ樹脂とその硬化剤もしくは硬化促進剤を含むことが好ましい。エポキシ樹脂のグリシジル基は、硬化剤や硬化促進剤によってはエポキシ樹脂同士と反応するが、上述した様にポリアミドイミド樹脂のアミド基と挿入反応して架橋することができる。これによって、硬化物のTgを180℃以上とし、熱膨張を抑制することで耐熱性を向上できる。   In the present invention, it is preferable that the thermosetting component (c) contains one or more epoxy resins and a curing agent or curing accelerator thereof. The glycidyl group of the epoxy resin reacts with the epoxy resins depending on the curing agent or curing accelerator, but can be crosslinked by an insertion reaction with the amide group of the polyamideimide resin as described above. Thereby, Tg of hardened | cured material shall be 180 degreeC or more, and heat resistance can be improved by suppressing thermal expansion.

さらに、エポキシ樹脂を複数使用することもできる。この場合、少なくとも1種が室温(25℃、以下同様)で液状のものであることが好ましい。Bステージフィルムでワイヤの布線性を確保するためには、室温で液状のものが含まれることが好ましく、室温でフィルムを柔軟にすることで布線時にワイヤに与えられる超音波振動が接着剤に伝えられて熱エネルギーに変換されやすくなり、ワイヤが接着剤中に埋まり込みやすくなる。例えば、溶剤もこれに含まれるが、工程中の加熱によって除去した際の収縮が大きくなる。液状のエポキシ樹脂は、溶剤量を減らす効果があると共に、この熱収縮を低減する効果もある。   Furthermore, a plurality of epoxy resins can be used. In this case, it is preferable that at least one is liquid at room temperature (25 ° C., the same applies hereinafter). In order to secure the wiring property of the wire with the B stage film, it is preferable that a liquid is included at room temperature, and by making the film flexible at room temperature, the ultrasonic vibration applied to the wire at the time of wiring is added to the adhesive. It is transmitted and easily converted into heat energy, and the wire is easily embedded in the adhesive. For example, although a solvent is contained in this, the shrinkage | contraction at the time of removing by the heating in a process becomes large. The liquid epoxy resin has the effect of reducing the amount of solvent and also has the effect of reducing this heat shrinkage.

エポキシ樹脂としては、グリシジル基を2つ以上有しているものであればどのようなものでも使用でき、グリシジル基が3つ以上であればさらに好ましい。室温で液状のエポキシ樹脂としては、ビスフェノールA型のYD128、YD8125(東都化成株式会社製、商品名)、Ep815、Ep828(油化シェルエポキシ株式会社製、商品名)、DER337(ダウケミカル日本株式会社製、商品名)、ビスフェノールF形のYDF170、YDF2004(東都化成株式会社製、商品名)が挙げられる。   Any epoxy resin can be used as long as it has two or more glycidyl groups, and more preferably three or more glycidyl groups. Examples of liquid epoxy resins at room temperature include bisphenol A type YD128, YD8125 (trade name, manufactured by Toto Kasei Co., Ltd.), Ep815, Ep828 (trade name, manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.), DER337 (Dow Chemical Japan Co., Ltd.) Product name), bisphenol F type YDF170, YDF2004 (manufactured by Toto Kasei Co., Ltd., trade name).

また、室温で固形のエポキシ樹脂としては、YD907、YDCN704S、YDPN172、YP50(東都化成株式会社製、商品名)、Ep1001、Ep1010、Ep180S70(油化シェルエポキシ株式会社製、商品名)、ESA019、ESCN195(住友化学株式会社製、商品名)、DER667、DEN438(ダウケミカル日本株式会社製、商品名)、EOCN1020(日本化薬株式会社製、商品名)が挙げられる。さらに、難燃性を付与するためには、臭素化エポキシ樹脂を用いてもよく、例えば、YDB400(東都化成株式会社、商品名)、Ep5050(油化シェルエポキシ株式会社、商品名)、ESB400(住友化学株式会社、商品名)が挙げられる。また、これらは、単独で用いてもよいが、必要に応じて複数のエポキシ樹脂を選択してもよい。   Moreover, as an epoxy resin solid at room temperature, YD907, YDCN704S, YDPN172, YP50 (product name made by Toto Kasei Co., Ltd.), Ep1001, Ep1010, Ep180S70 (product name made by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.), ESA019, ESCN195 (Trade name) manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., DER667, DEN438 (trade name, manufactured by Dow Chemical Japan Co., Ltd.), EOCN1020 (trade name, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.). Further, in order to impart flame retardancy, a brominated epoxy resin may be used. For example, YDB400 (Toto Kasei Co., Ltd., trade name), Ep5050 (Oka Shell Epoxy Co., Ltd., trade name), ESB400 ( Sumitomo Chemical Co., Ltd., trade name). Moreover, although these may be used independently, you may select a some epoxy resin as needed.

エポキシ樹脂の硬化剤もしくは硬化促進剤としては、アミン類、イミダゾール類、多官能フェノール類、酸無水物等が使用できる。アミン類としては、ジシアンジアミド、ジアミノジフェニルメタン、グアニル尿素等があり、イミダゾール類としては、アルキル置換イミダゾール、ベンズイミダゾール等があり、多官能フェノール類としては、ヒドロキノン、レゾルシノール、ビスフェノールAおよびそのハロゲン化合物、さらに、これにアルデヒドとの縮合物であるノボラック、レゾール樹脂等があり、酸無水物としては、無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、ベンゾフェノンテトラカルボン酸等がある。   As the curing agent or curing accelerator for the epoxy resin, amines, imidazoles, polyfunctional phenols, acid anhydrides and the like can be used. Examples of amines include dicyandiamide, diaminodiphenylmethane, and guanylurea. Examples of imidazoles include alkyl-substituted imidazole and benzimidazole. Examples of polyfunctional phenols include hydroquinone, resorcinol, bisphenol A, and halogen compounds thereof. These include novolaks and resol resins that are condensates with aldehydes, and examples of acid anhydrides include phthalic anhydride, hexahydrophthalic anhydride, and benzophenone tetracarboxylic acid.

なお、市販のエポキシ樹脂の硬化剤としては、H−400(フェノールノボラック樹脂、水酸基当量106g/当量,明和化成株式会社製、商品名)、DIC株式会社製、商品名:フェノライトLF2882、フェノライトLF2822、フェノライトTD−2090、フェノライトTD−2149、フェノライトVH−4150、フェノライトVH4170、フェノライトKA−1160、フェノライトKA−1163、フェノライトKA−1165などが挙げられる。また、市販のエポキシ樹脂の硬化促進剤としては、2E4MZ、2PZ−CN、2PZ−CNS(以上、四国化成工業株式会社製、商品名)などが挙げられる。   In addition, as a hardening | curing agent of a commercially available epoxy resin, H-400 (phenol novolak resin, hydroxyl group equivalent 106g / equivalent, the product made by Meiwa Kasei Co., Ltd., brand name), the product made by DIC Corporation, a brand name: Phenolite LF2882, Phenolite Examples include LF2822, Phenolite TD-2090, Phenolite TD-2149, Phenolite VH-4150, Phenolite VH4170, Phenolite KA-1160, Phenolite KA-1163, Phenolite KA-1165, and the like. Moreover, as a hardening accelerator of a commercially available epoxy resin, 2E4MZ, 2PZ-CN, 2PZ-CNS (above, the Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. make, brand name) etc. are mentioned.

これらの硬化剤の配合量は、アミン類の場合は、アミンの活性水素の当量とエポキシ樹脂のエポキシ当量がほぼ等しくなる量が好ましい。例えば、1級アミンの場合は、水素が2つあり、エポキシ樹脂1当量に対して、この1級アミンは0.5当量であり、2級アミンの場合は、1当量である。次に、イミダゾール類の場合は、単純に活性水素との当量比とならず、好ましくはエポキシ樹脂100質量部に対して、0.1〜10質量部である。多官能フェノール類や酸無水物の場合、エポキシ樹脂1当量に対して、0.8〜1.2当量が好ましい。   In the case of amines, the compounding amount of these curing agents is preferably such that the equivalent of the active hydrogen of the amine and the epoxy equivalent of the epoxy resin are substantially equal. For example, in the case of a primary amine, there are two hydrogens, and for 1 equivalent of epoxy resin, this primary amine is 0.5 equivalent, and in the case of secondary amine, it is 1 equivalent. Next, in the case of imidazoles, it is not simply an equivalent ratio with active hydrogen, and is preferably 0.1 to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the epoxy resin. In the case of polyfunctional phenols and acid anhydrides, 0.8 to 1.2 equivalents are preferable with respect to 1 equivalent of epoxy resin.

本発明のマルチワイヤ配線板用接着剤においては、他に、必要に応じてスルーホール内壁等のめっき密着性を上げること、およびアディティブ法で配線板を製造するために、無電解めっき用触媒を加えることもできる。
通常、上記成分を有機溶媒中で混合し接着剤ワニスとする。有機溶媒としては、溶解性がよければどのようなものでもよい。例えば、本発明で好適なポリアミドイミド樹脂を用いる場合、ジメチルアセトアミド、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルフォキシド、N−メチル−2−ピロリドン、γ−ブチロラクトン、スルホラン、シクロヘキサノン等が例示できる。接着剤ワニス中の樹脂固形分量は、通常、20〜40質量%である。
In the adhesive for a multi-wire wiring board of the present invention, an electroless plating catalyst is used in order to increase the plating adhesion of the through-hole inner wall and the like as required, and to manufacture the wiring board by an additive method. It can also be added.
Usually, the said component is mixed in an organic solvent, and it is set as an adhesive varnish. Any organic solvent may be used as long as it has good solubility. For example, when a polyamideimide resin suitable for the present invention is used, dimethylacetamide, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, N-methyl-2-pyrrolidone, γ-butyrolactone, sulfolane, cyclohexanone and the like can be exemplified. The resin solid content in the adhesive varnish is usually 20 to 40% by mass.

本発明の接着剤を用いたマルチワイヤ配線板の製造法を、図1を用いて説明する。
まず、図1(a)は、電源、グランド等の導体回路(内層銅回路)を予め設けた基板1を示す。導体回路は、ガラス布エポキシ樹脂銅張積層板やガラス布ポリイミド樹脂銅張積層板等を公知のエッチング法等により形成できる。また、必要に応じてこの内層銅回路2は多層回路とすることもでき、また全く無くすこともできる。よって、導体回路のない絶縁基板を使用してもよい。
The manufacturing method of the multi-wire wiring board using the adhesive agent of this invention is demonstrated using FIG.
First, FIG. 1A shows a substrate 1 on which conductor circuits (inner layer copper circuits) such as a power source and a ground are provided in advance. The conductor circuit can be formed of a glass cloth epoxy resin copper clad laminate, a glass cloth polyimide resin copper clad laminate or the like by a known etching method or the like. If necessary, the inner layer copper circuit 2 can be a multilayer circuit or can be completely eliminated. Therefore, an insulating substrate without a conductor circuit may be used.

図1(b)は、アンダーレイ層3として絶縁層を形成した図である。これは耐電食性を向上させたり、特性インピーダンスを調整したりするために設けられるが、必ずしも必要としない場合がある。このアンダーレイ層3には、通常のガラス布エポキシ樹脂やガラス布ポリイミド樹脂のBステージのプリプレグ、あるいはガラスクロスを含まないBステージの樹脂シート等が使用できる。これらの樹脂層は、基板にラミネートした後、必要に応じて熱処理あるいは積層による硬化等を行い、絶縁層(アンダーレイ層)とする。   FIG. 1B is a diagram in which an insulating layer is formed as the underlay layer 3. This is provided in order to improve the electric corrosion resistance and adjust the characteristic impedance, but it may not always be necessary. For this underlay layer 3, a B-stage prepreg made of ordinary glass cloth epoxy resin or glass cloth polyimide resin, or a B-stage resin sheet containing no glass cloth can be used. These resin layers are laminated on a substrate and then subjected to heat treatment or curing by lamination as necessary to form an insulating layer (underlay layer).

次に、図1(c)に示すように、前記接着剤を用いてワイヤを布線、固定するための接着層4を形成する。接着層4を設ける方法としては、前記接着剤をスプレーコーティング、ロールコーティング、スクリーン印刷法等で直接絶縁基板に塗布、乾燥する方法等がある。均一な膜厚の接着層を得るには、ポリプロピレンやポリエチレンテレフタレート等のキャリアフィルムに、一旦ロールコートして塗工乾燥しドライフィルム(接着剤フィルム)とした後、絶縁基板にホットロールラミネートまたはプレスラミネートする方法が好ましい。さらに、ドライフィルム化された塗膜はロール状に巻かれ、所望の大きさに切断できるような可とう性と、基板にラミネートする際に気泡を抱き込まないような非粘着性が必要である。   Next, as shown in FIG.1 (c), the adhesive layer 4 for wiring and fixing a wire is formed using the said adhesive agent. Examples of the method for providing the adhesive layer 4 include a method in which the adhesive is directly applied to an insulating substrate by spray coating, roll coating, screen printing, or the like, and dried. In order to obtain an adhesive layer with a uniform film thickness, a carrier film such as polypropylene or polyethylene terephthalate is roll-coated, coated and dried to form a dry film (adhesive film), and then hot roll laminated or pressed on an insulating substrate. A method of laminating is preferred. Furthermore, the coating film formed into a dry film needs to be flexible so that it can be rolled into a roll and cut into a desired size, and non-adhesive so as not to entrap bubbles when laminating to a substrate. .

次に、図1(d)に示すように、絶縁被膜ワイヤ5を布線する。この布線は、一般に布線機により超音波振動等を加えながら加熱して行う。これにより、接着層4が軟化して接着層中に埋め込まれる。しかし、この接着層4の軟化点が低すぎると、ワイヤ5の端部でワイヤ5が接着層4から剥がれてしまったり、絶縁被膜ワイヤ5を直角に曲げて布線するコーナー部で、ワイヤ5が歪んでしまったりして、十分な精度が得られない場合がある。   Next, as shown in FIG.1 (d), the insulation coating wire 5 is wired. This wiring is generally performed by heating while applying ultrasonic vibration or the like with a wiring machine. Thereby, the adhesive layer 4 is softened and embedded in the adhesive layer. However, if the softening point of the adhesive layer 4 is too low, the wire 5 may be peeled off from the adhesive layer 4 at the end of the wire 5, or the wire 5 may be bent at a corner portion where the insulating coating wire 5 is bent at a right angle. May be distorted, and sufficient accuracy may not be obtained.

また、接着層の軟化点が高すぎると、布線時にワイヤが十分に埋め込まれず、ワイヤと接着層の間の接着力が小さいために、ワイヤが剥がれてしまったり、ワイヤの交差部において、上側のワイヤが下側のワイヤを乗り越える時に、下側のワイヤが押されて位置ずれが発生したりする。このため、布線時には接着層の軟化点を適正な範囲に制御する必要がある。
よって、接着層の軟化点は、20〜100℃が好ましい。なお、本発明のマルチワイヤ配線板用接着剤において、上記組成で、接着剤からなる接着層の軟化点を、20〜100℃にすることが可能である。
In addition, if the softening point of the adhesive layer is too high, the wire is not sufficiently embedded during wiring, and the adhesive force between the wire and the adhesive layer is small, so that the wire may be peeled off or When the first wire gets over the lower wire, the lower wire is pushed and misalignment occurs. For this reason, it is necessary to control the softening point of the adhesive layer within an appropriate range during wiring.
Therefore, the softening point of the adhesive layer is preferably 20 to 100 ° C. In the adhesive for a multi-wire wiring board of the present invention, the softening point of the adhesive layer made of the adhesive can be set to 20 to 100 ° C. with the above composition.

布線に用いられるワイヤは、同一平面上に交差布線されてもショートしないように絶縁被覆されたものが用いられる。ワイヤ芯材は銅または銅合金で、その上にポリイミド等で被覆したものが用いられる。また、ワイヤ〜ワイヤ間の交差部の密着力を高めるために、絶縁被覆層の外側にさらにワイヤ接着層を設けることができる。このワイヤ接着層は、熱可塑、熱硬化、光硬化タイプの材料が適用できるが、後述する接着剤と同系の組成であることが好ましい。   The wires used for the wiring are insulation-coated so as not to be short-circuited even if they are crossed on the same plane. The wire core is made of copper or copper alloy and coated with polyimide or the like. Moreover, in order to improve the adhesive force of the cross | intersection part between a wire and a wire, a wire contact bonding layer can be further provided in the outer side of an insulating coating layer. The wire adhesive layer may be a thermoplastic, thermosetting, or photocuring type material, but preferably has the same composition as the adhesive described below.

布線を終了した後、加熱プレスを行う。ここで布線した基板表面の凹凸を低減し、接着層内に残存しているボイドを除去する。接着層内のボイドは、布線時にワイヤを超音波加熱しながら布線する際に発生したり、あるいはワイヤとワイヤの交差部付近に生じる空間に起因するものであるため、加熱プレスによる布線した基板面の平滑化および接着層中のボイド除去が不可欠となる。この加熱プレス後、熱処理により接着層を完全に硬化させる。また、この熱処理は必要に応じて省くことができる。   After finishing the wiring, heat pressing is performed. Here, the unevenness of the wired substrate surface is reduced, and voids remaining in the adhesive layer are removed. The voids in the adhesive layer are generated when the wire is wired while ultrasonically heating the wire, or are caused by a space formed near the intersection of the wire and the wire. Smoothing the surface of the substrate and removing voids in the adhesive layer are essential. After this hot pressing, the adhesive layer is completely cured by heat treatment. Also, this heat treatment can be omitted if necessary.

次に、図1(e)に示すように、布線したワイヤを保護するためのオーバーレイ層6が設けられる。このオーバーレイ層6は、通常、ガラス布エポキシ樹脂やガラス布ポリイミド樹脂のBステージのプリプレグ、あるいはガラスクロスを含まないBステージの樹脂シート等が適用され、最終的にこれらを硬化し作製する。   Next, as shown in FIG.1 (e), the overlay layer 6 for protecting the wired wire is provided. The overlay layer 6 is usually made by applying a B-stage prepreg of glass cloth epoxy resin or glass cloth polyimide resin, or a B-stage resin sheet not containing glass cloth, and finally curing them.

次に、図1(f)、(g)に示すように、必要な箇所に穴明け(ビアホールやスルーホール)を行った後、めっきを行う。ここで、スルーホール等の穴明け前のオーバーレイ層形成時にプリプレグを介して表面に銅箔等の金属箔を張り付け、公知のエッチング法等により、表面に回路を形成することができる。以上のような製造方法で布線層が2層のマルチワイヤ配線板が完成する。   Next, as shown in FIGS. 1F and 1G, after necessary holes are formed (via holes and through holes), plating is performed. Here, a circuit can be formed on the surface by a known etching method or the like by attaching a metal foil such as a copper foil to the surface via a prepreg when forming an overlay layer before drilling such as a through hole. A multi-wire wiring board having two wiring layers is completed by the manufacturing method as described above.

次に、完成した2層布線のマルチワイヤ配線板を図1(h)に示すように、2枚のマルチワイヤ配線板を絶縁層としてガラス布エポキシ樹脂やガラス布ポリイミド樹脂のBステージのプリプレグ、あるいはガラスクロスを含まないBステージの樹脂シート等を介して、積層接着する。その後、必要な箇所に穴明けを行った後、めっきを行う。以上のような製造方法で布線層が4層のマルチワイヤ配線板が完成する。また、2層布線のマルチワイヤ配線板を、3枚以上絶縁層を介して積層接着することにより、布線層が6層以上のマルチワイヤ配線板とすることもできる。また、必要に応じて、2枚以上の2層布線マルチワイヤ配線板の間に、回路を形成した層を含ませることもできる。   Next, as shown in FIG. 1 (h), the completed two-layer wiring multi-wire wiring board is a B-stage prepreg made of glass cloth epoxy resin or glass cloth polyimide resin with two multi-wire wiring boards as insulating layers. Alternatively, they are laminated and bonded via a B-stage resin sheet or the like that does not contain glass cloth. Then, after drilling a required location, it plating. A multi-wire wiring board having four wiring layers is completed by the manufacturing method as described above. Alternatively, a multi-wire wiring board having six or more wiring layers can be formed by laminating and bonding three or more multi-wire wiring boards having two wiring layers via an insulating layer. Moreover, the layer which formed the circuit can also be included between two or more 2 layer wiring multi-wire wiring boards as needed.

(作用)
本発明の接着剤に、重量平均分子量80,000以上のポリアミドイミド樹脂を使用することで、Bステージの接着剤の取り扱い性を良好とすることができることは既に述べた。このポリアミドイミド樹脂と類似骨格で重量平均分子量が10,000〜50,000の範囲のポリアミドイミド樹脂の2種を併用することで、高密度に布線する時のワイヤの接着層と基板上に設けたBステージの接着剤間の密着力を保持できることにより布線性は良好となった。また、低分子量のポリアミドイミド樹脂の末端を反応性の高いイソシアネート基とし、これをマスク剤と反応させたポリアミドイミド樹脂を用いることと、液状のエポキシ樹脂を用いることで、さらに布線性は良好になった。また、接着剤の硬化物のガラス転移点を180℃以上とすることで、この接着剤を用いたマルチワイヤ配線板のはんだリフロー時の耐熱性が向上する。
(Function)
As described above, the use of a polyamideimide resin having a weight average molecular weight of 80,000 or more in the adhesive of the present invention can improve the handleability of the B-stage adhesive. By using together two types of polyamide-imide resins having a similar skeleton to this polyamide-imide resin and having a weight average molecular weight in the range of 10,000 to 50,000, on the wire adhesive layer and the substrate when wiring at high density The wiring property was improved by maintaining the adhesion between the adhesives of the provided B stage. Moreover, the end of the low molecular weight polyamideimide resin is made to be a highly reactive isocyanate group, and by using a polyamideimide resin obtained by reacting this with a mask agent, and using a liquid epoxy resin, the wiring property is further improved. became. Moreover, the heat resistance at the time of the solder reflow of the multi-wire wiring board using this adhesive agent improves by setting the glass transition point of the hardened | cured material of an adhesive agent to 180 degreeC or more.

また、本発明のマルチワイヤ配線板では、熱硬化が可能な上記組成の接着剤を適用する。通常のUV硬化型接着剤AS−U01(日立化成工業株式会社製、商品名)を用いたマルチワイヤ配線板の製造工程では、ワイヤを布線した後、UV処理により若干硬化させ、加熱プレスを行うことにより、ワイヤスイミングを抑制している。これに対し、本発明の接着剤は、重量平均分子量が80,000以上のポリアミドイミド樹脂を用いているため、樹脂の流動が小さく、布線後、加熱プレスを行ってもワイヤスイミングが殆ど見られないため、加熱プレスによりワイヤを固定し、接着剤からなる接着層を硬化できる。   In the multi-wire wiring board of the present invention, an adhesive having the above composition that can be thermoset is applied. In the manufacturing process of a multi-wire wiring board using a normal UV curable adhesive AS-U01 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.), the wires are wired and then slightly cured by UV treatment. By doing so, wire swimming is suppressed. On the other hand, since the adhesive of the present invention uses a polyamideimide resin having a weight average molecular weight of 80,000 or more, the flow of the resin is small, and even when the hot pressing is performed after the wiring, the wire swimming is almost observed. Therefore, the wire can be fixed by a heating press and the adhesive layer made of an adhesive can be cured.

また、本発明では布線後の加熱プレスの温度、圧力および時間により、布線工程までに発生した接着剤中の気泡やワイヤの交差部付近に生じるボイドを除去し、基板表面の凹凸を低減できる。その結果、図1(e)に示すようなオーバーレイ層を設けた後でも気泡やボイドの無い、接続信頼性の高いマルチワイヤ配線板を製造することが可能となる。   Also, according to the present invention, the voids generated in the vicinity of the crossing portion of the air bubbles and wires generated in the adhesive are removed by the temperature, pressure and time of the heating press after the wiring, and the unevenness of the substrate surface is reduced. it can. As a result, it is possible to manufacture a multi-wire wiring board with high connection reliability free from bubbles and voids even after the overlay layer as shown in FIG.

次に、実施例により本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
実施例1〜7および比較例1〜6
(ポリアミドイミド樹脂の合成)
大型4つ口フラスコに2,2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)フェニル]プロパンを380g、トリメリット酸無水物を190g、N−メチルピロリドンを2600g入れて加熱し80℃で一旦保持後、トルエンを入れて還流する。その後、190℃まで昇温し、室温まで冷却する。その後、4,4’−ジフェニルメタンジイソシアネート(MDI)を250g入れて、170℃まで加熱して2時間保持し、室温まで冷却した。このワニスで合成した芳香族ポリアミドイミドのポリスチレン換算分子量は、重量平均で120,000であった。
分子量を変化させる場合は、MDIの比率を変化させた。また、イソシアネート末端とする場合は、MDIを過剰とした。さらに、マスク剤をイソシアネート基と反応させる場合は、最後にMEKオキシムをポリアミドイミド樹脂の固形質量に対して1.5%を添加して、100℃で1時間保持後、室温まで冷却した。
これらの方法で、重量平均分子量が約120,000のもの(以下PAI−aと略す)、分子量が約70,000のもの(以下PAI−bと略す)、重量平均分子量が約40,000のもの(以下PAI−cと略す)、重量平均分子量が約30,000で両末端がイソシアネート基のものにMEKオキシムを反応させたもの(以下PAI−dと略す)を合成した。
EXAMPLES Next, the present invention will be specifically described with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples.
Examples 1-7 and Comparative Examples 1-6
(Synthesis of polyamide-imide resin)
380 g of 2,2′-bis [4- (4-aminophenoxy) phenyl] propane, 190 g of trimellitic anhydride, and 2600 g of N-methylpyrrolidone are placed in a large four-necked flask and heated to temporarily hold at 80 ° C. Then, toluene is added and refluxed. Thereafter, the temperature is raised to 190 ° C. and cooled to room temperature. Thereafter, 250 g of 4,4′-diphenylmethane diisocyanate (MDI) was added, heated to 170 ° C., held for 2 hours, and cooled to room temperature. The molecular weight in terms of polystyrene of the aromatic polyamideimide synthesized with this varnish was 120,000 in terms of weight average.
When changing the molecular weight, the ratio of MDI was changed. Further, when the isocyanate terminal was used, MDI was excessive. Furthermore, when making a mask agent react with an isocyanate group, MEK oxime was finally added 1.5% with respect to the solid mass of a polyamide-imide resin, and it hold | maintained at 100 degreeC for 1 hour, Then, it cooled to room temperature.
These methods have a weight average molecular weight of about 120,000 (hereinafter abbreviated as PAI-a), a molecular weight of about 70,000 (hereinafter abbreviated as PAI-b), and a weight average molecular weight of about 40,000. A product (hereinafter abbreviated as PAI-d), a product obtained by reacting MEK oxime with an isocyanate group having a weight average molecular weight of about 30,000 and both ends (hereinafter abbreviated as PAI-d) was synthesized.

(接着剤用ワニス)
合成した前記ポリアミドイミド樹脂に対し、下記表1に示す樹脂配合で、各種成分を配合し、接着剤用ワニスとした。なお、表1中の(c)熱硬化性成分としては、固形のエポキシ樹脂として、EOCN1020(日本化薬株式会社製、商品名)を、液状のエポキシ樹脂としてビスフェノールA型のYD8125(東都化成株式会社製、商品名)を、硬化剤として、H−400(フェノールノボラック樹脂、水酸基当量106g/当量,明和化成株式会社製、商品名)を、硬化促進剤として、2E4MZ(四国化成工業株式会社製、商品名)を使用した。また、接着剤用ワニスに配合した有機溶媒は、N−メチル−2−ピロリドンであり、樹脂固形分量は、30質量%である。
(Adhesive varnish)
With respect to the synthesized polyamideimide resin, various components were blended in the resin blend shown in Table 1 below to obtain an adhesive varnish. In addition, (c) thermosetting component in Table 1 includes EOCN1020 (trade name, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as a solid epoxy resin, and bisphenol A type YD8125 (Toto Kasei Co., Ltd.) as a liquid epoxy resin. 2E4MZ (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) with H-400 (phenol novolac resin, hydroxyl group equivalent 106 g / equivalent, Meiwa Kasei Co., Ltd., product name) as a curing agent , Product name). Moreover, the organic solvent mix | blended with the varnish for adhesive agents is N-methyl-2-pyrrolidone, and resin solid content is 30 mass%.

Figure 0005556986
Figure 0005556986

(接着剤フィルム塗工)
上記の接着剤用ワニスを、乾燥後の膜厚が、100μmとなるように、転写用基材であるテトロンフィルムHSL−50(帝人株式会社製、商品名)に塗布し、Bステージ状態となるように、100℃で10分乾燥し、接着剤フィルムを作製した。なお、比較例3〜5においては、フィルム塗膜のクラックにより、比較例6においては、接着剤用ワニスのゲル化により、接着剤フィルムが作製できなかった。
(Adhesive film coating)
The adhesive varnish is applied to Tetron film HSL-50 (trade name, manufactured by Teijin Limited), which is a transfer substrate, so that the film thickness after drying is 100 μm, and a B-stage state is obtained. Thus, it dried for 10 minutes at 100 degreeC, and produced the adhesive film. In Comparative Examples 3 to 5, an adhesive film could not be produced due to cracks in the film coating film and in Comparative Example 6 due to gelation of the adhesive varnish.

(接着剤の硬化物のガラス転移点の測定;TMA法)
前記接着剤フィルムを、150℃、30分加熱、引き続き、180℃、120分の熱処理を行い、硬化させ、ガラス転移点測定用のサンプル(硬化物)とした。測定条件は、次の通りである。MAC SCIENCE製TMAを用い、治具:引っ張り、チャック間距離:15mm、測定温度:室温〜350℃、昇温速度:10℃/min、引っ張り荷重:5g、サンプルサイズ:5mm幅×30mm長で測定した。結果を下記表2に示した。
なお、比較例3〜6においては、接着剤フィルムを作製できず、よって、ガラス転移点測定用のサンプル(硬化物)も作製できなかったため、ガラス転移点の測定は不可であった。
(Measurement of glass transition point of cured adhesive; TMA method)
The adhesive film was heated at 150 ° C. for 30 minutes and subsequently subjected to heat treatment at 180 ° C. for 120 minutes to be cured to obtain a sample (cured product) for glass transition point measurement. The measurement conditions are as follows. Using TMA manufactured by MAC SCIENCE, measuring with jig: tension, distance between chucks: 15 mm, measurement temperature: room temperature to 350 ° C., heating rate: 10 ° C./min, tensile load: 5 g, sample size: 5 mm width × 30 mm length did. The results are shown in Table 2 below.
In Comparative Examples 3 to 6, an adhesive film could not be produced, and therefore a glass transition point measurement sample (cured product) could not be produced, and therefore the glass transition point could not be measured.

上記接着剤用ワニスを用いて、以下に示す方法でマルチワイヤ配線板を作製した。
(接着層付き基板)
コア基板として、板厚0.1mmまたは0.2mmのガラス布ポリイミド樹脂両面銅張積層板MCL−I−671(日立化成工業株式会社製、商品名)に通常のエッチング法により回路を形成した。次いで、仕上がり厚み0.05mmのガラス布ポリイミド樹脂プリプレグGIA−671(日立化成工業株式会社製、商品名)を該基板の両面に加熱プレスにより硬化させアンダーレイ層を形成した。次いで、上記接着剤フィルムを該基板の両面にホットロールラミネータで接着させ、接着層を形成した。
接着層の軟化点が、50℃になるように、ホットロールラミネータ条件は、130℃、0.3m/分、0.5MPaとした。なお、接着層の軟化点の測定においては、接着層をラミネートした基板の一部を切断し、軟化点測定用サンプルとした。測定条件は、次の通りである。MAC SCIENCE社製TMAを用い、治具:ペネトレーション、測定温度:0℃〜100℃、昇温速度:10℃/分、圧縮荷重:5g、サンプルサイズ7mm角で測定した。
Using the adhesive varnish, a multi-wire wiring board was produced by the following method.
(Substrate with adhesive layer)
As a core substrate, a circuit was formed on a glass cloth polyimide resin double-sided copper-clad laminate MCL-I-671 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a thickness of 0.1 mm or 0.2 mm by a normal etching method. Next, a glass cloth polyimide resin prepreg GIA-671 (trade name, manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.) having a finished thickness of 0.05 mm was cured by heating press on both sides of the substrate to form an underlay layer. Subsequently, the said adhesive film was adhere | attached on both surfaces of this board | substrate with the hot roll laminator, and the contact bonding layer was formed.
The hot roll laminator conditions were 130 ° C., 0.3 m / min, and 0.5 MPa so that the softening point of the adhesive layer was 50 ° C. In the measurement of the softening point of the adhesive layer, a part of the substrate laminated with the adhesive layer was cut to obtain a sample for measuring the softening point. The measurement conditions are as follows. Using TMA manufactured by MAC SCIENCE, measurement was performed with jig: penetration, measurement temperature: 0 ° C. to 100 ° C., heating rate: 10 ° C./min, compression load: 5 g, sample size 7 mm square.

(布線)
続いて、該基板の接着層表面にワイヤ(HPA−0.08、日立電線株式会社製、商品名)を布線機により、超音波加熱を行いながら布線した。このワイヤは銅の心線径80μmに、ポリイミド樹脂を約15μm塗布し、さらにポリアミドイミド樹脂を15μm塗布し、Bステージ状の接着剤層を形成したものである。
板厚0.1mm及び0.2mmのコア基板を使用した場合の接着層表面のワイヤ布線状態を顕微鏡で観察した。布線性として、ワイヤ剥がれ不良を×、不良なしを○とした。結果を下記表2に示した。
(Wiring)
Subsequently, a wire (HPA-0.08, trade name, manufactured by Hitachi Cable, Ltd.) was placed on the surface of the adhesive layer of the substrate with a wiring machine while performing ultrasonic heating. This wire has a copper core wire diameter of 80 μm, a polyimide resin of about 15 μm, and a polyamide-imide resin of 15 μm, to form a B-stage adhesive layer.
The wire wiring state on the surface of the adhesive layer when using a core substrate having a plate thickness of 0.1 mm and 0.2 mm was observed with a microscope. As the wiring property, the wire peeling failure was evaluated as x, and the absence of failure was evaluated as ○. The results are shown in Table 2 below.

(接着層硬化)
次に、ポリエチレンシートをクッション材として、150℃、30分、16kgf/cmの条件で加熱プレスした。引き続き、180℃、120分の熱処理を行い、接着層を硬化させた。
(表面回路形成)
次に、ガラス布ポリイミド樹脂プリプレグGIA−671(日立化成工業株式会社製、商品名)を両面に、さらにその上に18μm銅箔を加熱プレスにより接着硬化させた。
(Adhesive layer curing)
Next, it heat-pressed on the conditions of 150 kg, 30 minutes, and 16 kgf / cm < 2 > by using a polyethylene sheet as a cushioning material. Subsequently, heat treatment was performed at 180 ° C. for 120 minutes to cure the adhesive layer.
(Surface circuit formation)
Next, glass cloth polyimide resin prepreg GIA-671 (manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd., trade name) was bonded on both sides, and further 18 μm copper foil was adhesively cured on the both surfaces by a hot press.

(穴明け/ビアホール形成)
続いて、該基板の必要な箇所に穴(スルーホール及びビアホール)を明けた。穴を明けた後、ホールクリーニング等の前処理を行い、スミア等を除去した後、無電解銅めっき液に浸漬し、30μmの厚さにめっきを行った後、片面をエッチング法により、内層回路を形成し、2層布線構造のマルチワイヤ配線板とした。
(4層布線構造マルチワイヤ配線板作製)
2枚の2層布線構造マルチワイヤ配線板の片側のみ内層回路を形成した面を対向させ、ガラス布ポリイミド樹脂プリプレグGIA−671(日立化成工業株式会社製、商品名)を間に配置した構成で、加熱プレスにより硬化させ、絶縁層を形成した。次いで、穴明け、スルーホールめっきを行い、エッチング法により表面回路を形成し、4層布線構造マルチワイヤ配線板を製造した。
(Drilling / via hole formation)
Subsequently, holes (through holes and via holes) were made in necessary portions of the substrate. After drilling holes, pre-processing such as hole cleaning, removing smears, etc., dipping in an electroless copper plating solution, plating to a thickness of 30 μm, and then etching one side of the inner circuit To form a multi-wire wiring board having a two-layer wiring structure.
(Four-layer wiring structure multi-wire wiring board production)
The structure which arranged the surface which formed the inner layer circuit only on the one side of the two-layer wiring structure multi-wire wiring board of 2 sheets, and arrange | positioned the glass cloth polyimide resin prepreg GIA-671 (made by Hitachi Chemical Co., Ltd., brand name) between them Then, it was cured by a hot press to form an insulating layer. Next, drilling and through-hole plating were performed, a surface circuit was formed by an etching method, and a four-layer wiring structure multi-wire wiring board was manufactured.

(はんだ耐熱性試験)
上記4層布線構造マルチワイヤ配線板を130℃で6時間乾燥させ、基板中の水分を除去した。その基板をデシケータ中で水分を吸収しないように、室温まで冷却した。その直後に、288℃のはんだ浴に10秒間浮かべた後、取出し室温まで冷却した。この操作を3回繰り返した後、基板の状態を顕微鏡で観察した。基板中に、ボイドおよび剥離の発生無しを○、発生有りを×とした。結果を下記表2に示した。
(Solder heat resistance test)
The 4-layer wiring structure multi-wire wiring board was dried at 130 ° C. for 6 hours to remove moisture in the substrate. The substrate was cooled to room temperature so as not to absorb moisture in the desiccator. Immediately after that, the sample was floated in a solder bath at 288 ° C. for 10 seconds, and then taken out and cooled to room temperature. After repeating this operation three times, the state of the substrate was observed with a microscope. In the substrate, no occurrence of voids and peeling was indicated as ◯, and occurrence was indicated as x. The results are shown in Table 2 below.

Figure 0005556986
Figure 0005556986

実施例1〜7において、TMA法でガラス転移点の測定した結果、各種配合(接着剤)では、ガラス転移点(Tg)が180℃以上であることがわかった。これらを用いたマルチワイヤ配線板の製造途中でのワイヤの布線工程で基材(基板)厚みが0.1mmにおいても配線(布線)不良は発生しなかった。また、はんだ耐熱試験後にも、マルチワイヤ配線板中にボイドおよび剥離が発生せず良好であった。   In Examples 1-7, as a result of measuring the glass transition point by the TMA method, it was found that the glass transition point (Tg) was 180 ° C. or higher in various formulations (adhesives). Even when the substrate (substrate) thickness was 0.1 mm in the wire wiring process during the production of the multi-wire wiring board using these, wiring (wiring) defects did not occur. Further, even after the solder heat resistance test, no voids or peeling occurred in the multi-wire wiring board, which was good.

ポリアミドイミド樹脂(b)が配合されない、比較例1では、マルチワイヤ配線板の製造途中でのワイヤの布線工程で、コア基板の板厚が0.2mmの場合に配線(布線)不良は発生しなかったが、コア基板の板厚が0.1mmの場合に配線中にワイヤが剥がれる不良が発生した。比較例2では、コア基板の板厚が0.1mmの場合、配線中にワイヤが剥がれる不良が発生した。
比較例3〜4では、接着剤ワニスの状態で異常はなかったが、接着剤の塗膜にクラックが入ってしまい、Tgの測定ができなかった。
比較例5では、接着剤ワニスの状態で異常はなかったが、ポリアミドイミド樹脂(a)の比率が少ないため、接着剤の塗膜にクラックが入ってしまった。よって、比較例5では、TMA法でガラス転移点(Tg)が測定できなかった。
比較例6では、ポリアミドイミド樹脂((a)+(b))100質量部に対し、(c)熱硬化性成分が150質量部超(155質量部)であり、ワニス作製の撹拌時にゲル化してしまい、フィルム形成ができなかった。よって、比較例6では、TMA法でガラス転移点(Tg)が測定できなかった。
なお、ガラス転移点(Tg)が180℃以上であることが確認された、比較例1および2では、コア基板の厚みが0.1mmでの配線不良が発生したが、作製したマルチワイヤ配線板は、はんだ耐熱試験後にマルチワイヤ配線板中にボイドおよび剥離が発生せず良好であった。
In Comparative Example 1, in which the polyamideimide resin (b) is not blended, in the wire wiring process during the production of the multi-wire wiring board, when the core substrate thickness is 0.2 mm, the wiring (wiring) defect is Although it did not occur, when the thickness of the core substrate was 0.1 mm, a defect occurred in which the wires were peeled off during wiring. In the comparative example 2, when the plate thickness of the core substrate was 0.1 mm, a defect that the wire was peeled during the wiring occurred.
In Comparative Examples 3 and 4, there was no abnormality in the state of the adhesive varnish, but cracks occurred in the adhesive coating, and Tg could not be measured.
In Comparative Example 5, there was no abnormality in the state of the adhesive varnish, but since the ratio of the polyamideimide resin (a) was small, the adhesive coating film was cracked. Therefore, in Comparative Example 5, the glass transition point (Tg) could not be measured by the TMA method.
In Comparative Example 6, (c) the thermosetting component is more than 150 parts by mass (155 parts by mass) with respect to 100 parts by mass of the polyamideimide resin ((a) + (b)), and gelation occurs during the varnish production. The film could not be formed. Therefore, in Comparative Example 6, the glass transition point (Tg) could not be measured by the TMA method.
In Comparative Examples 1 and 2 in which the glass transition point (Tg) was confirmed to be 180 ° C. or higher, a wiring failure occurred when the thickness of the core substrate was 0.1 mm. After the solder heat resistance test, no voids or peeling occurred in the multi-wire wiring board, which was good.

以上に説明したように、本発明による接着剤を用いて製造した布線層が4層以上のマルチワイヤ配線板は、コア基板の板厚が0.1mmであってもワイヤ布線性は良好であり、ワイヤを布線、固定した後の接着層中にボイドを含まず、かつワイヤを布線後の加熱プレスを行っても、ワイヤの動きが少なく、高密度の布線が可能で、はんだ耐熱性に優れた布線層が4層以上のマルチワイヤ配線板を提供することができる。   As described above, the multi-wire wiring board having four or more wiring layers manufactured using the adhesive according to the present invention has good wiring characteristics even when the core substrate has a thickness of 0.1 mm. Yes, it does not contain voids in the adhesive layer after wiring and fixing the wire, and even if a heating press after wiring is performed, the wire does not move and high-density wiring is possible. A multi-wire wiring board having four or more wiring layers having excellent heat resistance can be provided.

1.基板、2.内層銅回路、3.アンダーレイ層、4.接着層、5.ワイヤ(絶縁被膜ワイヤ)、6.オーバーレイ層、7.ビアホール、8.めっき、9.層間絶縁層、10.めっき 1. Substrate, 2. 2. inner layer copper circuit; 3. Underlay layer, 4. adhesive layer; 5. Wire (insulating coated wire), 6. overlay layer; Via hole, 8. Plating, 9. Interlayer insulating layer, 10. Plating

Claims (8)

(a)重量平均分子量80,000以上のポリアミドイミド樹脂と、(b)重量平均分子量が10,000から50,000の範囲にあるポリアミドイミド樹脂と、(c)熱硬化性成分とを含む接着剤であって、硬化物のガラス転移点(Tg)が180℃以上であることを特徴とするマルチワイヤ配線板用接着剤。   An adhesive comprising (a) a polyamideimide resin having a weight average molecular weight of 80,000 or more, (b) a polyamideimide resin having a weight average molecular weight in the range of 10,000 to 50,000, and (c) a thermosetting component. An adhesive for a multi-wire wiring board, characterized in that the glass transition point (Tg) of the cured product is 180 ° C. or higher. (a):(b)の質量比が30:70から70:30の範囲であり、かつ、(a)+(b):(c)の質量比が100:10から100:150の範囲であることを特徴とする請求項1に記載のマルチワイヤ配線板用接着剤。   The mass ratio of (a) :( b) is in the range of 30:70 to 70:30, and the mass ratio of (a) + (b) :( c) is in the range of 100: 10 to 100: 150. The adhesive for multi-wire wiring boards according to claim 1, wherein the adhesive is provided. (b)のポリアミドイミド樹脂の末端がイソシアネート基であり、さらに、前記イソシアネート基が、加熱により解離するマスク剤と結合していることを特徴とする請求項1または2に記載のマルチワイヤ配線板用接着剤。   The multi-wire wiring board according to claim 1 or 2, wherein the end of the polyamideimide resin of (b) is an isocyanate group, and the isocyanate group is bonded to a mask agent that dissociates by heating. Adhesive. (c)熱硬化性成分が、1種類以上のエポキシ樹脂を含み、かつ、前記エポキシ樹脂の硬化剤もしくは前記エポキシ樹脂の硬化促進剤を含むことを特徴とする請求項1〜3のうちいずれかに記載のマルチワイヤ配線板用接着剤。   (C) The thermosetting component contains one or more types of epoxy resins, and contains a curing agent for the epoxy resin or a curing accelerator for the epoxy resin. The adhesive agent for multi-wire wiring boards as described in 2. エポキシ樹脂の少なくとも1種が、室温(25℃)で液状であることを特徴とする請求項4に記載のマルチワイヤ配線板用接着剤。   The adhesive for multi-wire wiring boards according to claim 4, wherein at least one of the epoxy resins is liquid at room temperature (25 ° C). 絶縁基板もしくは予め導体回路を形成した基板と、請求項1〜5のうちいずれかに記載のマルチワイヤ配線板用接着剤からなる接着層と、前記接着層により固定された絶縁被覆ワイヤと、所望の箇所に設けたスルーホールとからなることを特徴とするマルチワイヤ配線板。   An insulating substrate or a substrate on which a conductor circuit is formed in advance, an adhesive layer made of the adhesive for a multi-wire wiring board according to any one of claims 1 to 5, an insulating coated wire fixed by the adhesive layer, and a desired A multi-wire wiring board comprising: a through hole provided at a location of 絶縁基板もしくは予め導体回路を形成した基板上に、請求項1〜5のうちいずれかに記載のマルチワイヤ配線板用接着剤からなる接着層を形成する工程、絶縁被覆ワイヤを前記接着層上に布線し、固定した後、前記基板を加熱プレスして前記接着層を硬化させる工程、前記基板の所望の箇所に穴をあけてその穴内壁にめっきを行って、導体回路を形成する工程を有するマルチワイヤ配線板の製造法。   The process of forming the contact bonding layer which consists of an adhesive agent for multi-wire wiring boards in any one of Claims 1-5 on the insulation board | substrate or the board | substrate which formed the conductor circuit previously, an insulation coating wire on the said adhesion layer After wiring and fixing, a step of heating and pressing the substrate to cure the adhesive layer, a step of forming a hole in a desired portion of the substrate and plating the inner wall of the hole to form a conductor circuit A method for producing a multi-wire wiring board. 基板を加熱プレスして接着層を硬化させる工程において、加熱プレスした後に、さらに加熱処理を行うことを特徴とする請求項7に記載のマルチワイヤ配線板の製造法。   8. The method of manufacturing a multi-wire wiring board according to claim 7, wherein in the step of heat-pressing the substrate to cure the adhesive layer, heat treatment is further performed after the heat-pressing.
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JPH01160089A (en) * 1987-12-16 1989-06-22 Hitachi Chem Co Ltd Adhesive for wiring board
JPH08188763A (en) * 1994-11-10 1996-07-23 Hitachi Chem Co Ltd Adhesive for multiwire wiring board and multiwire wiring board using the same and its production
JPH08204296A (en) * 1995-01-20 1996-08-09 Hitachi Chem Co Ltd Multiwire wiring board and manufacture thereof
JP3821252B2 (en) * 1997-03-03 2006-09-13 日立化成工業株式会社 Multi-wire wiring board adhesive, multi-wire wiring board using this adhesive, and manufacturing method thereof
JPH11148053A (en) * 1997-11-19 1999-06-02 Hitachi Chem Co Ltd Heat-resistant plastic film laminate and multilayer printed circuit using the same
JP3661397B2 (en) * 1998-03-09 2005-06-15 日立化成工業株式会社 Multi-wire wiring board adhesive, multi-wire wiring board using this adhesive, and manufacturing method thereof
JPH11335652A (en) * 1998-05-22 1999-12-07 Sumitomo Bakelite Co Ltd Film adhesive
JP2002129126A (en) * 2000-10-23 2002-05-09 Tomoegawa Paper Co Ltd Adhesive composition and adhesive sheet for semiconductor device

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