JP5546454B2 - 広幅分光計 - Google Patents
広幅分光計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5546454B2 JP5546454B2 JP2010520648A JP2010520648A JP5546454B2 JP 5546454 B2 JP5546454 B2 JP 5546454B2 JP 2010520648 A JP2010520648 A JP 2010520648A JP 2010520648 A JP2010520648 A JP 2010520648A JP 5546454 B2 JP5546454 B2 JP 5546454B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light source
- wavelength
- optical axis
- detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means, e.g. by light scattering, diffraction, holography or imaging
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4707—Forward scatter; Low angle scatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4709—Backscatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4711—Multiangle measurement
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/095—Refractive optical elements
- G02B27/0955—Lenses
- G02B27/0966—Cylindrical lenses
Description
図1を参照すると、バルクサイズ分布が要求される場合、代表数(通常、多数)の粒子を光の静的ビームに通過させ、固定したサイズおよび位置の多数の光検出器上に散乱された光を検出するようにすることが好都合である。この照射ビームは、最も大きい粒子よりも直径が少なくとも10倍大きいことが好ましい。
より大きい粒子の測定には、焦点を合わせたビームに近い小さな角度の検出が要求される。これは、このビームに最も近い光検出器のサイズを減少させるか、あるいはレンズからの検出器面の距離を増大させるため、より弱い焦点合わせレンズを使用することが求められるように思われる。図3を参照すると、小さな角度のみを測定する必要があるような精巧化された機器では、同様の有効焦点距離を確保しつつ、物理的距離を短縮するため、テレフォトレンズ配置が使用されている。
図4を参照すると、小さな角度と同時に、大きい角度を測定する場合の問題が、ベックマンクールターにより開発された2つの集合レンズシステムの組合せにより克服されている。光軸上のフーリェの一側が切りつめられ、この側のより大きい角度の隠蔽されない検出を可能にし、同時に、中間角度が光軸の反対側にて検出されるようになっている。或る最小検出器空間について言うと、この機構はより長い通路長さを有するものとなる。なぜならば、有効焦点距離が軸方向レンズと検出器面との間の距離となり、セルと軸長との間に付加的距離が存在し、より大きい角度の検出を可能にするからである。
図5を参照すると、所謂リバースフーリェを使用して通路長さを減少させることが出来、この場合、焦点合わせレンズはサンプルの前に位置している。このシステムの有効焦点距離はサンプルと検出器面との間の距離となる。これは小さい前方角度から大きい前方角度までの連続的測定を可能にする。これらがレンズの焦点面に置かれる限り、検出器上にそれ以上のレンズを配置する必要はない。大きい前方角度の検出については、光集積面積を増加させるために個々の検出器の前方にレンズを配置すればよく、大きい検出器を使用する必要はない。これらの通路に適当に設計したレンズおよび開口を設けることにより、焦点面よりもサンプルにより近くにこれら検出器を配置させることが可能になる。焦点合わせレンズを測定容積から後方に適当距離セットすることにより後方散乱も測定することができる。
12 ビームエクスパンダー
14 視準レンズなどからの平行単色光
16 粒子フィールド
18 1μm粒子についての−11度
20 フーリェ変換レンズ
22 レンズの焦点面中の検出器
24 分割された光検出器配列
30 レーザー源
32 視準レンズ
34 サンプル
36 セルの窓
38 焦点合わせレンズ
40 伸縮レンズ
42 高角度散乱(小さい粒子)
44 低角度散乱(大きい粒子)
46 平面検出器配列
50 レーザー
52 後方散乱光検出器
70(図6) 平面ミラー
70(図7) 青色通過二色性ミラー
72 焦点合わせレンズシステム
74 フローセル
76 発散レンズ
78 光検出器配列
80 光軸
90 ダイオード源赤色レーザー
92 後方散乱光検出器
94 後方散乱光検出器
96 フローセル
98 焦点面検出器、低角度
100 散乱光検出器
102 低開口数ビーム
104 高開口数ビーム
106 焦点面検出器、高角度
108 切り詰められた傾斜凸面ミラー
110 低角度散乱光
120 紫色二色性ミラー
122 赤色二色性ミラー
130 紫色二色性ミラー
132 赤色二色性ミラー
140 青色サンプルミラー
142 二色性ミラー
144 抗反射性コーティング(青色)
146 抗反射性コーティング(赤色)
150 青又は紫色LED
152 レーザー(赤色)
154 光収集レンズ
156 検出器
164 光収集レンズ
166 検出器
170 青色サンプルミラー
172 赤色通過二色性ミラー
174 光収集レンズ
176 赤色サンプルミラー
178 光収集レンズ
184 サンプルセル
186 抗反射性コーティング
188 抗反射性コーティング
190 焦点面検出器
192 主焦点合わせレンズ
194 青色伝達モニター
196 二色性(青色光を反射する)
Claims (27)
- 光軸に整合したビーム出力を有する第1の空間的コヒーレント光源と;
収束ビームを形成させるため該コヒーレント光源の後の光軸に沿って配置された焦点合わせ光学部材と;
該光学部材の後の光軸に沿い、かつ、該収束ビームの通路に配置されたサンプルセルと;
該サンプルセルの後の光軸に沿い、かつ、該収束ビームの通路に配置された発散光学部材と;
該発散光学部材からの第1の散乱角度範囲内の散乱光を受理するため光軸の外側に配置された第1の検出器と;
光軸の外側に配置され、第2の散乱角度範囲内の散乱光を直接サンプルセルから受理するようにした第2の検出器と;
を具備してなる粒子特性検出機器。
- 前記第1の光源の波長とは異なる波長を有する第2の光源を更に備えてなる請求項1記載の機器。
- 前記第1の光源の波長が前記第2の光源の波長よりも長く、これらの異なる波長により機器に対する動的範囲を増大するようにした請求項2記載の機器。
- 前記第1の波長が赤近傍の分光の波長を有し、前記第2の波長が紫近傍の分光の波長を有する請求項3記載の機器。
- 前記発散光学部材が少なくとも1つの凹状屈折面を有するレンズである請求項1記載の機器。
- 前記第1の光源の波長とは異なる波長を有する第2の光源を更に備えてなる請求項5記載の機器。
- 前記第1の光源の波長が前記第2の光源の波長よりも長く、これらの異なる波長により機器に対する動的範囲を増大するようにした請求項6記載の機器。
- 前記凹状屈折面が円形凹面屈折部分であって、この円形凹面の一部が切り詰められていて散乱光が屈折されずに通過し得るようになっている請求項5記載の機器。
- 前記第2の検出器が円形凹面の切り詰め部分を通過した第2の散乱角度範囲内の散乱光を更に受理するようにした請求項8記載の機器。
- 光軸の外側に配置された第3の検出器を更に有し、発散光学部材の外側を通過させるような十分に大きい第3の散乱角度範囲内の散乱光を更に受理するようにした請求項9記載の機器。
- 前記第1の光源の波長とは異なる波長を有する第2の光源を更に備えてなる請求項10記載の機器。
- 前記発散光学部材が凸状反射面を有する請求項1記載の機器。
- 前記発散光学部材が反射面を有し、この反射面が円形凸面の反射部分であって、この円形凸面の一部が切り詰められていて散乱光が反射されないで通過し得るようにした請求項12記載の機器。
- 前記第2の検出器が、円形凸面の切り詰め部を通過した第2の散乱角度範囲内の散乱光を更に受理するようにした請求項13記載の機器。
- 光軸の外側に配置された第3の検出器を更に有し、発散光学部材の外側を通過させるような十分に大きい第3の散乱角度範囲内の散乱光を更に受理するようにした請求項14記載の機器。
- 前記第1の光源の波長とは異なる波長を有する第2の光源を備え、前記発散光学部材が二色性のもので、第1の光源からの光を反射させ、第2の光源からの光を通過させ、更に該発散光学部材の背後に第2の検出器を有し、第2の光源からの散乱光を受理するようにした請求項12記載の機器。
- 光軸の外側に配置された第3の検出器を更に有し、前記発散光学部材の外側を通過させるような十分に大きい第3の散乱角度範囲内の第2の波長の散乱光を更に受理するようにした請求項16記載の機器。
- 光源と焦点合わせ光学部材との間に配置され光軸を曲げるミラーを更に有する請求項1記載の機器。
- 前記第1の光源の波長とは異なる波長を有する第2の光源を備え、該ミラーが二色性のもので、該第1の光源からの光を反射させ、該第2の光源からの光を通過させるようにした請求項18記載の機器。
- 前記第1の波長が赤色の波長であり、前記第2の波長が紫色の波長である請求項19記載の機器。
- 前記光源がソリッドステート光源である請求項1記載の機器。
- サンプルセルの背後の光軸の外側に位置する少なくとも1つの後方散乱検出器を更に有する請求項1記載の機器。
- 前記第1および第2の検出器がマルチエレメント検出器である請求項1記載の機器。
- 前記発散光学部材を移動させるよう操作される少なくとも1つのアクチュエータを更に備えてなる請求項1記載の機器。
- 前記アクチュエータが前記発散光学部材をその光軸に沿って焦点調整のため移動させるよう操作される請求項24記載の機器。
- 前記アクチュエータが前記発散光学部材をその光軸に垂直に移動させ整合を調整するよう操作される請求項24記載の機器。
- 空間的コヒーレント光を照射させること;
光ビームを焦点合わせして、光の収束ビームを形成すること;
この光の収束ビームを複数の粒子と交差させて散乱光を生成させること;
第1の散乱角度範囲内の散乱光を発散光学系と交差させ、ついで散乱光を検出すること;
第2の散乱角度範囲内の散乱光を直接検出すること;
を具備してなる粒子特性検出方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US96482807P | 2007-08-15 | 2007-08-15 | |
US60/964,828 | 2007-08-15 | ||
PCT/IB2008/003743 WO2009063322A2 (en) | 2007-08-15 | 2008-08-15 | Broad-range spectrometer |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013089381A Division JP5705261B2 (ja) | 2007-08-15 | 2013-04-22 | 広幅分光計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010537165A JP2010537165A (ja) | 2010-12-02 |
JP5546454B2 true JP5546454B2 (ja) | 2014-07-09 |
Family
ID=40623397
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010520648A Active JP5546454B2 (ja) | 2007-08-15 | 2008-08-15 | 広幅分光計 |
JP2013089381A Active JP5705261B2 (ja) | 2007-08-15 | 2013-04-22 | 広幅分光計 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013089381A Active JP5705261B2 (ja) | 2007-08-15 | 2013-04-22 | 広幅分光計 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7869038B2 (ja) |
EP (2) | EP2181317B1 (ja) |
JP (2) | JP5546454B2 (ja) |
WO (1) | WO2009063322A2 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5822534B2 (ja) * | 2011-05-13 | 2015-11-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
GB2494735B (en) * | 2011-09-14 | 2017-10-25 | Malvern Instr Ltd | Apparatus for measuring particle-size distribution by light scattering |
GB2494733A (en) * | 2011-09-14 | 2013-03-20 | Malvern Instr Ltd | Measuring particle size distribution by light scattering |
RU2616653C2 (ru) * | 2012-06-05 | 2017-04-18 | Хайпермед Имэджинг, Инк. | Способы и устройство для соосного формирования изображения с множеством длин волн |
JP6340084B2 (ja) | 2014-03-21 | 2018-06-06 | ハイパーメツド・イメージング・インコーポレイテツド | 小型光センサ |
US9655519B2 (en) | 2014-03-21 | 2017-05-23 | Hypermed Imaging, Inc. | Systems and methods for performing an imaging test under constrained conditions |
JP6367351B2 (ja) * | 2014-10-22 | 2018-08-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 細胞計測機構及びそれを有する細胞培養装置並びに細胞計測方法 |
CN106092972A (zh) * | 2015-04-27 | 2016-11-09 | 松下知识产权经营株式会社 | 光传感装置 |
RU2592750C1 (ru) * | 2015-07-06 | 2016-07-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет" | Ик спектроскопический способ определения ориентации анизометричных частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы |
RU2600516C1 (ru) * | 2015-07-06 | 2016-10-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет" | Ик спектроскопический способ определения анизометрии частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы |
CN105259143B (zh) * | 2015-10-15 | 2019-03-29 | 南京医科大学 | 一种基于米氏散射和空间光调制器的微生物快速检测设备 |
WO2017201093A1 (en) | 2016-05-17 | 2017-11-23 | Hypermed Imaging, Inc. | Hyperspectral imager coupled with indicator molecule tracking |
US11086211B2 (en) * | 2017-11-08 | 2021-08-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Masks and methods of forming the same |
PL3521810T3 (pl) * | 2018-01-31 | 2020-05-18 | Sick Engineering Gmbh | Analizator do oznaczania pyłu drobnego |
KR20210012259A (ko) | 2019-07-24 | 2021-02-03 | 삼성전자주식회사 | 미세먼지 측정 장치 및 방법 |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA1135971A (en) * | 1979-01-02 | 1982-11-23 | Albert Brunsting | Radiant energy reradiating flow cell system and method |
JPS59160741A (ja) | 1983-03-03 | 1984-09-11 | Toshiba Corp | 粒径測定装置 |
US4545677A (en) * | 1984-03-05 | 1985-10-08 | Becton, Dickinson And Company | Prismatic beam expander for light beam shaping in a flow cytometry apparatus |
EP0207176B1 (de) * | 1985-06-07 | 1990-01-17 | Fritsch GmbH | Gerät zur Bestimmung von Korngrössen |
US4871251A (en) * | 1987-04-27 | 1989-10-03 | Preikschat F K | Apparatus and method for particle analysis |
JP2626009B2 (ja) * | 1988-12-26 | 1997-07-02 | 株式会社島津製作所 | 粒度分布測定装置 |
US5056918A (en) * | 1989-03-03 | 1991-10-15 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | Method and apparatus for particle size analysis |
US5104221A (en) * | 1989-03-03 | 1992-04-14 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | Particle size analysis utilizing polarization intensity differential scattering |
US4953978A (en) * | 1989-03-03 | 1990-09-04 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | Particle size analysis utilizing polarization intensity differential scattering |
JPH081482Y2 (ja) * | 1990-11-17 | 1996-01-17 | 株式会社堀場製作所 | 粒度分布測定装置 |
IL113805A0 (en) * | 1994-05-23 | 1995-08-31 | Coulter Corp | Detection of reticulocytes |
CA2279574C (en) * | 1997-01-31 | 2007-07-24 | The Horticulture & Food Research Institute Of New Zealand Ltd. | Optical apparatus |
CA2284870C (en) * | 1997-03-17 | 2003-11-25 | Tsi Incorporated | System for detecting fluorescing components in aerosols |
US6034760A (en) * | 1997-10-21 | 2000-03-07 | Flight Safety Technologies, Inc. | Method of detecting weather conditions in the atmosphere |
GB9818351D0 (en) * | 1998-08-22 | 1998-10-14 | Malvern Instr Ltd | Improvements relating to the measurement of particle size distribution |
GB9818348D0 (en) * | 1998-08-22 | 1998-10-14 | Malvern Instr Ltd | Improvements relating to the measurement of particle size distribution |
DE19948587A1 (de) * | 1999-10-08 | 2001-04-12 | Dade Behring Marburg Gmbh | Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit |
JP2001116692A (ja) * | 1999-10-18 | 2001-04-27 | Nittan Co Ltd | 煙感知器および微粒子粒径計測装置および微粒子種類判別装置 |
JP3771417B2 (ja) * | 2000-03-21 | 2006-04-26 | 独立行政法人科学技術振興機構 | 微粒子測定方法およびその装置 |
JP2001330551A (ja) * | 2000-05-24 | 2001-11-30 | Shimadzu Corp | 粒子測定装置 |
JP3412606B2 (ja) * | 2000-08-04 | 2003-06-03 | 株式会社島津製作所 | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 |
WO2002103335A1 (en) * | 2001-06-18 | 2002-12-27 | Amnis Corporation | Spectral deconvolution of fluorescent markers |
DE10317669B4 (de) * | 2003-04-17 | 2017-03-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zur Separierung von Detektionskanälen eines mikroskopischen Systems |
JP4426402B2 (ja) * | 2004-08-31 | 2010-03-03 | 株式会社堀場製作所 | 粒径分布測定装置 |
JP4756948B2 (ja) * | 2005-08-08 | 2011-08-24 | ベイバイオサイエンス株式会社 | フローサイトメータおよびフローサイトメトリ方法 |
US7554661B2 (en) * | 2005-09-19 | 2009-06-30 | Jmar Technologies, Inc. | Systems and methods for detection and classification of waterborne particles using a multiple angle light scattering (MALS) instrument |
DE102006019138B4 (de) * | 2006-04-21 | 2021-06-10 | Fritsch Gmbh | Partikeluntersuchungsgerät mit Vergrößerungsbereich |
-
2008
- 2008-08-15 US US12/228,871 patent/US7869038B2/en active Active
- 2008-08-15 EP EP08849794A patent/EP2181317B1/en active Active
- 2008-08-15 WO PCT/IB2008/003743 patent/WO2009063322A2/en active Application Filing
- 2008-08-15 JP JP2010520648A patent/JP5546454B2/ja active Active
- 2008-08-15 EP EP12176047.4A patent/EP2522982B1/en active Active
-
2013
- 2013-04-22 JP JP2013089381A patent/JP5705261B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2522982A2 (en) | 2012-11-14 |
EP2181317B1 (en) | 2012-12-05 |
EP2181317A2 (en) | 2010-05-05 |
US20090122313A1 (en) | 2009-05-14 |
US7869038B2 (en) | 2011-01-11 |
WO2009063322A3 (en) | 2010-01-28 |
JP2010537165A (ja) | 2010-12-02 |
JP2013174604A (ja) | 2013-09-05 |
WO2009063322A2 (en) | 2009-05-22 |
JP5705261B2 (ja) | 2015-04-22 |
EP2522982B1 (en) | 2015-09-16 |
EP2522982A3 (en) | 2012-12-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5546454B2 (ja) | 広幅分光計 | |
US7864317B2 (en) | Compact catadioptric spectrometer | |
US7643226B2 (en) | Maximal-aperture reflecting objective | |
JPH10510365A (ja) | 赤外微量分光計付属装置 | |
US8933417B2 (en) | Combined lens and reflector, and an optical apparatus using the same | |
JP2023508607A (ja) | 平行サンプルビームを有する光学分光プローブにおける干渉を軽減するための装置および方法 | |
US20210389229A1 (en) | Optical system and flow cytometer | |
US7728980B2 (en) | Optical unit | |
US7248364B2 (en) | Apparatus and method for optical characterization of a sample over a broadband of wavelengths with a small spot size | |
US6036324A (en) | Catadioptric zoom scattering collector | |
JP2021051074A (ja) | 分光分析装置 | |
US7327457B2 (en) | Apparatus and method for optical characterization of a sample over a broadband of wavelengths while minimizing polarization changes | |
RU2334957C2 (ru) | Устройство для измерения спектров а.х.купцова | |
WO2010007811A1 (ja) | 光学ユニット | |
US20240110874A1 (en) | Intensity calibration of multipass raman systems using standard reference materials | |
JP4294566B2 (ja) | 全反射吸収測定用プリズムを用いた全反射吸収測定方法 | |
US20240045193A1 (en) | Objective lens, optical imaging device, optical system, and test method of optical system | |
JP2007121322A (ja) | 全反射吸収測定用プリズムおよびこれを用いた全反射吸収測定装置 | |
RU2474796C1 (ru) | Эффективная оптическая система сбора рассеянного излучения для раман-спектрометра |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110706 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121116 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130122 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130408 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130806 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140415 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140513 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5546454 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |