JP2013174604A - 広幅分光計 - Google Patents
広幅分光計 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013174604A JP2013174604A JP2013089381A JP2013089381A JP2013174604A JP 2013174604 A JP2013174604 A JP 2013174604A JP 2013089381 A JP2013089381 A JP 2013089381A JP 2013089381 A JP2013089381 A JP 2013089381A JP 2013174604 A JP2013174604 A JP 2013174604A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- detector
- optical axis
- wavelength
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 87
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 41
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims abstract description 17
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 12
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 9
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 9
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 9
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 23
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M Ilexoside XXIX Chemical compound C[C@@H]1CC[C@@]2(CC[C@@]3(C(=CC[C@H]4[C@]3(CC[C@@H]5[C@@]4(CC[C@@H](C5(C)C)OS(=O)(=O)[O-])C)C)[C@@H]2[C@]1(C)O)C)C(=O)O[C@H]6[C@@H]([C@H]([C@@H]([C@H](O6)CO)O)O)O.[Na+] DGAQECJNVWCQMB-PUAWFVPOSA-M 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 230000004323 axial length Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000005194 fractionation Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011734 sodium Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/51—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid inside a container, e.g. in an ampoule
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4707—Forward scatter; Low angle scatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4709—Backscatter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N2021/4704—Angular selective
- G01N2021/4711—Multiangle measurement
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/095—Refractive optical elements
- G02B27/0955—Lenses
- G02B27/0966—Cylindrical lenses
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】第1の波長を有する第1の空間的コヒーレント光ビームを照射させる手段と、第2の波長を有する第2の空間的コヒーレント光ビームを照射させる手段と、該第1および第2の光ビームの少なくとも一方を同じ光軸に沿って照射させるよう方向づける手段と、第1の方向づけられた光ビームを光軸中の複数の粒子を含むサンプルと相互作用させ散乱光を生成させる手段と、第2の方向づけられた光ビームを光軸中のサンプルと相互作用させ更なる散乱光を生成させる手段と、該第1および第2の光ビームからの散乱光を検出するための手段とを具備してなる。
【選択図】図8
Description
図1を参照すると、バルクサイズ分布が要求される場合、代表数(通常、多数)の粒子を光の静的ビームに通過させ、固定したサイズおよび位置の多数の光検出器上に散乱された光を検出するようにすることが好都合である。この照射ビームは、最も大きい粒子よりも直径が少なくとも10倍大きいことが好ましい。
より大きい粒子の測定には、焦点を合わせたビームに近い小さな角度の検出が要求される。これは、このビームに最も近い光検出器のサイズを減少させるか、あるいはレンズからの検出器面の距離を増大させるため、より弱い焦点合わせレンズを使用することが求められるように思われる。図3を参照すると、小さな角度のみを測定する必要があるような精巧化された機器では、同様の有効焦点距離を確保しつつ、物理的距離を短縮するため、テレフォトレンズ配置が使用されている。
図4を参照すると、小さな角度と同時に、大きい角度を測定する場合の問題が、ベックマンクールターにより開発された2つの集合レンズシステムの組合せにより克服されている。光軸上のフーリェの一側が切りつめられ、この側のより大きい角度の隠蔽されない検出を可能にし、同時に、中間角度が光軸の反対側にて検出されるようになっている。或る最小検出器空間について言うと、この機構はより長い通路長さを有するものとなる。なぜならば、有効焦点距離が軸方向レンズと検出器面との間の距離となり、セルと軸長との間に付加的距離が存在し、より大きい角度の検出を可能にするからである。
図5を参照すると、所謂リバースフーリェを使用して通路長さを減少させることが出来、この場合、焦点合わせレンズはサンプルの前に位置している。このシステムの有効焦点距離はサンプルと検出器面との間の距離となる。これは小さい前方角度から大きい前方角度までの連続的測定を可能にする。これらがレンズの焦点面に置かれる限り、検出器上にそれ以上のレンズを配置する必要はない。大きい前方角度の検出については、光集積面積を増加させるために個々の検出器の前方にレンズを配置すればよく、大きい検出器を使用する必要はない。これらの通路に適当に設計したレンズおよび開口を設けることにより、焦点面よりもサンプルにより近くにこれら検出器を配置させることが可能になる。焦点合わせレンズを測定容積から後方に適当距離セットすることにより後方散乱も測定することができる。
12 ビームエクスパンダー
14 視準レンズなどからの平行単色光
16 粒子フィールド
18 1μm粒子についての−11度
20 フーリェ変換レンズ
22 レンズの焦点面中の検出器
24 分割された光検出器配列
30 レーザー源
32 視準レンズ
34 サンプル
36 セルの窓
38 焦点合わせレンズ
40 伸縮レンズ
42 高角度散乱(小さい粒子)
44 低角度散乱(大きい粒子)
46 平面検出器配列
50 レーザー
52 後方散乱光検出器
70(図6) 平面ミラー
70(図7) 青色通過二色性ミラー
72 焦点合わせレンズシステム
74 フローセル
76 発散レンズ
78 光検出器配列
80 光軸
90 ダイオード源赤色レーザー
92 後方散乱光検出器
94 後方散乱光検出器
96 フローセル
98 焦点面検出器、低角度
100 散乱光検出器
102 低開口数ビーム
104 高開口数ビーム
106 焦点面検出器、高角度
108 切り詰められた傾斜凸面ミラー
110 低角度散乱光
120 紫色二色性ミラー
122 赤色二色性ミラー
130 紫色二色性ミラー
132 赤色二色性ミラー
140 青色サンプルミラー
142 二色性ミラー
144 抗反射性コーティング(青色)
146 抗反射性コーティング(赤色)
150 青又は紫色LED
152 レーザー(赤色)
154 光収集レンズ
156 検出器
164 光収集レンズ
166 検出器
170 青色サンプルミラー
172 赤色通過二色性ミラー
174 光収集レンズ
176 赤色サンプルミラー
178 光収集レンズ
184 サンプルセル
186 抗反射性コーティング
188 抗反射性コーティング
190 焦点面検出器
192 主焦点合わせレンズ
194 青色伝達モニター
196 二色性(青色光を反射する)
Claims (7)
- 第1の波長と第1のビーム出力を有する第1の空間的コヒーレント光源(152)と;
前記第1の波長とは異なる第2の波長と第2のビーム出力を有する第2の光源(150)と;
前記第1のビーム出力および前記第2のビーム出力に応答し、該第1のビーム出力からの第1の出力ビームの少なくとも一部および該第2のビーム出力からの第2の出力ビームの少なくとも一部を同じ光軸に沿って向けさせるよう配置された第1の光学的結合手段(172)と;
前記同じ光軸に沿って配置され、該同じ光軸に沿って向けさせられた前記第1の出力ビームまたは前記第2の出力ビームを受理するサンプルセル(184)と;
前記光軸に沿って配置され、前記サンプルセル内のサンプルと、前記第1の出力ビームとの間での相互作用からもたらされる前記サンプルセル(184)からの散乱光を受理するための第1の検出器(190)と;
前記光軸の外側に配置され、前記サンプルと、前記第2の出力ビームとの間での相互作用からもたらされるサンプルセル(184)からの散乱光を受理するための第2の検出器(194)と;
前記サンプルセル(184)と前記第1の検出器(190)の間に配置され、前記光軸に沿った前記第1の波長の光を前記第1の検出器(190)に方向づけ、前記第2の波長の光を前記第2の検出器(194)に再度方向づける第2の光学的結合手段(196)と;
を具備してなることを特徴とする粒子特性検出機器。
- 前記光学的結合手段が二色性ミラーである請求項1記載の機器。
- 前記光学的結合手段がこれらビームの完全なオーバーラップを可能にするよう配置された請求項1記載の機器。
- 前記第2の光源が空間的コヒーレント光源である請求項1記載の機器。
- 第1の波長を有する第1の空間的コヒーレント光ビームを照射させること;
第2の波長を有する第2の光ビームを照射させること;
第1の光学的結合手段(172)をもって、前記第1および第2の光ビームの少なくとも一方を同じ光軸に沿って照射させるよう方向づけること;
前記第1及び第2の方向づけられた光ビームを光軸中の複数の粒子を含むサンプルセル(184)内のサンプルと相互作用させ散乱光を生成させること;
第2の光学的結合手段(196)をもって、前記サンプルセル(184)から前記光軸に沿って配置された第1の検出器(190)に前記第1の波長の散乱光を方向づけ、また、前記サンプルセル(184)から前記光軸の外側の第2の検出器(194)に前記第2の波長の散乱光を方向づけること;
第1の光ビームからの散乱光を前記第1の検出器(190)をもって検出すること;
第2の光ビームからの散乱光を前記第2の検出器(194)をもって検出すること;
を具備してなることを特徴とする粒子特性検出方法。
- 第2の光ビームを照射させる工程が空間的コヒーレント光を照射させるものである請求項5記載の方法。
- 第1の光ビームを照射させる工程および第1の光ビームからの散乱光を検出する工程が、第2の光ビームを照射させる工程の前に行われるものである請求項5記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US96482807P | 2007-08-15 | 2007-08-15 | |
US60/964,828 | 2007-08-15 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010520648A Division JP5546454B2 (ja) | 2007-08-15 | 2008-08-15 | 広幅分光計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013174604A true JP2013174604A (ja) | 2013-09-05 |
JP5705261B2 JP5705261B2 (ja) | 2015-04-22 |
Family
ID=40623397
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010520648A Active JP5546454B2 (ja) | 2007-08-15 | 2008-08-15 | 広幅分光計 |
JP2013089381A Active JP5705261B2 (ja) | 2007-08-15 | 2013-04-22 | 広幅分光計 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010520648A Active JP5546454B2 (ja) | 2007-08-15 | 2008-08-15 | 広幅分光計 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7869038B2 (ja) |
EP (2) | EP2181317B1 (ja) |
JP (2) | JP5546454B2 (ja) |
WO (1) | WO2009063322A2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105259143A (zh) * | 2015-10-15 | 2016-01-20 | 南京医科大学 | 一种基于米氏散射和空间光调制器的微生物快速检测设备 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5822534B2 (ja) * | 2011-05-13 | 2015-11-24 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
GB2494733A (en) * | 2011-09-14 | 2013-03-20 | Malvern Instr Ltd | Measuring particle size distribution by light scattering |
GB2494735B (en) * | 2011-09-14 | 2017-10-25 | Malvern Instr Ltd | Apparatus for measuring particle-size distribution by light scattering |
RU2616653C2 (ru) | 2012-06-05 | 2017-04-18 | Хайпермед Имэджинг, Инк. | Способы и устройство для соосного формирования изображения с множеством длин волн |
CN106461462B (zh) | 2014-03-21 | 2019-03-26 | 海佩尔梅德影像有限公司 | 紧凑型光传感器 |
US9655519B2 (en) | 2014-03-21 | 2017-05-23 | Hypermed Imaging, Inc. | Systems and methods for performing an imaging test under constrained conditions |
CN107075437B (zh) * | 2014-10-22 | 2019-12-03 | 株式会社日立高新技术 | 细胞测量机构和具有该细胞测量机构的细胞培养装置以及细胞测量方法 |
CN106092972A (zh) * | 2015-04-27 | 2016-11-09 | 松下知识产权经营株式会社 | 光传感装置 |
RU2592750C1 (ru) * | 2015-07-06 | 2016-07-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет" | Ик спектроскопический способ определения ориентации анизометричных частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы |
RU2600516C1 (ru) * | 2015-07-06 | 2016-10-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Тверской государственный университет" | Ик спектроскопический способ определения анизометрии частиц наполнителя в объеме полимерной матрицы |
US10798310B2 (en) | 2016-05-17 | 2020-10-06 | Hypermed Imaging, Inc. | Hyperspectral imager coupled with indicator molecule tracking |
US11086211B2 (en) * | 2017-11-08 | 2021-08-10 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Masks and methods of forming the same |
ES2778148T3 (es) * | 2018-01-31 | 2020-08-07 | Sick Engineering Gmbh | Aparato de análisis para la determinación de polvo fino |
KR20210012259A (ko) | 2019-07-24 | 2021-02-03 | 삼성전자주식회사 | 미세먼지 측정 장치 및 방법 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000097841A (ja) * | 1998-08-22 | 2000-04-07 | Malvern Instruments Ltd | 粒子サイズの分布を測定するための装置及び方法 |
JP2000105185A (ja) * | 1998-08-22 | 2000-04-11 | Malvern Instruments Ltd | 粒子サイズの分布を測定するための装置及び方法 |
JP2001264232A (ja) * | 2000-03-21 | 2001-09-26 | Japan Science & Technology Corp | 微粒子測定方法およびその装置 |
JP2006071329A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
JP2007046947A (ja) * | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Bay Bioscience Kk | フローサイトメータおよびフローサイトメトリ方法 |
Family Cites Families (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3000034A1 (de) * | 1979-01-02 | 1980-07-31 | Coulter Electronics | Verfahren und vorrichtung zum messen der richtungsverteilungseigenschaften der von einem teilchen zurueckgestrahlten strahlungsenergie |
JPS59160741A (ja) | 1983-03-03 | 1984-09-11 | Toshiba Corp | 粒径測定装置 |
US4545677A (en) * | 1984-03-05 | 1985-10-08 | Becton, Dickinson And Company | Prismatic beam expander for light beam shaping in a flow cytometry apparatus |
EP0207176B1 (de) | 1985-06-07 | 1990-01-17 | Fritsch GmbH | Gerät zur Bestimmung von Korngrössen |
US4871251A (en) * | 1987-04-27 | 1989-10-03 | Preikschat F K | Apparatus and method for particle analysis |
JP2626009B2 (ja) * | 1988-12-26 | 1997-07-02 | 株式会社島津製作所 | 粒度分布測定装置 |
US4953978A (en) | 1989-03-03 | 1990-09-04 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | Particle size analysis utilizing polarization intensity differential scattering |
US5056918A (en) * | 1989-03-03 | 1991-10-15 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | Method and apparatus for particle size analysis |
US5104221A (en) | 1989-03-03 | 1992-04-14 | Coulter Electronics Of New England, Inc. | Particle size analysis utilizing polarization intensity differential scattering |
JPH081482Y2 (ja) * | 1990-11-17 | 1996-01-17 | 株式会社堀場製作所 | 粒度分布測定装置 |
IL113805A0 (en) * | 1994-05-23 | 1995-08-31 | Coulter Corp | Detection of reticulocytes |
DE69830598T2 (de) * | 1997-01-31 | 2006-05-18 | The Horticulture And Food Research Institute Of New Zealand Limited | Optische vorrichtung und methode |
WO1998041876A1 (en) * | 1997-03-17 | 1998-09-24 | Tsi Incorporated | System for detecting fluorescing components in aerosols |
US6034760A (en) * | 1997-10-21 | 2000-03-07 | Flight Safety Technologies, Inc. | Method of detecting weather conditions in the atmosphere |
DE19948587A1 (de) * | 1999-10-08 | 2001-04-12 | Dade Behring Marburg Gmbh | Spektralphotometrische und nephelometrische Detektionseinheit |
JP2001116692A (ja) * | 1999-10-18 | 2001-04-27 | Nittan Co Ltd | 煙感知器および微粒子粒径計測装置および微粒子種類判別装置 |
JP2001330551A (ja) * | 2000-05-24 | 2001-11-30 | Shimadzu Corp | 粒子測定装置 |
JP3412606B2 (ja) | 2000-08-04 | 2003-06-03 | 株式会社島津製作所 | レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置 |
WO2002103335A1 (en) * | 2001-06-18 | 2002-12-27 | Amnis Corporation | Spectral deconvolution of fluorescent markers |
DE10317669B4 (de) * | 2003-04-17 | 2017-03-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren zur Separierung von Detektionskanälen eines mikroskopischen Systems |
US7554661B2 (en) * | 2005-09-19 | 2009-06-30 | Jmar Technologies, Inc. | Systems and methods for detection and classification of waterborne particles using a multiple angle light scattering (MALS) instrument |
DE102006019138B4 (de) * | 2006-04-21 | 2021-06-10 | Fritsch Gmbh | Partikeluntersuchungsgerät mit Vergrößerungsbereich |
-
2008
- 2008-08-15 JP JP2010520648A patent/JP5546454B2/ja active Active
- 2008-08-15 US US12/228,871 patent/US7869038B2/en active Active
- 2008-08-15 EP EP08849794A patent/EP2181317B1/en active Active
- 2008-08-15 EP EP12176047.4A patent/EP2522982B1/en active Active
- 2008-08-15 WO PCT/IB2008/003743 patent/WO2009063322A2/en active Application Filing
-
2013
- 2013-04-22 JP JP2013089381A patent/JP5705261B2/ja active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000097841A (ja) * | 1998-08-22 | 2000-04-07 | Malvern Instruments Ltd | 粒子サイズの分布を測定するための装置及び方法 |
JP2000105185A (ja) * | 1998-08-22 | 2000-04-11 | Malvern Instruments Ltd | 粒子サイズの分布を測定するための装置及び方法 |
JP2001264232A (ja) * | 2000-03-21 | 2001-09-26 | Japan Science & Technology Corp | 微粒子測定方法およびその装置 |
JP2006071329A (ja) * | 2004-08-31 | 2006-03-16 | Horiba Ltd | 粒径分布測定装置 |
JP2007046947A (ja) * | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Bay Bioscience Kk | フローサイトメータおよびフローサイトメトリ方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105259143A (zh) * | 2015-10-15 | 2016-01-20 | 南京医科大学 | 一种基于米氏散射和空间光调制器的微生物快速检测设备 |
CN105259143B (zh) * | 2015-10-15 | 2019-03-29 | 南京医科大学 | 一种基于米氏散射和空间光调制器的微生物快速检测设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2522982A3 (en) | 2012-12-26 |
JP2010537165A (ja) | 2010-12-02 |
WO2009063322A2 (en) | 2009-05-22 |
EP2522982B1 (en) | 2015-09-16 |
US7869038B2 (en) | 2011-01-11 |
EP2181317B1 (en) | 2012-12-05 |
WO2009063322A3 (en) | 2010-01-28 |
JP5705261B2 (ja) | 2015-04-22 |
US20090122313A1 (en) | 2009-05-14 |
EP2181317A2 (en) | 2010-05-05 |
EP2522982A2 (en) | 2012-11-14 |
JP5546454B2 (ja) | 2014-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5705261B2 (ja) | 広幅分光計 | |
US7864317B2 (en) | Compact catadioptric spectrometer | |
US7643226B2 (en) | Maximal-aperture reflecting objective | |
US20160252443A1 (en) | Improvements relating to particle characterisation | |
JPH10510365A (ja) | 赤外微量分光計付属装置 | |
US8933417B2 (en) | Combined lens and reflector, and an optical apparatus using the same | |
JP2023508607A (ja) | 平行サンプルビームを有する光学分光プローブにおける干渉を軽減するための装置および方法 | |
EP2869054A1 (en) | Improvements relating to particle characterisation | |
US7728980B2 (en) | Optical unit | |
US20210389229A1 (en) | Optical system and flow cytometer | |
US7248364B2 (en) | Apparatus and method for optical characterization of a sample over a broadband of wavelengths with a small spot size | |
CN110109262B (zh) | 光源切换复用单元同轴度调试系统及方法 | |
US6036324A (en) | Catadioptric zoom scattering collector | |
JPS5919305B2 (ja) | 螢光分光光度計 | |
EP2869056A1 (en) | Improvements relating to particle characterisation | |
US7327457B2 (en) | Apparatus and method for optical characterization of a sample over a broadband of wavelengths while minimizing polarization changes | |
WO2010007811A1 (ja) | 光学ユニット | |
US20240045193A1 (en) | Objective lens, optical imaging device, optical system, and test method of optical system | |
US20240110874A1 (en) | Intensity calibration of multipass raman systems using standard reference materials | |
EP2869057A1 (en) | Improvements Relating to Particle Characterisation | |
JP2007121322A (ja) | 全反射吸収測定用プリズムおよびこれを用いた全反射吸収測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140414 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140513 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150127 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150224 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5705261 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |