JP5540906B2 - データ受信回路 - Google Patents

データ受信回路 Download PDF

Info

Publication number
JP5540906B2
JP5540906B2 JP2010128001A JP2010128001A JP5540906B2 JP 5540906 B2 JP5540906 B2 JP 5540906B2 JP 2010128001 A JP2010128001 A JP 2010128001A JP 2010128001 A JP2010128001 A JP 2010128001A JP 5540906 B2 JP5540906 B2 JP 5540906B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
circuit
clock
delay
phase adjustment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010128001A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011254386A (ja
Inventor
俊一郎 正木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Semiconductor Ltd
Original Assignee
Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Semiconductor Ltd filed Critical Fujitsu Semiconductor Ltd
Priority to JP2010128001A priority Critical patent/JP5540906B2/ja
Publication of JP2011254386A publication Critical patent/JP2011254386A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5540906B2 publication Critical patent/JP5540906B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)

Description

本発明は、データ受信回路に関する。
近年、半導体集積回路(LSI)には、高速I/Oインターフェース回路が搭載されている。このような高速I/Oインターフェース回路は、入力されたデータを高速で正確に受信するデータ受信回路を適用している。
例えば、従来のデータ受信回路としては、データのエッジを検出し、データチャネル毎に受信するクロックのタイミングをずらし、最適な位置でデータを受信する(取り込む)ことができる回路を搭載したLSIが増えている。
すなわち、従来、クロック信号によるデータの取り込みタイミングを調整して、データを正しく取り込むようにした様々なデータ受信回路が提案されている。
特開2003−133965号公報 特開2009−159252号公報 特開2004−328063号公報
従来、様々なデータ受信回路が提案されているが、例えば、データチャネルが複数ある場合には、多相クロックの等長配線が困難になり、或いは、位相の検出精度を上げようとすると高速化が困難になるといった課題がある。
一実施形態の情報処理装置によれば、可変遅延回路と、フリップフロップと、PLL回路と、位相調整回路と、を有することを特徴とするデータ受信回路が提供される。
前記可変遅延回路は、入力データを遅延量に基づいて遅延させた遅延データを出力し、また、前記フリップフロップには、前記遅延データが入力される。
記PLL回路は、外部から入力される第1のクロックを整数逓倍した第2のクロックと前記第1のクロックもしくは前記第2のクロックを小数逓倍した第3のクロックを前記フリップフロップへ出力する前記位相調整回路は、前記フリップフロップの出力データに基づいて、前記遅延量を制御する制御信号を出力する
前記フリップフロップは、第1の期間で前記第2のクロックに基づいて前記遅延データを取得するとともに第1のデータを前記位相調整回路へ出力し、前記第1の期間と異なる第2の期間で前記第3のクロックに基づいて前記遅延データを取得するとともに第2のデータを前記位相調整回路へ出力し、前記位相調整回路は、前記第1のデータと前記第2のデータとの比較結果に基づいて前記制御信号を生成する
開示のデータ受信回路は、高速で高精度のデータ受信を可能にするという効果を奏する。
データ受信回路の一例を示すブロック図である。 図1のデータ受信回路の動作を説明するための図である。 第1実施例のデータ受信回路を示す図(その1)である。 第1実施例のデータ受信回路を示す図(その2)である。 図3および図4のデータ受信回路の動作を説明するための図(その1)である。 図3および図4のデータ受信回路の動作を説明するための図(その2)である。 第2実施例のデータ受信回路を示す図である。 第3実施例のデータ受信回路を示す図である。 データ受信回路を試験回路として使用した例を示すブロック図である。
まず、各実施例のデータ受信回路を詳述する前に、図1および図2を参照してデータ受信回路の一例を説明する。
図1は、データ受信回路の一例を示すブロック図であり、また、図2は、図1のデータ受信回路の動作を説明するための図である。
図1において、参照符号101はPLL(Phase Locked Loop)回路,102は可変遅延回路,131はデータ取得用フリップフロップ(FF:Flip-Flop),132は位相検出用フリップフロップ(FF),そして,104は位相調整回路を示す。
PLL回路101は、クロック信号CKを受け取って位相同期した多相クロックCK1,CK2を生成する。PLL回路101からのクロックCK1は、データ取得用FF131のクロック端子に供給され、また、PLL回路101からのクロックCK2は、位相検出用FF132のクロック端子に供給される。
ここで、クロックCK2は、後述する図2に示されるように、例えば、位相の異なる複数のクロック(多相クロック)CK2a,CK2b,…とされ、また、位相検出用FF132も、その多相クロックCK2a,CK2b,…に対応して設けられている。
データ取得用FF131は、可変遅延回路102の出力信号を、例えば、クロックCK1の立ち上がりタイミングで取り込み、取得(受信)データとして出力する。この取得データは、位相調整回路104にも供給される。
位相検出用FF132は、可変遅延回路102の出力信号を、例えば、クロックCK2の立ち上がりタイミングで取り込み、その取り込まれた位相検出データを位相調整回路104に供給する。
位相調整回路104は、データ取得用FF131からの取得データ,および,位相検出用FF132からの位相検出データを受け取り、可変遅延回路102における遅延量dを制御する遅延制御信号opcを可変遅延回路102に出力して位相調整を行う。
すなわち、図2に示されるように、位相検出用FF132は、PLL回路101からの多相クロックCK2(CK2a,CK2b,…)の立ち上がりタイミングで、可変遅延回路102による遅延量dだけ遅延された入力データDataを取り込む。
具体的に、例えば、位相検出用FF132は、クロックCK2a〜CK2dの立ち上がりタイミングでデータData[n]を取り込み、また、クロックCK2f,CK2gの立ち上がりタイミングでデータData[n+1]を取り込む。
ここで、クロックCK2eの立ち上がりタイミングは、可変遅延回路102により遅延された入力データDataがデータData[n]からData[n+1]へ変化する遷移期間(遷移個所)に含まれる。なお、データData[n]とData[n+1]は、異なるデータとする。
このようにして、位相調整回路104は、入力データDataがデータData[n]からData[n+1]へ変化する遷移個所の検出(エッジ検出)を行う。
すなわち、位相調整回路104は、クロックCK2eを境にして、クロックCK2eよりも位相が進んだクロックCK2a〜CK2dによる位相検出用FF132の位相検出データがデータ取得用FF131からの取得データに一致することを認識する。
また、位相調整回路104は、クロックCK2eよりも位相が遅れたクロックCK2f,CK2gによる位相検出用FF132の位相検出データがデータ取得用FF131からの取得データとは異なることも認識する。
そして、位相調整回路104は、入力データの遅延量、すなわち、可変遅延回路102による遅延量dを制御する遅延制御信号opcを可変遅延回路102に出力して位相調整を行う。
すなわち、位相調整回路104は、クロックCK1の立ち上がりタイミングがビット毎の入力データData[n],Data[n+1],…の隣接する遷移個所の間の中央位置(データアイの中央)にくるように、可変遅延回路102の遅延量dを制御する。
具体的に、クロックCK2aの立ち上がりタイミングがデータData[n]のデータアイの中央に位置する場合、遅延量dを小さくしてクロックCK1の立ち上がりタイミングがデータData[n]のデータアイの中央にくるように制御することになる。
或いは、他の手法として、入力データの遅延量を制御するのではなく、多相クロックにより取り込みを行う複数のデータ取得用FFを設け、最も安定したタイミングでデータの取り込みを行ったデータ取得用FFの出力を選択するものもある。
ところで、PLL回路101から出力される多相クロックを使用して入力データDataをデータ取得用FF131で正しく取り込み、その取得(受信)データを出力する回路は、データチャネルが複数ある場合にはチャネル毎に設けることになる。
また、近年、回路動作を高速化するためには、クロック信号の1周期を短くしなければならず、例えば、データチャネルが複数ある場合、多相クロックの等長配線が困難になる。さらに、位相の検出精度を上げようとすると、例えば、クロックの配線数を多くしなければならず、高速化が困難になってしまう。
また、同期式よりも高速な非同期式の高速I/Oインターフェース回路(データ受信回路)において、例えば、多相クロックは最低限の数(データを取得するCK1と位相を検出するCK2の2相)になっている。
そして、位相検出用FF132に供給するクロックCK2の位相を微調整してデータの変化点(エッジ)を検出する場合、そのようなクロックの位相を微調整する回路は、通常、アナログ回路で構成されるため設計が難しい。また、遅延に容量を使用すると、広い周波数範囲を確保することが困難になっている。
ところで、非同期式の通信であればエッジの検出は常に行う必要があるが、同期式の通信の場合には、基本的に最初に位相を確定すれば動作中にエッジを検出しなくてもよい。
以下、データ受信回路の各実施例を、添付図面を参照して詳述する。図3および図4は、第1実施例のデータ受信回路を示す図である。
図3および図4において、参照符号1はフラクショナル(Fractional:Fractional-N)PLL回路,2は可変遅延回路,31はデータ取得用フリップフロップ(FF),32は位相検出用フリップフロップ(FF),そして,4は位相調整回路を示す。
ここで、フラクショナルPLL回路1は、例えば、図1における一般的なPLL回路の機能に加えて、後述する図5のCLK2に示すようなクロック信号CLK(CLK1)を小数逓倍したフラクショナルクロックを生成する機能を有している。
すなわち、フラクショナルPLL回路1は、クロック信号CLKを受け取ってクロックCLK1,CLK2を生成する。ここで、クロックCLK1は、整数逓倍クロックであり、また、クロックCLK2は、フラクショナル(小数逓倍)クロックである。
図4に示されるように、データ取得用FF31は、可変遅延回路2の出力信号を、例えば、クロックCLK1の立ち上がりタイミングで取り込み、取得(受信)データとして出力する。この取得データは、位相調整回路4にも供給される。
図3に示されるように、位相検出用FF32は、可変遅延回路2の出力信号を、例えば、クロックCLK2の立ち上がりタイミングで取り込み、その取り込まれた位相検出データを位相調整回路4に供給する。
位相調整回路4は、データ取得用FF31からの取得データ,および,位相検出用FF32からの位相検出データを受け取り、可変遅延回路2における遅延量Dを制御する遅延制御信号OPCを可変遅延回路2に出力して位相調整を行う。
ここで、図3および図4に示されるように、データ取得用FF31および位相検出用FF32は、1つのフリップフロップ3を異なる期間で共用するようになっている。
すなわち、図3に示す位相検出期間では、フリップフロップ3を位相検出用FF32として使用し、また、図4に示すデータ取得期間では、フリップフロップ3をデータ取得用FF31として使用する。
さらに、フラクショナルPLL回路1は、切り替え可能な整数逓倍モードおよび小数逓倍モードを有する。そして、フラクショナルPLL回路1は、位相検出期間では小数逓倍モードになって、位相検出用FF32に対して小数逓倍クロックCLK2を供給する。
また、フラクショナルPLL回路1は、データ取得期間では整数逓倍モードになって、データ取得用FF31に対して整数逓倍クロックCLK1を供給する。
図5および図6は、図3および図4のデータ受信回路の動作を説明するための図である。図5において、クロックCLK1は、クロック信号CLKの整数逓倍(例えば、1倍)になっており、クロックCLK2は、クロック信号CLKの小数逓倍(例えば、1.1倍)になっている。
すなわち、クロックCLK2によりデータの取り込みを行う位相検出用FF32は、クロックCLK2の10サイクルを重ねて処理することにより、例えば、クロックCLK1よりも10倍高い分解能でデータの取り込み(位相検出)を行うことができる。
そして、位相調整回路4によりデータ取得用FF31の出力(取得データ)と位相検出用FF32の出力(位相検出データ)を比較して可変遅延回路2の遅延量Dを制御する遅延制御信号OPCを可変遅延回路2に出力して位相調整を行う。これにより、例えば、図1の多相クロックCK2を10相クロックとしたのと同様の制御が可能になる。
ここで、図6は、例えば、入力データDataとして『10101010…』の位相調整用(トレーニングシーケンス)パターンを与え、クロックCLK2による位相検出用FF32の取得データ(位相検出データ)の変化点を認識する様子を示している。
このようにして、入力データDataの遷移個所を検出(エッジ検出)し、その入力データの隣接する遷移個所の間の中央位置(データアイの中央)にくるように、可変遅延回路2の遅延量Dが決められる。
なお、入力データDataとして位相調整用パターンを与え、可変遅延回路2の遅延量Dを決める処理は、例えば、データ受信回路を有する装置の電源投入時の初期化処理として行うことができる。
また、可変遅延回路2の遅延量Dを決める処理は、上述した位相調整用パターンを使用することなく、例えば、データのプロトコルにおける所定のパターンを利用し、或いは、通常のデータをある程度の時間処理することでも行うことができる。
すなわち、位相調整用パターンを利用すれば、速くエッジ検出を終了することができるが、任意のデータを流す場合にはある程度長時間のデータを蓄積してエッジ部分を検出することもできる。
ここで、上述した第1実施例のデータ受信回路は、例えば、同期式通信による入力信号(入力データ)を受信するものであり、データ受信回路を有する装置の電源投入時の初期化処理で可変遅延回路2の遅延量Dを決めている。すなわち、同期式の通信の場合には、基本的に最初に位相を確定すれば動作中にエッジを検出しなくてもよいので、例えば、初期化処理で規定された遅延量Dを使用してデータの受信を行うことになる。
図7は、第2実施例のデータ受信回路を示す図である。図7に示すデータ受信回路は、データ取得用FF31と、位相検出用FF32を共用することなく別々に設けている。さらに、クロックCLK1を出力するPLL回路12と、クロックCLK2を出力するフラクショナルPLL回路11も別々に設けている。
この第2実施例のデータ受信回路によれば、データ取得用FF31および位相検出用FF32を常に動作させることにより、可変遅延回路2の遅延量Dを動的に制御することが可能になる。
図8は、第3実施例のデータ受信回路を示す図である。図8に示すデータ受信回路は、図7のデータ受信回路におけるPLL回路12を無くして外部からのクロック信号CLKをそのままデータ取得用FF31のクロックCLK1として使用するものである。
すなわち、データ取得用FF31は、クロック信号CLK(CLK1)によりデータを取り込み、また、位相検出用FF32は、フラクショナルPLL回路1からのクロックCLK2によりデータを取り込むようになっている。
この第3実施例のデータ受信回路によれば、第2実施例のデータ受信回路におけるPLL回路12を省くことができる。
上述した各実施例のデータ受信回路は、例えば、高速I/Oインターフェース回路におけるデータ受信回路として、半導体集積回路に搭載することができる。
図9は、データ受信回路を試験回路として使用した例を示すブロック図である。図9に示されるように、上述した各実施例のデータ受信回路は、位相調整回路4による取得データと位相検出用データの位相差(遅延値)を利用して試験回路とすることができる。
すなわち、図9に示す試験回路は、例えば、データ受信回路を有するLSI外部のボードやパッケージのスキュー(Skew)を測定して、パス/フェイル(Pass/Fail)を判定する。或いは、位相調整回路4から遅延値をディジタルデータとして出力し、判定を外部に任せてもよい。
以上において、フラクショナルPLL回路は、例えば、整数逓倍のみを行う通常のPLL回路に比較して1割程度のディジタル回路を増やすだけでよい。また、前述したように、多相クロック配線は、データを高速で高精度に受信するほど配線が難しくなるが、フラクショナルPLL回路を使用することにより高速化および高精度化を容易に実現することが可能になる。
すなわち、通常のPLL回路では、高速で高精度のデータ受信を行うには、周波数×位相分の周波数または位相が必要となるが、フラクショナルPLL回路の場合、周波数をほとんど変えることなく実現することができる。そのため、上述した各実施例は、データ受信が高速で高精度になるほど、有利なものとなる。
さらに、例えば、可変遅延により位相を作った場合、その精度はゲート遅延以下にはならないが、上述した各実施例では、周波数を1Hz刻みで作成することも容易であるため、データ取得用FFによるデータの取り込み精度を十分向上させることが可能である。
また、追加回路が少ないため、図9を参照して説明したように、通常は位相検出を行わないが、ボードやパッケージの遅延を試験するためだけに位相検出をしたい場合にも有効なものである。
1,11 フラクショナルPLL回路
2,102 可変遅延回路
3 フリップフロップ(FF)
4,104 位相調整回路
12,101 PLL回路
31,131 データ取得用FF
32,132 位相検出用FF

Claims (3)

  1. 入力データを遅延量に基づいて遅延させた遅延データを出力する可変遅延回路と、
    前記遅延データが入力されるフリップフロップと、
    外部から入力される第1のクロックを整数逓倍した第2のクロックと前記第1のクロックもしくは前記第2のクロックを小数逓倍した第3のクロックを前記フリップフロップへ出力するPLL回路と、
    前記フリップフロップの出力データに基づいて、前記遅延量を制御する制御信号を出力する位相調整回路と、を有し、
    前記フリップフロップは、第1の期間で前記第2のクロックに基づいて前記遅延データを取得するとともに第1のデータを前記位相調整回路へ出力し、前記第1の期間と異なる第2の期間で前記第3のクロックに基づいて前記遅延データを取得するとともに第2のデータを前記位相調整回路へ出力し、
    前記位相調整回路は、前記第1のデータと前記第2のデータとの比較結果に基づいて前記制御信号を生成する、
    ことを特徴とするデータ受信回路。
  2. 前記位相調整回路は、前記第1のデータと前記第2のデータとの比較結果に基づいて、前記入力データの遷移個所を複数検出し、検出された前記遷移個所のうちの隣接する遷移個所の間の中央位置に前記第2のクロックの立ち上がりエッジを調整する前記制御信号を生成する、
    ことを特徴とする請求項1に記載のデータ受信回路。
  3. 請求項1または請求項2に記載のデータ受信回路を有する、ことを特徴とする半導体集積回路
JP2010128001A 2010-06-03 2010-06-03 データ受信回路 Active JP5540906B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010128001A JP5540906B2 (ja) 2010-06-03 2010-06-03 データ受信回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010128001A JP5540906B2 (ja) 2010-06-03 2010-06-03 データ受信回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011254386A JP2011254386A (ja) 2011-12-15
JP5540906B2 true JP5540906B2 (ja) 2014-07-02

Family

ID=45417926

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010128001A Active JP5540906B2 (ja) 2010-06-03 2010-06-03 データ受信回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5540906B2 (ja)

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02226316A (ja) * 1989-02-27 1990-09-07 Nec Corp 半導体装置
JPH07311735A (ja) * 1994-05-18 1995-11-28 Hitachi Ltd データ転送装置
US7512203B2 (en) * 2005-03-30 2009-03-31 Silicon Laboratories Inc. Data cleaning with an asynchronous reference clock
JP2008172512A (ja) * 2007-01-11 2008-07-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 周波数シンセサイザ及びフェーズロックループ、並びにクロック生成方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2011254386A (ja) 2011-12-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5537568B2 (ja) 信号受信回路、メモリコントローラ、プロセッサ、コンピュータ及び位相制御方法
JP5347955B2 (ja) 多相クロック間の相間スキュー検出回路、相間スキュー調整回路、および半導体集積回路
KR101893185B1 (ko) 반도체 장치의 데이터 출력 타이밍 제어 회로
US8942333B2 (en) Apparatus and methods for clock alignment for high speed interfaces
TWI535213B (zh) 時脈資料回復電路與方法
US20080094117A1 (en) Apparatus and method for generating a clock signal
JP2007184847A (ja) クロックアンドデータリカバリ回路及びserdes回路
JP2002290214A (ja) デューティーサイクル補正回路
US9147463B1 (en) Method and apparatus for data capture in DDR memory interface
JP5235196B2 (ja) 試験装置および試験方法
JP5286845B2 (ja) データリカバリ回路
EP1884057B1 (en) Data edge-to-clock edge phase detector for high speed circuits
US9952281B2 (en) Clock jitter and power supply noise analysis
JP2009294164A (ja) 半導体装置
JP4191185B2 (ja) 半導体集積回路
JP5540906B2 (ja) データ受信回路
US8139697B2 (en) Sampling method and data recovery circuit using the same
US9274543B2 (en) Estimation apparatus and method for estimating clock skew
JP6312772B1 (ja) 位相差推定装置及びその位相差推定装置を備えた通信機器
JP6427967B2 (ja) データ受信機、入出力装置、ジッタ測定装置およびジッタ測定方法
US7627065B2 (en) Generating a clock crossing signal based on clock ratios
JP6695200B2 (ja) シリアルデータの受信回路、トランシーバ回路、電子機器、アイドル状態の検出方法
JP2004199135A (ja) 同期クロック生成回路
JP4046528B2 (ja) 電子回路および半導体装置
JP2005328138A (ja) 位相調整器

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20130130

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20140114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20140121

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20140320

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140408

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140421

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Ref document number: 5540906

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350