JP5519282B2 - 樹脂付金属部品の製造方法および樹脂付金属部品 - Google Patents
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Description
一般に、集積回路(IC)や大規模集積回路(LSI)等の半導体装置は、ワイヤーボンディング等により所定の半導体素子が配線リードに接続され、当該配線リードの一部を外部に露出した状態で樹脂を固着させ、樹脂封止によりパッケージングして製造される。
図22は、樹脂封止されたQFP(Quad Flat Package)型の半導体装置の製造工程を示す模式的な断面図である。
その後、配線リード93を固定金型92に載置する(図22(a))。
次に可動金型91を固定金型92に対して押圧し、両金型91、92が内部空間(キャビティ97)を形成するように閉じた状態とする。そして可動金型91に設けられたゲート96を介し、キャビティ97内に熱硬化性樹脂を射出成型し、半導体チップ94等を樹脂封止する(図22(b))。
当該半導体装置9の実装時には、ハンダ90を介してアウターリード931aを基板99に接合するようにする(図22(d))。
第1の課題は、封止樹脂の射出成型時において、目的の樹脂成型に加え、本来樹脂成型を予定していない配線リードの領域にまで樹脂が付着する問題である。半導体装置の工程では図22(b)のP部分拡大図に示されるように、一定の圧力により樹脂材料をインジェクションする関係上、実際には配線リード93のアウターリード931aの表面において、金型の間隙900から流出した樹脂薄膜(いわゆる樹脂バリ)98aが形成されうる(図22(c))。当該間隙900は、金型91、92間の精度不良により発生し、インジェクション時の圧力が当該間隙900から外部に漏れ、これに伴い樹脂材料が流出すること樹脂バリ98aが発生する。樹脂バリ98aがあると、次の工程においてアウターリード931aと基板99との接合強度、電気的接触性において問題が生じうる。この問題を防止するためには金型91、92間の形状を高精度化する対策があるが、金型設計のために非常にコスト高になるほか、機械精度上の問題として、完全に間隙の発生を防止することは極めて困難である。従って実際には、樹脂バリの発生は防ぎ得ないものとして、基板への接合工程に先立ち、予め樹脂バリ98aを除去する工程が必要となる。これにより製造効率の低下、製造コストの上昇の問題が生じる。
第2の課題は、LEDチップを封止樹脂で封止してなるLED装置において、前記封止樹脂にシリコーン樹脂を用いた場合の問題である。シリコーン樹脂は高い透明性を確保できる反面、エポキシ樹脂等と比べて線膨張率が高い。このため、基板上にシリコーン樹脂を射出成型する工程において、当該樹脂材料が受ける熱変化(いわゆる熱履歴)により、シリコーン樹脂が熱収縮する。これにより、シリコーン樹脂と配線リードとの間で剥離が生じ、接触不良による性能劣化、或いは接合強度不足等の問題を生じることがある。また、透明性の高い付加重合型シリコーン樹脂を用いた場合、付加重合する際に必要な白金族触媒により反射率の高いAgメッキ被膜に変色問題を生じさせうる。更に、シリコーン樹脂はガス透過性が高い為、腐食性ガスがシリコーン樹脂中に透過・Agメッキ被膜に接触する事による変色問題も生じるおそれがある。
第4の課題は、フィルムキャリアテープにおいて、配線パターン層にSnメッキを施す場合の問題である。
配線パターン層の表面には、ハンダにより実装部品と接続するため、予めSnメッキ層が施されるが、このメッキ工程において、加熱雰囲気によりソルダーレジスト層の端部がめくれ上がり、当該めくれ上がったソルダーレジスト層と配線パターン層表面との間と、これ以外の配線パターン層の表面領域との間で、Snイオン及びCuイオンのイオン化傾向の違いに伴う局所電池が発生する問題がある(図24(a))。局所電池が発生すると、配線パターン層表面に溶出したCuイオンによる浸蝕領域が発生する。このため、Snメッキ後のフィルムキャリアテープの機械的強度が低下するほか、均一なメッキ加工が施せない問題も生じうる。
本発明は以上の課題に鑑みてなされたものであって、第一の目的として、樹脂バリの発生や配線リードと樹脂の剥離、樹脂のクラック等を抑制することにより、良好な電気接続性及び接合強度、並びに封止信頼性を有する半導体装置とその製造方法を提供する。
さらに、第三の目的として、比較的短波長領域の発光を行う場合であっても、十分な反射率を備えることで、優れた発光効率を呈することが可能なLED装置とその製造方法を提供する。
また、前記樹脂としては熱硬化性樹脂を用いることもできる。
さらに前記熱硬化性樹脂としては、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アルキド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテル樹脂の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体を用い、前記第二官能基として、水酸基、カルボン酸、酸無水物、第一級アミン、第二級アミン、第三級アミン、アミド、チオール、スルフィド、イミド、ヒドラジド、イミダゾール、ジアザビシクロアルケン、有機フォスフィン、三フッ化ホウ素アミン錯体の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体を用いることもできる。
また前記熱硬化性樹脂としては、前記熱硬化性樹脂として、シリコーン樹脂、またはエポキシ基及びアルコキシシリル基の少なくともいずれかを含有するシリコーン樹脂を用い、前記第二官能基として、ビニル基、有機ハイドロジェンシラン、水酸基、酸無水物、第一級アミン、第二級アミンの内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体を用いることもできる。
また前記第二官能基として、蛍光発光性化合物又はリン光発光性化合物の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体を用いることもできる。
また、本発明における有機被膜形成工程では、溶媒に前記機能性有機分子を分散させて有機分子分散液を作製する分散液作製サブ工程と、前記配線リード表面のうち、前記樹脂が固着されるべき配線リードの前記所定表面領域よりも広い面積にわたり、当該配線リードを前記有機分子分散液に浸漬する浸漬サブ工程とを経ることもできる。
また、本発明の配線部材は、金属材料からなる配線リードの表面に、機能性有機分子の自己組織化による有機被膜が被着され、前記機能性有機分子は、主鎖部の一端に前記配線リードに対して金属結合、水素結合、若しくは金属錯体による配位結合の少なくともいずれかの結合態様を呈する第一官能基、他端に樹脂硬化性若しくは樹脂硬化促進性を呈する第二官能基がそれぞれ配された化学構造を有し、前記機能性有機分子の主鎖部は、グリコール鎖、またはメチレン鎖、フルオロメチレン鎖、シロキサン鎖の内の一種以上とグリコール鎖とで構成されており、第一官能基が配線リードに結合されているものとした。
さらに本発明の樹脂付金属部品は、上記本発明の配線部材の一部に樹脂が固着され、前記有機被膜は、前記樹脂固着される配線部材の表面積よりも広い面積にわたり被着されてなるものとした。
また前記熱硬化性樹脂は、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、アクリル樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アルキド樹脂、ポリイミド樹脂、ポリアミド樹脂、ポリエーテル樹脂の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体であり、前記第二官能基は、水酸基、カルボン酸、酸無水物、第一級アミン、第二級アミン、第三級アミン、アミド、チオール、スルフィド、イミド、ヒドラジド、イミダゾール、ジアザビシクロアルケン、有機フォスフィン、三フッ化ホウ素アミン錯体の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体とすることもできる。
また前記第二官能基は白金、パラジウム、ルテニウム、ロジウムを有する金属錯体化合物の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体とすることもできる。尚、前記シリコーン樹脂は、シリコーン樹脂含有導電性ペースト(ダイボンディング剤)であっても良い。
また本発明の樹脂封止半導体装置は、上記本発明の配線部材に対し、前記配線リード上に半導体素子が電気接続され、前記配線部材が一部外部に露出され、且つ、前記有機被膜が形成された領域内において前記半導体素子が樹脂封止されてなるものとした。
すなわち、機能性有機分子の主鎖部の一末端に、金属結合性を呈する第一官能基を配設することで、配線リード表面には第二官能基を上面に向けて機能性有機分子が自己組織化し、有機被膜が形成される。従って、第二官能基に樹脂硬化性、樹脂硬化促進性等の機能を付与することで、有機被膜上に固着される樹脂材料との結合力を高め、且つ、当該樹脂材料を迅速に硬化させることができる。
尚、当然ながら本発明はこれらの実施形式に限定されるものではなく、本発明の技術的範囲を逸脱しない範囲で適宜変更して実施することができる。
<実施の形態1>
1.半導体装置の構成
図1(a)は、本発明の一適用例である半導体装置(QFP;Quad Flat Package 10)の構成を示す外観斜視図である。図1(b)はQFP10のyz平面に沿った断面図である。図1(c)は、図1(b)におけるS1部分拡大図である。
配線リード3は、電気伝導性に優れる金属材料(ここでは一例として銅合金)から構成され、金属板体を打ち抜き加工してなるダイパッド3a、3bの組み合わせで構成される。
成型樹脂21の内部では、図1(b)に示すように、ダイパッド3aに半導体チップ4が搭載され、不図示の電極パッド及びワイヤー5を介して、ダイパッド3a、3bと接続された内部構造を有する。ダイパッド3bと半導体チップ4とは不図示の銀ペースト等の導電性ペーストで接合されている。ダイパッド3aのうち、成型樹脂21内に密封される領域がインナーリード302a、外部露出される領域がアウターリード301aとなる。アウターリード301aはその断面構造においてS字状に折り曲げ加工されている。
以下、当該有機被膜110について詳細を説明する。
2.有機被膜110の構成について
図2は機能性有機分子11の模式的な構造図である。当図に示される機能性有機分子11は、第一官能基A1、主鎖部B1、第二官能基C1が同順に結合されてなる。
第一官能基A1は、金属との結合性を呈する一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体で構成された機能部である。
第二官能基C1は、熱硬化性樹脂の硬化作用又は硬化促進作用を呈するの一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体で構成された機能部である。
なおQFP10では、アウターリード301aに対して半導体素子4をワイヤーボンディング、ダイボンディング等で電気接続する必要があり、良好な電気伝導性を確保すべく、少なくともダイパッドおよびリード3の接続領域に金属メッキ等の被膜を形成する場合がある。この場合、金属メッキ工程が必要となるが、当該メッキを施さないダイパッド3aの表面に有機被膜110が施されていれば、ダイパッド3aの金属成分がイオン化傾向によりメッキ液中に溶出する問題を抑制できるので好適である。
以下、本実施の形態1の機能性有機分子11として取りうる化学的構造について、詳細を説明する。
前記の通り第一官能基A1には、金属材料に対する親和性、金属結合性(配位結合を含む)、金属結合性を有することが要求される。この特性を有するものであれば、第一官能基A1は、一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体のいずれであってもよい。
例えばチオール及びこれを含むチオール化合物、スルフィド化合物(ジスルフィド化合物等)、含窒素複素環化合物(アゾール化合物、アジン化合物等)、またはこれらの一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体のいずれかであれば、金属原子に対して水素結合性又は配位結合性を有するので好適である。
なお、上記化合物の種類によっては、共有結合や配位結合または水素結合等が同時に形成されうるが、このような複数種類の結合がなされることで、より強固な結合構造を期待できるものである。
主鎖部B1は、一般的なメチレン系有機分子及びその類型種(メチレン鎖、フルオロメチレン鎖、シロキサン鎖、グリコール鎖のうち一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体のいずれか)等を利用できる。メチレン鎖は、分子間で互いに会合し、超分子的に炭化水素鎖の緻密な炭素鎖を形成できるので好適である。また、メチレン鎖を用いれば、比較的迅速に有機被膜を形成できることが発明者らの検討により明らかにされている。
主鎖部B1にシロキサン鎖を用いた場合、耐熱性および耐候性に優れる特性が発揮される。このため、例えば半導体素子等の実装工程において、有機被膜が比較的高温環境下に曝された場合にも、当該被膜自体の変質・損傷の防止効果が奏される。
(第二官能基C1)について
第二官能基C1には、熱硬化性樹脂に対する樹脂硬化性又は樹脂硬化促進性が要求される。当該性能を有すれば、一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体のいずれの構成であってもよい。
第二官能基C1がジアザビシクロアルケンを有する化合物である1、8−ジアザビシクロ[5.4.0]ウンデカ−7−エン(DBU)の場合には、エポキシ樹脂中のエポキシ基と水酸基や酸無水物等との硬化促進剤として作用し、エポキシ基と水酸基や酸無水物等との重合反応を加速させることができる。
図3に示すように、末端に臭素を有するビニルアルカンを炭酸カリウムの存在下において、3−ヒドロキシ無水フタル酸に、臭化水素の脱離反応によりエーテル結合を生成させた後、アセチルチオールをAIBN(2、2−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル))存在下において、前記生成物に脱エテン縮合反応を起こさせる。そしてエチルアミンによる水素置換反応により、当該生成物の末端をチオールに変換させて合成することができる。
まず、DBUおよび末端に臭素を有するビニルアルカンをノルマルブチルリチウムの存在下で、臭化水素の脱離反応により結合させる。その後は前記生成物とアセチルチオールをAIBN存在下において脱エテン縮合反応させ、その生成物をエチルアミンによる水素置換反応により末端をチオールに変換させて合成することができる。
次に、実施の形態1のQFP10の製造方法について説明する。
QFP10は、有機被膜110をダイパッド3aの所定表面に被着させる有機被膜形成工程と、当該有機被膜形成工程後に、ダイパッド3aと半導体素子4等を樹脂封止する樹脂固着工程とを順次経て製造される。
有機被膜形成工程は、分散液調整サブ工程と、成膜サブ工程と、洗浄サブ工程とを順次経るようになっている(図5(a))。
(分散液調整サブ工程)
機能性有機分子11を所定の溶媒に分散させ、分散液を作製する。溶媒は有機溶媒または水の少なくといずれかが利用できる。水を溶媒に用いる際には、機能性有機分子11の分散性を得るため、必要に応じてアニオン系、カチオン系またはノニオン系の界面活性剤を添加することが好適である。さらに機能性有機分子11を安定化させるため、ホウ酸系、リン酸系等のpH緩衝剤を添加しても良い。
次に、上記作製した分散液中に、ダイパッド3aの所定表面を浸漬させる。
分散液中では、各々の機能性有機分子11は比較的高いギブス自由エネルギーを有するエネルギー準位にあり、単分子毎に反発方向への相互作用によりランダムな運動(所謂ブラウン運動)をしている。
この安定状態への移行は、マクロ的には各機能性有機分子11の各々が第一官能基をダイパッド3a表面に結合させつつ、主鎖部B1及び第二官能基C1を同順に整列させた状態で互いに安定化し、単分子膜としての自己組織化形態をなす(図5(b))。
なお説明上、図5ではダイパッド3aの全表面に有機被膜110を形成する場合を例示しているが、当然ながら所定形状の開口部を持つパターンマスクを予めリード3aの表面に配設しておき、当該開口部に対応するリード3a表面部分のみに有機被膜110を形成するようにしてもよい。
(洗浄サブ工程)
分散液中から得た上記配線部材10xについて、有機溶媒または水の少なくともいずれかを洗浄媒体とし、余分な機能性有機分子11を除去すべく洗浄処理する。リード3aに直接第一官能基A1で金属結合していない機能性有機分子11は、本発明の効果を得ることができないので除去すべきである。当該洗浄サブ工程を行えば、ダイパッド3aと金属結合していない機能性有機分子11は簡単に除去することができる。
[樹脂固着工程]
樹脂固着工程は、配線部材載置サブ工程と、樹脂充填サブ工程とを順次経るようになっている。各サブ工程について、図6の概略模式工程図を用いて説明する。
(配線部材載置サブ工程)
まず、上記有機被膜形成工程を経て作製された配線部材10xとダイパッド3bを用い、半導体チップ4をダイパッド3bに搭載する。そして、半導体チップ4と配線部材10xとをワイヤーリード5等を介して接続する。これにより得られたチップ付配線部材10yを、固定金型2に載置する(図6(a))。
金型1、2が閉じられた状態で、当該金型1、2を所定の加熱状態に調整する。外部よりゲート6を通じ、一定の圧力でキャビティ1x、1y(内に流動状態の熱硬化性樹脂材料をインジェクション(射出成型)する。樹脂材料はチップ付配線部材10yの半導体チップ4を含む領域を中心にしてキャビティ1x、1y内に密になるまで充填され、金型1、2から熱を受けて硬化される(図6(b))。一定時間後、樹脂材料が完全に硬化すれば、封止樹脂の形成は完了し、QFP10zを得る。その後はアウターリード301aを折り曲げることでQFP10が完成する。
また、その他の効果として、QFP10は封止樹脂(成型樹脂)への水分浸入に伴う配線リードと樹脂との剥離部発生やクラックといった問題が回避される。すなわち、一般にQFPでは、封止樹脂(成型樹脂)の性質として、環境雰囲気中の水分が樹脂内部に浸入することがある(図23(a))。ここで従来のQFPでは、樹脂と配線リードとの密着性が不十分なため、この両者の界面付近に間隙が存在する場合がある。間隙があると、製造後の経過に伴って、樹脂内部に浸入した水が毛細管現象で溜まりやすい。この状態でQFP10を基板に実装する際のリフローによる加熱(約260℃)が加わると、溜まっていた相当量の水分が一気に気化し、急速に体積膨張する。このとき、樹脂の相当量の水分の急激な体積膨張に耐えられなくなる。その結果、前記間隙部分で樹脂側が配線リード側と剥がれて剥離部が形成されたり、間隙から封止樹脂(成型樹脂)の外部表面に至るクラックが発生する(図23(b))。このような剥離部やクラックが発生すると、外界からQFP内部にさらに多くの水分等の不純物の浸入が生じ、封止された半導体チップ94の回路破断や短絡等の原因となる。
これに対し、QFP10では配線リード表面に有機被膜を形成することで、封止樹脂(成型樹脂)との密着性が非常に向上されている。この密着性は、QFP10の製造後も持続され、配線リードと封止樹脂との界面に間隙が形成されるのが極力抑制されている。したがって、たとえ製造後の経過に伴い、封止樹脂(成型樹脂)中に環境雰囲気の水分が浸入したとしても、樹脂中には相当量の水分が溜まるような間隙がない。よって、QFP10を基板に実装する際に剥離部やクラックが発生することがなく、QFP10の実装を高い封止信頼性を維持したまま行うことができ、実装後も水分に起因する短絡の問題を防止できる。
実施の形態1に係る機能性有機分子11からなる有機被膜110は、上記の通り半導体装置に適用することで種々の効果を奏するものであるが、これは例示に過ぎず、半導体チップの存在は必須ではない。例えば、半導体チップの他に発光ダイオード素子(LED)を備えるLED装置に適用することができる。
当該装置ユニット31xはその断面形状において、擂鉢状のリフレクター22の底部に、配線リード部30が配設された構成を有する。リフレクター22は、たとえば熱硬化性樹脂材料(エポキシ樹脂やシリコーン樹脂等)を用い、樹脂成型により形成される。或いはセラミック材料を用いても構成できる。
実施の形態1及び2では、有機被膜110を設けて熱硬化性樹脂の硬化促進作用が発揮されるが、この作用を利用することで、微細な樹脂パターンを強固に形成することもできる。
例えば配線基板表面の一部にインクジェット法等を用いて局所的に樹脂成型を行う技術分野においては、精密な樹脂成型が要求される場合がある。この場合、配線リード部30上に直接樹脂成型を行う場合に比べて、有機被膜を形成した上から樹脂成型を行うことで、より迅速に樹脂成型を行える。この場合、硬化までの時間が短いので、樹脂の液ダレ・塗布後の型崩れが発生しにくく、設計通りの精密パターンに合わせて樹脂成型ができるといったメリットが奏される。
<実施の形態3>
本発明の実施の形態3について、実施の形態2との差異を中心に説明する。
図8は、本発明の実施の形態3に係るLED装置31の構成及び製造工程を示す断面図である。
当該LED装置31は、基本的には実施の形態2の装置ユニット31xを有し、さらに図8(b)に示すように、リフレクター22に囲繞される配線リード部30上にペースト42aを介してLEDチップ42が接合されてなる。LEDチップ42は、配線リード部30とワイヤー52を介して接続されている。
封止樹脂82は、ここでは熱硬化性樹脂の一例としてシリコーン樹脂を使用している。
ここにおいて本実施の形態3では、配線リード部30の露出領域301、302の表面に、機能性有機分子12の自己組織化による単分子膜からなる有機被膜120が形成されている。当該機能性有機分子12はA−(B)n−Cの一般式で示され、主鎖部B2の一端に、金属結合性を持つ第一官能基A2を備え、他端に、シリコーン樹脂に対する樹脂結合性を持つ第二官能基C2を備えた特徴を持つ(図8(c))。
即ち、シリコーン樹脂はエポキシ樹脂等と比較して耐褪色性・透明性に優れるものの、熱膨張率が高いため高温下では変形しやすい。当該変形によって、シリコーン樹脂が配線リード部30から剥離・脱離するおそれがある。これに対し本実施の形態3では、上記機能性有機分子12を用いた有機被膜120を利用することで、配線リード部30とシリコーン樹脂との密着性が飛躍的に向上されている。従って、たとえシリコーン樹脂が多少の熱変形等を生じても、配線リード部30からシリコーン樹脂が剥離や脱離するのが抑制される。そのため、高温になりやすい環境や、長時間駆動される条件下であっても、LED装置31の安定した性能の発揮が期待できる。
すなわち、リフレクター22の樹脂材料には、上記した熱硬化性樹脂のほか、PPA(ポリフタルアミド)やLCP(液晶ポリマー)等の熱可塑性樹脂の材料が用いられることがある。当該材料には主たる熱可塑性樹脂成分のほか、熱安定剤、光安定剤、フィラー、離型剤、白色顔料等の各種添加剤が混合されている。加熱により溶融された樹脂材料をインジェクション成型する際には、この添加剤を含めた材料中の揮発成分がアウトガスとなって雰囲気中に飛散する。このようなガスのうち、離型剤やベースレジン由来のアウトガスは、配線リード部の表面に付着すると薄膜(不純物膜)を形成する。不純物膜が配線リードの表面に存在すると、ワイヤーボンディングの際にワイヤーの先端が配線リード部側とうまくボンディングできなかったり、仮にボンディングできたとしても接合強度が足らず、その後の軽い振動で外れてワイヤー不着を生じることがある。なお、不純物膜の存在はSEM等で確認可能である。
また、配線リード部30の表面に、Agメッキ被膜を形成する場合には、当該メッキ被膜上に有機被膜を設けることもできる。この場合、有機被膜はAgメッキ被膜を外界の反応性ガスや触媒より保護するので、Agメッキ被膜の良好な反射特性を維持できる。従って、優れた発光効率のLED装置を実現することができる。
本実施の形態3の機能性有機分子12における第一官能基A2、主鎖部B2には、実施の形態1のA1、B1とそれぞれ同様の官能基等を利用することができる。
第二官能基C2には、熱硬化性樹脂、特にシリコーン樹脂に対して硬化性を呈する官能基又は化合物、構造体を用いる。具体的にはビニル基、有機ハイドロジェンシランの内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体のいずれかを用いることができる。
図9は、第一官能基A2がチオール基、主鎖部B2がメチレン鎖、第二官能基C2がビニル基である機能性有機分子12の合成過程例を示す。
(LED装置の製造方法について)
LED装置の製造方法は、以下の各工程を順次行うことで実施できる。尚、有機被膜形成工程以外は公知のLED装置の製造方法を採用できる。
実施の形態1の有機被膜形成工程と同様の方法により、配線リード部30の表面に機能性有機分子12からなる有機被膜120を自己組織化された単分子膜として形成する。これにより、有機被膜が形成された配線リード部30を得る。
[樹脂固着工程]
上記有機被膜120を形成した配線リード部30を用い、図6に示した射出成型と同様の手順で、配線リード部30にポリフタルアミド樹脂等の熱可塑性樹脂材料を射出成型する。その後は樹脂を硬化させるため一定温度範囲で冷却する。これによりリフレクター22を形成し、LED装置ユニット31xを得る。
その後、流動状態にあるシリコーン樹脂材料をリフレクター22内に充填する。そして熱硬化させることにより、LED装置31を得ることができる。
実施の形態4について、実施の形態3との差異を中心に説明する。
実施の形態3では、有機被膜120を構成する機能性有機分子12の第二官能基C2にシリコーン樹脂との化学結合性に特化した特性を有する官能基を選択したが、本実施の形態4では機能性有機分子12aの第二官能基C2’に瞬間硬化性官能基を用いた点に特徴を有する(S7部分拡大図10(b))。
本実施の形態4のLED装置の製造方法は、実施の形態3の製造方法と同一である。
以上の構成を有するLED装置31によれば、製造時にはポリフタルアミド樹脂等の熱可塑性樹脂を用いて射出成型によりリフレクター22を作製する。
このような間隙72は、シリコーン樹脂の充填の際に余分な漏出樹脂82aの発生を招き、材料の無駄となる。また、漏出樹脂82aは配線リード部30におけるアウターリードの電気的接合性の劣化に繋がるため、後に別途除去工程が必要となり、製造効率の低下を招く。さらに、漏出樹脂82aが当該LED装置31の背面に取着されたヒートシンク(不図示)との間に介在することで、本来の放熱性能を損なわせる原因となるため、好ましくない。
また、間隙72からのシリコーン樹脂の漏出を防止することで、当該間隙72の空気がシリコーン樹脂中に混入して生じるボイド(気泡)の発生を抑制することもでき、一層、シリコーン樹脂によるLED装置31の封止信頼性を高めることもできる。
図11は、本実施の形態4の機能性有機分子12aとして第一官能基A2がチオール基、主鎖部B2がメチレン鎖、第二官能基C2’が白金錯体である分子構造とした場合の合成過程例を示す図である。
まず、エチニルトリメチルシランと末端に臭素を有するアセチルスルフィドアルカンを、n-ブチルリチウムの存在下において脱臭化水素縮合反応させる。
実施の形態5について、実施の形態4との差異を中心に説明する。
実施の形態5のLED装置は、機能性有機分子13の第二官能基C3に蛍光又はリン光発光性官能基を用い、これによって発光効率を向上させた点に特徴を有する。
配線リード部30の表面には、LEDチップ42の発光を有効利用するため、従来から反射率の向上を目的としてAgメッキ被膜63(図12(a))が形成されることがある。しかしAg材料による有効反射波長は約500nm以上とされており、これ以下の短波長光(380〜500nm程度の青色発光・紫外発光等)では有効な反射率が得られにくい。
)。これにより、Agメッキ被膜63による可視光反射の効率を補完するようにねらったものである。第一官能基A3及び主鎖部B3はA1、B1とそれぞれ同一である。
第二官能基C3には、前述の通り短波長光による励起に基づく蛍光またはリン光発光性を有することが要求される。
例示すると、ビススチリルビフェニル誘導体等のスチルベン誘導体、ビス(トリアジニルアミノ)スチルベンスルホン酸誘導体等のアゾール修飾スチルベン誘導体、クマリン誘導体、オキサゾール誘導体、ピラリゾン誘導体、ピレン誘導体、ポルフィリン誘導体等の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体のいずれかが利用できる。
ビス(トリアジニルアミノ)スチルベンスルホン酸誘導体に、1、3−ジシクロヘキシルカルボジイミド(DCC)と4-ジメチルアミノピリジン(DMAP)の存在下において、末端にカルボン酸を有するメチレンアセチルスルフィドを一当量反応させることにより、脱水縮合させる。当該脱水縮合生成物のアセチルスルフィド部を、エチルアミンによりチオールに置換させる。以上で当該機能性有機分子13を得ることができる。
実施の形態6について、実施の形態4との差異を中心に説明する。
図14(a)は、実施の形態6に係るLED装置の構成を示す断面図である。
当該LED装置の特徴は、実施の形態4のLED装置をベースとし、リフレクター22の表面にAgメッキ被膜201aを配設して、さらにその表面に、自己組織化した本発明の機能性有機分子13が密に配列してなる有機被膜130を形成した点にある。
さらに、Agメッキ被膜201aの表面に有機被膜130が形成されていることから、装置の製造時において、Agメッキ被膜201aが不要なガスに曝されても変質するのが防止され、良好な反射特性が維持されている。
これに対し実施の形態6の装置31では、Agメッキ被膜201aの表面に緻密に機能性有機分子13が配列してなる有機被膜130を施している。このため、たとえ製造時の雰囲気に腐食性ガスや触媒が含まれていても、有機被膜130がAgメッキ被膜201aの保護手段として働き、腐食性ガスとAgメッキ被膜201aとの直接接触を回避する。従って、Agは不要な化学変化を起こすことがないので、Agメッキ被膜201aでは優れた反射特性を維持でき、良好な発光効率を有するLED装置を実現できる。
なお、機能性有機分子として実施の形態5の13を用いることで、第二官能基C3において蛍光またはリン光発光を利用すれば、LEDチップ42の出力のうち、高エネルギーの短波長側の光を発光に有効利用でき、一層優れた発光効率が期待できる。また、リフレクター22内に充填される封止樹脂82(シリコーン樹脂等)との密着性の向上を優先させるために、実施の形態3の機能性有機分子12を利用することも可能である。これらの機能性高分子12、13は混合して用いることも可能である。
(実施の形態1〜6について)
本発明の有機被膜110等をダイパッド又は配線リード部の表面に形成した場合、さらに以下の効果が得られる。
一方、製造される半導体装置の品質管理として外観検査工程が行われる。当該検査には、レーザ発信装置と受光素子を用いたレーザ測定法が一般的に用いられている。しかし、粗面加工された部材にレーザを照射すると不要な乱反射してしまい、受光素子での反射効率の低下或いは不要な受光により、精密測定が困難になりうる。この問題は、微細な外観形状を微弱レーザで検査する場合に顕著となる。
以下、本発明の実施の形態7について説明する。
実施の形態7は、IC、LSI等の電子部品の実装に用いられるTAB(Tape Automated Bonding)テープ、T-BGA(Tape Ball Grid Array)テープ、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)テープ等のフィルムキャリアテープに関し、特に当該テープにおいて被着されるソルダーレジスト層の密着性の改善技術に関するものである。
図15(d)に示されるように、フィルムキャリアテープ40は、ポリイミド等からなる絶縁フィルム401、Cuからなる配線パターン層402、及びソルダーレジスト層403を同順に積層してなる。
配線パターン層402の表面には、ハンダにより実装部品と接続するため、予めSnメッキ層404が施されている。Sn材料はハンダ濡れ性、柔軟性、潤滑性等の特性を有し、フィルムキャリアテープへの用途に適したメッキ層404を形成できるので好適である。
ソルダーレジスト層403及び配線パターン層402は各々の材料特性による固有の線膨張係数により、ソルダーレジスト硬化時に熱収縮し、内部応力が発生する。
本実施の形態7のフィルムキャリアテープ40の製造方法について説明する。
まず、絶縁フィルム401上に、フォトエッチング法等を用いて所定の配線パターン層402(Cu箔)を形成する(図15(a))。
次に有機被膜形成工程として、配線パターン層402上に、機能性有機分子14を付着させ、自己組織化現象により単分子膜からなる有機被膜140を形成する(図15(b)、S8拡大図16(a))。
次に、ソルダーレジスト層403の形成領域以外の領域に設けた前記有機被膜140を剥離する。なお、この剥離処理の代わりに、前記形成領域以外の領域に予めマスキングを施しておくようにしてもよい。
以上でフィルムキャリアテープ40を完成させることができる。
図17は、本実施の形態7の機能性有機分子として第一官能基がイミダゾール、主鎖部B2がメチレン鎖、第二官能基C4がアミンである分子構造とした場合の合成過程例を示す図である。
本実施の形態8のフィルムキャリアテープ40について、実施の形態7との差異を中心に説明する。
図18(d)に示す本実施の形態8のフィルムキャリアテープ40は、配線パターン層402とソルダーレジスト層403とを、光重合開始性或いは光増感性を呈する第二官能基C5を備える機能性有機分子15を用いて結合させた点に特徴を持つ(S11拡大図19(a))。
これに加え、光重合開始剤を励起しつつソルダーレジスト材料を塗布することで、迅速に材料を硬化させ、ソルダーレジスト層を形成できる。これにより液ダレ、型崩れの発生を防止し、正確・緻密なパターンでソルダーレジスト層403の形成ができるものである。
まず、絶縁フィルム401上に、フォトエッチング法等を用いて所定の配線パターン層402(Cu箔)を形成する(図18(a))。
次に、配線パターン層402上に機能性有機分子15を付着させ、自己組織化現象により単分子膜からなる有機被膜140を形成する(図18(b)、S10拡大図19(a))。
図20は、本実施の形態8の機能性有機分子として第一官能基がイミダゾール、主鎖部B2がメチレン鎖、第二官能基C5がメチルアセトフェノンである分子構造とした場合の合成過程例を示す図である。
末端に臭素を有するメチルアセトフェノンを炭酸カリウムの存在下において、一方の末端に水酸基、もう一方の末端に臭素を有する直鎖状のアルカンを反応させ、前記メチルアセトフェノンの臭化水素脱離反応により直鎖状アルカンとエーテル結合を生成させる。その後、生成物をイミダゾールが含有されたナトリウムメトキシドとDMFの混合溶液に添加し、脱臭化水素縮合反応させる事により機能性有機分子が合成される。
本実施の形態9について、実施の形態7及び8との差異を中心に説明する。
本実施の形態9では、実施の形態2と同様の機能性有機分子15を用いて配線パターン層402上に有機被膜を形成するが、ソルダーレジスト層403の形成に際してバッチ式手法を利用した点に特徴を持つ。これにより実施の形態8と同様にソルダーレジスト層403と配線パターン層402との結合性を強化できるほか、一般的な印刷法を採用する場合に比べてソルダーレジスト層403の厚み調整がより広範囲に行え、設計変更に伴う対応が柔軟であるといったメリットを有する。
まず、絶縁フィルム401上に所定のパターンで配線パターン層402を形成する(図21(a))。
次に、有機被膜形成工程として、配線パターン層402の表面に有機被膜150を成膜し、中間生成物を得る(図21(b))。成膜方法は実施の形態1とほぼ同様に行うことができる。
紫外線硬化反応後、バッチから中間生成物を取り出し、マスクを除去して適宜洗浄する(図21(d))。
その後はソルダーレジスト層403の下の領域以外の有機被膜150を除去し、Snメッキ層404を形成する(図21(e))。
この製造方法によれば、分散液との比重差による浮力を受けて、有機被膜150上に形成されるソルダーレジスト層403が重力により型崩れを生ずることなく迅速に硬化形成されるので、精密なパターン形状及び厚みを有する薄膜或いは厚膜ソルダーレジスト層403を自在に形成できるメリットがある。
<その他の事項>
上記各実施の形態の例示において、有機被膜の構成を機能性有機分子の自己組織化による単分子膜としているが、半導体装置の基板等への接着強度が劣化しない程度であれば、複数層であっても構わない。
B1〜B5 主鎖部
C1〜C5、C2’ 第二官能基
3 配線リード
3a、3b ダイパッド
10 半導体装置(QFP)
11〜15、12a 機能性有機分子
21 成型樹脂
22 リフレクター
30 配線リード部
31 LED装置
40 フィルムキャリアテープ
42 LEDチップ
63 Agメッキ被膜
82a 漏出樹脂
110、120、120a、130、140 有機被膜
301、302 露出領域
301a アウターリード
302a インナーリード
401 絶縁フィルム
402 配線パターン層
403x 端部
403 ソルダーレジスト層
404 Snメッキ層
406 浸蝕領域
408 Sn堆積層
Claims (3)
- 主鎖部の一端に金属結合性の第一官能基、他端に所定の特性を持つ第二官能基をそれぞれ備える機能性有機分子を含む材料を、金属材料からなる配線リードに被着させ、当該配線リードを構成する金属原子に前記第一官能基を結合させ、各々の機能性有機分子を自己組織化させることにより有機被膜を形成する有機被膜形成工程と、
有機被膜形成工程後に、前記有機被膜を配した配線リードの所定表面領域にわたり熱硬化性樹脂を固着させる樹脂固着工程とを経る樹脂付金属部品の製造方法であって、
有機被膜形成工程では、前記機能性有機分子として、前記主鎖部がメチレン鎖から構成されたものを用い、
前記熱硬化性樹脂として、シリコーン樹脂を用い、
前記第二官能基として、白金、パラジウム、ルテニウム、ロジウムを有する金属錯体の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体を用いる
ことを特徴とする樹脂付金属部品の製造方法。 - 主鎖部の一端に金属結合性の第一官能基、他端に所定の特性を持つ第二官能基をそれぞれ備える機能性有機分子を含む材料を、金属材料からなる配線リードに被着させ、当該配線リードを構成する金属原子に前記第一官能基を結合させ、各々の機能性有機分子を自己組織化させることにより有機被膜を形成する有機被膜形成工程と、
有機被膜形成工程後に、前記有機被膜を配した配線リードの所定表面領域にわたり熱硬化性樹脂を固着させる樹脂固着工程とを経る樹脂付金属部品の製造方法であって、
有機被膜形成工程では、前記機能性有機分子として、前記主鎖部がメチレン鎖から構成されたものを用い、
前記第二官能基として、蛍光発光性化合物又はリン光発光性化合物の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体を用いる
ことを特徴とする樹脂付金属部品の製造方法。 - 金属材料からなる配線リードの表面に、機能性有機分子の自己組織化による有機被膜が被着され、
前記機能性有機分子は、主鎖部の一端に前記配線リードに対して金属結合、水素結合、若しくは金属錯体による配位結合の少なくともいずれかの結合態様を呈する第一官能基、他端に樹脂硬化性若しくは樹脂硬化促進性を呈する第二官能基がそれぞれ配された化学構造を有し、
前記機能性有機分子の主鎖部は、メチレン鎖で構成されており、
第一官能基が配線リードに結合された配線部材の一部に熱硬化性樹脂が固着され、
前記有機被膜は、前記熱硬化性樹脂が固着される配線部材の表面積よりも広い面積にわたり被着されてなり、
前記熱硬化性樹脂はシリコーン樹脂であり、
前記第二官能基は白金、パラジウム、ルテニウム、ロジウムを有する金属錯体化合物の内の一種以上を含む化合物、化学構造体若しくは誘導体である
ことを特徴とする樹脂付金属部品。
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WO2012053260A1 (ja) * | 2010-10-22 | 2012-04-26 | パナソニック株式会社 | 表面実装型発光装置 |
JP5310700B2 (ja) * | 2010-10-27 | 2013-10-09 | パナソニック株式会社 | Ledパッケージ製造システムおよびledパッケージ製造システムにおける樹脂塗布方法 |
CN102544338A (zh) * | 2010-12-10 | 2012-07-04 | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 | 发光二极管导线架 |
WO2012131817A1 (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-04 | パナソニック株式会社 | 半導体素子の実装方法 |
CN104937694B (zh) * | 2013-01-21 | 2018-12-28 | 卡姆特有限公司 | 在多组分表面上的表面预处理和液滴铺展控制 |
US10395947B2 (en) | 2014-02-27 | 2019-08-27 | Denso Corporation | Manufacturing method of a resin molded article |
DE102015108736A1 (de) * | 2015-06-02 | 2016-12-08 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines optoelektronischen Bauelements |
US10820458B2 (en) * | 2015-07-21 | 2020-10-27 | Fuji Corporation | Component mounting device and nozzle exchange method used in the component mounting device |
CN105461926B (zh) * | 2016-01-29 | 2017-11-10 | 黑龙江省科学院石油化学研究院 | 一种环保型稳定性聚酰胺酸溶液及其制备方法 |
US10115692B2 (en) | 2016-09-14 | 2018-10-30 | International Business Machines Corporation | Method of forming solder bumps |
KR102120022B1 (ko) * | 2016-12-22 | 2020-06-05 | 산요가세이고교 가부시키가이샤 | 레지스트 기판 전처리 조성물 및 레지스트 기판의 제조 방법 |
US11101419B2 (en) * | 2019-11-04 | 2021-08-24 | Shenzhen Yong Yu Photoelectric Co, Ltd | Package structure of light-emitting diode and method for packaging light-emitting diode |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05102374A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-23 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置 |
JPH06350000A (ja) * | 1993-06-04 | 1994-12-22 | Hitachi Ltd | リードフレームの表面処理剤およびそれを用いた半導体集積回路装置の製造方法 |
JP2002353614A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-06 | Fujitsu Ltd | 多層配線層を有する基板及びその製造方法 |
JP2007194401A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Showa Denko Kk | 化合物半導体発光素子を用いたledパッケージ |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19757302A1 (de) * | 1997-12-22 | 1999-07-01 | Siemens Ag | Beschichtung von Metalloberflächen insbesondere für die Mikroelektronik |
WO2002025282A2 (en) * | 2000-09-22 | 2002-03-28 | Motorola, Inc. | Method for adhesion of polymers to metal-coated substrates |
JP2006080473A (ja) * | 2004-08-10 | 2006-03-23 | Fujitsu Ltd | 回路基板及びこれに用いる密着層用処理液 |
FR2879208B1 (fr) * | 2004-12-15 | 2007-02-09 | Commissariat Energie Atomique | Procede de collage de deux surfaces libres, respectivement de premier et second substrats differents |
JP2007266562A (ja) * | 2006-03-03 | 2007-10-11 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 配線部材、樹脂付金属部品及び樹脂封止半導体装置、並びにこれらの製造方法 |
-
2008
- 2008-08-21 US US12/672,876 patent/US20100230696A1/en not_active Abandoned
- 2008-08-21 WO PCT/JP2008/002258 patent/WO2009028156A1/ja active Application Filing
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- 2008-08-21 CN CN200880113697A patent/CN101842891A/zh active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05102374A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-23 | Matsushita Electron Corp | 半導体装置 |
JPH06350000A (ja) * | 1993-06-04 | 1994-12-22 | Hitachi Ltd | リードフレームの表面処理剤およびそれを用いた半導体集積回路装置の製造方法 |
JP2002353614A (ja) * | 2001-05-29 | 2002-12-06 | Fujitsu Ltd | 多層配線層を有する基板及びその製造方法 |
JP2007194401A (ja) * | 2006-01-19 | 2007-08-02 | Showa Denko Kk | 化合物半導体発光素子を用いたledパッケージ |
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