JP5516053B2 - 半導体集積回路 - Google Patents
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Description
2,102,202 第2パワードメイン(第2PD)
3,103,203 パワーメネージメント・ユニット(PMU)
4 スキャンモード信号生成回路
5 試験モード信号生成回路
7 半導体集積回路(チップ)
11 第1論理回路(第1ユーザ回路)
12,112,212 第1FF(フリップフロップ)
13 アンドゲート(第1論理ゲート)
20,120,220 アイソレータ
21,121,221 第2論理回路(ユーザ回路)
22,122,222 第2FF(フリップフロップ)
23 アンドゲート(第2論理ゲート)
24 第2ユーザ回路(第5論理回路)
31,131,231 第3論理回路
32,132,232 第4論理回路
33,35,133,233 オアゲート
34,234 アンドゲート(故障検出回路)
41 フリップフロップ(スキャンモードフリップフロップ)
42 タイミング調整用バッファ(タイミング調整用回路)
43 オアゲート(スキャンモード用論理回路)
44 論理ゲート(スキャンモード用論理回路)
45 ナンドゲート(スキャンモード用論理回路)
46 タイミング調整用ラッチ(タイミング調整用回路)
71,72 フリップフロップ
73 インバータ
111,211 第1論理回路(ユーザ回路)
Claims (8)
- スキャンモード制御信号が供給され、スキャンモード信号を生成するスキャンモード信号生成回路と、
前記スキャンモード信号が入力されるスキャンモード端子を備える第1フリップフロップを有する第1パワードメインと、
前記スキャンモード信号が入力されるスキャンモード端子を備える第2フリップフロップを有し、前記第1パワードメインとデータラインおよびスキャンチェーンで接続される第2パワードメインと、
前記第1パワードメインおよび前記第2パワードメイン間の前記スキャンチェーンに挿入される第1回路を有するアイソレータと、
テストモード信号およびアイソレータテストモード信号を生成する試験モード信号生成回路と、
前記テストモード信号および前記アイソレータテストモード信号に基づいてアイソレータ試験制御信号を生成するパワーマネージメントユニットと、を有し、
前記スキャンモード信号生成回路は、
前記スキャンモード制御信号が供給されるスキャンモードフリップフロップと、
前記スキャンモードフリップフロップの出力信号を遅延してタイミング調整を行うタイミング調整用回路と、
前記スキャンモード制御信号および前記タイミング調整用回路の出力信号に基づいて前記スキャンモード信号を生成するスキャンモード用論理回路と、を有し、
前記パワーマネージメントユニットは、
前記第1回路に前記アイソレータ試験制御信号を供給して、前記第1回路の入力が”0”もしくは”1”の信号で固定される故障を検出可能にすることを特徴とする半導体集積回路。 - 前記パワーマネージメントユニットは、
前記テストモード信号および前記アイソレータテストモード信号に基づいて前記アイソレータ試験制御信号を”0”または”1”の信号に固定することを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路。 - スキャンモード制御信号が供給され、スキャンモード信号を生成するスキャンモード信号生成回路と、
前記スキャンモード信号が供給されるスキャンモード端子を備える第1フリップフロップと、
前記第1フリップフロップの出力信号および前記スキャンモード制御信号が供給される第1論理ゲートと、
前記第1論理ゲートの出力信号が供給される第1ユーザ回路と、
前記スキャンモード信号が供給されるスキャンモード端子を備える第2フリップフロップと、
前記第2フリップフロップの出力信号および前記スキャンモード信号が供給される第2論理ゲートと、
前記第2論理ゲートの出力信号が供給される第2ユーザ回路と、を有し、
前記スキャンモード信号生成回路は、
前記スキャンモード制御信号が供給されるスキャンモードフリップフロップと、
前記スキャンモードフリップフロップの出力信号を遅延してタイミング調整を行うタイミング調整用回路と、
前記スキャンモード制御信号および前記タイミング調整用回路の出力信号に基づいて前記スキャンモード信号を生成するスキャンモード用論理回路と、を有し、
前記第1ユーザ回路および前記第2ユーザ回路は、異なるタイミングで動作を開始することを特徴とする半導体集積回路。 - さらに、
前記第1フリップフロップを有する第1パワードメインと、
前記第2フリップフロップを有し、前記第1パワードメインとデータラインおよびスキャンチェーンで接続される第2パワードメインと、
前記第1パワードメインおよび前記第2パワードメイン間の前記スキャンチェーンに挿入される第1回路を有するアイソレータと、を有することを特徴とする請求項3に記載の半導体集積回路。 - さらに、
テストモード信号およびアイソレータテストモード信号を生成する試験モード信号生成回路と、
前記テストモード信号および前記アイソレータテストモード信号に基づいて前記第1回路にアイソレータ試験制御信号を供給して、前記第1回路の入力が”0”もしくは”1”の信号で固定される故障を検出可能にするパワーマネージメントユニットと、を有することを特徴とする請求項4に記載の半導体集積回路。 - 前記パワーマネージメントユニットは、
前記テストモード信号および前記アイソレータテストモード信号に基づいて前記アイソレータ試験制御信号を”0”または”1”の信号に固定することを特徴とする請求項5に記載の半導体集積回路。 - 前記タイミング調整用回路は、タイミング調整用バッファであり、前記スキャンモード用論理回路は、オア相当の論理ゲートであることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の半導体集積回路。
- 前記タイミング調整用回路は、タイミング調整用ラッチであり、前記スキャンモード用論理回路は、オア相当の論理ゲートであることを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の半導体集積回路。
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