JP5514366B2 - Sealing material molding method - Google Patents
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Description
本発明は、半導体チップの封止材成形技術に関し、より詳しくは、発光ダイオードパッケージ製品の封止材の成形に好適な封止材成形技術に関する。 The present invention relates to a semiconductor chip sealing material molding technique, and more particularly to a sealing material molding technique suitable for molding a sealing material of a light emitting diode package product.
発光ダイオードチップのような半導体チップを内蔵するパッケージ製品の製造には、チップを封止する封止材を樹脂で成形する技術が用いられている。技術水準と最近の製品特性及び市場ニーズに応じて、発光ダイオードパッケージ等の半導体パッケージは、軽薄短小化の傾向を示している。このような傾向と、原資材節約のための努力として、封止材成形のための樹脂消耗量を最小化しようとする封止材成形技術への研究が盛んに進行している。 In the manufacture of a package product incorporating a semiconductor chip such as a light-emitting diode chip, a technique of forming a sealing material for sealing the chip with a resin is used. Depending on the technical level and recent product characteristics and market needs, semiconductor packages such as light emitting diode packages tend to be lighter, thinner and shorter. As an effort to save such a trend and raw materials, research into a sealing material molding technique that attempts to minimize the amount of resin consumption for molding a sealing material is actively progressing.
従来の封止材成形技術としては、トランスファー成形または射出成形と、オーバーモールド成形(または圧縮成形)が多く知られている。 As conventional sealing material molding techniques, there are many known transfer molding or injection molding and overmold molding (or compression molding).
トランスファー成形の場合、原料となる硬化前の樹脂を成形が行われるキャビティ内に充填するために、一次的に金型に設けられたポットに樹脂を供給し、上型と下型が閉じられた状態で、ポットに外力を加えることにより、その樹脂がランナーとゲートを順次経てキャビティに入るようにしている。ゲートを通過した樹脂は、キャビティ内に完全に充填された後、所定の時間が経過すると硬化する。封止材または封止材を含む製品を金型から分離し、この際、ポット、ランナー、ゲート内に残った樹脂は、製品との分離作業後、捨てられる。 In the case of transfer molding, in order to fill the resin before curing as a raw material into the cavity where the molding is performed, the resin is temporarily supplied to the pot provided in the mold, and the upper mold and the lower mold are closed. In this state, an external force is applied to the pot so that the resin enters the cavity through the runner and the gate sequentially. The resin that has passed through the gate is completely filled in the cavity, and then cured when a predetermined time elapses. The sealing material or the product containing the sealing material is separated from the mold. At this time, the resin remaining in the pot, the runner, and the gate is discarded after the separation work with the product.
このように従来のトランスファー成形(または射出成形)は、樹脂が移送される経路が多いため、多くの樹脂の流動量が要求され、封止材が成形されるキャビティに比べて、ポット、ランナー、ゲートの体積が大きく、そのポット、ランナー、及びゲート内の樹脂を捨てることにより、樹脂消耗量が多くなり過ぎるという短所があった。したがって、トランスファー成形は、成形精度がよく、成形寸法の安定性が高いという利点にもかかわらず、過多な樹脂消耗量により、経済性に極めて劣るという問題点があった。 As described above, the conventional transfer molding (or injection molding) has many paths through which the resin is transferred. Therefore, a large amount of resin flow is required, and the pot, runner, The volume of the gate is large, and the pot, runner, and the resin in the gate are discarded, so that there is a disadvantage that the amount of resin consumption becomes excessive. Therefore, transfer molding has a problem that it is extremely inferior in economic efficiency due to excessive resin consumption, despite the advantages of good molding accuracy and high molding dimension stability.
これに対して、オーバーモールド成形は、トランスファー成形の方式とは異なり、ポット、ランナー、ゲート無しに、キャビティに直接樹脂を供給し加圧して封止材を成形するので、樹脂消耗量を大いに減らすことができるという経済的な利点があった。しかしながら、従来のオーバーモールド成形は、キャビティの体積が、加圧中、成形厚さ方向に収縮または変化するので、樹脂供給量の程度により成形厚さの差を生じることがある。また、従来のオーバーモールド成形は、多数の素子に対して一括して封止材を形成するのには利点を有するが、特定の製品に対して対応することは難いという問題点があった。特に、従来のオーバーモールド成形技術は、多数の貫通孔を有するリードフレーム基板上の半導体チップに対して封止材を成形する場合、貫通孔から樹脂が流れ出ることもあるので、例えば、リーク防止用テープで貫通孔を塞ぐ事前保護措置が要求される等の不便さと煩わしさがあった。 On the other hand, in contrast to the transfer molding method, overmold molding reduces the amount of resin consumption by supplying resin directly to the cavity and molding it by applying pressure without a pot, runner, or gate. There was an economic advantage of being able to. However, in the conventional overmolding, the volume of the cavity shrinks or changes in the molding thickness direction during pressurization, so that a difference in molding thickness may occur depending on the degree of resin supply. Further, the conventional overmolding has an advantage in forming a sealing material for a large number of elements at once, but there is a problem that it is difficult to cope with a specific product. In particular, the conventional overmolding technology may cause the resin to flow out of the through holes when molding a sealing material on a semiconductor chip on a lead frame substrate having a large number of through holes. There were inconveniences and annoyances such as requiring pre-protection measures to close the through hole with tape.
発光ダイオードパッケージ製品の大多数を占める表面実装型発光ダイオードパッケージの場合、光効率を高くするために、発光ダイオードチップの周辺を取り囲むレフレクターが要求される。レフレクターは、金属をパターン加工して形成されたリードフレーム基板上にPPAを射出成形して一体化した成形物であり、半導体チップを収容する開口部を含む。このような適用に、オーバーモールド成形を用いる場合、前記開口部を覆うように封止材またはレンズ成形しなければならないので、下型のキャビティの全体にわたって樹脂を塗布する場合、レフレクターの外郭を含むリードフレームの不要な部分まで封止材の成形が行われるようになる。これは、素子間またはパッケージ間の間隔またはピッチが大きいほど、廃棄される樹脂消耗量を増加させ、さらには、成形工程以降の工程において、他の追加の問題を引き起こす素地がある。また、廃棄される樹脂量を減らすために薄く成形する場合、レフレクターと封止材との間の密着性に劣るので、成形以降の工程を経る間、封止材が取り外され、他の問題を生じることもある。 In the case of a surface mount type light emitting diode package that occupies the majority of light emitting diode package products, a reflector surrounding the periphery of the light emitting diode chip is required to increase the light efficiency. The reflector is a molded product in which PPA is injection-molded and integrated on a lead frame substrate formed by patterning a metal, and includes an opening for accommodating a semiconductor chip. When overmolding is used for such an application, a sealing material or a lens must be molded so as to cover the opening. Therefore, when the resin is applied over the entire cavity of the lower mold, the outer shell of the reflector is included. The sealing material is molded up to an unnecessary portion of the lead frame. This increases the amount of consumed resin as the distance or pitch between elements or packages increases, and there is also a base that causes other additional problems in the processes after the molding process. In addition, when thinly molded to reduce the amount of resin that is discarded, the adhesion between the reflector and the sealing material is inferior, so the sealing material is removed during the steps after molding, causing other problems. Sometimes it happens.
一方、従来は、封止材成形後、製品の分離のために、高価の離型フィルムが用いられてきた。代表的な離型フィルムとしては、非粘着性の特性を有するフッ素成分を含む、例えば、PTFE、PFA、FEP、ETFE(旭硝子社製、商品名;Fluon(R)ETFE)等のようなフッ素複合樹脂フィルムがある。従来技術では、高価の離型フィルムの利用のため、経済性が悪くなるという短所があり、それ以外にも、固形の剰余樹脂が離型フィルムの反対側の金型、すなわち、製品が支持される金型またはブロックに固着されて分離されないという問題点を引き起こす。このような剰余樹脂を除去するために煩雑な追加の作業がさらに要求される。また、剰余の樹脂がきれいに除去されていない金型またはブロックを用いて封止材をさらに圧縮成形する場合、封止材の成形の質を下げ、さらには多くの不良をもたらしてしまう。 On the other hand, an expensive release film has been conventionally used for product separation after molding of a sealing material. Typical release films include fluorine components having non-adhesive properties, such as fluorine composites such as PTFE, PFA, FEP, and ETFE (trade name; Fluon (R) ETFE) manufactured by Asahi Glass Co., Ltd. There is a resin film. In the prior art, because of the use of an expensive release film, there is a disadvantage that the economy becomes worse. Besides that, solid residual resin supports the mold on the opposite side of the release film, that is, the product. This causes a problem that it is fixed to the mold or block and cannot be separated. In order to remove such surplus resin, a complicated additional work is further required. Further, when the sealing material is further compression-molded using a mold or block from which excess resin has not been removed cleanly, the molding quality of the sealing material is lowered, and many defects are caused.
本発明は、上記問題点に鑑みなされたものであり、その目的は、封止材が成形された後、剰余の固形樹脂の除去が容易な、改善された封止材成形方法を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an improved sealing material molding method in which it is easy to remove excess solid resin after the sealing material is molded. It is in.
上記目的を達成するために、本発明の一側面による封止材成形方法は、樹脂流入口と成形キャビティを有するインサートキャビティブロックを基板上に配置するインサートキャビティブロック配置ステップと、前記インサートキャビティブロックと向かい合う側にフィルムで取り囲まれた樹脂積載空間を形成する樹脂積載空間形成ステップと、前記樹脂積載空間の底部を前記インサートキャビティブロックに近づけ、前記樹脂積載空間内の樹脂を前記樹脂流入口から前記成形キャビティに満たす封止材成形ステップと、前記樹脂の硬化後、前記インサートキャビティブロックの表面に残った剰余固形樹脂を前記フィルムと接着した状態で分離、除去するフィルム分離ステップと、を含む。 To achieve the above object, a sealing material molding method according to an aspect of the present invention includes an insert cavity block placement step of placing an insert cavity block having a resin inlet and a molding cavity on a substrate, and the insert cavity block, A resin loading space forming step for forming a resin loading space surrounded by a film on the opposite side, a bottom portion of the resin loading space is brought close to the insert cavity block, and the resin in the resin loading space is formed from the resin inlet through the molding A sealing material forming step that fills the cavity, and a film separating step that separates and removes the remaining solid resin remaining on the surface of the insert cavity block after the resin is cured, in a state of being adhered to the film.
好ましくは、前記インサートキャビティブロック配置ステップであって、前記インサートキャビティブロックは、前記樹脂積載空間と向かい合う表面に離型剤物質が適用される。 Preferably, in the insert cavity block arranging step, a release agent material is applied to a surface of the insert cavity block facing the resin loading space.
好ましくは、前記インサートキャビティブロック配置ステップは、第1の金型に前記基板を装着することと、前記基板上に前記インサートキャビティブロックを装着することを含む。 Preferably, the step of disposing the insert cavity block includes mounting the substrate on a first mold and mounting the insert cavity block on the substrate.
好ましくは、前記樹脂積載空間形成ステップは、前記第1の金型と向かい合い、窪んだ空間を有する第2の金型に前記フィルムを被せて前記樹脂積載空間を形成するが、前記第2の金型は、キャビティ加圧ブロックと、その周辺に配置されたキャビティホールディングブロックとを有し、前記窪んだ空間は、前記キャビティホールディングブロックと前記キャビティ加圧ブロックとの高低差により形成される。 Preferably, in the resin loading space forming step, the resin loading space is formed by covering the second mold having a depressed space facing the first mold and forming the resin loading space. The mold includes a cavity pressure block and a cavity holding block disposed around the cavity pressure block, and the recessed space is formed by a height difference between the cavity holding block and the cavity pressure block.
好ましくは、前記封止材成形ステップは、前記インサートキャビティブロックに当接するまで、前記キャビティホールディングブロックを上昇または下降移動させ、前記キャビティホールディングブロックが、移動後、停止した状態で、前記キャビティ加圧ブロックをさらに上昇または下降移動させ、前記樹脂積載空間の樹脂を前記成形キャビティ内に注入し、前記フィルム分離ステップは、前記第2の金型と前記インサートキャビティブロックを遠ざかるようにし、前記フィルムとそれに接着している剰余固形樹脂を前記インサートキャビティブロックから分離する。 Preferably, in the sealing material forming step, the cavity holding block is moved up or down until it comes into contact with the insert cavity block, and the cavity pressing block is stopped after the movement. Is further moved up or down, and the resin in the resin loading space is injected into the molding cavity, and the film separating step causes the second mold and the insert cavity block to move away from each other, and the film is adhered to the film. The remaining solid resin is separated from the insert cavity block.
前記第1の金型は、上部金型または下部金型であってもよく、第1の金型が上部金型である場合、第2の金型は下部金型であり、反対として、第1の金型が下部金型である場合、第2の金型は上部金型である。 The first mold may be an upper mold or a lower mold. When the first mold is an upper mold, the second mold is a lower mold, and vice versa. When the first mold is the lower mold, the second mold is the upper mold.
本発明によると、基板上に発光ダイオードチップのような半導体を封止する封止材を圧縮成形するにあたって、高価の離型フィルムを使用しなくてもよいので、経済性に優れる。 According to the present invention, when a sealing material for sealing a semiconductor such as a light-emitting diode chip is compression-molded on a substrate, an expensive release film does not have to be used, which is excellent in economic efficiency.
また、固形の剰余樹脂をインサートキャビティブロックと封止材から容易に除去することができ、製品生産費用を画期的に低くすることができる。 Further, the solid surplus resin can be easily removed from the insert cavity block and the sealing material, and the product production cost can be dramatically reduced.
また、固形の剰余樹脂、さらには、離型フィルムが製品の封止材から分離されないことから生じた従来の品質低下問題を解決することができる。 Further, it is possible to solve the conventional quality deterioration problem caused by the fact that the solid surplus resin and the release film are not separated from the product sealing material.
以下、添付した図面に基づき、本発明の好適な実施例について詳述する。また、本発明の実施例は、当該技術の分野における通常の知識を有する者に、本発明をさらに完全に説明するために提供されるものであり、下記の実施例は、様々な他の形態に変形され、本発明の範囲が下記の実施例に限定されるものではない。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, the embodiments of the present invention are provided in order to more fully explain the present invention to those having ordinary skill in the art, and the following embodiments are described in various other forms. The scope of the present invention is not limited to the following examples.
図1、図2、図3は、本発明の一実施例による封止材成形装置を成形初期の第1位置、成形中期の第2の位置、また成形完了期の第3の位置において示した断面図であり、図4は、図3の主要部分を拡大して示した断面図である。図5は、封止材成形完了後、剰余樹脂を分離する状態を示す断面図である。 1, 2, and 3 show a sealing material molding apparatus according to an embodiment of the present invention in a first position at the initial stage of molding, a second position at the middle stage of molding, and a third position at the stage of completion of molding. FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of the main part of FIG. FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state where the surplus resin is separated after the molding of the sealing material is completed.
図1乃至図5に示すように、本実施例による封止材成形装置は、オーバーモールドまたは圧縮成形方式の成形装置であり、上部金型20、下部金型30、これらの間のインサートキャビティブロック40を有する。図示してはいないが、下部金型の上昇または下降による樹脂の加圧成形のために、例えば、プレス加圧装置のような昇降駆動器具が用いられる。
As shown in FIGS. 1 to 5, the sealing material molding apparatus according to the present embodiment is an overmolding or compression molding molding apparatus, and includes an
前記上部金型20と前記下部金型30は、ブレス加圧装置のような昇降駆動器具の上部と下部に互いに対向して配置される。前記上部金型20及び/または前記下部金型30には、樹脂を設定温度に加熱するための加熱装置(図示せず)が設けられてもよい。本実施例において、リードフレーム11を有する基板10上に封止材の成形が行われ、前記基板10は、リードフレーム11に実装された発光ダイオードチップ12と、前記発光ダイオードチップ12を収容する開口部が形成されたレフレクター13とを有する。また、前記基板10は、封止材形成後に切断され、複数のSMD型発光ダイオードパッケージに分離されるものであり、リードフレーム11のパターンにより、基板10には貫通孔が形成されている。本明細書において、用語の「基板」とは、上部金型20または下部金型30に封止材成形のために装着される全ての種類の客体を含むものを意味する。また、図示によると、封止材が形成される客体である基板が、発光ダイオードチップがリードフレームに実装されてなるものであるが、本発明がこれに限定されてはならないことに留意する。
The
前記基板10は、別途に設けられた基板供給装置(図示せず)により、上部金型20に供給され、その上部金型20に装着される。基板10を上部金型20に装着する方式は、真空吸着方式またはクランプ方式が用いられてもよく、その他の方式により、基板10を上部金型20に装着することも考慮される。基板供給装置による前記基板10の供給は、プレス可動部によって、上部金型20と下部金型30が一定の間隔で離隔した状態で行われる。上部金型20に装着された基板10は、封止材が成形される広い面が下部金型30に向かうようになる。
The
また、前記上部金型20に装着された基板10上に、前記インサートキャビティブロック40が装着される。図4に示すように、前記インサートキャビティブロック40は、一面に複数の成形キャビティ41を有し、反対面には、前記成形キャビティ41のそれぞれに連結される複数の樹脂流入口(またはゲート42)が設けられる。また、前記インサートキャビティブロック40は、前記複数の成形キャビティ41が基板10に向かうように、また、前記複数の樹脂流入口42が前記下部金型30の樹脂積載空間38に向かうように前記基板10に装着される。
Further, the
上述のように、前記基板10の一面には、発光ダイオードチップ12と、その発光ダイオードチップ12を収容する開口部が形成されたレフレクター13とが設けられ、封止材は、前記レフレクター13の開口部を満たすように形成されることが必要である。このような要求のために、前記インサートキャビティブロック40の成形キャビティ41には、前記レフレクター13が嵌合される。したがって、前記成形キャビティ41のうち、実際に樹脂Rが満たされる空間は、前記レフレクター13の開口部にのみ残ることになる。前記封止材の形状を所望の形状にするために、図示のような凸レンズ形または他の所望の形状に成形キャビティ41の形状を設計することができる。
As described above, the light emitting
下部金型30の樹脂積載空間に存在していた樹脂は、キャビティ加圧ブロック31による加圧により、前記樹脂流入口42を通じて成形キャビティ41に加圧流入した後、硬化され、前記レフレクター13の開口部に前記発光ダイオードチップ12を封止する封止材を形成する。本実施例とは異なり、基板10にレフレクター13が設けられていない場合、樹脂は、図面においてレフレクター13が占める空間まで満たされる。
The resin existing in the resin loading space of the
さらに図1、図2、図3、及び図5を参照すると、前記下部金型30は、ベース3上に配置されるキャビティ加圧ブロック31とキャビティホールディングブロック36を有する。前記ベース3は、不図示の昇降駆動器具に連結され、前記昇降駆動器具により上下に駆動されるように構成される。前記キャビティ加圧ブロック31は、前記ベース3の上部面の中央領域に固定配置され、前記キャビティホールディングブロック36は、ベース3に設けられた弾性部材37により付勢される。前記ベース3が上昇駆動すると、キャビティ加圧ブロック31とキャビティホールディングブロック36が一緒に上昇され、前記キャビティホールディングブロック36が、他要素(本実施例では、インサートキャビティブロック40)との接触により停止すると、その以降は、弾性部材37の圧縮を伴い、キャビティ加圧ブロック31のみが一定の高さまで上昇する。
1, 2, 3, and 5, the
本実施例によると、前記キャビティ加圧ブロック31は、外郭のキャビティホールディングブロック36よりも常時低く位置するので、前記キャビティ加圧ブロック31と前記キャビティホールディングブロック36により定められる下部金型30の上部には、窪んだ空間が形成される。
According to the present embodiment, the
一方、本実施例による封止材成形装置は、前記キャビティ加圧ブロック31と前記キャビティホールディングブロック36により形成された窪んだ空間に設置されたフィルム、さらに具体的には、非離型性フィルム50を備える。前記フィルム50は、前記窪んだ空間の輪郭により、溶融樹脂を収容可能な体積可変型樹脂積載空間38を限定する。前記フィルム50により、溶融樹脂が下部金型30と直接接触せず、その溶融樹脂が下部金型30の下方に漏れないようになる。
On the other hand, the sealing material forming apparatus according to the present embodiment is a film installed in a depressed space formed by the
前記フィルム50は、下部金型30のキャビティ加圧ブロック31とキャビティホールディングブロック36との間の狭い隙間を通じて真空吸着され、このような過程により、加圧工程中、樹脂の外部漏れを防止することができる樹脂積載空間38が形成される。この樹脂積載空間38内に一定量の固形または液状の樹脂を均一に積載する。
The
前記フィルム50は、前記下部金型30の上部に被せられたまま、前記下部金型30側に設置された真空機器(図示せず)により、前記下部金型30の上部に吸着される。前記フィルム50は、図5に示すように、従来の離型フィルムとは異なり、封止材成形過程において樹脂と接着され、封止材成形後、剰余の固形樹脂と強くくっついているようになる。したがって、前記フィルム50を分離すると、剰余の固形樹脂は、フィルム50と一緒に分離される。前記フィルム50は、封止材の成形が行われる温度範囲、例えば、130〜200℃で使用可能な一般の耐熱フィルムであってもよく、離型フィルムに比べて安価である、例えば、ポリエチレン(PE)、ポリプロピレン(PP)、ポリエチレンテレフタレート(PET)等が用いられる。特に、ポリエチレンテレフタレート(PET)フィルムは、一般産業、電気電子、包装、グラフィック、ディスプレイ産業等において多様な用途として用いられており、供給先が多いため、安価であり、需給も容易である。
The
一方、前記インサートキャビティブロック40は、少なくとも前記封止材成形の際に、樹脂と接する表面が樹脂に対して界面分離特性を有する。前記界面分離特性を付与するために、前記インサートキャビティブロック40の樹脂と接する表面に離型剤物質401(図4参照)を適用することが好ましい。
On the other hand, the surface of the
以下、図1、図2、図3、及び図5を順次参照して、上述した封止材成形装置で基板上に封止材を形成する過程についてさらに説明する。 Hereinafter, the process of forming the sealing material on the substrate with the above-described sealing material forming apparatus will be further described with reference to FIG. 1, FIG. 2, FIG. 3, and FIG.
図1を参照すると、先ず、基板10が上部金型20に装着され、次に、基板10上にはインサートキャビティブロック40が装着される。この際、インサートキャビティブロック40の表面、少なくとも一領域には離型剤物質が適用されてもよい。
Referring to FIG. 1, first, the
また、キャビティ加圧ブロック31とキャビティホールディングブロック36との間の高低差により窪んだ空間を有する下部金型30の上部に、耐熱性フィルム50を吸着させて樹脂積載空間38を形成する。この際、前記樹脂積載空間38は、前記インサートキャビティブロック40と向かい合う側に位置する。前記フィルム50は、封止材成形温度に耐え、封止材成形後、剰余固形樹脂に対する接着力が、インサートキャビティブロック40の表面接着力よりも大きなものであればよい。上述のように、樹脂に対するインサートキャビティブロック40の表面接着特性を相対的に下げるために、離型剤物質が用いられてもよい。
In addition, the
前記インサートキャビティブロック40を基板10に配置する過程と、前記樹脂積載空間38を形成する過程は、その順序が変わってもよく、この二過程を同時に行ってもよい。
The order of the process of arranging the
図1に示した第1の位置において、下部金型30側の全ての部分は、上部金型20側の全ての要素から離隔している。
In the first position shown in FIG. 1, all parts on the
図2及び図3を参照すると、液状またはゲル状の樹脂が積載されている樹脂積載空間38とインサートキャビティブロック40を近づけることにより、樹脂積載空間38に積載された液状またはゲル状の樹脂を、前記インサートキャビティブロック40の成形キャビティ41に満たす過程が示されている。前記樹脂は、樹脂流入口42から前記成形キャビティ41内に満たされ、これにより、複数の樹脂流入口42は、それに対応する複数の成形キャビティ41と一つの樹脂積載空間38を連結する構造からなることが好ましい。
Referring to FIGS. 2 and 3, the liquid or gel resin loaded in the
図2に示すように、昇降駆動器具によりベース3を上昇駆動させると、一次に下部金型30のキャビティホールディングブロック36がインサートキャビティブロック40に当接して停止する。これにより、前記フィルム50によって限定された樹脂積載空間38は、フィルム50が被された下部金型30と、それに向かい合うインサートキャビティブロック40との間において完全に閉じられる。
As shown in FIG. 2, when the
図3に示すように、昇降駆動器具によりベース3をさらに上昇駆動させると、弾性部材37の圧縮を伴い、キャビティ加圧ブロック31がさらに上昇し、樹脂積載空間38の樹脂を加圧するようになる。前記加圧により、樹脂積載空間38は段々減らす。図4に示すように、レフレクター13とインサートキャビティブロック40が当接するダンバー面43がさらに加圧されると、樹脂がキャビティ領域に転移することを抑制することができ、密封力がさらに向上することができる。上述のように、樹脂積載空間38が減少しながら、直接的に樹脂を加圧するようになり、加圧された樹脂は、インサートキャビティブロック40に設けられた樹脂流入口42から成形キャビティ41内に注入される。
As shown in FIG. 3, when the
また、前記ステップ別の過程において、成形物に内在され、または発生した泡(ボイド)を効果的に除去し、成形性を改善するために、真空通路、すなわち、エアベントが形成され、このエアベントは、樹脂積載空間38の外郭を形成するキャビティホールディングブロック36の上面と、レフレクター13の上面と、インサートキャビティブロック40とが当接する面に選択的に設けられ得る。
Further, in the process of each step, a vacuum passage, that is, an air vent, is formed in order to effectively remove bubbles (voids) contained or generated in the molding and improve moldability. The upper surface of the
図3に示すように、液状に加圧された樹脂は一定の時間が経て硬化し、これにより、基板10には、インサートキャビティブロック40の成形キャビティ41により定められたレンズ状の封止材が形成される。この際、除去すべき剰余の固形樹脂は、樹脂流入口42からインサートキャビティブロック40とフィルム50との間にそのまま残っている。
As shown in FIG. 3, the resin pressurized in a liquid state is cured after a certain period of time, whereby the
図5を参照すると、下部金型30を下降させ、上部金型20と下部金型30を離隔させる。前記上部金型20に装着された基板10と、その基板10上に装着されたインサートキャビティブロック40は、下部金型30及びその下部金型30の上面に設けられたフィルム50から分離される。この際、成形キャビティ41内において硬化されて封止材となる樹脂を除いた残りの剰余固形樹脂R’は、フィルム50に強く接着されたまま、フィルム50と一緒にインサートキャビティブロック40から分離される。したがって、インサートキャビティブロック40と封止材の表面から剰余固形樹脂R’がきれいに除去される。
Referring to FIG. 5, the
このように、本発明は、離型フィルムではなく、固形樹脂と強く接着される強接着性の耐熱性フィルムを用いており、さらには、樹脂と接するインサートキャビティブロック40の表面に、界面分離特性の強い物質、例えば、離型剤物質を適用することにより、封止材成形後、剰余固形樹脂R’をフィルム50と一緒に封止材とインサートキャビティブロック40からきれいに除去することができる。
As described above, the present invention uses a strongly adhesive heat-resistant film that is strongly bonded to a solid resin, not a release film, and further has an interface separation characteristic on the surface of the
一方、基板10とインサートキャビティブロック40を不図示の資材供給装置を用いて一括してアンロードし、金型の外部に一括して分離し、またはインサートキャビティブロック40を先ずアンロードするとともに、分離した後、封止材の成形が完了した基板を取り外すこともできる。
On the other hand, the
図6は、図5に示した工程後、金型、またインサートキャビティブロックから分離して除去されたフィルムを示し、これを参照すると、フィルムに剰余固形樹脂が付着したまま除去されたことが分かる。この際、樹脂流入口またはゲートを満たしていた剰余固形樹脂の一部が、樹脂流入口またはゲートの形状をそのまま有して分離されたことが分かる。 FIG. 6 shows the film removed from the mold and the insert cavity block after the process shown in FIG. 5, and it can be seen that the residual solid resin was removed while adhering to the film. . At this time, it can be seen that a part of the residual solid resin that filled the resin inlet or gate was separated with the shape of the resin inlet or gate intact.
図7及び図8は、本発明の他の実施例による封止材成形装置を用いた封止材成形方法を説明するための図である。 7 and 8 are views for explaining a sealing material molding method using a sealing material molding apparatus according to another embodiment of the present invention.
図7に示した封止材成形方法は、基板10の装着方向が反対であることを除いては上述した実施例と同様である。
The sealing material molding method shown in FIG. 7 is the same as the above-described embodiment except that the mounting direction of the
図7を参照すると、可動金型300が上部に配置されて上部金型を構成し、固定金型200が下部に配置されて下部金型を構成する。基板10が下部金型、すなわち、固定金型200に装着され、その上にインサートキャビティブロック400が搭載される。前記インサートキャビティブロック400の一面には、下部金型、すなわち、固定金型200に装着された基板10に向かって開放された成形キャビティ410が設けられ、反対面、すなわち、可動金型300に臨む面には、樹脂積載空間38と、前記樹脂積載空間38を前記成形キャビティに連結する樹脂流入口420が形成される。前記樹脂積載空間380の下方に位置するように、前記可動金型300の下部または前記インサートキャビティブロック40の上部には、フィルム50が配置される。上述した実施例と同様に、前記フィルム500が樹脂積載空間380を取り囲んでいる。可動金型300が1次下降し、可動金型300のキャビティホールディングブロック360が前記フィルム500を介して前記インサートキャビティブロック400に当接し、前記キャビティ加圧ブロック310は、弾性部材370の圧縮を伴ってさらに下降し、樹脂積載空間380内の樹脂を加圧する。樹脂は、樹脂積載空間380から樹脂流入口を通じて成形キャビティ内に大きな圧力で注入される。成形キャビティ内の液状の樹脂が硬化し、緻密であり、厚さ寸法が安定的な封止材が、前記成形キャビティ内において形成される。真空吸着ではなくても、フィルム500を下部の固定金型200、すなわち、下部金型にそのまま維持させることができるので、フィルム500の真空吸着のための真空機器を省略することもできる。
Referring to FIG. 7, the
図8に示すように、封止材成形後、フィルム500をインサートキャビティブロック400から分離すると、成形後、インサートキャビティブロック400の表面に残った剰余の固形樹脂R’が前記フィルム500に接着された状態で、前記インサートキャビティブロック400の表面から分離される。上述した実施例と同様に、前記インサートキャビティブロック400の表面に離型剤物質を適用することができる。図8では、上部可動金型の図示を省略した。
As shown in FIG. 8, after molding the sealing material, when the
10 基板
11 リードフレーム
12 発光ダイオードチップ(または半導体チップ)
13 レフレクター
20 上部金型
30 下部金型
31 キャビティ加圧ブロック
36 キャビティホールディングブロック
37 弾性部材
40 インサートキャビティブロック
41 成形キャビティ
42 樹脂流入口
43 ダンバー面
50 フィルム
401 離型剤物質
R 樹脂
R’ 剰余固形樹脂
10
13
Claims (4)
前記インサートキャビティブロックと向かい合う側にフィルムで取り囲まれた樹脂積載空間を形成する樹脂積載空間形成ステップと、
前記樹脂積載空間の底部を前記インサートキャビティブロックに近づけ、前記樹脂積載空間内の樹脂を前記樹脂流入口から前記成形キャビティに満たす封止材成形ステップと、
前記樹脂の硬化後、前記インサートキャビティブロックの表面に残った剰余固形樹脂を前記フィルムと接着した状態で分離、除去するフィルム分離ステップと、を含み、
前記インサートキャビティブロック配置ステップであって、前記インサートキャビティブロックは、前記樹脂積載空間と向かい合う表面に離型剤物質が適用されることを特徴とする封止材成形方法。 An insert cavity block placement step of placing an insert cavity block having a resin inlet and a molding cavity on a substrate;
A resin loading space forming step for forming a resin loading space surrounded by a film on the side facing the insert cavity block;
A sealing material molding step of bringing the bottom of the resin loading space close to the insert cavity block and filling the resin in the resin loading space from the resin inlet into the molding cavity;
After curing of the resin, it saw including a separation, and film separation step of removing in a state where the remaining residue solid resin on the surface of the insert cavity block was bonded to the film,
In the insert cavity block arranging step, a mold release material is applied to a surface of the insert cavity block facing the resin loading space .
第1の金型に前記基板を装着するステップと、前記基板上に前記インサートキャビティブロックを装着するステップとを含むことを特徴とする請求項1に記載の封止材成形方法。 The insert cavity block arranging step includes:
2. The sealing material forming method according to claim 1, comprising: mounting the substrate on a first mold; and mounting the insert cavity block on the substrate .
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