JP5485801B2 - 半導体レーザ素子用エージングボード - Google Patents
半導体レーザ素子用エージングボード Download PDFInfo
- Publication number
- JP5485801B2 JP5485801B2 JP2010127359A JP2010127359A JP5485801B2 JP 5485801 B2 JP5485801 B2 JP 5485801B2 JP 2010127359 A JP2010127359 A JP 2010127359A JP 2010127359 A JP2010127359 A JP 2010127359A JP 5485801 B2 JP5485801 B2 JP 5485801B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arm member
- semiconductor laser
- base plate
- pressing plate
- laser element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 84
- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims description 27
- 238000003825 pressing Methods 0.000 claims description 76
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 13
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 5
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 5
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 3
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 7
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 2
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000001125 extrusion Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Description
〔実施例〕
図1(a),(b)は、本発明の一実施例にかかる半導体レーザ素子用エージングボードの一例を示している。図1(a)は半導体レーザ素子用エージングボード1を上から見た平面図であり、図1(b)は半導体レーザ素子用エージングボード1を、強制送風用の送風方向から見た側面図である。
そして、係止ブロック8は、ネジ8aにより、押さえ板7に固定されている。
図2(a),(b)は、弾性押さえ部材10の概略構成を示す図である。
図2(a),(b)において、弾性押さえ部材10は、半導体レーザ素子LDのパッケージが挿入される押圧部10aと、弾性押さえ部材10を押さえ板7にネジ止めするための固定部10b,10cと、押圧部10aと固定部10b,10cとを連絡する弾性部10dからなる。弾性部10dは、固定部10b,10cから立ち上がって押圧部10aに連絡するので、固定部10b,10cが押さえ板7に固定されていると、押圧部10aを図2(b)の下方向へ付勢する付勢力を生じることとなり、それにより、半導体レーザ素子LDをヒートシンク6に押さえ付ける(後述)。
図3は、TO−CAN型の半導体レーザ素子LDが装着されている近傍の構成を説明するための概略断面図である。
図3において、ソケット2の接触端子2aは、配線基板3に半田付けされて、図示しない配線基板3上のプリントパターンなどに電気的に接続する。また、ベース板5に配置されるヒートシンク6において、半導体レーザ素子LDを取り付ける位置に応じて貫通孔6aが形成されていて、この貫通孔6aを通して、半導体レーザ素子LDの端子STがソケット2の端子孔(図示略)に挿入されている。それにより、半導体レーザ素子LDの端子STがソケット2の接触端子2aと接触して、半導体レーザ素子LDの端子STがソケット2の接触端子2aを介して、配線基板3のプリントパターンに電気的に接続する。
図4(a)〜(c)は、ソケット2の構造を説明するための概略図である。
ソケット2は、基部2bが略長丸型の断面形状を備えるとともに、半導体レーザ素子LDの端子を挿入するための端子孔が設けられる上部2cが略円形の断面形状を備えている。また、図4(c)に破線で示した従来のもののように接触端子2aの移動方向が中心に対向して前後方向に移動するのではなく、角度的にオフセットを持たせて移動するように案内する溝を形成しており、それにより、半導体レーザ素子LDの端子を挿入するための端子孔が設けられる上部2cの形状L2を従来のものL1よりも小型に形成できるようにしている。
図5は、ソケット2の接触端子2aの冷却について説明するための概略図である。
図5に示すように、ソケット2のハウジングの基部2bよりも上部2cが小さく形成されているため、半導体レーザ素子LDの端子STに接触する接触端子2aがソケット2の上部2cの構造よりも外に露出している。そのため、ヒートシンク6の中空部を通過する空気は、この露出した接触端子2aからも熱を奪うことができるため、半導体レーザ素子LDが発熱することにより熱が伝えられるソケット2の接触端子2aが冷却され、ソケット2における冷却性能が向上することとなる。
図6(a),(b)は、係止ブロック8の構成を説明するための概略断面図である。図6(a)は、係止ブロック8により押さえ板7をベース板5に固定する前の状態を示し、同図(b)は係止ブロック8が押さえ板7をベース板5に固定している状態を示している。
まず、係止ブロック部材21,22の位置決め穴21a,22aとベース板5の位置決めピン38,39の位置を合わせた状態で、押さえ板7をベース板5の方向に下降させると、係止ブロック部材21,22の位置決め孔21a,22aにベース板5の位置決めピン38,39が突入する。またそのとき、アーム部材23の係合部28はベース板5の孔27aに挿通し、アーム部材24の係合部34はベース板5の孔33aに挿通する。
このようにして、係止ブロック8が押さえ板7をベース板5に固定する。
以上で実施形態の説明を終了するが、装置の構成等が上述の実施形態で説明したものに限られないことはもちろんである。
例えば、図7に示すように、1つのベース板5’に2つの押さえ板7を設けるようにすることもできる。その場合、一度に試験可能な半導体レーザ素子LDの数が、図1の場合に比べて2倍になる。
Claims (7)
- 半導体レーザ素子が装着されるソケットの配線が行われる配線基板と、該配線基板に近接して設置された放熱部材を備えるベース板と、前記ソケットに装着された半導体レーザ素子を固定する押さえ板を有し、前記半導体レーザ素子を駆動させて評価試験を行う半導体レーザ素子用エージングボードであって、
前記押さえ板と前記ベース板との間の距離を一定に保持するスペーサ部材と、
前記押さえ板に回転自在に取り付けられ、互いに干渉可能に設けた第1及び第2のアーム部材と、
前記第1のアーム部材の前記ベース板側の端部に設けられ、前記ベース板に設けた第1の係止部に係合可能な第1の係合部と、
前記第2のアーム部材の前記ベース板側の端部に設けられ、前記ベース板に設けた第2の係止部に係合可能な第2の係合部と、
前記第1のアーム部材に、前記第1の係合部とは反対の端部に設けられ、該第1のアーム部材の延長方向に前後するとともに、その前後方向に突出させる態様に付勢する付勢部材が内在されたスライドラッチ部材と、
前記第2のアーム部材において、前記第2の係合部とは反対の端部に該第2のアーム部材の延長方向に延伸して設けた部分であって、前記第1のアーム部材の前記第1の係合部に対する係合方向への回転に伴って前記第1のアーム部材と当接する当接部と、
前記第1のアーム部材と第2のアーム部材とを連結して、前記第1のアーム部材及び第2のアーム部材を、各々前記第1の係合部及び第2の係合部の前記ベース板に設けた第1の係止部及び第2の係止部との係合方向とは反対方向に付勢するスプリングと、
前記スプリングの付勢力により前記第1のアーム部材及び前記第2のアーム部材が、各々前記第1の係合部及び第2の係合部との係合を解除する位置に停止しているとき、前記第1のアーム部材の前記スライドラッチ部材を設けた端部を挿通させる、前記押さえ板に設けた窓部と、
前記窓部に設けられ、前記第1のアーム部材及び第2のアーム部材を各々前記第1の係合部及び第2の係合部に係合する方向に回転させた状態で、前記スプリングの付勢力に抗して前記スライドラッチ部材の先端を係止するラッチ係合部とを有する係止機構を備えたことを特徴とする半導体レーザ素子用エージングボード。 - 前記ベース板には複数のソケットが配列され、前記係止機構は、その複数のソケットの配列方向に略平行に設けられることを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ素子用エージングボード。
- 前記押さえ板には、前記複数のソケットに装着される複数の半導体レーザ素子を各々押圧する複数の弾性押さえ部材が設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の半導体レーザ素子用エージングボード。
- 前記押さえ板及び前記複数の弾性押さえ部材は、熱伝導性の良好な材料からなることを特徴とする請求項3記載の半導体レーザ素子用エージングボード。
- 前記押さえ板には、少なくとも押さえ板の上部又は押さえ板の下部のいずれか一方の面に1つ以上の梁部材が設けられていることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載の半導体レーザ素子用エージングボード。
- 前記押さえ板には、前記係止機構を設けない側面にサポートバー部材を設けたことを特徴とする請求項1乃至5の何れか一項に記載の半導体レーザ素子用エージングボード。
- 前記係止機構には、ベース板5との位置決め機構を備えたことを特徴とする請求項1乃至6の何れか一項に記載の半導体レーザ素子用エージングボード。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010127359A JP5485801B2 (ja) | 2010-06-02 | 2010-06-02 | 半導体レーザ素子用エージングボード |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010127359A JP5485801B2 (ja) | 2010-06-02 | 2010-06-02 | 半導体レーザ素子用エージングボード |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011253966A JP2011253966A (ja) | 2011-12-15 |
JP5485801B2 true JP5485801B2 (ja) | 2014-05-07 |
Family
ID=45417660
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010127359A Active JP5485801B2 (ja) | 2010-06-02 | 2010-06-02 | 半導体レーザ素子用エージングボード |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5485801B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106338700B (zh) * | 2016-08-23 | 2018-11-02 | 广东小天才科技有限公司 | 一种老化测试治具 |
CN116519983A (zh) * | 2023-06-26 | 2023-08-01 | 中久光电产业有限公司 | 半导体激光器老化测量装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6317550A (ja) * | 1986-07-10 | 1988-01-25 | Yamaichi Electric Mfg Co Ltd | Ic載接形ソケツト |
JP2907297B2 (ja) * | 1990-11-09 | 1999-06-21 | 株式会社秩父富士 | Icソケット |
JPH0496080U (ja) * | 1991-01-18 | 1992-08-20 | ||
JP2526489B2 (ja) * | 1993-06-23 | 1996-08-21 | 日本電気株式会社 | 半導体集積回路試験用ソケット |
JP4251423B2 (ja) * | 2000-01-28 | 2009-04-08 | 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン | ソケット |
JP2003014812A (ja) * | 2001-06-29 | 2003-01-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | バーンインボード及び放熱ソケット |
JP2005257377A (ja) * | 2004-03-10 | 2005-09-22 | Sony Corp | 半導体レーザ用エージングボード |
WO2008153178A1 (ja) * | 2007-06-14 | 2008-12-18 | Chichibu Fuji Co., Ltd. | 半導体レーザ用エージングボード |
-
2010
- 2010-06-02 JP JP2010127359A patent/JP5485801B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011253966A (ja) | 2011-12-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5383167B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
JP5095964B2 (ja) | ソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置 | |
US6449154B1 (en) | Heat sink assembly retainer device | |
JP3091618U (ja) | 光ピックアップ | |
US7161805B2 (en) | Latch means for socket connector assembly | |
JP4322635B2 (ja) | 電気部品用ソケット | |
JP5485801B2 (ja) | 半導体レーザ素子用エージングボード | |
US7738797B2 (en) | Optical module socket | |
US20220163561A1 (en) | Lidless bga socket apparatus for testing semiconductor device | |
US20100289513A1 (en) | Test socket assembly having heat dissipation module | |
TW202040148A (zh) | 用於測試邊射型雷射二極體之治具組件及具備該組件之測試設備 | |
JP5292290B2 (ja) | 半導体レーザ用エージングボード | |
JP2011253967A (ja) | 半導体レーザ素子用エージングボード | |
US20080030958A1 (en) | Clip for heat dissipation device | |
JP2005322690A (ja) | 半導体装置及び半導体装置の組立方法 | |
CN111929033A (zh) | 用于测试边射型激光二极管的夹具组件及其测试设备 | |
JP2007064925A (ja) | 電子部品試験装置 | |
JP4654852B2 (ja) | 電子部品試験装置 | |
JP3696129B2 (ja) | ヒートシンク取付構造 | |
JP5712914B2 (ja) | 照明装置 | |
JP5906136B2 (ja) | 電子部品用ケース及び電子部品装置 | |
KR20000035744A (ko) | Ic 소켓 및 ic 소켓의 접촉핀 | |
JP4348215B2 (ja) | 半導体レーザ用エージングボード | |
WO2024042822A1 (ja) | ソケット | |
KR100764400B1 (ko) | 광픽업의 반도체 레이저 고정 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130522 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20140129 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140212 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140220 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5485801 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |