JP5464644B2 - ミリ波撮像装置およびプログラム - Google Patents

ミリ波撮像装置およびプログラム Download PDF

Info

Publication number
JP5464644B2
JP5464644B2 JP2009136439A JP2009136439A JP5464644B2 JP 5464644 B2 JP5464644 B2 JP 5464644B2 JP 2009136439 A JP2009136439 A JP 2009136439A JP 2009136439 A JP2009136439 A JP 2009136439A JP 5464644 B2 JP5464644 B2 JP 5464644B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
millimeter wave
millimeter
image
subject
sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2009136439A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010281737A (ja
Inventor
順 植村
政宗 武田
康太 山田
順一 高橋
毅 長谷川
晴之 平井
広高 新倉
智彦 松崎
弘康 佐藤
邦男 澤谷
皓司 水野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tohoku University NUC
Maspro Denkoh Corp
Chuo Electronics Co Ltd
Original Assignee
Tohoku University NUC
Maspro Denkoh Corp
Chuo Electronics Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tohoku University NUC, Maspro Denkoh Corp, Chuo Electronics Co Ltd filed Critical Tohoku University NUC
Priority to JP2009136439A priority Critical patent/JP5464644B2/ja
Priority to CN2010800249508A priority patent/CN102803997A/zh
Priority to EP10783471A priority patent/EP2439561A4/en
Priority to PCT/JP2010/059559 priority patent/WO2010140689A1/ja
Priority to SG2011089463A priority patent/SG177244A1/en
Priority to US13/376,309 priority patent/US20120075479A1/en
Publication of JP2010281737A publication Critical patent/JP2010281737A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5464644B2 publication Critical patent/JP5464644B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S13/00Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
    • G01S13/88Radar or analogous systems specially adapted for specific applications
    • G01S13/89Radar or analogous systems specially adapted for specific applications for mapping or imaging
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S13/00Systems using the reflection or reradiation of radio waves, e.g. radar systems; Analogous systems using reflection or reradiation of waves whose nature or wavelength is irrelevant or unspecified
    • G01S13/88Radar or analogous systems specially adapted for specific applications
    • G01S13/887Radar or analogous systems specially adapted for specific applications for detection of concealed objects, e.g. contraband or weapons
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N5/00Details of television systems
    • H04N5/30Transforming light or analogous information into electric information

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Geophysics And Detection Of Objects (AREA)

Description

本発明は、被写体から放射されるミリ波を受信することにより、被写体を撮像するミリ波撮像装置に関する。
従来から、人物などの被写体から放射されるミリ波を受信することによって、被写体を撮像し、その撮像画像から被写体において隠された金属・非金属類の武器や、密輸品を検出することが提案されている(特許文献1,2参照)。
特開2006−258496号公報 特許第2788519号公報
ところで、上記のように複数のミリ波センサからなるラインセンサを利用して被写体の撮像画像を生成するミリ波撮像装置では、ミリ波センサにおける特性のばらつきにより、鮮明な画像が得られず、撮像画像から検査対象物を検出する際の精度が低下することがあった。
つまり、ミリ波センサには、ミリ波アンテナや、ミリ波アンテナからの受信信号を処理する信号処理回路(増幅回路、フィルタ回路、検波回路等)が設けられることから、これらミリ波アンテナや信号処理回路固有の特性によって、各ミリ波センサからの出力がばらつき、そのばらつきにより、最終的に得られる画像が不鮮明になって、検査対象物の検出精度が低下するのである。
本発明は、こうした問題に鑑みなされたものであり、その目的は、複数のミリ波センサを用いて被写体を撮像するミリ波撮像装置において、ミリ波センサ毎の特性のばらつきによって撮像画像が不鮮明になるのを防止するための技術を提供することである。
上記課題を解決するため第1の構成(請求項1)は、
被写体から放射されるミリ波を取り込んで被写体像を結像させるレンズアンテナと、
前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波が被写体像を結像する結像領域において、複数のミリ波センサが一列に配置されてなり、該ミリ波センサそれぞれにより受信されたミリ波により一列分の被写体像を撮像するラインセンサと、
前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波を反射させて前記ラインセンサへと導く反射面を有するリフレクタと、
前記リフレクタの反射面で反射したミリ波による被写体像の結像領域を、前記ミリ波センサの配置された方向と交差する方向に沿って変位させるべく、前記反射面による反射角を順次変更させることにより、前記ラインセンサに被写体像を一列ずつ順に撮像させる反射角変更手段と、
前記ラインセンサにより順に撮像された一列分の被写体像それぞれからなる画像を被写体像として生成する画像生成手段と、
前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波が前記リフレクタの反射面に到達する経路の外に配置され、該配置された位置から前記リフレクタに向けて基準となるミリ波を放射するミリ波放射部と、を備えており、
前記反射角変更手段は、前記ラインセンサに被写体像を撮像させるのに先立ち、前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波による被写体像の結像領域が、前記ミリ波センサの配置された領域に重複せず、かつ、前記ミリ波放射部から放射されるミリ波により結像する像の領域が前記ミリ波センサの配置された領域に重複するまで前記反射角を変更させる準備段階を経た後、前記結像領域を変位させるべく前記反射面による反射角を順次変更させる撮像段階へ移行することにより、前記ラインセンサに被写体像を一列ずつ順に撮像させて、
さらに、
前記準備段階において、前記ミリ波センサそれぞれに検出された検出値のいずれか,または,検出値全ての平均値を基準検出値とし、前記ミリ波センサそれぞれに検出された検出値と前記基準検出値との誤差を、そのミリ波センサの検出値に対する補正値として設定する補正値設定手段と、
前記撮像段階において、前記ラインセンサにより一列分の被写体像が撮像される毎に、該被写体像を構成する前記ミリ波センサそれぞれの検出値を、該ミリ波センサに対する補正値として前記補正値設定手段により設定された補正値により補正する検出値補正手段と、を備えている。
また、この構成における「ミリ波放射部」は、第2の構成(請求項2)のように、基準となる熱雑音を発生する熱雑音源,または,電波吸収体により構成するとよい。
また、上記課題を解決するためには、第1または第2に記載の全ての手段として機能させるための各種処理手順をコンピュータシステムに実行させるためのプログラム(請求項3)としてもよい。
なお、上述したプログラムは、コンピュータシステムによる処理に適した命令の順番付けられた列からなるものであって、各種記録媒体や通信回線を介してミリ波撮像装置や、これを利用するユーザ等に提供されるものである。
上記構成に係るミリ波撮像装置であれば、ラインセンサに被写体像を撮像させるのに先立ち、基準となるミリ波を放射するミリ波放射部からのミリ波を受信する準備段階を経て、実際に被写体像を撮像する撮像段階へと移行する。
準備段階では、ミリ波放射部からのミリ波に基づいてミリ波センサそれぞれの検出値に対する補正値を設定しておき、撮像段階で被写体像の撮像を開始した以降は、撮像に際してミリ波センサそれぞれに検出される検出値が設定済み補正値で補正される。
そのため、ミリ波センサそれぞれの特性にばらつきがあったとしても、そのばらつきを補正しつつ撮像を行えるため、特性のばらつきを原因として撮像画像が不鮮明になることを防止することができる。
ミリ波撮像装置の全体構成を示すブロック図 ラインセンサを構成するミリ波センサの構成を示すブロック図 撮像処理を示すフローチャート ミリ波放射部から放射されるミリ波がリフレクタに反射される様子を示す図
以下に本発明の実施形態を図面と共に説明する。
(1)全体構成
ミリ波撮像装置1は、図1に示すように、被写体から放射されるミリ波を取り込んで被写体像を結像させるレンズアンテナ10と、複数のミリ波センサ22が一列に配置されてなるラインセンサ20と、レンズアンテナ10に取り込まれたミリ波を反射させてラインセンサ20へと導く反射面32を有するリフレクタ30と、レンズアンテナ10に取り込まれたミリ波がリフレクタ30の反射面32に到達する経路の外に配置されたミリ波放射部40と、ミリ波撮像装置1全体の動作を制御する制御部50と、を備えている。
ラインセンサ20は、レンズアンテナ10に取り込まれたミリ波が被写体像を結像する結像領域において、複数のミリ波センサ22が一列に配置されてなり、このミリ波センサ22それぞれにより受信されたミリ波により一列分の被写体像を撮像する。
このミリ波センサ22は、図2に示すように、ミリ波を受信するための受信アンテナ102と、受信アンテナ102からの受信信号を増幅するローノイズアンプ(LNA)104と、LNA104にて増幅された受信信号を検波し、その信号レベルを検出する検波器108と、から構成されている。このため、各ミリ波センサ22からは、各々の受信点で受信したミリ波の信号レベルに応じた検出値が取得され、制御部50は、これら各ミリ波センサ22からの検出値を順次取り込むことで画像データを生成する。
リフレクタ30には、反射面32によるミリ波の反射角を、ミリ波センサ22の配置された方向と交差する方向に沿って変位させるための変位機構34が備えられている。
ミリ波放射部40は、レンズアンテナ10に取り込まれたミリ波がリフレクタ30の反射面32に到達する経路の外に配置され、こうして配置された位置からリフレクタ30に向けて基準となるミリ波を放射している。本実施形態において、ミリ波放射部40は、基準となる熱雑音を発生する熱雑音源,または,電波吸収体により構成されている。
(2)制御部50による撮像処理
以下に、制御部50が、内蔵するメモリに格納されたプログラムに従って実行する撮像処理の処理手順を図3に基づいて説明する。
この撮像処理では、まず、ミリ波放射部40から放射されるミリ波により結像する像の領域がミリ波センサ22の配置された領域に重複するまで、リフレクタ30の反射面32による反射角が変更される(s110)。ここでは、リフレクタ30の変位機構34に対し、反射面32によるミリ波の反射角を所定の退避角度θ’まで変位させるべく指令がなされ、この指令を受けた変位機構34は、ミリ波放射部40から放射されるミリ波により結像する像の領域が、ミリ波センサ22の配置された領域に重複するまで、反射面32によるミリ波の反射角を退避角度θ’まで変更させる(図4参照)。
なお、ミリ波放射部40は、レンズアンテナ10に取り込まれたミリ波がリフレクタ30の反射面32に到達する経路の外に配置されているため、このs110により反射角が変更された際には、レンズアンテナ20に取り込まれたミリ波による被写体像の結像領域が、ミリ波センサ22の配置された領域に重複しなくなる。
次に、上記s110にて反射角が退避角度まで変更された時点において、ラインセンサ20のミリ波センサ22による検出値それぞれが取得される(s120)。
ここでは、ミリ波放射部40から放射されるミリ波を受信した検出値が取得されることとなる。このとき、ミリ波放射部40を電波吸収体で構成した場合には、ここからのミリ波の放射量が著しく少ないことから、検出値としても「0」に近い検出値が取得されることとなる。
次に、上記s120にて取得された検出値それぞれに基づき、以降の処理で検出値の誤差を算出するための基準となる基準検出値が決定される(s130)。ここでは、上記s120にて取得された検出値のいずれか(最大値または最小値)、または、取得された全ての検出値の平均値が、基準検出値として決定される。
次に、上記s130にて決定された基準検出値に基づいて、検出値を補正するための補正値が決定される(s140)。ここでは、各ミリ波センサ22それぞれに検出された検出値と、上記s130にて決定された基準検出値との誤差が算出され、その検出値の検出に係るミリ波センサ22の補正値として決定される。
次に、上記s140にて決定された補正値それぞれが、対応するミリ波センサ22の検出値に対する補正値として設定される(s150)。
こうして、本撮像処理により補正値が設定されるまでの段階が本発明でいう準備段階に相当する。
次に、リフレクタ30の反射面32による反射角を、退避角度θ’未満の角度範囲θ”で繰り返し連続的に変更する走査制御が開始される(s160)。ここでは、リフレクタ30の変位機構34に対し、反射面32によるミリ波の反射角を連続的に変更すべき旨の指令がなされ、この指令を受けた変位機構34は、所定の角度範囲θ”で反射面32によるミリ波の反射角を連続的に繰り返し変更するようになる。これにより、ラインセンサ20による撮像領域の走査が行われる。
なお、ここで反射角が変更される角度範囲θ”は、レンズアンテナ10に取り込まれたミリ波による被写体像の結像領域が、ミリ波センサ22の配置された領域に重複するようにあらかじめ設定されたものである。
次に、被写体像の撮像を継続すべきか否かがチェックされる(s170)。ここでは、ミリ波撮像装置1に対し、撮像を終了するための操作が行われたことをもって撮像を終了すべき,つまり継続すべきでないと判定される。
このs170で撮像を継続すべきと判定された場合(s170:YES)、ラインセンサ20のミリ波センサ22による検出値それぞれが取得される(s180)。
次に、上記s180にて取得された検出値それぞれが、その検出値を検出したミリ波センサ22に対して設定された補正値に基づいて補正される(s190)。
次に、上記s190にて補正された補正後の検出値それぞれに基づいて、一列分の被写体像が生成され(s200)、こうして生成された一列分の被写体像が、所定列の被写体像としてメモリに格納される(s210)。ここでは、s200にて生成された一列分の被写体像が、被写体像における全列のうち、この時点におけるリフレクタ30による反射角との関係で決められる所定列の被写体像とされ、これが、被写体像を格納するメモリのうち、その列に対応する記憶領域に格納される。
このs210が行われた後、プロセスがs170へと移行し、以降、撮像を継続すべきと判定されている間、s170〜s210が繰り返される。こうして、s170〜s210が繰り返される段階が本発明でいう撮像段階である。
そして、上記s170にて撮像を終了すべきと判定された場合(s170:NO)、本撮像処理が終了する。
(3)作用,効果
このように構成されたミリ波撮像装置1であれば、ラインセンサ20に被写体像を撮像させるのに先立ち、基準となるミリ波を放射するミリ波放射部40からのミリ波を受信する準備段階を経て(図3のs110〜s150)、実際に被写体像を撮像する撮像段階へと移行する(同図s170〜)。
準備段階では、ミリ波放射部40からのミリ波に基づいてミリ波センサ22それぞれの検出値に対する補正値を設定しておき(同図s150)、撮像段階で被写体像の撮像を開始した以降は、撮像に際してミリ波センサ22それぞれに検出される検出値が設定済み補正値で補正される(同図s190)。
そのため、ミリ波センサそれぞれの特性にばらつきがあったとしても、そのばらつきを補正しつつ撮像を行えるため、特性のばらつきを原因として撮像画像が不鮮明になることを防止することができる。
(4)本発明との対応関係
以上説明した実施形態において、図3のs110,s160が本発明における反射角変更手段であり、同図s200が本発明における画像生成手段であり、同図s130〜s150が本発明における補正値設定手段であり、同図s190が本発明における検出値補正手段である。
1…ミリ波撮像装置、10…レンズアンテナ、20…ラインセンサ、22…ミリ波センサ、30…リフレクタ、32…反射面、34…変位機構、40…ミリ波放射部、50…制御部、102…受信アンテナ、104…ローノイズアンプ、108…検波回路。

Claims (3)

  1. 被写体から放射されるミリ波を取り込んで被写体像を結像させるレンズアンテナと、
    前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波が被写体像を結像する結像領域において、複数のミリ波センサが一列に配置されてなり、該ミリ波センサそれぞれにより受信されたミリ波により一列分の被写体像を撮像するラインセンサと、
    前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波を反射させて前記ラインセンサへと導く反射面を有するリフレクタと、
    前記リフレクタの反射面で反射したミリ波による被写体像の結像領域を、前記ミリ波センサの配置された方向と交差する方向に沿って変位させるべく、前記反射面による反射角を順次変更させることにより、前記ラインセンサに被写体像を一列ずつ順に撮像させる反射角変更手段と、
    前記ラインセンサにより順に撮像された一列分の被写体像それぞれからなる画像を被写体像として生成する画像生成手段と、
    前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波が前記リフレクタの反射面に到達する経路の外に配置され、該配置された位置から前記リフレクタに向けて基準となるミリ波を放射するミリ波放射部と、を備えており、
    前記反射角変更手段は、前記ラインセンサに被写体像を撮像させるのに先立ち、前記レンズアンテナに取り込まれたミリ波による被写体像の結像領域が、前記ミリ波センサの配置された領域に重複せず、かつ、前記ミリ波放射部から放射されるミリ波により結像する像の領域が前記ミリ波センサの配置された領域に重複するまで前記反射角を変更させる準備段階を経た後、前記結像領域を変位させるべく前記反射面による反射角を順次変更させる撮像段階へ移行することにより、前記ラインセンサに被写体像を一列ずつ順に撮像させて、
    さらに、
    前記準備段階において、前記ミリ波センサそれぞれに検出された検出値のいずれか,または,検出値全ての平均値を基準検出値とし、前記ミリ波センサそれぞれに検出された検出値と前記基準検出値との誤差を、そのミリ波センサの検出値に対する補正値として設定する補正値設定手段と、
    前記撮像段階において、前記ラインセンサにより一列分の被写体像が撮像される毎に、該被写体像を構成する前記ミリ波センサそれぞれの検出値を、該ミリ波センサに対する補正値として前記補正値設定手段により設定された補正値により補正する検出値補正手段と、を備えている
    ことを特徴とするミリ波撮像装置。
  2. 前記ミリ波放射部は、基準となる熱雑音を発生する熱雑音源,または,電波吸収体により構成されている
    ことを特徴とする請求項1に記載のミリ波撮像装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載の全ての手段として機能させるための各種処理手順をコンピュータシステムに実行させるためのプログラム。
JP2009136439A 2009-06-05 2009-06-05 ミリ波撮像装置およびプログラム Expired - Fee Related JP5464644B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009136439A JP5464644B2 (ja) 2009-06-05 2009-06-05 ミリ波撮像装置およびプログラム
CN2010800249508A CN102803997A (zh) 2009-06-05 2010-06-04 毫米波成像设备和程序
EP10783471A EP2439561A4 (en) 2009-06-05 2010-06-04 MILLIMETER WAVE IMAGING DEVICE AND PROGRAM
PCT/JP2010/059559 WO2010140689A1 (ja) 2009-06-05 2010-06-04 ミリ波撮像装置およびプログラム
SG2011089463A SG177244A1 (en) 2009-06-05 2010-06-04 Millimeter wave imaging device and program
US13/376,309 US20120075479A1 (en) 2009-06-05 2010-06-04 Millimeter Wave Imaging Apparatus and Program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009136439A JP5464644B2 (ja) 2009-06-05 2009-06-05 ミリ波撮像装置およびプログラム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010281737A JP2010281737A (ja) 2010-12-16
JP5464644B2 true JP5464644B2 (ja) 2014-04-09

Family

ID=43297821

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009136439A Expired - Fee Related JP5464644B2 (ja) 2009-06-05 2009-06-05 ミリ波撮像装置およびプログラム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20120075479A1 (ja)
EP (1) EP2439561A4 (ja)
JP (1) JP5464644B2 (ja)
CN (1) CN102803997A (ja)
SG (1) SG177244A1 (ja)
WO (1) WO2010140689A1 (ja)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5849249B2 (ja) * 2011-12-16 2016-01-27 中央電子株式会社 出力補正装置、方法、およびプログラム
JP2013167530A (ja) * 2012-02-15 2013-08-29 Maspro Denkoh Corp ラインセンサ及び撮像装置
JP2013246138A (ja) * 2012-05-29 2013-12-09 Maspro Denkoh Corp 携帯型マイクロ波測定装置
US9437923B2 (en) 2012-10-15 2016-09-06 The United States of America, as represented by the Secretary of Commerce, The National Institute of Standards and Technology Simultaneous imaging and precision alignment of two millimeter wave antennas based on polarization-selective machine vision
DE102014200928A1 (de) * 2014-01-20 2015-07-23 Tmt Tapping Measuring Technology Sàrl Vorrichtung zur Bestimmung der Topographie der Mölleroberfläche in einem Schachtofen
EP3176612B1 (en) * 2015-12-04 2021-03-03 Asqella Oy Imaging apparatus for monitoring objects

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000039407A (ja) * 1998-07-19 2000-02-08 Elco:Kk X線異物検査装置
US6937182B2 (en) * 2001-09-28 2005-08-30 Trex Enterprises Corp. Millimeter wave imaging system
AU2002950196A0 (en) * 2002-07-11 2002-09-12 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Real-time, cross-correlating millimetre-wave imaging system
US7948428B2 (en) * 2003-08-12 2011-05-24 Trex Enterprises Corp. Millimeter wave imaging system with frequency scanning antenna
US7106430B2 (en) * 2004-04-08 2006-09-12 Gerald Falbel Airborne search and rescue scanner
JP2006148205A (ja) * 2004-11-16 2006-06-08 Mitsubishi Electric Corp 衛星搭載光学センサの校正方法及び撮像装置
JP2006258496A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Fujitsu Ltd ミリ波撮像装置
CN1940713A (zh) * 2005-09-30 2007-04-04 陈宇 基于光读出的成像系统

Also Published As

Publication number Publication date
SG177244A1 (en) 2012-02-28
EP2439561A4 (en) 2012-11-21
CN102803997A (zh) 2012-11-28
JP2010281737A (ja) 2010-12-16
WO2010140689A1 (ja) 2010-12-09
US20120075479A1 (en) 2012-03-29
EP2439561A1 (en) 2012-04-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5464644B2 (ja) ミリ波撮像装置およびプログラム
WO2019163673A1 (ja) 光測距装置
JP5626723B2 (ja) ミリ波撮像装置
JP2008224511A (ja) 車載用レーダ装置
WO2011074614A1 (ja) ミリ波撮像装置、ミリ波撮像システムおよびプログラム
JP2011237417A (ja) ミリ波撮像装置
JP2010008273A (ja) ミリ波撮像装置
US11808852B2 (en) Method and system for optical distance measurement
WO2021222504A1 (en) Reference surface detection for mobile dimensioning
JP5710314B2 (ja) マスク検査方法およびその装置
JP6406076B2 (ja) オブジェクト検知装置、オブジェクト検知方法、およびオブジェクト検知プログラム
KR101840837B1 (ko) 적외선 검출기의 온도에 따른 불량화소 검출장치 및 방법
JP5566928B2 (ja) マスク検査方法およびその装置
CN114511489B (zh) Vcsel芯片的束散角检测方法、系统和电子设备
JP2007322177A (ja) レーザ光照射測定装置
JP2002139311A (ja) 光ビーム照射測定装置
JP2013508841A (ja) 静脈網センサの赤外線放射器のセットの作動を生体の存在に対してスレービングさせる方法及び装置
JP2006170925A (ja) 光沢度測定方法および装置
CN114930121B (zh) 量化三维点云数据的表面平整度的设备及方法
JP2009061480A (ja) ダブルブランク検出装置
JP2011145272A (ja) Ct装置
KR101958472B1 (ko) 라인 스캔 방식 기반의 불량화소 검출방법 및 장치
JP2011196883A (ja) 距離測定装置
JP2009265005A (ja) 3次元形状測定装置
CN117203489A (zh) 测距装置和测距方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20120523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20131224

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140116

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees