JP5451452B2 - 眼軸長測定装置 - Google Patents
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Description
第1分割光と第2分割光の光路長差を変更するために,駆動部により移動可能に一方の光路に配置された光路長変更部材と、を持つ干渉光学系とを備え、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて被検者眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、
前記第1分割光の光路と前記第2分割光の光路との間の分散量の違いを光学的に補正するために,前記ビームスプリッタによって分割された前記第2分割光の光路に配置された分散補正用光学部材を備え、前記分散補正用光光学部材は、前記第2分割光の光路中に置かれた他の光学部材と一体化されていることを特徴とする。
(2) (1)の眼軸長測定装置において、
前記分散補正用光学部材は、前記第2分割光の光路中に置かれた他の光学部材と接合されていることを特徴とする眼軸長測定装置。
(3) (2)の眼軸長測定装置において、
前記第2分割光の光路中に置かれた前記他の光学部材は、前記ビームスプリッタ、又は前記第2分割光の光路に配置され前記第2分割光を反射する反射光学部材の少なくともいずれかであることを特徴とする眼軸長測定装置。
(4) (1)の眼軸長測定装置において、
前記第2分割光の光路中に置かれた前記他の光学部材は、前記分散補正用光学部材と一体成型されていることを特徴とする眼軸長測定装置。
(5) (1)〜(4)のいずれかの眼軸長測定装置において、
前記分散補正用光学部材は、前記第1分割光が角膜と眼底の間を往復するときに生じる分散を補正するために人眼の眼軸長に相当する分散量を持つことを特徴とする眼軸長測定装置。
5 ビームスプリッタ
7 第1三角プリズム(光路長変更部材)
8 分散補正ガラス(分散補正用光学部材)
9 第2三角プリズム
10 照射光学系
20 受光光学系
21 受光素子
71 駆動部
80 制御部
Claims (5)
- 低コヒーレント光を出射する光源と、出射された光を第1分割光と第2分割光に分割するビームスプリッタと、第1分割光を被検者眼眼底に向けて照射する投光光学系と、被検者眼眼底で反射された第1分割光と,第2分割光とを合成して受光素子に導く受光光学系と、
第1分割光と第2分割光の光路長差を変更するために,駆動部により移動可能に一方の光路に配置された光路長変更部材と、を持つ干渉光学系とを備え、前記受光素子から出力される受光信号に基づいて被検者眼の眼軸長を測定する眼軸長測定装置において、
前記第1分割光の光路と前記第2分割光の光路との間の分散量の違いを光学的に補正するために,前記ビームスプリッタによって分割された前記第2分割光の光路に配置された分散補正用光学部材を備え、前記分散補正用光光学部材は、前記第2分割光の光路中に置かれた他の光学部材と一体化されていることを特徴とする眼軸長測定装置。 - 請求項1の眼軸長測定装置において、
前記分散補正用光学部材は、前記第2分割光の光路中に置かれた他の光学部材と接合されていることを特徴とする眼軸長測定装置。 - 請求項2の眼軸長測定装置において、
前記第2分割光の光路中に置かれた前記他の光学部材は、前記ビームスプリッタ、又は前記第2分割光の光路に配置され前記第2分割光を反射する反射光学部材の少なくともいずれかであることを特徴とする眼軸長測定装置。 - 請求項1の眼軸長測定装置において、
前記第2分割光の光路中に置かれた前記他の光学部材は、前記分散補正用光学部材と一体成型されていることを特徴とする眼軸長測定装置。 - 請求項1〜4のいずれかの眼軸長測定装置において、
前記分散補正用光学部材は、前記第1分割光が角膜と眼底の間を往復するときに生じる分散を補正するために人眼の眼軸長に相当する分散量を持つことを特徴とする眼軸長測定装置。
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