JP5443019B2 - 質量分析計システム - Google Patents
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- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 161
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 23
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 23
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims description 10
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 claims description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 2
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 41
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 29
- 238000000034 method Methods 0.000 description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 12
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 10
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 6
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 5
- 238000011045 prefiltration Methods 0.000 description 5
- 238000000065 atmospheric pressure chemical ionisation Methods 0.000 description 4
- 238000002417 atmospheric pressure glow discharge ionisation Methods 0.000 description 4
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 238000009760 electrical discharge machining Methods 0.000 description 4
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 3
- 238000000708 deep reactive-ion etching Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 3
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 3
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000003795 desorption Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000005323 electroforming Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 2
- 230000037427 ion transport Effects 0.000 description 2
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N Acetaminophen Chemical compound CC(=O)NC1=CC=C(O)C=C1 RZVAJINKPMORJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XQFBNGQMEHMBJY-APTHBXDWSA-N CC1[C@H](C)C(CC2)[C@@H]2CC1 Chemical compound CC1[C@H](C)C(CC2)[C@@H]2CC1 XQFBNGQMEHMBJY-APTHBXDWSA-N 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005520 electrodynamics Effects 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 238000003754 machining Methods 0.000 description 1
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 1
- 238000000520 microinjection Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000010137 moulding (plastic) Methods 0.000 description 1
- 102000039446 nucleic acids Human genes 0.000 description 1
- 108020004707 nucleic acids Proteins 0.000 description 1
- 150000007523 nucleic acids Chemical class 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 1
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 238000012805 post-processing Methods 0.000 description 1
- 102000004196 processed proteins & peptides Human genes 0.000 description 1
- 108090000765 processed proteins & peptides Proteins 0.000 description 1
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 239000005297 pyrex Substances 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
- H01J49/0404—Capillaries used for transferring samples or ions
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/04—Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
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- Y10T29/00—Metal working
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Description
・ポリマーからの適切な形状の直接光造形または急速プロトタイピング
・平滑な表面を作製するため研磨などにいくつかの後処理が後続する、ポリマーからの適切な形状の直接光造形または急速プロトタイピング
・次に型として使用することができる、ポリマーからのネガの光造形
・プラスチック、複合材料または導電性複合材料の射出成形
・電気めっきが後続するプラスチック、複合材料の射出成形
・金属からの電気鋳造(electroforming)
・理想的なノズル形状の近似を生成するための、半導体材料の1つまたは複数の側面の結晶面エッチング
・ノズルプロファイルを生成するための、半導体材料の2つの側面の深堀り反応性イオンエッチング(DRIE)
・ノズルプロファイルを生成するための、金属の放電加工
・上記のプロセスのいくつかまたはすべてを使用して製作されたサブコンポーネントから組み立てたハイブリッドデバイスからの理想的なノズルプロファイルの生成
Claims (21)
- イオン源および質量分析器を備える質量分析計システムであって、前記イオン源と前記質量分析器とがインターフェース構成要素を介して互いに結合され、前記インターフェース構成要素が、前記イオン源から質量分析器内へ前記イオンが通過することができる内部経路を画定するノズルを備え、前記ノズルが拡散部分を有し、前記内部経路を通過する前記イオンが前記質量分析器内への導入に先立って動作可能に加速されるよう、前記内部経路を画定する表面が前記拡散部分内で互いに分かれているとともに、前記ノズルがさらに収束部分を含み、前記収束部分内で前記内部経路を画定する表面が互いに収束することを特徴とする質量分析計システム。
- 前記収束部分がスロート部分によって前記拡散部分から分離されることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記収束部分が前記拡散部分の前に設けられることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記ノズルが、イオンが動作可能に超音速で前記インターフェース構成要素を出るように構成された収束−拡散ノズルであることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか一項に記載のシステム。
- 前記ノズルの少なくとも一部が、モース尺度で少なくとも8の硬度値を有する材料から製作された側壁を有することを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記ノズルが前記拡散部分の前に設けられたスロート部分を備え、前記スロート部分の側壁がモース尺度で少なくとも8の硬度値を有する材料から製作されることを特徴とする請求項5に記載のシステム。
- 前記材料がダイヤモンドまたはセラミックから選択されることを特徴とする請求項5に記載のシステム。
- 前記硬度値を有する材料から製作された前記側壁が研磨されることを特徴とする請求項5に記載のシステム。
- 前記イオン源が大気圧イオン源であることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 真空チャンバをさらに備え、前記質量分析器が前記真空チャンバ内に設けられることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記拡散ノズルが前記真空チャンバ内で終結することを特徴とする請求項10に記載のシステム。
- 第1および第2の真空チャンバを含むマルチステージシステムとして構成されたシステムであって、前記第1の真空チャンバ内の圧力が前記第2の真空チャンバ内の圧力より高く、前記第1の真空チャンバが前記イオン源と流体連通し、前記質量分析器が前記第2の真空チャンバ内に設けられることを特徴とする請求項1に記載のシステム。
- 前記第1の真空チャンバを出て前記第2の真空チャンバ内に入るイオンが加速されるように、前記ノズルが前記第1の真空チャンバと前記第2の真空チャンバの間に設けられることを特徴とする請求項12に記載のシステム。
- 前記イオン源と前記第1の真空チャンバの間に設けられた第2のノズルを備えることを特徴とする請求項13に記載のシステム。
- 前記第1および第2の真空チャンバの少なくとも1つの中に設けられたイオンガイドを備えることを特徴とする請求項12に記載のシステム。
- 前記インターフェース構成要素を出るイオンビームが前記質量分析器に入る前に前記イオンガイド内へ向けられるように、前記ノズルと前記質量分析器の間に設けられたイオンガイドを備えることを特徴とする請求項12に記載のシステム。
- 前記イオンガイドが第1の真空チャンバ内に設けられ、前記質量分析器が第2の真空チャンバ内に設けられることを特徴とする請求項15に記載のシステム。
- 前記イオンガイドが交流または直流の構成で動作可能であることを特徴とする請求項15に記載のシステム。
- 前記イオンガイドが4重極イオンガイドであることを特徴とする請求項15に記載のシステム。
- 前記インターフェース構成要素に対して直流バイアス電圧が動作可能に結合されることを特徴とする請求項1ないし19のいずれか一項に記載のシステム。
- 大気中のイオン源を質量分析器に結合するためのインターフェース構成要素であって、前記イオン源内で生成されたイオンを、前記質量分析器内へ導入に先立って動作可能に超音速へ加速する収束−拡散ノズルを含むことを特徴とするインターフェース構成要素。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB0803256A GB2457708B (en) | 2008-02-22 | 2008-02-22 | Mass spectrometer system |
GB0803256.7 | 2008-02-22 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009245933A JP2009245933A (ja) | 2009-10-22 |
JP2009245933A5 JP2009245933A5 (ja) | 2012-05-24 |
JP5443019B2 true JP5443019B2 (ja) | 2014-03-19 |
Family
ID=39284386
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009039756A Active JP5443019B2 (ja) | 2008-02-22 | 2009-02-23 | 質量分析計システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8269164B2 (ja) |
EP (1) | EP2112681B1 (ja) |
JP (1) | JP5443019B2 (ja) |
CA (1) | CA2654659A1 (ja) |
GB (1) | GB2457708B (ja) |
Families Citing this family (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008051695B4 (de) * | 2008-09-04 | 2019-06-06 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenmobilitätsmessung an Potentialbarriere |
JP5364468B2 (ja) * | 2008-09-26 | 2013-12-11 | 日精樹脂工業株式会社 | めっき被覆アルミニウム製品 |
JP5359827B2 (ja) * | 2008-12-03 | 2013-12-04 | 株式会社島津製作所 | イオン輸送装置、イオン分析装置、及び、超音速分子ジェット法を用いた分析装置 |
GB0908252D0 (en) * | 2009-05-13 | 2009-06-24 | Micromass Ltd | Surface coating on sampling cone of mass spectrometer |
US8471198B2 (en) | 2009-05-13 | 2013-06-25 | Micromass Uk Limited | Mass spectrometer sampling cone with coating |
DE102009050040B4 (de) | 2009-08-28 | 2014-10-30 | Bruker Daltonik Gmbh | Einlass von Ionen in Massenspektrometer durch Lavaldüsen |
DE102009050041B4 (de) * | 2009-09-17 | 2014-12-18 | Bruker Daltonik Gmbh | Hochauflösende Ionenmobiltätsspektrometrie |
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DE102008051695B4 (de) * | 2008-09-04 | 2019-06-06 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenmobilitätsmessung an Potentialbarriere |
US8058611B2 (en) * | 2009-09-23 | 2011-11-15 | Thermo Finnigan Llc | System for preventing backflow in an ion source |
-
2008
- 2008-02-22 GB GB0803256A patent/GB2457708B/en active Active
-
2009
- 2009-02-18 CA CA002654659A patent/CA2654659A1/en not_active Abandoned
- 2009-02-19 EP EP20090153241 patent/EP2112681B1/en active Active
- 2009-02-20 US US12/380,002 patent/US8269164B2/en active Active
- 2009-02-23 JP JP2009039756A patent/JP5443019B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP2112681B1 (en) | 2015-04-08 |
US20090212210A1 (en) | 2009-08-27 |
EP2112681A2 (en) | 2009-10-28 |
JP2009245933A (ja) | 2009-10-22 |
GB0803256D0 (en) | 2008-04-02 |
CA2654659A1 (en) | 2009-08-22 |
EP2112681A3 (en) | 2010-12-29 |
US8269164B2 (en) | 2012-09-18 |
GB2457708B (en) | 2010-04-14 |
GB2457708A (en) | 2009-08-26 |
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Legal Events
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A977 | Report on retrieval |
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