JP5440068B2

JP5440068B2 - 画像形成装置

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Publication number: JP5440068B2
Application number: JP2009217771A
Authority: JP
Inventors: 仁岩崎; 茂八木; 誠之鳥越; 剛岩永
Original assignee: Fuji Xerox Co Ltd; Fujifilm Business Innovation Corp
Current assignee: Fujifilm Business Innovation Corp
Priority date: 2009-09-18
Filing date: 2009-09-18
Publication date: 2014-03-12
Anticipated expiration: 2029-09-18
Also published as: JP2011065085A

Description

本発明は、画像形成装置に関する。

引用文献１には、像保持体の表面に向かいあうように設けられた帯電制御部材に、像保持体への放電の開始される放電開始電圧の絶対値の２倍以下の振幅値の交流電圧Ｖｐｐを印加して放電を行わせることで、像保持体上に残留したトナーの極性をそろえることが提案されている。そして、引用文献１では、帯電制御部材より像保持体の回転方向の下流側に設けられた部材に、該そろえられたトナーの極性と逆極性の電圧を印加することで、該トナーを回収することが提案されている。なお、引用文献１では、帯電制御部材の像保持体に向かい合う表面は、面状またはブラシ状とされている。

引用文献２には、不織布を像保持体の表面に接触配置し、像保持体の表面の残留トナーを不織布に保持させることで残留トナーを正規の極性に帯電させることが提案されている。

特開２００６−１８９５０３号特開２００７−０３４２５８号

本発明は、本発明における放電部材の像保持体に向かい合う領域が凹凸を有する面状とされず、且つ電圧印加装置から放電部材に印加される重畳電圧が本発明の関係を満たさない場合に比べて、帯電を調整する能力を維持しつつ、且つ像保持体の表面に付着した放電生成物が除去される清掃装置を備える画像形成装置を提供することを課題とする。

請求項１の発明は、像保持体、前記像保持体を帯電させる帯電装置、前記帯電装置によって帯電された前記像保持体に静電潜像を形成する潜像形成装置、前記潜像形成装置によって前記像保持体上に形成された静電潜像をトナーによって現像する現像装置、前記現像装置によって前記像保持体上に形成されたトナー像を被転写体へ転写する転写装置、及び清掃装置を備え、
前記像保持体が、
円柱状の基体と、前記基体上に設けられた感光層と、前記感光層上に設けられ、酸素及びガリウムを含有し、外側に存在する第１の領域、及び該第１の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第１の領域に比べてガリウムに対する酸素の原子数比が大きい第２の領域を有する保護層と、を有し、
前記清掃装置が、
回転される前記像保持体の外側の面に向かい合うように配置され、該像保持体に向かい合う領域が凹凸を有する面状であり、印加された電圧に応じた電界を前記像保持体との間に形成し、且つ該電圧に応じた放電を行う放電部材と、
前記像保持体と前記放電部材との間に形成された電界の向きを変化させ、且つ該放電部材から該像保持体に向かって予め定められた極性の放電が行なわれるように、直流電圧と交流電圧とを重畳させた重畳電圧を前記電界形成装置に印加する電圧印加装置と、
を備え、
前記電圧印加装置から前記放電部材に印加される前記重畳電圧に含まれる交流電圧の電圧波形の振幅の最大から最小までの振幅値Ｖｐｐと、該重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値Ｖｄｃが、下記式（１）及び式（２）に示す関係を満たす清掃装置である、画像形成装置である。

｜Ｖｔｈ｜≦Ｖｐｐ／２＋｜Ｖｄｃ｜−｜Ｖｐｒ｜（１）
Ｖｐｐ≦２｜Ｖｔｈ｜（２）

上記式（１）及び式（２）中、Ｖｔｈは、前記像保持体の表面電位が０Ｖのときに、前記放電部材に直流電圧のみが印加されたときに前記放電部材から前記像保持体に向かって放電が開始される電圧値であり、式（１）中、Ｖｐｒは、前記像保持体の表面電位を示す。

請求項２に係る発明は、前記清掃装置の放電部材における前記像保持体に向かい合う領域が、導電性を有する布からなる請求項１に記載の画像形成装置である。

請求項３に係る発明は、前記清掃装置が、前記放電部材より前記像保持体の回転方向下流側に設けられ、前記像保持体の表面に付着した付着物を除去する除去部材を備える請求項１又は請求項２に記載の画像形成装置である。

請求項１に係る発明は、本発明における放電部材の像保持体に向かい合う領域が凹凸を有する面状とされず、且つ電圧印加装置から放電部材に印加される重畳電圧が本発明の関係を満たさない場合に比べて、帯電を調整する能力を維持しつつ、且つ像保持体の表面に付着した放電生成物が除去される。

また、請求項１に係る発明は、像保持体が本発明における保護層を有する構成である場合であっても、帯電を調整する能力を維持しつつ、且つ像保持体の表面に付着した放電生成物が除去される。

請求項３に係る発明は、本発明における除去部材を備えない構成である場合に比べて、像保持体上に付着したトナーが除去される。

本実施の形態に係る画像形成装置を示す概略図である。本実施の形態の画像形成装置の一部を拡大した模式図である。放電部材に印加した直流電圧の電圧値と、像保持体の該電圧を印加された領域の表面電位と、の関係を示す線図である。放電部材に印加した重畳電圧に含まれる交流電圧のピークトゥピーク電圧Ｖｐｐと、像保持体の該電圧を印加された領域の表面電位と、の関係を示す模式図である。（Ａ）は、像保持体と放電部材との向かい合う領域を拡大した模式図であり、（Ｂ）は、放電部材に重畳電圧を印加したときに、該放電部材によって帯電された像保持体の表面電位の時間推移を示す概念図である。（Ａ）は、従来の放電部材の表面のブラシ状とされた領域の断面を示す模式図であり、（Ｂ）は、本実施の形態における放電部材の表面の凹凸を示す領域を該領域の外側から見たときの状態を示す模式図である。本実施の形態の画像形成装置の一部を拡大した模式図である。本実施の形態の画像形成装置の一部を拡大した模式図である。本実施の形態の画像形成装置の図１とは異なる形態を示す模式図である。本実施の形態の画像形成装置の図１及び図９とは異なる形態を示す模式図である。本実施の形態の画像形成装置に搭載された像保持体の一例を模式的に示した断面図である。本実施の形態の画像形成装置に搭載された像保持体の一例を模式的に示した断面図である。本実施の形態の画像形成装置に搭載された像保持体の一例を模式的に示した断面図である。本実施の形態の画像形成装置に搭載された像保持体の一例を模式的に示した断面図である。（Ａ）（Ｂ）本実施の形態に係る像保持体の保護層の形成に用いるプラズマ発生装置の一例を示す模式図である。本実施の形態に係る像保持体の保護層の形成に用いるプラズマ発生装置の一例を示す模式図である。実施例において画像形成試験に用いた画像を示す模式図である。実施例において、走行枚数と、像保持体上の放電部材と除去部材との間の領域に付着しているトナー全体におけるプラス極のトナーの割合（ＷＳＴ率）と、の関係を示す線図である。実施例において、走行枚数と、放電部材に保持されたトナーの保持量と、の関係を示す線図である。

以下、一の実施の形態について詳細に説明する。

図１に示すように、本実施の形態の画像形成装置１０には、矢印Ａ方向に回転する像保持体１２が備えられている。

像保持体１２の周辺には、該像保持体１２の回転方向にそって順に、帯電装置１４、露光装置１６、現像装置１８、転写部材２２、及び清掃装置３２が順に設けられている。清掃装置３２は、放電部材３４、及び除去部材３６を含んで構成されている。

なお、清掃装置３２が、本発明の清掃装置に相当し、放電部材３４が、本発明の放電部材に相当し、除去部材３６が、本発明の除去部材に相当する。

帯電装置１４は、像保持体１２表面に接触または非接触で設けられ、像保持体１２の表面を帯電する。帯電装置１４としては、コロトロン帯電器やスコロトロン帯電器が挙げられる。

露光装置１６は、帯電装置１４により帯電された像保持体１２の表面に、形成する対象となる画像の画像データに基づいて変調したレーザ光Ｌを照射して、像保持体１２上に画像データの画像に応じた静電潜像を形成する。

現像装置１８内には、トナーを含む公知の一成分現像剤、またはトナーとキャリアを含む二成分現像剤が貯留されており、これらの現像剤に含まれるトナーによって上記静電潜像を現像してトナー像とする。本実施の形態では、現像装置１８は、シアン（Ｃ）のトナー像を現像する現像器１８Ｃ、マゼンタ（Ｍ）のトナー像を現像する現像器１８Ｍ、イエロー（Ｙ）のトナー像を現像する現像器１８Ｙ、及びブラック（Ｋ）のトナー像を現像する現像器１８Ｋを含んだ構成とされている。例えば、Ｙ色の画像データに対応したトナー像を現像する場合、現像装置１８が回転することにより現像器１８Ｙが像保持体１２に近接し、現像器１８Ｙによる現像処理により像保持体１２上にＹ色のトナー像が形成される。なお、本実施の形態では、現像装置１８は、ロータリー方式である場合を説明するが、この方式に限られず、単色のトナーを供給する現像装置であってもよい。

現像装置１８より像保持体１２の回転方向下流側には、中間転写体２０が設けられている。中間転写体２０は、中間転写体２０の内側の面に接触して配置された支持部材２４Ａ、支持部材２４Ｂ、支持部材２４Ｃ、及び支持部材２４Ｄに巻き掛けられており、矢印Ｂ方向に搬送される。この中間転写体２０と像保持体１２とが接触する部分には転写部材２２が配置されている。転写部材２２は、中間転写体２０の内側に配置され、該内側から中間転写体２０を像保持体１２の外側の面に押しつけるように配置されている。転写部材２２は、像保持体１２の回転方向（図１中、矢印Ａ方向）に対して反対方向（図１中、矢印Ｅ方向）に回転される。この転写部材２２は、中間転写体２０を介して像保持体１２に向かって電圧を印加することで、像保持体１２に保持されていたトナー像を中間転写体２０側へ転写させる。

また、画像形成装置１０には、給紙部材２６が設けられている。この給紙部材２６に装填された記録媒体Ｐは、１枚ずつ給紙部材２６から図示を省略する支持部材によって搬送されて（図１中、矢印Ｃ方向）、転写部２８へ搬送される。

この転写部２８には、中間転写体２０を支持する支持部材２４Ａと、中間転写体２０を介して支持部材２４Ａに向かう方向に圧力を加えるように配置された二次転写部材２８Ａと、が設けられている。二次転写部材２８Ａは、中間転写体２０の回転方向（図１中、矢印Ｂ方向）に対して反対方向に回転される（図１中、矢印Ｄ方向）。すなわち、支持部材２４Ａと、二次転写部材２８Ａと、によって挟まれる領域には、中間転写体２０が挟まれており、記録媒体Ｐは、この領域を通過することで、中間転写体２０からトナー像を転写される。

この転写部２８より、記録媒体Ｐの搬送方向（図１中、矢印Ｃ方向）の下流側には、定着装置３０が配置されている。定着装置３０には、加熱部材３０Ａと、加熱部材３０Ａに押しつけられて配置された支持部材３０Ｂと、が配置されている。記録媒体Ｐが、この加熱部材３０Ａと支持部材３０Ｂとによって挟まれる領域を通過すると、該記録媒体Ｐにトナー像が定着される。トナー像の定着により画像を形成された記録媒体Ｐは、定着装置３０より記録媒体Ｐの搬送方向下流側に配置された図示を省略する排紙部材によって、排紙される。

清掃装置３２は、転写部材２２より像保持体１２の回転方向下流側で、且つ帯電装置１４より像保持体１２の回転方向上流側に設けられている（図１及び図２参照）。

清掃装置３２は、放電部材３４と、除去部材３６と、を含んで構成されている。除去部材３６は、放電部材３４より像保持体１２の回転方向下流側に設けられている。

放電部材３４には、交流電圧と直流電圧とを重畳した重畳電圧を該放電部材３４に印加する電圧印加装置３８が電気的に接続されている。放電部材３４は、前記電圧印加装置３８から重畳電圧を印加されることによって、像保持体１２との間の領域に向きの変化する電界（所謂、振動電界）を形成すると共に、像保持体１２に向かって予め定められた単一の極性の放電を起こし、像保持体１２の回転によって、放電部材３４と像保持体１２との向かい合う領域に突入してくるマイナス極性及びプラス極性のトナーの全てを単一の極性（プラスまたはマイナスの単一の極性）に揃える（詳細後述）。
なお、この重畳電圧に含まれる交流電圧は、周期変化を生じる電圧であればよく、この周期変化が矩形である矩形波にかぎられず、正弦波、三角波等でもよい。

なお、本実施の形態では、放電部材３４は、予め定められた単一の極性として、像保持体１２に向かってマイナス放電を起こす場合を説明するが、プラス放電を起こす構成であってもよい。この場合には、電圧印加装置３８から印加される重畳電圧を調整すればよい。

除去部材３６は、放電部材３４によって極性をマイナス極性に揃えられたトナーを像保持体１２の表面から除去する装置である。この除去部材３６としては、本実施の形態では、図２に示すように、周囲に多数の毛体が植毛されたブラシ形状である場合を説明するが、板状の部材であってもよい。この除去部材３６は、本実施の形態では、円柱状に形成され、像保持体１２の回転方向と反対回りに回転され、像保持体１２との接触部分において互いに逆方向に相対移動するように回転される。この除去部材３６には、この除去部材３６に直流電圧を印加する電源４０が接続されており、電源４０によって直流電圧が印加されることにより、像保持体１２との電位差によって、該像保持体１２上のマイナス極性のトナーを吸着するようになっている。

また、この除去部材３６の周辺には、この除去部材３６の外側の面に接するように、回収部材４２が配置されている。この回収部材４２は、除去部材３６に付着したトナーを回収する。この回収部材４２には、この回収部材４２上に回収されたトナーを掻き落とす板状部材４４が設けられており、回収部材４２に回収されたトナーを回収部材４２から掻き落とすように構成されている。この掻き落とされたトナーは、図示を省略する部材によって清掃装置３２の外部へ搬送される。

ここで、電圧印加装置３８から放電部材３４へ印加される重畳電圧に含まれる交流電圧の電圧波形の振幅の最大から最小までの振幅値（所謂、ｐｅａｋｔｏｐｅａｋ電圧、以下、ピークトゥピーク電圧と称する）Ｖｐｐと、該重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値Ｖｄｃは、下記式（１）及び式（２）に示す関係を満たしている。

上記式（１）及び式（２）中、Ｖｔｈは、像保持体の表面電位が０Ｖのときに、放電部材３４に直流電圧のみが印加されたときに、該直流電圧の印加によって放電部材３４から像保持体１２に向かって放電が開始される電圧値であり、式（１）中、Ｖｐｒは、像保持体１２の表面の放電部材３４に向かい合う領域における、該放電部材３４に重畳電圧が印加される前の該像保持体１２の表面電位を示す。すなわち、Ｖｐｒは、像保持体１２の表面における、放電部材３４に向かい合う領域に突入する前の表面電位を示している。

なお、前記式（１）及び式（２）に示す関係を満たす、とは、像保持体１２の有効画像領域の全領域について、この式（１）及び式（２）に示す関係を満たすことを意味している。なお、この有効画像領域とは、像保持体１２の外側の面の全領域の内の、像保持体１２の搭載された画像形成装置１０において画像を形成しうる最大の大きさの記録媒体の全領域に画像を形成するときにトナー像が保持されうる領域を意味している。

図３には、像保持体１２の表面における、放電部材３４に向かい合う領域に突入する前の表面電位が０Ｖのときに、放電部材３４に直流電圧のみを印加し、該印加電圧を増加させていったときの印加電圧と像保持体１２表面電位との関係が示した。なお、この放電部材３４に直流電圧のみを印加し、該放電部材３４と像保持体１２との間で放電が開始されるときの印加電圧（直流電圧）の電圧値を、放電開始電圧（Ｖｔｈ）と定義する。

図３に示す例では、この放電開始電圧Ｖｔｈは、−６００Ｖであった（図３中、矢印３Ａ参照）。

また、図４には、放電部材３４へ印加する重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値を−５００Ｖとし、この電圧値の直流電圧に周波数１ＫＨｚの交流電圧を重畳した重畳電圧を印加し、該重畳電圧に含まれる交流電圧のピークトゥピーク電圧Ｖｐｐを増加させたときの該Ｖｐｐと、像保持体１２の表面電位（Ｖｈ）と、の関係を示した。
なお、この表面電位（Ｖｈ）とは、像保持体１２の表面に該重畳電圧を印加した後の該像保持体１２の表面の電位を示している。

図４に示されるように、上記放電開始電圧Ｖｔｈ（−６００Ｖ）の絶対値の２倍の値、すなわち１２００Ｖ以上にピークトゥピーク電圧Ｖｐｐを増加させると、像保持体１２の表面電位（Ｖｈ）が、該重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値である−５００Ｖに飽和することがわかる。すなわち、この表面電位（Ｖｈ）は、放電開始電圧Ｖｔｈの絶対値の２倍の値に飽和していく。この飽和した領域では、プラス放電とマイナス放電とが交互に発生しており、飽和される前の領域ではマイナス放電のみが発生している。

そこで、本実施の形態では、電圧印加装置３８から放電部材３４へ印加される重畳電圧に含まれる交流電圧のピークトゥピーク電圧Ｖｐｐを、上記式（１）及び式（２）に示す関係を満たすように調整する。すなわち、図４の飽和する前の領域を積極的に利用している。

また、図５（Ａ）には、像保持体１２と放電部材３４との向かい合う領域を拡大して示した。この向かい合う領域の、像保持体１２の回転方向の上流側には、放電部材３４から像保持体１２への放電が起こる放電領域１２Ｕがある。また、該向かい合う領域の、像保持体１２の回転方向の下流側には、放電部材３４から像保持体１２への放電が起こる放電領域１２Ｌがある。

図５（Ｂ）には、Ｖｔｈ＝−６００Ｖとして、Ｖｄｃ＝−５５０Ｖの直流電圧と、Ｖｐｐ＝−１１００Ｖの矩形波で周波数１ＫＨｚの交流電圧と、を重畳させた重畳電圧を放電部材３４に印加したときの、該放電部材３４により帯電された像保持体１２の表面電位の時間推移の概念を示した。なお、像保持体１２の放電部材３４と向かい合う領域に突入する領域の表面電位（Ｖｐｒ）は０Ｖとした。

該重畳電圧が放電部材３４に印加されると、放電部材３４から像保持体１２に向かってマイナス極の放電が生じる。このとき、像保持体１２の表面電位は、図５（Ｂ）に示すように、放電領域１２Ｕにおける放電部材３４からの断続的なマイナス放電により、断続的にマイナス側に増加し、収束する。このため、該マイナス放電により、像保持体１２上に保持されているトナーのうちのマイナス極性のトナーはさらに帯電量の大きいマイナス極性とされ、プラス極性のトナーはマイナス極性に帯電されることになる。このため、像保持体１２と放電部材３４との向かい合う領域では、ほとんどのトナーがマイナス極性となる。なお、前記式（１）および式（２）に示す関係を満たすときは、放電領域１２Ｌでは放電は発生しない。また、図５（Ｂ）に示すように像保持体１２の表面電位に対して放電部材３４に印加される電圧は振動しているので（すなわち、振動電界が発生しているので）、像保持体１２と放電部材３４の間の電界の向きは変化していることになる。

なお、電圧印加装置３８から放電部材３４へ印加される重畳電圧に含まれる交流電圧のピークトゥピーク電圧Ｖｐｐが、前記式（２）を満たさない場合には、前記式（１）を満たす満たさないにかかわらず、放電領域１２Ｕと放電領域１２Ｌの両方で、放電部材３４から像保持体１２に向かってプラス極性の放電とマイナス極性の放電が交互に発生し、像保持体１２と放電部材３４との向かい合う領域のトナーが、単一の極性に帯電されず、両電極のトナーが存在することとなる。
また、前記式（１）を満たさない場合には、前記式（２）を満たしたとしても、放電は発生せずトナーの極性を揃えることができない。

なお、放電部材３４から単一の極性としてプラス放電を生じさせる場合にも、上記放電開始電圧Ｖｔｈ、重畳電圧に含まれる交流電圧のピークトゥピーク電圧Ｖｐｐ、及び重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値Ｖｄｃや極性を前記式（１）及び前記式（２）を満たす範囲で調整すればよい。

上述のように、本実施の形態の画像形成装置１０では、電圧印加装置３８から放電部材３４へ印加される重畳電圧に含まれる交流電圧のピークトゥピーク電圧Ｖｐｐと、該重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値Ｖｄｃと、が前記式（１）及び前記式（２）に示す関係を満たすことで、像保持体１２と放電部材３４との間の電界の向きが変化し、且つ予め定められた極性（マイナス及びプラスの何れか一方）の放電が生じることとなる。

このように、放電部材３４から像保持体１２にむかって、マイナス及びプラスの何れか一方の単一の極性の放電が生じるため、像保持体１２上にプラス極及びマイナス極の両極性のトナーが混在して付着していたとしても、該トナーの極性が、マイナスまたはプラスの何れかの単一の極性に統一されて、帯電が調整される。なお、「帯電が調整される」とは、像保持体１２上のトナーの極性が単一の極性（プラス極またはマイナス極）に調整されることを示している。

また、電圧印加装置３８から放電部材３４へ、前記式（１）及び前記式（２）の関係を満たす重畳電圧が印加されることで、像保持体１２と放電部材３４との間に形成される電界の向きが変化することから、該像保持体１２と放電部材３４との間には、振動電界が形成されることとなる。このため、該振動電界に応じて、像保持体１２と放電部材３４との間でトナーが振動して、放電部材３４に付着したり離れたりが繰り返される。このため、該トナーが放電部材３４に付着したままとなることで、放電部材３４が汚れ、上記「帯電を調整」する能力が低下することが抑制される。

そして、この放電部材３４より像保持体１２の下流側に設けられた除去部材３６に、放電部材３４によって単一の極性とされたトナーを引きつける電圧を印加することで、像保持体１２側から除去部材３６側へトナーが移行し、像保持体１２の表面からトナーが除去される。

例えば、上記図５に挙げた例において、除去部材３６に−２００Ｖの直流電圧を印加すると、放電部材３４に帯電されたあとの像保持体１２の表面電位は−５００Ｖとなっているため、この電位差によって、除去部材３６側にマイナスの単一の極性とされたトナーが移行し、像保持体１２の表面から除去される。

ここで、放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が平坦な面状である従来の放電部材を用いた場合には、該放電部材はトナーで汚れ難い。これは、該面が平坦な面状である事や、上記の振動電界の効果によるものと考えられる。このため、放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が平坦な面状である従来の放電部材を用いた場合には、帯電を調整する能力の低下が抑制されると考えられる。

しかしながら、像保持体１２の表面には、放電によって空気中の酸素や窒素などを化学変化させたオゾンや窒素酸化物等の放電生成物が付着するが、像保持体１２に向かい合う領域が平坦な面状である従来の放電部材では、トナーを保持することが出来ないため、この放電生成物を除去することは難しい。

一方、周囲に多数の繊維状の部材が植毛されたブラシ形状の放電部材も知られている（図６（Ａ）参照）。しかし、このような、像保持体１２に向かい合う領域が面状ではないブラシ形状の従来の放電部材３５では、放電部材３５と像保持体１２との間に形成される電界が、各繊維状の部材７０Ａの先端部には形成されるものの、ブラシ形状７１を構成する各繊維状の部材７０Ａ間によって形成される領域の底部に近い領域ほど、放電部材３４と像保持体１２との間に形成される電界が形成されにくいことが分かった。このため、ブラシを構成する各繊維状の部材７０Ａによって形成される凹部の内部に入り込んだトナーは、該内部から外部へ出にくい状態となって貯留されると考えられる。このため、このブラシ形状の従来の放電部材３５では、内部にトナーを保持しやすいことから、帯電を調整する能力が低下すると考えられる。

そこで、本実施の形態の放電部材３４では、少なくとも像保持体１２に向かい合う領域が凹凸を有する面状とされている。なお、この「向かい合う領域」とは、像保持体１２と放電部材３４とが向かい合う領域であればよく、接触している領域及び非接触の領域を含んでおり、必ずしも接触した領域のみを指すものではない。なお、非接触である場合には、放電部材３４と像保持体１２の表面との距離は、像保持体１２との間に上記振動電界が形成され、且つ像保持体１２上のトナーが放電部材３４の表面に保持され、また保持されたトナーが像保持体１２側に戻る程度の距離であればよい。
また、この「凹凸を有する面状」とは、放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が凹凸を有する面であることを示している。

この放電部材３４の凹凸を有する面状の領域の凹凸は、詳細は後述するが、放電部材３４の該凹凸を有する領域にトナーを保持し、且つ像保持体１２との間に形成された振動電界によって該保持したトナーを放出しうる、という双方の機能が実現される程度の凹凸である。

放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が、上記凹凸を有する面状とされ、且つ、電圧印加装置３８から放電部材３４に印加される電圧が前記式（１）及び前記式（２）を満たす重畳電圧とされていることで、像保持体１２上のトナーが、像保持体１２上の放電生成物を除去しうる程度に放電部材３４に保持され、また、放電部材３４の帯電を調整する能力の低下が生じない程度に保持されると考えられる。

従って、放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が、凹凸を有する面状とされていることで、放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が、凹凸を有する面状ではなく、且つ電圧印加装置３８から放電部材３４に印加される電圧が前記式（１）及び前記式（２）を満たす重畳電圧ではない場合に比べて、像保持体１２の表面に付着した放電生成物を除去する能力に優れ、且つ帯電を調整する能力の低下も抑制された清掃装置３２が提供されると考えられる。

本実施の形態では、放電部材３４は、図２に示すように、円柱状で導電性の基体３４Ｃ上に、弾性層３４Ｂ、及び凹凸部材３４Ａが順に設けられた構成である場合を説明する。なお、放電部材３４は、少なくとも像時体１２に向かい合う領域が凹凸を有する構成とされていればよく、弾性層２３Ｂを設けない構成であってもよい。なお、本実施の形態において、「導電性」及び「導電」とは、体積抵抗率が１０^１２Ω・ｃｍ未満を意味している。

弾性層３４Ｂは、導電性を有し、弾性を有する層である。この弾性層３４Ｂとしては、導電性を有するウレタンスポンジ等が挙げられる。なお、放電部材３４は、弾性層３４Ｂを有さない構成であってもよいが、弾性層３４Ｂを有する構成であるほうが、その上に設けられた上記凹凸部材３４Ａが、像保持体１２の外側の面に沿って接触することから良い。

凹凸部材３４Ａは、少なくとも像保持体１２に向かい合う領域に設けられた凹凸を有する部材である。この凹凸部材３４Ａの像保持体１２に向かい合う面が、前述した、「放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域」に相当する。すなわち、この凹凸部材３４Ａの像保持体１２に向かい合う面が、前述の「凹凸を有する面状とされた領域」に相当する。
このため、放電部材３４が棒状に構成されており、軸方向に回転させる構成とする場合には、その外側の面を覆うように凹凸部材３４Ａを設けた構成とすればよい。また、放電部材３４を四角柱として構成して回転させずに画像形成装置１０に固定する場合には、該四角柱の像保持体１２に向かいあう側の面に、この凹凸部材３４Ａを設けた構成とすればよい。

この凹凸部材３４Ａの表面の凹凸は、前述のように、該凹凸を有する領域にトナーを保持し、且つ該保持したトナーを像保持体１２との間に形成された振動電界によって放出しうる、という双方の機能が実現される程度の凹凸である。具体的には、この凹凸部材３４Ａの表面の凹凸は、電圧印加装置３８から上記重畳電圧を印加されることで、放電部材３４と像保持体１２との間に振動電界が形成されたときに、この形成された振動電界が凹凸部材３４Ａの各凹み部内の底部にまで形成される程度の凹凸であればよい。このため、この凹凸の程度は、像保持体１２上に保持されるトナーの大きさや、重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値や、該重畳電圧に含まれる交流電圧の電圧波形の振幅の最大と最小との差（所謂、ピークトゥピーク電圧）等に応じて異なる。
一例としては、この凹凸部材３４Ａの表面（像保持体１２に向かい合う領域）の算術平均表面粗さＲａは、１０μｍ以上５００μｍ以下の範囲や、５０μｍ以上２００μｍ以下の範囲が挙げられる。

なお、この算術平均表面粗さＲａは、東京精密社製（サーフコム１４００Ａ−３ＤＦ）で、ＪＩＳＢ０６０１（２００１）に準じて測定される。詳しくは、触針先端２μｍＲ、測定速度０．３ｍｍ／ｓ、カットオフ値０．８ｍｍ、測定長さ４．０ｍｍの測定条件にて、周方向３箇所×軸方向３箇所の計９箇所を軸方向に向かい測定し、平均値を計算して求められるものである。
ただし、凹凸部材３４Ａが後述する繊維から成る布部材等の場合には、上記触針が繊維にひっかかってしまい測定できない場合があるので、その場合は、ＫＥＹＥＮＣＥ社製のレーザー顕微鏡ＶＫ８５１０にて非接触にて粗さＲａを測定した。

上記規定を満たす凹凸部材３４Ａとしては、具体的には、導電性を有するゴムを研磨にて凹凸をつけた部材や、導電性を有するゴムの表層に微粒子を分散させて凹凸をつけた部材や、導電性を有する布状部材が挙げられる。この布状部材としては、導電性の繊維の集合体が挙げられ、導電性の繊維の集合体としては、導電性の繊維を寄せ集めた塊状のものや、導電性の繊維を配列したもの、導電性の繊維をよって成る糸を編成した編み物、或いは製織してなる織物状のもの、繊維同士が一部有着したり互いに絡み合ったりしてなる不織布状のもの、ウェブ状のもの等が挙げられる（図６（Ｂ）参照）。なお、図６（Ｂ）中、８０は、繊維を表し、７２は、トナーを表す。

この導電性の繊維の集合体としては、具体的には、編み物、織り物、不織布、高分子フィルム、布、紙等が挙げられる。これらの中でも、繊維径と、繊維間の距離とが独立に設計されることから、編み物や織り物が特に良い。

この導電性の繊維の集合体を構成する導電性の繊維としては、例えば、ポリエチレン、ポリスチレン、ポリエステル、ポリアクリル、ポリプロピレン、およびポリテトラフルオロエチレン（ＰＴＦＥ）等のフッ素化樹脂等から構成される繊維の表面に、コロナ帯電等により帯電処理を施したものや、該繊維の表面を、導電性を有する材料によって被覆したものが挙げられる。この導電性を有する材料としては、被覆対象の繊維状の部材の構成材料等に応じて適宜選択すればよい。

導電性の繊維の集合体を構成する繊維の径としては、０．１μｍ以上２０μｍ以下の範囲、０．１μｍ以上３μｍ以下の範囲が挙げられる。また、導電性の繊維の集合体の密度は、上述のように、繊維によって形成された凹凸が、放電部材３４（詳細には、放電部材３４の凹凸部材３４Ａ）と像保持体１２の外側の面との間に電界が形成されたときに、この形成された電界が凹凸部材３４Ａの各凹み部内の底部にまで形成される程度の凹凸となる観点から調整されればよい。この密度としては、例えば、繊維目付け１０ｇ／ｍ^２以上７０ｇ／ｍ^２以下の範囲や、２０ｇ／ｍ^２以上５０ｇ／ｍ^２以下の範囲が挙げられる。

なお、本実施の形態の、放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が凹凸を有する面状とされ、電圧印加装置３８から放電部材３４に印加される電圧が前記式（１）及び前記式（２）を満たす重畳電圧である画像形成装置１０の像保持体１２の構成としては、どのような構成であってもよいが、特に、耐摩耗性等を向上させるために表面に保護層を用いた像保持体１２においては、表面が削れにくいことから放電生成物が除去されにくい。

しかし、本実施の形態の清掃装置３２によれば、上述のように、放電部材３４の像保持体１２に向かい合う領域が凹凸を有する面状とされ、且つ電圧印加装置３８から放電部材３４に印加される電圧が前記式（１）及び前記式（２）を満たす重畳電圧である。このため、本実施の形成の清掃装置３２によれば、表面に保護層の設けられた像保持体１２についても、放電生成物を除去し、且つ帯電を調整する能力の低下も抑制されると考えられる。

表面に保護層を有する像保持体１２としては、表面に架橋構造を有する樹脂層を保護層として備えた像保持体や、下記構成の像保持体１２が挙げられる。本実施の形態の清掃装置３２によれば、下記構成の像保持体１２に適用した場合であっても、効果的に、放電生成物を除去し、且つ帯電を調整する能力の低下も抑制されると考えられる。

このような特性を有する像保持体１２としては、基体と、感光層と、酸素及びガリウムを含有する保護層であって、外側に存在する第１の領域、及び、前記第１の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第１の領域に比べて原子数比〔酸素／ガリウム〕（以下、「原子数比〔Ｏ／Ｇａ〕」とも表記する）が大きい第２の領域を有する保護層と、をこの順に有するものが挙げられる。
即ち、上記保護層は、層厚方向についての原子数比〔酸素／ガリウム〕の分布において、外側に存在する第１の領域と、前記第１の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第１の領域に比べて原子数比〔酸素／ガリウム〕が大きい第２の領域と、を有する構成とされている。上記保護層は、必要に応じ、第１の領域及び第２の領域以外の領域を有していてもよい。

一般に、像保持体の感光層表面に、酸素及びガリウムを有する保護層を形成すると、保護層形成により像保持体の感度が低下する傾向がある。特に、前記保護層において、原子数比〔酸素／ガリウム〕を小さくし、層の抵抗を低くし残留電位を小さくすると、可視域全体での光吸収のため層が着色し、感度の低下が大きくなる傾向がある。ところが、酸素及びガリウムを含む領域（第２の領域）の基体から離れた側に、相対的に原子数比〔酸素／ガリウム〕が小さい領域（第１の領域）を配置させることで、保護層形成による感度の低下が抑制されると考えられる。このため、像保持体１２を、上記構成とすることにより、保護層が、外側に存在する第１の領域よりも原子数比〔酸素／ガリウム〕が大きい第２の領域を有しない場合と比較して、保護層形成による感度の低下が抑制され、また、残留電位が低減されると考えられる。

なお、上述のように、この構成の像保持体１２は、耐摩耗性や感度の低下の抑制の観点から望ましいものの、表面が硬いことから、表面の放電生成物を像保持体１２の表面と共に削り取ることで除去することは難しい。しかしながら、本実施の形態の清掃装置３２によれば、このような構成の像保持体１２であっても、効果的に、放電生成物を除去しつつ、且つ、帯電を調整する能力の低下も抑制された清掃装置３２が提供されると考えられる。

なお、第１の領域及び第２の領域は、それぞれ、隣接する領域との界面が明確であっても、隣接する領域との界面が不明確であってもよい。
以下、隣接する領域との界面が明確である場合の第１の領域を「第１の層」といい、隣接する領域との界面が明確である場合の第２の領域を「第２の層」という。
即ち、前記保護層は、外側に存在する第１の層と、前記第１の層よりも基体に近い側に存在し、前記第１の層に比べて原子数比〔酸素／ガリウム〕が大きい第２の層と、を有する形態であってもよい。

また、保護層が前記第１の層と前記第２の層とを有する場合、保護層形成による残留電位増加の抑制及び感度の低下抑制の観点から、前記第１の層と前記第２の層との間に、原子数比〔酸素／ガリウム〕が、前記第１の層の原子数比〔酸素／ガリウム〕以上であり前記第２の層の原子数比〔酸素／ガリウム〕以下である中間層を有する形態であってもよい。

保護層の組成や、原子数比〔酸素／ガリウム〕は、層厚方向の分布も含め、例えば、ラザフォードバックスキャタリング（ＲＢＳ）により求められる。
ＲＢＳは、例えば、加速器としてＮＥＣ社３ＳＤＨＰｅｌｌｅｔｒｏｎ、エンドステーションとしてＣＥ＆Ａ社ＲＢＳ−４００、システムとして３Ｓ−Ｒ１０が用いられる。解析にはＣＥ＆Ａ社のＨＹＰＲＡプログラム等が用いられる。
なお、ＲＢＳの測定条件は、Ｈｅ＋＋イオンビームエネルギーは２．２７５ｅＶ、検出角度１６０°、入射ビームに対してＧｒａｚｉｎｇＡｎｇｌｅは１０９°である。

ＲＢＳ測定は、具体的には以下のようにして行う。
まず、Ｈｅ＋＋イオンビームを試料に対して垂直に入射し、検出器をイオンビームに対して、１６０°にセットし、後方散乱されたＨｅのシグナルを測定する。検出したＨｅのエネルギーと強度から組成比と膜厚を決定する。組成比及び膜厚を求める精度を向上させるために二つの検出角度でスペクトルを測定してもよい。深さ方向分解能や後方散乱力学の異なる二つの検出角度で測定しクロスチェックすることにより精度が向上する。
ターゲット原子によって後方散乱されるＨｅ原子の数は、１）ターゲット原子の原子番号、２）散乱前のＨｅ原子のエネルギー、３）散乱角度の３つの要素により決まる。
測定された組成から密度を計算によって仮定して、これを用いて層厚を算出する。密度の誤差は２０％以内である。

なお、感光層上に第２の領域と第１の領域とが連続して形成されている場合でも、上記測定方法により表層部分（第１の領域）の破壊を抑制しつつ、第１の領域、第２の領域の各々の元素組成が測定される。
また、保護層全体中における各元素の含有量については、例えば、二次電子質量分析法やＸＰＳ（Ｘ線光電子分光法）で測定される。

また、保護層は、必要に応じ、第１の領域及び第２の領域以外のその他の領域を有していてもよい。例えば、前記第２の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第２の領域に比べて原子数比〔酸素／ガリウム〕が小さい第３の領域を有していてもよい。
第３の領域を有する形態では、保護層の層厚方向についての原子数比〔酸素／ガリウム〕の分布は、外側の第１の領域から、一旦、原子数比〔酸素／ガリウム〕が大きくなり（第２の領域）、再び原子数比〔酸素／ガリウム〕が小さくなり（第３の領域）、そして感光層に至る分布となる。
前記第３の領域を有する形態によれば、繰り返し使用時における残留電位が抑制される。即ち、像保持体の繰り返し特性が向上すると考えられる。また、前記第３の領域は、他の領域との界面が明確な、第３の層であってもよい。

また、一般に、保護層の層厚を厚くすると像保持体としての耐久性が向上する反面、保護層形成による感度の低下が大きくなる傾向がある。上記保護層は、前述の通り、保護層形成による感度の低下を抑制する効果を有するため、保護層の層厚が厚い形態に好適である。即ち、本実施形態によれば、層厚を厚くしたときでも、保護層形成による感度の低下が抑制されると考えられる。
保護層の層厚は、耐久性向上と、保護層形成による感度の低下抑制と、を両立させる観点から、１．０μｍ以上、１．５μｍ以上、２．０μｍ以上、または２．５μｍ以上が挙げられる。保護層の層厚の上限には特に限定はないが、保護層形成による感度低下と、残留電位上昇と、をより低減する観点から、６．０μｍが挙げられる。

像保持体１２の耐久性の確認方法としては、例えば、画像形成を繰り返し行った際の像保持体の表面の傷の有無を調べる方法が挙げられる（傷が少ない程、耐久性が高い）。
また、画像形成を繰り返し行った際、形成された画像中に、像保持体１２の表面の傷に起因する色筋状の画像欠陥があるかどうかを調べてもよい（色筋状の画像欠陥が少ない程、耐久性が高い）。

また、保護層における第２の領域の、原子数比〔酸素／ガリウム〕としては、１．３０以上１．５０以下が挙げられる。この範囲であれば、第２の領域の着色が抑制され（即ち、透明性が向上し）、紫外から赤外までの波長領域（例えば、３５０ｎｍ以上８００ｎｍ以下の波長領域）の光の透過率が向上すると考えられる。その結果、帯電された像保持体を除電するために、像保持体１２外部から光を照射した際、保護層における該光の吸収が抑制されると考えられる。

更に、第２の領域における原子数比〔酸素／ガリウム〕を１．３０以上１．５０以下としても、第２の領域よりも基体から離れた側には、前述の第１の領域が存在するため、前述のとおり残留電位は抑制されると考えられる。

また、保護層における第２の領域は、更に、亜鉛（Ｚｎ）を含有することが良い。第２の領域が亜鉛を含有することにより、感度の低下がより抑制され、残留電位が更に抑制されると考えられる。これは、第２の領域に亜鉛を含有させることにより、該第２の領域の電荷輸送性が向上するためと推測される。ただし、本実施形態はこの原因によって限定されない。
残留電位抑制の観点から、第２の領域における亜鉛の含有量としては、０．４原子％以上２５原子％以下、０．５原子％以上２０原子％以下、または１０原子％以上２０原子％以下が挙げられる。
ここで、第２の領域における亜鉛の含有量は、第２の領域が、ガリウムと酸素と亜鉛とからなる場合には、これらの合計の原子数に対する亜鉛の原子数の割合（％）である。
また、感度の低下抑制の観点から、第２の領域における原子数比〔酸素／（ガリウム＋亜鉛）〕としては、１．００以上１．４０以下が挙げられる。
また、感度の低下抑制の観点から、第２の領域における原子数比〔亜鉛／ガリウム〕は、１．００以下、０．０１以上０．５０以下、または０．２０以上０．５０以下が挙げられる。また、感度の低下抑制の観点から、第２の領域における亜鉛の含有量は、０．４原子％以上２５原子％以下、０．５原子％以上２０原子％以下、または１原子％以上１５原子％以下が挙げられる。

以下、上記構成の像保持体１２について、図１１〜図１４を参照して説明するが、本実施形態は図１１〜図１４によって限定されることはない。
図１１は、本実施形態の像保持体１２の層構成の一例を示す模式断面図である。
図１１中、１は基体、２は感光層、２Ａは電荷発生層、２Ｂは電荷輸送層、３は保護層、３Ｂは第１の領域、３Ａは第２の領域を表す。４は下引層である。
図１１に示す像保持体１２は、基体１上に、下引層４、電荷発生層２Ａ、電荷輸送層２Ｂ、保護層３がこの順に積層された層構成を有し、感光層２は電荷発生層２Ａおよび電荷輸送層２Ｂの２層から構成される。
保護層３は、外側に存在する第１の領域３Ｂ、及び、前記第１の領域３Ｂよりも前記基体１に近い側に存在する第２の領域３Ａを有して構成されている。
図１１では、図示の都合上、第１の領域３Ｂと第２の領域３Ａとの境界が明確となっている（即ち、第１の領域３Ｂが第１の層であり、第２の領域３Ａが第２の層である形態となっている）が、この境界は明確であることに限定されない。下記、図１２及び図１３中の第１の領域３Ｂと第２の領域３Ａとの境界、図１３中の第２の領域３Ａと第３の領域３Ｃとの境界についても同様である。

図１２は、本実施形態の像保持体１２の層構成の他の例を示す模式断面図であり、図１２中、６は感光層を表し、他は、図１１中に示したものと同様である。
図１２に示す像保持体１２は、基体１上に、下引層４、感光層６、保護層３がこの順に積層された層構成を有し、感光層６は、図１１に示す電荷発生層２Ａおよび電荷輸送層２Ｂの機能が一体となった層である。
なお、感光層２及び感光層６は、有機高分子から形成されたものでもよいし、無機材料から形成されたものでもよいし、それらが組み合わされたものでもよい。

図１３は、本実施形態の像保持体の層構成の他の例を示す模式断面図であり、図１３中、５３は保護層を、３Ｂは第１の領域を、３Ａは第２の領域を、３Ｃは第３の領域を、それぞれ表し、他は、図１１中に示したものと同様である。
図１３に示す像保持体１２は、基体１上に、下引層４、感光層２、第３の領域３Ｃ、第２の領域３Ａ、第１の領域３Ｂがこの順に積層された層構成を有している。
保護層５３は、外側に存在する第１の領域３Ｂ、前記第１の領域３Ｂよりも前記基体１に近い側に存在する第２の領域３Ａ、及び、第２の領域よりも前記基体１に近い側に存在する第３の領域３Ｃ、を有して構成されている。

図１４は、本実施形態の像保持体１２の層構成の他の例を示す模式断面図であり、図１４中、６３は保護層を、５Ｂは第１の層を、５Ｃは第２の層を、５Ａは中間層を、それぞれ表し、他は、図１１中に示したものと同様である。
図１４に示す像保持体は、基体１上に、下引層４、感光層２、第２の層５Ｃ、中間層５Ａ、第１の層５Ｂがこの順に積層された層構成を有している。
保護層６３は、外側に存在する第１の層５Ｂ、前記第１の層５Ｂよりも前記基体１に近い側に存在する第２の層５Ｃ、第１の層５Ｂと第２の層５Ｃとの間に存在する中間層５Ａを有して構成されている。
図１４に示す像保持体は、更に、感光層２と第２の層５Ｃとの間に、前述の第３の領域を有していてもよい。

以下、本実施形態の像保持体１２の構成要素である、保護層、感光層、基体について説明する。

上記保護層は、前述のとおり、酸素（Ｏ）及びガリウム（Ｇａ）を含有する層であり、基体上に設けられた感光層の更に上に設けられる層である。
前記保護層は、例えば、像保持体１２の表面の傷を抑制すること、研磨バラツキを抑制すること、窒素酸化物などの吸着を抑制すること、オゾンや窒素酸化物による酸化雰囲気に対する耐性を向上すること、等の目的で設けられる層である。保護層は、透明性が高く緻密で硬度に優れた膜であることが良い。

この保護層は、表面電荷を表面に保持しても、また内部に保持するものでもよい。また表面電荷を積極的に注入させるものでもよい。保護層の内部に電荷を注入する場合には感光層との界面に電荷が保持される構成を有することが良い。また、負帯電で保護層が電子を注入する場合には正孔輸送層の表面が電荷トラップの機能を果たしてもよいし、電荷注入阻止とトラップのための層を設けてもよい。正帯電性の場合にも同様に構成される。

上記保護層は、酸素（Ｏ）及びガリウム（Ｇａ）を含有する、微結晶膜、多結晶膜、非晶質膜などの非単結晶膜であることが良い。これらの中で非晶質は表面の平滑性で良いが、微結晶膜は硬度の点で良い。
さらに、保護層の成長断面は柱状構造をとっていてもよいが、滑り性の観点からは平坦性の高い構造が好ましく、非晶質が良い。
感光層との密着性を高めつつ、表面の滑りを良くするためには、感光層との界面側の領域（例えば、第２の領域）を微結晶膜とし、表面側の領域（例えば、第１の領域）を非晶質膜としてもよい。
保護層中には、さらに導電型の制御のために、例えば、ｎ型の場合、Ｃ、Ｓｉ、Ｇｅ、Ｓｎから選ばれる１つ以上の元素を含んでいてもよい。また、例えば、ｐ型の場合、Ｎ、Ｂｅ、Ｍｇ、Ｃａ、Ｓｒから選ばれる１つ以上の元素を含んでいてもよい。

また、前記保護層は、酸素（Ｏ）及びガリウム（Ｇａ）以外に、水素及びハロゲン元素の少なくとも１種を含むことが良い。
保護層が、微結晶、多結晶、非晶質の場合には、結合欠陥や転位欠陥や結晶粒界の欠陥などが多くなる傾向があるが、層中に水素やハロゲン元素を含むことで、結合欠陥の不活性化が行われるため良い。
水素やハロゲン元素は、結晶内の結合欠陥や結晶粒界の欠陥などに取り込まれ、電気的な補償を行う。このため、光キャリア発生やキャリアの拡散や移動に関係する電荷の保持が少なくなり、反応活性点が少なくなり、より安定な保護層が構成されると考えられる。
保護層中における「水素及びハロゲン元素の少なくとも１種」の含有量は、例えば、５原子％以上２５原子％以下、または１０原子％以上２５原子％以下である。

保護層中における水素の含有量は、例えば、ハイドロジェンフォワードスキャタリング（ＨＦＳ）により絶対値を測定することにより求める。また、赤外吸収スペクトルによって推定してもよい。
ＨＦＳは、加速器としてＮＥＣ社の３ＳＤＨＰｅｌｌｅｔｒｏｎを用い、エンドステーションとしてＣＥ＆Ａ社のＲＢＳ−４００を用い、システムとしてＣＥ＆Ａ社の３Ｓ−Ｒ１０を用いる。
解析にはＣＥ＆Ａ社のＨＹＰＲＡプログラムを用いる。

ＨＦＳの測定条件は、以下の通りである。
Ｈｅ＋＋イオンビームエネルギー：２．２７５ｅＶ
検出角度１６０°入射ビームに対してＧｒａｚｉｎｇＡｎｇｌｅ３０°である。

ＨＦＳ測定は、Ｈｅ＋＋イオンビームに対して検出器が３０°に、試料が法線から７５°になるようにセットすることにより、試料の前方に散乱する水素のシグナルを拾う。この時検出器をアルミ箔で覆い、水素とともに散乱するＨｅ原子を取り除くことがよい。定量は参照用試料と被測定試料との水素のカウントを阻止能で規格化した後に比較することによっておこなう。参照用試料としてＳｉ中にＨをイオン注入した試料と白雲母を使用する。
白雲母は水素濃度が６．５原子％であることが知られている。
最表面に吸着しているＨは、例えば、清浄なＳｉ表面に吸着しているＨ量を差し引くことによって補正を行う。

−第１の領域−
本実施形態における第１の領域は、保護層のうち、外側（支持体から離れた側）に存在する領域である。
第１の領域の組成には特に限定はないが、例えば、ガリウム及び酸素を含有する組成が挙げられる。
第１の領域がガリウム及び酸素を含有する場合、原子数比〔Ｏ／Ｇａ〕は、１．００以上１．３５未満、または１．１０以上１．３０以下である。
また、第１の領域は、像保持体の感度の低下をより効果的に低減する観点から、水素を含んでいてもよい。
第１の領域における水素の含有量は、５原子％以上２５原子％以下、または１０原子％以上２５原子％以下である。その他、第１の領域の望ましい形態は、保護層の望ましい形態として前述したとおりである。

第１の領域は、前述のとおり、導電型の制御のためにｎ型の元素やｐ型の元素を含むことがあるが、この場合、第１の領域を、電荷注入阻止層としてもよいし、電荷注入層としてもよい。電荷注入層とした場合には、第２の領域や感光層表面で電荷がトラップされる。負帯電の場合、ｎ型層は電荷注入層として機能し、ｐ型層は電荷注入阻止層として機能する。正帯電の場合、ｎ型層は電荷注入阻止層として機能し、ｐ型層は電荷注入層として機能する。

−第２の領域−
第２の領域は、保護層のうち、前記第１の領域よりも基体に近い側に存在し、前記第１の領域に比べて原子数比〔酸素／ガリウム〕が大きい領域である。
第２の領域の組成は、前述の通り、ガリウム及び酸素（及び、必要に応じ亜鉛）を含有する組成である。第２の領域は、更に、像保持体の感度の低下をより効果的に低減する観点から、水素を含んでいてもよい。
第２の領域における水素の含有量は、５原子％以上２５原子％以下、または１０原子％以上２５原子％以下である。その他、第２の領域の望ましい形態は、保護層の望ましい形態として前述したとおりである。

−第３の領域−
第３の領域は、保護層中、必要に応じて設けられる領域であり、前記第２の領域よりも基体に近い側に（好ましくは感光層と接して）存在する領域であり、前記第２の領域に比べて原子数比〔酸素／ガリウム〕が小さい領域である。
第３の領域の組成には特に限定はないが、例えば、ガリウム及び酸素を含有する組成が挙げられる。第３の領域がガリウム及び酸素を含有する場合、原子数比〔Ｏ／Ｇａ〕は、例えば、１．００以上１．４０未満、または１．１０以上１．３５以下である。
また、第３の領域は、像保持体の感度の低下をより効果的に低減する観点から、水素を含んでいてもよい。
第３の領域における水素の含有量は、５原子％以上２５原子％以下、または１０原子％以上２５原子％以下である。その他、第３の領域の好ましい形態は、保護層の好ましい形態として前述したとおりである。

−中間層−
中間層は、保護層中、必要に応じて設けられる層であり、保護層が第１の層と第２の層とを有する場合において、前記第１の層と前記第２の層との間に、原子数比〔酸素／ガリウム〕が前記第１の層の原子数比〔酸素／ガリウム〕以上であり前記第２の層の原子数比〔酸素／ガリウム〕以下である組成で設けられる層である。
中間層の組成は、ガリウム及び酸素（及び、必要に応じ亜鉛）を含有する組成である。
中間層は、更に、像保持体の感度の低下をより効果的に低減する観点から、水素を含んでいてもよい。中間層における水素の含有量は、５原子％以上２５原子％以下、または１０原子％以上２５原子％以下である。その他、中間層の好ましい形態は、保護層の好ましい形態として前述したとおりである。

本実施形態における保護層は、第１の領域、第２の領域、第３の領域、中間層以外にも、必要に応じ、その他の層又は領域を有していてもよい。

上記保護層の形成には、プラズマＣＶＤ（ＣｈｅｍｉｃａｌＶａｐｏｒＤｅｐｏｓｉｔｉｏｎ）法、有機金属気相成長法、分子線エキタピシー法、蒸着、スパッタリング等の公知の気相成膜法が利用される。

図１５は、図１１〜図１４に示す像保持体１２の保護層の形成に用いる成膜装置の一例を示す概略模式図であり、図１５（Ａ）は、成膜装置を側面から見た場合の模式断面図を表し、図１５（Ｂ）は、図１５（Ａ）に示す成膜装置のＡ１−Ａ２間における模式断面図を表す。図１５中、１００は成膜室、１１０は排気口、１２０は基材回転部、１３０は基材支持部材、１４０は基体、１５０はガス導入管、１６０はガス導入管１５０Ａから導入したガスを噴射する開口を有するシャワーノズル、１７０はプラズマ拡散部、１８０は高周波電力供給部、１９０は平板電極、２００はガス導入管、２１０は高周波放電管部である。

図１５に示す成膜装置において、成膜室１００の一端には、不図示の真空排気装置に接続された排気口１１０Ａが設けられており、成膜室１００の排気口１１０Ａが設けられた側と反対側に、高周波電力供給部１８０、平板電極１９０Ａおよび高周波放電管部２１０からなるプラズマ発生装置が設けられている。
このプラズマ発生装置は、高周波放電管部２１０と、高周波放電管部２１０内に配置され、放電面が排気口１１０Ａ側に設けられた平板電極１９０Ａと、高周波放電管部２１０外に配置され、平板電極１９０Ａの放電面と反対側の面に接続された高周波電力供給部１８０とから構成されたものである。なお、高周波放電管部２１０には、高周波放電管部２１０内にガスを供給するためのガス導入管２００が接続されており、このガス導入管２００のもう一方の端は、不図示の第１のガス供給源に接続されている。

なお、図１５に示す成膜装置に設けられたプラズマ発生装置の代わりに、図１６に示すプラズマ発生装置を用いてもよい。図１６は、図１５に示す成膜装置において利用されるプラズマ発生装置の他の例を示す概略模式図であり、プラズマ発生装置の側面図である。図１６中、２２０が高周波コイル、２３０が石英管を表し、２００は、図１５中に示すものと同様である。このプラズマ発生装置は、石英管２３０と、石英管２３０の外周面沿って設けられた高周波コイル２２０とからなり、石英管２３０の一方の端は成膜室１００（図１６中、不図示）と接続されている。また、石英管２３０のもう一方の端には、石英管２３０内にガスを導入するためのガス導入管２００が接続されている。

図１５において、平板電極１９０Ａの放電面側には、放電面と略平行な棒状のシャワーノズル１６０が接続されており、シャワーノズル１６０の一端は、ガス導入管１５０Ａと接続されており、このガス導入管１５０Ａは成膜室１００外に設けられた不図示の第２のガス供給源と接続されている。
また、成膜室１００内には、基材回転部１２０が設けられており、円筒状の基材１４０が、シャワーノズルの長手方向と基材１４０の軸方向とが対面するように基材支持部材１３０を介して基材回転部１２０に取りつけられるようになっている。成膜に際しては、基材回転部１２０が回転することによって、基材１４０が周方向に回転する。なお、基材１４０としては、例えば、予め感光層まで積層された像保持体、感光層上に第２の領域までが積層された像保持体、感光層上に第３の領域までが積層された像保持体、等が用いられる。

保護層の形成は、例えば、以下のように実施する。
まず、酸素ガス（または、ヘリウム（Ｈｅ）希釈酸素ガス）、ヘリウム（Ｈｅ）ガス、及び必要に応じ水素（Ｈ_２）ガスを、ガス導入管２００から高周波放電管部２１０内に導入すると共に、高周波電力供給部１８０から平板電極１９０Ａに、１３．５６ＭＨｚのラジオ波を供給する。この際、平板電極１９０Ａの放電面側から排気口１１０Ａ側へと放射状に広がるようにプラズマ拡散部１７０が形成される。ここで、ガス導入管２００から導入されたガスは成膜室１００を平板電極１９０Ａ側から排気口１１０Ａ側へと流れる。平板電極１９０Ａは電極の周りをアースシールドで囲んだものでもよい。
次に、トリメチルガリウムガスをガス導入管１５０Ａ、活性化手段である平板電極１９０Ａの下流側に位置するシャワーノズル１６０を介して成膜室１００に導入することによって、基材１４０表面にガリウムと酸素とを含む非単結晶膜を成膜する。
基材１４０としては、例えば、感光層が形成された基体を用いる。
また、第２の領域として、亜鉛を含む形態の第２の領域を成膜する際には、ガス導入管１５から導入するガスとして、例えば、トリメチルガリウムガスと有機亜鉛（例えば、ジメチル亜鉛またはジエチル亜鉛）ガスとを用いる。このとき、トリメチルガリウムと、有機亜鉛と、は別々の容器から気体としてガス導入管１５に導入する。

保護層の成膜時の基材１４０表面の温度は、有機感光層を有する有機像保持体を用いる場合には、１５０℃以下が好ましく、１００℃以下がより好ましく、３０℃以上１００℃以下が特に好ましい。
基材１４０表面の温度が成膜開始当初は１５０℃以下であっても、プラズマの影響で１５０℃より高くなる場合には有機感光層が熱で損傷を受ける場合があるため、この影響を考慮して基材１４０の表面温度を制御することが好ましい。
また、アモルファスシリコン像保持体を用いる場合には、保護層の成膜時の基材１４０表面の温度は、例えば、３０℃以上３５０℃以下とされる。
基材１４０表面の温度は加熱および／または冷却手段（図中、不図示）によって制御してもよいし、放電時の自然な温度の上昇に任せてもよい。基材１４０を加熱する場合にはヒータを基材１４０の外側や内側に設置してもよい。基材１４０を冷却する場合には基材１４０の内側に冷却用の気体または液体を循環させてもよい。
放電による基材１４０表面の温度の上昇を避けたい場合には、基材１４０表面に当たる高エネルギーの気体流を調節することが効果的である。この場合、ガス流量や放電出力、圧力などの条件を所要温度となるように調整する。

また、トリメチルガリウムガスの代わりにアルミニウムを含む有機金属化合物やジボラン等の水素化物を用いることもでき、これらを２種類以上混合してもよい。
例えば、保護層の形成の初期において、トリメチルインジウムをガス導入管１５０Ａ、シャワーノズル１６０を介して成膜室１００内に導入することにより、基材１４０上に窒素とインジウムとを含む膜を成膜すれば、この膜が、継続して成膜する場合に発生し、感光層を劣化させる紫外線を吸収する。このため、成膜時の紫外線の発生による感光層へのダメージが抑制される。

また、保護層には、その導電型を制御するためにドーパントを添加してもよい。
成膜時におけるドーパントのドーピングの方法としては、ｎ型用としてはＳｉＨ_３，ＳｎＨ_４を、ｐ型用としては、ビスシクロペンタジエニルマグネシウム、ジメチルカルシウム、ジメチルストロンチウム、などをガス状態で使用する。また、ドーパント元素を表面層中にドーピングするには、熱拡散法、イオン注入法等の公知の方法を採用してもよい。
具体的には、例えば、少なくとも一つ以上のドーパント元素を含むガスをガス導入管１５、シャワーノズル１６０を介して成膜室１００内に導入することによって、ｎ型、ｐ型等の導電型の保護層を得る。

図１５及び図１６を用いて説明した成膜装置では、放電エネルギーにより形成される活性窒素又は活性水素を、活性装置を複数設けて独立に制御してもよいし、ＮＨ_３など、窒素原子と水素原子を同時に含むガスを用いてもよい。さらにＨ_２を加えてもよい。また、有機金属化合物から活性水素が遊離生成する条件を用いてもよい。
このようにすることで、基材１４０表面上には、活性化された、炭素原子、ガリウム原子、窒素原子、水素原子、等が制御された状態で存在する。そして、活性化された水素原子が、有機金属化合物を構成するメチル基やエチル基等の炭化水素基の水素を分子として脱離させる効果を有する。
このため、三次元的な結合を構成する硬質膜（保護層）が形成される。

図１５及び図１６に示す成膜装置のプラズマ発生手段は、高周波発振装置を用いたものであるが、これに限定されるものではなく、例えば、マイクロ波発振装置を用いたり、エレクトロサイクロトロン共鳴方式やヘリコンプラズマ方式の装置を用いてもよい。また、高周波発振装置の場合は、誘導型でも容量型でもよい。
さらに、これらの装置を２種類以上組み合わせて用いてもよく、あるいは、同種の装置を２つ以上用いてもよい。プラズマの照射によって基材１４０表面の温度上昇を抑制するためには高周波発振装置が好ましいが、熱の照射を防止する装置を設けてもよい。

２種類以上の異なるプラズマ発生装置（プラズマ発生手段）を用いる場合には、同じ圧力で同時に放電が生起されるようにすることが好ましい。また、放電する領域と、成膜する領域（基体が設置された部分）とに圧力差を設けてもよい。これらの装置は、成膜装置内をガスが導入される部分から排出される部分へと形成されるガス流に対して直列に配置してもよいし、いずれの装置も基体の成膜面に対向するように配置してもよい。

例えば、２種類のプラズマ発生手段をガス流に対して直列に設置する場合、図１５に示す成膜装置を例に上げれば、シャワーノズル１６０を電極として成膜室１００内に放電を起こさせる第２のプラズマ発生装置として利用される。この場合、例えば、ガス導入管１５０Ａを介して、シャワーノズル１６０に高周波電圧を印加して、シャワーノズル１６０を電極として成膜室１００内に放電を起こさせる。あるいは、シャワーノズル１６０を電極として利用する代わりに、成膜室１００内の基材１４０と平板電極１９０Ａとの間に円筒状の電極を設けて、この円筒状電極を利用して、成膜室１００内に放電を起こさせる。
また、異なる２種類のプラズマ発生装置を同一の圧力下で利用する場合、例えば、マイクロ波発振装置と高周波発振装置とを用いる場合、励起種の励起エネルギーを大きく変えることができ、膜質の制御に有効である。また、放電は大気圧近傍（７００００Ｐａ以上１１００００Ｐａ以下）で行ってもよい。大気圧近傍で放電を行う場合にはキャリアガスとしてＨｅを使用することが望ましい。

なお、表面層等の形成に際しては、上述した方法以外にも、通常の有機金属気相成長法や分子線エピタキシー法が使用されるが、これらの方法による成膜に際しても、活性窒素および／または活性水素、活性酸素を使用することは低温化に有効である。この場合、窒素原料としてはＮ_２，ＮＨ_３，ＮＦ_３，Ｎ_２Ｈ_４、メチルヒドラジンなどの気体、液体を気化したり、あるいは、キャリアガスでバブリングしたものが利用される。酸素原料としては酸素、Ｈ_２Ｏ，ＣＯ，ＣＯ_２，ＮＯ，Ｎ_２Ｏなどが使用される。

本実施形態における保護層の形成は、例えば、成膜室１００に、基体上に感光層を形成した基材１４０を設置し、各々組成の異なる混合ガスを導入して、第２の領域、第１の領域を連続的に形成する。必要に応じ、第２の領域の形成前に第３の領域を形成する。また、必要に応じ、第２の領域と第１の領域との間に中間層を形成する。
また、各領域（または各層）の形成を別個独立に行ってもよい。

また、成膜条件としては、例えば高周波放電により放電する場合、低温で良質な成膜を行うには、周波数として１０ｋＨｚ以上５０ＭＨｚ以下の範囲とすることが望ましい。また、出力は基体の大きさに依存するが、基体の表面積に対して０．０１Ｗ／ｃｍ^２以上０．２Ｗ／ｃｍ^２以下の範囲とすることが望ましい。基体の回転速度は０．１ｒｐｍ以上５００ｒｐｍ以下の範囲が望ましい。
各領域（または各層）の成膜条件は同一としてもよいが、例えば、第２の領域の形成を低温で行うため出力を低めとし、第１の領域の形成を、出力を高めにして行ってもよい。

（基体及び感光層）
感光層は、本実施形態の像保持体１２において、基体と保護層との間に設けられる層である。本実施形態の像保持体１２は、基体と感光層の間に必要に応じて下引層等を設けてもよい。また、感光層は、２層以上であってもよく、更に、機能分離型であってもよい。さらに、本実施形態の像保持体１２は、感光層がシリコン原子を含むいわゆるアモルファスシリコン像保持体であってもよい。

アモルファスシリコン像保持体の場合には、表層部として本実施形態における保護層を用いれば、高湿時の画像ボケが防止され、耐久性と高画質とが両立される。
特に、感光層が、有機感光材料等の有機材料を含むいわゆる有機像保持体であることが好ましい。有機像保持体の場合、磨耗が起こりやすいが、表層部に本実施形態における保護層を用いれば、磨耗が抑制される。

まず、本実施形態の像保持体が、有機像保持体である場合の好ましい構成について、その概要を説明する。
感光層を形成する有機高分子化合物は熱可塑性であっても熱硬化性のものであっても、また２種類の分子を反応させて形成するものでもよい。感光層と第１の領域との間に設けられる第２の領域は、硬度や膨張係数、弾力性の調整、密着性の向上などの観点から、第１の領域の物性および感光層（機能分離型の場合は電荷輸送層）の物性の両者に対して、中間的な特性を示すものが好適である。また、第２の領域は、電荷をトラップする領域として機能してもよい。

有機像保持体の場合には、感光層は、図７、図９、及び図１０に示すように電荷発生層と電荷輸送層に分かれた機能分離型でもよいし、図８に示すように機能一体型であってもよい。機能分離型の場合には像保持体の表面側に電荷発生層を設けたものでもよいし、表面側に電荷輸送層を設けたものでもよい。

次に、像保持体１２がアモルファスシリコン像保持体である場合には、このアモルファスシリコン像保持体は、正帯電用でも負帯電用の像保持体でもよい。例えば、基体上に、電荷注入阻止層（下引層）と、光導電層と、電荷注入阻止表面層と、をこの順に設けたものが使用される。そして、上記保護層は、電荷注入阻止表面層上に形成されることとなる。

また、感光層の最上層（保護層側の層）としては、例えば、ｐ型アモルファスシリコン層、ｎ型アモルファスシリコン層、Ｓｉ_ＸＯ_１−Ｘ：Ｈ層、Ｓｉ_ＸＮ_１−Ｘ：Ｈ層、Ｓｉ_ＸＣ_１−Ｘ：Ｈ層、アモルファスカーボン層、などが用いられる。

−基体−
基体としては、導電性基体が用いられる。
なお、本明細書中において「導電性」とは、体積抵抗率が１０^１３Ω・ｃｍ未満である性質を指し、「絶縁性」とは、体積抵抗率が１０^１３Ω・ｃｍ以上である性質を指す。
導電性基体としては、アルミニウム、銅、鉄、ステンレス、亜鉛、ニッケル等の金属ドラム；シート、紙、プラスチック、ガラス等の基材上にアルミニウム、銅、金、銀、白金、パラジウム、チタン、ニッケル−クロム、ステンレス鋼、銅−インジウム等の金属を蒸着したもの；酸化インジウム、酸化スズ等の導電性金属化合物を上記基材に蒸着したもの；金属箔を上記基材にラミネートしたもの；カーボンブラック、酸化インジウム、酸化スズ−酸化アンチモン粉、金属粉、ヨウ化銅等を結着樹脂に分散し、上記基材に塗布することによって導電処理したもの等が挙げられる。また、基体の形状は、円筒形であることが良い。

−下引層−
下引層を構成する材料としては、ポリビニルブチラールなどのアセタール樹脂；ポリビニルアルコール樹脂、カゼイン、ポリアミド樹脂、セルロース樹脂、ゼラチン、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、メタクリル樹脂、アクリル樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、ポリビニルアセテート樹脂、塩化ビニル−酢酸ビニル−無水マレイン酸樹脂、シリコーン樹脂、シリコーン−アルキッド樹脂、フェノール−ホルムアルデヒド樹脂、メラミン樹脂などの高分子樹脂化合物のほかに、ジルコニウム、チタニウム、アルミニウム、マンガン、シリコン原子などを含有する有機金属化合物などが挙げられる。
これらの化合物は単独にあるいは複数の化合物の混合物あるいは重縮合物として用いる。これらの中でも、ジルコニウムもしくはシリコンを含有する有機金属化合物は、残留電位が低く環境による電位変化が少なく、また繰り返し使用による電位の変化が少ないため好ましく使用される。また、有機金属化合物は、これを単独または２種以上を混合して用いてもよいし、さらに上述の結着樹脂と混合して用いてもよい。

−感光層−
感光層を構成する電荷輸送層及び電荷発生層としては、電子写真方式の画像形成装置の像保持体に用いられる公知の電荷輸送層及び電荷発生層の構成を用いればよい。

なお、上記に説明した放電部材３４と、除去部材３６と、を備えた構成の清掃装置３２は、像保持体１２の表面に付着した放電生成物を除去するとともに、像保持体１２の表面のトナーの帯電を調整する位置に設けられた形態限られず、その他の回転される回転部材の表面に付着した放電生成物の除去や該表面に向かって帯電の調整を行う位置に設けてもよい。

具体的には、転写部材２２に付着した放電生成物の除去や該表面に向かって帯電の調整を行う位置に設けても良い。この場合には、図１及び図７に示すように、中間転写体２０の内側に設けられた転写部材２２の、中間転写体２０を介して像保持体１２に向かい合う領域（転写領域）より、転写部材２２の回転方向下流側に、清掃装置３２と同じ構成の清掃装置６４を設けた構成とすればよい。

詳細には、図７に示すように、清掃装置６４は、放電部材６０と、除去部材６２と、を含んで構成されている。除去部材６２は、放電部材６０より転写部材２２の回転方向下流側に設けられている。放電部材６０には、交流電圧と直流電圧とを重畳した重畳電圧を該放電部材６０に印加する電圧印加装置６１が電気的に接続されている。この重畳電圧は、上記に説明した式（１）及び式（２）を満たす電圧であるため、詳細な説明を省略する。放電部材６０は、電圧印加装置６１から重畳電圧を印加されることによって、転写部材２２との間の領域に向きの変化する電界を形成すると共に、転写部材２２に向かって単一の極性の放電を起こし、転写部材２２の回転によって、放電部材６０と転写部材２２との向かい合う領域に突入してくるマイナス極性及びプラス極性のトナー極性を単一の極性に揃える。
また、この放電部材６０の、少なくとも転写部材２２に向かい合う領域は、凹凸を有する構成とされている。この放電部材６０の凹凸を有する領域の凹凸は、上記に説明した放電部材３４の凹凸と同じであるため詳細な説明を省略する。この放電部材６０の構成としては、放電部材３４と同じ構成が挙げられる。

除去部材６２は、放電部材６０によって極性を揃えられたトナーを転写部材２２の表面から除去する。この除去部材６２には、該除去部材６２に直流電圧を印加する電源６３Ａが接続されており、電源４０によって直流電圧が印加されることによって、転写部材２２との電位差によって、該転写部材２２のトナーを吸着する。この除去部材６２の周辺には、該除去部材６２の外側の面に接するように、回収部材６６が配置されている。この回収部材６６には、この回収部材６６上に回収されたトナーを掻き落とす板状部材６７が設けられており、回収部材６６に回収されたトナーを回収部材６６から掻き落とす。

なお、放電部材６０、電圧印加装置３８、除去部材６２、電源４０、回収部材６６、及び板状部材４４は、上記説明した放電部材３４、電圧印加装置６１、除去部材３６、電源６３Ａ、回収部材４２、及び板状部材６７の各々と同じ構成であるため、詳細な説明を省略する。

清掃装置６４では、上記に説明した清掃装置３２と同様に、放電部材６０の転写部材２２に向かい合う領域が凹凸を有する構成とされ、且つ電圧印加装置６１から放電部材６０に印加される電圧が上記式（１）及び式（２）を満たす重畳電圧である。このため、清掃装置６４によれば、転写部材２２についても、放電生成物を除去し、且つ帯電を調整する能力の低下も抑制されると考えられる。

また、上記清掃装置３２は、二次転写部材２８Ａに付着した放電生成物の除去や該表面に向かって帯電の調整を行う位置に設けても良い。この場合には、図１及び図８に示すように、中間転写体２０の外側に設けられた二次転写部材２８Ａの、中間転写体２０を介して支持部材２４Ａに向かい合う領域より、二次転写部材２８Ａの回転方向下流側に、清掃装置３２と同じ構成の清掃装置４６を設けた構成とすればよい。

詳細には、図８に示すように、清掃装置４６は、放電部材４８と、除去部材５０と、を含んで構成されている。除去部材５０は、放電部材４８より二次転写部材２８Ａの回転方向下流側に設けられている。放電部材４８には、交流電圧と直流電圧とを重畳した重畳電圧を該放電部材４８に印加する電圧印加装置５２が電気的に接続されている。この重畳電圧は、上記に説明した式（１）及び式（２）を満たす電圧であるため、詳細な説明を省略する。放電部材４８は、電圧印加装置５２から重畳電圧を印加されることによって、二次転写部材２８Ａとの間の領域に向きの変化する電界を形成すると共に、二次転写部材２８Ａに向かって単一の極性の放電を起こし、二次転写部材２８Ａの回転によって、放電部材４８と二次転写部材２８Ａとの向かい合う領域に突入してくるマイナス極性及びプラス極性のトナー極性を、単一の極性（プラス極またはマイナス極）に揃える。

また、この放電部材４８の、少なくとも二次転写部材２８Ａに向かい合う領域は、凹凸を有する構成とされている。この放電部材４８の凹凸を有する領域の凹凸は、上記に説明した放電部材３４の凹凸と同じであるため詳細な説明を省略する。この放電部材４８の構成としては、放電部材３４と同じ構成が挙げられる。

除去部材５０は、放電部材４８によって極性を揃えられたトナーを二次転写部材２８Ａの表面から除去する。この除去部材５０には、該除去部材５０に直流電圧を印加する電源５４が接続されており、電源５４によって直流電圧が印加されることによる二次転写部材２８Ａとの電位差によって、該二次転写部材２８Ａのトナーを吸着する。この除去部材５０の周辺には、該除去部材５０の外側の面に接するように、回収部材５６が配置されている。この回収部材５６には、この回収部材５６上に回収されたトナーを掻き落とす板状部材５８が設けられており、回収部材５６に回収されたトナーを回収部材５６から掻き落とす。

なお、放電部材４８、電圧印加装置５２、除去部材５０、電源５４、回収部材５６、及び板状部材５８は、上記説明した放電部材３４、電圧印加装置６１、除去部材３６、電源６３Ａ、回収部材４２、及び板状部材６７の各々と同じ構成であるため、詳細な説明を省略する。

清掃装置４６では、上記に説明した清掃装置３２と同様に、放電部材４８の二次転写部材２８Ａに向かい合う領域が凹凸を有する構成とされ、且つ電圧印加装置５２から放電部材４８に印加される電圧が上記式（１）及び式（２）を満たす重畳電圧である。このため、清掃装置４６によれば、二次転写部材２８Ａについても、放電生成物を除去し、且つ帯電を調整する能力の低下も抑制されると考えられる。

なお、上記実施の形態では、像保持体１２を１つ備えた構成の画像形成装置１０に、本実施の形態の清掃装置３２、清掃装置４６、及び清掃装置６４を備えた構成を説明したが、像保持体を複数ならべた、所謂、タンデム型の構成の画像形成装置に、本実施の形態の清掃装置を提供してもよい。

具体的には、図９に示す画像形成装置１１０の構成としても良い。画像形成装置１１０は、シアン、マゼンタ、イエロー、及びブラックの各々のトナー像が形成される像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋが中間転写体２０に面して並列して配置され、中間転写体２０が１周する間に４色のトナー像を重ね合せる、タンデム式の画像形成装置である。像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋとしては、上記図１を用いて説明した像保持体１２と同じ構成が挙げられる。

なお、図１に示す画像形成装置１０と同じ構成及び作用については、図１と同じ符号を付与して詳細な説明を省略する。また、シアン、マゼンタ、イエロー、ブラックの各色を区別する必要がない場合や、これらの各色のトナー像を形成するための部材を総称する場合には、符号の後のＣ、Ｍ、Ｙ、Ｋは省略して説明する。

画像形成装置１１０に設けられた各色の像保持体１２（像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋ）の各々の周辺には、該像保持体１２の回転方向にそって順に、帯電装置１４（帯電装置１４Ｃ、帯電装置１４Ｍ、帯電装置１４Ｙ、及び帯電装置１４Ｋ）、露光装置１６（露光装置１６Ｃ、露光装置１６Ｍ、露光装置１６Ｙ、露光装置１６Ｋ）、現像装置１８（現像装置１８Ｃ、現像装置１８Ｍ、現像装置１８Ｙ、現像装置１８Ｋ）、転写部材２２（転写部材２２Ｃ、転写部材２２Ｍ、転写部材２２Ｙ、転写部材２２Ｋ）、及び清掃装置３２（清掃装置３２Ｃ、清掃装置３２Ｍ、清掃装置３２Ｙ、清掃装置３２Ｋ）が設けられている。

また、画像形成装置１１０には、中間転写体２０が設けられている。中間転写体２０は、中間転写体２０の内側の面に接触して配置された支持部材２４Ａ、支持部材２４Ｂ、支持部材２４Ｃ、及び支持部材２４Ｄに巻き掛けられており、矢印Ｂ方向に搬送される。この中間転写体２０と各色の像保持体１２（像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋ）とは、各々、転写部材２２（転写部材２２Ｃ、転写部材２２Ｍ、転写部材２２Ｙ、転写部材２２Ｋ）によって接触されている。
また、各色の転写部材２２（転写部材２２Ｃ、転写部材２２Ｍ、転写部材２２Ｙ、転写部材２２Ｋ）には、清掃装置６４（清掃装置６４Ｃ、清掃装置６４Ｍ、清掃装置６４Ｙ、清掃装置６４Ｋ）が設けられている。

これらの各色像保持体１２によって中間転写体２０の外周面には、該中間転写体２０の搬送によって、各色のトナー像が順次転写される。

画像形成装置１１０には、給紙部材２６が設けられており、該給紙部材２６に貯留された記録媒体Ｐは、図示を省略する支持部材によって搬送されて、転写部２８へ搬送される。この転写部２８には、中間転写体２０を支持する支持部材２４Ａと、中間転写体２０を介して支持部材２４Ａに向かう方向に圧力を加えるように配置された二次転写部材２８Ａと、が設けられている。記録媒体Ｐは、この領域を通過することで、中間転写体２０からトナー像を転写される。

この構成の画像形成装置１１０においても、回転する回転部材に接触するように上記放電部材が設けられている。

具体的には、上述のように、各色の像保持体１２（像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋ）の各々の、帯電装置１４（帯電装置１４Ｃ、帯電装置１４Ｍ、帯電装置１４Ｙ、及び帯電装置１４Ｋ）より各像保持体１２の回転方向上流側で、現像装置１８（現像装置１８Ｃ、現像装置１８Ｍ、現像装置１８Ｙ、現像装置１８Ｋ）より各像保持体１２の回転方向下流側に、清掃装置３２（清掃装置３２Ｃ、清掃装置３２Ｍ、清掃装置３２Ｙ、清掃装置３２Ｋ）が設けられている。
このため、各色の像保持体１２に対応して設けられた清掃装置３２によって、各色の像保持体１２の放電生成物が除去され、且つ清掃装置３２による帯電の調整能力の低下も抑制されると考えられる。

また、各色の転写部材２２（転写部材２２Ｃ、転写部材２２Ｍ、転写部材２２Ｙ、転写部材２２Ｋ）には、清掃装置６４（清掃装置６４Ｃ、清掃装置６４Ｍ、清掃装置６４Ｙ、清掃装置６４Ｋ）が設けられている。このため、各色の転写部材２２に対応して設けられた清掃装置６４によって、各色の転写部材２２の放電生成物が除去され、且つ清掃装置３２による帯電調整能力の低下も抑制されると考えられる。

またさらに、中間転写体２０の外側の面に接触するように、清掃装置を設けた構成であってもよい。具体的には、図９に示すように、中間転写体２０の外側の面の、二次転写部材２８Ａより中間転写体２０の回転方向下流側で、且つ複数の像保持体１２の配列された領域より、中間転写体２０の回転方向上流側に、清掃装置３２と同じ構成の清掃装置１３２を設けた構成が挙げられる。

詳細には、図９に示すように、清掃装置１３２は、放電部材１３４と、除去部材１３６と、を含んで構成されている。除去部材１３６は、放電部材１３４より中間転写体２０の回転方向下流側に設けられている。放電部材１３４には、交流電圧と直流電圧とを重畳した重畳電圧を該放電部材１３４に印加する電圧印加装置１３８が電気的に接続されている。この重畳電圧は、上記に説明した式（１）及び式（２）を満たす電圧であるため、詳細な説明を省略する。放電部材１３４は、電圧印加装置１３８から重畳電圧を印加されることによって、中間転写体２０との間の領域に向きの変化する電界を形成すると共に、中間転写体２０に向かって単一極性の放電を起こし、中間転写体２０の回転によって、放電部材１３４と中間転写体２０との向かい合う領域に突入してくるマイナス極性及びプラス極性のトナーの極性を単一の極性に揃える。
また、この放電部材１３４の、少なくとも中間転写体２０に向かい合う領域は、凹凸を有する構成とされている。この放電部材１３４の凹凸を有する領域の凹凸は、上記に説明した放電部材３４の凹凸と同じであるため詳細な説明を省略する。この放電部材１３４の構成としては、放電部材３４と同じ構成が挙げられる。

除去部材１３６は、放電部材１３４によって極性を揃えられたトナーを中間転写体２０の表面から除去する。この除去部材１３６には、該除去部材１３６に直流電圧を印加する電源１４１が接続されており、電源１４１によって直流電圧が印加されることによる、中間転写体２０との電位差によって、該中間転写体２０上のトナーを吸着する。この除去部材１３６の周辺には、該除去部材１３６の外側の面に接するように、回収部材１４２が配置されている。この回収部材１４２には、この回収部材１４２上に回収されたトナーを掻き落とす板状部材１４４が設けられており、回収部材１４２に回収されたトナーを回収部材１４２から掻き落とす。

なお、放電部材１３４、電圧印加装置１３８、除去部材１３６、電源１４１、回収部材１４２、及び板状部材１４４は、上記説明した放電部材３４、電圧印加装置６１、除去部材３６、電源６３Ａ、回収部材４２、及び板状部材６７の各々と同じ構成であるため、詳細な説明を省略する。

清掃装置１３２では、上記に説明した清掃装置３２と同様に、放電部材１３４の中間転写体２０に向かい合う領域が凹凸を有する構成とされ、且つ電圧印加装置１３８から放電部材１３４に印加される電圧が上記式（１）及び式（２）を満たす重畳電圧である。このため、本実施の形成の清掃装置１３２によれば、中間転写体２０についても、放電生成物を除去し、且つ清掃装置１３２による帯電の調整能力の低下も抑制されると考えられる。

なお、上記実施の形態では、像保持体１２によって形成されたトナー像を中間転写体２０に転写した後に、記録媒体Ｐに転写する方式の画像形成装置１０及び画像形成装置１１０に本実施の形態を適用した場合を説明したが、像保持体１２に形成されたトナー像を記録媒体Ｐに直接転写する方式の画像形成装置にも適用される。

具体的には、図１０に示すように、画像形成装置１７１は、シアン、マゼンタ、イエロー、及びブラックの各々のトナー像が形成される像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋが中間転写体２０に面して並列して配置され、中間転写体２０が１周する間に４色のトナー像を重ね合せる、タンデム式の画像形成装置である。像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋとしては、上記図１を用いて説明した像保持体１２と同じ構成が挙げられる。

画像形成装置１７１に設けられた各色の像保持体１２（像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋ）の各々の周辺には、該像保持体１２の回転方向にそって順に、帯電装置１４（帯電装置１４Ｃ、帯電装置１４Ｍ、帯電装置１４Ｙ、及び帯電装置１４Ｋ）、露光装置１６（露光装置１６Ｃ、露光装置１６Ｍ、露光装置１６Ｙ、露光装置１６Ｋ）、現像装置１８（現像装置１８Ｃ、現像装置１８Ｍ、現像装置１８Ｙ、現像装置１８Ｋ）、転写部材２２（転写部材２２Ｃ、転写部材２２Ｍ、転写部材２２Ｙ、転写部材２２Ｋ）、及び清掃装置３２（清掃装置３２Ｃ、清掃装置３２Ｍ、清掃装置３２Ｙ、清掃装置３２Ｋ）が設けられている。

また、画像形成装置１７１には、搬送部材７０が設けられている。搬送部材７０は、中間転写体２０の内側の面に接触して配置された支持部材７４Ａ、支持部材７４Ｂ、支持部材７４Ｃ、及び支持部材７４Ｄに巻き掛けられており、矢印Ｂ方向に搬送される。この搬送部材７０と各色の像保持体１２（像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋ）とは、各々、転写部材２２（転写部材２２Ｃ、転写部材２２Ｍ、転写部材２２Ｙ、転写部材２２Ｋ）によって接触されている。
また、各色の転写部材２２（転写部材２２Ｃ、転写部材２２Ｍ、転写部材２２Ｙ、転写部材２２Ｋ）には、清掃装置６４（清掃装置６４Ｃ、清掃装置６４Ｍ、清掃装置６４Ｙ、清掃装置６４Ｋ）が設けられている。

画像形成装置１７１には、給紙部材２６が設けられており、該給紙部材２６に貯留された記録媒体Ｐは、図示を省略する支持部材によって搬送されて、各色の像保持体１２の配列されている領域に達する。そして、記録媒体Ｐが、搬送部材７０によって搬送されて各色像保持体１２と各色転写部材２２上の搬送部材７０とによって挟まれながら搬送されることで、記録媒体Ｐには、各色のトナー像が順次転写される。トナー像を転写された記録媒体Ｐは、搬送部材７０及び図示を省略する支持部材によって搬送されて定着装置３０の設けられている位置に達すると、定着装置３０によってトナー像を定着される。

このように、像保持体１２上に保持されたトナー像を記録媒体Ｐに直接転写する方式の画像形成装置１７１においても、回転する回転部材に接触するように上記放電部材が設けられている。

具体的には、上述のように、各色の像保持体１２（像保持体１２Ｃ、像保持体１２Ｍ、像保持体１２Ｙ、及び像保持体１２Ｋ）の各々の、帯電装置１４（帯電装置１４Ｃ、帯電装置１４Ｍ、帯電装置１４Ｙ、及び帯電装置１４Ｋ）より各像保持体１２の回転方向上流側で、現像装置１８（現像装置１８Ｃ、現像装置１８Ｍ、現像装置１８Ｙ、現像装置１８Ｋ）より各像保持体１２の回転方向下流側に、清掃装置３２（清掃装置３２Ｃ、清掃装置３２Ｍ、清掃装置３２Ｙ、清掃装置３２Ｋ）が順に設けられている。
このため、各色の像保持体１２に対応して設けられた清掃装置３２によって、各色の像保持体１２の放電生成物が除去され、且つ清掃装置３２による帯電調整能力の低下も抑制されると考えられる。

またさらに、搬送部材７０の外側の面に接触するように、清掃装置を設けた構成であってもよい。
具体的には、図１０に示すように、搬送部材７０の外側の面の、複数の像保持体１２の配列された領域より、搬送部材７０の回転方向上流側に、清掃装置３２と同じ構成の清掃装置１９２を設けた構成が挙げられる。

清掃装置１９２は、放電部材１８４と、除去部材１８６と、を含んで構成されている。除去部材１８６は、放電部材１８４より搬送部材７０の回転方向下流側に設けられている。放電部材１８４には、交流電圧と直流電圧とを重畳した重畳電圧を該放電部材１８４に印加する電圧印加装置１８８が電気的に接続されている。この重畳電圧は、上記に説明した式（１）及び式（２）を満たす電圧であるため、詳細な説明を省略する。放電部材１８４は、電圧印加装置１８８から重畳電圧を印加されることによって、搬送部材７０との間の領域に向きの変化する電界を形成すると共に、搬送部材７０に向かって単一極性の放電（マイナスまたはプラスの何れかの極性の放電）を起こし、搬送部材７０の回転によって、放電部材１￥８４と搬送部材７０との向かい合う領域に突入してくるマイナス極性及びプラス極性のトナー極性を単一の極性に揃える。
また、この放電部材１８４の、少なくとも搬送部材７０に向かい合う領域は、凹凸を有する構成とされている。この放電部材１８４の凹凸を有する領域の凹凸は、上記に説明した放電部材３４の凹凸と同じであるため詳細な説明を省略する。この放電部材１８４の構成としては、放電部材３４と同じ構成が挙げられ、図示は省略するが、円柱状で導電性の基体上に、弾性層、及び凹凸部材を順に設けた構成が挙げられる。

除去部材１８６は、放電部材１８４よって極性を揃えられたトナーを搬送部材７０の表面から除去する。この除去部材１８６には、該除去部材１８６に直流電圧を印加する電源１９０が接続されており、電源１９０によって直流電圧が印加されることによる、搬送部材７０との電位差によって、該搬送部材７０上のトナーを吸着する。この除去部材１８６の周辺には、該除去部材１８６の外側の面に接するように、回収部材１９２Ａが配置されている。この回収部材１９２Ａには、この回収部材１９２Ａ上に回収されたトナーを掻き落とす板状部材１９４が設けられており、回収部材１９２Ａに回収されたトナーを回収部材１９２Ａから掻き落とす。

なお、放電部材１８４、電圧印加装置１８８、除去部材１８６、電源１９０、回収部材１９２Ａ、及び板状部材１９４は、上記説明した放電部材３４、電圧印加装置６１、除去部材３６、電源６３Ａ、回収部材４２、及び板状部材６７の各々と同じ構成であるため、詳細な説明を省略する。

清掃装置１８２では、上記に説明した清掃装置３２と同様に、放電部材１８４の搬送部材７０に向かい合う領域が凹凸を有する構成とされ、且つ電圧印加装置１８８から放電部材１８４に印加される電圧が上記式（１）及び式（２）を満たす重畳電圧である。このため、本実施の形成の清掃装置１８２によれば、搬送部材７０についても、放電生成物を除去し、且つ清掃装置１８２による帯電の調整能力の低下も抑制されると考えられる。

以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に制限されるものではない。

以下に実施例を挙げて本発明を具体的に説明するが、本発明はこれらの実施例に制限されるものではない。なお、以下の実施例において「部」は質量部を意味する。

―像保持体の調整―
［像保持体１］
まず、以下に説明する手順により、アルミニウム（Ａｌ）基体上に、下引層と電荷発生層と電荷輸送層とをこの順に積層形成した有機像保持体を作製した。

＜下引層の形成＞
ジルコニウム化合物（商品名：オルガノチックスＺＣ５４０、マツモト製薬社製）２０質量部、シラン化合物（商品名：Ａ１１００、日本ユニカー社製）２．５質量部、ポリビニルブチラール樹脂（商品名：エスレックＢＭ−Ｓ、積水化学社製）１０質量部及びブタノール４５質量部を攪拌混合して得た溶液を、外径８４ｍｍのＡｌ製基体表面に塗布し、１５０℃１０分間加熱乾燥することにより、層厚１．０μｍの下引層を形成した。

＜電荷発生層の形成＞
次に、電荷発生材料としてクロロガリウムフタロシアニン１質量部を、ポリビニルブチラール（商品名：エスレックＢＭ−Ｓ、積水化学社製）１質量部及び酢酸ｎ−ブチル１００質量部と混合して得られた混合物をガラスビーズとともにペイントシェーカーで１時間分散し、電荷発生層形成用分散液を得た。
この分散液を浸漬法により下引層の上に塗布した後、１００℃で１０分間乾燥させ、層厚０．１５μｍの電荷発生層を形成した。

＜電荷輸送層の形成＞
次に、下記構造式（１）で表される化合物を２質量部、及び、繰り返し単位が下記構造式（２）で表される高分子化合物（粘度平均分子量：３９０００）３質量部をクロロベンゼン２０質量部に溶解させて電荷輸送層形成用塗布液を得た。

この塗布液を、浸漬法により電荷発生層上に塗布し、１１０℃で４０分間加熱して層厚２０μｍの電荷輸送層を形成し、Ａｌ基体上に、下引層と電荷発生層と電荷輸送層とをこの順に積層形成した有機像保持体（以下、「ノンコート像保持体（１）」と称す場合がある）を得た。このノンコート像保持体（１）を、像保持体１として調整した。

［像保持体２］
まず基材を調整した。まず、長さ３４０ｍｍ、内径φ８２ｍｍ、外径φ８５ｍｍの円筒状のアルミ素管（材質Ａ３００３）を用意し、その素管を旋盤にて切削加工を行った。その時の切削条件は、回転数３０００ｒｐｍ、１回転当たりの旋盤の送り速度０．４ｍｍとすることができる。この切削加工により、例えば、長さ３４０ｍｍ、内径φ８２ｍｍ、外径φ８４ｍｍの円筒状のアルミ切削管を得た。

次に、上記アルミ切削管に対し、ホーニング処理によりＲａ０．２μｍの粗面化処理
を行い、その後界面活性剤と共にブラシ洗浄、及び純水により洗浄を行い、その水を乾燥させるため１３５℃５分の乾燥を行った。その後、２４度の冷却エアーを１０ｍ／ｓｅｃで５分間吹き付けた。一方、４質量部のポリビニルブチラール樹脂（商品名：エスレックＢＭ−Ｓ、積水化学社製）を溶解したｎ−ブチルアルコール１７０質量部、有機ジルコニウム化合物（アセチルアセトンジルコニウムブチレート）２０質量部および有機シラン化合物の混合物（γ−アミノプロピルトリメトキシシラン）１０質量部を混合撹拌し、これを下引き層の塗布液とした。この塗布液を上記冷却エアーを吹き付けたアルミ切削管に塗布し、室温で５分間の風乾を行った後、１０分間で５０℃に昇温した。その後、５０℃、８５％ＲＨの恒温恒湿槽中に入れて２０分間加湿硬化促進処理を行う。次いで、熱風乾燥機中で、１５０℃で１０分間乾燥させた。これにより、下引き層を得た。

電荷発生材料として、クロロガリウムフタロシアニン１５質量部、塩化ビニル酢酸ビニル共重合体樹脂（商品名：ＶＭＣＨ、日本ユニカー）１０質量部、ｎ−ブチルアルコール３００質量部からなる混合物をサンドミルを用いて４時間分散させた。この液を上記下引き層上に浸漬塗布・乾燥して、帯電有効領域が少なくとも含まれる、感光体塗布上端側から６２ｍｍから３８０ｍｍの間に膜厚０．２μｍの均一な電荷発生層を形成した。
次に、Ｎ，Ｎ′−ジフェニル−Ｎ，Ｎ′−ビス（３−メチルフェニル）−［１，１′−ビフェニル］−４，４′−ジアミン４質量部と、ビスフェノールＺポリカーボネート樹脂（分子量４万）６質量部と、をクロルベンゼン６０質量部を加えて溶解した。この溶液を粘度２５０ｍＰａ・ｓに調整し、１５０ｍｍ／ｍｉｎの一定速度で浸漬塗布装置を用いて塗布するとともに、１１０℃、４０分の乾燥処理を行った。これにより、膜厚２０μｍの電荷輸送層が形成された。

そして、下記化学式（１）に示す化合物(架橋型電荷輸送剤)を７部、スーパーベッカミン（Ｒ）１３−５３５（メチル化ベンゾグアナミン樹脂：大日本インキ社製）７部、硬化触媒ＮＡＣＵＲＥ２５０１（キングインダストリー社製）０．１部をイソプロパノール１０部、メタノール５部に溶解させ、リング型浸漬塗布法で塗布し、６μｍの均一な膜を形成し、１５０℃で４０分乾燥させ、像保持体２とした。

［像保持体３］
まず、上記像保持体１として調整したノンコート像保持体（１）を調整した。

＜保護層の形成＞
（第２の層の形成）
次に、ノンコート像保持体（１）表面への第２の層の形成は、図１５に示す構成を有する成膜装置を用いて行った。
まず、ノンコート像保持体（１）を、成膜装置の成膜室１００内の基材支持部材１３０に載せ、排気口１１０Ａを介して成膜室１００内を、圧力が０．１Ｐａになるまで真空排気した。
次に、Ｈｅ希釈２０％酸素ガス（２０ｓｃｃｍ）、Ｈｅガス（１００ｓｃｃｍ）、及びＨ_２ガス（５００ｓｃｃｍ）を、ガス導入管２００から直径５０ｍｍの平版電極１９０Ａが設けられた高周波放電管部２１０内に導入し、高周波電力供給部１８０及びマッチング回路（図１５中不図示）により、１３．５６ＭＨｚのラジオ波を出力１００Ｗにセットしチューナでマッチングを取り平版電極２１９から放電を行った。この時の反射波は０Ｗであった。
次に、トリメチルガリウムガス（３ｓｃｃｍ）を、ガス導入管１５０Ａを介してシャワーノズル１６０から成膜室１００内のプラズマ拡散部１７０に導入した。この時、バラトロン真空計で測定した成膜室１００内の反応圧力は４０Ｐａであった。

この状態で、ノンコート像保持体（１）を１００ｒｐｍの速度で回転させながら１２０分間成膜し、ノンコート像保持体（１）の電荷輸送層表面に層厚３．５μｍの第２の層を形成した。

（第１の層の形成）
次に、高周波放電を停止し、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を１ｓｃｃｍに変更した後、再び高周波放電を開始した。
この状態で、第２の層を形成したノンコート像保持体（１）を１００ｒｐｍの速度で回転させながら３０分間成膜し、第２の層上に、層厚０．３μｍの第１の層を形成した。

以上により、ノンコート像保持体（１）の電荷輸送層上に、保護層として、第２の層及び第１の層をこの順に有する像保持体３（保護層付き像保持体）を得た。

なお、保護層（第２の層及び第１の層）の成膜に際しては、ノンコート像保持体（１）の加熱処理は行わなかった。また、成膜時の温度をモニターするために、成膜前に予めノンコート像保持体の表面に貼り付けておいた温度測定用ステッカー（Ｗａｈｌ社製、テンプ・プレートＰ／Ｎ１０１）の色を、第１の層の成膜後に確認したところ、４５℃であった。
また、第１の層の層厚及び第２の層の層厚は、以下の分析用試料膜を用いて、触針段差測定によって求めた。
分析用試料膜を形成する基板としては、５ｍｍ×１０ｍｍにカットされた厚さ４００μｍのＳｉウェハーを用いた。
Ｓｉウェハー表面の一部にポリイミド製粘着テープを貼り付け、該粘着テープを貼り付けた側の面に、第１の層の成膜と同条件にて、第１の層の分析用試料膜を形成した。
次に、粘着テープを剥がし、Ｓｉウェハー表面に、非着膜部（粘着テープを貼り付けた箇所）と、着膜部（粘着テープを貼り付けていない箇所）と、を設けた。
次に、非着膜部と着膜部との段差を、触針段差測定器（東京精密社製サーフコム５５０Ａ）により測定し、第１の層の層厚を求めた。
第２の層の層厚も、第１の層の層厚と同様の方法によって求めた。

（第１の層の分析・評価）
厚さ３００μｍのＳｉ基板上に、第１の層の成膜と同条件にて分析用の試料膜を形成した。
形成された第１の層（試料膜）について、膜の組成をラザフォード・バック・スキャタリング（ＲＢＳ）とハイドロジェン・フォワードスキャタリング（ＨＦＳ）とを用いて測定した。
原子数比〔Ｏ／Ｇａ〕及び水素含有量（ＧａとＯとＨとの総原子数に対するＨの原子数の比率；原子％）は表１に示すとおりであった。
また、ＲＨＥＥＤ（反射高速電子線回折）測定により得られた回折像にはまったく点や線が見られず、第１の層は非晶質であることがわかった。
更に、第１の層（試料膜）の表面はステンレス鋼で擦っても傷がつかなかった。

次に、厚さ０．５ｍｍの石英基板上に、第１の層の成膜と同条件にて試料膜を形成し、目視で着色を確認したところ、第１の層は薄い茶色に着色していた。
また、石英基板上に成膜した第１の層について、７８０ｎｍにおける透過率を、紫外−可視自記分光光度計（日立社製）により測定したところ、９５％であった。

（第２の層の分析・評価）
第１の層の分析・評価と同様の手法により、第２の層の分析・評価を行った。
原子数比〔Ｏ／Ｇａ〕及び水素含有量（ＧａとＯとＨとの総原子数に対するＨの原子数の比率；原子％）は表１に示すとおりであった。
また、ＲＨＥＥＤ（反射高速電子線回折）測定により得られた回折像にはまったく点や線が見られず、第２の層は非晶質であることがわかった。
また、紫外−可視吸収測定を行った結果、第２の層のバンドギャップは４．４ｅＶであった。
更に、第２の層の表面はステンレス鋼で擦っても傷がつかなかった。
石英基板上に形成された第２の層は透明であり、７８０ｎｍにおける透過率は、９５％であった。

≪評価≫
上記で作製した、保護層付きの像保持体３について以下の評価を行った。
評価結果を表１に示す。

＜残留電位＞
まず、上述の保護層形成前の像保持体（ノンコート像保持体）（１）と、保護層付き像保持体と、に対して、露光用の光（光源：半導体レーザー、波長７８０ｎｍ、出力５ｍＷ）を用い、像保持体の表面を走査しながら４０ｒｐｍで回転させながら、スコロトロン帯電器により−７００Ｖに負帯電させた状態で照射した後の、表面の残留電位を測定した。
その結果、ノンコート像保持体の残留電位が−１０Ｖであるの対し、保護層付きの像保持体２の残留電位は−７０Ｖ以下であった。

＜保護層形成による感度の低下＞
まず、保護層付きの像保持体２に対して、上述の方法によりスコロトロン帯電器により−７００Ｖに負帯電させた。
次に、負帯電した保護層付き像保持体２に対し、露光用の光（光源：半導体レーザー、波長７８０ｎｍ、出力５ｍＷ）を照射して除電を行い、単位光量当りの電位減衰率（Ｖ・ｍ^２／ｍＪ）を求め、保護層付きの像保持体２の感度Ａ（Ｖ・ｍ^２／ｍＪ）とした。

保護層付きの像保持体２の感度の測定と同様にして、保護層形成前の像保持体（ノンコート像保持体）の感度Ｂ（Ｖ・ｍ^２／ｍＪ）を測定した。
下記式３により保護層形成による感度の低下率を求めた。

保護層形成による感度の低下率（％）＝（（感度Ｂ−感度Ａ）／感度Ｂ）×１００・・・式３

次に、露光用の光の波長を４００ｎｍから８００ｎｍまで１００ｎｍ間隔で変化させ、各波長について、保護層形成による感度の低下率（％）を求めた。
以上で得られた、各波長における感度の低下率（％）から、下記評価基準に従って、保護層形成による感度の低下を評価した。

（評価基準）
Ａ：波長領域全域にわたり、保護層形成による感度の低下率は１０％未満であり、保護層形成による感度の低下が抑制されていた。
Ｂ：波長領域全域にわたり、保護層形成による感度の低下率が、１０％以上３０％未満であるが、保護層形成による感度の低下が、実用上の許容範囲内であった。
Ｃ：波長８００ｎｍにおける感度の低下率が３０％以上３５％以下であり、保護層形成による感度の低下が実用上の許容範囲内であった。
Ｄ：波長８００ｎｍにおける感度の低下率が３５％を超えており、保護層形成による感度の低下が実用上の許容範囲を超えていた。

＜耐摩耗性評価＞
像保持体２を、富士ゼロックス社製ＤｏｃｕＣｅｎｔｒｅＣｏｌｏｒ５００に取り付けて、高温高湿環境（２８℃、８０％ＲＨ）下で、連続２万枚のプリントテストを行った。なお、画質評価を行うためのリファレンスとして、ノンコート像保持体（１）についてもＤｏｃｕＣｅｎｔｒｅＣｏｌｏｒ５００に取り付けて、同様の画像を形成した。
そして、２万枚プリントテスト後の像保持体の表面を目視により観察し、表面の傷の有無を調べた。評価基準は以下のとおりである。

（評価基準）
Ａ：表面の傷が全くみられない。
Ｂ：表面の傷がわずかに見られるものの、実用上許容範囲内である。
Ｃ：一見して表面の傷が確認でき、実用上の許容範囲を超えていた。

＜繰り返し使用時の残留電位（ＲＰ）の増加＞
まず、上記２万枚のプリントテスト前に、像保持体１について、波長７８０ｎｍにおける残留電位を測定した。次に、上記２万枚のプリントテスト後に、像保持体２について、波長７８０ｎｍにおける残留電位を測定した。
これらの結果に基づき、繰り返し使用時の残留電位の増加（増加率（％））を、下記評価基準に従って評価した。

（評価基準）
Ａ：２万枚のプリントテストによる残留電位の増加が１０％未満であり、繰り返し使用時の残留電位の低下が抑制されていた。
Ｂ：２万枚のプリントテストによる残留電位の増加が１０％以上３０％未満であり、繰り返し使用時の残留電位の増加が、実用上の許容範囲内であった。
Ｃ：２万枚のプリントテストによる残留電位の増加が３０％以上であり、繰り返し使用時の残留電位の増加が、実用上の許容範囲を超えていた。

［像保持体４］
像保持体３の作製中、第２の層の形成において、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を１０ｓｃｃｍに変更した以外は像保持体３と同様にして保護層付きの像保持体４を作製し、像保持体２と同様の分析及び評価を行った。
分析及び評価の結果を下記表１に示す。
また、ＲＨＥＥＤ（反射高速電子線回折）測定により得られた回折像にはまったく点や線が見られず、第２の層は非晶質であることがわかった。
更に、第２の層の表面はステンレス鋼で擦っても傷がつかなかった。
石英基板上に形成された第２の層は薄く黄色に着色しており、７８０ｎｍにおける透過率は８５％であった。

［像保持体５］
像保持体３の作製中、第２の層の形成において、Ｈｅ希釈２０％酸素ガス（２０ｓｃｃｍ）、Ｈｅガス（１００ｓｃｃｍ）、及びＨ２ガス（５００ｓｃｃｍ）を、Ｈｅ希釈２０％酸素ガス（７ｓｃｃｍ）及びＨｅガス（２００ｓｃｃｍ）に変更し、さらに、成膜時間を６０分間に変更した以外は像保持体２と同様にして保護層付きの像保持体５を作製し、像保持体２と同様の分析及び評価を行った。
分析及び評価の結果を下記表１に示す。
また、ＲＨＥＥＤ（反射高速電子線回折）測定により得られた回折像にはまったく点や線が見られず、第２の層は非晶質であることがわかった。
更に、第２の層の表面はステンレス鋼で擦っても傷がつかなかった。
石英基板上に形成された第２の層はうすく黄色に着色しており、７８０ｎｍにおける透過率は８０％であった。

［像保持体６］
像保持体３の作製中、第２の層の形成において、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を４０ｓｃｃｍに、トリメチルガリウムガス（３ｓｃｃｍ）をトリメチルガリウムガス（２．４ｓｃｃｍ）及びジエチル亜鉛（０．６ｓｃｃｍ）に、それぞれ変更した以外は像保持体２と同様にして保護層付きの像保持体６を作製し、像保持体３と同様の分析及び評価を行った。
分析及び評価の結果を下記表１に示す。
また、ＲＨＥＥＤ（反射高速電子線回折）測定により得られた回折像にはまったく点や線が見られず、第２の層は非晶質であることがわかった。
更に、第２の層の表面はステンレス鋼で擦っても傷がつかなかった。
石英基板上に形成された第２の層は透明であり、７８０ｎｍにおける透過率は９５％であった。

［像保持体７］
像保持体３の作製中、第２の層の形成後であって第１の層形成前に、中間層を形成した以外は像保持体３と同様にして保護層付きの像保持体７を作製し、像保持体３と同様の分析及び評価を行った。
分析及び評価の結果を下記表１に示す。
ここで、中間層の成膜条件は、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を８ｓｃｃｍに変更し、成膜時間を層厚０．１μｍとなるように変更した以外は第２の層と同様の条件である。

［像保持体８］
像保持体３の作製中、ノンコート像保持体（１）表面への第２の層の形成前に、ノンコート像保持体（１）表面へ第３の層を形成した以外は像保持体３と同様にして保護層付きの像保持体８を作製し、像保持体３と同様の分析及び評価を行った。
分析及び評価の結果を下記表１に示す。
なお、中間層の成膜条件は、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を８ｓｃｃｍに変更し、成膜時間を層厚０．０５μｍとなるように変更した以外は第２の層と同様の条件である。

〔像保持体９〕
像保持体３の作製中、第２の層の形成において、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を１ｓｃｃｍに、成膜時間を２４０分間に、それぞれ変更した以外は像保持体２と同様にして保護層付きの像保持体９を作製し、像保持体３と同様の分析及び評価を行った。
分析及び評価の結果を下記表１に示す。
また、石英基板上に成膜した第２の層（分析用の試料膜）は、茶色く着色しており、７８０ｎｍにおける透過率は４０％であった。

〔像保持体１０〕
像保持体３の作製中、第１の層の形成において、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を２ｓｃｃｍに変更し、かつ、第２の層の形成において、Ｈｅ希釈２０％酸素ガスの流量を１ｓｃｃｍに成膜時間を１８０分間に、それぞれ変更した以外は像保持体３と同様にして保護層付きの像保持体１０を作製し、像保持体３と同様の分析及び評価を行った。
分析及び評価の結果を下記表１に示す。
また、石英基板上に成膜した第２の層（分析用の試料膜）は、茶色く着色しており、７８０ｎｍにおける透過率は５０％であった。

表１に示すように、保護層を設けた像保持体２〜像保持体９は、保護層の設けられていない像保持体１に比べて、傷が付きにくい構成であった。
また、表１に示すように、保護層の構成を、最表面を含む第１の領域と第１の領域に比べて原子数比〔酸素／ガリウム〕が大きい第２の領域とを有する構成とした像保持体２〜像保持体７では、該構成とされなかった像保持体８及び像保持体９に比べて、保護層形成による感度の低下が抑制されており、感度低下に伴う画像濃度低下も抑制されていた。
また、像保持体２〜像保持体７では、残留電位も低減されていた。なお、像保持体８及び像保持体９は、像保持体２〜像保持体７に比べて、成長速度（成膜速度）も遅く、生産性も低いことがわかった。

（実施例１）
―清掃装置１の調整―
まず、清掃装置１として、放電部材と、除去部材と、を用意した。

放電部材として、導電性で円柱状の金属シャフト（アルミニウム製、径６ｍｍ）の外側の面に、Ｉｎｏａｃ社製の導電性のウレタンスポンジ層を設けて、その上に、凹凸部材として、平織りの布（２デニールの太さの導電性ナイロンからなる布，厚み３００μｍ，）をスパイラル巻きして設け、外径１２ｍｍの円柱状の放電部材１を作製した。なお、導電性ナイロンおよびそれから成る布はＫＢセーレン製のものを使用した。

この放電部材１の外側の面（不織布の表面）の表面粗さＲａを、ＫＥＹＥＮＣＥ社製のレーザー顕微鏡ＶＫ８５１０を用いて測定したところ、７０μｍであった。

そして、この放電部材１には、Ｖｄｃ＝−５５０Ｖ，周波数１．６ＫＨｚの交流電圧に、Ｖｐｐ＝１．１ｋＶの直流電圧を重畳させた重畳電圧を印加した。

除去部材としては、下記構成のブラシ状の除去部材１を用意した。
導電性の金属シャフト（径５ｍｍ）上に、繊維の太さが２デニール、長さが３．５ｍｍの導電性のナイロンからなる繊維が密度１２０Ｋｆ/ｉｎｃｈ^２となるように配置されたブラシ状の除去部材を用意した。このブラシ状の除去部材１には、−２００Ｖの直流電圧のみを印加する構成とした。

―画像形成装置の準備―
富士ゼロックス社製ＤｏｃｕＣｅｎｔｒｅＣｏｌｏｒ５００に、上記作製した像保持体１を搭載した。また、上記用意した清掃装置１を、帯電装置より像保持体１の回転方向上流側で、且つ転写装置より像保持体１の回転方向下流側に設けた。

なお、清掃装置１における、放電部材１の不織布が像保持体１に接触した領域の不織布の食い込み量（凹み量）の最大値が、０．５ｍｍとなるように、放電部材１を配置した。
また、除去部材１については、除去部材１のブラシを構成する繊維の先端が、像保持体１に０．５ｍｍ食い込むように設置した。

この構成の画像形成装置１における像保持体１の放電開始電圧Ｖｔｈを測定したところ、−６００Ｖであった。また、画像形成時における、像保持体１の、像保持体１と放電部材１との間の領域の電位（清掃装置１によって電圧が印加されていない状態での電位）である表面電位ＶｐｒをＴＲＥＣ社製のＭｏｄｅｌｌ３４４表面電位計によって測定したところ、画像パターンにより分布をもつが０Ｖから−２００Ｖの範囲内であった。

このため、前記式（１）及び式（２）の関係を満たしていた。

なお、該画像形成装置における帯電電位は−６００Ｖとし、現像電位は−４５０Ｖとした。

＜＜評価＞＞
―ＷＳＴ率の評価―
この構成の画像形成装置について、１０℃１５％ＲＨの環境下で、図１７に示す画像１５０（１００％の濃度の帯状のベタ画像１５２が２本形成されているもの）を記録媒体（富士ゼロックス社製，商品名Ｃ２紙）に１５０００枚連続して印刷する走行試験を行った。

そして、上記走行試験において、定期的に、像保持体１上の放電部材と除去部材との間の領域に付着しているトナー全体におけるプラス極のトナーの割合（図１８中のＷＳＴ率に相当）を、細川ミクロン社製のＥ−Ｓｐａｒｔアナライザーを用いて調べた。調べた結果を図１８に線図３００Ａで示した。

―トナー保持量の評価―
上記１５０００枚連続して印刷する走行試験において、定期的に、放電部材１の不織布に保持されているトナーの量をポンプを使用し吸引することによってその質量を測定した。測定結果を図１９に線図３００Ｂで示した。

―クリーニング不良（色筋）評価―
画像上の色筋欠陥を１５０００枚プリント終了後の画像について確認することによって、除去部材によるトナーの除去状況を評価した。評価基準は以下の通りである。評価結果を表２に示した。

−評価基準−
Ａ：色筋状の画像欠陥は全く見られない。
Ｂ：清掃不良に起因すると考えられる色筋がわずかに見られるものの、実用上許容範囲内である。
Ｃ：清掃不良に起因すると考えられる色筋が見られる多数見られ、実用上の許容範囲を超えていた。

―放電生成物の除去状態評価―
上記１５０００枚プリント終了後の画像について、画像の白抜け（デリーション）の発生の有無を確認することにより、放電生成物の除去状態を評価した。画像の白抜けは、白抜け発生部と未発生部との濃度差を濃度計Ｘ−ｒｉｔｅにより測定して評価した。評価基準は以下の通りである。なお、画像形成装置の設置環境は、２８℃ＲＨ８５％とした。なお、評価結果は表２に示した。

−評価基準−
ＡＡＡ：白抜け・濃度低下はまったく無く実使用上問題が無い。
ＡＡ：ごく若干の白抜けまではいかない濃度低下が評価サンプル上の面積で５パーセント以下で実使用上問題が無い。
Ａ：ごく若干の白抜けまではいかない濃度低下が評価サンプル上の面積で１０パーセント以下で実使用上の許容範囲内。
Ｂ：部分的にだが、一見して白抜けがわかり問題がある。
Ｃ：評価サンプル上のほとんどの領域が完全に白抜けしていて問題がある。

（比較例１）
上記実施例１で用いた画像形成装置１に搭載した清掃装置１に代えて、下記比較清掃装置１を用いた以外は、画像形成装置１と同じ条件及び同じ構成の比較画像形成装置１とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。

―比較清掃装置１の調整―
まず、比較清掃装置１として、上記実施例１の清掃装置１で用いた放電部材１に代えて、下記比較放電部材１を用いた以外は、清掃装置１と同じ構成のものを比較清掃装置１として用意した。

比較放電部材１としては、導電性で円柱状の金属シャフト（アルミニウム製、径８ｍｍ）の外側を、導電性のＮＢＲ層（厚み２ｍｍ）で覆ったものを用意した。

この比較放電部材１の外側の面（ＮＢＲ層の表面）の表面粗さＲａを、東京精密社製（サーフコム１４００Ａ−３ＤＦ）にて測定したところ、０．２μｍであり、表面に凹凸は無かった。

そして、この比較放電部材１には、実施例１の放電部材１と同じ、Ｖｄｃ＝−５５０Ｖ，周波数１．６ＫＨｚの交流電圧に、Ｖｐｐ＝１．１ｋＶの直流電圧を重畳させた重畳電圧を印加した。なお、比較画像形成装置１の構成及び条件は、清掃装置１に代えて比較清掃装置１を用いた以外は同じとしたので、像保持体１のＶｐｐ、及びＶｄｃは、上記式（１）及び式（２）の関係を満たしていた。

この構成の比較画像形成装置１について、実施例１の画像形成装置１と同じ条件で、ＷＳＴ率の評価，トナー保持量の評価，クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。ＷＳＴ率の評価結果は図１８に線図３０２Ａで示した。また、トナー保持量の評価結果は、図１９に線図３０２Ｂで示した、クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（比較例２）
上記実施例１で用いた画像形成装置１に搭載した清掃装置１に代えて、下記比較清掃装置２を用いた以外は、画像形成装置１と同じ条件及び同じ構成の比較画像形成装置２とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。

―比較清掃装置２の調整―
まず、比較清掃装置２として、上記実施例１の清掃装置１で用いた放電部材１に代えて、下記比較放電部材２を用いた以外は、清掃装置１と同じ構成のものを比較清掃装置２として用意した。

比較放電部材２としては、導電性で円柱状の金属シャフト（アルミニウム製、径５ｍｍ）に、導電性で太さ２デニールのナイロンからなる繊維（長さ３．５ｍｍ）が、密度１２０Ｋｆ/ｉｎｃｈ^２となるように該シャフトの外側に設けられたブラシ状の構成とした。

そして、この比較放電部材２には、実施例１の放電部材１と同じ、Ｖｄｃ＝−５５０Ｖ，周波数１．６ＫＨｚの交流電圧に、Ｖｐｐ＝１．１ｋＶの直流電圧を重畳させた重畳電圧を印加した。なお、比較画像形成装置２の構成及び条件は、清掃装置１に代えて比較清掃装置２を用いた以外は同じとしたので、像保持体１のＶｐｐ、及びＶｄｃは、上記式（１）及び式（２）の関係を満たしていた。

この構成の比較画像形成装置２について、実施例１の画像形成装置１と同じ条件で、ＷＳＴ率の評価，トナー保持量の評価，クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。ＷＳＴ率の評価結果は図１８に線図３０４Ａで示した。また、トナー保持量の評価結果は、図１９に線図３０４Ｂで示した、クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（実施例１，比較例１〜比較例２について）
図１８に示すように、比較放電部材１（表面がゴム層）を用いた比較例１（図１８では線図３０２Ａ）では、像保持体１上の放電部材と除去部材との間の領域におけるトナー全体におけるプラス極のトナーの割合、すなわち、放電部材によって帯電調整された後のトナーにおけるプラス極のトナーの割合は、５％前後のレベルであり、表２に示すように、トナーのクリーニング不良による色筋の発生も抑制されていた。しかしながら、表２に示されるように、放電生成物の除去状態を示す白抜けが発生しており、放電生成物の除去が十分に行われなかった。これは、図１９の線図３０２Ｂに示されるように、比較放電部材１におけるトナーの保持量が１０ｇ／ｍ^２程度と実施例１に比べて少ない量で推移していることから、比較放電部材１による像保持体１の表面の放電生成物の除去がなされなかったためと考えられる。

また、比較放電部材２（表面がブラシ状）を用いた比較例２では、表２に示されるように、放電生成物の除去状態の評価は良好であったものの、トナーのクリーニング不良による色筋が発生した。詳細には、図１８の線図３０４Ａに示されるように、プリント枚数の増加に伴い、放電部材によって帯電調整された後のトナーにおけるプラス極のトナーの割合が増加しており、目視観察でも、比較放電部材２のトナーによる汚れが観察された。１５０００枚プリント終了後に、該比較放電部材のブラシに蓄積したトナーの極性を調べたところ、プラス極に帯電したトナーとマイナス極に帯電したトナーとがほぼ同じ割合で存在していた。
これは、プラス極及びマイナス極の何れの極に帯電したトナーも、振動電界（直流電圧に交流電圧を重畳させることによって形成された電界）が形成された状態で比較放電部材２のブラシの内部に入り込むと、ブラシ内部では電界がかからないために、像保持体１側にトナーが戻されることが無く、プラス極及びマイナス極の双方のトナーが比較放電部材２のブラシの内部に保持されたためと考えられる。このため、比較放電部材２のトナーによる汚れがひどくなり、像保持体１に向かう単一の極性の放電が弱まって帯電調整能力が低下したと考えられる。そして、この帯電調整能力の低下により、さらに、プラス極及びマイナス極の双方のトナーが極性を単一極性とされない状態で比較放電部材２のブラシの内部に入り込んだことから、ブラシには、プラス極に帯電したトナーとマイナス極に帯電したトナーとがほぼ同じ割合で存在していたと考えられる。

一方、表面に不織布を設けた放電部材１を用いた以外は比較例１及び比較例２と同じ構成の実施例１では、図１８の線図３００Ａに示されるように、放電部材によって帯電調整された後のトナーにおけるプラス極のトナーの割合は、１０％前後のレベルであり、表２に示すように、トナーのクリーニング不良による色筋の発生も抑制されていた。また、表２に示されるように、放電生成物の除去状態を示す白抜けの発生も抑制されており、放電生成物の除去が十分に行われたといえる。これは、図１９の線図３００Ｂに示されるように、トナーの保持量が比較例１を示す線図３０４Ｂ及び比較例２を示す線図３０２Ｂの間の量である３０ｇ／ｍ^２程度で推移していることから、像保持体１上に保持されたトナーに対する帯電調整能力を維持しつつ、且つ適度にトナーを保持して該保持したトナーによって放電生成物が除去されたためと考えられる。

（実施例２）
実施例１で用いた画像形成装置１において用いた像保持体１に代えて像保持体２を用いた以外は、実施例１の画像形成装置１と同じ条件で、ＷＳＴ率の評価，トナー保持量の評価，クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。ＷＳＴ率の評価結果は図１８の線図３００Ａと略同じ結果であった。また、トナー保持量の評価結果は、図１９に線図３００Ｂと略同じ結果であった。クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（比較例３）
比較例１で用いた比較画像形成装置１において用いた像保持体１に代えて像保持体２を用いた以外は、比較例１の比較画像形成装置１と同じ条件で、クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（比較例４）
比較例２で用いた比較画像形成装置２において用いた像保持体１に代えて像保持体２を用いた以外は、比較例２の比較画像形成装置２と同じ条件で、クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（実施例３）
実施例１で用いた画像形成装置１において用いた像保持体１に代えて像保持体３を用いた以外は、実施例１の画像形成装置１と同じ条件で、ＷＳＴ率の評価，トナー保持量の評価，クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。ＷＳＴ率の評価結果は図１８の線図３００Ａと略同じ結果であった。また、トナー保持量の評価結果は、図１９に線図３００Ｂと略同じ結果であった。クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（比較例５）
比較例１で用いた比較画像形成装置１において用いた像保持体１に代えて像保持体３を用いた以外は、比較例１の比較画像形成装置１と同じ条件で、クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（比較例６）
比較例２で用いた比較画像形成装置２において用いた像保持体１に代えて像保持体３を用いた以外は、比較例２の比較画像形成装置２と同じ条件で、クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（実施例２〜実施例３、比較例３〜比較例６について）
実施例２及び実施例３においては、放電部材によって帯電調整された後のトナーにおけるプラス極のトナーの割合は、図１８の線図３００Ａに示される実施例１と略同じ結果が得られた。また、表２に示されるように、実施例２〜実施例３共に、トナーのクリーニング不良による色筋の発生も抑制されていた。また、表２に示されるように、放電生成物の除去状態を示す白抜けの発生も抑制されており、放電生成物の除去が十分に行われていたといえる。

比較放電部材１（表面がゴム層）を用いた比較例３（像保持体２）及び比較例５（像保持体３）については、トナーのクリーニング不良による色筋の発生は抑制されていたものの、放電生成物の除去が不十分であることに起因する白抜けの発生が見られ、像保持体が異なっていても比較例１と同様の結果が得られた。

一方、比較放電部材２（表面がブラシ状）を用いた比較例４（像保持体２）及び比較例６（像保持体３）については、トナーのクリーニング不良による色筋の発生がみられ、また、放電生成物の除去が不十分であることに起因する白抜けの発生が見られ、像保持体１を用いた以外は同じ構成の比較例２とは異なる結果が見られた。
このように、表面がブラシ状の比較放電部材２を用いた場合には、トナーを保持する能力が高いので、保護層を有しない像保持体１を用いた場合には、放電生成物除去が行われるが、表面に保護層を有する像保持体２及び像保持体３を用いた場合には、表面がブラシ状の比較放電部材２を用いた場合には、放電生成物除去の不良に起因する白抜けが発生した。

これは、次のように推測される。図６（Ａ）に示すように、ブラシは、不織布に比べて繊維（図６（Ａ）中、繊維状の部材７０Ａ）と繊維との隙間が大きいために、電界の寄与しない領域に保持されやすく、トナーが内部に蓄えられて像保持体の表面に接触しにくくなると考えられる。また、ブラシは、その構造上、不織布等の布状の部材に比べて隙間が多く、像保持体に向かい合う領域の単位面積当たりの繊維の存在確率が少ないと考えられる。このため、ブラシは、トナーを保持しても、該トナーによって像保持体の表面に付着した放電生成物の除去は難しいと考えられる。像保持体２や像保持体３のように表面に保護層を有する像保持体の場合には、特に、表面が削れ難い構成であることから、放電生成物を除去することは難しいと考えられる。

これに対して、実施例１、実施例２、及び実施例３において用いた放電部材１の表面の不織布等の布状の部材は、図６（Ｂ）等に示すように繊維（図６（Ｂ）中、繊維８０）の長手方向が像保持体の表面に沿うように接触する面構造をしていることから、保持されているトナー（図６（Ｂ）中、トナー７２）が像保持体の表面に接触して放電生成物を除去するために有効に使用されると考えられる。また、その構造上、ブラシに比べて、像保持体の表面に向かい合う領域の単位面積当たりの繊維の存在確率が高い。このため、表面の保護層を有し耐摩耗性の高い像保持体２や像保持体３のような像保持体を用いた場合でも、放電生成物が良好に除去されたと考えられる。

（実施例４〜実施例１０）
実施例１で用いた画像形成装置１において用いた像保持体１に代えて像保持体４〜像保持体１０の各々を用いた画像形成装置４〜画像形成装置１０の各々を、実施例４〜実施例１０とした。そして、実施例１の画像形成装置１と同じ条件で、ＷＳＴ率の評価，トナー保持量の評価，クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。クリーニング不良（色筋）評価、及び放電生成物の除去状態評価は、表２に示した。

（比較例７）
実施例１において、Ｖｐｐを８００Ｖとした以外は、実施例１における画像形成装置１と同じ構成及び同じ条件の比較画像形成装置７とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。結果を表２に示した。像保持体の表面電位は前記したように０から−２００Ｖの範囲であるので、この比較例では、そのうちの‐５０Ｖから‐２００Ｖの範囲においては、前記式（１）を満たしていないので放電が発生しない。従って、トナーの極性を揃えることができずクリーニング不良が発生してしまう。

（比較例８）
実施例１において、Ｖｄｃを−５５０Ｖとし、Ｖｐｐを１５００Ｖとした以外は、実施例１における画像形成装置１と同じ構成及び同じ条件の比較画像形成装置８とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。結果を表２に示した。この比較例では、前記式（２）を満たさないので、プラス放電とマイナス放電が交互に発生してしまい、両極性のトナーに帯電調整されてしまう。従って、下流側配置の除去部材でプラストナーは除去できずクリーニング不良が発生してしまう。

（実施例１１）
実施例１で用いた画像形成装置１に搭載した清掃装置１に代えて、下記清掃装置２を用いた以外は、画像形成装置１と同じ条件及び同じ構成の画像形成装置１１とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。

―清掃装置２の調整―
まず、清掃装置２として、上記実施例１の清掃装置１で用いた放電部材１に代えて、下記放電部材２を用いた以外は、清掃装置１と同じ構成のものを清掃装置２として用意した。

放電部材２としては、導電性で円柱状の金属シャフト（アルミニウム製、径８ｍｍ）の外側を、導電性のＮＢＲ層（厚み２ｍｍ）で覆い、研磨により凹凸をつけたものを用意した。

この放電部材２の外側の面の表面粗さＲａを、東京精密社製（サーフコム１４００Ａ−３ＤＦ）にて測定したところ、１００μｍであった。

この構成の画像形成装置１１について、実施例１の画像形成装置１と同じ条件で、クリーニング不良（色筋）評価，及び放電生成物の除去状態評価を行った。評価結果は、表２に示した。

（実施例１２）
実施例１で用いた画像形成装置１に搭載した清掃装置１に代えて、下記清掃装置３を用いた以外は、画像形成装置１と同じ条件及び同じ構成の画像形成装置１２とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。

―清掃装置３の調整―
まず、清掃装置３として、上記実施例１の清掃装置１で用いた放電部材１に代えて、下記放電部材３を用いた以外は、清掃装置１と同じ構成のものを清掃装置３として用意した。

放電部材３としては、導電性で円柱状の金属シャフト（アルミニウム製、径８ｍｍ）の外側を、導電性のＮＢＲ層（厚み２ｍｍ）で覆い、その上に絶縁性のナイロン系樹脂からなる微粒子を分散させた導電性のナイロン樹脂によりコートしたものを用意した。微粒子を分散させることで凹凸をつけている。

この放電部材３の外側の面の表面粗さＲａを、東京精密社製（サーフコム１４００Ａ−３ＤＦ）にて測定したところ、５０μｍであった。

（実施例１３）
実施例１において、Ｖｄｃを−６００Ｖとし、Ｖｐｐを９００Ｖとした以外は、実施例１における画像形成装置１と同じ構成及び同じ条件の画像形成装置１３とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。結果を表２に示した。
なお、放電部材３通過後の像保持体の電位は−４５０Ｖになるので下流配置の除去部材には−１５０Ｖを印加した。

（実施例１４）
実施例１において、Ｖｄｃを−４００Ｖとし、Ｖｐｐを−１０００Ｖとした以外は、実施例１における画像形成装置１と同じ構成及び同じ条件の画像形成装置１４とし、画像形成装置１と同じ条件で走行試験及び評価を行った。結果を表２に示した。
なお、放電部材３通過後の像保持体の電位は−３００Ｖになるので下流配置の除去部材には０Ｖを印加した。

表２に示す結果から、本実施例によれば、像保持体として耐摩耗性の高い像保持体を用いた場合であっても、トナーのクリーニング不良による色筋の発生が抑制され、放電生成物の除去状態を示す白抜けの発生も抑制されており、放電生成物の除去が十分に行われていることがわかる。

１０，１１０，１６０画像形成装置、１２，１２Ｃ，１２Ｍ，１２Ｙ，１２Ｋ像保持体，１４，１４Ｃ，１４Ｍ，１４Ｙ，１４Ｋ帯電装置、１６，１６Ｃ，１６Ｍ，１６Ｙ，１６Ｋ露光装置、１８，１８Ｃ，１８Ｍ，１８Ｙ，１８Ｋ現像装置、２０中間転写体、２２，２２Ｃ，２２Ｍ，２２Ｙ，２２Ｋ転写部材、２８Ａ二次転写部材、３０定着装置、３２，３２Ｃ，３２Ｍ，３２Ｙ，３２Ｋ，４６，６４，６４Ｃ，６４Ｍ，６４Ｙ，６４Ｋ，１３２，１８２，１９２清掃装置、３４Ａ凹凸部材、３４，３５，４８，６０，１３４，１８４放電部材、３６，５０，６２，１３６，１８６除去部材、３８，５２，６１，１３８，１８８電圧印加装置、５３，６３保護層、７０搬送部材

Claims

像保持体、前記像保持体を帯電させる帯電装置、前記帯電装置によって帯電された前記像保持体に静電潜像を形成する潜像形成装置、前記潜像形成装置によって前記像保持体上に形成された静電潜像をトナーによって現像する現像装置、前記現像装置によって前記像保持体上に形成されたトナー像を被転写体へ転写する転写装置、及び清掃装置を備え、
前記像保持体が、
円柱状の基体と、前記基体上に設けられた感光層と、前記感光層上に設けられ、酸素及びガリウムを含有し、外側に存在する第1の領域、及び該第１の領域よりも前記基体に近い側に存在し、前記第1の領域に比べてガリウムに対する酸素の原子数比が大きい第２の領域を有する保護層と、を有し、
前記清掃装置が、
回転される前記像保持体の外側の面に向かい合うように配置され、該像保持体に向かい合う領域が凹凸を有する面状であり、印加された電圧に応じた電界を前記像保持体との間に形成し、且つ該電圧に応じた放電を行う放電部材と、
前記像保持体と前記放電部材との間に形成された電界の向きを変化させ、且つ該放電部材から該像保持体に向かって予め定められた極性の放電が行なわれるように、直流電圧と交流電圧とを重畳させた重畳電圧を前記電界形成装置に印加する電圧印加装置と、
を備え、
前記電圧印加装置から前記放電部材に印加される前記重畳電圧に含まれる交流電圧の電圧波形の振幅の最大から最小までの振幅値Ｖｐｐと、該重畳電圧に含まれる直流電圧の電圧値Ｖｄｃが、下記式（１）及び式（２）に示す関係を満たす清掃装置である、画像形成装置。
｜Ｖｔｈ｜≦Ｖｐｐ／２＋｜Ｖｄｃ｜−｜Ｖｐｒ｜（１）
Ｖｐｐ≦２｜Ｖｔｈ｜（２）
（上記式（１）及び式（２）中、Ｖｔｈは、前記像保持体の表面電位が０Ｖの状態で、前記放電部材に直流電圧のみが印加されたときに、前記放電部材から前記像保持体に向かって放電が開始される電圧値であり、式（１）中、Ｖｐｒは、前記像保持体の表面電位を示す。）
前記清掃装置の放電部材における前記像保持体に向かい合う領域が、導電性を有する布からなる請求項１に記載の画像形成装置。
前記清掃装置が、前記放電部材より前記像保持体の回転方向下流側に設けられ、前記像保持体の表面に付着した付着物を除去する除去部材を備える請求項１又は請求項２に記載の画像形成装置。