JP5417079B2

JP5417079B2 - インクジェット記録装置

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Publication number: JP5417079B2
Application number: JP2009178746A
Authority: JP
Inventors: 亜紗代西村; 富行岡田
Original assignee: Riso Kagaku Corp
Current assignee: Riso Kagaku Corp
Priority date: 2009-07-31
Filing date: 2009-07-31
Publication date: 2014-02-12
Anticipated expiration: 2029-07-31
Also published as: JP2011031442A

Description

本発明は、インクジェットヘッドのノズルからインクを吐出して記録媒体に記録を行うインクジェット記録装置に関する。

インクジェット記録装置では、インクジェットヘッドに設けられたインク室に圧力を付与して、インク室内のインクをノズルから吐出する（例えば、特許文献１参照）。ノズルから吐出されたインクは尾を引く形で飛翔し、この飛翔するインクの先頭部分と後尾部分との間に時間差や速度差が生じる。このため、先行する主たるインク滴に付随して、不要な微小インク滴（サテライト）が発生することがある。

低温環境下では、インクの粘度が高くなる。そこで、所望量のインクを吐出するためにインクジェットヘッドの駆動電圧を大きくすると、ノズルから吐出されるインクの尾が長くなる。長い尾は切れやすいため、サテライトが発生しやすくなる。

サテライトは、記録媒体上に付着して印刷品質を低下させたり、装置内に付着して装置を汚したりする。このため、従来、サテライトが発生しやすい低温環境下では記録動作を行わずに、インクジェットヘッドを加温するウォームアップ動作を行った後に記録を開始することが行われていた。

特開２０００−２５５０５５号公報

上述のように、従来のインクジェット記録装置においては、サテライトが発生しやすい低温環境下では、ウォームアップ動作を行った後で記録を開始するため、画像の記録に長時間を要していた。

本発明は上記に鑑みてなされたもので、低温環境下でもサテライトの発生を軽減しつつ、短時間で画像の記録を行うことができるインクジェット記録装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するため、請求項１に係るインクジェット記録装置は、複数のインク室と、前記インク室に連通してインクを吐出する複数のノズルと、前記各インク室の容積を変化させる複数の可変手段とを有するインクジェットヘッドと、前記可変手段を駆動して前記インク室の容積を変化させて前記インク室内の圧力を変化させることにより前記ノズルからインクを吐出させるヘッド駆動手段と、前記インクジェットヘッドに供給されるインクの温度を検知する温度検知手段と、前記温度検知手段の検知温度が所定温度より高い場合は通常波形を選択し、前記検知温度が前記所定温度以下の所定温度範囲内である場合はサテライト対策波形を選択し、選択した波形により前記可変手段を駆動するように前記ヘッド駆動手段を制御する制御手段とを備え、前記通常波形は、前記インク室の容積を拡大させた後、元の容積に戻し、その後容積を縮小させてから再度元の容積に戻すように前記可変手段を駆動する電圧の波形であり、前記サテライト対策波形は、前記通常波形よりも電圧が小さく、前記インク室の容積を拡大させた後に元の容積に戻してから容積の縮小を開始するまでの時間が前記通常波形よりも短い波形であることを特徴とする。

請求項２に係るインクジェット記録装置は、請求項１に記載のインクジェット記録装置において、前記所定温度範囲内において前記通常波形および前記サテライト対策波形でそれぞれ前記可変手段を駆動してインクを吐出させた場合の、１画素あたりに吐出されるインクのドロップ数と発生するサテライト数との関係を示すサテライトデータを記憶する記憶手段をさらに備え、前記制御手段は、前記検知温度が前記所定温度範囲内である場合において、入力される記録対象の画像データと前記サテライトデータとを用いて、前記通常波形により前記インクジェットヘッドの前記各可変手段を駆動して前記画像データを記録する場合のサテライトの発生量を示す第１の評価値と、前記サテライト対策波形により前記インクジェットヘッドの前記各可変手段を駆動して前記画像データを記録する場合のサテライトの発生量を示す第２の評価値とを算出し、前記第２の評価値が前記第１の評価値よりも小さい場合に、前記サテライト対策波形を選択し、前記第２の評価値が前記第１の評価値以上の場合は、前記通常波形を選択することを特徴とする。

請求項３に係るインクジェット記録装置は、請求項１または２に記載のインクジェット記録装置において、前記サテライト対策波形は、前記インク室の容積を縮小させている時間が前記通常波形よりも長い波形であることを特徴とする。

本発明のインクジェット記録装置によれば、低温環境下でもサテライトの発生を軽減しつつ、短時間で画像の記録を行うことができる。

本発明の実施の形態に係るインクジェット記録装置におけるインクジェットヘッドの概略構成を一部断面で示す斜視図である。図１に示すインクジェットヘッドにおいてインク供給部を備えた状態のＡ−Ａ線に沿った断面図である。図１におけるＢ−Ｂ線に沿った断面図である。本実施の形態に係るインクジェット記録装置の機能構成を示すブロック図である。サテライトデータの一例を示す図である。インク吐出の基本的な動作を示す図である。通常波形の波形図である。サテライト対策波形の波形図である。通常波形により吐出動作を行う場合のインク室内の圧力変化を示す図である。サテライト対策波形により吐出動作を行う場合のインク室内の圧力変化を示す図である。本実施の形態に係るインクジェット記録装置における記録時の動作を示すフローチャートである。画像データにおける各ドロップ数の割合の一例を示す図である。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照して説明する。なお、各図面を通じて同一もしくは同等の部位や構成要素には、同一もしくは同等の符号を付し、その説明を省略もしくは簡略化する。

図１は、本発明の実施の形態に係るインクジェット記録装置におけるインクジェットヘッドの概略構成を一部断面で示す斜視図、図２は、図１に示すインクジェットヘッドにおいてインク供給部を備えた状態のＡ−Ａ線に沿った断面図、図３は、図１におけるＢ−Ｂ線に沿った断面図である。図１に示すインクジェットヘッドは、シェアモード型のインクジェットヘッドである。

なお、本実施の形態において、後述のインク室に関する構成は全インク室で共通であるので、個々のインク室を示す符号のアルファベット等の添え字を省略して総括的に表記することがある。

図１〜図３に示すように、インクジェットヘッド１には、セラミック等からなる基板２とカバープレート３との間に、２つの圧電部材４ａ，４ｂからなる複数の隔壁４が配置されている。圧電部材４ａ，４ｂは、例えば、ＰＺＴ（ＰｂＺｒＯ_３−ＰｂＴｉＯ_３）等の公知の圧電材料からなり、図３中の矢印で示すように互いに異なる方向に分極している。

基板２、カバープレート３、および隔壁４の先端には、ノズルプレート５が固定されている。これにより、基板２、カバープレート３、隔壁４、およびノズルプレート５に囲まれた複数のインク室６が並ぶように形成される。ノズルプレート５には、複数のノズル７が設けられており、インク室６の一端側はノズル７に連通されている。インク室６の他端側は、全インク室６に連通するインク流入口８、インク供給口９を経て、インクチューブ１０によってインクタンク（図示せず）に接続されている。このインク流入口８、インク供給口９、およびインクチューブ１０によりインク供給部が構成される。

インク室６の側面を構成する隔壁４および底面を構成する基板２の表面には、電極（可変手段）１１が密着形成されている。インク室６内の電極１１は、圧電部材４ａの後部側表面まで延びている。各電極１１には、この後部側表面において異方導電性フィルム（図示せず）を介してフレキシブルケーブル１２が接続されており、このフレキシブルケーブル１２を介して電極１１に駆動電圧が印加されるようになっている。

電極１１は、駆動電圧が印加されると、隔壁４をせん断変形させることによりインク室６の容積およびインク室６内の圧力を変化させる。これにより、ノズル７からインク室６内のインクが吐出される。

図４は、本実施の形態に係るインクジェット記録装置の機能構成を示すブロック図である。図４に示すように、本実施の形態に係るインクジェット記録装置は、インクジェットヘッド１を駆動させるヘッド駆動部２１と、温度検知部２２と、加温部２３と、駆動波形格納部２４と、記憶部２５と、制御部２６とを備える。

ヘッド駆動部２１は、フレキシブルケーブル１２を介してインクジェットヘッド１の電極１１に駆動電圧を印加することにより、隔壁４を変形させてインク室６の容積およびインク室６内の圧力を変化させ、ノズル７からインクを吐出させる吐出駆動を行う。

温度検知部２２は、インクジェットヘッド１に供給されるインクの温度を検知する。インクタンク（図示せず）からインクジェットヘッド１に供給されるインクの温度が検知できれば、温度検知部２２はどこに配置されていてもよい。

加温部２３は、インクジェットヘッド１に供給されるインクを加温する。インクタンクからインクジェットヘッド１に供給されるインクを加温できれば、加温部２３はどこに配置されていてもよい。

駆動波形格納部２４は、インクジェットヘッド１を駆動させる電圧の通常波形およびサテライト対策波形の波形データを格納する。通常波形およびサテライト対策波形については後述する。

記憶部２５は、通常波形およびサテライト対策波形を電極１１に印加してインクを吐出させた場合の、１画素あたりに吐出されるインクのドロップ数と発生するサテライト数との関係を示すサテライトデータを記憶する。

サテライトデータの一例を図５に示す。図５において、ドロップ数ｎは、１画素あたりに吐出されるドロップ数であり、所定期間内に連続して吐出されるドロップ数である。図５のデータは、後述のヘッド使用可能温度Ｔ１から通常使用可能温度Ｔ２の温度範囲内のある温度において、通常波形およびサテライト対策波形のそれぞれについて、ドロップ数ｎごとに実験的に複数回測定されたサテライト数の平均を示す。通常波形、サテライト対策波形のそれぞれを用いた場合に吐出される１ドロップの体積は同じになるように設定される。

制御部２６は、温度検知部２２の検知結果、画像処理部（図示せず）等から入力される画像データ、および記憶部２５に記憶されたサテライトデータを用いて、通常波形またはサテライト対策波形を選択し、選択した波形の電圧によりインクジェットヘッド１の電極１１を駆動するようにヘッド駆動部２１を制御する。また、制御部２６は、加温部２３の駆動を制御する。

次に、インク吐出の基本的な動作について説明する。

図６に示すように、圧電部材４ａ，４ｂからなる隔壁４Ａ〜４Ｄで隔てられた３つのインク室６Ａ〜６Ｃのうちのインク室６Ｂからインクを吐出させる場合について説明する。図７は、インクを１ドロップ吐出するためにインク室６Ｂの電極１１Ｂに印加される電圧の波形図であり、本実施の形態における通常波形を示す。通常波形は基本的に、温度検知部２２の検知温度が後述の通常使用可能温度Ｔ２よりも高い場合の通常の記録動作において用いられる波形である。

図６（ａ）に示す定常状態から、図７における時刻ｔ１において、インク室６Ａ，６Ｃの電極１１Ａ，１１Ｃを接地するとともに、インク室６Ｂの電極１１Ｂに負電圧−Ｖ_Ａの駆動パルスＰ１を印加すると、隔壁４Ｂ，４Ｃを構成する圧電部材４ａ，４ｂの分極方向に垂直な方向の電界が生じる。これにより、圧電部材４ａ，４ｂの接合面にズリ変形が生じ、図６（ｂ）に示すように、隔壁４Ｂ，４Ｃは互いに離反する方向に変形し、インク室６Ｂの容積が拡大する。この結果、インク室６Ｂ内のインクに負圧が生じて、インク流入口８からインク室６Ｂにインクが流れ込む。

駆動パルスＰ１の印加時間は時刻ｔ１から時刻ｔ２までの１ＡＬである。ＡＬ（Acoustic Length）は、容積が拡大したインク室６にインクが流入することによる圧力波が、インク室６の全域を伝播してノズル７に達するまでの時間であり、インクジェットヘッド１の構造や、インクの密度等に依存して決まるものである。

図６（ｂ）の状態から、図７における時刻ｔ２において、インク室６Ｂの電極１１Ｂに印加する電圧を接地電位に戻すと、隔壁４Ｂ，４Ｃは、図６（ａ）に示した中立位置に戻る。これにより、インク室６Ｂ内のインクが加圧され、対応するノズル７からインクが吐出される。

インク室６Ｂの電極１１Ｂに印加する電圧を接地電位に戻してから１ＡＬが経過すると、時刻ｔ３から時刻ｔ４までの１ＡＬの期間、インク室６Ｂの電極１１Ｂに正電圧Ｖ_Ａの駆動パルスＰ２を印加する。これにより、図６（ｃ）に示すように、隔壁４Ｂ，４Ｃは互いに接近する方向に変形し、インク室６Ｂの容積が縮小する。

インクは時刻ｔ２において吐出が開始されるが、吐出後、インク室６Ｂ内には負圧が生じる。駆動パルスＰ２を印加してインク室６Ｂ内の容積を縮小させて加圧力を発生させることで、インク吐出後のインク室６Ｂ内の負圧が抑えられ、インク室６Ｂ内におけるインクの残留振動が抑制される。これにより、次回の吐出動作を安定して行うことができる。

駆動パルスＰ２の印加後、時刻ｔ４から時刻ｔ５の間においてインク室６Ｂの電極１１Ｂに印加する電圧を接地電位とし、図６（ａ）の状態に戻す。

このように、通常波形は、インク室６の容積を拡大させた後、元の容積に戻し、その後容積を縮小させてから再度元の容積に戻すように隔壁４を変形させるように電極１１に印加する電圧の波形である。

なお、シェアモード型のインクジェットヘッド１では、上述のように隔壁４の変形を利用してインク吐出を行うので、隣接したインク室６を同時に吐出駆動することはできない。このため、記録動作時においては、インクジェットヘッド１が有する全インク室６を、互いに隣接しないインク室６からなる複数のグループに分割し、グループごとにインク室６を吐出駆動させる時分割駆動が行われる。

本実施の形態では、通常波形の他に、通常波形を用いた場合よりもサテライトの発生を抑制するように電極１１を駆動する電圧の波形であるサテライト対策波形を用意する。このサテライト対策波形の一例を図８に示す。

このサテライト対策波形を用いる場合、図６（ａ）に示す定常状態から、図８における時刻ｔ６において、インク室６Ａ，６Ｃの電極１１Ａ，１１Ｃを接地するとともに、インク室６Ｂの電極１１Ｂに負電圧−Ｖ_Ｂの駆動パルスＰ３を印加すると、インク室６Ｂの容積が拡大し、インク室６Ｂにインクが流れ込む。駆動パルスＰ３の印加時間は時刻ｔ６から時刻ｔ７までの１ＡＬである。

図６（ｂ）の状態から、図８における時刻ｔ７において、インク室６Ｂの電極１１Ｂに印加する電圧を接地電位に戻すと、隔壁４Ｂ，４Ｃは、図６（ａ）に示した中立位置に戻る。そして、時刻ｔ７からごく短時間後の時刻ｔ８から、２ＡＬ後の時刻ｔ９までの期間、インク室６Ｂの電極１１Ｂに正電圧Ｖ_Ｂの駆動パルスＰ４を印加すると、図６（ｃ）に示すように、隔壁４Ｂ，４Ｃは互いに接近する方向に変形し、インク室６Ｂの容積が縮小する。このように、図６（ｂ）の状態から、ごく短時間の図６（ａ）の状態を挟んで図６（ｃ）の状態に移行することで、インク室６Ｂ内のインクが急激に加圧され、対応するノズル７からインクが吐出される。

駆動パルスＰ４の印加後、時刻ｔ９から時刻ｔ１０の間においてインク室６Ｂの電極１１Ｂに印加する電圧を接地電位とし、図６（ａ）の状態に戻す。

このように、サテライト対策波形は、１ドロップの吐出動作において、インク室６の容積を拡大させた後に元の容積に戻してから容積の縮小を開始するまでの時間（時刻ｔ７からｔ８まで）が通常波形の場合の対応する時間（時刻ｔ２からｔ３までのＡＬ）よりも短く、容積を縮小させている時間（時刻ｔ８からｔ９までの２ＡＬ）が通常波形の場合の対応する時間（時刻ｔ３からｔ４までのＡＬ）よりも長い波形である。

また、図８に示すサテライト対策波形の電圧Ｖ_Ｂは、図７に示す通常波形の電圧Ｖ_Ａよりも小さく、通常波形を用いて吐出動作を行う場合とサテライト対策波形を用いて吐出動作を行う場合とで、吐出される１ドロップのインクの体積が同じになるように設定される。

なお、サテライト対策波形において、時刻ｔ７からｔ８までの間を省略して、駆動パルスＰ３の印加終了と同時に駆動パルスＰ４の印加を開始してもよい。

ここで、サテライト対策波形を用いた場合に、通常波形を用いた場合よりもサテライトの発生を抑制できる理由について説明する。図９は、通常波形により吐出動作を行う場合のインク室６内の圧力変化を示す図、図１０は、サテライト対策波形により吐出動作を行う場合のインク室６内の圧力変化を示す図である。

図９に示すように、図７の通常波形の電圧を電極１１に印加した場合、インク室６の容積を拡大させた後、元の容積に戻した時刻ｔ２においてインク室６内の圧力が高まり、インクの吐出が開始される。インクが吐出されると、図９に示すように、インク室６内には負圧が生じるが、時刻ｔ３において駆動パルスＰ２を印加してインク室６内の容積を縮小させて加圧力を発生させることで、インク吐出後のインク室６内の負圧が抑えられ、インクの残留振動が抑制される。このように残留振動を抑制させることで、前述のように、次回の吐出動作を安定して行うことができる。

これに対し、図１０に示すように、図８のサテライト対策波形の電圧を電極１１に印加した場合、インク室６の容積を拡大させた後、元の容積に戻し、その直後に容積を縮小させる時刻ｔ７〜ｔ８においてインク室６内の圧力が急激に高まり、インクの吐出が開始される。サテライト対策波形の電圧Ｖ_Ｂは通常波形の電圧Ｖ_Ａより小さいが、時刻ｔ７からｔ８の時間を極めて短くすることで、インク室６内の圧力変化を大きくすることができ、低電圧でも所望量のインクを吐出することを可能としている。

そして、駆動パルスＰ４の印加時間（時刻ｔ８〜ｔ９の２ＡＬ）を、通常波形の駆動パルスＰ２の印加時間（時刻ｔ３〜ｔ４のＡＬ）よりも長くとっているため、図１０に示すように、インク吐出後のインク室６内の負圧が抑えられずに存在する。この負圧により、吐出されたインクをノズル７側に引き込む力が通常波形を用いた場合よりも大きく作用し、これにより吐出されたインクの尾が短く抑えられるため、サテライトの発生が軽減される。

なお、ドロップ数ｎやドロップ間の時間間隔等の条件によっては、サテライト対策波形を用いても、通常波形を用いた場合よりもサテライト数が減少しない場合があることが実験的に確認されている。例えば図５の例では、ドロップ数ｎが２の場合に、サテライト対策波形を用いた場合のほうが、通常波形を用いた場合よりもサテライト数が多くなっている。

次に、本実施の形態に係るインクジェット記録装置における記録時の動作について、図１１に示すフローチャートを参照して説明する。

記録対象の画像データが入力されると、ステップＳ１０において、制御部２６は、温度検知部２２で検知されるインクの温度Ｔが、ヘッド使用可能温度Ｔ１よりも高いか否かを判断する。温度Ｔがヘッド使用可能温度Ｔ１以下である場合（ステップＳ１０：ＮＯ）、そのままではインクジェットヘッド１による記録動作を行わず、ステップＳ２０において、制御部２６は、インクジェットヘッド１に供給されるインクを加温するウォームアップを行うよう加温部２３を駆動させる。その後、ステップＳ１０に戻る。ヘッド使用可能温度Ｔ１は、例えば２０℃程度である。

温度Ｔがヘッド使用可能温度Ｔ１より高い場合（ステップＳ１０：ＹＥＳ）、ステップＳ３０において、制御部２６は、温度Ｔが通常使用可能温度Ｔ２よりも高いか否かを判断する。通常使用可能温度Ｔ２は、ヘッド使用可能温度Ｔ１よりも高い温度であり、温度Ｔが通常使用可能温度Ｔ２より高い場合（ステップＳ３０：ＹＥＳ）、ステップＳ４０に進み、温度Ｔが通常使用可能温度Ｔ２以下である場合（ステップＳ３０：ＮＯ）、ステップＳ５０に進む。通常使用可能温度Ｔ２は、例えば２５℃程度である。

ステップＳ４０では、制御部２６は、駆動波形格納部２４から通常波形の波形データ読み出し、入力された画像データおよび通常波形の波形データに基づいて、インクジェットヘッド１の駆動対象となるインク室６を駆動してインク吐出動作を行わせるようにヘッド駆動部２１を制御する。画像データには各画素におけるドロップ数が設定されており、このドロップ数に応じて、それぞれのインク室６で前述の図６を用いて説明した吐出動作が行われる。

ステップＳ５０では、制御部２６は、入力された画像データおよび記憶部２５に記憶されたサテライトデータに基づいて、通常波形によりインクジェットヘッド１を駆動して画像データを記録する場合のサテライトの発生量を示す評価値Ｈ１と、サテライト対策波形によりインクジェットヘッド１を駆動して画像データを記録する場合のサテライトの発生量を示す評価値Ｈ２とを算出する。

評価値Ｈ１，Ｈ２は、以下の（数式１），（数式２）により算出される。

Ｈ１＝Σ（Ｒｎ×Ｓａｎ） …（数式１）
Ｈ２＝Σ（Ｒｎ×Ｓｂｎ） …（数式２）
ここで、Ｒｎは画像データにおける各ドロップ数ｎ（ｎ＝１，２，…，Ｎ）の割合、Ｓａｎは図５に示したようなサテライトデータにおける通常波形の平均サテライト数、Ｓｂｎはサテライト対策波形の平均サテライト数である。Ｎは１つの画素に吐出される最大のドロップ数として設定される値であり、図５の例ではＮ＝５である。

前述のように、記録対象の画像データには各画素におけるドロップ数が設定されており、Ｒｎは各ドロップ数ｎが設定されている画素の全画素に対する割合である。例えば、Ｒｎが図１２に示すような値である場合、図５および図１２から、Ｈ１＝３６４．５，Ｈ２＝２６５．５となる。

次いで、ステップＳ６０において、制御部２６は、評価値Ｈ１が評価値Ｈ２よりも大きいか否かを判断する。評価値Ｈ１が評価値Ｈ２よりも大きい場合（ステップＳ６０：ＹＥＳ）、ステップＳ７０に進み、評価値Ｈ１が評価値Ｈ２以下である場合（ステップＳ６０：ＮＯ）、ステップＳ４０に進む。

ステップＳ７０では、制御部２６は、駆動波形格納部２４からサテライト対策波形の波形データ読み出し、入力された画像データおよびサテライト対策波形の波形データに基づいて、インクジェットヘッド１の駆動対象となるインク室６を駆動してインク吐出動作を行わせるようにヘッド駆動部２１を制御する。

サテライト対策波形を用いる場合、通常波形を用いる場合よりも駆動電圧が低いので、消費電力を小さくすることができる。そこで、制御部２６は、この節減できた分の電力で次回以降の記録動作のためのウォームアップのために加温部２３を駆動する。

このように本実施の形態によれば、通常波形以外にサテライト対策波形の波形データを記憶し、インクの温度Ｔがヘッド使用可能温度Ｔ１より高くても従来であればサテライトを抑制するために記録動作を控えてウォームアップを行う低温の温度範囲（Ｔ１＜Ｔ≦Ｔ２）において、画像データに応じてサテライト対策波形および通常波形のうちサテライトの発生が少ないほうを選択して記録動作を行うので、低温環境下でもサテライトの発生を軽減しつつ、ウォームアップを待つことなく短時間で画像の記録を行うことができる。

なお、図５においては、ドロップ数ｎ＝２の場合のように、ドロップ数ｎによってサテライト対策波形によるサテライトの抑制効果が得られない場合を含んでいるが、インクの種類やドロップ間の時間間隔等の条件によっては、すべてのドロップ数ｎにおいて、サテライト対策波形のほうが通常波形よりもサテライトの発生が少なくなる場合もある。

このような場合、どのような画像データであってもサテライト対策波形を用いたほうがサテライトの発生が少なくなるので、上述した図１１のステップＳ５０，Ｓ６０における評価値Ｈ１，Ｈ２の算出、比較は必要でなく、サテライトデータを記憶しておかなくてもよい。したがって、この場合、Ｔ＞Ｔ２の場合（ステップＳ３０：ＹＥＳ）は通常波形を選択し（ステップＳ４０）、Ｔ１＜Ｔ≦Ｔ２の場合（ステップＳ３０：ＮＯ）は、ステップＳ５０，Ｓ６０の処理を省略して、サテライト対策波形を選択する（ステップＳ７０）。

また、インクジェット記録装置が、互いに異なる色に対応する複数のインクジェットヘッド１を備えていてもよい。この場合、図５に示したようなサテライトデータを、複数のインクジェットヘッド１に対応する各色ごとに予め生成し、記憶部２５に記憶する。また、温度検知部２２、加温部２３も各インクジェットヘッド１に対応して設ける。

そして、制御部２６は、図１１に示した一連の処理を、各インクジェットヘッド１ごと（各色ごと）に行う。なお、ヘッド使用可能温度Ｔ１および通常使用可能温度Ｔ２は各色ごとに設定してもよい。

なお、設定された印刷モード等によって、あるインクジェットヘッドにはサテライト対策波形を用いない判断をするようにしてもよい場合もある。例えば、インクジェット記録装置が、シアン（Ｃ）、マゼンタ（Ｍ）、イエロー（Ｙ）、ブラック（Ｋ）にそれぞれ対応する４つのインクジェットヘッド１を有し、シアンに対応するサテライトデータが、図５のようにドロップ数ｎ＝２の場合にはサテライト対策波形によるサテライトの抑制効果が得られないことを示している場合において、コンポジットモノクロモードで印刷する場合等である。

コンポジットモノクロモードは、ブラック単色をＣ，Ｍ，Ｙ，Ｋの混色で表現する印刷モードである。コンポジットモノクロモードにおいては、シアンについては２ドロップが多く用いられる。このため、シアンに対応するサテライトデータが図５のものである場合、サテライト対策波形よりも通常波形を用いたほうがサテライトの発生を軽減できる。したがって、このような場合、シアンについては評価値Ｈ１，Ｈ２の算出等を行うことなく通常波形を選択し、他の色（Ｍ，Ｙ，Ｋ）については、図１１の手順によりサテライト対策波形または通常波形を選択する。

１インクジェットヘッド
４隔壁
６インク室
１１電極
２１ヘッド駆動部
２２温度検知部
２３加温部
２４駆動波形格納部
２５記憶部
２６制御部

Claims

複数のインク室と、前記インク室に連通してインクを吐出する複数のノズルと、前記各インク室の容積を変化させる複数の可変手段とを有するインクジェットヘッドと、
前記可変手段を駆動して前記インク室の容積を変化させて前記インク室内の圧力を変化させることにより前記ノズルからインクを吐出させるヘッド駆動手段と、
前記インクジェットヘッドに供給されるインクの温度を検知する温度検知手段と、
前記温度検知手段の検知温度が所定温度より高い場合は通常波形を選択し、前記検知温度が前記所定温度以下の所定温度範囲内である場合はサテライト対策波形を選択し、選択した波形により前記可変手段を駆動するように前記ヘッド駆動手段を制御する制御手段とを備え、
前記通常波形は、前記インク室の容積を拡大させた後、元の容積に戻し、その後容積を縮小させてから再度元の容積に戻すように前記可変手段を駆動する電圧の波形であり、
前記サテライト対策波形は、前記通常波形よりも電圧が小さく、前記インク室の容積を拡大させた後に元の容積に戻してから容積の縮小を開始するまでの時間が前記通常波形よりも短い波形であることを特徴とするインクジェット記録装置。
前記所定温度範囲内において前記通常波形および前記サテライト対策波形でそれぞれ前記可変手段を駆動してインクを吐出させた場合の、１画素あたりに吐出されるインクのドロップ数と発生するサテライト数との関係を示すサテライトデータを記憶する記憶手段をさらに備え、
前記制御手段は、
前記温度検知手段の検知結果が前記所定温度範囲内である場合において、入力される記録対象の画像データと前記サテライトデータとを用いて、前記通常波形により前記インクジェットヘッドの前記各可変手段を駆動して前記画像データを記録する場合のサテライトの発生量を示す第１の評価値と、前記サテライト対策波形により前記インクジェットヘッドの前記各可変手段を駆動して前記画像データを記録する場合のサテライトの発生量を示す第２の評価値とを算出し、
前記第２の評価値が前記第１の評価値よりも小さい場合に、前記サテライト対策波形を選択し、前記第２の評価値が前記第１の評価値以上の場合は、前記通常波形を選択することを特徴とする請求項１に記載のインクジェット記録装置。
前記サテライト対策波形は、前記インク室の容積を縮小させている時間が前記通常波形よりも長い波形であることを特徴とする請求項１または２に記載のインクジェット記録装置。