JP5413785B2 - 太陽電池の評価方法、評価装置、メンテナンス方法、メンテナンスシステム、および太陽電池モジュールの製造方法 - Google Patents
太陽電池の評価方法、評価装置、メンテナンス方法、メンテナンスシステム、および太陽電池モジュールの製造方法 Download PDFInfo
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Description
本発明の太陽電池の評価方法は、太陽電池の欠陥について評価を行うものであって、太陽電池を構成する太陽電池素子に対して、順方向に電流を注入する電流注入工程と、電流注入工程によって太陽電池素子から生じる光のうち、波長800nm〜1300nmの第1の領域の光と、波長1400nm〜1800nmの第2の領域の光とを検出する発光検出工程と、発光検出工程で検出した第1の領域の光の発光強度と第2の領域の光の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別する判定工程と、を含んでいればよい。
電流注入工程は、太陽電池を構成する太陽電池素子に対して、順方向に電流を注入する工程であればよい。注入される電流は、直流電流であってもよいし、パルス電流であってもよい。以下では直流電流を注入する場合の本発明の太陽電池の評価方法について説明する。
発光検出工程は、電流注入工程によって太陽電池素子から生じる発光のうち、波長800nm〜1300nmの第1の領域の光と、波長1400nm〜1800nmの第2の領域の光とを検出する工程であればよく、その具体的な方法等は特に限定されるものではなく、従来公知の技術を好適に用いることができる。
CCDカメラを使用することが可能である。なお、第1の領域の光と第2の領域の光とを、別々の光検出手段を用いて検出してもよい。この場合、例えば、Si CCDカメラとInGaAs CCDカメラとを併用することができるし、イメージインテンシファイアー(浜松ホトニクス株式会社製、品番V8071U−76)とInGaAs CCDカメラとを併用することもできる。さらにこれらの3種の光検出器を組み合わせることもできる。
判定工程は、発光検出工程で検出した第1の領域の光の発光強度と第2の領域の光の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別する工程であればよい。
また、本発明の太陽電池の評価方法は、さらに、画像生成工程を含んでいてもよい。画像生成工程は、発光検出工程において検出された、第1の領域の光の発光強度に基づく第1の画像、および第2の領域の光の発光強度に基づく第2の画像を生成する工程であればよい。本工程では、上述したように、太陽電池からの発光の様子を画像として取得することができるCCDカメラおよびイメージインテンシファイアー等の光検出器を用いればよい。このような光検出器を用いれば、検出した光の発光強度をデジタル化によって数値化することができる。光検出器は、太陽電池素子からの発光を発光検出工程において検出するために用いることができ、さらに検出した発光の画像を画像生成工程において生成するために用いることができる。
上述したエレクトロルミネッセンスによる発光の分光解析に基づく太陽電池素子の欠陥の分別は、全ての種類の太陽電池素子に応用することができる。すなわち、本発明の太陽電池の評価方法は、結晶性または非結晶性の太陽電池素子、化合物半導体太陽電池素子、色素増感太陽電池素子、または有機太陽電池素子等の任意の太陽電池素子に対して適用することができる。例えば、本発明の太陽電池の評価方法によって評価される対象の太陽電池素子としては、従来公知の半導体材料を主要構成成分とする太陽電池素子であればよく、特に限定されるものではないが、好適にはシリコン半導体を主要構成部材として備えるものが好ましい。また、上記太陽電池素子に用いられるシリコン半導体は、単結晶、多結晶、またはアモルファスのシリコン半導体であることが好ましい。本明細書において「主要構成部材として備える」とは、シリコン半導体を主要な構成部材として備えていれば、その他にどのような部材、部品が設けられていてもよいという意である。
本発明の太陽電池の評価装置は、太陽電池の欠陥について評価を行うものであって、太陽電池を構成する太陽電池素子に対して、順方向に電流を注入する電流注入部(電流注入手段)と、電流注入手段から注入された電流によって太陽電池素子から生じる発光のうち、波長800nm〜1300nmの第1の領域の光と、波長1400nm〜1800nmの第2の領域の光とを検出する発光検出部(発光検出手段)と、発光検出手段で検出した光のうち、第1の領域の発光強度と第2の領域の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別する判定部(判定手段)と、を備えていればよく、その他の具体的な構成、大きさ、形状等の条件は特に限定されるものではない。
電流注入部は、太陽電池を構成する太陽電池素子に対して、順方向に電流を注入するものであればよく、その具体的な構成等は特に限定されるものではない。すなわち、本電流注入部は、上記<1−1>欄にて説明した「電流注入工程」を実行するものであればよいといえる。例えば、従来公知の定電流源や定電圧源等を用いることができ、直流電流を注入する場合、電流注入部として従来公知の直流電源を用いればよい。なお、以下では直流電流を注入する場合の本発明の太陽電池の評価装置について説明する。
発光検出部は、電流注入部により電流が注入されることによって生じる光のうち、波長800nm〜1300nmの第1の領域の光と、波長1400nm〜1800nmの第2の領域の光とを検出するものであればよく、その具体的な構成等は特に限定されるものではない。すなわち、本発光検出部は、上記<1−2>欄にて説明した「発光検出工程」を実行するものであればよい。例えば、上述したInGaAs CCDカメラまたはイメージインテンシファイアー等の従来公知の光検出器を好適に用いることができる。
判定部は、発光検出手段で検出した光のうち、第1の領域の発光強度と第2の領域の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別するものであり、その具体的な構成等は特に限定されるものではない。すなわち、本判定部は、上記<1−3>欄にて説明した「判定工程」を実行するものであればよく、例えば、従来公知のコンピュータ等の演算装置を好適に用いることができる。
また、本発明の太陽電池の評価装置は、画像生成部をさらに備えていてもよい。画像生成部は、発光検出部によって検出された、第1の領域の光の発光強度に基づく第1の画像、および第2の領域の光の発光強度に基づく第2の画像を生成するものであり、その具体的な構成等は特に限定されるものではない。すなわち、本画像生成部は、上記<1−4>欄にて説明した「画像生成工程」を実行するものであればよく、例えば、従来公知のCCDカメラおよびイメージインテンシファイアー等の光検出器を好適に用いることができる。
本発明の太陽電池の評価装置の評価対象は、上記方法と同様に、特に限定されるものではなく、半導体製の太陽電池を一般に利用可能であるが、なかでも特にシリコン半導体を主要構成部材として備えるものを対象とすることが好ましい。このようなシリコン半導体を用いた太陽電池素子から生じる第1の領域の光の波長は、800nm〜1300nm、好ましくは900nm〜1200nm、より好ましくは1000nm〜1100nmであり、第2の領域の光の波長は、1400nm〜1800nm、好ましくは1500nm〜1700nm、より好ましくは1550nm〜1650nmである。このため、上記発光検出部は、これらの領域の波長の光を検出できるものであることが好ましい。
図2に基づいて、本発明の太陽電池の評価装置の一実施形態について説明する。同図に示すように、本実施形態に係る太陽電池の評価装置10は、暗箱1、くし型プローブ4、銅板5、直流電源6、発光検出部12、および判定部13を備えている。また、太陽電池モジュール7を評価対象としている。太陽電池モジュール7は、太陽電池素子が複数個連結した構成である。なお、太陽電池モジュール7は、太陽電池モジュールの集合体である太陽電池パネルであってもよい。
・画像の8bit(28=256階調)または16bit(216=65536階調)保存可能なもの。
・太陽電子素子から生じた光を検出(撮影)後、画面上で範囲選択して、輝度プロファイルデータを取得・保存できるもの。
・分光可能なもの。
・高感度画像を取得できるもの(image intensifierカメラ)、例えば、逆方向電流印加時のエミッション測定ができるもの。
・データを表計算ソフトで読み込み、画像とすると、撮影像の90度回転した状態になっている点を改善したもの。
・ビニングモードの簡易な切り替えが可能なもの。
・発光強度のヒストグラムの自動作成プログラム。
・発光強度の弱い部分(暗い部分)の長さや幅の自動測定。1センチ以上のものの自動検出。
・選択範囲の発光強度の平均値算出。グリッド部分の値を差し引いた平均値も測定できることが好ましい。
上述したように、本発明の太陽電池の評価方法および評価装置は、従来の太陽電池の評価方法や評価装置に比べて、大がかりな設備を要することなく、簡便に太陽電池の欠陥について評価することができる。
11 電流注入部(電流注入手段)
12 発光検出部(発光検出手段)
13 判定部(判定装置、判定手段)
16 画像生成部(画像生成手段)
20 交換指示装置
30 通信ネットワーク
100 メンテナンスシステム
110 評価装置
Claims (22)
- 太陽電池の欠陥について評価を行う太陽電池の評価装置であって、
上記太陽電池を構成する太陽電池素子に対して、順方向に電流を注入する電流注入手段と、
上記電流注入手段から注入された電流によって太陽電池素子から生じる発光のうち、波長800nm〜1300nmの第1の領域の光と、波長1400nm〜1800nmの第2の領域の光とを検出する発光検出手段と、
上記発光検出手段で検出した光のうち、上記第1の領域の発光強度と第2の領域の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別する判定手段と、を備えていることを特徴とする太陽電池の評価装置。 - さらに、上記発光検出手段によって検出された、第1の領域の光の発光強度に基づく第1の画像、および第2の領域の光の発光強度に基づく第2の画像を生成する画像生成手段を備えており、
上記判定手段は、上記画像生成手段によって生成された、上記第1の画像における上記第1の領域の発光強度と、上記第2の画像における上記第2の領域の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別するものであることを特徴とする請求項1に記載の太陽電池の評価装置。 - 上記電流注入手段が注入する電流は、直流電流であることを特徴とする請求項1または2に記載の太陽電池の評価装置。
- 上記電流注入手段は、上記太陽電池素子への光照射によって発生する光電流密度に相当する電流量を注入するものであることを特徴とする請求項1〜3の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置。
- 上記第1の領域の光を検出するために、上記電流注入手段が上記太陽電池素子に対して注入する電流量をj1とし、上記発光検出手段が該第1の領域の光を検出する時間をt1とし、
上記第2の領域の光を検出するために、該電流注入手段が該太陽電池素子に対して注入する電流量をj2として、該発光検出手段が該第2の領域の光を検出する時間をt2すると、
j1 < j2
および/または、
t1 < t2
の関係が満足されることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置。 - 上記発光検出手段は、第1の領域の光および第2の領域の光を同時に検出可能な光検出手段と、第1の領域の光または第2の領域の光のどちらかをそれぞれ選択的に通過させるバンドパスフィルタとを用いて検出するものであることを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置。
- 上記光検出手段は、CCDカメラまたはイメージインテンシファイアーを備えていることを特徴とする請求項6に記載の太陽電池の評価装置。
- 上記判定手段は、
(i) 第1の領域の発光強度が第1の閾値以下の場合に欠陥が存在すると判断し、
(ii) 欠陥が存在すると判断した部位について、第2の領域の発光強度が第2の閾値以上の場合には当該部位が内因的欠陥であると判断し、それ以外の部位を外因的欠陥と判断するものであることを特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置。 - 上記判定手段は、
(iii) 第1の領域の発光強度が第1の閾値以下であり、かつ第2の領域の発光強度が第2の閾値以上である部位が、内因的欠陥であると判断し、
(iv) 第1の領域の発光強度が第1の閾値以下であり、かつ第2の領域の発光強度が第2の閾値未満である部位が、外因的欠陥であると判断するものであることを特徴とする請求項1〜7の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置。 - シリコン半導体を主要部材とする太陽電池素子から構成された太陽電池を評価するものであることを特徴とする請求項1〜9の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置。
- 太陽電池の欠陥について評価を行う太陽電池の評価方法であって、
上記太陽電池を構成する太陽電池素子に対して、順方向に電流を注入する電流注入工程と、
上記電流注入工程によって太陽電池素子から生じる発光のうち、波長800nm〜1300nmの第1の領域の光と、波長1400nm〜1800nmの第2の領域の光とを検出する発光検出工程と、
上記発光検出工程で検出した第1の領域の光の発光強度と第2の領域の光の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別する判定工程と、を含んでいることを特徴とする太陽電池の評価方法。 - さらに、上記発光検出工程において検出された、第1の領域の光の発光強度に基づく第1の画像、および第2の領域の光の発光強度に基づく第2の画像を生成する画像生成工程を含んでおり、
上記判定工程は、上記画像生成工程において生成された、上記第1の画像における上記第1の領域の発光強度と、上記第2の画像における上記第2の領域の発光強度とを指標として、内因的欠陥と外因的欠陥とを分別する工程であることを特徴とする請求項11に記載の太陽電池の評価方法。 - 上記電流注入工程において注入する電流は、直流電流であることを特徴とする請求項11または12に記載の太陽電池の評価方法。
- 上記電流注入工程において、上記太陽電池素子への光照射によって発生する光電流密度に相当する電流量を注入することを特徴とする請求項11〜13の何れか1項に記載の太陽電池の評価方法。
- 上記第1の領域の光を検出するために、上記電流注入工程において上記太陽電池素子に対して注入する電流量をj1とし、上記発光検出工程において該第1の領域の光を検出する時間をt1とし、
上記第2の領域の光を検出するために、該電流注入工程において該太陽電池素子に対して注入する電流量をj2として、該発光検出工程において該第2の領域の光を検出する時間をt2すると、
j1 < j2
および/または、
t1 < t2
の関係が満足されることを特徴とする請求項11〜14の何れか1項に記載の太陽電池の評価方法。 - 上記発光検出工程において、第1の領域の光および第2の領域の光を同時に検出可能な光検出手段と、第1の領域の光または第2の領域の光のどちらかをそれぞれ選択的に通過させるバンドパスフィルタとを用いて検出することを特徴とする請求項11〜15の何れか1項に記載の太陽電池の評価方法。
- 上記判定工程では、
(i) 第1の領域の発光強度が第1の閾値以下の場合に欠陥が存在すると判断し、
(ii) 上記(i)工程において欠陥が存在すると判断した部位について、第2の領域の発光強度が第2の閾値以上の場合には当該部位が内因的欠陥であると判断し、それ以外の部位を外因的欠陥と判断することを特徴とする請求項11〜16の何れか1項に記載の太陽電池の評価方法。 - 上記判定工程では、
(iii) 第1の領域の発光強度が第1の閾値以下であり、かつ第2の領域の発光強度が第2の閾値以上である部位が、内因的欠陥であると判断し、
(iv) 第1の領域の発光強度が第1の閾値以下であり、かつ第2の領域の発光強度が第2の閾値未満である部位が、外因的欠陥であると判断することを特徴とする請求項11〜16の何れか1項に記載の太陽電池の評価方法。 - 上記太陽電池素子は、シリコン半導体を主要部材として構成されたものであることを特徴とする請求項11〜18の何れか1項に記載の太陽電池の評価方法。
- 請求項1〜10の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置が、構造物に設置されている太陽電池の欠陥について評価を実行する工程と、
交換指示装置が、該評価装置の評価結果に基づき、上記内因的欠陥および/または上記外因的欠陥が存在する太陽電池素子の交換を、太陽電池素子の交換事業者に対して指示する工程と、を含んでいることを特徴とする太陽電池のメンテナンス方法。 - 請求項1〜10の何れか1項に記載の太陽電池の評価装置と、
該評価装置の評価結果に基づき、構造物に設置されている太陽電池に存在する、上記内因的欠陥および/または上記外因的欠陥が存在する太陽電池素子の交換を、太陽電池素子の交換事業者に対して指示する交換指示装置と、を備えていることを特徴とする太陽電池のメンテナンスシステム。 - 請求項11〜19の何れか1項に記載の太陽電池の評価方法を一工程として含んでいることを特徴とする太陽電池モジュールの製造方法。
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