JP5412694B2 - 光源測定法および光源測定システム - Google Patents

Description

本発明は、光源測定法および光源測定システム、特に光学スペクトルモデルに基づいて構築された対照テーブルを利用する、光源測定法および光源測定システムに関する。

試料光源の測定について、既存技術においては、ほとんどの場合が国際照明委員会（Ｃｏｍｍｉｓｓｉｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌｅ ｄｅ ｌ’Ｅｃｌａｉｒａｇｅ、ＣＩＥ）の１９３１年の規定に従っている。標準的な光源測定装置で実施される試料光源の測定は、試料光源に関する三刺激値（Ｔｒｉ−ｓｔｉｍｕｌｕｓ ｖａｌｕｅ）を得て、さらに色度座標（Ｃｏｌｏｒ ｃｏｏｒｄｉｎａｔｅｓ）を算出する方式である。しかしながら、ＣＩＥ１９３１で規定された３つの標準等色関数（Ｃｏｌｏｒ−ｍａｔｃｈｉｎｇ ｆｕｎｃｔｉｏｎｓ）であるＸバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）と完全に適合する光学フィルタを製造することは、非常に困難である。そのほか、光の決定は、光源測定装置の実測等色関数について、感光器の受光応答度（Ｒｅｓｐｏｎｓｉｖｉｔｙ）Ｒ（λ）がフラットではない、すなわち実際には、実測等色関数は少なくともこれら２つの組合せであることを考慮する必要がある。言い換えると、実測等色関数はＸｉ（λ）≡Ｒｉ（λ）Ｔｉ（λ）、式中Ｔｉ（λ）は光学フィルタの透過関数、ｉ＝１〜３と定義しなければならない。さらに要素を製造する上での変化を加える場合、実際にＸｉ（λ）とＸバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）を完全に同じにさせることは、確実に至難の業である。

したがって、可能な限り標準等色関数に近づけた感光要素を製造しても、その間の差異を避けることはできない。そのため、実際の測定において、多くは実測等色関数を正規化（Ｎｏｒｍａｌｉｚａｔｉｏｎ）することにより、実測等色関数および標準等色関数の間の差異によって生じる測定誤差を減少させる。一般に正規化は、既知の光源を使用して行う。例えばＣＩＥ１９３１で規定されたＡ光源によって、各実測等色関数に対応する正規化定数Ａｉ:

が得られる。式中ｉ＝１〜３、Ｘバーｉ（λ）は、標準等色関数Ｘバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）である。したがって、感光要素が試料光源を測定して得られる刺激値は、論理上、実測等色関数および試料光源を表す光源スペクトルを積分計算して得られた値であり、さらに対応する正規化定数で乗じることにより修正後の刺激値が得られる。標準等色関数を使用して計算することにより得られる値の差異は減少させることができるが、誤差を防止することはできない。白色光のような、波形の幅が比較的大きい試料光源では、その誤差は許容されるが、単色光のような、波形の幅が比較的狭い試料光源では、無視することができない誤差が生じる。

その他に４色光を利用したマトリックス補正法（Ｆｏｕｒ−ｃｏｌｏｒ ｍａｔｒｉｘ ｍｅｔｈｏｄ）があり、Ｙｏｓｈｉｈｉｒｏ Ｏｈｎｏによって１９９７年に示された（ＩＳ＆Ｔ ｆｉｆｔｈ ｃｏｌｏｒ ｉｍａｇｅ ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ、１９９７年）。試料物の赤、緑、青の３色光およびそれらを組み合わせた白色光を利用して、その３つの正規化係数を較正し、試料物の単色光の色度（Ｃｈｒｏｍａｔｉｃｉｔｙ）をより正確に測定する。しかし、その他と補正に使用する光源スペクトルの差異が、比較的大きい光源を測定するときには、その誤差を無視することができない。

したがって、公知技術では、光源測定装置が元々有する誤差を効果的に除去することができないが、高精度の色度座標を提供する。さらに試料光源および正規化で使用する光源スペクトルの差異が大きすぎるとき、測定によって得られる色度座標の誤差はさらに大きくなる。

Ｙｏｓｈｉｈｉｒｏ Ｏｈｎｏ、ＩＳ＆Ｔ ｆｉｆｔｈ ｃｏｌｏｒ ｉｍａｇｅ ｃｏｎｆｅｒｅｎｃｅ、１９９７年

本発明は、既存技術の問題を解決するため、光源測定対照テーブルを構築する方法、光源測定法および光源測定システムを開示し、モデリングスペクトルの特徴を有する光源に対して、有効かつ高精度にその色度を測定する。本発明は試料光源を表す光源スペクトルモデルを利用し、事前に光源スペクトルモデルのスペクトルパラメータと、光源測定システムおよび標準色度座標間の対応関係を構築する。したがって、本発明の光源測定システムは、十分に標準的ではない等色関数を有するのみであるが、構築された対応関係によって、試料光源に関する高精度の推定色度座標を決定する。そのほか、推定色度座標を決定するとき、試料光源に関するスペクトルパラメータも同時に決定される。すなわち、試料光源に関する模擬光源スペクトルが構築される。この模擬光源スペクトル（またはスペクトルパラメータ）および標準等色関数に基づき、光源測定システムが実際に測定した刺激値を修正し、さらに試料光源に関する輝度を計算する。したがって、本発明の光源測定システムは、相当な精度の色度測定を提供する。

実施例において、本発明の光源測定対照テーブルを構築する方法には、以下の段階が含まれる。光源測定システムを測定し、光源測定システムに関する３つの実測等色関数が得られる。標準光源によって、これら３つの実測等色関数が正規化される。光源スペクトルモデルに基づく複数のスペクトルパラメータおよび３つの実測等色関数に基づいて、複数の対照色度座標が算出される。複数のスペクトルパラメータおよび３つの標準等色関数に基づいて、複数の参考色度座標が算出され、各スペクトルパラメータが複数の対照色度座標のうちの１つ、および複数の参考色度座標のうちの１つにそれぞれ対応する。

光源スペクトルモデルは、試料光源の実測スペクトルを効果的に表すことができ、２つの変量で表される。１つは中心波長の変量、もう１つは半値全幅（Ｆｕｌｌ−ｗｉｄｔｈ ｈａｌｆ ｍａｘｉｍｕｍ）の変量である。言い換えると、各スペクトルパラメータは中心波長値を１つ、および半値全幅値を１つ含み、特定の光源スペクトルを表す。各特定の光源スペクトルは、実測等色関数とから算出される対照色度座標、および標準等色関数とから算出される参考色度座標に対応する。したがって、対照色度座標および参考色度座標は、スペクトルパラメータによって対応関係が形成される。

実施例において、本発明の光源測定システムは感光モジュール、メモリモジュールおよび処理モジュールを含む。感光モジュールは、光学フィルタ要素および感光要素を含む。感光モジュールは、少なくとも１つの試料光源を同時に検出し、各試料光源に対応して３つの実測刺激値を生成する。メモリモジュールは、対照テーブルを保存する。処理モジュールは、感光モジュールおよびメモリモジュールと電気的に接続される。処理モジュールが、感光モジュールから光電気変換信号を受信し、３つの実測刺激値が生成され、対照テーブルに基づいて、試料光源に関する推定色度座標が決定する。処理モジュールが、さらに試料光源に関するスペクトルパラメータを決定し、さらに標準等色関数に基づいて、試料光源に関する推定輝度を決定する。

実施例における、本発明の光源測定法には、以下の段階が含まれる。光源測定システムは、感光モジュールが試料光源を測定し、３つの実測刺激値が得られる。処理モジュールが３つの実測刺激値に基づいて、実測色度座標を算出する。処理モジュールが実測色度座標、およびメモリモジュールに保存された対照テーブルの複数の対照色度座標を照合することにより、実測色度座標と整合する、少なくとも１つの対照色度座標を決定する。処理モジュールが、整合した少なくとも１つの対照色度座標に対応する、少なくとも１つの参考色度座標に基づいて推定色度座標を決定し、さらに整合した少なくとも１つの対照色度座標に対応する、少なくとも１つのスペクトルパラメータに基づいて、試料光源スペクトルパラメータを決定する。処理モジュールが、試料光源スペクトルパラメータによって構築される模擬光源スペクトル、３つの実測等色関数のうちの１つ、および実測等色関数に対応する標準等色関数に基づいて、調整係数または比率を算出して、実測等色関数に対応する実測刺激値を修正し、さらに推定輝度を算出する。

したがって、本発明の光源測定システムおよび光源測定法は、試料光源を表す光源スペクトルモデルによって構築される対照テーブルを利用して、実測色度座標に整合するスペクトルパラメータ、さらには参考色度座標を決定する。さらに、試料光源に関する推定色度座標を決定する。この方式は、実際に測定するとき、簡単な参照テーブルと計算段階のみで、高精度の色度値を得ることができ、既存技術で実測等色関数および標準等色関数間の差異によって生じる誤差を克服することができないという問題を解決した。特に、例えば発光ダイオード、液晶ディスプレイ装置またはその他の単色光源のような、量産光源について、これらは製造上の変化を有するが、スペクトル特性に大差はなく、同一のスペクトル特性のモデリングを利用することができる。スペクトルパラメータが製品の変化をカバーすることによって、本発明の光源測定法を用いて、この種の製品を測定するのに、さらに実際的な効果と利益を示す。

図１Ａは、本発明の第１の好適な実施例に基づいた、光源測定システムの機能ブロック図である。 図１Ｂは、光源測定システムの概要図である。 図２は、光源スペクトルモデルの概要図である。 図３は、第１の好適な実施例に基づいた、光源測定対照テーブルを構築する方法のフローチャート図である。 図４は、第１の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。 図５は、本発明の第２の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。 図６は、本発明の第３の好適な実施例に基づいた、光源測定対照テーブルを構築する方法のフローチャートである。 図７は、第３の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。 図８は、第１の好適な実施例による、光源測定法のフローチャートである。 図９は、別の実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。 図１０は、本発明の第４の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。 図１１は、本発明の第５の好適な実施例に基づいた、光源測定システムの概要図である。

本発明の利点および趣旨に関して、以下の発明の詳細および添付する図によって、さらに理解することができる。

図１Ａおよび図１Ｂを参照されたい。図１Ａは、本発明の第１の好適な実施例に基づいた、光源測定システム１の機能ブロック図である。図１Ｂは、光源測定システム１の概要図である。第１の好適な実施例によると、本発明の光源測定システム１は、ＬＥＤなどの試料光源３を測定する。光源測定システム１は、ホストコンピュータ１２、感光モジュール１４およびケーブル１６を含み、ホストコンピュータ１２および感光モジュール１４は、ケーブル１６を介して電気的に接続される。ホストコンピュータ１２は、処理モジュール１２２およびメモリモジュール１２４を含む。処理モジュール１２２およびメモリモジュール１２４は電気的に接続され、ほかにケーブル１６を介して感光モジュール１４と電気的に接続される。メモリモジュール１２４は、対照テーブル１２６を保存する。対照テーブル１２６は複数の対照色度座標、および光源スペクトルモデルに基づいた複数のスペクトルパラメータを含み、各スペクトルパラメータは１つの対照色度座標に対応する。感光モジュール１４は、光学フィルタ要素１４２および感光要素１４４を含む。

光源スペクトルモデルは、試料光源３のスペクトル特性を表すことができる光源スペクトルモデルを指し、スペクトルパラメータは、光源スペクトルモデルの変量値の集合を指す。例えば、試料光源３が単色ＬＥＤであるとき、光源スペクトルモデルの変量は、中心波長の変量λ_０（またはピーク波長λ_ｐ）および半値全幅の変量Δλ_ｆで表される。図２に示すとおりである。スペクトルパラメータは、中心波長の変量λ_０および半値全幅の変量Δλ_ｆの値を含む。後の説明では、λ_０およびΔλ_ｆもスペクトルパラメータを示す。光源スペクトルモデルの数学モデルは、数種類の異なる形態で利用される。スペクトル対称分布の数学モデルは、次のような３種である。

第１種：

；
第２種：

；
第３種：

、
そのうち

、
および

、
そのうち

または

である。

スペクトル非対称分布の数学モデルは、次のような３種である。

第１種：

；
第２種：

；
第３種：

、
そのうち

、
および

、
そのうち

または

、
そのうち

である。

ついでに述べると、光源スペクトルモデルの選択は、上記６種類に限定されず、試料光源３の実際のスペクトル特性を判断して決めるべきである。他に適当なモデルを導き出してもよく、または直接、数値で集合分布を表すモデルでもよい。

適当な光源スペクトルモデルを選んで用いることによって、選んだ光源スペクトルモデルの変量を設定し、試料光源３が製造される上で、可能性があるすべての状態をカバーすることができる。この変量の設定は、対照テーブル１２６において、スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆで表される。事前に試料光源３を表す光源スペクトルモデル、および光源測定システム１の実測等色関数を用いて計算を行い、対照色度座標が得られる。各対照色度座標は、特定の光源スペクトルに対応する。すなわち、１つのスペクトルパラメータに対応する。各光源スペクトル（またはスペクトルパラメータ）およびＣＩＥ１９３１標準等色関数を計算し、対応する参考色度座標が得られる。上記計算結果は、対照テーブル１２６の内容を構成する。対照テーブル１２６を利用して、対照色度座標および試料光源３の実測色度座標を比較して参考色度座標を決定し、さらに試料光源３に関する標準色度座標が得られる。言い換えると、試料光源３のスペクトル特性が、ある１つの光源スペクトルとちょうど同じである場合、試料光源３の標準色度座標（すなわち、ＣＩＥ１９３１標準等色関数に適合する測定器で測定することにより、得られる色度座標）は、光源スペクトルに対応する参考色度座標とほぼ同じである。そのほか、対照テーブル１２６は光源測定より先に構築される必要があり、メモリモジュール１２４に保存され、後の測定に使用される。

図３を参照されたい。図３は、第１の好適な実施例に基づいた、光源測定対照テーブルを構築する方法のフローチャートである。第１の好適な実施例によると、本発明の光源測定対照テーブルを構築する方法は、まず単色光分光器（Ｍｏｎｏｃｈｒｏｍａｔｏｒ）を利用し、十分に細かい波長間隔で光源測定システム１をスキャンし、３つの実測等色関数Ｘ_ｒ（λ）、Ｙ_ｒ（λ）およびＺ_ｒ（λ）が得られる。段階Ｓ１００に示すとおりである。続いて、段階Ｓ１０２に示すように、既知のスペクトル分布を有する光源Ｓ_Ａ（λ）、例えばＣＩＥ１９３１で規定されるＡ光源を用いて、実測等色関数Ｘ_ｒ（λ）、Ｙ_ｒ（λ）およびＺ_ｒ（λ）を正規化し、正規化後の実測等色関数Ｘバー_ｒ（λ）、Ｙバー_ｒ（λ）およびＺバー_ｒ（λ）が得られる（後に示す実測等色関数は、この正規化後の実測等色

関数Ｘバー_ｒ（λ）、Ｙバー_ｒ（λ）およびＺバー_ｒ（λ）である）。その関係は以下の通りである。

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；

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注意すべきことは、正規化は、修正または縮小したい実測等色関数Ｘ_ｒ（λ）、Ｙ_ｒ（λ）およびＺ_ｒ（λ）と、標準等色関数Ｘバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）の間の差異に基づき実施されるものである。したがって、前記差異が許容できるか、またはその他の理由による場合、正規化は実行しなくてもよい。

本発明の光源測定対照テーブルを構築する方法は、続いて試料光源３を表す光源スペクトルモデルＳ_ｔ（λ，λ_０，Δλ）に基づくスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆと、実測等色関数Ｘバー_ｒ（λ）、Ｙバー_ｒ（λ）およびＺバー_ｒ（λ）に基づいて、異なるスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応させ、複数の対照刺激値Ｘバー_ｉｄｘ、Ｙバー_ｉｄｘおよびＺバー_ｉｄｘが算出される。さらに対応させ、対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘが算出される。段階Ｓ１０４に示す通りである。計算関係式は、以下の通りである。

。

上記計算に基づき、算出された対照テーブル１２６の概要を、下の表１に示す。
表１ 対照色度座標がスペクトルパラメータに対応する対照テーブル

補足説明として、対照刺激値Ｘバー_ｉｄｘ、Ｙバー_ｉｄｘおよびＺバー_ｉｄｘの計算式は、試料光源３のスペクトル振幅の影響を考慮していない。しかし、対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘが無次元であるため、スペクトル振幅は対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘの計算に影響を及ぼさない。別の側面においても、対照テーブル１２６は、試料光源３のスペクトル振幅から独立して事前に構築される。そのほか、上記対照テーブル１２６の構築方法は、単一で特定の光源測定システム１に対して実施されているが、特殊な状況、例えばかなり安定して量産される光源測定システム１に、同じ対照テーブル１２６が使用される。このほか、対照テーブル１２６のスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆの範囲と間隔は、試料光源３の実測波長範囲および必要な色度座標の精度によって決まる。

例えば、対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘの範囲は、０≦ｘ_ｉｄｘ≦０．７３、０≦ｙ_ｉｄｘ≦０．８３である。０．００１の精度を有する色度座標を得たい場合、対応するスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆは、約３×１０^５（（１／２）×（０．７３／０．００１）×（０．８３／０．００１）≒３×１０^５）が必要である。しかしながら、ＬＥＤで述べると、その半値全幅はわずか約５０ｎｍであり、可視光の幅３５０ｎｍの１／７である。したがって、ＬＥＤに対応するスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆは約５×１０^４が必要なだけである。ＬＥＤの中心波長λ_０が、４００ｎｍ〜７００ｎｍの間で、半値全幅Δλ_ｆが、２０ｎｍ〜５０ｎｍの間であることを例とすると、０．２５ｎｍを中心波長λ_０の変化距離、０．５ｎｍを半値全幅Δλ_ｆの変化距離とするとき、８×１０^４のスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆを有する対照テーブル１２６（（３５０／０．２５）×（３０／０．５）≒８×１０^４）が構築される。この数値は５×１０^４より大きく、すなわち、この変化距離により構築された対照テーブル１２６は、０．００１の精度より高い色度座標を提供することができる。当然、さらに正確な色度座標を必要とする場合、中心波長λ_０および半値全幅Δλ_ｆの変化距離を縮小することにより、達成される。

図４を参照されたい。図４は、第１の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。第１の好適な実施例によると、本発明の光源測定法は、まず感光モジュール１４が、試料光源３が放出する光線を検出する。光線は光学フィルタ要素１４２を通って濾過され、感光要素１４４が濾過された光線を吸収し、光電気変換信号を生成して処理モジュール１２２に送り、３つの実測刺激値Ｘ_Ｍ、Ｙ_ＭおよびＺ_Ｍが生成される。処理モジュール１２２が、さらに対応する実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍを算出する。段階Ｓ２００に示す通りである。そのうち、実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍと実測刺激値Ｘ_Ｍ、Ｙ_ＭおよびＺ_Ｍの関係は、以下の通りである。

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続いて、処理モジュール１２２が、実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍと対照テーブル１２６に基づき、実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍに整合する、少なくとも１つの対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘを決定する。段階Ｓ２０２に示す通りである。さらに、処理モジュール１２２が、整合した少なくとも１つの対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘに対応する、少なくとも１つのスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに基づき、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する。段階Ｓ２０４に示す通りである。試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊は、試料光源３のスペクトル特性を表す。すなわち試料光源３は、模擬光源スペクトルＡ_ｓＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊）で示すことができる。そのうちＡ_ｓは、試料光源３のスペクトル振幅である。

補足説明として、整合する値は完全に同じである必要はなく、ある１つの対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘと所定の許容差内で値が離れている場合、対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘと互いに整合すると見なすことができる。言い換えると、この状態では、各対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘは一定のカバー範囲を有する。実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍが、ある対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘのカバー範囲内にあるとき、対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘと整合すると見なすことができる。そのほか、実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍが、２つの対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘの間にある場合も、その２つの対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘと整合すると見なすことができる。整合した少なくとも１つの対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘは、段階Ｓ２０４で試料光

源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する根拠となる。つまり、段階Ｓ２０４において、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する、対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘはすべて、段階Ｓ２０２において先に決定される必要がある。複数の対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘが、実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍと整合すると見なされる。

例えば、実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍが、表１の対照色度座標ｘ_２およびｙ_２と対照色度座標ｘ_３およびｙ_３の間にある場合、ｘ_Ｍはｘ_２およびｘ_３の間に位置し、ｙ_Ｍはｙ_２およびｙ_３の間に位置する。対照色度座標ｘ_２およびｙ_２と、ｘ_３およびｙ_３が、表１のスペクトルパラメータλ_２およびΔλ_２と、スペクトルパラメータλ_３およびΔλ_３にそれぞれ対応することにより、線形補間によって実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍに対応するスペクトルパラメータ、すなわち試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊が決定する。その計算関係式は、以下の通りである。

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当然、本発明は線形補間に限定されず、その他の計算関係式で求めてもよいが、関係式に引用される対照色度座標ｘ_２、ｙ_２、ｘ_３およびｘ_３は、実測色度座標ｘ_Ｍおよびｙ_Ｍに整合すると見なす。原則的に、対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘがサンプリングした間隔が十分に小さい場合、線形補間は優れた精度に達する。

続けて図４を参照されたい。段階Ｓ２０６に示すように、処理モジュール１２２も、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊、実測等色関数Ｘバー_ｒ（λ）、Ｙバー_ｒ（λ）およびＺバー_ｒ（λ）と、標準等色関数Ｘバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）に基づき、３つの誤差値ΔＸ、ΔＹおよびΔＺを算出する。その計算関係式は以下の通りである。

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；

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式中

である。

Ｘ_ＭＳ、Ｙ_ＭＳおよびＺ_ＭＳは、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊に基づき構築された、試料光源３に関する模擬光源スペクトルＡ_ｓＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊）の、標準等色関数Ｘバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）下の標準刺激値である。Ｘ_ＳＩＭ、Ｙ_ＳＩＭおよびＺ_ＳＩＭは、模擬光源スペクトルＡ_ｓＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊）の、実測等色関数Ｘバー_ｒ（λ）、Ｙバー_ｒ（λ）およびＺバー_ｒ（λ）下の模擬刺激値である。このほか、スペクトル振幅Ａ_ｓもＹ_ＭをＹバー_ｒ（λ）の積分値で割る、またはＺ_ＭをＺバー_ｒ（λ）の積分値で割ることによって得られる。当然、実際に、上記３種の計算で得られるＡ_ｓは、異なる可能性があるが、平均値で決定される。

したがって、段階Ｓ２０８に示すように、処理モジュール１２２が３つの誤差値ΔＸ、ΔＹおよびΔＺを利用して、３つの実測刺激値Ｘ_Ｍ、Ｙ_ＭおよびＺ_Ｍを修正し、試料光源３に関する推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴを算出する。その計算関係式は、以下の通りである。

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推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴは、光源測定システム１が最後に出力する色度座標の測定結果である。このほか、段階Ｓ２０６において、３つの誤差値はΔＸバー、ΔＹバーおよびΔＺバーと定義される。

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段階Ｓ２０８において、試料光源３に関する推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴは、以下の計算関係式により得られる。

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後述する誤差値ΔＸバー、ΔＹバーおよびΔＺバーについて、これらは試料光源３のスペクトル振幅Ａ_ｓと無関係であるため、事前に異なるスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応して、誤差修正パラメータが生成され、さらに対照テーブル１２６に統合される。以下の表２に示す通りである。
表２ 誤差修正パラメータがスペクトルパラメータに対応するのを示した対照テーブル

ΔＸバー_１、ΔＹバー_１、ΔＺバー_１、……、ΔＺバー_４などは、参考誤差値である。その計算関係式は、前記ΔＸバー、ΔＹバーおよびΔＺバーと同じである。特定の試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊の光源スペクトルモデルＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊）を使用せず、異なるスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆの光源スペクトルモデルＳ_ｔ（λ，λ_０，Δλ）に対応して算出される。この計算の実施は、図３の段階Ｓ１０４に合わせることができるため、ここでは省略する。

対照テーブル１２６（表２）を使用することにより、段階Ｓ２０４において、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する原理を利用する。処理モジュール１２２が、整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応する、少なくとも１つの誤差修正パラメータに基づいて、３つの誤差値ΔＸバー、ΔＹバーおよびΔＺバーを決定し、さらに実測刺激値Ｘ_Ｍ、Ｙ_ＭおよびＺ_Ｍを修正する根拠とする。さらに試料光源３に関する推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴが算出される。

前述した第１の好適な実施例によると、光源測定システム１が、模擬光源スペクトルＡ_ｓＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊）（またはＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊））が実測等色関数Ｘバー_ｒ（λ）、Ｙバー_ｒ（λ）およびＺバー_ｒ（λ）と、標準等色関数Ｘバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）と、それぞれ計算して生成された誤差値ΔＸ、ΔＹおよびΔＺを利用して、実測刺激値Ｘ_Ｍ、Ｙ_ＭおよびＺ_Ｍを修正し、さらには推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴが算出される。しかし、本発明はこれに限定さ

れない。図４および図５を参照されたい。図５は、本発明の第２の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。第１の好適な実施例と異なる部分は、第２の好適な実施例の光源測定法は、段階Ｓ２０４で、処理モジュール１２２が試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定した後、処理モジュール１２２が直接、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊と、標準等色関数Ｘバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）に基づき、３つの模擬標準刺激値Ｘバー_ＭＳ、Ｙバー_ＭＳおよびＺバー_ＭＳを算出することである。段階Ｓ２０６ａに示す通りである。その計算関係式は以下の通りである。

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；

。

処理モジュール１２２が、さらに直接、模擬標準刺激値Ｘバー_ＭＳ、Ｙバー_ＭＳおよびＺバー_ＭＳに基づき、推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴを算出する。段階Ｓ２０８ａに示すとおりである。その計算関係式は、以下の通りである。

。

補足説明として、上記計算方法は、段階Ｓ２０８に示すものと異なるが、どちらも光源測定システム１における、試料光源３に関する推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴを表しているため、同じ符号で表す。このほか、推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴは無次元であるため、模擬標準刺激値Ｘバー_ＭＳ、Ｙバー_ＭＳおよびＺバー_ＭＳは、スペクトル振幅Ａ_ｓを含まないが、これにより推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴが算出される。言い換えると、事前にいくつかの参考色度座標Ｘ_ｒｅｆおよびＹ_ｒｅｆを計算し、推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴの計算に用いる。

図６を参照されたい。図６は、本発明の第３の好適な実施例に基づいた、光源測定対照テーブルを構築する方法のフローチャートである。図３の光源測定対照テーブルを構築する方法と異なる部分は、対照テーブル１２６が、さらに複数の参考色度座標Ｘ_ｒｅｆおよびＹ_ｒｅｆを含むことである。各参考色度座標Ｘ_ｒｅｆおよびＹ_ｒｅｆは、１つのスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応し、１つの対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘにも対応する。段階Ｓ１０６に示すように、本発明の光源測定対照テーブルを構築する方法は、さらに標準等色関数Ｘバー_ｓ（λ）、Ｙバー_ｓ（λ）およびＺバー_ｓ（λ）に基づき、各スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応させて、３つの参考標準刺激値Ｘバー_ｒｅｆ、Ｙバー_ｒｅｆおよびＺバー_ｒｅｆが算出され、さらに参考色度座標Ｘ_ｒｅｆおよびＹ_ｒｅｆが算出されることを含む。計算関係式は、以下の通りである。

。

上記の計算に基づき、算出された対照テーブル１２６の概要を、以下の表３に示す。
表３ 参考色度座標がスペクトルパラメータに対応するのを示した対照テーブル

図４および図７を参照されたい。図７は、第３の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。第１の好適な実施例と異なる部分は、第３の好適な実施例の光源測定法は、段階Ｓ２０４ａにおいて、処理モジュール１２２が、整合した対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘに対応する、少なくとも１つの参考色度座標Ｘ_ｒｅｆおよびＹ_ｒｅｆに基づき、直接、試料光源３に関する推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴを決定することである。試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する説明に関しても、段階Ｓ２０４ａで、推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴを決定する原理を適用しているため、ここでは省略する。補足説明として、推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴは単純に決定されているが、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を求めることには関与しない。したがって、対照テーブル１２６において、対応するスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆは示されないが、試料光源３の推定輝度Ｉ_ＥＳＴを決定するとき、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を求める必要が依然としてあるため、表３にはスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆ、ならびに対照色度座標ｘ_ｉｄｘおよびｙ_ｉｄｘと、参考色度座標Ｘ_ｒｅｆおよびＹ_ｒｅｆの対応関係が示される。

前述したのは、推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴに関する説明である。続いて、推定輝度Ｉ_ＥＳＴについて説明する。図８を参照されたい。図８は、第１の好適な実施例による、光源測定法のフローチャートである。色度座標および輝度は別々に処理されるため、図８には、推定輝度Ｉ_ＥＳＴに関する光源測定法のフローチャートのみを示す。段階Ｓ２０４の終了後、得られたデータには、実測刺激値Ｘ_Ｍ、Ｙ_ＭおよびＺ_Ｍ、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊（または模擬光源スペクトルＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊）と言う）と、計算過程の値などが含まれ、例えば誤差値ΔＸ、ΔＹ、およびΔＺ（またはΔＸバー、ΔＹバーおよびΔＺバー）、スペクトル振幅Ａ_ｓなどである。異なる色度座標の測定法を選んで用いれば、異なると判断される。ＣＩＥ１９３１の規定によると、輝度は、標準等色関数Ｙバー_ｓ（λ）および試料光源の積分値であると定義される。したがって、本発明の光源測定法は、続いて、処理モジュール１２２が、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊と、標準等色関数Ｙバー_ｓ（λ）に対応する実測等色関数Ｙバー_ｒ（λ）に基づき、模擬刺激値Ｙバー_ＳＩＭを算出することを含む。段階Ｓ２１０に示す通りである。計算関係式は以下の通りである。

段階Ｓ２１２に示すように、処理モジュール１２２が、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊、実測等色関数Ｙバー_ｒ（λ）と、対応する標準等色関数Ｙバー_ｓ

（λ）に基づき、誤差値ΔＹバーを算出する（計算関係式は、段階Ｓ２０４に関する説明を参考にできる）。

続いて、段階Ｓ２１４に示すように、処理モジュール１２２が、誤差値ΔＹバーおよび模擬刺激値Ｙバー_ＳＩＭの比率と、対応する実測刺激値Ｙ_Ｍに基づいて、試料光源に関する推定明度Ｉ_ＥＳＴを算出する。その計算関係式は、以下の通りである。

同様に、誤差値ΔＹバーおよびスペクトル振幅Ａ_ｓは無関係であるため、事前に各スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応させて、参考誤差値が算出され、対照テーブル１２６に記載される。以下の表４に示す。
表４ 誤差修正パラメータがスペクトルパラメータに対応するのを示した対照テーブル

同じ理由で、対照テーブル１２６（表４）を使用することにより、段階Ｓ２１２において、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する原理を利用する。処理モジュール１２２が、整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応する、少なくとも１つの参考誤差値に基づき、誤差値ΔＹバーを決定する。表２および表４を比較すると、表４の参考誤差値が、表２の誤差修正パラメータの参考誤差値であることがわかる。したがって、表４が表２に統合される。上の式によって推定輝度Ｉ_ＥＳＴが算出されるとき、模擬刺激値Ｙバー_ＳＩＭをさらに算出する必要があるだけで、容易に推定輝度Ｉ_ＥＳＴを計算できる。

このほか、模擬刺激値Ｙバー_ＳＩＭもスペクトル振幅Ａ_ｓと無関係であるため、誤差値ΔＹバーを、事前に各スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応させ、その参考比率γ≡ΔＹバー／Ｙバー_ＳＩＭが計算される。式中ΔＹバーおよびＹバー_ＳＩＭは、各スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対して計算された値であり、対照テーブル１２６に記載される。以下の表５に示す。
表５ 参考比率がスペクトルパラメータに対応するのを示した対照テーブル

試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する原理を利用する。処理モジュール１２２が、整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応する、少なくとも１つの参考比率に基づいて、特定の比率を決定する。したがって、推定輝度Ｉ_ＥＳＴは、以下の式で導き出せる。

さらに述べると、（１＋γ^＊）を特定の調整係数ｋ^＊とみなす場合、推定輝度Ｉ_ＥＳＴは、さらにＩ_ＥＳＴ＝Ｙ_Ｍ×ｋ^＊と簡略化できる。同様に、事前に各スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応させ、その参考調整係数ｋが計算され、対照テーブル１２６に記載される。以下の表６に示す。
表６ 参考調整係数がスペクトルパラメータに対応するのを示した対照テーブル

同様に、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊を決定する原理を利用する。処理モジュール１２２が、整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応する、参考調整係数ｋに基づいて、特定の調整係数ｋ^＊を決定し、さらに推定輝度Ｉ_ＥＳＴを算出する。

図９を参照されたい。図９は、別の実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。図９および図８のフローチャートで異なる部分は、段階２１２ａにおいて、処理モジュール１２２は誤差値ΔＹバーを計算せず、直接、模擬標準刺激値Ｙバー_ＭＳを計算する（計算関係式は、段階Ｓ２０６ａに関する説明を参考にできる）。

段階２１４ａにおいて、処理モジュール１２２は、模擬標準刺激値Ｙバー_ＭＳおよび模擬刺激値Ｙバー_ＳＩＭの比率と、対応する実測刺激値Ｙ_Ｍに基づき、試料光源３に関する推定輝度Ｉ_ＥＳＴを算出する。その計算関係式は以下の通りである。

同様に、模擬標準刺激値Ｙバー_ＭＳおよび模擬刺激値Ｙバー_ＳＩＭは、スペクトル振幅Ａ_ｓと無関係であるため、事前に各スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対応させ、その比率が計算され、対照テーブル１２６に記載される。実際には、

である。したがって、各スペクトルパラメータλ_０およびΔλ_ｆに対して、対応する参考標準刺激値Ｙバー_ｒｅｆ（段階Ｓ１０６に関する説明を参考にできる）

および参考刺激値（すなわち段階Ｓ１０４の対照刺激値Ｙバー_ｉｄｘ）が算出される。さらにその比率（実際に参考調整係数ｋと等しい）が対照テーブル１２６に記載される。表６に示す通りである。特定比率（すなわち調整係数ｋ^＊）の決定、推定輝度Ｉ_ＥＳＴの計算は、前述した通りであるため、ここでは省略する。

図１０を参照されたい。図１０は、本発明の第４の好適な実施例に基づいた、光源測定法のフローチャートである。図９が示す光源測定法と異なる部分は、図１０が示す光源測定法は、直接、実測刺激値Ｙ_Ｍを修正せず、試料光源３に関するスペクトル振幅Ａ_ｓを求めることである。図１０の段階Ｓ２１０ａに示す通りである。さらに推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴを決定する過程で、得られた試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊と、標準等色関数Ｙバー_ｓ（λ）によって、推定輝度Ｉ_ＥＳＴが算出される。段階２１４ｂに示す通りである。

詳細に述べると、試料光源スペクトルパラメータλ_０ ^＊およびΔλ_ｆ ^＊に基づいて構築される、試料光源３に関する模擬光源スペクトルＡ_ｓＳ_ｔ（λ，λ_０ ^＊，Δλ_ｆ ^＊）の、実測等色関数Ｙバー_ｒ（λ）下での模擬刺激値Ｙ_ＳＩＭは、以下の式で得られる。

光源スペクトルモデルＳ_ｔ（λ，λ_０，Δλ）は、試料光源３に基づいて構築されるため、相当高い代表性を有し、実測した試料光源３のスペクトル特性を表す。したがって、模擬刺激値Ｙ_ＳＩＭは基本的に実測刺激値Ｙ_Ｍと表すことができ、さらにはスペクトル振幅Ａ_ｓを求めることができる。下式の通りである。

当然、Ｘ_ＭをＸバー_ｒ（λ）の積分値で割る、またはＺ_ＭをＺバー_ｒ（λ）の積分値で割ることによっても得られる。当然、実際に、上記３種の計算によって得られるＡ_ｓは異なることがあるが、平均値から決定する。スペクトル振幅Ａ_ｓを求めた後、下式によって推定輝度Ｉ_ＥＳＴを算出することができる。

前記各実施例は、それぞれ推定色度座標ｘ_ＥＳＴ、ｙ_ＥＳＴおよびｚ_ＥＳＴと、推定輝度Ｉ_ＥＳＴの決定過程をそれぞれ説明したが、実際の利用においては、それぞれ組み合わせて使用し、上記実施例に限定されない。そのほか、上記は、単一の試料光源を例としているが、実際の利用においては、複数の光源測定を同時に行うこともできる。

図１１を参照されたい。図１１は、本発明の第５の好適な実施例に基づいた、光源測定システム５の概要図である。光源測定システム５は、レンズ５２、フィルタホイール５４、イメージ検出装置（例えば電荷結合イメージ検出器（Ｃｈａｒｇｅ−Ｃｏｕｐｌｅｄ−Ｄｅｖｉｃｅ、ＣＣＤ）５６）、処理モジュール（図示せず）およびメモリモジュール（図示せず）を含む。光源測定システム５は複数の試料光源を有する発光装置、例えば液晶ディスプレイ（Ｌｉｑｕｉｄ−Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ、ＬＣＤ）７を測定する。ＬＣＤ７から放出される光線は、レンズ５２を通過し、さらにフィルタホイール５４によって濾光され、最後にＣＣＤ５６にイメージングされる。フィルタホイール５４は４つの光学フィルタを含み、それがレンズ５２、ＣＣＤ５６のスペクトル応答と結合する。すなわち実測等色関数Ｘバー_ｒ（λ）、Ｙバー_ｒ（λ）およびＺバー_ｒ（λ）である。２つの光学フィルタはレンズ５２、ＣＣＤ５６のスペクトル応答と結合し、実測等色関数Ｘバー_ｒ（λ）が合成される。光源測定システム５は、光シャッター５８（ｏｐｔｉｃａｌ ｓｈｕｔｔｅｒ）も含み、光線が進入するかどうかを制御する。

ＬＣＤ７は、通常２次元で設置される。複数の試料光源がＣＣＤ５６上にイメージングされたイメージも、２次元である。ＣＣＤ５６は、複数の感光ユニット（図示せず）を含み、それぞれ感光して、光電気変換信号を処理モジュールに送り、処理が行われる。光電気変換信号の処理（例えば実測刺激値を生成する）、およびその後の推定色度座標、推定輝度の決定過程については、前記各実施例の説明と同じであるため、ここでは省略する。ＬＣＤ７の各試料光源のイメージも、必ず１つの感光ユニットに対応するのではないが、イメージの画素処理によって、各試料光源が識別され、対応する推定色度座標、推定輝度が算出される。原則として、ＣＣＤ５６の感光ユニットの配置密度は、通常ＬＣＤ７の試料光源の配置密度よりはるかに高い。したがって、複数の試料光源に対して、ＣＣＤ５６は相当高い識別度を提供する。言い換えると、光源測定システム５は、前記各実施例において単一光源を測定する方法に基づき、各感光ユニットのイメージに対応する推定色度座標および推定輝度を測定する。さらにソフトウェアを利用して、各光源が対応するイメージ上での平均色度座標またはそのカラープロファイル（Ｃｏｌｏｒ−ｐｒｏｆｉｌｅ）が算出される。さらに、試料光源に関する推定色度座標および推定輝度が、正確に算出される。

補足説明として、前述したのは、２次元設置された試料光源を例としており、当然、１次元設置の試料光源にも適用されるが、ここでは省略する。例えば、直線または曲線配列のＬＥＤ光源である。他に取り上げるべきこととして、ＣＣＤ５６の感光ユニットのスペクトル応答はほぼ同じであるが、異なる位置に設置されるため、レンズ５２、光学フィルタなどの要素の光学的効果の影響を受け、異なる感光度を有することがある。したがって、光源測定システム５は先にフラットフィールド較正（Ｆｌａｔ−ｆｉｅｌｄ ｃａｌｉｂｒａｔｉｏｎ）を実行し、非常に均等な光源を利用して各感光ユニットに照射し、この時の各感光ユニットの反応の大きさを読み取る。さらにその差異に基づき、各感光ユニットに対応して、フラットフィールド較正係数を生成することにより、この感光度上の差異を補正する。複数のフラットフィールド較正係数によって、感光調整テーブルが作成され、対照テーブル１２６に記載される。したがって、各感光ユニットが生成する光電気変換信号を処理する前に、まず対応するフラットフィールド較正係数を用いて、光電気変換信号の補正を行う。さらに信号処理と、後に続く推定色度座標および推定輝度に関連する計算を行うか、またはまず直接、光電気変換信号を処理し、その後の計算を行う。しかし、推定輝度に対する計算は、対応するフラットフィールド較正係数によって修正を行う必要がある。

総合すると、本発明の光源測定システムおよび光源測定法は、試料光源を表す光源スペクトルモデルによって構築される対照テーブルを利用し、簡単な参照テーブル、計算段階により、試料光源に関するスペクトルパラメータ、高精度の色度座標および輝度などを決定する。簡単に述べると、既知の試料光源のスペクトル特性について、事前に対照テーブルを構築し、実測測定システムおよび標準測定システム間の測定関係を組み合わせる。これにより、実測測定システムおよび標準測定システム間の測定誤差を解析する問題を避けることができ、かなり高精度な色度値の測定を行うことができる。

以上の好適な実施例の詳細な記述により、本発明の特徴および趣旨をさらに明確に説明したが、以上開示した好適な実施例は、本発明の範疇を制限しない。反対にその目的は、各種の変更および相同性を有する措置が、本発明で申請する特許請求の範囲の範疇に含まれることである。

１ 光源測定システム
３ 試料光源
５ 光源測定システム
７ ＬＣＤ
１２ ホストコンピュータ
１４ 感光モジュール
１６ ケーブル
５２ レンズ
５４ フィルタホイール
５６ ＣＣＤ
５８ 光シャッター
１２２ 処理モジュール
１２４ メモリモジュール
１２６ 対照テーブル
１４２ 光学フィルタ要素
１４４ 感光要素
Ｓ１００〜Ｓ１０６ 過程段階
Ｓ２００〜Ｓ２１４ｂ 過程段階

Claims (13)

1. 対照テーブルが光源スペクトルモデルに基づいた複数のスペクトルパラメータおよび複数の対照色度座標を含み、各対照色度座標が該複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応し、該対照テーブルに基づき光源測定システムによって試料光源に関する推定輝度と推定色度座標を算出することによる光源測定法であって、
   該光源測定法が以下の段階、即ち、
   該光源測定システムによって該試料光源を測定することにより、３つの実測刺激値が得られ、続いて実測色度座標が算出される段階と、
   該実測色度座標および該対照テーブルに基づいて、該実測色度座標と整合する少なくとも１つの対照色度座標が決定される段階と、
   該整合した少なくとも１つの対照色度座標に対応する少なくとも１つの該スペクトルパラメータに基づいて、該試料光源のスペクトルパラメータが決定される段階と、
   該試料光源のスペクトルパラメータ、３つの実測等色関数および３つの標準等色関数に基づき、３つの誤差値が算出される段階と、
   該３つの誤差値を利用して、該３つの実測刺激値が修正され、該試料光源に関する推定色度座標が算出される段階と、を含むことを特徴とする光源測定法。
2. 該光源測定システムを測定し、３つの実測等色関数が得られることと、
   前記３つの実測等色関数、および前記複数のスペクトルパラメータに基づいて、対応する前記複数の対照色度座標が算出されることと、
   をさらに含むことを特徴とする、請求項１に記載の光源測定法。
3. 標準光源によって前記３つの実測等色関数が正規化されること、
   をさらに含むことを特徴とする、請求項２に記載の光源測定法。
4. 該対照テーブルがさらに複数の誤差修正パラメータを含み、各誤差修正パラメータが３つの参考誤差値を含み、さらに前記複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応する、請求項１に記載の光源測定法であって、該光源測定法がさらに、
   該整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータに対応する、少なくとも１つの前記誤差修正パラメータに基づき、３つの誤差値が決定されることと、
   該決定した３つの誤差値を利用して、前記３つの実測刺激値が修正され、該試料光源に関する推定色度座標が算出されることと、
   を含むことを特徴とする光源測定法。
5. 前記３つの実測刺激値が、該光源測定システムに関する３つの実測等色関数にそれぞれ対応する、請求項１に記載の光源測定法であって、該光源測定法がさらに
   該試料光源スペクトルパラメータおよび前記３つの実測等色関数のうちの１つに基づいて、模擬刺激値が算出されること、
   該試料光源スペクトルパラメータ、標準等色関数および該実測等色関数に基づいて、誤差値が算出されること、ならびに
   該誤差値および該模擬刺激値の比率と、該実測等色関数に対応する該実測刺激値に基づいて、該試料光源に関する推定輝度が算出されること、
   を含むことを特徴とする光源測定法。
6. 前記３つの実測刺激値が、該光源測定システムに関する３つの実測等色関数にそれぞれ対応し、該対照テーブルがさらに複数の参考誤差値を含み、各参考誤差値が前記複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応する、請求項１に記載の光源測定法であって、該光源測定法がさらに
   該試料光源スペクトルパラメータ、および前記３つの実測等色関数のうちの１つに基づき、模擬刺激値が算出されること、
   該整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータに対応する、少なくとも１つの前記参考誤差値に基づき、誤差値が決定されること、ならびに
   該決定した誤差値および該模擬刺激値の比率と、該実測等色関数に対応する該実測刺激値に基づき、該試料光源に関する推定輝度が算出されること、
   を含むことを特徴とする光源測定法。
7. 前記３つの実測刺激値が、該光源測定システムに関する３つの実測等色関数にそれぞれ対応する、請求項１に記載の光源測定法であって、該光源測定法がさらに
   該試料光源スペクトルパラメータ、および前記３つの実測等色関数のうちの１つに基づき、模擬刺激値が算出されること、
   該試料光源スペクトルパラメータ、および標準等色関数に基づき、模擬標準刺激値が算出されること、ならびに
   該模擬標準刺激値および該模擬刺激値の比率と、該実測等色関数に対応する該実測刺激値に基づいて、該試料光源に関する推定輝度が算出されること、
   を含むことを特徴とする光源測定法。
8. 前記３つの実測刺激値が、該光源測定システムに関する３つの実測等色関数にそれぞれ対応し、該対照テーブルがさらに複数の参考調整係数を含み、各参考調整係数が前記複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応する、請求項１に記載の光源測定法であって、該光源測定法がさらに
   該整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータに対応する、少なくとも１つの前記参考調整係数に基づいて、調整係数が決定されることと、
   該調整係数および前記３つの実測刺激値のうちの１つに基づいて、該試料光源に関する推定輝度が算出されることと、
   を含むことを特徴とする光源測定法。
9. 対照テーブルが光源スペクトルモデルに基づいた複数のスペクトルパラメータおよび複数の対照色度座標を含み、各対照色度座標が該複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応し、該対照テーブルに基づき光源測定システムによって試料光源に関する推定輝度と推定色度座標を算出することによる光源測定法であって、
   該光源測定法が以下の段階、即ち、
   該光源測定システムによって該試料光源を測定することにより、３つの実測刺激値が得られ、続いて実測色度座標が算出される段階と、
   該実測色度座標および該対照テーブルに基づいて、該実測色度座標と整合する少なくとも１つの対照色度座標が決定される段階と、
   該整合した少なくとも１つの対照色度座標に対応する少なくとも１つの該スペクトルパラメータに基づいて、該試料光源のスペクトルパラメータが決定される段階と、
   該試料光源のスペクトルパラメータ、および３つの標準等色関数に基づき、３つの模擬標準刺激値が算出される段階と、
   該３つの模擬標準刺激値に基づき、該試料光源に関する推定色度座標が算出される段階と、をさらに含むことを特徴とする光源測定法。
10. 感光モジュール、メモリモジュールおよび処理モジュールを含む光源測定システムにおいて、
    該感光モジュールが光学フィルタ要素および感光要素を含み、該感光モジュールが少なくとも１つの試料光源を同時に検出し、各試料光源に対応して３つの実測刺激値を生成し、
    該メモリモジュールが対照テーブルを保存し、該対照テーブルが光源スペクトルモデルに基づいた複数のスペクトルパラメータおよび複数の対照色度座標を含み、各対照色度座標が該複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応し、
    該処理モジュールが、該感光モジュールおよび該メモリモジュールと電気的に接続し、該処理モジュールが、該感光モジュールの検出に基づいた該複数の実測刺激値に基づき、各試料光源に対応して実測色度座標を算出し、続いて該処理モジュールが該対照テーブルに基づき、該実測色度座標に整合する少なくとも１つの該対照色度座標を決定し、さらに該整合した少なくとも１つの対照色度座標に対応する少なくとも１つの該スペクトルパラメータに基づき、該試料光源のスペクトルパラメータを決定する、光源測定システムであって、
    該処理モジュールが、さらに該試料光源のスペクトルパラメータ、該３つの実測等色関数、および３つの標準等色関数に基づき、３つの誤差値を算出し、さらに該３つの誤差値を利用して、該３つの実測刺激値を修正し、推定色度座標を算出することを特徴とする光源測定システム。
11. 該感光要素が、複数の感光ユニットを含み、前記複数の感光ユニットが、１次元または２次元でアレイ配列されることを特徴とする、請求項１０に記載の光源測定システム。
12. 該対照テーブルが、さらに複数の誤差修正パラメータを含み、各誤差修正パラメータが３つの参考誤差値を含み、前記複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応し、該処理モジュールが、さらに該整合した少なくとも１つのスペクトルパラメータに対応する、少なくとも１つの誤差修正パラメータに基づき、３つの誤差値を決定し、さらに前記３つの誤差値を利用して、前記３つの実測刺激値を修正し、推定色度座標を算出することを特徴とする、請求項１０に記載の光源測定システム。
13. 感光モジュール、メモリモジュールおよび処理モジュールを含む光源測定システムにおいて、
    該感光モジュールが光学フィルタ要素および感光要素を含み、該感光モジュールが少なくとも１つの試料光源を同時に検出し、各試料光源に対応して３つの実測刺激値を生成し、
    該メモリモジュールが対照テーブルを保存し、該対照テーブルが光源スペクトルモデルに基づいた複数のスペクトルパラメータおよび複数の対照色度座標を含み、各対照色度座標が該複数のスペクトルパラメータのうちの１つに対応し、
    該処理モジュールが、該感光モジュールおよび該メモリモジュールと電気的に接続し、該感光モジュールの検出に基づいた該複数の実測刺激値に基づき、各試料光源に対応して実測色度座標を算出し、続いて該処理モジュールが該対照テーブルに基づき、該実測色度座標に整合する少なくとも１つの該対照色度座標を決定し、さらに該整合した少なくとも１つの対照色度座標に対応する少なくとも１つの該スペクトルパラメータに基づき、該試料光源のスペクトルパラメータを決定する、光源測定システムであって、
    該処理モジュールが、さらに該試料光源のスペクトルパラメータおよび３つの標準等色関数に基づき、３つの模擬標準刺激値を算出し、続いて該３つの模擬標準刺激値に基づき、該試料光源の推定色度座標を算出することを特徴とする光源測定システム。

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