JP5399428B2 - 抵抗式タッチ装置 - Google Patents

Description

本発明は、概して、抵抗式タッチ装置に関し、より具体的には、抵抗式タッチパッドの表面上の２つの接触点の位置を検出するための方法及び装置に関する。

抵抗式タッチ装置は、一般に、２つの抵抗シートを有する。これらのシートは抵抗物質でコーティングされており、空気やマイクロドット等の薄い層によって互いから離されている。「第１の抵抗シート」とも呼ばれる外側シートは可撓性材料から作られ、ユーザの指やスタイラス型のツールによって物理的に触れることができる。内側シートである第２の抵抗シートは剛体材料から作られる。第１の抵抗シートがタッチされると、それは第２の抵抗シートに押しつけられ、２つの抵抗シートの間には接触が生じる。

抵抗式タッチ装置は、ユーザが、抵抗シートが置かれている装置の部分をタッチすることによって何らかの動作を行うことができる、抵抗式タッチスクリーン又は何らかのデバイスのために使用されてよい。

現在利用可能な４線抵抗膜方式タッチ装置は、１つの接触点の位置を決定する。Ｘ座標は、一方の抵抗シートを測定することで得られ、Ｙ座標は、他方の抵抗シートを測定することで得られる。

本発明は、電気的な又はコンピュータ化されたデバイスに配置されている抵抗式タッチパネルで２つの接触点の位置を検出することができる方法及び抵抗式タッチ装置を提供することを目的とする。

開示される発明は、以下で、当該対象の実施形態に従う方法、装置（システム）及びコンピュータプログラムプロダクトのフロー図及び／又はブロック図を参照して記載される。当然、フロー図及び／又はブロック図の各ブロック、並びにフロー図及び／又はブロック図におけるブロックの組合せは、コンピュータプログラム命令によって実施されてよい。これらのコンピュータプログラム命令は、汎用のコンピュータ、特別目的のコンピュータ、又は他のプログラム可能なデータ処理装置のプロセッサに提供されてよく、コンピュータ又は他のプログラム可能なデータ処理装置のプロセッサを介して命令が実行されることでフロー図及び／又はブロック図で示される機能／動作を実施するための手段を与えるような機械を形成する。

かかるコンピュータプログラム命令は、また、コンピュータ可読媒体に記憶されてよく、コンピュータ又は他のプログラム可能なデータ処理装置に、コンピュータ可読媒体に記憶されている命令がフロー図及び／又はブロック図で示される機能／動作を実施する命令手段を含む製品を形成するような特定方法で機能するよう、指示することができる。

コンピュータプログラム命令は、また、コンピュータ又は他のプログラム可能なデータ処理装置にロードされてよく、一連の動作ステップをコンピュータ又は他のプログラム可能なデータ処理装置で実行させて、コンピュータ又は他のプログラム可能なデータ処理装置で実行される命令がフロー図及び／又はブロック図で示される機能／動作を実施するための処理を提供するようなコンピュータ実施の処理を形成する。

当該発明における開示される１つの技術的な課題は、電気的な又はコンピュータ化されたデバイスに配置されている抵抗式タッチパネルで２つの接触点の位置を検出することである。２つの接触点の位置の検出は、例えば、人が２本の指又はスタイラス型のツールを適用して、抵抗式タッチ装置に関連する動作を行う場合に、使用される。このような動作の例には、デバイスで表示されている画像を操作すること、メニュー項目を選択すること、対象を掴むこと、対象を回転させること、対象を拡大すること等がある。

開示される発明の技術的解決法の１つは、Ｘ軸上での２つの接触点の間の距離（ＤＸ）及び／又はＹ軸上での２つの接触点の間の距離（ＤＹ）を推定することである。この距離は、Ｘ軸又はＹ軸のいずれかでの２つの接触点の間の距離を参照してもよい。このような抵抗式タッチ装置は、タッチスクリーンやインターフェースの一部として電子装置に組み込まれてよく、ユーザが、タッチにより、例えば、自身の指でそれに触れることで、動作を行うことを可能にする。

上記の技術的解決法は、測定が行われ、測定されたデータが２つの接触点の間の距離及び／又は２つの接触点の位置を推定するために使用されるところの方法及び抵抗式タッチ装置を有する。方法は、少なくとも、下記の一部、例えば、少なくとも２つの端子の間の等価抵抗又は電圧を評価することを含む。このような評価は、例えば、少なくとも１つの端子を流れる電流を測定することによって、及び少なくとも２つの端子の間の電圧差を測定することによって、行われてよい。電圧は、アナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）により測定されてよく、電流は、例えば、既知の値を有する直列抵抗器での電圧を測定することで得られてよい。直列抵抗は、電圧源と端子との間に置かれてよい。

開示される発明において提供される幾つかの測定には、同じ抵抗シートに接続されている少なくとも２つの端子の間の抵抗値（シート抵抗とも呼ばれる。）、及び異なるシートに接続されている端子の間の抵抗値（シート間抵抗とも呼ばれる。）がある。

抵抗式タッチ装置及び方法は、第１の抵抗シート及び／又は第２の抵抗シートの少なくとも幾つかの端子での電流、電圧値及び抵抗値等の電子的な特性を適用し、且つ、反対に、端子の少なくとも１つから同様の電子的な特性を得ることを可能にする。このような電子的な特性は、端子の少なくとも一部で異なった電圧値を印加することによって、又は端子の少なくとも一部に異なった電流を流し、抵抗式タッチ装置の端子の電気特性を測定することによって、得られる。

方法は、また、接触点間の距離及び／又は接触点の位置と、得られる電子的な特性との間の関係を表す計算モデルを得ることを開示してよい。方法は、抵抗式タッチ装置内の抵抗式タッチパネルの特性の学習処理を使用してよい。このような抵抗式タッチパネルは、第１の抵抗シートと、第２の抵抗シートと、端子とを有する。前記モデルは、抵抗式タッチパネル上の様々な接触点の測定を使用してよい。学習処理は、異なった強さ及び位置を有して第１の抵抗シートをタッチすることを有してよい。接触強さは、接触点サイズと、接触点形状と、接触点を押す際に用いられる力とを含む組合せを参照してよい。

方法は、また、抵抗式タッチ装置の定期的なキャリブレーションを有してよい。定期的なキャリブレーションは、接触が検知されない場合に、例えば、第１及び／又は第２の抵抗シートの少なくとも２つの端子の間の抵抗値を測定することによって、適用されてよい。

本発明の実施形態によれば、電気的な又はコンピュータ化されたデバイスに配置されている抵抗式タッチパネルで２つの接触点の位置を検出することが可能となる。

開示される発明の幾つかの実施例に従う抵抗式タッチ装置を示す。 開示される発明の実施例に従う電圧測定を示す。 開示される発明の実施例に従う、単一の抵抗シートの端子間の抵抗値を測定するためのシート抵抗測定を示す。 開示される発明の実施例に従う、２つの抵抗シートの端子間の抵抗値を測定するためのシート間抵抗測定を示す。 開示される発明の実施例に従う４線式シート間抵抗測定を示す。 開示される発明の実施例に従う抵抗式タッチ装置の制御ユニットを示す。 開示される発明の幾つかの実施例に従う、抵抗シート上の２つの接触点の位置を決定する方法を示す。 開示される発明の幾つかの実施例に従う、第１の抵抗シート上の接触状態を決定するための方法を示す。 開示される発明の実施例に従う、抵抗式タッチ装置の学習処理中に測定される電子的な特性を記憶するルックアップテーブルを示す。 開示される発明の実施例に従う、２つの点でタッチされる第１の抵抗シートを示す。 開示される発明の実施例に従う、第１の抵抗シートが２つの点でタッチされる場合の第１及び第２の抵抗シートの単純化された抵抗モデルを示す。

開示される発明の例となる限定されない実施形態について、図面に関連して、当該実施形態に係る以下の記載を参照して説明する。図面は概して実寸で示されておらず、いずれの大きさも単なる例示であって、必ずしも限定のために示されているわけではない。対応する又は同じ要素は、任意に、同じ符号又は番号によって参照される。

図１は、本発明の幾つかの実施例に従う抵抗式タッチ装置を示す。抵抗式タッチ装置１００は、ユーザが動作を実行するために押す第１の抵抗シート１１０と、第２の抵抗シート１３０とを有する。第１の抵抗シート１１０が押される場合、１以上の接触点の位置において第２の抵抗シート１３０との接触が生じる。

第１の抵抗シート１１０及び第２の抵抗シート１３０は長方形、楕円形、多角形又はそれらの組合せであってよい。幾つかの実施例において、第１の抵抗シート及び第２の抵抗シートは、少なくとも、コンピュータ化されたデバイスに付随するタッチスクリーンの一部である。抵抗式タッチ装置１００は、表示デバイス、電話機、携帯電話機、パーソナルコンピュータ（ＰＣ）、タブレット型ＰＣ、ＰＤＡ、電子本、パーソナルナビゲーションデバイス、及びユーザによって操作されるその他電子装置に実装されてよい。

本発明の幾つかの実施形態において開示される抵抗式タッチ装置１００は、４線抵抗膜方式タッチ装置である。例えば、５線抵抗膜方式タッチ装置又は４以上の端子を備える他の抵抗膜方式タッチ装置等、他の抵抗式タッチ装置も本発明の装置及び方法を利用してよい。

抵抗式タッチ装置１００は、各シートの端に位置付けられた端子を有する。語「端」は、少なくとも、シートの側部、シートの角、又はそれらの組合せの一部をいう。このような端子（例えば端子１１２）は、制御ユニット１４０に接続されてよい。制御ユニット１４０は、端子（例えば１１２、）の電流値及び電圧値を適用又は制御してよい。

抵抗式タッチ装置１００の実施例において、第１の抵抗シート１１０は、第１の点１２０及び第２の点１２５で同時にタッチされる。抵抗式タッチ装置１００の制御ユニット１４０は、第１の点１２０及び第２の点１２５の位置及び／又はそれらの間の距離を決定する。

抵抗式タッチ装置が４線式の装置である実施例において、第１の抵抗シート１１０は、第１の抵抗シート１１０の左右の端に位置付けられた端子１１２、１１４に接続されている。同様に、第２の抵抗シート１３０は、第２の抵抗シート１３０の上下の端に位置付けられた端子１３３、１３６に接続されている。

本発明の幾つかの実施例において、端子１１２、１１４、１３３及び１３６は、測定可能な電子的特性がこれらの端子１１２、１１４、１３３及び１３６から得られるように、電子機器に接続されてよい。端子１１２、１１４、１３３及び１３６の電子的な特性は、後述されるように、第１の点１２０及び第２の点１２５の位置を決定することを可能にする。

抵抗式タッチ装置１００は、端子１１２、１１４、１３３及び１３６に電子的な特性を適用し、これらの端子から電子的な特性を取得し、且つこれらの端子から検出された情報に対して操作を行うために、制御ユニット１４０を有する。制御ユニット１４０は、電圧測定モジュール又は抵抗測定モジュールによって検出される電子的な特性に従って、第１の抵抗シートのＸ軸又はＹ軸での２つの接触点の間の距離を推定するよう構成されてよい。制御ユニット１４０は、また、２つの接触点の位置を推定するよう構成されてよい。

図２は、開示される発明の実施例に従う電圧測定を示す。電圧測定は、第１の抵抗シート５１５に接続されている端子５１２及び５１４と、第２の抵抗シート５０７に接続されている端子５１１及び５１３とを用いる。端子５１２及び５１４は、制御ユニットによって異なった所定電圧値を供給される。これらの電圧値は、制御ユニット（図示せず。）によって端子５１２及び５１４の夫々に供給されてよい。電圧が端子５１２及び５１４に印加される場合、端子５１１及び５１３での電圧が測定される。端子５１１及び５１３での電圧測定は、電圧測定モジュール５０２及び５０４によって実行されてよい。電圧測定モジュールはＡＤＣを有してよい。このような電圧測定は、例えば、２つの接触点を接続する仮想ラインと抵抗シートのＸ軸若しくはＹ軸との間の角度、又は２つの接触点の中点を検出するために、使用されてよい。

幾つかの場合で、制御ユニットが端子５１２には高い方の電圧を、端子５１４には低い方の電圧を印加するとき、端子５１１での電圧値は測定セットアップ１（ＭＳ１）とみなされ、端子５１３での電圧値は測定セットアップ２（ＭＳ２）とみなされる。幾つかの例となる場合で、ＡＤＣは端子５１１、５１３での電圧を測定するために使用される。同様に、端子５１３に印加される電圧よりも高い電圧値を端子５１１に印加する場合、端子５１２での電圧値は測定セットアップ３（ＭＳ３）とみなされ、端子５１４での電圧値は測定セットアップ４（ＭＳ４）とみなされる。

図３は、開示される発明の実施例に従うシート抵抗測定を示す。シート抵抗測定は、同じ抵抗シート５２０の端子５２２と５２８との間の抵抗値を測定することを提供する。２つの端子５２２、５２８は、４線式抵抗膜方式タッチパネルで見られるように抵抗シート５２０の両端に、あるいは、例えば５線式のシート（図示せず。）で見られるように同じシートの端のいずれかの組合せに、位置付けられてよい。図３〜５の抵抗測定は、２又はそれ以上の端子の間の抵抗値を測定するための抵抗測定モジュール（例えば、図３の５２６）を有してよい。抵抗値の測定は、測定される端子に電圧差を設定し、測定される端子を流れる電流を測定することによって、又は測定される端子に電流を流して、測定される端子間の電圧差を測定することによって、行われてよい。測定された抵抗は、２又はそれ以上の測定された抵抗値の間の比を参照してもよい。抵抗測定モジュール５２６によって検出された抵抗値は、制御ユニットによって取得されてよい。シート抵抗測定は、単一シートの端子間の抵抗値を測定することを可能にする。４線式抵抗膜方式タッチ装置において、このような測定は、第１の抵抗シートの端子に対して行われてよく（測定セットアップ５（ＭＳ５）とみなされる。）、また、第２の抵抗シートの端子に対して行われてよい（測定セットアップ６（ＭＳ６）とみなされる。）。５線抵抗膜方式タッチ装置において、抵抗値測定は、同じシートに位置付けられている端子の様々な組合せの間で行われる。このことは、抵抗シートにわたって異なった方向での電圧勾配の発生を可能にする。２よりも多い方向で電圧勾配を適用することは、接触点に関する更なる情報を集めることを可能にすることができ、従って、接触点の位置のより正確な検出を可能にすることができる。

図４は、開示される発明の実施例に従うシート間抵抗測定を示す。シート間抵抗測定は、異なるシート、すなわち、第１のシート５６０及び第２のシート５７０の端子を必要とする。第１の抵抗シート５６０での接触点５６３、５６５は、第２の抵抗シート５７０での等価な接触点５７３、５７５を有する。幾つかの場合において、シート間抵抗測定は、第１の抵抗シートに接続されている一方の端子と、第２の抵抗シートに接続されている他方の端子との間の抵抗値を測定すること、例えば、第１の抵抗シート５６０の端子５６４、５６２の１つと、第２の抵抗シート５７０の端子５７２、５７４の１つとの間の抵抗値を測定することを可能にする。抵抗値の測定は、上述されるように、抵抗測定モジュール５８０によって行われてよい。留意すべきは、２つのシートの間の抵抗値を評価するための他の選択肢には、２又はそれ以上の端子間の抵抗値、２又はそれ以上の端子を流れる電流及び／又は２又はそれ以上の端子間の電圧を測定することが含まれてよく、一方、各シートの少なくとも１つの端子は抵抗測定モジュール（例えば、図３の５２６）に接続されている。この例が図５に示されている。

簡単のために、当業者は、測定セットアップ７（ＭＳ７）として端子５６２と端子５７２との間の抵抗値を、測定セットアップ８（ＭＳ８）として端子５６２と端子５７４との間の抵抗値を、測定セットアップ９（ＭＳ９）として端子５６４と端子５７２との間の抵抗値を、測定セットアップ１０（ＭＳ１０）として端子５６４と端子５７４との間の抵抗値を参照することができる。

図５は、開示される発明の実施例に従う４線式シート間抵抗測定を示す。４線式シート間抵抗測定は、２対の端子の間で抵抗を測定することを可能にする。このとき、端子の各対は、単一のシート（例えば、第１の抵抗シート５４０又は第２の抵抗シート５５０）に接続されている。端子の各対は導線を介して接続されている。例えば、端子５４２及び５４８の第１の対は導線５４４を介して接続されており、端子５５２及び５５４の第２の対は導線５５５を介して接続されている。導線５５５及び５４４は、導線５４４及び５５５を介して異なったシート間の抵抗値を測定するための抵抗測定モジュール５４６に接続されている。

図６は、開示される発明の幾つかの実施例に従う抵抗式タッチ装置の制御ユニットを示す。制御ユニットは、アナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）と、スイッチと、１又はそれ以上の抵抗器とを有してよい。制御ユニット６００は、端子６１０、６２０、６３０及び６４０に接続されている。端子６１０、６２０、６３０及び６４０の夫々は、第１又は第２の抵抗シートに接続されてよい。４つの端子６１０、６２０、６３０及び６４０の夫々は、２つのコントローラピンに接続されてよく、１つのコントローラピンには抵抗器を介して、他のコントローラピンには直接に接続される。例えば、端子６１０は、抵抗器６１１を介してコントローラＩ／Ｏスライス６１４に接続され、コントローラＩ／Ｏスライス６１５及びＡＤＣに内部で接続されるアナログＩ／Ｏスライス６１６には直接に接続されている。端子６２０、６３０及び６４０は、同様に、対応するコントローラピンに接続されている。幾つかの例となる場合において、制御ユニット６００は、内部シリコン抵抗器及びＡＤＣ接続を有してよく、それにより、ただ１つのコントローラピンしか各端子ごとに必要とされない。そのような場合において、それらの抵抗器のためのキャリブレーション・メカニズムが、低い精度のシリコン抵抗器のために、必要とされることがある。制御ロジック６６０及びＡＤＣコンポーネント６６５が、上述されるように、測定セットアップを実施するために使用されてよい。幾つかの例となる場合において、制御ユニット６００は、処理ユニットを組み込んでよく、あるいは、更なる処理のために他のモジュールへ測定を送信してよい。

図７は、開示される発明の幾つかの実施例に従う、第１の抵抗シート上の２つの接触点の位置を決定する方法を示す。

ステップ７０５で、抵抗式タッチ装置は学習される。学習プロセスは測定の組を必要とする。具体的に、第１の抵抗シート上の２つの接触点は、第１の抵抗シートのＸ軸又はＹ軸のいずれか一方に沿った接触点間で異なった距離を有する所定の位置で、典型的な指と同等の所定の力で複数回押される。次いで、シート抵抗測定及びシート間抵抗測定が実行され、測定間の関係、接触対象間の距離、及び接触点強さが学習されて記憶される。この学習プロセスは、スタイラス型のツールと同等の力を有して２つの接触対象に関して繰り返されてよい。幾つかの場合において、精度を高めるために、更なる強さが学習されて記憶されてよい。次いで、同じプロシージャが他の軸について行われる。学習プロセスの結果は、抵抗式タッチ装置に接続された又はそれに内蔵されている記憶ユニットに記憶されてよい。学習プロセスの結果は、開示される発明の実施例に従って、例えば１又はそれ以上のルックアップテーブルとして、まとめられてよい。

ステップ７１０で、抵抗式タッチ装置のコンポーネントに関する電子的な特性の変化を補償するために、周期的なキャリブレーションが行われる。かかる電子的な特性には、第１及び第２の抵抗シートの抵抗、他のコンポーネントの抵抗、電流源及び電圧源の偏差、ＡＤＣ測定オフセット等が含まれてよい。補償される変化は、例えば、温度変化に起因する。第１の抵抗シートがタッチされない場合、シート抵抗測定、例えば、ＭＳ５及びＭＳ６は記憶され、後に、第１の抵抗シートがタッチされる場合に実行される他の測定のための基準として使用されてよい。

ステップ７１５で、制御ユニットは、抵抗式タッチ装置の端子の電圧値を検出する。４線抵抗膜方式タッチ装置において、制御ユニットは、１つの抵抗シート（第１の抵抗シート又は第２の抵抗シートのいずれ一方）に接続されている２つの端子に異なった電圧値を印加し、電圧値は、他のシートの２つの端子から測定される。例えば、第１の抵抗シートの端子は電圧を印加され、電圧値は第２の抵抗シートの端子から測定される。

ステップ７２０で、制御ユニットは、抵抗式タッチ装置の同じ抵抗シートの端子間の抵抗値を検出する。２つの端子は、抵抗シートの両端に、又は抵抗シートの隣接する端に、又はその他の構成で、位置付けられてよい。同じ抵抗シート上の端子の数及び位置は、例えば、装置が４線式又は５線式のいずれであるのかという、抵抗式タッチ装置のタイプの関数であってよい。

ステップ７２５で、制御ユニットは、抵抗式タッチ装置の端子間の抵抗値を検出する。それら端子のうちの少なくとも１つは第１の抵抗シートに接続され、少なくとも他の端子は第２の抵抗シートに接続されている。例えば、このような検出は、一方の端子が第１の抵抗シートに接続され、第２の端子が第２の抵抗シートに接続されている場合を参照する。幾つかの場合において、４線式シート間測定は、異なったシートに接続されている２よりも多い端子間の抵抗値を検出するために使用されてよい。当業者は、また、他の抵抗測定を使用してもよい。

シート抵抗測定及びシート間抵抗測定が５線抵抗膜方式タッチパネルから得られる場合、シート抵抗測定は、同じシートの２対の対向する端子から得られる。一方の対はＸ軸上の２つの端子を含み、他方の対はＹ軸上の２つの端子を含む。代替的に、シート抵抗測定は、端子の各対を導線に接続して、各対に付随する導線間の抵抗値を測定することによって取得されてよい。シート間抵抗測定は、第１の抵抗シートの少なくとも１つの端子と第２の抵抗シートの端子との間の抵抗値を測定することによって取得されてよい。

ステップ７２７で、Ｘ軸上の２つの接触点の間の距離及びＹ軸上の接触点間の距離が決定される。Ｘ軸及びＹ軸の夫々での距離は、シート抵抗測定及びシート間抵抗測定から取り出されてよい。抵抗測定からＹ軸及びＸ軸における距離への変換は、ルックアップテーブル（例えば、図９のテーブル９００）を用いて行われてよい。幾つかの場合において、Ｙ軸及びＸ軸における距離を決定するために電圧測定も使用されてよい。

ステップ７３０で、第１の抵抗シートでの接触状態が決定される。ステップ７３０は、非接触状態と他の接触状態との間を区別するためにシート間抵抗測定を利用する。単接触状態、２接触状態及び検出不可能な接触状態の間の区別については、図８で記載する。

ステップ７４０で、シャドウ接触点（shadow touch points）が実際の接触点、すなわち、実際にタッチされた第１の抵抗シート上の接触点と区別される。ステップ７４０は、２つの接触点を接続するラインと第１の抵抗シートのＸ軸又はＹ軸との間の角度の範囲を決定することを含む。その角度は、０〜９０度又は９０〜１８０度のいずれかの範囲にある。かかる範囲は、ステップ７１５で得られた電圧測定に従って決定されてよい。

ステップ７５０で、２つの接触点のＸ座標及びＹ座標の平均を表す中点の位置が決定される。中点の位置は、ステップ７１５で得られた電圧測定を用いて決定されてよい。中点の位置は、抵抗式タッチ装置と通信する、抵抗式タッチ装置に埋め込まれている、又は抵抗式タッチ装置に接続されている記憶ユニットに記憶されたルールの組に従って決定されてよい。

ステップ７６０で、接触点の位置が決定される。その位置は、抵抗式タッチ装置と通信する記憶部に記憶されたルールの組及び推定に従って決定されてよい。幾つかの例となる場合において、第１の抵抗シート上の２つの接触点の位置の決定は、また、以前に記憶された測定の関数である。かかる場合に、方法は、接触点の位置の推定において、検出された電子的な特性を、以前に記憶された測定と比較する段階を更に有する。

開示される発明の方法は、また、図２〜５で記載される測定から接触点の座標を取り出すことを提供する。幾つかの例となる場合において、接触点の座標は、図１０のＤＸ、ＤＹ、角度範囲４４５及び中点４２０から取り出されてよい。微調整修正は、それらの推定される位置及び角度４４５に基づいて、取り出された接触点座標に対して適用されてよい。

開示される発明の実施例において、２つの接触点の位置は、多項式近似方法（polynomial approximation method）により提供されてよい。かかる多項式近似方法において、接触座標、接触点強さ、及び結果として得られる測定された電気特性は、測定と接触点特性との間の関係を表す少なくとも１つの多項式を提供するコンピュータ化されたユニットに入力される。前記式は、入力として測定を得て、接触点の位置と、図１０における例えばＤＸ、ＤＹ、角度４４５及び中点４２０等の他の特性とを出力する。測定される電気特性は、異なった様々な接触位置及び強さにおいて検出される電圧値、電流値及び／又は抵抗値であってよい。コンピュータ化されたユニットは、２つの接触点の一部の各電気特性値の影響を考慮し、以前に記憶された膨大な位置及び関連する電気特性値に従って２つの接触点の位置の近似を提供するモデルを生成する。

当業者には当然ながら、図７に関連して詳細に記載される様々なステップは、本発明の目的を達成するならば、どのような順序で行われてもよい。

図８は、開示される発明の幾つかの実施例に従う、第１の抵抗シートにおける接触状態を決定するための方法を示す。ステップ８１０で、第１及び第２のシートの間の抵抗値を表す電気的な特性が検出され、所定の閾値と比較される。検出された値が所定の閾値よりも小さくない場合、ステップ８１３に示されるように、接触状態は、非接触状態であると決定される。検出された値が所定の値よりも小さい場合、ステップ８２０で示されるように、Ｘ軸又はＹ軸にわたるシート抵抗を表す端子間の抵抗値は、単接触状態を表す対応する閾値と比較される。両方の抵抗値が単接触状態を表す閾値よりも高い場合、ステップ８２２で示されるように、接触状態は単接触状態と決定される。検出された値が単接触を表す閾値よりも小さい場合、ステップ８３０で示されるように、その抵抗シートの１又はそれ以上の方向にわたって検出される抵抗値が所定の又は較正された２接触閾値よりも小さいかどうかが決定される。抵抗値が２接触閾値よりも小さい場合、ステップ８３５で示されるように、接触状態は、検出不可能な接触状態であると決定される。他方、抵抗値が２接触閾値よりも小さくない場合、ステップ８４０で示されるように、シート抵抗値と電圧測定差との間の相関関係が決定される。かかる電圧差は、対向する端部の２つの測定セットアップの間の差、例えば、ＭＳ１とＭＳ２との間の差、であってよい。このような相関関係は、また、シート間抵抗値も考慮してよい。十分な相関関係がある場合には、ステップ８５０で示されるように、２接触状態が決定され、他方、そうでない場合には、ステップ８３５で示されるように、検出不可能な接触状態が決定される。

図９は、開示される発明の実施例に従う、電子的な特性の学習処理の結果を記憶するルックアップテーブルを示す。ルックアップテーブルは、図３のシート抵抗測定と、図４及び５のシート間抵抗測定と、ＤＸとの間の関係を表す。ルックアップテーブルの値は、２本の指又はスタイラス型のツールが、シート抵抗値及びシート間抵抗値が評価されるところの第１の抵抗シートのＸ軸に沿った所定の位置に置かれる測定設定時に、生成されてよい。同様に、他のルックアップテーブルはＤＹに関連してよい。

列９１０における測定値は、ＭＳ５で見られるシート抵抗値と、既知の値を有する直列抵抗との間の比に比例する。列９３０及び９５０における測定値は、ＭＳ７、ＭＳ８、ＭＳ９及びＭＳ１０で見られるシート間抵抗値と、既知の値を有する直列抵抗との間の比に比例する。例において、列９３０及び９４０の測定値は、直列抵抗とＭＳ７、ＭＳ８、ＭＳ９及びＭＳ１０で見られるシート間抵抗値との間の比の２つの中央値の間の数学平均を表す。幾つかの場合において、ＤＸのより正確な推定を得るために、先に述べたものとともに、更なる測定が使用されてよい。

列９２０における値は、列９１０及び９３０における測定値について、対応するＤＸを表す。列９４０における値は、列９１０及び９５０における測定値について、対応するＤＸを表す。列９３０及び９５０の測定値は、接触点の間の距離と、接触点の強さとに依存してよい。

通常動作中、シート抵抗比及びシート間抵抗比は、直列抵抗を用いて上述されたように測定される。シート抵抗比は、列９１０における対応する行と整合され、補間が２つの隣接する行の間で用いられてよい。次いで、角度４４５が０度であるところの簡単化された場合において、シート間抵抗比は、列９３０及び９５０での電圧と比較されてよく、Ｘ軸上の距離は、線形、非線形又は他のタイプの補間を用いて評価される。留意すべきは、Ｙ軸のためのルックアップテーブルは同様に適用されてよい。角度４４５が０又は９０度以外である場合において、接触点間の実際の距離に依存するＤＸ、ＤＹ、Ｘ方向におけるシート抵抗値、Ｙ方向におけるシート抵抗値及びシート間抵抗値との間の最良の整合は、列９３０及び９５０の間の補間比がＸ及びＹの両方のルックアップテーブルについて同じであるべき反復探索（iterative search）によって見つけられる。

他の学習プロセステーブルが準備されて使用されてよい。例えば、更なる接触強さが測定されてよく、あるいは、図９で記載されるものと同じ複数のテーブルが異なった中点４２０のために及び異なった角度４４５のために準備されてよい。このような学習プロセスは、検出精度を高めるのに役立つ。

図１０は、開示される発明の実施例に従う、２点でタッチされる第１の抵抗シートを示す。第１の抵抗シート４１０は、２つの点、すなわち、第１の接触点４１１及び第２の接触点４１２でタッチされている。第１の接触点４１１及び第２の接触点４１２は、夫々、Ｘ座標及びＹ座標の両方で定義されてよい。中点４２０は、第１の接触点４１１及び第２の接触点４１２のＸ座標及びＹ座標の平均を表す。中点４２０は、第１の接触点４１１及び第２の接触点４１２を接続する距離４３０を表す仮想ラインの中間に位置する。シャドウ点４１５は、第２の接触点４１２のＸ座標及び第１の接触点４１１のＹ座標によって表される。シャドウ点４１６は、第２の接触点４１２のＹ座標及び第１の接触点４１１のＸ座標によって表される。

開示される発明の実施例において、ＭＳ１、ＭＳ２、ＭＳ３及びＭＳ４は、中点４２０の位置を決定するために使用される。中点４２０のＸ位置を決定する１つの方法は、ＭＳ１及びＭＳ２に対して数学平均を適用することによる。同様に、中点４２０のＹ位置は、ＭＳ３及びＭＳ４から求められてよい。中点４２０のＸ及びＹの夫々の位置を決定する他の方法は、推定される中点の位置から遠い方の端子に対して測定セットアップへの更なる重みを与える加重平均法による。このような加重平均法の一例は下記の通りである。

１．H_MID＝(MS1×(MS2_MAX-MS2_AV)+MS2×(MS2_AV-MS2_MIN)/
(MS2_MAX-MS2_MIN))
２．V_MID＝(MS3×(MS1_MAX-MS1_AV)+MS4×(MS1_AV-MS1_MIN)/
(MS1_MAX-MS1_MIN))
ここで、
Ｍ＿ＭＩＤは中点４２０のＸ座標、
Ｖ＿ＭＩＤは中点４２０のＹ座標、
ＭＳ１＿ＡＶはＭＳ１及びＭＳ２の数学平均、
ＭＳ２＿ＡＶはＭＳ３及びＭＳ４の数学平均、
ＭＳ１＿ＭＡＸはＭＳ１又はＭＳ２の最大可能値、
ＭＳ２＿ＭＡＸはＭＳ３又はＭＳ４の最大可能値、
ＭＳ１＿ＭＩＮはＭＳ１又はＭＳ２の最小可能値、
ＭＳ２＿ＭＩＮはＭＳ３又はＭＳ４の最小可能値である。

上記の測定は、２つの接触点を接続する仮想ラインと、第１の抵抗シートのＸ軸又はＹ軸との間に形成される角度を決定するためにも使用されてよい。開示される発明の実施例において、角度４４５は、Ｘ軸より下で、Ｘ軸の正の値の方向に向かって、距離４３０を表す仮想ラインとＸ軸との間でなされる角度である。幾つかの場合において、ＭＳ１がＭＳ２よりも小さい場合、角度４４５は９０から１８０度の間であり、そうでない場合は、角度４４５は０から９０度の間である。角度４４５の決定は、第１の接触点４１１及び第２の接触点４１２とシャドウ点４１５及び４１６との間の区別を可能にする。幾つかの場合において、ＭＳ１とＭＳ２との間の差は、第１の接触点４１１と第２の接触点４１２との間の距離が大きくなるにつれ、角度４４５が４５度又は１３５度のいずれかの角度に近づくにつれ、又は接触強さが大きくなるにつれ、大きくなる。結果として、接触強さ及びＤＸ又はＤＹのいずれか一方の推定を前提として、ＤＸ（ＤＹが与えられた場合）又はＤＹ（ＤＸが与えられた場合）は、例えば、下記の式に従って、推定され得る。

DX=(MS1-MS2+MS3-MS4)×KX/(I×DY)
DY=(MS1-MS2+MS3-MS4)×KY/(I×DX)
ここで、ＫＸ及びＫＹは、ＡＤＣの単位をセンチメートルに変換するよう決定された定数であり、Ｉは、接触強さから取り出される因数であって、シート間抵抗測定から取り出される。

図１１は、開示される発明の実施例に従う抵抗式タッチ装置の概略構成を示す。抵抗式タッチ装置３００は、第１の抵抗シート３１０及び第２の抵抗シート３３０を有する。第２の抵抗シート３３０の表面は、第１の抵抗シート３１０の表面に近接し又は略平行である。第１の抵抗シート３１０は端子３１６及び３１８に接続されている。第２の抵抗シート３３０は端子３３２及び３３４に接続されている。

圧力が第１の抵抗シート３１０に加えられる場合、第１の抵抗シート３１０は２つの接触点で第２の抵抗シート３３０に押しつけられる。第１の抵抗シート３１０の接触点３１４は第２の抵抗シート３３０の接触点３４４と接し、第１の抵抗シート３１０の接触点３１２は第２の抵抗シート３３０の接触点３４２と接する。接触点３１２が接触点３４２と接している場合及び接触点３１４が接触点３４４と接している場合、電流が第１の抵抗シート３１０から第２の抵抗シート３３０へ流れる。抵抗３３７及び３３９は、接触点３１２、３４２、３４４及び３１４による第２の抵抗シート３３０と第１の抵抗シート３１０との間の接触をモデル化する。抵抗３３８は、第２の抵抗シート３３０での接触点３４２と接触点３４４との間の等価抵抗値をモデル化する。これは簡単化されたモデルであるが、抵抗３３７、３３８及び３３９の累算抵抗値が、第１の抵抗シート３１０の抵抗の一部をモデル化する抵抗３２２と並列に存在すると考えることができる。従って、端子３１６と３１８との間の等価抵抗値は、抵抗３３７、３３８及び３３９の存在により小さくなる。

接触点３１２及び３１４でタッチされる場合の第１の抵抗シート３１０の端子３１６と３１８との間の抵抗値は、主に、接触点３１２と３１４との間の距離とそれらの接触点での接触強さとの関数である。接触強さの評価は、第１及び第２の抵抗シートの間の抵抗値を評価することによって、行われてよい。

図面のフローチャート及びブロック図は、本発明の様々な実施形態に従うシステム、方法及びコンピュータプログラムプロダクトの可能な実施のアーキテクチャ、機能性及び動作を表す。この関連で、フローチャート又はブロック図における各ブロックは、特定の論理機能を実施するための１又はそれ以上の実行可能な命令を含むモジュール、セグメント、又はプログラムコードの部分を表してよい。また、留意すべきは、幾つかの実施形態の実施において、ブロックで表される機能は、図に示された順序で起こらなくてもよい。例えば、連続して示される２つのブロックは、実際には、略同時に実行されてよく、あるいは、ブロックは、ときどき、含まれる機能性に依存して、逆の順序で実行されてよい。また、ブロック図及び／又はフローチャートの各ブロック並びにブロック及び／又はフローチャートにおけるブロックの組合せは、特別目的のハードウェア及びコンピュータ命令の特定の機能若しくは動作又は組合せを実行する特別目的のハードウェアによるシステムによって、実施されてよいことが知られる。

ここで使用される用語は、単に具体的な実施形態を記載することを目的としており、本発明を限定することを目的とするものではない。ここで使用されるように、単数形は、文脈中で明示されない限り、複数形も含むよう意図される。更に、当然、語「有する」及び／又は「含む」は、本明細書で使用される場合に、述べられている特徴、値、ステップ、動作、要素及び／又はコンポーネントの存在を特定するが、１又はそれ以上の更なる特徴、値、ステップ、動作、要素、コンポーネント及び／又はそれらのグループの存在又は追加を排除しない。

当業者にとって明らかであるように、開示される発明は、システム、方法又はコンピュータプログラムプロダクトとして具現されてよい。更に、開示される発明は、全体としてハードウェア若しくはソフトウェア（ファームウェア、常駐ソフトウェア、マイクロコード等を含む。）により実施されても、又は、概して「回路」、「モジュール」又は「システム」と本願では呼ばれる、ハードウェア及びソフトウェアを組み合わせた実施形態をとってもよい。更に、本発明は、媒体において具現されるコンピュータ使用可能プログラムコードを有する何らかの有形的表現媒体において具現されるコンピュータプログラムプロダクトの形をとってもよい。１又はそれ以上のコンピュータ使用可能な又はコンピュータ読取可能な媒体の如何なる組合せが利用されてもよい。コンピュータ使用可能な又はコンピュータ読取可能な媒体には、例えば、電子、磁気、光、電磁気、赤外線、半導体システム、装置、デバイス、又は電波媒質があるが、これらに限られない。コンピュータ可読媒体の更なる具体例（全てではない。）には、次のもの、すなわち、１又はそれ以上のワイヤを有する電気接続、持ち運び可能なコンピュータディスケット、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）、読取専用メモリ（ＲＯＭ）、消去可能なプログラム可能ＲＯＭ（ＥＰＲＯＭ若しくはフラッシュメモリ）、光ファイバ、持ち運び可能なコンパクトディスクＲＯＭ（ＣＤＲＯＭ）、光学記憶デバイス、インターネット若しくはイントラネットをサポートするもの等の伝送媒体、又は磁気記憶デバイスがある。留意すべきは、コンピュータ使用可能な又はコンピュータ読取可能な媒体は、プログラムが、例えば、用紙若しくは他の媒体を光学的に走査して、必要に応じて適切な方法でそれをコンパイル、解釈若しくは別なふうに処理し、コンピュータメモリに記憶することを通じて、電子的にキャプチャ可能であるならば、プログラムが印刷されている用紙又は他の適切な媒体でさえあってよい。本明細書に関連して、コンピュータ読取可能な又はコンピュータ読取可能な媒体は、命令実行システム、装置又はデバイスによる使用のために又はそれと関連してプログラムを含み、記憶し、通信し、伝え又は転送することができる如何なる媒体であってもよい。コンピュータ使用可能な媒体は、ベースバンドで又は搬送波の一部として、伝播されるデータ信号を、該信号により具現されるコンピュータ使用可能なコードとともに有してよい。コンピュータ使用可能なプログラムコードは、無線、有線、光ファイバケーブル、ＲＦ等を含むが、それらに限定されない何らかの適切な媒体を用いて、送信されてよい。

本発明の動作を実行するためのコンピュータプログラムコードは、Ｊａｖａ（登録商標）、Ｓｍａｌｌｔａｌｋ、Ｃ＋＋等のオブジェクト指向のプログラミング言語と、Ｃプログラミング言語又は同様のプログラミング言語等の従来の手続的プログラミング言語とを含む１又はそれ以上のプログラミング言語のいずれかの組合せにおいて書かれてよい。プログラムコードは、全体としてユーザのコンピュータで、又はスタンドアローンのソフトウェアパッケージとして、部分的にユーザのコンピュータで、又は一部をユーザのコンピュータで及び一部をリモートコンピュータで、又は全体的にリモートコンピュータ若しくはサーバで、実行してよい。後者の場合において、リモートコンピュータは、ローカルエリアネットワーク（ＬＡＮ）又はワイドエリアネットワーク（ＷＡＮ）を含む何らかのタイプのネットワークを介してユーザのコンピュータに接続されてよく、あるいは、接続は、（例えば、インターネット・サービス・プロバイダを用いてインターネットを通じて）外部のコンピュータに対して形成されてよい。

特許請求の範囲における全ての手段若しくはステップ、及び機能要素の対応する構成、材質、動作及び同等物は、具体的に請求されているように、他の請求される要素と組み合わせて機能を実行するあらゆる構成、材質若しくは動作を含むよう意図される。本発明の記載は、例示及び説明のために与えられているが、開示される形での本発明に限定するよう意図されない。多くの改良及び変形は、本発明の技術的範囲を逸脱しない範囲で当業者には明らかである。本発明の原理及び実際の用途を最も良く説明し、且つ、当業者が予期される具体的な使用に適した様々な変形を伴って様々な実施形態に関して本発明を理解することを可能にするために、実施形態は選択されて記載されている。

本開示は例となる実施形態を参照して記載されてきたが、当業者には当然に、発明の技術的範囲を逸脱することなく、様々な変形が行われてよく、また、同等物がその要素と置換されてよい。更に、多くの変形は、本教示の本質的な適用範囲を逸脱することなく、特定の状況又は材料を本教示に適合させるよう行われてよい。従って、開示される発明は、本発明を実施するために考えられる最良のモードとして開示される特定の実施形態に限定されず、特許請求の範囲によってのみ定義されると意図される。

１００，３００ 抵抗式タッチ装置
１１０，３１０，４１０，５１５，５４０，５６０ 第１の抵抗シート
１１２，１１４，１３３，１３６，３１６，３１８，３３２，３３４，５１１〜５１４，５２２，５２８，５４２，５４８，５５２，５５４，５６２，５６４，５７２，５７４，６１０，６２０，６３０，６４０ 端子
１２０，１２５，３１２，３１４，３４２，３４４，４１１，４１２，５６３，５６５，５７３，５７５ 接触点
１３０，３３０，５０７，５５０，５７０ 第２の抵抗シート
１４０，６００ 制御ユニット
４２０ 中点
４３０ 距離（仮想ライン）
４４５ 角度
５０２，５０４ 電圧測定モジュール
５２０ 抵抗シート
５２６，５８０ 抵抗測定モジュール
５４４，５４６，５５５ 導線
６１１，６２１ 抵抗器
６１４，６１５ コントローラＩ／Ｏスライス
６１６ アナログＩ／Ｏスライス
６６０ 制御ロジック
６６５ ＡＤＣコンポーネント

Claims (42)

1. 第１の抵抗シートと、
   前記第１の抵抗シート上の第１の接触点及び第２の接触点に印加された力により前記第１の抵抗シートとの間に前記第１の抵抗シートとの間に印加された電圧に基づいて電流が流れるよう前記第１の抵抗シートに近接して配置される第２の抵抗シートと、
   第１の端子及び第２の端子に結合される制御ユニットと、を有し、
   前記制御ユニットは、前記第１の端子と前記第２の端子との間の第１の抵抗を測定するよう構成され、前記第１の端子及び前記第２の端子が、前記第１の抵抗シート及び前記第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートに結合され、これにより、前記第１の抵抗シート又は前記第２の抵抗シートの１つの抵抗を測定し、
   前記制御ユニットは、前記第１の端子と前記第２の端子との間の第２の抵抗を測定するよう構成され、前記第１の端子が前記第１の抵抗シートに結合され、前記第２の端子が前記第２の抵抗シートに結合され、これにより、前記第１の抵抗シートと前記第２の抵抗シートとの間の抵抗を測定し、
   前記制御ユニットは、前記第１の抵抗シートに結合される前記第１の端子と、前記第２の抵抗シートに結合される前記第２の端子との間の前記抵抗から、シート間抵抗を計算するよう更に構成され、及び
   前記制御ユニットは、前記複数の抵抗値に基づいて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の距離を推定するよう更に構成される、装置。
2. 前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の前記距離に関する測定された電子的な特性及びデータを関連付けるルックアップテーブルを記憶するよう構成される記憶デバイスを更に有する、請求項１に記載の装置。
3. 前記第１の抵抗又は前記第２の抵抗の少なくとも１つ又は両者は、直列抵抗との間の比として表される、請求項２に記載の装置。
4. 前記制御ユニットは、前記第１の端子及び前記第２の端子に測定された抵抗に基づいて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の前記距離を測定するよう更に構成される、請求項１に記載の装置。
5. 前記制御ユニットは、多項式近似を用いて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の前記距離を推定する、請求項４に記載の装置。
6. 前記制御ユニットは、複数の抵抗と直列抵抗との間の複数の比に基づいて、平均を計算するよう更に構成される、請求項５に記載の装置。
7. 前記制御ユニットは、前記第１の接触点及び前記第２の接触点のＸ座標及びＹ座標の平均を表す中点の位置を決定するよう更に構成される、請求項５に記載の装置。
8. 前記制御ユニットは、前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定するよう更に構成される、請求項５に記載の装置。
9. 前記制御ユニットは、前記第１の抵抗シートが2つの点で接触されていると決定するよう更に構成される、請求項１に記載の装置。
10. 前記制御ユニットは、前記測定された第１の抵抗、前記測定された第２の抵抗、及び前記測定された電圧を関連付けるよう更に構成される、請求項９に記載の装置。
11. 前記制御ユニットは、前記第１の抵抗シート及び前記第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートの学習プロセスを実行するよう更に構成される、請求項１に記載の装置。
12. 第１の抵抗シート及び第２の抵抗シートを有する装置において動作可能な方法であって、
    前記第２の抵抗シートが前記第１の抵抗シートに近接して配置され、これにより、前記第１の抵抗シート上の第１の接触点及び第２の接触点に印加された力によって前記第１の抵抗シートと前記第２のシートとの間に電流が流れ、
    前記方法は、前記第１の抵抗シートと前記第２のシートとの間に印加された電圧に基づいて、
    前記第１の抵抗シート及び前記第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートに結合される第１の端子と第２の端子との間の第１の抵抗値を測定し、
    前記第１の抵抗シートに結合される前記第１の端子と、前記第２の抵抗シートに結合される前記第２の端子との間の第２の抵抗値を測定し、これにより、前記第１の抵抗シートと前記第２の抵抗シートとの間の抵抗を測定し、
    前記第１の抵抗シートに結合される前記第１の端子と、前記第２の抵抗シートに結合される第２の端子との間の前記抵抗から、シート間抵抗を計算し、及び
    前記複数の抵抗値に基づいて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の距離を推定するステップを含む、方法。
13. 前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の距離に関する測定された電子的な特性及びデータを関連付けるステップを更に含む、請求項１２に記載の方法。
14. 前記第１の抵抗又は前記第２の抵抗の少なくとも１つ又は両者は、直列抵抗との間の比として表される、請求項１３に記載の方法。
15. 前記第１の端子及び前記第２の端子に測定された抵抗に基づいて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の前記距離を測定するステップを更に含む、請求項１２に記載の方法。
16. 多項式近似を用いて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との前記距離を推定する、請求項１５に記載の方法。
17. 複数の抵抗と直列抵抗との間の複数の比に基づいて、平均を計算するステップを更に含む、請求項１６に記載の方法。
18. 前記第１の接触点及び前記第２の接触点のＸ座標及びＹ座標の平均を表す中点の位置を決定するステップを更に含む、請求項１６に記載の方法。
19. 前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定するステップを更に含む、請求項１６に記載の方法。
20. 前記第１の抵抗シートが2つの点で接触されていると決定するステップを更に含む、請求項１２に記載の方法。
21. 前記測定された第１の抵抗、前記測定された第２の抵抗、及び前記測定された電圧を関連付けるステップを更に含む、請求項２０に記載の方法。
22. 前記第１の抵抗シート及び前記第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートの学習プロセスを実行するステップを更に含む、請求項１２に記載の方法。
23. 抵抗シート上の第１の接触点及び第２の接触点の接触を検出し、この2つの接触点の位置を推定する方法であって、
    第１の抵抗シート及び第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートに接続された２つの端子の間の第１の抵抗値を測定し、
    前記第１の抵抗シートに接続された１つの端子と、前記第２の抵抗シートに接続されたもう１つの端子との間の第２の抵抗値を測定し、
    前記第１の抵抗シートに接続された１つの端子と、前記第２の抵抗シートに接続されたもう１つの端子との間の前記第２の抵抗値から、シート間抵抗を計算し、
    前記第１の端子及び前記第２の端子における電圧を測定し、
    前記抵抗シートが前記第１の接触点及び前記第２の接触点で接触されていると検出し、及び
    前記複数の抵抗値及び前記複数の電圧値に基づいて、前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定するステップを含む、方法。
24. 前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定するステップは、前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の距離を推定するステップを含む、請求項２３に記載の方法。
25. 前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の前記距離の推定は、多項式近似に基づく、請求項２４に記載の方法。
26. 前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定するステップは、ルックアップテーブルを用いて、前記第１の抵抗値及び前記第２の抵抗値を、前記第１の接触点と前記第２の接触点との前記距離に変換するステップを更に含む、請求項２４に記載の方法。
27. 前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定するステップは、複数の抵抗と直列抵抗との間の複数の比に基づく、請求項２３に記載の方法。
28. 前記抵抗シートが前記第１の接触点及び前記第２の接触点で接触されていると検出することは、前記測定された第１の抵抗値、前記測定された第２の抵抗値、及び前記測定された電圧を関連付けるステップを更に含む、請求項２３に記載の方法。
29. 前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の距離の推定は、多項式近似に基づく、請求項２３に記載の方法。
30. 前記第１の抵抗シート及び前記第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートの学習プロセスを実行するステップを更に含む、請求項２３に記載の方法。
31. 装置であって、
    第１の抵抗シートと、
    前記第１の抵抗シート上の第１の接触点及び第２の接触点に印加された力により前記第１の抵抗シートとの間に前記第１の抵抗シートとの間に印加された電圧に基づいて電流が流れるよう前記第１の抵抗シートに近接して配置される第２の抵抗シートと、
    前記第１の抵抗シート上の前記第１の接触点及び前記第２の接触点の接触を検出し、この２つの接触点の位置を推定する制御ユニットと、を有し、
    前記制御ユニットは、前記第１の抵抗シート及び前記第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートに結合される２つの端子の間の第１の抵抗を測定し、これにより、前記第１の抵抗シート又は前記第２の抵抗シートの１つの抵抗を測定するよう更に構成され、
    前記制御ユニットは、前記第１の抵抗シートに接続される１つの端子と、前記第２の抵抗シートに接続されるもう１つの端子との間の第２の抵抗を測定し、これにより、前記第１の抵抗シートと前記第二の抵抗シートとの間の抵抗を測定するよう更に構成され、
    前記制御ユニットは、前記第１の抵抗シートに接続される１つの端子と、前記第２の抵抗シートに接続されるもう１つの端子との間の第１の抵抗から、シート間の抵抗を計算するよう更に構成あれ、
    前記制御ユニットは、第１の端子及び第2の端子における電圧を測定するよう更に構成され、
    前記制御ユニットは、前記抵抗シートが前記第１の接触点及び前記第２の接触点で接触されていると検出するよう更に構成され、及び
    前記制御ユニットは、前記複数の抵抗値及び前記複数の電圧値に基づいて、前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定するよう更に構成される、装置。
32. 前記制御ユニットは、前記第１の接触点と前記第２の接触点との間の距離を推定するステップを含む、前記第１の接触点及び前記第２の接触点の位置を推定することを行うよう更に構成される、請求項３１に記載の装置。
33. 前記制御ユニットは、多項式近似に基づいて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との前記距離を推定するよう更に構成される、請求項３２に記載の装置。
34. 前記制御ユニットは、ルックアップテーブルを用いて、前記第１の抵抗値及び前記第２の抵抗値を、前記第１の接触点と前記第２の接触点との前記距離に変換するよう更に構成される、請求項３２に記載の装置。
35. 前記制御ユニットは、複数の抵抗と直列抵抗との間の複数の比に基づいて、平均を計算するよう更に構成される、請求項３１に記載の装置。
36. 前記制御ユニットは、前記測定された第１の抵抗値、前記測定された第２の抵抗値、及び前記測定された電圧を関連付けることにより、前記抵抗シートが前記第１の接触点及び前記第２の接触点で接触されていると検出するよう更に構成され、請求項３１に記載の装置。
37. 前記制御ユニットは、多項式近似に基づいて、前記第１の接触点と前記第２の接触点との前記位置を推定するよう更に構成される、請求項３１に記載の装置。
38. 前記制御ユニットは、前記第１の抵抗シート及び前記第２の抵抗シートからなるグループより選択される抵抗シートの学習プロセスを実行するよう更に構成される、請求項３１に記載の装置。
39. 前記制御ユニットは、前記測定された第１の抵抗値及び前記測定された電圧を関連付けるよう更に構成される、請求項９に記載の装置。
40. 前記測定された第１の抵抗値及び前記測定された電圧を関連付けるステップを更に含む、請求項２０に記載の方法。
41. 前記抵抗シートが前記第１の接触点及び前記第２の接触点で接触されていると検出することは、前記測定された第１の抵抗値及び前記測定された電圧を関連付けるステップを更に含む、請求項２３に記載の方法。
42. 前記制御ユニットは、前記測定された第１の抵抗値及び前記測定された電圧を関連付けることにより、前記抵抗シートが前記第１の接触点及び前記第２の接触点で接触されていると検出するよう更に構成される、請求項３１に記載の装置。

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