JP5383144B2 - 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
1a:吸着面
2:配管
3:圧力センサ
4、4a:ボディ
5:VAC源
6:切替弁
7:ウエハ
8:弁
9:ばね
10:切替弁
11:接触部
12:ネジ部
13:穴部
14:構造体
15:投影レンズ
16:照明系
17:ウエハステージ
18:レチクルステージ
19:ウエハ搬送ロボット
20:レチクル搬送ロボット
21:配管ユニット
22:配管
23:チャンバ
50:基板保持装置
100、100a:差圧動作弁
200:露光装置
Claims (8)
- 基板を保持する基板保持装置であって、
前記基板を真空吸着するための動作弁を備え、
前記動作弁は、
外部から内部へ空気を吸引する吸引側に対向し、内部から外部へ空気を排出する排出側に設けられた開口部を有するボディと、
前記開口部と対向する位置に少なくとも1つの穴部が形成されている絞り部材と、
一端が前記ボディの前記吸引側に接続され、他端が前記絞り部材に接続された弾性部材と、を備え、
前記弾性部材は、前記吸引側と前記排出側における差圧に応じて、伸縮することを特徴とする基板保持装置。 - 前記基板が真空吸着されていない状態で、前記ボディの前記開口部を介して真空吸引を開始し前記差圧が所定値より大きいとき、前記弾性部材は前記絞り部材が前記ボディの前記排出側へ近づくように伸び、真空吸着力は減少することを特徴とする請求項1に記載の基板保持装置。
- 前記基板が接近した状態で、前記差圧が前記所定値以下になったとき、前記弾性部材は前記絞り部材が前記ボディの前記吸引側へ縮み、真空吸着力は増加することを特徴とする請求項2に記載の基板保持装置。
- 前記絞り部材の可動範囲を調整する調整手段と、をさらに備え、
前記調整手段を用いて前記絞り部材の可動範囲を調整することにより、前記所定値を設定すること特徴とする請求項2または3に記載の基板保持装置。 - 前記弾性部材が伸びた際、前記少なくとも1つの穴部と前記開口部の両者を介して真空吸引が行われることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の基板保持装置。
- レチクルのパターンを投影光学系を介してウエハの上に露光する露光装置において、
レチクルを保持するレチクルチャックを有するレチクルステージと、
ウエハを保持するウエハチャックを有するウエハステージと、
前記レチクルステージへ前記レチクルを搬送するレチクル搬送ロボットと、
前記ウエハステージへ前記ウエハを搬送するウエハ搬送ロボットと、を備え、
前記レチクルチャック、前記ウエハチャック、前記レチクル搬送ロボットおよび前記ウエハ搬送ロボットのうち少なくとも1つは、請求項1〜5のいずれか1つに記載の基板保持装置を含むことを特徴とする露光装置。 - 請求項6の露光装置を用いて前記ウエハを露光するステップと、
露光された前記ウエハを現像するステップと、を有することを特徴とするデバイス製造方法。 - 基板を保持する基板保持装置であって、
前記基板を真空吸着するための動作弁を備え、
前記動作弁は、
外部から内部へ空気を吸引する吸引側に対向し、内部から外部へ空気を排出する排出側に設けられた開口部を有するボディと、
前記開口部と対向する位置に少なくとも1つの穴部が形成されている絞り部材と、
一端が前記ボディに接続され、他端が前記絞り部材に接続された弾性部材と、を備え、
前記弾性部材は、前記吸引側と前記排出側における差圧に応じて、伸縮することを特徴とする基板保持装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008263330A JP5383144B2 (ja) | 2008-10-10 | 2008-10-10 | 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
US12/574,333 US8319947B2 (en) | 2008-10-10 | 2009-10-06 | Operating valve, exposure apparatus, and device manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008263330A JP5383144B2 (ja) | 2008-10-10 | 2008-10-10 | 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010093143A JP2010093143A (ja) | 2010-04-22 |
JP5383144B2 true JP5383144B2 (ja) | 2014-01-08 |
Family
ID=42098561
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008263330A Active JP5383144B2 (ja) | 2008-10-10 | 2008-10-10 | 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8319947B2 (ja) |
JP (1) | JP5383144B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016154168A (ja) * | 2015-02-20 | 2016-08-25 | 株式会社ディスコ | 被加工物の受け渡し方法 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62196982U (ja) * | 1986-06-04 | 1987-12-15 | ||
JPH04300168A (ja) * | 1991-03-27 | 1992-10-23 | Fujitsu Ltd | 真空吸着装置 |
JPH06262464A (ja) | 1991-08-02 | 1994-09-20 | Haruo Konagai | 真空吸着装置 |
JP2658838B2 (ja) * | 1993-11-24 | 1997-09-30 | 日本電気株式会社 | 真空排気バルブ |
JP4681756B2 (ja) * | 2001-05-16 | 2011-05-11 | キヤノン株式会社 | 露光装置およびデバイス製造方法 |
US7408624B2 (en) * | 2005-06-30 | 2008-08-05 | Asml Netherlands B.V. | Lithographic apparatus and device manufacturing method |
JP2007273653A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Nikon Corp | 露光装置及び露光方法 |
-
2008
- 2008-10-10 JP JP2008263330A patent/JP5383144B2/ja active Active
-
2009
- 2009-10-06 US US12/574,333 patent/US8319947B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010093143A (ja) | 2010-04-22 |
US8319947B2 (en) | 2012-11-27 |
US20100091261A1 (en) | 2010-04-15 |
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