JP5383144B2 - 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 - Google Patents

基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5383144B2
JP5383144B2 JP2008263330A JP2008263330A JP5383144B2 JP 5383144 B2 JP5383144 B2 JP 5383144B2 JP 2008263330 A JP2008263330 A JP 2008263330A JP 2008263330 A JP2008263330 A JP 2008263330A JP 5383144 B2 JP5383144 B2 JP 5383144B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
differential pressure
reticle
substrate
valve
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008263330A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010093143A (ja
Inventor
啓之 浴
四郎 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP2008263330A priority Critical patent/JP5383144B2/ja
Priority to US12/574,333 priority patent/US8319947B2/en
Publication of JP2010093143A publication Critical patent/JP2010093143A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5383144B2 publication Critical patent/JP5383144B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
    • F16ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
    • F16KVALVES; TAPS; COCKS; ACTUATING-FLOATS; DEVICES FOR VENTING OR AERATING
    • F16K51/00Other details not peculiar to particular types of valves or cut-off apparatus
    • F16K51/02Other details not peculiar to particular types of valves or cut-off apparatus specially adapted for high-vacuum installations
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces
    • G03F7/707Chucks, e.g. chucking or un-chucking operations or structural details
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70808Construction details, e.g. housing, load-lock, seals or windows for passing light in or out of apparatus
    • G03F7/70841Constructional issues related to vacuum environment, e.g. load-lock chamber
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T279/00Chucks or sockets
    • Y10T279/11Vacuum
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Safety Valves (AREA)
  • Details Of Valves (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

本発明は、吸着対象物の真空吸着力を制御する差圧動作弁、ウエハ等の基板に微細パターンを転写する露光装置、及び、デバイス製造方法に関する。
近年、半導体や液晶等のデバイス製造用の露光装置において、急激な需要の増加に対応するための生産性の向上、及び、高集積化に伴う高精度化や高機能化が要求されている。このため、より高いスループットと高い転写性能を有する露光装置の開発が望まれている。
このような露光装置において、ウエハ等の基板を保持する基板保持装置は、所定の真空吸着力によってウエハを吸着するウエハチャック等を備えている。
ウエハチャックは、露光装置に備えられた投影光学系のフォーカス位置から離れたウエハ供給位置において、搬送ハンドからウエハを受け取る。またウエハチャックは、受け取ったウエハを真空吸着力によって吸着保持してフォーカス位置へ移動する。露光終了後、ウエハチャックはフォーカス位置からウエハ回収位置に移動する。そして搬送ハンドは、ウエハ回収位置において、ウエハチャックからウエハを回収する。露光装置は、このような各工程を繰り返し行う。
従来、ウエハステージのウエハチャックへ真空吸着力を発生させるラインは1系統であり、ON/OFF切換を行って真空吸着力を発生させていた。真空吸着は、ウエハの受渡し時に位置ズレを引き起こさないように、受渡前から開始していた。
このため、真空吸着の開始からウエハがウエハチャックに載置される間は大気空吸い状態となり、バキュームラインの元圧を下げ、ウエハがウエハチャックに載置してから必要吸着圧に到達するまでに時間がかかるという問題が発生してしまう。同様な問題は、レチクルステージ上のレチクルチャックやレチクル搬送ロボットやウエハ搬送ロボット等にも発生してしまう。さらに、ウエハがウエハチャックに載置される直前の真空吸着力が大きいと、ウエハが歪んだまま吸着されてしまうという問題も発生してしまう。
この問題に対し、特許文献1には、ウエハチャックの真空吸着力を最適化するため、2系統の吸着ラインを切換手段である電磁弁を用いて選択し、真空吸着力を2段階に変化させる吸着力可変機構が開示されている。
特開2002−343852号公報
しかしながら、特許文献1に開示されている吸着力可変機構では、電気系統や制御方法が複雑となり、スペース的に大きい構成にならざるを得ない。このため、このような吸着力可変機構は、ウエハチャックから離れた配管ユニットに配置され、真空吸着をONにした後、チャック部の真空圧力が上昇するのに時間を要し、スループットが低下していた。
本発明は、簡便な構成で迅速に吸着対象物である基板(ウエハやレチクル等)を吸着することができる動作弁を提供する。また、本発明は、スループットを向上させた露光装置及びデバイス製造方法を提供する。
本発明の一側面としての基板保持装置は、基板を保持する基板保持装置であって、前記基板を真空吸着するための動作弁を備え前記動作弁は、外部から内部へ空気を吸引する吸引側に対向し、内部から外部へ空気を排出する排出側に設けられた開口部を有するボディと、前記開口部と対向する位置に少なくとも1つの穴部が形成されている絞り部材と、一端が前記ボディの前記吸引側に接続され、他端が前記絞り部材に接続された弾性部材と、を備え、前記弾性部材は、前記吸引側と前記排出側における差圧に応じて、伸縮する。
本発明の他の一側面としての露光装置は、レチクルのパターンを投影光学系を介してウエハの上に露光する露光装置であって、レチクルを保持するレチクルチャックを有するレチクルステージと、ウエハを保持するウエハチャックを有するウエハステージと、前記レチクルステージへ前記レチクルを搬送するレチクル搬送ロボットと、前記ウエハステージへ前記ウエハを搬送するウエハ搬送ロボットとを備え、前記レチクルチャック、前記ウエハチャック、前記レチクル搬送ロボットおよび前記ウエハ搬送ロボットのうち少なくとも1つは、上記の基板保持装置を含む。
本発明の他の一側面としてのデバイス製造方法は、前記露光装置を用いてウエハを露光するステップと、露光された前記ウエハを現像するステップとを有する。
本発明の他の目的及び特徴は、以下の実施例において説明される。
本発明によれば、迅速かつ安定して吸着対象物を吸着することができる差圧動作弁を提供することができる。また、本発明によれば、スループットを向上させた露光装置及びデバイス製造方法を提供することができる。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
まず、本実施例の差圧動作弁(動作弁)が適用される露光装置の概略構成について説明する。図6は、本実施例における露光装置200の概略構成図である。
露光装置200は、半導体や液晶用の基板を露光する露光装置である。露光装置200の各構成要素は、チャンバ23の内部に設けられている。照明系16は光源及び照明光学系を有する。照明光学系は、光源からの光を用いて、レチクルステージ18の上に配置されているレチクル24のパターンを照明する。
レチクル24から射出した光は、構造体14の内部に配置されている投影レンズ15(投影光学系)を介して、ウエハステージ17の上に配置されているウエハ(不図示)を照射する。このように、投影光学系はレチクル24のパターンをウエハ7(基板)に投影する。
本実施例の差圧動作弁は、真空吸着力にて基板等の吸着対象物を吸着する機構を有している。このような差圧動作弁は、露光装置200において、例えばレチクルステージ18やウエハステージ17に用いられる。本実施例の差圧動作弁は、さらに、レチクルステージ18、ウエハステージ17に対してレチクル24、ウエハ7を搬送するレチクル搬送ロボット20、ウエハ搬送ロボット19等にも用いられる。
配管ユニット21は、それぞれの吸着対象物に対してバキューム力(真空吸着力)を供給するユニットとして構成されている。配管ユニット21は、配管22を介してそれぞれの差圧動作弁に接続されている。配管ユニット21は、工場から供給された真空吸引力を分岐し、分岐されたそれぞれの真空吸引力を安定させ、ON/OFFのスイッチング等を行う。
後述のように、例えばウエハステージ17にはウエハ7を吸着するためのウエハチャックが設けられている。また、レチクルステージ18にはレチクル24を吸着するためのレチクルチャックが設けられている。差圧動作弁は、これらのチャックの吸着面における真空吸着力を制御する。
次に、本発明の実施例1における差圧動作弁の構成について説明する。図1は、本実施例における差圧動作弁100の概略構成を示す断面図である。
差圧動作弁100は、吸着対象物の真空吸着力を制御するように構成されている。差圧動作弁100は、ボディ4、弁8(絞り部材)、及び、ばね9(弾性部材)を有する。ボディ4は、外部から内部へ空気を吸引する吸引側に対向し、内部から外部へ空気を排出する排出側に設けられた開口部を有する。弁8及びばね9は、ボディ4の内部に設けられている。ばね9は、その一端がボディ4の吸引側に接続され、その他端が弁8に接続されている。ばね9は、所定のばね定数を有し、弁8をボディ4の下面に接触しないように支持している。
差圧動作弁100の内部の空気は、配管ユニット21により真空吸引される。図1は、真空吸引の開始時における差圧動作弁100の状態を示しており、図1中の矢印は、このときの空気の流れの方向を表している。図1に示される差圧動作弁100の下側には、例えば配管ユニット21が接続されているため、差圧動作弁100の内部における空気は、上から下方向へ向かって吸引される。
真空吸引が開始されると、差圧動作弁100の内部雰囲気には所定の気圧差が発生する。差圧動作弁100の内部雰囲気は、下方向において低圧になっている。このため、ばね9は低圧である下方向へ伸び始め、ばね9により支持された弁8は下方向への移動を開始する。
弁8には穴部13が形成されている。本実施例では、弁8には複数の穴部13が形成されているが、これに限定されるものではなく、少なくとも1つの穴部13が形成されていればよい。最終的に、弁8がボディ4の下面に接触(吸着)されると、弁8に形成された穴部13からのみ差圧動作弁100のボディ4中の少量の空気が真空吸引されるようになる。すなわち、ばね9が伸びた際には、穴部13と開口部の両者を介して真空吸着が行われる。
このときの差圧動作弁100の状態を「絞り状態」と呼ぶ。この絞り状態では、ばね9が伸びることにより、弁8はボディ4の内部の空気の流れを妨げるようにボディ4の一面(下面)に接触し、この空気を穴部13からのみ吸引させることにより真空吸着力を減少させる。
真空吸引が停止されると、差圧動作弁100の内部雰囲気は、差圧が無くなり一定の圧力となる。このため、ばね9を伸ばすための力が失われる。このため、ばね9は上方へ迅速に戻って元の状態になる。同時に、ばね9に支持されている弁8も上方へ迅速に戻る。このときの差圧動作弁100の状態を「絞り開放状態」と呼ぶ。
なお、本実施例において、絞りの量(絞り状態における真空吸引量)や絞り状態と絞り開放状態との間の移行タイミングは、ばね9のばね定数、弁8の可動量、真空吸引の元圧と真空吸引される雰囲気との圧力差、穴部13の個数や径の条件により決定される。このため、目的や仕様等に応じて、これらの各条件を適宜適切に選定することが好ましい。
次に、本実施例の差圧動作弁100が適用される一例としての基板保持装置の構成について説明する。図2は、本実施例における基板保持装置50の概略構成図である。
本実施例の基板保持装置50は、ウエハを吸着するウエハステージに設けられている。ただし、本実施例の差圧動作弁100の適用対象はウエハステージに限定されるものではなく、バキュームラインが関係する対象であればいずれの対象についても適用可能である。
図2に示される基板保持装置50は、例えば、図6の露光装置200におけるウエハステージ17(XYステージ)に設けられる。
ウエハステージ17には、ウエハを吸着して保持するためのウエハチャック1(ウエハ保持板)が搭載されている。ウエハチャック1は、ウエハの保持面としての吸着面1aを有する。
VAC源5(真空源)は、ウエハチャック1の吸着面1aに、基板としてのウエハを吸着するための真空吸引力を発生する。VAC源5は、例えば真空ポンプにより構成される。
配管2は、VAC源5により発生された真空吸引力を吸着面1aに伝達する。切替弁6は、VAC源5により発生された真空吸引力を、ウエハチャック1の吸着面1aに伝達するか否かを制御するためのスイッチングを行う。切替弁10は、真空吸着を停止するためのスイッチングを行う。圧力センサ3は、配管2内の圧力を検出するように構成されている。
本実施例の基板保持装置50において、差圧動作弁100は、ウエハチャック1とVAC源5との間に設けられている。また、圧力センサ3は、ウエハチャック1と差圧動作弁100との間において、配管2内の圧力を検出する。
次に、本実施例における差圧動作弁100の動作について説明する。図3は、本実施例における差圧動作弁100の動作を時系列に示した概略図である。図3(a)は差圧動作弁100の真空吸引を開始したときの状態、図3(b)は弁8がボディ4の下面に接している状態、図3(c)はばね9が元に戻ろうとしている状態をそれぞれ示している。
不図示のウエハ搬送装置により搬送されたウエハ7がウエハチャック1の吸着面上に近接すると、切替弁6のスイッチングにより真空吸引が開始する。このとき、差圧動作弁100は、図3(a)に示される真空吸引開始状態となる。
真空吸引開始状態では、ウエハ7とウエハチャック1との間には比較的大きな隙間が存在する。このとき、VAC源5は大気の空吸いを行っており、差圧動作弁100内の圧力とVAC源5の元圧との差圧は大きくなっている。このため、差圧動作弁100のばね9はこの差圧により下方へ伸び、弁8は下方へ移動する。
弁8がボディ4の下面に接するまで移動して、この下面に吸着されると、弁8に設けられた穴部13、および、ボディ4の下面に設けられVAC源5につながる開口部の両者を介してのみ少量の空気が真空吸引されるようになる。このとき、差圧動作弁100は、図3(b)に示される絞り状態(真空吸引量が絞られた状態)となる。
そして、不図示のウエハ搬送装置によりウエハ7がさらにウエハチャック1に近づけられると、ウエハ7とウエハチャック1と間の隙間が小さくなる。このため、真空吸引量が減少するとともに、差圧動作弁100の内部雰囲気とVAC源5の元圧との差圧が小さくなる。
ウエハ7がウエハチャック1に接近した状態で、この差圧が、ばね9のばね定数等により定まる所定値以下になるまで低下すると、ばね9は上方へ縮み、弁8は上方への移動を開始する。このとき、差圧動作弁100は、図3(c)に示される絞り開放状態となる。この絞り開放状態では、弁8がボディ4の下面から離れるため、真空吸引力が増大する。
このように、ばね9は、ボディ4の内部における一次側と二次側における差圧に応じて伸縮する。ウエハ7が真空吸着されていない状態で、ボディ4の開口部を介して真空吸引を開始し、この差圧が所定値より大きいとき、ばね9は弁8がボディ4の一次側へ近づくように伸び、真空吸着力は減少する。また、ウエハ7が近接した状態で、差圧が所定値以下になったとき、ばね9は弁8がボディ4の二次側へ縮み、真空吸着力は増加する。
ここで、ボディ4の内部における一次側とは、ボディ4の内部からVAC源5(ポンプ)へ空気が排出される排出側(ポンプ側)であり、二次側とは、ボディ4の内部へ空気が吸引される吸引側である。また所定値は、ウエハがウエハチャックに載ったと判断できる、なるべく小さな値であることが好ましい。
絞り開放状態では真空吸着力が増大するため、迅速かつ強力にウエハ7(吸着対象物)をウエハチャック1に吸着することが可能となる。このとき、ウエハ7は不図示のウエハ搬送装置から離れ、ウエハ7が完全にウエハチャック1に載置される。このとき、圧力センサ3によって真空吸引力を監視しながら、ウエハチャック1にウエハ7が適切に吸着しているか否かが判定され、次のシーケンスに進む。
ウエハチャック1の吸着面上にウエハ7が吸着されると、例えば、露光装置200のウエハステージ17は駆動を開始し、露光のため、ウエハ供給位置からフォーカス位置へ移動する。
露光終了後、ウエハステージ17がウエハ回収位置への移動を完了すると、不図示のウエハ搬送装置により、ウエハ7をウエハチャック1の吸着面上から取り除くシーケンスに進む。このとき、図2に示される切替弁6を閉じる。同時に、切替弁10を開放して、ウエハチャック1と差圧動作弁100との間における配管2内の真空状態を解除する。この場合にも、圧力センサ3によって真空吸引力を監視し、ウエハチャック1にウエハ7が吸着していないことを確認する。その後、ウエハ7は不図示のウエハ搬送装置により搬送される。
次に、本実施例の差圧動作弁を適用した場合の効果について説明する。図4は、本実施例の差圧動作弁100をウエハチャック1に適用した場合の効果を説明するためのグラフである。図4において、差圧動作弁100を適用したウエハチャックと従来のウエハチャック(差圧動作弁100を適用しない場合)のそれぞれについて、圧力センサ3により検出される圧力値の経時変化が示されている。
図4は、ウエハ搬送装置によりウエハ7がウエハチャック1上に搬送され、切替弁6のスイッチングにより真空吸引が開始された時点を0sとして、圧力センサ3の圧力値と時間の経過を示している。真空吸引の開始から時間1sが経過するまでの間の時間は、ウエハ7がウエハチャック1にまだ載置されていない状態(大気空吸い状態:図3(b))である。
VAC源5の圧力値を例えば−70kPaに設定すると、圧力センサ3の圧力値は、差圧動作弁100を取付けないときには約−15kPaを示し、差圧動作弁100を取付けたときには約−5kPaを示す。差圧動作弁100を取付けないときの圧力値は、VAC源5を大気に直接さらしたときの圧力値である。このとき、大気中の圧力に対する差圧が大きいため、VAC源5は圧力低下を引き起こしている。
一方、差圧動作弁100を取付けたときの圧力値は、VAC源5とウエハチャック1との間に絞りが形成された状態における値である。VAC源5は、この絞り状態により差圧の大きさが制限されるため、圧力低下を引き起こすことが回避される。
図4に示されるように、ウエハ7がウエハチャック1に載置された時間1s以降、差圧動作弁100を取付けないときの圧力値は緩やかに上昇するのに対し、差圧動作弁100を取付けたときの圧力値は急速に上昇する。これは、差圧動作弁100を取り付けた場合には、VAC源5の元圧が低下していないためである。
次のシーケンスに進むことが許される圧力閾値、例えば−50kPaへ到達する時間を比較すると、差圧動作弁100を取付けた場合(本実施例の構成)と取付けない場合(従来構成)との間には、約1sの時間差が生じる。すなわち、差圧動作弁100を取り付けた場合のほうが、短時間で圧力閾値に到達することができる。
また、本実施例における差圧動作弁100は、ウエハ7を、ウエハチャックに受け渡す初期圧力が低いため、たわみを低減させる効果もある。ウエハ7がウエハチャック1の吸着面上に搬送され、真空吸引が開始すると図3(a)に示される状態となり、その後、図3(b)に示される絞り状態へ移行する。この絞り状態で真空吸引を行うことにより、ウエハ7のたわみを低減することが可能になる。
以上のように、本実施例によれば、ウエハ等の基板がウエハチャック等に載置される前の大気空吸い状態時において、バキュームライン(VAC源)の元圧の低下を抑制することができる。ウエハ等の基板がウエハチャック等に載置されたとき、バキュームラインの元圧の圧力低下は抑制されているため、ウエハチャックの吸着面での真空圧力が吸着完了の確認される圧力値まで迅速に上昇する。このため、スループットの向上を図ることが可能になる。
また、本実施例の差圧動作弁は、流量切り換え機構のような電磁弁等を組み合わせた大掛かりな構成ではない。本実施例の差圧動作弁は、メカニカルに構成され、小さく単純で電源ケーブルや通信ケーブルが不要な構造である。このため、適用場所に制限されることなく設定することが可能である。したがって、本実施例の差圧動作弁は、ウエハチャック付近に構成することができ、吸着部と差圧動作弁との間の配管長を短くすることが可能となる。その結果、吸着完了までの時間をより短くすることも可能となる。
次に、本発明の実施例2における差圧動作弁の構成について説明する。図5は、本実施例における差圧動作弁100aの概略構成を示す断面図である。
本実施例の差圧動作弁100aは、実施例1の差圧動作弁100に絞り調整機構が追加されている。差圧動作弁100aの絞り調整機構は、ボディ4aの内部における弁8の可動範囲を調整するものであり、接触部11及びネジ部12を有する。接触部11は、Oリング等から構成される。ネジ部12は接触部11を上下方向へ移動可能に構成されている。
このような絞り調整機構により、弁8が差圧動作弁100aの内部で移動可能な範囲を規制することができる。本実施例の差圧動作弁では、絞り調整機構が設けられていることにより、弁8の動作が開始するタイミングを調整することができるとともに、VAC源の圧力値が変動した場合の調整も容易となる。
このため、本実施例の差圧動作弁100aは、絞り調整機構を用いて弁8の可動範囲を調整することにより、真空吸着力を減少させるのに要する差圧の値を可変に設定することができる。
以上のとおり、上記各実施例によれば、ウエハ等の吸着対象物が吸着面から比較的遠い場合の大気空吸い状態では真空吸引量を絞り、吸着対象物が吸着面に近接すると絞りを開放することがメカニカルに可能となる。これにより、VAC源の元圧への負荷を抑制することができるとともに、吸着対象物を正確に安定して吸着することができる。
また、上記各実施例の差圧動作弁は、メカニカルに真空供給量を制御でき、小さく単純な構成であり、電源ケーブルや通信ケーブルが不要である。このため、場所に制限されることなく設置することができる。例えば、上記各実施例の差圧動作弁は、ウエハチャックの近傍に設けることが可能である。したがって、ウエハがウエハチャックに載置されてからウエハの吸着が完了するまでの時間を大きく短縮することができる。また、ウエハ回収時も真空状態を迅速に開放することができるため、露光装置のスループットを大きく改善することが可能となる。
デバイス(半導体集積回路素子、液晶表示素子等)は、前述の露光装置を使用して感光剤を塗布した基板(ウエハ、ガラスプレート等)を露光する工程と、その基板を現像する工程と、他の周知の工程と、を経ることにより製造される。
上記各実施例によれば、迅速かつ安定して吸着対象物を吸着することができる差圧動作弁を提供することができる。また、上記各実施例によれば、スループットを向上させた露光装置及びデバイス製造方法を提供することができる。
以上、本発明の実施例について具体的に説明した。ただし、本発明は上記実施例として記載された事項に限定されるものではなく、本発明の技術思想を逸脱しない範囲内で適宜変更が可能である。
例えば上記各実施例では、露光装置に適用される差圧動作弁について具体的に説明されているが、これに限定されるものではない。上記各実施例の差圧動作弁は、露光装置以外の装置に適用することも可能である。
実施例1における差圧動作弁の概略構成を示す断面図である。 実施例1における基板保持装置の概略構成図である。 実施例1における差圧動作弁の動作を時系列に示す概略図である。 実施例1における差圧動作弁をウエハチャックに適用した場合の効果を説明するためのグラフである。 実施例2における差圧動作弁の概略構成を示す断面図である。 本実施例における露光装置の概略構成図である。
符号の説明
1:ウエハチャック
1a:吸着面
2:配管
3:圧力センサ
4、4a:ボディ
5:VAC源
6:切替弁
7:ウエハ
8:弁
9:ばね
10:切替弁
11:接触部
12:ネジ部
13:穴部
14:構造体
15:投影レンズ
16:照明系
17:ウエハステージ
18:レチクルステージ
19:ウエハ搬送ロボット
20:レチクル搬送ロボット
21:配管ユニット
22:配管
23:チャンバ
50:基板保持装置
100、100a:差圧動作弁
200:露光装置

Claims (8)

  1. 基板を保持する基板保持装置であって、
    前記基板を真空吸着するための動作弁を備え
    前記動作弁は、
    外部から内部へ空気を吸引する吸引側に対向し、内部から外部へ空気を排出する排出側に設けられた開口部を有するボディと、
    前記開口部と対向する位置に少なくとも1つの穴部が形成されている絞り部材と、
    一端が前記ボディの前記吸引側に接続され、他端が前記絞り部材に接続された弾性部材と、を備え、
    前記弾性部材は、前記吸引側と前記排出側における差圧に応じて、伸縮することを特徴とする基板保持装置
  2. 前記基板が真空吸着されていない状態で、前記ボディの前記開口部を介して真空吸引を開始し前記差圧が所定値より大きいとき、前記弾性部材は前記絞り部材が前記ボディの前記排出側へ近づくように伸び、真空吸着力は減少することを特徴とする請求項1に記載の基板保持装置
  3. 前記基板が接近した状態で、前記差圧が前記所定値以下になったとき、前記弾性部材は前記絞り部材が前記ボディの前記吸引側へ縮み、真空吸着力は増加することを特徴とする請求項2に記載の基板保持装置
  4. 前記絞り部材の可動範囲を調整する調整手段と、をさらに備え、
    前記調整手段を用いて前記絞り部材の可動範囲を調整することにより、前記所定値を設定すること特徴とする請求項2または3に記載の基板保持装置
  5. 記弾性部材が伸びた際、前記少なくとも1つの穴部と前記開口部の両者を介して真空吸引が行われることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の基板保持装置
  6. レチクルのパターンを投影光学系を介してウエハの上に露光する露光装置において、
    レチクルを保持するレチクルチャックを有するレチクルステージと、
    ウエハを保持するウエハチャックを有するウエハステージと、
    前記レチクルステージへ前記レチクルを搬送するレチクル搬送ロボットと、
    前記ウエハステージへ前記ウエハを搬送するウエハ搬送ロボットと、を備え、
    前記レチクルチャック、前記ウエハチャック、前記レチクル搬送ロボットおよび前記ウエハ搬送ロボットのうち少なくとも1つは、請求項1〜5のいずれか1つに記載の基板保持装置を含むことを特徴とする露光装置。
  7. 請求項6の露光装置を用いて前記ウエハを露光するステップと、
    露光された前記ウエハを現像するステップと、を有することを特徴とするデバイス製造方法。
  8. 基板を保持する基板保持装置であって、
    前記基板を真空吸着するための動作弁を備え、
    前記動作弁は、
    外部から内部へ空気を吸引する吸引側に対向し、内部から外部へ空気を排出する排出側に設けられた開口部を有するボディと、
    前記開口部と対向する位置に少なくとも1つの穴部が形成されている絞り部材と、
    一端が前記ボディに接続され、他端が前記絞り部材に接続された弾性部材と、を備え、
    前記弾性部材は、前記吸引側と前記排出側における差圧に応じて、伸縮することを特徴とする基板保持装置。
JP2008263330A 2008-10-10 2008-10-10 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法 Active JP5383144B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008263330A JP5383144B2 (ja) 2008-10-10 2008-10-10 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法
US12/574,333 US8319947B2 (en) 2008-10-10 2009-10-06 Operating valve, exposure apparatus, and device manufacturing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008263330A JP5383144B2 (ja) 2008-10-10 2008-10-10 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010093143A JP2010093143A (ja) 2010-04-22
JP5383144B2 true JP5383144B2 (ja) 2014-01-08

Family

ID=42098561

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008263330A Active JP5383144B2 (ja) 2008-10-10 2008-10-10 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US8319947B2 (ja)
JP (1) JP5383144B2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016154168A (ja) * 2015-02-20 2016-08-25 株式会社ディスコ 被加工物の受け渡し方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62196982U (ja) * 1986-06-04 1987-12-15
JPH04300168A (ja) * 1991-03-27 1992-10-23 Fujitsu Ltd 真空吸着装置
JPH06262464A (ja) 1991-08-02 1994-09-20 Haruo Konagai 真空吸着装置
JP2658838B2 (ja) * 1993-11-24 1997-09-30 日本電気株式会社 真空排気バルブ
JP4681756B2 (ja) * 2001-05-16 2011-05-11 キヤノン株式会社 露光装置およびデバイス製造方法
US7408624B2 (en) * 2005-06-30 2008-08-05 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
JP2007273653A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Nikon Corp 露光装置及び露光方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010093143A (ja) 2010-04-22
US8319947B2 (en) 2012-11-27
US20100091261A1 (en) 2010-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7150118B2 (ja) 接合システム
US8757603B2 (en) Low force substrate lift
US20100133735A1 (en) Substrate holding apparatus, substrate holding method, exposure apparatus, and device manufacturing method
US6305677B1 (en) Perimeter wafer lifting
WO2007072817A1 (ja) 基板搬送方法、基板搬送装置および露光装置
JP2017228696A (ja) 基板載置装置及び基板載置方法
US10431463B2 (en) Substrate holding device, lithography apparatus, and article production method
JP2006235018A (ja) 露光装置、露光方法、及び表示用パネル基板の製造方法
JP3332425B2 (ja) 基板保持装置、並びにこれを用いた露光装置と半導体デバイス製造方法
JP5383144B2 (ja) 基板保持装置、露光装置及びデバイス製造方法
US20110008718A1 (en) Substrate conveyance method and substrate conveyance device, exposure apparatus using same, and device manufacturing method
JP6362416B2 (ja) 保持装置、リソグラフィ装置、および物品の製造方法
JP6440416B2 (ja) 処理装置、処理方法及びデバイスの製造方法
JP4681756B2 (ja) 露光装置およびデバイス製造方法
US20220293436A1 (en) Semiconductor substrate bonding tool and methods of operation
CN109755163B (zh) 腔室装卸载基片的方法
JP2010147294A (ja) 基板保持方法及び基板保持装置、それを用いた露光装置及びデバイスの製造方法
JP2006318944A (ja) 基板保持装置
JP7142518B2 (ja) 基板搬送装置、リソグラフィ装置、および物品製造方法
JP7434564B2 (ja) 液処理装置、液供給機構、液処理方法及びコンピュータ記憶媒体
KR101421547B1 (ko) 수직형 기판 처리 장치와 방법
JP2008277608A (ja) チャック装置
KR20090024844A (ko) 반도체 제조장치에서의 밸브
JPH04162446A (ja) 基板搬送機構
JP2001196447A (ja) 基板プロセス装置及びその基板プロセス装置を利用した基板のプロセス方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20111011

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121011

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121023

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130903

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20131001

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5383144

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151