JP4457351B2 - 基板保持装置 - Google Patents

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本発明は、半導体ウエハ等の基板を保持する基板保持装置に関する。
半導体ウエハ(以下、単にウエハと称する)の露光装置や研磨装置等はウエハの一面側を露出した状態でこれを保持する基板保持装置を備えている。この基板保持装置は一般には基板を単に保持できるという機能のみでは足らず、多少の変形(反り)を有する基板であってもこれを平坦な状態に保持し得る機能が必要である。基板の変形はウエハに半導体素子等を作り込んでいく工程において、各種の材質による膜を重ねて形成したり、更にそれを加熱したりといった作業によりもたらされるものである。また、基板に半導体素子等を高密度に集積し得るようにするためにはコンタミネーション(ごみや埃)を極力除去することが不可欠であるが、ウエハに対する汚染を低減するには、ウエハと基板保持部材との接触面積をできるだけ小さくすることが極めて有効であることが知られている。
このように基板を変形(反り)のない平坦な状態で、かつコンタミネーションが少ない状態で保持し得る基板保持装置の例としては、基板保持部材に基板接触面に開口する同心円状の溝部及び各溝部に繋がる内部管路を形成し、基板接触面に基板を設置した状態で真空源により上記内部管路内の空気を吸引して負圧による吸着力を発生させることにより、基板保持部材に基板を吸着させることができるようにしたものが知られている。このような構成の基板保持装置では、同心円状の溝部を幅が狭いものと広いものとを半径方向に交互に配置したうえで、幅が狭い方の溝に繋がる内部管路について負圧をかけ、幅が広い方の溝に繋がる管路については大気に開放するようにしている。ここで、幅が狭い方の溝に負圧をかけるのは、狭い幅でウエハを支えることにより負圧による吸着力でウエハが変形するのを防ぐためであり、溝幅が広い部分を設けているのは基板保持部材とウエハとの接触面積を極力小さくするためである。また、幅が広い方の溝に繋がる内部管路を大気に開放するのは、閉空間によるエアダンパ効果が生じてウエハの設置が正しくできなかったり、逆にウエハが基板保持部材に貼り付いてしまって回収時にウエハをうまく基板保持部材から取り外すことができなくなってしまったりするのを避けるためである。このような構成の基板保持装置によれば、基板を平坦状態で保持することが可能であり、またウエハとの接触面積を極力小さくすることができるので、コンタミネーションによる汚染も低減することが可能である。
特開2003−188246号公報
しかしながら、前述のようにウエハが大径化してくると、プロセス後のウエハの変形(反り)が大きくなってしまい、上記のような負圧を用いた真空吸着の手法では、吸着が完了する前にウエハの変形部分から空気圧が漏れてしまうことに起因したウエハの吸着エラーが発生し易くなる。また、このような問題を解決しようとして同心円状に配置された全ての溝部に負圧をかけるようにする構成とすることも可能ではあるが、そうすると、今度は過大な吸着力によって基板を変形させてしまうおそれが出てくる。
本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであり、基板の径が大きい場合であってもこれを平坦状態に吸着保持することができ、また過大な吸着力によって基板を変形させてしまうことのない構成の基板保持装置を提供することを目的としている。
本発明に係る基板保持装置は、基板と接触する基板接触面に開口する複数の凹溝及び各凹溝に繋がる内部管路を有した基板保持部材と、基板保持部材の内部管路に繋がり、各凹溝内に負圧による吸着力を発生させる真空源と、基板が基板保持部材の各凹溝内に発生した負圧による吸着力により基板保持部材に吸着され、基板保持部材の全ての凹溝が基板により塞がれた状態を検出する吸着完了検出手段と、吸着完了検出手段により基板保持部材の全ての凹溝が基板により塞がれた状態が検出された後、一部の凹溝に繋がる内部管路を真空源から切り離して大気へ開放する大気開放手段とを備える。ここで、基板保持部材の各凹溝は、同心円状に形成された溝からなっていることが好ましい。
本発明に係る基板保持装置は上記構成を有しているので、基板の吸着保持工程の初期段階において、基板保持部材の全ての凹溝に負圧による吸着力を発生させることにより、基板が大径で変形(反り)が大きい場合であってもこれを平坦状態に吸着保持することができる。また、基板が全ての凹溝において吸着保持されて(すなわち基板が平坦状態に吸着保持されて)、全ての凹溝が基板によって塞がれた後は、一部の凹溝を大気に開放して基板に作用する吸着力を低減すればよく、これにより過大な吸着力による基板の変形を防止することができる。
以下、図面を参照して本発明の好ましい実施形態について説明する。図1は本発明の一実施形態に係る基板保持装置1の概略構成を示している。図1に示す基板保持装置1は例えば露光装置や研磨装置等に備えられるものであり、水平面内及び上下方向に移動自在なステージST(図2参照)上に設けられた基板保持部材10を有して構成されている。基板保持部材10は、基板W(例えば半導体ウエハ。図2参照)との接触面(以下、基板接触面10aとする)を上方に向けた平板状の部材であり、基板接触面10a側(上面側)に開口する同心円状の複数の溝部11を有している。溝部11は複数の幅の狭い第1溝11aと複数の幅の広い第2溝11bとからなっており、第1溝11aと第2溝11bとは半径方向に交互に位置している(但し、半径方向最外部の溝部11は第1溝11aとなるようにする)。第1溝11a同士は基板保持部材10の内部に設けられた第1内部管路12において相互に繋がっており、その第1内部管路12の基板保持部材10の側面端部における開口部には第1中継管路14が取り付けられている。また、第2溝11b同士は基板保持部材10の内部に設けられた第2内部管路13において相互に繋がっており、その第2内部管路13の基板保持部材10の側面端部における開口部には第2中継管路15が取り付けられている。
基板保持部材10の第1中継管路14には第1外部管路22の一端部が繋げられており、第2中継管路15には第2外部管路23の一端部が繋げられている。これら第1外部管路22と第2外部管路23それぞれの他端部は真空源21に繋げられており、第1外部管路22には第1バルブ24が、また第2外部管路23は第2バルブ25がそれぞれ介装されている。なお、以下の説明においては、第1内部管路12、第1中継管路14及び第1外部管路22を総じて第1管路と称することがあり、第2内部管路13、第2中継管路15及び第2外部管路23を総じて第2管路と称することがある。また、真空源21には、真空ポンプなどの真空発生装置のほか、必要なバルブや汽水分離装置などが含まれている。
第1バルブ24は図1に示すように電磁駆動式の三方弁であり、非励磁位置である第1の位置24aにおいては真空源21と第1内部管路12との連通を遮断するとともに第1内部管路12を大気に開放し、励磁位置である第2の位置24bにおいては真空源21と第1内部管路12とを連通させる。また、第2バルブ25も電磁駆動式の三方弁であり、非励磁位置である第1の位置25aにおいては真空源21と第2内部管路13との連通を遮断するとともに第2内部管路13を大気に開放し、励磁位置である第2の位置25bにおいては真空源21と第2内部管路13とを連通させる。なお、これら第1バルブ24及び第2バルブ25の作動制御(励磁及び非励磁の制御)は制御装置27から行われる。
第1外部管路22(但し第1バルブ24と第1中継管路14との間)には圧力スイッチからなる吸着完了検出器30が介装されている。この吸着完了検出器30は、第1外部管路22内の圧力が予め定めた真空圧レベルの所定圧に達したときにオン信号を制御装置27に出力する。
基板保持装置1に基板Wを吸着保持させるには、先ず、吸着保持させる対象となる基板Wを基板保持部材10の上方に位置させ、そこから降下させて基板Wを基板保持部材10の上面(基板接触面10a)に載置する(図2(A)参照)。なお、このように基板保持部材10の上方に基板Wを位置させ、また基板保持部材10の上方に位置させた基板Wを降下させて基板保持部材10の上面に載置する基板Wの移動動作は、図示しない基板搬送ロボットにより行われる。
基板Wが基板保持部材10の上面に載置されたら、オペレータは制御装置27に備えられたスタートスイッチ27aをオン操作する。これにより制御装置27は真空源21に信号を出力して空気の吸引動作を開始させ、また第1バルブ24及び第2バルブを励磁して、第1バルブ24を第1の位置24aから第2の位置24bに切り換えるとともに、第2バルブ25を第1の位置25aから第2の位置25bに切り換える。これにより第1内部管路12内及び第2内部管路13内は負圧となり、それぞれの開口部である第1溝11a内及び第2溝11b内に発生した吸着力によって基板Wは基板保持部材10側に引き寄せられ、基板Wは基板保持部材10の上面(基板接触面10a)側に吸着される。このように、基板Wは基板保持部材10の全ての溝部11(全ての第1溝11a及び全ての第2溝11b)において強力に吸引されるため、基板Wに図2(B)に示すような変形(反り)δが多少あったとしても、基板Wは変形が修正された平坦な状態で基板保持部材10の上面に吸着される(図2(C)参照)。
基板Wが全ての溝部11によって保持される(すなわち平坦状態に保持される)ことにより、基板保持部材10の全ての溝部11(全ての第1溝11a及び全ての第2溝11b)が基板Wによって塞がれると、第1管路(第1外部管路22、第1中継管路14及び第1内部管路12)内の圧力及び第2管路(第2外部管路23、第2中継管路15及び第2内部管路13)内の圧力はともに真空圧レベルまで低下する。このため、基板Wは基板保持部材10上に強固に固定される。
第1管路内の圧力が真空圧レベルの所定圧に達して吸着完了検出器30がオンとなると、そのオン信号が制御装置27に入力される。制御装置27はこの吸着完了検出器30からのオン信号を受けて第2バルブ25を非励磁にする。第2バルブ25が非励磁にされると、第2バルブ25はそれまでの第2の位置25bから第1の位置25aへ復帰し、真空源21と第2内部管路13との連通は遮断されるとともに、第2内部管路13は大気に開放されるので、基板Wはそれまで第1溝11aと第2溝11bの双方より吸引されていた状態から、第1溝11aのみより吸引される状態に移行する。なお、複数の溝部11のうち半径方向最外部には第1溝11aが位置している(換言すると、大気へ開放される第2溝11bは全て半径方向最外部に位置する第1溝11aよりも半径方向内方に位置している)ので、第2バルブ25が非励磁にされて第2溝11bが大気に開放されても、半径方向最外部に位置する第1溝11aにおいて基板Wは基板保持部材10に密着した状態が維持されることになる。
このように本発明に係る基板保持装置1は、基板Wと接触する基板接触面10aに開口する同心円状に形成された複数の溝部11(複数の第1溝11aと複数の第2溝11b)及び各溝部11に繋がる内部管路(第1内部管路12及び第2内部管路13)を有した基板保持部材10と、これら内部管路に繋がり、各溝部11内に負圧による吸着力を発生させる真空源21と、基板Wが基板保持部材10の各溝部11内に発生した負圧による吸着力により基板保持部材10に吸着され、基板保持部材10の全ての溝部11が基板Wにより塞がれた状態を検出する吸着完了検出器30と、この吸着完了検出器30により基板保持部材10の全ての溝部11が基板Wにより塞がれた状態が検出された後、一部の溝部11(第2溝11b)に繋がる内部管路(第2内部管路13)を真空源21から切り離して大気へ開放する大気開放手段(第2バルブ25及びこの第2バルブ25の作動制御を行う制御装置27)とを備えている。このため、基板Wの吸着保持工程の所期段階において、基板保持部材10の全ての溝部11に負圧による吸着力を発生させることにより、基板Wが大径で変形(反り)が大きい場合であってもこれ(基板W)を平坦状態に吸着保持することができる。また、基板Wが全ての溝部11において吸着保持されて(すなわち基板Wが平坦状態に吸着保持されて)、全ての溝部11が基板Wによって塞がれた後は、一部の溝部11(第2溝11b)を大気に開放して基板Wに作用する吸着力を低減すればよく、これにより過大な吸着力による基板Wの変形を防止することができる。
なお、上述の説明では、制御装置27はスタートスイッチ27aがオン操作されると、第1バルブ24及び第2バルブ25の双方を励磁して第1溝11aと第2溝11bとの双方より基板Wを吸引し得る状態となるようにしていたが、スタートスイッチ27aのオン操作によっては先ず第1バルブ24だけを励磁して第1溝11aにおいてのみ基板Wを吸引し得る状態とし、その後一定時間吸着完了検出器30がオンにならなかったときにはじめて第2バルブ25を励磁して、第2溝11bにおいても基板Wを吸引し得る状態とするようにしてもよい。
図3は本発明のもう一つの実施形態に係る基板保持装置1′であり、上述の基板保持装置1とは第2バルブが手動式の三方弁となっていること(符号を25′とする)及び吸着完了検出器30のオン状態が制御装置27を介してランプ28により表示されるようになっていることが異なる。なお、この実施形態における第2バルブ25′は、操作レバー25pの非操作状態に対応する第1の位置25′aにおいては真空源21と第2内部管路13との連通が遮断されるとともに第2内部管路13が大気に開放され、操作レバー25pの操作状態に対応する第2の位置25′bにおいては真空源21と第2内部管路13とが連通される構成となっている。
この実施形態に係る基板保持装置1′に基板Wを吸着保持させるには、先ず、吸着保持させる対象となる基板Wを基板保持部材10の上方に位置させ、そこから降下させて基板Wを基板保持部材10の上面(基板接触面10a)に載置する。基板Wが基板保持部材10の上面に載置されたら、オペレータは制御装置27に備えられたスタートスイッチ27aをオン操作する。これにより制御装置27は真空源21に信号を出力して空気の吸引動作を開始させ、また第1バルブ24のみを励磁して、第1バルブ24を第1の位置24aから第2の位置24bに切り換える。これにより第1内部管路12内は負圧となり、第1内部管路12の開口部である第1溝11a内に発生した吸着力によって基板Wは基板保持部材10側に引き寄せられ、基板Wは基板保持部材10の上面(基板接触面10a)側に吸着される。
ここで、基板保持部材10の第1溝11aのみの吸着力によって基板Wが基板保持部材10に吸着保持され、これによって全ての第1溝11aが基板Wによって塞がれた場合には、第1管路(第1外部管路22、第1中継管路14及び第1内部管路12)内の圧力は真空圧レベルまで低下する。そして、第1管路内の圧力が真空圧レベルの所定圧に達したときには吸着完了検出器30がオンとなり、制御装置27はランプ28を点灯させる。このようにスタートスイッチ27aをオン操作しただけでランプ28が点灯したときには、第2バルブ25′を操作して第2溝11bに吸着力を発生させるまでもなく、基板Wの基板保持部材10への吸着動作が完了したことを意味する。
一方、スタートスイッチ27aをオン操作したものの、一定時間が経過してもランプ28が点灯しないときには、第1溝11aに発生する吸着力のみでは基板Wを基板保持部材10に吸着させ得なかったことを意味する。このときには、オペレータは第2バルブ25′の操作レバー25pを操作して第2バルブ25′を第1の位置25′aから第2の位置25′bへ切り換える。これにより第2内部管路13内も負圧になり、第2内部管路13の開口部である第2溝11b内にも負圧による吸着力が発生する。すなわち、第1溝11aのみならず第2溝11bにおいても基板Wを吸引し得る状態となる。そして、基板保持部材10の全ての溝部11(全ての第1溝11a及び全ての第2溝11b)において基板Wが吸着保持されて、これら全ての溝部11が基板Wによって塞がれたときには、第1管路(第1外部管路22、第1中継管路14及び第1内部管路12)内の圧力及び第2管路(第2外部管路23、第2中継管路15及び第2内部管路13)内の圧力はともに真空圧レベルまで低下する。
第1管路内の圧力が真空圧レベルの所定圧に達して吸着完了検出器30がオンとなり、制御装置27を介してランプ28が点灯されたら、オペレータはこれを視認して操作レバー25pの操作を止め、第2バルブ25′を第1の位置25′aに復帰させる。これにより真空源21と第2内部管路13との連通は遮断され、第2内部管路13は大気に開放されるので、基板Wはそれまで基板保持部材10の全ての溝部11(全ての第1溝11aと全ての第2溝11b)において吸着保持されていた状態から、第1溝11aのみにおいて吸引される状態に移行する。このような構成においても、前述の基板保持装置1と同様の効果を得ることができる。なお、この実施形態における大気開放手段には第2バルブ25′が相当する。
これまで本発明の好ましい実施形態について説明してきたが、本発明の範囲は上述の実施形態に示したものに限定されない。例えば、上述の実施形態では、基板保持部材10に設けられて基板接触面10aに開口する各凹溝は同心円状に形成された溝からなっていたが、各凹溝は必ずしも同心円状に形成された溝でなくてもよい。しかし、上述の実施形態のように同心円状の溝であれば、基板保持部材10の工作に旋盤を用いることができ、製造コストを低廉化させることができるなどの利点がある。
本発明の一実施形態に係る基板保持装置の概略構成を示す図である。 上記基板保持装置において、基板を吸着保持する工程を(A)→(B)→(C)の順で示す図である。 本発明のもう一つの実施形態に係る基板保持装置の概略構成を示す図である。
符号の説明
1 基板保持装置
10 基板保持部材
10a 基板接触面
11 溝部
11a 第1溝(凹溝)
11b 第2溝(凹溝、一部の凹溝)
12 第1内部管路(内部管路)
13 第2内部管路(内部管路)
21 真空源
25 第2バルブ(大気開放手段)
30 吸着完了検出器(吸着完了検出手段)
27 制御装置(大気開放手段)
W 基板

Claims (2)

  1. 基板と接触する基板接触面に開口する複数の凹溝及び前記各凹溝に繋がる内部管路を有した基板保持部材と、
    前記基板保持部材の前記内部管路に繋がり、前記各凹溝内に負圧による吸着力を発生させる真空源と、
    前記基板が前記基板保持部材の前記各凹溝内に発生した負圧による吸着力により前記基板保持部材に吸着され、前記基板保持部材の全ての前記凹溝が前記基板により塞がれた状態を検出する吸着完了検出手段と、
    前記吸着完了検出手段により前記基板保持部材の全ての前記凹溝が前記基板により塞がれた状態が検出された後、一部の前記凹溝に繋がる前記内部管路を前記真空源から切り離して大気へ開放する大気開放手段とを備えたことを特徴とする基板保持装置。
  2. 前記基板保持部材の前記各凹溝は、同心円状に形成された溝からなっていることを特徴とする請求項1記載の基板保持装置。
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