JP5353826B2 - 残留輝度測定装置および残留輝度測定システム - Google Patents

Description

本発明は、光を受けなくなった後の蓄光標識から放射されるりん光の輝度を残留輝度として測定する残留輝度測定装置および残留輝度測定システムに関する。

りん光（蓄光）材料を用いた蓄光標識は、例えば、緊急時に停電等によって照明が失われた場合に、減衰しながらも一定時間りん光（発光）を維持し、避難させるべく人々を誘導することができるという一特徴を持つ。このような一特徴から、蓄光標識は、地下鉄など交通機関の駅構内、ビル、公共施設等の床あるいは壁等に多数（例えば、１施設あたり１００個以上）配設されている。

図１３は、蓄光標識の一例を示す構成図である。このような蓄光標識ＭＫは、例えば、図１３に示すように、りん光材料を含む発光域ＭＫａと、少なくとも所定のシンボルを示すように象られた、りん光材料を含まない非発光域ＭＫｂとを備える。蓄光標識ＭＫは、外光が遮断されると、りん光材料が蓄積していたエネルギーによって発光域ＭＫａが一定時間発光を維持する一方で、非発光域ＭＫｂが発光しないことによって、両者の対比により前記シンボルが明示されるものである。なお、図１３に示す発光域ＭＫａと非発光域ＭＫｂとを入れ替えて、所定のシンボルを示すように発光域を象ってもよいが、図１３に示すように非発光域ＭＫｂを所定のシンボルを示すように象った方が、発光面積が大きくなり、蓄光標識としては、より好ましい。

このような蓄光標識ＭＫの蓄光による発光は、実際に照明が失われた場合、時間の経過に伴って減衰し、やがて前記所定のシンボルが視認されなくなる。さらに、りん光材料の蓄光能力は、経年により低下する。そのため、緊急時の安全の確保のためには、実際に照明が失われた場合にその時から所定時間経過した後に、蓄光標識ＭＫが所定の発光輝度を維持していることを定期的に点検する必要がある。しかしながら、蓄光標識ＭＫが実際に配設されている現場で実際に照明を消灯し、所定時間経過後のりん光の輝度を実測してその確認を行うことは、現実的でない。

そこで、例えば、特許文献１には、前記照明を消灯する代わりに蓄光標識ＭＫを外光から遮光して残留輝度を測定することが提案されている。より具体的には、特許文献１に開示の蓄光輝度測定器は、演算手段および測光部を備え、前記測光部を蓄光標識に密着させ、外光から遮光して前記測光領域からの残光を前記測光部によって測光し、遮光初期段階の輝度値および遮光から所定時間経過後の第１時刻から第２時刻までの輝度の逆数に基づいて求められた１次近似式を用いることによって、所定時間経過後の残光輝度を前記演算手段によって算出するものである。

なお、日本工業規格Ｚ９１０７では、安全に対する警告や指示および情報等を視覚的に伝達表示する蓄光標識を規定しており、これによれば、遮光から２０分間経過した場合のりん光輝度が２４ｍｃｄ／ｍ^２以上であることが求められている。

特開２００７−１７０９４４号公報

ところで、蓄光標識ＭＫは、一般に、発光域ＭＫａとなる、りん光物質を用いた発光部を、例えば樹脂等の透光部材で被覆した構造である。このため、測光部を蓄光標識ＭＫに密着させたとしても、実際には、前記透光部材における外界との界面と、前記透光部材における前記発光部との界面との間で、外光が反射を繰り返すことで、前記外光が前記透光部材によって導光され、迷光となって測光部に侵入してしまう。そのため、この迷光による誤差が測定結果の残留輝度に含まれてしまい、精度よく残留輝度を測定することが難しい。蓄光標識ＭＫの残留輝度は、遮光から２０分経過した後には、初期の１／１００以下程度であって１０ｍｃｄ／ｍ^２程度に減衰することがあり、特に、このような場合には、外光由来の迷光が測定値にとって無視できないノイズとなってしまう。

本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、迷光による誤差を補正することによって、より精度よく残留輝度を測定することができる残留輝度測定装置および残留輝度測定システムを提供することである。

本発明者は、種々検討した結果、上記目的は、以下の本発明により達成されることを見出した。すなわち、本発明の一態様にかかる残留輝度測定装置は、遮光された蓄光標識の残留輝度を測定する残留輝度測定装置であって、前記蓄光標識を遮光する遮光部と、前記遮光部によって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域からの放射光を受光する受光部と、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの複数の放射光の強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部と、前記受光部で受光された前記測定域からの放射光の強度を前記迷光補正値演算部で求められた迷光補正値で補正して、前記迷光補正された強度に基づいて遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の前記残留輝度を求める残留輝度演算部とを備えることを特徴とする。

そして、本発明の他の一態様にかかる残留輝度測定システムは、基準測定ユニットと、複数の測定ユニットと、収集処理ユニットとを備え、遮光された複数の蓄光標識の残留輝度を測定する残留輝度測定システムであって、前記複数の測定ユニットのそれぞれは、前記蓄光標識に対し脱着可能に固定可能であって前記蓄光標識を遮光する遮光部と、前記遮光部によって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域からの放射光を受光する受光部と、前記受光部で受光された前記測定域からの放射光の強度を記憶する記憶部と、データの出力を行う測定側出力部と、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の複数の強度を前記記憶部に記憶させるとともに、所定のタイミングで前記記憶部に記憶した前記複数の強度を前記測定側出力部に出力させる測定側制御部とを備え、前記基準測定ユニットは、前記測定ユニットでの遮光開始前に、前記蓄光標識の前記測定域における初期輝度を測定する測定部と、データの出力を行う基準側出力部と、前記初期輝度を前記測定部に測定させるとともに、前記測定部で測定された前記初期輝度を前記基準側出力部に出力させる基準側制御部とを備え、前記収集処理ユニットは、データの入力を行う入力部と、前記測定ユニットから前記入力部を介して入力された前記複数の強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部と、前記測定ユニットから前記入力部を介して入力された前記複数の強度の全部または一部を前記迷光補正値演算部で求められた迷光補正値で補正し、この迷光補正した前記複数の強度の全部または一部と前記基準測定ユニットから前記入力部を介して入力された前記初期輝度とに基づいて、遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の前記残留輝度を求める残留輝度演算部とを備えることを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定装置および残留輝度測定システムでは、迷光補正値演算部によって、前記遮光域の外部からの迷光の強度が迷光補正値として求められ、残留輝度演算部によって、前記測定域からの放射光の強度を迷光補正値演算部で求められた迷光補正値で補正して、前記迷光補正された強度に基づいて遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の前記残留輝度が求められる。このため、このような構成の残留輝度測定装置および残留輝度測定システムは、迷光によるノイズを補正することによって、測定結果の残留輝度に含まれる迷光による誤差を低減することができ、より精度よく残留輝度を測定することができる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定装置において、前記迷光補正値演算部は、前記遮光開始から互いに異なる第１および第２の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第１および第２の強度に基づく前記第２の第１時間と前記第１の第１時間との間における第１減衰特性と、前記遮光開始から互いに異なる前記第３および第４の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第３および第４の強度に基づく前記第４の第１時間と前記第３の第１時間との間における第２減衰特性とが同じ遮光時間の関数で表されることに基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求めるものであって、前記第２の第１時間は、前記第１の第１時間よりも短く、前記第４の第１時間は、前記第３の第１時間よりも短いことを特徴とする。

この構成によれば、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後での前記測定域からの複数の放射光の強度に基づいて、減衰特性を求め、この求めた減衰特性に基づいて前記迷光補正値を求める残留輝度測定装置が提供される。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定装置において、前記迷光補正値演算部は、前記第２の第１時間と前記第３の第１時間とが同じ時間であって、前記第４の第１時間に対する前記第２の第１時間の比と前記第２の第１時間に対する前記第１の第１時間の比とが等しく、前記第１、第２および第４の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第１、第２および第４の強度をＭ_１、Ｍ_２、Ｍ_４とした場合に、前記迷光補正値を（Ｍ_２×Ｍ_２−Ｍ_１×Ｍ_４）／（２×Ｍ_２−Ｍ_１−Ｍ_４）によって求めることを特徴とする。

この構成によれば、第１時間に所定の関係がある３つの第１時間経過後での前記測定域からの放射光の各強度に基づいて前記迷光補正値を求めることができる。このため、このような構成の残留輝度測定装置は、より簡単に前記補正値を求めることができる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定装置において、前記遮光時間の関数が遮光時間の指数関数を含み、前記迷光補正値演算部は、前記指数関数の指数を所与の一定値とし、前記遮光開始から互いに異なる第１および第２の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第１および第２の強度に基づいて、前記迷光補正値を求めることを特徴とする。

この構成によれば、指数関数の指数を所与の一定値とすることで、２つの第１時間経過後での前記測定域からの放射光の各強度に基づいて前記迷光補正値を求めることができる。このため、このような構成の残留輝度測定装置は、さらにより簡単に前記迷光補正値を求めることができる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定装置において、前記迷光補正値演算部は、前記遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の複数の強度に基づいて、前記遮光開始時の前記測定域からの放射光の強度、前記指数関数の指数および前記迷光補正値によって規定される関数式であって、前記遮光開始から第１時間経過後における前記測定域からの放射光の強度を表す関数式を同定することによって、前記迷光補正値を求めることを特徴とする。

この構成によれば、前記遮光開始から互いに異なるより多数の第１時間経過後での前記測定域からの放射光のより多数の強度に基づいて前記関数式を同定することによって、前記迷光補正値が求められるので、個々の放射光強度の測定誤差の影響が軽減され、より高精度に迷光補正値を求めることができる。

また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記第２時間は、前記複数の第１時間の範囲内に含まれることを特徴とする。

この構成によれば、前記第２時間が前記複数の第１時間の範囲内に含まれ、前記第２時間経過時の迷光が迷光補正値に反映されるので、このような構成の残留輝度測定装置は、より精度よく、前記残留輝度を求めることができる。

また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定装置において、前記迷光補正値が所定の閾値よりも大きい場合に、前記遮光が不充分である旨の警告を行う警告部をさらに備えることを特徴とする。

この構成によれば、前記警告部によって前記補正値が所定の閾値よりも大きい場合に、前記遮光が不充分である旨の警告が行われる。このため、ユーザは、この警告によって遮光が不充分であることを認識することができ、遮光を徹底する等の遮光対策を行った上で再度の測定を行うことができる。

本発明にかかる残留輝度測定装置および残留輝度測定システムは、迷光による誤差を補正し、より精度よく残留輝度を測定することができる。

実施形態にかかる残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）を説明するための概念図である。 図１に示す残留輝度測定システムにおける測定ユニットの外観を示す正面図である。 図１に示す残留輝度測定システムにおける測定ユニットの断面図である。 図１に示す残留輝度測定システムにおける測定ユニットの電気的な構成を示すブロック図である。 代表的な２種類の蓄光材料における放射光の減衰時の相対分光分布を示すグラフである。 図１に示す残留輝度測定システムにおけるＳＰＤの分光感度および補正用フィルタの分光透過率を示すグラフである。 図１に示す残留輝度測定システムにおける基準測定ユニットの断面図である。 図１に示す残留輝度測定システムにおける基準測定ユニットの電気的な構成を示すブロック図である。 代表的な蓄光材料における放射光の相対分光分布と相対分光視感効率とを示すグラフである。 図１に示す残留輝度測定システムにおける収集処理ユニットの電気的な構成を示すブロック図である。 代表的な蓄光材料における残留輝度の減衰特性を示すグラフである。 図１に示す残留輝度測定システムにおける測定ユニットの他の形態の断面図である。 蓄光標識の一例を示す構成図である。

以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。また、本明細書において、総称する場合には添え字を省略した参照符号で示し、個別の構成を指す場合には添え字を付した参照符号で示す。

本実施形態の残留輝度測定装置は、遮光された蓄光標識の残留輝度を測定する残留輝度測定装置であって、前記蓄光標識を遮光する遮光部と、前記遮光部によって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域からの放射光を受光する受光部と、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの複数の放射光の強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部と、前記受光部で受光された前記測定域からの放射光の強度を前記迷光補正値演算部で求められた迷光補正値で補正して、前記迷光補正された強度に基づいて遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の前記残留輝度を求める残留輝度演算部とを備えている。このような残留輝度測定装置は、前記各部を備えて一体に構成されてもよいが、本実施形態では、基準測定ユニットと、複数の測定ユニットと、収集処理ユニットとを備え、遮光された複数の蓄光標識の残留輝度を測定する残留輝度測定システムとされている。すなわち、前記測定ユニットは、前記遮光部および前記受光部を少なくとも含んで構成され、前記基準測定ユニットは、前記測定ユニットでの遮光開始前に、前記蓄光標識の前記測定域における初期輝度を測定するものであり、前記収集処理ユニットは、前記測定ユニットによって測定されたデータおよび前記基準測定ユニットによって測定されたデータを収集するとともに、前記迷光補正値演算部および前記残留輝度演算部を少なくとも含んで構成される。

以下、より具体的に、本実施形態にかかる残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）について説明する。

図１は、実施形態にかかる残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）を説明するための概念図である。

図１において、実施形態にかかる残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、遮光された複数の蓄光標識ＭＫ（ＭＫ−１、ＭＫ−２、・・・、ＭＫ−Ｎ）の残留輝度を測定するシステムであって、測定ユニット１と、基準測定ユニット２と、収集処理ユニット３とを備えて構成されている。

本実施形態にかかる残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓの主たる特徴は、以下の４点である。

第１に、遮光初期の減衰特性から所定時間後の残留輝度を予測する方式は、信頼性に欠けるため、本実施形態にかかる残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓでは、遮光開始から所定時間経った後の残留輝度を実測する方式が採用されている。この遮光開始から所定時間経った後の残留輝度は、測定ユニット１によって測定される。ここで、複数の蓄光標識ＭＫについて、複数の測定ユニット１を用いて並列的に測定することによって、蓄光標識ＭＫの１個あたりの測定時間を短縮することが可能である。例えば、図１に示すように、１０個の測定ユニット１（１−１〜１−１０）を用意し、１００個の蓄光標識ＭＫ−Ｎ（Ｎは１００以下の整数）の２０分後の残留輝度を１０個ずつほぼ同時に並列的に測定する場合では、蓄光標識ＭＫの１個あたりの実質的な測定時間は、２分程度となる。

第２に、本実施形態にかかる残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、残留輝度を遮光初期の輝度と放射光強度の遮光初期からの変化率とから求めている。すなわち、図１に示すように、蓄光標識ＭＫの初期輝度は、相対分光視感効率Ｖλに近似する分光感度を持つ、輝度計として校正された１台の前記基準測定ユニット２によって順次に測定される。基準測定ユニット２は、複数の蓄光標識ＭＫに対し、共通に用いられる。そして、測定に所定時間を要する、前記放射光強度における遮光初期からの変化率は、複数の測定ユニット１によって複数の蓄光標識ＭＫにおける各測定域をそれぞれ遮光しつつ、前記複数の測定ユニット１で各測定域からの各放射光を並列的にそれぞれ測定することによって求められる。測定ユニット１の受光部１２Ｂは、蓄光標識ＭＫの測定域からの放射光の分光分布が、減衰中、殆ど変化しないことから、基準測定ユニット２のように相対分光視感効率Ｖλに近似する分光感度を持つ必要はなく、輝度計としての光学系も校正も必要としないため、測定ユニット１は、軽量小型で、かつ、低コストで実現することが可能である。

第３に、測定ユニット１における測定部１Ｂが取り付けられた遮光部１Ａは、扁平、軽量および小型であるため、例えば床や壁のさまざまな位置に設置された個々の蓄光標識ＭＫに粘着テープ４等で容易に取り付けられ、除去することができる。取り付け後は、所定時間が経過するまで放置して、安定に遮光と測定ができるので、操作者の負担が少ない。

そして、第４に、放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度が迷光補正値として求められ、前記測定域からの放射光の強度がこの迷光補正値で補正され、前記測定域からの前記放射光の補正後の強度によって前記残留輝度が求められる。このため、より精度よく残留輝度を測定することが可能である。

このような一特徴を持つ残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓにおける各ユニットについて、以下に、説明する。

まず、測定ユニット１について説明する。図２は、図１に示す残留輝度測定システムにおける測定ユニットの外観を示す正面図である。図２（ａ）は、測定部１Ｂが退避位置にある場合における測定ユニットを示し、図２（ｂ）は、測定ユニットが測定位置にある場合を示す。図３（ａ）は、図２（ｂ）のＩ―Ｉ線断面図であり、図３（ｂ）は、図２（ｂ）のＩＩ―ＩＩ線断面図である。図３は、図１に示す残留輝度測定システムにおける測定ユニットの断面図である。図４は、図１に示す残留輝度測定システムにおける測定ユニットの電気的な構成を示すブロック図である。

測定ユニット１は、蓄光標識ＭＫを遮光して、遮光開始から所定時間経った後に、遮光域における所定の領域を測定域としてこの測定域からの放射光の強度を測定するものであり、例えば、図２ないし図４に示すように、蓄光標識ＭＫに対し脱着可能に固定可能であって、この蓄光標識ＭＫを遮光する遮光部１Ａと、遮光部１Ａによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域としてこの測定域からの放射光強度を測定する測定部１Ｂとを備えて構成される。前記遮光開始からの所定時間は、互いに異なる前記複数の第１時間を少なくとも含み、好ましくは、前記第２時間を含む。この第２時間は、光を受けなくなった場合でも蓄光標識ＭＫが標識として機能するべき時間であり、例えば、前記日本工業規格Ｚ９１０７に従えば２０分間である。

測定部１Ｂは、例えば、図２ないし図４に示すように、スイッチ１１Ｂと、受光部１２Ｂと、制御部１３Ｂと、電源部１４Ｂと、ＩｒＤＡ通信部１５Ｂと、ＬＥＤ１６Ｂと、ソーラセル（太陽電池）１７Ｂとを備え、これらスイッチ１１Ｂ、受光部１２Ｂ、制御部１３Ｂ、電源部１４Ｂ、ＩｒＤＡ通信部１５Ｂ、ＬＥＤ１６Ｂおよびソーラセル１７Ｂは、図２に示すように平面視にて四隅を面取りされた略四角形であって、図３に示すように側面視にて扁平な略長方形である、直方体形状の筐体に収容されている。

前記筐体の両側面には、図３（ｂ）に示すように、遮光部１Ａにこの測定部１Ｂを取り付けるための長尺な溝１ＢＲが長手方向に沿って形成されている。この溝１ＢＲに、遮光部１Ａにおける後述のガイド１ＡＵが嵌め込まれることで、測定部１Ｂは、遮光部１Ａに取り付けられて保持される。

スイッチ１１Ｂは、制御部１３Ｂのオンオフを行う被押圧面を有するスイッチ素子である。このスイッチ１１Ｂは、前記被押圧面が前記筐体の一方側面に形成された溝１ＢＲに臨むように配設され、測定部１Ｂが後述の退避位置から測定位置へ前記溝１ＢＲおよび前記ガイド１ＡＵによって案内されることによって、前記ガイド１ＡＵによって前記被押圧面が押し込まれる（押圧操作される）ことで、オンされる。そして、これによってスイッチ１１Ｂは、制御部１３Ｂをオンし、測定部１Ｂを起動する。

ソーラセル（太陽電池セル）１７Ｂは、光エネルギーを電気エネルギーへ変換する電力生成素子であり、制御部１３Ｂ等の測定ユニット１における電力の必要な各部へ給電する電源である。電源部１４Ｂは、ソーラセル１７Ｂから供給された電力を所定の電圧レベルで安定的に出力する回路であり、前記所定の電圧レベルの電力を、測定ユニット１における電力の必要な各部へ出力する。

ＩｒＤＡ通信部１５Ｂは、制御部１３Ｂから出力された送信データをＩｒＤＡ方式でデータ通信を行うためにＬＥＤ１６Ｂを駆動させる駆動信号を生成する通信回路である。ＬＥＤ１６Ｂは、例えば、赤色の発光ダイオードであり、ＩｒＤＡ方式でショートレンジ通信を行うべく、ＩｒＤＡ通信部１５Ｂからの前記駆動信号によって駆動され、発光される。

測定部１Ｂの前記筐体の正面には、当該筐体の内外で光を通過可能とするべく、略矩形状の窓部１ＢＷが開口形成されており、ソーラセル１７ＢおよびＬＥＤ１６Ｂは、この窓部１ＢＷに臨むように配設される。そして、この窓部１ＢＷを通して周囲光がソーラセル１７Ｂに入射するとともに、この窓部１ＢＷを通してＬＥＤ１６Ｂの発光が放射される。

受光部１２Ｂは、受光した光を、その光強度に応じたレベルの電気信号に変換して出力する回路であり、例えば、光電変換素子である図略のシリコンフォトダイオード（ＳＰＤ）１２１Ｂを備えて構成される。測定部１Ｂの前記筐体の背面には、遮光部１Ａによって遮光された蓄光標識ＭＫの遮光域における所定の領域を測定域として、この測定域からの放射光を通すための開口部（不図示）が形成されており、受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂは、その受光面がこの開口部に臨むように配設される。

制御部１３Ｂは、受光部１２ＢおよびＩｒＤＡ通信部１５Ｂ等の測定部１Ｂの各部を当該機能に応じてそれぞれ制御し、測定部１Ｂの全体制御を司る回路である。制御部１３Ｂには、所定のデータを記憶する記憶部１３１Ｂが内蔵されている。制御部１３Ｂは、遮光開始から互いに異なる複数の所定時間経過後に受光部１２Ｂでそれぞれ受光した蓄光標識ＭＫの前記測定域からの放射光の複数の強度を記憶部１３１Ｂに記憶させるとともに、所定のタイミングで記憶部１３１Ｂに記憶した前記複数の光強度をＩｒＤＡ通信部１５Ｂに出力させる。

ここで、上述のように、受光部１２Ｂは、ＳＰＤ１２１Ｂを備えるので、測定部１Ｂにおける受光部１２Ｂの分光感度は、本実施形態では、このＳＰＤ１２１Ｂの分光感度となる。図５は、代表的な２種類の蓄光材料における放射光の減衰時の相対分光分布を示すグラフである。図５の横軸は、ｎｍ単位で示す波長であり、その縦軸は、相対強度である。図５に示す曲線は、遮光直後（実線）、２分後（破線）、１０分後（一点鎖線）、２０分後（二点鎖線）における蓄光材料の放射光の分光分布である。図５（ａ）および（ｂ）から理解されるように、この各時間経過後における蓄光材料の各放射光は、その強度が減衰するものの、その相対的な分光分布のプロファイルは、殆ど変化しない。このため、測定部１Ｂの分光感度に関わりなく、遮光開始からの輝度変化率は、受光量の変化率（受光量変化率）とみなすことができるので、本実施形態のようにＳＰＤ１２１Ｂそのものの分光感度でも測定することができる。そして、測定部１Ｂの受光部１２Ｂが例えばフィルタ等の光減衰要素を伴わないＳＰＤ１２１Ｂで構成されるので、光束の利用効率が高く、高感度、したがって高精度とすることができる。

上述では、受光部１２Ｂは、相対分光感度を修飾する光学要素（フィルタ）を伴うことなく直接的に受光するＳＰＤ１２１Ｂを備えて構成されたが、受光部１２Ｂは、分光感度の波長依存性を軽減するフィルタを受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂの上流側（受光放射光に対し）にさらに備え、このフィルタを介して受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂで蓄光標識ＭＫにおける前記測定域からの放射光を受光するように構成されてもよい。図６は、図１に示す残留輝度測定システムにおけるＳＰＤの分光感度および補正用フィルタの分光透過率を示すグラフである。図６の横軸は、ｎｍ単位で示す波長であり、その右縦軸は、透過率であり、そして、その左縦軸は、相対感度である。より具体的には、分光分布にわずかでも変化があった場合、その影響は、測定部１Ｂの分光感度が平坦であるほど小さいので、図６の実線に示す受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂの分光感度の波長依存性を相殺するような、例えば、図６の破線で示す分光透過率を持つフィルタと組み合わせて、合成分光感度を平坦化する。すなわち、前記フィルタは、受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂの分光感度と合成した合成分光感度が略平坦となる分光透過率を持つ。このように、受光部１２ＢにおけるＳＰＤ１２１Ｂの分光感度の波長依存性を軽減するフィルタを受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂの上流にさらに備えることによって、蓄光標識ＭＫの放射光の分光分布が減衰中に多少変化することがあっても、その影響を受け難くすることができ、測定精度の向上を図ることができる。

図２および図３に戻って、遮光部１Ａは、例えば、中央に向かって盛り上がった扁平な円盤状、すなわち比較的低高の円錐台形状であり、例えば、床上の蓄光標識ＭＫに取り付けられても、歩行者等に危険を及ぼす可能性が低い形状とされている。

遮光部１Ａの周縁部（前記円錐台の側面）における所定の位置には、蓄光標識ＭＫの前記測定域が周囲光から遮光されるように蓄光標識ＭＫに脱着可能に固定するための固定手段を装着するための固定部が設けられている。図２および図３に示す例では、前記固定部は、前記固定手段としての粘着テープ４を装着するための領域（固定領域）１ＡＳである。この固定領域１ＡＳには、例えば、この固定領域１ＡＳが固定部であることを明示するために所定の表示が施されている。この所定の表示は、例えば、着色、文字、記号（マーク）等である。この固定領域１ＡＳは、１または複数であってよく、例えば、約１８０度間隔の２箇所、約１２０度間隔の３箇所および約９０度間隔の４箇所等である。

そして、遮光部１Ａの中央部には、図２および図３に示すように、測定部１Ｂを装着可能な略長方形の凹部（装着凹部）１ＡＣが遮光部１Ａの中心から径方向に延びるように形成されている。この装着凹部１ＡＣの底には遮光板１ＡＰが設けられている。この遮光板１ＡＰには、所定位置（図２に示す例では中央よりやや左に寄った位置）に受光開口１ＡＨが貫通開口されている。さらに、図３（ｂ）に示すように、測定部１Ｂが遮光部１Ａに対し相対移動する方向である図２に示す矢符Ａ方向（ａ←→ｂ）に平行な装着凹部１ＡＣの側壁は、測定部１Ｂを前記矢符Ａ方向にスライドさせて後述の退避位置から測定位置へ相互に案内するガイドとしても機能する。より具体的には、装着凹部１ＡＣの前記側壁には、線条のガイド１ＡＵが凸設されると共に、ガイド１ＡＵに対応する測定部１Ｂの外側面の所定位置に、ガイド１ＡＵの形状と対をなす形状を有する前記溝１ＢＲが設けられている。ガイド１ＡＵが溝１ＢＲに内側から嵌め込まれることで、前記矢符Ａ方向に移動可能となるように、測定部１Ｂは、遮光部１Ａに取り付けられる。測定部１Ｂは、ガイド１ＡＵに沿って前記矢符Ａ方向に移動し、図２（ｂ）に示すように、測定部１Ｂが装着凹部１ＡＣの一方端部内に収納されるように位置し、受光部１２Ｂの前記開口部を介してそのＳＰＤの受光面が受光開口１ＡＨに臨み、受光部１２ＢのＳＰＤの前記受光面が前記開口部および受光開口１ＡＨを介して蓄光標識ＭＫの測定域に対向する測定位置と、図２（ａ）に示すように、測定部１Ｂが装着凹部１ＡＣの他方端部に収納されるように位置する退避位置と、を取ることが可能である。測定部１Ｂの待避位置から測定位置への移動によって測定域の遮光が開始され、さらに移動に伴って、ガイド１ＡＵの特定の部位がスイッチ１１Ｂの被押圧面を押圧するように、スイッチ１１Ｂの配設位置が設定されている。蓄光標識ＭＫに固定された遮光部１Ａへ測定部１Ｂを取り付ける際には、測定部１Ｂは、前記退避位置にあり、ユーザ（操作者、測定者）は、装着凹部１ＡＣの底部の遮光板１ＡＰに空けられた受光開口１ＡＨが視認でき、受光開口１ＡＨが蓄光標識ＭＫの発光域１０１に来るように、遮光部１Ａを位置決めすることができる。

このように図２および図３に示す例の遮光部１Ａは、遮光性を有する遮光板１ＡＰ（所定面）に設けられた受光開口１ＡＨに受光部１２ＢのＳＰＤを臨ませるように、この受光部１２Ｂと制御部１３Ｂ（記憶部１３１Ｂを含む）を納める測定部１Ｂを取り付け可能に構成されている。さらに、遮光部１Ａは、受光開口１ＡＨが蓄光標識ＭＫの測定域に対向し、測定域が、少なくとも所定の第２時間、周囲光から遮光されるように、蓄光標識ＭＫに脱着可能に固定するための粘着テープ４を装着するための固定領域１ＡＳを有している。ユーザは、測定ユニット１を粘着テープ４によって少なくとも遮光開始からの所定時間、容易に固定することができる。このため、測定ユニット１の固定後は、ユーザの手を煩わせることなく、本実施形態の残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、遮光開始から所定時間後までの残留輝度を測定することができる。

なお、上述では、測定ユニット１は、遮光部１Ａと測定部１Ｂとの組で構成されたが、遮光部１Ａと測定部１Ｂとが一体に形成されてもよい。また、遮光板１ＡＰの蓄光標識ＭＫと接する外面（外底面）１ＡＢには、遮光性を有する部材（羅紗紙など）が貼り付けられてもよい。また、遮光部１Ａの外周にフランジ（鍔部）をさらに備え、このフランジに固定部の固定領域１ＡＳが配置されてもよい。

次に、基準測定ユニット２について説明する。図７は、図１に示す残留輝度測定システムにおける基準測定ユニットの断面図である。なお、図７には、基準測定ユニット２と収集処理ユニット３との接続状況や、収集処理ユニット３の概略外観構成も示されている。図８は、図１に示す残留輝度測定システムにおける基準測定ユニットの電気的な構成を示すブロック図である。図９は、代表的な蓄光材料における放射光の相対分光分布と相対分光視感効率とを示すグラフである。図９の横軸は、ｎｍ単位で示す波長ｎｍであり、その縦軸は、強度あるいは視感効率を示す。

基準測定ユニット２は、測定ユニット１の遮光開始前に蓄光標識ＭＫの前記測定域における初期輝度を測定するものであり、例えば、図７および図８に示すように、受光部２１と、制御部２２と、通信インタフェース部（通信ＩＦ部）２３とを備えて構成される。

受光部２１は、蓄光標識ＭＫの前記測定域における初期輝度を測定するものであり、例えば、図７に示すように、光電変換素子であるシリコンフォトダイオード（ＳＰＤ）２１１と、測光量を人間の眼に対する強度である輝度に変換するために、ＳＰＤ２１１の上流（入射光の受光に対し）に設けられたＶλフィルタ２１２と、ＳＰＤ２１１の受光角を規制する受光角規制筒２１３とを備えている。これらＳＰＤ２１１、Ｖλフィルタ２１２および受光角規制筒２１３は、制御部２２および通信ＩＦ部２３とともに、測定ユニット１における遮光部１Ａに取り付け可能な測定部１Ｂの前記筐体と同様な筐体に収納されている。受光角規制筒２１３は、筒体であり、その一方端にはＶλフィルタ２１２およびＳＰＤ２１１が配設されており、その他方端の測定開口２１３Ａから入射した光は、Ｖλフィルタ２１２を介してＳＰＤ２１１で受光される。

受光角規制筒２１３の測定開口２１３Ａは、後述するように、前記測定位置では受光開口１ＡＨに対向し、蓄光標識ＭＫの前記測定域からの放射光に対するＳＰＤ２１１の受光角を規制する。これによってＳＰＤ２１１が測定対象の前記測定域を見込む角度が一定となり、前記受光開口１ＡＨおよび前記測定対象の前記測定域が前記角度をカバーする限りその実際の大きさにＳＰＤ２１１のセンサ出力が依存しなくなる。

Ｖλフィルタ２１２は、ＳＰＤ２１１の分光感度との合成分光感度が、図９の点線で示すような人間の眼の相対分光視感効率Ｖλに近似するような分光透過率（ＳＰＤ２１１との組合せが図９に点線で示す相対分光視感効率Ｖλに近似するような分光透過率）を持ち、例えば吸収フィルタの組み合わせや多層膜等で構成される。

通信ＩＦ部２３は、収集処理ユニット３との間でケーブル５を介してデータの入出力を行うインタフェース回路である。通信ＩＦ部２３は、制御部２２から出力されたデータ（初期輝度の測定値）をケーブル５を介して収集処理ユニット３へ送信する。

制御部２２は、受光部２１および通信ＩＦ部２３等の基準測定ユニット２の各部を当該機能に応じてそれぞれ制御し、基準測定ユニット２の全体制御を司る回路である。制御部２２は、受光部２１に、蓄光標識ＭＫの初期輝度を測定させるとともに、通信ＩＦ部２３に、受光部２１で測定された前記初期輝度をケーブル５を介して収集処理ユニット３へ出力させる。

このような構成の基準測定ユニット２は、基準光源で予め校正され、少なくとも蓄光標識ＭＫ等のランベルト光源とみなせる一様な面光源に対する輝度計として機能する。

そして、このような構成の基準測定ユニット２は、上述したように、測定ユニット１の測定部１Ｂの筐体と同様の外形を持ち、遮光部１Ａの装着凹部１ＡＣに取り付けることができる。基準測定ユニット２を遮光部１Ａの測定位置に取り付けた場合に、測定開口２１３Ａが受光開口１ＡＨに対向するように、測定開口２１３Ａは、受光開口１ＡＨに対応する基準測定ユニット２の所定位置に設けられる。基準測定ユニット２が遮光部１Ａに挿入され前記測定位置に位置されると、測定開口２１３Ａは、遮光部１Ａの受光開口１ＡＨに対向し、蓄光標識ＭＫの前記測定域と受光部２１のＳＰＤ２２１とは、外光から遮光される。

初期輝度の測定中は、蓄光標識ＭＫと基準測定ユニット２とが正しい位置関係にあって充分な遮光が維持される必要があり、そのために押し付けるなどユーザの補助が必要であっても、初期輝度の測定時間は、約１ｓ以下なので、ユーザの負担は、小さい。基準測定ユニット２は、収集処理ユニット３とケーブル５で接続され、収集処理ユニット３から給電されるとともに、収集処理ユニット３のスイッチを用いて操作される。基準測定ユニット２で測光された初期輝度は、収集処理ユニット３に出力され、収集処理ユニット３によって蓄光標識ＭＫ−１〜ＭＫ−Ｎごとに記憶される。

なお、本実施形態の基準測定ユニット２は、上述のように、前記ケーブル５を介して、収集処理ユニット３から給電され、収集処理ユニット３に設けられた図略の操作スイッチによって操作されるように構成されるが、図２ないし図４に示す測定ユニット１と同様に、基準測定ユニット２で給電するべくソーラセル等が設けられてもよいし、基準測定ユニット２で操作するべく操作スイッチ等が設けられてもよい。

次に、収集処理ユニット３について説明する。図１０は、図１に示す残留輝度測定システムにおける収集処理ユニットの電気的な構成を示すブロック図である。図１１は、代表的な蓄光材料における残留輝度の減衰特性を示すグラフである。図１１は、両対数表示であり、その横軸は、分（Ｍｉｎ）単位で示す時間であり、その縦軸は、Ｃｄ／ｍ^２単位で示す輝度である。

収集処理ユニット３は、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に測定ユニット１でそれぞれ測定された前記測定域からの放射光の複数の強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求め、測定ユニット１で測定された前記測定域からの放射光の強度を前記迷光補正値で補正して、前記迷光補正後の前記測定域からの放射光の強度に基づいて、遮光開始から第２時間経過後までの受光量変化率を求め、この求めた受光量変化率と基準測定ユニット２で測定された初期輝度とに基づいて、前記遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の残留輝度を求めるものである。

より具体的には、収集処理ユニット３は、図１０に示すように、所定の表示を行う表示部３２と、測定ユニット１との間でＩｒＤＡ方式でデータ通信を行うＩｒＤＡ通信部３３と、基準測定ユニット２との間でケーブル５を介してデータの入出力を行う通信インタフェース部（通信ＩＦ部）３４と、これら表示部３２、ＩｒＤＡ通信部３３および通信ＩＦ部３４を当該機能に応じてそれぞれ制御し、収集処理ユニット３の全体制御を司る制御部３１とを備えて構成される。

そして、制御部３１は、機能的に、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に測定ユニット１でそれぞれ測定された前記測定域からの放射光の複数の強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部３１１と、測定ユニット１で測定された前記測定域からの放射光の光強度を迷光補正値演算部３１１で求めた前記迷光補正値で補正し、この迷光補正後の前記測定域からの放射光の各強度に基づいて、遮光開始から第２時間経過後までの受光量変化率を求める受光量変化率演算部３１２と、受光量変化率演算部３１２で求めた受光量変化率と基準測定ユニット２で測定された初期輝度とに基づいて、前記遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の残留輝度を求める残留輝度演算部３１３とを備えている。さらに、制御部３１は、残留輝度演算部３１３で求めた所定の第２時間経過後の残留輝度を表示部３２へ出力し、表示部３２に表示させる。

以下、複数Ｎ（例えば１０個）の蓄光標識ＭＫについて、蓄光標識ＭＫそれぞれの測定域の残留輝度を残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓで測定する場合における、測定の手順について説明する。

＜蓄光標識ＭＫに対する測定ユニット１の遮光部１Ａの取り付け＞
まず、ユーザは、例えば１０個の蓄光標識ＭＫ（ＭＫ−１〜ＭＫ−１０）のそれぞれを測定すべく、１０個の測定ユニット１を用意する。次に、これら各測定ユニット１の各遮光部１Ａは、ユーザによって、図１に示すように、個々の蓄光標識ＭＫ−ｋ（ｋ＝１〜１０の整数）に固定部としての固定領域１ＡＳにおいて粘着テープ４によってそれぞれ取り付けられる。この場合において、ユーザは、装着凹部１ＡＣの底にあって蓄光標識ＭＫ−ｋに接する遮光板１ＡＰに空けられた受光開口１ＡＨから測定域が視認でき、受光開口１ＡＨが蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域に配置されるように、遮光部１Ａを位置決めすることができる。

＜基準測定ユニット２による測定＞
次に、基準測定ユニット２は、収集処理ユニット３にケーブル５を介して接続される。なお、基準測定ユニット２は、予め、基準光源を用いて校正されている。次に、基準測定ユニット２は、ユーザによって遮光部１Ａの装着凹部１ＡＣに挿入され、図２（ｂ）に示す測定位置に移動され、測定開口２１３Ａが受光開口１ＡＨに対向する。次に、基準測定ユニット２は、収集処理ユニット３からの操作によって、この受光開口１ＡＨに対向する蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域からの放射光量を測定する。なお、基準測定ユニット２が遮光部１Ａに取り付けられても、基準測定ユニット２を図２（ａ）に示す退避位置に位置させることで、ユーザは、装着凹部１ＡＣの遮光板１ＡＰに空けられた受光開口１ＡＨから測定域を視認することができ、受光開口１ＡＨが蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域に配置されるように、遮光部１Ａを位置決めすることができ、これによって基準測定ユニット２は、蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域から放射される光を受光することができ、基準測定ユニット２によって蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域における初期輝度の測定が可能となる。そして、基準測定ユニット２の制御部２２は、基準測定ユニット２の受光部２１で測定された測光量を、人間の眼に対する強度である輝度に変換し、収集処理ユニット３に出力する。収集処理ユニット３は、受信した初期輝度を蓄光標識ＭＫ−ｋに対応させて（例えば蓄光標識ＭＫ−ｋの識別子ＩＤに対応させて）、蓄光標識ＭＫ−ｋごとに記憶する。

＜測定ユニット１の測定部１Ｂによる測定＞
次に、基準測定ユニット２による初期輝度の測定が終了すると、ユーザによって、基準測定ユニット２が蓄光標識ＭＫ−ｋの遮光部１Ａから取り外され、代わりに、遮光部１Ａに測定部１Ｂが取り付けられる。なお、測定部１Ｂが遮光部１Ａに取り付けられても、測定部１Ｂを図２（ａ）に示す退避位置に位置させることで、上述したように、ユーザは、装着凹部１ＡＣの遮光板１ＡＰに空けられた受光開口１ＡＨから測定域を視認することができ、受光開口１ＡＨが蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域に配置されるように、遮光部１Ａを位置決めすることができ、これによって測定ユニット１は、蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域から放射される光を受光することができ、測定ユニット１によって蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域における放射光の測定が可能となる。次に、測定部１Ｂは、ユーザによって、図２（ｂ）に示す測定位置に移動される。測定部１Ｂの受光部１２Ｂは、測定位置で遮光部１Ａの受光開口１ＡＨに対向する。移動の初期にスイッチ１１Ｂがガイド１ＡＵに当たってオンされ、測定部１Ｂが自動的に起動する。これによりユーザは、起動の手間が省け、測定部１Ｂは、ユーザの負担をより軽減することができる。測定部１Ｂの制御部１３Ｂは、計時をスタートして所定の時間間隔で、ＳＰＤ２１のみで構成される受光部１２Ｂによる受光量の測定と測定値の制御部１３Ｂの前記記憶部１３１Ｂへの保存を繰り返す。測定間隔は、初期では例えば０．１秒程度と短く、測定終了近くでは数秒程度まで長くなる。また、起動後１秒間程度の測定部１Ｂの移動中、測定部１Ｂにおける受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂは、遮光部１Ａの遮光板１ＡＰに対向して入射光が阻止され、この間の受光量がオフセット信号（暗電流値に対応する信号）となる。測定部１Ｂが測定位置に到達すると、測定部１Ｂにおける受光部１２Ｂの前記ＳＰＤが遮光部１Ａの受光開口１ＡＨに臨むように位置するので、受光量が急激に増大するが、制御部１３Ｂは、これを検出して遮光の開始とすることができる。制御部１３Ｂは、所定の遮光時間が経過すると測定を中止し、ＩｒＤＡ通信部１５ＢおよびＬＥＤ１６ＢによるＩｒＤＡ方式の通信によって、記憶部１３１Ｂに記憶された全データを繰り返し窓部１ＢＷを介して外部へ送信する。このＬＥＤ１６Ｂの点灯は、窓部１ＢＷを通してユーザに確認され、測定の終了がユーザに認識される。

＜複数の蓄光標識ＭＫ−ｋの測定＞
上述の「蓄光標識ＭＫに対する測定ユニット１における遮光部１Ａの取り付け」、「基準測定ユニット２による測定」および「測定ユニット１の測定部１Ｂによる測定」の各処理が、例えば、１０個の蓄光標識ＭＫ−ｋ（ｋ＝１〜１０の整数）について行われる。これによって各蓄光標識ＭＫ−ｋに対し、測定ユニット１の遮光部１Ａが取り付けられ、その初期輝度が基準測定ユニット２によって測定および記憶され、そして、その各所定時間経過後の放射光が測定ユニット１によって測定され、記憶され、外部に送信される。

＜測定データの読み出し、迷光補正値の算出および残留輝度の算出＞
次に、収集処理ユニット３は、基準測定ユニット２から複数の蓄光標識ＭＫ−ｋにおける各初期輝度の各測定データをケーブル５を介して読み出し、そして、複数の蓄光標識ＭＫ−ｋに取り付けられた測定ユニット１の測定部１Ｂから複数の所定の第１時間経過後の各測定データを読み出し、そして、これら測定データに基づいて残留輝度を算出する。例えば、ユーザは、収集処理ユニット３によって、基準測定ユニット２から１０個の蓄光標識ＭＫ−ｋについての初期輝度の各測定データを読み出し、１０個の蓄光標識ＭＫ−ｋについて、測定部１ＢのＬＥＤ１６Ｂが点灯した測定ユニット１の測定部１Ｂから順次に、収集処理ユニット３によって、制御部１３Ｂの記憶部１３１Ｂに記憶された複数の所定の第１時間経過後の各測定データを読み出す。より具体的には、測定部１Ｂの窓部１ＢＷに収集処理ユニット３のＩｒＤＡ通信部３３を密着させることで、ＩｒＤＡ通信部３３は、ＬＥＤ１６Ｂが発信する情報を読み込む。

次に、収集処理ユニット３の制御部３１は、これら読み出された複数の所定の第１時間経過後の各測定データから、オフセット信号を識別し、これによって、これら読み出された複数の所定の第１時間経過後の各測定データ全てをオフセット補正する。

次に、収集処理ユニット３における制御部３１の迷光補正値演算部３１１は、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に測定ユニット１でそれぞれ測定された前記測定域からの放射光の複数の強度であって前記オフセット補正された各強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める。次に、収集処理ユニット３における制御部３１の受光量変化率演算部３１２は、前記オフセット補正された前記各光強度を、迷光補正値演算部３１１で求められた前記迷光補正値で補正して、前記迷光補正後の各強度に基づいて、遮光開始から第２時間経過後までの受光量変化率を求める。次に、収集処理ユニット３における制御部３１の残留輝度演算部３１３は、受光量変化率演算部３１２で求めた受光量変化率と基準測定ユニット２で測定された初期輝度とに基づいて、前記遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の残留輝度を求める。そして、制御部３１は、残留輝度演算部３１３で求めた所定の第２時間経過後の残留輝度を表示部３２へ出力し、表示部３２に表示させる。

より具体的には、例えば、次のように残留輝度が求められる。蓄光標識ＭＫに用いられる比較的高性能な蓄光材料の放射光強度Ｉ_Ｌの減衰特性は、遮光経過時間をＴとすると、一般的に、図１１に示すように、Ｌｏｇ（Ｉ_Ｌ）がＬｏｇ（Ｔ）に対し略直線的であり、式１によって直線近似することができる。
Ｌｏｇ（Ｉ_Ｌ）＝γ×Ｌｏｇ（Ｔ）＋ｂ ・・・（１）
ここで、γは、前記直線近似した減衰特性の傾きであり、ｂは、前記直線近似した減衰特性の切片（測定ユニット１による遮光開始時の測定値）である。

この式１は、ｂ＝Ｌｏｇ（Ｂ）とすると、式２によって表される。なお、傾きγおよび切片ｂ（＝Ｌｏｇ（Ｂ））は、蓄光標識ＭＫに固有な定数である。
Ｉ_Ｌ＝Ｂ×Ｔ^γ ・・・（２）
つまり、γは、放射光強度Ｉ_Ｌを近似的に与える遮光時間Ｔの指数関数の指数である。

そして、実測される受光強度（受光部１２Ｂで受光した光の強度）Ｍには、迷光強度Ｉ_Ｓが含まれ（Ｍ＝Ｉ_Ｌ＋Ｉ_Ｓ）、式２は、受光強度Ｍについて式３のように表される。
Ｍ−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×Ｔ^γ ・・・（３）

ここで、遮光時間としての複数の所定の第１時間として、第１ないし第４の第１時間をＴ_１、Ｔ_２、Ｔ_３およびＴ_４とし（Ｔ_１＞Ｔ_２、Ｔ_３＞Ｔ_４）、その受光光強度の測定値をＭ_１、Ｍ_２、Ｍ_３およびＭ_４とすると、式３より、式４（式４−１〜式４−４）が得られる。
Ｍ_１−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×Ｔ_１ ^γ ・・・（４−１）
Ｍ_２−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×Ｔ_２ ^γ ・・・（４−２）
Ｍ_３−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×Ｔ_３ ^γ ・・・（４−３）
Ｍ_４−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×Ｔ_４ ^γ ・・・（４−４）

ここで、第２の第１時間Ｔ_２と第３の第１時間Ｔ_３とが同じ時間であって、第４の第１時間Ｔ_４に対する第２の第１時間Ｔ_２の比と、第２の第１時間Ｔ_２に対する第１の第１時間Ｔ_１の比とが等しいとすると、より具体的には、例えば、本実施形態では、第１の第１時間Ｔ_１が２０分であり、第２の第１時間Ｔ_２（第３の第１時間Ｔ_３）が１０分であり、そして、第４の第１時間Ｔ_４が５分であるとすると、式４は、式５（式５−１〜式５−３）となる。
Ｍ_１−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×２０^γ ・・・（５−１）
Ｍ_２−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×１０^γ ・・・（５−２）
Ｍ_４−Ｉ_Ｓ＝Ｂ×５^γ ・・・（５−３）

そして、（式５−１）／（式５−２）および（式５−２）／（式５−３）をそれぞれ求めると、式６（式６−１、式６−２）が得られる。
（Ｍ_１−Ｉ_Ｓ）／（Ｍ_２−Ｉ_Ｓ）＝２^γ ・・・（６−１）
（Ｍ_２−Ｉ_Ｓ）／（Ｍ_４−Ｉ_Ｓ）＝２^γ ・・・（６−２）

したがって、式６より、式７が得られ、これを迷光強度Ｉ_Ｓについて解くと、式８が得られる。
（Ｍ_１−Ｉ_Ｓ）／（Ｍ_２−Ｉ_Ｓ）＝（Ｍ_２−Ｉ_Ｓ）／（Ｍ_４−Ｉ_Ｓ） ・・・（７）
Ｉ_Ｓ＝（Ｍ_２×Ｍ_２−Ｍ_１×Ｍ_４）／（２×Ｍ_２−Ｍ_１−Ｍ_４） ・・・（８）

よって、迷光補正値演算部３１１は、式８より迷光強度Ｉ_Ｓを求め、迷光補正値Ｉ_Ｓとすればよい。

そして、受光量変化率演算部３１２は、初期の遮光直後の受光強度Ｍ_０と２０分後の受光強度Ｍ_１から、迷光補正値Ｉ_Ｓをそれぞれ減算し、迷光補正後の初期受光強度Ｉ_０（＝Ｍ_０−Ｉ_Ｓ）および迷光補正後の２０分後の受光強度Ｉ_１（＝Ｍ_１−Ｉ_Ｓ）をそれぞれ求め、迷光補正された受光量変化率Ｉ_１／Ｉ_０を求める。

そして、残留輝度演算部３１３は、この迷光補正された受光量変化率Ｉ_１／Ｉ_０に基準測定ユニット２によって測定された初期輝度Ｌ_０を乗算することによって、残留輝度（Ｉ_１／Ｉ_０×Ｌ_０）を求める。

このように本実施形態における残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓでは、迷光補正値演算部３１１によって、前記遮光域の外部からの迷光の強度Ｉ_Ｓが迷光補正値Ｉ_Ｓとして求められ、残留輝度演算部３１３によって、前記測定域からの放射光の強度Ｍ_Ｔを迷光補正値演算部３１１で求められた迷光補正値Ｉ_Ｓで補正して、遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の残留輝度が求められる。このため、このような構成の残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、迷光によるノイズを補正して、測定結果の残留輝度に含まれる迷光による誤差を低減することができ、より精度よく残留輝度を測定することができる。上述のように推定された迷光補正値Ｉ_Ｓには、通常、誤差が含まれてしまうが、誤差の影響は、実測された遮光後２０分経過後の受光強度に含まれる迷光補正値の誤差に留まり、迷光補正後の放射光強度に対する影響は小さい。例えば、外光由来の迷光が残留輝度による放射光強度の２０％であり、この推定された迷光補正値Ｉ_Ｓの誤差が２０％であっても、迷光補正された残留輝度による放射光強度の誤差は、４％にとどまり、実用上問題がない。

また、本実施形態における残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓでは、第２の第１時間Ｔ_２と第３の第１時間Ｔ_３とが同じ時間であって、第４の第１時間Ｔ_４に対する第２の第１時間Ｔ_２の比と第２の第１時間Ｔ_２に対する第１の第１時間Ｔ_１の比とが等しくされている。このため、迷光補正値演算部３１１は、迷光補正値Ｉ_Ｓを（Ｍ_２×Ｍ_２−Ｍ_１×Ｍ_４）／（２×Ｍ_２−Ｍ_１−Ｍ_４）によって求めることができる。したがって、このような構成の残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、第１時間に所定の関係がある３つの第１時間経過後での前記測定域からの放射光の各強度に基づいて迷光補正値Ｉ_Ｓを求めることができ、より簡単に迷光補正値Ｉ_Ｓを求めることができる。

また、本実施形態における残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓでは、２０分後の残留輝度を求める際に、２０分後の実測値が用いられている。すなわち、前記第２時間は、前記所定時間に含まれているため、前記迷光補正値には、前記第２時間経過時の迷光が反映されている。このため、このような構成の残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、より精度よく、前記残留輝度を求めることができる。

また、本実施形態における残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓでは、相対分光視感効率Ｖλに近似する分光感度を持ち、校正を必要とするため高コストの基準測定ユニット２を１台必要とするものの、複数の測定ユニット１における測定部１Ｂの各受光部１２Ｂは、ＳＰＤ１２１Ｂだけで構成でき、低コストである。このため、システム全体のコストパフォーマンスが高い。

また、本実施形態における残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、測定の間隔を初期の０．１ｓから２０分後の数ｓまで、変化させるように構成されたが、残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、２０分間０．１ｓ間隔でデータを取得するように構成されてもよい。このような構成では、図１１に見られるような連続的な減衰とは異なる、突発的な変化があった場合、これを測定ユニット１の取り付け状態の変化として変化分を測定データから減算することで補正してもよいし、測定データの信頼性に問題があることを警告するメッセージを表示部３２に出力してもよい。

また、本実施形態における残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、測定間隔が変更されるものの、遮光開始から２０分後まで連続的に前記測定域からの放射光強度を測定したが、上述のように、遮光開始時および所定の関係がある３つの第１時間経過後における各測定結果が必要とされるので、残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、遮光開始時および所定の関係がある３つの第１時間経過後にそれぞれ前記測定域からの放射光強度を測定するように構成されてもよく、さらに、この場合において、各測定時における前後数秒だけ所定の時間間隔で前記測定域からの放射光強度を測定するように構成されてもよい。

また、本実施形態における残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓでは、１台の基準測定ユニット２で順次に測定した初期輝度と、複数の測定ユニット１で並行測定した遮光開始から所定の第２時間経過までの変化率から残留輝度を求めているが、基準測定ユニット２に準じた受光部を持ち、輝度計として校正された複数の測定ユニット１で、直接、残留輝度を測定するように構成してもよい。

なお、上述の実施形態では、第２の第１時間Ｔ_２と第３の第１時間Ｔ_３とが同じ時間であって、第４の第１時間Ｔ_４に対する第２の第１時間Ｔ_２の比と、第２の第１時間Ｔ_２に対する第１の第１時間Ｔ_１の比とが２としたが（Ｔ_２／Ｔ_４＝Ｔ_１／Ｔ_２＝２）、この比は、２に限定されず、任意の値であってよく、この場合においても、式８は、成立する。

また、上述の実施形態では、第２の第１時間Ｔ_２と第３の第１時間Ｔ_３とが同じ時間であって、第４の第１時間Ｔ_４に対する第２の第１時間Ｔ_２の比と、第２の第１時間Ｔ_２に対する第１の第１時間Ｔ_１の比とが等しいとしたが（Ｔ_２／Ｔ_４＝Ｔ_１／Ｔ_２）、第４の第１時間Ｔ_４に対する第２の第１時間Ｔ_２の比と、第２の第１時間Ｔ_２に対する第１の第１時間Ｔ_１の比とは、必ずしも等しい必要はない。この比が等しくない場合でも、式６−１および式６−２を連立させてこの連立方程式を解くことによって迷光補正値Ｉ_Ｓが求められる。

また、上述の実施形態では、第２の第１時間Ｔ_２と第３の第１時間Ｔ_３とが同じ時間であって、第４の第１時間Ｔ_４に対する第２の第１時間Ｔ_２の比と、第２の第１時間Ｔ_２に対する第１の第１時間Ｔ_１の比とが等しいとしたが（Ｔ_２／Ｔ_４＝Ｔ_１／Ｔ_２）、上述の実施形態において、遮光開始から遮光時間（第１時間）までの減衰特性を表す式２の遮光時間Ｔの指数γを、所与の一定値（例えばγ＝−１）とし、前記遮光開始から互いに異なる第１および第２の第１時間Ｔ_１、Ｔ_２経過後にそれぞれ測定された前記測定域からの第１および第２放射光の強度Ｍ_１、Ｍ_２に基づいて、迷光補正値Ｉ_Ｓを求めるように、迷光補正値演算部３１１が構成されてもよい。すなわち、迷光補正値演算部３１１は、式４−１および式４−２（あるいは式５−１および式５−２）に基づいて迷光補正値Ｉ_Ｓを求めるように構成されてもよい。このように構成することによって、残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、２つの第１時間経過後での前記測定域からの放射光の強度に基づいて迷光補正値Ｉ_Ｓを求めることができ、さらにより簡単に迷光補正値Ｉ_Ｓを求めることができる。

また、上述の実施形態では、第２の第１時間Ｔ_２と第３の第１時間Ｔ_３とが同じ時間であって、第４の第１時間Ｔ_４に対する第２の第１時間Ｔ_２の比と、第２の第１時間Ｔ_２に対する第１の第１時間Ｔ_１の比とが等しいとしたが（Ｔ_２／Ｔ_４＝Ｔ_１／Ｔ_２）、上述の実施形態において、前記遮光開始から互いに異なる多数の第１時間経過後にそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の強度に基づいて、前記遮光開始時の前記測定域からの放射光の強度（上述の例ではＢまたはｂ）、遮光時間の指数（上述の例ではγ）および迷光補正値Ｉ_Ｓによって規定される関数であって、前記遮光開始から第１時間経過後における前記測定域からの前記放射光の強度を表す関数式（上述の例では式２または式１）を、例えば最小二乗法等の公知の同定手法で同定することによって、迷光補正値Ｉ_Ｓを求めるように、迷光補正値演算部３１１が構成されてもよい。このように構成することによって、残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、前記遮光開始から互いに異なる多数の第１時間経過後での前記測定域からの放射光の強度に基づいて前記関数式を同定することによって、前記迷光補正値が求められるので、個々の放射光強度の測定誤差の影響が軽減され、より高精度に迷光補正値Ｉ_Ｓを求めることができる。

また、上述の実施形態において、残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓは、迷光補正値Ｉ_Ｓが所定の閾値Ｔｈよりも大きい場合に、遮光部１Ａによる前記遮光が不充分である旨の警告を行う警告部（不図示）をさらに備え、前記警告を表示部３２に表示させるように構成されてもよい。このように構成することによって、ユーザは、この警告によって遮光が不充分であることを認識することができ、遮光を徹底する等の遮光対策を行った上で再度の測定を行うことができる。

また、上述の実施形態において、基準測定ユニット２は、蓄光標識ＭＫにおける測定域からの放射光に対する、分光視感効率と受光部２１におけるＳＰＤ２１１の分光感度との関係を予め記憶し、収集処理ユニット３は、この関係に基づいて、測定値を分光視感効率での値に変換するように、残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）Ｓが構成されてもよい。より具体的には、測定対象の蓄光標識ＭＫにおける放射光の分光分布が図５（ａ）および図５（ｂ）の２種である場合、受光部２１のＶλフィルタ２１２を省略し、ＳＰＤ２１１そのものの分光感度としても、これら２種の蓄光標識ＭＫについて、測定ユニット１の測定値を輝度に変換することができる。つまり、相対分光視感効率Ｖλに近似する分光感度の輝度計でモニタされた前記２種のりん光光源を基準光源として、各々の変換係数を求め、収集処理ユニット３に予め各々の変換係数を記憶し、測定の場合には測定対象の蓄光標識ＭＫに応じてユーザが変換係数を選択することで、収集処理ユニット３が、変換係数に基づいて、測定値を分光視感効率での値（輝度）に変換する。この構成を測定ユニット１の受光部１２Ｂに適用すれば、受光部１２ＢのＳＰＤの分光感度を分光視感効率に近似させるためのフィルタを備える必要がなく、基準測定ユニット２も必要ないので、低コストで構成でき、効率的な測定のために多数個の測定ユニット１を使用しても大きなコスト増とならない。

また、上述の実施形態では、固定部は、固定手段の一例としての粘着テープ４を装着するための固定領域１ＡＳであったが、これに限定されるものではない。例えば、前記固定部は、前記固定手段の一例としての吸盤を装着するための領域（領域１０ＡＳ）であり、測定ユニット１の遮光部（遮光部１０Ａ）は、前記固定部に装着された吸盤をさらに備えて構成されてもよい。

図１２は、図１に示す残留輝度測定システムにおける他の形態の断面図である。遮光部１Ａに代わる、固定手段の他の一例としての吸盤６を備える測定ユニット１の遮光部１０Ａは、図１２に示すように、遮光部１０Ａの筐体における底面には、吸盤６を装着するための複数の凹部１０ＡＳを有し、これら各凹部１０ＡＳ内に、受光部１２ＢのＳＰＤ１２１Ｂを蓄光標識ＭＫにおける測定域に対向させてこの測定域を周囲光から遮光させるように、遮光部１０Ａを蓄光標識ＭＫに脱着可能に固定するための吸盤６がそれぞれ設けられている。より具体的には、遮光部１０Ａは、遮光部１Ａと同様に装着凹部１ＡＣを有する低高の円錐台形状であり、その底面には、例えばその周縁部分に、例えば、２箇所、３箇所あるいは４箇所等の複数の凹部１０ＡＳが形成されており、これら各凹部１０ＡＳ内に吸盤６がそれぞれ設けられている。また例えば、遮光部１０Ａは、例えば、上述と同様の装着凹部１ＡＣを有する低高の円盤状であり、その底面には、例えばその周縁部分に、複数の凹部１０ＡＳが形成されており、これら各凹部１０ＡＳ内に吸盤６がそれぞれ設けられている。また例えば、遮光部１０Ａは、例えば、上述と同様の装着凹部１ＡＣを有する低高の円盤状であり、その上端部には、フランジを有し、そのフランジの下面に複数の吸盤６がそれぞれ設けられている。このような吸盤６は、粘着テープ４に較べて脱着の操作性がよく、この結果、操作者の負担がより軽減される。

また、測定部１Ｂは、遮光部１Ａおよび遮光部１０Ａの双方に取り付け可能とされ、蓄光標識ＭＫの設置状況に応じて、遮光部１Ａおよび遮光部１０Ａが使い分けられてもよい。例えば、床面に配設された蓄光標識ＭＫに対しては、遮光部１Ａが用いられ、壁面に配設された蓄光標識ＭＫに対しては、遮光部１０Ａが用いられる。

本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および／または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。

Ｓ 残留輝度測定システム（残留輝度測定装置）
Ｖλ 相対分光視感効率
１ 測定ユニット
１Ａ、１０Ａ 遮光部
１ＡＣ 装着凹部
１ＡＨ 受光開口
１ＡＰ 遮光板
１ＡＳ 固定領域
１ＡＵ ガイド
１Ｂ 測定部
１ＢＲ 溝
２ 基準測定ユニット
３ 収集処理ユニット
４ 粘着テープ
６ 吸盤
１０ＡＳ 凹部
１１Ｂ スイッチ
１２Ｂ、２１ 受光部
１３Ｂ、２２、３１ 制御部
３２ 表示部
１３１Ｂ 記憶部
２１１ シリコンフォトダイオード（ＳＰＤ）
２１２ Ｖλフィルタ
２１３ 受光角規制筒
３１１ 迷光補正値演算部
３１２ 受光量変化率演算部
３１３ 残留輝度演算部

Claims (8)

1. 遮光された蓄光標識の残留輝度を測定する残留輝度測定装置であって、
   前記蓄光標識を遮光する遮光部と、
   前記遮光部によって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域からの放射光を受光する受光部と、
   遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの複数の放射光の強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部と、
   前記受光部で受光された前記測定域からの放射光の強度を前記迷光補正値演算部で求められた迷光補正値で補正して、前記迷光補正された強度に基づいて遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の前記残留輝度を求める残留輝度演算部とを備えること
   を特徴とする残留輝度測定装置。
2. 前記迷光補正値演算部は、前記遮光開始から互いに異なる第１および第２の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第１および第２の強度に基づく前記第２の第１時間と前記第１の第１時間との間における第１減衰特性と、前記遮光開始から互いに異なる前記第３および第４の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第３および第４の強度に基づく前記第４の第１時間と前記第３の第１時間との間における第２減衰特性とが同じ遮光時間の関数で表されることに基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求めるものであって、前記第２の第１時間は、前記第１の第１時間よりも短く、前記第４の第１時間は、前記第３の第１時間よりも短いこと
   を特徴とする請求項１に記載の残留輝度測定装置。
3. 前記迷光補正値演算部は、前記第２の第１時間と前記第３の第１時間とが同じ時間であって、前記第４の第１時間に対する前記第２の第１時間の比と前記第２の第１時間に対する前記第１の第１時間の比とが等しく、前記第１、第２および第４の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第１、第２および第４の強度をＭ_１、Ｍ_２、Ｍ_４とした場合に、前記迷光補正値を（Ｍ_２×Ｍ_２−Ｍ_１×Ｍ_４）／（２×Ｍ_２−Ｍ_１−Ｍ_４）によって求めること
   を特徴とする請求項２に記載の残留輝度測定装置。
4. 前記遮光時間の関数が遮光時間の指数関数を含み、
   前記迷光補正値演算部は、前記指数関数の指数を所与の一定値とし、前記遮光開始から互いに異なる第１および第２の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の第１および第２の強度に基づいて、前記迷光補正値を求めること
   を特徴とする請求項２に記載の残留輝度測定装置。
5. 前記迷光補正値演算部は、前記遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の複数の強度に基づいて、前記遮光開始時の前記測定域からの放射光の強度、前記指数関数の指数および前記迷光補正値によって規定される関数式であって、前記遮光開始から第１時間経過後における前記測定域からの放射光の強度を表す関数式を同定することによって、前記迷光補正値を求めること
   を特徴とする請求項１に記載の残留輝度測定装置。
6. 前記第２時間は、前記複数の第１時間の範囲内に含まれること
   を特徴とする請求項１ないし請求項５のいずれか１項に記載の残留輝度測定装置。
7. 前記補正値が所定の閾値よりも大きい場合に、前記遮光が不充分である旨の警告を行う警告部をさらに備えること
   を特徴とする請求項１ないし請求項６のいずれか１項に記載の残留輝度測定装置。
8. 基準測定ユニットと、複数の測定ユニットと、収集処理ユニットとを備え、遮光された複数の蓄光標識の残留輝度を測定する残留輝度測定システムであって、
   前記複数の測定ユニットのそれぞれは、前記蓄光標識に対し脱着可能に固定可能であって前記蓄光標識を遮光する遮光部と、前記遮光部によって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域からの放射光を受光する受光部と、前記受光部で受光された前記測定域からの放射光の強度を記憶する記憶部と、データの出力を行う測定側出力部と、遮光開始から互いに異なる複数の第１時間経過後に前記受光部でそれぞれ受光された前記測定域からの放射光の複数の強度を前記記憶部に記憶させるとともに、所定のタイミングで前記記憶部に記憶した前記複数の強度を前記測定側出力部に出力させる測定側制御部とを備え、
   前記基準測定ユニットは、前記測定ユニットでの遮光開始前に、前記蓄光標識の前記測定域における初期輝度を測定する測定部と、データの出力を行う基準側出力部と、前記初期輝度を前記測定部に測定させるとともに、前記測定部で測定された前記初期輝度を前記基準側出力部に出力させる基準側制御部とを備え、
   前記収集処理ユニットは、データの入力を行う入力部と、前記測定ユニットから前記入力部を介して入力された前記複数の強度に基づいて、前記放射光に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部と、前記測定ユニットから前記入力部を介して入力された前記複数の強度の全部または一部を前記迷光補正値演算部で求められた迷光補正値で補正し、この迷光補正した前記複数の強度の全部または一部と前記基準測定ユニットから前記入力部を介して入力された前記初期輝度とに基づいて、遮光開始から第２時間経過後における前記測定域の前記残留輝度を求める残留輝度演算部とを備えること
   を特徴とする残留輝度測定システム。
   

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