JP5381909B2 - 残留輝度測定システムおよび該方法 - Google Patents

Description

本発明は、りん光を放射可能な蓄光部材の残留輝度を測定する残留輝度測定システムおよびこの残留輝度測定システムに用いられる残留輝度測定方法に関する。

りん光（蓄光）材料を用いた蓄光標識は、例えば、緊急時に停電等によって照明が失われた場合に、減衰しながらも一定時間りん光（発光）を維持し、避難させるべく人々を誘導することができるという一特徴を持つ。このような一特徴から、蓄光標識は、地下鉄など交通機関の駅構内、ビル、公共施設等の床あるいは壁等に多数（例えば、１施設あたり１００個以上）配設されている。

図１４は、蓄光標識の一例を示す構成図である。このような蓄光標識ＭＫは、例えば、図１４に示すように、りん光材料を含む発光域ＭＫａと、少なくとも所定のシンボルを示すように象られた、りん光材料を含まない非発光域ＭＫｂとを備える。蓄光標識ＭＫは、外光が遮断されると、りん光材料が蓄積していたエネルギーによって発光域ＭＫａが一定時間発光を維持する一方で、非発光域ＭＫｂが発光しないことによって、両者の対比により前記シンボルが明示されるものである。なお、図１４に示す発光域ＭＫａと非発光域ＭＫｂとを入れ替えて、所定のシンボルを示すように発光域を象ってもよいが、図１４に示すように非発光域ＭＫｂを所定のシンボルを示すように象った方が、発光面積が大きくなり、蓄光標識としては、より好ましい。

このような蓄光標識ＭＫの蓄光による発光は、実際に照明が失われた場合、時間の経過に伴って減衰し、やがて前記所定のシンボルが視認されなくなる。さらに、りん光材料の蓄光能力は、経年により低下する。そのため、緊急時の安全の確保のためには、実際に照明が失われた場合にその時から所定時間経過した後に、蓄光標識ＭＫが所定の発光輝度を維持していることを定期的に点検する必要がある。しかしながら、蓄光標識ＭＫが実際に配設されている現場で実際に照明を消灯し、所定時間経過後のりん光の輝度を実測してその確認を行うことは、現実的でない。

そこで、例えば、特許文献１には、前記照明を消灯する代わりに蓄光標識ＭＫを外光から遮光して残留輝度を測定することが提案されている。より具体的には、特許文献１に開示の蓄光輝度測定器は、演算手段および測光部を備え、前記測光部を蓄光標識に密着させ、外光を遮光して前記測光領域からの残光を前記測光部によって測光し、遮光初期段階の輝度値および遮光から３分経過後５分経過するまでの測定輝度の逆数に基づいて求められた１次近似式を用いることによって、遮光から２０分経過後の残光輝度を前記演算手段によって算出するものである。

なお、日本工業規格Ｚ９１０７では、安全に対する警告や指示および情報等を視覚的に伝達表示する蓄光標識を規定しており、これによれば、遮光から２０分間経過した場合のりん光輝度が２４ｍｃｄ／ｍ２以上であることが求められている。

特開２００７−１７０９４４号公報

ところで、遮光後に蓄光部材によって放射されるりん光の輝度は、遮光後初期では、その単位時間当たりに減衰する輝度変化率が大きく、また輝度変化率の変化も大きい。このため、前記特許文献１に開示の蓄光輝度測定器は、遮光初期の遮光から３分乃至５分経過するまでの測定輝度を用いて遮光から２０分経過後の残留輝度を推定（演算）しているため、精度の点で充分ではなかった。

本発明は、上述の事情に鑑みて為された発明であり、その目的は、蓄光部材の残留輝度をより高精度に測定することができる残留輝度測定システムおよびこの残留輝度測定システムに用いられる残留輝度測定方法を提供することである。

本発明者は、種々検討した結果、上記目的は、以下の本発明により達成されることを見出した。すなわち、本発明の一態様にかかる残留輝度測定システムは、りん光を放射可能な蓄光部材を遮光するための遮光ユニットと、前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する測定ユニットと、前記遮光ユニットによる前記蓄光部材の遮光後に計時を行う計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に提示する提示部と、前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求める残留輝度演算部とを備える収集処理ユニットとを備えることを特徴とする。そして、本発明の他の一態様にかかる残留輝度測定方法は、上述の残留輝度測定システムにおける残留輝度測定方法であって、前記蓄光部材に前記遮光ユニットを装着する工程と、前記遮光ユニットによる前記蓄光部材の遮光後に前記計時部によって計時を行う工程と、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に前記提示部によって提示する工程と、前記提示部によって前記所定の第１時間が経過した旨が提示された場合に、前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を前記測定ユニットによって測定する工程と、前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を前記残留輝度測定部によって求める工程とを備えることを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定システムおよび残留輝度測定方法では、少なくとも遮光から１０分を越えた経過時間後の所定の第１時間以後に測定ユニットによって測定された測定域からのりん光の強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度が求められる。好ましくは、前記所定の第１時間は、残留輝度を求めたい遮光後の経過時間（前記蓄光部材が蓄光標識であって前記日本工業規格Ｚ９１０７に従う場合では、遮光から２０分）の前後である。このような所定の第１時間では、単位時間当たりに減衰する輝度変化率は、遮光初期に較べてはるかに小さく、略一定で安定的である。したがって、このような構成の残留輝度測定システムおよび残留輝度測定方法は、蓄光部材の遮光から２０分後の残留輝度をより高精度に測定することができる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定システムにおいて、前記残留輝度演算部は、互いに異なるタイミングで前記測定ユニットによってそれぞれ測定された前記測定域からのりん光の強度の複数の測定結果に基づいて、遮光開始から所定の第２時間の経過後における前記測定域の前記りん光による前記残留輝度を求めることを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定システムでは、互いに異なるタイミングで測定ユニットによってそれぞれ測定された測定域からのりん光の強度の複数の測定結果に基づいて前記残留輝度が求められる。このため、このような構成の残留輝度測定システムは、より高精度に測定するべく、前記所定の第１時間を必ずしも残留輝度を求めたい遮光後の経過時間に設定する必要がなく、前記所定の第１時間を残留輝度を求めたい遮光後の第２時間の前後に設定することによって、所望の遮光後、第２時間経過後の残留輝度を求めることができる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定システムにおいて、前記収集処理ユニットは、互いに異なるタイミングで前記測定ユニットによってそれぞれ測定された前記測定域からのりん光の強度の複数の測定結果に基づいて、前記各測定結果に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部をさらに備え、前記残留輝度演算部は、前記迷光補正値演算部で求められた前記迷光補正値で補正された前記各測定結果に基づいて前記残留輝度を求めることを特徴とする。

例えば蓄光標識のように蓄光部材が例えば樹脂等の透光部材で被覆されている場合では、遮光ユニットをこのような構造の蓄光部材に密着させたとしても、実際には、前記透光部材における外界との界面と、前記透光部材における前記蓄光部材との界面との間で、外光が反射を繰り返すことで、前記外光が前記透光部材によって導光され、迷光となって遮光ユニットに装着された測定ユニットに侵入してしまう。そのため、この迷光による誤差が測定結果の残留輝度に含まれてしまい、精度よく残留輝度を測定することが難しい。そこで、このような構成の残留輝度測定システムでは、迷光補正値演算部によって、前記遮光域の外部からの迷光の光強度が迷光補正値として求められ、残留輝度演算部によって、前記迷光補正値演算部で求められた前記迷光補正値で補正された前記各測定結果に基づいて前記残留輝度が求められる。このため、このような構成の残留輝度測定システムは、迷光によるノイズを迷光補正することによって、測定結果の残留輝度に含まれる迷光による誤差を低減することができ、より精度よく残留輝度を測定することができる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定システムにおいて、前記遮光ユニットは、複数であり、前記収集処理ユニットの計時部は、前記計時を前記複数の遮光ユニットごとに管理することを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定システムでは、遮光ユニットが複数有り、前記計時が前記複数の遮光ユニットごとに管理される。このため、複数の蓄光部材、例えば複数の蓄光標識における残留輝度を測定する場合に、これら複数の蓄光部材のそれぞれに複数の遮光ユニットをセットすることができ、これら複数の蓄光部材に対し、並列的に残留輝度を測定することが可能となる。したがって、このような構成の残留輝度測定システムは、蓄光部材１個あたりの実質的な測定時間を短縮することが可能となる。そして、このために複数必要な遮光ユニットは、測定手段を備えないので、比較的低コストで実現することができ、このような構成の残留輝度測定システムを比較的低コストで実現することが可能である。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定システムにおいて、前記複数の遮光ユニットのそれぞれは、当該遮光ユニットを特定し識別するための識別子をさらに備え、前記収集処理ユニットの計時部は、前記識別子によって前記計時を前記複数の遮光ユニットごとに管理することを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定システムは、前記識別子によって遮光ユニットおよびその遮光経過時間を管理することができる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定システムにおいて、前記遮光ユニットに備えられている前記識別子を読み取る読取ユニットをさらに備え、前記収集処理ユニットは、前記読取ユニットから前記識別子を受け取ることを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定システムでは、識別子は、遮光ユニットから読取ユニットで読み取られて収集処理ユニットに取り込まれる。このため、このような構成の残留輝度測定システムは、識別子を収集処理ユニットに入力する手間が省け、また、その入力ミスも防止される。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定システムにおいて、前記収集処理ユニットは、前記蓄光部材の配置位置を示す位置データを記憶する位置データ記憶部をさらに備え、前記収集処理ユニットの提示部は、前記位置データ記憶部に記憶されている位置データによって前記蓄光部材の配置位置を提示するとともに、前記蓄光部材の配置位置に対応させて、当該蓄光部材に対応する前記計時部によって計時されている経過時間を提示することを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定システムでは、蓄光部材の配置位置と、その経過時間とが提示部に提示される。このため、このような構成の残留輝度測定システムは、蓄光部材ごとに、その配置位置とその経過時間とを提示することができ、ユーザは、この提示を参照することによって、蓄光部材ごとに、その配置位置とその経過時間とを容易に認識することができ、作業効率の向上が可能となる。

また、他の一態様では、上述の残留輝度測定システムにおいて、前記位置データは、前記蓄光部材の配置位置を示す画像データであることを特徴とする。

このような構成の残留輝度測定システムは、位置データが画像データであるので、画像によって蓄光部材の配置位置を提示することができ、ユーザは、この画像表示を参照することによって蓄光部材の配置位置を容易に認識することができ、作業効率のさらなる向上が可能となる。

また、他の一態様では、これら上述の残留輝度測定システムにおいて、前記遮光ユニットは、前記計時部と前記提示部とを備えることを特徴とする。

この構成によれば、前記遮光ユニットは、前記計時部と前記提示部とを備えるので、蓄光部材に装着された遮光ユニットから前記所定の第１時間の経過を認識することができ、残留輝度測定が容易となる。
本発明のさらに他の態様にかかる残留輝度測定システムは、りん光を放射可能な蓄光部材を遮光するための遮光ユニットと、前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する測定ユニットと、前記遮光ユニットによる前記蓄光部材の遮光後に計時を行う計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が、前記測定ユニットによって測定を行うべき、所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に提示する提示部と、前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求める残留輝度演算部とを備える収集処理ユニットとを備え、前記遮光ユニットは、複数の前記蓄光部材をそれぞれ遮光するために複数備えられており、前記測定ユニットは、複数の前記遮光ユニットの各々には含まれておらず、測定時に前記遮光ユニットに装着されて測定を行うものであり、前記収集処理ユニットの前記計時部は、前記計時を複数の前記遮光ユニットごとに管理することを特徴とする。
本発明のさらに別の態様にかかる残留輝度測定方法は、りん光を放射可能な蓄光部材を遮光するための遮光ユニットと、前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する測定ユニットと、前記遮光ユニットによる前記蓄光部材の遮光後に計時を行う計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に提示する提示部と、前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求める残留輝度演算部とを備える収集処理ユニットとを備え、前記遮光ユニットは、複数の前記蓄光部材をそれぞれ遮光するために複数備えられており、前記測定ユニットは、複数の前記遮光ユニットの各々には含まれておらず、測定時に前記遮光ユニットに装着されて測定を行うものであり、前記収集処理ユニットの前記計時部は、前記計時を複数の前記遮光ユニットごとに管理する残留輝度測定システムにおける残留輝度測定方法であって、複数の前記遮光ユニットを複数の前記蓄光部材にそれぞれ装着する工程と、複数の前記遮光ユニットによって複数の前記蓄光部材を遮光した後に、複数の前記蓄光部材のそれぞれについて前記計時部によって計時を行う工程と、複数の前記蓄光部材のそれぞれについて、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に前記提示部によって提示する工程と、前記提示部によって前記所定の第１時間が経過した旨が提示された場合に、複数の前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を前記測定ユニットによって測定する工程と、前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を前記残留輝度測定部によって求める工程とを備えることを特徴とする。

本発明にかかる残留輝度測定システムおよび該方法は、蓄光部材の残留輝度をより高精度に測定することができる。

実施形態における残留輝度測定システムの構成を示す図である。 実施形態の残留輝度測定システムにおける遮光ユニットの第１態様の構成を示す図である。 実施形態の残留輝度測定システムにおける遮光ユニットの第２態様の構成を示す図である。 実施形態の残留輝度測定システムにおける測定ユニットの構成を示す図である。 実施形態の残留輝度測定システムの測定ユニットにおける受光部の第１態様の構成を示す断面図である。 代表的な蓄光材料における放射光の相対分光分布と相対分光視感効率とを示すグラフである。 実施形態の残留輝度測定システムの測定ユニットにおける受光部の第２態様の構成を示す断面図である。 実施形態の残留輝度測定システムにおける収集処理ユニットの構成を示す図である。 実施形態の残留輝度測定システムによる複数の蓄光標識の測定手順を説明するための図である。 実施形態の残留輝度測定システムの収集処理ユニットにおける蓄光標識の配置位置、識別子、経過時間および残留輝度の第１態様の提示形式を説明するための図である。 実施形態の残留輝度測定システムの収集処理ユニットにおける蓄光標識の配置位置、識別子、経過時間および残留輝度の第２態様の提示形式を説明するための図である。 リニア表示による代表的な蓄光材料における残留輝度の減衰特性を示すグラフである。 両対数表示による代表的な蓄光材料における残留輝度の減衰特性を示すグラフである。 蓄光標識の一例を示す構成図である。

以下、本発明にかかる実施の一形態を図面に基づいて説明する。なお、各図において同一の符号を付した構成は、同一の構成であることを示し、適宜、その説明を省略する。また、本明細書において、総称する場合には添え字を省略した参照符号で示し、個別の構成を指す場合には添え字を付した参照符号で示す。

図１は、実施形態における残留輝度測定システムの構成を示す図である。本実施形態の残留輝度測定システムＳは、りん光を放射することができる蓄光部材が遮光された場合に、遮光開始から所定の時間が経過した後における前記蓄光部材から放射される光（りん光）の輝度（残留輝度）を測定するものである。このような残留輝度測定システムＳは、例えば、図１に示すように、遮光ユニット１と、測定ユニット２と、収集処理ユニット３と、読取ユニット４とを備えて構成される。なお、図１において、遮光ユニット１が遮光ユニット１Ａである場合について図示されており、そして、遮光ユニット１Ａと、測定ユニット２とは、図２（Ｂ）に示すＩ−Ｉ線における断面で示されている。

まず、遮光ユニット１について説明する。図２は、実施形態の残留輝度測定システムにおける遮光ユニットの第１態様の構成を示す図である。図３は、実施形態の残留輝度測定システムにおける遮光ユニットの第２態様の構成を示す図である。

遮光ユニット１は、測定対象の蓄光部材ＭＫを遮光するための部材であり、蓄光部材ＭＫに対し脱着可能に構成される。蓄光部材ＭＫは、りん光を放射することができるものであれば任意の部材であってよい。上述のように、日本工業規格Ｚ９１０７によって、遮光から２０分間経過した場合のりん光輝度が規定されていることから、本実施形態の残留輝度測定システムＳは、蓄光部材ＭＫが図１４を用いて説明した上述の蓄光標識ＭＫである場合に、好適に用いられ、本実施形態では、蓄光部材ＭＫは、蓄光標識ＭＫである。

遮光ユニット１は、蓄光標識ＭＫのりん光を放射する放射面に配置された場合に、蓄光標識ＭＫを外光から遮光するとともに、蓄光標識ＭＫから放射される光（りん光）を測定ユニット２によって測定するために貫通開口（受光開口、測定用開口）が形成された遮光本体部と、前記貫通開口を開閉するための蓋部とを備えて構成される。このような遮光ユニット１は、例えば、図２に示す遮光ユニット１Ａであってよく、また例えば、図３に示す遮光ユニット１Ｂであってよい。

遮光ユニット１Ａは、図２に示すように、蓄光標識ＭＫが蓄光可能な光の波長に対し遮光可能な材料から形成された円板状の遮光本体部１１Ａを備えている。遮光本体部１１Ａには、略中心位置に、その一方表面から他方表面までに至る貫通開口１１１Ａが所定の直径で形成されている。そして、遮光本体部１１Ａには、所定の位置に、ＲＦＩＤ（Radio Frequency Identification）システムのＲＦタグ１１２Ａが埋め込まれている。このＲＦタグ１１２Ａは、当該遮光ユニット１Ａを特定し、他の遮光ユニット１Ａから識別するための識別子ＩＤを記憶するともに、ショートレンジの無線通信を行うＩＣチップを備えたパッシブタイプのＩＣタグを備えて構成されている。そして、遮光ユニット１Ａは、前記貫通開口１１１Ａを開閉するための蓋部１２Ａを備えている。この蓋部１２Ａは、蓄光標識ＭＫが蓄光可能な光の波長に対し遮光可能な材料から形成され、四隅を面取りされた矩形板状であり、前記貫通開口１１１Ａを開閉可能な所定の位置で蝶番（ヒンジ）１２１Ａによって遮光本体部１１Ａの一方表面に配設されている。

このような構成の遮光ユニット１Ａでは、図２（Ａ）に示すように、蓋部１２Ａが遮光本体部１１Ａの表面から離間され、蓋部１２Ａが開状態である場合には、蓄光標識ＭＫに遮光ユニット１Ａを取り付ける際に、ユーザ（操作者、測定者）は、貫通開口１１１Ａが視認でき、貫通開口１１１Ａが蓄光標識ＭＫの発光域にくるように、遮光ユニット１Ａを位置決めすることができる。そして、この蓋部１２Ａが開状態である場合において、貫通開口１１１Ａに測定ユニット２がセットされ、蓄光標識ＭＫから放射されるりん光の強度が測定ユニット２によって測定される。そして、このような構成の遮光ユニット１Ａでは、図２（Ｂ）に示すように、蓋部１２Ａが遮光本体部１１Ａの表面に密着され、蓋部１２Ａが閉状態である場合には、貫通開口１１１Ａに対応する蓄光標識ＭＫの領域（測定域）が遮光される。

また、遮光ユニット１Ｂは、図３に示すように、蓄光標識ＭＫが蓄光可能な光の波長に対し遮光可能な材料から形成された円板状の遮光本体部１１Ｂと、蓄光標識ＭＫが蓄光可能な光の波長に対し遮光可能な材料から形成され、四隅を面取りされた矩形板状の蓋部１２Ｂとを備えている。遮光本体部１１Ｂには、蓋部１２Ｂを装着可能な略長方形の凹部（装着凹部）１１３Ｂが遮光本体部１１Ｂの中心から径方向に延びるように形成されている。この装着凹部１１３Ｂの底には遮光板１１４Ｂが設けられている。この遮光板１１４Ｂには、所定位置（図３に示す例では中央よりやや左に寄った位置）にその一方表面から他方表面までに至る貫通開口１１１Ｂが所定の直径で形成されている。蓋部１２Ｂは、この貫通開口１１１Ｂを開閉するための部材である。このため、図３（Ａ）に示すように、蓋部１２Ｂが遮光本体部１１Ｂに対し相対移動する方向である図３（Ａ）に示す矢符ａｂ方向（ａ←→ｂ）に平行する装着凹部１１３Ｂの側壁は、蓋部１２Ｂを前記矢符ａｂ方向にスライドさせて開位置と閉位置との間を相互に案内するガイドとしても機能する。より具体的には、装着凹部１１３Ｂの前記側壁には、線条のガイド１１５Ｂが凸設されると共に、ガイド１１５Ｂに対応する蓋部１２Ｂの外側面の所定位置に、ガイド１１５Ｂの形状と対をなす形状を有するガイド溝１２１Ｂが設けられている。ガイド１１５Ｂがガイド溝１２１Ｂに内側から嵌め込まれることで、前記矢符ａｂ方向に移動可能となるように、蓋部１２Ｂは、遮光本体部１１Ｂに取り付けられる。そして、遮光本体部１１Ｂには、所定の位置に、ＲＦタグ１１２Ａと同様な、ＲＦＩＤ（Radio Frequency Identification）システムのＲＦタグ１１２Ｂが埋め込まれている。

このような構成の遮光ユニット１Ｂでは、図３（Ａ）に示すように、蓋部１２Ｂが装着凹部１１３Ｂ内で矢符ａ方向にスライド（移動）され、蓋部１２Ｂが開状態である場合には、蓄光標識ＭＫに遮光ユニット１Ｂを取り付ける際に、ユーザ（操作者、測定者）は、貫通開口１１１Ｂが視認でき、貫通開口１１１Ｂが蓄光標識ＭＫの発光域にくるように、遮光ユニット１Ｂを位置決めすることができる。そして、この蓋部１２Ｂが開状態である場合において、貫通開口１１１Ｂに測定ユニット２がセットされ、蓄光標識ＭＫから放射されるりん光の強度が測定ユニット２によって測定される。そして、このような構成の遮光ユニット１Ｂでは、図３（Ｂ）に示すように、蓋部１２Ｂが装着凹部１１３Ｂを矢符ｂ方向にスライド（移動）され、蓋部１２Ｂが閉状態である場合には、貫通開口１１１Ｂに対応する蓄光標識ＭＫの領域（測定域）が遮光される。

上記構成の遮光ユニット１Ａ、１Ｂは、いずれも厚さ１０ｍｍ以下と薄いので、蓄光標識ＭＫに貼り付けられても、その上を歩行者が通る場合に、邪魔にならず、歩行者の通行に干渉する虞がない。

次に、測定ユニット２について説明する。図４は、実施形態の残留輝度測定システムにおける測定ユニットの構成を示す図である。図５は、実施形態の残留輝度測定システムの測定ユニットにおける受光部の第１態様の構成を示す断面図である。図６は、代表的な蓄光材料における放射光の相対分光分布と相対分光視感効率とを示すグラフである。図７は、実施形態の残留輝度測定システムの測定ユニットにおける受光部の第２態様の構成を示す断面図である。

測定ユニット２は、遮光ユニット１によって遮光された遮光域における所定の領域を測定域としてこの測定域から放射されるりん光の強度を測定する装置である。測定ユニット２は、収集処理ユニット３からケーブルＣＢ１を介して給電および操作指示を受けて前記りん光の強度を測定し、この想定結果をケーブルＣＢ１を介して収集処理ユニット３へ出力する。前記所定の領域は、本実施形態では、測定ユニット２は、測定の際に、遮光ユニット１（１Ａ、１Ｂ）の前記貫通開口（１１１Ａ、１１１Ｂ）に装着されることから、蓄光標識ＭＫにおける貫通開口（１１１Ａ、１１１Ｂ）に対応する領域となる。測定ユニット２は、例えば、図４および図５に示すように、受光部２１と、制御部２２と、記憶部２３と、インタフェース部（ＩＦ部２４）とを備えて構成される。

受光部２１は、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光を受光し、この受光したりん光を、その強度に応じたレベルの電気信号に変換して出力する回路ものである。受光部２１は、例えば、光電変換素子であるシリコンフォトダイオード（ＳＰＤ）２２３と、ＳＰＤ２２３で受光される光を、人間の眼に対する強度である輝度に変換するために、ＳＰＤ２２３の上流（入射光の受光に対し）に設けられたＶλフィルタ（分光感度補正フィルタ）２２２と、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光に対するＳＰＤ２２３の受光角を規制する受光角規制筒２２１と、ＳＰＤ２２３の出力電流を電圧に変換（ＩＶ変換）してアナログ信号をディジタル信号に変換する処理回路２２４とを備えている。Ｖλフィルタ２２２は、ＳＰＤ２２３の分光感度との合成分光感度が、図６の点線で示すような人間の眼の相対分光視感効率Ｖλに近似するような分光透過率（ＳＰＤ２２３との組合せが図６に点線で示す相対分光視感効率Ｖλに近似するような分光透過率）を持ち、例えば、吸収フィルタの組み合わせや多層膜等で構成される。受光角規制筒２２１は、筒体であり、その一方端にはＶλフィルタ２２２およびＳＰＤ２２３が配設されており、その他方端は、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光が入射する測定開口２２１Ａとなっている。受光角規制筒２２１は、図１に示すように、遮光ユニット１（１Ａ、１Ｂ）の貫通開口（１１１Ａ、１１１Ｂ）に嵌め込まれて装着することができるように、少なくとも前記他方端の外直径が貫通開口（１１１Ａ、１１１Ｂ）の直径に応じた大きさとなっており、そして、図１に示すように、前記他方端が測定ユニット２の筐体（ハウジング）の外部へ突き出ている。

受光角規制筒２２１の前記他方端における測定開口２２１Ａから入射した光は、Ｖλフィルタ２２２を介してＳＰＤ２２３で受光され、ＳＰＤ２２３で光電変換され、処理回路２２４でＩＶ変換およびアナログ−ディジタル変換（ＡＤ変換）され、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度に応じたディジタル信号となって制御部２２へ出力される。ここで、Ｖλフィルタ２２２を介してＳＰＤ２２３に入射される光は、図５に示すように、受光角規制筒２２１の測定開口２２１Ａによって規制され、ＳＰＤ２２３が測定対象の前記測定域を見込む角度Ａ１が一定となり、前記測定対象の前記測定域が前記角度をカバーする限りその実際の大きさにＳＰＤ２２３の出力が依存しなくなる。

なお、受光部２１は、図７に示すように、受光角をさらに規制する対物レンズ２２５を、Ｖλフィルタ２２２の上流側となる前記他方端にさらに配設するように構成されてもよい。このような構成の受光部２１では、図７に示す受光角Ａ２と測定域ＭＡ２を、図５に示す受光角Ａ１と測定域ＭＡ１よりも小さくすることができる。

ＩＦ部２４は、収集処理ユニット３とケーブルＣＢ１で接続され、制御部２２の制御に従って、収集処理ユニット３との間でケーブルＣＢ１を介してデータの入出力を行うインタフェース回路である。

記憶部２３は、データやプログラムを記憶する例えばＲＯＭ（Read Only Memory）およびＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read Only Memory）等の不揮発性の記憶素子を備えるとともに、制御部２２が実行する制御プログラム等の実行中における各データを一時的に記憶するいわゆるワーキングメモリとなる例えば揮発性の記憶素子であるＲＡＭ（Random Access Memory）を備えて構成される。記憶部２３は、機能的に、校正係数を記憶する校正係数記憶部２３１を備えている。校正係数は、少なくとも蓄光標識ＭＫ等のランベルト光源とみなせる一様な面光源について測定値を輝度に変換する係数であり、測定ユニット２を基準光源で予め感度校正して求めた数値である。

制御部２２は、例えば、マイクロプロセッサおよびその周辺回路等を備えて構成され、制御プログラムに従い記憶部２３およびＩＦ部２４を当該機能に応じてそれぞれ制御することによって測定ユニット２全体の制御を司るものである。

このような構成の測定ユニット２は、収集処理ユニット３からケーブルＣＢ１を介して給電され、収集処理ユニット３からケーブルＣＢ１を介して操作指示を受け付けると、制御部２２によって、受光部２１に、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度を測定させるとともに、ＩＦ部２４に、受光部２１で測定された前記りん光の強度および校正係数記憶部２３１に記憶されている校正係数をケーブルＣＢ１を介して収集処理ユニット３へ出力させる。

次に、読み取りユニット４について説明する。読取ユニット４は、遮光ユニット１に備えられている当該遮光ユニット１の識別子ＩＤを読み取る装置である。本実施形態では、遮光ユニット１の識別子ＩＤは、上述したように、ＩＣタグのＲＦタグ１１２Ａ、１１２Ｂに備えられているので、読取ユニット４は、ＲＦＩＤシステムのリーダあるいはリーダライタである。読取ユニット４は、ケーブルＣＢ２で収集処理ユニット３と接続されており、遮光ユニット１から読み取った識別子ＩＤをケーブルＣＢ２を介して収集処理ユニット３へ出力する。

次に、収集処理ユニット３について説明する。図８は、実施形態の残留輝度測定システムにおける収集処理ユニットの構成を示す図である。

収集処理ユニット３は、遮光ユニット１による遮光時間を管理し、所定の第１時間経過後に測定ユニット２によって測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域からのりん光の強度の測定結果を収集し、そして、この収集した測定結果に基づいて蓄光標識ＭＫの前記測定域の前記りん光による残留輝度を求めるものである。収集処理ユニット３は、例えば、図８に示すように、演算制御部３１と、記憶部３２と、操作入力部３３と、提示部３４と、測定ユニット用インタフェース部（測定ユニット用ＩＦ部）３５と、読取ユニット用インタフェース部（読取ユニット用ＩＦ部）３６とを備えて構成される。

操作入力部３３は、例えば、起動等を指示するコマンドや蓄光標識の情報等のデータを入力するための装置であり、例えば、複数の入力スイッチを備えた操作パネル、キーボードおよびマウス等である。提示部３４は、制御部３１の制御に従って、蓄光標識ＭＫの配置位置、当該蓄光標識ＭＫに対応する後述の計時部３１１によって計時されている経過時間、当該蓄光標識ＭＫに対応する読取ユニット４によって読み取られ受け取った識別子ＩＤおよび当該蓄光標識ＭＫの残留輝度等を提示する装置である。提示部３４は、例えば、ＣＲＴディスプレイ、ＬＣＤ（液晶ディスプレイ）、有機ＥＬディスプレイおよびプラズマディスプレイ等の表示装置やプリンタ等の印刷装置等である。

測定ユニット用ＩＦ部３５は、測定ユニット２とケーブルＣＢ１で接続され、制御部３１の制御に従って、測定ユニット２との間でケーブルＣＢ１を介してデータの入出力を行うインタフェース回路である。読取ユニット用ＩＦ部３６は、読取ユニット４とケーブルＣＢ２で接続され、制御部３１の制御に従って、読取ユニット４との間でケーブルＣＢ２を介してデータの入出力を行うインタフェース回路である。

記憶部３２は、データやプログラムを記憶する例えばＲＯＭおよびＥＥＰＲＯＭ等の不揮発性の記憶素子を備えるとともに、制御部３１が実行する残留輝度演算プログラムや制御プログラム等の実行中における各データを一時的に記憶するいわゆるワーキングメモリとなる例えば揮発性の記憶素子であるＲＡＭを備えて構成される。記憶部３２は、機能的に、位置データを記憶する位置データ記憶部３２１を備えている。位置データは、蓄光標識ＭＫの配置位置を示すデータであり、例えば、「ホーム１号階段付近」等のテキストデータであってよく、また例えば、構造物の見取り図や設計平面図等に蓄光標識ＭＫの配置位置が所定の符号で表示された画像データ（配置図データ）であってもよい。

演算制御部３１は、例えば、マイクロプロセッサおよびその周辺回路等を備えて構成され、制御プログラムに従い記憶部３２、操作入力部３３、提示部３４、測定ユニット用ＩＦ部３５および読取ユニット用ＩＦ部３６を当該機能に応じてそれぞれ制御することによって収集処理ユニット３全体の制御を司るものである。演算制御部３１は、残留輝度演算プログラムの実行により、機能的に、計時部３１１、迷光補正値演算部３１２および残留輝度演算部３１３を備える。

計時部３１１は、遮光ユニット１による蓄光標識ＭＫの遮光開始からの計時を行うものである。計時部３１１は、ハードウェアによって構成されてもよいが、本実施形態では、任意の個数の遮光ユニット１に対応するべく、ソフトウェアによって構成されている。すなわち、計時部３１１は、遮光ユニット１による蓄光標識ＭＫの遮光開始から行われる前記計時を遮光ユニット１の識別子ＩＤによって複数の遮光ユニット１ごとに管理するものである。より具体的には、計時部３１１は、遮光ユニット１の識別子ＩＤに対応付けて前記計時を行うことによって、前記計時を複数の遮光ユニット１ごとに並行的に行う。そして、演算制御部３１は、遮光ユニット１（遮光ユニット１の識別子ＩＤ）ごとに、遮光開始後の経過時間が所定の第１時間に達したか否かを判断し、この判断の結果、計時部３１１によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合には、前記所定の第１時間が経過した旨を提示部３４に表示し、外部に提示する。

迷光補正値演算部３１２は、互いに異なるタイミングで測定ユニット２によってそれぞれ測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度の複数の測定結果に基づいて、前記各測定結果に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求めるものである。

残留輝度演算部３１３は、測定ユニット２によって測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求めるものである。前記所定の第１時間を、残留輝度を求めたい遮光開始からの経過時間とし、前記所定の第１時間が経過後直ちに測定ユニット２によって測定することによって、直接的に残留輝度を求めてもよいが、そうしたタイミングで測定することは困難なので、本実施形態では、残留輝度演算部３１３は、互いに異なるタイミングで測定ユニット２によってそれぞれ測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されたりん光強度の複数の測定結果に基づいて、遮光開始から所定の第２時間の経過後における蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光による残留輝度を求めるものである。より具体的には、残留輝度演算部３１３は、互いに異なるタイミングで測定ユニット２によってそれぞれ測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されたりん光の強度の複数の測定結果を用いて、経過時間に対するりん光強度を表す関数式を求め、この求めた関数式を用いて、求めた遮光開始から所定の第２時間の経過後におけるりん光強度を、測定ユニット２からケーブルＣＢ１を介して収集した校正係数を用いて、蓄光標識ＭＫの前記測定域のりん光による残留輝度に変換するものである。そして、さらに、本実施形態では、精度を向上させるべく迷光による誤差を低減するために、残留輝度演算部３１３は、上述の前記残留輝度を求める前記各測定結果に代え、迷光補正値演算部３１２で求められた迷光補正値で補正された各測定結果を用いるものである。

次に、本実施形態の残留輝度測定システムＳの動作について説明する。図９は、実施形態の残留輝度測定システムによる複数の蓄光標識の測定手順を説明するための図である。図１０は、実施形態の残留輝度測定システムの収集処理ユニットにおける蓄光標識の配置位置、識別子、経過時間および残留輝度の第１態様の提示形式を説明するための図である。図１１は、実施形態の残留輝度測定システムの収集処理ユニットにおける蓄光標識の配置位置、識別子、経過時間および残留輝度の第２態様の提示形式を説明するための図である。図１２は、リニア表示による代表的な蓄光材料における残留輝度の減衰特性を示すグラフである。図１２の横軸は、分単位で表す遮光後の経過時間であり、その縦軸は、相対輝度であり、各軸は、リニアスケールである。図１３は、両対数表示による代表的な蓄光材料における残留輝度の減衰特性を示すグラフである。図１１の横軸は、分（Ｍｉｎ）単位で示す時間であり、その縦軸は、Ｃｄ／ｍ２単位で示す輝度であり、各軸は、対数スケールである。すなわち、図１３は、両対数表示である。

まず、複数Ｎ個の蓄光標識ＭＫ−ｋ（ｋ＝１〜Ｎの整数）のそれぞれを測定すべく、複数Ｎ個の遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）が用意される。次に、ユーザによって残留輝度測定システムＳが起動される。残留輝度測定システムＳの収集処理ユニット３の演算制御部３１は、記憶部３２の位置データ記憶部３２１に格納されている位置データを取り出し、位置データを提示部３４に提示する。これによって提示部３４には、蓄光標識ＭＫの配置位置が表示され、提示される。

この蓄光標識ＭＫの配置位置は、例えば、図１０に示すように、テーブル形式で表示されてよい。この図１０に示す蓄光標識情報テーブル６０は、蓄光標識ＭＫの配置位置を説明する文章を表示する配置位置フィールド６０１と、配置位置フィールド６０１に示される蓄光標識ＭＫを遮光するべく当該蓄光標識ＭＫに装着される遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の識別子ＩＤを表示する識別子フィールド６０２と、配置位置フィールド６０１に示される蓄光標識ＭＫを遮光するべく当該蓄光標識ＭＫに装着される遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）による遮光経過時間を表示する経過時間フィールド６０３と最終的に求められる残留輝度を表示する残留輝度フィールド６０４とを備え、蓄光標識ＭＫごとにレコードを持つ。なお、図１０では、各フィールド６０１、６０２、６０３に、データが表示されているが、この起動の段階では、配置位置フィールド６０１にのみそのデータ内容が表示され、識別子フィールド６０２、経過時間フィールド６０３および残留輝度フィールド６０４には、そのデータ内容は、表示されていない。

また、この蓄光標識ＭＫの配置位置は、例えば、図１１に示すように、グラフィック形式で表示されてよい。この図１１に示す蓄光標識情報図７０は、蓄光標識ＭＫの配置位置を所定の符号、例えば○７０１で表示した構造物の見取り図や設計平面図等であり、蓄光標識ＭＫの配置図である。蓄光標識ＭＫの配置位置を示す所定の符号（配置マーカ、図１１に示す例では○）７０１の近傍には、この配置マーカ○７０１の蓄光標識ＭＫに装着される遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の識別子ＩＤを表示する識別子表示欄（識別子表示ウィンドウ）７０２が設けられているとともに、この配置マーカ○７０１の蓄光標識ＭＫに装着される遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）による遮光経過時間を表示する経過時間表示欄（経過時間表示ウィンドウ）７０３と最終的に求められる残留輝度を表示する残留輝度表示欄７０４とが設けられている。なお、図１１には、識別子表示欄７０２および経過時間表示欄７０３には、データが表示されているが、残留輝度表示欄７０４にはデータが表示されていない。また、この起動の段階では、配置マーカ○７０１のみ表示され、識別子表示欄７０２および経過時間表示欄７０３にも、そのデータ内容は、表示されていない。

次に、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）が蓄光標識ＭＫ−ｋに装着される。例えば、ユーザは、提示部３４に提示された蓄光標識ＭＫ−ｋの配置位置を参照しながら、遮光ユニット１を蓄光標識ＭＫ−ｋに装着する。この装着は、例えば、図１および図９に示すように、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の遮光本体部１１１Ａ（１１１Ｂ）に固定手段としての粘着テープＴＰによって行われる。蓄光標識ＭＫ−ｋに遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を取り付ける場合に、ユーザは、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の貫通開口１１２Ａ（１１２Ｂ）を視認することができ、この貫通開口１１２Ａ（１１２Ｂ）が蓄光標識ＭＫ−ｋの測定域に配置されるように、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を位置決めすることができる。

次に、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）が蓄光標識ＭＫ−ｋに装着されると、読取ユニット４が遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）に近づけられ、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を装着した蓄光標識ＭＫ−ｋを特定するべく、ユーザによって操作入力部３３が操作される。例えば、図１０に示す蓄光標識情報テーブル６０の場合では、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を装着した蓄光標識ＭＫ−ｋに対応する配置位置フィールド６０１（または識別子フィールド６０２）がユーザによって操作入力部３３で操作選択される。より具体的には、カーソルが前記配置位置フィールド６０１（または前記識別子フィールド６０２）へ移動され、前記配置位置フィールド６０１（または前記識別子フィールド６０２）に重ねられ、キーボードのリターンキーやマウスのマウスボタンが操作入力される。また例えば、図１１に示す蓄光標識情報図７０の場合では、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を装着した蓄光標識ＭＫ−ｋに対応する配置マーカ○７０１がユーザによって操作入力部３３で操作選択される。より具体的には、カーソルが前記配置マーカ○７０１へ移動され、前記配置マーカ○７０１に重ねられ、キーボードのリターンキーやマウスのマウスボタンが操作入力される。読取ユニット４は、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）のＲＦタグ１１２Ａ（１１２Ｂ）から当該遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の識別子ＩＤを読み取り、この読み取った識別子ＩＤをケーブルＣＢ２を介して収集処理ユニット３へ出力する。

前記操作入力を受け付けると、収集処理ユニット３の演算制御部３１は、読取ユニット４からケーブルＣＢ２および読取ユニット用ＩＦ部３６を介して入力された識別子ＩＤを、前記選択された蓄光標識ＭＫ−ｋの配置位置と対応付け、この対応関係を記憶部３２に記憶する。この対応付けが行われると、提示部３４には、この対応関係に従って識別子ＩＤが表示され、提示される。例えば、図１０に示す蓄光標識情報テーブル６０の場合では、前記選択された配置位置フィールド６０１のレコードにおける識別子フィールド６０２に、読取ユニット４から入力された識別子ＩＤが表示される。また例えば、図１１に示す蓄光標識情報図７０の場合では、前記選択された配置マーカ○７０１に対応する識別子表示欄７０２に、読取ユニット４から入力された識別子ＩＤが表示される。

次に、遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の蓋部１２Ａ（１２Ｂ）がユーザによって閉じられ、遮光が開始される。ユーザは、この遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の蓋部１２Ａ（１２Ｂ）を閉状態とすると、直ちに、操作入力部３３から遮光開始を操作入力する。例えば、図１０に示す蓄光標識情報テーブル６０の場合では、遮光を開始した遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を装着した蓄光標識ＭＫ−ｋに対応する前記配置位置フィールド６０１のレコードがユーザによって操作入力部３３で操作される。より具体的には、前記配置位置フィールド６０１のレコードが選択され、識別子フィールド６０２に識別子ＩＤが表示された状態で、キーボードのリターンキーやマウスのマウスボタンが操作入力される。また例えば、図１１に示す蓄光標識情報図７０の場合では、遮光を開始した遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を装着した蓄光標識ＭＫ−ｋに対応する配置マーカ○７０１がユーザによって操作入力部３３で操作される。より具体的には、前記配置マーカ○７０１が選択され、識別子表示欄７０２に識別子ＩＤが表示された状態で、キーボードのリターンキーやマウスのマウスボタンが操作入力される。

前記遮光開始を受け付けると、演算制御部３１の計時部３１１は、前記遮光開始を受け付けた遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）を装着した蓄光標識ＭＫ−ｋに対応する識別子ＩＤと遮光開始時刻（より具体的には前記遮光開始を受け付けた時刻）とを対応付けて計時を開始する。この計時が開始されると、提示部３４には、計時部３１１によって計時された経過時間が表示され、提示される。例えば、図１０に示す蓄光標識情報テーブル６０の場合では、前記選択された配置位置フィールド６０１のレコードの経過時間フィールド６０３に、計時部３１１によって計時された経過時間が表示される。また例えば、図１１に示す蓄光標識情報図７０の場合では、前記選択された配置マーカ○７０１に対応する経過時間表示欄７０３に、計時部３１１によって計時された経過時間が表示される。

次に、演算制御部３１は、遮光ユニット１（遮光ユニット１の識別子ＩＤ）ごとに、遮光開始後の経過時間が所定の第１時間に達したか否かを判断し、この判断の結果、計時部３１１によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合には、前記所定の第１時間が経過した旨を提示部３４に表示し、外部に提示する。例えば、この所定の第１時間が経過した旨の表示は、図１０に示す蓄光標識情報テーブル６０の場合では、経過時間が前記所定の第１時間に達した経過時間フィールド６０３またその経過時間表示を点滅させることによって行われ、図１１に示す蓄光標識情報図７０の場合では、経過時間が前記所定の第１時間に達した経過時間表示欄７０３の経過時間表示またはこの経過時間表示欄７０３に対応する配置マーカ○７０１を点滅させることによって行われる。なお、計時部３１１は、前記所定の第１時間が経過した旨が提示部３４に表示された後も、計時を続行する。

蓄光材料は、遮光後も、りん光を放射するが、そのりん光の輝度は、図１２に示すように、遮光後５分間は、急激に減衰し、その後は、比較的緩やかに減衰する。すなわち、遮光後５分間は、単位時間当たりに減衰する輝度変化率は、比較的大きく変化し、１０分経過後では、前記遮光初期に較べてその変化が小さい。したがって、前記所定の第１時間は、少なくとも遮光から１０分を越えた経過時間である。そして、後述するように、前記所定の第１時間経過後に測定ユニット２によって蓄光標識ＭＫ−ｋの前記測定域におけるりん光が測定され、前記所定の第２時間経過後の残留輝度が求められることから、前記所定の第１時間は、残留輝度を求めたい前記第２時間近くであることが好ましい。また、例えば、測定対象が蓄光標識ＭＫであることから、前記日本工業規格Ｚ９１０７に従って遮光から２０分近くに設定されることがより好ましい。この遮光後２０分前後では、図１２に示すように、特に、単位時間当たりに減衰する輝度変化率が略一定で安定的であり、この観点からも好ましい。

次に、ユーザは、前記所定の第１時間が経過した旨の表示を参照し、これに対応する遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の貫通開口１１１Ａ（１１１Ｂ）に、遮光を実質的に継続しつつ測定ユニット２を装着する。より具体的には、ユーザは、前記所定の第１時間が経過した旨の表示を参照し、これに対応する遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の蓋部１２Ａ（１２Ｂ）を開いて開状態とした後、すみやかに、測定ユニット２の受光角規制筒２２１をこの遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の貫通開口１１１Ａ（１１１Ｂ）に嵌め込むことによって、遮光を実質的に継続させるように、測定ユニット２を遮光ユニット１Ａ（１Ｂ）の貫通開口１１１Ａ（１１１Ｂ）に装着し、測定ユニット２によって測定する蓄光標識ＭＫ−ｋを特定するべく、収集処理ユニット３の操作入力部３３を操作し、そして、操作入力部３３から測定開始を指示し、入力する。このように遮光ユニット１を蓄光標識ＭＫに装着後は、前記所定の第１時間まで放置可能であるので、本実施形態の残留輝度測定システムＳは、ユーザの負担を軽減することができる。

この測定開始の指示を受け付けると、収集処理ユニット３の演算制御部３１は、測定ユニット用ＩＦ部３５およびケーブルＣＢ１を介して測定ユニット２へ測定開始を指示する。この測定開始の指示を受け付けると、測定ユニット２は、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する。この測定は、所定の時間間隔（例えば約３０秒間隔）で複数回（例えば３回）実行される。測定ユニット２は、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度を測定すると、この測定結果を校正係数とともに、ＩＦ部２４およびケーブルＣＢ１を介して収集処理ユニット３へ出力する。この測定結果および校正係数を受け付けると、収集処理ユニット３は、前記特定された蓄光標識ＭＫ−ｋに対応する遮光ユニット１の識別子ＩＤに対応付けて測定結果、校正係数および受付時刻を記憶部３２に記憶する。そして、収集処理ユニット３の演算制御部３１は、この蓄光標識ＭＫ−ｋの残留輝度を求める。

より具体的には、まず、迷光補正値演算部３１２は、互いに異なるタイミング（上述の例では約３０秒間隔）で測定ユニット２によってそれぞれ測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度の複数の測定結果に基づいて、前記各測定結果に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める。次に、残留輝度演算部３１３は、迷光補正値演算部３１２によって求められた迷光補正値で、互いに異なるタイミングで測定ユニット２によってそれぞれ測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されたりん光の強度の複数の測定結果を補正し、この補正後の前記各測定結果を用いて、経過時間に対するりん光強度を表す関数式を求め、この求めた関数式を用いて求めた遮光開始から所定の第２時間の経過後におけるりん光強度を、測定ユニット２からケーブルＣＢ１を介して収集した校正係数を用いて、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されたりん光による残留輝度に変換する。そして、演算制御部３１は、残留輝度演算部３１３で求めた所定の第２時間経過後の残留輝度を提示部３４へ出力し、提示部３４に表示させ、提示させる。

より具体的には、例えば、次のように残留輝度が求められる。蓄光標識ＭＫに用いられる比較的高性能な蓄光材料の放射光強度（りん光強度）ＩＬの減衰特性は、遮光経過時間をＴとすると、一般的に、図１３に示すように、Ｌｏｇ（ＩＬ）がＬｏｇ（Ｔ）に対し略直線的であり、式１によって直線近似することができる。
Ｌｏｇ（ＩＬ）＝γ×Ｌｏｇ（Ｔ）＋ｂ ・・・（１）
ここで、γは、前記直線近似した減衰特性の傾き（減衰係数）であり、ｂは、前記直線近似した減衰特性の切片（測定ユニット１による測定開始時の測定値）である。

この式１は、ｂ＝Ｌｏｇ（Ｂ）とすると、式２によって表される。なお、傾きγおよび切片ｂ（＝Ｌｏｇ（Ｂ））は、蓄光標識ＭＫに固有な定数である。
ＩＬ＝Ｂ×Ｔγ ・・・（２）

そして、実測される放射光強度Ｍには、迷光成分（迷光による輝度）ＩＳが含まれ（Ｍ＝ＩＬ＋ＩＳ）、式２は、受光強度Ｍについて式３のように表される。
Ｍ−ＩＳ＝Ｂ×Ｔγ ・・・（３）

ここで、遮光時間として複数の時間、例えば、前記所定の第１時間Ｔ１（＝１８分）、Ｔ２＝１．０２５×Ｔ１およびＴ３＝１．０２５２×Ｔ１とし（これは、上述の遮光後１８分後、その２７秒後およびさらにその２８秒後にそれぞれ対応する）、その放射光強度の測定値をＭ１、Ｍ２およびＭ３とすると、式３より、式４（式４−１〜式４−３）が得られる。
Ｍ１−ＩＳ＝Ｂ×Ｔ１γ ・・・（４−１）
Ｍ２−ＩＳ＝Ｂ×Ｔ２γ＝Ｂ×（１．０２５×Ｔ１）γ ・・・（４−２）
Ｍ３−ＩＳ＝Ｂ×Ｔ３γ＝Ｂ×（１．０２５２×Ｔ１）γ ・・・（４−３）

ここで、（式４−２）／（式４−１）および（式４−３）／（式４−２）をそれぞれ求めると、式５（式５−１および式５−２）が得られる。
（Ｍ２−ＩＳ）／（Ｍ１−ＩＳ）＝１．０２５γ ・・・（５−１）
（Ｍ３−ＩＳ）／（Ｍ２−ＩＳ）＝１．０２５γ ・・・（５−２）

したがって、式５より、式６が得られ、これを迷光強度ＩＳについて解くと、式７が得られる。
（Ｍ２−ＩＳ）／（Ｍ１−ＩＳ）＝（Ｍ３−ＩＳ）／（Ｍ２−ＩＳ） ・・・（６）
ＩＳ＝（Ｍ２×Ｍ２−Ｍ１×Ｍ３）／（２×Ｍ２−Ｍ１−Ｍ３） ・・・（７）

この迷光補正値ＩＳを式５−１に代入すると、γを与える式８が得られ、ＩＳとγを式４−１に代入すると、Ｂを与える式９が得られ、得られたＩＳ、γ、Ｂによって式３が確定される。
γ＝Ｌｏｇ（（Ｍ２−ＩＳ）／（Ｍ１−ＩＳ））／Ｌｏｇ（１．０５） ・・・（８）
Ｂ＝（Ｍ１−ＩＳ）／Ｔ１γ ・・・（９）

よって、迷光補正値演算部３１２は、式７により迷光成分ＩＳを求め、迷光補正値ＩＳとする。残留輝度演算部３１３は、確定した式２に前記所定の第２時間（Ｔ＝２０分）を代入して、前記第２時間経過後の放射光強度を求め、求められた第２時間経過後の放射光強度を残留輝度に変換すればよい。

このように本実施形態における残留輝度測定システムＳでは、遮光から少なくとも１０分、好ましくは所定の第２時間近くの所定の第１時間以後に測定ユニット２によって測定された蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度の複数の測定結果に基づいて前記所定の第２時間経過後の前記測定域からの前記りん光による残留輝度が求められる。したがって、このような構成の残留輝度測定システムＳは、単位時間当たりに減衰する輝度変化率が遮光初期に較べてはるかに小さくなった後に、蓄光標識ＭＫの前記測定域から放射されるりん光の強度に基づいて残留輝度を推定するので、蓄光標識ＭＫの残留輝度をより高精度に求めることができる。

また、本実施形態の残留輝度測定システムＳでは、互いに異なるタイミングで測定ユニット２によってそれぞれ測定された前記測定域からのりん光の強度の複数の測定結果に基づいて前記残留輝度が求められる。このため、本実施形態の残留輝度測定システムＳは、より高精度に測定するべく、前記所定の第１時間を必ずしも残留輝度を求めたい遮光後の経過時間（第２時間）に設定する必要がなく、前記関数式２の時間Ｔを残留輝度を求めたい遮光後の経過時間に設定することによって、所望の遮光後の経過時間における残留輝度を求めることができる。

また、本実施形態の残留輝度測定システムＳでは、迷光補正値演算部３１２によって、前記遮光域の外部からの迷光における光強度が迷光補正値ＩＳとして求められ、残留輝度演算部３１３によって、迷光補正値演算部３１２で求められた迷光補正値ＩＳで補正された前記各測定結果に基づいて前記残留輝度が求められる。このため、このような構成の残留輝度測定システムＳは、迷光によるノイズを迷光補正することによって、求められた残留輝度に含まれる迷光による誤差を低減することができ、より精度よく残留輝度を測定することができる。

また、本実施形態の残留輝度測定システムＳでは、遮光ユニット１が複数有り、計時部３１１による計時が前記複数の遮光ユニット１ごとに管理される。このため、複数の蓄光標識ＭＫにおける残留輝度を測定する場合に、これら複数の蓄光標識ＭＫのそれぞれに遮光ユニット１をセットすることができ、これら複数の蓄光標識ＭＫに対し、並列的に残留輝度を測定することが可能となる。したがって、本実施形態の残留輝度測定システムＳは、蓄光標識ＭＫ１個あたりの実質的な測定時間を短縮することが可能となる。例えば、１０個の遮光ユニット１を用意し、１００個の蓄光標識ＭＫの２０分後の残留輝度を１０個ずつほぼ同時に並列的に遮光して測定する場合では、蓄光標識ＭＫの１個あたりの実質的な測定時間は、２分程度となる。そして、このために複数必要な遮光ユニット１は、測定手段を備えないので、比較的低コストで実現することができ、本実施形態の残留輝度測定システムＳを比較的低コストで実現することが可能である。しかもＲＦタグ１１２Ａ（１１２Ｂ）は、パッシブ方式のＩＣタグなので、遮光ユニット１は、電池等の電源も備える必要がなく、堅牢であり、メンテナンスコストを含むコストの低減化が可能である。さらに、遮光ユニット１は、上述したように、蓄光標識ＭＫに装着後、前記所定の第１時間を経過するまで、放置され、損傷等の可能性があるので、遮光ユニット１の堅牢化、低コスト化は、有利である。

また、本実施形態の残留輝度測定システムＳでは、遮光ユニット１の識別子ＩＤによって遮光ユニット１およびその遮光経過時間を管理することができる。

また、本実施形態の残留輝度測定システムＳでは、識別子ＩＤが遮光ユニット１から読取ユニット４で読み取られて収集処理ユニット３に取り込まれる。このため、本実施形態の残留輝度測定システムＳは、識別子ＩＤを収集処理ユニット３に直接入力する手間が省け、また、その入力ミスも防止される。

また、本実施形態の残留輝度測定システムＳでは、蓄光標識ＭＫの配置位置と、その計時部３１１の計時による経過時間と、当該蓄光標識ＭＫに装着された遮光ユニット１の識別子ＩＤとが提示部３４に提示される。このため、本実施形態の残留輝度測定システムＳは、蓄光標識ＭＫごとに、その配置位置とその経過時間とを提示することができ、ユーザは、この提示を参照することによって、蓄光標識ＭＫごとに、その配置位置とその経過時間とを容易に認識することができ、作業効率の向上が可能となる。

また、本実施形態の残留輝度測定システムＳは、図１１に示すように蓄光標識ＭＫの配置位置を画像によって表示し、提示することもでき、この場合では、ユーザは、この画像表示を参照することによって蓄光標識ＭＫの配置位置を容易に認識することができ、作業効率のさらなる向上が可能となる。

なお、上述の実施形態では、遮光ユニット１Ａ、１Ｂの識別子ＩＤは、ＲＦＩＤシステムのＲＦタグ１１２Ａ、１１２Ｂに記憶され、ＲＦＩＤシステムのリーダである読取ユニット４によって読み込まれたが、バーコードによって表示され、このバーコードが遮光ユニット１Ａ、１Ｂの遮光本体部１１１Ａ、１１１Ｂに貼り付けられてもよい。この場合には、読取ユニット４は、バーコードリーダとされる。

また、上述の実施形態の残留輝度測定システムＳは、収集処理ユニット３が、測定ユニット２から収集した校正係数を用いて、測定ユニット２から収集した蓄光標識ＭＫの前記測定域からのりん光の強度を輝度に変換するように構成されたが、測定ユニット２の制御部２２が、校正係数記憶部２３１に記憶されている校正係数を用いて、受光部２１で測定した蓄光標識ＭＫの前記測定域からのりん光の強度を輝度に変換し、輝度を収集処理ユニット３へ出力するように構成されてもよい。

また、上述の実施形態の残留輝度測定システムＳは、収集処理ユニット３が計時部と提示部とを備えているが、遮光ユニット１が収集処理ユニット３に代わって、計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合にその旨を外部に提示する提示部とを備えてもよい。このように構成することによって、ユーザは、蓄光標識ＭＫに装着された遮光ユニット１から第１時間の経過を認識することができ、読取ユニット４と読取操作が不要になるので、残留輝度の測定が容易になる。さらに、測定ユニット２が収集処理ユニット３に代わって迷光補正値演算部と残留輝度測定部と提示部とを備えることで、収集処理ユニット３を省略することができ、携行するユニット点数が低減され、残留輝度測定システムＳの携行が容易となる。

また、上述の実施形態の残留輝度測定システムＳは、求めた残量輝度を提示部３４に提示したが、この求めた残留輝度を所定の基準によって評価し、この評価結果も提示部３４に提示するように構成されてもよい。例えば、上述した日本工業規格Ｚ９１０７の輝度２４ｍｃｄ／ｍ２が基準値（閾値）とされ、この求めた残留輝度がこの基準値以上である場合には、適合とされ、例えば、図１１に示す蓄光標識情報図７０の配置マーカ○７０１が青色や緑色で表示され、そして、この求めた残留輝度がこの基準値未満である場合には、不適合とされ、例えば、図１１に示す蓄光標識情報図７０の配置マーカ○７０１が赤色や黄色で表示される。

また、上述の実施形態では、Ｔ２／Ｔ１＝Ｔ３／Ｔ２＝１．０２５としたが、この比は、１．０２５に限定されず、任意の値であってよく、この場合においても、式７、式８および式９は、同様に、導出可能である。

また、上述の実施形態では、Ｔ２／Ｔ１＝Ｔ３／Ｔ２＝１．０２５としたが、これらの比は、必ずしも等しい必要はない。この比が等しくない場合でも、式７、式８および式９は、同様に、導出可能である。

また、上述の実施形態では、式８で減衰係数γを求めたが、この減衰係数γを、所与の一定値（例えばγ＝−１）とし、γ＝−１とした式３に、互いに異なる２つの遮光時間と各遮光時間での放射光強度とを代入した２つの式から定数Ｂおよび迷光補正値ＩＳを求めるように構成されてもよい。このように構成することによって、残留輝度測定システムＳは、２つの第１時間経過後での前記測定域からの放射光の強度に基づいて定数Ｂおよび迷光補正値ＩＳを求めることができ、より簡単に残留輝度を求めることができる。

また、同様に、遮光が充分である場合には、迷光補正値Ｉｓを０として、Ｉｓ＝０とした式３に、互いに異なる２つの遮光時間と各遮光時間での放射光強度とを代入した２つの式から定数Ｂおよび減衰係数γを求めるように構成されてもよい。このように構成することによっても、残留輝度測定システムＳは、２つの第１時間経過後での前記測定域からの放射光の強度に基づいて定数Ｂおよび減衰係数γを求めることができ、より簡単に残留輝度を求めることができる。さらに、この場合に、減衰係数γを、所与の一定値（例えばγ＝−１）とし、γ＝０およびＩｓ＝０とした式３に、１つの遮光時間とその遮光時間での放射光強度を代入して定数Ｂを求めるように構成されてもよい。

また、上述の実施形態では、互いに異なる３つの遮光時間から式３を同定したが、互いに異なる４つ以上の遮光時間と各遮光時間での放射光強度とから例えば最小二乗法等を用いることによって式３を同定してもよい。

本発明を表現するために、上述において図面を参照しながら実施形態を通して本発明を適切且つ十分に説明したが、当業者であれば上述の実施形態を変更および／または改良することは容易に為し得ることであると認識すべきである。したがって、当業者が実施する変更形態または改良形態が、請求の範囲に記載された請求項の権利範囲を離脱するレベルのものでない限り、当該変更形態または当該改良形態は、当該請求項の権利範囲に包括されると解釈される。

Ｓ 残留輝度測定システム
１、１Ａ、１Ｂ 遮光ユニット
２ 測定ユニット
３ 収集処理ユニット
４ 読取ユニット
３４ 提示部
３１１ 計時部
３１２ 迷光補正値演算部
３１３ 残留輝度演算部
３２１ 位置データ記憶部

Claims (8)

1. りん光を放射可能な蓄光部材を遮光するための遮光ユニットと、
   前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する測定ユニットと、
   前記遮光ユニットによる前記蓄光部材の遮光後に計時を行う計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が、前記測定ユニットによって測定を行うべき、所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に提示する提示部と、前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求める残留輝度演算部とを備える収集処理ユニットとを備え、
   前記遮光ユニットは、複数の前記蓄光部材をそれぞれ遮光するために複数備えられており、
   前記測定ユニットは、複数の前記遮光ユニットの各々には含まれておらず、測定時に前記遮光ユニットに装着されて測定を行うものであり、
   前記収集処理ユニットの前記計時部は、前記計時を複数の前記遮光ユニットごとに管理すること
   を特徴とする残留輝度測定システム。
2. 前記残留輝度演算部は、互いに異なるタイミングで前記測定ユニットによってそれぞれ測定された前記測定域からのりん光の強度の複数の測定結果に基づいて、遮光開始から所定の第２時間の経過後における前記測定域の前記りん光による前記残留輝度を求めること
   を特徴とする請求項１に記載の残留輝度測定システム。
3. 前記収集処理ユニットは、互いに異なるタイミングで前記測定ユニットによってそれぞれ測定された前記測定域からのりん光の強度の複数の測定結果に基づいて、前記各測定結果に含まれる、前記遮光域の外部からの迷光の強度を迷光補正値として求める迷光補正値演算部をさらに備え、
   前記残留輝度演算部は、前記迷光補正値演算部で求められた前記迷光補正値で補正された前記各測定結果に基づいて前記残留輝度を求めること
   を特徴とする請求項２に記載の残留輝度測定システム。
4. 前記複数の遮光ユニットのそれぞれは、当該遮光ユニットを特定し識別するための識別子をさらに備え、
   前記収集処理ユニットの計時部は、前記識別子によって前記計時を前記複数の遮光ユニットごとに管理すること
   を特徴とする請求項１ないし請求項３のいずれか１項に記載の残留輝度測定システム。
5. 前記遮光ユニットに備えられている前記識別子を読み取る読取ユニットをさらに備え、
   前記収集処理ユニットは、前記読取ユニットから前記識別子を受け取ること
   を特徴とする請求項４に記載の残留輝度測定システム。
6. 前記収集処理ユニットは、前記蓄光部材の配置位置を示す位置データを記憶する位置データ記憶部をさらに備え、
   前記収集処理ユニットの提示部は、前記位置データ記憶部に記憶されている位置データによって前記蓄光部材の配置位置を提示するとともに、前記蓄光部材の配置位置に対応させて、当該蓄光部材に対応する前記計時部によって計時されている経過時間を提示すること
   を特徴とする請求項５に記載の残留輝度測定システム。
7. 前記位置データは、前記蓄光部材の配置位置を示す画像データであること
   を特徴とする請求項６に記載の残留輝度測定システム。
8. りん光を放射可能な蓄光部材を遮光するための遮光ユニットと、前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を測定する測定ユニットと、前記遮光ユニットによる前記蓄光部材の遮光後に計時を行う計時部と、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に提示する提示部と、前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を求める残留輝度演算部とを備える収集処理ユニットとを備え、前記遮光ユニットは、複数の前記蓄光部材をそれぞれ遮光するために複数備えられており、前記測定ユニットは、複数の前記遮光ユニットの各々には含まれておらず、測定時に前記遮光ユニットに装着されて測定を行うものであり、前記収集処理ユニットの前記計時部は、前記計時を複数の前記遮光ユニットごとに管理する残留輝度測定システムにおける残留輝度測定方法であって、
   複数の前記遮光ユニットを複数の前記蓄光部材にそれぞれ装着する工程と、
   複数の前記遮光ユニットによって複数の前記蓄光部材を遮光した後に、複数の前記蓄光部材のそれぞれについて前記計時部によって計時を行う工程と、
   複数の前記蓄光部材のそれぞれについて、前記計時部によって計時された経過時間が所定の第１時間に達した場合に、前記所定の第１時間が経過した旨を外部に前記提示部によって提示する工程と、
   前記提示部によって前記所定の第１時間が経過した旨が提示された場合に、複数の前記遮光ユニットによって遮光された遮光域における所定の領域を測定域として前記測定域から放射されるりん光の強度を前記測定ユニットによって測定する工程と、
   前記測定ユニットによって測定された前記測定域からのりん光強度の測定結果に基づいて前記測定域の前記りん光による残留輝度を前記残留輝度測定部によって求める工程とを備えること
   を特徴とする残留輝度測定方法。
   

Images