CN1983488B - 传感器装置 - Google Patents

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Abstract

一种具有多个受光元件的多光轴光电传感器，能够比以往更加详细地把握干扰光的受光状态。处理电路(26)经由处理电路(16)将多个投光元件(11)设定为非投光状态，并从多个受光元件(21)的每一个接受相应于干扰光的受光的信号(S1)。处理电路(26)对于多个受光元件(21)中的规定数量的受光器的每一个，生成表示干扰光的受光状态的受光信息(数据DT)。通信电路(27)将数据(DT)发送到外部。个人计算机(5)显示经由通信单元(4)所接受的数据(DT)。在传感器(SNS)中，通过个人计算机(5)，例如能够显示对每个光轴的受光量。因此，操作人员能够比以往更加详细地把握干扰光的受光状态。

Description

传感器装置
技术领域
本发明涉及一种传感器装置，尤其是涉及一种多光轴光电传感器。
背景技术
通常的多光轴光电传感器具有将多个投光元件配置成一列的投光部、将与投光元件的数量相同的受光元件配置成一列的受光部。各个投光元件与受光元件以一一对应的关系相向配置。投光部与受光部通常经由通信线连接在一起，在投光部侧依次使各投光元件发光的同时，在受光部侧从与各投光元件对应的受光元件中提取以与投光元件的发光动作同步的定时所得到的受光量。由此，能够依次检测出对多光轴光电传感器的每个光轴的遮光状态。在受光部利用对各个光轴的每一个的检测结果来判断在检测区域中有无物体，并输出表示该判断结果的信号。
根据多光轴光电传感器的设置状态，即便是投光部处于非投光状态，受光部有时也会接受干扰光。干扰光会成为使传感器误动作的主要原因。例如，在制造现场中，多个多光轴光电传感器接近而设置的情况有很多。对于某一个传感器来说，从其他传感器迂回入射的光成为干扰光。
如上所述，在对于多光轴光电传感器的设置及调整中，防干扰光的对策是最为重要的。因此，用户有必要把握干扰光的入射情况。例如，在JP特开平11-260215号公报(专利文献1)中所公开的光电传感器，具有检测到干扰光时表示其状况的显示装置。设置该光电传感器的操作人员能够容易地把握向光电传感器的干扰光的入射。
专利文献1：JP特开平11-260215号公报。
在JP特开平11-260215号公报(专利文献1)中所公开的光电传感器中，操作人员无法把握至干扰光入射到多个光轴中哪一光轴上的程度。因此，在由于传感器的头部长而光轴数量多的情况下、或在传感器的设置台数多的情况下等，操作人员需要很多的时间来用于确定干扰光的发生源。
发明内容
本发明的目的在于提供一种具有多个受光元件的多光轴光电传感器，能够比以往更加详细地把握干扰光的受光状态。
简单来说，本发明是一种传感器装置，其具有投光部、受光部、处理部、发送部。投光部具有多个投光器。受光部具有与多个投光器对应而分别设置的多个受光器。处理部将多个投光器设定为非投光状态，从多个受光器的每一个接受相应于干扰光的受光的第一信号，并对于多个受光器中的规定数量的受光器的每一个，基于第一信号来生成表示干扰光的受光状态的受光信息。发送部将受光信息发送到外部。
优选地，传感器装置还具有显示装置，该显示装置显示从发送部所接受的受光信息。
更优选地，传感器装置还具有通信部，该通信部在发送部与显示装置之间传递受光信息。
若按照本发明的其他形态，则本发明是一种传感器装置，其具有投光部、受光部、处理部、显示装置。投光部具有多个投光器。受光部具有与多个投光器对应而分别设置的多个受光器。处理部将多个投光器设定为非投光状态，从多个受光器的每一个接受相应于干扰光的受光的第一信号，并对于多个受光器中的规定数量的受光器的每一个，基于第一信号来生成表示干扰光的受光状态的受光信息。显示装置设置在受光部或投光部的至少一方，显示受光信息。
优选地，上述任一显示装置将干扰光的受光量作为受光信息而进行显示。
更优选地，上述任一显示装置还将干扰光的受光量的过去的最大值作为受光信息而进行显示。当干扰光的受光量超过过去的最大值时，显示装置将过去的最大值更新为干扰光的受光量并进行显示。
更优选地，上述任一显示装置还将用于判断干扰光的受光等级的判断值作为受光信息而进行显示。
优选地，上述任一显示装置还将于扰光的受光量与用于判断干扰光的受光等级的判断值之差作为受光信息而进行显示。
优选地，上述任一显示装置还将干扰光的受光量与用于判断干扰光的受光等级的判断值之比作为受光信息而进行显示。
优选地，处理部进而将多个投光器设定为投光状态，从多个受光器的每一个接受相应于信号光的受光的第二信号，并基于第一及第二信号来生成受光信息。
更优选地，上述任一显示装置将干扰光的受光量与信号光的受光量作为受光信息而进行显示。
更优选地，上述任一显示装置将干扰光的受光量与信号光的受光量之差作为受光信息而进行显示。
更优选地，上述任一显示装置将干扰光的受光量与信号光的受光量之比作为受光信息而进行显示。
优选地，上述任一显示装置将干扰光的受光量到达多个阶段中的哪一个阶段的情况作为受光信息而进行显示。
更优选地，规定数量为1。
更优选地，上述任一显示装置将从受光部的一侧端到多个受光元件的每一个为止的距离与受光信息建立对应而对受光信息进行显示。
更优选地，规定数量为2以上的整数。
优选地，设置在受光部或投光部的显示装置是将多个受光器中的、干扰光的受光量超过规定值的受光器的位置作为受光信息而进行发光显示的发光装置。
本发明是一种传感器装置，其具有：投光部，其具有多个投光器；受光部，其具有多个受光器，多个受光器中的每一个受光器对应于上述多个投光器中的每一个投光器，每一个受光器和与其对应的投光器具有一个光轴；处理部，其在通常模式下，依次使每一个投光器发光，以与每一个投光器的发光操作同步的定时从多个受光器中的每一个接受相应于受光的受光信号，并判断每一个光轴是否在遮光状态或独立于受光信号；上述处理部在干扰光计测模式下，将上述多个投光器设定为非投光状态，从上述多个受光器的每一个接受相应于干扰光的受光的第一信号，并对于上述多个受光器中的规定数量的受光器的每一个，基于上述第一信号来生成表示上述干扰光的受光状态的受光信息，由此识别多个光轴中的有干扰光入射的光轴；发送部，其用于将上述受光信息发送到外部。
本发明是一种传感器装置，其具有：投光部，其具有多个投光器；受光部，其具有多个受光器，多个受光器中的每一个受光器对应于上述多个投光器中的每一个投光器，每一个受光器和与其对应的投光器具有一个光轴；处理部，其在通常模式下，依次使每一个投光器发光，以与每一个投光器的发光操作同步的定时从多个受光器中的每一个接受相应于受光的受光信号，并判断每一个光轴是否在遮光状态或独立于受光信号；上述处理部在干扰光计测模式下，将上述多个投光器设定为非投光状态，从上述多个受光器的每一个接受相应于干扰光的受光的第一信号，并对于上述多个受光器中的规定数量的受光器的每一个，基于上述第一信号来生成表示上述干扰光的受光状态的受光信息，由此识别多个光轴中的有干扰光入射的光轴；显示装置，其设置在上述受光部或上述投光部的至少一方，显示上述受光信息。
若根据本发明，则在具有多个受光元件的多光轴光电传感器中，能够比以往更加详细地把握干扰光的受光状态。
附图说明
图1是表示第一实施方式的传感器装置的结构例的外观图。
图2是表示图1的传感器SNS的结构的方框图。
图3是表示图2的个人计算机5的结构的图。
图4是示意性地表示在传感器SNS中所设定的动作模式与各模式之间的关系的图。
图5是说明在图4的通常模式中的处理的流程图。
图6是说明在图4的保守模式中的处理的流程图。
图7是说明在图4的干扰光计测模式中的处理的流程图。
图8是详细说明在干扰光计测模式中的处理的流程图。
图9是表示画面显示的一个例子的图。
图10是表示画面显示的另外一个例子的图。
图11是表示画面显示的其他另外一个例子的图。
图12是表示画面显示的其他另外一个例子的图。
图13是表示画面显示的其他另外一个例子的图。
图14是表示画面显示的其他另外一个例子的图。
图15是表示画面显示的其他另外一个例子的图。
图16是表示画面显示的其他另外一个例子的图。
图17是表示画面显示的其他另外一个例子的图。
图18是表示第二实施方式的传感器装置的结构的图。
图19是表示图18的显示装置5A中的显示例的图。
图20是表示第三实施方式的传感器装置的结构的图。
具体实施方式
下面，对于本发明的实施方式，参照附图进行详细说明。此外，附图中的相同附图标记表示相同或相当的部分。
[第一实施方式]
图1是表示第一实施方式的传感器装置的结构例的外观图。
如图1所示，传感器SNS具有投光传感头1、受光传感头2、通信单元4以及个人计算机5。
传感器SNS例如是用于安全光栅的多光轴光电传感器。传感器SNS具有由通信用电缆101将投光传感头1与受光传感头2连接在一起的结构。在通信用电缆101，经由分支连接器102及专用软线3而连接有通信单元4。通信单元4连接在个人计算机5。
图2是表示图1的传感器SNS的结构的方框图。
如图2所示，投光传感头1具有多个投光元件11。投光传感头还包括分别对各投光元件11单独地进行驱动的驱动电路12、光轴依次选择电路13、处理电路16、通信电路17、以及电源电路18。
受光传感头2具有与多个投光元件11对应而分别设置的多个受光元件21。受光传感头2还包括与各受光元件21对应地设置的放大器22以及开关23、光轴依次选择电路25、处理电路26、向处理电路26输入用的放大器24、通信电路27、以及电源电路28。
处理电路16、26由具备CPU及存储器的微型电子计算机等构成。通信电路17、27是RS485标准的通信接口，控制在投光传感头1与受光传感头2之间的信号的互换。
光轴依次选择电路13依次将各投光元件11的驱动电路12连接到处理电路16。光轴依次选择电路25依次将与各受光元件21对应的放大器22以及开关23连接到处理电路26。
电源电路18、28从共用的外部电源15(直流电源)接受电源的提供，分别向投光传感头1和受光传感头2供给电源。
分支连接器102将投光传感头1与受光传感头2之间的通信线及电源线分支。在专用软线3中容纳有分支了的通信线和电源线。在专用软线3连接着通信单元4。通信单元4连接在个人计算机(在图2中表示为PC)5。
通信单元4包括微型电子计算机(在图2中表示为微机)36、通信电路37、电源电路38、通信转换器34。通信电路37是RS485标准的接口。电源电路38发挥如下功能：经由分支连接器102从外部电源15引入电源而供给给通信单元4内的各个部分。通信转换器34对RS485标准的信号进行串行转换，并例如作为RS232或USB(Universal Serial Bus：通用串行总线)等标准的信号来输出。
处理电路26经由处理电路16将多个投光元件11设定成非投光状态，从多个受光元件21的每一个接受相应于干扰光的受光的信号S1。处理电路26对于多个受光元件21中的规定数量的受光器的每一个生成表示干扰光的受光状态的受光信息(数据DT)。通信电路27将数据DT发送到外部。通信单元4在通信电路27与个人计算机5之间传递数据DT。个人计算机5显示经由通信单元4所接受的数据DT。在以往的光电传感器中，操作人员只能把握干扰光是否入射了。利用传感器SNS，通过个人计算机5，能够显示例如每个光轴的受光量。从而，与以往相比，操作人员能够更加详细地把握干扰光的受光状态。
当操作人员已经把握了入射到特定的光轴的干扰光很强时，能够大致确定干扰光的入射方向。从而，与以往相比能够缩短确定干扰光的发生原因所需的时间。
此外，作为显示数据DT的显示装置，也可以取代图2所示的个人计算机5而将专用控制台(Console)连接在通信单元4上。
图3是表示图2的个人计算机5的结构的图。
如图3所示，个人计算机5包括用于控制整体的控制部51、用于输入数据的输入部55、用于临时存储数据的存储部53、用于输出数据的显示部57、用于非易失性地存储用于在控制部51执行的程序等的外部存储装置59。
控制部51包括CPU、用于存储在该CPU执行的程序的读取专用存储器(ROM)、和用于存储在CPU执行程序时所需的变量等的随机存取存储器(RAM)。
输入部55为键盘或鼠标等，能够进行文字或数字的输入、或规定的指示命令的输入。另外，输入部55接受从通信单元4传送来的数据DT。
存储部53临时存储对传感器SNS的设定所需的各种数据等。
显示部57为液晶显示装置等显示器，其按照控制部51的指示来显示表示干扰光的受光状态的信息。
外部存储装置59读入被记录在计算机可读取的存储介质61中的程序或数据，并发送到控制部51。作为计算机可读取的存储介质61为磁带或盒式磁带等磁带类、磁盘(软盘、硬盘装置等)或光盘(CD-ROM/MO/MD/DVD等)等的盘片类、IC卡(包括存储卡)或光卡等卡类、或掩模型ROM、EPROM、闪存器等半导体存储器等固定地装载程序的介质。此外，也可以将程序从网络(未图示)下载。控制部51由外部存储装置59读取记录在存储介质61的程序，由此能够执行所读取的程序。
另外，在本实施方式中，通过利用显示部57的画面显示而将数据DT向外部输出，但是，可以将数据DT输出到外部存储装置59或存储介质61，也可以通过印刷装置而对数据DT进行打印。
图4是示意性地表示在传感器SNS设定的动作模式与各模式之间的关系的图。
如图4所示，传感器SNS中存在三个动作模式：通常模式、保守模式、干扰光计测模式。其中的通常模式是用于进行通常的物体检测处理的模式。保守模式是虽传感器SNS进行投光及受光、但不输出检测结果的模式。干扰光计测模式是用于计测入射到传感器SNS的光轴的干扰光的模式。
在传感器SNS，在刚起动电源之后设定为通常模式，若从个人计算机5下达向保守模式转移的命令，则切换到保守模式。进而，在保守模式中，若从个人计算机5下达向干扰光计测模式转移的命令，则切换到干扰光计测模式。在干扰光计测模式中，若接受到来自个人计算机5的干扰光计测模式结束命令，则传感器SNS结束干扰光计测模式而返回到保守模式。另外，在保守模式中，若重新开启电源，则动作模式返回到通常模式。
图5是说明在图4的通常模式中的处理的流程图。
如图5所示，一开始处理，则在步骤S1中，在投光传感头1与受光传感头2之间进行投受光处理。
在投受光处理中，图2的处理电路16为了生成信号光而每隔规定的时间就产生定时信号，并将该信号提供给光轴依次选择电路13。光轴依次选择电路13将与各投光元件11对应的驱动电路12依次连接于处理电路16。由此，来自处理电路16的定时信号依次被提供给各驱动电路12，而实现各投光元件11的依次发光动作。进而，定时信号经由通信电路17、27也提供到受光传感头2侧的处理电路26。
在受光传感头2中，来自各受光元件21的受光输出(图2中的信号S2)经由放大器22以及开关23被发送到处理电路26。处理电路26将来自投光传感头1的定时信号发送到光轴依次选择电路25，而使各光轴的开关23依次进行接通动作，从而读入来自与发出信号光的投光元件11对应的受光元件21的受光输出的同时，将各受光输出分别与规定的阈值相比较，从而判断各光轴是否处于遮光状态。若结束对所有的光轴的受光输出的读入，则处理电路26汇总对每个光轴的判断结果而进行最终的判断处理，从而生成表示该判断结果的物体检测信号，并经由未图示的输出电路将其向外部输出。
在接下来的步骤S2中，受光传感头2的处理电路26确认从图4的控制部51是否下达了向保守模式转移的命令。此外，若控制部51检测到通信单元4已连接在传感器SNS，则对传感器SNS发送转移命令。
接着，在步骤S3中，若已经下达了转移命令(在步骤S3中为“是”)，则处理电路26将动作模式转移到保守模式。若没有下达转移命令(在步骤S3中为“否”)，则处理电路26重新在步骤S1进行投受光处理。
图6是说明在图4的保守模式中的处理的流程图。
如图6所示，一开始处理，则在步骤S11中进行投受光处理。但是，在该投受光处理中不输出物体检测信号。接着，在步骤S12中，处理电路26确认从控制部51是否已下达向干扰光计测模式转移的命令。该转移命令是相应于计测用软件的起动而从控制部51向传感器SNS提供的。
在步骤S13中，若已经下达了转移命令(在步骤S13中为“是”)，则处理电路26将动作模式转移到干扰光计测模式。若没有下达转移命令(在步骤S13中为“否”)，则处理电路26重新在步骤S11进行投受光处理。
图7是说明在图4的干扰光计测模式中的处理的流程图。
如图7所示，一开始处理，则在步骤S21中，处理电路26停止投受光处理。接着，在步骤S22中，处理电路26进行后述的干扰光计测处理。在步骤S23中，处理电路26判断从控制部51是否发送了干扰光计测模式结束命令。若已发送了干扰光计测模式结束命令(在步骤S23中为“是”)，则处理电路26将动作模式转移到保守模式。另一方面，若没有发送干扰光计测模式结束命令(在步骤S23中为“否”)，则处理重新返回到步骤S22。
图8是详细说明在干扰光计测模式中的处理的流程图。
如图8所示，在步骤S31中，在控制部51上计测软件起动，从而开始处理。
接着，在步骤S32中判断传感器SNS是否处于保守模式。若传感器SNS的动作模式为保守模式(在步骤S32中为“是”)，则处理进入到步骤S33。若传感器SNS的动作模式为保守模式以外的模式(在步骤S32中为“否”)，则计测用软件结束。
在步骤S33中，传感器SNS转移到保守状态。在步骤S34中，处理电路26判断干扰光计测命令是否已从个人计算机5发送出来了。若已发送了干扰光计测命令(在步骤S34中为“是”)，则处理进入到步骤S35。若没有发送干扰光计测命令(在步骤S34中为“否”)，则处理重新返回到步骤S33。
在步骤S35中，处理电路26将动作模式转移到干扰光计测模式。接着，在步骤S36中，处理电路26对所有光轴取得干扰光的受光量。该处理与上述投受光处理相同，但在投光元件11被设定为非投光状态这一点上与其不同。处理电路26根据信号S1或信号S1、S2来生成数据DT。数据DT通过通信单元4而被发送到个人计算机5。
在步骤S37中，控制部51基于取得了的数据DT来进行更新在显示部57上的显示的处理。在步骤38中，处理电路26判断干扰光计测模式结束命令是否已从个人计算机发送出来了。若已发送了干扰光计测模式结束命令(在步骤S38中为“是”)，则在步骤39中，处理电路26将动作模式转移到保守模式。若动作模式转移到保守模式，则整体的处理结束。另一方面，在步骤S38中，若没有发送干扰光计测模式结束命令(在步骤S38中为“否”)，则处理重新返回到步骤S36。
接着，说明通过步骤S37的显示更新处理而在显示部57(显示画面)上显示的数据DT的例子。
(画面显示例)
图9是表示画面显示的一个例子的图。
如图9所示，图表的横轴表示赋予给多个受光元件21的光轴编号，纵轴表示与光轴编号对应的干扰光的受光量。操作人员参照图9的图表，能够知道干扰光对哪一个光轴入射得最多。
另外，棒(Bar)PH表示对某一光轴编号的受光量的过去的最大值。操作人员即使不总是监视画面，也能够把握在某一期间内的受光量的最大值。当受光量超过过去的最大值时，棒PH以表示该受光量的方式被更新显示。此外，在图9中只表示了一个棒PH，但也能够对各光轴同时进行显示。
进而，在图表上重叠地显示用于判断干扰光的受光等级的判断值(图9中的规定值)。规定值表示例如若受光量为该规定值以下，则当来自投光元件的光被遮挡时，传感器能够正确动作的干扰光的光量。也就是说，规定值表示作为噪声而可容许的干扰光的光量。此外，该规定值也可以根据用户的指定而能够适当变更。
图10是表示画面显示的另外例子的图。
如图10所示，作为受光信息，将干扰光的受光量及规定值之差与光轴编号建立对应而进行显示。在图10中，干扰光自身没有被显示。但是，操作人员通过参照图10的图表，能够容易地把握超过规定值的量的干扰光入射的光轴。
图11是表示画面显示的其它另外的例子的图。
如图11所示，作为受光信息，将干扰光的光量及规定值的比率(干扰光的光量/规定值)与光轴编号建立对应而进行显示。与图10同样，操作人员能够容易地把握超过规定值的量的干扰光入射的光轴。
图12是表示画面显示的其它另外的例子的图。
如图12所示，与光轴编号对应而重叠地显示信号光的受光量与干扰光的受光量。操作人员通过参照图12的图表，能够把握比信号光更强的干扰光入射到哪一个光轴。此外，信号光的受光量是在例如图7的步骤S21中的投受光停止处理的之前由处理电路26测定的。
图13是表示画面显示的其它另外的例子的图。
如图13所示，作为受光信息，将干扰光的受光量和信号光的受光量之差(从干扰光减去信号光的结果)与光轴编号建立对应而进行显示。操作人员通过参照图13的图表，能够容易地把握比信号光更强的干扰光入射的光轴。
图14是表示画面显示的其它另外的例子的图。
如图14所示，作为受光信息，将干扰光的受光量及信号光的受光量的比率(干扰光/信号光)与光轴编号建立对应而进行显示。与图13同样，操作人员能够容易地把握比信号光更强的干扰光入射的光轴。
图15是表示画面显示的其它另外的例子的图。
如图15所示，作为受光信息，显示干扰光的受光量到达多个阶段(等级0～等级3)中的哪一个阶段。通过干扰光的强度被表示成四阶段的等级中的其中之一，操作人员参照图15能够大致把握强干扰光入射的光轴。此外，在图10～图14的各图表中，也可以对受光信息进行等级显示。
图16是表示画面显示的其它另外的例子的图。
如图16所示，显示有表示各光轴的编号的“受光编号”、表示从受光传感头2的一侧端到各受光元件为止的距离的“传感器长度”、表示对各受光编号的受光量的“受光等级”、相应于受光量的棒形图。通过这样将传感器长度与受光信息建立对应而进行显示，在光轴数量多(例如，100左右)时，操作人员能够容易地把握在受光传感头2上干扰光入射的位置。
如上所述，图9～图16是表示各受光元件的受光信息的例子。即，图9～图16为：在对多个受光元件中的规定数量的受光元件的每一个表示受光信息的情况下，规定数量被设定为1的例子。但是，规定数量也可以是2以上的整数。
图17是表示画面显示的其它另外的例子的图。
如图17所示，表示在图表的横轴上的Gr.1～Gr.4表示：例如，对于由每五个受光元件组成的组而依次赋予的标识符(组编号)。图表的纵轴表示属于各组的受光元件所接受的干扰光的受光量的合计。另外，在图17中，棒PH表示某一组(在图17中为组Gr.2)的受光量的合计的最大值。
操作人员通过参照图17的图表，能够大致把握强干扰光入射的位置。此外，与图15同样，也可以对受光信息进行等级显示。
另外，在图1的个人计算机5的画面上，也可以将图9～图17的图表依次或一次性地显示。
如上所述，若根据第一实施方式，则在多光轴光电传感器中，能够知道干扰光入射到哪一个受光元件(或者，哪一个范围的受光元件)。因此，用户能够把握哪一个光轴正受到干扰光的影响，从而能够定量地实施防止干扰光的对策。
[第二实施方式]
在第二实施方式中，显示装置内置于多光轴光电传感器中。
图18是表示第二实施方式的传感器装置的结构的图。
如图18所示，传感器SNS1在如下几点上与图2的传感器SNS不同：还具有显示装置5A；以及不具有专用软线3、通信单元4、以及个人计算机5。由于传感器SNS1的其它部分与传感器SNS相同，因此以后不再重复进行说明。此外，在图18中，显示装置5A被设置在受光传感头2，但也可以设置在投光传感头1，还可以设置在双方。
图19是表示在图18的显示装置5A上的显示例的图。
如图19所示，显示装置5A根据处理电路26的指示而进行显示。另外，显示装置5A从通信电路27取得数据DT。显示装置5A包括发光显示光轴编号(在图19的例子中为123)的显示窗5A1、作为数值而发光显示受光信息的显示窗5A2。
此外，显示窗5A1也可以显示上述传感器长度或组编号。另外，在图19的例子中，显示窗5A2表示比率(干扰光/信号光)为683％。但并不仅限定于该例子，在显示窗5A2上，作为受光信息也可以显示图9～图17的各图表的纵轴的值。
就这样，若根据第二实施方式，则即使没有将个人计算机外设在传感器上，操作人员也能够容易地把握传感器中干扰光的受光状态。因此，若根据第二实施方式，则可提高用户的便利性。
[第三实施方式]
在第三实施方式中，虽在显示装置被组装在多光轴光电传感器中这一点上与第二实施方式同样，但显示方式与第二实施方式不同。
图20表示第三实施方式的传感器装置的结构的图。
如图20所示，传感器SNS2在投光传感头1及受光传感头2分别具有发光显示部5B、5C这一点上，与图18的传感器SNS1不同。由于传感器SNS2的其它部分的结构与传感器SNS1相同，因此以后不在重复进行说明。此外，也可以将发光显示部只设置在投光传感头1以及受光传感头2中的任意一方。
发光显示部5B、5C分别包括与由每规定数量(例如五个)的受光元件所组合的组的数目同样数目的LED(Light Emitting Diode：发光二极管)。例如，在某一组中的干扰光的受光量超过规定值时，根据经由通信电路27从处理电路26所接受的发光信息，与该组对应的LED发光。由此，操作人员能够把握强干扰光只入射到受光传感头2的某一范围内，因此可容易确定干扰光的发生原因。此外，也可以适当地变更例如在干扰光比信号光更强的情况下处理电路26使LED发光等、在处理电路26中判断是否使LED发光的基准。
另外，通过只具有组的数目的LED，而能够减少LED元件的数目，但是，发光显示部5B、5C也可以包括与光轴相同数量的LED。
如上所述，若根据第三实施方式，则与第二实施方式同样，即使没有将个人计算机外设在传感器上，操作人员也能够容易地把握传感器中干扰光的受光状态。因此，若根据第三实施方式，则可提高用户的便利性。
这次所公开的实施方式在所有方面仅为示例，而不可视为限定。本发明的范围不是通过上述说明、而是通过权利要求书的技术方案来示出，而包括与权利要求书的技术方案的范围均等的意思以及该范围内的所有变更。

Claims (31)

1.一种传感器装置，其特征在于，具有：
投光部，其具有多个投光器；
受光部，其具有多个受光器，多个受光器中的每一个受光器对应于上述多个投光器中的每一个投光器，每一个受光器和与其对应的投光器具有一个光轴；
处理部，其在通常模式下，依次使每一个投光器发光，以与每一个投光器的发光操作同步的定时从多个受光器中的每一个接受相应于受光的受光信号，并判断每一个光轴是否在遮光状态或独立于受光信号；上述处理部在干扰光计测模式下，将上述多个投光器设定为非投光状态，从上述多个受光器的每一个接受相应于干扰光的受光的第一信号，并对于上述多个受光器中的规定数量的受光器的每一个，基于上述第一信号来生成表示上述干扰光的受光状态的受光信息，由此识别多个光轴中的有干扰光入射的光轴；
发送部，其用于将上述受光信息发送到外部。
2.根据权利要求1所述的传感器装置，其特征在于，还具有显示装置，该显示装置显示从上述发送部所接受的上述受光信息。
3.根据权利要求2所述的传感器装置，其特征在于，还具有通信部，该通信部在上述发送部与上述显示装置之间传递上述受光信息。
4.根据权利要求2所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量作为上述受光信息而进行显示。
5.根据权利要求4所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置还将上述干扰光的受光量的过去的最大值作为上述受光信息而进行显示，并且，当上述干扰光的受光量超过上述过去的最大值时，将上述过去的最大值更新为上述干扰光的受光量并进行显示。
6.根据权利要求4所述的传感器装置，其特征在于，
上述显示装置还将用于判断上述干扰光的受光等级的判断值作为上述受光信息而进行显示。
7.根据权利要求2所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与用于判断上述干扰光的受光等级的判断值之差作为上述受光信息而进行显示。
8.根据权利要求2所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与用于判断上述干扰光的受光等级的判断值之比作为上述受光信息而进行显示。
9.根据权利要求2所述的传感器装置，其特征在于，上述处理部进而将上述多个投光器设定为投光状态，从上述多个受光器的每一个接受相应于信号光的受光的第二信号，并基于上述第一及第二信号来生成上述受光信息。
10.根据权利要求9所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与上述信号光的受光量作为上述受光信息而进行显示。
11.根据权利要求9所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与上述信号光的受光量之差作为上述受光信息而进行显示。
12.根据权利要求9所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与上述信号光的受光量之比作为上述受光信息而进行显示。
13.根据权利要求2所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量到达多个阶段中的哪一个阶段的情况作为上述受光信息而进行显示。
14.根据权利要求4～13中任一项所述的传感器装置，其特征在于，上述规定数量为1。
15.根据权利要求14所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将从上述受光部的一侧端到上述多个受光器的每一个为止的距离与上述受光信息建立对应而对上述受光信息进行显示。
16.根据权利要求4～13中任一项所述的传感器装置，其特征在于，上述规定数量为2以上的整数。
17.一种传感器装置，其特征在于，具有：
投光部，其具有多个投光器；
受光部，其具有多个受光器，多个受光器中的每一个受光器对应于上述多个投光器中的每一个投光器，每一个受光器和与其对应的投光器具有一个光轴；
处理部，其在通常模式下，依次使每一个投光器发光，以与每一个投光器的发光操作同步的定时从多个受光器中的每一个接受相应于受光的受光信号，并判断每一个光轴是否在遮光状态或独立于受光信号；上述处理部在干扰光计测模式下，将上述多个投光器设定为非投光状态，从上述多个受光器的每一个接受相应于干扰光的受光的第一信号，并对于上述多个受光器中的规定数量的受光器的每一个，基于上述第一信号来生成表示上述干扰光的受光状态的受光信息，由此识别多个光轴中的有干扰光入射的光轴；
显示装置，其设置在上述受光部或上述投光部的至少一方，显示上述受光信息。
18.根据权利要求17所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量作为上述受光信息而进行显示。
19.根据权利要求18所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置还将上述干扰光的受光量的过去的最大值作为上述受光信息而进行显示，并且，当上述干扰光的受光量超过上述过去的最大值时，将上述过去的最大值更新为上述干扰光的受光量并进行显示。
20.根据权利要求18所述的传感器装置，其特征在于，
上述显示装置还将用于判断上述干扰光的受光等级的判断值作为上述受光信息而进行显示。
21.根据权利要求17所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与用于判断上述干扰光的受光等级的判断值之差作为上述受光信息而进行显示。
22.根据权利要求17所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与用于判断上述干扰光的受光等级的判断值之比作为上述受光信息而进行显示。
23.根据权利要求17所述的传感器装置，其特征在于，上述处理部进而将上述多个投光器设定为投光状态，从上述多个受光器的每一个接受相应于信号光的受光的第二信号，并基于上述第一及第二信号来生成上述受光信息。
24.根据权利要求23所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与上述信号光的受光量作为上述受光信息而进行显示。
25.根据权利要求23所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与上述信号光的受光量之差作为上述受光信息而进行显示。
26.根据权利要求23所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量与上述信号光的受光量之比作为上述受光信息而进行显示。
27.根据权利要求17所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将上述干扰光的受光量到达多个阶段中的哪一个阶段的情况作为上述受光信息而进行显示。
28.根据权利要求18～27中任一项所述的传感器装置，其特征在于，上述规定数量为1。
29.根据权利要求28所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置将从上述受光部的一侧端到上述多个受光器的每一个为止的距离与上述受光信息建立对应而对上述受光信息进行显示。
30.根据权利要求18～27中任一项所述的传感器装置，其特征在于，上述规定数量为2以上的整数。
31.根据权利要求17所述的传感器装置，其特征在于，上述显示装置是将上述多个受光器中的上述干扰光的受光量超过规定值的受光器的位置作为上述受光信息而发光显示的发光装置。
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