JP5345326B2 - Flat panel display - Google Patents

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JP5345326B2 JP2008006808A JP2008006808A JP5345326B2 JP 5345326 B2 JP5345326 B2 JP 5345326B2 JP 2008006808 A JP2008006808 A JP 2008006808A JP 2008006808 A JP2008006808 A JP 2008006808A JP 5345326 B2 JP5345326 B2 JP 5345326B2
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a planar display device configured and composed to bring the bottom surface of a spacer into uniform contact with an electrode to induce no generation of thermorunaway in the spacer. <P>SOLUTION: In the planar display device, a cathode panel having electron emission areas arrayed in a two-dimensional matrix on a supporter and an anode panel having a phosphor area and an anode electrode are joined together via their outer peripheral parts. A space interposed between the cathode panel and the anode panel is held in vacuum. A spacer 40 is disposed between the cathode panel and the anode panel. Pairs of spacer holding parts 50A, 50B are provided in an effective area functioning as a display part of the anode panel. The distance between the pair of spacer holding parts 50A holding an end area 40A of the spacer 40 is narrower than the distance between the pair of spacer holding parts 50B holding a central part 40B of the spacer 40. <P>COPYRIGHT: (C)2009,JPO&amp;INPIT

Description

本発明は、例えば冷陰極電界電子放出表示装置といった平面型表示装置に関する。   The present invention relates to a flat display device such as a cold cathode field emission display.

現在主流の陰極線管(CRT)に代わる画像表示装置として、平面型(フラットパネル形式)の表示装置が種々検討されている。このような平面型の表示装置として、液晶表示装置(LCD)、エレクトロルミネッセンス表示装置(ELD)、プラズマ表示装置(PDP)を例示することができる。また、電子放出素子を備えたカソードパネルを組み込んだ平面型表示装置の開発も進められている。ここで、電子放出素子として、冷陰極電界電子放出素子、金属/絶縁膜/金属型素子(MIM素子とも呼ばれる)、表面伝導型電子放出素子が知られており、これらの冷陰極電子源から構成された電子放出素子を備えたカソードパネルを組み込んだ平面型表示装置は、高解像度、高速応答性、高輝度のカラー表示、及び、低消費電力の観点から注目を集めている。   As an image display device that can replace the mainstream cathode ray tube (CRT), various types of flat display devices have been studied. Examples of such a flat display device include a liquid crystal display device (LCD), an electroluminescence display device (ELD), and a plasma display device (PDP). In addition, development of a flat display device incorporating a cathode panel equipped with an electron-emitting device is also in progress. Here, as the electron-emitting device, a cold cathode field electron-emitting device, a metal / insulating film / metal-type device (also called MIM device), and a surface conduction electron-emitting device are known. A flat display device incorporating a cathode panel provided with the electron-emitting device is attracting attention from the viewpoint of high resolution, high-speed response, high-luminance color display, and low power consumption.

電子放出素子としての冷陰極電界電子放出素子を組み込んだ平面型表示装置である冷陰極電界電子放出表示装置(以下、表示装置と略称する場合がある)は、一般に、複数の冷陰極電界電子放出素子(以下、電界放出素子と略称する場合がある)を備えたカソードパネルCPと、電界放出素子から放出された電子との衝突により励起されて発光する蛍光体領域を有するアノードパネルAPとが、高真空に維持された空間を介して対向配置され、カソードパネルCPとアノードパネルAPとが周縁部において接合部材を介して接合された構成を有する。ここで、カソードパネルCPは、2次元マトリクス状に配列された各サブピクセルに対応した電子放出領域を有し、各電子放出領域には、1又は複数の電界放出素子が設けられている。電界放出素子として、スピント型、扁平型、エッジ型、平面型等を挙げることができる。   A cold cathode field emission display device (hereinafter sometimes abbreviated as a display device), which is a flat display device incorporating a cold cathode field electron emission device as an electron emission device, generally has a plurality of cold cathode field electron emission. A cathode panel CP provided with an element (hereinafter sometimes abbreviated as a field emission element) and an anode panel AP having a phosphor region that emits light when excited by collision with electrons emitted from the field emission element; The cathode panel CP and the anode panel AP are arranged to face each other through a space maintained in a high vacuum, and are joined to each other at a peripheral portion via a joining member. Here, the cathode panel CP has electron emission regions corresponding to the sub-pixels arranged in a two-dimensional matrix, and each electron emission region is provided with one or a plurality of field emission elements. Examples of field emission devices include Spindt type, flat type, edge type, and planar type.

一例として、スピント型電界放出素子を有する代表的な表示装置の模式的な一部端面図を図8に示し、カソードパネルCP及びアノードパネルAPを分解したときのカソードパネルCPとアノードパネルAPの一部分の模式的な分解斜視図を図9に示す。この表示装置を構成するスピント型電界放出素子は、支持体10に形成されたカソード電極11と、支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層12と、絶縁層12上に形成されたゲート電極13と、ゲート電極13及び絶縁層12に設けられた開口部14(ゲート電極13に設けられた第1開口部14A、及び、絶縁層12に設けられた第2開口部14B)と、開口部14の底部に位置するカソード電極11上に形成された円錐形の電子放出部15から構成されている。また、絶縁層12上には層間絶縁層16が形成されており、層間絶縁層16上には収束電極17が形成されている。   As an example, a schematic partial end view of a typical display device having a Spindt-type field emission device is shown in FIG. 8, and the cathode panel CP and a part of the anode panel AP when the cathode panel CP and the anode panel AP are disassembled are shown in FIG. FIG. 9 shows a schematic exploded perspective view. The Spindt-type field emission device constituting this display device was formed on the cathode 10 formed on the support 10, the insulating layer 12 formed on the support 10 and the cathode 11, and the insulating layer 12. A gate electrode 13 and an opening 14 provided in the gate electrode 13 and the insulating layer 12 (a first opening 14A provided in the gate electrode 13 and a second opening 14B provided in the insulating layer 12); It is composed of a conical electron emission portion 15 formed on the cathode electrode 11 located at the bottom of the opening 14. An interlayer insulating layer 16 is formed on the insulating layer 12, and a focusing electrode 17 is formed on the interlayer insulating layer 16.

この表示装置において、カソード電極11は列方向(Y方向)に延びる帯状であり、ゲート電極13は、Y方向とは異なる行方向(X方向)に延びる帯状である。一般に、カソード電極11とゲート電極13とは、これらの両電極11,13の射影像が互いに直交する方向に形成されている。帯状のカソード電極11と帯状のゲート電極13とが重複する重複領域が、電子放出領域EAであり、1サブピクセルに相当する。そして、係る電子放出領域EAが、カソードパネルCPの有効領域EF(平面型表示装置としての実用上の機能である表示機能を果たす中央の表示領域であり、無効領域NFが、この有効領域EFの外側に位置し、有効領域EFを額縁状に包囲している)内に、通常、2次元マトリクス状に配列されている。   In this display device, the cathode electrode 11 has a strip shape extending in the column direction (Y direction), and the gate electrode 13 has a strip shape extending in a row direction (X direction) different from the Y direction. In general, the cathode electrode 11 and the gate electrode 13 are formed in directions in which the projected images of both the electrodes 11 and 13 are orthogonal to each other. An overlapping region where the strip-shaped cathode electrode 11 and the strip-shaped gate electrode 13 overlap is an electron emission region EA, which corresponds to one subpixel. The electron emission area EA is an effective area EF of the cathode panel CP (a central display area that performs a display function, which is a practical function as a flat display device), and the invalid area NF corresponds to the effective area EF. They are usually arranged in a two-dimensional matrix within the outer area and surrounding the effective area EF in a frame shape.

一方、アノードパネルAPは、基板20上に所定のパターンを有する蛍光体領域22(具体的には、赤色発光蛍光体領域22R、緑色発光蛍光体領域22G、及び、青色発光蛍光体領域22B)が形成され、蛍光体領域22がアノード電極24で覆われた構造を有する。尚、これらの蛍光体領域22の間は、カーボン等の光吸収性材料から成る光吸収層(ブラックマトリックス)23で埋め込まれており、表示画像の色濁り、光学的クロストークの発生を防止している。また、1サブピクセルを構成する蛍光体領域22のそれぞれは隔壁21によって囲まれており、隔壁21の平面形状は格子形状(井桁形状)である。尚、図中、参照番号40は行方向(X方向)に延びるスペーサを表し、参照番号150はスペーサ保持部を表し、参照番号25は接合部材を表す。但し、図8においては、スペーサ保持部を参照番号50,60,70で示す。また、図9においては、隔壁やスペーサの図示を省略した。   On the other hand, the anode panel AP has phosphor regions 22 having a predetermined pattern on the substrate 20 (specifically, a red light-emitting phosphor region 22R, a green light-emitting phosphor region 22G, and a blue light-emitting phosphor region 22B). The phosphor region 22 is formed and covered with the anode electrode 24. In addition, a space between these phosphor regions 22 is embedded with a light absorbing layer (black matrix) 23 made of a light absorbing material such as carbon to prevent the occurrence of color turbidity and optical crosstalk in the display image. ing. In addition, each of the phosphor regions 22 constituting one subpixel is surrounded by a partition wall 21, and the planar shape of the partition wall 21 is a lattice shape (cross-beam shape). In the figure, reference numeral 40 represents a spacer extending in the row direction (X direction), reference numeral 150 represents a spacer holding portion, and reference numeral 25 represents a joining member. However, in FIG. 8, the spacer holding portions are indicated by reference numerals 50, 60 and 70. Moreover, in FIG. 9, illustration of the partition and the spacer was abbreviate | omitted.

1サブピクセルは、カソードパネル側の電子放出領域EAと、電子放出領域EAに対向(対面)したアノードパネル側の蛍光体領域22とによって構成されている。有効領域EFには、画素(ピクセル)が、例えば数十万〜数百万個ものオーダーにて配列されている。カラー表示の表示装置においては、1画素(1ピクセル)は、赤色発光サブピクセル、緑色発光サブピクセル、及び、青色発光サブピクセルの組から構成されている。そして、アノードパネルAPとカソードパネルCPとを、電子放出領域EAと蛍光体領域22とが対向するように配置し、周縁部において接合部材25を介して接合した後、排気し、封止することによって、表示装置を作製することができる。   One subpixel is constituted by an electron emission area EA on the cathode panel side and a phosphor area 22 on the anode panel side facing (facing to) the electron emission area EA. In the effective area EF, pixels (pixels) are arranged on the order of hundreds of thousands to millions, for example. In a display device for color display, one pixel (one pixel) includes a set of a red light emitting subpixel, a green light emitting subpixel, and a blue light emitting subpixel. Then, the anode panel AP and the cathode panel CP are arranged so that the electron emission region EA and the phosphor region 22 are opposed to each other, joined at the peripheral portion via the joining member 25, and then exhausted and sealed. Thus, a display device can be manufactured.

アノードパネルAPとカソードパネルCPと接合部材25とによって囲まれた空間は高真空(例えば、1×10-3Pa以下)となっている。従って、アノードパネルAPとカソードパネルCPとの間にスペーサ40を配置しておかないと、大気圧によって表示装置が損傷を受けてしまう。従って、例えば、特開平7−262939号公報に開示された画像表示装置にあっては、前面板の上に形成されたブラックマトリックス上に位置決め部材(スペーサ保持部)を形成し、対となった位置決め部材の間に支柱(スペーサ)を嵌め込んでいる。 A space surrounded by the anode panel AP, the cathode panel CP, and the bonding member 25 is in a high vacuum (for example, 1 × 10 −3 Pa or less). Therefore, unless the spacer 40 is arranged between the anode panel AP and the cathode panel CP, the display device is damaged by the atmospheric pressure. Therefore, for example, in the image display device disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 7-262939, a positioning member (spacer holding portion) is formed on a black matrix formed on the front plate to form a pair. A support (spacer) is fitted between the positioning members.

アノードパネルAPの表示部分として機能する有効領域EFには、上述したとおりスペーサ保持部150が設けられており、スペーサ保持部150の表面にはアノード電極24が形成されている。従って、スペーサ保持部150に嵌め込まれたスペーサ40はアノード電極24と接している。また、スペーサ40の底面は、電極、例えば、収束電極17と接している。このような構造とすることで、スペーサ40には、頂部から底面に向かって微少電流が流れる。   As described above, the spacer holding portion 150 is provided in the effective region EF that functions as a display portion of the anode panel AP, and the anode electrode 24 is formed on the surface of the spacer holding portion 150. Therefore, the spacer 40 fitted in the spacer holding part 150 is in contact with the anode electrode 24. The bottom surface of the spacer 40 is in contact with an electrode, for example, the convergence electrode 17. With such a structure, a minute current flows through the spacer 40 from the top to the bottom.

特開平7−262939号公報JP 7-262939 A

ところで、このような構造にあっては、スペーサ40の端部の底面が収束電極17から浮き上がってしまうことがある。このような状態を図14に示すが、図14は、従来の表示装置の有効領域EFと無効領域NFの境界領域におけるスペーサ40等をその側面から眺めた概念図である。ここで、図14においては、スペーサ保持部150を点線で示す。そして、このような現象が生じると、スペーサ40の底面からの放熱が悪くなる結果、やがて、浮き上がりが生じたスペーサ40の部分における電気抵抗値に変化が生じ、所謂熱暴走が生じることがある。スペーサ40の熱暴走は、平面型表示装置の駆動電圧、駆動電流に大きく影響を受け、高い電圧、電流によって一層発生し易くなる。   By the way, in such a structure, the bottom surface of the end portion of the spacer 40 may be lifted from the focusing electrode 17. FIG. 14 is a conceptual diagram of the spacer 40 and the like in the boundary region between the effective area EF and the ineffective area NF of the conventional display device as viewed from the side. Here, in FIG. 14, the spacer holding | maintenance part 150 is shown with a dotted line. When such a phenomenon occurs, the heat radiation from the bottom surface of the spacer 40 is deteriorated. As a result, the electrical resistance value in the portion of the spacer 40 where the lift occurs is changed, and so-called thermal runaway may occur. The thermal runaway of the spacer 40 is greatly influenced by the driving voltage and driving current of the flat display device, and is more likely to occur due to the high voltage and current.

従って、本発明の目的は、スペーサの底面と電極とが一様に接しており、スペーサに熱暴走が生じない構成、構造を有する平面型表示装置を提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a flat display device having a configuration and a structure in which the bottom surface of the spacer and the electrode are in uniform contact with each other and thermal runaway does not occur in the spacer.

上記の目的を達成するための本発明に係る平面型表示装置は、支持体上に2次元マトリクス状に配列された電子放出領域を備えたカソードパネルと、蛍光体領域及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが外周部で接合されており、カソードパネルとアノードパネルとによって挟まれた空間が真空に保持されている平面型表示装置であって、カソードパネルとアノードパネルとの間にはスペーサが配置されており、アノードパネルの表示部分として機能する有効領域には、対となったスペーサ保持部が設けられており、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部の間隔は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部の間隔よりも狭いことを特徴とする。 The flat panel display device according to the present onset light to an end of the cathode panel, the fluorescent region and an anode electrode is provided with an electron emitting regions arranged in a two-dimensional matrix on a support A flat panel display device in which a space sandwiched between the cathode panel and the anode panel is maintained in a vacuum, and a spacer is provided between the cathode panel and the anode panel. Is arranged, and an effective region functioning as a display portion of the anode panel is provided with a pair of spacer holding portions, and the distance between the pair of spacer holding portions that hold the end region of the spacer is The distance between the spacer holding portions that form a pair for holding the central portion of the spacer is narrower.

本発明に係る平面型表示装置は、支持体上に2次元マトリクス状に配列された電子放出領域を備えたカソードパネルと、蛍光体領域及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが外周部で接合されており、カソードパネルとアノードパネルとによって挟まれた空間が真空に保持されている平面型表示装置であって、カソードパネルとアノードパネルとの間にはスペーサが配置されており、アノードパネルの表示部分として機能する有効領域から、該有効領域を取り囲む無効領域に亙り、対となったスペーサ保持部が設けられており、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部の間隔は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部の間隔よりも狭いことを特徴とする。In the flat display device according to the present invention, a cathode panel provided with an electron emission region arranged in a two-dimensional matrix on a support and an anode panel provided with a phosphor region and an anode electrode are joined at the outer periphery. A flat display device in which a space between the cathode panel and the anode panel is maintained in a vacuum, and a spacer is disposed between the cathode panel and the anode panel. A pair of spacer holding portions are provided from the effective region functioning as the display portion to the invalid region surrounding the effective region, and the distance between the pair of spacer holding portions that hold the end region of the spacer is The distance between the spacer holding portions that form a pair for holding the central portion of the spacer is narrower.

以上に説明した好ましい形態を含む本発明の第1の態様、第2の態様あるいは第3の態様に係る平面型表示装置(以下、『本発明』と呼ぶ場合がある)にあっては、カソードパネルとアノードパネルとによって挟まれた空間が真空状態に保持されているので、大気圧によって平面型表示装置に破損が生じないように、カソードパネルとアノードパネルとの間に、局所的に、スペーサを配されている。スペーサは、例えばセラミックスやガラス材料から構成することができる。スペーサをセラミックスから構成する場合、セラミックスとして、ムライト等のケイ酸アルミニウム化合物やアルミナ等の酸化アルミニウム、チタン酸バリウム、チタン酸ジルコン酸鉛、ジルコニア(酸化ジルコニウム)、コーディオライト、硼珪酸塩バリウム、珪酸鉄、ガラスセラミックス材料、これらに、酸化チタンや酸化クロム、酸化マグネシウム、酸化鉄、酸化バナジウム、酸化ニッケルを添加したもの等を例示することができるし、例えば、特表2003−524280号公報等に記載されている材料を用いることもできる。また、ガラス材料として、高歪点ガラス、低アルカリガラス、無アルカリガラス、ソーダガラス(Na2O・CaO・SiO2)、硼珪酸ガラス(Na2O・B23・SiO2)、フォルステライト(2MgO・SiO2)、鉛ガラス(Na2O・PbO・SiO2)、結晶性ガラスを例示することができる。尚、スペーサの端部や稜線に対して面取りを行い、突出部等を除去することが好ましい。1列のスペーサは、1本のスペーサから構成されていてもよいし、複数のスペーサから構成されていてもよい。 In the flat display device according to the first aspect, the second aspect, or the third aspect of the present invention including the preferred embodiments described above (hereinafter sometimes referred to as “the present invention”), the cathode Since the space between the panel and the anode panel is maintained in a vacuum state, a spacer is locally provided between the cathode panel and the anode panel so that the flat display device is not damaged by atmospheric pressure. Is arranged. The spacer can be made of ceramics or glass material, for example. When the spacer is made of ceramics, the ceramics include aluminum silicate compounds such as mullite, aluminum oxide such as alumina, barium titanate, lead zirconate titanate, zirconia (zirconium oxide), cordiolite, barium borosilicate, silicic acid. Examples thereof include iron, glass ceramic materials, titanium oxide, chromium oxide, magnesium oxide, iron oxide, vanadium oxide, nickel oxide added thereto, and the like. For example, in Japanese translations of PCT publication No. 2003-524280 The materials described can also be used. Glass materials include high strain point glass, low alkali glass, non-alkali glass, soda glass (Na 2 O · CaO · SiO 2 ), borosilicate glass (Na 2 O · B 2 O 3 · SiO 2 ), Examples thereof include stellite (2MgO · SiO 2 ), lead glass (Na 2 O · PbO · SiO 2 ), and crystalline glass. In addition, it is preferable to chamfer the edge part and ridgeline of the spacer to remove the protruding part and the like. One row of spacers may be composed of a single spacer or a plurality of spacers.

スペーサは、例えば、
(a)セラミックス粉末、導電性付与材料粉末を分散質とし、バインダーを添加してグリーンシート用スラリーを調製し、
(b)グリーンシート用スラリーを成形して、グリーンシートを得、その後、
(c)グリーンシートを焼成する、
ことにより製造することができる。グリーンシート焼成品を切断した後、後述する帯電防止膜や抵抗体膜を形成してもよいし、グリーンシート焼成品に帯電防止膜や抵抗体膜を形成した後、係るグリーンシート焼成品を切断してもよい。
The spacer is, for example,
(A) Ceramic powder, conductivity imparting material powder as a dispersoid, adding a binder to prepare a slurry for green sheet,
(B) A green sheet slurry is formed to obtain a green sheet;
(C) firing the green sheet;
Can be manufactured. After cutting the green sheet fired product, an antistatic film or a resistor film, which will be described later, may be formed, or after forming the antistatic film or resistor film on the green sheet fired product, the green sheet fired product is cut. May be.

グリーンシート用スラリーの分散質となるセラミックス粉末を構成する材料として、上述したセラミックスを挙げることができる。尚、グリーンシート用スラリーの分散質となる導電性付与材料は、グリーンシート用スラリー内にあっては、必ずしも導電性を示さなくてもよい。導電性付与材料は、グリーンシートの焼成の際に化学的組成が変化するものであってもよいし、焼成により化学的組成が変化しないものであってもよい。具体的には、グリーンシートを焼成することにより、グリーンシート内の導電性付与材料も焼成されるが、焼成された導電性付与材料が導電性を示すものであればよい。グリーンシート用スラリーの分散質となる導電性付与材料として、例えば、金や白金等の貴金属;モリブデン酸化物、ニオブ酸化物、タングステン酸化物、ニッケル酸化物等の金属酸化物;チタン炭化物、タングステン炭化物、ニッケル炭化物等の金属炭化物;モリブデン酸アンモニウム等の金属塩を挙げることができる。更には、これらの混合物であってもよい。即ち、導電性付与材料は、単一の種類の材料から成る形態であってもよいし、複数の種類の材料から成る形態であってもよい。また、グリーンシート用スラリーに添加されるバインダーを構成する材料として、有機系バインダー材料(例えば、アクリル系エマルジョンやポリビニルアルコール(PVA)、ポリエチレングリコール、ポリエチレングリコール)あるいは無機系バインダー材料(例えば、水ガラス)を挙げることができる。   The ceramics mentioned above can be mentioned as a material which comprises the ceramic powder used as the dispersoid of the slurry for green sheets. It should be noted that the conductivity imparting material that is the dispersoid of the green sheet slurry does not necessarily need to exhibit conductivity in the green sheet slurry. The conductivity-imparting material may have a chemical composition that changes when the green sheet is fired, or may have a chemical composition that does not change by firing. Specifically, by firing the green sheet, the conductivity-imparting material in the green sheet is also fired, but it is only necessary that the fired conductivity-imparting material exhibits conductivity. Examples of the conductivity imparting material used as the dispersoid of the slurry for the green sheet include noble metals such as gold and platinum; metal oxides such as molybdenum oxide, niobium oxide, tungsten oxide and nickel oxide; titanium carbide and tungsten carbide. Metal carbides such as nickel carbide; metal salts such as ammonium molybdate. Furthermore, a mixture thereof may be used. That is, the conductivity imparting material may be in the form of a single type of material or in the form of a plurality of types of material. In addition, as a material constituting the binder added to the slurry for the green sheet, an organic binder material (for example, acrylic emulsion, polyvinyl alcohol (PVA), polyethylene glycol, polyethylene glycol) or an inorganic binder material (for example, water glass) ).

スペーサの側面には、帯電防止膜や抵抗体膜が設けられていることが好ましい。帯電防止膜を構成する材料は、その2次電子放出係数が1に近いことが好ましく、帯電防止膜を構成する材料として、SiやGe等の半導体、グラファイト等の半金属、酸化物、ホウ化物、炭化物、硫化物、及び、窒化物等を用いることができる。より具体的には、例えば、グラファイト等の半金属及びMoSex等の半金属元素を含む化合物、CrOx、NdOx、CrAlxy、酸化マンガン、LaxBa2-xCuO4、Lax1-xCrO3等の酸化物、AlBx、TiBx等のホウ化物、SiC等の炭化物、MoSx、WSx等の硫化物、及び、窒化タングステンと窒化ゲルマニウムの化合物、BN、TiN、AlN等の窒化物等を挙げることができるし、更には、例えば、特表2004−500688号公報等に記載されている材料等を用いることもできる。また、抵抗体膜を構成する材料として、例えば、酸化ルテニウム(RuOx)やサーメットを例示することができる。帯電防止膜等のスペーサの表面に設けられる膜は、単一の種類の材料から成るものであってもよいし、複数の種類の材料から成るものであってもよいし、単層構造であってもよいし、多層構造であってもよい。帯電防止膜を(第1の金属酸化物,第2の金属酸化物)の混合物から構成することもできる。(第1の金属酸化物,第2の金属酸化物)の組み合わせとして、(クロム酸化物,チタン酸化物)、(クロム酸化物,インジウム酸化物)、(マンガン酸化物,チタン酸化物)、(マンガン酸化物,インジウム酸化物)、(亜鉛酸化物,チタン酸化物)あるいは(亜鉛酸化物,インジウム酸化物)を挙げることができる。帯電防止膜等は、スパッタリング法、蒸着法、各種化学的気相成長法(CVD法)等、周知の方法により形成することができる。帯電防止膜等は、スペーサの側面部上に、直接、設けられていてもよいし、例えば、密着性改善用等の下地膜がスペーサの上に形成されており、下地膜の上に帯電防止膜等が形成されていてもよい。 It is preferable that an antistatic film or a resistor film is provided on the side surface of the spacer. The material constituting the antistatic film preferably has a secondary electron emission coefficient close to 1. As the material constituting the antistatic film, a semiconductor such as Si or Ge, a semimetal such as graphite, an oxide, or a boride , Carbides, sulfides, nitrides, and the like can be used. More specifically, for example, compounds containing a metalloid element such as a semi-metal and MoSe x such as graphite, CrO x, NdO x, CrAl x O y, manganese oxide, La x Ba 2-x CuO 4, La x Oxides such as Y 1-x CrO 3 , borides such as AlB x and TiB x , carbides such as SiC, sulfides such as MoS x and WS x , and compounds of tungsten nitride and germanium nitride, BN, TiN, Examples thereof include nitrides such as AlN, and further, for example, materials described in JP-T-2004-500688 can be used. Examples of the material constituting the resistor film include ruthenium oxide (RuO x ) and cermet. The film provided on the surface of the spacer such as an antistatic film may be made of a single kind of material, may be made of a plurality of kinds of materials, or has a single layer structure. It may be a multilayer structure. The antistatic film can also be composed of a mixture of (first metal oxide, second metal oxide). As combinations of (first metal oxide, second metal oxide), (chromium oxide, titanium oxide), (chromium oxide, indium oxide), (manganese oxide, titanium oxide), ( (Manganese oxide, indium oxide), (zinc oxide, titanium oxide) or (zinc oxide, indium oxide). The antistatic film or the like can be formed by a known method such as a sputtering method, a vapor deposition method, or various chemical vapor deposition methods (CVD methods). The antistatic film or the like may be provided directly on the side surface portion of the spacer. For example, a base film for improving adhesion is formed on the spacer, and the antistatic film is formed on the base film. A film or the like may be formed.

スペーサ保持部を構成する材料として、例えば、感光性ポリイミド樹脂や、酸化コバルト等の金属酸化物により黒色に着色した鉛ガラス、SiO2、低融点ガラスペーストを例示することができる。スペーサ保持部の表面(頂面及び側面)には、スペーサ保持部に電子ビームが衝突してスペーサ保持部からガスが放出されることを防止するための保護層(例えば、SiO2、SiON、あるいは、AlNから成る)を形成してもよい。 Examples of the material constituting the spacer holding portion include photosensitive polyimide resin, lead glass colored in black with a metal oxide such as cobalt oxide, SiO 2 , and a low melting point glass paste. On the surface (top surface and side surface) of the spacer holding part, a protective layer (for example, SiO 2 , SiON, or the like, which prevents the electron beam from colliding with the spacer holding part and releasing the gas from the spacer holding part) , Made of AlN).

スペーサ保持部の形成方法として、スクリーン印刷法、ドライフィルム法、感光法、キャスティング法、サンドブラスト形成法を例示することができる。ここで、スクリーン印刷法とは、スペーサ保持部を形成すべき部分に対応するスクリーンの部分に開口が形成されており、スクリーン上のスペーサ保持部形成用材料をスキージを用いて開口を通過させ、下地(例えば、後述する基板)上にスペーサ保持部形成用材料層を形成した後、係るスペーサ保持部形成用材料層を焼成する方法である。ドライフィルム法とは、下地上に感光性フィルムをラミネートし、露光及び現像によってスペーサ保持部形成予定部位の感光性フィルムを除去し、除去によって生じた開口にスペーサ保持部形成用材料を埋め込み、焼成する方法である。感光性フィルムは焼成によって燃焼、除去され、開口に埋め込まれたスペーサ保持部形成用材料が残り、スペーサ保持部となる。感光法とは、下地上に感光性を有するスペーサ保持部形成用材料層を形成し、露光及び現像によってこのスペーサ保持部形成用材料層をパターニングした後、焼成(硬化)を行う方法である。キャスティング法(型押し成形法)とは、ペースト状とした有機材料あるいは無機材料から成るスペーサ保持部形成用材料層を型(キャスト)から下地上に押し出すことでスペーサ保持部形成用材料層を形成した後、係るスペーサ保持部形成用材料層を焼成する方法である。サンドブラスト形成法とは、例えば、スクリーン印刷やメタルマスク印刷法、ロールコーター、ドクターブレード、ノズル吐出式コーター等を用いてスペーサ保持部形成用材料層を下地上に形成し、乾燥させた後、スペーサ保持部を形成すべきスペーサ保持部形成用材料層の部分をマスク層で被覆し、次いで、露出したスペーサ保持部形成用材料層の部分をサンドブラスト法によって除去する方法である。スペーサ保持部を形成した後、スペーサ保持部を研磨し、スペーサ保持部頂面の平坦化を図ってもよい。尚、後述する隔壁の一部をスペーサ保持部として機能させてもよい。   Examples of the method for forming the spacer holding portion include a screen printing method, a dry film method, a photosensitive method, a casting method, and a sandblast forming method. Here, in the screen printing method, an opening is formed in a portion of the screen corresponding to a portion where the spacer holding portion is to be formed, and the spacer holding portion forming material on the screen is passed through the opening using a squeegee, In this method, after a spacer holding part forming material layer is formed on a base (for example, a substrate described later), the spacer holding part forming material layer is baked. The dry film method is a method of laminating a photosensitive film on a base, removing a photosensitive film at a portion where a spacer holding portion is to be formed by exposure and development, embedding a material for forming a spacer holding portion in an opening generated by the removal, and baking. It is a method to do. The photosensitive film is burned and removed by baking, and the spacer holding portion forming material embedded in the opening remains, and becomes a spacer holding portion. The photosensitive method is a method in which a spacer holding part forming material layer having photosensitivity is formed on a base, the spacer holding part forming material layer is patterned by exposure and development, and then baked (cured). The casting method (embossing molding method) is to form a spacer holding part forming material layer by extruding a spacer holding part forming material layer made of a paste-like organic material or inorganic material from a mold (cast) onto the ground. Then, the spacer holding part forming material layer is fired. The sand blasting method is, for example, forming a spacer holding portion forming material layer on a base using a screen printing or a metal mask printing method, a roll coater, a doctor blade, a nozzle discharge type coater, etc. In this method, the portion of the spacer holding portion forming material layer where the holding portion is to be formed is covered with a mask layer, and then the exposed portion of the spacer holding portion forming material layer is removed by sandblasting. After forming the spacer holding part, the spacer holding part may be polished to flatten the top surface of the spacer holding part. In addition, you may make a part of partition mentioned later function as a spacer holding | maintenance part.

本発明におけるスペーサの高さ、厚さ、長さは、平面型表示装置の仕様等に基づき決定すればよく、例えば、スペーサの厚さとして20μm〜200μm、例えば、50μmを例示することができる。スペーサ保持部あるいは後述する隔壁の高さ、厚さ、長さも、平面型表示装置の仕様等に基づき決定すればよく、これらの高さとして、例えば20〜100μmを例示することができ、厚さとして、例えば10〜50μmを例示することができる。対となったスペーサ保持部の間隔それ自体は、スペーサの厚さや形成精度、加工精度、スペーサ保持部の加工精度や形成精度に基づき決定すればよい。   The height, thickness, and length of the spacer in the present invention may be determined based on the specifications of the flat display device, and examples of the spacer thickness include 20 μm to 200 μm, for example, 50 μm. The height, thickness, and length of the spacer holding portion or the partition wall to be described later may be determined based on the specifications of the flat display device, and the height can be exemplified by, for example, 20 to 100 μm. As an example, 10-50 micrometers can be illustrated. The interval between the pair of spacer holding portions itself may be determined based on the spacer thickness, forming accuracy, processing accuracy, processing accuracy and forming accuracy of the spacer holding portion.

スペーサの延びる方向に対して垂直な仮想平面で対となったスペーサ保持部を切断したときの、対となったスペーサ保持部とスペーサ保持部とによって挟まれた領域の断面形状は、後述する基板に近い領域ほど幅が狭く、カソードパネルに向かって幅が広がる形状(即ち、アノードパネルを上、カソードパネルを下に配置したと想定したとき、一種の「ハの字」形状)とすることが好ましい。本発明の第1の態様に係る平面型表示装置においては、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部の間隔は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部の間隔よりも狭いが、係る状態を達成するためには、ハの字の形状の最適化を図ればよい。そして、アノードパネルの基準面からの、スペーサ保持部によって保持されたスペーサの端部領域における底面までの距離をLE、スペーサ保持部によって保持されたスペーサの中央部における底面までの距離をLCとしたとき、
3×10-6m≦LE−LC≦1×10-5
を例示することができる。
The cross-sectional shape of the region sandwiched between the paired spacer holding portions when the paired spacer holding portions are cut in a virtual plane perpendicular to the direction in which the spacer extends is the substrate described later The region closer to the width is narrower and wider toward the cathode panel (that is, a kind of “C” shape when assuming that the anode panel is placed on the upper side and the cathode panel is placed on the lower side). preferable. In the flat display device according to the first aspect of the present invention, the distance between the pair of spacer holding portions that hold the end region of the spacer is equal to that of the pair of spacer holding portions that hold the central portion of the spacer. Although it is narrower than the interval, in order to achieve such a state, the shape of the letter C may be optimized. The distance from the reference surface of the anode panel to the bottom surface in the end region of the spacer held by the spacer holding portion is L E , and the distance to the bottom surface in the center portion of the spacer held by the spacer holding portion is L C. When
3 × 10 −6 m ≦ L E −L C ≦ 1 × 10 −5 m
Can be illustrated.

本発明の第2の態様に係る平面型表示装置においては、有効領域から無効領域に亙り、対となったスペーサ保持部が設けられているが、無効領域に設けられたスペーサ保持部が占める領域のスペーサの軸線方向に沿った長さとして、平面型表示装置の仕様にも依るが、1mm乃至10mmを例示することができる。   In the flat display device according to the second aspect of the present invention, a pair of spacer holding parts are provided from the effective area to the ineffective area, but the area occupied by the spacer holding part provided in the ineffective area The length along the axial direction of the spacer can be 1 mm to 10 mm, depending on the specifications of the flat display device.

本発明の第3の態様に係る平面型表示装置において、スペーサの頂面と接する突起部は、例えば、スペーサ保持部を構成する材料と同様の材料から構成すればよいし、突起部の形成方法も、例えば、スペーサ保持部の形成方法と同様の方法を採用すればよい。突起部の高さとして、3×10-6(3μm)m乃至1×10-5m(10μm)を例示することができる。スペーサの軸線に沿った突起部の長さは、本質的に任意であるし、スペーサの軸線と垂直な方向に沿った突起部の幅も、本質的に任意である。 In the flat display device according to the third aspect of the present invention, the protrusion contacting the top surface of the spacer may be made of, for example, the same material as the material forming the spacer holding part, and the method of forming the protrusion For example, a method similar to the method of forming the spacer holding portion may be employed. Examples of the height of the protrusion include 3 × 10 −6 (3 μm) m to 1 × 10 −5 m (10 μm). The length of the protrusion along the spacer axis is essentially arbitrary, and the width of the protrusion along the direction perpendicular to the spacer axis is also essentially arbitrary.

本発明において、スペーサの単位長に対するスペーサ保持部の数、あるいは又、スペーサの単位長に対するスペーサ保持部の接触長さの割合は、本質的に任意であり、平面型表示装置に要求される仕様に応じて、適宜、決定すればよい。   In the present invention, the number of spacer holding portions relative to the unit length of the spacer, or the ratio of the contact length of the spacer holding portion to the unit length of the spacer is essentially arbitrary, and is a specification required for the flat display device. Depending on the situation, it may be determined appropriately.

本発明において、スペーサ保持部はアノード電極によって被覆されている。従って、スペーサ保持部によって保持されたスペーサはアノード電極と接している。また、スペーサの底面は、電極、例えば、収束電極と接している。それ故、スペーサには、頂部から底面に向かって微少電流が流れる。   In the present invention, the spacer holding portion is covered with the anode electrode. Accordingly, the spacer held by the spacer holding portion is in contact with the anode electrode. The bottom surface of the spacer is in contact with an electrode, for example, a focusing electrode. Therefore, a minute current flows through the spacer from the top to the bottom.

組み立て後の平面型表示装置を分解すると、スペーサの底面と接触していた電極の部分には、通常、スペーサの痕が残る。係るスペーサの痕を観察して、スペーサの端部領域と接触していた電極の部分におけるスペーサの痕と、スペーサの中央部と接触していた電極の部分におけるスペーサの痕とが同じような痕であれば、スペーサの端部領域の電極に対する接触状態と、スペーサの中央部の電極に対する接触状態とは、同じであると判断することができる。逆に、スペーサの端部領域と接触していた電極の部分におけるスペーサの痕と、スペーサの中央部と接触していた電極の部分におけるスペーサの痕とが同じような痕となるように、本発明の第1の態様に係る平面型表示装置にあっては、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部の間隔、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部の間隔を決定すればよいし、本発明の第1の態様に係る平面型表示装置にあっては、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部を、有効領域と無効領域との境界部(以下、単に、『境界部』と呼ぶ場合がある)から有効領域の内部に向かってどの程度の範囲までに設けるかを決定すればよい。また、同様にして、本発明の第2の態様に係る平面型表示装置にあっては、無効領域のどの程度の領域にまでスペーサ保持部を設ければよいかを決定すればよいし、本発明の第3の態様に係る平面型表示装置にあっては、スペーサの頂面と接する突起部の厚さや長さを決定すればよい。   When the assembled flat display device is disassembled, a spacer mark usually remains on the portion of the electrode that has been in contact with the bottom surface of the spacer. By observing the trace of the spacer, the trace of the spacer in the portion of the electrode that was in contact with the end region of the spacer is similar to the trace of the spacer in the portion of the electrode that was in contact with the center portion of the spacer. If so, it can be determined that the contact state with respect to the electrode in the end region of the spacer and the contact state with respect to the electrode in the central portion of the spacer are the same. On the contrary, the spacer mark in the electrode part that was in contact with the end region of the spacer and the spacer mark in the electrode part that was in contact with the center part of the spacer are the same mark. In the flat display device according to the first aspect of the invention, the distance between the pair of spacer holding portions that hold the end region of the spacer, the distance between the pair of spacer holding portions that hold the center portion of the spacer, The interval may be determined, and in the flat display device according to the first aspect of the present invention, the pair of spacer holding portions that hold the end regions of the spacers are divided into the effective region and the ineffective region. It suffices to determine the extent to be provided from the boundary portion (hereinafter sometimes simply referred to as “boundary portion”) toward the inside of the effective area. Similarly, in the flat display device according to the second aspect of the present invention, it is only necessary to determine the extent to which the spacer holding portion should be provided in the invalid area, In the flat display device according to the third aspect of the present invention, the thickness and length of the protrusion contacting the top surface of the spacer may be determined.

本発明において、電子放出領域を構成する電子放出素子として、冷陰極電界電子放出素子(以下、電界放出素子と略称する)、金属/絶縁膜/金属型素子(MIM素子)、表面伝導型電子放出素子を挙げることができる。また、平面型表示装置として、冷陰極電界電子放出素子を備えた平面型表示装置(冷陰極電界電子放出表示装置)、MIM素子が組み込まれた平面型表示装置、表面伝導型電子放出素子が組み込まれた平面型表示装置を挙げることができる。   In the present invention, cold cathode field emission devices (hereinafter abbreviated as field emission devices), metal / insulating film / metal type devices (MIM devices), surface conduction electron emission are used as the electron emission devices constituting the electron emission region. An element can be mentioned. Further, as a flat display device, a flat display device (cold cathode field electron emission display device) provided with a cold cathode field emission device, a flat display device incorporating an MIM element, and a surface conduction electron emission device are incorporated. And a flat display device.

ここで、平面型表示装置を、電界放出素子を備えた冷陰極電界電子放出表示装置とする場合、電界放出素子は、
(a)支持体上に形成された帯状のカソード電極、
(b)支持体及びカソード電極上に形成された絶縁層、
(c)絶縁層上に形成された帯状のゲート電極、
(d)カソード電極とゲート電極の重複する重複領域に位置するゲート電極及び絶縁層の部分に設けられ、底部にカソード電極が露出した開口部、及び、
(e)開口部の底部に露出したカソード電極上に設けられ、カソード電極及びゲート電極への電圧の印加によって電子放出が制御される電子放出部、
から成る。
Here, when the flat display device is a cold cathode field emission display device including a field emission device, the field emission device is:
(A) a strip-shaped cathode electrode formed on a support;
(B) an insulating layer formed on the support and the cathode electrode;
(C) a strip-shaped gate electrode formed on the insulating layer;
(D) an opening provided in a portion of the gate electrode and the insulating layer located in an overlapping region where the cathode electrode and the gate electrode overlap, and an exposed portion of the cathode electrode at the bottom; and
(E) an electron emission portion provided on the cathode electrode exposed at the bottom of the opening, the electron emission being controlled by application of a voltage to the cathode electrode and the gate electrode;
Consists of.

電界放出素子の型式は特に限定されず、スピント型電界放出素子(円錐形の電子放出部が、開口部の底部に位置するカソード電極の上に設けられた電界放出素子)や、扁平型電界放出素子(略平面の電子放出部が、開口部の底部に位置するカソード電極の上に設けられた電界放出素子)等、如何なる構成、構造の電界放出素子とすることもできる。カソードパネルにおいて、ゲート電極とカソード電極とが重複する重複領域が電子放出領域を構成し、電子放出領域が2次元マトリクス状に配列されており、各電子放出領域には、1又は複数の電界放出素子が設けられている。カソード電極の射影像とゲート電極の射影像とは直交することが、冷陰極電界電子放出表示装置の構造の簡素化といった観点から好ましい。   The type of the field emission device is not particularly limited, and a Spindt-type field emission device (a field emission device in which a conical electron emission portion is provided on the cathode electrode positioned at the bottom of the opening) or a flat type field emission device A field emission device having any configuration and structure such as an element (a field emission device in which a substantially planar electron emission portion is provided on a cathode electrode positioned at the bottom of an opening) can be used. In the cathode panel, an overlapping region where the gate electrode and the cathode electrode overlap constitutes an electron emission region, and the electron emission regions are arranged in a two-dimensional matrix, and each electron emission region has one or a plurality of field emission elements. An element is provided. The projection image of the cathode electrode and the projection image of the gate electrode are preferably orthogonal from the viewpoint of simplifying the structure of the cold cathode field emission display.

そして、冷陰極電界電子放出表示装置にあっては、実表示作動時、ゲート電極及びカソード電極に印加された電圧によって生じた強電界が電子放出部に加わる結果、量子トンネル効果により電子放出部から電子が放出される。そして、この電子は、アノードパネルに設けられたアノード電極によってアノードパネルへと引き付けられ、蛍光体領域に衝突する。そして、蛍光体領域への電子の衝突の結果、蛍光体領域が発光し、画像として認識することができる。   In the cold cathode field emission display device, a strong electric field generated by the voltage applied to the gate electrode and the cathode electrode is applied to the electron emission portion during actual display operation. Electrons are emitted. The electrons are attracted to the anode panel by the anode electrode provided on the anode panel, and collide with the phosphor region. As a result of the collision of electrons with the phosphor region, the phosphor region emits light and can be recognized as an image.

冷陰極電界電子放出表示装置において、カソード電極はカソード電極制御回路に接続され、ゲート電極はゲート電極制御回路に接続され、アノード電極はアノード電極制御回路に接続されている。尚、これらの制御回路は周知の回路から構成することができる。実表示作動時、アノード電極制御回路からアノード電極に印加される電圧(アノード電圧)VAは、通常、一定であり、例えば、5キロボルト〜15キロボルトとすることができる。あるいは又、アノードパネルとカソードパネルとの間の距離をd0(但し、0.5mm≦d0≦10mm)としたとき、VA/d0(単位:キロボルト/mm)の値は、0.5以上20以下、好ましくは1以上10以下、一層好ましくは4以上8以下を満足することが望ましい。冷陰極電界電子放出表示装置の実表示作動時、例えば、カソード電極に印加する電圧VC及びゲート電極に印加する電圧VGに関しては、階調制御方式として電圧変調方式やパルス幅変調方式を採用することができる。 In the cold cathode field emission display, the cathode electrode is connected to the cathode electrode control circuit, the gate electrode is connected to the gate electrode control circuit, and the anode electrode is connected to the anode electrode control circuit. Note that these control circuits can be constituted by known circuits. During actual display operation, the voltage (anode voltage) V A applied to the anode electrode from the anode electrode control circuit is normally constant, and can be set to, for example, 5 kilovolts to 15 kilovolts. Alternatively, when the distance between the anode panel and the cathode panel is d 0 (where 0.5 mm ≦ d 0 ≦ 10 mm), the value of V A / d 0 (unit: kilovolt / mm) is 0. It is desirable to satisfy 5 or more and 20 or less, preferably 1 or more and 10 or less, and more preferably 4 or more and 8 or less. During actual display operation of the cold cathode field emission display device, for example, with respect to the voltage V C applied to the cathode electrode and the voltage V G applied to the gate electrode, a voltage modulation method or a pulse width modulation method is adopted as a gradation control method. can do.

電界放出素子は、一般に、以下の方法で製造することができる。
(1)支持体上にカソード電極を形成する工程、
(2)全面(支持体及びカソード電極上)に絶縁層を形成する工程、
(3)絶縁層上にゲート電極を形成する工程、
(4)カソード電極とゲート電極との重複領域におけるゲート電極及び絶縁層の部分に開口部を形成し、開口部の底部にカソード電極を露出させる工程、
(5)開口部の底部に位置するカソード電極上に電子放出部を形成する工程。
A field emission device can be generally manufactured by the following method.
(1) forming a cathode electrode on a support;
(2) forming an insulating layer on the entire surface (on the support and the cathode electrode);
(3) forming a gate electrode on the insulating layer;
(4) forming an opening in a portion of the gate electrode and the insulating layer in a region where the cathode electrode and the gate electrode overlap, and exposing the cathode electrode at the bottom of the opening;
(5) A step of forming an electron emission portion on the cathode electrode located at the bottom of the opening.

あるいは又、電界放出素子は、以下の方法で製造することもできる。
(1)支持体上にカソード電極を形成する工程、
(2)カソード電極上に電子放出部を形成する工程、
(3)全面(支持体及び電子放出部上、あるいは、支持体、カソード電極及び電子放出部上)に絶縁層を形成する工程、
(4)絶縁層上にゲート電極を形成する工程、
(5)カソード電極とゲート電極との重複領域におけるゲート電極及び絶縁層の部分に開口部を形成し、開口部の底部に電子放出部を露出させる工程。
Alternatively, the field emission device can be manufactured by the following method.
(1) forming a cathode electrode on a support;
(2) forming an electron emission portion on the cathode electrode;
(3) forming an insulating layer on the entire surface (on the support and the electron emission portion or on the support, the cathode electrode and the electron emission portion);
(4) forming a gate electrode on the insulating layer;
(5) A step of forming an opening in a portion of the gate electrode and the insulating layer in the overlapping region of the cathode electrode and the gate electrode, and exposing the electron emission portion at the bottom of the opening.

本発明において、収束電極(フォーカス電極)が備えられている場合、ゲート電極及び絶縁層上には更に層間絶縁層が設けられ、層間絶縁層上に収束電極が設けられている構造、あるいは又、ゲート電極の上方に収束電極が設けられている構造とすることができる。ここで、収束電極とは、開口部から放出され、アノード電極へ向かう放出電子の軌道を収束させ、以て、輝度の向上や隣接画素間の光学的クロストークの防止を可能とするための電極である。アノード電極とカソード電極との間の電位差が数キロボルト以上のオーダーであって、アノード電極とカソード電極との間の距離が比較的長い、所謂高電圧タイプの冷陰極電界電子放出表示装置において、収束電極は特に有効である。収束電極には、収束電極制御回路から相対的に負電圧(例えば、0ボルト)が印加される。収束電極制御回路は、周知の回路から構成することができる。収束電極は、必ずしも、カソード電極とゲート電極とが重複する重複領域に設けられた電子放出部あるいは電子放出領域のそれぞれを取り囲むように個別に形成されている必要はなく、例えば、電子放出部あるいは電子放出領域の所定の配列方向に沿って延在させてもよいし、電子放出部あるいは電子放出領域の全てを1つの収束電極で取り囲む構成としてもよく(即ち、収束電極を、有効領域の全体を覆う薄い1枚のシート状の構造としてもよく)、これによって、複数の電子放出部あるいは電子放出領域に共通の収束効果を及ぼすことができる。尚、収束電極及び層間絶縁層には、開口部(第3開口部)が設けられている。   In the present invention, when a focusing electrode (focus electrode) is provided, a structure in which an interlayer insulating layer is further provided on the gate electrode and the insulating layer, and a focusing electrode is provided on the interlayer insulating layer, or A focusing electrode can be provided above the gate electrode. Here, the focusing electrode is an electrode for converging the trajectory of emitted electrons that are emitted from the opening and directed toward the anode electrode, thereby improving the luminance and preventing optical crosstalk between adjacent pixels. It is. In a so-called high voltage type cold cathode field emission display, the potential difference between the anode electrode and the cathode electrode is on the order of several kilovolts or more and the distance between the anode electrode and the cathode electrode is relatively long. The electrode is particularly effective. A relatively negative voltage (for example, 0 volts) is applied to the focusing electrode from the focusing electrode control circuit. The focusing electrode control circuit can be configured from a known circuit. The focusing electrode does not necessarily have to be individually formed so as to surround each of the electron emission portion or the electron emission region provided in the overlapping region where the cathode electrode and the gate electrode overlap, for example, the electron emission portion or The electron emission regions may be extended along a predetermined arrangement direction, or the electron emission portion or the electron emission region may be surrounded by a single convergence electrode (that is, the convergence electrode may be formed in the entire effective region). In this case, a single sheet-like structure covering the plurality of electron emission portions or electron emission regions can be provided with a common convergence effect. Note that an opening (third opening) is provided in the focusing electrode and the interlayer insulating layer.

ここで、有効領域とは、平面型表示装置としての実用上の機能である表示機能を果たす中央の表示領域であり、無効領域は、この有効領域の外側に位置し、有効領域を額縁状に包囲している。   Here, the effective area is a central display area that performs a display function that is a practical function as a flat display device, and the ineffective area is located outside the effective area, and the effective area is framed. Besieged.

カソード電極、ゲート電極、収束電極の構成材料として、クロム(Cr)、アルミニウム(Al)、タングステン(W)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、モリブデン(Mo)、銅(Cu)、金(Au)、銀(Ag)、チタン(Ti)、ニッケル(Ni)、コバルト(Co)、ジルコニウム(Zr)、鉄(Fe)、白金(Pt)、亜鉛(Zn)等の金属を含む各種金属;これらの金属元素を含む合金(例えばMoW)あるいは化合物(例えば、TiW;TiNやWN等の窒化物;WSi2、MoSi2、TiSi2、TaSi2等のシリサイド);シリコン(Si)等の半導体;ダイヤモンド等の炭素薄膜;ITO(酸化インジウム−錫)、酸化インジウム、酸化亜鉛等の導電性金属酸化物を例示することができる。ゲート電極やカソード電極、収束電極を、これらの材料の単層構造あるいは積層構造とすることができる。また、これらの電極の形成方法として、例えば、電子ビーム蒸着法や熱フィラメント蒸着法といった真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、レーザアブレーション法を含む物理的気相成長法(PVD法);各種CVD法;スクリーン印刷法;インクジェット印刷法;メタルマスク印刷法;メッキ法(電気メッキ法や無電解メッキ法);リフトオフ法;ゾル−ゲル法等を挙げることができるし、これらの方法とエッチング法との組合せを挙げることもできる。ここで、形成方法を適切に選択することで、直接、パターニングされた帯状のカソード電極やゲート電極、収束電極を形成することが可能である。 As constituent materials of the cathode electrode, the gate electrode, and the focusing electrode, chromium (Cr), aluminum (Al), tungsten (W), niobium (Nb), tantalum (Ta), molybdenum (Mo), copper (Cu), gold ( Various metals including metals such as Au), silver (Ag), titanium (Ti), nickel (Ni), cobalt (Co), zirconium (Zr), iron (Fe), platinum (Pt), zinc (Zn); Alloys (for example, MoW) or compounds (for example, TiW; nitrides such as TiN and WN; silicides such as WSi 2 , MoSi 2 , TiSi 2 , and TaSi 2 ); semiconductors such as silicon (Si); Examples thereof include carbon thin films such as diamond; conductive metal oxides such as ITO (indium oxide-tin), indium oxide, and zinc oxide. The gate electrode, the cathode electrode, and the focusing electrode can have a single layer structure or a stacked structure of these materials. In addition, as a method for forming these electrodes, for example, a physical vapor deposition method (PVD method) including a vacuum evaporation method such as an electron beam evaporation method or a hot filament evaporation method, a sputtering method, an ion plating method, or a laser ablation method; Various CVD methods; screen printing methods; inkjet printing methods; metal mask printing methods; plating methods (electroplating methods and electroless plating methods); lift-off methods; sol-gel methods, etc., and these methods and etching A combination with the law can also be mentioned. Here, by appropriately selecting the formation method, it is possible to directly form a patterned strip-shaped cathode electrode, gate electrode, and focusing electrode.

スピント型電界放出素子にあっては、電子放出部を構成する材料として、モリブデン、モリブデン合金、タングステン、タングステン合金、チタン、チタン合金、ニオブ、ニオブ合金、タンタル、タンタル合金、クロム、クロム合金、及び、不純物を含有するシリコン(ポリシリコンやアモルファスシリコン)から成る群から選択された少なくとも1種類の材料を挙げることができる。スピント型電界放出素子の電子放出部は、スパッタリング法や真空蒸着法といった各種PVD法、各種CVD法によって形成することができる。   In the Spindt-type field emission device, as the material constituting the electron emission portion, molybdenum, molybdenum alloy, tungsten, tungsten alloy, titanium, titanium alloy, niobium, niobium alloy, tantalum, tantalum alloy, chromium, chromium alloy, and And at least one material selected from the group consisting of silicon (polysilicon and amorphous silicon) containing impurities. The electron emission portion of the Spindt-type field emission device can be formed by various PVD methods such as a sputtering method and a vacuum deposition method, and various CVD methods.

扁平型電界放出素子にあっては、電子放出部を構成する材料として、カソード電極を構成する材料よりも仕事関数Φの小さい材料から構成することが好ましく、どのような材料を選択するかは、カソード電極を構成する材料の仕事関数、ゲート電極とカソード電極との間の電位差、要求される放出電子電流密度の大きさ等に基づいて決定すればよい。あるいは又、電子放出部を構成する材料として、係る材料の2次電子利得δがカソード電極を構成する導電性材料の2次電子利得δよりも大きくなるような材料から、適宜、選択してもよい。扁平型電界放出素子にあっては、特に好ましい電子放出部の構成材料として、炭素、より具体的にはアモルファスダイヤモンドやグラファイト、カーボン・ナノチューブ構造体(カーボン・ナノチューブ及び/又はグラファイト・ナノファイバー)、ZnOウィスカー、MgOウィスカー、SnO2ウィスカー、MnOウィスカー、Y23ウィスカー、NiOウィスカー、ITOウィスカー、In23ウィスカー、Al23ウィスカーを挙げることができる。尚、電子放出部を構成する材料は、必ずしも導電性を備えている必要はない。 In the flat field emission device, it is preferable that the material constituting the electron emission portion is composed of a material having a work function Φ smaller than that of the material constituting the cathode electrode. What is necessary is just to determine based on the work function of the material which comprises a cathode electrode, the electric potential difference between a gate electrode and a cathode electrode, the magnitude | size of the emission electron current density requested | required, etc. Alternatively, the material constituting the electron emission portion may be appropriately selected from materials in which the secondary electron gain δ of the material is larger than the secondary electron gain δ of the conductive material constituting the cathode electrode. Good. In the flat type field emission device, carbon, more specifically, amorphous diamond or graphite, a carbon nanotube structure (carbon nanotube and / or graphite nanofiber), as a particularly preferable constituent material of the electron emission portion, Examples thereof include ZnO whiskers, MgO whiskers, SnO 2 whiskers, MnO whiskers, Y 2 O 3 whiskers, NiO whiskers, ITO whiskers, In 2 O 3 whiskers, and Al 2 O 3 whiskers. In addition, the material which comprises an electron emission part does not necessarily need to be provided with electroconductivity.

第1開口部(ゲート電極に形成された開口部)あるいは第2開口部(絶縁層に形成された開口部)の平面形状(支持体表面と平行な仮想平面で開口部を切断したときの形状)は、円形、楕円形、矩形、多角形、丸みを帯びた矩形、丸みを帯びた多角形等、任意の形状とすることができる。第1開口部の形成は、例えば、異方性エッチング、等方性エッチング、異方性エッチングと等方性エッチングの組合せによって行うことができ、あるいは又、ゲート電極の形成方法に依っては、第1開口部を、直接、形成することもできる。第2開口部の形成も、例えば、異方性エッチング、等方性エッチング、異方性エッチングと等方性エッチングの組合せによって行うことができる。収束電極及び層間絶縁層に設けられた第3開口部の形成も同様の方法で行うことができる。   Planar shape of the first opening (opening formed in the gate electrode) or the second opening (opening formed in the insulating layer) (shape when the opening is cut in a virtual plane parallel to the support surface) ) Can be any shape such as a circle, an ellipse, a rectangle, a polygon, a rounded rectangle, a rounded polygon. The formation of the first opening can be performed by, for example, anisotropic etching, isotropic etching, a combination of anisotropic etching and isotropic etching, or, depending on the method of forming the gate electrode, The first opening can also be formed directly. The second opening can also be formed by, for example, anisotropic etching, isotropic etching, or a combination of anisotropic etching and isotropic etching. The formation of the third opening provided in the focusing electrode and the interlayer insulating layer can be performed in the same manner.

電界放出素子においては、電界放出素子の構造に依存するが、1つの開口部内に1つの電子放出部が存在してもよいし、1つの開口部内に複数の電子放出部が存在してもよいし、ゲート電極に複数の第1開口部を設け、係る第1開口部と連通する1つの第2開口部を絶縁層に設け、絶縁層に設けられた1つの第2開口部内に1又は複数の電子放出部が存在してもよい。   In the field emission device, depending on the structure of the field emission device, one electron emission portion may exist in one opening, or a plurality of electron emission portions may exist in one opening. In addition, a plurality of first openings are provided in the gate electrode, one second opening communicating with the first opening is provided in the insulating layer, and one or more are provided in one second opening provided in the insulating layer. There may be an electron emission portion.

電界放出素子において、カソード電極と電子放出部との間に抵抗体薄膜を形成してもよい。抵抗体薄膜を形成することによって、電界放出素子の動作安定化、電子放出特性の均一化、カソード電極とゲート電極との間のリーク電流の抑制を図ることができる。抵抗体薄膜を構成する材料として、シリコンカーバイド(SiC)やSiCNといったカーボン系抵抗体材料、SiN、アモルファスシリコン等の半導体抵抗体材料、酸化ルテニウム(RuO2)、酸化タンタル、窒化タンタル等の高融点金属酸化物や高融点金属窒化物を例示することができる。抵抗体薄膜の形成方法として、スパッタリング法や、CVD法、各種印刷法を例示することができる。1つの電子放出部当たりの電気抵抗値は、概ね1×105〜1×1011Ω、好ましくは数MΩ〜数十ギガΩとすればよい。 In the field emission device, a resistor thin film may be formed between the cathode electrode and the electron emission portion. By forming the resistor thin film, the operation of the field emission device can be stabilized, the electron emission characteristics can be made uniform, and the leakage current between the cathode electrode and the gate electrode can be suppressed. As a material constituting the resistor thin film, a carbon resistor material such as silicon carbide (SiC) or SiCN, a semiconductor resistor material such as SiN or amorphous silicon, a high melting point such as ruthenium oxide (RuO 2 ), tantalum oxide, or tantalum nitride. Examples thereof include metal oxides and refractory metal nitrides. Examples of the method for forming the resistor thin film include a sputtering method, a CVD method, and various printing methods. The electric resistance value per one electron emitting portion may be about 1 × 10 5 to 1 × 10 11 Ω, preferably several MΩ to several tens of gigaΩ.

絶縁層、層間絶縁層の構成材料として、SiO2、BPSG、PSG、BSG、AsSG、PbSG、SiON、SOG(スピンオングラス)、低融点ガラス、ガラスペーストといったSiO2系材料;SiN系材料;ポリイミド等の絶縁性樹脂を、単独あるいは、適宜、組み合わせて使用することができる。絶縁層、層間絶縁層の形成には、CVD法、塗布法、スパッタリング法、スクリーン印刷法等の各種印刷法等の公知のプロセスが利用できる。 Insulating layer, as a constituent material of the interlayer insulating layer, SiO 2, BPSG, PSG, BSG, AsSG, PbSG, SiON, SOG ( spin on glass), low-melting glass, SiO 2 based materials such glass paste; SiN-based materials; polyimide These insulating resins can be used alone or in appropriate combination. For the formation of the insulating layer and the interlayer insulating layer, known processes such as various printing methods such as a CVD method, a coating method, a sputtering method, and a screen printing method can be used.

本発明において、カソードパネルを構成する支持体、あるいは又、アノードパネルを構成する基板は、これらの基板が相互に対向する面が絶縁性部材から構成されていればよく、ガラス基板、表面に絶縁被膜が形成されたガラス基板、石英基板、表面に絶縁被膜が形成された石英基板、表面に絶縁被膜が形成された半導体基板を挙げることができるが、製造コスト低減の観点からは、ガラス基板、あるいは、表面に絶縁被膜が形成されたガラス基板を用いることが好ましい。ガラス基板として、高歪点ガラス、低アルカリガラス、ソーダガラス(Na2O・CaO・SiO2)、硼珪酸ガラス(Na2O・B23・SiO2)、フォルステライト(2MgO・SiO2)、鉛ガラス(Na2O・PbO・SiO2)、無アルカリガラスを例示することができる。 In the present invention, the substrate constituting the cathode panel or the substrate constituting the anode panel only needs to be formed of an insulating member on the surface where these substrates are opposed to each other. Examples include a glass substrate with a coating film, a quartz substrate, a quartz substrate with an insulating coating formed on the surface, and a semiconductor substrate with an insulating coating formed on the surface. Or it is preferable to use the glass substrate in which the insulating film was formed in the surface. As glass substrates, high strain point glass, low alkali glass, soda glass (Na 2 O · CaO · SiO 2 ), borosilicate glass (Na 2 O · B 2 O 3 · SiO 2 ), forsterite (2MgO · SiO 2) ), Lead glass (Na 2 O · PbO · SiO 2 ), and alkali-free glass.

平面型表示装置において、アノード電極と蛍光体領域の構成例として、
(1)基板上に、アノード電極を形成し、アノード電極の上に蛍光体領域を形成する構成
(2)基板上に、蛍光体領域を形成し、蛍光体領域上にアノード電極を形成する構成
を挙げることができる。尚、(1)の構成において、蛍光体領域の上に、アノード電極と導通した所謂メタルバック膜を形成してもよい。また、(2)の構成において、アノード電極の上にメタルバック膜を形成してもよい。尚、メタルバック膜をアノード電極と兼ねることもできる。
In the flat display device, as a configuration example of the anode electrode and the phosphor region,
(1) A configuration in which an anode electrode is formed on a substrate and a phosphor region is formed on the anode electrode. (2) A configuration in which a phosphor region is formed on the substrate and an anode electrode is formed on the phosphor region. Can be mentioned. In the configuration (1), a so-called metal back film that is electrically connected to the anode electrode may be formed on the phosphor region. In the configuration (2), a metal back film may be formed on the anode electrode. The metal back film can also serve as the anode electrode.

アノード電極は、全体として1つのアノード電極から構成されていてもよいし、複数のアノード電極ユニットから構成されていてもよい。後者の場合、アノード電極ユニットとアノード電極ユニットとはアノード電極抵抗体層によって電気的に接続されていることが好ましい。アノード電極抵抗体層を構成する材料として、カーボン、シリコンカーバイド(SiC)やSiCNといったカーボン系材料;SiN系材料;酸化ルテニウム(RuO2)、酸化タンタル、窒化タンタル、酸化クロム、酸化チタン等の高融点金属酸化物や高融点金属窒化物;アモルファスシリコン等の半導体材料;ITOを挙げることができる。また、SiC抵抗膜上に抵抗値の低いカーボン薄膜を積層するといった複数の膜の組み合わせにより、安定した所望のシート抵抗値を実現することも可能である。アノード電極抵抗体層のシート抵抗値として、1×10-1Ω/□乃至1×1010Ω/□、好ましくは1×103Ω/□乃至1×108Ω/□を例示することができる。アノード電極ユニットの数[UN]は2以上であればよく、例えば、直線上に配列された蛍光体領域の列の総数を[un]列としたとき、[UN]=[un]とし、あるいは、[un]=u・[UN](uは2以上の整数であり、好ましくは10≦u≦100、一層好ましくは20≦u≦50)としてもよいし、一定の間隔をもって配置されたスペーサの数に1を加えた数とすることができるし、ピクセルの数あるいはサブピクセルの数と一致した数、あるいは、ピクセルの数あるいはサブピクセルの数の整数分の一とすることもできる。また、各アノード電極ユニットの大きさは、アノード電極ユニットの位置に拘わらず同じとしてもよいし、アノード電極ユニットの位置に依存して異ならせてもよい。全体として1つのアノード電極の上にアノード電極抵抗体層を形成してもよい。このように、アノード電極を有効領域のほぼ全面に亙って形成する代わりに、より小さい面積を有するアノード電極ユニットに分割した形で形成すれば、アノード電極ユニットと電子放出領域との間の静電容量を減少させることができる。その結果、放電の発生を低減することができ、放電に起因したアノード電極や電子放出領域の損傷の発生を効果的に減少させることができる。 The anode electrode may be composed of one anode electrode as a whole, or may be composed of a plurality of anode electrode units. In the latter case, it is preferable that the anode electrode unit and the anode electrode unit are electrically connected by an anode electrode resistor layer. The material constituting the anode electrode resistor layer includes carbon-based materials such as carbon, silicon carbide (SiC), and SiCN; SiN-based materials; ruthenium oxide (RuO 2 ), tantalum oxide, tantalum nitride, chromium oxide, titanium oxide, and the like. Examples thereof include melting point metal oxides and high melting point metal nitrides; semiconductor materials such as amorphous silicon; ITO. It is also possible to realize a stable desired sheet resistance value by combining a plurality of films such as laminating a carbon thin film having a low resistance value on the SiC resistance film. Examples of the sheet resistance value of the anode electrode resistor layer include 1 × 10 −1 Ω / □ to 1 × 10 10 Ω / □, preferably 1 × 10 3 Ω / □ to 1 × 10 8 Ω / □. it can. The number of anode electrode units [UN] may be two or more. For example, when the total number of phosphor regions arranged in a straight line is [un], [UN] = [un], or , [Un] = u · [UN] (u is an integer of 2 or more, preferably 10 ≦ u ≦ 100, more preferably 20 ≦ u ≦ 50), or spacers arranged at a constant interval. The number of pixels can be a number obtained by adding 1, or the number of pixels or the number of subpixels can be matched, or the number of pixels or the number of subpixels can be an integer. The size of each anode electrode unit may be the same regardless of the position of the anode electrode unit, or may vary depending on the position of the anode electrode unit. An anode electrode resistor layer may be formed on one anode electrode as a whole. As described above, if the anode electrode is divided into anode electrode units having a smaller area, instead of being formed over almost the entire effective area, the static electricity between the anode electrode unit and the electron emission area is formed. The electric capacity can be reduced. As a result, the occurrence of discharge can be reduced, and the occurrence of damage to the anode electrode and the electron emission region due to the discharge can be effectively reduced.

アノード電極をアノード電極ユニットから構成する場合であって隔壁(後述する)が形成されている場合、アノード電極ユニットは、各蛍光体領域上から隔壁側面上に亙り形成されている形態とすることができる。尚、アノード電極ユニットは、各蛍光体領域上から隔壁側面の途中まで形成されている形態であってもよい。   When the anode electrode is composed of an anode electrode unit and a partition wall (described later) is formed, the anode electrode unit may be formed so as to extend from each phosphor region to the partition wall side surface. it can. The anode electrode unit may be formed from each phosphor region to the middle of the side wall of the partition wall.

アノード電極(アノード電極ユニットを包含する)は、導電材料層を用いて形成すればよい。導電材料層の形成方法として、例えば、電子ビーム蒸着法や熱フィラメント蒸着法といった真空蒸着法、スパッタリング法、イオンプレーティング法、レーザアブレーション法といった各種PVD法;各種CVD法;スクリーン印刷法を含む各種印刷法;メタルマスク印刷法;リフトオフ法;ゾル−ゲル法等を挙げることができる。即ち、導電材料層を形成し、リソグラフィ技術及びエッチング技術に基づき、この導電材料層をパターニングしてアノード電極を形成することができる。あるいは又、アノード電極のパターンを有するマスクやスクリーンを介して導電材料をPVD法や各種印刷法に基づき形成することによって、アノード電極を得ることもできる。尚、アノード電極抵抗体層も、アノード電極と同様の、あるいは、類似した方法で形成することができる。即ち、抵抗体材料からアノード電極抵抗体層を形成し、リソグラフィ技術及びエッチング技術に基づきこのアノード電極抵抗体層をパターニングしてもよいし、あるいは、アノード電極抵抗体層のパターンを有するマスクやスクリーンを介して抵抗体材料のPVD法や各種印刷法に基づく形成により、アノード電極抵抗体層を得ることができる。基板上(あるいは基板上方)におけるアノード電極の平均厚さ(後述するように隔壁を設ける場合、隔壁の頂面上におけるアノード電極の平均厚さ)として、3×10-8m(30nm)乃至1×10-6m(1μm)、好ましくは5×10-8m(50nm)乃至5×10-7m(0.5μm)を例示することができる。 The anode electrode (including the anode electrode unit) may be formed using a conductive material layer. As a method for forming the conductive material layer, for example, vacuum deposition methods such as electron beam deposition method and hot filament deposition method, various PVD methods such as sputtering method, ion plating method and laser ablation method; various CVD methods; various methods including screen printing method Examples thereof include printing method; metal mask printing method; lift-off method; sol-gel method. That is, a conductive material layer is formed, and based on lithography technology and etching technology, this conductive material layer can be patterned to form an anode electrode. Alternatively, the anode electrode can be obtained by forming a conductive material based on the PVD method or various printing methods through a mask or screen having a pattern of the anode electrode. The anode electrode resistor layer can also be formed by the same or similar method as the anode electrode. That is, an anode electrode resistor layer may be formed from a resistor material, and the anode electrode resistor layer may be patterned based on a lithography technique and an etching technique, or a mask or a screen having an anode electrode resistor layer pattern. The anode electrode resistor layer can be obtained by forming the resistor material through the PVD method and various printing methods. 3 × 10 −8 m (30 nm) to 1 as the average thickness of the anode electrode on the substrate (or above the substrate) (when the partition is provided as described later, the average thickness of the anode electrode on the top surface of the partition) Examples include x10 −6 m (1 μm), preferably 5 × 10 −8 m (50 nm) to 5 × 10 −7 m (0.5 μm).

アノード電極の構成材料として、アルミニウム(Al)、モリブデン(Mo)、クロム(Cr)、タングステン(W)、ニオブ(Nb)、タンタル(Ta)、金(Au)、銀(Ag)、チタン(Ti)、コバルト(Co)、ジルコニウム(Zr)、鉄(Fe)、白金(Pt)、亜鉛(Zn)等の金属;これらの金属元素を含む合金あるいは化合物(例えばTiN等の窒化物や、WSi2、MoSi2、TiSi2、TaSi2等のシリサイド);シリコン(Si)等の半導体;ダイヤモンドやグラファイト等の炭素薄膜;ITO(酸化インジウム−錫)、酸化インジウム、酸化亜鉛等の導電性金属酸化物を例示することができる。尚、アノード電極抵抗体層を形成する場合、アノード電極抵抗体層の電気抵抗値を変化させない導電材料からアノード電極を構成することが好ましく、例えば、アノード電極抵抗体層をシリコンカーバイド(SiC)から構成した場合、アノード電極をモリブデン(Mo)やアルミニウム(Al)から構成することが好ましい。 As the constituent material of the anode electrode, aluminum (Al), molybdenum (Mo), chromium (Cr), tungsten (W), niobium (Nb), tantalum (Ta), gold (Au), silver (Ag), titanium (Ti ), Cobalt (Co), zirconium (Zr), iron (Fe), platinum (Pt), zinc (Zn), etc .; alloys or compounds containing these metal elements (for example, nitrides such as TiN, WSi 2 , MoSi 2 , TiSi 2 , TaSi 2, etc.); silicon (Si), semiconductors; diamond, graphite and other carbon thin films; ITO (indium oxide-tin), indium oxide, zinc oxide, etc., conductive metal oxides Can be illustrated. When the anode electrode resistor layer is formed, the anode electrode is preferably made of a conductive material that does not change the electric resistance value of the anode electrode resistor layer. For example, the anode electrode resistor layer is made of silicon carbide (SiC). When comprised, it is preferable to comprise an anode electrode from molybdenum (Mo) or aluminum (Al).

蛍光体領域は、単色の蛍光体粒子から構成されていても、3原色の蛍光体粒子から構成されていてもよい。蛍光体領域の配列様式は、例えば、ドット状である。具体的には、平面型表示装置がカラー表示の場合、蛍光体領域の配置、配列として、デルタ配列、ストライプ配列、ダイアゴナル配列、レクタングル配列を挙げることができる。即ち、直線上に配列された蛍光体領域の1列は、全てが赤色発光蛍光体領域で占められた列、緑色発光蛍光体領域で占められた列、及び、青色発光蛍光体領域で占められた列から構成されていてもよいし、赤色発光蛍光体領域、緑色発光蛍光体領域、及び、青色発光蛍光体領域が順に配置された列から構成されていてもよい。ここで、蛍光体領域とは、アノードパネル上において1つの輝点を生成する蛍光体の領域であると定義する。また、1画素(1ピクセル)は、1つの赤色発光蛍光体領域、1つの緑色発光蛍光体領域、及び、1つの青色発光蛍光体領域の集合から構成され、1サブピクセルは、1つの蛍光体領域(1つの赤色発光蛍光体領域、あるいは、1つの緑色発光蛍光体領域、あるいは、1つの青色発光蛍光体領域)から構成される。尚、隣り合う蛍光体領域の間の隙間がコントラスト向上を目的とした光吸収層(ブラックマトリックス)で埋め込まれていてもよい。   The phosphor region may be composed of monochromatic phosphor particles or may be composed of three primary color phosphor particles. The arrangement pattern of the phosphor regions is, for example, a dot shape. Specifically, when the flat display device is a color display, examples of the arrangement and arrangement of the phosphor regions include a delta arrangement, a stripe arrangement, a diagonal arrangement, and a rectangle arrangement. That is, one row of the phosphor regions arranged in a straight line is occupied by the row occupied by the red light emitting phosphor region, the row occupied by the green light emitting phosphor region, and the blue light emitting phosphor region. May be composed of a row in which a red light-emitting phosphor region, a green light-emitting phosphor region, and a blue light-emitting phosphor region are sequentially arranged. Here, the phosphor region is defined as a phosphor region that generates one bright spot on the anode panel. One pixel (one pixel) is composed of a set of one red light emitting phosphor region, one green light emitting phosphor region, and one blue light emitting phosphor region, and one subpixel is one phosphor. The region is composed of one red light emitting phosphor region, one green light emitting phosphor region, or one blue light emitting phosphor region. A gap between adjacent phosphor regions may be filled with a light absorption layer (black matrix) for the purpose of improving contrast.

蛍光体領域は、発光性結晶粒子から調製された発光性結晶粒子組成物を使用し、例えば、赤色の感光性の発光性結晶粒子組成物(赤色発光蛍光体スラリー)を全面に塗布し、露光、現像して、赤色発光蛍光体領域を形成し、次いで、緑色の感光性の発光性結晶粒子組成物(緑色発光蛍光体スラリー)を全面に塗布し、露光、現像して、緑色発光蛍光体領域を形成し、更に、青色の感光性の発光性結晶粒子組成物(青色発光蛍光体スラリー)を全面に塗布し、露光、現像して、青色発光蛍光体領域を形成する方法にて形成することができる。あるいは又、スクリーン印刷法やインクジェット印刷法、フロート塗布法、沈降塗布法、蛍光体フィルム転写法等により各蛍光体領域を形成してもよい。基板上における蛍光体領域の平均厚さは、限定するものではないが、3μm乃至20μm、好ましくは5μm乃至10μmであることが望ましい。発光性結晶粒子を構成する蛍光体材料としては、従来公知の蛍光体材料の中から、適宜、選択して用いることができる。カラー表示の場合、色純度がNTSCで規定される3原色に近く、3原色を混合した際の白バランスがとれ、残光時間が短く、3原色の残光時間がほぼ等しくなる蛍光体材料を組み合わせることが好ましい。   For the phosphor region, a luminescent crystal particle composition prepared from luminescent crystal particles is used. For example, a red photosensitive luminescent crystal particle composition (red light-emitting phosphor slurry) is applied to the entire surface and exposed. And developing to form a red light emitting phosphor region, and then applying a green photosensitive luminescent crystal particle composition (green light emitting phosphor slurry) to the entire surface, exposing and developing, and then producing a green light emitting phosphor. A region is formed, and further, a blue photosensitive luminescent crystal particle composition (blue light emitting phosphor slurry) is coated on the entire surface, exposed and developed to form a blue light emitting phosphor region. be able to. Alternatively, each phosphor region may be formed by a screen printing method, an ink jet printing method, a float coating method, a sedimentation coating method, a phosphor film transfer method, or the like. Although the average thickness of the phosphor region on the substrate is not limited, it is desirably 3 μm to 20 μm, preferably 5 μm to 10 μm. The phosphor material constituting the luminescent crystal particles can be appropriately selected from conventionally known phosphor materials. In the case of color display, a phosphor material whose color purity is close to the three primary colors specified by NTSC, white balance is achieved when the three primary colors are mixed, the afterglow time is short, and the afterglow time of the three primary colors is almost equal. It is preferable to combine them.

蛍光体領域からの光を吸収する光吸収層が、隣り合う蛍光体領域の間、あるいは、後述する隔壁と基板との間に形成されていることが、表示画像のコントラスト向上といった観点から好ましい。ここで、光吸収層は、所謂ブラックマトリックスとして機能する。光吸収層を構成する材料として、蛍光体領域からの光を90%以上吸収する材料を選択することが好ましい。このような材料として、カーボン、金属薄膜(例えば、クロム、ニッケル、アルミニウム、モリブデン等、あるいは、これらの合金)、金属酸化物(例えば、酸化クロム)、金属窒化物(例えば、窒化クロム)、耐熱性有機樹脂、ガラスペースト、黒色顔料や銀等の導電性粒子を含有するガラスペースト等の材料を挙げることができ、具体的には、感光性ポリイミド樹脂、酸化クロムや、酸化クロム/クロム積層膜を例示することができる。尚、酸化クロム/クロム積層膜においては、クロム膜が基板と接する。光吸収層は、例えば、真空蒸着法やスパッタリング法とエッチング法との組合せ、真空蒸着法やスパッタリング法、スピンコーティング法とリフトオフ法との組合せ、各種印刷法、リソグラフィ技術等、使用する材料に依存して、適宜、選択された方法にて形成することができる。   It is preferable from the viewpoint of improving the contrast of the display image that the light absorption layer that absorbs light from the phosphor region is formed between adjacent phosphor regions or between a partition wall and a substrate described later. Here, the light absorption layer functions as a so-called black matrix. As a material constituting the light absorption layer, it is preferable to select a material that absorbs 90% or more of light from the phosphor region. Such materials include carbon, metal thin films (eg, chromium, nickel, aluminum, molybdenum, etc., or alloys thereof), metal oxides (eg, chromium oxide), metal nitrides (eg, chromium nitride), heat resistance Materials such as photosensitive organic resins, glass pastes, glass pastes containing conductive particles such as black pigments and silver, and specifically, photosensitive polyimide resins, chromium oxides, and chromium oxide / chromium laminated films Can be illustrated. In the chromium oxide / chromium laminated film, the chromium film is in contact with the substrate. The light absorption layer depends on the material used, for example, a combination of a vacuum deposition method, a sputtering method and an etching method, a combination of a vacuum deposition method, a sputtering method, a spin coating method and a lift-off method, various printing methods, a lithography technique, etc. Thus, it can be formed by a method selected as appropriate.

蛍光体領域から反跳した電子、あるいは、蛍光体領域から放出された2次電子が他の蛍光体領域に入射し、所謂光学的クロストーク(色濁り)が発生することを防止するために、隔壁を設けることが好ましい。隔壁の形成方法として、前述したスペーサ保持部の形成方法と同様の方法を挙げることができる。また、隔壁を構成する材料も、スペーサ保持部を構成する材料と同じ材料を例示することができる。隔壁を形成した後、隔壁を研磨し、隔壁頂面の平坦化を図ってもよい。隔壁における蛍光体領域を取り囲む部分の平面形状(隔壁側面の射影像の内側輪郭線に相当し、一種の開口領域である)として、矩形形状、円形形状、楕円形状、長円形状、三角形形状、五角形以上の多角形形状、丸みを帯びた三角形形状、丸みを帯びた矩形形状、丸みを帯びた多角形等を例示することができるし、蛍光体領域の二辺と平行に延びる直線状の形状(棒状の形状)を挙げることができる。これらの平面形状(開口領域の平面形状)が2次元マトリクス状に配列されることにより、格子状の隔壁が形成される。この2次元マトリクス状の配列は、例えば井桁様に配列されるものでもよいし、千鳥様に配列されるものでもよい。   In order to prevent an electron recoiled from the phosphor region or a secondary electron emitted from the phosphor region from entering another phosphor region, so-called optical crosstalk (color turbidity) is generated. It is preferable to provide a partition wall. Examples of the method for forming the partition include the same method as the method for forming the spacer holding portion described above. Moreover, the material which comprises a partition can also illustrate the same material as the material which comprises a spacer holding part. After the partition wall is formed, the partition wall may be polished to flatten the top surface of the partition wall. As a planar shape of the part surrounding the phosphor region in the partition wall (corresponding to the inner contour line of the projected image of the partition wall side surface and a kind of opening region), a rectangular shape, a circular shape, an elliptical shape, an oval shape, a triangular shape, Examples include pentagonal or more polygonal shapes, rounded triangular shapes, rounded rectangular shapes, rounded polygons, etc., and linear shapes extending parallel to two sides of the phosphor region (Rod-like shape). By arranging these planar shapes (planar shapes of the opening regions) in a two-dimensional matrix, a lattice-like partition is formed. This two-dimensional matrix-like arrangement may be arranged, for example, like a cross or like a zigzag.

カソードパネルとアノードパネルとを周縁部において接合するが、接合は接着層を接合部材として用いて行ってもよいし、あるいは、棒状あるいはフレーム状(枠状)であってガラスやセラミックス等の絶縁剛性材料から構成された枠体と接着層とから成る接合部材を用いて行ってもよい。枠体と接着層とから成る接合部材を用いる場合には、枠体の高さを、適宜、選択することにより、接着層のみから成る接合部材を使用する場合に比べ、カソードパネルとアノードパネルとの間の対向距離をより長く設定することが可能である。尚、接着層の構成材料としては、B23−PbO系フリットガラスやSiO2−B23−PbO系フリットガラスといったフリットガラスが一般的であるが、融点が120〜400゜C程度の所謂低融点金属材料を用いてもよい。係る低融点金属材料としては、In(インジウム:融点157゜C);インジウム−金系の低融点合金;Sn80Ag20(融点220〜370゜C)、Sn95Cu5(融点227〜370゜C)等の錫(Sn)系高温はんだ;Pb97.5Ag2.5(融点304゜C)、Pb94.5Ag5.5(融点304〜365゜C)、Pb97.5Ag1.5Sn1.0(融点309゜C)等の鉛(Pb)系高温はんだ;Zn95Al5(融点380゜C)等の亜鉛(Zn)系高温はんだ;Sn5Pb95(融点300〜314゜C)、Sn2Pb98(融点316〜322゜C)等の錫−鉛系標準はんだ;Au88Ga12(融点381゜C)等のろう材(以上の添字は全て原子%を表す)を例示することができる。 The cathode panel and the anode panel are joined at the peripheral part, but the joining may be performed by using an adhesive layer as a joining member, or a rod-like or frame-like (frame-like) insulating rigidity such as glass or ceramics. You may carry out using the joining member which consists of the frame body comprised from material and an adhesive layer. When using a joining member consisting of a frame and an adhesive layer, the height of the frame is appropriately selected, so that the cathode panel and the anode panel are compared with the case where a joining member consisting only of the adhesive layer is used. It is possible to set the facing distance between the longer. The material constituting the adhesive layer is generally a frit glass such as B 2 O 3 —PbO-based frit glass or SiO 2 —B 2 O 3 —PbO-based frit glass, but has a melting point of about 120 to 400 ° C. These so-called low melting point metal materials may be used. Such low melting point metal materials include In (indium: melting point 157 ° C.); indium-gold based low melting point alloy; Sn 80 Ag 20 (melting point 220 to 370 ° C.), Sn 95 Cu 5 (melting point 227 to 370 ° C.) C) tin (Sn) type high temperature solder such as Pb 97.5 Ag 2.5 (melting point 304 ° C.), Pb 94.5 Ag 5.5 (melting point 304 to 365 ° C.), Pb 97.5 Ag 1.5 Sn 1.0 (melting point 309 ° C.), etc. Lead (Pb) high temperature solder; zinc (Zn) high temperature solder such as Zn 95 Al 5 (melting point 380 ° C.); Sn 5 Pb 95 (melting point 300 to 314 ° C.), Sn 2 Pb 98 (melting point 316 to 322) Tin-lead standard solder such as ° C); brazing material such as Au 88 Ga 12 (melting point 381 ° C) (the above subscripts all represent atomic%).

カソードパネルとアノードパネルと接合部材の三者を接合する場合、三者を同時に接合してもよいし、あるいは、第1段階でカソードパネル又はアノードパネルのいずれか一方と接合部材とを接合し、第2段階でカソードパネル又はアノードパネルの他方と接合部材とを接合してもよい。三者同時接合や第2段階における接合を高真空雰囲気中で行えば、カソードパネルとアノードパネルと接合部材とにより囲まれた空間は、接合と同時に真空となる。あるいは、三者の接合終了後、カソードパネルとアノードパネルと接合部材とによって囲まれた空間を排気し、真空とすることもできる。接合後に排気を行う場合、接合時の雰囲気の圧力は常圧/減圧のいずれであってもよく、また、雰囲気を構成する気体は、窒素ガスや周期律表0族に属するガス(例えばArガス)を含む不活性ガスとすることが好ましいが、大気中で行うこともできる。   When joining the three members of the cathode panel, the anode panel, and the joining member, the three members may be joined at the same time, or in the first stage, either the cathode panel or the anode panel and the joining member are joined, In the second stage, the other of the cathode panel or the anode panel and the joining member may be joined. If the three-party simultaneous bonding or the second stage bonding is performed in a high vacuum atmosphere, the space surrounded by the cathode panel, the anode panel, and the bonding member becomes a vacuum simultaneously with the bonding. Alternatively, after the three members are joined, the space surrounded by the cathode panel, the anode panel, and the joining member can be evacuated to create a vacuum. When exhausting after joining, the atmosphere pressure during joining may be either normal pressure or reduced pressure, and the gas constituting the atmosphere may be nitrogen gas or a gas belonging to Group 0 of the periodic table (for example, Ar gas) ) Is preferable, but it can also be performed in the atmosphere.

排気を行う場合、排気は、カソードパネル及び/又はアノードパネルに予め接続されたチップ管とも呼ばれる排気管を通じて行うことができる。排気管は、典型的にはガラス管、あるいは、低熱膨張率を有する金属や合金[例えば、ニッケル(Ni)を42重量%含有した鉄(Fe)合金や、ニッケル(Ni)を42重量%、クロム(Cr)を6重量%含有した鉄(Fe)合金]から成る中空管から構成され、カソードパネル及び/又はアノードパネルの無効領域に設けられた貫通部の周囲に、上述のフリットガラス又は低融点金属材料を用いて接合され、空間が所定の真空度に達した後、熱融着によって封じ切られ、あるいは又、圧着することにより封じられる。尚、封じる前に、平面型表示装置全体を一旦加熱してから降温させると、空間に残留ガスを放出させることができ、この残留ガスを排気により空間外へ除去することができるので好適である。   When exhaust is performed, the exhaust can be performed through an exhaust pipe called a tip pipe connected in advance to the cathode panel and / or the anode panel. The exhaust pipe is typically a glass pipe, or a metal or alloy having a low coefficient of thermal expansion [for example, an iron (Fe) alloy containing 42 wt% nickel (Ni), 42 wt% nickel (Ni), A hollow tube made of an iron (Fe) alloy containing 6 wt% chromium (Cr)], and the above-mentioned frit glass or After being joined using a low melting point metal material and the space has reached a predetermined degree of vacuum, it is sealed off by thermal fusion or sealed by crimping. In addition, if the whole flat display device is once heated and then cooled before sealing, it is preferable because residual gas can be released into the space, and this residual gas can be removed out of the space by exhaust. .

本発明において、画素の数をM×Nとしたとき、(M,N)として、具体的には、VGA(640,480)、S−VGA(800,600)、XGA(1024,768)、APRC(1152,900)、S−XGA(1280,1024)、U−XGA(1600,1200)、HD−TV(1920,1080)、Q−XGA(2048,1536)の他、(1920,1035)、(720,480)、(1280,960)等、画像表示用解像度の幾つかを例示することができるが、これらの値に限定するものではない。   In the present invention, when the number of pixels is M × N, as (M, N), specifically, VGA (640, 480), S-VGA (800, 600), XGA (1024, 768), APRC (1152,900), S-XGA (1280,1024), U-XGA (1600,1200), HD-TV (1920,1080), Q-XGA (2048,1536), (1920,1035) , (720, 480), (1280, 960), and the like, some of the image display resolutions can be exemplified, but are not limited to these values.

本発明の第1の態様に係る平面型表示装置において、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部の間隔は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部の間隔よりも狭い。従って、LE−LC>0の関係を得ることができる結果、スペーサの端部領域において、スペーサの底面が電極から浮き上がってしまうといった現象が発生することを確実に防止することができる。また、本発明の第2の態様に係る平面型表示装置にあっては、アノードパネルの有効領域から無効領域に亙り対となったスペーサ保持部が設けられているので、スペーサの端部領域において、スペーサの底面が電極から浮き上がってしまうといった現象が発生することを確実に防止することができる。更には、本発明の第3の態様に係る平面型表示装置にあっては、アノードパネルの無効領域におけるアノードパネルの部分にはスペーサの頂面と接する突起部が設けられているので、スペーサの端部領域において、スペーサの底面が電極から浮き上がってしまうといった現象が発生することを確実に防止することができる。そして、以上の結果として、スペーサの底面からの放熱が悪くなる結果、やがて、スペーサの端部領域における電気抵抗値に変化が生じ、熱暴走が生じるといった現象の発生を、確実に防止することができ、高い信頼性を有する平面型表示装置を提供することができる。 In the flat display device according to the first aspect of the present invention, the interval between the pair of spacer holding portions that hold the end region of the spacer is the interval between the pair of spacer holding portions that hold the central portion of the spacer. Narrower than. Therefore, as a result of obtaining the relationship of L E −L C > 0, it is possible to reliably prevent the phenomenon that the bottom surface of the spacer is lifted from the electrode in the end region of the spacer. Further, in the flat display device according to the second aspect of the present invention, since the spacer holding portion that is paired from the effective region of the anode panel to the ineffective region is provided, in the end region of the spacer It is possible to reliably prevent the phenomenon that the bottom surface of the spacer is lifted from the electrode. Furthermore, in the flat display device according to the third aspect of the present invention, the protrusion of the spacer in contact with the top surface of the spacer is provided on the portion of the anode panel in the ineffective area of the anode panel. In the end region, it is possible to reliably prevent the phenomenon that the bottom surface of the spacer is lifted from the electrode. As a result of the above, it is possible to reliably prevent the occurrence of a phenomenon in which, as a result of heat dissipation from the bottom surface of the spacer, the electrical resistance value in the end region of the spacer eventually changes and thermal runaway occurs. And a flat display device having high reliability can be provided.

以下、図面を参照して、実施例に基づき本発明を説明するが、それに先立ち、実施例1〜実施例3における平面型表示装置の共通した概要を、以下、説明する。ここで、実施例1〜実施例3における平面型表示装置は、冷陰極電界電子放出表示装置(以下、表示装置と略称する)である。実施例1〜実施例3における表示装置にあっては、帯状のゲート電極(例えば走査電極)は行方向(X方向)に延び、帯状のカソード電極(例えばデータ電極)は列方向(Y方向)に延びている。   Hereinafter, the present invention will be described based on examples with reference to the drawings. Prior to that, a common outline of flat display devices in examples 1 to 3 will be described below. Here, the flat display devices in Examples 1 to 3 are cold cathode field emission display devices (hereinafter abbreviated as display devices). In the display devices according to the first to third embodiments, the strip-shaped gate electrode (for example, scanning electrode) extends in the row direction (X direction), and the strip-shaped cathode electrode (for example, data electrode) extends in the column direction (Y direction). It extends to.

実施例における表示装置の模式的な一部端面図は図8に示したと同様であり、カソードパネルCP及びアノードパネルAPを分解したときのカソードパネルCPとアノードパネルAPの一部分の模式的な分解斜視図は図9に示したと同様である。即ち、実施例における表示装置は、支持体10上に行方向(X方向)及び列方向(Y方向)に沿って2次元マトリクス状に配列された電子放出領域EAを備えたカソードパネルCPと、蛍光体領域22及びアノード電極24が設けられたアノードパネルAPとが外周部で接合されている。   A schematic partial end view of the display device in the embodiment is the same as that shown in FIG. 8, and a schematic exploded perspective view of a part of the cathode panel CP and the anode panel AP when the cathode panel CP and the anode panel AP are disassembled. The figure is similar to that shown in FIG. That is, the display device in the embodiment includes a cathode panel CP including electron emission regions EA arranged in a two-dimensional matrix along the row direction (X direction) and the column direction (Y direction) on the support 10; The phosphor region 22 and the anode panel AP provided with the anode electrode 24 are joined at the outer periphery.

ここで、実施例における表示装置は、有効領域EF、及び、有効領域EFを取り囲む無効領域NFを有する。尚、有効領域EFとは、表示装置としての実用上の画像表示機能を果たす略中央に位置する表示領域であり、この有効領域EFは、額縁状に包囲する無効領域NFによって囲まれている。そして、カソードパネルCPとアノードパネルAPとによって挟まれた空間は真空(圧力:例えば10-3Pa以下)に保持されている。カソードパネルCPの無効領域NFには、真空排気用の貫通孔(図示せず)が設けられており、この貫通孔には、真空排気後に封じ切られるチップ管とも呼ばれる排気管(図示せず)が取り付けられている。 Here, the display device according to the embodiment includes an effective area EF and an invalid area NF surrounding the effective area EF. The effective area EF is a display area located substantially in the center that performs a practical image display function as a display device. The effective area EF is surrounded by an ineffective area NF that surrounds the frame. The space sandwiched between the cathode panel CP and the anode panel AP is maintained in a vacuum (pressure: for example, 10 −3 Pa or less). The ineffective area NF of the cathode panel CP is provided with a through hole (not shown) for evacuation, and in this through hole, an exhaust pipe (not shown) called a chip tube that is sealed after evacuation. Is attached.

実施例において、電子放出領域EAを構成する電界放出素子は、例えば、スピント型電界放出素子から構成されている。スピント型電界放出素子は、
(a)支持体10上に形成された帯状のカソード電極11、
(b)支持体10及びカソード電極11上に形成された絶縁層12、
(c)絶縁層12上に形成された帯状のゲート電極13、
(d)カソード電極11とゲート電極13の重複する重複領域に位置するゲート電極13及び絶縁層12の部分に設けられ、底部にカソード電極11が露出した開口部14(ゲート電極13に設けられた第1開口部14A、及び、絶縁層12に設けられた第2開口部14B)、並びに、
(e)開口部14の底部に露出したカソード電極11上に設けられ、カソード電極11及びゲート電極13への電圧の印加によって電子放出が制御される電子放出部15、
から構成されている。ここで、電子放出部15の形状は円錐形である。また、絶縁層12上には層間絶縁層16が形成されており、層間絶縁層16上には収束電極17が形成されている。
In the embodiment, the field emission device constituting the electron emission region EA is constituted by, for example, a Spindt type field emission device. Spindt-type field emission devices
(A) a strip-shaped cathode electrode 11 formed on the support 10;
(B) an insulating layer 12 formed on the support 10 and the cathode electrode 11;
(C) a strip-shaped gate electrode 13 formed on the insulating layer 12;
(D) An opening 14 (provided in the gate electrode 13) provided in a portion of the gate electrode 13 and the insulating layer 12 located in the overlapping region where the cathode electrode 11 and the gate electrode 13 overlap, with the cathode electrode 11 exposed at the bottom. 14A of 1st opening parts, 2nd opening part 14B provided in the insulating layer 12, and,
(E) an electron emitting portion 15 provided on the cathode electrode 11 exposed at the bottom of the opening 14 and whose electron emission is controlled by applying a voltage to the cathode electrode 11 and the gate electrode 13;
It is composed of Here, the shape of the electron emission portion 15 is a conical shape. An interlayer insulating layer 16 is formed on the insulating layer 12, and a focusing electrode 17 is formed on the interlayer insulating layer 16.

実施例の表示装置において、カソード電極11とゲート電極13とは、これらの両電極11,13の射影像が互いに直交する方向(列方向及び行方向)に各々帯状に形成されており、これらの両電極の射影像が重複する領域(1副画素(サブピクセル)分の領域に相当し、電子放出領域EAである)に、複数の電界放出素子が設けられている。尚、図面の簡素化のため、図8では、各電子放出領域EAにおいて2つの電子放出部15を図示した。そして、係る電子放出領域EAが、カソードパネルCPの有効領域EF(実際の表示部分として機能する領域)内に、通常、上述したとおり、2次元マトリクス状に配列されている。   In the display device of the embodiment, the cathode electrode 11 and the gate electrode 13 are each formed in a strip shape in a direction (column direction and row direction) in which the projected images of the electrodes 11 and 13 are orthogonal to each other. A plurality of field emission elements are provided in a region where the projected images of both electrodes overlap (corresponding to a region corresponding to one sub-pixel (sub-pixel), which is an electron emission region EA). For simplification of the drawing, FIG. 8 shows two electron emission portions 15 in each electron emission area EA. The electron emission areas EA are usually arranged in a two-dimensional matrix as described above in the effective area EF (area that functions as an actual display portion) of the cathode panel CP.

カソードパネルCPとアノードパネルAPとの間にはスペーサ40が配置されている。スペーサ40は、アノードパネルAPに設けられ、対となったスペーサ保持部50,60,70によって保持されている。スペーサ保持部の詳細については、後述するが、スペーサ保持部50,60,70は、次に述べる隔壁21の一部によって構成されている。   A spacer 40 is disposed between the cathode panel CP and the anode panel AP. The spacer 40 is provided on the anode panel AP, and is held by a pair of spacer holding portions 50, 60, and 70. Although details of the spacer holding portion will be described later, the spacer holding portions 50, 60, and 70 are constituted by a part of the partition wall 21 described below.

アノードパネルAPは、基板20と、基板20上に形成され、所定のパターンを有する蛍光体領域22と、その上に形成されたアノード電極24から構成されている。1副画素(1サブピクセル)は、電子放出領域EAと、電子放出領域EAに対面したアノードパネル側の蛍光体領域22とによって構成されている。有効領域EFには、係る副画素が、例えば数十万〜数百万個ものオーダーにて配列されている。尚、蛍光体領域22と蛍光体領域22との間の基板20上には、表示画像の色濁り、光学的クロストークの発生を防止するために、光吸収層(ブラックマトリックス)23が形成されている。アノード電極24は、厚さ約0.3μmのアルミニウム(Al)から成り、有効領域EFを覆う薄い1枚のシート状であり、蛍光体領域22を覆う状態で設けられている。図9においては、隔壁やスペーサ、スペーサ保持部の図示を省略した。カラー表示の表示装置の場合には、1画素(1ピクセル)は、1つの赤色発光蛍光体領域22R、1つの緑色発光蛍光体領域22G、及び、1つの青色発光蛍光体領域22Bの集合から構成されている。各蛍光体領域22を取り囲む格子状の隔壁21が基板20上に形成されている。各蛍光体領域22は、隔壁21によって囲まれている。格子状の隔壁21における蛍光体領域22を取り囲む部分の平面形状(隔壁側面の射影像の内側輪郭線に相当し、一種の開口領域である)は、矩形形状(長方形)であり、これらの平面形状(開口領域の平面形状)は2次元マトリクス状(より具体的には、井桁)に配列され、格子状の隔壁21が形成されている。   The anode panel AP includes a substrate 20, a phosphor region 22 formed on the substrate 20 and having a predetermined pattern, and an anode electrode 24 formed thereon. One sub-pixel (one sub-pixel) includes an electron emission area EA and a phosphor area 22 on the anode panel side facing the electron emission area EA. In the effective area EF, the sub-pixels are arranged on the order of several hundred thousand to several million, for example. A light absorption layer (black matrix) 23 is formed on the substrate 20 between the phosphor region 22 and the phosphor region 22 in order to prevent color turbidity of the display image and occurrence of optical crosstalk. ing. The anode electrode 24 is made of aluminum (Al) having a thickness of about 0.3 μm, is in the form of a thin sheet that covers the effective region EF, and is provided so as to cover the phosphor region 22. In FIG. 9, illustration of partition walls, spacers, and spacer holding portions is omitted. In the case of a color display device, one pixel (one pixel) is composed of a set of one red light emitting phosphor region 22R, one green light emitting phosphor region 22G, and one blue light emitting phosphor region 22B. Has been. A grid-like partition wall 21 surrounding each phosphor region 22 is formed on the substrate 20. Each phosphor region 22 is surrounded by a partition wall 21. The planar shape (corresponding to the inner contour line of the projected image of the partition wall side surface and a kind of opening region) of the portion surrounding the phosphor region 22 in the lattice-shaped partition wall 21 is a rectangular shape (rectangle), and these planes The shape (planar shape of the opening region) is arranged in a two-dimensional matrix (more specifically, a cross beam), and a lattice-like partition wall 21 is formed.

実施例の表示装置においては、カソードパネルCPとアノードパネルAPとの間に、行方向(X方向)に延びる平板状のスペーサ40が、P列(具体的には、20インチ型の表示装置にあっては、7本)、配置されている。スペーサ40は、アルミナ(Al23、純度99.8重量%)から成り、スペーサ40の頂面と底面との間の抵抗値は、約1×1010Ω(約10GΩ、比抵抗値では約6×107Ω・m)である。また、スペーサ40の側面には、RFスパッタリング法に基づき、厚さ4nmの酸化クロム(CrOx)から成る帯電防止膜41(図8にのみ示す)が形成されている。酸化クロムは、2次電子放出係数が比較的小さく、スペーサ40が正に帯電するような条件下では、帯電防止膜として非常に好ましい材料である。 In the display device of the embodiment, a flat spacer 40 extending in the row direction (X direction) is provided between the cathode panel CP and the anode panel AP in the P column (specifically, a 20-inch display device). If there are, 7). The spacer 40 is made of alumina (Al 2 O 3 , purity 99.8% by weight), and the resistance value between the top surface and the bottom surface of the spacer 40 is about 1 × 10 10 Ω (about 10 GΩ, specific resistance value). About 6 × 10 7 Ω · m). Further, an antistatic film 41 (shown only in FIG. 8) made of chromium oxide (CrO x ) having a thickness of 4 nm is formed on the side surface of the spacer 40 based on the RF sputtering method. Chromium oxide has a relatively small secondary electron emission coefficient and is a very preferable material for the antistatic film under the condition that the spacer 40 is positively charged.

スペーサ保持部50,60,70を兼ねた隔壁21は、感光性のポリイミド樹脂から成り、感光法によって形成されている。具体的には、下地である基板20上に感光性を有する隔壁形成用材料層(感光性ポリイミド樹脂層)を形成し、露光及び現像によってこの隔壁形成用材料層をパターニングした後、焼成(硬化)を行うことで、スペーサ保持部50,60,70を兼ねた隔壁21は形成されている。スペーサ保持部50,60,70を兼ねた隔壁21の高さは、例えば、40μmである。スペーサ40の延びる方向(X方向)に対して垂直な仮想平面で対となったスペーサ保持部50,60,70を切断したときの、対となったスペーサ保持部50,60,70とスペーサ保持部50,60,70とによって挟まれた領域の断面形状は、基板20に近い領域ほど幅が狭く、カソードパネルCPに向かって幅が広がる形状(即ち、アノードパネルAPを上、カソードパネルCPを下に配置したと想定したとき、一種の「ハの字」形状)である。後述する突起部71も、同様に、感光性のポリイミド樹脂から成り、感光法によって形成されている。   The partition wall 21 also serving as the spacer holding portions 50, 60, 70 is made of a photosensitive polyimide resin, and is formed by a photosensitive method. Specifically, a barrier rib-forming material layer (photosensitive polyimide resin layer) having photosensitivity is formed on the substrate 20 as a base, and the barrier rib-forming material layer is patterned by exposure and development, and then fired (cured). ), The partition wall 21 that also serves as the spacer holding portions 50, 60, and 70 is formed. The height of the partition wall 21 that also serves as the spacer holding portions 50, 60, and 70 is, for example, 40 μm. The pair of spacer holding portions 50, 60, 70 and the spacer holding when the pair of spacer holding portions 50, 60, 70 are cut in a virtual plane perpendicular to the direction in which the spacer 40 extends (X direction). The cross-sectional shape of the region sandwiched between the portions 50, 60, and 70 is such that the region closer to the substrate 20 is narrower and wider toward the cathode panel CP (that is, the anode panel AP is up and the cathode panel CP is It is a kind of “C” shape when it is assumed to be arranged below. Similarly, a protrusion 71 described later is also made of a photosensitive polyimide resin and is formed by a photosensitive method.

スペーサ保持部50,60,70はアノード電極24によって被覆されている。従って、スペーサ保持部50,60,70によって保持されたスペーサ40はアノード電極24と接している。また、スペーサ40の底面は、収束電極17と接している。それ故、スペーサ40には、頂部から底面に向かって微少電流が流れる。   The spacer holding portions 50, 60 and 70 are covered with the anode electrode 24. Therefore, the spacer 40 held by the spacer holding portions 50, 60, 70 is in contact with the anode electrode 24. The bottom surface of the spacer 40 is in contact with the focusing electrode 17. Therefore, a minute current flows through the spacer 40 from the top to the bottom.

実施例における表示装置において、カソード電極11はカソード電極制御回路31に接続され、ゲート電極13はゲート電極制御回路32に接続され、収束電極17は収束電極制御回路(図示せず)に接続され、アノード電極24はアノード電極制御回路33に接続されている。表示装置の実表示作動時、アノード電極制御回路33からアノード電極24に印加されるアノード電圧VAは、通常、一定であり、例えば、5キロボルト〜15キロボルト、具体的には、例えば、9キロボルト(例えば、d0=2.0mm)とすることができる。一方、表示装置の実表示作動時、カソード電極11に印加する電圧VC及びゲート電極13に印加する電圧VGに関しては、
(1)カソード電極11に印加する電圧VCを一定とし、ゲート電極13に印加する電圧VGを変化させる方式
(2)カソード電極11に印加する電圧VCを変化させ、ゲート電極13に印加する電圧VGを一定とする方式
(3)カソード電極11に印加する電圧VCを変化させ、且つ、ゲート電極13に印加する電圧VGも変化させる方式
のいずれを採用してもよいが、実施例における表示装置においては、上述の(2)の方式を採用する。
In the display device in the embodiment, the cathode electrode 11 is connected to the cathode electrode control circuit 31, the gate electrode 13 is connected to the gate electrode control circuit 32, the focusing electrode 17 is connected to the focusing electrode control circuit (not shown), The anode electrode 24 is connected to the anode electrode control circuit 33. At the time of actual display operation of the display device, the anode voltage V A applied from the anode electrode control circuit 33 to the anode electrode 24 is normally constant, for example, 5 kilovolts to 15 kilovolts, specifically, for example, 9 kilovolts. (For example, d 0 = 2.0 mm). On the other hand, regarding the voltage V C applied to the cathode electrode 11 and the voltage V G applied to the gate electrode 13 during the actual display operation of the display device,
(1) A method in which the voltage V C applied to the cathode electrode 11 is constant and the voltage V G applied to the gate electrode 13 is changed. (2) The voltage V C applied to the cathode electrode 11 is changed and applied to the gate electrode 13. changing the voltage V C is applied the voltage V G to the method (3) a cathode electrode 11, fixed to, and, any method to change the voltage V G applied to the gate electrode 13 may be employed but, In the display device in the embodiment, the above-described method (2) is adopted.

即ち、表示装置の実表示作動時、カソード電極11には相対的に負電圧(VC)がカソード電極制御回路31から印加され、ゲート電極13には相対的に正電圧(VG)がゲート電極制御回路32から印加され、収束電極17には収束電極制御回路から例えば0ボルトが印加され、アノード電極24にはゲート電極13よりも更に高い正電圧(アノード電圧VA)がアノード電極制御回路33から印加される。係る表示装置において、線順次駆動方式により画像の表示を行う場合、例えば、カソード電極11にカソード電極制御回路31からビデオ信号を入力し、ゲート電極13にゲート電極制御回路32から走査信号を入力する。あるいは又、カソード電極11を走査電極とし、ゲート電極13をデータ電極とする場合には、カソード電極11にカソード電極制御回路31から走査信号を入力し、ゲート電極13にゲート電極制御回路32からビデオ信号を入力すればよい。カソード電極11とゲート電極13との間に電圧を印加した際に生ずる電界により、量子トンネル効果に基づき電子放出部15から電子が放出され、この電子がアノード電極24に引き付けられ、アノード電極24を通過して蛍光体領域22に衝突する。その結果、蛍光体領域22が励起されて発光し、所望の画像を得ることができる。つまり、この表示装置の動作は、基本的に、ゲート電極13に印加される電圧VG、及び、カソード電極11に印加される電圧VCによって制御される。カソード電極11はカソード電極駆動ドライバによって駆動され、ゲート電極13はゲート電極駆動ドライバによって駆動される。カソード電極制御回路31、ゲート電極制御回路32、アノード電極制御回路33や駆動ドライバは周知の回路から構成することができる。 That is, during the actual display operation of the display device, a relatively negative voltage (V C ) is applied to the cathode electrode 11 from the cathode electrode control circuit 31, and a relatively positive voltage (V G ) is applied to the gate electrode 13. For example, 0 V is applied from the focusing electrode control circuit to the focusing electrode 17, and a higher positive voltage (anode voltage V A ) than the gate electrode 13 is applied to the anode electrode 24. 33 is applied. In such a display device, when an image is displayed by a line sequential driving method, for example, a video signal is input from the cathode electrode control circuit 31 to the cathode electrode 11 and a scanning signal is input from the gate electrode control circuit 32 to the gate electrode 13. . Alternatively, when the cathode electrode 11 is used as a scanning electrode and the gate electrode 13 is used as a data electrode, a scanning signal is input to the cathode electrode 11 from the cathode electrode control circuit 31, and a video signal is input to the gate electrode 13 from the gate electrode control circuit 32. What is necessary is just to input a signal. Electrons are emitted from the electron emitter 15 based on the quantum tunnel effect due to an electric field generated when a voltage is applied between the cathode electrode 11 and the gate electrode 13, and the electrons are attracted to the anode electrode 24. It passes through and collides with the phosphor region 22. As a result, the phosphor region 22 is excited to emit light, and a desired image can be obtained. That is, the operation of this display device is basically controlled by the voltage V G applied to the gate electrode 13 and the voltage V C applied to the cathode electrode 11. The cathode electrode 11 is driven by a cathode electrode drive driver, and the gate electrode 13 is driven by a gate electrode drive driver. The cathode electrode control circuit 31, the gate electrode control circuit 32, the anode electrode control circuit 33, and the drive driver can be composed of known circuits.

実施例1は、本発明の第1の態様に係る平面型表示装置に関する。実施例1にあっては、アノードパネルの表示部分として機能する有効領域EFには、対となったスペーサ保持部50が設けられているが、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部50Aの間隔(図1の(A)のWE参照)は、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部50Bの間隔(図1の(B)のWC参照)よりも狭い。スペーサ40の延びる方向に対して垂直な仮想平面で対となったスペーサ保持部50を切断したときの、対となったスペーサ保持部50とスペーサ保持部50とによって挟まれた領域の断面形状を、図1の(A)及び(B)に示す。尚、図1の(A)は、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部50Aを示し、図1の(B)は、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部50Bを示す。また、有効領域EFと無効領域NFとにおけるスペーサ40等をその側面から眺めた概念図を図2に示す。尚、図2においては、スペーサ保持部50A,50Bを点線で示す。 Example 1 relates to a flat display device according to the first aspect of the present invention. In the first embodiment, the effective region EF functioning as the display portion of the anode panel is provided with a pair of spacer holding portions 50, but is a pair that holds the end region 40 </ b> A of the spacer 40. The distance between the spacer holding portions 50A (see W E in FIG. 1A) is the distance between the pair of spacer holding portions 50B that hold the central portion 40B of the spacer 40 (W C in FIG. 1B). Narrower than reference). The cross-sectional shape of the region sandwiched between the pair of spacer holding portions 50 and the spacer holding portion 50 when the pair of spacer holding portions 50 is cut in a virtual plane perpendicular to the direction in which the spacer 40 extends is shown. 1 (A) and 1 (B). 1A shows a spacer holding portion 50A that is a pair that holds the end region 40A of the spacer 40, and FIG. 1B shows a pair that holds the central portion 40B of the spacer 40. The spacer holding part 50B which became is shown. FIG. 2 is a conceptual diagram of the spacers 40 and the like in the effective area EF and the invalid area NF viewed from the side. In FIG. 2, the spacer holding portions 50A and 50B are indicated by dotted lines.

対となったスペーサ保持部50とスペーサ保持部50とによって挟まれた領域の断面形状は、基板20に近い領域ほど幅が狭く、カソードパネルCPに向かって幅が広がる一種の「ハの字」形状である。ここで、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部50Aの間隔WEは、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部50Bの間隔WCよりも狭いが、係る状態を達成するためには、ハの字の形状の最適化を図ればよい。尚、実施例1にあっては、基板20と接するスペーサ保持部50A,50Bの部分の間隔WSを等しくした。具体的には、スペーサ40の頂面と側面とがなす稜線がスペーサ保持部50の対向面と接する位置が、対となったスペーサ保持部50Bにあっては、対となったスペーサ保持部50Aよりも基板側に位置する。アノードパネルAPの基準面からの、スペーサ保持部50Aによって保持されたスペーサ40の端部領域40Aにおける底面40aまでの距離をLE、スペーサ保持部50Bによって保持されたスペーサ40の中央部40Bにおける底面40bまでの距離をLCとしたとき、
E−LC=5×10-6(5μm)
となるように、対となったスペーサ保持部50A,50Bを設計した。
The cross-sectional shape of the region sandwiched between the pair of spacer holding portions 50 and the spacer holding portion 50 is a kind of “C” that is narrower in the region closer to the substrate 20 and wider toward the cathode panel CP. Shape. Here, the interval W E between the pair of spacer holding portions 50A that hold the end region 40A of the spacer 40 is larger than the interval W C between the pair of spacer holding portions 50B that hold the central portion 40B of the spacer 40. Although narrow, in order to achieve such a state, the shape of the letter C should be optimized. In Example 1, the interval W S between the spacer holding portions 50A and 50B in contact with the substrate 20 was made equal. Specifically, when the ridge line formed by the top surface and the side surface of the spacer 40 is in contact with the opposing surface of the spacer holding portion 50, the spacer holding portion 50A is a pair. It is located on the substrate side. The distance from the reference surface of the anode panel AP to the bottom surface 40a of the end region 40A of the spacer 40 held by the spacer holding portion 50A is L E , and the bottom surface of the central portion 40B of the spacer 40 held by the spacer holding portion 50B When the distance to 40b is L C ,
L E −L C = 5 × 10 −6 (5 μm)
The paired spacer holding portions 50A and 50B were designed so that

組み立て後の表示装置を分解すると、スペーサ40の底面と接触していた収束電極17の部分には、通常、スペーサ40の痕が残る。このスペーサ40の痕を観察して、スペーサ40の端部領域40Aと接触していた収束電極17の部分におけるスペーサ40の痕と、スペーサ40の中央部40Bと接触していた収束電極17の部分におけるスペーサ40の痕とが同じような痕であれば、スペーサ40の端部領域40Aの収束電極17に対する接触状態と、スペーサ40の中央部40Bの収束電極17に対する接触状態とは、同じであると判断することができる。従って、スペーサ40の端部領域40Aと接触していた収束電極17の部分におけるスペーサ40の痕と、スペーサ40の中央部40Bと接触していた収束電極17の部分におけるスペーサ40の痕とが同じような痕となるように、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部50Aの間隔WE、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部50Bの間隔WCを決定すればよい。同様にして、後述する実施例2にあっては、無効領域NFのどの程度の領域にまでスペーサ保持部60を設ければよいかを決定すればよいし、実施例3にあっては、スペーサ40の頂面と接する突起部71の厚さや長さを決定すればよい。 When the assembled display device is disassembled, the mark of the spacer 40 usually remains in the portion of the focusing electrode 17 that has been in contact with the bottom surface of the spacer 40. By observing the trace of the spacer 40, the trace of the spacer 40 in the portion of the convergent electrode 17 in contact with the end region 40A of the spacer 40 and the portion of the convergent electrode 17 in contact with the central portion 40B of the spacer 40 If the trace of the spacer 40 is the same, the contact state of the end region 40A of the spacer 40 with the focusing electrode 17 and the contact state of the central portion 40B of the spacer 40 with the focusing electrode 17 are the same. It can be judged. Therefore, the trace of the spacer 40 in the portion of the focusing electrode 17 that has been in contact with the end region 40A of the spacer 40 is the same as the trace of the spacer 40 in the portion of the focusing electrode 17 that has been in contact with the central portion 40B of the spacer 40. The distance W E between the pair of spacer holding portions 50A that hold the end region 40A of the spacer 40 and the distance between the pair of spacer holding portions 50B that hold the center portion 40B of the spacer 40 W C may be determined. Similarly, in Example 2 to be described later, it is only necessary to determine the extent to which the spacer holding portion 60 should be provided in the invalid area NF, and in Example 3, the spacer What is necessary is just to determine the thickness and length of the projection part 71 which contact | connects the 40 top surface.

実施例1にあっては、このように、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部50Aの間隔WEは、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部50Bの間隔WCよりも狭い。従って、上述したとおり、LE>LCを達成することができ、スペーサ40の端部領域40Aにあっては、スペーサ40は、スペーサ40の中央部40Bよりも、収束電極17に強く当たっている。それ故、スペーサ40の端部領域40Aにおいて、スペーサ40の底面40aが収束電極17から浮き上がってしまうといった現象が発生することを確実に防止することができる。従って、スペーサ40の底面からの放熱が悪くなる結果、やがて、スペーサ40の端部領域40Aにおける電気抵抗値に変化が生じ、熱暴走が生じるといった現象の発生を、確実に防止することができ、高い信頼性を有する表示装置を提供することができる。 In the first embodiment, as described above, the distance W E between the pair of spacer holding portions 50A that hold the end region 40A of the spacer 40 is equal to the pair of spacers that hold the central portion 40B of the spacer 40. It is narrower than the interval W C of the holding portion 50B. Therefore, as described above, L E > L C can be achieved, and in the end region 40A of the spacer 40, the spacer 40 strikes the focusing electrode 17 more strongly than the central portion 40B of the spacer 40. Yes. Therefore, it is possible to reliably prevent the phenomenon that the bottom surface 40a of the spacer 40 is lifted from the focusing electrode 17 in the end region 40A of the spacer 40. Therefore, as a result of poor heat dissipation from the bottom surface of the spacer 40, the electrical resistance value in the end region 40A of the spacer 40 eventually changes, and the occurrence of a phenomenon such as thermal runaway can be reliably prevented. A display device with high reliability can be provided.

尚、以上に説明した例では、基板20と接するスペーサ保持部50A,50Bの部分の間隔WSを等しくし、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部50Aの間隔WEを、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部50Bの間隔WCよりも狭くした。即ち、スペーサ保持部50Aの側面の傾斜角を、スペーサ保持部50Bの側面の傾斜角よりも大きくした(図1の(A)及び(B)参照)。但し、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部50Aの間隔を、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部50Bの間隔よりも狭くするためには、このような形態に限定するものではなく、例えば、図3の(A)及び(B)に示すように、スペーサ保持部50Aの側面の傾斜角と、スペーサ保持部50Bの側面の傾斜角とを等しくし、基板20と接するスペーサ保持部50Aの部分の間隔WE’を、基板20と接するスペーサ保持部50Bの部分の間隔WC’よりも狭くしてもよい。 In the example described above, the interval W S between the spacer holding portions 50A and 50B in contact with the substrate 20 is made equal, and the interval W between the pair of spacer holding portions 50A holding the end region 40A of the spacer 40 is set. E is made narrower than the interval W C between the spacer holding portions 50B that form a pair for holding the central portion 40B of the spacer 40. That is, the inclination angle of the side surface of the spacer holding portion 50A is made larger than the inclination angle of the side surface of the spacer holding portion 50B (see FIGS. 1A and 1B). However, in order to make the interval between the pair of spacer holding portions 50A that hold the end region 40A of the spacer 40 narrower than the interval between the pair of spacer holding portions 50B that hold the central portion 40B of the spacer 40, For example, as shown in FIGS. 3A and 3B, the inclination angle of the side surface of the spacer holding portion 50A and the inclination angle of the side surface of the spacer holding portion 50B are not limited to such a form. And the interval W E ′ of the portion of the spacer holding portion 50 A in contact with the substrate 20 may be made narrower than the interval W C ′ of the portion of the spacer holding portion 50 B in contact with the substrate 20.

実施例2は、本発明の第2の態様に係る平面型表示装置に関する。実施例2の表示装置の有効領域EFと無効領域NFの境界部近傍におけるスペーサ40等をその側面から眺めた概念図を図4に示し、スペーサ40等の配置状態を示す概念図を図5に示す。尚、図4においては、スペーサ保持部を点線(スペーサ保持部60B)及び一点鎖線(スペーサ保持部60A)で示す。また、図5において、スペーサ保持部60A,60B及び隔壁21を明示するために、これらに斜線を付した。実施例2の表示装置にあっても、カソードパネルCPとアノードパネルAPとの間にはスペーサ40が配置されているが、アノードパネルAPの表示部分として機能する有効領域EFから、この有効領域EFを取り囲む無効領域NFに亙り、対となったスペーサ保持部60A,60Bが設けられている。   Example 2 relates to a flat display device according to the second aspect of the present invention. FIG. 4 is a conceptual diagram of the spacer 40 and the like in the vicinity of the boundary between the effective area EF and the ineffective area NF of the display device according to the second embodiment, and FIG. 5 is a conceptual diagram illustrating the arrangement state of the spacer 40 and the like. Show. In FIG. 4, the spacer holding portion is indicated by a dotted line (spacer holding portion 60B) and a one-dot chain line (spacer holding portion 60A). Further, in FIG. 5, the spacer holding portions 60 </ b> A and 60 </ b> B and the partition wall 21 are hatched to clearly show them. Even in the display device according to the second embodiment, the spacer 40 is disposed between the cathode panel CP and the anode panel AP. From the effective area EF that functions as a display portion of the anode panel AP, the effective area EF A pair of spacer holding portions 60A and 60B are provided over the invalid area NF surrounding the.

ここで、無効領域NFに設けられたスペーサ保持部60Aが占める領域の、境界部からのスペーサ40の軸線方向に沿った長さは、表示装置の仕様にも依るが、例えば、1mm〜4mmである。   Here, the length of the region occupied by the spacer holding portion 60A provided in the invalid region NF along the axial direction of the spacer 40 from the boundary portion is, for example, 1 mm to 4 mm, depending on the specifications of the display device. is there.

実施例2にあっては、無効領域NFにまでスペーサ保持部60Aが設けられているので、スペーサ40の端部領域40Aにおいて、スペーサ40の底面40aが収束電極17から浮き上がってしまうといった現象が発生することを確実に防止することができる。   In the second embodiment, since the spacer holding portion 60A is provided up to the invalid region NF, a phenomenon occurs in which the bottom surface 40a of the spacer 40 is lifted from the focusing electrode 17 in the end region 40A of the spacer 40. This can be surely prevented.

尚、実施例2にあっても、実施例1と実質的に同様に、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部60A(無効領域NFに位置する)の間隔は、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部60Bの間隔よりも狭い形態とすることができる。   Even in the second embodiment, substantially in the same manner as in the first embodiment, the distance between the spacer holding portions 60A (located in the invalid area NF) that holds the end region 40A of the spacer 40 is as follows. The spacer 40 can be configured to be narrower than the distance between the spacer holding portions 60B that form a pair for holding the central portion 40B of the spacer 40.

実施例3は、本発明の第3の態様に係る平面型表示装置に関する。実施例3の表示装置の有効領域EFと無効領域NFの境界部近傍におけるスペーサ40等をその側面から眺めた概念図を図6に示し、スペーサ40等の配置状態を示す概念図を図7に示す。尚、図6においては、スペーサ保持部を点線で示す。また、図7において、スペーサ保持部70及び隔壁21、並びに、突起部71を明示するために、これらに斜線を付した。実施例3の表示装置にあっても、カソードパネルCPとアノードパネルAPとの間にはスペーサ40が配置されているが、アノードパネルAPの表示部分として機能する有効領域EFを取り囲む無効領域NFにおけるアノードパネルAPの部分には、スペーサ40の頂面40cと接する突起部71が設けられている。感光性のポリイミド樹脂から成り、感光法によって形成された突起部71の高さは8μmであり、長さは0.2mmであり、幅は0.3mmである。また、突起部71の端部から、有効領域EFと無効領域NFとの境界部までの距離は1.5mm〜3.5mmである。   Example 3 relates to a flat display device according to the third aspect of the present invention. FIG. 6 is a conceptual diagram of the spacer 40 and the like in the vicinity of the boundary between the effective area EF and the ineffective area NF of the display device according to the third embodiment, and FIG. 7 is a conceptual diagram illustrating the arrangement state of the spacer 40 and the like. Show. In FIG. 6, the spacer holding portion is indicated by a dotted line. Further, in FIG. 7, in order to clearly show the spacer holding portion 70, the partition wall 21, and the protruding portion 71, they are hatched. Even in the display device of the third embodiment, the spacer 40 is disposed between the cathode panel CP and the anode panel AP. However, in the ineffective area NF surrounding the effective area EF that functions as a display portion of the anode panel AP. A projection 71 that contacts the top surface 40 c of the spacer 40 is provided on the anode panel AP. The protrusion 71 made of a photosensitive polyimide resin and formed by the photosensitive method has a height of 8 μm, a length of 0.2 mm, and a width of 0.3 mm. Moreover, the distance from the edge part of the projection part 71 to the boundary part of the effective area | region EF and the invalid area | region NF is 1.5 mm-3.5 mm.

このように突起部71を設けても、スペーサ40とスペーサ保持部70との間の接触状態には特段に変化は生じない。そして、突起部71を設けることによって、スペーサ40の端部領域40Aにおいて、スペーサ40の底面40aが収束電極17から浮き上がってしまうといった現象が発生することを確実に防止することができる。   Even if the protrusion 71 is provided in this way, the contact state between the spacer 40 and the spacer holding part 70 does not change particularly. By providing the projection 71, it is possible to reliably prevent the phenomenon that the bottom surface 40a of the spacer 40 is lifted from the focusing electrode 17 in the end region 40A of the spacer 40.

尚、実施例3にあっても、実施例1と実質的に同様に、スペーサ40の端部領域40Aを保持する対となったスペーサ保持部(無効領域NFに位置する)の間隔は、スペーサ40の中央部40Bを保持する対となったスペーサ保持部の間隔よりも狭い形態とすることができる。また、実施例2と同様に、アノードパネルAPの表示部分として機能する有効領域EFから、この有効領域EFを取り囲む無効領域NFに亙り、対となったスペーサ保持部が設けられている形態とすることができる。更には、実施例1と実施例2と実施例3とを組み合わせることもできる。   In the third embodiment, as in the first embodiment, the distance between the pair of spacer holding portions (located in the invalid region NF) that holds the end region 40A of the spacer 40 is the spacer For example, the distance between the spacer holding portions that are paired to hold the central portion 40B of 40 can be reduced. Similarly to the second embodiment, a pair of spacer holding portions are provided from the effective area EF functioning as the display portion of the anode panel AP to the invalid area NF surrounding the effective area EF. be able to. Furthermore, the first embodiment, the second embodiment, and the third embodiment can be combined.

以下、アノードパネルAPを構成する基板20等の模式的な一部端面図である図10の(A)〜(C)及び図11の(A)〜(B)を参照して、実施例の表示装置のアノードパネルの製造方法、表示装置の製造方法を説明する。   Hereinafter, with reference to FIGS. 10A to 10C and FIGS. 11A to 11B which are schematic partial end views of the substrate 20 and the like constituting the anode panel AP, A method for manufacturing an anode panel of a display device and a method for manufacturing a display device will be described.

[工程−A1]
先ず、基板20上に格子状の隔壁21を形成する(図10の(A)参照)。尚、隔壁21は、スペーサ保持部50,60,70としても機能する。具体的には、感光性ポリイミド樹脂層を塗布法に基づき基板20上に形成した後、フォトリソグラフィ技術及び現像によって感光性ポリイミド樹脂層を選択的に除去し、次いで、残存した感光性ポリイミド樹脂層を焼成することにより、井桁状の隔壁21、及び、スペーサ保持部50,60,70を形成する。隔壁21の開口領域の大きさを、およそ、縦×横×高さ=280μm×100μm×40μmとした。尚、隔壁21の形成前に、隔壁21を形成すべき基板20の部分の表面に、例えば、酸化クロムから成る光吸収層(ブラックマトリックス)23を形成することが好ましい。具体的には、酸化コバルト等の金属酸化物により黒色に着色した低融点ガラスペーストをスクリーン印刷法にて基板20上に印刷し、次いで、係る低融点ガラスペーストを焼成することによって格子状の光吸収層23を形成すればよい。尚、光吸収層23の厚さを、およそ、8μmとした。
[Step-A1]
First, a grid-like partition wall 21 is formed on the substrate 20 (see FIG. 10A). The partition wall 21 also functions as the spacer holding portions 50, 60, and 70. Specifically, after forming the photosensitive polyimide resin layer on the substrate 20 based on the coating method, the photosensitive polyimide resin layer is selectively removed by photolithography technique and development, and then the remaining photosensitive polyimide resin layer Is fired to form the grid-like partition walls 21 and the spacer holding portions 50, 60, 70. The size of the opening region of the partition wall 21 was approximately vertical × horizontal × height = 280 μm × 100 μm × 40 μm. Before forming the partition walls 21, it is preferable to form a light absorption layer (black matrix) 23 made of, for example, chromium oxide on the surface of the portion of the substrate 20 where the partition walls 21 are to be formed. Specifically, a low melting point glass paste colored black with a metal oxide such as cobalt oxide is printed on the substrate 20 by a screen printing method, and then the low melting point glass paste is baked to form a lattice-shaped light. The absorption layer 23 may be formed. In addition, the thickness of the light absorption layer 23 was about 8 μm.

[工程−A2]
次に、隔壁21によって取り囲まれた基板20の部分の上に、蛍光体領域22を形成する(図10の(B)参照)。具体的には、赤色発光蛍光体領域22Rを形成するために、例えばポリビニルアルコール(PVA)樹脂と水に赤色発光蛍光体粒子を分散させ、更に、重クロム酸アンモニウムを添加した赤色発光蛍光体スラリーを全面に塗布した後、係る赤色発光蛍光体スラリーを乾燥する。その後、基板側から赤色発光蛍光体領域22Rを形成すべき赤色発光蛍光体スラリーの部分に紫外線を照射し、赤色発光蛍光体スラリーを露光する。赤色発光蛍光体スラリーは基板側から徐々に硬化する。形成される赤色発光蛍光体領域22Rの厚さは、赤色発光蛍光体スラリーに対する紫外線の照射量により決定される。ここでは、例えば、赤色発光蛍光体スラリーに対する紫外線の照射時間を調整して、赤色発光蛍光体領域22Rの厚さを約8μmとした。その後、赤色発光蛍光体スラリーを現像することによって、所定の領域に赤色発光蛍光体領域22Rを形成することができる。以下、緑色発光蛍光体スラリーに対して同様の処理を行うことによって緑色発光蛍光体領域22Gを形成し、更に、青色発光蛍光体スラリーに対して同様の処理を行うことによって青色発光蛍光体領域22Bを形成する。蛍光体領域の形成方法は、以上に説明した方法に限定されず、例えば、スクリーン印刷法等により各蛍光体領域を形成してもよい。
[Step-A2]
Next, the phosphor region 22 is formed on the portion of the substrate 20 surrounded by the partition wall 21 (see FIG. 10B). Specifically, in order to form the red light emitting phosphor region 22R, for example, a red light emitting phosphor slurry in which red light emitting phosphor particles are dispersed in, for example, polyvinyl alcohol (PVA) resin and water and ammonium dichromate is further added. Then, the red light emitting phosphor slurry is dried. Thereafter, the portion of the red light emitting phosphor slurry in which the red light emitting phosphor region 22R is to be formed is irradiated with ultraviolet rays from the substrate side to expose the red light emitting phosphor slurry. The red light emitting phosphor slurry is gradually cured from the substrate side. The thickness of the red light-emitting phosphor region 22R to be formed is determined by the amount of ultraviolet light applied to the red light-emitting phosphor slurry. Here, for example, the irradiation time of the ultraviolet light with respect to the red light emitting phosphor slurry is adjusted so that the thickness of the red light emitting phosphor region 22R is about 8 μm. Thereafter, the red light-emitting phosphor region 22R can be formed in a predetermined region by developing the red light-emitting phosphor slurry. Hereinafter, the green light emitting phosphor region 22G is formed by performing the same process on the green light emitting phosphor slurry, and further, the blue light emitting phosphor region 22B is formed by performing the same process on the blue light emitting phosphor slurry. Form. The method for forming the phosphor region is not limited to the method described above, and each phosphor region may be formed by, for example, a screen printing method.

[工程−A3]
その後、隔壁21の頂面上及び蛍光体領域22上に樹脂層80を形成する(図10の(C)参照)。具体的には、メタルマスク印刷法あるいはスクリーン印刷法に基づき、樹脂層80を形成することができる。次に、樹脂層80を乾燥させる。即ち、基板20を乾燥炉内に搬入し、所定の温度にて乾燥させる。樹脂層80の乾燥温度は例えば50°C〜90°Cの範囲内とすることが好ましく、樹脂層80の乾燥時間は例えば数分〜数十分の範囲内とすることが好ましい。勿論、乾燥温度の高低に伴い、乾燥時間は減増する。
[Step-A3]
Thereafter, a resin layer 80 is formed on the top surface of the partition wall 21 and on the phosphor region 22 (see FIG. 10C). Specifically, the resin layer 80 can be formed based on a metal mask printing method or a screen printing method. Next, the resin layer 80 is dried. That is, the substrate 20 is carried into a drying furnace and dried at a predetermined temperature. The drying temperature of the resin layer 80 is preferably in the range of 50 ° C. to 90 ° C., for example, and the drying time of the resin layer 80 is preferably in the range of several minutes to several tens of minutes, for example. Of course, as the drying temperature increases and decreases, the drying time decreases.

[工程−A4]
その後、表示領域を覆うアノード電極24を形成する(図11の(A)参照)。具体的には、各種蒸着法又はスパッタリング法により、隔壁21の頂面上及び蛍光体領域22の上に形成された樹脂層80を覆うように、アルミニウム(Al)から成るアノード電極24を形成する。形成されるアノード電極24の厚さを約0.3μmとした。
[Step-A4]
After that, an anode electrode 24 that covers the display area is formed (see FIG. 11A). Specifically, the anode electrode 24 made of aluminum (Al) is formed by various vapor deposition methods or sputtering methods so as to cover the resin layer 80 formed on the top surface of the partition wall 21 and the phosphor region 22. . The thickness of the formed anode electrode 24 was about 0.3 μm.

[工程−A5]
次いで、加熱処理を施すことで樹脂層80を除去する(図11の(B)参照)。具体的には、400゜C程度で樹脂層80を焼成する。この焼成処理により樹脂層80が燃焼して焼失し、アルミニウム(Al)から成るアノード電極24が蛍光体領域22上及び隔壁21上に残される。尚、樹脂層80の燃焼により生じたガスは、例えば、アノード電極24に生じる微細な孔を通じて外部に排出される。この孔は微細なため、アノード電極24の構造的な強度や画像表示特性に深刻な影響を及ぼすものではない。以上の工程によって、アノードパネルAPを完成することができる。
[Step-A5]
Next, the heat treatment is performed to remove the resin layer 80 (see FIG. 11B). Specifically, the resin layer 80 is baked at about 400 ° C. By this baking treatment, the resin layer 80 is burned and burned, and the anode electrode 24 made of aluminum (Al) is left on the phosphor region 22 and the partition wall 21. The gas generated by the combustion of the resin layer 80 is discharged to the outside through, for example, fine holes generated in the anode electrode 24. Since the holes are fine, they do not seriously affect the structural strength and image display characteristics of the anode electrode 24. Through the above steps, the anode panel AP can be completed.

[工程−A6]
電界放出素子が形成されたカソードパネルCPを準備する。電界放出素子の製造方法については、次に述べる。そして、表示装置の組み立てを行う。具体的には、例えば、アノードパネルAPに設けられたスペーサ保持部50,60,70にスペーサ40を取り付け、蛍光体領域22と電子放出領域EAとが対向するようにアノードパネルAPとカソードパネルCPとを配置し、アノードパネルAPとカソードパネルCP(より具体的には、基板20と支持体10)とを、セラミックスやガラスから作製された高さ約2mmの枠体から成る接合部材25を介して、周縁部において接合する。接合に際しては、接合部材25とアノードパネルAPとの接合部位、及び、接合部材25とカソードパネルCPとの接合部位に接着層としてのフリットガラスを塗布し、予備焼成にてフリットガラスを乾燥した後、アノードパネルAPとカソードパネルCPと接合部材25とを貼り合わせ、約450゜Cで10〜30分の本焼成を行う。その後、アノードパネルAPとカソードパネルCPと接合部材25とによって囲まれた空間を、貫通孔(図示せず)及び排気管(図示せず)を通じて排気し、空間の圧力が10-4Pa程度に達した時点で排気管を加熱溶融により封じ切る。このようにして、アノードパネルAPとカソードパネルCPと接合部材25とに囲まれた空間を真空にすることができる。あるいは又、例えば、接合部材25とアノードパネルAPとカソードパネルCPとの貼り合わせを高真空雰囲気中で行ってもよい。あるいは又、表示装置の構造に依っては、枠体無しで、接着層のみによってアノードパネルAPとカソードパネルCPとを貼り合わせてもよい。その後、必要な外部回路との配線接続を行い、表示装置を完成させる。
[Step-A6]
A cathode panel CP on which field emission elements are formed is prepared. A method of manufacturing the field emission device will be described next. Then, the display device is assembled. Specifically, for example, the spacer 40 is attached to the spacer holding portions 50, 60, 70 provided in the anode panel AP, and the anode panel AP and the cathode panel CP are arranged so that the phosphor region 22 and the electron emission region EA face each other. The anode panel AP and the cathode panel CP (more specifically, the substrate 20 and the support 10) are connected to each other via a joining member 25 made of a frame body having a height of about 2 mm made of ceramics or glass. And joining at the peripheral edge. At the time of joining, frit glass as an adhesive layer is applied to the joining part between the joining member 25 and the anode panel AP and the joining part between the joining member 25 and the cathode panel CP, and the frit glass is dried by pre-baking. Then, the anode panel AP, the cathode panel CP, and the joining member 25 are bonded together, and the main baking is performed at about 450 ° C. for 10 to 30 minutes. Thereafter, the space surrounded by the anode panel AP, the cathode panel CP, and the joining member 25 is exhausted through a through hole (not shown) and an exhaust pipe (not shown), so that the pressure in the space becomes about 10 −4 Pa. When it reaches, the exhaust pipe is sealed by heating and melting. In this way, the space surrounded by the anode panel AP, the cathode panel CP, and the bonding member 25 can be evacuated. Alternatively, for example, the bonding member 25, the anode panel AP, and the cathode panel CP may be bonded in a high vacuum atmosphere. Alternatively, depending on the structure of the display device, the anode panel AP and the cathode panel CP may be bonded together by using only an adhesive layer without a frame. Thereafter, wiring connection with necessary external circuits is performed, and the display device is completed.

以下、スピント型電界放出素子の製造方法を、カソードパネルを構成する支持体10等の模式的な一部端面図である図12の(A)、(B)及び図13の(A)、(B)を参照して説明する。尚、以下に説明する方法にあっては、層間絶縁層16及び収束電極17の形成工程の説明は省略している。   12A and 12B, and FIGS. 13A and 13B, which are schematic partial end views of the support 10 and the like constituting the cathode panel. A description will be given with reference to B). In the method described below, the description of the process of forming the interlayer insulating layer 16 and the focusing electrode 17 is omitted.

尚、このスピント型電界放出素子は、基本的には、円錐形の電子放出部15を金属材料の垂直蒸着により形成する方法によって得ることができる。即ち、ゲート電極13に設けられた第1開口部14Aに対して蒸着粒子は垂直に入射するが、第1開口部14Aの開口端付近に形成されるオーバーハング状の堆積物による遮蔽効果を利用して、第2開口部14Bの底部に到達する蒸着粒子の量を漸減させ、円錐形の堆積物である電子放出部15を自己整合的に形成する。ここでは、不要なオーバーハング状の堆積物の除去を容易とするために、ゲート電極13及び絶縁層12上に剥離層18を予め形成しておく方法について説明する。尚、電界放出素子の製造方法を説明するための図面においては、1つの電子放出部のみを図示した。   This Spindt-type field emission device can be basically obtained by a method of forming the conical electron emission portion 15 by vertical vapor deposition of a metal material. That is, the vapor deposition particles are perpendicularly incident on the first opening 14A provided in the gate electrode 13, but use the shielding effect by the overhanging deposit formed near the opening end of the first opening 14A. Thus, the amount of vapor deposition particles reaching the bottom of the second opening 14B is gradually reduced, and the electron emission portion 15 that is a conical deposit is formed in a self-aligning manner. Here, a method of forming the separation layer 18 in advance over the gate electrode 13 and the insulating layer 12 in order to facilitate removal of unnecessary overhang-like deposits will be described. In the drawing for explaining the method of manufacturing the field emission device, only one electron emission portion is shown.

[工程−B0]
先ず、例えばガラス基板から成る支持体10の上に、例えばポリシリコンから成るカソード電極用導電材料層をプラズマCVD法にて成膜した後、リソグラフィ技術及びドライエッチング技術に基づきカソード電極用導電材料層をパターニングして、帯状のカソード電極11を形成する。その後、全面にSiO2から成る絶縁層12をCVD法にて形成する。
[Step-B0]
First, a cathode electrode conductive material layer made of, for example, polysilicon is formed on the support 10 made of, for example, a glass substrate by a plasma CVD method, and then the cathode electrode conductive material layer is formed based on a lithography technique and a dry etching technique. Is patterned to form a strip-like cathode electrode 11. Thereafter, an insulating layer 12 made of SiO 2 is formed on the entire surface by a CVD method.

[工程−B1]
次に、絶縁層12上に、ゲート電極用導電材料層(例えば、TiN層)をスパッタ法にて成膜し、次いで、ゲート電極用導電材料層をリソグラフィ技術及びドライエッチング技術にてパターニングすることによって、帯状のゲート電極13を得ることができる。帯状のカソード電極11は、図面の紙面左右方向に延び、帯状のゲート電極13は、図面の紙面垂直方向に延びている。
[Step-B1]
Next, a gate electrode conductive material layer (for example, a TiN layer) is formed on the insulating layer 12 by sputtering, and then the gate electrode conductive material layer is patterned by a lithography technique and a dry etching technique. Thus, the strip-shaped gate electrode 13 can be obtained. The strip-shaped cathode electrode 11 extends in the left-right direction in the drawing, and the strip-shaped gate electrode 13 extends in the direction perpendicular to the drawing.

尚、ゲート電極13を、真空蒸着法等のPVD法、CVD法、電気メッキ法や無電解メッキ法といったメッキ法、スクリーン印刷法、レーザアブレーション法、ゾル−ゲル法、リフトオフ法等の公知の薄膜形成と、必要に応じてエッチング技術との組合せによって形成してもよい。スクリーン印刷法やメッキ法によれば、直接、例えば帯状のゲート電極を形成することが可能である。   The gate electrode 13 is formed by a well-known thin film such as a PVD method such as a vacuum evaporation method, a CVD method, a plating method such as an electroplating method or an electroless plating method, a screen printing method, a laser ablation method, a sol-gel method, a lift-off method. You may form by the combination of formation and an etching technique as needed. According to the screen printing method or the plating method, for example, a strip-shaped gate electrode can be directly formed.

[工程−B2]
その後、再びレジスト層を形成し、エッチングによってゲート電極13に第1開口部14Aを形成し、更に、絶縁層に第2開口部14Bを形成し、第2開口部14Bの底部にカソード電極11を露出させた後、レジスト層を除去する。こうして、図12の(A)に示す構造を得ることができる。
[Step-B2]
Thereafter, a resist layer is formed again, the first opening 14A is formed in the gate electrode 13 by etching, the second opening 14B is formed in the insulating layer, and the cathode electrode 11 is formed at the bottom of the second opening 14B. After the exposure, the resist layer is removed. Thus, the structure shown in FIG. 12A can be obtained.

[工程−B3]
次に、支持体10を回転させながらゲート電極13上を含む絶縁層12上にニッケル(Ni)を斜め蒸着することにより、剥離層18を形成する(図12の(B)参照)。このとき、支持体10の法線に対する蒸着粒子の入射角を十分に大きく選択することにより(例えば、入射角65度〜85度)、第2開口部14Bの底部にニッケルを殆ど堆積させることなく、ゲート電極13及び絶縁層12の上に剥離層18を形成することができる。剥離層18は、第1開口部14Aの開口端から庇状に張り出しており、これによって第1開口部14Aが実質的に縮径される。
[Step-B3]
Next, nickel (Ni) is obliquely vapor-deposited on the insulating layer 12 including the gate electrode 13 while rotating the support 10 to form a release layer 18 (see FIG. 12B). At this time, by selecting a sufficiently large incident angle of the vapor deposition particles with respect to the normal of the support 10 (for example, an incident angle of 65 to 85 degrees), nickel is hardly deposited on the bottom of the second opening 14B. A release layer 18 can be formed on the gate electrode 13 and the insulating layer 12. The release layer 18 protrudes in a bowl shape from the opening end of the first opening 14A, whereby the diameter of the first opening 14A is substantially reduced.

[工程−B4]
次に、全面に例えば導電材料としてモリブデン(Mo)を垂直蒸着する(入射角3度〜10度)。このとき、図13の(A)に示すように、剥離層18上でオーバーハング形状を有する導電部材層19が成長するに伴い、第1開口部14Aの実質的な直径が次第に縮小されるので、第2開口部14Bの底部において堆積に寄与する蒸着粒子は、次第に第1開口部14Aの中央付近を通過するものに限られるようになる。その結果、第2開口部14Bの底部には円錐形の堆積物が形成され、この円錐形の堆積物が電子放出部15となる。
[Step-B4]
Next, for example, molybdenum (Mo) is vertically deposited as an electrically conductive material on the entire surface (incident angle: 3 to 10 degrees). At this time, as shown in FIG. 13A, as the conductive member layer 19 having an overhang shape grows on the release layer 18, the substantial diameter of the first opening 14A is gradually reduced. The vapor deposition particles that contribute to the deposition at the bottom of the second opening 14B are gradually limited to those that pass near the center of the first opening 14A. As a result, a conical deposit is formed at the bottom of the second opening 14 </ b> B, and this conical deposit becomes the electron emission portion 15.

[工程−B5]
その後、図13の(B)に示すように、リフトオフ法にて剥離層18をゲート電極13及び絶縁層12の表面から剥離し、ゲート電極13及び絶縁層12の上方の導電部材層19を選択的に除去する。こうして、複数のスピント型電界放出素子が形成されたカソードパネルを得ることができる。尚、その後、等方性エッチングを行うことにより、開口部14内において絶縁層12の側壁面を後退させて、ゲート電極13における第1開口部においてゲート電極13の端部を突出させることが好ましい。
[Step-B5]
Thereafter, as shown in FIG. 13B, the peeling layer 18 is peeled off from the surfaces of the gate electrode 13 and the insulating layer 12 by a lift-off method, and the conductive member layer 19 above the gate electrode 13 and the insulating layer 12 is selected. To remove. Thus, a cathode panel in which a plurality of Spindt type field emission devices are formed can be obtained. After that, it is preferable to perform isotropic etching to retract the side wall surface of the insulating layer 12 in the opening 14 so that the end of the gate electrode 13 protrudes in the first opening of the gate electrode 13. .

以上、本発明を、好ましい実施例に基づき説明したが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。実施例にて説明した平面型表示装置、カソードパネルやアノードパネル、冷陰極電界電子放出表示装置や冷陰極電界電子放出素子の構成、構造は例示であり、適宜、変更することができる。表示装置においては、専らカラー表示を例にとり説明したが、単色表示とすることもできる。   As mentioned above, although this invention was demonstrated based on the preferable Example, this invention is not limited to these Examples. The configurations and structures of the flat display device, the cathode panel and the anode panel, the cold cathode field emission display device and the cold cathode field emission device described in the embodiments are examples, and can be changed as appropriate. The display device has been described by taking color display as an example, but it may also be a single color display.

電界放出素子においては、専ら1つの開口部に1つの電子放出部が対応する形態を説明したが、電界放出素子の構造に依っては、1つの開口部に複数の電子放出部が対応した形態、あるいは、複数の開口部に1つの電子放出部が対応する形態とすることもできる。あるいは又、ゲート電極に複数の第1開口部を設け、絶縁層に係る複数の第1開口部に連通した第2開口部を設け、1又は複数の電子放出部を設ける形態とすることもできる。   In the field emission device, a mode in which one electron emission portion corresponds to one opening has been described. However, depending on the structure of the field emission device, a mode in which a plurality of electron emission portions correspond to one opening. Alternatively, one electron emission portion may correspond to a plurality of openings. Alternatively, a plurality of first openings may be provided in the gate electrode, a second opening connected to the plurality of first openings related to the insulating layer may be provided, and one or a plurality of electron emission portions may be provided. .

表面伝導型電子放出素子と通称される電子放出素子から電子放出領域を構成することもできる。この表面伝導型電子放出素子は、例えばガラスから成る支持体上に酸化錫(SnO2)、金(Au)、酸化インジウム(In23)/酸化錫(SnO2)、カーボン、酸化パラジウム(PdO)等の導電材料から成り、微小面積を有し、所定の間隔(ギャップ)を開けて配された一対の電極がマトリクス状に形成されて成る。それぞれの電極の上には炭素薄膜が形成されている。そして、一対の電極の内の一方の電極(例えば、第1電極)に行方向配線が接続され、一対の電極の内の他方の電極(例えば、第2電極)に列方向配線が接続された構成を有する。一対の電極(第1電極及び第2電極)に電圧を印加することによって、ギャップを挟んで向かい合った炭素薄膜に電界が加わり、炭素薄膜から電子が放出される。係る電子をアノードパネル上の蛍光体領域に衝突させることによって、蛍光体領域が励起されて発光し、所望の画像を得ることができる。あるいは又、金属/絶縁膜/金属型素子から電子放出領域を構成することもできる。 The electron emission region can also be constituted by an electron emission element commonly called a surface conduction electron emission element. This surface conduction electron-emitting device is formed on a support made of glass, for example, tin oxide (SnO 2 ), gold (Au), indium oxide (In 2 O 3 ) / tin oxide (SnO 2 ), carbon, palladium oxide ( A pair of electrodes made of a conductive material such as (PdO), having a very small area and arranged with a predetermined gap (gap) are formed in a matrix. A carbon thin film is formed on each electrode. The row direction wiring is connected to one electrode (for example, the first electrode) of the pair of electrodes, and the column direction wiring is connected to the other electrode (for example, the second electrode) of the pair of electrodes. It has a configuration. By applying a voltage to the pair of electrodes (first electrode and second electrode), an electric field is applied to the carbon thin films facing each other across the gap, and electrons are emitted from the carbon thin film. By causing the electrons to collide with the phosphor region on the anode panel, the phosphor region is excited to emit light, and a desired image can be obtained. Alternatively, the electron emission region can be formed from a metal / insulating film / metal type element.

図1の(A)及び(B)は、実施例1の平面型表示装置において、スペーサの延びる方向に対して垂直な仮想平面で対となったスペーサ保持部を切断したときの、対となったスペーサ保持部とスペーサ保持部とによって挟まれた領域の断面形状を示す図であり、図1の(A)は、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部を示し、図1の(B)は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部を示す。1A and 1B show a pair when the pair of spacer holding portions cut in a virtual plane perpendicular to the direction in which the spacer extends in the flat display device of Example 1. FIG. FIG. 1A shows a cross-sectional shape of a region sandwiched between spacer holding portions and a spacer holding portion. FIG. 1A shows a pair of spacer holding portions that hold the end region of the spacer. 1 (B) shows the spacer holding part which became the pair which hold | maintains the center part of a spacer. 図2は、実施例1の平面型表示装置の有効領域と無効領域の境界部近傍におけるスペーサ等をその側面から眺めた概念図である。FIG. 2 is a conceptual diagram of the spacer and the like in the vicinity of the boundary between the effective area and the ineffective area of the flat display device according to the first embodiment when viewed from the side. 図3の(A)及び(B)は、実施例1の平面型表示装置の変形例において、スペーサの延びる方向に対して垂直な仮想平面で対となったスペーサ保持部を切断したときの、対となったスペーサ保持部とスペーサ保持部とによって挟まれた領域の断面形状を示す図であり、図3の(A)は、スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部を示し、図3の(B)は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部を示す。FIGS. 3A and 3B show a modification of the flat display device according to the first embodiment when the pair of spacer holding portions cut in a virtual plane perpendicular to the direction in which the spacer extends is cut. It is a figure which shows the cross-sectional shape of the area | region pinched | interposed by the spacer holding part and spacer holding part which became a pair, (A) of FIG. 3 shows the spacer holding part which became the pair holding the edge part area | region of a spacer. FIG. 3B shows a pair of spacer holding portions that hold the central portion of the spacer. 図2は、実施例2の平面型表示装置の有効領域と無効領域の境界部近傍におけるスペーサ等をその側面から眺めた概念図である。FIG. 2 is a conceptual diagram of a spacer or the like in the vicinity of the boundary between the effective area and the ineffective area of the flat display device according to the second embodiment as viewed from the side. 図5は、実施例2の平面型表示装置において、有効領域と無効領域とにおけるスペーサの配置状態を示す概念図である。FIG. 5 is a conceptual diagram showing the arrangement state of spacers in the effective area and the ineffective area in the flat display device according to the second embodiment. 図6は、実施例3の平面型表示装置の有効領域と無効領域の境界部近傍におけるスペーサ等をその側面から眺めた概念図である。FIG. 6 is a conceptual diagram of a spacer and the like in the vicinity of the boundary between the effective area and the ineffective area of the flat display device according to the third embodiment as viewed from the side. 図7は、実施例3の平面型表示装置において、有効領域と無効領域とにおけるスペーサの配置状態を示す概念図である。FIG. 7 is a conceptual diagram showing the arrangement state of the spacers in the effective area and the ineffective area in the flat display device according to the third embodiment. 図8は、平面型表示装置としてのスピント型冷陰極電界電子放出素子を有する冷陰極電界電子放出表示装置の模式的な一部端面図である。FIG. 8 is a schematic partial end view of a cold cathode field emission display device having a Spindt type cold cathode field emission device as a flat display device. 図9は、図8に示した冷陰極電界電子放出表示装置を構成するカソードパネル及びアノードパネルを分解したときのカソードパネルとアノードパネルの一部分の模式的な分解斜視図である。FIG. 9 is a schematic exploded perspective view of a part of the cathode panel and the anode panel when the cathode panel and the anode panel constituting the cold cathode field emission display shown in FIG. 8 are disassembled. 図10の(A)〜(C)は、実施例の平面型表示装置を構成するアノードパネルの製造方法を説明するための基板等の模式的な一部端面図である。FIGS. 10A to 10C are schematic partial end views of a substrate and the like for explaining a method of manufacturing an anode panel constituting the flat display device of the embodiment. 図11の(A)〜(B)は、図10の(C)に引き続き、実施例の平面型表示装置を構成するアノードパネルの製造方法を説明するための基板等の模式的な一部端面図である。11A to 11B are schematic partial end faces of a substrate and the like for explaining a method for manufacturing an anode panel constituting the flat display device of the embodiment, following FIG. 10C. FIG. 図12の(A)及び(B)は、スピント型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。FIGS. 12A and 12B are schematic partial end views of a support and the like for explaining a method of manufacturing a Spindt-type cold cathode field emission device. 図13の(A)及び(B)は、図12の(B)に引き続き、スピント型冷陰極電界電子放出素子の製造方法を説明するための支持体等の模式的な一部端面図である。FIGS. 13A and 13B are schematic partial end views of a support and the like for explaining the manufacturing method of the Spindt-type cold cathode field emission device following FIG. 12B. . 図14は、従来の平面型表示装置における問題点を説明するための模式図である。FIG. 14 is a schematic diagram for explaining problems in a conventional flat display device.

符号の説明Explanation of symbols

10・・・支持体、11・・・カソード電極、12・・・絶縁層、13・・・ゲート電極、14,14A,14B・・・開口部、15・・・電子放出部、16・・・層間絶縁層、17・・・収束電極、18・・・剥離層、19・・・導電部材層、20・・・基板、21・・・隔壁、22,22R,22G,22B・・・蛍光体領域、23・・・光吸収層(ブラックマトリックス)、24・・・アノード電極、25・・・接合部材、31・・・カソード電極制御回路、32・・・ゲート電極制御回路、33・・・アノード電極制御回路、40・・・スペーサ、40A・・・スペーサの端部領域、40B・・・スペーサの中央部、40a・・・端部領域におけるスペーサの底面、40b・・・中央域におけるスペーサの底面、40c・・・スペーサの頂面、41・・・帯電防止膜、50,60,70・・・スペーサ保持部、50A,60A・・・スペーサの端部領域を保持するスペーサ保持部、50B,60B・・・スペーサの中央部を保持するスペーサ保持部、71・・・突起部、80・・・樹脂層、CP・・・カソードパネル、AP・・・アノードパネル、EA・・・電子放出領域、EF・・・有効領域、NF・・・無効領域 DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Support body, 11 ... Cathode electrode, 12 ... Insulating layer, 13 ... Gate electrode, 14, 14A, 14B ... Opening part, 15 ... Electron emission part, 16 ... Interlayer insulation layer, 17 ... convergence electrode, 18 ... release layer, 19 ... conductive member layer, 20 ... substrate, 21 ... partition, 22, 22R, 22G, 22B ... fluorescence Body region, 23 ... light absorption layer (black matrix), 24 ... anode electrode, 25 ... joining member, 31 ... cathode electrode control circuit, 32 ... gate electrode control circuit, 33 ... -Anode electrode control circuit, 40 ... spacer, 40A ... end region of spacer, 40B ... center portion of spacer, 40a ... bottom surface of spacer in end region, 40b ... in center region Spacer bottom, 40c ... space 41 ... Antistatic film, 50, 60, 70 ... Spacer holding part, 50A, 60A ... Spacer holding part for holding the end region of the spacer, 50B, 60B ... Spacer holding portion for holding the central portion, 71 ... projection, 80 ... resin layer, CP ... cathode panel, AP ... anode panel, EA ... electron emission region, EF ... effective Area, NF ... Invalid area

Claims (2)

支持体上に2次元マトリクス状に配列された電子放出領域を備えたカソードパネルと、蛍光体領域及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが外周部で接合されており、カソードパネルとアノードパネルとによって挟まれた空間が真空に保持されている平面型表示装置であって、
カソードパネルとアノードパネルとの間にはスペーサが配置されており、
アノードパネルの表示部分として機能する有効領域には、対となったスペーサ保持部が設けられており、
スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部の間隔は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部の間隔よりも狭いことを特徴とする平面型表示装置。
A cathode panel having electron emission regions arranged in a two-dimensional matrix on a support and an anode panel having a phosphor region and an anode electrode are joined at the outer periphery, and the cathode panel and the anode panel A flat display device in which a space sandwiched between is held in a vacuum,
A spacer is arranged between the cathode panel and the anode panel,
The effective area that functions as the display part of the anode panel is provided with a pair of spacer holding parts,
A flat panel display device, characterized in that the distance between the pair of spacer holding parts for holding the end region of the spacer is narrower than the distance between the paired spacer holding parts for holding the central part of the spacer.
支持体上に2次元マトリクス状に配列された電子放出領域を備えたカソードパネルと、蛍光体領域及びアノード電極が設けられたアノードパネルとが外周部で接合されており、カソードパネルとアノードパネルとによって挟まれた空間が真空に保持されている平面型表示装置であって、
カソードパネルとアノードパネルとの間にはスペーサが配置されており、
アノードパネルの表示部分として機能する有効領域から、該有効領域を取り囲む無効領域に亙り、対となったスペーサ保持部が設けられており、
スペーサの端部領域を保持する対となったスペーサ保持部の間隔は、スペーサの中央部を保持する対となったスペーサ保持部の間隔よりも狭いことを特徴とする平面型表示装置。
A cathode panel having electron emission regions arranged in a two-dimensional matrix on a support and an anode panel having a phosphor region and an anode electrode are joined at the outer periphery, and the cathode panel and the anode panel A flat display device in which a space sandwiched between is held in a vacuum,
A spacer is arranged between the cathode panel and the anode panel,
A pair of spacer holding portions are provided from the effective area functioning as the display part of the anode panel to the invalid area surrounding the effective area .
Spacing of the spacer holding portion paired for holding the end region of the spacer, narrow flat surface type display device you characterized than the distance between the spacer holding portions paired to hold the central portion of the spacer.
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