JP5326174B2 - 亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法及び装置 - Google Patents
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Description
A=−log(I/I0 )
で定義される。ここで、染料の濃度をC、光路長をL、染料の吸光係数をαとすると、
A=αCL
となる。染料の吸光係数αは染料に固有の値であり、規定の濃度に調整した染料を用いた場合には、染料の吸光係数αと染料濃度Cは定数とみなすことができることから、吸光度Aは光路長Lに比例することになる。この原理を用いると、吸光度から一定濃度の染料で着色された物の厚さを測定することができる。本発明において、亀裂開口幅の測定では、亀裂内に一定濃度の染料溶液を満たした場合の吸光度を用いることで、亀裂開口幅が光路長となり、また亀裂形状の測定では、透明レプリカ試料の作製に用いる透明樹脂を一定濃度の染料で着色した場合の吸光度を用いることで、染料で着色した透明レプリカ試料の厚さが光路長となる。この場合、亀裂開口幅測定と亀裂形状測定とで、使用する染料の色を変えて異なる波長の光で測定しているので、同時測定が可能となる。
12 亀裂
14a,14b 透明レプリカ試料
16 フラット照明装置
18 CCDカメラ
20 バンドパスフィルター
22 データ収録装置
24 暗室
Claims (4)
- 単一亀裂を有する岩石試料を型として、亀裂を境とし、その亀裂面と反対側の面を鏡面研磨加工した平面とする2つの透明レプリカ試料を、一方は無色の透明樹脂により、他方は染料で着色した透明樹脂により作製し、それらを組み合わせることで亀裂を復元し、該亀裂内に前記染料とは異なる色の染料溶液を満たして岩石レプリカ試験体とし、該岩石レプリカ試験体に白色光を照射し、その透過光を前記2種類の染料の各色に対応したバンドパス特性を呈するフィルターを通して各色毎の2次元平面座標の光強度データを取得し、各色毎の2次元平面座標の吸光度から2種類の染料で着色された部分の厚さをそれぞれ算出し、染料溶液の厚さから亀裂開口幅の分布を求めると共に、着色した透明レプリカ試料の厚さの変化から着色した透明レプリカ試料側の亀裂面表面形状を求め、その着色した透明レプリカ試料側の亀裂面表面形状に染料溶液の厚さから求めた亀裂開口幅の分布を重ねることで無色の透明レプリカ試料側の亀裂面形状を求めて、それらによって亀裂の3次元的な形状を求めることを特徴とする亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法。
- 亀裂内を満たす染料溶液の屈折率を、透明レプリカ試料の材料である透明樹脂の屈折率にマッチングさせる請求項1記載の亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法。
- 一方の透明レプリカ試料の材料である透明樹脂の着色に青色染料を使用し、亀裂内を満たす染料溶液に赤色染料を用いる請求項1又は2記載の亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法。
- 請求項1記載の測定方法を実施するための装置であって、上下2つの透明レプリカ試料を組み合わせた岩石レプリカ試験体に均一な白色光を下方から照射するフラット照明装置と、該フラット照明装置の上方に位置し前記岩石レプリカ試験体の透過光を検出するモノクロのデジタルCCDカメラと、該CCDカメラのレンズに設けられるバンドパスフィルターと、前記CCDカメラにより検出した2次元平面座標の光強度データを取り込み各色毎の2次元平面座標の吸光度から2種類の染料で着色された部分の厚さをそれぞれ算出して亀裂開口幅と亀裂形状を同時に求めるデータ収録装置を具備し、亀裂開口幅測定では染料溶液の吸収スペクトルに合わせたバンドパスフィルターを用い、亀裂形状測定では着色した透明レプリカ試料の吸収スペクトルに合わせたバンドパスフィルターを用いるようにし、前記データ収録装置を除く光学系全体が暗室内に収容されている亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定装置。
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JP2000146533A (ja) * | 1998-11-12 | 2000-05-26 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 透光体の厚み測定装置及び測定方法 |
JP2005331394A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Olympus Corp | 画像処理装置 |
JP2005351733A (ja) * | 2004-06-10 | 2005-12-22 | Ebara Corp | 検査方法 |
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Cited By (2)
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KR20150138007A (ko) * | 2014-05-30 | 2015-12-09 | (주)쎄미시스코 | 두께 판단 방법, 장치 및 시스템 |
KR102402386B1 (ko) * | 2014-05-30 | 2022-05-26 | (주)에디슨이브이 | 두께 판단 방법, 장치 및 시스템 |
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