JP2012047571A - 亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法及び装置 - Google Patents
亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法及び装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012047571A JP2012047571A JP2010189543A JP2010189543A JP2012047571A JP 2012047571 A JP2012047571 A JP 2012047571A JP 2010189543 A JP2010189543 A JP 2010189543A JP 2010189543 A JP2010189543 A JP 2010189543A JP 2012047571 A JP2012047571 A JP 2012047571A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- crack
- dye
- replica
- transparent
- rock
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】単一亀裂を有する岩石試料を型として、亀裂を境とする2つの透明レプリカ試料14a,14bを、一方は無色の透明樹脂で、他方は染料で着色した透明樹脂で作製し、両者を組み合わせることで亀裂12を復元し、亀裂内に前記染料とは異なる色の染料溶液を満たして岩石レプリカ試験体10とする。それに白色光を照射し、透過光を各染料に対応したバンドパスフィルター20を通して各色毎の2次元平面座標の光強度データをCCDカメラ18で取得し、各色毎の2次元平面座標の吸光度から2種類の染料で着色された部分の厚さをデータ収録装置22で算出して亀裂開口幅と亀裂形状を同時に求める。
【選択図】図1
Description
A=−log(I/I0 )
で定義される。ここで、染料の濃度をC、光路長をL、染料の吸光係数をαとすると、
A=αCL
となる。染料の吸光係数αは染料に固有の値であり、規定の濃度に調整した染料を用いた場合には、染料の吸光係数αと染料濃度Cは定数とみなすことができることから、吸光度Aは光路長Lに比例することになる。この原理を用いると、吸光度から一定濃度の染料で着色された物の厚さを測定することができる。本発明において、亀裂開口幅の測定では、亀裂内に一定濃度の染料溶液を満たした場合の吸光度を用いることで、亀裂開口幅が光路長となり、また亀裂形状の測定では、透明レプリカ試料の作製に用いる透明樹脂を一定濃度の染料で着色した場合の吸光度を用いることで、染料で着色した透明レプリカ試料の厚さが光路長となる。この場合、亀裂開口幅測定と亀裂形状測定とで、使用する染料の色を変えて異なる波長の光で測定しているので、同時測定が可能となる。
12 亀裂
14a,14b 透明レプリカ試料
16 フラット照明装置
18 CCDカメラ
20 バンドパスフィルター
22 データ収録装置
24 暗室
Claims (4)
- 単一亀裂を有する岩石試料を型として、亀裂を境とする2つの透明レプリカ試料を、一方は無色の透明樹脂により、他方は染料で着色した透明樹脂により作製し、それらを組み合わせることで亀裂を復元し、該亀裂内に前記染料とは異なる色の染料溶液を満たして岩石レプリカ試験体とし、該岩石レプリカ試験体に白色光を照射し、その透過光を前記2種類の染料の各色に対応したバンドパス特性を呈するフィルターを通して各色毎の2次元平面座標の光強度データを取得し、各色毎の2次元平面座標の吸光度から2種類の染料で着色された部分の厚さをそれぞれ算出し、それによって亀裂開口幅と亀裂形状を同時に求めることを特徴とする亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法。
- 亀裂内を満たす染料溶液の屈折率を、透明レプリカ試料の材料である透明樹脂の屈折率にマッチングさせると共に、前記透明レプリカ試料の亀裂面と反対側の面を鏡面研磨加工しておく請求項1記載の亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法。
- 一方の透明レプリカ試料の材料である透明樹脂の着色に青色染料を使用し、亀裂内を満たす染料溶液に赤色染料を用いる請求項1又は2記載の亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法。
- 請求項1記載の測定方法を実施するための装置であって、上下2つの透明レプリカ試料を組み合わせた岩石レプリカ試験体に均一な白色光を下方から照射するフラット照明装置と、該フラット照明装置の上方に位置し前記岩石レプリカ試験体の透過光を検出するモノクロのデジタルCCDカメラと、該CCDカメラのレンズに設けられるバンドパスフィルターと、前記CCDカメラにより検出した2次元平面座標の光強度データを取り込み各色毎の2次元平面座標の吸光度から2種類の染料で着色された部分の厚さをそれぞれ算出して亀裂開口幅と亀裂形状を同時に求めるデータ収録装置を具備し、該データ収録装置を除く光学系全体が暗室内に収容されている亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010189543A JP5326174B2 (ja) | 2010-08-26 | 2010-08-26 | 亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010189543A JP5326174B2 (ja) | 2010-08-26 | 2010-08-26 | 亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法及び装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012047571A true JP2012047571A (ja) | 2012-03-08 |
JP5326174B2 JP5326174B2 (ja) | 2013-10-30 |
Family
ID=45902627
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010189543A Expired - Fee Related JP5326174B2 (ja) | 2010-08-26 | 2010-08-26 | 亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法及び装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5326174B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106680154A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-05-17 | 武汉大学 | 基于岩石节理透明复制品的溶质迁移过程光学测量装置 |
CN108593009A (zh) * | 2018-06-28 | 2018-09-28 | 南京理工大学 | 一种变形缝或裂缝的三向位移与新生裂缝识别的测量装置 |
CN110953987A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-04-03 | 河海大学 | 一种钢桥面板疲劳裂纹外变形测量方法及测量装置 |
US11796481B2 (en) | 2018-02-22 | 2023-10-24 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Inspection device and inspection method |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102402386B1 (ko) * | 2014-05-30 | 2022-05-26 | (주)에디슨이브이 | 두께 판단 방법, 장치 및 시스템 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58182503A (ja) * | 1982-04-20 | 1983-10-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 多層フイルムの膜厚測定方法 |
JPS6258139A (ja) * | 1985-09-09 | 1987-03-13 | Kowa Co | 粒子測定方法及び装置 |
JPH01237404A (ja) * | 1987-11-05 | 1989-09-21 | Ryowa Denshi Kk | 膜厚測定方法および装置 |
JPH06300520A (ja) * | 1993-04-13 | 1994-10-28 | Sony Magnescale Inc | 光学式変位測定装置 |
JP2000146533A (ja) * | 1998-11-12 | 2000-05-26 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 透光体の厚み測定装置及び測定方法 |
JP2005331394A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Olympus Corp | 画像処理装置 |
JP2005351733A (ja) * | 2004-06-10 | 2005-12-22 | Ebara Corp | 検査方法 |
JP2006058069A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Japan Nuclear Cycle Development Inst States Of Projects | 亀裂の三次元形状及び開口幅の測定方法及び測定装置 |
-
2010
- 2010-08-26 JP JP2010189543A patent/JP5326174B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58182503A (ja) * | 1982-04-20 | 1983-10-25 | Dainippon Printing Co Ltd | 多層フイルムの膜厚測定方法 |
JPS6258139A (ja) * | 1985-09-09 | 1987-03-13 | Kowa Co | 粒子測定方法及び装置 |
JPH01237404A (ja) * | 1987-11-05 | 1989-09-21 | Ryowa Denshi Kk | 膜厚測定方法および装置 |
JPH06300520A (ja) * | 1993-04-13 | 1994-10-28 | Sony Magnescale Inc | 光学式変位測定装置 |
JP2000146533A (ja) * | 1998-11-12 | 2000-05-26 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 透光体の厚み測定装置及び測定方法 |
JP2005331394A (ja) * | 2004-05-20 | 2005-12-02 | Olympus Corp | 画像処理装置 |
JP2005351733A (ja) * | 2004-06-10 | 2005-12-22 | Ebara Corp | 検査方法 |
JP2006058069A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Japan Nuclear Cycle Development Inst States Of Projects | 亀裂の三次元形状及び開口幅の測定方法及び測定装置 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6013017889; 佐藤 久, 澤田 淳: '不均質な開口幅分布を有する単一亀裂の光学的手法による計測とその透水特性評価' 土木学会論文集C Vol. 66, No. 3, 20100720, pp. 487-497, 社団法人 土木学会 * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106680154A (zh) * | 2017-02-28 | 2017-05-17 | 武汉大学 | 基于岩石节理透明复制品的溶质迁移过程光学测量装置 |
CN106680154B (zh) * | 2017-02-28 | 2023-10-31 | 武汉大学 | 基于岩石节理透明复制品的溶质迁移过程光学测量装置 |
US11796481B2 (en) | 2018-02-22 | 2023-10-24 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Inspection device and inspection method |
CN108593009A (zh) * | 2018-06-28 | 2018-09-28 | 南京理工大学 | 一种变形缝或裂缝的三向位移与新生裂缝识别的测量装置 |
CN108593009B (zh) * | 2018-06-28 | 2024-05-14 | 南京理工大学 | 一种变形缝或裂缝的三向位移与新生裂缝识别的测量装置 |
CN110953987A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-04-03 | 河海大学 | 一种钢桥面板疲劳裂纹外变形测量方法及测量装置 |
CN110953987B (zh) * | 2019-11-28 | 2021-06-25 | 河海大学 | 一种钢桥面板疲劳裂纹外变形测量方法及测量装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5326174B2 (ja) | 2013-10-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5326174B2 (ja) | 亀裂開口幅と亀裂形状の同時測定方法及び装置 | |
CN106662535A (zh) | 宝石的光学属性的光谱确定 | |
JP6183826B2 (ja) | 光散乱体の光学的測定方法、光学的測定装置及び光学的記録媒体 | |
CN111386449B (zh) | 曲面检材的应力分析系统 | |
Girard et al. | Growth and decay kinetics of radiation-induced attenuation in bulk optical materials | |
CN108982494A (zh) | 一种基于智能设备的显色反应定量检测装置和方法 | |
Liu et al. | A smartphone-based red–green dual color fiber optic surface plasmon resonance sensor | |
WO2015157691A1 (en) | Colorimetric sensor with automated readout | |
US20070109555A1 (en) | Method and apparatus for holographic refractometry | |
TWI662262B (zh) | 具等向性轉換函數之量化差分相位對比顯微系統 | |
CN111487225A (zh) | 一种快速高精度的水质透明度测量装置及其测量方法 | |
KR20220120588A (ko) | 결합된 ocd 및 광반사변조 방법 및 시스템 | |
AU2018306617A1 (en) | Methods, systems, and devices for measuring in situ saturations of petroleum and NAPL in soils | |
CN102253011B (zh) | 一种积分球相对等效透过率Tx(λ)的应用 | |
CN208888135U (zh) | 利用阶梯窗口实现超短单脉冲时间分辨泵浦探测的系统 | |
CN113607658B (zh) | 一种基于油膜灰度值获取油膜衰减系数的方法 | |
CN112595678B (zh) | 基于rgb的图像比色的浓度测定方法、系统、存储介质 | |
TWI454674B (zh) | 量化材料殘餘應力之裝置及其方法 | |
CN212748133U (zh) | 一种检查透明航空有机玻璃面板内应力的测试装置 | |
Breneman IV et al. | The color of water: using underwater photography to estimatewater quality | |
Song et al. | Investigating the rate of turbidity impact on underwater spectral reflectance detection | |
WO2017117471A1 (en) | Non-destructive evaluation of water ingress in photovoltaic modules | |
CN101236156B (zh) | 光致变色透光材料变色前和变色后透过率的检测方法 | |
KR102593306B1 (ko) | 저투수성 매체 내 형광 추적자 농도분포 추정 장치 및 방법 | |
CN110809727A (zh) | 用于储罐监测和校准的智能涂层装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120406 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130411 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130424 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130619 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130704 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130705 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5326174 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |