JP5324510B2 - 真円度測定機 - Google Patents
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Description
真円度測定機は、ベースと、このベース上に垂直軸線を中心に回転可能に設けられ上面に被測定物を載置する回転テーブルと、この回転テーブルを回転させる回転駆動機構と、ベース上に立設されたコラムと、このコラムに沿って上下方向へ昇降可能に設けられた昇降スライダと、この昇降スライダに垂直軸線に対して直交する方向へスライド可能に設けられたスライドアームと、このスライドアームの先端に取り付けられ被測定物に接するスタイラスの変位を電気信号として出力する検出器とを備える(例えば、特許文献1参照)。
スタイラスの交換作業は、従来、測定者によって行われていため、測定作業の中断時間が長いうえ、スタイラスの取外作業および装着作業に伴う測定者への負担も大きい。
これは、上述した構成の真円度測定機に、被測定物の測定部位に対応して用意された複数種のスタイラスを取出可能かつ格納可能に収容したスタイラスストッカと、制御装置とが用意されている。制御装置は、測定指令が与えられた際、回転駆動機構、昇降スライダおよびスライドアームの動作を制御しながら、被測定物の真円度測定を実行するとともに、スタイラス交換指令が与えられた際、昇降スライダおよびスライドアームの動作を制御しながら、検出器とスタイラスストッカとの間でスタイラス交換動作を実行する。
例えば、長さの異なるスタイラスに交換した場合、検出器のゲインを校正する必要がある。従来、検出器のゲイン校正作業は、ゲージブロックを組み合わせて所定の段差を作った校正用治具や、円盤状の外周縁の一部に平坦な切欠きを形成した校正用マスタなどを用いて、校正作業を行っている。
そのため、スタイラスの自動交換機能により作業能率を向上させることができるようになっても、検出器のゲイン校正に時間や手間がかかるため、作業能率のより一層の向上が要望されている。
また、スタイラス自動交換指令が与えられると、検出器駆動機構の動作により、検出器とスタイラスストッカとの間でスタイラス交換動作が実行される。従って、被測定物の測定部位形状に応じて、スタイラス交換動作を指令するようにしておけば、検出器とスタイラスストッカとの間でスタイラス交換動作が自動的に実行されるため、測定作業を中断することなく連続的に行うことができる。そのため、測定者への負担を軽減できるとともに、測定作業を効率化できる。
更に、検出器自動ゲイン校正指令が与えられると、スタイラスに予め設定された設定変位量が付与され、検出器によって検出されるスタイラスの変位と設定変位量とから検出器のゲインが校正される。従って、スタイラス交換動作を行ったのち、検出器自動ゲイン校正指令を与えるよう構成しておけば、スタイラスの交換動作後に、検出器のゲイン校正動作が自動的に実行されるから、スタイラスの交換動作および検出器のゲイン校正動作を測定作業を中断することなく連続的かつ自動的に行うことができる。そのため、測定者への負担を軽減できるとともに、測定作業を効率化できる。
次に、検出器駆動機構が動作されて検出器のスタイラスが載置板の側面に接触されたのち、この状態において、載置板移動機構が予め設定された設定変位量だけ移動される。このとき、検出器によって検出されるスタイラスの変位が取り込まれ、この変位量と設定変位量とから検出器のゲインが校正される。
従って、従来の校正用治具や校正用マスタを用いなくてもよいので、これらの回転テーブル上へのセットおよび取り外しに伴う作業がなく、測定作業をより効率化できる。
従って、上記と同様に、従来の校正用治具や校正用マスタを用いなくてもよいので、これらの回転テーブル上へのセットおよび取り外しに伴う作業がなく、測定作業をより効率化できる。特に、この構成によれば、載置板移動機構も必要なく、載置板移動機構の移動方向が第1移動方向に一致するように、回転駆動機構を動作させて回転テーブルを回転動作させる必要もないので、より簡易化、迅速化できる。
従って、この構成でも、上記と同様に、従来の校正用治具や校正用マスタを用いなくてもよいので、これの回転テーブル上へのセットおよび取り外しに伴う作業がなく、測定作業をより効率化できるとともに、載置板移動機構も必要なく、載置板移動機構の移動方向が第1移動方向に一致するように、回転駆動機構を動作させて回転テーブルを回転動作させる必要もないので、より簡易化、迅速化できる。
また、検出器駆動機構には、スライドアームの先端に設けられ検出器をスライドアームのスライド軸線に対して直交する方向へスライドさせる第2スライド駆動機構と、第2スライド駆動機構をスライドアームのスライド軸線を中心に旋回させる旋回駆動機構とが含まれているから、まず、旋回駆動機構によって第2スライド駆動機構をスライドアームのスライド軸線を中心に90度旋回させて検出器の姿勢を水平に変更したのち、第2スライド駆動機構によって検出器をスライドアームのスライド軸線に対して直交する方向へスライドさせる。すると、検出器が測定領域の外に配置されたスタイラスストッカへ移動されるから、真円度測定動作に支障を与えることなく、比較的簡易な構成で、検出器を測定領域の外に配置されたスタイラスストッカへアプローチできる。
図1は、本実施形態の真円度測定機を示す斜視図、図2は、同真円度測定機の平面図である。
本実施形態の真円度測定機は、これらの図に示すように、ベース10と、このベース10上の一側に垂直軸線Lを中心に回転可能に設けられ上面に被測定物Wを載置する回転テーブル20と、検出器30と、この検出器30を垂直軸線L方向および垂直軸線Lに対して直交する方向でかつ回転テーブル20に対して接近、離間する方向へ駆動させる検出器駆動機構40と、被測定物Wの測定部位に対応して用意された複数種のスタイラス31を取出可能かつ格納可能に収容したスタイラスストッカ50と、制御装置60とを備える。
回転駆動機構23は、回転テーブル20を回転駆動するモータ、あるいは、モータからの回転を減速器を介して回転テーブル20に伝達する機構などで構成されている。載置板X軸移動機構24および載置板Y軸移動機構25は、モータを含み、このモータの駆動により載置板22をX,Y軸方向へスライドさせる構造である。載置板X軸傾斜機構26および載置板X軸傾斜機構27は、モータを含み、このモータの駆動より載置板22をX,Y軸方向へ傾斜させる構造である。
第1スライド駆動機構45についても、図示省略したが、スライドアーム44を垂直軸線Lに対して直交する方向でかつ回転テーブル20に対して接近、離間する方向へ駆動できる機構であれば、どのような構造でもよい。例えば、スライドアーム44の長手方向に沿ってラックを形成し、このラックに噛み合うピニオンおよびこのピニオンを回転させるモータなどを昇降スライダ42内に設けた構成であってもよい。
本制御システムは、図7に示すように、制御装置60と、入力装置61と、表示装置62と、記憶装置63などを含んで構成されている。
記憶装置63には、測定プログラム、スタイラス自動交換プログラム、検出器自動ゲイン校正プログラムなどを記憶したプログラム記憶部63A、および、測定時に取り込んだ測定データなどを記憶するデータ記憶部63Bなどが設けられている。
制御装置60には、入力装置61、表示装置62、記憶装置63のほかに、回転駆動機構23、載置板X軸移動機構24、載置板Y軸移動機構25、載置板X軸傾斜機構26、載置板Y軸傾斜機構27、昇降駆動機構43、第1スライド駆動機構45、第2スライド駆動機構46、旋回駆動機構47、検出器30などが接続されている。また、制御装置60は、プログラム記憶部63Aに記憶された測定プログラム、スタイラス自動交換プログラム、検出器自動ゲイン校正プログラムなどに従って、各機構の駆動を制御するとともに、検出器30からの信号を取り込んで処理する機能を備える。
プログラム記憶部63Aに記憶されたスタイラス自動交換プログラムによって、スタイラス自動交換指令が制御装置60に与えられると、検出器駆動機構40が駆動される。つまり、昇降駆動機構43、第1スライド駆動機構45、第2スライド駆動機構46および旋回駆動機構47の駆動により、検出器30が移動され、検出器30とスタイラスストッカ50との間でスタイラス交換動作が実行される。
(B)第1スライド駆動機構45の駆動により、検出器30はX+方向へ移動される。すると、スタイラス31の係合溝31Cがスタイラスストッカ50のスタイラス保持部53に収容される。
(C)第2スライド駆動機構46の駆動により、検出器30はY+方向へ移動される。すると、検出器本体32がスタイラス31をスタイラスストッカ50に残したままY+方向へ移動するから、これにより、検出器本体32のスタイラス31がスタイラスストッカ50に格納される。
(D)第2スライド駆動機構46の駆動により、検出器30はY−方向へ移動される。すると、検出器本体32に新たなスタイラス31が差し込まれる。つまり、検出器本体32に新たなスタイラス31が装着される。
(E)第1スライド駆動機構45の駆動により、検出器30はX−方向へ移動される。すると、スタイラス31の係合溝31Cがスタイラスストッカ50のスタイラス保持部53から外れる。
(F)第2スライド駆動機構46の駆動により、検出器30はY+方向へ移動され、元の位置に復帰される。こののち、旋回駆動機構47の駆動によって検出器30が垂直な姿勢に旋回されたのち、検出器自動ゲイン校正動作が実行される。
プログラム記憶部63Aに記憶された検出器自動ゲイン校正プログラムによって、検出器自動ゲイン校正指令が制御装置60に与えられると、載置板X軸移動機構24(または載置板Y軸移動機構25)の移動方向がX軸方向(第1移動方向)に一致するように、回転駆動機構23が動作され、回転テーブル20が回転される。
こののち、図9(A)に示すように、検出器駆動機構40が駆動され、検出器30のスタイラス31が載置板22の側面に接触される。
この状態において、図9(B)に示すように、載置板X軸移動機構24によって載置板22が予め設定された設定変位量だけX軸方向へ移動される。すると、このときの移動量が検出器30によって検出される。つまり、検出器30のスタイラス31の変位量が取り込まれ、制御装置60に送られる。
制御装置60において、取り込まれた変位量と設定変位量とから検出器30のゲインを校正する。例えば、制御装置60において、取り込まれたスタイラス31の変位量が設定変位量に近似するように、検出器30からの出力を入力とする回路(DAコンバータなど)のゲインを調整することにより、検出器30のゲインを校正する。あるいは、検出器30からの変位信号をPC(パソコン)等の制御装置に取り込み、取り込んだ値が設定変位量に一致するように取り込んだ値を調整することにより、検出器30のゲインを校正する。
こののち、測定動作が実行される。
プログラム記憶部63Aに記憶された測定プログラムによって、測定指令が制御装置60に与えられると、検出器駆動機構40が駆動される。つまり、昇降駆動機構43および第1スライド駆動機構45の駆動により、検出器30が被測定物Wに接近する方向へ移動され、検出器30のスタイラス31が被測定物Wに接触される。
この状態において、回転テーブル20が回転駆動される。すると、被測定物Wの真円度に応じて、検出器30のスタイラス31が変位されるから、そのスタイラス31の変位が検出器本体32によって電気信号として検出されたのち、制御装置60に取り込まれる。制御装置60は、取り込んだ測定データをデータ記憶部63Bに記憶したのち、こられのデータから真円度を演算し、その結果を表示装置62に表示し、かつ、必要に応じてプリントアウトする。
(1)スタイラス自動交換指令が与えられると、検出器駆動機構40の動作により、検出器本体32とスタイラスストッカ50との間でスタイラス交換動作が実行される。
従って、被測定物Wの測定部位形状に応じて、スタイラス交換動作を指令するようにしておけば、検出器本体32とスタイラスストッカ50との間でスタイラス交換動作が自動的に実行されるため、測定作業を中断することなく連続的に行うことができる。そのため、測定者への負担を軽減できるとともに、測定作業を効率化できる。
従って、スタイラス交換動作を行ったのち、検出器自動ゲイン校正指令を与えるよう構成しておけば、スタイラス31の交換動作後に、検出器30のゲイン校正動作が自動的に実行されるから、スタイラス31の交換動作および検出器30のゲイン校正動作を測定作業を中断することなく連続的かつ自動的に行うことができる。そのため、測定者への負担を軽減できるとともに、測定作業を効率化できる。
従って、スタイラス自動交換動作、検出器自動ゲイン校正動作および測定動作が連続的に実行されるから、作業能率の一層の向上が期待できる。
本発明は、前述の実施形態に限定されるものでなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良などは本考案に含まれる。
前記実施形態では、検出器自動ゲイン校正指令が制御装置60に与えられると、載置板X軸移動機構24または載置板Y軸移動機構25の移動方向がX軸方向(第1移動方向)に一致するように、回転テーブル20が回転されたのち、検出器30のスタイラス31が載置板22の側面に接触された状態において、載置板X軸移動機構24または載置板Y軸移動機構25が予め設定された設定変位量だけ移動されることにより、検出器30のゲインを校正するようにしたが、これに限られない。
例えば、図9(B)の状態において、載置板X軸移動機構24または載置板Y軸移動機構25を設定変位量だけ移動させるのではなく、第1スライド駆動機構45を設定変位量だけ移動させてもよい。
図10に示す真円度測定機では、回転テーブル20の載置板22の外周縁の一部に外周縁からの切欠深さが設定変位量に相当する切欠き22Aが形成されている。ゲイン調整手段は、図11(A)に示すように、第1スライド駆動機構45を動作させて検出器30のスタイラス31を載置板22の側面に接触させ、この状態において、図11(B)に示すように、回転駆動機構23を作動させ、このときに検出器30によって検出されるスタイラスの変位を取り込み、この変位量と設定変位量とから検出器のゲインを校正する。
従って、この構成でも、上記と同様に、従来の校正用治具や校正用マスタを用いなくてもよいので、これの回転テーブル20上へのセットおよび取り外しに伴う作業がなく、測定作業をより効率化できるとともに、載置板X軸移動機構24または載置板Y軸移動機構25も必要なく、これらの移動方向が第1スライド駆動機構45の移動方向(第1移動方向)に一致するように、回転駆動機構23を動作させて回転テーブル20を回転動作させる必要もないので、より簡易化、迅速化できる。
20…回転テーブル、
21…本体、
22…載置板、
22A…切欠き、
23…回転駆動機構、
24…載置板X軸移動機構(載置板移動機構)、
25…載置板Y軸移動機構(載置板移動機構)、
30…検出器、
31…スタイラス、
32…検出器本体、
40…検出器駆動機構、
41…コラム、
42…昇降スライダ、
43…昇降駆動機構、
44…スライドアーム、
45…第1スライド駆動機構、
46…第2スライド駆動機構、
47…旋回駆動機構、
50…スタイラスストッカ、
60…制御装置、
A…測定領域、
L…垂直軸線、
W…被測定物。
Claims (5)
- ベースと、このベース上に垂直軸線を中心に回転可能に設けられ上面に被測定物を載置する回転テーブルと、この回転テーブルを回転させる回転駆動機構と、前記被測定物に接するスタイラスおよびこのスタイラスを着脱可能に装着するとともにこのスタイラスの変位を電気信号として出力する検出器本体を有する検出器と、この検出器を前記垂直軸線に対して直交しかつ前記回転テーブルに対して接近、離間する第1移動方向および前記垂直軸線と平行な第2移動方向へ駆動させる検出器駆動機構とを有する真円度測定機において、
前記被測定物の測定部位に対応して用意された複数種のスタイラスを取出可能かつ格納可能に収容したスタイラスストッカと、制御装置とを備え、
前記制御装置は、測定指令が与えられた際、前記回転駆動機構および前記検出器駆動機構の動作を制御しながら、前記被測定物の真円度測定を実行する測定実行手段と、
スタイラス自動交換指令が与えられた際、前記検出器駆動機構を制御しながら、前記検出器と前記スタイラスストッカとの間でスタイラス交換動作を実行するスタイラス交換実行手段と、
検出器自動ゲイン校正指令が与えられた際、前記スタイラスに予め設定された設定変位量を付与し、前記検出器によって検出される前記スタイラスの変位と前記設定変位量とから前記検出器のゲインを校正するゲイン調整手段とを備える、ことを特徴とする真円度測定機。 - 請求項1に記載の真円度測定機において、
前記回転テーブルは、前記ベース上に垂直軸線を中心に回転可能に設けられた本体と、この本体の上部に設けられ上面に被測定物を載置する円盤状の載置板と、この載置板を前記垂直軸線に対して直交する方向へ移動させる載置板移動機構とを含んで構成され、
前記ゲイン調整手段は、前記載置板移動機構の移動方向が前記第1移動方向に一致するように、前記回転駆動機構を動作させて前記回転テーブルを回転させたのち、前記検出器駆動機構を動作させて前記検出器のスタイラスを前記載置板の側面に接触させ、この状態において、前記載置板移動機構を予め設定された設定変位量だけ移動させたときに前記検出器によって検出される前記スタイラスの変位を取り込み、この変位量と前記設定変位量とから前記検出器のゲインを校正する、ことを特徴とする真円度測定機。 - 請求項1に記載の真円度測定機において、
前記回転テーブルは、前記ベース上に垂直軸線を中心に回転可能に設けられた本体と、この本体の上部に設けられ上面に被測定物を載置する円盤状の載置板とを含んで構成され、
前記ゲイン調整手段は、前記検出器駆動機構を動作させて前記検出器のスタイラスを前記載置板の側面に接触させ、この状態において、前記検出器駆動機構を前記第1移動方向へ予め設定された設定変位量だけ移動させたときに前記検出器によって検出される前記スタイラスの変位を取り込み、この変位量と前記設定変位量とから前記検出器のゲインを校正する、ことを特徴とする真円度測定機。 - 請求項1に記載の真円度測定機において、
前記回転テーブルは、前記ベース上に垂直軸線を中心に回転可能に設けられた本体と、この本体の上部に設けられ上面に被測定物を載置する円盤状の載置板と、この載置板を前記垂直軸線に対して直交する方向へ移動させる載置板移動機構とを含んで構成され、前記載置板の外周縁の一部には外周縁からの切欠深さが前記設定変位量に相当する切欠きが形成され、
前記ゲイン調整手段は、前記検出器駆動機構を動作させて前記検出器のスタイラスを前記載置板の側面に接触させ、この状態において、前記回転駆動機構を作動させたときに前記検出器によって検出される前記スタイラスの変位を取り込み、この変位量と前記設定変位量とから前記検出器のゲインを校正する、ことを特徴とする真円度測定機。 - 請求項1〜請求項4のいずれかに記載の真円度測定機において、
前記スタイラスストッカは、前記回転テーブルおよび前記検出器駆動機構の移動範囲によって決まる測定領域の外に配置され、
前記検出器駆動機構は、前記ベース上に立設されたコラムと、このコラムに対して昇降スライダを上下方向へ駆動させる昇降駆動機構と、前記昇降スライダに対してスライドアームを前記垂直軸線に対して直交しかつ前記回転テーブルに対して接近、離間する方向へ駆動させる第1スライド駆動機構と、前記スライドアームの先端に設けられ前記検出器を前記スライドアームのスライド軸線に対して直交する方向へスライドさせる第2スライド駆動機構と、前記第2スライド駆動機構を前記スライドアームのスライド軸線を中心に旋回させる旋回駆動機構とを備え、
前記第2スライド駆動機構および前記旋回駆動機構の動作により、前記検出器が前記測定領域の外へ移動可能に構成されている、ことを特徴とする真円度測定機。
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