JP5314693B2 - 試験モジュールおよび試験方法 - Google Patents
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Description
1.特願2008−235491 出願日 2008年9月12日
110 パターンメモリ
120 命令メモリ
122 PRBS制御テーブル
124 PRBSシフトレジスタ
126 多項式設定レジスタ
128 初期値設定レジスタ
130 LOADシフトレジスタ
132 EOR回路
134 AND回路
136 ドライバパターンテーブル
138 コンパレータ期待値テーブル
140 取り込みデータテーブル
150 波形生成器
152 ドライバ
160 論理比較器
162 コンパレータ
200 被試験デバイス
Claims (8)
- 被試験デバイスを試験する試験モジュールであって、
試験パターンを格納するパターンメモリと、
擬似乱数パターンを発生する乱数発生部と、
前記試験パターンまたは前記擬似乱数パターンの何れかをドライバパターンとして選択するパターン選択部と、
前記ドライバパターンに基づき前記被試験デバイスに与える信号の波形を生成する波形生成部と、を備え、
前記乱数発生部は、
命令メモリに格納された制御命令に基づきレジスタ選択信号を生成する制御部と、
前記レジスタ選択信号により選択される複数のレジスタであって、各々が多項式データを格納する多項式設定レジスタと、
前記レジスタ選択信号により選択される複数のレジスタであって、各々が初期値を格納する初期値設定レジスタと、
選択された前記初期値設定レジスタから初期値をロードし、選択された前記多項式設定レジスタに格納されている多項式データに基づき、前記擬似乱数パターンを順次生成する乱数生成シフトレジスタと、
前記被試験デバイスの出力から得られた値を順次格納する取り込みシフトレジスタと、
前記擬似乱数パターンと前記被試験デバイスの出力とを比較する比較部と
を有し、
前記制御部は、前記制御命令に基づき、前記取り込みシフトレジスタに格納された値を初期値として前記乱数生成シフトレジスタにロードし、前記乱数生成シフトレジスタの動作を開始する取り込み信号を生成し、
前記制御部は、さらに前記擬似乱数パターンを前記比較部に送る信号を生成し、
前記比較部は、前記初期値に基づき前記乱数生成シフトレジスタにより生成された前記擬似乱数パターンと、前記被試験デバイスの出力のうち前記取り込みシフトレジスタに取り込まれた部分より後の部分とを比較する試験モジュール。 - 前記パターンメモリは、前記試験パターンに対応する期待値パターンをさらに格納し、
前記パターン選択部は、前記期待値パターンまたは前記擬似乱数パターンの何れかを比較パターンとしてさらに選択する
請求項1に記載の試験モジュール。 - 前記制御部は、前記制御命令に基づき、前記乱数生成シフトレジスタを動作させる開始信号および前記乱数生成シフトレジスタの動作を停止させる停止信号をさらに生成する、
請求項1または2に記載の試験モジュール。 - 前記制御部は、前記制御命令に基づき、停止した前記乱数生成シフトレジスタの動作を再開させる再開信号をさらに生成し、
前記乱数生成シフトレジスタは、前記再開信号を受けたとき、前記停止信号により停止した時点の次のステップから処理を再開する、
請求項3に記載の試験モジュール。 - 前記制御部は、前記パターン選択部において、前記擬似乱数パターン、前記パターンメモリに格納されたパターン、または、これらの組合せの何れかを選択するパターン選択信号を生成する、
請求項1から4のいずれか1項に記載の試験モジュール。 - 前記パターン選択部は、前記擬似乱数パターンと前記パターンメモリに格納されたパターンとの組合せを指定するテーブルを備える、
請求項1から5のいずれか1項に記載の試験モジュール。 - 前記制御部は、前記被試験デバイスの試験端子に対応するチャネルごとに前記乱数発生部の制御が指定できる命令テーブルを有する、
請求項1から6のいずれか1項に記載の試験モジュール。 - 被試験デバイスを試験する試験方法であって、
試験パターンをパターンメモリに格納する格納段階と、
擬似乱数パターンを発生する乱数発生段階と、
前記試験パターンまたは前記擬似乱数パターンの何れかをドライバパターンとして選択するパターン選択段階と、
前記ドライバパターンに基づき前記被試験デバイスに与える信号の波形を生成する波形生成段階と、を備え、
前記乱数発生段階は、
命令メモリに格納された制御命令に基づきレジスタ選択信号を生成する段階と、
各々に多項式データを格納する複数の多項式設定レジスタから前記レジスタ選択信号で指定される多項式設定レジスタを選択する段階と、
各々に初期値を格納する複数の初期値設定レジスタから前記レジスタ選択信号で指定される初期値設定レジスタを選択する段階と、
選択された前記初期値設定レジスタから初期値をロードし、選択された前記多項式設定レジスタに格納されている多項式データに基づき、前記擬似乱数パターンを順次生成する段階と、
前記制御命令に基づき、前記被試験デバイスの出力から得られた値を順次格納する取り込みシフトレジスタに格納された値を初期値として前記擬似乱数パターンを順次生成する乱数生成シフトレジスタにロードし、前記乱数生成シフトレジスタの動作を開始する取り込み信号を生成する段階と、
前記擬似乱数パターンと前記被試験デバイスの出力とを比較する比較段階と
を有し、
前記制御命令により、さらに前記擬似乱数パターンを前記比較段階に送る信号が生成され、
前記比較段階は、前記初期値に基づき前記乱数生成シフトレジスタにより生成された前記擬似乱数パターンと、前記被試験デバイスの出力のうち前記取り込みシフトレジスタに取り込まれた部分より後の部分とを比較する試験方法。
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