JP5311027B2 - 障害診断装置および障害診断プログラム - Google Patents
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Description
102 情報解析部
103 障害分類処理部
104 生産情報抽出部
105 生産情報記憶部
106 障害要因検出部
107 登録部
108 表示制御部
Claims (4)
- 電子機器の製造過程における属性を含む生産情報を記憶する記憶手段と、
前記電子機器で発生した障害の障害情報に基づいて、当該電子機器を、該障害情報による障害と同一または類似した障害が発生した他の電子機器の一群に分類する分類手段と、
前記分類手段によって分類された一群に属する複数の電子機器の前記生産情報を前記記憶手段から抽出する第1の抽出手段と、
障害が発生した電子機器と同種類の電子機器のうち、正常に動作している複数の電子機器の前記生産情報を前記記憶手段から抽出する第2の抽出手段と、
前記第1の抽出手段によって抽出された複数の生産情報と前記第2の抽出手段によって抽出された複数の生産情報と、にそれぞれ含まれる属性毎に、前記障害が発生した電子機器の生産台数と前記正常に動作している複数の電子機器の生産台数との偏り度合いを計測することで障害要因を検出する障害要因検出手段と、
を具備する障害診断装置。 - 前記第1の抽出手段によって抽出された複数の電子機器の生産情報における生産日の標準偏差を算出する算出手段
を具備し、
前記第2の抽出手段は、
前記算出手段により算出された標準偏差が閾値以下の場合に障害が発生した電子機器が最も多く生産された生産日近辺の前記電子機器の生産情報を前記記憶手段から抽出する、
請求項1記載の障害診断装置。 - 前記第2の抽出手段は、
前記算出手段により算出された標準偏差が閾値よりも大きい場合に一定期間ごとの生産日における前記電子機器の生産情報を抽出する、
請求項2記載の障害診断装置。 - コンピュータを、
電子機器の製造過程における属性を含む生産情報を記憶する記憶手段、
前記電子機器で発生した障害の障害情報に基づいて、当該電子機器を、該障害情報による障害と同一または類似した障害が発生した他の電子機器の一群に分類する分類手段、
前記分類手段によって分類された一群に属する複数の電子機器の前記生産情報を前記記憶手段から抽出する第1の抽出手段、
障害が発生した電子機器と同種類の電子機器のうち、正常に動作している複数の電子機器の前記生産情報を前記記憶手段から抽出する第2の抽出手段、
前記第1の抽出手段によって抽出された複数の生産情報と前記第2の抽出手段によって抽出された複数の生産情報と、にそれぞれ含まれる属性毎に、前記障害が発生した電子機器の生産台数と前記正常に動作している複数の電子機器の生産台数との偏り度合いを計測することで障害要因を検出する障害要因検出手段
として機能させる障害診断プログラム。
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