JP5301461B2 - 自動機械的完全性検証 - Google Patents
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Description
34 トランスミッタハブ
38 ハウジング
40 回路
42 ターミナル
44A カバー
44B カバー
46A 機械的完全性センサ
46B 機械的完全性センサ
54A ターミナルねじ
54B ターミナルねじ
56 センサ材料
58A ねじ込み境界面
58B ねじ込み境界面
Claims (25)
- プロセス変量を測定するためのプロセストランスミッタであって、
プロセス流体の前記プロセス変量を感知するためのプロセスセンサと、
前記プロセスセンサからの信号を処理するためのトランスミッタ回路と、
前記プロセスセンサ及びトランスミッタ回路を収容するためのトランスミッタハウジングと、
前記センサ又は前記トランスミッタ回路を前記プロセス流体又は外部環境から隔離するための少なくとも1つのトランスミッタ装着部品と、
前記トランスミッタハウジング及び前記トランスミッタ装着部品の組み立てを確認するための機械的完全性センサとを備え、
前記トランスミッタ装着部品は、前記トランスミッタハウジングを前記プロセス流体とつなぐためのプロセスフランジを備え、前記機械的完全性センサは、前記プロセスフランジの材料特性を感知するための第1の材料検証センサを備え、
前記プロセストランスミッタ内に位置するプロセスダイアフラムの材料特性を感知するための第2の材料検証センサをさらに備える、
ことを特徴とするプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタハウジングは、前記プロセスセンサ又は前記トランスミッタ回路のための点検窓を含み、該トランスミッタ点検窓はトランスミッタ装着部品で機械的に密閉され、前記機械的完全性センサは、前記トランスミッタ装着部品の前記ハウジングへの近接を感知するための近接センサを備える、
ことを特徴とする請求項1に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ回路は、前記トランスミッタ装着部品が前記ハウジングへの汚染物質の侵入を防ぐように前記点検窓に十分に固定されていることを検証する、
ことを特徴とする請求項2に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ回路は、前記トランスミッタ装着部品が適切な消炎路を提供するように前記ハウジングに正しくねじ込まれていることを検証する、
ことを特徴とする請求項2に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ回路は、前記機械的完全性センサが生成した信号と比較するための所定の値を含む、
ことを特徴とする請求項2に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ回路は、前記トランスミッタ回路に保存された材料特性データを用いて前記プロセスフランジの前記感知された材料特性を確認する、
ことを特徴とする請求項1に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記材料確認センサは誘導型透磁性センサを備える、
ことを特徴とする請求項1に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ回路は、前記機械的完全性センサの出力を使用者に告知する電子装置を含む、
ことを特徴とする請求項1に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ回路は、定期的に前記機械的完全性センサを動作させる、
ことを特徴とする請求項1に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ回路は、ユーザが前記機械的完全性センサの動作を手動で開始できるようにユーザ制御部を含む、
ことを特徴とする請求項1に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記トランスミッタ装着部品は、前記トランスミッタハウジングをプロセス流体フランジにつなげるためのセンサモジュールを備え、
前記機械的完全性センサは、前記センサモジュール上の前記トランスミッタハウジングの方向を感知するための近接センサを備える、
ことを特徴とする請求項1に記載のプロセストランスミッタ。 - プロセス変数を測定するためのプロセストランスミッタであって、
プロセス流体の前記プロセス変量を感知するためのプロセスセンサモジュールと、
前記プロセスセンサを収容するためのトランスミッタハウジングと、
前記センサを前記ハウジング内に密閉するための少なくとも1つのハウジングカバーと、
前記ハウジングカバー又はセンサモジュールの前記トランスミッタハウジングとの組み立てを感知するための機械的完全性センサと、
前記トランスミッタハウジングをプロセス流体とつなぐためのプロセスフランジの材料特性を感知するための第1の材料検証センサと、
前記プロセストランスミッタ内に位置するプロセスダイアフラムの材料特性を感知するための第2の材料検証センサと、
を備えることを特徴とするプロセストランスミッタ。 - 前記機械的完全性センサは近接センサを備える、
ことを特徴とする請求項11に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記近接センサは、誘導型近接センサ、静電容量型近接センサ、磁力計、超音波近接センサ、光学式近接センサ又は機械的リミットスイッチからなるグループから選択される、ことを特徴とする請求項13に記載のプロセストランスミッタ。
- ハウジングカバー又はセンサモジュールの位置が正しくない場合、或いはこれらが見あたらない場合に告知を行う電子回路をさらに備える、ことを特徴とする請求項12に記載のプロセストランスミッタ。
- 前記機械的完全性センサが生成した信号と比較するための所定の近似値を含むトランスミッタ回路をさらに備える、
ことを特徴とする請求項12に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記機械的完全性センサは静電容量型近接センサからなる、
ことを特徴とする請求項12に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記静電容量型近接センサは、
第1のターミナルねじ及び第2のターミナルねじを備えた第1のキャパシタと、
前記第1のターミナルねじ及びハウジングカバーを備えた第2のキャパシタと、
前記第2のターミナルねじ及び前記ハウジングカバーを備えた第3のキャパシタと、を備え、前記ハウジングカバーが前記トランスミッタハウジングに組み立てられたときに、前記第1、第2及び第3のキャパシタが形成する回路の静電容量が変化する、
ことを特徴とする請求項17に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記機械的完全性センサは誘導型近接センサを備える、
ことを特徴とする請求項12に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記誘導型近接センサは、ハウジングカバーに接近して前記センサハウジング内に位置する、磁場を発生させるための誘導コイルと、
前記誘導コイルの内部に位置するコア材料と、
前記コア内に渦電流を発生させるための発振器と、
ハウジングカバーが前記コアの近くに位置するときの前記渦電流の振動の振幅の変化を感知するための信号レベル検出器と、
を備えることを特徴とする請求項19に記載のプロセストランスミッタ。 - プロセス変量を測定するプロセストランスミッタであって、
プロセス流体の前記プロセス変量を感知するためのプロセスセンサと、
前記プロセスセンサを収容するためのトランスミッタハウジングと、
前記トランスミッタハウジングをプロセス流体源につなげるためのプロセスフランジと、
前記プロセスフランジの材料特性を感知するための第1の材料検証センサと、
前記プロセストランスミッタ内に位置するプロセスダイアフラムの材料特性を感知するための第2の材料検証センサと、
を備えることを特徴とするプロセストランスミッタ。 - 前記機械的完全性センサは誘導型透磁性センサを備える、
ことを特徴とする請求項21に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記誘導型透磁性センサは、
ハウジングカバーに接近して前記センサハウジング内に位置する、静電場を発生させるための誘導コイルと、
前記誘導コイル内に位置するコア材料と、
前記コア内に渦電流を発生させるための発振器と、
前記プロセスフランジが前記コアの近くに位置するときの前記渦電流の振動の振幅の変化を感知するための信号レベル検出器と、
を備えることを特徴とする請求項22に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記機械的完全性センサが生成した信号と比較するための所定の材料特性値を含むトランスミッタ回路をさらに備える、
ことを特徴とする請求項21に記載のプロセストランスミッタ。 - 前記機械的完全性センサが生成した信号が所定の材料特性値と異なる場合に告知を行う電子回路をさらに備える、
ことを特徴とする請求項24に記載のプロセストランスミッタ。
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