JP5297087B2 - X線異物検出装置 - Google Patents
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Description
X線の照射量I0、X線の透過量をIとすると、
T=(lnI0 ― lnI )
として求められるTをX線透過画像として扱い、ここでは、TをX線吸収量とよぶ。また、X線の照射量I0は被検査物PのX線吸収量TがゼロであるときのX線の透過量であり、搬送ベルト上に被検査物Pが無い状態で検出したX線の透過量をX線の照射量I0として求めることができる。
なお、独立成分分析手段24の詳細については後述する。
なお、フィルタ処理手段25は判定がより確実になるようにするためのものであり、フィルタ処理手段25が無い構成としても別段問題はない。
図2に、独立成分分析の概念についての説明図を示す。
なお、情報源が画像なので、以後、情報源の画像を原画像S、観測情報を観測画像X、観測画像Xから分離抽出された画像を分離画像Yと呼ぶことにする。
ただし、原画像S、観測画像X、分離画像Yは、
とする。
となる。また、分離行列Wを更新して分離画像Yを独立にしていくことをここでは学習と呼ぶことにする。
ICA)処理を行っている。
w1 w2]が図2に示すような係数a1、a2、a3、a4からなる2×2の行列の逆行列A−1 のある一行に等しければ、
となり、S1またはS2のどちらかを求めることができる。
w2]を更新し、分離行列W の各行を求めていくのである。
この非ガウス性であるが、ガウス性とは、その分布がどれだけガウス分布に近いかを表し、「ガウス性= その分布とガウス分布の近さ」であり、「非ガウス性=
その分布とガウス分布の遠さ」を表していると考える。そして、非ガウス性を測る基準としては尖度やネゲントロピーなどがある。
kurt(y):= (E(y4)/σ4 )−3 (1)
ただし、yは平均値0の確率変数とし、E(式)は、式の期待値を表すものとする。
尖度は、信号の分布がどれだけ尖っているかを表し、ガウス分布であれば尖度は0 になる。そして、尖度が正であればガウス分布より尖っていて(supergaussian) 、尖度が負であればガウス分布より平坦である(subggaussian)。
J(x)= H(ygauss)− H(y) (2)
ただし、 H(y) = -∫p(y)log p(y)dy
H(y)は確率密度関数p(y)を持つ連続的な確率変数yのエントロピーである。
ygaussは yと等しい分散共分散行列を持ったガウス分布に従う確率変数である。
の各行を求めていく分析法がFastICAのアルゴリズムであり、例えば、ネゲントロピーを評価基準とした、式(3)のような更新則によって、独立成分を求めていく。
ここで、m種類の観測情報を得て、nをサンプリング数とすると、更新前の分離行列Wはm×mの行列になり、更新された分離行列Wuはm×mの行列になる。
A・Bは行列Aと行列Bの積を示している。
yi(i=1,・・・m)は要素がn個の列ベクトルを示し、
またyは以下のようなm×nの行列になっている。
y= (y1,・・・・・・・・・・,ym)T
式(3)のyTは上述したyの転置を示す。
式(3)のp’(y)は
p’(y)=(q’1 (y1),・・・・・・・・・,q’m(ym))T
でm×nの行列であり、
q’i(yi)は関数qi(yi)の微分を表し、n個の列ベクトルである。
また、
q”i(yi)は関数q’i(yi)の微分を表し、n個の列ベクトルである。
関数q’i(yi)としては
q’i(yi)=tanh(a1yi) 但し1≦ a1 ≦ 2の定数
q’i(yi)=yiea2
但し a2 = (−yi 2/2)
q’i(yi)=yi 3
がよく使用される。
式(3)のDは(E[ qi”(yi)]−λi)−1 (i=1,・・・・,m)で表され、m種類の観測情報ごとの上記式の値を対角要素に持つm×mの対角行列であり、
E[式]は式の平均値を表すものである。
ここで
λi=E[yi*q’i(yi)](i=1,・・・・,m)
であり、C*DはベクトルCとベクトルDの要素ごとの積を示す。
式(3)のLはλi (i=1,・・・・,m)で表され、
m種類の観測情報ごとの上記式の値を対角要素に持つm×mの対角行列である。
式(3)のorthog(式)は式の直交行列を表す。
x’ = PTΛ−1/2Px (4)
このように、変換後の分散共分散行列が単位行列になるように観測画像Xを変換することを白色化と呼んでいる。
図3は、独立成分分析処理の概略の流れを示すフローチャートである。
同図のフローの開始に先立って、異なる複数の観測画像X(x1、x2)が、m(画像数)×n(画素数)の行列として設定されているものとする。例えば、その行列は、画像総数が2枚、画像サイズが800[H]×500[V])の画像の場合、x=[2×400000]の行列のように設定されている。
cc= (c[y1y2 2]2 +c[y1y2 3]
2)+(c[y2y1 2]2 +c[y2y1 3]
2)
の式から算出して、限りなく0に近い値なった場合(例えば、0.00001未満の場合)に、互いに独立しており、独立性が収束していると判断する。
更新行列Wuは 関数qi(yi)を yi 4 とおくと、
q’i(yi)= 4yi 3 、q”i(yi)= 12yi 2 となり、
Wu = W+D・(L−B/n)・W とすることができる。
ただし、q’i、q’’i、yiはここでは1×400000の行ベクトルである。( i = 1、2 )
また、B、L、Dは、2×2の行列であり、それぞれ
となる。
前処理として白色化を用いない場合の収束するまでの回数、すなわちほぼ0になるまで(例えば、0.00001になるまで)の回数が5回に対し、前処理として白色化を用いた場合には2〜3回で収束していることが判る。
このノイズを低減し異物が強調されるような画像フィルタは、例えば異物画像を平滑化処理することによって細かいノイズ成分を除去し、異物画像の背景に対し異物が強調されるようになる。なお、異物が強調されるような画像フィルタは、収縮・膨張によって細かいノイズ成分を除去した後にラプラシアン等の異物エッジを強調するようなフィルタであってもよく、また、平滑化処理した後にエッジを強調するようなフィルタ処理としてもよい。
異物の有無が判定は、異物強調画像の中に閾値を超える部分があった場合に異物有と判定される。なお、独立成分分析手段24によって分離抽出された異物画像の異物と背景のコントラストが充分ある場合には画像フィルタを行わず、分離抽出された異物画像に対し、予め設定された閾値と比較し、異物の有無が判定されるようにしても良い。
Kullback-Leiblerダイバージェンス(以下、KL情報量)を用いて異物画像を識別処理する概略の流れを示すフローチャートである。
DKL(f(x)||g(x))=∫f(x)log(f(x)/g(x))dx (5)
すなわち、g1(x)またはg1inv(x)のKL情報量が最小の時に、分離画像1が分離物品画像であり、分離画像2が分離異物画像であると識別し、g2(x)またはg2inv(x)のKL情報量が最小の時に、分離画像2が分離物品画像であり、分離画像1が分離異物画像であると識別する。
本実施の形態は、第1実施形態の画像処理手段23において、独立成分分析手段25の前処理としてのエッジ保存平滑フィルタ手段27が付加されたものである。その他の構成に関しては、第1実施形態と同様なので、エッジ保存平滑フィルタ手段27について説明し、その他の構成に関しては、第1実施形態と対応する部分には図中に第1実施形態と同様の符号を付し、第1実施形態の説明を援用して再度の説明を省略するものとする。
このとき、エッジを強く残す場合は、式(6)に示す分散を小さくするように設定する。
図9は、
エッジ保存平滑フィルタ手段27を用いた場合における異物検出処理の概略の流れを示すフローチャートである。
11 搬送手段
13 X線源
14 X線検出部
14a、14b X線センサ
15 線質可変体
20 制御部
21 透過画像記憶手段
22 判定部
23 画像処理手段
24 独立成分分析手段
25 フィルタ処理手段
26 異物画像識別手段
27 エッジ保存平滑フィルタ手段
30 表示器
Claims (5)
- 搬送される被検査物にX線を照射し、前記被検査物を透過した複数の異なるエネルギー帯のX線の透過量を検出する検出手段(10)と、
前記検出手段が出力する前記複数の異なるエネルギー帯毎の検出信号に基づいて前記被検査物中に異物が含まれているか否かを判定する判定手段(22)とを備えたX線異物検出装置(1)において、
前記検出手段が出力する検出信号に基づく前記被検査物の前記複数の異なるエネルギー帯毎の透過画像を記憶する透過画像記憶手段(21)と、
前記透過画像記憶手段に記憶された複数の異なるエネルギー帯の透過画像から独立成分として異物画像を含む複数の分離画像を分離抽出する独立成分分析手段(24)を有する画像処理手段(23)とを備え、
前記判定手段は、前記独立成分分析手段によって分離抽出された異物画像に基づいて被検査物中に異物が含まれているか否かを判定することを特徴とするX線異物検出装置。 - 前記画像処理手段は、前記独立成分分析手段によって分離抽出された異物画像に含まれる異物を強調するためのフィルタ処理手段(25)を有することを特徴とする請求項1に記載のX線異物検出装置。
- 前記画像処理手段は、前記複数の分離画像の濃度分布に基づいて前記複数の分離画像の中から異物画像を識別する異物画像識別手段(26)を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のX線異物検出装置。
- 前記異物画像識別手段は、前記透過画像記憶手段に記憶された透過画像に対する各分離画像のKullback−Leiblerダイバージェンスの値に基づいて異物画像を識別することを特徴とする請求項3に記載のX線異物検出装置。
- 前記画像処理手段は、前記透過画像記憶手段に記憶された複数の異なるエネルギー帯の透過画像に含まれるノイズを除去した後に、前記独立成分分析手段によって独立成分として異物画像を含む複数の分離画像を分離抽出するためのエッジ保存平滑フィルタ手段(27)を有することを特徴とする請求項1〜請求項4に記載のX線異物検出装置。
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